Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

JP2004340809A - フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置 - Google Patents

フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置 Download PDF

Info

Publication number
JP2004340809A
JP2004340809A JP2003138998A JP2003138998A JP2004340809A JP 2004340809 A JP2004340809 A JP 2004340809A JP 2003138998 A JP2003138998 A JP 2003138998A JP 2003138998 A JP2003138998 A JP 2003138998A JP 2004340809 A JP2004340809 A JP 2004340809A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultrasonic
array probe
phased array
probe
transducers
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003138998A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiichi Kawanami
精一 川浪
Masaaki Kurokawa
政秋 黒川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP2003138998A priority Critical patent/JP2004340809A/ja
Publication of JP2004340809A publication Critical patent/JP2004340809A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Transducers For Ultrasonic Waves (AREA)

Abstract

【課題】本発明は、構造が簡単でしかも超音波ビームを高い集束率で且つポイントフォーカスで集束させることができ、さらに、その超音波集束位置をスキャニングすることができるフェーズドアレイプローブ及び該フェーズドアレイプローブを用いた高い探傷効果を得ることができる超音波探傷装置を提供することができる
【解決手段】複数の振動子1を有するフェーズドアレイプローブであって、各振動子1は長手方向に所定の曲率(曲率半径r1)で湾曲しており、複数振動子1の湾曲方向と異なる方向に湾曲する曲面状の配列で配置されているフェーズドアレイプローブB
【選択図】 図4

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、超音波を発信するフェーズドアレイプローブ及びそれを用いて部材内部の欠陥を検出する超音波探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、物体内部又はアクセスできない物体内面の傷やき裂等の欠陥を調査するのに超音波探傷法(Ultrasonic Testing:UT)がよく用いられている。超音波探傷法は、超音波探傷装置にて物体の表面から超音波を被検体の内部又は被検体内面に向けて超音波を照射し、反射してきた超音波を解析することで大きさ、種類、位置等の欠陥の状態を判断する方法である。
【0003】
前記超音波探傷装置は、プローブ(探触子)内の振動子にパルス電圧を印加して超音波を発生させ、この超音波を前述のとおり被検体内部又は内面に一定の角度で入射させ、この反射波をプローブで受信し、受信した信号を解析するものである。ここで振動子は、電圧を印加することで振動する圧電素子である。
【0004】
前記超音波探傷装置は前記探触子内で振動子を複数並べたフェーズドアレイプローブとして用いられることが多い。前記フェーズドアレイプローブには、長方形状の振動子を横に並べて配置したリニアアレイプローブ、円形又は中心部に孔を有するリング型の振動子を同心円上に配置するアニュラアレイプローブ、振動子を縦横に格子状に配置するマトリクスアレイプローブ等の種類がある。
【0005】
図11にリニアアレイプローブの概略配置図を示す。
図11に示すように、リニアアレイプローブ7は電圧をかけると振動し超音波を発生する振動子71を一列に多数配列し、プローブを形成しているものである。
【0006】
リニアアレイプローブ71は、超音波の送信時にこれら振動子を選択的に励振するか、各振動子の励振タイミングの制御により、超音波の波面を合成することができる。すなわち、左から順に所定の遅延時間で振動子を励振してやれば、各振動子から放射された超音波の波面は互いに干渉しあって、遅延時間に応じた斜めの方向に進む超音波ビームが合成される。また両サイドの振動子から励振させれば、波面は凹状となり任意の位置で集束する超音波ビームが合成される。
【0007】
この超音波ビームの送信方向および集束位置72は、遅延時間の設定を変更することで任意にコントロールでき、リニアアレイプローブ7はさまざまな角度を有する斜角プローブとして、さらに種々の焦点距離を有するリニアアレイプローブとして動作する。また、超音波ビームの送信方向及び集束位置を時間と共に変化させることで超音波ビームをスキャニングさせることが可能である。
【0008】
また、振動子71から発信される超音波は振動子71の超音波発信面から伸びる線(主ビーム方向)が最も強い超音波を送信できる位置であり、前記主ビーム方向が超音波集束位置72に向くように、複数の振動子を円弧状に配置してもよい。振動子71を円弧状に配置することで各振動子71の主ビーム方向が超音波集束位置72の方を向いているので、超音波集束位置72により強い超音波を照射することができる。
【0009】
図12にアニュラアレイプローブの概略配置図を示す。
図12に示すアニュラアレイプローブ8は軸8sを中心軸として円形の振動子81を有し、その周りを同心円状に取り囲む複数のリング型の振動子82が配置されているものである。
【0010】
アニュラアレイプローブ8は、振動子81、82のうち外周側から内側に向けて超音波を発信するタイミングをずらすことで、軸8s上の任意の集束位置(たとえば点83)に超音波ビームを集束させることが可能である。
【0011】
また、リニアアレイプローブ7は振動子71の配列方向のみに超音波ビームを集束できる、換言すれば、振動子71の長手方向には超音波ビームを集束することができない、いわゆる、ラインフォーカスであるのに対し、アニュラアレイプローブ8は円周から集束するので超音波ビームを1点に集束する、いわゆる、ポイントフォーカスである。ポイントフォーカスはラインフォーカスに比べて超音波集束位置に対しより強い超音波ビームを送信することが可能である。
【0012】
図13に示すリニアアレイプローブ7’のように、リニアアレイプローブ7’の超音波送信部の前に音響レンズ73を装着して、振動子71の長手方向に超音波を集束させ、振動子71の動作タイミングと音響レンズ73とを用いることでリニアアレイプローブをポイントフォーカスにするものが提案されている。
【0013】
図14にマトリクスアレイプローブの概略配置図を示す。
図14に示すマトリクスアレイプローブ9は、複数の振動子9を格子状に配置した形状を有している。振動子9を格子状に配置することで、超音波を縦方向9x及び横方向9y両方向に集束することが可能である。つまり、超音波集束位置92はポイントフォーカスとなる。また、縦方向9x横方向9yいずれにもスキャニング可能であると共に、それらを合成した方向にもスキャニング可能である。
【0014】
図15に従来のTOFD(Time of Flight Diffraction)法を示す概略配置図を示す。
図15に示す超音波探傷装置UT5は、送信側プローブPB1と超音波を受信する受信側プローブPB2を有しており、送信側プローブPB1と受信側プローブPB2は互いに被検体TB内部の欠陥Keを挟んだ両側に取り付けられている。送信側プローブPB1は所定の位置から被検体TBの内部に向けて超音波を送信する。また、受信側プローブPB2は送信側プローブPB1から送信され被検体TBの内部を伝播してきた超音波を受信する。送信側プローブPB1及び受信側プローブPB2はリニアアレイプローブ7である。
【0015】
図16に、このときの受信波を縦軸に振幅、横軸に時間としたグラフを示す。図16に示すように受信側プローブPB2にて受信される超音波は被検体TBの表面を伝播した表面波W1、被検体TBの底面で反射してきた反射波W2、被検体内部の欠陥の上端部で回折する回折波W3、下端部で回折する回折波W4の大きく分けて4種類の異なる振幅を有する超音波が受信される。また、送信側プローブPB1をスキャニングさせることでより高い探傷効果が得られる。
【0016】
【特許文献1】
特開平11−160294号公報
【0017】
【特許文献2】
特開2001‐228126号公報
【0018】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、リニアアレイプローブ7の場合、上述のように振動子71の配列方向には超音波を集束させたり、スキャニングさせたりすることも可能であるが、それ以外の方向には集束したり、スキャニングさせたりすることはできない。また、ラインフォーカスであり、超音波集束位置に集束しても探傷の精度を上げることが困難である。
【0019】
アニュラアレイプローブ8は中心軸8sの上であれば任意の場所にポイントフォーカスにて超音波ビームを集束させることが可能であるが、中心軸8sから外れた位置に前記超音波ビームを集束させることはできないし、アニュラアレイプローブ8自体を動かさない限り軸8s方向以外に超音波集束位置を移動させることはできない。
【0020】
マトリクスアレイプローブ9の場合、リニアアレイプローブ7、アニュラアレイプローブ8の弱点を補っており、超音波ビームの集束位置の選択範囲やスキャニングの方向が配列方向であったり、中心軸に限定されることなく、ポイントフォーカスで超音波の届く範囲に広く設定することができる。しかしながら、マトリクスアレイプローブの場合、縦方向及び横方向に振動子を配置しているので振動子の個数がリニアアレイプローブやアニュラアレイプローブに比べて非常に多くなり、その結果、構造が複雑で、制御が難しくなる。
【0021】
また、音響レンズ73を取り付けたリニアアレイプローブ7’の場合、マトリクスアレイプローブ9よりも構造簡単であるが、音響レンズ73の性能に左右されてしまう。
【0022】
またリニアアレイプローブ7を用いて、TOFD法にて、超音波探傷を行う場合、超音波ビームの集束位置がラインフォーカスとなるので、回折波の信号レベルが低くなりがちである。
【0023】
このような問題を鑑みて、本発明は構造が簡単でしかも超音波ビームを高い集束率で且つポイントフォーカスで集束させることができ、さらに、その超音波集束位置をスキャニングすることができるフェーズドアレイプローブを提供することを目的とする。
【0024】
また本発明は、構造が簡単で高い探傷効果を得ることができる超音波探傷装置を提供することを目的とする。
【0025】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、複数の振動子を有するフェーズドアレイプローブであって、前記各振動子は長手方向に所定の曲率で湾曲しており、該湾曲方向と直行する方向に直線状の配列で配置されていることを特徴とするフェーズドアレイプローブを提供する。
【0026】
この構成によると、振動子単体で該振動子の長手方向、更に言えば、曲率中心に超音波ビームを集束させることができる。それとともに、曲率中心に超音波ビームを集束させることができる前記振動子を直線状に複数並べて配置しており、各振動子の超音波送信タイミングを制御することで該振動子の配列方向にも超音波ビームを集束させることができ、その結果、振動子を線形に並べるリニアアレイ構造であるにもかかわらず、ポイントフォーカスとすることができる。それだけ、構造が簡単で高い超音波ビームの集束効率を得ることができる。
【0027】
また、前記各振動子の超音波送信タイミングを制御することで超音波ビームの超音波集束位置を振動子の配列方向に振ることができるので、ポイントフォーカスでスキャニングすることが可能であり、それだけ、広い範囲に超音波ビームの送受信が可能である。また、超音波集束位置を移動させることができるので、超音波を物体の内部に送信するときの屈折角を任意に設定することができる。
【0028】
また上記目的を達成するために、本発明は、複数の振動子を有するフェーズドアレイプローブであって、前記各振動子は長手方向に所定の曲率で湾曲しており、前記複数の振動子の長手方向と直行する方向に湾曲する曲面状の配列で配置されていることを特徴とするフェーズドアレイプローブを提供する。
【0029】
この構成によると、振動子単体で該振動子の長手方向、更に言えば、曲率中心に超音波ビームを集束させることができる。それと共に、各振動子は所定の曲面上に配置されているため、予め定めた1点又はその点の周りに集束されており、各振動子の動作タイミングを制御することでより高い集束効果を期待できる。各振動子の超音波ビームの主ビーム方向が前記1点又は略1点に向いているので、拡散の少ない高い集束効率を上げることが可能である。またそれだけ、強い超音波ビームを送信することが可能である。またそれだけ、構造が簡単で高い超音波ビームの集束効率を得ることができる。
【0030】
また、前記各振動子の超音波送信タイミングを制御することで超音波ビームの超音波集束位置を振動子の配列方向に振ることができるので、ポイントフォーカスでスキャニングすることが可能であり、それだけ、広い範囲に超音波ビームの送受信が可能である。また、超音波集束位置を移動させることができるので、超音波を物体の内部に送信するときの屈折角を任意に設定することができる。
【0031】
上述の構成において振動子を配列する曲面が球形状であってもよい。この場合、各振動子から送信される超音波ビームは常に曲率中心に集束される。
【0032】
また上記構成の複数の振動子において、長手方向の曲率が全て同じであるものを例示することができる。
【0033】
この構成によると、各振動子の曲率が全て同じであるので、製造しやすく、それだけ、製造に要する時間及びコストを削減することが可能である。
【0034】
また上記構成の複数の振動子において、少なくとも一つは長手方向の曲率が他の振動子とは異なるものを例示できる。
【0035】
この構成によると、ポイントフォーカスのフェーズドアレイプローブの各振動子から超音波集束位置までの距離が一様でない場合、超音波集束位置までの距離を考えて曲率を設定することで超音波ビームの集束効率を高めることが可能である。
【0036】
さらに上記構成の前記振動子は、長手方向の曲率を任意に変更することが可能なものを例示することができる。
【0037】
この構成によると、超音波ビームの超音波集束位置までの距離とプローブまでの距離を任意に設定することができる。
【0038】
また本発明は上記目的を達成するために、複数の湾曲した振動子を配置したフェーズドアレイプローブを用いて斜角探傷を行う超音波探傷装置を提供する。
【0039】
この構成によると、ポイントフォーカスであることより、信号レベルの小さい端部の反射波の検出性(SN比)を高めることができる。また、スキャニングできることより、被検体の深さ方向への適用可能範囲を広く取ることが可能である。また、フェーズドアレイプローブが屈折角を任意に変えることができるため、あらゆる被検体に広く対応可能である。
【0040】
また上記構成を達成するために、本発明は、複数の湾曲した振動子を配置したフェーズドアレイプローブを送信側超音波探触子及び受信側超音波探触子とし、送信側超音波探触子の各振動子が出力する超音波の送出タイミングを順次遅延させることで送信側超音波探触子から送出する超音波ビームを集束させると共にスキャニングさせることを特徴とする超音波探傷装置を提供する。
【0041】
この構成によると、フェーズドアレイプローブはポイントフォーカスであり、欠陥端部での回折波の信号レベル(SN比)の向上を図れると共に、スキャニングが可能であることより深さ方向の欠陥の検出にも広く対応可能である。また、従来のTOFD法に比べて集束性に優れているので、この点でも回折波のSN比の向上を図ることが可能である。
【0042】
【発明の実施の形態】
本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【0043】
(実施例1)
図1に本発明にかかるフェーズドアレイプローブの概略斜視図を、図2に図1に示すフェーズドアレイプローブの側面図を、図3に図1にしめすフェーズドアレイプローブの断面図を示す。
【0044】
図1に示すフェーズドアレイプローブAは、それには限らないがここでは、12個の振動子1を直線状に配置したリニアフェーズドアレイ構造を有している。
振動子1は、曲率半径r1の曲率を有する湾曲形状を有しており、電極11、12の間に振動素子13を配置した構造を有している(図2及び図3参照)。
振動素子13は、電極11、12の間に所定の電圧が印加されると微小変形する圧電素子である。
また、図2見ればわかるように、振動子1が曲率を有する形状で形成されているため、振動子1より発信された超音波は曲率の中心P1にて集束される。
【0045】
図3に示すように、フェーズドアレイプローブAはリニアアレイ構造を有しており、例えば、左側の振動子から順に右側の振動子へ所定の遅延時間を置いて駆動することで、各振動子1から発信された超音波の波面は互いに干渉しあって、遅延時間に応じた右側向けの超音波ビームを発信することが可能である。超音波ビームの方向は遅延時間を制御することで決定することが可能である。
【0046】
また、左右両方の外側から順次所定の遅延時間をあけて内側の振動子を駆動することで、超音波ビームを1点PS1に集束させることができる。超音波ビームの超音波集束位置PS1とプローブAとの距離は、遅延時間を変化させることで短くしたり、長くしたりすることが可能である。
【0047】
また、上記の超音波ビームの発信方向を傾ける方法と、超音波ビームを集束させる方法をうまく組み合わせることで、超音波ビームの超音波集束位置PS1をフェーズドアレイプローブAの中心線から外れた位置に設定することが可能である。さらに、ビームの超音波集束位置を所定時間で移動させることで超音波ビームを照射する位置を振るいわゆるスキャニングが可能である(図3参照)。
【0048】
フェーズドアレイプローブAの場合、振動子1単体で超音波を発信した場合でも曲率中心P1に集束するが、その集束は振動子1の長手方向の集束である。また、フェーズドアレイプローブAは、この振動子1を線形に並べてリニアアレイ構造としているので、振動子1の並び方向にも超音波ビームを集束させることが可能である。長手方向の超音波集束位置は振動子の形状で決定されるが、振動子並び方向の超音波集束位置は各振動子の駆動の遅延時間を制御することで調整可能であり、振動子長手方向の超音波集束位置と重なるように該遅延時間を制御してやることで、超音波集束位置が点になるポイントフォーカスが可能である。また、ポイントフォーカスでスキャニングすることが可能である。また、振動子1の曲率は超音波ビームを送信する対象物、対象深さ等を考慮して変えればよい。
【0049】
本実施例では、各振動子1は全て同じ曲率(曲率半径r1)の湾曲を有するもので説明したが、それに限定されるものではなく、振動子の配置場所によって曲率を個別に設定しているもの等、異なる曲率を有する振動子を配置してフェーズドアレイプローブとしてもよい。
【0050】
また、振動子として柔軟性を有しており、曲率を任意に変化させることができるものを用いてもよい。
【0051】
(実施例2)
図4に本発明にかかる他の例のフェーズドアレイプローブの斜視図を示す。また、図5に図4に示すフェーズドアレイプローブの横断面図を示す。
図5に示すフェーズドアレイプローブBは実施例1に示すフェーズドアレイプローブAと同様に、曲率半径r1で湾曲する振動子1を並べた形状を有している。フェーズドアレイプローブBにおいては、図5に示すように振動子1は曲率半径r2の円弧Cir上に等中心角度間隔で配置されている。
【0052】
図3のフェーズドアレイプローブAはリニアアレイ構造を有しており、前述のとおりフェーズドアレイプローブAは振動子1から発信される超音波が到達できるところであれば、超音波集束位置を設定することができる。また、超音波ビームは図3の矢線ar1に示すように振動子1の正面(主ビーム方向)が最も強く、周りに拡散しているものである。すなわち、超音波ビームを超音波集束位置に集束させることはできるが、さらに強い超音波ビームを超音波集束位置に送出したい場合は、振動子1から発信される超音波自体を強くする必要がある。
【0053】
図5に示す円弧状に配置したフェーズドアレイプローブBの場合、振動子1は予め集束位置を大まかに決定(図中O)しておき、その中央又は略中央に曲率中心P2を有する円弧上に振動子を配置する。それによって、各振動子1を同時に駆動しても超音波ビームは曲率中心P2に集束する。全ての振動子1が曲率中心P2、すなわち、主ビーム方向ar2が超音波集束位置PS2に向いて配置されているので、超音波集束位置での超音波ビームはリニアアレイプローブよりも強力である。また、各振動子の動作タイミングを制御してやることで、超音波集束位置を変更することもでき、超音波集束位置を動かしてスキャニングすることも可能である。スキャニングする場合も、リニアアレイプローブよりも強力な超音波ビームを送出できる。
【0054】
このとき、振動子1を円弧上に配置しても隣同士干渉しないように振動子1の両端部を中央部よりも細く形成してもよい。
【0055】
本実施例では、各振動子1は全て同じ曲率(曲率半径r1)の湾曲を有するもので説明したが、それに限定されるものではなく、振動子の配置場所によって曲率を個別に設定しているもの等、異なる曲率を有する振動子を配置してフェーズドアレイプローブとしてもよい。
【0056】
また、振動子として柔軟性を有しており、曲率を任意に変化させることができるものを用いてもよい。また、振動子の配置曲面を任意に変化させることができるものを用いてもよい。
【0057】
(実施例3)
図6に前記実施例1に示すフェーズドアレイプローブAを備えた超音波探傷装置を用いて被検体の超音波探傷を行う例を示す。
図6に示す超音波探傷装置UT1は、フェーズドアレイプローブAを備えており、被検体Tの表面に設置され、フェーズドアレイプローブAを被検体Tの表面に対し角度θだけ傾けて設置しており、被検体Tに対して超音波ビームを送出して欠陥M1を検出するものである。
【0058】
図7に図6に示す超音波探傷装置の概略配置のブロック図を示す。
図7に示すとおり、超音波探傷装置UT1は、12個の振動子1を有するフェーズドアレイプローブAを有しており、各振動子1にはパルサレシーバPRが取り付けられている。各パルサレシーバPRは制御装置CONTに接続している。
【0059】
制御装置CONTは各振動子1の動作タイミングにあわせて動作信号をパルサレシーバPRに出力する。パルサレシーバPRは送られてきた動作信号をもとに、振動子1の電極に駆動電圧を印加する。それにより、各振動子1から超音波が送出される。また、反射してきた超音波を振動子1が受信すると振動素子を挟んでいる電極間に電圧が発生する。その電圧をパルサレシーバPRが受信し、受信信号を制御装置CONTに送信する。制御装置CONTは演算処理を行い、反射波の振幅を計算し、その振幅によって欠陥M1の大きさ、位置を判断する。
【0060】
また、図6に示すように超音波探傷装置UT1は超音波ビームBEMの超音波集束位置PS3を振動子1の配列方向にスキャニングことが可能であり、深さ方向にも対応が可能である。すなわち、当初の超音波集束位置近くに欠陥M1がない場合でも、スキャニングすること欠陥を発見することができ、欠陥が振動子1の配列方向に伸びている場合、欠陥M1の位置はもちろんのこと、欠陥の長さも検出することが可能である。
【0061】
(実施例4)
図8に実施例2に示すフェーズドアレイプローブを備えた超音波探傷装置を用いて被検体の超音波探傷を行う例を示す。
図8に示す超音波探傷装置UT2は、フェーズドアレイプローブBを用いて欠陥N1を検出するものであり、それ以外の点は、実施例3にて示した超音波探傷装置UT1と同じであり、実質上同じ部材には同じ符号が付してある。
【0062】
超音波探傷装置UT2のフェーズドアレイプローブBは、振動子1を曲面状に配列しているものである。振動子1が配置される曲面は、超音波が被検体に進入するときの屈折角によって決定されるものである。
【0063】
超音波探傷装置UT2のフェーズドアレイプローブBは実施例3に示した超音波探傷装置UT1のフェーズドアレイプローブAに比べて超音波の集束効率が良いので、小さい端部の反射波の検出性が向上し、それだけ小さな欠陥も早期に発見できる。また、超音波ビームBEMの超音波集束位置PS4を振って、スキャニングすることが可能であるので、超音波探傷装置UT1同様に被検体Tの深さ方向にも対応可能である。
【0064】
(実施例5)
図9に実施例1に示すフェーズドアレイプローブを有する超音波探傷装置をもちいてTOFD法にて欠陥を検出する概略図を示す。
図6に示す超音波探傷装置UT3は、超音波を送信する送信側超音波探触部3と被検体T2内部で反射または回折した超音波を受信する受信側超音波探触部4とを有している。
【0065】
送信側超音波探触部3は、1個のフェーズドアレイプローブA1を有しており、このフェーズドアレイプローブA1がシュー31に固定されて所定の入射角で被検体T2の内部に向けて超音波を送出するようになっている。
【0066】
受信側超音波探触部4は、送信側超音波探触部3と同様に1個のフェーズドアレイプローブA2を有しており、このフェーズドアレイプローブA2がシュー41に固定されて、被検体T2の内部を伝搬した超音波を受信するようになっている。
【0067】
送信側超音波探触部3は、その各振動子1が出力する超音波の送出のタイミングを順次遅延させることにより超音波探触部送出する超音波ビームを集束させると共にスキャニングさせる。すなわち、図9中のBEM1、BEM2、BEM3に示すように集束させ、且つBEM1からBEM3の方向、また、反対にBEM3からBEM1の方向へとスキャニングする。
【0068】
一方、受信側超音波探触部4は、その各振動子による超音波ビームの受信のタイミングを送信側のフェーズドアレイプローブA1と同期させて順次遅延させることにより送信側超音波探触部3が送出した超音波ビームを実効的に集束させ且つスキャニングさせて受信するようになっている。
【0069】
かくして、欠陥M2の中下たんからは集束した超音波ビームに基づく回折波Ks1、Ks2が得られる。かかる回折波Ks1、Ks2は拡散するが、受信側超音波探触部4では、このときの超音波ビームを実効的に集束させ、且つ、スキャンさせて受信することができる。各振動子1は送信側の対応するフェーズドアレイプローブA1と同期させ、各振動子1による超音波ビームの受信のタイミングを順次遅延させて受信する。
【0070】
超音波探傷装置UT3においては、送信側超音波探触部3及び受信側超音波探触部4のフェーズドアレイプローブA1及びA2はポイントフォーカスであり、欠陥部M2先端Ma、Mbでの回折波の信号レベル(SN比)を向上させることが可能である。
【0071】
(実施例6)
図10に実施例2に示すフェーズドアレイプローブを有する超音波探傷装置をもちいてTOFD法にて欠陥を検出する概略図を示す。
図10に示すTOFD法を用いる超音波探傷装置UT4は送信側超音波探触部5及び受信側超音波探触部6にフェーズドアレイプローブB1、B2を用いている以外は実施例5に示す超音波探傷装置UT3と同一の構成であり、実質上同一の部材には同一の符号が付してある。
【0072】
送信側超音波探触部5及び受信側超音波探触6に用いられるフェーズドアレイプローブB1、B2は実施例2にて示された、所定の曲面にそって振動子1を配置したフェーズドアレイプローブBであり、ポイントフォーカスである。各振動子1の超音波ビームの主ビーム方向が超音波ビームの超音波集束位置に向けて配置されているので、超音波ビームの集束効率が高く、欠陥N2の両端部Na、Nbでの回折波の信号レベル(SN比)を高くすることができる。それだけ、高い探傷効果を得ることができる。
【0073】
【発明の効果】
本発明によると、構造が簡単でしかも超音波ビームを高い集束率で且つポイントフォーカスで集束させることができ、さらに、その超音波集束位置をスキャニングすることができるフェーズドアレイプローブを提供することができる。
【0074】
また本発明によると、構造が簡単で高い探傷効果を得ることができる超音波探傷装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかるフェーズドアレイプローブの一例の斜視図である。
【図2】図1に示すフェーズドアレイプローブの正面図である。
【図3】図1に示すフェーズドアレイプローブの側面図である。
【図4】本発明にかかるフェーズドアレイプローブの他の例の斜視図である。
【図5】図4に示すフェーズドアレイプローブの横断面図である。
【図6】本発明にかかる超音波探傷装置の一例を用いて超音波探傷を行う概略配置図である。
【図7】図6で用いる超音波探傷装置の概略配置を示すブロック図である。。
【図8】本発明にかかる超音波探傷装置の他の例を用いて超音波探傷を行う概略配置図である。
【図9】本発明にかかる超音波探傷装置の更に他の例を用いてTOFD法にて超音波探傷を行う概略配置図である。
【図10】本発明にかかる超音波探傷装置の更に他の例を用いてTOFD法にて超音波探傷を行う概略配置図である。
【図11】従来のリニアアレイプローブの斜視図である。
【図12】従来のアニュラアレイプローブの斜視図である。
【図13】従来の音響レンズを用いるリニアアレイプローブの斜視図である。
【図14】マトリクスアレイプローブの斜視図である。
【図15】従来のTOFD法による超音波探傷を行うものの一例を示す概略配置図である。
【図16】超音波探傷における反射又は回折波の波形を示す概略図である。
【符号の説明】
A、B フェーズドアレイプローブ
1 振動子
11、12 電極
13 圧電素子
3、5 送信側超音波探触部
4、6 受信側超音波探触部
7 リニアアレイプローブ
8 アニュラアレイプローブ
9 マトリクスアレイプローブ
UT1、UT2 斜角超音波探傷装置
UT3、UT4 TOFD法用超音波探傷装置

Claims (8)

  1. 複数の振動子を有するフェーズドアレイプローブであって、
    前記各振動子は長手方向に所定の曲率で湾曲しており、該湾曲方向と直行する方向に直線状の配列で配置されていることを特徴とするフェーズドアレイプローブ。
  2. 複数の振動子を有するフェーズドアレイプローブであって、
    前記各振動子は長手方向に所定の曲率で湾曲しており、前記複数振動子の湾曲方向と異なる方向に湾曲する曲面状の配列で配置されていることを特徴とするフェーズドアレイプローブ。
  3. 前記曲面状の配列は、所定の曲率を有する球面であることを特徴とする請求項2に記載のフェーズドアレイプローブ。
  4. 前記複数の振動子の長手方向の曲率が全て同じであることを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3に記載のフェーズドアレイプローブ。
  5. 前記複数の振動子のうち少なくとも一つは長手方向の曲率が他の振動子とは異なるものであることを特徴とする請求項1、請求項2又は請求項3に記載のフェーズドアレイプローブ。
  6. 前記振動子は、長手方向の曲率を任意に変更することが可能である請求項1から請求項5いずれかに記載のフェーズドアレイプローブ。
  7. 請求項1から請求項5いずれかに記載のフェーズドアレイプローブを用いて斜角探傷を行うことを特徴とする超音波探傷装置。
  8. 請求項1から請求項5いずれかに記載のフェーズドアレイプローブを送信側超音波探触子及び受信側超音波探触子とし、
    送信側超音波探触子の各振動子が出力する超音波の送出タイミングを順次遅延させることで送信側超音波探触子から送出する超音波ビームを集束させると共にスキャニングさせることを特徴とする超音波探傷装置。
JP2003138998A 2003-05-16 2003-05-16 フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置 Pending JP2004340809A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003138998A JP2004340809A (ja) 2003-05-16 2003-05-16 フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003138998A JP2004340809A (ja) 2003-05-16 2003-05-16 フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2004340809A true JP2004340809A (ja) 2004-12-02

Family

ID=33528213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003138998A Pending JP2004340809A (ja) 2003-05-16 2003-05-16 フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2004340809A (ja)

Cited By (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006250873A (ja) * 2005-03-14 2006-09-21 Krautkramer Japan Co Ltd 超音波探傷方法及びその装置
WO2006129019A1 (fr) * 2005-06-01 2006-12-07 Jspm Procede de controle de l'etat d'un arbre d'entrainement de machine tournante.
EP1764614A1 (en) * 2005-09-15 2007-03-21 General Electric Company Uni-index variable angle ultrasonic phased array probe
DE102008005971A1 (de) * 2008-01-24 2009-07-30 Ge Inspection Technologies Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall-TOFD-Technik
JP2010197314A (ja) * 2009-02-26 2010-09-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 超音波探傷装置および超音波探傷方法
JP2011149888A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Toden Kogyo Co Ltd 複合型超音波探触子及びそれを用いたtofd法による超音波探傷法
JP2011247840A (ja) * 2010-05-31 2011-12-08 Hitachi Ltd 超音波探傷センサおよび超音波探傷方法
US8225668B2 (en) 2005-07-04 2012-07-24 Independent Administrative Institution Japan Aerospace Exploration Agency Ultrasonic wave testing method and ultrasonic testing device using this method
JP2012220402A (ja) * 2011-04-12 2012-11-12 Yokohama Rubber Co Ltd:The 音響材料の音響特性計測方法および音響材料の音響特性計測装置
JP2013242220A (ja) * 2012-05-21 2013-12-05 Sanyo Special Steel Co Ltd アレイ探触子、当該アレイ探触子を有する水浸超音波探傷装置、及び、その方法
JP2014185895A (ja) * 2013-03-22 2014-10-02 Jfe Steel Corp 超音波探傷の探触子および超音波探傷方法
CN104165926A (zh) * 2013-05-17 2014-11-26 通用电气公司 超声波检测方法和超声波分析方法
WO2016024475A1 (ja) * 2014-08-12 2016-02-18 三菱重工業株式会社 タービンロータディスクの翼溝部の超音波探傷方法及び装置
US9347918B2 (en) 2010-11-30 2016-05-24 Airbus Operations Limited Ultrasonic array focussing apparatus and method
JP2017121496A (ja) * 2010-10-13 2017-07-13 マウイ イマギング,インコーポレーテッド 凹面超音波トランスデューサ及び3dアレイ
KR101830461B1 (ko) 2010-09-16 2018-02-20 지멘스 악티엔게젤샤프트 기계 부품 내부에 존재하는 결함의 방향을 측정하기 위한 방법 및 그 장치
CN109406639A (zh) * 2018-11-23 2019-03-01 航天科工防御技术研究试验中心 一种点聚焦式线性阵列相控阵检测装置
US10617384B2 (en) 2011-12-29 2020-04-14 Maui Imaging, Inc. M-mode ultrasound imaging of arbitrary paths
CN111060598A (zh) * 2019-11-22 2020-04-24 国家电网有限公司 一种穿透式组合电器盆式绝缘子超声波探伤方法
US10653392B2 (en) 2013-09-13 2020-05-19 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging using apparent point-source transmit transducer
US10675000B2 (en) 2007-10-01 2020-06-09 Maui Imaging, Inc. Determining material stiffness using multiple aperture ultrasound
US10856846B2 (en) 2016-01-27 2020-12-08 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging with sparse array probes
US11253233B2 (en) 2012-08-10 2022-02-22 Maui Imaging, Inc. Calibration of multiple aperture ultrasound probes
US11998395B2 (en) 2010-02-18 2024-06-04 Maui Imaging, Inc. Point source transmission and speed-of-sound correction using multi-aperture ultrasound imaging
US12167209B2 (en) 2012-09-06 2024-12-10 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging system memory architecture
US12186133B2 (en) 2012-03-26 2025-01-07 Maui Imaging, Inc. Systems and methods for improving ultrasound image quality by applying weighting factors
US12190627B2 (en) 2015-03-30 2025-01-07 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging systems and methods for detecting object motion
US12204023B2 (en) 2014-08-18 2025-01-21 Maui Imaging, Inc. Network-based ultrasound imaging system

Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55151891A (en) * 1979-05-16 1980-11-26 Toray Ind Inc Scan-type ultrasonic transducer using high molecular piezoelectric film
JPS61286747A (ja) * 1985-06-14 1986-12-17 Hitachi Ltd 3次元探触子及び3次元映像装置
JPH0293362A (ja) * 1988-09-30 1990-04-04 Toshiba Corp 超音波プローブ
JPH05168094A (ja) * 1991-12-19 1993-07-02 Hitachi Ltd 超音波探触子
JPH07107595A (ja) * 1993-09-07 1995-04-21 Acuson Corp 超音波フェーズドアレイ変換器及びその製造方法
JPH08256398A (ja) * 1995-03-16 1996-10-01 Olympus Optical Co Ltd 超音波トランスデューサとその製造方法
JP2619446B2 (ja) * 1987-12-21 1997-06-11 株式会社日立製作所 超音波診断装置
JPH10311823A (ja) * 1997-05-09 1998-11-24 Nippon Kurauto Kureemaa Fuerusutaa Kk 電子走査式超音波プローブ
JPH11160294A (ja) * 1997-11-28 1999-06-18 Hitachi Constr Mach Co Ltd 超音波探触子及びこれを用いた超音波斜角探傷法
JP2001147219A (ja) * 1999-11-22 2001-05-29 Osaka Gas Co Ltd 超音波探触子
JP2001228126A (ja) * 2000-02-14 2001-08-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 超音波探傷装置
JP3258111B2 (ja) * 1992-02-12 2002-02-18 株式会社東芝 超音波送受信素子、超音波プローブおよび超音波治療装置用送波器
JP2003014705A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 金属材料の損傷評価方法
JP2003028845A (ja) * 2001-07-17 2003-01-29 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置
JP2003130859A (ja) * 2001-10-24 2003-05-08 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フェーズドアレイ駆動装置

Patent Citations (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS55151891A (en) * 1979-05-16 1980-11-26 Toray Ind Inc Scan-type ultrasonic transducer using high molecular piezoelectric film
JPS61286747A (ja) * 1985-06-14 1986-12-17 Hitachi Ltd 3次元探触子及び3次元映像装置
JP2619446B2 (ja) * 1987-12-21 1997-06-11 株式会社日立製作所 超音波診断装置
JPH0293362A (ja) * 1988-09-30 1990-04-04 Toshiba Corp 超音波プローブ
JPH05168094A (ja) * 1991-12-19 1993-07-02 Hitachi Ltd 超音波探触子
JP3258111B2 (ja) * 1992-02-12 2002-02-18 株式会社東芝 超音波送受信素子、超音波プローブおよび超音波治療装置用送波器
JPH07107595A (ja) * 1993-09-07 1995-04-21 Acuson Corp 超音波フェーズドアレイ変換器及びその製造方法
JPH08256398A (ja) * 1995-03-16 1996-10-01 Olympus Optical Co Ltd 超音波トランスデューサとその製造方法
JPH10311823A (ja) * 1997-05-09 1998-11-24 Nippon Kurauto Kureemaa Fuerusutaa Kk 電子走査式超音波プローブ
JPH11160294A (ja) * 1997-11-28 1999-06-18 Hitachi Constr Mach Co Ltd 超音波探触子及びこれを用いた超音波斜角探傷法
JP2001147219A (ja) * 1999-11-22 2001-05-29 Osaka Gas Co Ltd 超音波探触子
JP2001228126A (ja) * 2000-02-14 2001-08-24 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 超音波探傷装置
JP2003014705A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 金属材料の損傷評価方法
JP2003028845A (ja) * 2001-07-17 2003-01-29 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フェーズドアレイによる探傷方法及び探傷装置
JP2003130859A (ja) * 2001-10-24 2003-05-08 Mitsubishi Heavy Ind Ltd フェーズドアレイ駆動装置

Cited By (39)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4564867B2 (ja) * 2005-03-14 2010-10-20 日本クラウトクレーマー株式会社 超音波探傷方法及びその装置
JP2006250873A (ja) * 2005-03-14 2006-09-21 Krautkramer Japan Co Ltd 超音波探傷方法及びその装置
WO2006129019A1 (fr) * 2005-06-01 2006-12-07 Jspm Procede de controle de l'etat d'un arbre d'entrainement de machine tournante.
FR2886732A1 (fr) * 2005-06-01 2006-12-08 Jeumont Sa Sa Procede de controle de l'etat d'un arbre d'entrainement de machine tournante
US7735370B2 (en) 2005-06-01 2010-06-15 Jspm Method for testing the condition of a drive shaft of a rotary machine
US8225668B2 (en) 2005-07-04 2012-07-24 Independent Administrative Institution Japan Aerospace Exploration Agency Ultrasonic wave testing method and ultrasonic testing device using this method
EP1764614A1 (en) * 2005-09-15 2007-03-21 General Electric Company Uni-index variable angle ultrasonic phased array probe
US10675000B2 (en) 2007-10-01 2020-06-09 Maui Imaging, Inc. Determining material stiffness using multiple aperture ultrasound
DE102008005971A1 (de) * 2008-01-24 2009-07-30 Ge Inspection Technologies Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur zerstörungsfreien Prüfung eines Prüflings mittels Ultraschall-TOFD-Technik
JP2010197314A (ja) * 2009-02-26 2010-09-09 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 超音波探傷装置および超音波探傷方法
JP2011149888A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Toden Kogyo Co Ltd 複合型超音波探触子及びそれを用いたtofd法による超音波探傷法
US11998395B2 (en) 2010-02-18 2024-06-04 Maui Imaging, Inc. Point source transmission and speed-of-sound correction using multi-aperture ultrasound imaging
US10835208B2 (en) 2010-04-14 2020-11-17 Maui Imaging, Inc. Concave ultrasound transducers and 3D arrays
JP2011247840A (ja) * 2010-05-31 2011-12-08 Hitachi Ltd 超音波探傷センサおよび超音波探傷方法
KR101830461B1 (ko) 2010-09-16 2018-02-20 지멘스 악티엔게젤샤프트 기계 부품 내부에 존재하는 결함의 방향을 측정하기 위한 방법 및 그 장치
JP2017121496A (ja) * 2010-10-13 2017-07-13 マウイ イマギング,インコーポレーテッド 凹面超音波トランスデューサ及び3dアレイ
US9347918B2 (en) 2010-11-30 2016-05-24 Airbus Operations Limited Ultrasonic array focussing apparatus and method
JP2012220402A (ja) * 2011-04-12 2012-11-12 Yokohama Rubber Co Ltd:The 音響材料の音響特性計測方法および音響材料の音響特性計測装置
US10617384B2 (en) 2011-12-29 2020-04-14 Maui Imaging, Inc. M-mode ultrasound imaging of arbitrary paths
US12186133B2 (en) 2012-03-26 2025-01-07 Maui Imaging, Inc. Systems and methods for improving ultrasound image quality by applying weighting factors
JP2013242220A (ja) * 2012-05-21 2013-12-05 Sanyo Special Steel Co Ltd アレイ探触子、当該アレイ探触子を有する水浸超音波探傷装置、及び、その方法
US11253233B2 (en) 2012-08-10 2022-02-22 Maui Imaging, Inc. Calibration of multiple aperture ultrasound probes
US12171621B2 (en) 2012-08-10 2024-12-24 Maui Imaging, Inc. Calibration of multiple aperture ultrasound probes
US12167209B2 (en) 2012-09-06 2024-12-10 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging system memory architecture
JP2014185895A (ja) * 2013-03-22 2014-10-02 Jfe Steel Corp 超音波探傷の探触子および超音波探傷方法
JP2014228538A (ja) * 2013-05-17 2014-12-08 ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ 超音波検出方法及び超音波分析方法
CN104165926A (zh) * 2013-05-17 2014-11-26 通用电气公司 超声波检测方法和超声波分析方法
US10653392B2 (en) 2013-09-13 2020-05-19 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging using apparent point-source transmit transducer
US10845341B2 (en) 2014-08-12 2020-11-24 Mitsubishi Heavy Industries Compressor Corporation Ultrasonic flaw-detection method and apparatus for blade groove in turbine rotor disc
US20170254785A1 (en) * 2014-08-12 2017-09-07 Mitsubishi Heavy Industries, Ltd. Ultrasonic flaw-detection method and apparatus for blade groove in turbine rotor disc
WO2016024475A1 (ja) * 2014-08-12 2016-02-18 三菱重工業株式会社 タービンロータディスクの翼溝部の超音波探傷方法及び装置
JP2016040529A (ja) * 2014-08-12 2016-03-24 三菱重工業株式会社 タービンロータディスクの翼溝部の超音波探傷方法及び装置
CN106662553A (zh) * 2014-08-12 2017-05-10 三菱重工业株式会社 涡轮转子盘的叶片槽部的超声波探伤方法以及装置
US12204023B2 (en) 2014-08-18 2025-01-21 Maui Imaging, Inc. Network-based ultrasound imaging system
US12190627B2 (en) 2015-03-30 2025-01-07 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging systems and methods for detecting object motion
US12048587B2 (en) 2016-01-27 2024-07-30 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging with sparse array probes
US10856846B2 (en) 2016-01-27 2020-12-08 Maui Imaging, Inc. Ultrasound imaging with sparse array probes
CN109406639A (zh) * 2018-11-23 2019-03-01 航天科工防御技术研究试验中心 一种点聚焦式线性阵列相控阵检测装置
CN111060598A (zh) * 2019-11-22 2020-04-24 国家电网有限公司 一种穿透式组合电器盆式绝缘子超声波探伤方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2004340809A (ja) フェーズドアレイプローブ及びそれを用いた超音波探傷装置
JP5721770B2 (ja) 超音波探傷方法とその装置
CN104350381B (zh) 缺陷检测装置、缺陷检测方法
JPH0851689A (ja) 超音波変換器
WO2007004571A1 (ja) 超音波伝搬方法並びにこれを用いた超音波伝搬装置及び超音波試験装置
WO2004089220A1 (ja) 超音波探触子及びそれを用いた超音波診断装置
JP2011149888A (ja) 複合型超音波探触子及びそれを用いたtofd法による超音波探傷法
CN103837601A (zh) 一种宽带导波相控阵聚焦扫描方法及系统
JP5574731B2 (ja) 超音波探傷試験方法
JP3606132B2 (ja) 超音波探傷方法およびその装置
JP3635453B2 (ja) 超音波横波斜角探傷方法及び装置
JP4770386B2 (ja) 超音波探傷装置の超音波探触子
US20120210795A1 (en) Two-dimensional virtual array probe for three-dimensional ultrasonic imaging
JP6463962B2 (ja) 超音波探傷システム及び検査方法
JP4633268B2 (ja) 超音波探傷装置
JP2004033666A (ja) 超音波探触子および超音波診断装置
JPH11316215A (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JP2001228126A (ja) 超音波探傷装置
JP5709357B2 (ja) 超音波探傷装置および超音波探傷方法
JP2012002781A (ja) 超音波探傷装置及び超音波探傷方法
JPH07236642A (ja) 超音波診断装置
JP2010281843A (ja) 超音波探傷装置の超音波探触子
JP7145799B2 (ja) 超音波検査装置
JP3341824B2 (ja) 電子走査式超音波探傷装置
JPH022932A (ja) アレイ型探触子

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050215

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070314

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070403

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070604

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070626

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20071010

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20071204