JP2006317259A - Ｘ線異物検出装置 - Google Patents

Abstract

【課題】 従来異物の有無を検査することができなかった領域についても検査することができ、異物の有無の判定の信頼性を従来より向上することができるＸ線異物検出装置を提供する。
【解決手段】 Ｘ線異物検出装置のコンピュータは、搬送される被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像中の被検査体に対応すると想定される被検査体領域３１を強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂに分割し、強影響領域３１ａのＸ線画像に対して強影響領域３１ａ用の処理によって異物の有無を判断し、非強影響領域３１ｂのＸ線画像に対して非強影響領域３１ｂ用の処理によって異物の有無を判断する。
【選択図】 図７

Description

本発明は、被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像を処理して被検査体に含まれる異物の有無を検出するＸ線異物検出装置に関するものである。

従来、Ｘ線異物検出装置として、図２２に示すように、缶等の容器９８１と、容器９８１内に収納された内容物９８２とから構成されて搬送ベルト９９０によって搬送される被検査体９８０にＸ線９１１ａを照射するＸ線源９１１と、Ｘ線源９１１によって照射されたＸ線９１１ａを検出する検出素子が搬送ベルト９９０による被検査体９８０の搬送方向とは直交する方向に配列されたＸ線検出器９１２とを備え、Ｘ線検出器９１２の検出結果に基づいてＸ線画像９３０（図２３参照。）を生成し、生成したＸ線画像９３０を処理して被検査体９８０に含まれる異物９８４の有無を判定するＸ線異物検出装置であって、容器９８１の影響によってＸ線９１１ａが透過し難い領域９８３に対応する領域９３１（図２３参照。）をＸ線画像９３０から除外して検査領域９３２（図２３参照。）を設定し、検査領域９３２で異物９８４の有無を判定するＸ線異物検出装置が知られている（例えば特許文献１参照。）。

特許第３５６７１２０号明細書（第３−４頁、第３図）

しかしながら、従来のＸ線異物検出装置においては、異物９８４の有無の判定を行わなかった領域９８３に異物９８４が存在していても、その異物９８４を検出できないという問題があった。

本発明は、従来の問題を解決するためになされたもので、従来異物９８４の有無を検査することができなかった領域９８３についても検査することができ、異物９８４の有無の判定の信頼性を従来より向上することができるＸ線異物検出装置を提供することを目的とする。

本発明のＸ線異物検出装置は、搬送される被検査体を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像を処理して前記被検査体に含まれる異物の有無を検出するＸ線異物検出装置において、前記Ｘ線画像中の前記被検査体に対応すると想定される被検査体領域を複数の領域に分割する領域分割手段と、前記領域分割手段によって分割された前記領域毎の前記Ｘ線画像に対して前記領域毎用の処理によって前記異物の有無を判断する異物判断手段とを備えた構成を有している。

この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、Ｘ線画像の被検査体領域中の領域毎に領域毎用の処理によって異物の有無を判断するので、従来異物の有無を検査することができなかった領域についても検査することができ、異物の有無の判定の信頼性を従来より向上することができる。

また、本発明のＸ線異物検出装置は、前記被検査体中の一部の影響が強いと想定される強影響領域及び前記強影響領域以外の非強影響領域に前記被検査体領域を分割するための分割閾値を設定する分割閾値設定手段を備え、前記領域分割手段は、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記強影響領域及び前記非強影響領域を分割する構成を有している。

この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像のうち被検査体中の一部の影響が強いと想定される強影響領域に対しても、強影響領域以外の非強影響領域に対してと同様に異物の有無を検出することができる。

また、本発明のＸ線異物検出装置の前記領域分割手段は、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記強影響領域の候補である強影響候補領域を分割し、前記被検査体領域の境界に接した前記強影響候補領域を前記強影響領域として分割する構成を有している。

この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像のうち実際には異物に対応する領域が誤って強影響領域に含まれる可能性を低減することができる。

また、本発明のＸ線異物検出装置は、画像を表示する表示手段と、前記強影響領域及び前記非強影響領域の少なくとも一方を前記Ｘ線画像に重ねて前記表示手段に表示させる表示制御手段とを備え、前記分割閾値設定手段は、利用者によって指定された前記分割閾値を設定する構成を有している。

この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、分割閾値によって分割された強影響領域及び非強影響領域の少なくとも一方を利用者に見させながら利用者に分割閾値を指定させることができるので、利用者に分割閾値を容易に設定させることができる。

また、本発明のＸ線異物検出装置は、画像を表示する表示手段と、前記強影響領域の前記Ｘ線画像における前記被検査体の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を前記位置毎に表したグラフ及び前記非強影響領域の前記Ｘ線画像における前記位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を前記位置毎に表したグラフの少なくとも一方を前記表示手段に表示させる表示制御手段とを備えた構成を有している。

この構成により、本発明のＸ線異物検出装置は、強影響領域のＸ線画像に対して異物の有無を判断するための閾値と、非強影響領域のＸ線画像に対して異物の有無を判断するための閾値との少なくとも一方を利用者に容易に設定させることができる。

本発明は、従来異物の有無を検査することができなかった領域についても検査することができ、異物の有無の判定の信頼性を従来より向上することができるＸ線異物検出装置を提供することができるものである。

更に、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像のうち被検査体中の一部の影響が強いと想定される強影響領域に対しても、強影響領域以外の非強影響領域に対してと同様に異物の有無を検出することができる。

更に、本発明のＸ線異物検出装置は、被検査体のＸ線画像のうち実際には異物に対応する領域が誤って強影響領域に含まれる可能性を低減することができる。

更に、本発明のＸ線異物検出装置は、分割閾値によって分割された強影響領域及び非強影響領域の少なくとも一方を利用者に見させながら利用者に分割閾値を指定させることができるので、利用者に分割閾値を容易に設定させることができる。

更に、本発明のＸ線異物検出装置は、強影響領域のＸ線画像に対して異物の有無を判断するための閾値と、非強影響領域のＸ線画像に対して異物の有無を判断するための閾値との少なくとも一方を利用者に容易に設定させることができる。

以下、本発明の実施の形態について、図面を用いて説明する。

（第１の実施の形態）
まず、第１の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の構成について説明する。

図１及び図２に示すように、本実施の形態に係るＸ線異物検出装置１０は、搬送ベルト９０によって搬送される被検査体８０にＸ線１１ａを照射するＸ線源１１と、Ｘ線源１１によって照射されたＸ線１１ａを検出する検出素子が搬送ベルト９０による被検査体８０の搬送方向とは直交する方向に配列されたＸ線検出器１２と、Ｘ線検出器１２の検出結果に基づいてＸ線画像３０（図３参照。）を生成し、生成したＸ線画像３０を処理して被検査体８０に含まれる異物８４の有無を判断するコンピュータ１３と、コンピュータ１３による異物８４の判断結果等を表示する表示手段としてのディスプレイ１４と、ディスプレイ１４の画面に重ねて配置されて利用者の操作に応じた信号をコンピュータ１３に入力するタッチパネル１５とを備えている。

コンピュータ１３は、プログラムが記録された図示していないＲＯＭ（Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）、ＲＯＭに記録されたプログラムに基づいて動作する図示していないＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＣＰＵの作業領域である図示していないＲＡＭ（Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）等を含んで構成されている。

本実施の形態に係る被検査体８０は、容器８１と、容器８１内に収納された内容物８２とから構成されている。なお、図２に示す容器８１の形状は、図４に示すように円柱状である。

次に、Ｘ線異物検出装置１０の動作について説明する。

まず、Ｘ線画像３０中の被検査体８０に対応すると想定される被検査体領域３１（図５参照。）と被検査体領域３１以外の被検査体外領域３２とを分割するための閾値である第１分割閾値４１（図６参照。）と、被検査体領域３１のうち被検査体８０中の容器８１の影響が強いと想定される強影響領域３１ａ（図７参照。）と強影響領域３１ａ以外の非強影響領域３１ｂ（図７参照。）とを分割するための閾値である第２分割閾値４２（図６参照。）とを設定する動作について説明する。

第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の被検査体８０が搬送ベルト９０によって搬送されると、Ｘ線源１１によって被検査体８０にＸ線１１ａが照射され、Ｘ線検出器１２の検出結果がコンピュータ１３に入力される。

コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果が入力されると、図８に示す処理を開始する。なお、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２は、Ｘ線検出器１２の検出結果が７ビット（１２８階調）の場合、図８に示す処理の開始前に初期値として例えば予め“１００”に設定されている。

即ち、コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果に基づいてＸ線画像３０を生成し（Ｓ１０１）、生成したＸ線画像３０を図３に示すようにディスプレイ１４のＸ線画像表示領域１４ａに表示させる（Ｓ１０２）。

次いで、コンピュータ１３は、Ｘ線画像３０のうち現在の第１分割閾値４１以上の濃度である画素の領域を被検査体領域３１とし、Ｘ線画像３０のうち被検査体領域３１以外の領域を被検査体外領域３２として分割し（Ｓ１０３）、分割した被検査体領域３１のうち現在の第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を強影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち強影響領域３１ａ以外の領域を非強影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１０４）。

そして、コンピュータ１３は、現在の強影響領域３１ａ、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２を図９に示すようにディスプレイ１４のＸ線画像表示領域１４ａに表示させる（Ｓ１０５）。即ち、コンピュータ１３は、現在の強影響領域３１ａをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４のＸ線画像表示領域１４ａに表示させるとともに、ディスプレイ１４の第１分割閾値４１用の分割閾値表示領域１４ｂに現在の第１分割閾値４１を表示させ、ディスプレイ１４の第２分割閾値４２用の分割閾値表示領域１４ｃに現在の第２分割閾値４２を表示させる。

次いで、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうちディスプレイ１４の第１分割閾値４１用の分割閾値調整領域１４ｄ、１４ｅ（図９参照。）に対応する部分が利用者によって触れられたか否かを判断する（Ｓ１０６）。

そして、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｄ、１４ｅに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたとＳ１０６において判断すると、第１分割閾値４１を再設定して（Ｓ１０７）、Ｓ１０３の処理に戻る。即ち、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｄに対応する部分が利用者によって触れられたときには第１分割閾値４１を１つ減算した値に再設定し、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｅに対応する部分が利用者によって触れられたときには第１分割閾値４１を１つ加算した値に再設定して、Ｓ１０３の処理に戻る。

一方、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｄ、１４ｅに対応する部分が利用者によって触れられなかったとＳ１０６において判断すると、タッチパネル１５のうちディスプレイ１４の第２分割閾値４２用の分割閾値調整領域１４ｆ、１４ｇ（図９参照。）に対応する部分が利用者によって触れられたか否かを判断する（Ｓ１０８）。

そして、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｆ、１４ｇに対応する部分が所定時間内に利用者によって触れられたとＳ１０８において判断すると、第２分割閾値４２を再設定して（Ｓ１０９）、Ｓ１０４の処理に戻る。即ち、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｆに対応する部分が利用者によって触れられたときには第２分割閾値４２を１つ減算した値に再設定し、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｇに対応する部分が利用者によって触れられたときには第２分割閾値４２を１つ加算した値に再設定して、Ｓ１０４の処理に戻る。

一方、コンピュータ１３は、タッチパネル１５のうち分割閾値調整領域１４ｆ、１４ｇに対応する部分が利用者によって触れられなかったとＳ１０８において判断すると、所定時間が経過したか否かを判断する（Ｓ１１０）。

そして、コンピュータ１３は、所定時間が経過していないとＳ１１０において判断するとＳ１０６の処理に戻り、所定時間が経過したとＳ１１０において判断すると図８に示す一連の処理を終了する。

次に、被検査体８０に含まれる異物８４の有無を検出する動作について説明する。

異物８４の検出用の被検査体８０が搬送ベルト９０によって搬送されると、Ｘ線源１１によって被検査体８０にＸ線１１ａが照射され、Ｘ線検出器１２の検出結果がコンピュータ１３に入力される。

コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果が入力されると、図１０に示す処理を開始する。

即ち、コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果に基づいてＸ線画像３０を生成し（Ｓ１２１）、生成したＸ線画像３０のうち図８に示す処理によって予め設定されていた第１分割閾値４１以上の濃度である画素の領域を被検査体領域３１とし、Ｘ線画像３０のうち被検査体領域３１以外の領域を被検査体外領域３２として分割し（Ｓ１２２）、分割した被検査体領域３１のうち図８に示す処理によって予め設定されていた第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を強影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち強影響領域３１ａ以外の領域を非強影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１２３）。

次いで、コンピュータ１３は、Ｓ１２３において分割した強影響領域のＸ線画像３０に対して画素の濃度と、所定の異物検出閾値５１（図１１参照。）とに基づいて異物８４の有無を判断し（Ｓ１２４）、Ｓ１２３において分割した非強影響領域３１ｂのＸ線画像３０に対して画素の濃度と、異物検出閾値５１とは異なる所定の異物検出閾値５２（図１２参照。）とに基づいて異物８４の有無を判断する（Ｓ１２５）。

そして、コンピュータ１３は、Ｓ１２４及びＳ１２５における判断の結果をディスプレイ１４に表示して（Ｓ１２６）、図１０に示す一連の処理を終了する。即ち、コンピュータ１３は、Ｓ１２４及びＳ１２５の少なくとも一方において異物８４が有ると判断したときは異物８４が有る旨をディスプレイ１４に表示し、Ｓ１２４及びＳ１２５の何れにおいても異物８４が無いと判断したときは異物８４が無い旨をディスプレイ１４に表示して、図１０に示す一連の処理を終了する。

コンピュータ１３は、異物８４の検出用の新たな被検査体８０が搬送ベルト９０によって搬送される度に、図１０に示す一連の処理を行う。

なお、図１０に示すＳ１２３において分割される強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂは、例えば被検査体８０の容器８１の形状が図４に示すように円柱状である場合に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の被検査体８０に対して図８に示す処理によって適切な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が設定されているとき、異物８４の検出用の被検査体８０がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図２に示すように通過した場合に図７に示すようになり、異物８４の検出用の被検査体８０がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図１３に示すように通過した場合に図１４に示すようになる。

また、図１０に示すＳ１２３において分割される強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂは、例えば被検査体８０の容器８１の形状が図４に示すように円柱状であって４つの被検査体８０が図１５に示すように一塊にされている場合に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の４つの被検査体８０の塊に対して図８に示す処理によって適切な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が設定されているとき、異物８４の検出用の４つの被検査体８０の塊がＸ線源１１及びＸ線検出器１２の間を図１６に示すように通過した場合に図１７に示すようになる。

以上に説明したように、コンピュータ１３は、図１０に示すＳ１２３において強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂという複数の領域に被検査体領域３１を分割するようになっており、領域分割手段を構成している。また、コンピュータ１３は、図１０に示すＳ１２４において強影響領域３１ａのＸ線画像３０に対して異物８４の有無を判断するようになっているとともに、図１０に示すＳ１２５において非強影響領域３１ｂのＸ線画像３０に対して異物８４の有無を判断するようになっており、異物判断手段を構成している。したがって、Ｘ線異物検出装置１０は、被検査体領域３１中の領域毎に領域毎用の処理によって異物８４の有無を判断するので、従来異物８４の有無を検査することができなかった領域８３（図２、図１３及び図１６参照。）についても検査することができ、異物８４の有無の判定の信頼性を従来より向上することができる。例えば、Ｘ線異物検出装置１０は、図２、図１３及び図１６に示すように、容器８１の影響によってＸ線１１ａが透過し難くＸ線画像３０中の強影響領域３１ａに対応する領域８３に異物８４が存在していても、その異物８４を検出することができる。

なお、コンピュータ１３は、各画素と異物検出閾値５１又は異物検出閾値５２とを単純に比較することによって異物８４の有無を判断するようになっているが、異物８４の有無をより適切に判断するために、Ｘ線画像３０に所定のフィルタをかけた後、フィルタをかけたＸ線画像３０に対して所定の閾値に基づいて異物８４の有無を判断するようになっていても良い。コンピュータ１３は、フィルタをかけたＸ線画像３０に対して異物８４の有無を判断するようになっている場合、強影響領域３１ａのＸ線画像３０に対してかけるフィルタと、非強影響領域３１ｂのＸ線画像３０に対してかけるフィルタとを異ならせても良い。

また、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０９において強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂを分割するための第２分割閾値４２を設定するようになっており、分割閾値設定手段を構成している。また、コンピュータ１３は、図１０に示すＳ１２３において画素の濃度分布と、第２分割閾値４２とに基づいて強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂを分割するようになっている。したがって、Ｘ線異物検出装置１０は、被検査体８０のＸ線画像３０のうち被検査体８０中の容器８１の影響が強いと想定される強影響領域３１ａに対しても、強影響領域３１ａ以外の非強影響領域３１ｂに対してと同様に異物８４の有無を検出することができる。

また、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０５において強影響領域３１ａをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっており、表示制御手段を構成している。また、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０９において利用者によって指定された第２分割閾値４２を設定するようになっている。したがって、Ｘ線異物検出装置１０は、第２分割閾値４２によって分割された強影響領域３１ａを利用者に見させながら利用者に第２分割閾値４２を指定させることができるので、利用者に第２分割閾値４２を容易に設定させることができる。コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０５において強影響領域３１ａをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっているが、強影響領域３１ａに代えて非強影響領域３１ｂをＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっていても良いし、強影響領域３１ａ及び非強影響領域３１ｂの両方をＸ線画像３０に重ねてディスプレイ１４に表示させるようになっていても良い。

なお、コンピュータ１３は、強影響領域３１ａのＸ線画像３０における被検査体８０の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を被検査体８０の搬送方向上の位置毎に表したグラフ、即ち図１１に示すようなグラフをディスプレイ１４に表示させるようになっていれば、強影響領域３１ａのＸ線画像３０に対して異物８４の有無を判断するための異物検出閾値５１を利用者に容易に設定させることができる。同様に、コンピュータ１３は、非強影響領域３１ｂのＸ線画像３０における被検査体８０の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を被検査体８０の搬送方向上の位置毎に表したグラフ、即ち図１２に示すようなグラフをディスプレイ１４に表示させるようになっていれば、非強影響領域３１ｂのＸ線画像３０に対して異物８４の有無を判断するための異物検出閾値５２を利用者に容易に設定させることができる。

また、コンピュータ１３は、図８に示す処理の開始前に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２が初期値として予め“１００”に設定されるようになっているが、Ｘ線検出器１２の検出結果の入力後、図８に示す処理の開始前に第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の少なくとも一方を自動的に設定するようになっていても良い。例えば、コンピュータ１３は、Ｘ線検出器１２の検出結果が入力されると、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２の設定用の被検査体８０の図６に示すようなＸ線画像３０における画素の濃度分布に基づいて、最適な第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２を自動的に設定した後、図８に示す処理を開始するようになっていても良い。

（第２の実施の形態）
第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の構成は、コンピュータ１３に記録されたプログラムが異なることを除いて、第１の実施の形態に係るＸ線異物検出装置１０（図１参照。）の構成とほぼ同様であるので、Ｘ線異物検出装置１０の構成と同一の符号を付して説明する。

本実施の形態に係るＸ線異物検出装置の動作について説明する。

まず、第１分割閾値４１及び第２分割閾値４２を設定する動作について説明する。

コンピュータ１３は、図１８に示すように、図８に示すＳ１０１からＳ１０３までの処理と同様に、Ｓ１４１からＳ１４３までの処理を実行する。次いで、コンピュータ１３は、Ｓ１４３において分割した被検査体領域３１のうち現在の第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を強影響領域３１ａの候補である強影響候補領域３３ａ（図１９参照。）として分割し（Ｓ１４４）、分割した強影響候補領域３３ａのうち被検査体領域３１の境界に接した領域を図２０に示すように強影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち強影響領域３１ａ以外の領域を非強影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１４５）。そして、コンピュータ１３は、図８に示すＳ１０５からＳ１１０までの処理と同様に、Ｓ１４６からＳ１５１までの処理を実行して、図１８に示す一連の処理を終了する。

次に、被検査体８０に含まれる異物８４の有無を検出する動作について説明する。

コンピュータ１３は、図２１に示すように、図１０に示すＳ１２１及びＳ１２２の処理と同様に、Ｓ１６１及びＳ１６２の処理を実行する。次いで、コンピュータ１３は、Ｓ１６２において分割した被検査体領域３１のうち図１８に示す処理によって予め設定されていた第２分割閾値４２以上の濃度である画素の領域を強影響領域３１ａの候補である強影響候補領域３３ａとして分割し（Ｓ１６３）、分割した強影響候補領域３３ａのうち被検査体領域３１の境界に接した領域を強影響領域３１ａとし、被検査体領域３１のうち強影響領域３１ａ以外の領域を非強影響領域３１ｂとして分割する（Ｓ１６４）。そして、コンピュータ１３は、図１０に示すＳ１２４からＳ１２６までの処理と同様に、Ｓ１６５からＳ１６７までの処理を実行して、図２１に示す一連の処理を終了する。

以上に説明したように、本実施の形態に係るＸ線異物検出装置のコンピュータ１３は、画素の濃度分布及び第２分割閾値４２に基づいて強影響候補領域３３ａを分割し、被検査体領域３１の境界に接した強影響候補領域３３ａを強影響領域３１ａとして分割するようになっている。したがって、本実施の形態に係るＸ線異物検出装置は、被検査体８０のＸ線画像３０のうち実際には異物８４に対応する領域が誤って強影響領域３１ａに含まれる可能性を低減することができる。

以上のように、本発明に係るＸ線異物検出装置は、従来異物の有無を検査することができなかった領域についても検査することができ、異物の有無の判定の信頼性を従来より向上することができるという効果を有し、食品等の生産ライン上に設置されるＸ線異物検出装置等として有用である。

本発明の第１の実施の形態に係るＸ線異物検出装置のブロック図 （ａ）図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図 （ｂ）図２（ａ）に示す状況における図２（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図 図１に示すＸ線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図 （ａ）図２に示す被検査体の上面図 （ｂ）図４（ａ）に示す被検査体の側面図 図１に示すＸ線異物検出装置によって生成されたＸ線画像の被検査体領域及び被検査体外領域を示す図 図１に示すＸ線異物検出装置によって生成されたＸ線画像における画素の濃度分布を示す図 図１に示すＸ線異物検出装置によって生成されたＸ線画像の被検査体領域の強影響領域及び非強影響領域を示す図 利用者によって分割閾値が設定されるときの図１に示すＸ線異物検出装置の動作のフローチャート 利用者によって分割閾値が設定されるときに図１に示すＸ線異物検出装置のディスプレイに表示される画像を示す図 被検査体に含まれる異物の有無を検出するときの図１に示すＸ線異物検出装置の動作のフローチャート 図１に示すＸ線異物検出装置によって分割された強影響領域のＸ線画像における被検査体の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を被検査体の搬送方向における位置毎に表したグラフを示す図 図１に示すＸ線異物検出装置によって分割された非強影響領域のＸ線画像における被検査体の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を被検査体の搬送方向における位置毎に表したグラフを示す図 （ａ）図２に示す被検査体が図２に示す状況とは異なる状況で搬送されたときの図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図 （ｂ）図１３（ａ）に示す状況における図１３（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図 図１３に示す状況で被検査体が搬送されたときに図１に示すＸ線異物検出装置によって分割される強影響領域及び非強影響領域を示す図 （ａ）図４に示す被検査体の塊の上面図 （ｂ）図１５（ａ）に示す塊の側面図 （ａ）図１５に示す塊が搬送されたときの図１に示すＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図 （ｂ）図１６（ａ）に示す状況における図１６（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図 図１６に示す状況で図１５に示す塊が搬送されたときに図１に示すＸ線異物検出装置によって分割される強影響領域及び非強影響領域を示す図 利用者によって分割閾値が設定されるときの本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の動作のフローチャート 本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置によって分割される強影響候補領域を示す図 本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置によって分割される強影響領域及び非強影響領域を示す図 被検査体に含まれる異物の有無を検出するときの本発明の第２の実施の形態に係るＸ線異物検出装置の動作のフローチャート （ａ）従来のＸ線異物検出装置のＸ線源及びＸ線検出器の正面図 （ｂ）図２２（ａ）に示す状況における図２２（ａ）に示すＸ線源及びＸ線検出器の側面図 図２２に示すＸ線異物検出装置によって生成されたＸ線画像を示す図

符号の説明

１０ Ｘ線異物検出装置
１３ コンピュータ（領域分割手段、異物判断手段、分割閾値設定手段、表示制御手段）
１４ ディスプレイ（表示手段）
３０ Ｘ線画像
３１ 被検査体領域
３１ａ 強影響領域（領域）
３１ｂ 非強影響領域（領域）
３３ａ 強影響候補領域
４２ 第２分割閾値（分割閾値）
８０ 被検査体
８１ 容器（被検査体中の一部）
８４ 異物

Claims (5)

1. 搬送される被検査体（８０）を透過したＸ線量に基づいて生成されたＸ線画像（３０）を処理して前記被検査体に含まれる異物（８４）の有無を検出するＸ線異物検出装置（１０）において、
   前記Ｘ線画像中の前記被検査体に対応すると想定される被検査体領域（３１）を複数の領域（３１ａ、３１ｂ）に分割する領域分割手段（１３）と、前記領域分割手段によって分割された前記領域毎の前記Ｘ線画像に対して前記領域毎用の処理によって前記異物の有無を判断する異物判断手段（１３）とを備えたことを特徴とするＸ線異物検出装置。
2. 前記被検査体（８０）中の一部（８１）の影響が強いと想定される強影響領域（３１ａ）及び前記強影響領域以外の非強影響領域（３１ｂ）に前記被検査体領域（３１）を分割するための分割閾値（４２）を設定する分割閾値設定手段（１３）を備え、
   前記領域分割手段（１３）は、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段によって設定された前記分割閾値に基づいて前記強影響領域及び前記非強影響領域を分割することを特徴とする請求項１に記載のＸ線異物検出装置（１０）。
3. 前記領域分割手段（１３）は、画素の濃度分布及び前記分割閾値設定手段（１３）によって設定された前記分割閾値（４２）に基づいて前記強影響領域（３１ａ）の候補である強影響候補領域（３３ａ）を分割し、前記被検査体領域（３１）の境界に接した前記強影響候補領域を前記強影響領域として分割することを特徴とする請求項２に記載のＸ線異物検出装置（１０）。
4. 画像を表示する表示手段（１４）と、前記強影響領域（３１ａ）及び前記非強影響領域（３１ｂ）の少なくとも一方を前記Ｘ線画像（３０）に重ねて前記表示手段に表示させる表示制御手段（１３）とを備え、
   前記分割閾値設定手段（１３）は、利用者によって指定された前記分割閾値（４２）を設定することを特徴とする請求項２に記載のＸ線異物検出装置（１０）。
5. 画像を表示する表示手段（１４）と、前記強影響領域（３１ａ）の前記Ｘ線画像（３０）における前記被検査体（８０）の搬送方向上の位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を前記位置毎に表したグラフ及び前記非強影響領域（３１ｂ）の前記Ｘ線画像における前記位置が等しい画素のうち濃度が最大の画素の濃度を前記位置毎に表したグラフの少なくとも一方を前記表示手段に表示させる表示制御手段（１３）とを備えたことを特徴とする請求項２に記載のＸ線異物検出装置（１０）。