JP2007188722A - プラズマ処理装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】天井部が開口されて内部が真空引き可能になされた処理容器24と、被処理体Wを載置するために処理容器内に設けられた載置台26と、天井部の開口に気密に装着されてマイクロ波を透過する誘電体よりなる天板40と、プラズマ発生用のマイクロ波を発生するマイクロ波発生手段62と、天板上に設けられて処理容器内に向けてマイクロ波発生手段からのマイクロ波を放射する複数のマイクロ波放射孔を有する平面アンテナ部材46とを有するプラズマ処理装置において、天板の前記処理容器内を臨む面側に、マイクロ波の伝搬強度を大きくすべき部分に対応させて伝搬強度向上突起部44を設ける。
【選択図】 図1
Description
このようなプラズマ処理装置は、特許文献1、特許文献2、特許文献3、特許文献4、特許文献5等に開示されている。ここで、マイクロ波を用いた一般的なプラズマ処理装置を図13を参照して概略的に説明する。図13は従来の一般的なプラズマ処理装置を示す概略構成図である。
この場合、上記特許文献4、5に示されるように、天板の表面に凹凸部を設けてプラズマ密度を制御することも検討されているが、上記マイクロ波の伝搬効率はマイクロ波放射孔の形状や配列パターン、特に天板の表面形状に強く依存するので最適化するのが困難であった。
本発明は、以上のような問題点に着目し、これを有効に解決すべく創案されたものである。本発明の目的は、処理容器の天板の形状を最適化することにより、例えば処理空間の平面方向におけるプラズマ密度を均一化させる等の所望のプラズマ密度分布を得ることが可能なプラズマ処理装置を提供することにある。
従って、例えばプラズマ密度が低くなる傾向にある領域に対応させて上記伝搬強度向上突起部を設けたりすることにより、プラズマ密度の面内均一性を向上させることができる等の所望のプラズマ密度分布を形成することができる。
また例えば請求項3に規定するように、前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って複数個配列されている。
また例えば請求項4に規定するように、前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って環状に形成されたリング状突起よりなる。
また例えば請求項6に規定するように、前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周辺部側に設けられる。
また例えば請求項7に規定するように、前記伝搬強度向上突起部は、前記天板に不規則に分散させて設けられる。
また例えば請求項8に規定するように、前記平面アンテナ部材の上面側にはマイクロ波の波長を短縮するための遅波材が設けられている。
また例えば請求項10に規定するように、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分は伝搬モードがTM0モードのマイクロ波を伝搬し、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分は伝搬モードがTM0モードとTE1モードのマイクロ波を伝搬する。
また例えば請求項11に規定するように、前記平面アンテナ部材は、前記伝搬強度向上突起部を設けていない部分と前記伝搬強度向上突起部を設けた部分とにそれぞれ対応させて前記マイクロ波放射孔を形成する。
また例えば請求項13に規定するように、前記伝搬強度向上突起部を設けていない部分と前記伝搬強度向上突起部を設けた部分の内のいずれか一方に対応する部分の前記平面アンテナ部材には、マイクロ波放射孔を設けていない。
また例えば請求項16に規定するように、前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って複数個配列されている。
また例えば請求項17に規定するように、前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って環状に形成されたリング状突起よりなる。
また例えば請求項18に規定するように、前記伝搬強度向上突起部は、同心円状に複数配列されている。
また例えば請求項20に規定するように、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分は伝搬モードがTM0モードのマイクロ波を伝搬し、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分は伝搬モードがTM0モードとTE1モードのマイクロ波を伝搬する。
また例えば請求項21に規定するように、前記各導波管に伝搬させるマイクロ波の電力は、個別に制御可能になされている。
また例えば請求項24に規定するように、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分は伝搬モードがTM0モードのマイクロ波を伝搬し、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分は伝搬モードがTM0モードとTE1モードのマイクロ波を伝搬する。
マイクロ波の伝搬強度を大きくすべき部分に対応させて伝搬強度向上突起部を設けるようにしたので、この伝搬強度向上突起部の直下のマイクロ波の伝搬強度が大きくなり、この結果、この伝搬強度向上突起部の直下におけるプラズマの密度を向上させることができる。
従って、例えばプラズマ密度が低くなる傾向にある領域に対応させて上記伝搬強度向上突起部を設けたりすることにより、プラズマ密度の面内均一性を向上させることができる等の所望のプラズマ密度分布を形成することができる。
<第1実施例>
図1は本発明に係るプラズマ処理装置の第1実施例を示す構成図、図2は図1に示すプラズマ処理装置の平面アンテナ部材を示す平面図、図3は天板を示す断面図、図4は天板の下面を示す平面図、図5は天板の厚さと伝搬係数がマイクロ波の伝搬モードに与える影響を示すグラフである。
上記載置台26の上面には、ここにウエハを保持するための静電チャック或いはクランプ機構(図示せず)が設けられる。尚、この載置台26を例えば13.56MHzのバイアス用高周波電源に接続する場合もある。また必要に応じてこの載置台26中に加熱用ヒータを設けてもよい。
そして、処理容器24の天井部は開口されて、ここに例えば石英やセラミック材等よりなるマイクロ波に対しては透過性を有する天板40がOリング等のシール部材42を介して気密に設けられる。この天板40の厚さは耐圧性を考慮して例えば20mm程度に設定される。そして、この天板40の下面であって処理容器24を臨む面側には、マイクロ波の伝搬強度を大きくすべき部分に対応させて本発明の特徴とする伝搬強度向上突起部44が形成される。尚、この伝搬強度向上突起部44の構造については後述する。
この場合、上記伝搬強度向上突起部44の幅M1は特に限定されないが、好ましくはマイクロ波の真空中の波長λoのλo/4〜λo/2程度の範囲内がよい。
まず、ゲートバルブ34を介して半導体ウエハWを搬送アーム(図示せず)により処理容器24内に収容し、リフタピン(図示せず)を上下動させることによりウエハWを載置台26の上面の載置面に載置する。
図5において横軸は”d/λo”を取り、縦軸には”β/ko”を取っており、マイクロ波の伝搬モードに関してはTM0〜TM2及びTE1〜TE3に関して調べている。ここで、”d”は天板40の厚さを示し、”λo”はマイクロ波の真空中の波長を示し、2.45GHzのマイクロ波の場合はλo=122mm程度である。従って、横軸の”d/λo=1”の点は、天板40厚さがマイクロ波の1波長に相当する厚さに設定された点を示している。
また”β”はマイクロ波の伝搬定数であり、”ko”は波数である。ここで”β/ko”により伝搬定数を規格化(標準化)している。また縦軸に関しては、値が大きい程、マイクロ波を効率良く伝搬し、”β/ko≦1”の領域ではマイクロ波は減衰してこれを通さなくなり、各伝搬モードの曲線と”β/ko=1”の時の交点で定まる”d”が天板40のカットオフ厚みとなる。
またTE1モードの曲線に関しては、”d/λo≒0.15”なので、カットオフ天板厚みdは”18.3mm”(d=0.15×λo)であることが判る。すなわち、天板40の厚さdを18.3mmよりも小さくすると、TM0モードのマイクロ波は伝搬するが、TE1モードのマイクロ波は伝搬しないことになる。
このように、マイクロ波の伝搬強度、すなわちプラズマ密度を向上させたい部分に対応させて伝搬強度向上突起部44を設けることにより、その部分の直下のプラズマ密度を選択的に向上させるこができる。
上記実施例では、伝搬強度向上突起部44としてリング状突起66を2個同心円状に設けたが、これに限定されず、例えば図7に示すように形成してもよい。図7は伝搬強度向上突起部の配列の変形例を示す平面図である。図7(A)に場合には、小さな円柱状の伝搬強度向上突起部44を上記リング状突起66のリング形状に沿うように多数個同心円状に配列している。この場合にも、図6において説明したと同様な作用効果を発揮することができる。
またプラズマ処理の種類によっては、意図的にプラズマ密度に濃淡の分布を持たせたいような処理もあり、そのような場合には、プラズマ密度を濃くしたい部分に対応させて、天板44に上記伝搬強度向上突起部44を設けるようにすればよく、いずれの部分に伝搬強度向上突起部44を設けるかは、プラズマ密度の設計時の大きさに依存することになる。
次に、本発明のプラズマ処理装置の第2実施例について説明する。
先の第1実施例では天板40の上面に平板アンテナ部材46を設けたが、この第2実施例では平面アンテナ部材46を設けないで、アンテナを兼用する導波管を直接設けるようにしている。
図9はこのような本発明のプラズマ処理装置の第2実施例を示す断面図、図10は第2実施例の上面を示す概略平面図である。尚、図1乃至図6に示す構成部分と同一構成部分については、同一参照符号を付してその説明を省略する。
特に、プラズマ密度分布を制御する場合には、各導波管68A、68Bへ供給するマイクロ波の出力電力を個別に制御すればよく、容易に所望するプラズマ密度の分布態様を得ることができる。本実施例では、導波管68A、68Bへ、例えばTE1モードとTE2モードのマイクロ波を流せばよい。
また、ここでは各導波管68A、68Bに対応させて個別にマイクロ波発生器62A、62Bを設けたが、これに限定されず、マイクロ波発生器を1つだけ設け、そして、伝搬途中の経路に分岐管を設けて各導波管68A、68Bへそれぞれマイクロ波を分岐させて伝搬させるようにしてもよい。
次に、本発明のプラズマ処理装置の第3実施例について説明する。
先の第1実施例及び第2実施例では、半導体ウエハのような円形の被処理体についてプラズマ処理を施す場合を例にとって説明したが、これに限定されず、被処理体としてLCD(Liquid Crystal Display)基板のような例えば方形状の透明なガラス基板よりなる被処理体を処理するプラズマ処理装置についても本発明を適用することができる。
図11及び図12に示すように、ここでは処理容器24及び天板40の各形状は円形ではなく、LCD基板の形状に合わせて方形状にそれぞれ形成されている。そして、ここでは伝搬強度向上突起部44は、伝搬強度を上げるべき部分に対応させて天板40に所定のピッチで全面に亘って設けられている。
この第3実施例の構成の場合にも、天板40において伝搬強度向上突起部44を設けた部分の直下に集中的にマイクロ波を伝搬させて導入することができ、所望のプラズマ密度分布を得ることができる。またこの導波管68C内に伝搬するマイクロ波の波長を短縮するための遅波材を設けるようにしてもよい。
また用いるマイクロ波の周波数は2.45GHzに限定されず、例えば数100MHz〜10GHzの範囲内で使用することができる。
またここで説明したプラズマ処理装置22の構成は単に一例を示したに過ぎず、これに限定されないのは勿論である。
24 処理容器
26 載置台
40 天板
44 伝搬強度向上突起部
46 平面アンテナ部材
48 遅波材
52 同軸導波管
62 マイクロ波発生器(マイクロ波発生手段)
64,64A,64B,64C マイクロ波放射孔
66 リング状突起
W 半導体ウエハ(被処理体)
Claims (24)
- 天井部が開口されて内部が真空引き可能になされた処理容器と、
被処理体を載置するために前記処理容器内に設けられた載置台と、
前記天井部の開口に気密に装着されてマイクロ波を透過する誘電体よりなる天板と、
プラズマ発生用のマイクロ波を発生するマイクロ波発生手段と、
前記天板上に設けられて前記処理容器内に向けて前記マイクロ波発生手段からのマイクロ波を放射する複数のマイクロ波放射孔を有する平面アンテナ部材と、
を有するプラズマ処理装置において、
前記天板の前記処理容器内を臨む面側に、前記マイクロ波の伝搬強度を大きくすべき部分に対応させて伝搬強度向上突起部を設けるように構成したことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分を伝搬するマイクロ波と、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分を伝搬するマイクロ波とでは、伝搬するマイクロ波の電磁界の分布の形である伝搬モードの種類の数が異なるように、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分の厚さ及び前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分の厚さがそれぞれ設定されていることを特徴とする請求項1記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って複数個配列されていることを特徴とする請求項1または2記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って環状に形成されたリング状突起よりなることを特徴とする請求項1または2記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、同心円状に複数配列されていることを特徴とする請求項3または4記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周辺部側に設けられることを特徴とする請求項1乃至5のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、前記天板に不規則に分散させて設けられることを特徴とする請求項1または2記載のプラズマ処理装置。
- 前記平面アンテナ部材の上面側にはマイクロ波の波長を短縮するための遅波材が設けられていることを特徴とする請求項1乃至7のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記マイクロ波発生手段と前記平面アンテナ部材とは、前記マイクロ波発生手段からのマイクロ波をTEMモードに変換するためのモード変換器を介設した導波管により接続されていることを特徴とする請求項1乃至8のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分は伝搬モードがTM0モードのマイクロ波を伝搬し、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分は伝搬モードがTM0モードとTE1モードのマイクロ波を伝搬することを特徴とする請求項1乃至9のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記平面アンテナ部材は、前記伝搬強度向上突起部を設けていない部分と前記伝搬強度向上突起部を設けた部分とにそれぞれ対応させて前記マイクロ波放射孔を形成するようにしたことを特徴とする請求項1乃至10記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部を設けていない部分に対応するマイクロ波放射孔と前記伝搬強度向上突起部を設けた部分に対応するマイクロ波放射孔とではその寸法を異ならせて形成した複数の平面アンテナ部材が、前記天板に対して交換可能に設けられていることを特徴とする請求項1乃至11のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部を設けていない部分と前記伝搬強度向上突起部を設けた部分の内のいずれか一方に対応する部分の前記平面アンテナ部材には、マイクロ波放射孔を設けていないことを特徴とする請求項1乃至10のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 天井部が開口されて内部が真空引き可能になされた処理容器と、
被処理体を載置するために前記処理容器内に設けられた載置台と、
前記天井部の開口に気密に装着されてマイクロ波を透過する誘電体よりなる天板と、
プラズマ発生用のマイクロ波を発生するマイクロ波発生手段と、
複数のマイクロ波放射孔を有し、該複数のマイクロ波放射孔の内の少なくとも一部のマイクロ波放射孔を連ねるようにして前記天板に別々に設けられた複数の導波管と、
を備えたプラズマ処理装置において、
前記天板の前記処理容器内を臨む面側に、前記マイクロ波の伝搬強度を大きくすべき部分に対応させて伝搬強度向上突起部を設けるように構成したことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分を伝搬するマイクロ波と、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分を伝搬するマイクロ波とでは、伝搬するマイクロ波の電磁界の分布の形である伝搬モードの種類の数が異なるように、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分の厚さ及び前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分の厚さがそれぞれ設定されていることを特徴とする請求項14記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って複数個配列されていることを特徴とする請求項14または15記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周方向に沿って環状に形成されたリング状突起よりなることを特徴とする請求項14または15記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、同心円状に複数配列されていることを特徴とする請求項16または17記載のプラズマ処理装置。
- 前記伝搬強度向上突起部は、前記天板の周辺部側に設けられることを特徴とする請求項14乃至18のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分は伝搬モードがTM0モードのマイクロ波を伝搬し、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分は伝搬モードがTM0モードとTE1モードのマイクロ波を伝搬することを特徴とする請求項14乃至19のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 前記各導波管に伝搬させるマイクロ波の電力は、個別に制御可能になされていることを特徴とする請求項14乃至20のいずれかに記載のプラズマ処理装置。
- 天井部が開口されて内部が真空引き可能になされた方形筒体状の処理容器と、
被処理体を載置するために前記処理容器内に設けられた載置台と、
前記天井部の開口に気密に装着されてマイクロ波を透過する誘電体よりなる方形状の天板と、
プラズマ発生用のマイクロ波を発生するマイクロ波発生手段と、
複数のマイクロ波放射孔が形成されて前記天板上に、該天板の一方向に沿って設けられた導波管と、
を有するプラズマ処理装置において、
前記天板の前記処理容器内を臨む面側に、前記マイクロ波の伝搬強度を大きくすべき部分に対応させて伝搬強度向上突起部を設けるように構成したことを特徴とするプラズマ処理装置。 - 前記伝搬強度向上突起部は所定の長さを有し、前記導波管に交差するように設けられることを特徴とする請求項22記載のプラズマ処理装置。
- 前記天板の伝搬強度向上突起部を設けていない部分は伝搬モードがTM0モードのマイクロ波を伝搬し、前記天板の伝搬強度向上突起部を設けた部分は伝搬モードがTM0モードとTE1モードのマイクロ波を伝搬することを特徴とする請求項22または23に記載のプラズマ処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006005258A JP4910396B2 (ja) | 2006-01-12 | 2006-01-12 | プラズマ処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006005258A JP4910396B2 (ja) | 2006-01-12 | 2006-01-12 | プラズマ処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007188722A true JP2007188722A (ja) | 2007-07-26 |
JP4910396B2 JP4910396B2 (ja) | 2012-04-04 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006005258A Expired - Fee Related JP4910396B2 (ja) | 2006-01-12 | 2006-01-12 | プラズマ処理装置 |
Country Status (1)
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---|---|
JP (1) | JP4910396B2 (ja) |
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US10504698B2 (en) | 2014-10-27 | 2019-12-10 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing apparatus |
KR20160144327A (ko) * | 2015-06-08 | 2016-12-16 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 플라즈마 처리 장치 |
JP2017004665A (ja) * | 2015-06-08 | 2017-01-05 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理装置 |
US10347466B2 (en) | 2015-06-08 | 2019-07-09 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing apparatus |
KR102365588B1 (ko) * | 2015-06-08 | 2022-02-18 | 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 | 플라즈마 처리 장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4910396B2 (ja) | 2012-04-04 |
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Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
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|
A977 | Report on retrieval |
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|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A521 | Written amendment |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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