JP2005339467A - レギュレータ回路及び液晶表示装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】
同一半導体基板上にMOSFET回路で構成される差動増幅回路部と出力回路部からなる2段型演算増幅回路、及び、基準電圧発生回路を備えてなるレギュレータ回路において、演算増幅器のオフセットばらつきを抑制する。
【解決手段】
基準電圧発生回路2の出力する基準電圧Vrefを差動増幅回路部3の一方入力に接続し、出力回路部4の出力電圧Voutを帰還抵抗R1,R2により分圧して差動増幅回路部3の他方入力に接続し、差動増幅回路部3の出力を出力回路部4の入力に接続して構成するとともに、差動増幅回路部3の電源電圧として、出力回路部4の電源電圧より低い電圧を供給する。更に、差動増幅回路部3を構成するMOSFETは、出力回路部4を構成するMOSFETより低耐圧のMOSFET製造プロセスにて形成する。
【選択図】 図1
同一半導体基板上にMOSFET回路で構成される差動増幅回路部と出力回路部からなる2段型演算増幅回路、及び、基準電圧発生回路を備えてなるレギュレータ回路において、演算増幅器のオフセットばらつきを抑制する。
【解決手段】
基準電圧発生回路2の出力する基準電圧Vrefを差動増幅回路部3の一方入力に接続し、出力回路部4の出力電圧Voutを帰還抵抗R1,R2により分圧して差動増幅回路部3の他方入力に接続し、差動増幅回路部3の出力を出力回路部4の入力に接続して構成するとともに、差動増幅回路部3の電源電圧として、出力回路部4の電源電圧より低い電圧を供給する。更に、差動増幅回路部3を構成するMOSFETは、出力回路部4を構成するMOSFETより低耐圧のMOSFET製造プロセスにて形成する。
【選択図】 図1
Description
本発明は、同一半導体基板上にMOSFET回路で構成される差動増幅回路部と出力回路部からなる2段型演算増幅回路、及び、基準電圧発生回路を備えてなるレギュレータ回路に関する。
従来、液晶表示装置を備えた携帯電話で使用される電源回路内には、図3に示すようなレギュレータ回路5が内蔵されている。携帯電話用等で使用されるレギュレータ回路5の出力電圧Voutは、主に液晶パネルを駆動するソース駆動回路の電源電圧とゲート駆動回路に必要な電源(高電圧)を生成するために使用される。レギュレータ回路5には、携帯電話のシステムから供給される電圧VDDを入力し基準電圧Vrefを生成する基準電圧発生回路2を備え、この基準電圧Vrefがレギュレータ回路5の差動増幅回路部3の基準電圧として使用される。
レギュレータ回路5の出力電圧Voutとしては、通常5Vが使用される。電圧値5Vが使用されるのは、図示していないが、出力電圧Voutを利用するソース駆動回路やゲート駆動回路の形成に、ロジック系プロセスを適用できるためである。レギュレータ回路5の差動増幅回路部3と出力回路部4の電源電圧VDCは、携帯電話等のシステムから供給される電圧VDDを昇圧回路1により5Vよりも高電圧(出力回路部4の出力電圧Voutとして5Vが出力可能となる十分な電源電圧)に昇圧したものを使用する。現在、携帯電話で使用されているシステムから供給される電圧VDDは、1.8V〜3.3Vで、その入力される電圧VDDに応じて、昇圧回路1により2倍〜3倍に昇圧され差動増幅回路部3と出力回路部4の電源電圧VDCとして使用していた。
図4に示すように、レギュレータ回路5の差動増幅回路部3と出力回路部4をCMOS回路で構成したCMOS演算増幅器6においては、5Vより高電圧の電源電圧VDCを共通に使用する差動増幅回路部3と出力回路部4は、同じ製造プロセスで形成される同じ耐圧特性の中耐圧MOSFETにより構成していた。
また、差動増幅回路におけるオフセット電圧値Vosは、図6に示す一般化された回路構成において、以下の数1で表される。
(数1)
Vos=Vt1+√(2ID1/μnCox(W/L)1)
−Vt2−√(2ID2/μnCox(W/L)2)
Vos=Vt1+√(2ID1/μnCox(W/L)1)
−Vt2−√(2ID2/μnCox(W/L)2)
ここで、Vt1とVt2は、図6の差動増幅回路の差動対を構成するMOSFET対のM1とM2の閾値電圧である。また、ID1とID2は、該MOSFET対M1、M2の各ドレイン電流で、(W/L)1と(W/L)2は、該MOSFET対M1、M2の各ゲート幅とゲート長との比で、μnCoxは導電係数とゲート容量の積である。数1より明らかなように、差動増幅回路におけるオフセット電圧値Vosは、MOSFETのゲート幅Wとゲート長Lに依存するシステマティックオフセットと、閾値電圧により決定されるランダムオフセットが存在する。閾値電圧に関するばらつきについては、製造プロセスにおける製造工程の洗浄度、均一度に左右されるため、図7に例示する中心対象構造(Common−Centroid structure)を用いて、MOSFET対A,B(図6のM1、M2に相当)を複数分割してその重心が一致するように配置し、MOSFET対の対称線に平行な方向に電流を流す回路レイアウトによってオフセット電圧を抑える対処法がある。
一般に、図5に示すように、シリコン(Si)のバンドギャップを利用して所望の基準電圧(Vref)を発生し、演算増幅器によりその基準電圧(Vref)の抵抗比((R1+R2)/R1)倍に所望の出力電圧(Vout)を生成する場合の演算増幅器における出力電圧のばらつきについては、
(1) 基準電圧発生回路にて発生する基準電圧のばらつき、
(2) 帰還抵抗(R1,R2)の各抵抗値に対するプロセスばらつき、
(3) 基準電圧を所望の出力電圧に変換する演算増幅器のオフセットばらつきが考えられる。ここで、(1)〜(3)の各要因により出力電圧(Vout)にばらつきが発生する。(1)と(2)は最悪、外付けの精度の良い定電圧ダイオードや精度の良い抵抗器を付加することで、出力電圧のばらつきを抑制することが可能である。
(1) 基準電圧発生回路にて発生する基準電圧のばらつき、
(2) 帰還抵抗(R1,R2)の各抵抗値に対するプロセスばらつき、
(3) 基準電圧を所望の出力電圧に変換する演算増幅器のオフセットばらつきが考えられる。ここで、(1)〜(3)の各要因により出力電圧(Vout)にばらつきが発生する。(1)と(2)は最悪、外付けの精度の良い定電圧ダイオードや精度の良い抵抗器を付加することで、出力電圧のばらつきを抑制することが可能である。
演算増幅器のオフセットばらつきについては、上述の差動増幅回路の回路レイアウトの工夫による抑制に加えて、下記の特許文献1または2に開示されている、当該オフセット電圧を一旦コンデンサ等の容量に蓄積した後に比較演算することにより補償する方法により抑制可能である。
特開2001−292041号公報
特許第3463316号明細書
本発明は、上述の問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、同一半導体基板上にMOSFET回路で構成される差動増幅回路部と出力回路部からなる2段型演算増幅回路、及び、基準電圧発生回路を備えてなるレギュレータ回路において、上述した公知の演算増幅器のオフセットばらつき抑制手法に加えて或いは代えて、演算増幅器のオフセットばらつきを抑制したレギュレータ回路を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明に係るレギュレータ回路は、同一半導体基板上にMOSFET回路で構成される差動増幅回路部と出力回路部からなる2段型演算増幅回路、及び、基準電圧発生回路を備えてなるレギュレータ回路であって、前記基準電圧発生回路の出力する基準電圧を前記差動増幅回路部の一方入力に接続し、前記出力回路部の出力電圧を帰還抵抗により分圧して前記差動増幅回路部の他方入力に接続し、前記差動増幅回路部の出力を前記出力回路部の入力に接続して構成するとともに、前記差動増幅回路部の電源電圧として、前記出力回路部の電源電圧より低い電圧を供給することを特徴とする。
上記特徴により、出力回路部を5V以上の中耐圧系MOSFETで構成し、差動増幅回路部を、より低耐圧の低電圧動作用のロジック系のMOSFETで構成することが可能となる。この結果、差動増幅回路部のMOSFETのゲート酸化膜厚を、出力回路部のMOSFETのゲート酸化膜厚より薄くでき、閾値電圧Vtのばらつきを小さくすることができる。従って、数1に示すオフセット電圧値のランダムオフセットが抑制され、従来の差動増幅回路部のMOSFETに出力回路部と同じ中耐圧系MOSFETを用いた場合と比較して、演算増幅回路のオフセットばらつきを抑制することができる。
また、差動増幅回路部の低電圧化により、低消費電力化が図れ、更に、差動増幅回路部がロジック系のMOSFETで構成できるため、差動増幅回路部の回路レイアウトに要するレイアウト面積が小さくなり、レギュレータ回路を含む半導体チップのチップ面積を縮小することができる。
更に、本発明に係るレギュレータ回路を備えた液晶表示装置によれば、液晶パネルを駆動するソース駆動回路やゲート駆動回路に必要な各電源電圧を高精度に生成することができ、液晶表示装置の高性能化が図られる。
次に、本発明に係るレギュレータ回路(以下、適宜「本発明回路」と称す。)の一実施の形態につき、図1及び図2を参照して説明する。
図1に本発明回路10の一実施例を示す。本発明回路10は、基準電圧発生回路2、差動増幅回路部3と出力回路部4からなる2段型演算増幅回路を備えて構成される。基準電圧発生回路2の出力する基準電圧Vrefを差動増幅回路部3の一方入力に接続し、出力回路部4の出力電圧Voutを帰還抵抗R1,R2により分圧して差動増幅回路部3の他方入力に接続し、差動増幅回路部3の出力を出力回路部4の入力に接続して構成される。図2に、差動増幅回路部3と出力回路部4からなる2段型演算増幅回路のMOSFETレベルの回路図を示す。ここで、差動増幅回路部3と出力回路部4からなる2段型演算増幅回路は、同一半導体基板上に形成され、差動増幅回路部3の各MOSFETは、出力回路部4の耐圧5V以上の中耐圧系MOSFETよりゲート酸化膜厚の薄いロジック系MOSFETで構成されている。ここで、図2に示すように、基準電圧発生回路2が発生する基準電圧Vrefが差動増幅回路部3の差動入力対を構成するMOSFET対M1,M2の一方(M1)のゲート端子に接続し、帰還抵抗R1,R2の中間接続ノードがMOSFET対M1,M2の他方(M2)のゲート端子に接続している。従って、図1及び図2に示す回路構成により、出力回路部4の出力端子には、基準電圧Vrefに帰還抵抗R1,R2の抵抗比((R1+R2)/R1)を乗じた電圧値で定まる出力電圧Voutが出力される。尚、出力回路部4では、ロジック系電源電圧(VDD)以上の電圧が差動増幅回路部3に帰還されるのを回避するべく出力電圧Voutを抵抗比(R1/(R1+R2))で分圧している。
一例として、基準電圧Vrefが1.25V、ロジック系電源電圧VDDが3V、チャージポンプ回路等で構成される昇圧回路1の昇圧倍率を3倍にして中耐圧系電源電圧VDC=9Vにて、出力回路部4を駆動してVoutとして5Vを出力する場合を想定すると、Vref=1.25Vという低電圧により、差動増幅回路部3の入力MOSFET対M1,M2については、ゲート酸化膜厚の薄いロジック系MOSFETで構成可能であり、その電源についてもロジック系電源VDDによる駆動が可能となる。
また、差動増幅回路部3の出力電圧を出力回路部4において5Vの出力電圧Voutへと変換するのであるが、中耐圧系電源電圧VDC=9Vより出力電圧Voutを生成するため、出力回路部4は、上述の如く中耐圧系MOSFETにて構成することとなる。帰還抵抗R1,R2については、5Vの出力電圧Voutとするため、R2/R1=3となるように設定する。
尚、本発明回路10の回路構成は、図2に示す具体的な回路構成に限定されるものではなく、差動増幅回路部3及び出力回路部4の回路構成は適宜変更可能である。
本発明回路10は、単独で種々の回路に適用してもよいが、液晶表示装置に組み込んで使用するのも好ましい実施の形態である。本発明回路10を備えた液晶表示装置によれば、本発明回路10の演算増幅回路のオフセットばらつきが抑制され、本発明回路10の出力電圧Voutのばらつきが小さいため、液晶パネルを駆動するソース駆動回路やゲート駆動回路に必要な各電源電圧を高精度に生成することができ、液晶表示装置の高性能化が図られる。
10: 本発明に係るレギュレータ回路
1: 昇圧回路
2: 基準電圧発生回路
3: 差動増幅回路部
4: 出力回路部
5: 従来のレギュレータ回路
6: 従来の演算増幅器
R1、R2: 帰還抵抗
Vref: 基準電圧
Vout: 出力電圧
VDC: 中耐圧系電源電圧
VDD: ロジック系電源電圧
1: 昇圧回路
2: 基準電圧発生回路
3: 差動増幅回路部
4: 出力回路部
5: 従来のレギュレータ回路
6: 従来の演算増幅器
R1、R2: 帰還抵抗
Vref: 基準電圧
Vout: 出力電圧
VDC: 中耐圧系電源電圧
VDD: ロジック系電源電圧
Claims (4)
- 同一半導体基板上にMOSFET回路で構成される差動増幅回路部と出力回路部からなる2段型演算増幅回路、及び、基準電圧発生回路を備えてなるレギュレータ回路であって、
前記基準電圧発生回路の出力する基準電圧を前記差動増幅回路部の一方入力に接続し、前記出力回路部の出力電圧を帰還抵抗により分圧して前記差動増幅回路部の他方入力に接続し、前記差動増幅回路部の出力を前記出力回路部の入力に接続して構成するとともに、
前記差動増幅回路部の電源電圧として、前記出力回路部の電源電圧より低い電圧を供給することを特徴とするレギュレータ回路。 - 前記出力回路部の電源電圧として、前記差動増幅回路部に供給される電源電圧と同電圧レベルの電圧を昇圧回路で昇圧して供給することを特徴とする請求項1に記載のレギュレータ回路。
- 前記差動増幅回路部を構成するMOSFETは、前記出力回路部を構成するMOSFETより低耐圧のMOSFET製造プロセスにて形成されていることを特徴とする請求項1または2に記載のレギュレータ回路。
- 請求項1〜3の何れか1項に記載のレギュレータ回路を備えていることを特徴とする液晶表示装置。
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