JP2003322512A - 供試体の寸法測定装置 - Google Patents
供試体の寸法測定装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 供試体の寸法を３次元的に把握でき、従来の
ノギスを用いて測定する場合に比べて供試体の寸法を正
確に測定する。 【解決手段】 回転テーブル１に載せた供試体Ｗに対し
レーザ光プロジェクタ３からレーザスリット光３ａを当
てる。その反射光はＣＣＤカメラ４により取り込まれ、
その撮像情報が画像処理手段５へ送られて距離情報へ変
換される。また、この距離情報はさらに制御手段６へ送
られ、供試体Ｗの３次元距離情報へと演算変換されて、
表示手段７により表示される。そして、回転テーブル１
に載せた供試体Ｗを所定角度ずつ回転させながら、その
都度上述の手順により供試体の３次元距離情報を得、そ
れを供試体Ｗについて３６０度にわたり行うことによ
り、供試体の側面の凹凸寸法を正確に把握することがで
きる。
ノギスを用いて測定する場合に比べて供試体の寸法を正
確に測定する。 【解決手段】 回転テーブル１に載せた供試体Ｗに対し
レーザ光プロジェクタ３からレーザスリット光３ａを当
てる。その反射光はＣＣＤカメラ４により取り込まれ、
その撮像情報が画像処理手段５へ送られて距離情報へ変
換される。また、この距離情報はさらに制御手段６へ送
られ、供試体Ｗの３次元距離情報へと演算変換されて、
表示手段７により表示される。そして、回転テーブル１
に載せた供試体Ｗを所定角度ずつ回転させながら、その
都度上述の手順により供試体の３次元距離情報を得、そ
れを供試体Ｗについて３６０度にわたり行うことによ
り、供試体の側面の凹凸寸法を正確に把握することがで
きる。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、コンクリートコア
等の供試体の寸法を測定する測定装置に関するものであ
る。 【０００２】 【従来の技術】一般に、コンクリート強度を推定するに
は、コンクリート構造物から所定形状のコンクリートコ
ア（以下、供試体という）を採取し、該採取した供試体
に対して所定の試験を行う方法がとられる。採取した供
試体についてはまず直径及び高さを測定するが、このと
き、通常ノギスを用いて行っていた。つまり、ノギスに
よって供試体の直径及び高さをそれぞれ数カ所ずつ測定
していた。また、このような寸法測定の際に、供試体に
損傷や欠陥があるか否かも同時に調べていた。損傷等は
試験結果に少なからず影響し、正確な試験結果が得られ
なくなるおそれがあるからである。 【０００３】供試体の欠陥の一つに、側面に形成される
リング状の凹凸がある。一般的なコンクリートでは、供
試体採取時に形成されるこのようなリング状の凹凸の欠
陥はそれほど大きくなく、また仮にこのような欠陥が形
成されたとしても、それによる供試体の強度低下は数％
程度であって、それほど大きな問題にはならない。つま
り、ノギスによる測定方法でも何ら支障がなかった。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、コン
クリート材料として、高強度コンクリート材が用いられ
はじめた。高強度コンクリートは、文字通り一般的なコ
ンクリートよりも強度が強いことから、供試体採取時の
負荷が大きく、このため、供試体の側面には上述したリ
ング状の凹凸が生じやすい。また、リング状の凹凸が生
じた場合、前述したように供試体の強度が数％程度低下
するが、この数％程度の値は、高強度領域では絶対値と
して無視できない値である。 【０００５】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、供試体の寸法を３次元的に把握でき、従来のノギス
を用いて測定する場合に比べて供試体の寸法を正確に測
定することを課題としている。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明においては以下の手段を採用した。すなわち、
請求項１記載の供試体の寸法測定装置は、供試体を載せ
る回転テーブルと、該回転テーブル上に載せた供試体の
側面に、回転テーブルの回転軸線方向に平行な縦長のレ
ーザスリット光を照射するレーザ光プロジェクタと、該
レーザ光プロジェクタから供試体の側面に照射されたレ
ーザスリット光の反射光を取り込むよう、レーザ光プロ
ジェクタから照射されたレーザ光に対して所定角度の光
軸となるように配置されたカメラと、該カメラの撮像情
報を距離情報へ変換処理する画像処理手段と、該画像処
理手段から得られる距離情報を供試体の３次元距離情報
へ演算処理する制御手段と、該制御手段から得られる供
試体の３次元距離情報を表示する表示手段とを備えてな
ることを特徴としている。 【０００７】このような構成では、回転テーブルに載せ
た供試体に対しレーザ光プロジェクタからレーザスリッ
ト光が当てられる。その反射光はカメラにより取り込ま
れ、その撮像情報が画像処理手段へ送られて距離情報へ
変換される。また、この距離情報はさらに制御手段へ送
られ、供試体の３次元距離情報へと演算変換されて、表
示手段により表示される。そして、回転テーブルに載せ
た供試体を所定角度ずつ回転させながら、その都度上記
手順により供試体の３次元距離情報を得、それを供試体
３６０度について行うことにより、供試体の側面の凹凸
寸法も正確に把握できる。つまり、光切断法による供試
体の側面の凹凸寸法の検出が可能となる。 【０００８】 【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面に基づいて説明する。図１は、本発明の一実施の形態
を示す供試体の寸法測定装置の全体構成を表すブロック
図である。 【０００９】この装置は、供試体Ｗを載せる回転テーブ
ル１と、回転テーブル１をそれぞれ直交する３軸方向
Ｘ、Ｙ、Ｚへ移動させるとともに、Ｚ方向の回転軸線ｌ
を中心に回転させる回転テーブル駆動手段２と、回転テ
ーブル１上に載せた供試体Ｗの側面に、回転テーブル１
の回転軸線ｌ方向に平行な縦長のレーザスリット光３ａ
を照射するレーザ光プロジェクタ３と、レーザ光プロジ
ェクタ３から供試体Ｗの側面に照射されたレーザスリッ
ト光３ａの反射光を取り込むよう、レーザ光プロジェク
タ３から照射されたレーザスリット光３ａに対して所定
角度（例えば、角度θ）の光軸となるように配置された
ＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラ４の撮像情報を距離情
報へ変換処理する画像処理手段５と、画像処理手段５か
ら得られる距離情報を供試体の３次元距離情報へ演算処
理する制御手段６と、制御手段６から得られる供試体Ｗ
の３次元距離情報を表示する表示手段７とを備える。 【００１０】回転テーブル１は、必ずしもＸ、Ｙ、Ｚの
３軸方向へ移動可能な構成にする必要はなく、回転テー
ブル１はその場所で回転のみ可能として３軸方向へは移
動不可能とし、代わりにＣＣＤカメラ４とレーザ光プロ
ジェクタ３側を回転テーブル１に対してＸ、Ｙ、Ｚの３
軸方向へ移動可能な構成にしてもよい。また、回転テー
ブル１には供試体Ｗを固定するための固定手段（図示
略）を必要に応じて設けてもよい。 【００１１】回転テーブル駆動手段２は、回転テーブル
１を３軸方向Ｘ、Ｙ、Ｚへそれぞれ移動させるとともに
回転させるが、それは前記制御手段６から発せられる指
令信号に基づき行われる。 【００１２】前記画像処理手段５は、ＣＣＤカメラ４か
らの撮像情報を距離情報へ変換処理するもので、例え
ば、後述するＺ方向について説明すると、計測基準線Ｌ
ａ（側面に凹凸がない標準的な供試体Ｗにレーザスリッ
ト光３ａを照射した場合のＣＣＤカメラ４によって得ら
れた反射光の位置を示す線）から実際のレーザスリット
光３ａの反射光までの画素を計数し、それに１画素の距
離を乗じることで距離情報を得るものである。 【００１３】また、制御手段６は、画像処理手段５から
得られる距離情報を３角測量法による原理に基づき供試
体の３次元距離情報へ演算処理するものであり、具体的
には後述する本装置を用いた測定方法の説明のときに明
らかにする。 【００１４】表示手段７は、何らかの手段で情報を表示
するものであれば足り、画像表示する映像手段あるいは
プリンとアウトするプリンタ等が考えられる。図１は映
像手段を用いた例を表している。 【００１５】次に、上記構成のレーザー式供試体寸法測
定装置を用いた測定方法について説明する。回転テーブ
ル１上に円柱状の供試体Ｗを載せる。このとき、供試体
Ｗの中心Ｏが回転テーブル１の回転中心と一致するよう
に正確に位置あわせする。そして、回転テーブル１上の
供試体Ｗの側面に対しレーザ光プロジェクタ３からレー
ザスリット光３ａを当てる。レーザスリット光３ａは供
試体Ｗの側面に当たって反射され、その反射光をＣＣＤ
カメラ４により取り込む（図２、図３参照）。 【００１６】ＣＣＤカメラ４により取り込まれた撮像情
報は画像処理手段５へ送られ、ここで距離情報へ変換さ
れる。すなわち、計測基準線から実際のレーザスリット
光３ａの反射光までの画素を計数し、それに１画素の距
離を乗じることで、前記撮像情報を距離情報へ変換す
る。変換された距離情報は画素を計数して得られたもの
であり、この距離情報を基に、制御手段６でＸ、Ｙ、Ｚ
の実座標にそれぞれ変換する。つまり、光切断法を用い
た測定を行う。例えば、実座標Ｘ、実座標Ｙは以下の式
で表される。 実座標Ｘ≒画像データのＸ座標×Ｘ座標の１画素の距離＋回転テーブル１のＸ 方向の移動量 実座標Ｚ≒高さＡＢ≒ＯＢ×ｔａｎθ ＝ＯＢの画素数×Ｙ座標の１画素の距離×ｔａｎθ ここで、Ｘの１画素の距離、回転テーブル１のＸ方向の
移動量およびｔａｎθは、この装置の初期較正時に設定
する値である。実座標Ｙについても同様に、画像データ
のＹ座標×Ｙ座標の１画素の距離＋回転テーブル１のＹ
方向の移動量で算出できる。 【００１７】ここで、実座標Ｚは供試体Ｗの側面の凹凸
を表している。したがって、回転テーブル１を３６０度
の範囲で所定ピッチ（例えば、１度）ごとに回転しなが
ら上記測定を繰り返すことにより、１度おきの供試体Ｗ
の側面の凹凸データを得ることができる。 【００１８】このような凹凸データは、制御手段６から
表示装置７へ送られ、ここで表示される。図４は、その
測定結果を表で表したものである。縦軸に供試体Ｗの側
面の凹凸の高さ、横軸に供試体Ｗの高さ方向の長さをと
っている。ここでは、供試体Ｗの高さ２００ｍｍのうち
８ｍｍ分について所定回転角度の側面の凹凸データを表
している。凹凸データは０．２６ｍｍごとにプロットし
ている。この図４から、供試体Ｗの側面には最大で約
２．３５ｍｍ程度の凹凸が生じていることがわかる。こ
のような測定を、供試体Ｗについて、必要に応じ回転テ
ーブル１を回転させながら所定角度おきに、また、回転
テーブル１をＸ方向へ移動させながら、所定高さ分ごと
に測定する。 【００１９】なお、供試体Ｗの高さ寸法は、前述したよ
うにＣＣＤカメラ４にる画像データのＸ座標（Ｘ座標の
１画素の距離＋回転テーブルのＸ方向の移動量）から、
あるいは供試体Ｗの高さがあまり高くない場合には供試
体Ｗの下端から上端まで達するように光を照射し、その
反射光をＣＣＤカメラ４でとらえ、その画像データから
演算して得ることができる。 【００２０】また、供試体Ｗの直径および各高さ位置で
の中心軸からのずれは、例えば、供試体Ｗの全幅に光を
照射し、供試体Ｗの下端から上端まで達するように光を
照射し、その反射光をＣＣＤカメラ４でとらえ、その画
像データから演算して得ることができる。 【００２１】なお、上記した実施の形態では、供試体Ｗ
に対し左右方向の一方向からレーザスリット光３ａを照
射しているが、左右両方からレーザスリット光３ａを照
射し、それらをＣＣＤカメラ４で撮像処理するようにし
てもよい。 【００２２】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
回転テーブルに供試体を所定角度ずつ回転させながら測
定することにより、供試体の側面の凹凸寸法を正確に把
握することができ、短時間で効率良く供試体の形状を正
確に把握することができる。
等の供試体の寸法を測定する測定装置に関するものであ
る。 【０００２】 【従来の技術】一般に、コンクリート強度を推定するに
は、コンクリート構造物から所定形状のコンクリートコ
ア（以下、供試体という）を採取し、該採取した供試体
に対して所定の試験を行う方法がとられる。採取した供
試体についてはまず直径及び高さを測定するが、このと
き、通常ノギスを用いて行っていた。つまり、ノギスに
よって供試体の直径及び高さをそれぞれ数カ所ずつ測定
していた。また、このような寸法測定の際に、供試体に
損傷や欠陥があるか否かも同時に調べていた。損傷等は
試験結果に少なからず影響し、正確な試験結果が得られ
なくなるおそれがあるからである。 【０００３】供試体の欠陥の一つに、側面に形成される
リング状の凹凸がある。一般的なコンクリートでは、供
試体採取時に形成されるこのようなリング状の凹凸の欠
陥はそれほど大きくなく、また仮にこのような欠陥が形
成されたとしても、それによる供試体の強度低下は数％
程度であって、それほど大きな問題にはならない。つま
り、ノギスによる測定方法でも何ら支障がなかった。 【０００４】 【発明が解決しようとする課題】ところで、近年、コン
クリート材料として、高強度コンクリート材が用いられ
はじめた。高強度コンクリートは、文字通り一般的なコ
ンクリートよりも強度が強いことから、供試体採取時の
負荷が大きく、このため、供試体の側面には上述したリ
ング状の凹凸が生じやすい。また、リング状の凹凸が生
じた場合、前述したように供試体の強度が数％程度低下
するが、この数％程度の値は、高強度領域では絶対値と
して無視できない値である。 【０００５】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、供試体の寸法を３次元的に把握でき、従来のノギス
を用いて測定する場合に比べて供試体の寸法を正確に測
定することを課題としている。 【０００６】 【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本発明においては以下の手段を採用した。すなわち、
請求項１記載の供試体の寸法測定装置は、供試体を載せ
る回転テーブルと、該回転テーブル上に載せた供試体の
側面に、回転テーブルの回転軸線方向に平行な縦長のレ
ーザスリット光を照射するレーザ光プロジェクタと、該
レーザ光プロジェクタから供試体の側面に照射されたレ
ーザスリット光の反射光を取り込むよう、レーザ光プロ
ジェクタから照射されたレーザ光に対して所定角度の光
軸となるように配置されたカメラと、該カメラの撮像情
報を距離情報へ変換処理する画像処理手段と、該画像処
理手段から得られる距離情報を供試体の３次元距離情報
へ演算処理する制御手段と、該制御手段から得られる供
試体の３次元距離情報を表示する表示手段とを備えてな
ることを特徴としている。 【０００７】このような構成では、回転テーブルに載せ
た供試体に対しレーザ光プロジェクタからレーザスリッ
ト光が当てられる。その反射光はカメラにより取り込ま
れ、その撮像情報が画像処理手段へ送られて距離情報へ
変換される。また、この距離情報はさらに制御手段へ送
られ、供試体の３次元距離情報へと演算変換されて、表
示手段により表示される。そして、回転テーブルに載せ
た供試体を所定角度ずつ回転させながら、その都度上記
手順により供試体の３次元距離情報を得、それを供試体
３６０度について行うことにより、供試体の側面の凹凸
寸法も正確に把握できる。つまり、光切断法による供試
体の側面の凹凸寸法の検出が可能となる。 【０００８】 【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を、図
面に基づいて説明する。図１は、本発明の一実施の形態
を示す供試体の寸法測定装置の全体構成を表すブロック
図である。 【０００９】この装置は、供試体Ｗを載せる回転テーブ
ル１と、回転テーブル１をそれぞれ直交する３軸方向
Ｘ、Ｙ、Ｚへ移動させるとともに、Ｚ方向の回転軸線ｌ
を中心に回転させる回転テーブル駆動手段２と、回転テ
ーブル１上に載せた供試体Ｗの側面に、回転テーブル１
の回転軸線ｌ方向に平行な縦長のレーザスリット光３ａ
を照射するレーザ光プロジェクタ３と、レーザ光プロジ
ェクタ３から供試体Ｗの側面に照射されたレーザスリッ
ト光３ａの反射光を取り込むよう、レーザ光プロジェク
タ３から照射されたレーザスリット光３ａに対して所定
角度（例えば、角度θ）の光軸となるように配置された
ＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラ４の撮像情報を距離情
報へ変換処理する画像処理手段５と、画像処理手段５か
ら得られる距離情報を供試体の３次元距離情報へ演算処
理する制御手段６と、制御手段６から得られる供試体Ｗ
の３次元距離情報を表示する表示手段７とを備える。 【００１０】回転テーブル１は、必ずしもＸ、Ｙ、Ｚの
３軸方向へ移動可能な構成にする必要はなく、回転テー
ブル１はその場所で回転のみ可能として３軸方向へは移
動不可能とし、代わりにＣＣＤカメラ４とレーザ光プロ
ジェクタ３側を回転テーブル１に対してＸ、Ｙ、Ｚの３
軸方向へ移動可能な構成にしてもよい。また、回転テー
ブル１には供試体Ｗを固定するための固定手段（図示
略）を必要に応じて設けてもよい。 【００１１】回転テーブル駆動手段２は、回転テーブル
１を３軸方向Ｘ、Ｙ、Ｚへそれぞれ移動させるとともに
回転させるが、それは前記制御手段６から発せられる指
令信号に基づき行われる。 【００１２】前記画像処理手段５は、ＣＣＤカメラ４か
らの撮像情報を距離情報へ変換処理するもので、例え
ば、後述するＺ方向について説明すると、計測基準線Ｌ
ａ（側面に凹凸がない標準的な供試体Ｗにレーザスリッ
ト光３ａを照射した場合のＣＣＤカメラ４によって得ら
れた反射光の位置を示す線）から実際のレーザスリット
光３ａの反射光までの画素を計数し、それに１画素の距
離を乗じることで距離情報を得るものである。 【００１３】また、制御手段６は、画像処理手段５から
得られる距離情報を３角測量法による原理に基づき供試
体の３次元距離情報へ演算処理するものであり、具体的
には後述する本装置を用いた測定方法の説明のときに明
らかにする。 【００１４】表示手段７は、何らかの手段で情報を表示
するものであれば足り、画像表示する映像手段あるいは
プリンとアウトするプリンタ等が考えられる。図１は映
像手段を用いた例を表している。 【００１５】次に、上記構成のレーザー式供試体寸法測
定装置を用いた測定方法について説明する。回転テーブ
ル１上に円柱状の供試体Ｗを載せる。このとき、供試体
Ｗの中心Ｏが回転テーブル１の回転中心と一致するよう
に正確に位置あわせする。そして、回転テーブル１上の
供試体Ｗの側面に対しレーザ光プロジェクタ３からレー
ザスリット光３ａを当てる。レーザスリット光３ａは供
試体Ｗの側面に当たって反射され、その反射光をＣＣＤ
カメラ４により取り込む（図２、図３参照）。 【００１６】ＣＣＤカメラ４により取り込まれた撮像情
報は画像処理手段５へ送られ、ここで距離情報へ変換さ
れる。すなわち、計測基準線から実際のレーザスリット
光３ａの反射光までの画素を計数し、それに１画素の距
離を乗じることで、前記撮像情報を距離情報へ変換す
る。変換された距離情報は画素を計数して得られたもの
であり、この距離情報を基に、制御手段６でＸ、Ｙ、Ｚ
の実座標にそれぞれ変換する。つまり、光切断法を用い
た測定を行う。例えば、実座標Ｘ、実座標Ｙは以下の式
で表される。 実座標Ｘ≒画像データのＸ座標×Ｘ座標の１画素の距離＋回転テーブル１のＸ 方向の移動量 実座標Ｚ≒高さＡＢ≒ＯＢ×ｔａｎθ ＝ＯＢの画素数×Ｙ座標の１画素の距離×ｔａｎθ ここで、Ｘの１画素の距離、回転テーブル１のＸ方向の
移動量およびｔａｎθは、この装置の初期較正時に設定
する値である。実座標Ｙについても同様に、画像データ
のＹ座標×Ｙ座標の１画素の距離＋回転テーブル１のＹ
方向の移動量で算出できる。 【００１７】ここで、実座標Ｚは供試体Ｗの側面の凹凸
を表している。したがって、回転テーブル１を３６０度
の範囲で所定ピッチ（例えば、１度）ごとに回転しなが
ら上記測定を繰り返すことにより、１度おきの供試体Ｗ
の側面の凹凸データを得ることができる。 【００１８】このような凹凸データは、制御手段６から
表示装置７へ送られ、ここで表示される。図４は、その
測定結果を表で表したものである。縦軸に供試体Ｗの側
面の凹凸の高さ、横軸に供試体Ｗの高さ方向の長さをと
っている。ここでは、供試体Ｗの高さ２００ｍｍのうち
８ｍｍ分について所定回転角度の側面の凹凸データを表
している。凹凸データは０．２６ｍｍごとにプロットし
ている。この図４から、供試体Ｗの側面には最大で約
２．３５ｍｍ程度の凹凸が生じていることがわかる。こ
のような測定を、供試体Ｗについて、必要に応じ回転テ
ーブル１を回転させながら所定角度おきに、また、回転
テーブル１をＸ方向へ移動させながら、所定高さ分ごと
に測定する。 【００１９】なお、供試体Ｗの高さ寸法は、前述したよ
うにＣＣＤカメラ４にる画像データのＸ座標（Ｘ座標の
１画素の距離＋回転テーブルのＸ方向の移動量）から、
あるいは供試体Ｗの高さがあまり高くない場合には供試
体Ｗの下端から上端まで達するように光を照射し、その
反射光をＣＣＤカメラ４でとらえ、その画像データから
演算して得ることができる。 【００２０】また、供試体Ｗの直径および各高さ位置で
の中心軸からのずれは、例えば、供試体Ｗの全幅に光を
照射し、供試体Ｗの下端から上端まで達するように光を
照射し、その反射光をＣＣＤカメラ４でとらえ、その画
像データから演算して得ることができる。 【００２１】なお、上記した実施の形態では、供試体Ｗ
に対し左右方向の一方向からレーザスリット光３ａを照
射しているが、左右両方からレーザスリット光３ａを照
射し、それらをＣＣＤカメラ４で撮像処理するようにし
てもよい。 【００２２】 【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
回転テーブルに供試体を所定角度ずつ回転させながら測
定することにより、供試体の側面の凹凸寸法を正確に把
握することができ、短時間で効率良く供試体の形状を正
確に把握することができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】 本発明の一実施の形態を示す供試体の寸法測
定装置の構成を示すブロック図である。 【図２】 本発明の一実施の形態を示す供試体の寸法測
定装置を用いた測定方法を示すもので、（ａ）は平面
図、（ｂ）はその一部の拡大図である。 【図３】 本発明の一実施の形態を示す供試体の寸法測
定装置を用いた測定方法を示す斜視図である。 【図４】 本発明の一実施の形態を示す供試体の寸法測
定装置で測定した結果を示す図である。 【符号の説明】 １ 回転テーブル ２ 回転テーブル駆動手段 ３ レーザ光プロジェクタ ４ ＣＣＤカメラ ５ 画像処理手段 ６ 制御手段 ７ 表示手段 Ｗ 供試体
定装置の構成を示すブロック図である。 【図２】 本発明の一実施の形態を示す供試体の寸法測
定装置を用いた測定方法を示すもので、（ａ）は平面
図、（ｂ）はその一部の拡大図である。 【図３】 本発明の一実施の形態を示す供試体の寸法測
定装置を用いた測定方法を示す斜視図である。 【図４】 本発明の一実施の形態を示す供試体の寸法測
定装置で測定した結果を示す図である。 【符号の説明】 １ 回転テーブル ２ 回転テーブル駆動手段 ３ レーザ光プロジェクタ ４ ＣＣＤカメラ ５ 画像処理手段 ６ 制御手段 ７ 表示手段 Ｗ 供試体
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 供試体を載せる回転テーブルと、 該回転テーブル上に載せた供試体の側面に、回転テーブ
ルの回転軸線方向に平行な縦長のレーザスリット光を照
射するレーザ光プロジェクタと、 該レーザ光プロジェクタから供試体の側面に照射された
レーザスリット光の反射光を取り込むよう、レーザ光プ
ロジェクタから照射されたレーザ光に対して所定角度の
光軸となるように配置されたカメラと、 該カメラの撮像情報を距離情報へ変換処理する画像処理
手段と、 該画像処理手段から得られる距離情報を供試体の３次元
距離情報へ演算処理する制御手段と、 該制御手段から得られる供試体の３次元距離情報を表示
する表示手段とを備えてなることを特徴とする供試体の
寸法測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002130499A JP2003322512A (ja) | 2002-05-02 | 2002-05-02 | 供試体の寸法測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002130499A JP2003322512A (ja) | 2002-05-02 | 2002-05-02 | 供試体の寸法測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003322512A true JP2003322512A (ja) | 2003-11-14 |
Family
ID=29543527
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002130499A Withdrawn JP2003322512A (ja) | 2002-05-02 | 2002-05-02 | 供試体の寸法測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2003322512A (ja) |
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007256257A (ja) * | 2006-02-23 | 2007-10-04 | Kobe Steel Ltd | 形状測定装置、形状測定方法 |
| JP2011154038A (ja) * | 2006-02-23 | 2011-08-11 | Kobe Steel Ltd | 形状測定装置、形状測定方法 |
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