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JP2006284380A - Analyzer - Google Patents

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Publication number
JP2006284380A
JP2006284380A JP2005105153A JP2005105153A JP2006284380A JP 2006284380 A JP2006284380 A JP 2006284380A JP 2005105153 A JP2005105153 A JP 2005105153A JP 2005105153 A JP2005105153 A JP 2005105153A JP 2006284380 A JP2006284380 A JP 2006284380A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
heater
temperature
unit
deterioration
heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2005105153A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Tatsuji Tanabata
達次 七夕
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sysmex Corp
Original Assignee
Sysmex Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sysmex Corp filed Critical Sysmex Corp
Priority to JP2005105153A priority Critical patent/JP2006284380A/en
Publication of JP2006284380A publication Critical patent/JP2006284380A/en
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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an analyzer constituted so as to automatically judge the deterioration degree of a heater and capable of reducing complicated labor becoming the load of a worker. <P>SOLUTION: The analyzer 1 is equipped with the heater, a temperature measuring part for measuring the temperature of the heating target heated by the heater, a clocking means and a deterioration judging means for judging the deterioration degree of the heater on the basis of the temperature measured by the temperature measuring part and the time measured by the clocking time. <P>COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Description

本発明は、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置に関する。   The present invention relates to an analyzer for analyzing a sample prepared from a specimen and a reagent.

検体と試薬とから調整された試料に光源からの光を照射し、検体の様々な性状を分析する装置として、比色分析装置、蛍光分析装置、免疫分析装置等の分析装置が知られている。この種の分析装置には、ヒータを備え、当該ヒータにより検体及び試薬を所定の温度に加温したり、検体と試薬とを混合させて調整した試料を保温して分析を行うものが多く存在する(例えば、特許文献1参照)。   Analytical devices such as a colorimetric analyzer, a fluorescence analyzer, and an immunoanalyzer are known as devices that irradiate a sample prepared from a sample and a reagent with light from a light source and analyze various properties of the sample. . Many analyzers of this type are equipped with a heater, and the sample and reagent are heated to a predetermined temperature by the heater or the sample prepared by mixing the sample and the reagent is kept warm for analysis. (For example, refer to Patent Document 1).

特開平7-49350号公報Japanese Unexamined Patent Publication No. 7-49350

かかる分析装置にあっては、分析装置を使用するに従って、ヒータが経時劣化するが、ヒータの劣化が進むと、加温対象を十分に加温することができなくなり、分析装置の測定結果に影響が出ることがある。しかしながら、従来の分析装置にあっては、保守を行う作業者がヒータの点検結果から経験によりヒータの劣化の程度を見極め、ヒータの交換が必要か否かを判断していた。かかるヒータの点検作業は、煩雑な手間を必要とし、作業者の負担が大きい。しかも、作業者の熟練の程度又は個人差によって、判断に差異が生じ、また、ユーザや未熟な作業者には判断が難しいという問題があった。   In such an analyzer, the heater deteriorates with time as the analyzer is used. However, as the heater progresses, the object to be heated cannot be sufficiently heated, which affects the measurement result of the analyzer. May appear. However, in the conventional analyzer, an operator who performs maintenance determines the degree of deterioration of the heater based on the inspection result of the heater, and determines whether or not the heater needs to be replaced. Such a heater check operation requires complicated labor and is burdensome to the operator. In addition, there is a problem that the judgment varies depending on the skill level of the worker or individual differences, and it is difficult for the user or an unskilled worker to judge.

本発明は、かかる事情に鑑みてなされたものであり、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる分析装置を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide an analyzer that can automatically determine the degree of deterioration of a heater and reduce a troublesome burden on an operator. And

本発明に係る分析装置は、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置であって、ヒータと、当該ヒータが加温する加温対象の温度を計測する温度計測部と、計時手段と、前記温度計測部により計測された温度と、前記計時手段により計測された時間とに基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備えることを特徴とする。   An analyzer according to the present invention is an analyzer that analyzes a sample prepared from a specimen and a reagent, and includes a heater, a temperature measuring unit that measures the temperature of a heating target that is heated by the heater, and a time measuring unit. And deterioration determining means for determining the degree of deterioration of the heater based on the temperature measured by the temperature measuring unit and the time measured by the time measuring means.

かかる構成とすることにより、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる。   By adopting such a configuration, it is possible to automatically determine the degree of deterioration of the heater, and to reduce the troublesome burden on the operator.

上記発明においては、前記劣化判定手段は、前記ヒータの加温に関する加温時間を取得する加温時間取得手段を更に備え、前記加温時間取得手段により取得された加温時間に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されていることが好ましい。   In the above invention, the deterioration determination means further includes a heating time acquisition means for acquiring a heating time related to the heating of the heater, and based on the heating time acquired by the heating time acquisition means, It is preferable to be configured to determine the degree of deterioration of the heater.

ヒータの劣化の程度は、目的の温度まで到達するのにかかる時間、即ちヒータの温度上昇速度に密接に関係する。したがって、かかる構成とすることにより、加温時間に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。   The degree of deterioration of the heater is closely related to the time required to reach the target temperature, that is, the rate of temperature rise of the heater. Therefore, with this configuration, it is possible to easily and accurately determine the degree of deterioration of the heater based on the heating time.

上記発明においては、前記加温時間取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第1温度から所定の第2温度まで上昇する場合にかかる加温時間を取得するように構成されていることが好ましい。   In the above invention, the heating time acquisition means is configured to acquire a heating time when the temperature measured by the temperature measuring unit rises from a predetermined first temperature to a predetermined second temperature. It is preferable that

かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温時間を、第1温度から第2温度まで上昇する場合にかかる時間に統一することができるので、様々な周囲温度(外部環境温度)においても正確な劣化の判定が可能となる。   By adopting such a configuration, the heating time used for the deterioration determination can be unified to the time required when the temperature rises from the first temperature to the second temperature. Therefore, it is accurate even at various ambient temperatures (external environmental temperatures). Can be determined.

上記発明においては、前記ヒータが加温を開始してからの経過時間を取得する初期経過時間取得手段と、前記温度計測部により計測された温度が前記第1温度に到達していないときに、前記初期経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する初期故障判定手段を更に備える構成とすることが好ましい。また、前記温度計測部により計測された温度が前記第1温度に到達してからの経過時間を取得する経過時間取得手段と、前記温度計測部により計測された温度が前記第2温度に到達していないときに、前記経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する故障判定手段を更に備える構成とすることもできる。   In the above invention, when the temperature measured by the temperature measurement unit and the initial elapsed time acquisition means for acquiring the elapsed time since the heater started heating, and when the temperature does not reach the first temperature, An initial failure determination that compares the elapsed time acquired by the initial elapsed time acquisition means with a predetermined failure determination time, and determines that the heater is in failure when the elapsed time exceeds the failure determination time. It is preferable to further comprise means. In addition, an elapsed time acquisition unit that acquires an elapsed time after the temperature measured by the temperature measurement unit reaches the first temperature, and a temperature measured by the temperature measurement unit reaches the second temperature. When the elapsed time exceeds the failure determination time, the elapsed time acquired by the elapsed time acquisition means is compared with a predetermined failure determination time. It is also possible to adopt a configuration further comprising failure determination means.

これにより、ヒータの劣化の程度だけでなく、ヒータが故障しているか否かを判別することができ、より一層ヒータの保守作業が容易になる。   Thereby, it is possible to determine not only the degree of deterioration of the heater but also whether or not the heater is out of order, and the maintenance work of the heater is further facilitated.

上記発明においては、ヒータの加温時間とヒータの劣化の程度との関係が記憶された記憶部を更に備え、前記劣化判定手段は、前記加温時間取得手段により取得された加温時間を前記記憶部に記憶された関係に照合し、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されていることが好ましい。   In the above-mentioned invention, it further includes a storage unit that stores a relationship between the heating time of the heater and the degree of deterioration of the heater, and the deterioration determination means includes the heating time acquired by the heating time acquisition means. It is preferable to check the degree of deterioration of the heater by comparing with the relationship stored in the storage unit.

上記発明においては、前記劣化判定手段は、前記ヒータの加温に関する加温速度を取得する加温速度取得手段を更に備え、前記加温速度取得手段により取得された加温速度に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成することも可能である。   In the above invention, the deterioration determination means further comprises a heating speed acquisition means for acquiring a heating speed related to the heating of the heater, and based on the heating speed acquired by the heating speed acquisition means, It is also possible to configure so as to determine the degree of deterioration of the heater.

ヒータの劣化の程度は、上述したようにヒータの温度上昇速度に密接に関係する。したがって、かかる構成とすることにより、ヒータの加温速度に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。   As described above, the degree of deterioration of the heater is closely related to the temperature rise rate of the heater. Therefore, by adopting such a configuration, it is possible to easily and accurately determine the degree of deterioration of the heater based on the heating rate of the heater.

上記発明においては、前記加温速度取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第1温度から所定の第2温度まで上昇する間における加温速度を取得するように構成されていることが好ましい。また、この場合においては、前記加温速度取得手段を、前記温度計測部により計測された温度が所定の第1温度を超えてから所定時間経過するまでの加温速度を取得するように構成することもできる。   In the above invention, the heating rate acquisition means is configured to acquire a heating rate while the temperature measured by the temperature measuring unit rises from a predetermined first temperature to a predetermined second temperature. It is preferable. In this case, the heating rate acquisition means is configured to acquire a heating rate until a predetermined time elapses after the temperature measured by the temperature measurement unit exceeds a predetermined first temperature. You can also

かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温速度を、第1温度から第2温度まで上昇する間における加温速度に統一することができるので、様々な周囲温度(外部環境温度)においても正確な劣化の判定が可能となる。   By adopting such a configuration, the heating rate used for the deterioration determination can be unified with the heating rate during the rise from the first temperature to the second temperature, so even at various ambient temperatures (external environmental temperatures). Accurate determination of deterioration becomes possible.

上記発明においては、前記劣化判定手段による劣化判定結果を記録する判定結果記録手段と、前記判定結果記録手段に記録されている過去の劣化判定結果と、前記劣化判定手段による現在の劣化判定結果とに基づいて、前記ヒータを交換する必要があるか否かを判定するヒータ交換判定手段とを更に備える構成とすることが好ましい。   In the above invention, the determination result recording means for recording the deterioration determination result by the deterioration determination means, the past deterioration determination result recorded in the determination result recording means, and the current deterioration determination result by the deterioration determination means It is preferable to further include a heater replacement determination unit that determines whether or not the heater needs to be replaced based on the above.

ヒータの劣化は経時的に進行する場合が多い。したがって、かかる構成とすることにより、過去の劣化判定と現在の劣化判定とによって経時的なヒータの劣化の推移が明らかとなるので、これに基づいて正確にヒータの交換の要否を判定することができる。   The deterioration of the heater often proceeds with time. Therefore, by adopting such a configuration, the transition of the deterioration of the heater over time is clarified by the past deterioration determination and the current deterioration determination. Based on this, it is possible to accurately determine whether the heater needs to be replaced. Can do.

上記発明においては、前記劣化判定手段による判定結果を表示する表示部を更に備える構成とすることが好ましい。これにより、作業者が容易にヒータの劣化判定を把握することができる。   In the said invention, it is preferable to set it as the structure further provided with the display part which displays the determination result by the said deterioration determination means. Thereby, the operator can grasp | ascertain the deterioration determination of a heater easily.

上記発明においては、前記ヒータは、検体、試薬及び前記試料のうち少なくとも1つを加温するように構成されていることが好ましい。   In the said invention, it is preferable that the said heater is comprised so that at least 1 may be heated among a sample, a reagent, and the said sample.

本発明に係る分析装置によれば、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる。   According to the analyzer according to the present invention, it is possible to automatically determine the degree of deterioration of the heater, and to reduce the troublesome burden on the operator.

以下、本発明の実施の形態に係る分析装置について、図面を参照しながら具体的に説明する。なお、本実施形態では、分析装置1として、血液凝固分析装置を用いた場合について説明する。
(実施の形態1)
図1は、本発明の実施の形態1に係る分析装置1の構成を示す概略図である。なお、図1に示すように、分析装置1は、測定部2と、搬送部3と、データ処理部4とによって主として構成されている。搬送部3は、測定部2の前方に配置されており、検体(血漿または血清)を測定部2に自動的に供給できるように構成されている。測定部2は、このようにして搬送部3から供給された検体に対して、生物活性法、合成基質法又は免疫比濁法を用いて、検体中に含まれる凝固・線溶因子の成分を分析することが可能となっている。また、測定部2は、データ処理部4とLANケーブルによって接続されており、データ処理部4に分析結果を送信することが可能である。
Hereinafter, an analyzer according to an embodiment of the present invention will be specifically described with reference to the drawings. In the present embodiment, a case where a blood coagulation analyzer is used as the analyzer 1 will be described.
(Embodiment 1)
FIG. 1 is a schematic diagram showing a configuration of an analyzer 1 according to Embodiment 1 of the present invention. As shown in FIG. 1, the analyzer 1 is mainly configured by a measurement unit 2, a transport unit 3, and a data processing unit 4. The transport unit 3 is disposed in front of the measurement unit 2 and is configured to automatically supply a sample (plasma or serum) to the measurement unit 2. The measurement unit 2 uses the biological activity method, the synthetic substrate method, or the immunoturbidimetric method for the sample supplied from the transport unit 3 in this manner to determine the coagulation / fibrinolysis factor component contained in the sample. It is possible to analyze. The measurement unit 2 is connected to the data processing unit 4 via a LAN cable, and can transmit the analysis result to the data processing unit 4.

図2は、測定部2及び搬送部3の構成を示す平面図である。図2に示すように、搬送部3は、検体が収容された複数(例えば10本)の検体容器5が収納された検体ラック6を搬送するための搬送路3Aを備えている。この搬送路3Aの中間部は、検体供給位置7とされている。外部から供給された検体ラック6は、搬送路3Aに沿って搬送され、検体供給位置7まで到達する。そして、測定部2は、検体供給位置7に到達した検体ラック6の検体容器5から検体を吸引し、この検体に対して測定を実行する。   FIG. 2 is a plan view showing configurations of the measurement unit 2 and the conveyance unit 3. As shown in FIG. 2, the transport unit 3 includes a transport path 3 </ b> A for transporting a sample rack 6 in which a plurality of (for example, ten) sample containers 5 in which samples are stored. An intermediate portion of the transport path 3A is a sample supply position 7. The sample rack 6 supplied from the outside is transported along the transport path 3 </ b> A and reaches the sample supply position 7. Then, the measurement unit 2 sucks the sample from the sample container 5 of the sample rack 6 that has reached the sample supply position 7, and performs measurement on the sample.

次に、測定部2の構成について説明する。図2に示すように、測定部2は、テーブルユニット9と、キュベット供給部12と、キュベット移送部13、23と、緩衝液収容部14と、検体分注部15、16と、加温テーブル17と、試薬分注部18、19、検出部21と、キュベット排出部24と、制御部25とから主として構成されている。   Next, the configuration of the measurement unit 2 will be described. As shown in FIG. 2, the measurement unit 2 includes a table unit 9, a cuvette supply unit 12, cuvette transfer units 13 and 23, a buffer solution storage unit 14, sample dispensing units 15 and 16, and a heating table. 17, a reagent dispensing unit 18, 19, a detection unit 21, a cuvette discharge unit 24, and a control unit 25.

テーブルユニット9は、測定部2の中央に設けられている。このテーブルユニット9は、複数の円板状及び円環状のテーブルが同軸配置されており、夫々のテーブルが互いに独立的に回転動作することが可能である。夫々のテーブルには、複数の収納穴10が設けられており、これらの収納穴10に試薬容器9B及びキュベット8をセットすることができる。図3は、キュベット8の外観を示す斜視図である。図3に示すように、キュベット8は、一端を開放し、もう一端を閉じて丸底にした細長い管状に形成されている。かかるキュベット8には、検体及び試料(検体と試薬との混合液)が収容されるようになっている。また、かかるテーブルユニット9の下部には、ペルチェ素子を備えた冷却装置(図示せず)が設けられており、この冷却装置によって試薬容器9B内に収容された試薬の温度は約15℃に保たれる。   The table unit 9 is provided in the center of the measurement unit 2. In the table unit 9, a plurality of disk-like and annular tables are coaxially arranged, and each table can rotate independently of each other. Each table is provided with a plurality of storage holes 10, and reagent containers 9 </ b> B and cuvettes 8 can be set in these storage holes 10. FIG. 3 is a perspective view showing the external appearance of the cuvette 8. As shown in FIG. 3, the cuvette 8 is formed in an elongated tubular shape having one end opened and the other end closed to have a round bottom. The cuvette 8 accommodates a specimen and a specimen (mixed liquid of specimen and reagent). Further, a cooling device (not shown) provided with a Peltier element is provided at the lower part of the table unit 9, and the temperature of the reagent accommodated in the reagent container 9B is maintained at about 15 ° C. by this cooling device. Be drunk.

図2に示すように、かかるテーブルユニット9の図中右側(以下、図2中の右側を右側といい、図2中の左側を左側という)には、キュベット供給部12及びキュベット移送部13が設けられている。キュベット供給部12は、テーブルユニット9に供給されるキュベット8を複数ストックすることが可能となっている。また、キュベット移送部13は、このキュベット供給部12にストックされたキュベット8をテーブルユニット9へ移送し、収納穴10にセットする。   As shown in FIG. 2, on the right side of the table unit 9 (hereinafter, the right side in FIG. 2 is referred to as the right side and the left side in FIG. 2 is referred to as the left side), the cuvette supply unit 12 and the cuvette transfer unit 13 are provided. Is provided. The cuvette supply unit 12 can stock a plurality of cuvettes 8 supplied to the table unit 9. The cuvette transfer unit 13 transfers the cuvette 8 stocked in the cuvette supply unit 12 to the table unit 9 and sets it in the storage hole 10.

また、テーブルユニット9の左前側には、2つの検体分注部15,16が設けられている。図4は、検体分注部15の構成を示す側面図である。図4に示すように、検体分注部15は、機構部15Aと、軸15Bと、アーム15Cと、保持具15Dと、ピペット15Eとを備えている。機構部15Aには、上方向に向かって円柱状に延びた軸15Bが支持されている。この軸15Bは、機構部15Aによってその中心軸回りに回動し、また、上下方向に往復直線運動することが可能である。この軸15Bの上端には、アーム15Cがこの軸15Bに直交して取り付けられている。このアーム15Cの先端には、保持具15Dが取り付けられており、この保持具15Dに、注射針状のピペット15Eが下方向に延びるように保持されている。これにより、ピペット15Eは、軸15B、アーム15C、保持具15Dと一体的に軸15Bを中心とした円周方向に回転し、上下方向に往復直線運動することができる。また、ピペット15Eには、液の吸引、吐出を行うためのシリンジ(図示せず)が接続されている。当該シリンジによって、ピペット15Eは、検体を吸引し、吸引した検体を吐出することが可能となっている。これにより、検体分注部15は、検体供給位置7の検体容器5に収容された検体を所定の量だけ吸引し、その後、テーブルユニット9にセットされたキュベット8までピペット15Eを移動させ、キュベット8に検体を吐出することができる。   Further, two sample dispensing sections 15 and 16 are provided on the left front side of the table unit 9. FIG. 4 is a side view showing the configuration of the sample dispensing unit 15. As shown in FIG. 4, the sample dispensing unit 15 includes a mechanism unit 15A, a shaft 15B, an arm 15C, a holder 15D, and a pipette 15E. A shaft 15B extending in a columnar shape upward is supported by the mechanism portion 15A. The shaft 15B is rotated around its central axis by the mechanism portion 15A, and can reciprocate linearly in the vertical direction. An arm 15C is attached to the upper end of the shaft 15B so as to be orthogonal to the shaft 15B. A holding tool 15D is attached to the tip of the arm 15C, and an injection needle-like pipette 15E is held by the holding tool 15D so as to extend downward. Thereby, the pipette 15E can rotate in the circumferential direction around the shaft 15B integrally with the shaft 15B, the arm 15C, and the holder 15D, and can reciprocate linearly in the vertical direction. The pipette 15E is connected to a syringe (not shown) for sucking and discharging the liquid. With the syringe, the pipette 15E can suck the sample and discharge the sucked sample. As a result, the sample dispensing unit 15 sucks a predetermined amount of the sample stored in the sample container 5 at the sample supply position 7, and then moves the pipette 15E to the cuvette 8 set on the table unit 9 to thereby move the cuvette. The specimen can be ejected to 8.

検体分注部16の構成は、検体分注部15と構成と同様であるので、その説明を省略する。テーブルユニット9の前方には、緩衝液収納部14が左右方向に移動可能に設けられている。この緩衝液収納部14には、複数の収納穴が設けられており、検体を希釈するための緩衝液が収容された緩衝液容器がセットされるようになっている。検体分注部16は、かかる緩衝液収納部14にセットされた緩衝液容器から緩衝液を所定の量だけ吸引し、ピペット16Eをテーブルユニット9の上方まで移動させ、検体が収容されたキュベット8から検体を測定項目に応じて必要な分量だけ吸引し、検体を希釈する。その後、検体分注部16は、テーブルユニット9にセットされた空のキュベット8に希釈した検体を吐出する。   The configuration of the sample dispensing unit 16 is the same as the configuration of the sample dispensing unit 15, and thus the description thereof is omitted. A buffer solution storage portion 14 is provided in front of the table unit 9 so as to be movable in the left-right direction. The buffer solution storage section 14 is provided with a plurality of storage holes, and a buffer solution container in which a buffer solution for diluting the specimen is stored is set. The sample dispensing unit 16 sucks a predetermined amount of the buffer solution from the buffer solution container set in the buffer solution storage unit 14, moves the pipette 16E to above the table unit 9, and the cuvette 8 in which the sample is stored. The sample is aspirated by the required amount according to the measurement item, and the sample is diluted. Thereafter, the sample dispensing unit 16 discharges the diluted sample in an empty cuvette 8 set on the table unit 9.

また、前記テーブルユニット9の左後側には試薬分注部18が設けられており、テーブルユニット9の右後側には試薬分注部19が設けられている。図5は、試薬分注部18の構成を示す側面図である。図5に示すように、試薬分注部18は、機構部18Aと、軸18Bと、アーム18Cと、保持具18Dと、加温ピペット18Eとを備えている。概ね円筒状の加温ピペット18Eは、保持具18Dに下方向に延びるように保持されており、またシリンジ(図示せず)に接続されている。加温ピペット18Eは、前記シリンジが動作することにより、試薬を吸引し、吸引した試薬を吐出することが可能である。また、加温ピペット18Eは、ピペット18I、加温部18F、ヒータ18Hにより構成されている。ピペット18Iは、注射針状に形成されており、このピペット18Iの外周面が、アルミニウム合金製の加温部18Fによって覆われている。また、この加温部18Fの外周には、ヒータ18H(電熱線)が取り付けられており、更にその外側は熱伝導率の低いポリウレタン樹脂製の断熱材で覆われている。これにより、このヒータ18Hが熱を発生すると、熱伝導性のよいアルミニウム合金製である加温部18Fには、ヒータ18Hの熱が速やかに伝わっていく。また、加温部18Fの外側は熱伝導率の低いポリウレタン樹脂製の断熱材で覆われているため、当該断熱材の外部へ熱が発散しにくく、ヒータ18Hからの熱により、ピペット18I内に吸引された試薬を効率的に加熱することが可能である。このヒータ18Hの近傍にはサーミスタ18Gが設けられており、この加温ピペット18Eは細長く、ピペット18Iの細管に吸引された試薬にはヒータ18Hの熱が迅速に伝わるため、試薬の温度はヒータ18Hの温度と実質的に同一であり、したがってサーミスタ18Gによって実質的に試薬の温度を測定することが可能である。かかるヒータ18H及びサーミスタ18Gは、後述する制御部25と電気的に接続されている。この制御部25は、サーミスタ18Gの出力信号を受信し、加温ピペット18E内の試薬が所定の温度となるように、ヒータ18Hに流れる電流量を制御しヒータ18Hの温度制御を行うようになっている。なお、試薬分注部18のその他の構成は、検体分注部15の構成と同様であるので、その説明を省略する。かかる試薬分注部18は、テーブルユニット9にセットされている試薬容器9Bから試薬を所定の量だけ吸引する。前記冷却装置によって当該試薬の温度は約15℃に保たれているため、試薬分注部18は、加温ピペット18Eで吸引した試薬を所定の温度(約37℃)まで加温した後、加温ピペット18Eを後述する加温テーブル17の上方にある試薬混合位置20Bまで移動させ、試薬を試薬混合位置20Bに移送されてきたキュベット8内に吐出する。   A reagent dispensing unit 18 is provided on the left rear side of the table unit 9, and a reagent dispensing unit 19 is provided on the right rear side of the table unit 9. FIG. 5 is a side view showing the configuration of the reagent dispensing unit 18. As shown in FIG. 5, the reagent dispensing unit 18 includes a mechanism unit 18A, a shaft 18B, an arm 18C, a holder 18D, and a heating pipette 18E. The generally cylindrical warming pipette 18E is held by the holder 18D so as to extend downward, and is connected to a syringe (not shown). The warming pipette 18E can suck the reagent and discharge the sucked reagent by operating the syringe. The warming pipette 18E includes a pipette 18I, a warming unit 18F, and a heater 18H. The pipette 18I is formed in the shape of an injection needle, and the outer peripheral surface of the pipette 18I is covered with a heating part 18F made of aluminum alloy. In addition, a heater 18H (electric heating wire) is attached to the outer periphery of the heating portion 18F, and the outer side thereof is covered with a heat insulating material made of polyurethane resin having a low thermal conductivity. As a result, when the heater 18H generates heat, the heat of the heater 18H is quickly transmitted to the heating unit 18F made of an aluminum alloy having good thermal conductivity. Further, since the outside of the heating unit 18F is covered with a heat insulating material made of polyurethane resin having a low thermal conductivity, heat is not easily dissipated to the outside of the heat insulating material, and the heat from the heater 18H causes the inside of the pipette 18I. It is possible to efficiently heat the aspirated reagent. A thermistor 18G is provided in the vicinity of the heater 18H. The heating pipette 18E is elongated, and the heat of the heater 18H is quickly transmitted to the reagent sucked into the thin tube of the pipette 18I. Therefore, the temperature of the reagent is the heater 18H. Therefore, it is possible to measure the temperature of the reagent substantially by the thermistor 18G. The heater 18H and the thermistor 18G are electrically connected to a control unit 25 described later. The control unit 25 receives the output signal of the thermistor 18G, and controls the temperature of the heater 18H by controlling the amount of current flowing through the heater 18H so that the reagent in the heating pipette 18E has a predetermined temperature. ing. In addition, since the other structure of the reagent dispensing part 18 is the same as that of the sample dispensing part 15, the description is abbreviate | omitted. The reagent dispensing unit 18 aspirates a predetermined amount of the reagent from the reagent container 9B set on the table unit 9. Since the temperature of the reagent is kept at about 15 ° C. by the cooling device, the reagent dispensing unit 18 warms the reagent sucked with the warming pipette 18E to a predetermined temperature (about 37 ° C.) and then adds the reagent. The warm pipette 18E is moved to a reagent mixing position 20B above the heating table 17 described later, and the reagent is discharged into the cuvette 8 that has been transferred to the reagent mixing position 20B.

試薬分注部19の構成は、試薬分注部18の構成と同様であるので、その説明を省略する。この試薬分注部19は、テーブルユニット9にセットされている試薬容器9Bから試薬を所定の量だけ吸引し、加温ピペット19Eで吸引した試薬を所定の温度(約37℃)まで加温した後、加温ピペット19Eを後述する検出部21の上方にある試薬混合位置22Bまで移動させ、試薬を試薬混合位置22Bに移送されてきたキュベット8内に吐出する。   Since the configuration of the reagent dispensing unit 19 is the same as the configuration of the reagent dispensing unit 18, the description thereof is omitted. The reagent dispensing unit 19 sucks a predetermined amount of reagent from the reagent container 9B set on the table unit 9, and warms the reagent sucked by the heating pipette 19E to a predetermined temperature (about 37 ° C.). Thereafter, the warming pipette 19E is moved to a reagent mixing position 22B above the detection unit 21 described later, and the reagent is discharged into the cuvette 8 that has been transferred to the reagent mixing position 22B.

図2に示すように、前記テーブルユニット9の左後側には、加温テーブル17が設けられている。この加温テーブル17は、円板状の回転テーブルであり、円周方向に回転することが可能なように構成されている。また、この加温テーブル17の上面には、円周方向に沿って複数のキュベット収納穴17Aが設けられている。加温テーブル17の近傍には図示しないキュベット移送部が設けられており、このキュベット移送部によってテーブルユニット9にセットされたキュベット8が移送され、キュベット収納穴17Aにセットされる。   As shown in FIG. 2, a heating table 17 is provided on the left rear side of the table unit 9. The heating table 17 is a disc-shaped rotary table and is configured to be able to rotate in the circumferential direction. A plurality of cuvette storage holes 17A are provided on the upper surface of the heating table 17 along the circumferential direction. A cuvette transfer section (not shown) is provided in the vicinity of the heating table 17, and the cuvette 8 set in the table unit 9 is transferred by this cuvette transfer section and set in the cuvette storage hole 17A.

図6は、加温テーブル17の構成を示す側面断面図であり、図7は、その平面図である。図6に示すように、加温テーブル17の下部には、アルミニウム合金製の加温部17Bが設けられており、加温部17B及び後述するヒータ17Cの周囲は、合成樹脂製のカバー17Eで覆われている。この加温部17Bの下部には、当該加温部17Bを加熱することが可能なようにヒータ17Cが密着して設けられている。このヒータ17Cは、シリコンゴムシート内にニッケル合金抵抗体を設けた円環板状の発熱体であり、その周囲はガラスクロスで覆われたいわゆるシリコンラバーヒータである。図7に示すように、このヒータ17Cは、円板状の2つの部材が上下に配置されて構成された加温部17Bに同軸的に取り付けられており、丁度、各キュベット収納穴17Aの直下にヒータ17Cが位置するようになっている。これにより、このヒータ17Cが熱を発生すると、熱伝導性のよいアルミニウム合金製である加温部17Bに、ヒータ17Cの熱が速やかに伝わっていく。この加温部17Bの周囲は合成樹脂製のカバー17Eで覆われているため、加温部17Bの外部へ熱が発散しにくく、キュベット収納穴17Aに収納されたキュベット8内の検体及び試料を効率的に加熱することが可能である。また、図6に示すように、この加温部17Bの内部にはサーミスタ17Dが設けられている。かかるサーミスタ17Dは、キュベット収納穴17Aの近傍位置に配置されており、サーミスタ17Dによってキュベット収納穴17Aにセットされたキュベット8内の液体の温度を計測することができるようになっている。また、ヒータ17Cは、前述のヒータ18Hと同様に、制御部25によって温度制御され、これによりキュベット収納穴17Aにセットされたキュベット8内の液体(検体又は試料)が所定温度(37℃)に加温される。加温後のキュベット8は、前述したキュベット移送部によってキュベット収納穴17Aから取り出され、試薬混合位置22Bまで移送される。その後、試薬分注部18によってかかるキュベット8内に試薬が吐出され、キュベット移送部によりキュベット8内の液体が撹拌混合されて試料が作成される。その後、キュベット移送部が再度キュベット収納穴17Aにこのキュベット8をセットする。   FIG. 6 is a side sectional view showing the configuration of the heating table 17, and FIG. 7 is a plan view thereof. As shown in FIG. 6, a heating part 17B made of an aluminum alloy is provided at the lower part of the heating table 17, and the periphery of the heating part 17B and a heater 17C described later is a cover 17E made of synthetic resin. Covered. A heater 17C is provided in close contact with the lower portion of the heating unit 17B so that the heating unit 17B can be heated. This heater 17C is a so-called silicon rubber heater in which a silicon rubber sheet is provided with a nickel alloy resistor and an annular plate-like heating element, and its periphery is covered with a glass cloth. As shown in FIG. 7, this heater 17C is coaxially attached to a heating part 17B constituted by two disk-shaped members arranged one above the other, just below each cuvette storage hole 17A. The heater 17C is positioned at the bottom. Thus, when the heater 17C generates heat, the heat of the heater 17C is quickly transmitted to the heating unit 17B made of an aluminum alloy having good thermal conductivity. Since the periphery of the heating unit 17B is covered with a cover 17E made of synthetic resin, heat is not easily dissipated to the outside of the heating unit 17B, and the specimen and the sample in the cuvette 8 stored in the cuvette storage hole 17A are removed. It is possible to heat efficiently. Further, as shown in FIG. 6, a thermistor 17D is provided inside the heating unit 17B. The thermistor 17D is disposed in the vicinity of the cuvette storage hole 17A, and the temperature of the liquid in the cuvette 8 set in the cuvette storage hole 17A can be measured by the thermistor 17D. Similarly to the heater 18H, the heater 17C is temperature-controlled by the control unit 25, whereby the liquid (specimen or sample) in the cuvette 8 set in the cuvette storage hole 17A reaches a predetermined temperature (37 ° C.). It is warmed. The heated cuvette 8 is taken out of the cuvette storage hole 17A by the cuvette transfer section described above and transferred to the reagent mixing position 22B. Thereafter, the reagent is dispensed into the cuvette 8 by the reagent dispensing unit 18, and the liquid in the cuvette 8 is stirred and mixed by the cuvette transfer unit to prepare a sample. Thereafter, the cuvette transfer section sets the cuvette 8 in the cuvette storage hole 17A again.

図2に示すように、かかる加温テーブル17の右側には、検出部21が設けられている。この検出部21は、概ね立方体状に形成されており、その上面には、左右方向に沿って10個の分析穴21Aが2列に並べて設けられている。また、検出部21の近傍には、図示しないキュベット移送部が設けられており、このキュベット移送部によって、試料を収容したキュベット8が加温テーブル17から試薬混合位置22Bまで移送される。その後、試薬分注部19によってかかるキュベット8内に試薬が吐出され、キュベット移送部によりキュベット8内の試料が撹拌混合される。その後、キュベット移送部がこのキュベット8を分析穴21Aにセットする。   As shown in FIG. 2, a detection unit 21 is provided on the right side of the heating table 17. The detection unit 21 is formed in a substantially cubic shape, and ten analysis holes 21A are arranged in two rows along the left-right direction on the upper surface. Further, a cuvette transfer unit (not shown) is provided in the vicinity of the detection unit 21, and the cuvette 8 containing the sample is transferred from the heating table 17 to the reagent mixing position 22B by the cuvette transfer unit. Thereafter, the reagent is discharged into the cuvette 8 by the reagent dispensing unit 19, and the sample in the cuvette 8 is stirred and mixed by the cuvette transfer unit. Thereafter, the cuvette transfer section sets the cuvette 8 in the analysis hole 21A.

図8は、検出部21の構成を示す平面図である。図8に示すように、検出部21は、直方体ブロック状をなすアルミニウム合金製の加温部21Dの外側を熱伝導率の低い合成樹脂製のカバー21Eで覆った構成となっている。加温部21Dには、上述した分析穴21Aが設けられており、この分析穴21Aはカバー21Eで覆われておらず、加温部21Dのアルミニウム合金の表面が露出している。また、検出部21の内部には、キュベット8内の試料を加温するための長板状のヒータ21Bが設けられている。このヒータ21Bは、ヒータ17Cと同様なシリコンラバーヒータであり、前列に設けられた10個の分析穴21Aと後列に設けられた10個の分析穴21Aとの間に左右方向に延びるように配置されている。上述した加温テーブル17と同様に、アルミニウム合金製の加温部21Dには、ヒータ21Bの熱が速やかに伝わり、カバー21Eによって加温部21Dの外部へ熱が発散しにくく、分析穴21Aに収納されたキュベット8内の検体及び試料を効率的に加熱することが可能な構造となっている。また、この加温部21Dにはサーミスタ21Cが設けられている。このサーミスタ21Cは、前列の分析穴21の近傍に配置されており、サーミスタ21Cによって分析穴21Aにセットされたキュベット8内の液体の温度を計測することができるようになっている。前記ヒータ21Bは、制御部25によって温度制御され、これにより分析穴21Aにセットされたキュベット8内の液体(試料)が所定温度(37℃)に加温される。また、検出部21は、その内部に発光ダイオード及びハロゲンランプからなる光源(図示せず)及びフォトダイオードからなる受光素子(図示せず)を備えている。検出部21は、光源から分析穴21Aに収納されたキュベット8内の試料に向かって光を照射して、受光部で試料からの散乱光や透過光等を受け、受光信号として制御部25に送信する。   FIG. 8 is a plan view showing the configuration of the detection unit 21. As shown in FIG. 8, the detection part 21 has a configuration in which the outside of a heating part 21D made of aluminum alloy having a rectangular parallelepiped block shape is covered with a cover 21E made of synthetic resin having low thermal conductivity. The heating hole 21D is provided with the analysis hole 21A described above. The analysis hole 21A is not covered with the cover 21E, and the surface of the aluminum alloy of the heating part 21D is exposed. In addition, a long plate-like heater 21 </ b> B for heating the sample in the cuvette 8 is provided inside the detection unit 21. This heater 21B is a silicon rubber heater similar to the heater 17C, and is arranged to extend in the left-right direction between 10 analysis holes 21A provided in the front row and 10 analysis holes 21A provided in the back row. Has been. Similarly to the heating table 17 described above, the heat of the heater 21B is quickly transmitted to the heating part 21D made of aluminum alloy, and the cover 21E does not easily dissipate the heat to the outside of the heating part 21D. The specimen and the sample in the stored cuvette 8 can be efficiently heated. In addition, the thermistor 21C is provided in the heating unit 21D. The thermistor 21C is arranged in the vicinity of the analysis hole 21 in the front row, and the temperature of the liquid in the cuvette 8 set in the analysis hole 21A can be measured by the thermistor 21C. The temperature of the heater 21B is controlled by the control unit 25, whereby the liquid (sample) in the cuvette 8 set in the analysis hole 21A is heated to a predetermined temperature (37 ° C.). The detection unit 21 includes therein a light source (not shown) including a light emitting diode and a halogen lamp, and a light receiving element (not shown) including a photodiode. The detection unit 21 irradiates light from the light source toward the sample in the cuvette 8 accommodated in the analysis hole 21A, receives the scattered light or transmitted light from the sample at the light receiving unit, and sends the light to the control unit 25 as a light reception signal. Send.

分析が終了したキュベット8は、前述した移送部によって分析穴21Aから取り出され、テーブルユニット9の収納穴10にセットされる。また、前記テーブルユニット9の右側には、キュベット排出部24が設けられている。キュベット移送部23は、テーブルユニット9にセットされている分析が終了したキュベット8を移送し、キュベット排出部24へ廃棄する。   After the analysis, the cuvette 8 is taken out from the analysis hole 21A by the transfer unit described above and set in the storage hole 10 of the table unit 9. Further, a cuvette discharge portion 24 is provided on the right side of the table unit 9. The cuvette transfer unit 23 transfers the cuvette 8 that has been set in the table unit 9 and has been analyzed, and discards it to the cuvette discharge unit 24.

次に、制御部25の構成について説明する。図9は、測定部2の構成を示すブロック図である。図9に示すように、制御部25は、フラッシュメモリカードリーダ26と、CPU27と、メモリ28と、波形処理部29と、動作制御部31と、通信部33とを備えている。CPU27と、フラッシュメモリカードリーダ26、メモリ28、波形処理部29、動作制御部31及び通信部33は、相互にデータ伝送が可能であるようにデータ伝送線を介して接続されている。これにより、CPU27は、フラッシュメモリカードリーダ26、メモリ28に対するデータの読み出し及び書込み、並びに波形処理部29及び動作制御部31に対するデータの送受信が可能となっている。   Next, the configuration of the control unit 25 will be described. FIG. 9 is a block diagram illustrating a configuration of the measurement unit 2. As shown in FIG. 9, the control unit 25 includes a flash memory card reader 26, a CPU 27, a memory 28, a waveform processing unit 29, an operation control unit 31, and a communication unit 33. The CPU 27, the flash memory card reader 26, the memory 28, the waveform processing unit 29, the operation control unit 31, and the communication unit 33 are connected via a data transmission line so that data can be transmitted to each other. As a result, the CPU 27 can read and write data to and from the flash memory card reader 26 and the memory 28, and transmit and receive data to and from the waveform processing unit 29 and the operation control unit 31.

フラッシュメモリカードリーダ26は、フラッシュメモリカード26Aに記録されたデータの読み出しに使用される。フラッシュメモリカード26Aは、フラッシュメモリ(図示せず)を有しており、外部から電力を供給されなくても、データを保持することができるようになっている。また、フラッシュメモリカード26Aには、CPU27に実行されるコンピュータプログラム及びこれに用いるデータ等が記録されており、リアルタイムオペレーティングシステムがインストールされている。かかるオペレーティングシステムは、ソフトウェアクロックの機能を備えており、時刻を計測することが可能である。なお、制御部25にハードウェアクロックを設け、当該ハードウェアクロックにより時刻を計測することとしてもよいことはいうまでもない。   The flash memory card reader 26 is used to read data recorded on the flash memory card 26A. The flash memory card 26A has a flash memory (not shown), and can hold data even when power is not supplied from the outside. The flash memory card 26A stores a computer program executed by the CPU 27, data used for the same, and the like, and a real-time operating system is installed. Such an operating system has a software clock function, and can measure time. Needless to say, the control unit 25 may be provided with a hardware clock, and the time may be measured using the hardware clock.

また、フラッシュメモリカード26には、後述する劣化判定動作で使用する劣化判定開始温度Kset1、劣化判定終了温度Kset2、故障判定時間Tover1,Tover2が記録されている。以下の説明においては、劣化判定開始温度Kset1を25℃、劣化判定終了温度Kset2を30℃、故障判定時間Tover1を15分、故障判定時間Tover2を10分とするが、これに限定されるものではなく、他の値としてもよいことはいうまでもない。特に、故障判定時間Tover1,Tover2は、ヒータの加温対象の熱容量、Kset1,Kset2の設定値等を勘案して設定される。 Further, the flash memory card 26, the deterioration determination start temperature K set1 used in the deterioration judgment operation described later, the deterioration determination end temperature K set2, the failure determination time T over1, T over2 are recorded. In the following description, the deterioration determination start temperature K set1 a 25 ° C., the deterioration determination end temperature K set2 to 30 ° C., 15 minutes failure determination time T OVER1, the failure determination time T Over2 although 10 minutes, limited to Needless to say, other values may be used. In particular, the failure determination time T over1, T over2 is warming target heat capacity of the heater is set in consideration of the setting values of K set1, K set2.

CPU27は、図示しないROMに記録されたコンピュータプログラム及びメモリ28にロードされたコンピュータプログラムを実行することが可能である。メモリ28は、SRAMまたはDRAM等によって構成されており、フラッシュメモリカード26Aに記録されているコンピュータプログラムの読み出しに用いられる。また、コンピュータプログラムを実行するときに、CPU27の作業領域及びデータの格納領域として利用される。   The CPU 27 can execute a computer program recorded in a ROM (not shown) and a computer program loaded in the memory 28. The memory 28 is configured by SRAM, DRAM, or the like, and is used for reading a computer program recorded on the flash memory card 26A. Further, when the computer program is executed, it is used as a work area of the CPU 27 and a data storage area.

動作制御部31は、モータ、電磁弁、冷却装置等のデバイスを駆動するためのドライバ回路を有しており、CPU27が実行するプログラムに基づいて、テーブルユニット9、キュベット供給部12、キュベット移送部13、23、緩衝液収容部14、検体分注部15、16、加温テーブル17、試薬分注部18、19及び検出部21の動作制御を行うようになっている。また、かかる動作制御部31には、温度制御回路31aが設けられており、この温度制御回路31aによってヒータ17C、18H、19H、21Bの温度制御を行うことが可能である。温度制御回路31aは、加温テーブル17に設けられたヒータ17C及びサーミスタ17D、試薬分注部18、19に設けられたヒータ18H、19H及びサーミスタ18G、19G、検出部21に設けられたヒータ21B及びサーミスタ21C、並びに測定部2の周囲温度を計測するためのサーミスタ25Aと夫々配線コード等を介して接続されており、サーミスタ17D,18G,19G,21C,25Aの検出信号を夫々受信し、ヒータ17C、18H、19H、21Bに制御信号を送信するようになっている。かかる温度制御回路31aは、サーミスタ17D,18G,19G,21C夫々の検出温度と、予め設定された目標温度(37℃)とに基づいて、ヒータ17C、18H、19H、21Bに与えるパルス電圧信号を生成する。かかるパルス電圧信号はPID制御によりパルス幅が決定され、これにより、ヒータ17C、18H、19H、21Bに与えられる電流が制御(PWM制御)される。   The operation control unit 31 includes a driver circuit for driving devices such as a motor, a solenoid valve, and a cooling device. Based on a program executed by the CPU 27, the table unit 9, the cuvette supply unit 12, and the cuvette transfer unit 13, 23, buffer solution storage unit 14, sample dispensing units 15, 16, heating table 17, reagent dispensing units 18, 19 and detection unit 21 are controlled. Further, the operation control unit 31 is provided with a temperature control circuit 31a, and the temperature control circuit 31a can control the temperature of the heaters 17C, 18H, 19H, and 21B. The temperature control circuit 31a includes a heater 17C and the thermistor 17D provided on the heating table 17, heaters 18H and 19H provided on the reagent dispensing units 18 and 19, and the thermistors 18G and 19G, and a heater 21B provided on the detection unit 21. And the thermistor 21C and the thermistor 25A for measuring the ambient temperature of the measuring section 2 via wiring cords, respectively, and receive the detection signals of the thermistors 17D, 18G, 19G, 21C, and 25A, respectively, and the heater Control signals are transmitted to 17C, 18H, 19H, and 21B. The temperature control circuit 31a generates pulse voltage signals to be applied to the heaters 17C, 18H, 19H, and 21B based on the detected temperatures of the thermistors 17D, 18G, 19G, and 21C and a preset target temperature (37 ° C.). Generate. The pulse width of the pulse voltage signal is determined by PID control, whereby the current supplied to the heaters 17C, 18H, 19H, and 21B is controlled (PWM control).

サーミスタ25Aは、ヒータや冷却装置による温度の影響を受けない測定部2の内部部位に設けられている。このサーミスタ25Aによって、測定部2の周囲温度(外部環境温度、室温)を計測することが可能である。   The thermistor 25A is provided in the internal part of the measurement unit 2 that is not affected by the temperature of the heater or cooling device. The thermistor 25A can measure the ambient temperature (external environment temperature, room temperature) of the measurement unit 2.

通信部33は、例えば、Ethernet(登録商標)インタフェースであり、測定部2は、当該通信部33により、所定の通信プロトコルを使用して、データ処理部4との間でデータの送受信が可能である。   The communication unit 33 is, for example, an Ethernet (registered trademark) interface, and the measurement unit 2 can transmit and receive data to and from the data processing unit 4 by using the communication unit 33 using a predetermined communication protocol. is there.

この波形処理部29と検出部21とは、信号伝送ケーブルを介して接続されており、検出部21から出力された受光信号を波形処理部29に与えられるようになっている。波形処理部29は、かかる受光信号を信号処理し、この信号処理結果がCPU27に与えられる。CPU27は、当該信号処理結果に基づいて、検体の凝固時間、吸光度変化量等を算出し、これらの測定結果データを通信部33を通じてデータ処理部4へ送信する。   The waveform processing unit 29 and the detection unit 21 are connected via a signal transmission cable so that the light reception signal output from the detection unit 21 can be given to the waveform processing unit 29. The waveform processing unit 29 performs signal processing on the received light signal, and the signal processing result is given to the CPU 27. Based on the signal processing result, the CPU 27 calculates the coagulation time, the absorbance change amount, and the like of the specimen, and transmits these measurement result data to the data processing unit 4 through the communication unit 33.

次に、データ処理部4の構成について説明する。図10は、本発明の実施の形態1に係る分析装置1が有するデータ処理部4の構成を示すブロック図である。データ処理部4は、本体41と、表示部42と、入力部43とを有するコンピュータによって構成されている。本体41は、CPU41Aと、ROM41Bと、RAM41Cと、ハードディスク41Dと、読出装置41Eと、入出力インタフェース41Fと、通信インタフェース41Gと、画像出力インタフェース41Hとを備えており、CPU41A、ROM41B、RAM41C、ハードディスク41D、読出装置41E、入出力インタフェース41F、通信インタフェース41G、および画像出力インタフェース41Hは、データ伝送用のバス41Iによって接続されている。   Next, the configuration of the data processing unit 4 will be described. FIG. 10 is a block diagram showing a configuration of the data processing unit 4 included in the analysis apparatus 1 according to Embodiment 1 of the present invention. The data processing unit 4 is configured by a computer having a main body 41, a display unit 42, and an input unit 43. The main body 41 includes a CPU 41A, a ROM 41B, a RAM 41C, a hard disk 41D, a reading device 41E, an input / output interface 41F, a communication interface 41G, and an image output interface 41H. The CPU 41A, ROM 41B, RAM 41C, and hard disk 41D, reading device 41E, input / output interface 41F, communication interface 41G, and image output interface 41H are connected by a bus 41I for data transmission.

CPU41Aは、ROM41Bに記憶されているコンピュータプログラムおよびRAM41Cにロードされたコンピュータプログラムを実行することが可能である。そして、後述するようなコンピュータプログラムを当該CPU41Aが実行することにより、当該コンピュータがデータ処理部4として機能する。   The CPU 41A can execute the computer program stored in the ROM 41B and the computer program loaded in the RAM 41C. The computer functions as the data processing unit 4 by the CPU 41A executing a computer program as described below.

ROM41Bは、マスクROM、PROM、EPROM、EEPROM等によって構成されており、CPU41Aに実行されるコンピュータプログラムおよびこれに用いるデータ等が記録されている。   The ROM 41B is configured by a mask ROM, PROM, EPROM, EEPROM, or the like, in which computer programs executed by the CPU 41A, data used for the same, and the like are recorded.

RAM41Cは、SRAMまたはDRAM等によって構成されている。RAM41Cは、ROM41Bおよびハードディスク41Dに記録されているコンピュータプログラムの読み出しに用いられる。また、これらのコンピュータプログラムを実行するときに、CPU41Aの作業領域として利用される。   The RAM 41C is configured by SRAM, DRAM, or the like. The RAM 41C is used for reading computer programs recorded in the ROM 41B and the hard disk 41D. Further, when these computer programs are executed, they are used as a work area of the CPU 41A.

ハードディスク41Dは、オペレーティングシステムおよびアプリケーションプログラム等、CPU41Aに実行させるための種々のコンピュータプログラムおよび当該コンピュータプログラムの実行に用いるデータがインストールされている。   The hard disk 41D is installed with various computer programs to be executed by the CPU 41A, such as an operating system and application programs, and data used for executing the computer programs.

また、ハードディスク41Dには、後述するヒータの劣化判定動作で使用する履歴データベースDB41が設けられている。図11は、履歴データベースDB41の一例を示す模式図である。この履歴データベースDB41は、リレーショナルデータベースであり、劣化率フィールド41aと判定時刻フィールド41bとを有している。かかる劣化率フィールド41aには、劣化率が格納され、判定時刻フィールド41bには、劣化率を判定した時刻(日時)が格納される。1つのレコードの劣化率と判定時刻とは対応付けられており、これによってCPU41Aは劣化率と当該劣化率が判定された時刻とを取得することができるようになっている。   The hard disk 41D is provided with a history database DB41 used in a heater deterioration determination operation described later. FIG. 11 is a schematic diagram illustrating an example of the history database DB41. The history database DB41 is a relational database and has a deterioration rate field 41a and a determination time field 41b. The deterioration rate field 41a stores the deterioration rate, and the determination time field 41b stores the time (date and time) at which the deterioration rate is determined. The deterioration rate and the determination time of one record are associated with each other, so that the CPU 41A can acquire the deterioration rate and the time when the deterioration rate is determined.

読出装置41Eは、フレキシブルディスクドライブ、CD−ROMドライブ、またはDVD−ROMドライブ等によって構成されており、可搬型記録媒体44に記録されたコンピュータプログラムまたはデータを読み出すことができる。また、可搬型記録媒体44には、コンピュータをデータ処理装置4として機能させるためのコンピュータプログラムが格納されており、CPU41Aが当該可搬型記録媒体44から本発明に係るコンピュータプログラムを読み出し、当該コンピュータプログラムをハードディスク41Dにインストールすることが可能である。   The reading device 41E is configured by a flexible disk drive, a CD-ROM drive, a DVD-ROM drive, or the like, and can read a computer program or data recorded on the portable recording medium 44. In addition, the portable recording medium 44 stores a computer program for causing a computer to function as the data processing device 4, and the CPU 41A reads the computer program according to the present invention from the portable recording medium 44, and the computer program Can be installed on the hard disk 41D.

なお、前記コンピュータプログラムは、可搬型記録媒体44によって提供されるのみならず、電気通信回線(有線、無線を問わない)によってデータ処理部4と通信可能に接続された外部の機器から前記電気通信回線を通じて提供することも可能である。例えば、前記コンピュータプログラムがインターネット上のサーバコンピュータのハードディスク内に格納されており、このサーバコンピュータにデータ処理部4がアクセスして、当該コンピュータプログラムをダウンロードし、これをハードディスク41Dにインストールすることも可能である。   The computer program is provided not only by the portable recording medium 44 but also from an external device that is communicably connected to the data processing unit 4 via an electric communication line (whether wired or wireless). It is also possible to provide it through a line. For example, the computer program is stored in the hard disk of a server computer on the Internet. The data processing unit 4 can access the server computer, download the computer program, and install it on the hard disk 41D. It is.

また、ハードディスク41Dには、例えば米マイクロソフト社が製造販売するWindows(登録商標)等のグラフィカルユーザインタフェース環境を提供するオペレーティングシステムがインストールされている。かかるオペレーティングシステムは、ソフトウェアクロックの機能を備えており、時刻を計測することが可能である。なお、当該コンピュータにハードウェアクロックを設け、当該ハードウェアクロックにより時刻を計測することとしてもよいことはいうまでもない。以下の説明においては、本実施の形態1に係るコンピュータプログラムは当該オペレーティングシステム上で動作するものとしている。   In addition, an operating system that provides a graphical user interface environment such as Windows (registered trademark) manufactured and sold by US Microsoft Co. is installed in the hard disk 41D. Such an operating system has a software clock function, and can measure time. Needless to say, the computer may be provided with a hardware clock, and the time may be measured using the hardware clock. In the following description, it is assumed that the computer program according to the first embodiment operates on the operating system.

入出力インタフェース41Fは、例えばUSB,IEEE1394,RS232C等のシリアルインタフェース、SCSI,IDE,IEEE1284等のパラレルインタフェース、およびD/A変換器、A/D変換器等からなるアナログインタフェース等から構成されている。入出力インタフェース41Fには、キーボードおよびマウスからなる入力部43が接続されており、ユーザが当該入力部43を使用することにより、データ処理部4にデータを入力することが可能である。   The input / output interface 41F includes, for example, a serial interface such as USB, IEEE1394, RS232C, a parallel interface such as SCSI, IDE, IEEE1284, an analog interface including a D / A converter, an A / D converter, and the like. . An input unit 43 including a keyboard and a mouse is connected to the input / output interface 41 </ b> F, and the user can input data to the data processing unit 4 by using the input unit 43.

通信インタフェース41Gは、例えばEthernet(登録商標)インタフェースであり、データ処理部4は、当該通信インタフェース41Gにより、所定の通信プロトコルを使用して測定部2との間でデータの送受信が可能である。   The communication interface 41G is, for example, an Ethernet (registered trademark) interface, and the data processing unit 4 can transmit and receive data to and from the measurement unit 2 by using the communication interface 41G using a predetermined communication protocol.

画像出力インタフェース41Hは、LCDまたはCRT等で構成された表示部42に接続されており、CPU41Aから与えられた画像データに基づいた映像信号を表示部42に出力するようになっている。表示部42は、入力された映像信号にしたがって、画面表示を行う。   The image output interface 41H is connected to a display unit 42 constituted by an LCD, a CRT, or the like, and outputs a video signal based on image data given from the CPU 41A to the display unit 42. The display unit 42 performs screen display according to the input video signal.

次に、本発明の実施の形態1に係る分析装置のヒータ劣化判定動作について説明する。まず、測定部2のヒータ劣化判定に関する動作について説明する。前述したように測定部2の制御部25内に設けられたフラッシュメモリカード26Aには、本発明の実施の形態1に係るヒータ劣化判定のコンピュータプログラムが記憶されている。このコンピュータプログラムは、測定部2の起動時に、フラッシュメモリカードリーダ26から読み出され、メモリ28にロードされて、CPU27が実行するようになっている。このコンピュータプログラムをCPU27が実行することによって、測定部2は、以下のように動作する。なお、以下には、ヒータ17Cに対する劣化判定を行う場合の測定部2の動作について説明するが、他のヒータ18H,19H,21Bについても同様の劣化判定動作が実行される。   Next, the heater deterioration determination operation of the analyzer according to the first embodiment of the present invention will be described. First, the operation relating to the heater deterioration determination of the measurement unit 2 will be described. As described above, the flash memory card 26A provided in the control unit 25 of the measurement unit 2 stores the computer program for heater deterioration determination according to Embodiment 1 of the present invention. This computer program is read from the flash memory card reader 26 when the measurement unit 2 is activated, loaded into the memory 28, and executed by the CPU 27. When the CPU 27 executes this computer program, the measuring unit 2 operates as follows. In the following, the operation of the measurement unit 2 when performing deterioration determination for the heater 17C will be described, but the same deterioration determination operation is performed for the other heaters 18H, 19H, and 21B.

図12は、実施の形態1に係る測定部2によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。図12に示すように、測定部2のCPU27は、フラッシュメモリカード26Aに記録されたヒータ劣化判定開始温度Kset1、ヒータ劣化判定終了温度Kset2、及び故障判定時間Tover1、Tover2をフラッシュメモリカード26Aから読み出し、メモリ28に格納する(ステップS1)。CPU27は、ソフトウェアクロック(システムクロック)を参照してその時点の時刻T1を取得し(ステップS2)、サーミスタ17Dの温度K1を取得する(ステップS3)。 FIG. 12 is a flowchart showing the flow of the heater deterioration determination operation by the measurement unit 2 according to the first embodiment. As shown in FIG. 12, CPU 27 of the measuring unit 2, the heater degradation determination start temperature K set1 recorded in the flash memory card 26A, the flash memory heater deterioration determination end temperature K set2, and failure determination time T over1, T over2 The data is read from the card 26A and stored in the memory 28 (step S1). The CPU 27 refers to the software clock (system clock), acquires the current time T1 (step S2), and acquires the temperature K1 of the thermistor 17D (step S3).

次に、CPU27は、温度K1とヒータ劣化判定開始温度Kset1とを比較する(ステップS4)。温度K1がヒータ劣化判定開始温度Kset1より大きい場合には(ステップS4でNo)、CPU27は処理を終了する。このように、サーミスタ17Dの温度が劣化判定開始温度Kset1より高い場合は、測定部2はヒータ17Cの劣化判定動作を実行しない。これは、例えば、長時間使用されて十分に加温テーブル17の加温部17B(又は、試薬分注部18、19の加温ピペット18E、19E、検出部21の加温部21D)が加温されている状態で、測定装置2が再起動をかけられたり、測定装置2が一旦停止され、その直後に起動されたりすると、サーミスタ17D(又はサーミスタ18G、19G、21C)の検出温度が十分に高く、僅かな時間だけヒータ17C(又はヒータ18H,19H,21B)を動作させただけで目標温度に到達してしまうことから、正確に劣化の判定を行うことができないためである。 Next, the CPU 27 compares the temperature K1 with the heater deterioration determination start temperature K set1 (step S4). When the temperature K1 is higher than the heater deterioration determination start temperature Kset1 (No in step S4), the CPU 27 ends the process. Thus, when the temperature of the thermistor 17D is higher than the deterioration determination start temperature K set1 , the measurement unit 2 does not execute the deterioration determination operation of the heater 17C. For example, the heating unit 17B of the heating table 17 (or the heating pipettes 18E and 19E of the reagent dispensing units 18 and 19 and the heating unit 21D of the detection unit 21) which has been used for a long time and is sufficiently heated. If the measuring device 2 is restarted in the heated state, or the measuring device 2 is temporarily stopped and then immediately started, the detection temperature of the thermistor 17D (or thermistors 18G, 19G, 21C) is sufficient. This is because the target temperature is reached only by operating the heater 17C (or the heaters 18H, 19H, and 21B) for a short period of time, so that the deterioration cannot be accurately determined.

ステップ4において、温度K1が劣化判定開始温度Kset1以下である場合には(ステップS4でYes)、CPU27は、温度K1と劣化判定開始温度Kset1とが等しいか否かを判別する(ステップS5)。ここで、温度K1と劣化判定開始温度Kset1とが異なる場合には(ステップS5でNo)、CPU27は、システムクロックからその時点の時刻T2を取得し(ステップS6)、かかる時刻T2と時刻T1との差を求め、初期経過時間Ton1を算出する(ステップS7)。また、CPU27は、ステップS7で算出した初期経過時間Ton1と故障判定時間Tover1とを比較し(ステップS8)、初期経過時間Ton1が故障判定時間Tover1未満である場合には(ステップS8でNo)、ステップS3に処理を戻して、温度K1が劣化判定開始温度Kset1と一致しない限りステップS3〜S8の処理を繰り返す。このループ処理において、初期経過時間Ton1は順次更新されるため、温度K1が劣化判定開始温度Kset1に至るまでの経過時間が計測されることとなる。そして、ステップS8において初期経過時間Ton1が故障判定時間Tover1以上である場合には(ステップS8でYes)、長時間をかけても(つまり、加温開始から15分経過しても)加温部17Bが十分に加温されず(つまり、加温部17Bの温度が25℃に至らず)、ヒータ17Cに故障が発生しているとみなして、CPU27は、初期経過時間Ton1が故障判定時間を超過したことを示す第1故障通知データをデータ処理部4へ送信し(ステップS9)、処理を終了する。 In step 4, when the temperature K1 is equal to or lower than the deterioration determination start temperature K set1 (Yes in step S4), the CPU 27 determines whether or not the temperature K1 and the deterioration determination start temperature K set1 are equal (step S5). ). Here, when the temperature K1 and the deterioration determination start temperature Kset1 are different (No in step S5), the CPU 27 obtains the current time T2 from the system clock (step S6), and the time T2 and the time T1. And the initial elapsed time Ton1 is calculated (step S7). Further, CPU 27 compares the initial elapsed time T on1 calculated and the failure determination time T OVER1 in step S7 (step S8), and if the initial elapsed time T on1 is less than the failure determination time T OVER1 (step S8 in no), the returns to step S3, and repeats the process of step S3~S8 long as the temperature K1 does not match the degradation determination starting temperature K set1. In this loop process, since the initial elapsed time Ton1 is sequentially updated, the elapsed time until the temperature K1 reaches the deterioration determination start temperature Kset1 is measured. Then, (Yes in step S8) the initial elapsed when the time T on1 is failure determination time T OVER1 more in step S8, even over a long period of time (i.e., even after a lapse of 15 minutes from the start warming) pressure The warming part 17B is not sufficiently heated (that is, the temperature of the warming part 17B does not reach 25 ° C.), and it is considered that a failure has occurred in the heater 17C, and the CPU 27 fails in the initial elapsed time Ton1. First failure notification data indicating that the determination time has been exceeded is transmitted to the data processing unit 4 (step S9), and the process ends.

ステップS8において、温度K1と劣化判定開始温度Kset1とが等しい場合には(ステップS5でYes)、CPU27は、システムクロックからその時点の時刻T3を取得する(ステップS10)。次いで、CPU27は、再度システムクロックから時刻T4を取得し(ステップS11)、この時刻T4と時刻T3との差を求め、経過時間Ton2を算出する(ステップS12)。次に、CPU27は、サーミスタ17Dの温度K2を取得し(ステップS13)、この温度K2と劣化判定終了温度Kset2とを比較する(ステップS14)。 In step S8, when the temperature K1 and the deterioration determination start temperature Kset1 are equal (Yes in step S5), the CPU 27 acquires the time T3 at that time from the system clock (step S10). Next, the CPU 27 obtains the time T4 from the system clock again (step S11), obtains the difference between the time T4 and the time T3, and calculates the elapsed time Ton2 (step S12). Next, the CPU 27 acquires the temperature K2 of the thermistor 17D (step S13), and compares the temperature K2 with the deterioration determination end temperature Kset2 (step S14).

温度K2が劣化判定終了温度Kset2と異なる場合には(ステップS14でNo)、CPU27は、ステップS12で算出した経過時間Ton2と故障判定時間Tover2とを比較する(ステップS15)。ここで経過時間Ton2が故障判定時間Tover2未満である場合には(ステップS15でNo)、ステップS11に処理を戻して、温度K2が劣化判定終了温度Kset2と一致しない限りステップS11〜S15の処理を繰り返す。このループ処理において、経過時間Ton2は順次更新されるため、温度K2が劣化判定終了温度Kset2に至るまでの経過時間が計測されることとなる。そして、経過時間Ton2が故障判定時間Tover2以上である場合には(ステップS15でYes)、長時間をかけても(つまり、加温部17Bが25℃に達してから10分経過しても)加温部17Bが十分に加温されず(つまり、加温部17Bの温度が30℃に至らず)、ヒータ17Cに故障が発生しているとみなして、CPU27は、経過時間Ton2が故障判定時間を超過したことを示す第2故障通知データをデータ処理部4へ送信し(ステップS16)、処理を終了する。 When the temperature K2 is different from the deterioration determination end temperature Kset2 (No in step S14), the CPU 27 compares the elapsed time Ton2 calculated in step S12 with the failure determination time Tover2 (step S15). If the elapsed time Ton2 is less than the failure determination time Tover2 (No in step S15), the process returns to step S11, and unless the temperature K2 coincides with the deterioration determination end temperature Kset2 , the steps S11 to S15 are performed. Repeat the process. In this loop process, since the elapsed time Ton2 is sequentially updated, the elapsed time until the temperature K2 reaches the deterioration determination end temperature Kset2 is measured. And when elapsed time Ton2 is more than failure determination time Tover2 (Yes in step S15), even if it takes a long time (that is, 10 minutes have passed since the heating unit 17B reached 25 ° C.). Also, the heating unit 17B is not sufficiently heated (that is, the temperature of the heating unit 17B does not reach 30 ° C.) and the heater 27C is considered to have failed, and the CPU 27 determines that the elapsed time Ton2 The second failure notification data indicating that the failure determination time has been exceeded is transmitted to the data processing unit 4 (step S16), and the process ends.

ステップS14において、温度K2と劣化判定終了温度Kset2とが等しい場合には(ステップS14でYes)、CPU27は、サーミスタ17Dの検出温度が劣化判定開始温度Kset1から劣化判定終了温度Kset2まで上昇する間の経過時間Ton2をデータ処理部4へ送信し(ステップS17)、処理を終了する。 In step S14, when the temperature K2 and the deterioration determination end temperature K set2 are equal (Yes in step S14), the CPU 27 increases the temperature detected by the thermistor 17D from the deterioration determination start temperature K set1 to the deterioration determination end temperature K set2. Elapsed time Ton2 is transmitted to the data processing unit 4 (step S17), and the process is terminated.

次に、データ処理部4のヒータ劣化判定に関する動作について説明する。データ処理部4は、本体41内のハードディスク41Dに、本発明に係るヒータ故障判定のコンピュータプログラムを記憶している。このコンピュータプログラムは、CPU41Aによってハードディスク41Dから読み出され、RAM41Cにロードされて、CPU41Aが実行するようになっている。このコンピュータプログラムをCPU41Aが実行することによって、データ処理部4は、以下のように動作する。   Next, the operation regarding the heater deterioration determination of the data processing unit 4 will be described. The data processing unit 4 stores a computer program for heater failure determination according to the present invention in the hard disk 41D in the main body 41. The computer program is read from the hard disk 41D by the CPU 41A, loaded into the RAM 41C, and executed by the CPU 41A. When the CPU 41A executes this computer program, the data processing unit 4 operates as follows.

図13及び図14は、実施の形態1に係るデータ処理部4によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。まず、データ処理部4のCPU41Aは、測定部2から送信されたデータの受信を待機する(ステップS18)。ステップS18において、測定部2から受信したデータが第1故障通知データ又は第2故障通知データであった場合には(ステップS18において「故障通知データ」)、CPU41Aは、ヒータの交換を促すヒータ交換通知ウィンドウ42Aを表示部42に表示させ(ステップS19)、その後、処理を終了する。図15は、ヒータ交換通知ウィンドウ42Aの一例を示す模式図である。図15に示すように、ヒータ交換通知ウィンドウ42Aには、「ヒータの故障が発生しました」、「ヒータが所定時間を過ぎても設定温度に到達しませんでした。ヒータが故障していますので、すみやかにヒータを交換してください」といったメッセージが表示される。このようにヒータ交換通知ウィンドウ42Aには、ヒータが故障しており、交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、従来必要であったヒータの故障判定の手間を作業者に負担させることなく、ヒータが故障している否かを自動的に判定することが可能となる。ユーザ・作業者は、かかるヒータ交換通知ウィンドウ42Aを確認するだけで、ヒータに故障が発生したことを知ることができ、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。なお、ヒータを特定する型番や、ヒータの交換箇所を示す画像、またはヒータの交換手順を案内する画像・メッセージを同時に表示することとしてもよい。このようにすることにより、より一層ヒータの交換作業が容易となる。   FIGS. 13 and 14 are flowcharts showing the flow of operations related to heater deterioration determination by the data processing unit 4 according to the first embodiment. First, the CPU 41A of the data processing unit 4 waits for reception of data transmitted from the measurement unit 2 (step S18). In step S18, when the data received from the measurement unit 2 is the first failure notification data or the second failure notification data (“failure notification data” in step S18), the CPU 41A replaces the heater that prompts replacement of the heater. The notification window 42A is displayed on the display unit 42 (step S19), and then the process ends. FIG. 15 is a schematic diagram illustrating an example of the heater replacement notification window 42A. As shown in Fig. 15, the heater replacement notification window 42A shows that "Heater failure has occurred", "The heater did not reach the set temperature even after the predetermined time. The heater has failed. Please replace the heater as soon as possible. " In this manner, the heater replacement notification window 42A displays a message, an image, etc. for notifying the user / operator that the heater has failed and needs to be replaced. By doing so, it is possible to automatically determine whether or not the heater has failed without burdening the operator with the trouble of determining the failure of the heater, which has been conventionally required. The user / worker can know that a failure has occurred in the heater only by confirming the heater replacement notification window 42A, and can quickly proceed with arrangements necessary for heater replacement. It is also possible to simultaneously display a model number for identifying the heater, an image showing the heater replacement location, or an image / message for guiding the heater replacement procedure. By doing in this way, the replacement | exchange work of a heater becomes still easier.

一方、ステップS18において、測定部2から受信したデータが経過時間Ton2であった場合には(ステップS18において「経過時間データ」)、データ処理部4のCPU41Aは、ヒータ17Cの劣化率を判定する(ステップS20)。ステップS20の処理においては、ヒータの加温時間(ここでは、サーミスタ17Dの検出温度(つまり、加温部17Bの温度)が25℃から30℃まで上昇するのに要した経過時間Ton2)とヒータの劣化率との関係を示す劣化率テーブル50が用いられる。図16は、劣化率テーブル50の一例を示す図である。図16に示すように、劣化率テーブル50は、複数の加温時間の範囲と、劣化率とが対応付けられたルックアップテーブルである。加温時間が短い場合には、ヒータの加温能力が高いため対応するヒータの劣化率は低く、加温時間が長くなるにしたがって、対応する劣化率は高くなっている。CPU41Aは、ステップS20の処理では、この劣化率テーブル50に経過時間Ton2を照合し、経過時間Ton2に対応するヒータの劣化率を取得する。その後、CPU41は、システムクロックからその時点の時刻T5を取得し(ステップS21)、ステップS20で取得した劣化率と、ステップS21で取得した時刻T5とを対応付けて、履歴データベースDB41に格納する(ステップS22)。 On the other hand, when the data received from the measurement unit 2 is the elapsed time Ton2 in step S18 (“elapsed time data” in step S18), the CPU 41A of the data processing unit 4 determines the deterioration rate of the heater 17C. (Step S20). In the process of step S20, the heating time of the heater (here, the elapsed time Ton2 required for the temperature detected by the thermistor 17D (that is, the temperature of the heating unit 17B) to rise from 25 ° C. to 30 ° C.) A deterioration rate table 50 showing the relationship with the heater deterioration rate is used. FIG. 16 is a diagram illustrating an example of the deterioration rate table 50. As illustrated in FIG. 16, the deterioration rate table 50 is a lookup table in which a plurality of heating time ranges are associated with deterioration rates. When the heating time is short, the heater has a high heating capability, so the deterioration rate of the corresponding heater is low, and the corresponding deterioration rate is high as the heating time is long. CPU41A, in the processing in step S20, compares the elapsed time T on2 to this degradation rate table 50, obtains the degradation rate of the corresponding heater to the elapsed time T on2. Thereafter, the CPU 41 obtains the current time T5 from the system clock (step S21), associates the deterioration rate obtained in step S20 with the time T5 obtained in step S21, and stores it in the history database DB41 ( Step S22).

次に、CPU41Aは、データベースDB41から前回の劣化率判定で得られた劣化率及びその判定時刻、即ち、ステップS22で今回格納したデータの一つ前のデータを履歴データベースDB41から読み出す(ステップS23)。   Next, the CPU 41A reads, from the history database DB41, the deterioration rate obtained by the previous deterioration rate determination and the determination time thereof, that is, the previous data stored in step S22 from the database DB41 (step S23). .

ここで、CPU41Aは、ステップS20で取得した劣化率、即ち今回の劣化率判定で得られた劣化率が30%未満であるか否かを判別する(ステップS24)。劣化率が30%未満の場合には(ステップS24でYes)、CPU41Aは、ヒータの劣化状態を通知する劣化状態通知ウィンドウ42Bを表示部42に表示させ(ステップS25)、処理を終了する。   Here, the CPU 41A determines whether or not the deterioration rate acquired in step S20, that is, the deterioration rate obtained in the current deterioration rate determination is less than 30% (step S24). When the deterioration rate is less than 30% (Yes in Step S24), the CPU 41A displays a deterioration state notification window 42B for notifying the deterioration state of the heater on the display unit 42 (Step S25), and ends the process.

図17は、劣化状態通知ウィンドウ42Bの一例を示す模式図である。図17に示すように、劣化状態通知ウィンドウ42Bには、「ヒータの劣化率は、30%未満です」、「前回の劣化率は0%で、判定時刻は、3/12 13:00でした」、「ヒータの交換は必要ありません」といったメッセージが表示される。このように劣化状態通知ウィンドウ42Bには、今回の劣化率、前回の劣化率、前回の劣化率判定の実施時刻、ヒータの交換が必要のない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、ユーザ・作業者は、劣化状態通知ウィンドウ42Bを確認するだけで、ヒータの交換が必要のないことを把握することができる。また、前回の劣化率とその判定時刻とを表示することにより、ユーザ・作業者はヒータの劣化率の推移を把握することができる。   FIG. 17 is a schematic diagram illustrating an example of the deterioration state notification window 42B. As shown in FIG. 17, in the deterioration state notification window 42 </ b> B, “the deterioration rate of the heater is less than 30%”, “the previous deterioration rate was 0%, and the determination time was 3/12 13:00. "," No heater replacement is required "is displayed. In this way, in the deterioration state notification window 42B, the current deterioration rate, the previous deterioration rate, the execution time of the previous deterioration rate determination, the message / image etc. for notifying the user / operator that there is no need to replace the heater, etc. Is displayed. By doing in this way, the user / worker can grasp that it is not necessary to replace the heater only by checking the deterioration state notification window 42B. Further, by displaying the previous deterioration rate and the determination time, the user / worker can grasp the transition of the heater deterioration rate.

ステップS24において、劣化率が30%以上であった場合には(ステップS24でNo)、CPU41Aは、ヒータの劣化率が50%未満であるか否かを判別する(ステップS26)。ここで劣化率が50%未満の場合には(ステップS26でYes)、CPU41Aは、劣化状態通知ウィンドウを表示部42に表示させる(ステップS27)。かかる劣化状態通知ウィンドウには、今回の劣化率、即ち劣化率が30%〜50%未満である旨、前回の劣化率、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要ない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。CPU41Aは、かかる劣化状態通知ウィンドウを表示した後、処理を終了する。   In step S24, when the deterioration rate is 30% or more (No in step S24), the CPU 41A determines whether or not the heater deterioration rate is less than 50% (step S26). If the deterioration rate is less than 50% (Yes in step S26), the CPU 41A displays a deterioration state notification window on the display unit 42 (step S27). In this deterioration state notification window, the user / work indicates that the current deterioration rate, that is, the deterioration rate is 30% to less than 50%, the previous deterioration rate, the previous deterioration determination time, and the heater need not be replaced. A message / image to notify the user is displayed. After displaying the deterioration state notification window, the CPU 41A ends the process.

ステップS26において、劣化率が50%以上であった場合には(ステップS26でNo)、CPU41Aは、ヒータの劣化率が70%未満か否かを判別し(ステップS28)、劣化率が70%未満の場合には(ステップS28でYes)、前回の劣化率が50%未満であるか否かを判別する(ステップS29)。ここで、前回の劣化率が50%未満である場合には(ステップS29でYes)、劣化率が前回より悪化していることから、ヒータの劣化が進行している、又はヒータに何らかの異常が発生していると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、ヒータの交換を促すヒータ交換通知ウィンドウ42Cを表示部42に表示させ(ステップS30)、処理を終了する。   In step S26, when the deterioration rate is 50% or more (No in step S26), the CPU 41A determines whether or not the heater deterioration rate is less than 70% (step S28), and the deterioration rate is 70%. If it is less (Yes in Step S28), it is determined whether or not the previous deterioration rate is less than 50% (Step S29). Here, when the previous deterioration rate is less than 50% (Yes in step S29), the deterioration rate is worse than the previous time, so that the heater deterioration is progressing or there is some abnormality in the heater. It can be determined that it has occurred. Therefore, in such a case, the CPU 41A displays a heater replacement notification window 42C that prompts replacement of the heater on the display unit 42 (step S30), and ends the process.

図18は、ヒータ交換通知ウィンドウ42Cの構成を示す模式図である。図18に示すように、ヒータ交換通知ウィンドウ42Cには、「ヒータの劣化率は、50〜70%未満です」、「前回の劣化率は30%未満で、判定時刻は、3/25 13:00でした」、「ヒータを交換する必要があります」といったメッセージが表示される。このようにヒータ交換通知ウィンドウ42Cには、今回の劣化率、前回の劣化率、前回の劣化率判定の実施時刻、ヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像等が表示される。このようにすることにより、作業者は、ヒータ交換通知ウインドウ42Cを確認するだけで、ヒータの交換が必要なことを把握することができ、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。また、前回の劣化率とその判定時刻とを表示しているので、ユーザ・作業者はヒータの劣化率の推移を把握することができる。   FIG. 18 is a schematic diagram showing the configuration of the heater replacement notification window 42C. As shown in FIG. 18, in the heater replacement notification window 42C, “the heater deterioration rate is less than 50 to 70%”, “the previous deterioration rate is less than 30%, and the determination time is 3/25 13: “It was 00” and “The heater needs to be replaced.” As described above, the heater replacement notification window 42C includes the current deterioration rate, the previous deterioration rate, the time of the previous deterioration rate determination, the message / image that notifies the user / operator that the heater needs to be replaced, and the like. Is displayed. By doing so, the operator can grasp that the heater needs to be replaced only by confirming the heater replacement notification window 42C, and can promptly make arrangements necessary for replacing the heater. . Further, since the previous deterioration rate and the determination time are displayed, the user / worker can grasp the transition of the deterioration rate of the heater.

一方、ステップS29において、前回の劣化率が50%以上である場合には(ステップS29でNo)、劣化率が前回から概ね変化していないことから、ヒータの劣化の進行は殆どなく、ヒータは正常であると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(50%〜70%)、前回の劣化率(50%以上)、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要でない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだ劣化状態通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS31)、処理を終了する。   On the other hand, in step S29, when the previous deterioration rate is 50% or more (No in step S29), the deterioration rate has not substantially changed from the previous time. It can be determined to be normal. Therefore, in this case, the CPU 41A indicates that the current deterioration rate (50% to 70%), the previous deterioration rate (50% or more), the previous deterioration determination time, and that the heater need not be replaced. A deterioration state notification window including a message / image to be notified to the person is displayed on the display unit 42 (step S31), and the process is terminated.

また、ステップS28において、今回の劣化率が70%以上の場合には(ステップS28でNo)、CPU41Aは、ヒータの劣化率が80%未満であるか否かを判別する(ステップS32)。ここで、劣化率が80%未満の場合には(ステップS32でYes)、CPU41Aは、前回の劣化率が70%未満か否かを判別する(ステップS33)。   In step S28, when the current deterioration rate is 70% or more (No in step S28), the CPU 41A determines whether or not the heater deterioration rate is less than 80% (step S32). Here, when the deterioration rate is less than 80% (Yes in Step S32), the CPU 41A determines whether or not the previous deterioration rate is less than 70% (Step S33).

前回の劣化率が70%未満である場合には(ステップS33でYes)、劣化率が前回より悪化していることから、ヒータの劣化が進行している、又はヒータに何らかの異常が発生していると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(70%〜80%)、前回の劣化率(70%未満)、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだヒータ交換通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS34)、処理を終了する。   If the previous deterioration rate is less than 70% (Yes in step S33), the deterioration rate is worse than the previous time, so the heater deterioration is progressing or some abnormality has occurred in the heater. Can be determined. Therefore, in such a case, the CPU 41A indicates that the current deterioration rate (70% to 80%), the previous deterioration rate (less than 70%), the previous deterioration determination time, and that the heater needs to be replaced. A heater replacement notification window including a message / image to be notified to the person is displayed on the display unit 42 (step S34), and the process ends.

一方、ステップS33において前回の劣化率が70%以上である場合には(ステップS33でNo)、劣化率が前回から概ね変化していないことから、ヒータの劣化の進行は遅く、しばらくの間はヒータを正常に使用することができると判断することができる。そこで、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(50%〜70%)、前回の劣化率(50%以上)、前回の劣化判定時刻、及びヒータの交換が必要でない旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだ劣化状態通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS35)、処理を終了する。   On the other hand, if the previous deterioration rate is 70% or more in step S33 (No in step S33), the deterioration rate has not changed substantially from the previous time, so the progress of the heater deterioration is slow and for a while. It can be determined that the heater can be used normally. Therefore, in this case, the CPU 41A indicates that the current deterioration rate (50% to 70%), the previous deterioration rate (50% or more), the previous deterioration determination time, and that the heater need not be replaced. A deterioration state notification window including a message / image to be notified to the person is displayed on the display unit 42 (step S35), and the process is terminated.

また、ステップS32において、今回の劣化率が80%以上の場合には(ステップS32でNo)、ヒータの劣化が進んでおり、近い将来ヒータが正常に機能しなくなることが予想される。したがって、かかる場合には、CPU41Aは、今回の劣化率(80%以上)、及びヒータの交換が必要な旨をユーザ・作業者に通知するメッセージ・画像を含んだヒータ交換通知ウィンドウを表示部42に表示させ(ステップS36)、処理を終了する。このようにすることにより、従来必要であったヒータの交換判定の手間を作業者に負担させることなく、ヒータを交換する必要があるか否かを自動的に判定することが可能となる。ユーザ・作業者は、かかるヒータ交換通知ウィンドウを確認するだけで、ヒータの交換に必要な手配を迅速に進めることができる。なお、ヒータを特定する型番や、ヒータの交換箇所を示す画像、またはヒータの交換手順を案内する画像・メッセージを同時に表示することとしてもよい。このようにすることにより、より一層ヒータの交換作業が容易となる。   In step S32, when the current deterioration rate is 80% or more (No in step S32), the deterioration of the heater is advanced, and it is expected that the heater will not function normally in the near future. Therefore, in this case, the CPU 41A displays the heater replacement notification window including the current deterioration rate (80% or more) and a message / image notifying the user / worker that the heater needs to be replaced. (Step S36), and the process is terminated. By doing so, it is possible to automatically determine whether or not it is necessary to replace the heater without burdening the operator with the labor and time required for heater replacement determination. The user / worker can quickly proceed with arrangements necessary for heater replacement only by checking the heater replacement notification window. It is also possible to simultaneously display a model number for identifying the heater, an image showing the heater replacement location, or an image / message for guiding the heater replacement procedure. By doing in this way, the replacement | exchange work of a heater becomes still easier.

なお、本実施の形態1に係る分析装置1においては、サーミスタ17Cの検出温度(加温部17Bの温度)が25℃から30℃まで上昇するのに要した経過時間に基づいて劣化判定を行う構成について述べたが、これに限定されるものではなく、他の温度範囲(例えば、20℃〜30℃)だけ加温部17Bが温度上昇するのに要する時間に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよいし、ヒータの加温開始から所定温度(例えば5℃)だけ温度上昇するのに要する時間に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよい。   In the analyzer 1 according to the first embodiment, the deterioration determination is performed based on the elapsed time required for the temperature detected by the thermistor 17C (the temperature of the heating unit 17B) to rise from 25 ° C. to 30 ° C. Although the configuration has been described, the present invention is not limited to this, and heater deterioration determination is performed based on the time required for the heating unit 17B to rise in temperature within another temperature range (for example, 20 ° C. to 30 ° C.). It is good also as a structure, and it is good also as a structure which determines deterioration of a heater based on the time required for temperature rise only by predetermined temperature (for example, 5 degreeC) from the heating start of a heater.

また、以上説明した実施の形態1に係る分析装置1においては、複数の加温時間の範囲と劣化率とが対応付けられた劣化率テーブル50に加温時間を照合し、当該加温時間に対応する劣化率を求める構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、加温時間が5〜6分で、周囲温度が10〜15℃の場合の劣化率は50%というように、複数の加温時間の範囲と、複数の周囲温度の範囲とに劣化率を対応付けたテーブルを用意し、測定した加温時間と周囲温度とを当該テーブルに照合し、対応する劣化率を求める等、上記以外の加温時間と劣化率との関係に基づいて劣化率を判定する構成としてもよい。
(実施の形態2)
本実施の形態2に係る分析装置の構成は、フラッシュメモリカード26A及びデータ処理部4のハードディスク41Dに格納されているコンピュータプログラムを除いて実施の形態1に係る分析装置の構成と略同様であるので、同一構成要素については同一符号を付し、その説明を省略する。以下、本発明の実施の形態2に係る分析装置の動作についてのみ説明する。
Further, in the analysis apparatus 1 according to the first embodiment described above, the heating time is collated with the deterioration rate table 50 in which a plurality of heating time ranges and deterioration rates are associated with each other, and the heating time is determined. Although the structure for obtaining the corresponding deterioration rate has been described, the present invention is not limited to this. For example, the deterioration rate when the heating time is 5 to 6 minutes and the ambient temperature is 10 to 15 ° C. is 50%. In addition, a table in which deterioration rates are associated with a plurality of heating time ranges and a plurality of ambient temperature ranges is prepared, and the measured heating time and the ambient temperature are checked against the table, and the corresponding deterioration rates are determined. For example, the deterioration rate may be determined based on the relationship between the heating time and the deterioration rate other than those described above.
(Embodiment 2)
The configuration of the analyzer according to the second embodiment is substantially the same as the configuration of the analyzer according to the first embodiment except for the computer program stored in the flash memory card 26A and the hard disk 41D of the data processing unit 4. Therefore, the same components are denoted by the same reference numerals, and the description thereof is omitted. Only the operation of the analyzer according to Embodiment 2 of the present invention will be described below.

図19は、実施の形態2に係る測定部2によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。測定部2の動作のうち、実施の形態1で説明したステップS1〜S16までの処理は同様であるので説明を省略する。ステップS14において、温度K2と劣化判定終了温度Kset2とが等しい場合には(ステップS14でYes)、CPU27は、劣化判定開始温度Kset1、劣化判定終了温度Kset2、及び経過時間Ton2をデータ処理部4へ送信し(ステップS37)、処理を終了する。 FIG. 19 is a flowchart showing the flow of the heater deterioration determination operation by the measurement unit 2 according to the second embodiment. Among the operations of the measurement unit 2, the processing from step S1 to S16 described in the first embodiment is the same, and thus the description thereof is omitted. In step S14, if the temperature K2 and deterioration determination end temperature K set2 are equal (Yes at step S14), CPU 27, the deterioration determination start temperature K set1 deterioration determination end temperature K set2, and the elapsed time T on2 data The data is transmitted to the processing unit 4 (step S37), and the process is terminated.

図20は、実施の形態2に係るデータ処理部4によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。データ処理部4のCPU41Aは、測定部2から送信されたデータの受信を待機する(ステップS38)。ステップS38において、測定部2から受信したデータが第1故障通知データ又は第2故障通知データであった場合には(ステップS38において「故障通知データ」)、CPU41Aは、実施の形態1で説明したヒータ交換通知ウィンドウ42Aを表示部42に表示させ(ステップS39)、その後、処理を終了する。一方、ステップS37において、測定部2から受信したデータが、劣化判定開始温度Kset1、劣化判定終了温度Kset2、及び経過時間Ton2であった場合には(ステップS18において「温度データ及び時間データ」)、CPU41Aは、次の式(1)にしたがって、加温部17Bの温度上昇速度Vonを算出する(ステップS39)。 FIG. 20 is a flowchart showing a flow of operations related to heater deterioration determination by the data processing unit 4 according to the second embodiment. The CPU 41A of the data processing unit 4 waits for reception of data transmitted from the measurement unit 2 (step S38). In step S38, when the data received from the measurement unit 2 is the first failure notification data or the second failure notification data (“failure notification data” in step S38), the CPU 41A has been described in the first embodiment. The heater replacement notification window 42A is displayed on the display unit 42 (step S39), and then the process ends. On the other hand, in step S37, the data received from the measurement unit 2, the deterioration determination start temperature K set1 deterioration determination end temperature K set2, and when the elapsed was the time T on2 ( "temperature data and time data in step S18 The CPU 41A calculates the temperature increase rate V on of the heating unit 17B according to the following equation (1) (step S39).

on=(Kset2−Kset1)/Ton2・・・(1)
次に、CPU41Aは、温度上昇速度Vonに基づいて、ヒータ17Cの劣化率を判定する(ステップS40)。ステップS40の処理においては、ヒータの加温速度(ここでは、サーミスタ17Dの検出温度(つまり、加温部17Bの温度)が25℃から30℃まで上昇したときの温度上昇速度Von)とヒータの劣化率との関係を示す劣化率テーブルが用いられる。図21は、劣化率テーブル150の一例を示す模式図である。劣化率テーブル150は、複数の加温速度の範囲と、劣化率とが対応付けられたルックアップテーブルである。加温速度が高い場合には、ヒータの加温能力が高いため対応するヒータの劣化率は低く、加温速度が低くなるにしたがって、対応する劣化率は高くなっている。CPU41Aは、ステップS40の処理では、この劣化率テーブル150に温度上昇速度Vonを照合し、これに対応するヒータの劣化率を取得する。その後、CPU41は、ステップS21へと処理を移す。ステップS21以降の処理は、実施の形態1で説明したものと同様であるので、説明を省略する。
V on = (K set2 -K set1 ) / T on2 ··· (1)
Next, the CPU 41A determines the deterioration rate of the heater 17C based on the temperature increase rate V on (step S40). In the process of step S40, the heater heating rate (here, the temperature rise rate V on when the temperature detected by the thermistor 17D (that is, the temperature of the heating unit 17B) rises from 25 ° C. to 30 ° C.) and the heater A deterioration rate table showing the relationship with the deterioration rate of the is used. FIG. 21 is a schematic diagram illustrating an example of the deterioration rate table 150. The deterioration rate table 150 is a lookup table in which a plurality of heating rate ranges are associated with deterioration rates. When the heating rate is high, the heater has high heating capability, so the corresponding heater deterioration rate is low, and the corresponding deterioration rate increases as the heating rate decreases. In the process of step S40, the CPU 41A collates the temperature increase rate V on with the deterioration rate table 150 and acquires the heater deterioration rate corresponding thereto. Thereafter, the CPU 41 shifts the processing to step S21. Since the processing after step S21 is the same as that described in the first embodiment, the description thereof is omitted.

このようにすることにより、ヒータの劣化の程度は、ヒータの温度上昇速度に密接に関係するため、ヒータの加温速度に基づいて、ヒータの劣化の程度を容易かつ正確に判定することができる。また、かかる構成とすることにより、劣化判定に用いる加温速度をヒータ劣化判定開始温度Kset1からヒータ劣化判定終了温度判定温度Kset2まで上昇する間におけるヒータ上昇速度Vonに統一することができるので、様々な周囲温度(外部環境温度)においても正確な劣化の判定が可能となる。 By doing so, since the degree of deterioration of the heater is closely related to the temperature rise rate of the heater, it is possible to easily and accurately determine the degree of deterioration of the heater based on the heating rate of the heater. . Further, with this configuration, it is possible to unify the heating rate used for the deterioration determination to the heater increase rate V on while the heater deterioration determination start temperature K set1 increases to the heater deterioration determination end temperature determination temperature K set2. Therefore, it is possible to accurately determine deterioration even at various ambient temperatures (external environmental temperatures).

なお、本実施の形態2に係る分析装置1においては、所定の温度範囲における温度上昇速度Vonを算出し、かかる温度上昇速度Vonに基づいてヒータの劣化判定を行う構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、サーミスタ17Dの検出温度を微分回路等の手段を用いて時間微分し、これによって得られた温度変化率、即ち温度上昇速度を用いてヒータの劣化判定を行う構成としてもよいし、所定時間間隔(例えば、サンプリング周期)毎のサーミスタ17Dの検出温度の差分(前回のサンプリングで得られた検出温度と、今回のサンプリングで得られた検出温度との差分)を求め、この結果得られた差分値を温度上昇速度として用いて、ヒータの劣化率判定を行う構成としてもよい。また、所定の温度(例えば20℃)から開始して所定時間(例えば3分)経過するまでの加温部17Bの温度上昇速度を求め、かかる温度上昇速度に基づいてヒータの劣化判定を行う構成としてもよい。 In the analysis apparatus 1 according to the second embodiment, the configuration has been described in which the temperature increase rate V on in the predetermined temperature range is calculated and the heater deterioration determination is performed based on the temperature increase rate V on . For example, the temperature of the thermistor 17D is time-differentiated by using a means such as a differentiating circuit, and the temperature change rate obtained by this, that is, the temperature rise rate, is used to determine the deterioration of the heater. It is good also as a structure to perform, The difference of the detection temperature of the thermistor 17D for every predetermined time interval (for example, sampling period) (The difference of the detection temperature obtained by the last sampling, and the detection temperature obtained by this sampling) It is good also as a structure which determines the deterioration rate of a heater using the difference value obtained as a result as a temperature rise rate. Further, the temperature rise rate of the heating unit 17B is calculated from a predetermined temperature (for example, 20 ° C.) until a predetermined time (for example, 3 minutes) elapses, and the heater deterioration is determined based on the temperature increase rate. It is good.

また、実施の形態1,2に係る分析装置1においては、温度センサにサーミスタを用いる構成について述べたが、これに限定されるものではなく、例えば、熱電対、白金測温抵抗体等の他の温度センサを用いて温度を測定する構成としてもよい。   In the analysis apparatus 1 according to the first and second embodiments, the configuration using a thermistor for the temperature sensor has been described. However, the present invention is not limited to this. For example, a thermocouple, a platinum resistance thermometer, etc. It is good also as a structure which measures temperature using this temperature sensor.

本発明に係る分析装置は、ヒータの劣化の程度を自動的に判定し、作業者の負担となる煩雑な手間を削減することができる等、本発明は優れた効果を奏し、検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置として有用である。   The analyzer according to the present invention automatically determines the degree of deterioration of the heater and can reduce the troublesome burden on the operator. It is useful as an analyzer for analyzing a sample prepared from

分析装置1の構成を示す概略図である。1 is a schematic diagram illustrating a configuration of an analysis apparatus 1. FIG. 測定部2及び搬送部3の構成を示す平面図である。FIG. 4 is a plan view showing configurations of a measurement unit 2 and a conveyance unit 3. キュベット8の外観を示す斜視図である。2 is a perspective view showing an appearance of a cuvette 8. FIG. 検体分注部15の構成を示す側面図である。4 is a side view showing the configuration of a sample dispensing unit 15. FIG. 試薬分注部18の構成を示す側面図である。4 is a side view showing the configuration of the reagent dispensing unit 18. FIG. 加温テーブル17の構成を示す側面断面図である。4 is a side cross-sectional view showing a configuration of a heating table 17. FIG. 加温テーブル17の構成を示す平面図である。3 is a plan view showing a configuration of a heating table 17. FIG. 検出部21の構成を示す平面図である。3 is a plan view showing a configuration of a detection unit 21. FIG. 測定部2の構成を示すブロック図である。3 is a block diagram illustrating a configuration of a measurement unit 2. FIG. データ処理部4の構成を示すブロック図である。3 is a block diagram showing a configuration of a data processing unit 4. FIG. 履歴データベースDB41の一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of history database DB41. 実施の形態1に係る測定部2によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。6 is a flowchart showing a flow of a heater deterioration determination operation by the measurement unit 2 according to the first embodiment. 実施の形態1に係るデータ処理部4によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。4 is a flowchart showing a flow of operations related to heater deterioration determination by a data processing unit 4 according to the first embodiment. 実施の形態1に係るデータ処理部4によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。4 is a flowchart showing a flow of operations related to heater deterioration determination by a data processing unit 4 according to the first embodiment. ヒータ交換通知ウィンドウ42Aの一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the heater replacement notification window 42A. 劣化率テーブル50の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the deterioration rate table. 劣化状態通知ウィンドウ42Bの一例を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows an example of the deterioration state notification window 42B. ヒータ交換通知ウィンドウ42Cの構成を示す模式図である。It is a schematic diagram which shows the structure of the heater replacement notification window 42C. 実施の形態2に係る測定部2によるヒータの劣化判定動作の流れを示すフローチャートである。10 is a flowchart showing a flow of a heater deterioration determination operation by the measurement unit 2 according to the second embodiment. 実施の形態2に係るデータ処理部4によるヒータの劣化判定に関する動作の流れを示すフローチャートである。6 is a flowchart showing a flow of an operation relating to heater deterioration determination by a data processing unit 4 according to the second embodiment. 劣化率テーブル150の一例を示す模式図である。5 is a schematic diagram showing an example of a deterioration rate table 150. FIG.

符号の説明Explanation of symbols

1 分析装置
2 測定部
3 搬送部
3A 搬送路
4 データ処理部
5 検体容器
6 検体ラック
7 検体供給位置
8 キュベット
9 テーブルユニット
9B 試薬容器
10 収納穴
12 キュベット供給部
13,23 キュベット移送部
14 緩衝液収容部
15,16 検体分注部
18,19 試薬分注部
15A,18A 機構部
15B,18B 軸
15C,18C アーム
15D,18D 保持具
15E,16E,18I ピペット
17 加温テーブル
17A キュベット収納穴
17B,18F,21D 加温部
17C,18H,19H,21B ヒータ
17D,18G,19G,21C,25A サーミスタ
17E,21E カバー
18E,19E 加温ピペット
20B,22B試薬混合位置21 検出部
21A 分析穴
24 キュベット排出部
25 制御部
26 フラッシュメモリカードリーダ
26A フラッシュメモリカード
27 CPU
28 メモリ
29 波形処理部
31 動作制御部
31a 温度制御回路
33 通信部
41 本体
41A CPU
41B ROM
41C RAM
41D ハードディスク
41F 入出力インタフェース
41G 通信インタフェース
41H 画像出力インタフェース
41I バス
DB41 履歴データベース
41a 劣化率フィールド
41b 判定時刻フィールド
42 表示部
42A ヒータ交換通知ウィンドウ
42B 劣化状態通知ウィンドウ
42C ヒータ交換通知ウィンドウ
43 入力部
44 可搬型記録媒体
50,150 劣化率テーブル




DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Analyzer 2 Measurement part 3 Transport part 3A Transport path 4 Data processing part 5 Sample container 6 Sample rack 7 Sample supply position 8 Cuvette 9 Table unit 9B Reagent container 10 Storage hole 12 Cuvette supply part 13, 23 Cuvette transfer part 14 Buffer solution Containers 15, 16 Sample dispensing unit 18, 19 Reagent dispensing unit 15A, 18A Mechanism unit 15B, 18B Shaft 15C, 18C Arm 15D, 18D Holder 15E, 16E, 18I Pipette 17 Heating table 17A Cuvette storage hole 17B, 18F, 21D Heating unit 17C, 18H, 19H, 21B Heater 17D, 18G, 19G, 21C, 25A Thermistor 17E, 21E Cover 18E, 19E Heating pipette 20B, 22B Reagent mixing position 21 Detection unit 21A Analysis hole 24 Cuvette discharge unit 25 Control unit 26 Flash memory car Reader 26A flash memory card 27 CPU
28 Memory 29 Waveform Processing Unit 31 Operation Control Unit 31a Temperature Control Circuit 33 Communication Unit 41 Main Body 41A CPU
41B ROM
41C RAM
41D Hard disk 41F Input / output interface 41G Communication interface 41H Image output interface 41I Bus DB 41 History database 41a Degradation rate field 41b Determination time field 42 Display unit 42A Heater replacement notification window 42B Degradation state notification window 42C Heater replacement notification window 43 Input unit 44 Portable Recording medium 50, 150 deterioration rate table




Claims (12)

検体と試薬とから調製された試料を分析する分析装置であって、
ヒータと、
当該ヒータが加温する加温対象の温度を計測する温度計測部と、
計時手段と、
前記温度計測部により計測された温度と、前記計時手段により計測された時間とに基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定する劣化判定手段とを備える分析装置。
An analyzer for analyzing a sample prepared from a specimen and a reagent,
A heater,
A temperature measuring unit that measures the temperature of the heating target heated by the heater;
Timekeeping means,
An analysis apparatus comprising: a deterioration determination unit that determines a degree of deterioration of the heater based on the temperature measured by the temperature measurement unit and the time measured by the time measuring unit.
前記劣化判定手段は、
前記ヒータの加温に関する加温時間を取得する加温時間取得手段を更に備え、
前記加温時間取得手段により取得された加温時間に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項1に記載の分析装置。
The deterioration determining means includes
A heating time acquisition means for acquiring a heating time related to the heating of the heater;
The analyzer according to claim 1, wherein the analyzer is configured to determine a degree of deterioration of the heater based on a heating time acquired by the heating time acquisition unit.
前記加温時間取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第1温度から所定の第2温度まで上昇する場合にかかる加温時間を取得するように構成されている請求項2に記載の分析装置。   The warming time acquisition unit is configured to acquire a warming time required when the temperature measured by the temperature measuring unit rises from a predetermined first temperature to a predetermined second temperature. 2. The analyzer according to 2. 前記ヒータが加温を開始してからの経過時間を取得する初期経過時間取得手段と、
前記温度計測部により計測された温度が前記第1温度に到達していないときに、前記初期経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する初期故障判定手段を更に備える請求項2又は3に記載の分析装置。
Initial elapsed time acquisition means for acquiring an elapsed time since the heater started heating;
When the temperature measured by the temperature measurement unit has not reached the first temperature, the elapsed time acquired by the initial elapsed time acquisition means is compared with a predetermined failure determination time, and the elapsed time The analyzer according to claim 2 or 3, further comprising an initial failure determination unit that determines that the heater is in failure when the failure determination time is exceeded.
前記温度計測部により計測された温度が前記第1温度に到達してからの経過時間を取得する経過時間取得手段と、
前記温度計測部により計測された温度が前記第2温度に到達していないときに、前記経過時間取得手段によって取得された経過時間と、所定の故障判定時間とを比較し、前記経過時間が前記故障判定時間を超えた場合に、前記ヒータが故障であると判定する故障判定手段を更に備える請求項2乃至4のいずれかに記載の分析装置。
An elapsed time acquisition means for acquiring an elapsed time after the temperature measured by the temperature measurement unit reaches the first temperature;
When the temperature measured by the temperature measuring unit does not reach the second temperature, the elapsed time acquired by the elapsed time acquisition unit is compared with a predetermined failure determination time, and the elapsed time is The analyzer according to any one of claims 2 to 4, further comprising failure determination means for determining that the heater is in failure when a failure determination time is exceeded.
ヒータの加温時間とヒータの劣化の程度との関係が記憶された記憶部を更に備え、
前記劣化判定手段は、前記加温時間取得手段により取得された加温時間を前記記憶部に記憶された関係に照合し、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項2乃至5のいずれかに記載の分析装置。
A storage unit that stores the relationship between the heating time of the heater and the degree of deterioration of the heater;
The deterioration determination unit is configured to check the degree of deterioration of the heater by comparing the heating time acquired by the heating time acquisition unit with the relationship stored in the storage unit. The analyzer in any one of thru | or 5.
前記劣化判定手段は、
前記ヒータの加温に関する加温速度を取得する加温速度取得手段を更に備え、
前記加温速度取得手段により取得された加温速度に基づいて、前記ヒータの劣化の程度を判定するように構成されている請求項1に記載の分析装置。
The deterioration determining means includes
A heating speed acquisition means for acquiring a heating speed related to heating of the heater;
The analyzer according to claim 1, wherein the analyzer is configured to determine a degree of deterioration of the heater based on a heating rate acquired by the heating rate acquisition unit.
前記加温速度取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が、所定の第1温度から所定の第2温度まで上昇する間における加温速度を取得するように構成されている請求項7に記載の分析装置。   The said heating rate acquisition means is comprised so that the temperature measured by the said temperature measurement part may acquire the heating rate while it rises from predetermined 1st temperature to predetermined 2nd temperature. The analyzer described in 1. 前記加温速度取得手段は、前記温度計測部により計測された温度が所定の第1温度を超えてから所定時間経過するまでの加温速度を取得するように構成されている請求項7に記載の分析装置。   The said heating rate acquisition means is comprised so that the heating rate until predetermined time may pass after the temperature measured by the said temperature measurement part exceeds predetermined 1st temperature may be comprised. Analysis equipment. 前記劣化判定手段による劣化判定結果を記録する判定結果記録手段と、
前記判定結果記録手段に記録されている過去の劣化判定結果と、前記劣化判定手段による現在の劣化判定結果とに基づいて、前記ヒータを交換する必要があるか否かを判定するヒータ交換判定手段とを更に備える請求項1乃至9の何れかに記載の分析装置。
A determination result recording means for recording a deterioration determination result by the deterioration determination means;
Heater replacement determination means for determining whether or not the heater needs to be replaced based on a past deterioration determination result recorded in the determination result recording means and a current deterioration determination result by the deterioration determination means. The analyzer according to any one of claims 1 to 9, further comprising:
前記劣化判定手段による判定結果を表示する表示部を更に備える請求項1乃至10のいずれかに記載の分析装置。   The analysis apparatus according to claim 1, further comprising a display unit that displays a determination result by the deterioration determination unit. 前記ヒータは、検体、試薬及び前記試料のうち少なくとも1つを加温するように構成されている請求項1乃至11の何れかに記載の分析装置。






















The analyzer according to claim 1, wherein the heater is configured to heat at least one of a specimen, a reagent, and the sample.






















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