Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP2005037806A - Manufacturing method of optical filter - Google Patents

Manufacturing method of optical filter Download PDF

Info

Publication number
JP2005037806A
JP2005037806A JP2003276561A JP2003276561A JP2005037806A JP 2005037806 A JP2005037806 A JP 2005037806A JP 2003276561 A JP2003276561 A JP 2003276561A JP 2003276561 A JP2003276561 A JP 2003276561A JP 2005037806 A JP2005037806 A JP 2005037806A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
flattening
optical filter
metal mesh
adhesive layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003276561A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Atsuro Tsuzuki
淳朗 續木
Isao Inoue
功 井上
Yuji Nakatsugawa
雄二 中津川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Dai Nippon Printing Co Ltd
Original Assignee
Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Dai Nippon Printing Co Ltd filed Critical Dai Nippon Printing Co Ltd
Priority to JP2003276561A priority Critical patent/JP2005037806A/en
Publication of JP2005037806A publication Critical patent/JP2005037806A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Optical Filters (AREA)
  • Surface Treatment Of Optical Elements (AREA)

Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of an optical filter which has high transparency, has a flat surface and does not necessitate degassing etc. when being stuck together with other member. <P>SOLUTION: The manufacturing method of optical filter comprises a flattened layer forming process that applies coating liquid for forming a flattened layer including at least transparent resin on a metal mesh in an electromagnetic wave shielding substrate consisting of an transparent substrate, an adhesive layer formed on the transparent substrate and the metal mesh formed on the adhesive layer, thereafter, hardening the coated liquid and forming a flattened layer and a flattening process that presses the flattened layer at a temperature of the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin or more and, thereby, flattens the surface. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

本発明は、プラズマディスプレイ等に用いることが可能な、電磁波遮蔽性を有する光学フィルタの製造方法に関するものである。   The present invention relates to a method for producing an optical filter having electromagnetic wave shielding properties that can be used in a plasma display or the like.

従来より、直接人が接近して利用する電磁波を発生する電子装置、例えばプラズマディスプレイ等のディスプレイ用電子管は、人体への影響を考慮して、電磁波放出の強さを規格内に抑えることが要求されている。これらの要求に対応するため、一般には、電磁波を発生する電子装置等の外部へ流出する電磁波を除去ないし減衰させるために、電磁波シールド等が用いられており、プラズマディスプレイパネル(以下、PDPともいう。)等のディスプレイ用パネルでは、良好な透視性の光学フィルタを前面に設けるのが普通である。   Conventionally, electronic devices that generate electromagnetic waves that are directly used by humans, such as display electron tubes for plasma displays, have been required to limit the intensity of electromagnetic wave emission to within the standard in consideration of the effects on the human body. Has been. In order to meet these demands, in general, an electromagnetic wave shield or the like is used to remove or attenuate an electromagnetic wave that flows out to the outside of an electronic device or the like that generates an electromagnetic wave, and a plasma display panel (hereinafter also referred to as PDP). In general, a display panel having a good transparency is provided on the front surface of the display panel.

これらの電磁波を遮蔽する方法としては、銀等の金属をスパッタリングにより積層する方法や、金属薄膜からなるメッシュを透明基材上に積層して用いる方法(例えば特許文献1)等が知られている。
このような電磁波遮蔽に、金属薄膜からなるメッシュを用いた場合には、金属メッシュを斜めから見た際に断面が乱反射し、視野角が減少することから、金属メッシュ以上の厚みを持つ粘着層を貼りあわせて透明化処理を行うことが必要であった。
またさらに、光学フィルタには、他の機器の誤動作の防止やリモートコントロールの操作性のため、ディスプレイ内部から発生する近赤外線をカットまたは吸収する機能が求められており、一般的には赤外線吸収フィルム等を積層する方法が用いられている。
As a method for shielding these electromagnetic waves, a method of laminating a metal such as silver by sputtering, a method of laminating a mesh made of a metal thin film on a transparent substrate (for example, Patent Document 1), etc. are known. .
When a mesh made of a metal thin film is used for such electromagnetic wave shielding, the cross-section is irregularly reflected when the metal mesh is viewed from an oblique direction, and the viewing angle is reduced. It was necessary to carry out the transparency treatment by laminating.
Furthermore, the optical filter is required to have a function of cutting or absorbing near infrared rays generated from the inside of the display in order to prevent malfunction of other devices and operability of remote control. Etc. are used.

そこで、上記金属薄膜からなるメッシュ上に透明化を行う粘着層を形成し、さらにこの粘着層上に赤外線吸収フィルムを積層する方法が提案されている。しかしながら、この方法においては、上記粘着層を塗布した際に、メッシュ空隙部分の底部の隅における気泡が抜け難く、上記粘着層と上記金属メッシュを貼りあわせる際に、気泡を噛みこんでしまい、光学フィルタの透明性が低下する原因となる。そのため、上記赤外線吸収フィルムと金属メッシュとを貼りあわせた後、オートクレーブ中の減圧環境下にて、一定時間放置する等の脱泡処理等を行う必要があり、製造効率やコストの面で問題があった。またさらに、上記粘着層を形成した場合であっても、上記金属メッシュ表面の凹凸が粘着層表面の平坦性に影響し、この粘着層表面の凹凸によって、光学フィルタの透明性が劣るという問題があった。   Therefore, a method has been proposed in which an adhesive layer for transparency is formed on the mesh made of the metal thin film, and an infrared absorbing film is laminated on the adhesive layer. However, in this method, when the pressure-sensitive adhesive layer is applied, bubbles at the bottom corners of the mesh void portion are difficult to escape, and when the pressure-sensitive adhesive layer and the metal mesh are bonded together, the bubbles are bitten by the optical layer. It causes the transparency of the filter to decrease. Therefore, after pasting the infrared absorbing film and the metal mesh, it is necessary to perform defoaming treatment such as leaving for a certain period of time in a reduced pressure environment in the autoclave, which causes problems in terms of manufacturing efficiency and cost. there were. Furthermore, even when the adhesive layer is formed, the unevenness of the surface of the metal mesh affects the flatness of the surface of the adhesive layer, and the unevenness of the surface of the adhesive layer results in poor transparency of the optical filter. there were.

特開2002−311843号公報JP 2002-311843 A

そこで、透明性が高く、表面が平坦であり、他の部材と貼りあわせる際に、脱泡処理等が不要な光学フィルタの製造方法の提供が望まれている。   Therefore, it is desired to provide a method for producing an optical filter that has high transparency, has a flat surface, and does not require defoaming treatment or the like when bonded to another member.

本発明は、透明基材と、上記透明基材上に形成された接着層と、上記接着層上に形成された金属メッシュとを有する電磁波遮蔽用基板の上記金属メッシュ上に、少なくとも透明樹脂を含有する平坦化層形成用塗工液を塗布後、硬化させて平坦化層を形成する平坦化層形成工程と、
上記平坦化層を、上記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)以上の温度で加圧することにより、表面を平坦化する平坦化工程と
を有することを特徴とする光学フィルタの製造方法を提供する。
The present invention provides at least a transparent resin on the metal mesh of the electromagnetic wave shielding substrate having a transparent substrate, an adhesive layer formed on the transparent substrate, and a metal mesh formed on the adhesive layer. A planarization layer forming step of forming a planarization layer by curing after applying the coating liquid for forming a planarization layer containing,
A flattening step of flattening the surface by pressurizing the flattening layer at a temperature equal to or higher than the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin is provided. .

本発明によれば、上記平坦化層形成工程により、上記金属メッシュ上に平坦化層形成用塗工液が塗布されることから、上記金属メッシュの空隙部分にも平坦化層が形成され、金属メッシュ断面の乱反射を防止することができるのである。またさらに、上記平坦化層形成工程後の平坦化層表面を、上記平坦化工程により、平坦化を行うことから、表面に凹凸がなく、上記金属メッシュ断面の乱反射もない、透明性の高い光学フィルタを製造することができる。   According to the present invention, since the flattening layer forming coating liquid is applied onto the metal mesh by the flattening layer forming step, the flattening layer is also formed in the void portion of the metal mesh, It is possible to prevent irregular reflection of the mesh cross section. Furthermore, since the flattened layer surface after the flattened layer forming step is flattened by the flattened step, the surface has no irregularities, and there is no irregular reflection of the metal mesh cross section. A filter can be manufactured.

また、本発明により製造された光学フィルムは、上記平坦化層表面が平坦であることから、本発明により製造された光学フィルタと、例えば赤外線吸収フィルムや、プラズマディスプレイパネル等の他の部材とを貼りあわせる際、気泡が噛みこまれることがなく、脱泡処理等の必要がないものとすることができる。   In addition, since the optical film manufactured according to the present invention has a flat surface, the optical filter manufactured according to the present invention and other members such as an infrared absorbing film and a plasma display panel are provided. At the time of pasting, air bubbles are not bitten and it is possible to eliminate the need for defoaming treatment or the like.

本発明においては、上記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)が30℃〜150℃の範囲内であることが好ましい。これにより、上記平坦化工程において、上記樹脂のガラス転移点温以上の温度で、上記平坦化層の平坦化を行うことが容易となるからである。   In this invention, it is preferable that the glass transition point temperature (Tg) of the said transparent resin exists in the range of 30 to 150 degreeC. Thereby, in the planarization step, the planarization layer can be easily planarized at a temperature equal to or higher than the glass transition temperature of the resin.

また、本発明においては、上記加圧がミラーロールにより行われることが好ましい。これにより、上記平坦化層の表面を、効率よく平坦化することができるからである。   In the present invention, the pressurization is preferably performed by a mirror roll. This is because the surface of the planarization layer can be planarized efficiently.

さらに、本発明においては、上記平坦化層中に、赤外線吸収剤が含有されていてもよい。これにより、本発明により製造された光学フィルタに、別途赤外線吸収フィルム等を貼りあわせる必要がなく、赤外線吸収の機能および電磁波遮蔽の機能を有する光学フィルタを製造することができるからである。   Furthermore, in this invention, the infrared absorber may contain in the said planarization layer. Thereby, it is not necessary to separately bond an infrared absorption film or the like to the optical filter manufactured according to the present invention, and an optical filter having an infrared absorption function and an electromagnetic wave shielding function can be manufactured.

本発明によれば、上記平坦化層形成工程により、上記金属メッシュ上に平坦化層形成用塗工液が塗布されることから、上記金属メッシュの空隙部分にも平坦化層が形成され、金属メッシュ断面の乱反射を防止することができるのである。またさらに、上記平坦化層形成工程後の平坦化層表面を、上記平坦化工程により、平坦化を行うことから、表面に凹凸がなく、上記金属メッシュ断面の乱反射もない、透明性の高い光学フィルタを製造することができる。   According to the present invention, since the flattening layer forming coating liquid is applied onto the metal mesh by the flattening layer forming step, the flattening layer is also formed in the void portion of the metal mesh, It is possible to prevent irregular reflection of the mesh cross section. Furthermore, since the flattened layer surface after the flattened layer forming step is flattened by the flattened step, the surface has no irregularities, and there is no irregular reflection of the metal mesh cross section. A filter can be manufactured.

また、本発明により製造された光学フィルムは、上記平坦化層表面が平坦であることから、本発明により製造された光学フィルタと、例えば赤外線吸収フィルムや、プラズマディスプレイパネル等の他の部材とを貼りあわせる際、気泡が噛みこまれることがなく、脱泡処理等の必要がないものとすることができる。   In addition, since the optical film manufactured according to the present invention has a flat surface, the optical filter manufactured according to the present invention and other members such as an infrared absorbing film and a plasma display panel are provided. At the time of pasting, air bubbles are not bitten and it is possible to eliminate the need for defoaming treatment or the like.

本発明は、透明性が高く、表面が平坦な光学フィルタの製造方法に関するものである。
本発明の光学フィルタの製造方法は、透明基材と、上記透明基材上に形成された接着層と、上記接着層上に形成された金属メッシュとを有する電磁波遮蔽用基板の上記金属メッシュ上に、少なくとも透明樹脂を含有する平坦化層形成用塗工液を塗布後、硬化させて平坦化層を形成する平坦化層形成工程と、
上記平坦化層を、上記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)以上の温度で加圧することにより、表面を平坦化する平坦化工程と
を有するものである。
The present invention relates to a method for manufacturing an optical filter having high transparency and a flat surface.
The method for producing an optical filter of the present invention includes a transparent substrate, an adhesive layer formed on the transparent substrate, and a metal mesh formed on the adhesive layer. In addition, after applying a flattening layer forming coating solution containing at least a transparent resin, a flattening layer forming step of forming a flattening layer by curing,
A flattening step of flattening the surface by pressing the flattening layer at a temperature equal to or higher than the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin.

本発明の光学フィルタの製造方法の一例を、図1を用いて説明する。本発明の光学フィルタの製造方法は、まず、透明基材1と、その透明基材1上に形成された接着層2と、その接着層2上に形成された金属メッシュ3とを有する電磁波遮蔽用基板4における金属メッシュ3上に、平坦化層5を形成する平坦化層形成工程を行う(図1(a))。次に、例えばミラーロール6を用いて、上記平坦化層5に含有される透明樹脂のガラス転移温度(Tg)より高い温度で、平坦化層5表面を加圧する平坦化工程を行う(図1(b))。これにより、平坦化層5の表面に凹凸等のない、透明性の高い光学フィルタとすることができるのである(図1(c))。   An example of the manufacturing method of the optical filter of this invention is demonstrated using FIG. The method for producing an optical filter of the present invention first includes an electromagnetic wave shielding comprising a transparent substrate 1, an adhesive layer 2 formed on the transparent substrate 1, and a metal mesh 3 formed on the adhesive layer 2. A planarization layer forming step for forming the planarization layer 5 on the metal mesh 3 in the substrate 4 is performed (FIG. 1A). Next, for example, using a mirror roll 6, a planarization step is performed in which the surface of the planarization layer 5 is pressurized at a temperature higher than the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin contained in the planarization layer 5 (FIG. 1). (B)). Thereby, it can be set as the highly transparent optical filter which does not have an unevenness | corrugation etc. on the surface of the planarization layer 5 (FIG.1 (c)).

本発明によれば、上記平坦化層形成工程により、上記金属メッシュ上に、上記平坦化層形成用塗工液を塗布することから、上記金属メッシュの空隙部分に平坦化層が充填される。これにより、上記金属メッシュを斜めから見た際に、メッシュ断面で光が乱反射することを防止することができる。またさらに、上記平坦化工程により、上記平坦化層表面を平坦化することから、表面に凹凸がなく、透明性の高い光学フィルタとすることができるのである。また、上記平坦化層表面が平坦であることから、本発明により製造された光学フィルタと、例えば赤外線吸収フィルムやプラズマディスプレイパネル等の他の部材とを貼りあわせる際、気泡が噛みこまれることがなく、脱泡処理等の必要のない光学フィルタとすることができるのである。
以下、上記のような本発明の光学フィルタの製造方法における各工程について説明する。
According to the present invention, since the planarizing layer forming coating liquid is applied onto the metal mesh in the planarizing layer forming step, the planarizing layer is filled in the voids of the metal mesh. Thereby, when the said metal mesh is seen from diagonally, it can prevent that light irregularly reflects in a mesh cross section. Further, since the surface of the flattening layer is flattened by the flattening step, an optical filter having no irregularities on the surface and having high transparency can be obtained. In addition, since the surface of the flattening layer is flat, bubbles may be caught when the optical filter manufactured according to the present invention is bonded to another member such as an infrared absorption film or a plasma display panel. Therefore, an optical filter that does not require a defoaming process or the like can be obtained.
Hereafter, each process in the manufacturing method of the above optical filters of this invention is demonstrated.

1.平坦化層形成工程
まず、本発明の光学フィルタの製造方法における平坦化層形成工程について説明する。本発明の光学フィルタの製造方法における平坦化層形成工程は、透明基材と、上記透明基材上に形成された接着層と、上記接着層上に形成された金属メッシュとを有する電磁波遮蔽用基板の上記金属メッシュ上に、少なくとも透明樹脂を含有する平坦化層形成用塗工液を塗布後、硬化させて平坦化層を形成する工程である。
本工程はまず、上記電磁波遮蔽用基板および平坦化層形成用塗工液を準備し、その後、上記電磁波遮蔽用基板における金属メッシュ上に、上記平坦化層形成用塗工液を塗布することにより行うことができる。以下、本工程に用いられる各構成について説明する。
1. Flattening Layer Forming Step First, the flattening layer forming step in the optical filter manufacturing method of the present invention will be described. The planarization layer forming step in the method for producing an optical filter of the present invention is for electromagnetic wave shielding having a transparent base material, an adhesive layer formed on the transparent base material, and a metal mesh formed on the adhesive layer. In this step, a flattening layer is formed by applying a flattening layer-forming coating solution containing at least a transparent resin onto the metal mesh of the substrate, followed by curing.
In this step, first, the electromagnetic wave shielding substrate and the flattening layer forming coating solution are prepared, and then the flattening layer forming coating solution is applied onto the metal mesh in the electromagnetic wave shielding substrate. It can be carried out. Hereinafter, each structure used for this process is demonstrated.

(平坦化層形成用塗工液)
まず、本発明の平坦化層形成工程に用いられる平坦化層形成用塗工液について説明する。本工程に用いられる平坦化層形成用塗工液は、少なくとも透明樹脂を含有するものであり、後述する電磁波遮蔽用基板における金属メッシュ上に塗布されるものである。
(Coating liquid for flattening layer formation)
First, the flattening layer forming coating solution used in the flattening layer forming step of the present invention will be described. The planarization layer forming coating solution used in this step contains at least a transparent resin, and is applied onto a metal mesh in an electromagnetic wave shielding substrate described later.

本発明において、平坦化層形成用塗工液に用いられる透明樹脂は、可視光に対して透明であるものであれば、その材料等は特に限定されるものではなく、具体的には、アクリル系樹脂、エステル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ウレタン系樹脂、環状ポリオレフィン系樹脂、ポリスチレン系樹脂、またはポリテトラフルオロエチレン(PTFE)、テトラフルオロエチレンとペルフルオロアルキルビニルエ−テルとの共重合体からなるペルフルオロアルコキシ樹脂(PFA)、テトラフルオロエチレンとヘキサフルオロプロピレンコポリマ−(FEP)、テトラフルオロエチレンとペルフルオロアルキルビニルエ−テルとヘキサフルオロプロピレンコポリマ−(EPE)、テトラフルオロエチレンとエチレンまたはプロピレンとのコポリマ−(ETFE)、ポリクロロトリフルオロエチレン樹脂(PCTFE)、エチレンとクロロトリフルオロエチレンとのコポリマ−(ECTFE)、フッ化ビニリデン系樹脂(PVDF)、フッ化ビニル系樹脂(PVF)等のフッ素系樹脂、ポリイミド、ポリアミドイミド、ポリエーテルイミド等のポリイミド系樹脂等を挙げることができ、中でもアクリル系樹脂、エステル系樹脂、ポリカーボネート系樹脂であることが好ましい。   In the present invention, the transparent resin used in the flattening layer-forming coating solution is not particularly limited as long as it is transparent to visible light. Resin, ester resin, polycarbonate resin, urethane resin, cyclic polyolefin resin, polystyrene resin, or polytetrafluoroethylene (PTFE), a copolymer of tetrafluoroethylene and perfluoroalkyl vinyl ether Perfluoroalkoxy resin (PFA), tetrafluoroethylene and hexafluoropropylene copolymer (FEP), tetrafluoroethylene and perfluoroalkyl vinyl ether and hexafluoropropylene copolymer (EPE), copolymer of tetrafluoroethylene and ethylene or propylene (ETFE), polychlorotrifluoroethylene resin (PCTFE), copolymer of ethylene and chlorotrifluoroethylene (ECTFE), vinylidene fluoride resin (PVDF), fluororesin such as vinyl fluoride resin (PVF) , Polyimide resins such as polyimide, polyamideimide, polyetherimide, and the like. Among them, acrylic resins, ester resins, and polycarbonate resins are preferable.

本発明においては、後述する平坦化工程で、上記透明樹脂のガラス転移点温度以上の温度で平坦化が行われることから、上記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)が30℃〜150℃の範囲内、中でも40℃〜120℃の範囲内であることが好ましい。
また、上記透明樹脂の平均分子量は、500〜60万の範囲内、中でも1万〜40万であることが好ましい。これにより、上記のような性質を有する透明樹脂とすることができるからである。
In the present invention, planarization is performed at a temperature equal to or higher than the glass transition temperature of the transparent resin in the planarization step described later, and therefore the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin is 30 ° C. to 150 ° C. It is preferable to be within the range, particularly 40 ° C to 120 ° C.
The average molecular weight of the transparent resin is preferably in the range of 500 to 600,000, particularly 10,000 to 400,000. This is because a transparent resin having the above properties can be obtained.

ここで、本工程に用いられる平坦化層形成用塗工液は、通常、上記透明樹脂を溶剤等に溶解させて、目的とする粘度となるように調整されたものである。このような本工程の平坦化層形成用塗工液に用いられる溶剤としては、例えば酢酸エチル、トルエン、メチルエチルケトン(MEK)、キシレン、イソプロピルアルコール(IPA)、クロロホルム、テトラヒドロフラン(THF)、ジメチルホルムアミド(DMF)、アセトニトリル、トリフルオロプロパノール等が挙げられる。   Here, the flattening layer forming coating solution used in this step is usually prepared by dissolving the transparent resin in a solvent or the like to obtain a target viscosity. Examples of the solvent used in the flattening layer forming coating solution in this step include ethyl acetate, toluene, methyl ethyl ketone (MEK), xylene, isopropyl alcohol (IPA), chloroform, tetrahydrofuran (THF), dimethylformamide ( DMF), acetonitrile, trifluoropropanol and the like.

また、この際、上記平坦化層形成用塗工液の粘度は、その塗布方法や樹脂の種類等により適宜選択されるものであるが、通常、0.01Pa・s〜100Pa・sの範囲内、中でも0.1Pa・s〜10Pa・sの範囲内であることが好ましい。これにより、本工程において、後述する金属メッシュ上に塗布した際に、平坦化層形成用塗工液がメッシュの空隙部分に充填され、金属メッシュ断面の乱反射も防止することが可能な平坦化層とすることができるからである。   Further, at this time, the viscosity of the coating liquid for forming the flattening layer is appropriately selected depending on the application method, the type of resin, and the like, but is usually within a range of 0.01 Pa · s to 100 Pa · s. Especially, it is preferable to be in the range of 0.1 Pa · s to 10 Pa · s. Thereby, in this step, when applied onto a metal mesh, which will be described later, the flattening layer can be filled with a coating solution for forming a flattening layer and prevent irregular reflection of the cross section of the metal mesh. Because it can be.

ここで、本発明においては、この平坦化層形成用塗工液が、赤外線吸収剤を含有するものであってもよい。これにより、平坦化層が赤外線吸収の機能を果たすことも可能となり、別途赤外線吸収フィルム等を貼りあわせる工程が不要となるからである。   Here, in the present invention, the flattening layer forming coating solution may contain an infrared absorber. This is because the planarization layer can also perform the function of absorbing infrared rays, and a process of separately bonding an infrared absorbing film or the like is not necessary.

このように、赤外線吸収剤が平坦化層形成用塗工液中に含有される場合には、上述した透明樹脂の中でも、透明樹脂の水酸基価が、10以下、中でも5以下、特に、0であることが好ましい。これは、上記透明樹脂中に水酸基が存在する場合には、赤外線吸収剤の種類によっては、その水酸基と反応等してしまう場合があるからであり、透明樹脂中の水酸基価を上記範囲内とすることにより例えば対イオンを有する赤外線吸収剤が、透明樹脂に含まれる水酸基により反応すること等を防ぐことができるからである。また、このような透明樹脂を用いることにより、安定に赤外線吸収の機能を有する光学フィルタとすることができ、さらに赤外線吸収剤の選択の幅を広げることが可能となるのである。ここで、上記水酸基価とは、試料1gをアセチル化するとき、水酸基と結合した酢酸を中和するのに要する水酸化カリウムのmg量をいうものである。   Thus, when the infrared absorbing agent is contained in the planarization layer forming coating solution, among the above-described transparent resins, the hydroxyl value of the transparent resin is 10 or less, particularly 5 or less, particularly 0. Preferably there is. This is because when a hydroxyl group is present in the transparent resin, it may react with the hydroxyl group depending on the type of infrared absorber, and the hydroxyl value in the transparent resin is within the above range. This is because, for example, an infrared absorber having a counter ion can be prevented from reacting with a hydroxyl group contained in the transparent resin. Further, by using such a transparent resin, it is possible to obtain an optical filter having a function of absorbing infrared rays stably, and further, it is possible to expand the range of selection of infrared absorbers. Here, the hydroxyl value means the amount of potassium hydroxide required to neutralize acetic acid bonded to a hydroxyl group when 1 g of a sample is acetylated.

またさらに、上記透明樹脂の酸価が、10以下、中でも5以下、特に、0であることが好ましい。これにより、透明樹脂中に含有される酸により、赤外線吸収剤が反応等することを防ぐことができ、さらに安定に赤外線吸収の機能を有する光学フィルタとすることができるからである。ここで、酸価とは、試料1gを中和するのに要する水酸化カリウムのmg量をいう。   Furthermore, it is preferable that the acid value of the transparent resin is 10 or less, particularly 5 or less, particularly 0. This is because the acid contained in the transparent resin can prevent the infrared absorber from reacting and the like, and can provide a more stable optical filter having an infrared absorption function. Here, the acid value means the amount of potassium hydroxide required to neutralize 1 g of the sample.

ここで、本発明において用いられる赤外線吸収剤としては、赤外領域の光を吸収する材料であれば、その種類等は特に限定されるものではない。一般に赤外領域とは800〜1200nmの領域を示し、本発明に用いられる赤外線吸収剤においては、上記領域内での光の透過率が20%以下、中でも10%以下であることが好ましい。上記透過率は、分光光度計 UV−3100PC 島津製作所製にてJIS Z 8722「色の測定方法−反射及び透過物体色」に記載される方法にて測定を行った値である。   Here, the infrared absorber used in the present invention is not particularly limited as long as it is a material that absorbs light in the infrared region. In general, the infrared region refers to a region of 800 to 1200 nm. In the infrared absorbent used in the present invention, the light transmittance in the region is preferably 20% or less, more preferably 10% or less. The above-mentioned transmittance is a value measured by a spectrophotometer UV-3100PC manufactured by Shimadzu Corporation according to the method described in JIS Z 8722 “Color Measurement Method—Reflection and Transmission Object Color”.

本発明に用いることが可能な赤外線吸収剤として、具体的には、酸化スズ、酸化インジウム、酸化マグネシウム、酸化チタン、酸化クロム、酸化ジルコニウム、酸化ニッケル、酸化アルミニウム、酸化亜鉛、酸化鉄、酸化アンチモン、酸化鉛、酸化ビスマス等の無機赤外線吸収剤、シアニン系化合物、フタロシアニン系化合物、ナフタロシアニン系化合物、ナフトキノン系化合物、アントラキノン系化合物、アルミニウム系化合物、ピリリウム系化合物、セリリウム系化合物、スクワリリウム系化合物、ジイモニウム類、銅錯体類、ニッケル錯体類、ジチオール系錯体類等の有機赤外線吸収剤を1種類、または2種類以上混合して用いることができる。   Specific examples of infrared absorbers that can be used in the present invention include tin oxide, indium oxide, magnesium oxide, titanium oxide, chromium oxide, zirconium oxide, nickel oxide, aluminum oxide, zinc oxide, iron oxide, and antimony oxide. Inorganic infrared absorbers such as lead oxide and bismuth oxide, cyanine compounds, phthalocyanine compounds, naphthalocyanine compounds, naphthoquinone compounds, anthraquinone compounds, aluminum compounds, pyrylium compounds, cerium compounds, squarylium compounds, One or more organic infrared absorbers such as diimoniums, copper complexes, nickel complexes, and dithiol complexes can be used.

また、上記の有機赤外線吸収剤として具体的には、(以下、日本化薬社製:商品名)IRG−002、IRG−003、IRG−022、IRG−023、IRG−040、(以下、日本触媒社製:商品名)IR−1、IR−10、IR−12、IR−14、TX−EX−906B、TX−EX−910B、(以下、三井化学ファイン社製:商品名)SIR−128、SIR−130、SIR−132、SIR−159、(以下、みどり化学社製:商品名)MIR−101、MIR−111、MIR−121、MIR−102、MIR−1011、MIR−1021等が挙げられる。   Moreover, as said organic infrared absorber, specifically, (it is made from Nippon Kayaku Co., Ltd .: brand name) IRG-002, IRG-003, IRG-022, IRG-023, IRG-040, (hereinafter, Japan) Product name: IR-1, IR-10, IR-12, IR-14, TX-EX-906B, TX-EX-910B (hereinafter, Mitsui Chemicals Fine: product name) SIR-128 , SIR-130, SIR-132, SIR-159 (hereinafter referred to as Midori Chemical Co., Ltd .: trade name) MIR-101, MIR-111, MIR-121, MIR-102, MIR-1011, MIR-1021, etc. It is done.

なお、本発明に用いられる平坦化層形成用塗工液中には、上述した材料以外にも、必要に応じて、充填剤、軟化材、酸化防止剤、紫外線吸収剤、架橋剤等を含有するものであってもよい。   In addition to the above-described materials, the coating liquid for forming a flattening layer used in the present invention contains a filler, a softening material, an antioxidant, an ultraviolet absorber, a crosslinking agent, and the like as necessary. You may do.

(電磁波遮蔽用基板)
次に、本工程に用いられる電磁波遮蔽用基板について説明する。
本工程に用いられる電磁波遮蔽用基板は、透明基材と、その透明基材上に形成された接着層と、その接着層上に形成された金属メッシュとを有するものである。以下、本工程に用いられる電磁波遮蔽用基板の各構成について説明する。
(Electromagnetic wave shielding substrate)
Next, the electromagnetic wave shielding substrate used in this step will be described.
The electromagnetic wave shielding substrate used in this step has a transparent base material, an adhesive layer formed on the transparent base material, and a metal mesh formed on the adhesive layer. Hereinafter, each structure of the electromagnetic wave shielding substrate used in this step will be described.

a.金属メッシュ
まず、本工程に用いられる電磁波遮蔽用基板の金属メッシュについて説明する。本工程に用いられる金属メッシュは、プラズマディスプレイ等から発生した電磁波を遮蔽する機能を有するものである。このような金属メッシュは、後述する透明基材上に、後述する接着層により金属箔が貼りあわせられ、その金属箔がメッシュ状にエッチングされることにより形成される。
a. Metal Mesh First, the metal mesh of the electromagnetic wave shielding substrate used in this step will be described. The metal mesh used in this step has a function of shielding electromagnetic waves generated from a plasma display or the like. Such a metal mesh is formed by laminating a metal foil on a transparent base material described later by an adhesive layer described later and etching the metal foil into a mesh shape.

本工程において、この金属メッシュは、電磁波遮蔽性を有するものであれば、その金属の種類等は特に限定されるものではなく、例えば銅、鉄、ニッケル、クロム、アルミニウム、金、銀、ステンレス、タングステン、クロム、チタン等を用いることができる。
本発明においては、上記の中でも銅が、電磁波のシールド性、エッチング処理適性や取扱い性の面から好ましい。また用いられる銅箔の種類としては、圧延銅箔、電解銅箔等が挙げられるが、特に電解銅箔であることが好ましい。これにより、厚さが10μm以下の均一性のよいものとすることができ、また黒化処理された際に、酸化クロム等との密着性を良好なものとすることができるからである。
In this step, the metal mesh is not particularly limited as long as it has electromagnetic wave shielding properties. For example, copper, iron, nickel, chromium, aluminum, gold, silver, stainless steel, Tungsten, chromium, titanium, or the like can be used.
In the present invention, among the above, copper is preferable from the viewpoints of electromagnetic shielding properties, etching processing suitability, and handling properties. Moreover, as a kind of copper foil used, although rolled copper foil, electrolytic copper foil, etc. are mentioned, it is especially preferable that it is electrolytic copper foil. This is because the thickness can be made uniform with a thickness of 10 μm or less, and the adhesion with chromium oxide or the like can be made good when blackened.

ここで、本発明においては、上記金属箔の一方の面または両面に黒化処理されていることが好ましい。黒化処理とは、酸化クロム等により金属メッシュの表面を黒化する処理であり、光学フィルタにおいて、この黒化処理面は、観察者側の面となるように配置される。この黒化処理により金属メッシュ表面に形成された酸化クロム等により、光学フィルタ表面の外光が吸収されることから、光学フィルタ表面で光が散乱することを防止することができ、良好な視認性を得ることが可能な光学フィルタとすることができるのである。このような黒化処理は、上記金属箔に黒化処理液を塗布することにより行うことができる。黒化処理の方法としては、CrO水溶液や、無水クロム酸水溶液に酒石酸、マロン酸、クエン酸、乳酸等の異なるオキシカルボン酸化合物を添加して、6価クロムの一部を3価クロムに還元した溶液等を、ロールコート法、エアーカーテン法、静電霧化法、スクイズロールコート法、浸漬法等により塗布し、乾燥させることにより行なうことができる。なお、この黒化処理は、後述する透明基材上に、後述する接着層によって金属箔が貼りあわせられ、メッシュ状にエッチングされた後に行われるものであってもよい。 Here, in the present invention, it is preferable that one side or both sides of the metal foil is blackened. The blackening process is a process of blackening the surface of the metal mesh with chromium oxide or the like. In the optical filter, the blackened surface is arranged to be a surface on the viewer side. The external light on the surface of the optical filter is absorbed by chromium oxide or the like formed on the surface of the metal mesh by this blackening treatment, so that it is possible to prevent light from being scattered on the surface of the optical filter, and good visibility Therefore, the optical filter can be obtained. Such a blackening treatment can be performed by applying a blackening treatment liquid to the metal foil. As a blackening treatment method, different oxycarboxylic acid compounds such as tartaric acid, malonic acid, citric acid, and lactic acid are added to a CrO 2 aqueous solution or a chromic anhydride aqueous solution to convert a part of hexavalent chromium into trivalent chromium. The reduced solution or the like can be applied by a roll coating method, an air curtain method, an electrostatic atomization method, a squeeze roll coating method, a dipping method or the like and dried. In addition, this blackening process may be performed after a metal foil is bonded to a transparent base material described later by an adhesive layer described later and etched into a mesh shape.

本発明においては、上記黒化処理された金属箔の表面の黒濃度が0.6以上であることが好ましい。これにより、より視認性を良好なものとすることができるからである。ここで、黒濃度は、COLOR CONTROL SYSTEMのGRETAG SPM100−11((株)KIMOTO製)を用いて、観測視野角10°、観測光源D50、照明タイプとして濃度標準ANSI Tに設定し、白色キャリブレイション後に測定した値である。   In the present invention, it is preferable that the black density of the surface of the blackened metal foil is 0.6 or more. This is because the visibility can be further improved. Here, the black density is set to the density standard ANSI T as the observation viewing angle 10 °, the observation light source D50, and the illumination type using GRETAG SPM100-11 (manufactured by KIMOTO) of COLOR CONTROL SYSTEM. It is a value measured later.

また、本発明においては、上記金属箔の膜厚は、1μm〜100μmの範囲内、中でも5μm〜20μmの範囲内であることが好ましい。上記範囲より膜厚が厚いと、エッチングによりパターン線幅を細かく高精細化することが困難となり、また上記範囲より薄い場合には、十分な電磁波シールド性が得られないからである。
さらに、本発明においては、上記金属箔は、JIS B0601に準拠する十点平均粗さが0.5μm〜10μmの範囲内であることが好ましい。上記範囲より小さい場合には、上記黒化処理をした場合であっても、光学フィルタ表面の外光が鏡面反射することから、視認性が劣化し、また上記範囲より大きい場合には、接着層やレジスト等を塗布することが困難となるからである。
Moreover, in this invention, it is preferable that the film thickness of the said metal foil exists in the range of 1 micrometer-100 micrometers, especially in the range of 5 micrometers-20 micrometers. If the film thickness is larger than the above range, it becomes difficult to make the pattern line width fine and fine by etching, and if it is thinner than the above range, sufficient electromagnetic wave shielding properties cannot be obtained.
Furthermore, in this invention, it is preferable that the said metal foil has the 10-point average roughness based on JISB0601 in the range of 0.5 micrometer-10 micrometers. If it is smaller than the above range, even if the blackening treatment is performed, the external light on the surface of the optical filter is specularly reflected, so that the visibility is deteriorated. This is because it becomes difficult to apply the resist or the resist.

ここで、金属箔のエッチングは、後述する透明基材上に、後述する接着層を用いて貼りあわせられた後に行われるものである。本発明において、このエッチングは、通常のフォトリソグラフィー法により行うことができ、例えば金属箔の表面にレジストを塗布し、乾燥した後レジストをパターン版で密着露光し、現像処理を行うことにより得ることができる。   Here, the etching of the metal foil is performed after being bonded onto a transparent substrate described later using an adhesive layer described later. In the present invention, this etching can be performed by an ordinary photolithography method, for example, by applying a resist on the surface of a metal foil, drying, and then exposing the resist with a pattern plate and developing the resist. Can do.

本発明に用いられる上述したような金属メッシュは、表面抵抗が10−8Ω/□〜5Ω/□の範囲内、中でも10−4Ω/□〜3Ω/□の範囲内であることが好ましい。一般的に、電磁波遮蔽性は、表面抵抗により測定することができ、この表面抵抗が低いほど、電磁波遮蔽性が良好なものということができる。ここで、上記表面抵抗の値は、表面抵抗測定装置 ロレスタ−GP (株)ダイヤインスツルメンツ製にてJIS K 7194「導電性プラスチックの4探針法による抵抗率試験方法」に記載される方法にて測定された値である。 The metal mesh as described above used in the present invention preferably has a surface resistance in the range of 10 −8 Ω / □ to 5 Ω / □, and more preferably in the range of 10 −4 Ω / □ to 3Ω / □. In general, the electromagnetic wave shielding property can be measured by surface resistance. It can be said that the lower the surface resistance, the better the electromagnetic wave shielding property. Here, the value of the surface resistance is determined by a method described in JIS K 7194 “Resistivity test method by conductive probe four-probe method” by a surface resistance measuring device, Loresta-GP Co., Ltd., Dia Instruments. It is a measured value.

本発明においては、このエッチング処理された後の金属メッシュは、50μm□〜500μm□の範囲内、中でも100μm□〜400μm□の範囲内、特に200μm□〜300μm□の範囲内であることが好ましく、またメッシュ線幅が5μm〜20μmの範囲内であることが好ましい。メッシュ線幅が上記範囲より細い場合には、断線が起こる場合等があり、電磁波遮蔽性の面から好ましくなく、またメッシュ線幅が上記範囲より太い場合には、可視光の透過率が低く、例えばプラズマディスプレイの輝度が低くなる等という面から好ましくないからである。   In the present invention, the metal mesh after the etching treatment is preferably in the range of 50 μm □ to 500 μm □, more preferably in the range of 100 μm □ to 400 μm □, particularly in the range of 200 μm □ to 300 μm □, Further, the mesh line width is preferably in the range of 5 μm to 20 μm. If the mesh line width is thinner than the above range, disconnection may occur, which is not preferable from the electromagnetic shielding surface, and if the mesh line width is thicker than the above range, the visible light transmittance is low, This is because, for example, the brightness of the plasma display is lowered, which is not preferable.

b.透明基材
次に、本発明に用いられる電磁波遮蔽用基板における透明基材について説明する。本発明に用いられる透明基材は、可視光に対して透明性を有し、かつ後述する接着層と、その接着層上に上記金属メッシュとが積層されるものである。
b. Next, the transparent substrate in the electromagnetic wave shielding substrate used in the present invention will be described. The transparent substrate used in the present invention is transparent to visible light, and is an adhesive layer described later and the metal mesh laminated on the adhesive layer.

本発明においては、この透明基材は透明性を有し、かつ接着層が形成可能であれば、その種類等は特に限定されるものではなく、例えばポリエチレンテレフタレート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリカーボネート、アクリル(PMMA)、環状ポリオレフィン、トリアセチルセルロース(TAC)、ポリエーテルサルファイド(PES)、ポリエーテルケトン等を用いることができ、中でもコストや取扱い性の面等から、PETであることが好ましい。
また、本発明においては、この透明基材の膜厚が12μm〜300μmの範囲内であることが好ましい。
In the present invention, the type of the transparent substrate is not particularly limited as long as the transparent substrate has transparency and an adhesive layer can be formed. For example, polyethylene terephthalate (PET), polyethylene naphthalate (PEN) ), Polycarbonate, acrylic (PMMA), cyclic polyolefin, triacetyl cellulose (TAC), polyether sulfide (PES), polyether ketone, etc., and in particular, from the viewpoint of cost and handleability, it should be PET Is preferred.
Moreover, in this invention, it is preferable that the film thickness of this transparent base material exists in the range of 12 micrometers-300 micrometers.

c.接着層
次に、本発明に用いられる電磁波遮蔽板における接着層について説明する。本発明に用いられる接着層は、上述した金属メッシュおよび透明基材とを接着することが可能な層であれば、その種類等は特に限定されるものではないが、本発明においては、上記金属メッシュを構成する金属箔および透明基材を接着層により貼りあわせた後、金属箔をエッチングによりメッシュ状とすることから、接着層も耐エッチング性を有することが好ましい。
c. Next, the adhesive layer in the electromagnetic wave shielding plate used in the present invention will be described. The type of the adhesive layer used in the present invention is not particularly limited as long as it is a layer capable of adhering the above-described metal mesh and transparent substrate. Since the metal foil and the transparent base material constituting the mesh are bonded to each other by the adhesive layer, and then the metal foil is meshed by etching, the adhesive layer preferably has etching resistance.

本発明においては、このような接着層の材料として、具体的には、アクリル系、エステル系、ウレタン系、フッ素系、ポリイミド系、エポキシ系、ポリウレタンエステル系等が挙げられる。
また、本発明に用いられる接着層は、紫外線硬化型であってもよく、また熱硬化型であってもよい。本発明においては、これらの接着層を用いてドライラミネーション法、ウェットラミネーション法等により上記透明基材および上記金属箔とを接着することができる。
In the present invention, specific examples of the material for the adhesive layer include acrylic, ester, urethane, fluorine, polyimide, epoxy, polyurethane ester, and the like.
Further, the adhesive layer used in the present invention may be an ultraviolet curable type or a thermosetting type. In the present invention, the transparent substrate and the metal foil can be bonded by using a dry lamination method, a wet lamination method or the like using these adhesive layers.

本発明においては、この接着層の膜厚が0.5μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。これにより、上記透明基材および上記金属メッシュとを強固に接着することができ、また、金属メッシュを形成するエッチングの際に透明基材がエッチング液の影響を受けること等を防ぐことができるからである。
なお、本発明においては、上記接着層中に、上述した平坦化層形成用塗工液の項で説明したような赤外線吸収剤が含有されていてもよい。これにより、赤外線吸収フィルム等を貼りあわせることなく、本発明により製造された光学フィルタに赤外線吸収の機能を付与することができるからである。
In this invention, it is preferable that the film thickness of this contact bonding layer exists in the range of 0.5 micrometer-50 micrometers. As a result, the transparent base material and the metal mesh can be firmly bonded, and the transparent base material can be prevented from being affected by the etching solution during etching to form the metal mesh. It is.
In the present invention, the adhesive layer may contain an infrared absorbent as described in the above-mentioned section of the flattening layer forming coating solution. This is because an infrared absorption function can be imparted to the optical filter manufactured according to the present invention without bonding an infrared absorption film or the like.

d.電磁波遮蔽用基板
次に、本発明に用いられる電磁波遮蔽用基板について説明する。本発明に用いられる電磁波遮蔽用基板は、上記透明基材上に上記接着層が形成され、その接着層上に上記金属メッシュが形成されたものであれば、特に限定されるものではなく、必要に応じて上記金属メッシュ、透明基材、および接着層の他に、補強材等を有するものであってもよい。
d. Next, the electromagnetic wave shielding substrate used in the present invention will be described. The electromagnetic wave shielding substrate used in the present invention is not particularly limited as long as the adhesive layer is formed on the transparent base material and the metal mesh is formed on the adhesive layer. Depending on the above, in addition to the metal mesh, the transparent substrate, and the adhesive layer, a reinforcing material or the like may be included.

(平坦化層形成用塗工液の塗布および硬化)
次に、本工程における上記平坦化層形成用塗工液の塗布および硬化について説明する。本工程においては、上記平坦化層形成用塗工液を、上述した電磁波遮蔽用基板における金属メッシュ上に塗布し、硬化させることにより平坦化層を形成する。
(Coating and curing of coating liquid for flattening layer formation)
Next, application | coating and hardening of the said coating liquid for planarization layer formation in this process are demonstrated. In this step, the flattening layer is formed by applying and curing the above-described flattening layer forming coating solution on the metal mesh in the electromagnetic wave shielding substrate described above.

本工程における上記平坦化層形成用塗工液の塗布は、上記電磁波遮蔽用基板上に、塗布することが可能であれば、その方法等は特に限定されるものではなく、例えばスピンコート法、ロールコート法、スプレーコート法、ディップコート法、ビードコート法等の公知の塗布方法を用いることが可能である。   The application of the flattening layer-forming coating liquid in this step is not particularly limited as long as it can be applied onto the electromagnetic wave shielding substrate. For example, spin coating, Known coating methods such as a roll coating method, a spray coating method, a dip coating method, and a bead coating method can be used.

また、硬化の方法についても、上記方法により塗布された平坦化層形成用塗工液を硬化させることが可能であれば、上記平坦化層形成用塗工液により適宜選択されるものであり、公知の硬化方法を用いることができる。   As for the curing method, if it is possible to cure the flattening layer forming coating liquid applied by the above method, it is appropriately selected depending on the flattening layer forming coating liquid, A known curing method can be used.

このように形成される平坦化層は、上記金属メッシュ表面を被覆するように形成されていることが好ましい。すなわち、上記金属メッシュの膜厚より厚いことが好ましく、具体的には、金属メッシュが形成されていない部分、例えば図1(a)に示すaの平均膜厚が、10μm〜50μmの範囲内であることが好ましい。これにより、後述する平坦化工程により、上記金属メッシュの凹凸の影響を受けることなく、表面を平坦化することが可能となるからである。   The flattening layer formed in this way is preferably formed so as to cover the surface of the metal mesh. That is, it is preferably thicker than the thickness of the metal mesh. Specifically, the average film thickness of a portion where the metal mesh is not formed, for example, a shown in FIG. 1A, is in the range of 10 μm to 50 μm. Preferably there is. This is because the surface can be flattened by the flattening step described later without being affected by the unevenness of the metal mesh.

2.平坦化工程
次に、本発明の光学フィルタの製造方法における平坦化工程について説明する。本発明における平坦化工程は、上記平坦化層形成工程により形成された平坦化層を、上記平坦化層中に含有される透明樹脂のガラス転移点温度以上の温度で加圧することにより、平坦化層表面を平坦化する工程である。
2. Flattening Step Next, the flattening step in the optical filter manufacturing method of the present invention will be described. In the planarization step of the present invention, the planarization layer formed by the planarization layer formation step is planarized by pressing at a temperature equal to or higher than the glass transition temperature of the transparent resin contained in the planarization layer. This is a step of flattening the layer surface.

本工程においては、上記平坦化層の表面を加圧して平坦化することが可能であれば、その方法等は特に限定されるものではなく、例えばミラーロール、硬質金属鋼板、硬質金属製球体等により加圧することができるが、本発明においては、上記の中でもミラーロールを用いて加圧し、平坦化層表面を平坦化することが好ましい。これにより、上記平坦化層を効率よく平坦化することができるからである。
また、本工程において、加圧される圧力は上記透明樹脂の種類等により、適宜選択されるものであるが通常、線圧0.1kg/cm〜30kg/cmの範囲内、中でも1kg/cm〜10kg/cmの範囲内であることが好ましい。
また、上記平坦化工程は、上記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)で行われ、具体的な温度は、上記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)より、適宜選択されるものであるが、通常30℃〜170℃の範囲内、中でも50℃〜120℃の範囲内であることが好ましい。
In this step, the method is not particularly limited as long as the surface of the flattening layer can be pressed and flattened. For example, a mirror roll, a hard metal steel plate, a hard metal sphere, etc. In the present invention, it is preferable to pressurize using a mirror roll to flatten the surface of the flattening layer. This is because the planarizing layer can be planarized efficiently.
Further, in this step, the pressure which is pressurized on the kind of the transparent resin or the like, but is appropriately selected usually in the range of linear pressure 0.1kg / cm 2 ~30kg / cm 2 , inter alia 1 kg / It is preferable to be within the range of cm 2 to 10 kg / cm 2 .
The planarization step is performed at the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin, and the specific temperature is appropriately selected from the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin. Usually, it is preferably in the range of 30 ° C to 170 ° C, and more preferably in the range of 50 ° C to 120 ° C.

ここで、本工程により平坦化された後の光学フィルタの表面は、表面粗さにて数値化することが可能でありJIS B0601−1984に従い、表面粗さ計 KASEKA Laboratory社製 SE−3AKにて測定を行った表面粗さRzが、0.05〜5の範囲内、中でも0.1〜3であることが好ましい。
また、その表面粗さはヘイズ(濁度)に反映され、ヘイズに関しては、カラーコンピューター SM−C スガ試験機製にてJIS K 7105「プラスチックの光学的特性試験方法」に記載される方法にてヘイズの測定を行うことができる。このヘイズについては、0.05〜5の範囲内、中でも0.1〜3であることが好ましい。これにより、例えば上記平坦化層上に、他の部材を貼りあわせる際に、気泡等が噛みこまれることなく、透明性が高く、脱泡処理が不要な光学フィルタとすることができるからである。
Here, the surface of the optical filter after being flattened by this step can be quantified by the surface roughness. According to JIS B0601-1984, the surface roughness meter is SE-3AK manufactured by KASEKA Laboratory. It is preferable that the measured surface roughness Rz is in the range of 0.05 to 5, particularly 0.1 to 3.
Further, the surface roughness is reflected in haze (turbidity), and haze is measured by the method described in JIS K 7105 “Testing methods for optical properties of plastics” manufactured by Color Computer SM-C Suga Test Instruments. Can be measured. About this haze, it is preferable that it is 0.1-3 in the range of 0.05-5. This is because, for example, when other members are bonded onto the planarizing layer, an optical filter having high transparency and no defoaming treatment can be obtained without air bubbles being bitten. .

また、本発明により製造された光学フィルタの透明性は、視感透過率が40%以上、中でも50%以上であることが好ましい。これにより、上記光学フィルタを例えばプラズマディスプレイ等に用いる際に、視認性がよいものとすることができるからである。ここで、可視光とは、380nm〜780nmの範囲内の光のことをいうこととし、上記視感透過率は分光光度計 UV−3100(島津製作所)を用いてJIS Z8701 色の表現方法 XYZ表色系及びX10Y10Z10表示系 に記載される測定方法に従って測定し、JIS Z 8722 色の測定方法−反射及び透過物体色 にて算出された、380nm〜780nmの範囲内透過率を測定した値である。 In addition, the transparency of the optical filter manufactured according to the present invention is preferably such that the luminous transmittance is 40% or more, and especially 50% or more. This is because when the optical filter is used in, for example, a plasma display, the visibility can be improved. Here, the visible light means light in a range of 380 nm to 780 nm, and the luminous transmittance is JIS Z8701 color expression method XYZ table using a spectrophotometer UV-3100 (Shimadzu Corporation). Measured according to the measurement method described in the color system and X 10 Y 10 Z 10 display system, and measured the transmittance in the range of 380 nm to 780 nm calculated by JIS Z 8722 color measurement method-reflection and transmission object color It is the value.

3.その他
また、本発明においては、上記平坦化層形成工程および平坦化工程の他に、平坦化工程後の上記平坦化層上に、必要に応じて赤外線吸収フィルムを貼りあわせる工程や、例えばネオン光を吸収するネオン光吸収層を貼りあわせる工程等を有するものであってもよい。
なお、本発明は上記実施形態に限定されるものではない。上記実施形態は、例示であり、本発明の特許請求の範囲に記載された技術的思想と実質的に同一な構成を有し、同様な作用効果を奏するものは、いかなるものであっても本発明の技術的範囲に包含される。
3. Other In the present invention, in addition to the flattening layer forming step and the flattening step, a step of attaching an infrared absorbing film on the flattened layer after the flattening step as necessary, for example, neon light And a step of attaching a neon light absorbing layer that absorbs light.
The present invention is not limited to the above embodiment. The above-described embodiment is an exemplification, and the present invention has substantially the same configuration as the technical idea described in the claims of the present invention, and any device that exhibits the same function and effect is the present invention. It is included in the technical scope of the invention.

以下、本発明について、実施例および比較例を通じてさらに詳述する。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail through examples and comparative examples.

(実施例1)
<電磁波遮蔽用基板の作製>
片面がクロメート処理により黒化処理されている、銅箔(古川サーキットフォイール製、EXP−WS、厚さ10μm)と、ポリエチレンテレフタレート(東洋紡績製 A4300 厚み100μm)とを、をウレタン系接着剤(Tg20℃、平均分子量3万、酸価1、水酸基価9)にてドライラミネーション加工し貼り合わせた後、上記銅箔上にレジストを塗布後、露光および現像を行うことにより、不要な銅箔部分をエッチング除去し、300μm□、線幅10μmの金属メッシュを形成した。なお、この際黒化処理面はPDPパネルが製造された場合、見る側(人間側)になるように設置するため、非貼り合せ面側とした。
(Example 1)
<Preparation of electromagnetic shielding substrate>
Copper foil (Furukawa Circuit Foil, EXP-WS, thickness 10 μm) and polyethylene terephthalate (Toyobo A4300 thickness 100 μm), one side of which is blackened by chromate treatment, are urethane adhesives ( After dry lamination with Tg of 20 ° C, average molecular weight of 30,000, acid value of 1, and hydroxyl value of 9), the resist is coated on the copper foil, and then exposed and developed to remove unnecessary copper foil portions. Was removed by etching to form a metal mesh of 300 μm □ and a line width of 10 μm. At this time, when the PDP panel is manufactured, the blackened surface is set to be the viewing side (human side), and thus is set to the non-bonding surface side.

<平坦化層の作製>
次に、固形分20wt%に溶剤希釈された透明樹脂アクリル系バインダ(Tg100℃、平均分子量25万、酸価0、水酸基価0)の中に、日本化薬製 IRG−022(ジイモニウム系色素)0.3g/mおよび日本触媒製 IR−1(フタロシアニン系)0.2g/mの2種の赤外線吸収色素を合計0.5g/m混ぜ込みを行った。この赤線吸収色素を混ぜた樹脂バインダをアプリケーターにて、乾燥膜厚30μm(非メッシュ部膜厚)となるように、上記にて作製した電磁波シールドメッシュ上に塗布し、風速5〜20m/secのドライエアーが当たるオーブンにて100℃で1分間乾燥し塗膜作製した。塗布乾燥後、上記樹脂バインダのTgより高温の表面凹凸が少ないミラーロールにて温度120℃、線厚1kg/cm2の圧力を掛けて平坦化層コート面より押しつけ、平坦化層表面の凹凸を消す事により平坦化層の作製を行った。
<Fabrication of planarization layer>
Next, in a transparent resin acrylic binder (Tg 100 ° C., average molecular weight 250,000, acid value 0, hydroxyl value 0) diluted with a solvent to a solid content of 20 wt%, Nippon Kayaku IRG-022 (diimonium dye) A total of 0.5 g / m 2 of infrared absorbing dyes of 0.3 g / m 2 and IR-1 (phthalocyanine-based) 0.2 g / m 2 manufactured by Nippon Shokubai was mixed. The resin binder mixed with the red ray absorbing dye was applied on the electromagnetic shielding mesh prepared above with an applicator so that the dry film thickness was 30 μm (non-mesh part film thickness), and the wind speed was 5 to 20 m / sec. The film was dried at 100 ° C. for 1 minute in an oven exposed to dry air. After coating and drying, the surface of the flattened layer is pressed against the surface of the flattened layer by applying a pressure of 120 ° C. and a line thickness of 1 kg / cm 2 with a mirror roll having a surface unevenness higher than the Tg of the resin binder. A planarization layer was prepared by erasing.

<粘着層の作製>
離型フィルム面上に、固形分20%に溶剤希釈されたアクリル系の粘着剤(Tg−40℃、平均分子量65万、酸価7、水酸基価0)を乾燥膜厚10μmとなるように塗布し、風速5〜20m/secのドライエアーが当たるオーブンにて100℃で1分間乾燥させ、粘着層を作製した。粘着層を温度23℃,線圧:1kg/cmのラミネートロールにて、電磁波シールドの透明基材(PET)側に透明粘着層を密着させた。その後、離型フィルムを剥離し、粘着材面側をPDP前面パネルに積層した。
<Preparation of adhesive layer>
On the release film surface, an acrylic adhesive (Tg-40 ° C., average molecular weight 650,000, acid value 7, hydroxyl value 0) diluted with a solvent to a solid content of 20% is applied to a dry film thickness of 10 μm. And it dried for 1 minute at 100 degreeC in the oven which the dry air with a wind speed of 5-20 m / sec hits, and produced the adhesion layer. The adhesive layer was adhered to the transparent substrate (PET) side of the electromagnetic wave shield with a laminate roll having a temperature of 23 ° C. and a linear pressure of 1 kg / cm 2 . Thereafter, the release film was peeled off, and the pressure-sensitive adhesive surface side was laminated on the PDP front panel.

(実施例2)
上記粘着層を、電磁波シールドの平坦化層側に密着させて、PDP前面パネルに積層した以外は、実施例1と同様に行った。
(Example 2)
The same procedure as in Example 1 was performed except that the adhesive layer was adhered to the flattening layer side of the electromagnetic wave shield and laminated on the PDP front panel.

(実施例3)
上記平坦化層の膜厚を、乾燥膜厚20μm(非メッシュ部膜厚)となるように形成した以外は、実施例1と同様に行った。
(Example 3)
The same process as in Example 1 was performed except that the planarizing layer was formed to have a dry film thickness of 20 μm (non-mesh portion film thickness).

(実施例4)
上記平坦化層の膜厚を、乾燥膜厚15μm(非メッシュ部膜厚)となるように形成した以外は、実施例1と同様に行った。
(Example 4)
The same process as in Example 1 was performed except that the planarizing layer was formed to have a dry film thickness of 15 μm (non-mesh film thickness).

(実施例5)
電磁波遮蔽用基板を以下のものとし、平坦化層に赤外線吸収剤を含有させなかった以外は、実施例1と同様に行った。
(Example 5)
The same procedure as in Example 1 was conducted except that the electromagnetic wave shielding substrate was as follows and the planarizing layer did not contain an infrared absorber.

<電磁波遮蔽用基板の作製>
ポリエチレンテレフタレート(東洋紡績製 A4300 厚み100μm)上に、赤外線吸収剤含有接着層として、固形分20wt%に溶剤希釈された透明樹脂アクリル系バインダ(Tg60℃、平均分子量25万、酸価0、水酸基価0)の中に、日本化薬製 IRG−022(ジイモニウム系色素)0.3g/mおよび日本触媒製 IR−1(フタロシアニン系)0.2g/mの2種の赤外線吸収色素を合計0.5g/m混ぜ込みを行った。この赤線吸収色素を混ぜた樹脂バインダをアプリケーターにて、乾燥膜厚20μmとなるように、上記PET上にコーティングし、風速5〜20m/secのドライエアーが当たるオーブンにて100℃で1分間乾燥し接着層を形成した。
その接着層と、片面がクロメート処理により黒化処理されている、銅箔(古川サーキットフォイール製、EXP−WS、厚さ9μm)とを、ドライラミネーション加工にて貼りあわせを行った。この際、ラミロール温度は、透明接着層のTg以上である80℃に設定し、線圧1kg/cmとした。続いて、上記銅箔上にレジストを塗布後、露光および現像を行うことにより、不要な銅箔部分をエッチング除去し、300μm□、線幅10μmの金属メッシュを形成した。なお、この際黒化処理面はPDPパネルが製造された場合、見る側(人間側)になるように設置するため、非貼り合せ面側とした。
<Preparation of electromagnetic shielding substrate>
A transparent resin acrylic binder (Tg 60 ° C., average molecular weight 250,000, acid value 0, hydroxyl value) diluted with polyethylene terephthalate (Toyobo A4300 thickness 100 μm) as an infrared absorber-containing adhesive layer with a solid content of 20 wt%. 0), Nippon Kayaku IRG-022 (diimonium dye) 0.3 g / m 2 and Nippon Shokubai IR-1 (phthalocyanine) 0.2 g / m 2 are combined. 0.5 g / m 2 was mixed. The resin binder mixed with the red ray absorbing dye is coated on the PET so as to have a dry film thickness of 20 μm with an applicator, and is dried at 100 ° C. for 1 minute in an oven that receives dry air with a wind speed of 5 to 20 m / sec. Dried to form an adhesive layer.
The adhesive layer and a copper foil (Furukawa Circuit Foil, EXP-WS, thickness 9 μm) whose one side was blackened by chromate treatment were bonded together by dry lamination. At this time, the lamellar temperature was set to 80 ° C. which is equal to or higher than Tg of the transparent adhesive layer, and the linear pressure was set to 1 kg / cm 2 . Then, after apply | coating a resist on the said copper foil, by exposing and developing, the unnecessary copper foil part was etched away and the metal mesh of 300 micrometers square and line width 10 micrometers was formed. At this time, when the PDP panel is manufactured, the blackened surface is set to be the viewing side (human side), and thus is set to the non-bonding surface side.

(実施例6)
粘着層を以下のものとし、平坦化層に赤外線吸収剤を含有させず、かつ粘着層を、電磁波シールドの平坦化層側に密着させて、PDP前面パネルに積層した以外は、実施例1と同様に行った。
(Example 6)
Example 1 except that the adhesive layer was as follows, the planarizing layer did not contain an infrared absorber, and the adhesive layer was adhered to the planarizing layer side of the electromagnetic wave shield and laminated on the PDP front panel. The same was done.

<粘着層の作製>
離型フィルム上に、粘着層として、アクリル系バインダ(Tg−40℃、平均分子量65万、酸価7、水酸基価0)の中に、日本化薬製 IRG−022(ジイモニウム系色素)0.3g/mおよび日本触媒製 IR−1(フタロシアニン系)0.2g/mの2種の赤外線吸収色素を合計0.5g/m混ぜ込みを行った。この赤線吸収色素を混ぜた樹脂バインダをアプリケーターにて、乾燥膜厚10μmとなるようにコーティングし、風速5〜20m/secのドライエアーが当たるオーブンにて100℃で1分間乾燥し赤外線吸収剤含有粘着層を形成した。
<Preparation of adhesive layer>
IRG-022 (diimonium dye) manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd. in an acrylic binder (Tg-40 ° C., average molecular weight 650,000, acid value 7, hydroxyl value 0) as an adhesive layer on the release film. 3g / m 2 and Japan catalyst made of IR-1 (phthalocyanine) was performed using two types of infrared-absorbing dye of 0.2g / m 2 narrowing mix a total of 0.5g / m 2. The resin binder mixed with the red ray absorbing dye is coated with an applicator so as to have a dry film thickness of 10 μm, and dried at 100 ° C. for 1 minute in an oven in which dry air with a wind speed of 5 to 20 m / sec is applied. A containing adhesive layer was formed.

(実施例7)
平坦化層を透明樹脂アクリル系バインダの代わりに、透明樹脂ウレタン系バインダ(Tg30℃、平均分子量0.5万、酸価25、水酸基価10)を用いた以外は、実施例1と同様に行った。
(Example 7)
The flattening layer was formed in the same manner as in Example 1 except that a transparent resin urethane binder (Tg 30 ° C., average molecular weight 50,000, acid value 25, hydroxyl value 10) was used instead of the transparent resin acrylic binder. It was.

(実施例8)
平坦化層を透明樹脂アクリル系バインダの代わりに、透明樹脂ウレタン系バインダ(Tg50℃、平均分子量0.5万、酸価25、水酸基価10)を用いた以外は、実施例1と同様に行った。
(Example 8)
The flattening layer was formed in the same manner as in Example 1 except that a transparent resin urethane binder (Tg 50 ° C., average molecular weight 50,000, acid value 25, hydroxyl value 10) was used instead of the transparent resin acrylic binder. It was.

(比較例1)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例1と同様に行った。
(Comparative Example 1)
The same operation as in Example 1 was performed except that the flattening was not performed with a mirror roll.

(比較例2)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例2と同様に行った。
(Comparative Example 2)
The same operation as in Example 2 was performed except that the flattening was not performed with a mirror roll.

(比較例3)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例3と同様に行った。
(Comparative Example 3)
The same operation as in Example 3 was performed except that the flattening was not performed with a mirror roll.

(比較例4)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例4と同様に行った。
(Comparative Example 4)
The same operation as in Example 4 was performed except that the flattening was not performed with a mirror roll.

(比較例5)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例5と同様に行った。
(Comparative Example 5)
The same operation as in Example 5 was performed except that the flattening was not performed with a mirror roll.

(比較例6)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例6と同様に行った。
(Comparative Example 6)
The same operation as in Example 6 was performed except that the flattening was not performed with a mirror roll.

(比較例7)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例7と同様に行った。
(Comparative Example 7)
It carried out similarly to Example 7 except not having planarized with the mirror roll.

(比較例8)
ミラーロールで平坦化を行わなかった以外は、実施例8と同様に行った。
(Comparative Example 8)
The same operation as in Example 8 was performed except that the flattening was not performed with a mirror roll.

<評価>
上記実施例1から実施例8、および比較例1から比較例8で得られた電磁波シールドと平坦化層とが積層された光学フィルムの表面粗さ(Rz)、透明性(ヘイズ:濁度)、開口率、視認性、透明性、製造直後の視感透過率および赤外線透過率、60℃90%1000時間後の視感透過率および赤外線透過率について測定した結果を表1および表2に示す。
<Evaluation>
Surface roughness (Rz) and transparency (haze: turbidity) of the optical film obtained by laminating the electromagnetic wave shield and the flattening layer obtained in Examples 1 to 8 and Comparative Examples 1 to 8. Table 1 and Table 2 show the measurement results of the aperture ratio, the visibility, the transparency, the luminous transmittance and the infrared transmittance immediately after production, and the luminous transmittance and the infrared transmittance after 90 hours at 60 ° C. for 90%. .

Figure 2005037806
Figure 2005037806

Figure 2005037806
Figure 2005037806

上記の測定は、以下の各測定条件で行った。
表面粗さ:JIS B0601−1984に従い、表面粗さ計 KASEKA Laboratory社製 SE−3AKにて測定を行った。
透明性:カラーコンピューター SM−C スガ試験機製にてJIS K 7105「プラスチックの光学的特性試験方法」に記載される方法にてヘイズの測定を行った。
開口率:光学顕微鏡を用いて電磁波シールドメッシュ表面の写真を撮影し、その写真の銅メッシュ部と空隙部分の面積を測定し、その面積比率より開口率を算出した。
視認性:目視により確認を行った。
透明性:カラーコンピューター SM−C スガ試験機製にてJIS K 7105「プラスチックの光学的特性試験方法」に記載される方法にてヘイズ(濁度)の測定を行った。
視感透過率:分光光度計 UV−3100(島津製作所)を用いてJIS Z8701 色の表現方法 XYZ表色系及びX10Y10Z10表示系 に記載される測定方法に従って測定し、JIS Z 8722 色の測定方法−反射及び透過物体色 にて算出された、380nm〜780nmの範囲内透過率の測定を行った。
赤外線透過率:分光光度計 UV−3100PC 島津製作所製にてJIS Z 8722「色の測定方法−反射及び透過物体色」に記載される方法にて測定を行った。
The above measurement was performed under the following measurement conditions.
Surface roughness: According to JIS B0601-1984, surface roughness was measured with SE-3AK manufactured by KASEKA Laboratory.
Transparency: Haze was measured by the method described in JIS K 7105 “Testing method for optical properties of plastic” manufactured by Color Computer SM-C Suga Test Instruments.
Aperture ratio: A photograph of the surface of the electromagnetic shielding mesh was taken using an optical microscope, the areas of the copper mesh portion and the void portion of the photograph were measured, and the aperture ratio was calculated from the area ratio.
Visibility: Confirmation was made visually.
Transparency: Haze (turbidity) was measured by the method described in JIS K 7105 “Testing method for optical properties of plastic” manufactured by Color Computer SM-C Suga Test Instruments.
Luminous transmittance: measured using a spectrophotometer UV-3100 (Shimadzu Corporation) according to the measurement method described in JIS Z8701 color expression method XYZ color system and X 10 Y 10 Z 10 display system, and JIS Z 8722 The transmittance in the range of 380 nm to 780 nm calculated by the color measurement method-reflected and transmitted object color was measured.
Infrared transmittance: Spectrophotometer UV-3100PC Measured by Shimadzu Corporation according to the method described in JIS Z 8722 “Measurement method of color—reflection and transmission object color”.

上記で得られた、本発明の実施例1から実施例8における光学フィルムは、透明性(Rz)およびヘイズともに、ミラーロールによる平坦化を行わなかった比較例1から比較例8と比較して低く、平坦性が良好な状態であった。   The optical films in Examples 1 to 8 of the present invention obtained above were compared with Comparative Examples 1 to 8 in which both transparency (Rz) and haze were not flattened with a mirror roll. It was low and the flatness was good.

また、実施例1から実施例8については、電磁波シールドが平坦化された光学フィルムをプラズマディスプレイの表面に直接積層した場合、金属メッシュの平坦化の効果により、電磁波シールドメッシュのエッチングされた断面が乱反射する事もなくプラズマディスプレイの死角に近い斜め方向から見てもギラツキ無く画像を認識する事ができる透視性と良好な電磁波遮蔽性を有していた。   For Example 1 to Example 8, when an optical film with a flattened electromagnetic wave shield is directly laminated on the surface of the plasma display, the etched cross section of the electromagnetic wave shield mesh is caused by the effect of flattening the metal mesh. It had transparency and good electromagnetic wave shielding ability to recognize an image without glare even when viewed from an oblique direction near the blind spot of the plasma display without irregular reflection.

さらに、通常は赤外線吸収層、粘着層等を積層する透明樹脂基材を有する赤外線吸収フィルタを有するが、本発明ではディスプレイに上にコーティングされたできるだけ少ない層構成で、ディスプレイ内部から発生する近赤外線(光)をカット又は吸収し、また、ディスプレイ用パネルから発光する光と、入射してくる外光の内、特に可視光の特定の波長を吸収することができた。これにより、他の機器の誤動作が無く、また、ディスプレイ画面の画像等のコントラストを向上させることにより、良好な視認性が得られた。また、電磁波遮蔽について、銅薄膜からなるメッシュを用いることで、特にエッチング加工に適している上に、電磁波遮蔽効果も高いものとすることができた。さらに、金属薄膜からなるメッシュを黒化処理することによって、外光を吸収する性能が特に高まり、より視認性を高める事ができるものとなった。   In addition, it has an infrared absorption filter having a transparent resin base material on which an infrared absorption layer, an adhesive layer and the like are usually laminated, but in the present invention, the near infrared ray generated from the inside of the display with the smallest possible layer structure coated on the display. (Light) was cut or absorbed, and the light emitted from the display panel and the incident external light, in particular, a specific wavelength of visible light could be absorbed. Thereby, there was no malfunction of other equipment, and good visibility was obtained by improving the contrast of the image on the display screen. In addition, with respect to electromagnetic wave shielding, by using a mesh made of a copper thin film, it was particularly suitable for etching processing, and the electromagnetic wave shielding effect could be enhanced. Furthermore, by blackening the mesh made of a metal thin film, the ability to absorb outside light is particularly enhanced, and the visibility can be further improved.

ここで、上記実施例1から実施例6については、耐湿熱試験60℃90%1000時間を行った後であっても、赤外線吸収性能には、初期状態が維持されて、良好な状態であったが、実施例7および実施例8については、本発明の目的である表面の平坦性は良好であるが、赤外線吸収剤が含有されている平坦化層に用いられる樹脂の酸、および水酸基の影響により、赤外線透過率等が低下することとなった。   Here, with respect to Example 1 to Example 6, even after the wet heat resistance test 60 ° C. and 90% for 1000 hours, the infrared absorption performance was maintained in the initial state and was in a good state. However, for Example 7 and Example 8, the surface flatness, which is the object of the present invention, is good, but the acid and hydroxyl groups of the resin used for the planarization layer containing the infrared absorber are included. Due to the influence, the infrared transmittance and the like were lowered.

本発明の光学フィルタ製造方法の一例を示す工程図である。It is process drawing which shows an example of the optical filter manufacturing method of this invention.

符号の説明Explanation of symbols

1 … 透明基材
2 … 接着層
3 … 金属メッシュ
4 … 電磁波遮蔽用基板
5 … 平坦化層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Transparent base material 2 ... Adhesion layer 3 ... Metal mesh 4 ... Substrate for electromagnetic wave shielding 5 ... Flattening layer

Claims (4)

透明基材と、前記透明基材上に形成された接着層と、前記接着層上に形成された金属メッシュとを有する電磁波遮蔽用基板の前記金属メッシュ上に、少なくとも透明樹脂を含有する平坦化層形成用塗工液を塗布後、硬化させて平坦化層を形成する平坦化層形成工程と、
前記平坦化層を、前記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)以上の温度で加圧することにより、表面を平坦化する平坦化工程と
を有することを特徴とする光学フィルタの製造方法。
Planarization containing at least a transparent resin on the metal mesh of the electromagnetic shielding substrate having a transparent substrate, an adhesive layer formed on the transparent substrate, and a metal mesh formed on the adhesive layer A planarization layer forming step of forming a planarization layer by applying a coating liquid for layer formation and then curing,
A flattening step of flattening the surface by pressurizing the flattening layer at a temperature equal to or higher than the glass transition temperature (Tg) of the transparent resin.
前記透明樹脂のガラス転移点温度(Tg)が30℃〜150℃の範囲内であることを特徴とする請求項1に記載の光学フィルタの製造方法。   2. The method for producing an optical filter according to claim 1, wherein a glass transition temperature (Tg) of the transparent resin is within a range of 30 ° C. to 150 ° C. 3. 前記加圧がミラーロールにより行われることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の光学フィルタの製造方法。   The method of manufacturing an optical filter according to claim 1, wherein the pressurization is performed by a mirror roll. 前記平坦化層中に、赤外線吸収剤が含有されていることを特徴とする請求項1から請求項3までのいずれかの請求項に記載の光学フィルタの製造方法。   The method for producing an optical filter according to any one of claims 1 to 3, wherein an infrared absorber is contained in the planarizing layer.
JP2003276561A 2003-07-18 2003-07-18 Manufacturing method of optical filter Pending JP2005037806A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003276561A JP2005037806A (en) 2003-07-18 2003-07-18 Manufacturing method of optical filter

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003276561A JP2005037806A (en) 2003-07-18 2003-07-18 Manufacturing method of optical filter

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2005037806A true JP2005037806A (en) 2005-02-10

Family

ID=34212847

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003276561A Pending JP2005037806A (en) 2003-07-18 2003-07-18 Manufacturing method of optical filter

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2005037806A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008298886A (en) * 2007-05-29 2008-12-11 Dainippon Printing Co Ltd Pressure-sensitive adhesive composition for optical filter, pressure-sensitive adhesive layer having optical filter function and composite filter

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008298886A (en) * 2007-05-29 2008-12-11 Dainippon Printing Co Ltd Pressure-sensitive adhesive composition for optical filter, pressure-sensitive adhesive layer having optical filter function and composite filter

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW521562B (en) Method of forming electrode section on inner surface of transparent electromagnetic wave shielding plate, and transparent electromagnetic wave shielding plate formed thereby
KR100521911B1 (en) A electromagnetic wave shielding member and a method for manufacturing thereof
EP1176436A1 (en) Electromagnetic wave shielding light transmitting window material and display unit
JP2004140283A (en) Thin electromagnetic wave shield layered product for display and method for manufacturing the same
JP2008147356A (en) Metal blackening treatment method, electromagnetic wave shielding filter, composite filter, and display
JP2007532936A (en) Method for manufacturing front filter for plasma display panel
JP2005084475A (en) Optical filter and display using the same
JP2005514669A (en) Filter for plasma display panel
JP2004333746A (en) Optical filter
JP2007264579A (en) Optical filter for display and plasma display
JP5157218B2 (en) Composite filter for display
JP2007094191A (en) Impact absorbing material for flat display, optical filter for plasma display, plasma display panel, and method of manufacturing impact absorbing material for flat display
JP2004333743A (en) Optical filter
JP2002323860A (en) Optical filter for display and display device and protective plate for display using the same
JP2004333745A (en) Optical filter
JP2006210573A (en) Member for shielding electromagnetic waves
JP2005037806A (en) Manufacturing method of optical filter
JP2006201253A (en) Optical filter and its manufacturing method
JP4867172B2 (en) Electromagnetic wave shielding member
JP2011137978A (en) Optical sheet, method of manufacturing the same, and image display device
JP2007048789A (en) Method of manufacturing composite filter for display
JP2004333742A (en) Optical filter
JP5054466B2 (en) Electromagnetic wave shielding film, method for producing electromagnetic wave shielding film, optical sheet body for display, and display device
JP2000105312A (en) Filter for plasma display panel
JPH1138892A (en) Optical resin panel

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060621

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090717

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090728

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20091124