DE4244717A1 - Spektroskopisches System - Google Patents
Spektroskopisches SystemInfo
- Publication number
- DE4244717A1 DE4244717A1 DE4244717A DE4244717A DE4244717A1 DE 4244717 A1 DE4244717 A1 DE 4244717A1 DE 4244717 A DE4244717 A DE 4244717A DE 4244717 A DE4244717 A DE 4244717A DE 4244717 A1 DE4244717 A1 DE 4244717A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- aperture
- light
- sample
- spectrometer
- light guide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 title claims abstract description 11
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 title claims abstract description 5
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 12
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 8
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 4
- 230000010287 polarization Effects 0.000 claims description 4
- 238000004128 high performance liquid chromatography Methods 0.000 claims description 3
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 3
- 238000000870 ultraviolet spectroscopy Methods 0.000 claims description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims 1
- 238000013507 mapping Methods 0.000 claims 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 abstract description 14
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 9
- 238000000711 polarimetry Methods 0.000 abstract description 3
- 238000012546 transfer Methods 0.000 abstract description 3
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 7
- 101700004678 SLIT3 Proteins 0.000 description 5
- 102100027339 Slit homolog 3 protein Human genes 0.000 description 5
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 238000004452 microanalysis Methods 0.000 description 2
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 2
- 238000010183 spectrum analysis Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N Deuterium Chemical compound [2H] YZCKVEUIGOORGS-OUBTZVSYSA-N 0.000 description 1
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 229910052805 deuterium Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000018109 developmental process Effects 0.000 description 1
- 230000005670 electromagnetic radiation Effects 0.000 description 1
- 230000012447 hatching Effects 0.000 description 1
- 238000001093 holography Methods 0.000 description 1
- 238000007654 immersion Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B6/00—Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
- G02B6/24—Coupling light guides
- G02B6/26—Optical coupling means
- G02B6/262—Optical details of coupling light into, or out of, or between fibre ends, e.g. special fibre end shapes or associated optical elements
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/0205—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows
- G01J3/0216—Optical elements not provided otherwise, e.g. optical manifolds, diffusers, windows using light concentrators or collectors or condensers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/447—Polarisation spectrometry
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/21—Polarisation-affecting properties
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein spektroskopisches System gemäß dem
Oberbegriff des Anspruchs 1. Ein derartiges spektroskopisches
System, welches für die Spektralanalyse in Gefahrenzonen
entwickelt wurde, zeigt die FR 2643147 A1.
Fig. 1 der vorliegenden Unterlagen zeigt ein weiteres
bekanntes spektroskopisches System, bei dem als Spektrometer
ein Simultanspektrometer verwendet ist.
Kernpunkt des Simultanspektrometers 1 ist die Verwendung von
selbstabtastenden Diodenzeilen 2, welche von Snow 1975
entwickelt wurden und beispielsweise 512 Einzeldioden auf
1,27 cm Länge enthalten. Die Dioden in Siliziumtechnik
bestimmen den nutzbaren Spektralbereich des
Simultanspektrometers 1 von etwa 200 bis 1000 nm. Die vom
Anmelder entwickelte Verwendung der Diodenzeilen 2 in einem
Spektrometer wird bestimmt durch die Zeilengeometrie, wobei
eine Diodenbreite von 25 µm zugleich die Breite des
Austrittsspaltes 3 des Spektrometers festlegt. Bei einer
Abbildung mit der kleinsten Fehlerquote, d. h. 1 : 1, ist das
auch die Breite des Eintrittsspalts 3. Die Spaltenlänge von
12,52 mm ist für ein analytisch interessantes Spektrum, z. B.
das sichtbare Gebiet mit 400 bis 800 nm, extrem kurz bei
einer befriedigenden Bandbreite von 0,8 nm. Diese
ungewöhnlich kleine Lineardispersion bedeutet eine ebenfalls
sehr kurze Schnittweite des Spektralapparates, was primär ein
kleines Dispersionselement zur Folge hätte. Damit ist aber
die spektrale Auflösung (Rayleigh-Kriterium) für die 0,8 nm
Bandbreite nicht zu verwirklichen, weshalb Prismenlösungen
ausscheiden. Bei einer Gitteranordnung benötigt man eine
kurze Brennweite, niedrige Furchendichte und große
Gitterfläche, d. h. einen kleinen Spektrograph mit extrem
hohem Öffnungsverhältnis. Damit ist auch automatisch ein
Lichtleitwert erreicht, der mit konventionellen Geräten
konkurrieren kann. Die vorgenannten Anforderungen an das
Gitter 5 werden von holographisch erzeugten Konkavgittern
erfüllt.
Eine dem Aufbau des Simultanspektrometers 1 angepaßte
Beleuchtungseinrichtung 6 ist in Fig. 1 dargestellt. Damit
das Spektrometer 1 mit größtmöglichem Wirkungsgrad ausgenutzt
werden kann, ist grundsätzlich die gleiche Anordnung wie im
Spektrometer gewählt, wobei an die Stelle des hochgeöffneten
Hologrammgitters 5 ein asphärischer (Ellipsoid)-Spiegel 7
gleicher Öffnung tritt. Damit eine "vollständige Abbildung"
erreicht wird, also die streng konjugierte Folge von
Quellenblende-Objektivblende usw., erhält der Spiegel 7 die
Dimension des Gitters 5. Von der Lichtquelle L und dem Bild
der Lichtquelle L′, das zugleich Eintrittsblende in das
Meßgerät ist, wird verlangt, daß diese sehr klein sind. Dafür
wird von der Lichtquelle L eine möglichst hohe Leuchtdichte
gefordert. Diese Bedingung erfüllen beispielsweise
Xenonlampen der niedrigsten Leistungsklasse von 30 bis
40 Watt bei einem Leuchtfelddurchmesser von 0,3 bis 0,5 mm.
Für das Ultraviolett-Gebiet sind Deuteriumlampen mit
Leuchtfelddurchmessern von 0,5 mm mit hoher Leuchtdichte und
35 Watt Leistungsaufnahme erhältlich.
Zwischen der Blende 4 mit dem Lichtquellenbild L′ und dem
Eintrittsspalt 3 des Spektrometers 1 liegt der Objektraum 8,
in dem eine gerichtete Beleuchtung eines Objekts bzw. einer
Probe 9, die in einer Küvette angeordnet ist, mit geringer
Strahlneigung gegen die optische Achse, im Idealfall
telezentrische Beleuchtung, gefordert wird.
Zur Erreichung dieses Zieles wurden bisher vor der Probe 9
und hinter dieser je eine durch die Linsen 10, 11
repräsentierte Optik angebracht. Man erreicht damit aber
keinen nennenswerten energetischen Wirkungsgrad, und es ist
auch nicht möglich, am Eintrittsspalt 3 des Spektrometers 1
die erforderliche Apertur wiederherzustellen, die zum
Erreichen der spektralen Auflösung (Rayleigh-Kriterium) nötig
ist. Dies bedeutet, daß man in der Praxis die an sich
gegebenen hervorragenden Möglichkeiten des
Simultanspektrometers 1 nicht nutzen kann.
Man hat daher versucht, durch den Einsatz von Lichtleitern
12, 13 im Objektraum 8, wie in Fig. 2 gezeigt, das
vorgenannte Problem zu lösen. Die Lichtleiter werden auch als
Lichtwellenleiter bezeichnet.
Die Lichtleiter 12, 13 können starre oder flexible Monofasern
oder Faserbündel sein. Lichtleiter können die hier
interessierende Apertur α im UV-Bereich von 30° oder mehr und
im sichtbaren von bis zu 90° problemlos übertragen.
Führt man am Ort des Bildes L′ der Lichtquelle das Licht in
den Lichtleiter 12 ein, dann verläßt das Lichtbündel den
Lichtleiter an seinem anderen Ende mit der gleichen Apertur
und Intensitätsverteilung.
Eine gerichtete Beleuchtung der Probe 9 mit geringerer als
der Eingangsapertur kann der Lichtleiter 12 jedoch nicht
erbringen. Im optischen Sinn ist seine Austrittsöffnung zwar
ein konjugierter Ort zur Eintrittsfläche, aber auch wenn am
Eintritt ein echtes optisches Bild der Lichtquelle liegt, ist
das am Austritt nicht der Fall, da jeder Querschnitt durch
den Lichtleiter gleichwertig, aber nicht bildfähig ist. Die
Austrittsfläche wirkt daher optisch als Loch. Erhalten bleibt
jedoch die Lichtleitgeometrie, d. h. die Apertur. Weil das
Lichtleiterende, wie gesagt, nicht abbildungsfähig ist, läßt
sich auch mit nachgeschalteten Linsen- oder Spiegeloptiken
keine definierte Abbildung schaffen. Man muß sich daher damit
abfinden, daß das Problem der reversiblen Aperturwandlung in
der Kombination von Lichtleitern mit konventioneller Linsen-
oder Spiegeloptik nicht zu lösen ist, auch wenn erfolglos
verschiedene diesbezügliche Versuche unternommen wurden.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein
spektroskopisches System für die Spektralpolarimetrie zu
schaffen, das eine optimale Energieübertragung ermöglicht.
Die gesuchte Rotationsdispersion, also der Drehverlauf der
optischen Aktivität als Spektralfunktion ergibt sich zu:
Man ersieht, daß wegen der Verhältnisbildung alle spektralen
Apparatefunktionen eliminiert sind. Beachtenswert ist
außerdem, daß der Mittelwert der Photoströme im Nenner der
Gleichung exakt das Absorptionsspektrum der Substanz
darstellt, welches leicht über die Software der im Rahmen
dieser Anmeldung nicht näher diskutierten Auswerteinrichtung
abgerufen werden kann.
Die Erfindung ermöglicht eine wirkungsvolle und schnelle
Messung der Rotationsdispersion auch bei kleinen Probemengen,
die von größter biochemischer Bedeutung ist. Sie überwindet
die bisherigen, überwiegend energetisch bedingten
Schwierigkeiten in der Spektralpolarimetrie, wodurch schnelle
Spektrenmessungen oder Mikromethoden praktisch ausgeschlossen
waren, weil polarimetrische Strahlengänge noch stärker als
andere aperturempfindlich sind.
Mit der Erfindung wird daher die Möglichkeit erschlossen, ein
wirksames Mikro-Spektralpolarimeter zu bauen.
In dem erfindungsgemäßen spektroskopischen System sind die
Lichteintrittsöffnung und die Lichtaustrittsöffnung des
Aperturwandlers vorzugsweise senkrecht zur optischen Achse
verlaufende Querschnittsöffnungen.
Gemäß einer bevorzugten Variante der Erfindung ist der
kleineren Querschnittsöffnung des Aperturwandlers zumindest
ein Stück eines vorzugsweise zylindrischen Lichtleiters
vorgeschaltet, dessen Querschnitt, vorzugsweise im
Anlagebereich an den Aperturwandler, dessen kleinerer
Querschnittsöffnung entspricht, zur Ankoppelung des
Aperturwandlers an die Lichtquelle bzw. deren Bild oder den
Eintrittsspalt des Spektrometers. Der Lichtleiter ist dabei
vorzugsweise zumindest zwischen seinen Endbereichen als
vorzugsweise flexibles Lichtleitkabel ausgebildet.
Die Erfindung beruht auf der Erkenntnis, daß in der
Spektralanalytik nur energetisch-optische Fragestellungen zu
lösen sind (Frequenz, Amplitude, Geschwindigkeit, Azimut und
Achsenverhältnis der elektromagnetischen Strahlung), so daß
alle Fragen nach der Bildlage, der Bildschärfe usw.
zurückstehen können und daß man sich daher auf die Forderung
beschränken kann, das Licht bzw. die Strahlung so verlustarm
wie möglich durch den Objektraum zu führen sowie mit
geeigneten Mitteln die Strahlneigungen, also die Aperturen,
der Meßmethode anzupassen. Brechungs- und Beugungseffekte
sind dispersionsbehaftet, also nicht achromatisch, und
deshalb sind darauf beruhende Mittel auszuschließen. Als
Mittel der Wahl verbleiben daher Reflexionsmittel, wobei man
vorzugsweise von der Totalreflexion Gebrauch macht, die in
den Lichtleitern ohnehin ausgenutzt wird.
Der Einsatz der Aperturwandler, der sich auch als konsequente
Reduzierung eines koaxialen Teleskops mit
Innenwandreflexionen auf einen sehr kleinen trichterförmigen
bzw. kegelartigen Aperturwandler verstehen läßt, ermöglicht
eine achromatische optische Energieübertragung. Der
Aperturwandler kann in einfacher Weise an die bei vielen
Ausführungsformen des spektroskopischen Systems ohnehin
zweckmäßigerweise verwendeten Lichtleiter angekoppelt werden.
Wie leicht zu ersehen ist, verändert die kegelartige
Ausgestaltung des Aperturwandlers die Apertur des
durchfallenden Lichts immer in dem Sinn, daß am kleinen
Querschnitt die Apertur groß und am großen Querschnitt klein
ist.
Gemäß einer weiteren Variante der Erfindung ist der größeren
Querschnittsöffnung des Aperturwandlers ein Stück eines
vorzugsweise zylindrischen Lichtleiters vorgeschaltet, dessen
Querschnitt im Anlagebereich an den Aperturwandler dessen
größerer Querschnittsöffnung entspricht, zur Ankoppelung des
Aperturwandlers an die Probe, beispielsweise mittels
Ankitten.
Für den Energietransport im Objektraum ist es besonders
günstig, wenn das dem jeweiligen Ende des Aperturwandlers
vorgeschaltete Ende eines zylindrischen Lichtleiters aus dem
gleichen Material besteht wie der Aperturwandler.
Der jeweilige Lichtleiter kann als Monofaser oder
Lichtleitstab ausgebildet sein oder auch als optisches
Faserbündel, wobei im zuletzt genannten Fall das an den
Eintrittsspalt des Spektrometers angrenzende Faserbündel in
diesem Endbereich in Form eines Spaltes ausgebildet sein
kann, welcher einen separaten Eintrittsspalt des
Spektrometers ersetzt. Als vorteilhaft hat es sich ferner
erwiesen, wenn der halbe Kegelwinkel β des Aperturwandlers
derart gewählt ist, daß bei der Objektbeleuchtung eine
geringe Strahlenneigung gegenüber der optischen Achse erzielt
ist.
Dabei ist mit Vorteil der halbe Kegelwinkel des
Aperturwandlers kleiner oder gleich dem halben maximalen
Lichtaustrittswinkel aus dem Lichtleiter, welcher von der
Lichtquelle bzw. deren Bild zu dem zwischen Lichtquelle bzw.
deren Bild und der Probe gelegenem Aperturwandler führt. Der
Lichtaustrittswinkel dieses Lichtleiters ist, wie bereits
vorstehend erwähnt, durch die Apertur des Beleuchtungssystems
bestimmt, da im Lichtleiter die Lichtleitgeometrie, d. h. die
Apertur, erhalten bleibt.
Falls das System für die UV-Spektroskopie vorgesehen ist,
dienen als Aperturwandler Quarztrichter, wobei die diesen
gegebenenfalls vorgeschalteten Lichtleiter ebenfalls aus
Quarz bestehen. Bei dieser bevorzugten derartigen Anordnung
und einer Apertur der Beleuchtung von α = 26° ist der halbe
Kegelwinkel des Aperturwandlers β 6,5° und beträgt
vorzugsweise 5,5°.
Nach einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des
erfindungsgemäßen Systems, die dann von besonderer Bedeutung
ist, wenn das System in der Mikroanalytik, insbesondere der
HPLC, eingesetzt wird, dient als Beleuchtungsanordnung eine
punktförmige oder quasi punktförmige Lichtquelle, die mittels
eines asphärischen Spiegels, vorzugsweise eines Ellipsoid-
Spiegels, auf die Eintrittsöffnung des zwischen Lichtquelle
und Objekt angeordneten Aperturwandlers oder des diesem
vorgeschalteten Lichtleiters abgebildet wird.
Dabei wird als Spektrometer vorzugsweise eine aus einem
Beugungsgitter und einer Empfängereinheit bestehende
Anordnung verwendet, wobei bevorzugt als Beugungsgitter ein
holographisches Konkavgitter und als Empfänger eine
Photodiodenzeile dienen.
Es ist besonders günstig, wenn der Spiegel der
Beleuchtungseinrichtung und das Konkavgitter des
Spektrometers die gleiche Apertur aufweisen und/oder wenn
eine 1 : 1-Abbildung der Lichtquelle auf die Dioden der
Photodiodenzeile erfolgt.
Gemäß einer bevorzugten Anwendung des erfindungsgemäßen
Systems ist im Objektraum zumindest eine Kapillarküvette
angeordnet, an deren Eingang und Ausgang ein Aperturwandler
mit seiner größeren Querschnittsöffnung direkt oder auch
anwendungsbedingt über Strahlenteiler oder Analysator- bzw.
Polarisatoranordnungen angeschlossen ist und die in
Längsrichtung durchstrahlt wird.
Die zumindest eine Küvette ist mit Vorteil als
Durchflußküvette ausgebildet.
Die beiliegenden Zeichnungen dienen der weiteren Erläuterung
der Erfindung.
Fig. 1 zeigt in schematisierter Darstellung ein
spektroskopisches System nach dem Stand der
Technik, in welchem ein Simultanspektrometer
Verwendung findet;
Fig. 2 zeigt eine Variante für den Objektraum des in
Fig. 1 gezeigten Systems nach dem Stand der
Technik;
Fig. 3 zeigt in schematisierter Darstellung eine
Weiterbildung des in Fig. 1 gezeigten
spektroskopischen Systems in einer Anordnung zur
Absorptionsmessung, bei dem ein
Simultanspektrometer Verwendung findet;
Fig. 4a zeigt im Längsschnitt eine erste Ausführungsform
eines erfindungsgemäß verwendeten Aperturwandlers;
Fig. 4b zeigt im Längsschnitt eine zweite Ausführungsform
eines erfindungsgemäß verwendeten Aperturwandlers
mit einem daran angeschlossenen Lichtleiter, der
zum Anschluß des Aperturwandlers an eine
Probenküvette dient;
Fig. 5 zeigt in einer Schnittdarstellung einen Bereich
des Objektraumes von einem spektroskopischen
System bei der Absorptionsmessung, wobei in den
Fig. 5a bis 5d die Wirkung zunehmend kleinerer
Kegelwinkel bei den Aperturwandlern dargestellt
ist;
Fig. 6 erläutert in schematisierter Darstellung die
ringpupillenartige Wirkung des Aperturwandlers;
Fig. 7 zeigt im Längsschnitt einen Bereich des
Objektraums von einem erfindungsgemäßen
spektroskopischen System in seiner Anordnung als
Polarisations-Spektrometer.
Zur Erläuterung des erfindungsgemäßen Polarisations-
Spektrometers wird im folgenden zunächst anhand von Fig. 3
eine Weiterbildung des in Fig. 1 dargestellten
spektroskopischen Systems beschrieben, wobei der in Fig. 1
gezeigte und vorstehend beschriebene Grundaufbau verwendet
ist und wobei gleiche Teile mit gleichen Bezugszeichen
versehen sind. Der zwischen dem Spektrometer 1 und der
Beleuchtungseinrichtung 6 gelegene Objektraum 8 enthält eine
Probe 9, die in einer Durchflußküvette aufgenommen ist.
Beiderseits der Probe 9 ist je ein Aperturwandler 14, 15
angebracht, der aus einem koaxialen kegelförmigen Lichtleiter
oder Spiegel besteht, mit einer Lichteintritts- und einer
Lichtaustrittsöffnung und einer spiegelnden bzw.
totalreflektierenden Innenfläche. Der zwischen dem Bild L′,
der Lichtquelle L und der Probe 9 angeordnete Aperturwandler
14 ist mit seiner die Lichteintrittsöffnung bildenden
kleineren Querschnittsöffnung bzw. -fläche in der Ebene des
Bildes L′ der Lichtquelle L angeordnet, während seine die
Lichtaustrittsöffnung bildende größere Querschnittsöffnung
bzw. -fläche gegebenenfalls über ein Stück 16 eines
Lichtleiters an das Eintrittsfenster der die Probe 9
enthaltenden Küvette angekoppelt ist. Der zwischen der Probe
9 und dem Eintrittsspalt 3 des Spektrometers 1 angeordnete
Aperturwandler 15 entspricht hinsichtlich seines Aufbaus
identisch dem Aperturwandler 14, wobei er, bezogen auf die
Probe 9, spiegelsymmetrisch zu letzterem eingebaut ist, so
daß seine von der kleineren Querschnittsöffnung bzw. -fläche
gebildete Lichtaustrittsöffnung in die Ebene des
Eintrittsspalts 3 zu liegen kommt, während sich seine von der
größeren Querschnittsöffnung bzw. -fläche gebildete
Lichteintrittsöffnung gegebenfalls über ein Stück 16 eines
Lichtleiters an die Austrittsöffnung der die Probe 9
enthaltenden Küvette angekoppelt ist.
Die in Fig. 4a und Fig. 4b gezeigten speziellen Maße und
Dimensionen der Aperturwandler 14, 15 betreffen ein
spezielles, für die UV-Spektroskopie bevorzugtes
Ausführungsbeispiel eines Quarz-Aperturwandlers, das im
folgenden anhand der Fig. 5a bis 5d noch näher erläutert
wird.
Die in den Fig. 5a bis 5d gezeigten Beispiele beziehen sich
auf eine besonders gut UV-durchlässige sogenannte Quarz-
Quarz-Faser, welche am langwelligen Spektralende nur eine
Apertur von 26° zuläßt. Diese High-Tech-Faser wird mit 0,6 mm
Durchmesser als Monofaser gefertigt.
Bei einer Apertur von 2 α= 26° entspricht ein halber
Kegelwinkel von β = α/2 = 6,5° gerade dem größten
Nutzquerschnitt des Aperturwandlers. Nun ist aber in der
Mikroanalytik, z. B. der HPLC, nicht der größte, sondern der
kleinste mögliche Querschnitt gesucht und diesen erhält man
durch Verkleinerung des halben Kegelwinkels β, allerdings um
den Preis einer verkürzten Nutzlänge. Das Optimum ergibt sich
aus der Geometrie des vorgegebenen Probenraumes, der meistens
eine Durchflußküvette ist. Man erkennt, daß der
Aperturwandler 14 von Fig. 5b mit einem halben Kegelwinkel
β = 5,5° ein Optimum erreicht.
Bezüglich des energetischen Wirkungsgrades ist festzustellen,
daß der Aperturwandler das einfachste Spiegelobjektiv ist. Er
weist daher zwangsläufig eine Ringapertur bzw. Ringpupille
auf mit einer optisch toten Zone, wie sie durch die Schraffur
17 in Fig. 3 dargestellt ist.
Bezogen auf das vorstehende Beispiel werden, wie aus Fig. 5
ersichtlich, alle Strahlen mit einer Neigung < 6,5° gegen die
Achse bis zur Grenze von 13° reflektiert und durchsetzen die
Probe. Im Kern des Strahlenbüschels gibt es eine kleine Zone,
in der die Strahlen ohne Reflexion die Probe durchsetzen.
Dazwischen ist eine Ringzone, die verlorengeht. Dieser
Tatbestand ist auch in Fig. 6 schematisch dargestellt.
Die in Fig. 6 dicht schraffierte Verlustzone macht ohne
Berücksichtigung der Kernzone etwa 25% des Querschnitts aus,
d. h. der energetische Übertragungsgrad des Aperturwandlers
beträgt zumindest 0,75. Man kann diesen Übertragungsgrad
steigern, wenn man den halben Kegelwinkel β verkleinert und
eine zweite Reflexion hinzunimmt. Damit steigen allerdings
auch die Herstellungsanforderungen.
Die Querschnittsverhältnisse Lichtleiteraustrittsfläche =
Küvettenquerschnitt ergeben sich nach dem Strahlensatz.
Weil, wie vorstehend angeführt, in der wissenschaftlichen
Analytik nie nach dem größt-, sondern nach dem
kleinstmöglichen Küvettenvolumen gefragt ist, folgt, daß bei
vollständiger Abbildung folgende Bedingung gelten muß:
Empfängerfläche = Spaltfläche = kleinere
Kegelöffnung des Aperturwandlers.
Die Empfängerfläche (z. B. Reticon S-Zeile) beträgt für
maximale Auflösung 0,0625 mm2 (25 µm Breite und 2,5 µm Höhe).
Diese ergibt einen Durchmesser für die Kegelspitze des
Aperturwandlers von 0,14 mm bzw. bei einer Faser von rund
0,15 mm Kerndurchmesser. Bei einer Apertur von ∼26° aus dem
vorstehenden Beispiel würde sich ein Küvetteninnendurchmesser
von rund 0,4 bis 0,5 mm ergeben, was einem Querschnitt von
0,2 mm2 entspricht. Dies bedeutet bei 10 mm Schichtlänge ein
Füllvolumen der Küvette von gerade 2 µl.
Die "tote Zone" der Aperturwandler 14, 15 kann zu einer
definierten Befestigung benutzt werden. Diese Fixierung kann
an der Küvette und/oder am flexiblen Lichtleiter 12, 13
erfolgen. An der Küvette befestigt, kann die Kegelendfläche
des Aperturwandlers direkt als Küvettenfenster benutzt
werden. Nachteilig ist jedoch dabei, daß die Aperturwandler
das Schicksal der Küvette teilen und bei deren Verschmutzung
ausgetauscht werden müssen. In der Regel wird man daher die
Aperturwandler 14, 15 an den Enden der Lichtleiter 12, 13
befestigen. Dabei kommen dann die Aperturwandler in einem
gewissen Mindestabstand vor den Küvettenfenstern zu liegen.
Zur Vermeidung von Interferenzen, wenn es auf maximale
Energieausnutzung ankommt, kann der Abstand durch Immersion
überbrückt werden.
Die vorstehenden Erläuterungen anhand der Fig. 3 und 5
betrafen den Einsatz des erfindungsgemäßen spektroskopischen
Systems bei Absorptionsmessungen von in jeweils einer
Kapillarküvette befindlichen Proben.
Fig. 7 zeigt ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen
spektroskopischen Systems, das eine Messung der
Rotationsdispersion ermöglicht. Das System ist als
Polarisations-Spektrometer aufgebaut, von dem in Fig. 7
jedoch nur ein Teil des Objektraumes 8 dargestellt ist. Das
Spektrometer 1 mit seinem Eintrittsspalt 3 und die
Beleuchtungseinrichtung 6 mit dem Bild L′ der Lichtquelle L
am Ort 4 entsprechen in ihrem Grundaufbau der in Fig. 3
dargestellten Ausführung. Vor der Küvette mit der Probe 9 ist
ein Polarisator 23 angebracht und hinter derselben ein
Analysator 24, welcher die beiden Vergleichsstrahlengänge zum
einen über den Aperturwandler 15 und den Lichtleiter 13 zum
Eintrittsspalt 3 des Spektrometers 1 leitet, zum anderen über
einen weiteren Aperturwandler 25 und einen an diesen
angeschlossenen weiteren Lichtleiter 26 zu dem Eintrittsspalt
eines weiteren Spektrometers, das in der Fig. 9 jedoch nicht
dargestellt ist, aber hinsichtlich seines Aufbaus dem
Spektrometer 1 von Fig. 3 entspricht.
Die Erfindung ermöglicht mit dem in Fig. 9 skizzierten Aufbau
eine wirkungsvolle und schnelle Messung der
Rotationsdispersion, auch bei kleinen Probenmengen, die von
größter biochemischer Bedeutung ist. Sie überwindet die
bisherigen, überwiegend energetisch bedingten Schwierigkeiten
in der Spektralpolarmetrie, wodurch schnelle
Spektrenmessungen oder Mikromethoden praktisch ausgeschlossen
waren, weil polarimetrische Strahlengänge noch stärker als
andere aperturempfindlich sind.
Durch den Einsatz der Aperturwandler wird die Möglichkeit
erschlossen, ein Mikro-Spektralpolarimeter zu bauen, wie es
in Fig. 7 dargestellt ist. Strahlengang und Küvette
entsprechen den aus Fig. 5 schon bekannten Verhältnissen.
Ein Polarisator 23, z. B. vom Glan-Typ, mit nur 3 mm
Kantenlänge kann ohne technische Änderungen der Lasertechnik
entnommen werden. Der Analysator 24, welcher gleichzeitig
Strahlenteiler ist, steht mit seinen beiden
Schwingungsrichtungen unter +45° bzw. -45° zur einfallenden
Schwingungsrichtung. Die beiden Simultanspektrometer, welche
über die Lichtleiter 13 und 26 mit den Aperturwandlern 15 und
25 an den Analysator 24 angekoppelt sind, liefern für jede
Wellenlänge der Diodenzeile 2 der Spektrometer einen
Photostrom Φ(x)1 bzw. Φ(x)2. Die gesuchte Rotationsdispersion,
also der Drehverlauf der optischen Aktivität als
Spektralfunktion, ergibt sich, wie bereits vorstehend
erwähnt, zu:
Man ersieht, daß wegen der Verhältnisbildung alle spektralen
Apparatefunktionen eliminiert sind. Beachtenswert ist
außerdem, daß der Mittelwert der Photoströme im Nenner der
Gleichung exakt das Absorptionsspektrum der Substanz
darstellt, welches leicht über die Software der im Rahmen
dieser Anmeldung nicht näher diskutierten Auswerteinrichtung
abgerufen werden kann.
Claims (19)
1. Spektroskopisches System, in welchem zumindest eine
Probe mittels von einer Lichtquelle ausgehendem Licht
gerichtet beleuchtet und das von der Probe ausgehende
Licht auf den Eintrittsspalt zumindest eines
Spektrometers, gebündelt wird, wobei im Objektraum
zwischen der Lichtquelle bzw. deren Bild und der
Probe und zwischen der Probe und dem Eintrittsspalt
je ein Aperturwandler vorgesehen ist, der jeweils aus
einem koaxialen, kegelförmigen Lichtleiter oder
Spiegel mit einer Lichteintritts- und einer
Lichtaustrittsöffnung besteht, wobei die größere der
Öffnungen jeweils der Probe zugekehrt ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß, in Richtung des Beleuchtungsstrahlengangs
gesehen, vor der zu untersuchenden Probe (9) eine
Polarisationseinrichtung (23) und hinter der zu
untersuchenden Probe eine Analysatoreinrichtung (24)
über je einen Aperturwandler (15, 25) je ein
Spektrometer angeschlossen ist zur Bestimmung der
Rotationsdispersion und des Absorptionsspektrums der
Probe (9) aus den von den Spektrometern erhaltenen
Photoströmen (Φ(x)1 und (Φ(x)2).
2. System nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
die Lichteintrittsöffnung und die
Lichtaustrittsöffnung des Aperturwandlers (14, 15, 25)
senkrecht zur optischen Achse verlaufende
Querschnittsöffnungen sind.
3. System nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
den kleineren Querschnittsöffnungen des
Aperturwandlers zumindest ein Stück eines
vorzugsweise zylindrischen Lichtleiters (12, 13; 26)
vorgeschaltet ist, dessen Querschnitt im
Anlagebereich an den Aperturwandler (14, 15; 25) der
kleineren Querschnittsöffnung entspricht, zur
Ankoppelung des Aperturwandlers (14, 15; 25) an die
Lichtquelle (L) bzw. deren Bild (L′) oder den
Eintrittsspalt (3).
4. System nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß
der Lichtleiter (12, 13; 26) zumindest zwischen seinen
Endbereichen als vorzugsweise flexibles
Lichtleitkabel ausgebildet ist.
5. System nach einem der Ansprüche 2 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß den größeren
Querschnittsöffnungen des Aperturwandlers (14, 15) ein
Stück (16) eines vorzugsweise zylindrischen
Lichtleiters vorgeschaltet ist, dessen Querschnitt im
Anlagebereich an den Aperturwandler (14, 15) der
größeren Querschnittsöffnung entspricht, zur
Ankoppelung des Aperturwandlers (14, 15) an die
Probe (9).
6. System nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch
gekennzeichnet, daß das dem jeweiligen Ende des
Aperturwandlers (14, 15; 25) vorgeschaltete Stück eines
zylindrischen Lichtleiters (12, 13, 16, 26) aus dem
gleichen Material besteht wie der Aperturwandler
(14, 15; 25).
7. System nach einem der Ansprüche 3 bis 6, dadurch
gekennzeichnet, daß der Lichtleiter (12, 13; 16; 26) als
Monofaser oder Lichtleitstab ausgebildet ist.
8. System nach Anspruch 4 oder einem der von Anspruch 4
abhängigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der
Lichtleiter (12, 13, 26) als optisches Faserbündel
ausgebildet ist.
9. System nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß der halbe Kegelwinkel β des
Aperturwandlers (14, 15) derart gewählt ist, daß bei
der Objektbeleuchtung eine geringe Strahlenneigung
gegenüber der optischen Achse erzielt ist.
10. System nach einem der Ansprüche 3 bis 9, dadurch
gekennzeichnet, daß der halbe Kegelwinkel β des
Aperturwandlers (14, 15; 25) kleiner oder gleich dem
halben maximalen Lichtaustrittswinkel α/2 aus dem
Lichtleiter (12) ist, welcher von der Lichtquelle (L)
bzw. deren Bild (L′) zu dem zwischen Lichtquelle (L)
bzw. deren Bild (L′) und der Probe (9) gelegenen
Aperturwandler (14) führt.
11. System nach einem der vorstehenden Ansprüche mit
Eignung für die UV-Spektroskopie, dadurch
gekennzeichnet, daß die Aperturwandler (14, 15; 25)
Quarztrichter sind, und daß diesen gegebenenfalls
vorgeschaltete Lichtleiter (12, 13; 16; 26) ebenfalls
aus Quarz bestehen.
12. System nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß
bei einer Apertur der Beleuchtung von α = 26° für den
halben Kegelwinkel β des Aperturwandlers (14, 15; 25)
die Beziehung gilt: β 6,5°, wobei vorzugsweise
β = 5,5° gilt.
13. System nach einem der vorstehenden Ansprüche zur
Durchführung der Mikroanalytik, insbesondere der
HPLC, dadurch gekennzeichnet, daß als
Beleuchtungsanordnung (6) eine punktförmige oder
quasi punktförmige Lichtquelle (L) verwendet ist, die
mittels eines asphärischen, vorzugsweise eines
Ellipsoid-Spiegels (7), auf die Eintrittsöffnung des
zwischen Lichtquelle und Objekt (9) angeordneten
Aperturwandlers (14) oder des diesem vorgeschalteten
Lichtleiters (12) abgebildet ist.
14. System nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß als Spektrometer (1) eine aus
einem Beugungsgitter (5) und einer Empfängereinheit
(2) bestehende Anordnung verwendet ist.
15. System nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß
als Beugungsgitter (5) ein holographisches
Konkavgitter und als Empfänger eine Photodiodenzeile
(2) dienen.
16. System nach Anspruch 13 und 15, dadurch
gekennzeichnet, daß der Spiegel (7) der
Beleuchtungseinrichtung (1) und das Konkavgitter (5)
des Spektrometers (1) die gleiche Apertur aufweisen.
17. System nach Anspruch 16, gekennzeichnet durch eine
1:1-Abbildung der Lichtquelle (L) auf die Dioden der
Photodiodenzeile (2).
18. System nach einem der vorstehenden Ansprüche, dadurch
gekennzeichnet, daß im Objektraum (8) zumindest eine
Kapillarküvette angeordnet ist, an deren Eingang und
Ausgang ein Aperturwandler (14, 15) mit seiner
größeren Querschnittsöffnung angeschlossen ist und
die in Längsrichtung durchstrahlt wird.
19. System nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß
die zumindest eine Küvette als Durchflußküvette
ausgebildet ist.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4244717A DE4244717B4 (de) | 1992-08-13 | 1992-08-13 | Spektroskopisches System |
DE4226884A DE4226884C1 (de) | 1992-08-13 | 1992-08-13 | Spektroskopisches System zur Durchführung der Mikroanalytik |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4244717A DE4244717B4 (de) | 1992-08-13 | 1992-08-13 | Spektroskopisches System |
DE4226884A DE4226884C1 (de) | 1992-08-13 | 1992-08-13 | Spektroskopisches System zur Durchführung der Mikroanalytik |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4244717A1 true DE4244717A1 (de) | 1994-02-17 |
DE4244717B4 DE4244717B4 (de) | 2004-12-09 |
Family
ID=6465520
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4244717A Expired - Fee Related DE4244717B4 (de) | 1992-08-13 | 1992-08-13 | Spektroskopisches System |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4244717B4 (de) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19545018A1 (de) * | 1995-12-02 | 1997-06-05 | Marcel Kastler | Computergesteuertes Polarimeter zur Drehwinkelbeobachtung von Reaktionen unter konstanten Versuchsbedingungen |
EP0896686A1 (de) * | 1996-04-30 | 1999-02-17 | Foster Miller, Inc. | Faseroptisch gekoppelte transmissionszelle für spektrographische analyse während eines prozesses |
DE29901464U1 (de) * | 1999-01-28 | 2000-07-06 | J & M Analytische Mess- und Regeltechnik GmbH, 73431 Aalen | Kombinationslichtquelle und Analysesystem unter Verwendung derselben |
WO2001075419A1 (de) * | 2000-03-31 | 2001-10-11 | Glukomeditech Ag | Optische vorrichtung zur gleichzeitigen mehrfachmessung mittels polarimetrie und spekrometrie sowie verfahren zur regelung/überwachung physikalisch-chemischer und biotechnischer prozesse mittels dieser vorrichtung |
WO2003068309A2 (en) * | 2002-02-15 | 2003-08-21 | Sop S.R.L. | Method and associated apparatus for selecting bio-frequencies so as to induce resonance phenomena in materials |
WO2006039648A1 (en) * | 2004-10-01 | 2006-04-13 | Baylor University | Spectroscopic determination of enantiomeric purity |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3481671A (en) * | 1966-07-27 | 1969-12-02 | Melpar Inc | Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements |
DE2513937A1 (de) * | 1975-03-26 | 1976-10-07 | Schmidt & Haensch Franz | Verfahren und einrichtung zur bestimmung der konzentration von mehreren optisch aktiven substanzen, die gemeinsam in einer probe vorliegen |
US4467204A (en) * | 1982-02-25 | 1984-08-21 | American Crystal Sugar Company | Apparatus and method for measuring optically active materials |
US4822169A (en) * | 1984-09-25 | 1989-04-18 | Richard Distl | Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation |
US4902134A (en) * | 1988-02-03 | 1990-02-20 | Rudolph Research Corporation | Optical amplifier and method for amplifying optical polarization state change effects |
FR2643147A1 (fr) * | 1989-02-14 | 1990-08-17 | Malifaud Pierre | Procede pour l'analyse spectrophotometrique d'un fluide, notamment en zone dangereuse par cellule a source integree haute energie, et dispositif optique de mise en oeuvre |
JPH06183924A (ja) * | 1991-02-15 | 1994-07-05 | Jiyumoku Chushutsu Seibun Riyou Gijutsu Kenkyu Kumiai | 抗菌剤 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1472069A1 (de) * | 1965-03-16 | 1969-07-10 | Bodenseewerk Perkin Elmer Co | Anordnung zur Beleuchtung einer Probe fuer photometrische Zwecke |
DD209278A1 (de) * | 1982-07-29 | 1984-04-25 | Akad Wissenschaften Ddr | Anordnung zur registrierung von kurzzeitiger doppelbrechung und dichroismus |
-
1992
- 1992-08-13 DE DE4244717A patent/DE4244717B4/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3481671A (en) * | 1966-07-27 | 1969-12-02 | Melpar Inc | Apparatus and method for obtaining optical rotatory dispersion measurements |
DE2513937A1 (de) * | 1975-03-26 | 1976-10-07 | Schmidt & Haensch Franz | Verfahren und einrichtung zur bestimmung der konzentration von mehreren optisch aktiven substanzen, die gemeinsam in einer probe vorliegen |
US4467204A (en) * | 1982-02-25 | 1984-08-21 | American Crystal Sugar Company | Apparatus and method for measuring optically active materials |
US4822169A (en) * | 1984-09-25 | 1989-04-18 | Richard Distl | Measuring assembly for analyzing electromagnetic radiation |
US4902134A (en) * | 1988-02-03 | 1990-02-20 | Rudolph Research Corporation | Optical amplifier and method for amplifying optical polarization state change effects |
FR2643147A1 (fr) * | 1989-02-14 | 1990-08-17 | Malifaud Pierre | Procede pour l'analyse spectrophotometrique d'un fluide, notamment en zone dangereuse par cellule a source integree haute energie, et dispositif optique de mise en oeuvre |
JPH06183924A (ja) * | 1991-02-15 | 1994-07-05 | Jiyumoku Chushutsu Seibun Riyou Gijutsu Kenkyu Kumiai | 抗菌剤 |
Non-Patent Citations (5)
Title |
---|
H. Schlemmer: "Simultan Spektrometer", Firmenschrift Zeiss, Juni 1984 * |
J.C. Gluckmann et.al., Anal. Chem. 57, 1546 * |
JP 61-1 14 146 A, in: Patent Abstracts of Japan 17505, Vol. 10, Nr. 298 (1986) * |
M. Verzele et.al., Journal Chrom. 477, 87 * |
X.Xc et.al., Anal. Chem. 63, 490-496 (1991) * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19545018A1 (de) * | 1995-12-02 | 1997-06-05 | Marcel Kastler | Computergesteuertes Polarimeter zur Drehwinkelbeobachtung von Reaktionen unter konstanten Versuchsbedingungen |
EP0896686A1 (de) * | 1996-04-30 | 1999-02-17 | Foster Miller, Inc. | Faseroptisch gekoppelte transmissionszelle für spektrographische analyse während eines prozesses |
EP0896686A4 (de) * | 1996-04-30 | 2000-08-16 | Foster Miller Inc | Faseroptisch gekoppelte transmissionszelle für spektrographische analyse während eines prozesses |
DE29901464U1 (de) * | 1999-01-28 | 2000-07-06 | J & M Analytische Mess- und Regeltechnik GmbH, 73431 Aalen | Kombinationslichtquelle und Analysesystem unter Verwendung derselben |
WO2001075419A1 (de) * | 2000-03-31 | 2001-10-11 | Glukomeditech Ag | Optische vorrichtung zur gleichzeitigen mehrfachmessung mittels polarimetrie und spekrometrie sowie verfahren zur regelung/überwachung physikalisch-chemischer und biotechnischer prozesse mittels dieser vorrichtung |
WO2003068309A2 (en) * | 2002-02-15 | 2003-08-21 | Sop S.R.L. | Method and associated apparatus for selecting bio-frequencies so as to induce resonance phenomena in materials |
WO2003068309A3 (en) * | 2002-02-15 | 2003-11-13 | Sop S R L | Method and associated apparatus for selecting bio-frequencies so as to induce resonance phenomena in materials |
WO2006039648A1 (en) * | 2004-10-01 | 2006-04-13 | Baylor University | Spectroscopic determination of enantiomeric purity |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4244717B4 (de) | 2004-12-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0772029B1 (de) | Spektroskopische Systeme zur Analyse von kleinen und kleinsten Substanzmengen | |
DE2364069C3 (de) | Spektralphotometer | |
WO1994004892A9 (de) | Spektroskopische systeme zur analyse von kleinen und kleinsten substanzmengen | |
DE2642170C2 (de) | Spektrophotometer | |
DE3144860C2 (de) | ||
EP2516975B1 (de) | Spektrometeranordnung | |
DE3843876C2 (de) | ||
DE19601873C2 (de) | Gasanalysator | |
DE4200869C2 (de) | Infrarot Mikroskop-Spektrometer | |
DE19509157C2 (de) | Optisches System mit großen Meßbereichen | |
DE4226884C1 (de) | Spektroskopisches System zur Durchführung der Mikroanalytik | |
EP2158460B1 (de) | Spektrometeranordnung | |
DE4244717B4 (de) | Spektroskopisches System | |
DE9404041U1 (de) | Aperturwandler | |
DE1964509A1 (de) | Spektrophotometer | |
EP0660106A1 (de) | Vorrichtung mit einem Spektralphotometer und Lichtleitern | |
DE4118760A1 (de) | Echelle-doppelmonochromator | |
DE2758141A1 (de) | Spektrophotometer | |
WO2021255584A1 (de) | Chromatisch konfokale messvorrichtung | |
DE1130197B (de) | Absorptionsmessvorrichtung, insbesondere zur Mikrospektralanalyse | |
DE4410036B4 (de) | Zweistrahl-Polychromator | |
DE2744168B2 (de) | Magnetoptisches Spektralphotometer | |
DE10002106A1 (de) | Kombinationslichtquelle und Analysesystem unter Verwendung derselben | |
DE8220945U1 (de) | Spektralphotometer | |
DE3340505A1 (de) | Kuevette zur aufnahme von substanzen bei der spektralphotometrie |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
AC | Divided out of |
Ref country code: DE Ref document number: 4226884 Format of ref document f/p: P |
|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
AC | Divided out of |
Ref country code: DE Ref document number: 4226884 Format of ref document f/p: P |
|
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01J 3/447 |
|
AC | Divided out of |
Ref document number: 4226884 Country of ref document: DE Kind code of ref document: P |
|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |