DE3943234A1 - Interferometersystem zur erzeugung von mehr als zwei durchgelassenen strahlen - Google Patents
Interferometersystem zur erzeugung von mehr als zwei durchgelassenen strahlenInfo
- Publication number
- DE3943234A1 DE3943234A1 DE3943234A DE3943234A DE3943234A1 DE 3943234 A1 DE3943234 A1 DE 3943234A1 DE 3943234 A DE3943234 A DE 3943234A DE 3943234 A DE3943234 A DE 3943234A DE 3943234 A1 DE3943234 A1 DE 3943234A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- gas
- plate
- interferometer
- interferometer system
- isotropic
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 6
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 5
- 239000010436 fluorite Substances 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 3
- 230000005021 gait Effects 0.000 claims description 2
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 claims 2
- 241000158147 Sator Species 0.000 claims 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 25
- 239000000463 material Substances 0.000 description 9
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 7
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 3
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 3
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N titanium dioxide Inorganic materials O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 2
- 238000011835 investigation Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000001174 ascending effect Effects 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 230000000295 complement effect Effects 0.000 description 1
- 230000006835 compression Effects 0.000 description 1
- 238000007906 compression Methods 0.000 description 1
- 238000000295 emission spectrum Methods 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/28—Investigating the spectrum
- G01J3/45—Interferometric spectrometry
- G01J3/453—Interferometric spectrometry by correlation of the amplitudes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine besondere Interferometeran
ordnung und eine Vorrichtung für den Nachweis und die
Messung der Konzentration eines Gases in einem Gasge
misch, wobei die Absorptionsstruktur des genannten Gases
in einem bestimmten Spektralbereich quasiperiodisch ist.
Diese Vorrichtung ermöglicht die Verwendung von Materia
lien mit geringer Doppelbrechung und ist insbesondere
zur Analyse von Gasen im Infraroten bestimmt.
Die Bestimmung der Konzentration eines Gases durch
Untersuchung seines Absorptionsspektrums ist Gegenstand
mehrerer Patente über Interferometervorrichtungen, die
den Fourier-Formalismus anwenden. Bei einem Gas, das in
einem Wellenzahlenbereich lokal ein quasiperiodisches
Absorptionsspektrum mit Periode p aufweist, hat nämlich
die Fourier-Transformierte des Spektrums, die durch ein
Interferometersystem erzeugt wird, das in den Weg eines
Lichtstrahls gebracht wird, der ein das genannte Gas
enthaltendes Gemisch durchquert hat, ein meßbares
Maximum des durch das Interferometersystem übermittelten
Signals bei Δ c =1/p, wobei Δ c der das genannte System
charakterisierende Gangunterschied ist. Dieses Maximum
ist Ausdruck der Ähnlichkeit des durch das Interfero
metersystem erzeugten Streifensystems mit dem Streifen
system des Absorptionsspektrums des Gases.
In den unter den Nummern 23 40 540, 25 55 748,
25 66 748, 25 66 532 und 25 81 190 veröffentlichten
französischen Patenten wurden Interferometervorrichtungen
zum Nachweis eines Gases in einem Gemisch beschrie
ben. Diese Vorrichtungen enthalten in ihrer einfachsten
Form als Interferometer eine Platte aus doppelbrechendem
Material des Betrages der Doppelbrechung Δ n und der
Dicke e, beispielsweise parallel zur Achse des Materials
geschnitten, die einen Gangunterschied Δ=e · Δ n erzeugt.
So enthält die einfachste Vorrichtung, die in der
Schrift FR. A. 23 40 540 beschrieben wird, nacheinander
entlang derselben optischen Achse: Eine Quelle mit
kontinuierlichem Emissionsspektrum, eine Linse, eine das
zu analysierende Gemisch enthaltende Gasküvette, ein den
Absorptionsbereich des gesuchten Gases isolierendes
Filter, einen Polarisator, eine doppelbrechende Platte,
einen Analysator, eine Linse, eine sich im hinteren
Brennpunkt der genannten Linse befindende Blende und
einen Detektor, der die Lichtenergie in ein elektrisches
Signal umwandelt, beispielsweise einen Photoverviel
facher, mit dem die Interferenzerscheinung untersucht
wird. Die Dicke der Platte wird, angepaßt an das gesuch
te Gas, so gewählt, daß hinter einer Linse eine Interfe
renzordnung erhalten wird, die bei Anwesenheit der
untersuchten Substanz einem Maximum der Beleuchtungs
stärke der Interferenzerscheinung entspricht.
Für eine leichte und exakte Ablesung des Ausgangssignals
wird der Lichtstrom durch Rotation des Polarisators oder
des Analysators derart moduliert, daß in der Brenn
punktebene der Linse abwechselnd ein gegebenes Strei
fensystem oder das zu ihm komplementäre erzeugt wird,
wenn Polarisator und Analysator parallel bzw. senkrecht
zueinander stehen. Die Rotation des Analysators oder des
Polarisators erfolgt mit der Frequenz f derart, daß der
Interferenzterm moduliert wird und das vom Detektor
ausgegebene Signal die doppelte Frequenz 2f aufweist.
Die Amplitude dieses Ausgangssignals ist proportional
zur Konzentration des untersuchten, in der vor dem
Interferometer angeordneten Küvette zirkulierenden
Gases.
Der Vorteil dieser Vorrichtung besteht in ihrem geringen
Raumbedarf, ihrer sehr großen Stabilität und der
Einfachheit, mit der das Signal moduliert werden kann,
sei es durch Rotation des Analysators und des Polarisa
tors oder durch Rotation einer λ/2-Platte oder auch
durch Verwendung eines photoelastischen Modulators oder
durch Vibration eines periodischen Gitters.
Ihr Nachteil besteht darin, daß es in dem untersuchten
Spektralbereich, der den Absorptionsbereich des oder der
untersuchten Gase enthält, nicht immer einfach ist,
Materialien zur Herstellung der Polarisatoren und Analy
satoren und der doppelbrechenden Platte zu finden, die
die Herstellung der Analysevorrichtung zu geringen
Kosten ermöglichen. Dies ist insbesondere im Infrarot
bereich zwischen 2 µm und 8 µm der Fall. In diesem
Bereich stößt auch die Herstellung der Polarisatoren und
Analysatoren auf Schwierigkeiten.
Die Absorption der im Infraroten polarisierenden Folien
erlaubt nicht, 2,5 µm zu überschreiten. Doppelspat kann
nicht verwendet werden, da er jenseits von 2,5 µm
dichroitisch wird. Die unter dem Namen POLAROID® im
Handel befindlichen, synthetischen dichroitischen
Materialien, die gewöhnlich im sichtbaren und ultravio
letten Bereich verwendet werden, können im Infraroten
nicht angewandt werden. Im französischen Patent
25 81 90 wird zum Überschreiten der 2,5 µm eine Lösung
angegeben, die darin besteht, auf polarisierende Prismen
vom Wollaston-Typ aus Quarz oder Magnesiumfluorid
zurückzugreifen. Die wesentlichen Nachteile dieser
Polarisatoren sind ihr Preis und der geringe Lichtstär
kebereich, den sie zulassen.
Noch größere Probleme treten bei der Herstellung der
doppelbrechenden Platte auf. Hierzu ein Beispiel.
Zur Herstellung einer im Infraroten verwendbaren doppel
brechenden Platte können insbesondere zwei Materialien
verwendet werden: Rutil mit einem Betrag der Doppel
brechung von Δ n=0,2 und Magnesiumfluorid mit einem
Betrag der Doppelbrechung von Δ n=10-2. CO weist bei
4,6 µm einen Absorptionsbereich mit einer feinen Absorp
tionsstruktur der Periodizität δσ=2 cm-1 auf. Die in
diesem Fall erforderliche Plattendicke ist e o mit e o Δ n=
1/δσ, woraus sich eine Dicke von entweder 500 mm im Fall
einer Platte aus Magnesiumfluorid ergibt - was nicht
realisierbar ist - oder von 25 mm im Fall einer Platte
aus Rutil, was in der Industrie angesichts der enormen
Kosten nicht in Betracht gezogen werden kann, die die
Herstellung einer Platte mit derartiger Dicke verur
sachen würde. Durch die hohen Dicken und Kosten, die sie
verursacht, macht die zu geringe Doppelbrechung der
beispielsweise im Infraroten verwendbaren Materialien
die Herstellung einer interferometrischen Analysevor
richtung unter Verwendung einer doppelbrechenden Platte,
wie sie oben knapp und detaillierter im Patent
FR. A. 23 40 540 beschrieben worden ist, unmöglich.
Die Erfindung ermöglicht bei Erhaltung der Vorteile der
Vorrichtungen der vorbekannten Technik, diesen Nachteil
zu vermeiden und hat zum Ziel, die geringe Doppel
brechung gewisser, zur Herstellung der doppelbrechenden
Platte geeigneter Materialien, die insbesondere zur
Herstellung der oben angegebenen Art von Vorrichtungen
erforderlich sind, zu kompensieren und die Dicke der
genannten Platte zu verringern.
Das Ziel wird durch ein Interferometersystem erreicht,
in dem ein doppelbrechendes Interferometer, wie es oben
beschrieben wurde, das zur Erhaltung der Einfachheit der
Modulation dient, mit einem isotropen Interferometer,
bestehend aus einer Platte mit parallelen Flächen, die
jeweils einen hinreichend großen Reflexionskoeffizien
ten, beispielsweise 0,3, aufweisen, kombiniert werden.
Eine derartige isotrope Platte ermöglicht die Erzeugung
von zwei durchgelassenen aus einem einfallenden Strahl,
nämlich einem direkt durchgelassenen und einem nach
Reflexion an den beiden Innenflächen der Platte durchge
lassenen, wobei der Gangunterschied zwischen diesen
beiden durchgelassenen Strahlen Δ=2n · e beträgt, wo n
für den Brechungsindex des Materials der isotropen
Platte und e für deren Dicke steht.
Die Verbindung einer doppelbrechenden Platte mit einer
isotropen Platte hat die Verdoppelung der Zahl der nur
mit einer doppelbrechenden Platte erhaltenen Strahlen
zur Folge und stellt größere Gangunterschiede zur Verfü
gung, als die doppelbrechende Platte alleine, bewirkt
also eine Verringerung der erforderlichen Dicke der
doppelbrechenden Platte.
Zum Nachweis und zur Messung der Konzentration minde
stens eines Gases in einem Gasgemisch ist das erfin
dungsgemäße Interferometersystem in eine optische
Vorrichtung integriert, die auf derselben optischen
Achse eine Quelle mit breitem Spektrum aufweist, deren
Lichtstrahl durch eine Linse im Unendlichen fokussiert
wird, durch eine Gasküvette, die das Gemisch enthält, in
dem das zu analysierende Gas zirkuliert, durch ein
Interferenzfilter zur Isolierung des für das gesuchte
Gas spezifischen Spektralbereichs, durch einen Polarisa
tor, einen Modulator, eine doppelbrechende Platte, eine
isotrope Platte, einen Analysator, eine Linse zur Fokus
sierung und auf einen Detektor fällt, der sich in der
Brennpunktebene der genannten Linse befindet. Die
Reihenfolge, in der sich der Modulator, die doppelbre
chende Platte und die isotrope Platte zwischen Polarisa
tor und Analysator befinden, hat keine Bedeutung.
Weitere Merkmale und Vorteile der vorliegenden Erfindung
werden aus der folgenden Beschreibung deutlich werden,
die sich auf die beigefügte Fig. 1, die schematisch die
Anordnung der erfindungsgemäßen Vorrichtung darstellt,
und auf die Fig. 2 bezieht, in der die Zonen, in denen
ein Signal mit der auswertbaren Intensität I erhalten
wird, in Abhängigkeit vom Gangunterschied schematisch
dargestellt ist.
In einer insbesondere für den Infrarotbereich bestimmten
Ausführungsform besteht die Vorrichtung zum Nachweis und
zur Messung der Konzentration mindestens eines in einem
Gasgemisch enthaltenen Gases, wie sie in Fig. 1 darge
stellt ist, aus einer Lichtquelle 1, die ein Globar sein
kann, einer Linse 2, der Gasküvette 3, einem den
Infrarotbereich isolierenden Interferenzfilter 4, einem
Polarisator 5, einem Modulator 6, einer doppelbrechenden
Platte 7, einer isotropen Platte 8, einem Analysator 9,
einer Fokussierlinse 10 und einem Detektor 11.
Polarisator und Analysator sind periodische Gitter mit
nur einer Richtung, deren Gitterkonstanten dem unter
suchten Frequenzbereich angepaßt sind und die parallel
oder senkrecht zueinander stehen, und sind jeweils in
einem Winkel von 45° zu den Achsen der doppelbrechenden
Platte 7 und des Modulators 6 angeordnet. Die isotrope
Platte 8 der Dicke e und mit dem Brechungsindex n
erzeugt dadurch einen Gangunterschied Δ=2n · e und ihre
parallelen Flächen können mit einer nicht absorbierenden
dielektrischen Beschichtung mit Transmissionskoeffizient
T₁ und Reflexionskoeffizient R₁ im Fall der ersten, der
Quelle zugewandten Fläche und Transmissions- und
Reflexionskoeffizient T₂ bzw. R₂ im Fall der zweiten,
dem Detektor zugewandten Seite versehen werden. Diese
isotrope Platte kann aus Flußspat hergestellt werden,
die Verspiegelung der Flächen durch Beschichtung mit
Silizium erfolgen. Die doppelbrechende Platte 7 der
Dicke e o und mit dem Betrag der Doppelbrechung Δ n kann
aus Magnesiumfluorid hergestellt werden, das erheblich
weniger kostspielig ist, als Rutil. Der Modulator 6 hat
die Aufgabe, periodisch den durch die Anordnung (7, 8)
der doppelbrechenden und isotropen Platte erzeugten
Unterschied der optischen Weglänge zu verändern, um
lediglich den Interferenzterm zu modulieren, der die
quantitativen Informationen über die Anwesenheit des
gesuchten Gases enthält. Dieser Modulator kann ein
photoelektrischer Modulator sein, der aus einer Sili
zium- oder Flußspatplatte besteht, die durch eine piezo
elektrische Keramik derart angeregt wird, daß die
genannte Platte eine durch Kompression veränderliche
Doppelbrechung aufweist. Die Linsen und die Fenster der
Küvette können aus Flußspat hergestellt werden. Der
Detektor 11 liefert ein Signal, das durch synchronen
Nachweis der Frequenz des Modulators verarbeitet wird,
was ein konstantes Signal liefert, dessen Stärke zur
Konzentration des untersuchten Gases proportional ist.
Eine derartige Anordnung liefert eine Intensität I gemäß
wobei δ (t) der variable Gangunterschied als Funktion der
Zeit ist, der durch den photoelastischen Modulator
erzeugt wird. Wie in Fig. 1 schematisch dargestellt,
erzeugt eine derartige Anordnung aus einem einfallenden
Strahl vier durchgelassene Strahlen, von denen drei
relativ zum ersten Gangunterschiede aufweisen, deren
Werte in aufsteigender Reihenfolge, abgeleitet aus dem
oben angegebenen Ausdruck für die Intensität I, sind:
e · Δ n, 2n · e = eo Δ n, 2n · e + e o Δ n.
Bekanntlich erhält man bei einer Quelle mit einer Breite
des Spektrums von Δσ mit einem isotropen Interferometer
(einem Zweiwellen-Interferometer) im Zentrum, in der
Nachbarschaft von Δ=0, Streifen, die keinerlei inter
essante Information enthalten, und zwar über eine halbe
Breite von Δ=1/Δσ. Für die Anwendung im Infraroten, wo
der Gangunterschied e o Δ n notwendigerweise gering ist,
wie wir oben gezeigt haben, muß eine Gruppierung der
Bereiche um die Werte von Δ gleich e o Δ n, 2ne-e o Δ n und
2ne+e o Δ n, die, wie in Fig. 2 schematisch dargestellt,
die nützliche Information enthalten, um Δ=0 vermieden
werden. e o muß also derart gewählt werden, daß e o Δ n<
1/Δσ. Andererseits wiederholen sich diese nützlichen
Informationen, da δσ die Periodizität des Spektrums ist,
mit der Frequenz δσ. Um eine Überschneidung dieser
unterschiedlichen Informationsbereiche zu vermeiden, was
die Auswertung der Ergebnisse erschweren würde, muß man
die Dicke e der isotropen Platte derart wählen, daß
2ne + e o Δ n 1δσ.
Zum Beispiel weist die Absorptionsstruktur des Kohlen
monoxids CO eine Periodizität von δσ=2 cm-1 in einem
Bereich von Δσ=200 cm-1 auf. Bei einer isotropen
Platte aus Flußspat mit dem Brechungsindex n=1,4 und
der Dicke e = 1,7 mm genügt eine doppelbrechende Platte
aus Magnesiumfluorid einer Dicke von e o=8 mm (statt
e o=500 mm ohne isotrope Platte!).
Selbstverständlich ist die Erfindung nicht auf die
beschriebenen und dargestellten Ausführungsformen
beschränkt und ist einer Vielzahl von dem Fachmann
verständlichen Varianten fähig, ohne den Rahmen der
Erfindung zu verlassen.
Eine besondere Anwendung der erfindungsgemäßen Vorrich
tung ist die - reproduzierbare, preisgünstige und raum
sparende - Analyse von Gasen, deren quasiperiodischer
Absorptionsbereich im Infraroten liegt.
Claims (4)
1. Interferometersystem zur Erzeugung von mehr als zwei
durchgelassenen Strahlen, die verschiedene Gangunter
schiede zueinander aufweisen, aus einem einfallenden
Strahl, dadurch gekennzeichnet, daß dieses System zur
Verringerung der Dicke der doppelbrechenden Platte aus
der Kombination einer doppelbrechenden Platte mit einer
isotropen Platte besteht.
2. Interferometersystem nach Patentanspruch 1, dadurch
gekennzeichnet, daß die doppelbrechende Platte aus
Magnesiumfluorid und die isotrope Platte aus Flußspat
besteht.
3. Interferometervorrichtung zum Nachweis und zur Messung
der Konzentration mindestens eines Gases in einem Gasge
misch, eine Lichtquelle enthaltend, deren Strahl
nacheinander durch eine Linse, eine Gasküvette, ein
Frequenzfilter, einen Polarisator, eine Anordnung zur
Interferometrie und Modulation, einen Analysator und
eine Linse fällt, bevor er einen Detektor erreicht,
dadurch gekennzeichnet, daß die genannte Anordnung zur
Interferometrie und Modulation aus einem Interferometer
system nach Patentanspruch 1 und einem Modulator
besteht, die in beliebiger Reihenfolge zwischen Polari
sator und Analysator angeordnet sind.
4. Anwendung der Vorrichtung nach Patentanspruch 3 für den
Nachweis von im Infrarotbereich absorbierendem Gas.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR8817063A FR2641074B1 (de) | 1988-12-23 | 1988-12-23 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3943234A1 true DE3943234A1 (de) | 1990-07-26 |
Family
ID=9373330
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3943234A Withdrawn DE3943234A1 (de) | 1988-12-23 | 1989-12-22 | Interferometersystem zur erzeugung von mehr als zwei durchgelassenen strahlen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5155552A (de) |
JP (1) | JPH02264831A (de) |
DE (1) | DE3943234A1 (de) |
FR (1) | FR2641074B1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011009158B3 (de) * | 2011-01-22 | 2012-05-31 | Dräger Safety AG & Co. KGaA | Optisches Gasdetektorsystem |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2346160C2 (de) * | 1973-09-13 | 1983-04-28 | Karl Händle & Söhne Maschinenfabrik u. Eisengießerei, 7130 Mühlacker | Silo-Ausräumgerät |
FR2641861B1 (fr) * | 1989-01-18 | 1993-04-30 | Photonetics | Dispositif de mesure opto-electronique |
US5696586A (en) * | 1995-03-21 | 1997-12-09 | Sci-Tec Instruments Inc. | Optical correlation gas analyzer |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2295590A1 (fr) * | 1974-12-16 | 1976-07-16 | Cilas | Dispositif de traitement d'une impulsion de lumiere laser |
FR2300998A2 (fr) * | 1975-02-11 | 1976-09-10 | Anvar | Dispositif pour la spectrometrie interferentielle a modulation selective |
FR2340540A2 (fr) * | 1976-02-05 | 1977-09-02 | Anvar | Dispositif pour la spectrometrie interferentielle a modulation selective |
FR2555748B1 (fr) * | 1983-11-29 | 1986-04-11 | Elf France | Dispositif interferometrique pour la detection de gaz dans un melange gazeux |
FR2566532B1 (fr) * | 1984-06-22 | 1986-09-12 | Elf France | Detecteur de gaz par interferometrie |
FR2581190B1 (fr) * | 1985-04-25 | 1987-06-19 | Elf France | Detecteur interferometrique de gaz |
-
1988
- 1988-12-23 FR FR8817063A patent/FR2641074B1/fr not_active Expired - Fee Related
-
1989
- 1989-12-22 JP JP1334611A patent/JPH02264831A/ja active Pending
- 1989-12-22 US US07/455,001 patent/US5155552A/en not_active Expired - Fee Related
- 1989-12-22 DE DE3943234A patent/DE3943234A1/de not_active Withdrawn
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102011009158B3 (de) * | 2011-01-22 | 2012-05-31 | Dräger Safety AG & Co. KGaA | Optisches Gasdetektorsystem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2641074B1 (de) | 1991-02-22 |
US5155552A (en) | 1992-10-13 |
FR2641074A1 (de) | 1990-06-29 |
JPH02264831A (ja) | 1990-10-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69017942T2 (de) | Verfahren und tragbarer Apparat zur Bestimmung eines Gases aus der Ferne. | |
DE3612733C2 (de) | ||
DE69025639T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der optischen Absorption von Gasgemischen | |
EP0019088B1 (de) | Ellipsometrisches Verfahren und ellipsometrische Vorrichtung zur Untersuchung der physikalischen Eigenschaften der Oberfläche einer Probe | |
DE2604471A1 (de) | Interferenzspektrometer | |
DE2606991A1 (de) | Geraet zur bestimmung des gehaltes von stoffwechselprodukten im blut | |
DE3939359A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur gleichzeitigen erkennung von verschiedenen gasen in einem gasgemisch | |
EP0600334A2 (de) | Verfahren zur Bestimmung von Stoffen und/oder deren Eigenschaften und Gerät hierfür | |
EP0195039A1 (de) | Messanordnung zur analyse elektromagnetischer strahlung. | |
DE3937141A1 (de) | Nichtdispersiver infrarot-gasanalysator zur gleichzeitigen messung der konzentration mehrerer komponenten einer gasprobe | |
DE19636711B4 (de) | Verbesserungen an oder bezüglich Spektrometern | |
DE3923831C2 (de) | ||
DE1472207B2 (de) | Vorrichtung zur Messung des zirkulären Dichroismus | |
DE2212498A1 (de) | Raman-Spektrometer | |
DE3812334A1 (de) | Interferometrische einrichtung | |
DE3825683C1 (de) | ||
DE2251597A1 (de) | Spektropolarimeter | |
DE2338305C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Ermittlung der linearen Doppelbrechung eines Materials | |
DE3943234A1 (de) | Interferometersystem zur erzeugung von mehr als zwei durchgelassenen strahlen | |
DE3751180T2 (de) | Abbildender Kohärenzmesser. | |
DE2234593C3 (de) | Akusto-optisches Filter | |
DE2744168C3 (de) | Magnetooptisches Spektralphotometer | |
DE2163714C3 (de) | Zeitauflösende Spektrometeranordnung | |
DE1648748C3 (de) | Verfahren zum Prüfen eines Stuckes aus gleichmäßig vorgespanntem Glas | |
DE1598189B2 (de) | Spektrometer |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: STOLBERG-WERNIGERODE, GRAF ZU, U., DIPL.-CHEM. DR. |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |