DE2012068A1 - Anordnung zur Suche nach Fehlern an elektronischen Schaltungen - Google Patents
Anordnung zur Suche nach Fehlern an elektronischen SchaltungenInfo
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Description
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT München, den 1 3. MRZ 19 / U
Witteisbacherplatz
70/2025
Anordnung zur Suche nach Fehlern an elektronischen . Schaltungen
Die Erfindung bezieht sich auf eine Anordnung aar Suche nach Fehlern an elektronischen Schaltungen.
Bei der Fehlersuche in elektronischen Apparaten und Steuerungen werden bevorzugt periodische Vorgänge auf
einem Oszillografenbildschirm abgebildet. Diese Methode
versagt bei sporadischen Fehlern. Der eine Fehlerfall unter zum Beispiel 10 -000 und mehr richtigen Abläufen
bleibt auf dem Oszillografenschirm praktisch unsichtbar. Aber auch wenn der Fehler durchschnittlich bei jedem
zweiten Durchlauf auftritt, sind die verschiedenen Signale auf mehrstrahligen Oszillografen nicht mehr korrelierbar.
Selbst Speicheroszillografen und Fotografierzusätze :
an nicht speichernden Oszillografen bieten zumindestens
bei seltenen Fehlern keine Verbesserung. Der für eine solche Fehlersuche notwendige Zeitaufwand ist darum zu
groß. Das Problem des Zeitaufwandes ist aber von erheblicher
wirtschaftlicher Bedeutung, wenn zum Beispiel Zentraleinheiten von Datenverarbeitungsanlagen geprüft
werden sollen.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, eine Anordnung
anzugeben, mit der die Fehlersuchzelten auch bei sporadischen
Fehlern in elektronischen Apparaten und Steuerungen, insbesondere aber in digitalen Steuerungen, si;ark
reduziert werden können. Diese Aufgabe wird gelöst durch
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einen Umlaufspeicher, in den die Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung eingespeichert werden, durch eine
Gatterschaltung, die bei Auftreten eines .Fehlers ein Schreib-Stop-Signal erzeugt, durch das die Einspeicherung
der Ausgangssignale in den Umlaufspeicher abgebrochen wird, und durch eine Anzeigevorrichtung, die
den Inhalt des UmlaufSpeichers darstellt.
Bei der erfindungsgemäßen Anordnung werden die Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung nicht direkt
abgebildet, sondern zunächst in einen umlaufspeicher
eingeschrieben. Dabei werden wegen der begrenzten Kapazität der Umlaufspeicher die Speicherinhalte ständig
überschrieben. Tritt ein Fehler auf, dann wird die Einspeicherung der Ausgangssignale unterbrochen. Aus dem
Umlaufspeicher ergibt sich dann die ganze Vorgeschichte des Fehlers. Der Speicherinhalt kann mit Hilfe einer Anzeigevorrichtung
abgebildet werden.
Das Signal, das den Einschreibvorgang in dem Umlaufspeicher unterbricht, das sogenannte Schreib-Stop-Signal,
muß problemindividuell gebildet werden. Dies geschieht mit Hilfe einer Gatterschaltung, deren Ausgang zum Beispiel
binär "1" ist (Schreib-Stop), wenn deren fcingangssignale (= Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung)
die Werte haben, die sie im Fehlerfall und nur im Fehlerfall annehmen.
Als Umlaufspeicher können Trommelspeicher und Laufzeitglieder,
zum Beispiel akustische Laufzeiusoeicher, MOS-Fet-Schieberegister
und Register aus bipolaren Transistoren verwendet werden.
Entsprechend den heute üblichen Vierstr.ihLoeaiJ lografen
könnte es genügen, vier unabhängige Signale gleichzeitig
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ORfQlNAL INSPECTED
aufzunehmen. Die Signale könnten zum Beispiel die
Eingangssignale der zu prüfenden Schaltung und die Ausgangssignale an drei verschiedenen Stellen der
zu prüfenden Schaltung sein. Entsprechend müßten also "beim Trommelspeicher als Umlaufspeicher Tier Sohreib-
und Wiedergabeköpfe gleichzeitig betreibbar sein. Würde der Umlaufspeicher aus Speiehereinheiten mit
Laufzeit- oder Schieberegisterspeicher aufgebaut, dann müßten sie vierfach vorhanden sein. Es ist aber _
auch möglich, mehr als Vier gleichzeitig betreibbare
Speichereinheiten vorzusehen. Allerdings können dann
nicht alle' Signalzüge gleichzeitig oszillagrafiseh
abgebildet werden.
Die Anzeigevorrichtung kann aus einem Oszillografen bestehen. Besteht der Umlaufspeicher aus Schiebere- ·
gistern, so . kann deren Inhalt mit Anzeigelampe!)en
angezeigt werden. - ■ \
Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Ünteransprüchen.
Die erfindungsgemäße Anordnung soll anhand von Ausführungsbeispielen
weiter erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1 eine Anordnung bei Verwendung eines Trommelspeichers
als Umlaufspeicher,
Pig. 2 eine Anordnung bei Verwendung eines Laufzeitgliedes als Umlaufspeicher,
Pig. 3 ein Impulsdiagramm.
In Pig. 1 ist ein- Trommelspeicher mit TSE bezeichnet. Die
Ausgangssignaleder zu prüfenden Schaltung und evtl. die EingangssignaIe werden nun in verschiedenen Spuren des
Trommelspeichers TSP gespeichert. Dazu sind^ ÜND-Schaltun-9/210/0006
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gen G1 bis GN, Schreibverstärker SV1 bis SVN und Schreibköpfe
SK1 bis SKN vorgesehen. Die aufzunehmenden Signale - also die Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung
und deren Eingängesignal - werden den UND-Schaltungen
G1 bis GN zugeführt. Zum Beispiel wird der ersten UND-Schaltung G1 das erste aufzunehmende Signal am Eingang 1,
der UND-Schaltung G2 das zweite aufzunehmende Signal am Eingang 2 und der N-ten UND-Schaltung GN das N-te
aufzunehmende Signal zugeleitet. Dem zweiten Eingang der UND-Schaltung G1 bis GN werden Abtasttaktsignale
T angeboten» deren Frequenz mindestens doppelt so groß als die Frequenz der aufzunehmenden Signale ist. Die
Ausgänge der UND-Schaltungen G1 bis GN sind mit den Schreibverstärkern SV1 bis SVN verbunden. Diese Schreibverstärker
SV1 bis SVN besitzen zudem eine Zuleitung für ein Abschaltsignal bei Vorliegen eines Schreib-Stop-Signales.
Die Schreibverstärker SV1 bis SVN steuern die Schreibköpfe SK1 bis SKN an.
Das Schreib-Stop-Signal wird in einer Gatterschaltung
GS gebildet. Da die Fehlermöglichkeiten von der zu prüfenden Schaltung abhängen, muß auch die Ausbildung
der Gatterschaltung GS - je nach dem festzustellenden
Fehler - verschieden sein. Die Gatterschaltung GS kann so aufgebaut sein, daß an ihrem Ausgang als
Schreib-Stop-Signal eine binäre W1" abgegeben wird,
wenn die ihr zugeführten Eingangesignale die Werte haben, die eie im Fehlerfall annehmen. Das Schreib-Stop-Signal
wird über Verzögerungsglieder VZ1 bis VZN und einen Schalter SOH einer binären Kippschaltung
FF1 zugeleitet. Diese binäre Kippschaltung FF1 wird durch das Schreib-Stop-Signal gesetzt, so daß an
seinem Ausgang ein Signal erscheint, das den Schreibverstärkern SV1 bis SVN zugeleitet wird, und diese
sperrt. Die an den Eingängen 1 bis N den UND-Schaltungen
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GM bis GkN angebotenen Signale steuern dann nicht
mehr die Schreibköpfe SEt bis SO an und werden deshalb nicht mehr in die Spuren des Trommelspeichers
TSP eingespeichert. Sollen die aufzunehmenden Signale der zu prüfenden Schaltung wieder in den
Trommelspeicher eingeschrieben werden, dann wird der bistabileaKippschaltung PP1 ein Rücksetzsignal
am Eingang E zugeleitet, die bistabile Kippschaltung PP1 zurückgesetzt und damit die Schreibverstärker
SV1 bis SVN wieder eingeschaltet. Mit Hilfe der Verzögerungsglieder VZ1 bis VZN, die verschiedene
Verzögerungszeit haben, wird erreicht, daß nicht sofort bei Auftreten des Schreib-Stop-Signales das
Einschreiben der aufzunehmenden Signale unterbrochen
wird. Es kann dann auch noch der Pehlerbeginn eingespeichert werden.
Das Auslesen des Trommelspeichers TSP erfolgt mit
der üblichen Leseelektronik. Die Lesesignale einer Jeden Spur werden der Anzeigevorrichtung zugeführt
und von ihr dargestellt. Da bei Auftreten eines Fehlers,
der Einschreibvorgang in den Trommelspeicher TSP unterbrochen wird, und somit die gespeicherten
Signale in den einzelnen Spuren gleichbleiben, kann auch nur eine einzige Pehlersituation abgebildet werden.
In Pig. 2 besteht der Umlaufspeicher aus Speichereinheiten,
die Laufzeitglieder verwenden. -Die Anzahl der
Speichereinheiten entspricht der Anzahl der aufzunehmenden Signale. Jede Speichereinheit enthält ein Laufzeitglied, zum Beispiel eine akustische Verzögerungsleituiig
AV.
Daa aufzunehmende Signal wird zunächst einer üND-Schal-VPA
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tung G-U2 an deren Eingang E2 zugeführt. Unter der Voraussetzung,
daß kein Schreib-Stop-Signal vorliegt (Eingang E4 ist belegt) und am Eingang E3 ein Abtasttaktsignal anliegt,
ist die UND-Schaltung GfU2 geöffnet und die aufzunehmenden Signale werden über eine ODER-Schaltung GS1 .einem Verstärker
V1 der Verzögerungsleitung AV zugeleitet. Nach dem Durchlaufen der Verzögerungsleitung AV und eines Verstärkers
V2 gelangen die Signale zu einer UND-Schaltung GU1. Liegt kein Schreib-Stop-Signal vor, so ist diese UND-Schaltung
GU1 durch ein Sperrsignal an ihrem Eingang E1
gesperrt, so daß die Signale nicht mehr weiter umlaufen können. Die Steuerung der UND-Schaltungen GU1 und GU2
erfolgt über eine bistabile Kippschaltung ¥F2. Dieser
bistabilen Kippschaltung I1i12 wird das Schreib-Stop-Signal,
das in der Gatterschaltung GS erzeugt wird, über Verzögerungsglieder VZ1 bis VZN angeboten. Solange kein
Schreib-Stop-Signal vorliegt, ist der Ausgang A1 der bistabilen Kippschaltung IT 2 nicht gesetzt, der Ausgang
A2 gesetzt, das bedeutet, daß die UND-Schaltung GU2 geöffnet , die UND-Schaltung GU1 jedoch geschloesen
ist. Die der Verzögerungsleitung AV zugeleiteten Signale können nicht umlaufen. Wird von der Gatterschaltung
GS ein Schreib-Stop-Signal gebildet, dann kippt die bistabile Kippschaltung ΈΈ2 und somit ist der Ausgang
A1 gesetzt, der Ausgang A2 nicht gesetzt. Folglich ist die UND-Schaltung GU2 gesperrt und die UND-Schaltung
GU1 nach einer Verzögerung durch ein Verzögerungsglied TV geöffnet. Die dem Eingang E2 der Gatterschaltung GU2
angebotenen Signale können nicht mehr in die Speichereinheit gelangen, die bereits der akustischen Verzögerungsleitung
AV zugeführten Signale können jetzt umlaufen. Am Ausgang des Verstärkers V2 ist eine weitere bistabile
Kippschaltung PP3 angeschlossen, deren Ausgang mit der
Anzeigevorrichtung, zum Beispiel einem Oszillografen, verbunden ist. Am Eingang R der bistabilen Kippschaltung
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FF3 wird ein Rücksetztakt TR zugeführt. Der Rücksetztakt
TR ist zusammen mit den der laistabilen Kippschaltung FF3
zugeftihrten Signale LS des UmlaufSpeichers und dem Ausgangssignal
AS der Kippschaltung FF3 in Fig. 3 dargestellt, Die Frequenz des Rücksetztaktes TR ist gleich der des
AbtaBttaktFignales am Eingang E3 der UND-Schaltung GU2.
In Fig. 2 ist nur eine Speichereinheit des UmlaufSpeichers
dargestellt. Diese besteht aus der akustischen Verzögerungsleitung
AV, den Verstärkern V1, V2, den UND-Schaltungen
GU1, GU2 und der ODER-Schaltung GS1. Die Gatterschaltung
GS, ,die Verzögerungsglieder VZ1 bis VZN und die bistabile Kippschaltung FF2 ist allen Speiehereinheiten
gemeinsam. Die Ausgänge Al, A2 der bistabilen Kippschaltung FF2 sind mit den UND-Schaltungen GU1,
GU2 entsprechenden UND-Schaltungen der übrigen Speichereinheiten verbunden.
Die akustische Verzögerungsleitung AV kann durch andere Laufzeitglieder oder durch Schieberegister ersetzt werden.
Werden Schieberegister verwendet, dann kann als Anzeigevorrichtung'
ein Lämpchen benutzt werden. Jeder Stufe des
Schieberegisters kann ein Lämpchen zugeordnet werden und dadurch der Inhalt des Schieberegisters angezeigt werden.
5 Patentansprüche
3 Figuren
3 Figuren
VPA 9/21O/OOO6 _ q.
109833/0919
Claims (5)
- PatentansprücheAnordnung zur Suche nach Fehlern an elektronischen Schaltungen, gekenn zeichnet durch einen Umlaufspeicher, in den die Ausgangssignale der zu prüfenden Schaltung eingespeichert werden, durch eine Gatterschaltung (GS), die "bei Auftreten eines Fehlers ein Schreib-Stop-Signal erzeugt, durch das die Einspeicherung der Ausgangssignale in den umlaufspeicher abgebrochen wird, und durch eine Anzeigevorrichtung, die den Inhalt des UmlaufSpeichers anzeigt.
- 2. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Trommelspeicher (TSP) als Umlaufspeicher, durch UND-Schaltungen (G1 - GN), denen einerseits die in den Trommelspeicher (TSP) aufzunehmenden Signale, andererseits ein Abtasttaktsignal zugeleitet werden, durch Schreibverstärker (SV1 - SVN), von denen ^eder mit einer UND-Schaltung (G1- GN) verbunden ist und die eine Zuleitung für ein Abschaltsignal besitzen, durch Schreibkcpfe (SK1 - SKN), die an die SchreibverBtärker (SV1 - SVN) angeschlossen sind, und durch eine bistabile Kippschaltung (FP1), deren Ausgang mit der Zuleitung für das Abschaltsignal verbunden ist und derem Setzeingang die Schreib-Stop-Signale zugeführt werden.
- 3. Anordnung nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch einen Umlaufspeicher aus einer der Anzahl der aufzunehmenden Signale entsprechenden Anzahl von Speichereinheiten, durch eine Speichereinheit aus einem Laufzeitglied (AV), aus einer ODER-Schaltung (GS1), deren Ausgang über einen Verstärker (V1) mit dem Laufzeitglied (AV) verbunden ist, aus einer ersten UND-Schaltung (GU1), deren einer Eingang über einen weiteren Verstärker (V2) mit dem Ausgang des Laufzeitgliedes (AV) verbunden ist und deren Ausgang an einen Eingang derVPA 9/210/0006 -109839/0919- 9 - . 20120$$ODER-Schaltung (GS1) angeschlossen ist, aus einer zweiten UND_Schaltung (GU2), derem ersten· Eingang (E2) das aufzunehmende Signal, derem zweiten Eingang (E3) ein Abtasttaktsignal zugeführt wird und deren Ausgang mit einem weiteren Eingang der ODER-Schaltung (GSI) verbunden ist und durch' eine bistabile Kippschaltung (FF2), deren einer Ausgang (A1) mit einem zweiten Eingang (E1) der ersten UND-Schaltung (GU1) und deren zweiter Ausgang (A2) mit einem dritten Eingang (E4) der zweiten UND-Schaltung (GU2) verbunden ist und derem Setzeingang die Schreib-Stop-Signale zugeführt werden.
- 4. Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekenn zeichnet, daß das Laufzeitglied (AV) aus einem Schieberegister besteht.
- 5. Anordnung nach einem der Ansprüche 2 bis 4, d ad u r c h g e k e η η ζ e i c h η e t, daß zwischen der Gatterschaltung (GS) und der bistabilen Kippschaltung (FF1, FF2) Verzögerungsglieder (VZI-- VZN) verschiedener Verzögerungszeit angeordnet sind, die über einen Schalter (SCH) mit dem Setzeingang der bistabilen Kippschaltung (FF1, FF2) verbunden ist.VPA 9/210/0006109839/09194$;Leerseite
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DE19702012068 DE2012068A1 (de) | 1970-03-13 | 1970-03-13 | Anordnung zur Suche nach Fehlern an elektronischen Schaltungen |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19702012068 DE2012068A1 (de) | 1970-03-13 | 1970-03-13 | Anordnung zur Suche nach Fehlern an elektronischen Schaltungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2012068A1 true DE2012068A1 (de) | 1971-09-23 |
Family
ID=5765035
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19702012068 Pending DE2012068A1 (de) | 1970-03-13 | 1970-03-13 | Anordnung zur Suche nach Fehlern an elektronischen Schaltungen |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3725880A (de) |
BE (1) | BE764182A (de) |
DE (1) | DE2012068A1 (de) |
FR (1) | FR2081910B3 (de) |
GB (1) | GB1329053A (de) |
LU (1) | LU62778A1 (de) |
NL (1) | NL7102471A (de) |
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