CN113687111B - 一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置 - Google Patents
一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113687111B CN113687111B CN202110985520.2A CN202110985520A CN113687111B CN 113687111 B CN113687111 B CN 113687111B CN 202110985520 A CN202110985520 A CN 202110985520A CN 113687111 B CN113687111 B CN 113687111B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- cylinder
- test
- frame
- circuit board
- block
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 137
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract description 18
- 238000013519 translation Methods 0.000 claims description 12
- 238000009434 installation Methods 0.000 claims description 10
- 239000002699 waste material Substances 0.000 claims description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 9
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 5
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 4
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/02—Measures preceding sorting, e.g. arranging articles in a stream orientating
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/34—Sorting according to other particular properties
- B07C5/344—Sorting according to other particular properties according to electric or electromagnetic properties
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C5/00—Sorting according to a characteristic or feature of the articles or material being sorted, e.g. by control effected by devices which detect or measure such characteristic or feature; Sorting by manually actuated devices, e.g. switches
- B07C5/36—Sorting apparatus characterised by the means used for distribution
- B07C5/361—Processing or control devices therefor, e.g. escort memory
- B07C5/362—Separating or distributor mechanisms
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0425—Test clips, e.g. for IC's
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B07—SEPARATING SOLIDS FROM SOLIDS; SORTING
- B07C—POSTAL SORTING; SORTING INDIVIDUAL ARTICLES, OR BULK MATERIAL FIT TO BE SORTED PIECE-MEAL, e.g. BY PICKING
- B07C2301/00—Sorting according to destination
- B07C2301/0008—Electronic Devices, e.g. keyboard, displays
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
本发明公开了一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,包括安装底箱、方位调节组件、定位夹紧组件、机械臂组件、分拣组件、预备台、收取平台、测试架、测试壳、操作面板、测试气缸和测试探头。本发明利用设置的方位调节组件在测试过程中调节电路板的方位和角度,扩大了测试探针的有效探测范围,从而提高了设备的实用性,利用设置的定位夹紧组件在测试之前对电路板进行定位和夹紧,防止在测试过程中偏移,确保了测试的精确度,通过设置的机械臂组件完成自动上料测试的工作,自动化程度高,提高了电路板的测试效率,通过设置的分拣组件,对测试后的电路板进行分类放置,减轻了工作人员的劳动强度。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路板测试技术领域,具体为一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置。
背景技术
集成电路板是采用半导体制作工艺,在一块较小的单晶硅片上制作上许多晶体管及电阻器、电容器等元器件,并按照多层布线或遂道布线的方法将元器件组合成完整的电子电路,性能测试是集成电路板生产过程中的重要一环,现有技术通常是借助一定的测试设备等进行测试,以判断产品的相关性能是否符合要求,但是现有的集成电路板测试装置大多结构简单,不能在测试时调节电路板的位置坐标,影响了测试探针的测试范围,从而降低了设备的实用性;且没有对电路板进行固定夹紧的机构,在测试中易发生偏移,从而影响了测试的精准度;且在使用的过程中需要搭配人工进行送料,自动化程度低,影响了电路板的测试效率;同时在测试之后无法根据结果自动剔除不合格的电路板,需要靠人工结合测试结果将不合格的电路板回收,不仅增加了人工成本,还加重了劳动人员的工作负担;因此设计一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置是十分必要的。
发明内容
本发明的目的在于提供一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,以解决上述背景技术中提出的问题。
为实现上述目的,本发明提供如下技术方案:一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,包括安装底箱、方位调节组件、定位夹紧组件、机械臂组件、分拣组件、预备台、收取平台、测试架、测试壳、操作面板、测试气缸和测试探头,所述安装底箱的一侧设置有预备台,且预备台上设置有机械臂组件中的第一立柱,所述机械臂组件由第一立柱、第一转动电机、第一转动架、第一升降气缸、第一机械臂、拾取块、拾取气缸、第一滑轨、限位块、中轴、抓取架、抓取电机和第一伸缩气缸组成,第一立柱内部顶端设置有第一转动电机,且第一转动电机的输出端贯穿第一立柱与第一转动架固定连接,第一转动架的一端设置有第一伸缩气缸,且第一伸缩气缸的输出端设置有第一机械臂,第一机械臂的底端设置有第一升降气缸,且第一升降气缸的输出端与拾取块的顶部固定连接,拾取块的底部设置有拾取气缸,安装底箱的另一侧设置有收取平台,且收取平台的一侧设置有分拣组件中的废品台,所述分拣组件由废品台、第二连接架、第二导轨、平移气缸、第二立柱、第二转动电机、第二转动架、第二升降气缸、第二机械臂、分拣连接块、分拣气缸、分拣块和第二伸缩气缸组成,安装底箱上靠近收取平台的一侧设置有第二连接架,且第二连接架上设置有第二导轨,第二导轨上设置有平移气缸,且平移气缸的顶部设置有第二立柱,安装底箱上设置有方位调节组件中的第一导轨,所述方位调节组件由第一导轨、横移板、横移气缸、安装架、丝杠、横移电机、丝杠连接块、旋转电机、支撑架和测试底板组成,第一导轨上分别设置有横移板和横移气缸,且横移气缸与横移板的一侧固定连接,横移板的顶部设置有安装架,且安装架上通过轴承连接有丝杠,安装架的一侧设置有横移电机,且横移电机的输出端贯穿安装架与丝杠固定连接,丝杠与丝杠连接块内部嵌入安装的滚珠螺母相互配合连接,丝杠连接块的底部与横移板相互贴合,且丝杠连接块的顶部分别设置有旋转电机和支撑架,旋转电机位于支撑架的内部,支撑架的顶部转动连接有测试底板,且旋转电机的输出端与测试底板固定连接,测试底板上设置有定位夹紧组件中的第一夹紧气缸,所述定位夹紧组件由第一夹紧气缸、第一连接架、定位块、第二夹紧气缸和夹紧块组成,第一夹紧气缸的输出端与第一连接架固定连接,且第一连接架的一侧设置有定位块。
优选的,所述拾取气缸的输出端与第一滑轨的一端固定连接,且第一滑轨在限位块上开设的滑槽中滑动,限位块固定在拾取块上。
优选的,所述第一滑轨上通过轴承连接有中轴,且中轴上设置有抓取架,第一滑轨上均设置有抓取电机,且抓取电机的输出端贯穿第一滑轨与中轴固定连接。
优选的,所述第二立柱内部顶端设置有第二转动电机,且第二转动电机的输出端贯穿第二立柱与第二转动架固定连接,第二转动架的一端设置有第二伸缩气缸,且第二伸缩气缸的输出端设置有第二机械臂。
优选的,所述第二机械臂的底端设置有第二升降气缸,且第二升降气缸的输出端与分拣连接块的顶部固定连接,分拣连接块上设置有分拣气缸,且分拣气缸的输出端与分拣块固定连接。
优选的,所述第一连接架的顶部设置有第二夹紧气缸,且第二夹紧气缸的输出端贯穿第一连接架与夹紧块固定连接。
优选的,所述安装底箱的顶部设置有测试架,且测试架的上设置有测试壳,测试壳上设置有操作面板。
优选的,所述测试壳的内部设置有测试器本体,测试架的底部设置有测试气缸,且测试气缸的输出端上设置有测试探头,测试探头与测试器本体电性连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:该一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,通过设置的横移气缸与横移电机相互配合,共同作用调节测试底板的位置,同时旋转电机带动测试底板转动,调节测试底板的角度,扩大了测试探针测试的有效范围,从而提高了设备的实用性;通过设置的第一夹紧气缸带动第一连接架向测试底板上的集成电路板移动,之后通过定位块对集成电路板进行定位,然后第二夹紧气缸带动夹紧块向下移动,通过夹紧块与第一连接架的相互配合对集成电路板进行固定,避免在测试的过程中发生偏移,从而提高了测试的精度;通过设置的第一升降气缸,带动拾取块靠近电路板,之后拾取气缸带动第一滑轨和抓取架靠近电路板,然后抓取电机带动中轴转动,进而带动抓取架对电路板进行抓取,之后通过第一转动电机、第一伸缩气缸和第一转动电机的相互配合将电路板放置在测试底板上,完成自动送料测试的过程,自动化程度高,提高了电路板的测试效率;通过设置的第二升降气缸带动分拣连接块和分拣块靠近测试完成的电路板,之后分拣气缸带动分拣块对电路板进行夹取,之后通过平移气缸、第二转动电机、第二升降气缸、分拣气缸和第二伸缩气缸的相互配合,将不合格的电路板防止在废品台,测试合格的电路板放置到收取平台上,完成了测试后的自动分拣工作,从而减轻了劳动人员的劳动负担。
附图说明
图1为本发明的整体结构主视图。
图2为图1中A区域的局部放大图。
图3为图1中B区域的局部放大图。
图4为本发明的整体结构后视剖视图。
图5为图4中C区域的局部放大图。
图6为本发明中机械臂组件的三维图。
图7为本发明中定位夹紧组件的三维图。
图8为本发明中横移板的俯视图。
图9为本发明中测试底板的仰视图。
图10为本发明中分拣连接块的俯视图。
图11为本发明的部分结构左视剖视图。
图中:1、安装底箱;2、方位调节组件;3、定位夹紧组件;4、机械臂组件;5、分拣组件;6、预备台;7、收取平台;8、测试架;9、测试壳;10、操作面板;11、测试气缸;12、测试探头;201、第一导轨;202、横移板;203、横移气缸;204、安装架;205、丝杠;206、横移电机;207、丝杠连接块;208、旋转电机;209、支撑架;210、测试底板;301、第一夹紧气缸;302、第一连接架;303、定位块;304、第二夹紧气缸;305、夹紧块;401、第一立柱;402、第一转动电机;403、第一转动架;404、第一升降气缸;405、第一机械臂;406、拾取块;407、拾取气缸;408、第一滑轨;409、限位块;410、中轴;411、抓取架;412、抓取电机;413、第一伸缩气缸;501、废品台;502、第二连接架;503、第二导轨;504、平移气缸;505、第二立柱;506、第二转动电机;507、第二转动架;508、第二升降气缸;509、第二机械臂;510、分拣连接块;511、分拣气缸;512、分拣块;513、第二伸缩气缸。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
请参阅图1-11,本发明提供的一种实施例:一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,包括安装底箱1、方位调节组件2、定位夹紧组件3、机械臂组件4、分拣组件5、预备台6、收取平台7、测试架8、测试壳9、操作面板10、测试气缸11和测试探头12,安装底箱1的一侧设置有预备台6,且预备台6上设置有机械臂组件4中的第一立柱401,机械臂组件4由第一立柱401、第一转动电机402、第一转动架403、第一升降气缸404、第一机械臂405、拾取块406、拾取气缸407、第一滑轨408、限位块409、中轴410、抓取架411、抓取电机412和第一伸缩气缸413组成,第一立柱401内部顶端设置有第一转动电机402,且第一转动电机402的输出端贯穿第一立柱401与第一转动架403固定连接,第一转动架403的一端设置有第一伸缩气缸413,且第一伸缩气缸413的输出端设置有第一机械臂405,第一机械臂405的底端设置有第一升降气缸404,且第一升降气缸404的输出端与拾取块406的顶部固定连接,拾取块406的底部设置有拾取气缸407,安装底箱1的另一侧设置有收取平台7,且收取平台7的一侧设置有分拣组件5中的废品台501,分拣组件5由废品台501、第二连接架502、第二导轨503、平移气缸504、第二立柱505、第二转动电机506、第二转动架507、第二升降气缸508、第二机械臂509、分拣连接块510、分拣气缸511、分拣块512和第二伸缩气缸513组成,安装底箱1上靠近收取平台7的一侧设置有第二连接架502,且第二连接架502上设置有第二导轨503,第二导轨503上设置有平移气缸504,且平移气缸504的顶部设置有第二立柱505,安装底箱1上设置有方位调节组件2中的第一导轨201,方位调节组件2由第一导轨201、横移板202、横移气缸203、安装架204、丝杠205、横移电机206、丝杠连接块207、旋转电机208、支撑架209和测试底板210组成,第一导轨201上分别设置有横移板202和横移气缸203,且横移气缸203与横移板202的一侧固定连接,横移板202的顶部设置有安装架204,且安装架204上通过轴承连接有丝杠205,安装架204的一侧设置有横移电机206,且横移电机206的输出端贯穿安装架204与丝杠205固定连接,丝杠205与丝杠连接块207内部嵌入安装的滚珠螺母相互配合连接,丝杠连接块207的底部与横移板202相互贴合,且丝杠连接块207的顶部分别设置有旋转电机208和支撑架209,旋转电机208位于支撑架209的内部,支撑架209的顶部转动连接有测试底板210,且旋转电机208的输出端与测试底板210固定连接,测试底板210上设置有定位夹紧组件3中的第一夹紧气缸301,定位夹紧组件3由第一夹紧气缸301、第一连接架302、定位块303、第二夹紧气缸304和夹紧块305组成,第一夹紧气缸301的输出端与第一连接架302固定连接,且第一连接架302的一侧设置有定位块303,拾取气缸407的输出端与第一滑轨408的一端固定连接,且第一滑轨408在限位块409上开设的滑槽中滑动,限位块409固定在拾取块406上,通过设置的限位块409,有利于对第一滑轨408进行限位,进而提高了结构的稳定性,第一滑轨408上通过轴承连接有中轴410,且中轴410上设置有抓取架411,第一滑轨408上均设置有抓取电机412,且抓取电机412的输出端贯穿第一滑轨408与中轴410固定连接,通过设置的抓取电机412,有利于为中轴410提供转动的动力,第二立柱505内部顶端设置有第二转动电机506,且第二转动电机506的输出端贯穿第二立柱505与第二转动架507固定连接,第二转动架507的一端设置有第二伸缩气缸513,且第二伸缩气缸513的输出端设置有第二机械臂509,通过设置的第二转动电机506,有利于带动第二转动架507的转动,第二机械臂509的底端设置有第二升降气缸508,且第二升降气缸508的输出端与分拣连接块510的顶部固定连接,分拣连接块510上设置有分拣气缸511,且分拣气缸511的输出端与分拣块512固定连接,通过设置的分拣气缸511,有利于带动分拣块512上下移动吗,进而通过分拣块512对集成电路板进行抓取,第一连接架302的顶部设置有第二夹紧气缸304,且第二夹紧气缸304的输出端贯穿第一连接架302与夹紧块305固定连接,利用设置的第二夹紧气缸304与第一连接架302相互配合,对集成电路板进行夹紧,防止电路板在测试过程中出现偏移,安装底箱1的顶部设置有测试架8,且测试架8的上设置有测试壳9,测试壳9上设置有操作面板10,通过设置的测试架8,有利于对测试壳9和操作面板10进行安装,测试壳9的内部设置有测试器本体,测试架8的底部设置有测试气缸11,且测试气缸11的输出端上设置有测试探头12,测试探头12与测试器本体电性连接,通过设置的测试气缸11,有利于带动测试探头12上下移动,进而通过测试探头12对测试底板210上的集成电路板进行测试。
工作原理:本发明在使用时,首先第一升降气缸404带动拾取块406向下靠近预备台6上的集成电路板,随后拾取气缸407带动第一滑轨408沿着限位块409上开设的滑槽移动,进而带动抓取架411靠近电路板,然后抓取电机412带动中轴410和抓取架411转动,对电路板进行抓取,之后第一伸缩气缸413带动拾取块406向上,同时第一转动电机402带动第一转动架403转动,通过第一转动电机402和第一伸缩气缸413的相互配合将电路板移动到测试底板210的正上方,随后第一升降气缸404、拾取气缸407和抓取电机412相互配合将电路板放置在测试底板210上,测试之前通过第一夹紧气缸301带动第一连接架302靠近电路板,进而通过第一连接架302上的定位块303对电路板进行定位,随后第二夹紧气缸304带动夹紧块305向下,通过第一连接架302与夹紧块305的相互配合对定位后的电路板进行夹紧,避免测试过程中电路板产生偏移,提高了测试的精度,之后通过测试气缸11带动测试探头12向下对电路板进行测试,测试过程中,通过横移气缸203、横移电机206和旋转电机208的相互配合调节电路板的方位,扩大了测试探头12测试的有效范围,提高了设备的实用性,测试之后,通过第二转动电机506与第二伸缩气缸513的相互配合,带动分拣连接块510移动到测试底板210的正上方,随后第二升降气缸508带动分拣连接块510向下靠近电路板,之后分拣气缸511带动分拣块512靠近电路板,通过分拣块512对电路板进行固定夹紧,之后第二升降气缸508带动分拣连接块510向上移动,同时平移气缸504、第二转动电机506、第二升降气缸508和分拣气缸511相互配合,将测试合格的电路板放置在收取平台7上,测试不合格的电路板放置在废品台501上,完成测试后电路板的自动分拣,减轻了工作人员的劳动负担。
对于本领域技术人员而言,显然本发明不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本发明。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (8)
1.一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,包括安装底箱(1)、方位调节组件(2)、定位夹紧组件(3)、机械臂组件(4)、分拣组件(5)、预备台(6)、收取平台(7)、测试架(8)、测试壳(9)、操作面板(10)、测试气缸(11)和测试探头(12),其特征在于:所述安装底箱(1)的一侧设置有预备台(6),且预备台(6)上设置有机械臂组件(4)中的第一立柱(401),所述机械臂组件(4)由第一立柱(401)、第一转动电机(402)、第一转动架(403)、第一升降气缸(404)、第一机械臂(405)、拾取块(406)、拾取气缸(407)、第一滑轨(408)、限位块(409)、中轴(410)、抓取架(411)、抓取电机(412)和第一伸缩气缸(413)组成,第一立柱(401)内部顶端设置有第一转动电机(402),且第一转动电机(402)的输出端贯穿第一立柱(401)与第一转动架(403)固定连接,第一转动架(403)的一端设置有第一伸缩气缸(413),且第一伸缩气缸(413)的输出端设置有第一机械臂(405),第一机械臂(405)的底端设置有第一升降气缸(404),且第一升降气缸(404)的输出端与拾取块(406)的顶部固定连接,拾取块(406)的底部设置有拾取气缸(407),安装底箱(1)的另一侧设置有收取平台(7),且收取平台(7)的一侧设置有分拣组件(5)中的废品台(501),所述分拣组件(5)由废品台(501)、第二连接架(502)、第二导轨(503)、平移气缸(504)、第二立柱(505)、第二转动电机(506)、第二转动架(507)、第二升降气缸(508)、第二机械臂(509)、分拣连接块(510)、分拣气缸(511)、分拣块(512)和第二伸缩气缸(513)组成,安装底箱(1)上靠近收取平台(7)的一侧设置有第二连接架(502),且第二连接架(502)上设置有第二导轨(503),第二导轨(503)上设置有平移气缸(504),且平移气缸(504)的顶部设置有第二立柱(505),安装底箱(1)上设置有方位调节组件(2)中的第一导轨(201),所述方位调节组件(2)由第一导轨(201)、横移板(202)、横移气缸(203)、安装架(204)、丝杠(205)、横移电机(206)、丝杠连接块(207)、旋转电机(208)、支撑架(209)和测试底板(210)组成,第一导轨(201)上分别设置有横移板(202)和横移气缸(203),且横移气缸(203)与横移板(202)的一侧固定连接,横移板(202)的顶部设置有安装架(204),且安装架(204)上通过轴承连接有丝杠(205),安装架(204)的一侧设置有横移电机(206),且横移电机(206)的输出端贯穿安装架(204)与丝杠(205)固定连接,丝杠(205)与丝杠连接块(207)内部嵌入安装的滚珠螺母相互配合连接,丝杠连接块(207)的底部与横移板(202)相互贴合,且丝杠连接块(207)的顶部分别设置有旋转电机(208)和支撑架(209),旋转电机(208)位于支撑架(209)的内部,支撑架(209)的顶部转动连接有测试底板(210),且旋转电机(208)的输出端与测试底板(210)固定连接,测试底板(210)上设置有定位夹紧组件(3)中的第一夹紧气缸(301),所述定位夹紧组件(3)由第一夹紧气缸(301)、第一连接架(302)、定位块(303)、第二夹紧气缸(304)和夹紧块(305)组成,第一夹紧气缸(301)的输出端与第一连接架(302)固定连接,且第一连接架(302)的一侧设置有定位块(303)。
2.根据权利要求1所述的一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,其特征在于:所述拾取气缸(407)的输出端与第一滑轨(408)的一端固定连接,且第一滑轨(408)在限位块(409)上开设的滑槽中滑动,限位块(409)固定在拾取块(406)上。
3.根据权利要求1所述的一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,其特征在于:所述第一滑轨(408)上通过轴承连接有中轴(410),且中轴(410)上设置有抓取架(411),第一滑轨(408)上均设置有抓取电机(412),且抓取电机(412)的输出端贯穿第一滑轨(408)与中轴(410)固定连接。
4.根据权利要求1所述的一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,其特征在于:所述第二立柱(505)内部顶端设置有第二转动电机(506),且第二转动电机(506)的输出端贯穿第二立柱(505)与第二转动架(507)固定连接,第二转动架(507)的一端设置有第二伸缩气缸(513),且第二伸缩气缸(513)的输出端设置有第二机械臂(509)。
5.根据权利要求1所述的一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,其特征在于:所述第二机械臂(509)的底端设置有第二升降气缸(508),且第二升降气缸(508)的输出端与分拣连接块(510)的顶部固定连接,分拣连接块(510)上设置有分拣气缸(511),且分拣气缸(511)的输出端与分拣块(512)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,其特征在于:所述第一连接架(302)的顶部设置有第二夹紧气缸(304),且第二夹紧气缸(304)的输出端贯穿第一连接架(302)与夹紧块(305)固定连接。
7.根据权利要求1所述的一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,其特征在于:所述安装底箱(1)的顶部设置有测试架(8),且测试架(8)的上设置有测试壳(9),测试壳(9)上设置有操作面板(10)。
8.根据权利要求1所述的一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置,其特征在于:所述测试壳(9)的内部设置有测试器本体,测试架(8)的底部设置有测试气缸(11),且测试气缸(11)的输出端上设置有测试探头(12),测试探头(12)与测试器本体电性连接。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110985520.2A CN113687111B (zh) | 2021-08-26 | 2021-08-26 | 一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202110985520.2A CN113687111B (zh) | 2021-08-26 | 2021-08-26 | 一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN113687111A CN113687111A (zh) | 2021-11-23 |
CN113687111B true CN113687111B (zh) | 2024-02-06 |
Family
ID=78582943
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202110985520.2A Active CN113687111B (zh) | 2021-08-26 | 2021-08-26 | 一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN113687111B (zh) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116124571B (zh) * | 2022-11-18 | 2024-02-09 | 北京聚仪共享科技有限公司 | 一种印制电路板拉脱强度测试仪 |
CN116779498B (zh) * | 2023-08-23 | 2023-11-10 | 无锡安鑫卓越智能科技有限公司 | 一种半导体晶片表面的测试装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1198817A (zh) * | 1996-08-09 | 1998-11-11 | 株式会社爱德万测试 | 半导体元件测试装置 |
EP0962777A2 (en) * | 1998-06-02 | 1999-12-08 | Nihon Densan Read Kabushiki Kaisha, (Nidec-Read Corporation) | Printed circuit board testing apparatus |
CN106328556A (zh) * | 2016-10-25 | 2017-01-11 | 深圳市昱燊科技有限公司 | 一种晶元自动测试机 |
CN208766270U (zh) * | 2018-08-15 | 2019-04-19 | 苏州市高威电子有限公司 | 一种防误测印制电路板测试治具 |
CN110888043A (zh) * | 2019-12-11 | 2020-03-17 | 上海华碧检测技术有限公司 | 一种集成电路电磁发射多角度测试夹具 |
CN210614402U (zh) * | 2019-09-20 | 2020-05-26 | 深圳市标王工业设备有限公司 | 多工位芯片测试分选机 |
CN210954252U (zh) * | 2019-11-04 | 2020-07-07 | 苏州斯丹德电子科技有限公司 | 一种集成电路测试装置 |
CN212341374U (zh) * | 2020-04-17 | 2021-01-12 | 深圳市芯片测试技术有限公司 | 一种多功能集成电路芯片测试机 |
CN113156296A (zh) * | 2021-03-26 | 2021-07-23 | 赣州金顺科技有限公司 | 一种硬质电路板的内层板测试装置及其实施方法 |
-
2021
- 2021-08-26 CN CN202110985520.2A patent/CN113687111B/zh active Active
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1198817A (zh) * | 1996-08-09 | 1998-11-11 | 株式会社爱德万测试 | 半导体元件测试装置 |
EP0962777A2 (en) * | 1998-06-02 | 1999-12-08 | Nihon Densan Read Kabushiki Kaisha, (Nidec-Read Corporation) | Printed circuit board testing apparatus |
CN106328556A (zh) * | 2016-10-25 | 2017-01-11 | 深圳市昱燊科技有限公司 | 一种晶元自动测试机 |
CN208766270U (zh) * | 2018-08-15 | 2019-04-19 | 苏州市高威电子有限公司 | 一种防误测印制电路板测试治具 |
CN210614402U (zh) * | 2019-09-20 | 2020-05-26 | 深圳市标王工业设备有限公司 | 多工位芯片测试分选机 |
CN210954252U (zh) * | 2019-11-04 | 2020-07-07 | 苏州斯丹德电子科技有限公司 | 一种集成电路测试装置 |
CN110888043A (zh) * | 2019-12-11 | 2020-03-17 | 上海华碧检测技术有限公司 | 一种集成电路电磁发射多角度测试夹具 |
CN212341374U (zh) * | 2020-04-17 | 2021-01-12 | 深圳市芯片测试技术有限公司 | 一种多功能集成电路芯片测试机 |
CN113156296A (zh) * | 2021-03-26 | 2021-07-23 | 赣州金顺科技有限公司 | 一种硬质电路板的内层板测试装置及其实施方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113687111A (zh) | 2021-11-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN113687111B (zh) | 一种能够调节方位坐标的集成电路板测试装置 | |
CN101706256B (zh) | Pcb板钻孔用微型钻针全自动质量检测装置 | |
CN107639038B (zh) | 产品瑕疵自动化检测平台 | |
CN105203884B (zh) | 空调外机自动安检系统 | |
CN104950256B (zh) | Vcm马达测试机构及包含其的测试系统及测试方法 | |
CN214503706U (zh) | 一种芯片性能检测探针台 | |
CN110926947A (zh) | 一种柱式绝缘子检测设备 | |
CN115274484A (zh) | 一种晶圆检测装置及其检测方法 | |
CN111896898A (zh) | 磁铁高斯检测设备及其检测方法 | |
CN114535139A (zh) | 一种晶圆分选设备 | |
CN110376082B (zh) | 一种在线凸轮轴硬度检测系统 | |
CN218370361U (zh) | 电阻元件电性测试设备 | |
CN114894128A (zh) | 一种丝杠滚道表面波纹度检测设备 | |
CN210981698U (zh) | 一种多功能测试弹簧探针性能的自动检测设备 | |
CN213620455U (zh) | 一种工件正反面识别分装设备 | |
CN221081404U (zh) | 一种摄像头模组测试装置 | |
CN219359418U (zh) | 一种基于视觉检测的旋转装置 | |
CN218984836U (zh) | 一种视觉测试平台 | |
CN220679626U (zh) | 一种针卡焊接加工设备 | |
CN212646892U (zh) | 一种全自动电路板测试机 | |
CN221697069U (zh) | 具有自动调节夹持方位的pcb板切割装置 | |
CN211085994U (zh) | 圆珠笔头材料切削力测试装置 | |
CN221183789U (zh) | 一种汽车发电机端盖检具 | |
CN219758434U (zh) | 一种燃气表线路板用程序测试设备 | |
CN220670882U (zh) | 一种定向跌落测试装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |