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CN114563367A - 诊断极端条件下共轴boxcrs构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统 - Google Patents

诊断极端条件下共轴boxcrs构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统 Download PDF

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Abstract

本发明涉及一种诊断极端条件下共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统,属时间分辨光谱技术领域。脉冲激光产生及调节部分、脉冲压缩探测光产生及调节部分和探测信号收集部分置于同一光学平台上,脉冲压缩探测光产生及调节部分位于脉冲激光产生及调节部分的后右前方,半包围脉冲激光产生及调节部分;探测信号收集部分位于脉冲激光产生及调节部分及脉冲压缩探测光产生及调节部分前方。本发明能够在共轴瞬态吸收光路下,当泵浦光与探测光频率相近或重叠时,实现探测光与泵浦光空间上的有效分离,保证探测光测量时避开泵浦光的干扰,探究金刚石对顶砧压机内极端条件下的微小砧面样品的自旋子动力学或者低温罐内不同温度下的样品的瞬态过程。

Description

诊断极端条件下共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统
技术领域
本发明属时间分辨光谱技术领域,具体涉及一种基于飞秒脉冲适于极端条件下诊断物种自旋特性及机制的共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统。
背景技术
自旋作为电子除电荷外的另一个自由度,可以用于信息处理和存储领域,并成为当今物理学中的一个新的研究领域:自旋电子学(Spintronics)。半导体中载流子数目少,其中电子的自旋可用光学手段激励和探测,半导体的器件工艺成熟,易于集成,故成为研究自旋电子学的重要材料,并有望在半导体中实现功能丰富的自旋电子学器件。研究发现半导体中的自旋现象十分丰富,有自旋-轨道相互作用,电子-空穴交换相互作用,电子自旋和核自旋之间的超精细相互作用等。半导体自旋电子学的核心课题之一是认识半导体中电子自旋的输运/弛豫过程以及相关的光学现象,分析自旋与其周围环境之间的相互作用,并利用这些知识来为制造可用的自旋器件奠定基础。
基于自旋-轨道耦合,具有圆偏振特性的光子可以作用于电子的轨道运动而改变其自旋特性,可以在非磁场条件下实现自旋的光取向和光检测,有助于研究与自旋相关的光学现象。一些科研院所也利用圆偏振瞬态光谱技术针对低维半导体材料的自旋光谱和动力学特性开展了丰富的研究,并证实基于圆偏振光的瞬态吸收光谱技术是研究自旋相关的光谱和动力学特性最有效手段之一。瞬态光谱利用吸收特性测量瞬态吸收光谱的变化,记录了激发态发射、激发态吸收和基态漂白的总和。由量子力学可知,分子的能级跃迁伴随着光子的吸收与发射,这一点是利用飞秒时间分辨泵浦-探测技术研究分子动力学过程的理论基础。飞秒泵浦-探测技术是飞秒超短脉冲技术与泵浦-探测技术的结合。
飞秒泵浦-探测技术主要利用光的传播特性,通过改变两束光的光程差来调节光到达样品的时间差,从而实现飞秒尺度的时间分辨。其中一束飞秒脉冲作为泵浦光将处于基态的分子体系激发到电子激发态,分子的激发态不稳定,会以辐射(荧光、磷光等)和无辐射(内转换、系间交叉等)等形式弛豫;使用经过一定时间延迟的第二束飞秒激光作为探测光对分子激发态衰变进行探测。对收集到的探测光进行处理,便能得到研究对象的自旋光谱和动力学特性。当泵浦光与探测光的波长范围相近或重叠时,如研究斯塔克效应时,为了避免泵浦光对探测光的影响,一般使用非共轴光路,使泵浦光与探测光在样品处汇聚之后分开,只让探测光进入信号收集仪器。但当需要探测的是高压、低温、高温等极端条件下如金刚石对顶砧压机内的微小砧面或者低温罐内微小样品的瞬态吸收过程时,样品池与金刚石有一定厚度,光无法从侧面穿过,金刚石砧面上装载样品区域的直径在微米量级,导致无法使用非共轴光路,故需使用共轴瞬态吸收光路,使泵浦光和探测光同时到达样品,但泵浦光和探测光的分离成为难题。
发明内容
本发明提供一种诊断极端条件下共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统,对于共轴瞬态吸收光路,能够实现探测光与泵浦光空间上的有效分离,对金刚石对顶砧压机内微小砧面或低温罐中的极端条件下样品的自旋特性进行瞬态探测。
本发明采取的技术方案是:由脉冲激光产生及调节部分、脉冲压缩探测光产生及调节部分探测信号收集部分组成;脉冲激光产生及调节部分、脉冲压缩探测光产生及调节部分和探测信号收集部分置于同一光学平台上,探测信号收集部分中的光纤光谱仪、锁相放大器和计算机置于光学平台外;其中脉冲激光产生及调节部分中的斩波器信号输出端口a与探测信号收集中的锁相放大器信号输入端口g连接,脉冲激光产生及调节部分中的电控位移台信号输出端口b与探测信号收集中的计算机信号输入端口i连接;脉冲压缩探测光产生及调节部分位于脉冲激光产生及调节部分的后右前方,半包围脉冲激光产生及调节部分;探测信号收集部分位于脉冲激光产生及调节部分及脉冲压缩探测光产生及调节部分前方;脉冲激光产生及调节部分与脉冲压缩探测光产生及调节部分通过光路分束片和全反镜四相连;脉冲激光产生及调节部分与探测信号收集部分通过光路四分之一波片一和中空反射镜相连;脉冲压缩探测光产生及调节部分与探测信号收集部分通过光路全反镜八和中空反射镜相连。
本发明所述的脉冲激光产生及调节部分包括飞秒激光器、分束片一、飞秒光学参量放大器、扩束器、全反镜一、电控位移台、斩波器、全反镜二、全反镜三、格兰棱镜一和四分之一波片一,其中电控位移台设有输出端口b,斩波器设有输出端口a;飞秒激光器、分束片一、飞秒光学参量放大器、扩束器、全反镜一自左至右顺序排列;电控位移台、斩波器、全反镜二和全反镜一自后至前顺序排列;全反镜三、格兰棱镜一和四分之一波片一自前至后顺序排列且全反镜三、格兰棱镜一和四分之一波片一位于同一水平中心线上,其中全反镜三中心涂黑,电控位移台设有信号输出端口b;斩波器设有信号输出端口a。
本发明所述的脉冲压缩探测光产生及调节部分包括全反镜四、全反镜五、全反镜六、透镜一、含水比色皿、透镜二、啁啾镜、全反镜七、格兰棱镜二、四分之一波片二和全反镜八,其中全反镜四位于全反镜五的左方,全反镜六位于全反镜五后方,全反镜六、透镜一、含水比色皿、透镜二、啁啾镜自右至左排列,全反镜六、透镜一、含水比色皿、透镜二位于同一水平中心线上,全反镜七、格兰棱镜二、四分之一波片二和全反镜八自后至前排列,全反镜七、格兰棱镜二、四分之一波片二和全反镜八位于同一水平中心线上。
本发明所述的探测信号收集部分包括中空反射镜、物镜一、金刚石对顶砧压机或低温罐、物镜二、光阑、全反镜九、光纤光谱仪、单色仪、锁相放大器、计算机,其中中空反射镜、物镜一、金刚石对顶砧压机或低温罐、物镜二、光阑、全反镜九、单色仪自右至左顺序排列,且中空反射镜、物镜一、金刚石对顶砧压机或低温罐、物镜二、光阑、全反镜九位于同一水平中心线上,其中光纤光谱仪设有信号输入端口c和数据输出端口d;单色仪设有数据输出端口e;锁相放大器设有数据输入端口f、数据输入端口g、数据输出端口h;计算机设有信号输入端口i、数据输入端口j、数据输入端口k;光纤光谱仪数据输出端口d和计算机数据输入端口j连接;单色仪数据输出端口e和锁相放大器数据输入端口连接;锁相放大器数据输出端口h和计算机数据输入端口k连接。
本发明的BOXCRS构型的核心元件为中空反射镜,中空反射镜为中间有一小孔的反射镜,当泵浦光经过中空反射镜反射后,形成环状光束;而探测光则从中空反射镜的另一侧从中空反射镜的中间空洞处穿过中控反射镜,与泵浦光束共轴并与泵浦光束平行共轴(探测光在光束中心,而泵浦光在探测光的四周),这样两束光可以共轴同时到达样品,经过样品后借助光阑挡掉外环的泵浦光只收集中心部分的探测光。
本发明能够在共轴瞬态吸收光路下,当泵浦光与探测光频率相近或重叠时,实现探测光与泵浦光空间上的有效分离,保证探测光测量时避开泵浦光的干扰,探究金刚石对顶砧压机内极端条件下的微小砧面样品的自旋子动力学或者低温罐内不同温度下的样品的瞬态过程。
附图说明
图1是本发明系统的结构示意图。
具体实施方式
如图1所示,由由脉冲激光产生及调节部分I、脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ和探测信号收集部分III组成;脉冲激光产生及调节部分I、脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ和探测信号收集部分III置于同一光学平台上,探测信号收集部分III中的光纤光谱仪29、锁相放大器31和计算机32置于光学平台外;
脉冲激光产生及调节部分I中的斩波器7信号输出端口a与探测信号收集III中的锁相放大器31信号输入端口g连接,脉冲激光产生及调节部分I中的电控位移台6信号输出端口b与探测信号收集III中的计算机32信号输入端口i连接;脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ位于脉冲激光产生及调节部分I的后右前方,半包围脉冲激光产生及调节部分I;探测信号收集部分III位于脉冲激光产生及调节部分I及脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ的前方;
脉冲激光产生及调节部分I与脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ通过光路分束片2和全反镜四12相连;脉冲激光产生及调节部分I与探测信号收集部分III通过光路四分之一波片一11和中空反射镜23相连;脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ与探测信号收集部分III通过光路全反镜八22和中空反射镜23相连。
脉冲激光产生及调节部分I与脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ通过光路分束片2和全反镜四12相连;脉冲激光产生及调节部分I与探测信号收集部分III通过光路四分之一波片一11和中空反射镜23相连;脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ与探测信号收集部分III通过光路全反镜八22和中空反射镜23相连。
所述的脉冲激光产生及调节部分I包括飞秒激光器1、分束片一2、飞秒光学参量放大器3、扩束器4、全反镜一5、电控位移台6、斩波器7、全反镜二8、全反镜三9、格兰棱镜一10和四分之一波片一11,其中电控位移台6设有输出端口b,斩波器7设有输出端口a;飞秒激光器1、分束片一2、飞秒光学参量放大器3、扩束器4、全反镜一5自左至右顺序排列;电控位移台6、斩波器7、全反镜二8和全反镜一5自后至前顺序排列;全反镜三9、格兰棱镜一10和四分之一波片一11自前至后顺序排列且全反镜三9、格兰棱镜一10和四分之一波片一11位于同一水平中心线上,其中全反镜三9中心涂黑,电控位移台6设有信号输出端口b;斩波器7设有信号输出端口a。
所述的脉冲压缩探测光产生及调节部分Ⅱ包括全反镜四12、全反镜五13、全反镜六14、透镜一15、含水比色皿16、透镜二17、啁啾镜18、全反镜七19、格兰棱镜二20、四分之一波片二21和全反镜八22,其中全反镜四12位于全反镜五13的左方,全反镜六14位于全反镜五13后方,全反镜六14、透镜一15、含水比色皿16、透镜二17、啁啾镜18自右至左排列,全反镜六14、透镜一15、含水比色皿16、透镜二17位于同一水平中心线上,全反镜七19、格兰棱镜二20、四分之一波片二21和全反镜八22自后至前排列,全反镜七19、格兰棱镜二20、四分之一波片二21和全反镜八22位于同一水平中心线上。
所述的探测信号收集部分III包括中空反射镜23、物镜一24、金刚石对顶砧压机或低温罐25、物镜二26、光阑27、全反镜九28、光纤光谱仪29、单色仪30、锁相放大器31、计算机32,其中中空反射镜23、物镜一24、金刚石对顶砧压机或低温罐25、物镜二26、光阑27、全反镜九28、单色仪30自右至左顺序排列,且中空反射镜23、物镜一24、金刚石对顶砧压机或低温罐25、物镜二26、光阑27、全反镜九28位于同一水平中心线上,其中光纤光谱仪29设有信号输入端口c和数据输出端口d;单色仪30设有数据输出端口e;锁相放大器31设有数据输入端口f、数据输入端口g、数据输出端口h;计算机32设有信号输入端口i、数据输入端口j、数据输入端口k;光纤光谱仪29数据输出端口d和计算机32数据输入端口j连接;单色仪30数据输出端口e和锁相放大器31数据输入端口连接;锁相放大器31数据输出端口h和计算机32数据输入端口k连接。
工作原理:
飞秒激光器1输出单脉冲能量较高的飞秒激光脉冲,经过分束片2后分为强弱两束光。其中一束强光经过光学参量放大器3和扩束器4后,作为泵浦光;另一束弱光经过全反镜四12后续作为探测光使用。飞秒激光器1输出的飞秒激光脉冲经过分束片2进入飞秒光学参量放大器3和扩束器4,经过全反镜一5、电控位移台6、斩波器7、全反镜二8、全反镜三9、格兰棱镜一10、四分之一波片一11后在中空反射镜23上反射,其中全反镜三9中心涂黑,使中空反射镜23上反射的光为圆环状泵浦光;其中斩波器7的扇叶以一定频率遮挡泵浦光或不遮挡使它通过,当泵浦光通过时,样品被激发到高能级,激发态的样品对探测光吸收的吸光度与没有泵浦光通过时不同,后续进入仪器中并经过计算机处理便能得到瞬态电-磁光谱。飞秒激光器1输出的飞秒激光脉冲经过分束片2反射出一束弱光,经过全反镜四12、全反镜五13、全反镜六14、透镜一15、含水比色皿16、透镜二17、啁啾镜18、全反镜七19、格兰棱镜二20、四分之一波片二21、全反镜八22、中空反射镜23后成为探测光与圆环状泵浦光汇合为共轴光,探测光处于圆环状泵浦光中心。共轴的两束光共同经过物镜一24、金刚石对顶砧压机或低温罐25、物镜二26、光阑27后,圆环状泵浦光被光阑27遮挡,拿掉全反镜九28,中心探测光通过进入单色仪30,通过单色仪30数据输出端口e通向锁相放大器31数据输入端口进行探测,通过锁相放大器31数据输出端口h通向计算机32数据输入端口k,经计算机32分析处理得到动力学信号;或者放上全反镜九28,探测光通过光纤进入光纤光谱仪29信号输入端口c,通过光纤光谱仪29数据输出端口d通向计算机32数据输入端口j,经计算机32分析处理得到光谱信号。使得在探测光频率与泵浦光频率相近或重叠时,有效提取探测光,收集到金刚石对顶砧压机或者低温罐中极端条件下自旋物性的圆偏振瞬态吸收光谱。

Claims (4)

1.一种诊断极端条件下共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统,其特征在于:由脉冲激光产生及调节部分、脉冲压缩探测光产生及调节部分探测信号收集部分组成;脉冲激光产生及调节部分、脉冲压缩探测光产生及调节部分和探测信号收集部分置于同一光学平台上,探测信号收集部分中的光纤光谱仪、锁相放大器和计算机置于光学平台外;其中脉冲激光产生及调节部分中的斩波器信号输出端口a与探测信号收集中的锁相放大器信号输入端口g连接,脉冲激光产生及调节部分中的电控位移台信号输出端口b与探测信号收集中的计算机信号输入端口i连接;脉冲压缩探测光产生及调节部分位于脉冲激光产生及调节部分的后右前方,半包围脉冲激光产生及调节部分;探测信号收集部分位于脉冲激光产生及调节部分及脉冲压缩探测光产生及调节部分前方;脉冲激光产生及调节部分与脉冲压缩探测光产生及调节部分通过光路分束片和全反镜四相连;脉冲激光产生及调节部分与探测信号收集部分通过光路四分之一波片一和中空反射镜相连;脉冲压缩探测光产生及调节部分与探测信号收集部分通过光路全反镜八和中空反射镜相连。
2.根据权利要求1所述的诊断极端条件下共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统,其特征在于:所述的脉冲激光产生及调节部分包括飞秒激光器、分束片一、飞秒光学参量放大器、扩束器、全反镜一、电控位移台、斩波器、全反镜二、全反镜三、格兰棱镜一和四分之一波片一,其中电控位移台设有输出端口b,斩波器设有输出端口a;飞秒激光器、分束片一、飞秒光学参量放大器、扩束器、全反镜一自左至右顺序排列;电控位移台、斩波器、全反镜二和全反镜一自后至前顺序排列;全反镜三、格兰棱镜一和四分之一波片一自前至后顺序排列且全反镜三、格兰棱镜一和四分之一波片一位于同一水平中心线上,其中全反镜三中心涂黑,电控位移台设有信号输出端口b;斩波器设有信号输出端口a。
3.根据权利要求1所述的诊断极端条件下共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统,其特征在于:所述的脉冲压缩探测光产生及调节部分包括全反镜四、全反镜五、全反镜六、透镜一、含水比色皿、透镜二、啁啾镜、全反镜七、格兰棱镜二、四分之一波片二和全反镜八,其中全反镜四位于全反镜五的左方,全反镜六位于全反镜五后方,全反镜六、透镜一、含水比色皿、透镜二、啁啾镜自右至左排列,全反镜六、透镜一、含水比色皿、透镜二位于同一水平中心线上,全反镜七、格兰棱镜二、四分之一波片二和全反镜八自后至前排列,全反镜七、格兰棱镜二、四分之一波片二和全反镜八位于同一水平中心线上。
4.根据权利要求1所述的诊断极端条件下共轴BOXCRS构型的圆偏振瞬态吸收光谱系统,其特征在于:所述的探测信号收集部分包括中空反射镜、物镜一、金刚石对顶砧压机或低温罐、物镜二、光阑、全反镜九、光纤光谱仪、单色仪、锁相放大器、计算机,其中中空反射镜、物镜一、金刚石对顶砧压机或低温罐、物镜二、光阑、全反镜九、单色仪自右至左顺序排列,且中空反射镜、物镜一、金刚石对顶砧压机或低温罐、物镜二、光阑、全反镜九位于同一水平中心线上,其中光纤光谱仪设有信号输入端口c和数据输出端口d;单色仪设有数据输出端口e;锁相放大器设有数据输入端口f、数据输入端口g、数据输出端口h;计算机设有信号输入端口i、数据输入端口j、数据输入端口k;光纤光谱仪数据输出端口d和计算机数据输入端口j连接;单色仪数据输出端口e和锁相放大器数据输入端口连接;锁相放大器数据输出端口h和计算机数据输入端口k连接。
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