JP2006064662A - 異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 58
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 45
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 claims abstract description 10
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 107
- 206010070245 Foreign body Diseases 0.000 claims description 97
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 50
- 238000002372 labelling Methods 0.000 claims description 49
- 230000008569 process Effects 0.000 claims description 45
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 26
- 238000000605 extraction Methods 0.000 claims description 18
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 9
- 238000009499 grossing Methods 0.000 claims description 8
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 claims description 6
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 claims description 6
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 4
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 2
- 235000013324 preserved food Nutrition 0.000 abstract 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 9
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 7
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 3
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000004069 differentiation Effects 0.000 description 1
- 235000013305 food Nutrition 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Image Processing (AREA)
Abstract
缶詰の被検査物に混入した異物を確実に検出できる異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置を提供する。
【解決手段】
缶詰の被検査物を透過したX線画像を処理して前記被検査物内の混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、前記X線画像から周縁部及び周縁部に隣接した異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成段階(S3)と、前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第1の異物抽出段階(S4)と、前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第2の異物抽出段階(S5)と、抽出された前記孤立した異物と前記周縁部に隣接した異物を合成して出力する異物合成出力段階(S6)とから構成されている。
【選択図】
図1
Description
本発明は、被検査物のX線画像を処理して混入異物の有無検出を行う、異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置に関する。
図2は缶詰の被検査物に対する従来の典型的な異物検出方法を説明するためのフローチャートである。ステップS100で入力されたX線画像に対し、ステップS101で被検査物の周縁部を異物検出対象外としてマスキング処理し、ステップS102で異物を強調した画像を生成し、この画像をステップS103で閾値処理して混入異物の有無検出を行っている。
異物の強調画像生成には各種の画像フィルタが適用可能であるが、周縁部を異物以上に強調してしまう画像フィルタを適用するためには、周縁部を効果的にマスキング処理しなければならない。マスキング処理により異物検出対象外となる領域は、この領域を対象に第2の異物検出が行われてはいるが感度を落とすため、必要最小限であることが望ましい。
このような問題を無くすマスキング処理の方法として、図5に示すように周縁部を異物とともに検出した後、その検出画像から図6に示すような被検査物の背景に接するブロブ(一つのかたまり)とそれ以外のブロブとに区別して抽出し、背景に接するブロブをマスクパタンとして用いる方法が考えられるが、周縁部部分に隣接した異物が、背景に接するブロブに含まれてマスクパタン化されてしまうという問題がある。
前述の課題を解決するために、請求項1に記載の異物検出方法は、缶詰の被検査物を透過したX線画像を処理して前記被検査物内の混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、前記X線画像から周縁部及び周縁部に隣接した異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成段階S3と、前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第1の異物抽出段階S4と、前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第2の異物抽出段階S5と、抽出された前記孤立した異物と前記周縁部に隣接した異物を合成して出力する異物合成出力段階S6とから構成されており、被検査物内の混入異物の有無検出を行うものである。
前記第1のラベリング処理で抽出した前記周縁部異物画像と前記第2の2値化画像から第3の2値化画像を合成させ、前記第3の2値化画像に対し、メジアンフィルタを用いた自己平滑化差分により、前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出するための処理であるメジアンフィルタ差分を行わさせ、
前記メジアンフィルタ差分の検出結果に対し、前記周縁部異物画像の内周の形状ノイズに起因する検出分をキャンセルするための第2のラベリング処理を行わさせ、前記第1のラベリング処理で抽出した前記孤立異物画像と前記第2のラベリング処理の結果を合成して出力させる処理をコンピュータに行なわせる。
また、請求項4に記載の異物検出装置は、缶詰の被検査物3にX線を照射するX線照射手段2と、前記被検査物を透過したX線を検出するX線検出器4と、該X線検出器から出力されるX線透過データから生成されるX線画像を画像処理して被検査物に混入している異物の有無を検出する画像処理手段6とを有する異物検出装置において、前記画像処理手段は、前記X線画像から周縁部及び周縁部に隣接する異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成手段61と、前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第1の異物抽出手段62と、前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第2の異物抽出手段63と、前記第1の異物抽出手段で抽出された異物と前記第2の異物抽出手段で抽出された異物を合成して出力する異物合成出力手段64とから構成されている。
また、請求項5に記載の異物検出装置は、請求項4に記載の異物検出装置において、前記異物候補画像生成手段は、前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも高濃度側の第1の閾値により前記X線画像上の被検査物の周縁部と異物の候補を示す第1の2値化画像を前記異物候補画像として生成する第1の2値化画像生成手段611を有し、さらに前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも低濃度側の第2の閾値により2値化した画像を前記第1の2値化画像の周縁部の外周とオーバーラップするまで膨張させて前記X線画像上の被検査物の背景を示す第2の2値化画像を生成する第2の2値化画像生成手段612とを有しており、前記第1の異物抽出手段は、前記異物候補画像をラベリング処理することによって、前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像とオーバーラップしないブロブ画像とに区別し、オーバーラップしないブロブ画像を前記孤立した異物として抽出する第1のラベリング処理手段621を有し、前記第2の異物抽出手段は、前記第1のラベリング処理手段で区別された前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像と前記第2の2値化画像を第3の2値化画像として合成する2値化画像合成手段631と、前記第3の2値化画像に対し、メジアンフィルタを用いた自己平滑化差分により、メジアンフィルタ差分を行うメジアンフィルタ差分手段632と、前記メジアンフィルタ差分の検出結果に対し、前記周縁部異物画像の内周の形状ノイズに起因する検出分をキャンセルするためのラベリング処理を行い、予め設定された大きさ以下の微小ブロブを除いたブロブを前記周縁部に隣接した異物として抽出する第2のラベリング処理手段633とを有している。
本発明によれば、被検査物の周縁部を設定画素数でマスキング処理する従来方法に比べて、缶詰の被検査物に混入した異物の検出確度が格段に向上する。
図1は本発明の異物検出方法を説明するためのフローチャートである。ステップS1で入力されたX線画像に対し、ステップS2で、濃度ヒストグラムを生成し主分布を求める。その後、ステップS2で求めた濃度ヒストグラムの主分布よりも高濃度側に設定する第1の閾値により前記X線画像上の被検査物の周縁部と異物の候補を示す第1の2値化画像をステップS3で生成し、ステップS2で求めた濃度ヒストグラムの主分布よりも低濃度側に設定する第2の閾値により2値化した画像を前記第1の2値化画像の周縁部における外周とオーバーラップするまで膨張させて前記X線画像上の被検査物の背景を示す第2の2値化画像をステップS41で生成し、前記第1の2値化画像から前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像を周縁部及び周縁部に隣接する異物を示す周縁部異物画像として抽出して前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像以外を画像周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像として抽出する第1のラベリング処理をステップS42で行い、前記第1のラベリング処理で抽出した前記周縁部異物画像と前記第2の2値化画像から第3の2値化画像をステップS51で合成し、前記第3の2値化画像に対し、メジアンフィルタを用いた自己平滑化差分により、前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出するための処理であるメジアンフィルタ差分をステップS52で行い、前記メジアンフィルタ差分の検出結果に対し、前記周縁部異物画像の内周の形状ノイズに起因する検出分をキャンセルするための第2のラベリング処理をステップS53で行い、前記第1のラベリング処理で抽出した前記孤立異物画像と前記第2のラベリング処理の結果をステップS6で合成して出力する。
255]を対象に濃度ヒストグラムの頻度がピークの1/(A+2)より多い範囲を主分布として求める。ここで、予め設定しておくべきパラメータA,Bの設定ステップは図1に示されていないが、予め被検査物の品種に合わせて見積もっておいた設定値を用いる。例えば図4の品種に対してはA=10,B=20を用いる。
図3は、本発明の異物検出装置の実施の形態であるX線を用いた異物検出装置を説明するためのブロック図である。即ち、缶詰の被測定物3(被検査物)を搬送する搬送手段1と、缶詰の被測定物3にX線を照射するX線源2(X線照射手段)と、缶詰の被測定物3のX線透過像を検出するX線検出器4と、X線検出器から出力されるX線透過画像(X線透過データ)を対数変換してX線画像として取り込む画像入力手段5と、このX線画像を処理して混入異物の有無を判定する画像処理手段6とを備えた異物検出装置である。必要に応じて画像表示手段7を付加しても良い。
搬送手段1は、例えばX線を良く透過するベルトコンベアで実現され、対向配置されたX線源2とX線検出器4の間を通して被測定物3を搬送する。X線源2から照射されたX線は、被測定物3による吸収とベルトコンベアによる僅かな吸収を受けてこれらを透過した後、X線検出器4に到達する。
X線検出器4は、例えばX線ラインセンサで実現され、被検査物3のX線透過像をデジタル画像化する。このデジタル画像は、X線ラインセンサによる1ライン上のサンプリングピッチと略等しいサンプリングピッチで搬送方向にサンプリングされ、X線透過画像としてメモリー上に取り込まれる。
物質のX線吸収率をα、物質の厚さをLとすると、強度SのX線が当該物質を透過した後の強度S’は、理論上、S’= S・exp(−α・L)と書ける。両辺の対数をとって変形すれば、α・L=log(S)−log(S’)とも書ける。前記X線透過画像はS’の2次元分布に相当し、前述のように対数をとって変形すれば、物質による吸収量α・Lの2次元分布を示すX線吸収画像に変換できる。X線透過画像とX線吸収画像のどちらにも物質による吸収量α・Lという被検査物の物性情報が含まれているが、濃度値が物質による吸収量をストレートに示すX線吸収画像の方がX線吸収率の高い異物の強調や検出には有利である。この場合、例えば被検査物のX線吸収画像において、局所的に高濃度を示す部分や急峻なエッジ部分を異物候補点として扱うことによって異物らしさを評価することができる。
画像入力手段5は、前記X線透過画像をX線吸収画像に対数変換してX線画像とし、画像処理手段6に出力する。この対数変換には、被検査物の物性とX線波長に依存する補正を加えてもよい。
画像処理手段6はパラメータ設定機能を備えたCPU等で構成され、画像入力手段5から出力されたX線画像の入力を受け、予め設定されたパラメータに基づいて、図1を用いて説明した本発明の異物検出方法からなる画像処理を実行することにより混入異物の有無検出を行うようになっており、画像処理の機能として異物候補画像生成手段61、第1の異物抽出手段62、第2の異物抽出手段63、異物合成出力手段64を実現するものである。
なお、孤立した異物を抽出するのに、膨張させた被検査物の背景を示す2値化画像とのオーバーラップで区別したが、微分やラプラシアン等のエッジを検出するフィルタで被検査物の外周を求め、この外周とのオーバーラップで区別してもよい。
2値化画像合成手段631は、第1のラベリング処理手段で区別された第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像と第2の2値化画像を第3の2値化画像として合成し、メジアンフィルタ差分手段632は、前記第3の2値化画像に対し、メジアンフィルタを用いた自己平滑化差分によりメジアンフィルタ差分を行い、第2のラベリング処理手段633は、メジアンフィルタ差分の検出結果に対し、周縁部異物画像の内周の形状ノイズに起因する検出分をキャンセルするためのラベリング処理を行い、予め設定された大きさ以下の微小ブロブを除いたブロブを前記周縁部に隣接した異物として抽出する。
画像表示手段7は、画像処理手段6の異物合成出力手段64からの抽出された異物の合成出力とX線画像をOR演算してCRT等に表示する。
4…X線検出器、5…画像入力手段、6…画像処理手段、7…画像表示手段、61…異物候補画像生成手段、 62…第1の異物抽出手段、
63…第2の異物抽出手段、64…異物合成出力手段、
611…第1の2値化画像生成手段、 612…第2の2値化画像生成手段、 621…第1のラベリング処理手段、 631…第3の2値化画像合成手段、
632…メジアンフィルタ差分手段、 633…第2のラベリング処理手段
Claims (5)
- 缶詰の被検査物を透過したX線画像を処理して前記被検査物内の混入異物の有無検出を行う異物検出方法において、
前記X線画像から周縁部及び周縁部に隣接した異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成段階(S3)と、
前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第1の異物抽出段階(S4)と、
前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第2の異物抽出段階(S5)と、
抽出された前記孤立した異物と前記周縁部に隣接した異物を合成して出力する異物合成出力段階(S6)とから構成されていることを特徴とする異物検出方法。 - 前記異物候補画像生成段階は、前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも高濃度側の第1の閾値により前記X線画像上の被検査物の周縁部と異物の候補を示す第1の2値化画像を生成し、
前記第1の異物抽出段階は、前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも低濃度側の第2の閾値により2値化した画像を前記第1の2値化画像の周縁部における外周とオーバーラップするまで膨張させて前記X線画像上の被検査物の背景を示す第2の2値化画像を生成する第2の2値化画像生成段階(S41)を含み、前記第1の2値化画像から前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像を前記周縁部異物画像とし、前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像以外を孤立異物画像として区別して抽出する第1のラベリング処理(S42)を行い、
前記第2の異物抽出段階は、前記第1のラベリング処理で抽出した前記周縁部異物画像と前記第2の2値化画像から第3の2値化画像を合成する段階(S51)と、前記第3の2値化画像に対し、メジアンフィルタを用いた自己平滑化差分により、前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出するための処理であるメジアンフィルタ差分を行う段階(S52)と、前記メジアンフィルタ差分の検出結果に対し、前記周縁部異物画像の内周の形状ノイズに起因する検出分をキャンセルするための第2のラベリング処理を行う段階(S53)とを有することを特徴とする請求項1に記載の異物検出方法。 - コンピュータに、缶詰の被検査物を透過したX線画像を処理して前記被検査物内の混入異物の有無検出を行わせる異物検出プログラムにおいて、
前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも高濃度側の第1の閾値により前記X線画像上の被検査物の周縁部と異物の候補を示す第1の2値化画像を生成させ、
前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも低濃度側の第2の閾値により2値化した画像を前記第1の2値化画像の周縁部における外周とオーバーラップするまで膨張させて前記X線画像上の被検査物の背景を示す第2の2値化画像を生成させ、
前記第1の2値化画像から前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像を周縁部及び周縁部に隣接する異物を示す周縁部異物画像として抽出し、前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像以外を画像周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像として抽出する第1のラベリング処理を行わさせ、
前記第1のラベリング処理で抽出した前記周縁部異物画像と前記第2の2値化画像から第3の2値化画像を合成させ、
前記第3の2値化画像に対し、メジアンフィルタを用いた自己平滑化差分により、前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出するための処理であるメジアンフィルタ差分を行わさせ、
前記メジアンフィルタ差分の検出結果に対し、前記周縁部異物画像の内周の形状ノイズに起因する検出分をキャンセルするための第2のラベリング処理を行わさせ、
前記第1のラベリング処理で抽出した前記孤立異物画像と前記第2のラベリング処理の結果を合成して出力させることを特徴とする異物検出プログラム。 - 缶詰の被検査物(3)にX線を照射するX線照射手段(2)と、前記被検査物を透過したX線を検出するX線検出器(4)と、該X線検出器から出力されるX線透過データから生成されるX線画像を画像処理して被検査物に混入している異物の有無を検出する画像処理手段(6)とを有する異物検出装置において、
前記画像処理手段は、前記X線画像から周縁部及び周縁部に隣接する異物を示す周縁部異物画像と周縁部から孤立した異物を示す孤立異物画像からなる異物候補画像を生成する異物候補画像生成手段(61)と、
前記異物候補画像から前記孤立した異物を抽出する第1の異物抽出手段(62)と、
前記異物候補画像から前記周縁部異物画像の内周における突出した凸部を検出することにより前記周縁部に隣接した異物を抽出する第2の異物抽出手段(63)と、
前記第1の異物抽出手段で抽出された異物と前記第2の異物抽出手段で抽出された異物を合成して出力する異物合成出力手段(64)とから構成されていることを特徴とする異物検出装置。 - 前記異物候補画像生成手段は、前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも高濃度側の第1の閾値により前記X線画像上の被検査物の周縁部と異物の候補を示す第1の2値化画像を前記異物候補画像として生成する第1の2値化画像生成手段(611)を有し、さらに前記X線画像の濃度ヒストグラムの主分布よりも低濃度側の第2の閾値により2値化した画像を前記第1の2値化画像の周縁部の外周とオーバーラップするまで膨張させて前記X線画像上の被検査物の背景を示す第2の2値化画像を生成する第2の2値化画像生成手段(612)とを有しており、
前記第1の異物抽出手段は、前記異物候補画像をラベリング処理することによって、前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像とオーバーラップしないブロブ画像とに区別し、オーバーラップしないブロブ画像を前記孤立した異物として抽出する第1のラベリング処理手段(621)を有し、
前記第2の異物抽出手段は、前記第1のラベリング処理手段で区別された前記第2の2値化画像とオーバーラップするブロブ画像と前記第2の2値化画像を第3の2値化画像として合成する2値化画像合成手段(631)と、前記第3の2値化画像に対し、メジアンフィルタを用いた自己平滑化差分により、メジアンフィルタ差分を行うメジアンフィルタ差分手段(632)と、前記メジアンフィルタ差分の検出結果に対し、前記周縁部異物画像の内周の形状ノイズに起因する検出分をキャンセルするためのラベリング処理を行い、予め設定された大きさ以下の微小ブロブを除いたブロブを前記周縁部に隣接した異物として抽出する第2のラベリング処理手段(633)とを有することを特徴とする請求項4に記載の異物検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004250653A JP4053032B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004250653A JP4053032B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006064662A true JP2006064662A (ja) | 2006-03-09 |
JP4053032B2 JP4053032B2 (ja) | 2008-02-27 |
Family
ID=36111264
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004250653A Expired - Lifetime JP4053032B2 (ja) | 2004-08-30 | 2004-08-30 | 異物検出方法、異物検出プログラム及び異物検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4053032B2 (ja) |
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