JP2006284380A - Analyzer - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置に関する。 The present invention relates to an analyzer for analyzing a sample prepared from a specimen and a reagent.
検体と試薬とから調整された試料に光源からの光を照射し、検体の様々な性状を分析する装置として、比色分析装置、蛍光分析装置、免疫分析装置等の分析装置が知られている。この種の分析装置には、ヒータを備え、当該ヒータにより検体及び試薬を所定の温度に加温したり、検体と試薬とを混合させて調整した試料を保温して分析を行うものが多く存在する(例えば、特許文献1参照)。 Analytical devices such as a colorimetric analyzer, a fluorescence analyzer, and an immunoanalyzer are known as devices that irradiate a sample prepared from a sample and a reagent with light from a light source and analyze various properties of the sample. . Many analyzers of this type are equipped with a heater, and the sample and reagent are heated to a predetermined temperature by the heater or the sample prepared by mixing the sample and the reagent is kept warm for analysis. (For example, refer to Patent Document 1).
かかる分析装置にあっては、分析装置を使用するに従って、ヒータが経時劣化するが、ヒータの劣化が進むと、加温対象を十分に加温することができなくなり、分析装置の測定結果に影響が出ることがある。しかしながら、従来の分析装置にあっては、保守を行う作業者がヒータの点検結果から経験によりヒータの劣化の程度を見極め、ヒータの交換が必要か否かを判断していた。かかるヒータの点検作業は、煩雑な手間を必要とし、作業者の負担が大きい。しかも、作業者の熟練の程度又は個人差によって、判断に差異が生じ、また、ユーザや未熟な作業者には判断が難しいという問題があった。 In such an analyzer, the heater deteriorates with time as the analyzer is used. However, as the heater progresses, the object to be heated cannot be sufficiently heated, which affects the measurement result of the analyzer. May appear. However, in the conventional analyzer, an operator who performs maintenance determines the degree of deterioration of the heater based on the inspection result of the heater, and determines whether or not the heater needs to be replaced. Such a heater check operation requires complicated labor and is burdensome to the operator. In addition, there is a problem that the judgment varies depending on the skill level of the worker or individual differences, and it is difficult for the user or an unskilled worker to judge.
本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる分析装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide an analyzer that can automatically determine the degree of deterioration of a heater and reduce a troublesome burden on an operator. And
本発明に係る分析装置は、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置であって、ヒータと、当該ヒータが加温する加温対象の温度を計測する温度計測部と、計時手段と、前記温度計測部により計測された温度と、前記計時手段により計測された時間とに基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備えることを特徴とする。 An analyzer according to the present invention is an analyzer that analyzes a sample prepared from a specimen and a reagent, and includes a heater, a temperature measuring unit that measures the temperature of a heating target that is heated by the heater, and a time measuring unit. And deterioration determining means for determining the degree of deterioration of the heater based on the temperature measured by the temperature measuring unit and the time measured by the time measuring means.
かかる構成とすることにより、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる。 By adopting such a configuration, it is possible to automatically determine the degree of deterioration of the heater, and to reduce the troublesome burden on the operator.
上記発明においては、前記劣化判定手段は、前記ヒータの加温に関する加温時間を取得する加温時間取得手段を更に備え、前記加温時間取得手段により取得された加温時間に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されていることが好ましい。 In the above invention, the deterioration determination means further includes a heating time acquisition means for acquiring a heating time related to the heating of the heater, and based on the heating time acquired by the heating time acquisition means, It is preferable to be configured to determine the degree of deterioration of the heater.
ヒータの劣化の程度は、目的の温度まで到達するのにかかる時間、即ちヒータの温度上昇速度に密接に関係する。したがって、かかる構成とすることにより、加温時間に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。 The degree of deterioration of the heater is closely related to the time required to reach the target temperature, that is, the rate of temperature rise of the heater. Therefore, with this configuration, it is possible to easily and accurately determine the degree of deterioration of the heater based on the heating time.
上記発明においては、前記加温時間取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第1温度から所定の第2温度まで上昇する場合にかかる加温時間を取得するように構成されていることが好ましい。 In the above invention, the heating time acquisition means is configured to acquire a heating time when the temperature measured by the temperature measuring unit rises from a predetermined first temperature to a predetermined second temperature. It is preferable that
かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温時間を、第1温度から第2温度まで上昇する場合にかかる時間に統一することができるので、様々な周囲温度(外部環境温度)においても正確な劣化の判定が可能となる。 By adopting such a configuration, the heating time used for the deterioration determination can be unified to the time required when the temperature rises from the first temperature to the second temperature. Therefore, it is accurate even at various ambient temperatures (external environmental temperatures). Can be determined.
上記発明においては、前記ヒータが加温を開始してからの経過時間を取得する初期経過時間取得手段と、前記温度計測部により計測された温度が前記第1温度に到達していないときに、前記初期経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する初期故障判定手段を更に備える構成とすることが好ましい。また、前記温度計測部により計測された温度が前記第1温度に到達してからの経過時間を取得する経過時間取得手段と、前記温度計測部により計測された温度が前記第2温度に到達していないときに、前記経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する故障判定手段を更に備える構成とすることもできる。 In the above invention, when the temperature measured by the temperature measurement unit and the initial elapsed time acquisition means for acquiring the elapsed time since the heater started heating, and when the temperature does not reach the first temperature, An initial failure determination that compares the elapsed time acquired by the initial elapsed time acquisition means with a predetermined failure determination time, and determines that the heater is in failure when the elapsed time exceeds the failure determination time. It is preferable to further comprise means. In addition, an elapsed time acquisition unit that acquires an elapsed time after the temperature measured by the temperature measurement unit reaches the first temperature, and a temperature measured by the temperature measurement unit reaches the second temperature. When the elapsed time exceeds the failure determination time, the elapsed time acquired by the elapsed time acquisition means is compared with a predetermined failure determination time. It is also possible to adopt a configuration further comprising failure determination means.
これにより、ヒータの劣化の程度だけでなく、ヒータが故障しているか否かを判別することができ、より一層ヒータの保守作業が容易になる。 Thereby, it is possible to determine not only the degree of deterioration of the heater but also whether or not the heater is out of order, and the maintenance work of the heater is further facilitated.
上記発明においては、ヒータの加温時間とヒータの劣化の程度との関係が記憶された記憶部を更に備え、前記劣化判定手段は、前記加温時間取得手段により取得された加温時間を前記記憶部に記憶された関係に照合し、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されていることが好ましい。 In the above-mentioned invention, it further includes a storage unit that stores a relationship between the heating time of the heater and the degree of deterioration of the heater, and the deterioration determination means includes the heating time acquired by the heating time acquisition means. It is preferable to check the degree of deterioration of the heater by comparing with the relationship stored in the storage unit.
上記発明においては、前記劣化判定手段は、前記ヒータの加温に関する加温速度を取得する加温速度取得手段を更に備え、前記加温速度取得手段により取得された加温速度に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成することも可能である。 In the above invention, the deterioration determination means further comprises a heating speed acquisition means for acquiring a heating speed related to the heating of the heater, and based on the heating speed acquired by the heating speed acquisition means, It is also possible to configure so as to determine the degree of deterioration of the heater.
ヒータの劣化の程度は、上述したようにヒータの温度上昇速度に密接に関係する。したがって、かかる構成とすることにより、ヒータの加温速度に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。 As described above, the degree of deterioration of the heater is closely related to the temperature rise rate of the heater. Therefore, by adopting such a configuration, it is possible to easily and accurately determine the degree of deterioration of the heater based on the heating rate of the heater.
上記発明においては、前記加温速度取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第1温度から所定の第2温度まで上昇する間における加温速度を取得するように構成されていることが好ましい。また、この場合においては、前記加温速度取得手段を、前記温度計測部により計測された温度が所定の第1温度を超えてから所定時間経過するまでの加温速度を取得するように構成することもできる。 In the above invention, the heating rate acquisition means is configured to acquire a heating rate while the temperature measured by the temperature measuring unit rises from a predetermined first temperature to a predetermined second temperature. It is preferable. In this case, the heating rate acquisition means is configured to acquire a heating rate until a predetermined time elapses after the temperature measured by the temperature measurement unit exceeds a predetermined first temperature. You can also
かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温速度を、第1温度から第2温度まで上昇する間における加温速度に統一することができるので、様々な周囲温度(外部環境温度)においても正確な劣化の判定が可能となる。 By adopting such a configuration, the heating rate used for the deterioration determination can be unified with the heating rate during the rise from the first temperature to the second temperature, so even at various ambient temperatures (external environmental temperatures). Accurate determination of deterioration becomes possible.
上記発明においては、前記劣化判定手段による劣化判定結果を記録する判定結果記録手段と、前記判定結果記録手段に記録されている過去の劣化判定結果と、前記劣化判定手段による現在の劣化判定結果とに基づいて、前記ヒータを交換する必要があるか否かを判定するヒータ交換判定手段とを更に備える構成とすることが好ましい。 In the above invention, the determination result recording means for recording the deterioration determination result by the deterioration determination means, the past deterioration determination result recorded in the determination result recording means, and the current deterioration determination result by the deterioration determination means It is preferable to further include a heater replacement determination unit that determines whether or not the heater needs to be replaced based on the above.
ヒータの劣化は経時的に進行する場合が多い。したがって、かかる構成とすることにより、過去の劣化判定と現在の劣化判定とによって経時的なヒータの劣化の推移が明らかとなるので、これに基づいて正確にヒータの交換の要否を判定することができる。 The deterioration of the heater often proceeds with time. Therefore, by adopting such a configuration, the transition of the deterioration of the heater over time is clarified by the past deterioration determination and the current deterioration determination. Based on this, it is possible to accurately determine whether the heater needs to be replaced. Can do.
上記発明においては、前記劣化判定手段による判定結果を表示する表示部を更に備える構成とすることが好ましい。これにより、作業者が容易にヒータの劣化判定を把握することができる。 In the said invention, it is preferable to set it as the structure further provided with the display part which displays the determination result by the said deterioration determination means. Thereby, the operator can grasp | ascertain the deterioration determination of a heater easily.
上記発明においては、前記ヒータは、検体、試薬及び前記試料のうち少なくとも1つを加温するように構成されていることが好ましい。 In the said invention, it is preferable that the said heater is comprised so that at least 1 may be heated among a sample, a reagent, and the said sample.
本発明に係る分析装置によれば、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる。 According to the analyzer according to the present invention, it is possible to automatically determine the degree of deterioration of the heater, and to reduce the troublesome burden on the operator.
以下、本発明の実施の形態に係る分析装置について、図面を参照しながら具体的に説明する。なお、本実施形態では、分析装置1として、血液凝固分析装置を用いた場合について説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る分析装置1の構成を示す概略図である。なお、図1に示すように、分析装置1は、測定部2と、搬送部3と、データ処理部4とによって主として構成されている。搬送部3は、測定部2の前方に配置されており、検体(血漿または血清)を測定部2に自動的に供給できるように構成されている。測定部2は、このようにして搬送部3から供給された検体に対して、生物活性法、合成基質法又は免疫比濁法を用いて、検体中に含まれる凝固・線溶因子の成分を分析することが可能となっている。また、測定部2は、データ処理部4とLANケーブルによって接続されており、データ処理部4に分析結果を送信することが可能である。
Hereinafter, an analyzer according to an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. In the present embodiment, a case where a blood coagulation analyzer is used as the
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an
図2は、測定部2及び搬送部3の構成を示す平面図である。図2に示すように、搬送部3は、検体が収容された複数(例えば10本)の検体容器5が収納された検体ラック6を搬送するための搬送路3Aを備えている。この搬送路3Aの中間部は、検体供給位置7とされている。外部から供給された検体ラック6は、搬送路3Aに沿って搬送され、検体供給位置7まで到達する。そして、測定部2は、検体供給位置7に到達した検体ラック6の検体容器5から検体を吸引し、この検体に対して測定を実行する。
FIG. 2 is a plan view showing configurations of the
次に、測定部2の構成について説明する。図2に示すように、測定部2は、テーブルユニット9と、キュベット供給部12と、キュベット移送部13、23と、緩衝液収容部14と、検体分注部15、16と、加温テーブル17と、試薬分注部18、19、検出部21と、キュベット排出部24と、制御部25とから主として構成されている。
Next, the configuration of the
テーブルユニット9は、測定部2の中央に設けられている。このテーブルユニット9は、複数の円板状及び円環状のテーブルが同軸配置されており、夫々のテーブルが互いに独立的に回転動作することが可能である。夫々のテーブルには、複数の収納穴10が設けられており、これらの収納穴10に試薬容器9B及びキュベット8をセットすることができる。図3は、キュベット8の外観を示す斜視図である。図3に示すように、キュベット8は、一端を開放し、もう一端を閉じて丸底にした細長い管状に形成されている。かかるキュベット8には、検体及び試料(検体と試薬との混合液)が収容されるようになっている。また、かかるテーブルユニット9の下部には、ペルチェ素子を備えた冷却装置(図示せず)が設けられており、この冷却装置によって試薬容器9B内に収容された試薬の温度は約15℃に保たれる。
The
図2に示すように、かかるテーブルユニット9の図中右側(以下、図2中の右側を右側といい、図2中の左側を左側という)には、キュベット供給部12及びキュベット移送部13が設けられている。キュベット供給部12は、テーブルユニット9に供給されるキュベット8を複数ストックすることが可能となっている。また、キュベット移送部13は、このキュベット供給部12にストックされたキュベット8をテーブルユニット9へ移送し、収納穴10にセットする。
As shown in FIG. 2, on the right side of the table unit 9 (hereinafter, the right side in FIG. 2 is referred to as the right side and the left side in FIG. 2 is referred to as the left side), the
また、テーブルユニット9の左前側には、2つの検体分注部15,16が設けられている。図4は、検体分注部15の構成を示す側面図である。図4に示すように、検体分注部15は、機構部15Aと、軸15Bと、アーム15Cと、保持具15Dと、ピペット15Eとを備えている。機構部15Aには、上方向に向かって円柱状に延びた軸15Bが支持されている。この軸15Bは、機構部15Aによってその中心軸回りに回動し、また、上下方向に往復直線運動することが可能である。この軸15Bの上端には、アーム15Cがこの軸15Bに直交して取り付けられている。このアーム15Cの先端には、保持具15Dが取り付けられており、この保持具15Dに、注射針状のピペット15Eが下方向に延びるように保持されている。これにより、ピペット15Eは、軸15B、アーム15C、保持具15Dと一体的に軸15Bを中心とした円周方向に回転し、上下方向に往復直線運動することができる。また、ピペット15Eには、液の吸引、吐出を行うためのシリンジ(図示せず)が接続されている。当該シリンジによって、ピペット15Eは、検体を吸引し、吸引した検体を吐出することが可能となっている。これにより、検体分注部15は、検体供給位置7の検体容器5に収容された検体を所定の量だけ吸引し、その後、テーブルユニット9にセットされたキュベット8までピペット15Eを移動させ、キュベット8に検体を吐出することができる。
Further, two
検体分注部16の構成は、検体分注部15と構成と同様であるので、その説明を省略する。テーブルユニット9の前方には、緩衝液収納部14が左右方向に移動可能に設けられている。この緩衝液収納部14には、複数の収納穴が設けられており、検体を希釈するための緩衝液が収容された緩衝液容器がセットされるようになっている。検体分注部16は、かかる緩衝液収納部14にセットされた緩衝液容器から緩衝液を所定の量だけ吸引し、ピペット16Eをテーブルユニット9の上方まで移動させ、検体が収容されたキュベット8から検体を測定項目に応じて必要な分量だけ吸引し、検体を希釈する。その後、検体分注部16は、テーブルユニット9にセットされた空のキュベット8に希釈した検体を吐出する。
The configuration of the
また、前記テーブルユニット9の左後側には試薬分注部18が設けられており、テーブルユニット9の右後側には試薬分注部19が設けられている。図5は、試薬分注部18の構成を示す側面図である。図5に示すように、試薬分注部18は、機構部18Aと、軸18Bと、アーム18Cと、保持具18Dと、加温ピペット18Eとを備えている。概ね円筒状の加温ピペット18Eは、保持具18Dに下方向に延びるように保持されており、またシリンジ(図示せず)に接続されている。加温ピペット18Eは、前記シリンジが動作することにより、試薬を吸引し、吸引した試薬を吐出することが可能である。また、加温ピペット18Eは、ピペット18I、加温部18F、ヒータ18Hにより構成されている。ピペット18Iは、注射針状に形成されており、このピペット18Iの外周面が、アルミニウム合金製の加温部18Fによって覆われている。また、この加温部18Fの外周には、ヒータ18H(電熱線)が取り付けられており、更にその外側は熱伝導率の低いポリウレタン樹脂製の断熱材で覆われている。これにより、このヒータ18Hが熱を発生すると、熱伝導性のよいアルミニウム合金製である加温部18Fには、ヒータ18Hの熱が速やかに伝わっていく。また、加温部18Fの外側は熱伝導率の低いポリウレタン樹脂製の断熱材で覆われているため、当該断熱材の外部へ熱が発散しにくく、ヒータ18Hからの熱により、ピペット18I内に吸引された試薬を効率的に加熱することが可能である。このヒータ18Hの近傍にはサーミスタ18Gが設けられており、この加温ピペット18Eは細長く、ピペット18Iの細管に吸引された試薬にはヒータ18Hの熱が迅速に伝わるため、試薬の温度はヒータ18Hの温度と実質的に同一であり、したがってサーミスタ18Gによって実質的に試薬の温度を測定することが可能である。かかるヒータ18H及びサーミスタ18Gは、後述する制御部25と電気的に接続されている。この制御部25は、サーミスタ18Gの出力信号を受信し、加温ピペット18E内の試薬が所定の温度となるように、ヒータ18Hに流れる電流量を制御しヒータ18Hの温度制御を行うようになっている。なお、試薬分注部18のその他の構成は、検体分注部15の構成と同様であるので、その説明を省略する。かかる試薬分注部18は、テーブルユニット9にセットされている試薬容器9Bから試薬を所定の量だけ吸引する。前記冷却装置によって当該試薬の温度は約15℃に保たれているため、試薬分注部18は、加温ピペット18Eで吸引した試薬を所定の温度(約37℃)まで加温した後、加温ピペット18Eを後述する加温テーブル17の上方にある試薬混合位置20Bまで移動させ、試薬を試薬混合位置20Bに移送されてきたキュベット8内に吐出する。
A
試薬分注部19の構成は、試薬分注部18の構成と同様であるので、その説明を省略する。この試薬分注部19は、テーブルユニット9にセットされている試薬容器9Bから試薬を所定の量だけ吸引し、加温ピペット19Eで吸引した試薬を所定の温度(約37℃)まで加温した後、加温ピペット19Eを後述する検出部21の上方にある試薬混合位置22Bまで移動させ、試薬を試薬混合位置22Bに移送されてきたキュベット8内に吐出する。
Since the configuration of the
図2に示すように、前記テーブルユニット9の左後側には、加温テーブル17が設けられている。この加温テーブル17は、円板状の回転テーブルであり、円周方向に回転することが可能なように構成されている。また、この加温テーブル17の上面には、円周方向に沿って複数のキュベット収納穴17Aが設けられている。加温テーブル17の近傍には図示しないキュベット移送部が設けられており、このキュベット移送部によってテーブルユニット9にセットされたキュベット8が移送され、キュベット収納穴17Aにセットされる。
As shown in FIG. 2, a heating table 17 is provided on the left rear side of the
図6は、加温テーブル17の構成を示す側面断面図であり、図7は、その平面図である。図6に示すように、加温テーブル17の下部には、アルミニウム合金製の加温部17Bが設けられており、加温部17B及び後述するヒータ17Cの周囲は、合成樹脂製のカバー17Eで覆われている。この加温部17Bの下部には、当該加温部17Bを加熱することが可能なようにヒータ17Cが密着して設けられている。このヒータ17Cは、シリコンゴムシート内にニッケル合金抵抗体を設けた円環板状の発熱体であり、その周囲はガラスクロスで覆われたいわゆるシリコンラバーヒータである。図7に示すように、このヒータ17Cは、円板状の2つの部材が上下に配置されて構成された加温部17Bに同軸的に取り付けられており、丁度、各キュベット収納穴17Aの直下にヒータ17Cが位置するようになっている。これにより、このヒータ17Cが熱を発生すると、熱伝導性のよいアルミニウム合金製である加温部17Bに、ヒータ17Cの熱が速やかに伝わっていく。この加温部17Bの周囲は合成樹脂製のカバー17Eで覆われているため、加温部17Bの外部へ熱が発散しにくく、キュベット収納穴17Aに収納されたキュベット8内の検体及び試料を効率的に加熱することが可能である。また、図6に示すように、この加温部17Bの内部にはサーミスタ17Dが設けられている。かかるサーミスタ17Dは、キュベット収納穴17Aの近傍位置に配置されており、サーミスタ17Dによってキュベット収納穴17Aにセットされたキュベット8内の液体の温度を計測することができるようになっている。また、ヒータ17Cは、前述のヒータ18Hと同様に、制御部25によって温度制御され、これによりキュベット収納穴17Aにセットされたキュベット8内の液体(検体又は試料)が所定温度(37℃)に加温される。加温後のキュベット8は、前述したキュベット移送部によってキュベット収納穴17Aから取り出され、試薬混合位置22Bまで移送される。その後、試薬分注部18によってかかるキュベット8内に試薬が吐出され、キュベット移送部によりキュベット8内の液体が撹拌混合されて試料が作成される。その後、キュベット移送部が再度キュベット収納穴17Aにこのキュベット8をセットする。
FIG. 6 is a side sectional view showing the configuration of the heating table 17, and FIG. 7 is a plan view thereof. As shown in FIG. 6, a heating part 17B made of an aluminum alloy is provided at the lower part of the heating table 17, and the periphery of the heating part 17B and a
図2に示すように、かかる加温テーブル17の右側には、検出部21が設けられている。この検出部21は、概ね立方体状に形成されており、その上面には、左右方向に沿って10個の分析穴21Aが2列に並べて設けられている。また、検出部21の近傍には、図示しないキュベット移送部が設けられており、このキュベット移送部によって、試料を収容したキュベット8が加温テーブル17から試薬混合位置22Bまで移送される。その後、試薬分注部19によってかかるキュベット8内に試薬が吐出され、キュベット移送部によりキュベット8内の試料が撹拌混合される。その後、キュベット移送部がこのキュベット8を分析穴21Aにセットする。
As shown in FIG. 2, a
図8は、検出部21の構成を示す平面図である。図8に示すように、検出部21は、直方体ブロック状をなすアルミニウム合金製の加温部21Dの外側を熱伝導率の低い合成樹脂製のカバー21Eで覆った構成となっている。加温部21Dには、上述した分析穴21Aが設けられており、この分析穴21Aはカバー21Eで覆われておらず、加温部21Dのアルミニウム合金の表面が露出している。また、検出部21の内部には、キュベット8内の試料を加温するための長板状のヒータ21Bが設けられている。このヒータ21Bは、ヒータ17Cと同様なシリコンラバーヒータであり、前列に設けられた10個の分析穴21Aと後列に設けられた10個の分析穴21Aとの間に左右方向に延びるように配置されている。上述した加温テーブル17と同様に、アルミニウム合金製の加温部21Dには、ヒータ21Bの熱が速やかに伝わり、カバー21Eによって加温部21Dの外部へ熱が発散しにくく、分析穴21Aに収納されたキュベット8内の検体及び試料を効率的に加熱することが可能な構造となっている。また、この加温部21Dにはサーミスタ21Cが設けられている。このサーミスタ21Cは、前列の分析穴21の近傍に配置されており、サーミスタ21Cによって分析穴21Aにセットされたキュベット8内の液体の温度を計測することができるようになっている。前記ヒータ21Bは、制御部25によって温度制御され、これにより分析穴21Aにセットされたキュベット8内の液体(試料)が所定温度(37℃)に加温される。また、検出部21は、その内部に発光ダイオード及びハロゲンランプからなる光源(図示せず)及びフォトダイオードからなる受光素子(図示せず)を備えている。検出部21は、光源から分析穴21Aに収納されたキュベット8内の試料に向かって光を照射して、受光部で試料からの散乱光や透過光等を受け、受光信号として制御部25に送信する。
FIG. 8 is a plan view showing the configuration of the
分析が終了したキュベット8は、前述した移送部によって分析穴21Aから取り出され、テーブルユニット9の収納穴10にセットされる。また、前記テーブルユニット9の右側には、キュベット排出部24が設けられている。キュベット移送部23は、テーブルユニット9にセットされている分析が終了したキュベット8を移送し、キュベット排出部24へ廃棄する。
After the analysis, the
次に、制御部25の構成について説明する。図9は、測定部2の構成を示すブロック図である。図9に示すように、制御部25は、フラッシュメモリカードリーダ26と、CPU27と、メモリ28と、波形処理部29と、動作制御部31と、通信部33とを備えている。CPU27と、フラッシュメモリカードリーダ26、メモリ28、波形処理部29、動作制御部31及び通信部33は、相互にデータ伝送が可能であるようにデータ伝送線を介して接続されている。これにより、CPU27は、フラッシュメモリカードリーダ26、メモリ28に対するデータの読み出し及び書込み、並びに波形処理部29及び動作制御部31に対するデータの送受信が可能となっている。
Next, the configuration of the
フラッシュメモリカードリーダ26は、フラッシュメモリカード26Aに記録されたデータの読み出しに使用される。フラッシュメモリカード26Aは、フラッシュメモリ(図示せず)を有しており、外部から電力を供給されなくても、データを保持することができるようになっている。また、フラッシュメモリカード26Aには、CPU27に実行されるコンピュータプログラム及びこれに用いるデータ等が記録されており、リアルタイムオペレーティングシステムがインストールされている。かかるオペレーティングシステムは、ソフトウェアクロックの機能を備えており、時刻を計測することが可能である。なお、制御部25にハードウェアクロックを設け、当該ハードウェアクロックにより時刻を計測することとしてもよいことはいうまでもない。
The flash
また、フラッシュメモリカード26には、後述する劣化判定動作で使用する劣化判定開始温度Kset1、劣化判定終了温度Kset2、故障判定時間Tover1,Tover2が記録されている。以下の説明においては、劣化判定開始温度Kset1を25℃、劣化判定終了温度Kset2を30℃、故障判定時間Tover1を15分、故障判定時間Tover2を10分とするが、これに限定されるものではなく、他の値としてもよいことはいうまでもない。特に、故障判定時間Tover1,Tover2は、ヒータの加温対象の熱容量、Kset1,Kset2の設定値等を勘案して設定される。
Further, the
CPU27は、図示しないROMに記録されたコンピュータプログラム及びメモリ28にロードされたコンピュータプログラムを実行することが可能である。メモリ28は、SRAMまたはDRAM等によって構成されており、フラッシュメモリカード26Aに記録されているコンピュータプログラムの読み出しに用いられる。また、コンピュータプログラムを実行するときに、CPU27の作業領域及びデータの格納領域として利用される。
The
動作制御部31は、モータ、電磁弁、冷却装置等のデバイスを駆動するためのドライバ回路を有しており、CPU27が実行するプログラムに基づいて、テーブルユニット9、キュベット供給部12、キュベット移送部13、23、緩衝液収容部14、検体分注部15、16、加温テーブル17、試薬分注部18、19及び検出部21の動作制御を行うようになっている。また、かかる動作制御部31には、温度制御回路31aが設けられており、この温度制御回路31aによってヒータ17C、18H、19H、21Bの温度制御を行うことが可能である。温度制御回路31aは、加温テーブル17に設けられたヒータ17C及びサーミスタ17D、試薬分注部18、19に設けられたヒータ18H、19H及びサーミスタ18G、19G、検出部21に設けられたヒータ21B及びサーミスタ21C、並びに測定部2の周囲温度を計測するためのサーミスタ25Aと夫々配線コード等を介して接続されており、サーミスタ17D,18G,19G,21C,25Aの検出信号を夫々受信し、ヒータ17C、18H、19H、21Bに制御信号を送信するようになっている。かかる温度制御回路31aは、サーミスタ17D,18G,19G,21C夫々の検出温度と、予め設定された目標温度(37℃)とに基づいて、ヒータ17C、18H、19H、21Bに与えるパルス電圧信号を生成する。かかるパルス電圧信号はPID制御によりパルス幅が決定され、これにより、ヒータ17C、18H、19H、21Bに与えられる電流が制御(PWM制御)される。
The
サーミスタ25Aは、ヒータや冷却装置による温度の影響を受けない測定部2の内部部位に設けられている。このサーミスタ25Aによって、測定部2の周囲温度(外部環境温度、室温)を計測することが可能である。
The thermistor 25A is provided in the internal part of the
通信部33は、例えば、Ethernet(登録商標)インタフェースであり、測定部2は、当該通信部33により、所定の通信プロトコルを使用して、データ処理部4との間でデータの送受信が可能である。
The
この波形処理部29と検出部21とは、信号伝送ケーブルを介して接続されており、検出部21から出力された受光信号を波形処理部29に与えられるようになっている。波形処理部29は、かかる受光信号を信号処理し、この信号処理結果がCPU27に与えられる。CPU27は、当該信号処理結果に基づいて、検体の凝固時間、吸光度変化量等を算出し、これらの測定結果データを通信部33を通じてデータ処理部4へ送信する。
The
次に、データ処理部4の構成について説明する。図10は、本発明の実施の形態1に係る分析装置1が有するデータ処理部4の構成を示すブロック図である。データ処理部4は、本体41と、表示部42と、入力部43とを有するコンピュータによって構成されている。本体41は、CPU41Aと、ROM41Bと、RAM41Cと、ハードディスク41Dと、読出装置41Eと、入出力インタフェース41Fと、通信インタフェース41Gと、画像出力インタフェース41Hとを備えており、CPU41A、ROM41B、RAM41C、ハードディスク41D、読出装置41E、入出力インタフェース41F、通信インタフェース41G、および画像出力インタフェース41Hは、データ伝送用のバス41Iによって接続されている。
Next, the configuration of the
CPU41Aは、ROM41Bに記憶されているコンピュータプログラムおよびRAM41Cにロードされたコンピュータプログラムを実行することが可能である。そして、後述するようなコンピュータプログラムを当該CPU41Aが実行することにより、当該コンピュータがデータ処理部4として機能する。
The CPU 41A can execute the computer program stored in the ROM 41B and the computer program loaded in the RAM 41C. The computer functions as the
ROM41Bは、マスクROM、PROM、EPROM、EEPROM等によって構成されており、CPU41Aに実行されるコンピュータプログラムおよびこれに用いるデータ等が記録されている。 The ROM 41B is configured by a mask ROM, PROM, EPROM, EEPROM, or the like, in which computer programs executed by the CPU 41A, data used for the same, and the like are recorded.
RAM41Cは、SRAMまたはDRAM等によって構成されている。RAM41Cは、ROM41Bおよびハードディスク41Dに記録されているコンピュータプログラムの読み出しに用いられる。また、これらのコンピュータプログラムを実行するときに、CPU41Aの作業領域として利用される。 The RAM 41C is configured by SRAM, DRAM, or the like. The RAM 41C is used for reading computer programs recorded in the ROM 41B and the hard disk 41D. Further, when these computer programs are executed, they are used as a work area of the CPU 41A.
ハードディスク41Dは、オペレーティングシステムおよびアプリケーションプログラム等、CPU41Aに実行させるための種々のコンピュータプログラムおよび当該コンピュータプログラムの実行に用いるデータがインストールされている。 The hard disk 41D is installed with various computer programs to be executed by the CPU 41A, such as an operating system and application programs, and data used for executing the computer programs.
また、ハードディスク41Dには、後述するヒータの劣化判定動作で使用する履歴データベースDB41が設けられている。図11は、履歴データベースDB41の一例を示す模式図である。この履歴データベースDB41は、リレーショナルデータベースであり、劣化率フィールド41aと判定時刻フィールド41bとを有している。かかる劣化率フィールド41aには、劣化率が格納され、判定時刻フィールド41bには、劣化率を判定した時刻(日時)が格納される。1つのレコードの劣化率と判定時刻とは対応付けられており、これによってCPU41Aは劣化率と当該劣化率が判定された時刻とを取得することができるようになっている。
The hard disk 41D is provided with a history database DB41 used in a heater deterioration determination operation described later. FIG. 11 is a schematic diagram illustrating an example of the history database DB41. The history database DB41 is a relational database and has a
読出装置41Eは、フレキシブルディスクドライブ、CD−ROMドライブ、またはDVD−ROMドライブ等によって構成されており、可搬型記録媒体44に記録されたコンピュータプログラムまたはデータを読み出すことができる。また、可搬型記録媒体44には、コンピュータをデータ処理装置4として機能させるためのコンピュータプログラムが格納されており、CPU41Aが当該可搬型記録媒体44から本発明に係るコンピュータプログラムを読み出し、当該コンピュータプログラムをハードディスク41Dにインストールすることが可能である。
The reading device 41E is configured by a flexible disk drive, a CD-ROM drive, a DVD-ROM drive, or the like, and can read a computer program or data recorded on the portable recording medium 44. In addition, the portable recording medium 44 stores a computer program for causing a computer to function as the
なお、前記コンピュータプログラムは、可搬型記録媒体44によって提供されるのみならず、電気通信回線(有線、無線を問わない)によってデータ処理部4と通信可能に接続された外部の機器から前記電気通信回線を通じて提供することも可能である。例えば、前記コンピュータプログラムがインターネット上のサーバコンピュータのハードディスク内に格納されており、このサーバコンピュータにデータ処理部4がアクセスして、当該コンピュータプログラムをダウンロードし、これをハードディスク41Dにインストールすることも可能である。
The computer program is provided not only by the portable recording medium 44 but also from an external device that is communicably connected to the
また、ハードディスク41Dには、例えば米マイクロソフト社が製造販売するWindows(登録商標)等のグラフィカルユーザインタフェース環境を提供するオペレーティングシステムがインストールされている。かかるオペレーティングシステムは、ソフトウェアクロックの機能を備えており、時刻を計測することが可能である。なお、当該コンピュータにハードウェアクロックを設け、当該ハードウェアクロックにより時刻を計測することとしてもよいことはいうまでもない。以下の説明においては、本実施の形態1に係るコンピュータプログラムは当該オペレーティングシステム上で動作するものとしている。 In addition, an operating system that provides a graphical user interface environment such as Windows (registered trademark) manufactured and sold by US Microsoft Co. is installed in the hard disk 41D. Such an operating system has a software clock function, and can measure time. Needless to say, the computer may be provided with a hardware clock, and the time may be measured using the hardware clock. In the following description, it is assumed that the computer program according to the first embodiment operates on the operating system.
入出力インタフェース41Fは、例えばUSB,IEEE1394,RS232C等のシリアルインタフェース、SCSI,IDE,IEEE1284等のパラレルインタフェース、およびD/A変換器、A/D変換器等からなるアナログインタフェース等から構成されている。入出力インタフェース41Fには、キーボードおよびマウスからなる入力部43が接続されており、ユーザが当該入力部43を使用することにより、データ処理部4にデータを入力することが可能である。
The input /
通信インタフェース41Gは、例えばEthernet(登録商標)インタフェースであり、データ処理部4は、当該通信インタフェース41Gにより、所定の通信プロトコルを使用して測定部2との間でデータの送受信が可能である。
The communication interface 41G is, for example, an Ethernet (registered trademark) interface, and the
画像出力インタフェース41Hは、LCDまたはCRT等で構成された表示部42に接続されており、CPU41Aから与えられた画像データに基づいた映像信号を表示部42に出力するようになっている。表示部42は、入力された映像信号にしたがって、画面表示を行う。
The
次に、本発明の実施の形態1に係る分析装置のヒータ劣化判定動作について説明する。まず、測定部2のヒータ劣化判定に関する動作について説明する。前述したように測定部2の制御部25内に設けられたフラッシュメモリカード26Aには、本発明の実施の形態1に係るヒータ劣化判定のコンピュータプログラムが記憶されている。このコンピュータプログラムは、測定部2の起動時に、フラッシュメモリカードリーダ26から読み出され、メモリ28にロードされて、CPU27が実行するようになっている。このコンピュータプログラムをCPU27が実行することによって、測定部2は、以下のように動作する。なお、以下には、ヒータ17Cに対する劣化判定を行う場合の測定部2の動作について説明するが、他のヒータ18H,19H,21Bについても同様の劣化判定動作が実行される。
Next, the heater deterioration determination operation of the analyzer according to the first embodiment of the present invention will be described. First, the operation relating to the heater deterioration determination of the
図12は、実施の形態1に係る測定部2によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。図12に示すように、測定部2のCPU27は、フラッシュメモリカード26Aに記録されたヒータ劣化判定開始温度Kset1、ヒータ劣化判定終了温度Kset2、及び故障判定時間Tover1、Tover2をフラッシュメモリカード26Aから読み出し、メモリ28に格納する(ステップS1)。CPU27は、ソフトウェアクロック(システムクロック)を参照してその時点の時刻T1を取得し(ステップS2)、サーミスタ17Dの温度K1を取得する(ステップS3)。
FIG. 12 is a flowchart showing the flow of the heater deterioration determination operation by the
次に、CPU27は、温度K1とヒータ劣化判定開始温度Kset1とを比較する(ステップS4)。温度K1がヒータ劣化判定開始温度Kset1より大きい場合には(ステップS4でNo)、CPU27は処理を終了する。このように、サーミスタ17Dの温度が劣化判定開始温度Kset1より高い場合は、測定部2はヒータ17Cの劣化判定動作を実行しない。これは、例えば、長時間使用されて十分に加温テーブル17の加温部17B(又は、試薬分注部18、19の加温ピペット18E、19E、検出部21の加温部21D)が加温されている状態で、測定装置2が再起動をかけられたり、測定装置2が一旦停止され、その直後に起動されたりすると、サーミスタ17D(又はサーミスタ18G、19G、21C)の検出温度が十分に高く、僅かな時間だけヒータ17C(又はヒータ18H,19H,21B)を動作させただけで目標温度に到達してしまうことから、正確に劣化の判定を行うことができないためである。
Next, the
ステップ4において、温度K1が劣化判定開始温度Kset1以下である場合には(ステップS4でYes)、CPU27は、温度K1と劣化判定開始温度Kset1とが等しいか否かを判別する(ステップS5)。ここで、温度K1と劣化判定開始温度Kset1とが異なる場合には(ステップS5でNo)、CPU27は、システムクロックからその時点の時刻T2を取得し(ステップS6)、かかる時刻T2と時刻T1との差を求め、初期経過時間Ton1を算出する(ステップS7)。また、CPU27は、ステップS7で算出した初期経過時間Ton1と故障判定時間Tover1とを比較し(ステップS8)、初期経過時間Ton1が故障判定時間Tover1未満である場合には(ステップS8でNo)、ステップS3に処理を戻して、温度K1が劣化判定開始温度Kset1と一致しない限りステップS3〜S8の処理を繰り返す。このループ処理において、初期経過時間Ton1は順次更新されるため、温度K1が劣化判定開始温度Kset1に至るまでの経過時間が計測されることとなる。そして、ステップS8において初期経過時間Ton1が故障判定時間Tover1以上である場合には(ステップS8でYes)、長時間をかけても(つまり、加温開始から15分経過しても)加温部17Bが十分に加温されず(つまり、加温部17Bの温度が25℃に至らず)、ヒータ17Cに故障が発生しているとみなして、CPU27は、初期経過時間Ton1が故障判定時間を超過したことを示す第1故障通知データをデータ処理部4へ送信し(ステップS9)、処理を終了する。
In
ステップS8において、温度K1と劣化判定開始温度Kset1とが等しい場合には(ステップS5でYes)、CPU27は、システムクロックからその時点の時刻T3を取得する(ステップS10)。次いで、CPU27は、再度システムクロックから時刻T4を取得し(ステップS11)、この時刻T4と時刻T3との差を求め、経過時間Ton2を算出する(ステップS12)。次に、CPU27は、サーミスタ17Dの温度K2を取得し(ステップS13)、この温度K2と劣化判定終了温度Kset2とを比較する(ステップS14)。
In step S8, when the temperature K1 and the deterioration determination start temperature Kset1 are equal (Yes in step S5), the
温度K2が劣化判定終了温度Kset2と異なる場合には(ステップS14でNo)、CPU27は、ステップS12で算出した経過時間Ton2と故障判定時間Tover2とを比較する(ステップS15)。ここで経過時間Ton2が故障判定時間Tover2未満である場合には(ステップS15でNo)、ステップS11に処理を戻して、温度K2が劣化判定終了温度Kset2と一致しない限りステップS11〜S15の処理を繰り返す。このループ処理において、経過時間Ton2は順次更新されるため、温度K2が劣化判定終了温度Kset2に至るまでの経過時間が計測されることとなる。そして、経過時間Ton2が故障判定時間Tover2以上である場合には(ステップS15でYes)、長時間をかけても(つまり、加温部17Bが25℃に達してから10分経過しても)加温部17Bが十分に加温されず(つまり、加温部17Bの温度が30℃に至らず)、ヒータ17Cに故障が発生しているとみなして、CPU27は、経過時間Ton2が故障判定時間を超過したことを示す第2故障通知データをデータ処理部4へ送信し(ステップS16)、処理を終了する。
When the temperature K2 is different from the deterioration determination end temperature Kset2 (No in step S14), the
ステップS14において、温度K2と劣化判定終了温度Kset2とが等しい場合には(ステップS14でYes)、CPU27は、サーミスタ17Dの検出温度が劣化判定開始温度Kset1から劣化判定終了温度Kset2まで上昇する間の経過時間Ton2をデータ処理部4へ送信し(ステップS17)、処理を終了する。
In step S14, when the temperature K2 and the deterioration determination end temperature K set2 are equal (Yes in step S14), the
次に、データ処理部4のヒータ劣化判定に関する動作について説明する。データ処理部4は、本体41内のハードディスク41Dに、本発明に係るヒータ故障判定のコンピュータプログラムを記憶している。このコンピュータプログラムは、CPU41Aによってハードディスク41Dから読み出され、RAM41Cにロードされて、CPU41Aが実行するようになっている。このコンピュータプログラムをCPU41Aが実行することによって、データ処理部4は、以下のように動作する。
Next, the operation regarding the heater deterioration determination of the
図13及び図14は、実施の形態1に係るデータ処理部4によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。まず、データ処理部4のCPU41Aは、測定部2から送信されたデータの受信を待機する(ステップS18)。ステップS18において、測定部2から受信したデータが第1故障通知データ又は第2故障通知データであった場合には(ステップS18において「故障通知データ」)、CPU41Aは、ヒータの交換を促すヒータ交換通知ウィンドウ42Aを表示部42に表示させ(ステップS19)、その後、処理を終了する。図15は、ヒータ交換通知ウィンドウ42Aの一例を示す模式図である。図15に示すように、ヒータ交換通知ウィンドウ42Aには、「ヒータの故障が発生しました」、「ヒータが所定時間を過ぎても設定温度に到達しませんでした。ヒータが故障していますので、すみやかにヒータを交換してください」といったメッセージが表示される。このようにヒータ交換通知ウィンドウ42Aには、ヒータが故障しており、交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、従来必要であったヒータの故障判定の手間を作業者に負担させることなく、ヒータが故障している否かを自動的に判定することが可能となる。ユーザ・作業者は、かかるヒータ交換通知ウィンドウ42Aを確認するだけで、ヒータに故障が発生したことを知ることができ、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。なお、ヒータを特定する型番や、ヒータの交換箇所を示す画像、またはヒータの交換手順を案内する画像・メッセージを同時に表示することとしてもよい。このようにすることにより、より一層ヒータの交換作業が容易となる。
FIGS. 13 and 14 are flowcharts showing the flow of operations related to heater deterioration determination by the
一方、ステップS18において、測定部2から受信したデータが経過時間Ton2であった場合には(ステップS18において「経過時間データ」)、データ処理部4のCPU41Aは、ヒータ17Cの劣化率を判定する(ステップS20)。ステップS20の処理においては、ヒータの加温時間(ここでは、サーミスタ17Dの検出温度(つまり、加温部17Bの温度)が25℃から30℃まで上昇するのに要した経過時間Ton2)とヒータの劣化率との関係を示す劣化率テーブル50が用いられる。図16は、劣化率テーブル50の一例を示す図である。図16に示すように、劣化率テーブル50は、複数の加温時間の範囲と、劣化率とが対応付けられたルックアップテーブルである。加温時間が短い場合には、ヒータの加温能力が高いため対応するヒータの劣化率は低く、加温時間が長くなるにしたがって、対応する劣化率は高くなっている。CPU41Aは、ステップS20の処理では、この劣化率テーブル50に経過時間Ton2を照合し、経過時間Ton2に対応するヒータの劣化率を取得する。その後、CPU41は、システムクロックからその時点の時刻T5を取得し(ステップS21)、ステップS20で取得した劣化率と、ステップS21で取得した時刻T5とを対応付けて、履歴データベースDB41に格納する(ステップS22)。
On the other hand, when the data received from the
次に、CPU41Aは、データベースDB41から前回の劣化率判定で得られた劣化率及びその判定時刻、即ち、ステップS22で今回格納したデータの一つ前のデータを履歴データベースDB41から読み出す(ステップS23)。 Next, the CPU 41A reads, from the history database DB41, the deterioration rate obtained by the previous deterioration rate determination and the determination time thereof, that is, the previous data stored in step S22 from the database DB41 (step S23). .
ここで、CPU41Aは、ステップS20で取得した劣化率、即ち今回の劣化率判定で得られた劣化率が30%未満であるか否かを判別する(ステップS24)。劣化率が30%未満の場合には(ステップS24でYes)、CPU41Aは、ヒータの劣化状態を通知する劣化状態通知ウィンドウ42Bを表示部42に表示させ(ステップS25)、処理を終了する。 Here, the CPU 41A determines whether or not the deterioration rate acquired in step S20, that is, the deterioration rate obtained in the current deterioration rate determination is less than 30% (step S24). When the deterioration rate is less than 30% (Yes in Step S24), the CPU 41A displays a deterioration state notification window 42B for notifying the deterioration state of the heater on the display unit 42 (Step S25), and ends the process.
図17は、劣化状態通知ウィンドウ42Bの一例を示す模式図である。図17に示すように、劣化状態通知ウィンドウ42Bには、「ヒータの劣化率は、30%未満です」、「前回の劣化率は0%で、判定時刻は、3/12 13:00でした」、「ヒータの交換は必要ありません」といったメッセージが表示される。このように劣化状態通知ウィンドウ42Bには、今回の劣化率、前回の劣化率、前回の劣化率判定の実施時刻、ヒータの交換が必要のない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、ユーザ・作業者は、劣化状態通知ウィンドウ42Bを確認するだけで、ヒータの交換が必要のないことを把握することができる。また、前回の劣化率とその判定時刻とを表示することにより、ユーザ・作業者はヒータの劣化率の推移を把握することができる。
FIG. 17 is a schematic diagram illustrating an example of the deterioration state notification window 42B. As shown in FIG. 17, in the deterioration
ステップS24において、劣化率が30%以上であった場合には(ステップS24でNo)、CPU41Aは、ヒータの劣化率が50%未満であるか否かを判別する(ステップS26)。ここで劣化率が50%未満の場合には(ステップS26でYes)、CPU41Aは、劣化状態通知ウィンドウを表示部42に表示させる(ステップS27)。かかる劣化状態通知ウィンドウには、今回の劣化率、即ち劣化率が30%〜50%未満である旨、前回の劣化率、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要ない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。CPU41Aは、かかる劣化状態通知ウィンドウを表示した後、処理を終了する。 In step S24, when the deterioration rate is 30% or more (No in step S24), the CPU 41A determines whether or not the heater deterioration rate is less than 50% (step S26). If the deterioration rate is less than 50% (Yes in step S26), the CPU 41A displays a deterioration state notification window on the display unit 42 (step S27). In this deterioration state notification window, the user / work indicates that the current deterioration rate, that is, the deterioration rate is 30% to less than 50%, the previous deterioration rate, the previous deterioration determination time, and the heater need not be replaced. A message / image to notify the user is displayed. After displaying the deterioration state notification window, the CPU 41A ends the process.
ステップS26において、劣化率が50%以上であった場合には(ステップS26でNo)、CPU41Aは、ヒータの劣化率が70%未満か否かを判別し(ステップS28)、劣化率が70%未満の場合には(ステップS28でYes)、前回の劣化率が50%未満であるか否かを判別する(ステップS29)。ここで、前回の劣化率が50%未満である場合には(ステップS29でYes)、劣化率が前回より悪化していることから、ヒータの劣化が進行している、又はヒータに何らかの異常が発生していると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、ヒータの交換を促すヒータ交換通知ウィンドウ42Cを表示部42に表示させ(ステップS30)、処理を終了する。 In step S26, when the deterioration rate is 50% or more (No in step S26), the CPU 41A determines whether or not the heater deterioration rate is less than 70% (step S28), and the deterioration rate is 70%. If it is less (Yes in Step S28), it is determined whether or not the previous deterioration rate is less than 50% (Step S29). Here, when the previous deterioration rate is less than 50% (Yes in step S29), the deterioration rate is worse than the previous time, so that the heater deterioration is progressing or there is some abnormality in the heater. It can be determined that it has occurred. Therefore, in such a case, the CPU 41A displays a heater replacement notification window 42C that prompts replacement of the heater on the display unit 42 (step S30), and ends the process.
図18は、ヒータ交換通知ウィンドウ42Cの構成を示す模式図である。図18に示すように、ヒータ交換通知ウィンドウ42Cには、「ヒータの劣化率は、50〜70%未満です」、「前回の劣化率は30%未満で、判定時刻は、3/25 13:00でした」、「ヒータを交換する必要があります」といったメッセージが表示される。このようにヒータ交換通知ウィンドウ42Cには、今回の劣化率、前回の劣化率、前回の劣化率判定の実施時刻、ヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、作業者は、ヒータ交換通知ウインドウ42Cを確認するだけで、ヒータの交換が必要なことを把握することができ、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。また、前回の劣化率とその判定時刻とを表示しているので、ユーザ・作業者はヒータの劣化率の推移を把握することができる。 FIG. 18 is a schematic diagram showing the configuration of the heater replacement notification window 42C. As shown in FIG. 18, in the heater replacement notification window 42C, “the heater deterioration rate is less than 50 to 70%”, “the previous deterioration rate is less than 30%, and the determination time is 3/25 13: “It was 00” and “The heater needs to be replaced.” As described above, the heater replacement notification window 42C includes the current deterioration rate, the previous deterioration rate, the time of the previous deterioration rate determination, the message / image that notifies the user / operator that the heater needs to be replaced, and the like. Is displayed. By doing so, the operator can grasp that the heater needs to be replaced only by confirming the heater replacement notification window 42C, and can promptly make arrangements necessary for replacing the heater. . Further, since the previous deterioration rate and the determination time are displayed, the user / worker can grasp the transition of the deterioration rate of the heater.
一方、ステップS29において、前回の劣化率が50%以上である場合には(ステップS29でNo)、劣化率が前回から概ね変化していないことから、ヒータの劣化の進行は殆どなく、ヒータは正常であると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(50%〜70%)、前回の劣化率(50%以上)、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要でない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだ劣化状態通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS31)、処理を終了する。 On the other hand, in step S29, when the previous deterioration rate is 50% or more (No in step S29), the deterioration rate has not substantially changed from the previous time. It can be determined to be normal. Therefore, in this case, the CPU 41A indicates that the current deterioration rate (50% to 70%), the previous deterioration rate (50% or more), the previous deterioration determination time, and that the heater need not be replaced. A deterioration state notification window including a message / image to be notified to the person is displayed on the display unit 42 (step S31), and the process is terminated.
また、ステップS28において、今回の劣化率が70%以上の場合には(ステップS28でNo)、CPU41Aは、ヒータの劣化率が80%未満であるか否かを判別する(ステップS32)。ここで、劣化率が80%未満の場合には(ステップS32でYes)、CPU41Aは、前回の劣化率が70%未満か否かを判別する(ステップS33)。 In step S28, when the current deterioration rate is 70% or more (No in step S28), the CPU 41A determines whether or not the heater deterioration rate is less than 80% (step S32). Here, when the deterioration rate is less than 80% (Yes in Step S32), the CPU 41A determines whether or not the previous deterioration rate is less than 70% (Step S33).
前回の劣化率が70%未満である場合には(ステップS33でYes)、劣化率が前回より悪化していることから、ヒータの劣化が進行している、又はヒータに何らかの異常が発生していると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(70%〜80%)、前回の劣化率(70%未満)、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだヒータ交換通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS34)、処理を終了する。 If the previous deterioration rate is less than 70% (Yes in step S33), the deterioration rate is worse than the previous time, so the heater deterioration is progressing or some abnormality has occurred in the heater. Can be determined. Therefore, in such a case, the CPU 41A indicates that the current deterioration rate (70% to 80%), the previous deterioration rate (less than 70%), the previous deterioration determination time, and that the heater needs to be replaced. A heater replacement notification window including a message / image to be notified to the person is displayed on the display unit 42 (step S34), and the process ends.
一方、ステップS33において前回の劣化率が70%以上である場合には(ステップS33でNo)、劣化率が前回から概ね変化していないことから、ヒータの劣化の進行は遅く、しばらくの間はヒータを正常に使用することができると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(50%〜70%)、前回の劣化率(50%以上)、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要でない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだ劣化状態通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS35)、処理を終了する。 On the other hand, if the previous deterioration rate is 70% or more in step S33 (No in step S33), the deterioration rate has not changed substantially from the previous time, so the progress of the heater deterioration is slow and for a while. It can be determined that the heater can be used normally. Therefore, in this case, the CPU 41A indicates that the current deterioration rate (50% to 70%), the previous deterioration rate (50% or more), the previous deterioration determination time, and that the heater need not be replaced. A deterioration state notification window including a message / image to be notified to the person is displayed on the display unit 42 (step S35), and the process is terminated.
また、ステップS32において、今回の劣化率が80%以上の場合には(ステップS32でNo)、ヒータの劣化が進んでおり、近い将来ヒータが正常に機能しなくなることが予想される。したがって、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(80%以上)、及びヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだヒータ交換通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS36)、処理を終了する。このようにすることにより、従来必要であったヒータの交換判定の手間を作業者に負担させることなく、ヒータを交換する必要があるか否かを自動的に判定することが可能となる。ユーザ・作業者は、かかるヒータ交換通知ウィンドウを確認するだけで、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。なお、ヒータを特定する型番や、ヒータの交換箇所を示す画像、またはヒータの交換手順を案内する画像・メッセージを同時に表示することとしてもよい。このようにすることにより、より一層ヒータの交換作業が容易となる。 In step S32, when the current deterioration rate is 80% or more (No in step S32), the deterioration of the heater is advanced, and it is expected that the heater will not function normally in the near future. Therefore, in this case, the CPU 41A displays the heater replacement notification window including the current deterioration rate (80% or more) and a message / image notifying the user / worker that the heater needs to be replaced. (Step S36), and the process is terminated. By doing so, it is possible to automatically determine whether or not it is necessary to replace the heater without burdening the operator with the labor and time required for heater replacement determination. The user / worker can quickly proceed with arrangements necessary for heater replacement only by checking the heater replacement notification window. It is also possible to simultaneously display a model number for identifying the heater, an image showing the heater replacement location, or an image / message for guiding the heater replacement procedure. By doing in this way, the replacement | exchange work of a heater becomes still easier.
なお、本実施の形態1に係る分析装置1においては、サーミスタ17Cの検出温度(加温部17Bの温度)が25℃から30℃まで上昇するのに要した経過時間に基づいて劣化判定を行う構成について述べたが、これに限定されるものではなく、他の温度範囲(例えば、20℃〜30℃)だけ加温部17Bが温度上昇するのに要する時間に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよいし、ヒータの加温開始から所定温度(例えば5℃)だけ温度上昇するのに要する時間に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよい。
In the
また、以上説明した実施の形態1に係る分析装置1においては、複数の加温時間の範囲と劣化率とが対応付けられた劣化率テーブル50に加温時間を照合し、当該加温時間に対応する劣化率を求める構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、加温時間が5〜6分で、周囲温度が10〜15℃の場合の劣化率は50%というように、複数の加温時間の範囲と、複数の周囲温度の範囲とに劣化率を対応付けたテーブルを用意し、測定した加温時間と周囲温度とを当該テーブルに照合し、対応する劣化率を求める等、上記以外の加温時間と劣化率との関係に基づいて劣化率を判定する構成としてもよい。
(実施の形態2)
本実施の形態2に係る分析装置の構成は、フラッシュメモリカード26A及びデータ処理部4のハードディスク41Dに格納されているコンピュータプログラムを除いて実施の形態1に係る分析装置の構成と略同様であるので、同一構成要素については同一符号を付し、その説明を省略する。以下、本発明の実施の形態2に係る分析装置の動作についてのみ説明する。
Further, in the
(Embodiment 2)
The configuration of the analyzer according to the second embodiment is substantially the same as the configuration of the analyzer according to the first embodiment except for the computer program stored in the flash memory card 26A and the hard disk 41D of the
図19は、実施の形態2に係る測定部2によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。測定部2の動作のうち、実施の形態1で説明したステップS1〜S16までの処理は同様であるので説明を省略する。ステップS14において、温度K2と劣化判定終了温度Kset2とが等しい場合には(ステップS14でYes)、CPU27は、劣化判定開始温度Kset1、劣化判定終了温度Kset2、及び経過時間Ton2をデータ処理部4へ送信し(ステップS37)、処理を終了する。
FIG. 19 is a flowchart showing the flow of the heater deterioration determination operation by the
図20は、実施の形態2に係るデータ処理部4によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。データ処理部4のCPU41Aは、測定部2から送信されたデータの受信を待機する(ステップS38)。ステップS38において、測定部2から受信したデータが第1故障通知データ又は第2故障通知データであった場合には(ステップS38において「故障通知データ」)、CPU41Aは、実施の形態1で説明したヒータ交換通知ウィンドウ42Aを表示部42に表示させ(ステップS39)、その後、処理を終了する。一方、ステップS37において、測定部2から受信したデータが、劣化判定開始温度Kset1、劣化判定終了温度Kset2、及び経過時間Ton2であった場合には(ステップS18において「温度データ及び時間データ」)、CPU41Aは、次の式(1)にしたがって、加温部17Bの温度上昇速度Vonを算出する(ステップS39)。
FIG. 20 is a flowchart showing a flow of operations related to heater deterioration determination by the
Von=(Kset2−Kset1)/Ton2・・・(1)
次に、CPU41Aは、温度上昇速度Vonに基づいて、ヒータ17Cの劣化率を判定する(ステップS40)。ステップS40の処理においては、ヒータの加温速度(ここでは、サーミスタ17Dの検出温度(つまり、加温部17Bの温度)が25℃から30℃まで上昇したときの温度上昇速度Von)とヒータの劣化率との関係を示す劣化率テーブルが用いられる。図21は、劣化率テーブル150の一例を示す模式図である。劣化率テーブル150は、複数の加温速度の範囲と、劣化率とが対応付けられたルックアップテーブルである。加温速度が高い場合には、ヒータの加温能力が高いため対応するヒータの劣化率は低く、加温速度が低くなるにしたがって、対応する劣化率は高くなっている。CPU41Aは、ステップS40の処理では、この劣化率テーブル150に温度上昇速度Vonを照合し、これに対応するヒータの劣化率を取得する。その後、CPU41は、ステップS21へと処理を移す。ステップS21以降の処理は、実施の形態1で説明したものと同様であるので、説明を省略する。
V on = (K set2 -K set1 ) / T on2 ··· (1)
Next, the CPU 41A determines the deterioration rate of the
このようにすることにより、ヒータの劣化の程度は、ヒータの温度上昇速度に密接に関係するため、ヒータの加温速度に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。また、かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温速度をヒータ劣化判定開始温度Kset1からヒータ劣化判定終了温度判定温度Kset2まで上昇する間におけるヒータ上昇速度Vonに統一することができるので、様々な周囲温度(外部環境温度)においても正確な劣化の判定が可能となる。 By doing so, since the degree of deterioration of the heater is closely related to the temperature rise rate of the heater, it is possible to easily and accurately determine the degree of deterioration of the heater based on the heating rate of the heater. . Further, with this configuration, it is possible to unify the heating rate used for the deterioration determination to the heater increase rate V on while the heater deterioration determination start temperature K set1 increases to the heater deterioration determination end temperature determination temperature K set2. Therefore, it is possible to accurately determine deterioration even at various ambient temperatures (external environmental temperatures).
なお、本実施の形態2に係る分析装置1においては、所定の温度範囲における温度上昇速度Vonを算出し、かかる温度上昇速度Vonに基づいてヒータの劣化判定を行う構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、サーミスタ17Dの検出温度を微分回路等の手段を用いて時間微分し、これによって得られた温度変化率、即ち温度上昇速度を用いてヒータの劣化判定を行う構成としてもよいし、所定時間間隔(例えば、サンプリング周期)毎のサーミスタ17Dの検出温度の差分(前回のサンプリングで得られた検出温度と、今回のサンプリングで得られた検出温度との差分)を求め、この結果得られた差分値を温度上昇速度として用いて、ヒータの劣化率判定を行う構成としてもよい。また、所定の温度(例えば20℃)から開始して所定時間(例えば3分)経過するまでの加温部17Bの温度上昇速度を求め、かかる温度上昇速度に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよい。
In the
また、実施の形態1,2に係る分析装置1においては、温度センサにサーミスタを用いる構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、熱電対、白金測温抵抗体等の他の温度センサを用いて温度を測定する構成としてもよい。
In the
本発明に係る分析装置は、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる等、本発明は優れた効果を奏し、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置として有用である。 The analyzer according to the present invention automatically determines the degree of deterioration of the heater and can reduce the troublesome burden on the operator. It is useful as an analyzer for analyzing a sample prepared from
1 分析装置
2 測定部
3 搬送部
3A 搬送路
4 データ処理部
5 検体容器
6 検体ラック
7 検体供給位置
8 キュベット
9 テーブルユニット
9B 試薬容器
10 収納穴
12 キュベット供給部
13,23 キュベット移送部
14 緩衝液収容部
15,16 検体分注部
18,19 試薬分注部
15A,18A 機構部
15B,18B 軸
15C,18C アーム
15D,18D 保持具
15E,16E,18I ピペット
17 加温テーブル
17A キュベット収納穴
17B,18F,21D 加温部
17C,18H,19H,21B ヒータ
17D,18G,19G,21C,25A サーミスタ
17E,21E カバー
18E,19E 加温ピペット
20B,22B試薬混合位置21 検出部
21A 分析穴
24 キュベット排出部
25 制御部
26 フラッシュメモリカードリーダ
26A フラッシュメモリカード
27 CPU
28 メモリ
29 波形処理部
31 動作制御部
31a 温度制御回路
33 通信部
41 本体
41A CPU
41B ROM
41C RAM
41D ハードディスク
41F 入出力インタフェース
41G 通信インタフェース
41H 画像出力インタフェース
41I バス
DB41 履歴データベース
41a 劣化率フィールド
41b 判定時刻フィールド
42 表示部
42A ヒータ交換通知ウィンドウ
42B 劣化状態通知ウィンドウ
42C ヒータ交換通知ウィンドウ
43 入力部
44 可搬型記録媒体
50,150 劣化率テーブル
DESCRIPTION OF
28
41B ROM
41C RAM
Claims (12)
ヒータと、
当該ヒータが加温する加温対象の温度を計測する温度計測部と、
計時手段と、
前記温度計測部により計測された温度と、前記計時手段により計測された時間とに基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備える分析装置。 An analyzer for analyzing a sample prepared from a specimen and a reagent,
A heater,
A temperature measuring unit that measures the temperature of the heating target heated by the heater;
Timekeeping means,
An analysis apparatus comprising: a deterioration determination unit that determines a degree of deterioration of the heater based on the temperature measured by the temperature measurement unit and the time measured by the time measuring unit.
前記ヒータの加温に関する加温時間を取得する加温時間取得手段を更に備え、
前記加温時間取得手段により取得された加温時間に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項1に記載の分析装置。 The deterioration determining means includes
A heating time acquisition means for acquiring a heating time related to the heating of the heater;
The analyzer according to claim 1, wherein the analyzer is configured to determine a degree of deterioration of the heater based on a heating time acquired by the heating time acquisition unit.
前記温度計測部により計測された温度が前記第1温度に到達していないときに、前記初期経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する初期故障判定手段を更に備える請求項2又は3に記載の分析装置。 Initial elapsed time acquisition means for acquiring an elapsed time since the heater started heating;
When the temperature measured by the temperature measurement unit has not reached the first temperature, the elapsed time acquired by the initial elapsed time acquisition means is compared with a predetermined failure determination time, and the elapsed time The analyzer according to claim 2 or 3, further comprising an initial failure determination unit that determines that the heater is in failure when the failure determination time is exceeded.
前記温度計測部により計測された温度が前記第2温度に到達していないときに、前記経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する故障判定手段を更に備える請求項2乃至4のいずれかに記載の分析装置。 An elapsed time acquisition means for acquiring an elapsed time after the temperature measured by the temperature measurement unit reaches the first temperature;
When the temperature measured by the temperature measuring unit does not reach the second temperature, the elapsed time acquired by the elapsed time acquisition unit is compared with a predetermined failure determination time, and the elapsed time is The analyzer according to any one of claims 2 to 4, further comprising failure determination means for determining that the heater is in failure when a failure determination time is exceeded.
前記劣化判定手段は、前記加温時間取得手段により取得された加温時間を前記記憶部に記憶された関係に照合し、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項2乃至5のいずれかに記載の分析装置。 A storage unit that stores the relationship between the heating time of the heater and the degree of deterioration of the heater;
The deterioration determination unit is configured to check the degree of deterioration of the heater by comparing the heating time acquired by the heating time acquisition unit with the relationship stored in the storage unit. The analyzer in any one of thru | or 5.
前記ヒータの加温に関する加温速度を取得する加温速度取得手段を更に備え、
前記加温速度取得手段により取得された加温速度に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項1に記載の分析装置。 The deterioration determining means includes
A heating speed acquisition means for acquiring a heating speed related to heating of the heater;
The analyzer according to claim 1, wherein the analyzer is configured to determine a degree of deterioration of the heater based on a heating rate acquired by the heating rate acquisition unit.
前記判定結果記録手段に記録されている過去の劣化判定結果と、前記劣化判定手段による現在の劣化判定結果とに基づいて、前記ヒータを交換する必要があるか否かを判定するヒータ交換判定手段とを更に備える請求項1乃至9の何れかに記載の分析装置。 A determination result recording means for recording a deterioration determination result by the deterioration determination means;
Heater replacement determination means for determining whether or not the heater needs to be replaced based on a past deterioration determination result recorded in the determination result recording means and a current deterioration determination result by the deterioration determination means. The analyzer according to any one of claims 1 to 9, further comprising:
The analyzer according to claim 1, wherein the heater is configured to heat at least one of a specimen, a reagent, and the sample.
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