CN113510076A - 导正检测装置及硅片检测分选设备 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种导正检测装置及硅片检测分选设备，其中，导正检测装置包括：导正机构、左右崩检测机构以及输送带；所述导正机构包括：第一导正单元、第二导正单元以及驱动单元；所述左右崩检测机构包括：左检测单元、右检测单元以及滑轨。本发明的第一导正单元、第二导正单元在导正时由初始位置进行相向运动，进而可避免压坏输送而来的硅片，有利于减少检测分选过程中产生的碎片。同时，两个检测单元能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测单元中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，有利于实际运行过程中的调试，提高了检测的效率。

Description

导正检测装置及硅片检测分选设备

技术领域

本发明涉及硅片检测分选技术领域，尤其涉及一种导正检测装置及硅片检测分选设备。

背景技术

硅片作为重要的工业原材料，被广泛用于太阳能电池、电路板等产品的生产制造中。因此，在硅片生产出厂之前需要对其质量进行严格的把控，以保证由硅片制造的太阳能电池、电路板等产品的质量。

目前，在硅片的检测分选过程中，需要将硅片通过流线输送至需求的检测工位。上述过程存在如下问题：1)、硅片输送导正时存在碎片的问题；2)、硅片在检测时，检测机构调试较为不便。因此，针对上述问题，有必要提出进一步地解决方案。

发明内容

本发明旨在提供一种导正检测装置及硅片检测分选设备，以克服现有技术中存在的不足。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：

一种导正检测装置，其包括：导正机构、左右崩检测机构以及输送带；

所述导正机构包括：第一导正单元、第二导正单元以及驱动单元；

所述第一、第二导正单元对称设置，并分布于所述输送带的两侧，任一导正单元包括：底座、设置于所述底座上的若干导轮，所述若干导轮沿输送方向并排地设置于所述底座上，所述第一、第二导正单元的导轮之间形成导正空间，二者有驱动单元带动相向或者相背运动；

所述左右崩检测机构包括：左检测单元、右检测单元以及滑轨；

所述滑轨位于所述输送带的下方，并与所述输送带相垂直，所述左检测单元与右检测单元设置于所述滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件，所述检测相机、点激光、光源分别朝向检测工位设置，并能够相对所述检测工位进行独立调节，所述调节组件能够带动对应的检测机构沿所述滑轨进行调节。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述驱动单元包括：电机、双向螺杆以及滑块，所述电机与所述双向螺杆传动连接，所述双向螺杆具有间隔且对称设置的第一螺纹和第二螺纹，所述滑块分别装配于所述第一、第二螺纹上，所述第一导正单元的底座与所述第一螺纹上的滑块相连接，所述第二导正单元的底座与所述第二螺纹上的滑块相连接，并能够所述滑块相向或者相背运动。

作为本发明的导正检测装置的改进，任一导正单元还包括：导向板，所述导向板安装于所在导正单元各导轮的下游位置，所述第一、第二导正单元的导向板对称设置，且所述第一、第二导正单元的导向板之间的间距沿输送方向逐渐增大。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述第一、第二导正单元相向运动至极限位置时，所述第一、第二导正单元的导轮之间的间距略大于硅片的宽度。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述光源安装于所述第一固定板上，并面向所述检测工位设置，所述光源能够相对所述第一固定板进行调节；

所述点激光和检测相机安装于第二固定板上，并面向所述检测工位设置，所述点激光和检测相机能够分别相对所述第二固定板进行调节；

所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述光源枢转安装于所述第一固定板上，所述第一固定板上开设有适于所述光源角度调整的第一调节槽。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述点激光所在的安装座枢转安装于所述第二固定板上，所述安装座上开设有适于所述点激光角度调节的第二调节槽，所述第二固定板上设置有伸入所述第二调节槽中的凸起。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述检测相机所在的安装座上开设有滑槽，所述第二固定板上开设有适于所述检测相机滑动调节的锁孔。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。

作为本发明的导正检测装置的改进，所述固定座固定于所述滑轨所在的底座上，所述调节件为一螺杆，所述螺杆一端螺接于所述固定座上，另一端螺接于所在检测机构的底部凸块上。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案是：

一种硅片检测分选设备，其包括如上所述的导正检测装置。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：本发明的第一导正单元、第二导正单元在导正时由初始位置进行相向运动，进而可避免压坏输送而来的硅片，有利于减少检测分选过程中产生的碎片。同时，两个检测单元能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测单元中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，有利于实际运行过程中的调试，提高了检测的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明导正检测装置一实施例的立体示意图；

图2为图1中导正机构的立体放大示意图；

图3为图2中导正机构另一角的立体示意图；

图4为图1中左右崩检测机构的立体放大示意图；

图5为图4所示左右崩检测机构的俯视图；

图6为图4中调节组件的立体放大示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

如图1所示，本发明一实施例的导正检测装置包括：导正机构100、左右崩检测机构200以及输送带300。

输送带300包括：输送台30以及分布于输送台30两侧边缘的由电机驱动循环运动的皮带线31。

如图2、3所示，导正机构100位于输送带300的上游，其用于对输送而来的硅片进行导正，同时可避免压坏输送而来的硅片，减少检测分选过程中产生的碎片。

具体地，导正机构100包括：基板10、第一滑轨11、第一导正单元12、第二导正单元13以及驱动单元14。

其中，第一导正单元12、第二导正单元13分布于输送带300的两侧，并位于上述基板10上，二者能够由驱动单元14带动沿与输送带300相垂直的第一滑轨11进行相向或者相背运动。因此，第一导正单元12、第二导正单元13之间的间距不是固定的，在对来料硅片进行导正时，第一导正单元12、第二导正单元13相向运动，可对来料硅片进行导正。如此，通过合理设置两个导正单元的运动行程，不会压坏二者之间的硅片。

具体地，第一、第二导正单元12、13对称设置，第一、第二导正单元12、13的导轮之间形成导正空间。任一导正单元包括：底座121、设置于底座121上的若干导轮122。

其中，若干导轮122沿输送方向并排地设置于底座121上，从而通过采排轮进行导正的方式，不会阻碍硅片的行进。一个实施方式中，各导轮122通过各自的轮轴枢转连接于底座121的顶部位置。第一、第二导正单元12、13的底座121包括：立板1211、底板1212以及顶板1213。此时，立板1211的下端与底板1212相连接，其上端与顶板1213相连接，若干导轮122设置于顶板1213上。

为了便于导正后硅片的送出，任一导正单元还包括：导向板123。其中，导向板123安装于所在导正单元各导轮122的下游位置，第一、第二导正单元12、13的导向板123对称设置，且第一、第二导正单元12、13的导向板123之间的间距沿输送方向逐渐增大。如此，经过各导轮122导正的硅片可沿着导向板123自第一、第二导正单元12、13之间送出。

为了避免第一导正单元12、第二导正单元13夹坏被导正的硅片，第一、第二导正单元12、13相向运动至极限位置时，第一、第二导正单元12、13的导轮122之间的间距略大于硅片的宽度。如此，当硅片被第一、第二导正单元12、13导正至需求方位时，可避免形成对硅片的夹持，进而有利于减少检测分选过程中产生的碎片。

驱动单元14用于带动第一导正单元12、第二导正单元13进行相向或者相背运动，驱动单元14包括：电机141、双向螺杆142以及滑块143。

其中，电机141与双向螺杆142一端传动连接，进而可带动双向螺杆142进行枢转。一个实施方式中，电机141为电机141，此时电机141的输出端可通过一联轴器与双向螺杆142的端部相连接。安装方式上，由于双向螺杆142横向设置，双向螺杆142的两端分别通过轴承进行枢转支撑。

进一步地，双向螺杆142具有间隔且对称设置的第一螺纹和第二螺纹，滑块143分别装配于第一、第二螺纹上。如此，当电机141带动双向螺杆142枢转时，由于第一、第二螺纹对称设置，在一定的枢转方向下，第一、第二螺纹上的滑块143可相向运动，或者相背运动。

相应的，第一导正单元12的底座121与第一螺纹上的滑块143相连接，第二导正单元13的底座121与第二螺纹上的滑块143相连接。从而，第一、第二导正单元12、13能够在滑块143的带动下，进行相向或者相背运动，实现对来料硅片的导正以及导正后的复位。

基板10用于实现第一、第二导正单元12、13的支撑，第一滑轨11为二者的运动提供导向作用。具体地，第一、第二导正单元12、13由基板10进行支撑，此时第一、第二导正单元12、13的底座121上开设有适于基板10贯穿的开槽，该开槽设置于底座121的立板的下部位置。此时，连接于立板下端的底板位于基板10下方，并与相应的滑块143相连接。第一滑轨11设置于基板10的一侧，底板能够沿设置于基板10一侧的第一滑轨11进行相向或者相背滑动，进而保证第一、第二导正单元12、13运动的稳定性。

如图4、5所示，左右崩检测机构200位于输送带300的下游，其采用两个检测单元，二者能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测单元中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，便于实际运行过程中的调试。

具体地，左右崩检测机构200包括：左检测单元20、右检测单元21以及第二滑轨22。

左检测单元20、右检测单元21用于对输送的硅片进行崩边检测，进而分选出不符合要求的硅片，有利于提高硅片的出厂良率。

具体地，第二滑轨22位于输送带300的下方，并与输送带300相垂直。左检测单元20与右检测单元21设置于第二滑轨22上，且两个检测单元相向设置。如此，当输送而来的硅片经过左检测单元20与右检测单元21时，两个检测单元可实现对硅片边缘质量的检视。一个实施方式中，左检测单元20与右检测单元21相对错位设置，该设置方式可避免两个检测单元相互干扰，影响检测结果的精度。第二滑轨22的两端安装于工字型的底座23上。

任一检测单元20、21包括：检测相机201、点激光202、光源203以及调节组件204。

其中，检测相机201、点激光202用于对硅片的边缘进行检视，光源203用于为检测相机201、点激光202的检视提供照明。检测相机201、点激光202、光源203能够进行独立调节。

具体地，光源203安装于第一固定板205上，并面向检测工位设置，且光源203能够相对第一固定板205进行调节。如此，可在实际的调试过程中，调整光源203的照射角度，以满足硅片的检视需求。

一个实施方式中，为了实现光源203的角度调节，光源203通过一转轴枢转安装于第一固定板205上，且第一固定板205上开设有适于光源203角度调整的第一调节槽2051。如此，光源203可沿着上述第一调节槽2051进行枢转运动，进而第一调节槽2051为光源203的枢转提供导向。

进一步地，第一固定板205竖直设置。当光源203为两组时，两组光源203上下相对地安装于第一固定板205上，此时两组光源203之间形成检测工位。此外，光源203朝向检测工位的光路上还设置有能够进行角度调节的棱镜206，如此以便于搭建检测光路。

点激光202和检测相机201安装于第二固定板207上，并面向检测工位设置，且点激光202和检测相机201能够分别相对第二固定板207进行调节。如此，可在实际的调试过程中，调整点激光202和检测相机201的照射角度和位置，以满足硅片的检视需求。

一个实施方式中，为了实现点激光202的角度调节，点激光202所在的安装座2021枢转安装于第二固定板207上，安装座2021上开设有适于点激光202角度调节的第二调节槽20210，第二固定板207上设置有伸入第二调节槽20210中的凸起。如此，安装座2021进行枢转时，其上的第二调节槽20210可沿着凸起进行滑动，进而第二调节槽20210为点激光202的枢转提供导向。

其中，点激光202的安装座2021包括：座体20211、安装于座体20211上的连接板20112。该座体20211通过一转轴枢转连接于第二固定板207上，第二调节槽20210开设于座体20211上。连接板20112上开设有收容点激光202的安装槽。

一个实施方式中，为了实现检测相机201位置的调节，检测相机201所在的安装座2011上开设有滑槽20110，第二固定板207上开设有适于检测相机201滑动调节的锁孔。如此，装配于锁孔中的紧固件通过锁附在滑槽20110中的不同位置，可实现检测相机201前后位置滑动调节。

其中，检测相机201的安装座2011为一L形的安装座，滑槽20110为开设于该L形安装座底部位置的腰形槽。

如图6所示，调节组件204包括：固定座2041和调节件2042。调节件2042安装于固定座2041上，并能够带动所在的检测单元沿第二滑轨22进行移动。

一个实施方式中，固定座2041固定于第二滑轨22所在的底座上，调节件2042为一螺杆。此时，螺杆一端螺接于固定座2041上，另一端螺接于所在检测单元的底部凸块上。如此，当需要调节左检测单元20、右检测单元21沿第二滑轨22进行滑动时，可手动旋转螺杆，进而通过螺纹推动左检测单元20、右检测单元21沿第二滑轨22进行滑动。

本发明另一实施例的还提供一种硅片检测分选设备，该硅片检测分选设备包括如上实施例所述的导正检测装置。

综上所述，本发明的第一导正单元、第二导正单元在导正时由初始位置进行相向运动，进而可避免压坏输送而来的硅片，有利于减少检测分选过程中产生的碎片。同时，两个检测单元能够沿所在滑轨进行位置调节，且各检测单元中的检测相机、点激光、光源也能够独立调节，有利于实际运行过程中的调试，提高了检测的效率。

对于本领域技术人员而言，显然本发明不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本发明的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本发明。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本发明的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本发明内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

此外，应当理解，虽然本说明书按照实施方式加以描述，但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案，说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见，本领域技术人员应当将说明书作为一个整体，各实施例中的技术方案也可以经适当组合，形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。

Claims (11)

1.一种导正检测装置，其特征在于，所述导正检测装置包括：导正机构、左右崩检测机构以及输送带；

所述导正机构包括：第一导正单元、第二导正单元以及驱动单元；

所述第一、第二导正单元对称设置，并分布于所述输送带的两侧，任一导正单元包括：底座、设置于所述底座上的若干导轮，所述若干导轮沿输送方向并排地设置于所述底座上，所述第一、第二导正单元的导轮之间形成导正空间，二者有驱动单元带动相向或者相背运动；

所述左右崩检测机构包括：左检测单元、右检测单元以及滑轨；

所述滑轨位于所述输送带的下方，并与所述输送带相垂直，所述左检测单元与右检测单元设置于所述滑轨上，且两个检测机构相向设置，任一检测机构包括：检测相机、点激光、光源以及调节组件，所述检测相机、点激光、光源分别朝向检测工位设置，并能够相对所述检测工位进行独立调节，所述调节组件能够带动对应的检测机构沿所述滑轨进行调节。

2.根据权利要求1所述的导正检测装置，其特征在于，所述驱动单元包括：电机、双向螺杆以及滑块，所述电机与所述双向螺杆传动连接，所述双向螺杆具有间隔且对称设置的第一螺纹和第二螺纹，所述滑块分别装配于所述第一、第二螺纹上，所述第一导正单元的底座与所述第一螺纹上的滑块相连接，所述第二导正单元的底座与所述第二螺纹上的滑块相连接，并能够所述滑块相向或者相背运动。

3.根据权利要求1或2所述的导正检测装置，其特征在于，任一导正单元还包括：导向板，所述导向板安装于所在导正单元各导轮的下游位置，所述第一、第二导正单元的导向板对称设置，且所述第一、第二导正单元的导向板之间的间距沿输送方向逐渐增大。

4.根据权利要求1所述的导正检测装置，其特征在于，所述第一、第二导正单元相向运动至极限位置时，所述第一、第二导正单元的导轮之间的间距略大于硅片的宽度。

5.根据权利要求1所述的导正检测装置，其特征在于，所述光源安装于所述第一固定板上，并面向所述检测工位设置，所述光源能够相对所述第一固定板进行调节；

所述点激光和检测相机安装于第二固定板上，并面向所述检测工位设置，所述点激光和检测相机能够分别相对所述第二固定板进行调节；

所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。

6.根据权利要求5所述的导正检测装置，其特征在于，所述光源枢转安装于所述第一固定板上，所述第一固定板上开设有适于所述光源角度调整的第一调节槽。

7.根据权利要求5所述的导正检测装置，其特征在于，所述点激光所在的安装座枢转安装于所述第二固定板上，所述安装座上开设有适于所述点激光角度调节的第二调节槽，所述第二固定板上设置有伸入所述第二调节槽中的凸起。

8.根据权利要求5所述的导正检测装置，其特征在于，所述检测相机所在的安装座上开设有滑槽，所述第二固定板上开设有适于所述检测相机滑动调节的锁孔。

9.根据权利要求1所述的导正检测装置，其特征在于，所述调节组件包括：固定座和调节件，所述调节件安装于所述固定座上，并能够带动所在的检测机构沿所述滑轨进行移动。

10.根据权利要求9所述的导正检测装置，其特征在于，所述固定座固定于所述滑轨所在的底座上，所述调节件为一螺杆，所述螺杆一端螺接于所述固定座上，另一端螺接于所在检测机构的底部凸块上。

11.一种硅片检测分选设备，其特征在于，所述硅片检测分选设备包括如权利要求1至10任一项所述的导正检测装置。

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