JP2004511064A - 冷陰極放出用フイルムタイプ陰極及びその製造法 - Google Patents
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims abstract description 13
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 54
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims abstract description 48
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 35
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000000151 deposition Methods 0.000 claims abstract description 22
- VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N methane Chemical compound C VNWKTOKETHGBQD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 20
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims abstract description 16
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims abstract description 16
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 14
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 14
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims abstract description 13
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 10
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000008021 deposition Effects 0.000 claims description 18
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 14
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 11
- 239000002113 nanodiamond Substances 0.000 claims description 11
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 6
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims description 4
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 4
- 239000012190 activator Substances 0.000 claims description 3
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 claims description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 claims description 2
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 claims description 2
- 229910021392 nanocarbon Inorganic materials 0.000 claims 1
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 abstract description 10
- 239000010432 diamond Substances 0.000 abstract description 10
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 abstract description 6
- 239000010439 graphite Substances 0.000 abstract description 6
- 239000002105 nanoparticle Substances 0.000 abstract description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 abstract description 2
- 239000002120 nanofilm Substances 0.000 abstract 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 4
- 230000006911 nucleation Effects 0.000 description 4
- 238000010899 nucleation Methods 0.000 description 4
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 3
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 3
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 3
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 3
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 3
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N Propane Chemical compound CCC ATUOYWHBWRKTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 230000003197 catalytic effect Effects 0.000 description 2
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 2
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000012808 vapor phase Substances 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003213 activating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003481 amorphous carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 1
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 1
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 1
- 125000002534 ethynyl group Chemical group [H]C#C* 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 239000007888 film coating Substances 0.000 description 1
- 238000009501 film coating Methods 0.000 description 1
- 239000011859 microparticle Substances 0.000 description 1
- 239000002159 nanocrystal Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 230000035515 penetration Effects 0.000 description 1
- 229920002120 photoresistant polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000001294 propane Substances 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000007261 regionalization Effects 0.000 description 1
- 238000013341 scale-up Methods 0.000 description 1
- 238000001878 scanning electron micrograph Methods 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000000527 sonication Methods 0.000 description 1
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 1
- 238000010561 standard procedure Methods 0.000 description 1
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 1
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 1
- 230000005641 tunneling Effects 0.000 description 1
- 238000005019 vapor deposition process Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/30—Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
- H01J1/316—Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode having an electric field parallel to the surface, e.g. thin film cathodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J1/00—Details of electrodes, of magnetic control means, of screens, or of the mounting or spacing thereof, common to two or more basic types of discharge tubes or lamps
- H01J1/02—Main electrodes
- H01J1/30—Cold cathodes, e.g. field-emissive cathode
- H01J1/304—Field-emissive cathodes
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C01—INORGANIC CHEMISTRY
- C01B—NON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
- C01B32/00—Carbon; Compounds thereof
- C01B32/05—Preparation or purification of carbon not covered by groups C01B32/15, C01B32/20, C01B32/25, C01B32/30
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/02—Manufacture of electrodes or electrode systems
- H01J9/022—Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes
- H01J9/025—Manufacture of electrodes or electrode systems of cold cathodes of field emission cathodes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J2201/00—Electrodes common to discharge tubes
- H01J2201/30—Cold cathodes
- H01J2201/304—Field emission cathodes
- H01J2201/30446—Field emission cathodes characterised by the emitter material
- H01J2201/30453—Carbon types
- H01J2201/30457—Diamond
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/70—Nanostructure
- Y10S977/788—Of specified organic or carbon-based composition
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/70—Nanostructure
- Y10S977/813—Of specified inorganic semiconductor composition, e.g. periodic table group IV-VI compositions
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/89—Deposition of materials, e.g. coating, cvd, or ald
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
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- Organic Chemistry (AREA)
- Inorganic Chemistry (AREA)
- Cold Cathode And The Manufacture (AREA)
- Cathode-Ray Tubes And Fluorescent Screens For Display (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
- Recrystallisation Techniques (AREA)
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Abstract
本発明は電界エミッター(放出器)用の非常に有効なフイルムの製造に使用できる可能性をもっている。本発明の冷陰極放出用陰極フイルムは表面に不規則構造の炭素フイルムを備えた基材を含んでいる。この炭素フイルムは基材の表面に対して垂直な炭素のミクロ−及びナノサイズの細長い隆起(以後リブと訳出)及び/またはミクロ−及びナノサイズの糸状物を含んでいる。これらのリブ及び/または糸状物は0.1から100μmの分布密度と共に0.01−1μmの特徴的なサイズを持っており,そしてまたその表面厚さが1μmよりずっと薄いダイヤモンドのナノフイルムで被覆されている。この陰極の製造法は引き続いての二層の炭素フイルムの蒸着プロセスを含んでいる。ナノ規模のひっかかりを持つ一層の炭素フイルムの形成は最初に陽極上に配置された基材に0.15−0.5アンペアの直流放電を点火することにより水素及び炭素含有添加剤の混合物中で50−300トルの全圧下,5−15%濃度のエタノールまたは6−30%濃度のメタンの蒸気を使用して600−1,100℃の基材温度で行われる。次いで一層のダイヤモンドナノフイルムが上述の如く形成されたグラファイトフイルム上に蒸着される。
Description
【0001】
(発明の産業上利用の可能性)
二段階蒸着技術の利用は選択的蒸着とアドレス指定の創出のための広い可能性を開くものである。これは核形成段階で,なかんづく,触媒フイルム上に標準的リソグラフィー技術により必要なパターンを形成することにより可能である。我々はこのことをFe,Ni及びCoの例で示した。もう一つの異なる方法は蒸着の第一段階後のパターン形成である。この場合もエミッションを起こす表面の蒸着は第二段階で行われるのでエミッション特性の喪失を恐れることなくフォトレジストを使用できる。
【0002】
(技術分野)
本発明は平面パネルデイスプレイ,電子顕微鏡,超高周波(マイクロ波)エレクトロニクス製品,光源及びその他の一連の用途の開発に利用可能な高性能の電界エミッター用のフイルムの製造の領域に関するものである。
【0003】
(先行技術)
その表面にダイヤモンドフイルム[ダイヤモンドフイルム及び関連材料の応用: 第三回国際会議,1995年,A.フェルドマンその他監修NIST(米国国立標準技術研究所)特別出版885,37頁,61頁]を備えた基材を含む冷陰極放出用のフイルムタイプ陰極は既知である。しかし多結晶ダイヤモンドフイルムベースのフイルム陰極は電子放出中心の密度が低いため非常に有効な電界エミッターではない。
【0004】
本発明で提案する技術的解決に一番近いのは表面に炭素フイルム被覆をもつ基材を含む冷陰極放出用フイルム陰極[“ダイヤモンドベース電界放出(フィールドエミッションタイプフラットパネルディスプレイ)”ソリッドステート技術,1995年,5月,71頁]である。基材上の蒸着被覆は無定形炭素である。
【0005】
冷陰極放出用フイルム陰極のレーザースパッタリング法[“ダイヤモンドベースフィールドエミッションフラットパネルディスプレイ”ソリッドステート技術,1995年,5月,71頁]による製造法は既知である。この方法は強力なレーザー放射によりグラファイト標的(ターゲット)から蒸発した炭素の冷基材上への蒸着プロセスを含んでいる。方法の複雑さ,高価格,スケールアップの可能性に限界のあること,低密度のエミッション中心(20V/μmの電場で1cm2当たり1,000程度)濃度等がこの方法の欠点である。この欠点からこの方法が256グラデーションの輝度をもつフルカラーモニター(ディスプレイ)の製造に不十分なことは明白である。
【0006】
水素気流中での陰極と陽極間の放電ギヤップでの直流グロー放電の点火,基材の蒸着温度までの加熱,水素流への炭素含有ガスの供給及び水素と炭素含有ガス混合物中での炭素の蒸着等のプロセスを含み,過剰グラファイト層を水素気流中での放電で除去する[A.T.ラキーモフ,B.V.セレズネフ,N.V.サーティン,その他.ダイヤモンドフイルム及び関連材料の応用: 第三回国際会議,ゲザースバーグ,メリーランド,米国,1995年,NISТIR5692,NIST特別出版885の付録,11頁]気相合成法による冷陰極放出用のフイルム陰極の製造法が知られている。この方法によりナノダイヤモンドフイルム陰極が得られる。しかしこの方法で得られるダイヤモンドフイルムは成長が遅く,フルカラーディスプレイ用陰極の製造には不十分なエミッション特性しかもたないことがしばしばである。
【0007】
炭素陰極の製造法[ソ連邦発明者証No.966782,MКИ(モスクワ共同研究所),опубл.(発行済み)]が知られている。この方法は水素,炭酸ガス,メタンの15−25/74−83/1−2の混合物からの炭素のフィラメント状結晶の蒸着及び1,200−1,500℃での基材への炭素層の蒸着を含んでいる。しかしこのようにして製造されたフイルムは非常に不均質なエミッション特性と低いエミッション中心濃度を持っている。
(詳細な説明)
現在の各種装置に対する要求としてフラットパネルディスプレイ,電子顕微鏡,光源,超高周波エレクトロニクス製品の製造及びその他一連の用途で高い電子エミッション特性をもち高電場に耐える電子の電界エミッターとして使用可能な冷陰極放出用フイルム陰極の創出が求められている。
【0008】
この課題は冷陰極放出用フイルム陰極がその表面に基材の表面に対して垂直に配向したサイズが0.005−1μmで分布密度が0.1−100/μm2の不規則に分布する炭素のミクロ−及びナノサイズのリブ及び/またはミクロ−及びナノサイズの糸状物の形態の炭素フイルムが蒸着され,更にその上に第二の炭素フイルムが0.1−0.5μm厚さのナノダイヤモンドフイルムとして蒸着された基材として製造されることにより解決される。
【0009】
冷陰極放出用フイルム陰極の製造方法は二層の炭素フイルムの連続的蒸着からなる。すなわち陽極上に配置された基材上への水素と炭素含有化合物の混合物中での直流放電の点火によるナノサイズの先端(チップ)をもつ炭素フイルムの蒸着と成長したグラファイトフイルム上へのナノダイヤモンドフイルムの蒸着である。成長したグラファイトフイルム上へのナノダイヤモンドフイルムの蒸着は同じ直流放電或いはプロセスの活性化剤として熱フィラメントを使用する技術により行われる。
【0010】
第一の段階では放電は0.15−0.5A/cm2の直流電流密度で点火され,蒸着は水素と炭素含有添加剤の混合物中で全圧が50−300トル,特に好ましくは5−15%濃度のエタノールまたは6−30%濃度のメタンの蒸気により600−1,100℃の基材温度で行われる。他の炭化水素類の蒸気も使用可能だが,その場合炭素のモル含有率を維持する必要がある。ガス混合物は全圧を維持して75%まで不活性ガス,特にアルゴンで希釈してもよい。ナノダイヤモンド構造の第二の炭素層の蒸着は直流放電プラズマから炭素含有添加剤の濃度を0.5−4%まで下げる以外は上述と同じプロセスパラメータでまたは金属フィラメント活性化剤の1,800−2,500℃への加熱,基材の600−1,100℃への加熱,水素と濃度が0.5−10%の炭素含有添加剤の混合物中での基材とフィラメントの間に配置されたスクリーンを通しての蒸着プロセスを含む蒸着による気相合成法で実施される。もしエタノール蒸気の濃度が5%以下またはメタン濃度が6%以下で圧力が50トル以下では,核形成速度は低下し,その結果エミッション特性は非常に不均質になる。それ以外にもフイルムのモルホロジーが変化する。エタノール蒸気の濃度が15%以上またはメタン濃度が30%以上で圧力が300トル以上になると放電の安定性が失われる。電流密度が0.5A/cm2以上ではガス及び基材表面の過熱が起こってフイルムのエミッション特性の低下が起こる。電流密度が0.15A/cm2以下ではガス媒体の必要な活性化度が確保されない。基材の温度が600℃以下または1,100℃以上になるとフイルムのモルホロジーが強く変化し,そのエミッション特性が失われる。
【0011】
第二段階では直流放電が4%以上の炭素含有添加剤濃度で使用されると基材表面に1μm以上の粒子を含むエミッションパラメータの非常に低い粒子状炭素フイルムが成長する。0.5%以下の炭素含有添加剤濃度では炭素フイルムの急激な成長速度の低下と第一段階で成長したフイルムのエッチングさえ起こる。
【0012】
第二段階で1,800℃以下での熱フィラメントによる活性化では必要なレベルのガスの活性化は起こらない。しかし2,500℃以上ではフィラメントは急速に破壊される。600℃以下または1,100℃以上の基材の加熱ではグラファイトフイルムまたは許容しがたい程にエミッション特性の低いフイルムが蒸着される。
(発明の好適な実施態様)
直流放電による冷陰極放出用フイルム陰極の製造方法は真空システム及び水素と炭素含有添加剤からなる混合ガスの供給及び制御を確保するためのガス分配システムを備えた部屋で行われる。放電は電力供給システムと接続した二つの電極の間で点火される。基材ホールダーとして陽極が利用され,基材としては400μm厚さのシリコンの平円板が使用される。蒸着に先だって基材は核形成中心の濃度を増加させる目的でダイヤモンド懸濁液で標準的な技術の一つにより処理された。特に我々は20−40分間の超音波処理を利用した。核形成中心を作り出すもう一つの方法はFe,Co,Ni等若干の金属の触媒的性質と関連している。これらの金属は基材に10−100nmの厚さに付着させられる。
【0013】
蒸着は水素とエタノール(5−10%)蒸気の混合ガス中で50−300トルの圧力で行われた。放電電力,特殊ヒーター及び冷却システムにより決定される基材温度は光学高温計により制御され,相当の補正を考慮して700−1,100℃の範囲に保持された。放電電流密度は0.3−0.4A/cm2であった。この条件で炭素フイルムの成長速度は10μm/hr以下であった。基材としては蒸着温度に耐えることができ,炭素に対して高い接着力を示す材料ならどんな材料でも使用可能である。
【0014】
類似のフイルム構造(テキスチャー)が同一プロセスパラメータで6−15%のメタン及び若干の他の炭化水素ガス(アセチレン,プロパン等)を使用しても得られた。
【0015】
蒸着の結果得られるフイルムは自然にかなり優れたエミッション特性をもっているが,その安定性は十分とは言えない。このことはエミッションプロセス中のフイルム表面からのミクロ粒子の離脱による貫通破壊の発生に反映される。
【0016】
フイルムのエミッション及び接着特性を改善する目的で,その表面に第二段階で厚さが0.1−0.5μmのナノダイヤモンドフイルムが蒸着された。この蒸着は同一の直流放電で行われた。そのため(水素ガス中の)炭化水素ガス(我々の場合はメタン)の濃度は電流密度=0.3−0.4A/cm2及び基材温度=850−950℃の場合0.5−2%まで下げられた。
【0017】
ほぼ0.1−0.5μm厚さのナノダイヤモンドフイルムは≪熱フィラメント≫技術によっても蒸着された。そのため第一段階で蒸着された炭素フイルムを備えた基材はガス混合物の熱活性化の可能な反応器に入れられた。蒸着の条件は次の通りであった: 水素とメタンの混合ガスの圧力=15−25トル,メタン濃度=3%,フィラメント温度=2,100−2,250℃,基材温度=800−900℃。炭素フイルムの走査型電子顕微鏡写真は第一段階で蒸着されたフイルムは表面に対して垂直方向に配向したミクロ−及びナノリブの形状の構造であることを示している。蒸着の第二段階後の表面の典型的な写真はエミッションの閾値(限界点)を低下させ,フイルムの耐久性を向上させるナノ結晶で覆われている。
【0018】
エミッションの均一性は励起電子ビームの入射密度に比例する発光団の発光分布で決定された。エミッション電流の分布は十分均一でエミッション中心の密度は目視でそれらを区分できない程であった。
【0019】
走査型トンネル顕微鏡で定量的に測定されたエミッション中心の密度はエミッションディスプレイの製造に十分なほぼ1,000,000/cm2であった。
エミッション電流のボルト−アンペア特性によるとエミッションの閾値は十分低く,電流密度はほぼ10V/μmの電場で500ミリアンペア/cm2以上に達する可能性がある。
【0020】
本発明提案の方法で製造される冷陰極放出用フイルム陰極は高いエミッション特性を持ち,強い電場でも安定で,化学的にも不活性であり,従ってフラットパネルディスプレイ,電子顕微鏡,超高周波エレクトロニクス製品,光源の製造及び一連のその他の応用に利用可能である。
(発明の産業上利用の可能性)
二段階蒸着技術の利用は選択的蒸着とアドレス指定の創出のための広い可能性を開くものである。これは核形成段階で,なかんづく,触媒フイルム上に標準的リソグラフィー技術により必要なパターンを形成することにより可能である。我々はこのことをFe,Ni及びCoの例で示した。もう一つの異なる方法は蒸着の第一段階後のパターン形成である。この場合もエミッションを起こす表面の蒸着は第二段階で行われるのでエミッション特性の喪失を恐れることなくフォトレジストを使用できる。
【0002】
(技術分野)
本発明は平面パネルデイスプレイ,電子顕微鏡,超高周波(マイクロ波)エレクトロニクス製品,光源及びその他の一連の用途の開発に利用可能な高性能の電界エミッター用のフイルムの製造の領域に関するものである。
【0003】
(先行技術)
その表面にダイヤモンドフイルム[ダイヤモンドフイルム及び関連材料の応用: 第三回国際会議,1995年,A.フェルドマンその他監修NIST(米国国立標準技術研究所)特別出版885,37頁,61頁]を備えた基材を含む冷陰極放出用のフイルムタイプ陰極は既知である。しかし多結晶ダイヤモンドフイルムベースのフイルム陰極は電子放出中心の密度が低いため非常に有効な電界エミッターではない。
【0004】
本発明で提案する技術的解決に一番近いのは表面に炭素フイルム被覆をもつ基材を含む冷陰極放出用フイルム陰極[“ダイヤモンドベース電界放出(フィールドエミッションタイプフラットパネルディスプレイ)”ソリッドステート技術,1995年,5月,71頁]である。基材上の蒸着被覆は無定形炭素である。
【0005】
冷陰極放出用フイルム陰極のレーザースパッタリング法[“ダイヤモンドベースフィールドエミッションフラットパネルディスプレイ”ソリッドステート技術,1995年,5月,71頁]による製造法は既知である。この方法は強力なレーザー放射によりグラファイト標的(ターゲット)から蒸発した炭素の冷基材上への蒸着プロセスを含んでいる。方法の複雑さ,高価格,スケールアップの可能性に限界のあること,低密度のエミッション中心(20V/μmの電場で1cm2当たり1,000程度)濃度等がこの方法の欠点である。この欠点からこの方法が256グラデーションの輝度をもつフルカラーモニター(ディスプレイ)の製造に不十分なことは明白である。
【0006】
水素気流中での陰極と陽極間の放電ギヤップでの直流グロー放電の点火,基材の蒸着温度までの加熱,水素流への炭素含有ガスの供給及び水素と炭素含有ガス混合物中での炭素の蒸着等のプロセスを含み,過剰グラファイト層を水素気流中での放電で除去する[A.T.ラキーモフ,B.V.セレズネフ,N.V.サーティン,その他.ダイヤモンドフイルム及び関連材料の応用: 第三回国際会議,ゲザースバーグ,メリーランド,米国,1995年,NISТIR5692,NIST特別出版885の付録,11頁]気相合成法による冷陰極放出用のフイルム陰極の製造法が知られている。この方法によりナノダイヤモンドフイルム陰極が得られる。しかしこの方法で得られるダイヤモンドフイルムは成長が遅く,フルカラーディスプレイ用陰極の製造には不十分なエミッション特性しかもたないことがしばしばである。
【0007】
炭素陰極の製造法[ソ連邦発明者証No.966782,MКИ(モスクワ共同研究所),опубл.(発行済み)]が知られている。この方法は水素,炭酸ガス,メタンの15−25/74−83/1−2の混合物からの炭素のフィラメント状結晶の蒸着及び1,200−1,500℃での基材への炭素層の蒸着を含んでいる。しかしこのようにして製造されたフイルムは非常に不均質なエミッション特性と低いエミッション中心濃度を持っている。
(詳細な説明)
現在の各種装置に対する要求としてフラットパネルディスプレイ,電子顕微鏡,光源,超高周波エレクトロニクス製品の製造及びその他一連の用途で高い電子エミッション特性をもち高電場に耐える電子の電界エミッターとして使用可能な冷陰極放出用フイルム陰極の創出が求められている。
【0008】
この課題は冷陰極放出用フイルム陰極がその表面に基材の表面に対して垂直に配向したサイズが0.005−1μmで分布密度が0.1−100/μm2の不規則に分布する炭素のミクロ−及びナノサイズのリブ及び/またはミクロ−及びナノサイズの糸状物の形態の炭素フイルムが蒸着され,更にその上に第二の炭素フイルムが0.1−0.5μm厚さのナノダイヤモンドフイルムとして蒸着された基材として製造されることにより解決される。
【0009】
冷陰極放出用フイルム陰極の製造方法は二層の炭素フイルムの連続的蒸着からなる。すなわち陽極上に配置された基材上への水素と炭素含有化合物の混合物中での直流放電の点火によるナノサイズの先端(チップ)をもつ炭素フイルムの蒸着と成長したグラファイトフイルム上へのナノダイヤモンドフイルムの蒸着である。成長したグラファイトフイルム上へのナノダイヤモンドフイルムの蒸着は同じ直流放電或いはプロセスの活性化剤として熱フィラメントを使用する技術により行われる。
【0010】
第一の段階では放電は0.15−0.5A/cm2の直流電流密度で点火され,蒸着は水素と炭素含有添加剤の混合物中で全圧が50−300トル,特に好ましくは5−15%濃度のエタノールまたは6−30%濃度のメタンの蒸気により600−1,100℃の基材温度で行われる。他の炭化水素類の蒸気も使用可能だが,その場合炭素のモル含有率を維持する必要がある。ガス混合物は全圧を維持して75%まで不活性ガス,特にアルゴンで希釈してもよい。ナノダイヤモンド構造の第二の炭素層の蒸着は直流放電プラズマから炭素含有添加剤の濃度を0.5−4%まで下げる以外は上述と同じプロセスパラメータでまたは金属フィラメント活性化剤の1,800−2,500℃への加熱,基材の600−1,100℃への加熱,水素と濃度が0.5−10%の炭素含有添加剤の混合物中での基材とフィラメントの間に配置されたスクリーンを通しての蒸着プロセスを含む蒸着による気相合成法で実施される。もしエタノール蒸気の濃度が5%以下またはメタン濃度が6%以下で圧力が50トル以下では,核形成速度は低下し,その結果エミッション特性は非常に不均質になる。それ以外にもフイルムのモルホロジーが変化する。エタノール蒸気の濃度が15%以上またはメタン濃度が30%以上で圧力が300トル以上になると放電の安定性が失われる。電流密度が0.5A/cm2以上ではガス及び基材表面の過熱が起こってフイルムのエミッション特性の低下が起こる。電流密度が0.15A/cm2以下ではガス媒体の必要な活性化度が確保されない。基材の温度が600℃以下または1,100℃以上になるとフイルムのモルホロジーが強く変化し,そのエミッション特性が失われる。
【0011】
第二段階では直流放電が4%以上の炭素含有添加剤濃度で使用されると基材表面に1μm以上の粒子を含むエミッションパラメータの非常に低い粒子状炭素フイルムが成長する。0.5%以下の炭素含有添加剤濃度では炭素フイルムの急激な成長速度の低下と第一段階で成長したフイルムのエッチングさえ起こる。
【0012】
第二段階で1,800℃以下での熱フィラメントによる活性化では必要なレベルのガスの活性化は起こらない。しかし2,500℃以上ではフィラメントは急速に破壊される。600℃以下または1,100℃以上の基材の加熱ではグラファイトフイルムまたは許容しがたい程にエミッション特性の低いフイルムが蒸着される。
(発明の好適な実施態様)
直流放電による冷陰極放出用フイルム陰極の製造方法は真空システム及び水素と炭素含有添加剤からなる混合ガスの供給及び制御を確保するためのガス分配システムを備えた部屋で行われる。放電は電力供給システムと接続した二つの電極の間で点火される。基材ホールダーとして陽極が利用され,基材としては400μm厚さのシリコンの平円板が使用される。蒸着に先だって基材は核形成中心の濃度を増加させる目的でダイヤモンド懸濁液で標準的な技術の一つにより処理された。特に我々は20−40分間の超音波処理を利用した。核形成中心を作り出すもう一つの方法はFe,Co,Ni等若干の金属の触媒的性質と関連している。これらの金属は基材に10−100nmの厚さに付着させられる。
【0013】
蒸着は水素とエタノール(5−10%)蒸気の混合ガス中で50−300トルの圧力で行われた。放電電力,特殊ヒーター及び冷却システムにより決定される基材温度は光学高温計により制御され,相当の補正を考慮して700−1,100℃の範囲に保持された。放電電流密度は0.3−0.4A/cm2であった。この条件で炭素フイルムの成長速度は10μm/hr以下であった。基材としては蒸着温度に耐えることができ,炭素に対して高い接着力を示す材料ならどんな材料でも使用可能である。
【0014】
類似のフイルム構造(テキスチャー)が同一プロセスパラメータで6−15%のメタン及び若干の他の炭化水素ガス(アセチレン,プロパン等)を使用しても得られた。
【0015】
蒸着の結果得られるフイルムは自然にかなり優れたエミッション特性をもっているが,その安定性は十分とは言えない。このことはエミッションプロセス中のフイルム表面からのミクロ粒子の離脱による貫通破壊の発生に反映される。
【0016】
フイルムのエミッション及び接着特性を改善する目的で,その表面に第二段階で厚さが0.1−0.5μmのナノダイヤモンドフイルムが蒸着された。この蒸着は同一の直流放電で行われた。そのため(水素ガス中の)炭化水素ガス(我々の場合はメタン)の濃度は電流密度=0.3−0.4A/cm2及び基材温度=850−950℃の場合0.5−2%まで下げられた。
【0017】
ほぼ0.1−0.5μm厚さのナノダイヤモンドフイルムは≪熱フィラメント≫技術によっても蒸着された。そのため第一段階で蒸着された炭素フイルムを備えた基材はガス混合物の熱活性化の可能な反応器に入れられた。蒸着の条件は次の通りであった: 水素とメタンの混合ガスの圧力=15−25トル,メタン濃度=3%,フィラメント温度=2,100−2,250℃,基材温度=800−900℃。炭素フイルムの走査型電子顕微鏡写真は第一段階で蒸着されたフイルムは表面に対して垂直方向に配向したミクロ−及びナノリブの形状の構造であることを示している。蒸着の第二段階後の表面の典型的な写真はエミッションの閾値(限界点)を低下させ,フイルムの耐久性を向上させるナノ結晶で覆われている。
【0018】
エミッションの均一性は励起電子ビームの入射密度に比例する発光団の発光分布で決定された。エミッション電流の分布は十分均一でエミッション中心の密度は目視でそれらを区分できない程であった。
【0019】
走査型トンネル顕微鏡で定量的に測定されたエミッション中心の密度はエミッションディスプレイの製造に十分なほぼ1,000,000/cm2であった。
エミッション電流のボルト−アンペア特性によるとエミッションの閾値は十分低く,電流密度はほぼ10V/μmの電場で500ミリアンペア/cm2以上に達する可能性がある。
【0020】
本発明提案の方法で製造される冷陰極放出用フイルム陰極は高いエミッション特性を持ち,強い電場でも安定で,化学的にも不活性であり,従ってフラットパネルディスプレイ,電子顕微鏡,超高周波エレクトロニクス製品,光源の製造及び一連のその他の応用に利用可能である。
Claims (7)
- その表面に炭素フイルムを備えた基材を含む冷陰極放出用フイルム陰極であって,さらに追加して第一の炭素フイルム上に被覆された第二の炭素フイルムを含み,その場合第一の炭素フイルムは不規則に配置された基材表面に対して垂直方向に配向した特徴的なサイズが0.005−1μmで分布密度が0.1−100/μm2の炭素のミクロ−及びナノ−のリブ及び/またはミクロ−及びナノ−の糸状物からなる構造に形成されており,第二の炭素フイルムは厚さが0.1−0.5μmのナノダイヤモンドフイルムとして形成されていることを特徴とする冷陰極放出用フイルムタイプ陰極。
- 陽極上に配置された基材上に水素と炭素含有化合物添加剤の混合物中で直流放電による蒸着法で炭素フイルムを被覆するプロセスを含む冷陰極放出用フイルム陰極の製造方法であって、炭素フイルムの蒸着が全圧で50−300トル及び基材上の温度が600−1,100℃で、水素と炭素含有添加剤の混合物中,直流電流密度が0.15−0.5A/cm2の放電プラズマから形成され,この第一の炭素フイルムの上に第二の炭素フイルムがナノダイヤモンド層として形成されることを特徴とする方法。
- 炭素含有添加剤として5−15%濃度でエタノール蒸気を使用することを特徴とする請求項2の方法。
- 炭素含有添加剤として6−30%濃度でメタンを使用する請求項2の方法。
- ナノダイヤモンド層の被覆が水素と0.5−4%の炭素含有添加剤の混合物中で,全圧が50−300トル及び基材温度が600−1,100℃で直流電流密度が0.15−0.5A/cm2の直流放電プラズマからの蒸着法により形成されることを特徴とする請求項2の方法。
- 蒸着が全圧を維持して75%までの不活性ガスを含むガス混合物中で行われることを特徴とする請求項2−5の方法。
- ナノダイヤモンド層の被覆が金属フィラメント活性化剤の1,800−2,500℃までの加熱,基材の600−1100℃までの加熱及びフィラメントと基材の間に配設されたスクリーンを通して水素と0.5−10%の炭素含有添加剤の混合物中での蒸着を含む気相合成法により行われることを特徴とする請求項2の方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
RU98109664/09A RU2194328C2 (ru) | 1998-05-19 | 1998-05-19 | Холодноэмиссионный пленочный катод и способ его получения |
PCT/RU1999/000166 WO1999060597A1 (fr) | 1998-05-19 | 1999-05-19 | Cathode de type film a emission froide et procede de fabrication |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004511064A true JP2004511064A (ja) | 2004-04-08 |
Family
ID=20206288
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000550126A Pending JP2004511064A (ja) | 1998-05-19 | 1999-05-19 | 冷陰極放出用フイルムタイプ陰極及びその製造法 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6577045B1 (ja) |
EP (1) | EP1081734A4 (ja) |
JP (1) | JP2004511064A (ja) |
KR (1) | KR100622435B1 (ja) |
AU (1) | AU3963399A (ja) |
RU (1) | RU2194328C2 (ja) |
WO (1) | WO1999060597A1 (ja) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2161838C2 (ru) * | 1997-06-24 | 2001-01-10 | Тарис Технолоджис, Инк. | Холодноэмиссионный пленочный катод и способы его получения |
KR100615103B1 (ko) | 2000-02-16 | 2006-08-25 | 풀러린 인터내셔날 코포레이션 | 나노튜브, 상기 나노튜브를 구비한 전계 방출 음극과 음극선관 및 이들을 형성하기 위한 방법 |
US6815877B2 (en) * | 2002-07-11 | 2004-11-09 | Hon Hai Precision Ind. Co., Ltd. | Field emission display device with gradient distribution of electrical resistivity |
JP2004107118A (ja) * | 2002-09-17 | 2004-04-08 | Ulvac Japan Ltd | グラファイトナノファイバの作製方法、電子放出源及び表示素子 |
CA2553597A1 (en) * | 2003-07-11 | 2005-01-20 | Tetranova Ltd. | Cold cathodes made of carbon materials |
US7913719B2 (en) | 2006-01-30 | 2011-03-29 | Cooligy Inc. | Tape-wrapped multilayer tubing and methods for making the same |
US20070227698A1 (en) * | 2006-03-30 | 2007-10-04 | Conway Bruce R | Integrated fluid pump and radiator reservoir |
JP2009532868A (ja) | 2006-03-30 | 2009-09-10 | クーリギー インコーポレイテッド | 冷却装置及び冷却装置製造方法 |
JP2009263208A (ja) * | 2008-03-03 | 2009-11-12 | Sumitomo Chemical Co Ltd | ナノダイヤモンド膜 |
RU2524353C2 (ru) * | 2012-07-04 | 2014-07-27 | Общество с ограниченной ответственностью "Высокие технологии" | Трехмерно-структурированная полупроводниковая подложка для автоэмиссионного катода, способ ее получения и автоэмиссионный катод |
RU2537487C2 (ru) * | 2012-12-05 | 2015-01-10 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов" (ФГБНУ ТИСНУМ) | Способ получения материала на основе углеродных нанотрубок |
RU2581835C1 (ru) * | 2014-12-12 | 2016-04-20 | Открытое акционерное общество "Научно-производственное предприятие "Радий" | Управляемый эмитирующий узел электронных приборов с автоэлектронной эмиссией и рентгеновская трубка с таким эмитирующим узлом |
RU2640355C2 (ru) * | 2016-04-18 | 2017-12-28 | Общество с ограниченной ответственностью "Штерн" (ООО "Штерн") | Способ изготовления катода на основе массива автоэмиссионных эмиттеров |
US9805900B1 (en) | 2016-05-04 | 2017-10-31 | Lockheed Martin Corporation | Two-dimensional graphene cold cathode, anode, and grid |
US12098472B2 (en) | 2021-01-18 | 2024-09-24 | Eagle Technology, Llc | Nanodiamond article having a high concentration nanodiamond film and associated method of making |
US12012666B2 (en) | 2021-01-18 | 2024-06-18 | Eagle Technology, Llc | Nanodiamond article and associated methods of fabrication |
RU2763046C1 (ru) * | 2021-02-15 | 2021-12-27 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" | Автоэмиссионный эмиттер с нанокристаллической алмазной пленкой |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
SU71326A3 (ru) * | 1939-11-28 | 1947-11-30 | Главное управление электрослаботочной промышленности | Способ покрыти металлов слоем графита и угл |
SU966782A1 (ru) * | 1979-11-05 | 1982-10-15 | Предприятие П/Я М-5912 | Способ изготовлени многоострийного автокатода |
DE3205746A1 (de) * | 1982-02-18 | 1983-08-25 | Philips Patentverwaltung Gmbh, 2000 Hamburg | Thermionische kathode und verfahren zu ihrer herstellung |
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RU2161838C2 (ru) * | 1997-06-24 | 2001-01-10 | Тарис Технолоджис, Инк. | Холодноэмиссионный пленочный катод и способы его получения |
-
1998
- 1998-05-19 RU RU98109664/09A patent/RU2194328C2/ru active IP Right Revival
-
1999
- 1999-05-19 JP JP2000550126A patent/JP2004511064A/ja active Pending
- 1999-05-19 AU AU39633/99A patent/AU3963399A/en not_active Abandoned
- 1999-05-19 WO PCT/RU1999/000166 patent/WO1999060597A1/ru active IP Right Grant
- 1999-05-19 KR KR1020007012840A patent/KR100622435B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1999-05-19 EP EP99922692A patent/EP1081734A4/en not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-01-19 US US09/700,694 patent/US6577045B1/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6577045B1 (en) | 2003-06-10 |
RU2194328C2 (ru) | 2002-12-10 |
EP1081734A4 (en) | 2003-07-09 |
AU3963399A (en) | 1999-12-06 |
WO1999060597A1 (fr) | 1999-11-25 |
KR20010071272A (ko) | 2001-07-28 |
KR100622435B1 (ko) | 2006-09-11 |
WO1999060597A9 (fr) | 2000-02-24 |
EP1081734A1 (en) | 2001-03-07 |
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A621 | Written request for application examination |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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