CN103366830A

CN103366830A - 存储卡的测试装置

Info

Publication number: CN103366830A
Application number: CN2012100902340A
Authority: CN
Inventors: 苏瑞贤; 欧富国
Original assignee: Asolid Technology Co Ltd
Current assignee: Asolid Technology Co Ltd
Priority date: 2012-03-30
Filing date: 2012-03-30
Publication date: 2013-10-23

Abstract

本发明提供一种存储卡的测试装置，用以测试存储卡，包括读卡机以及主机端。读卡机连接存储卡。主机端通过通用串行总线接口耦接读卡机，并通过读卡机与存储卡传送写入指令以对存储卡进行数据写入。存储卡并通过读卡机传送读出结果至主机端，主机端依据写入指令以及读出结果来判断存储卡是否损毁。

Description

存储卡的测试装置

技术领域

本发明是有关于一种存储卡的测试装置。

背景技术

存储卡(memory card)是一种利用闪速存储器(flash memory)模块所组成的储存装置。这种存储卡常见应用于方便携带的多种消费性电子装置中，例如数码相机、音乐播放机及笔记本电脑等。在市面上，这种存储卡又可以分成很多格式，其中较常见的有安全数码卡(Secure Digital，SD)、闪存(CompactFlash，CF)及存储棒(Memory Stick，MS)等。

这种存储卡中通常具有用来存取闪速存储器的控制电路以及一个或多个的闪速存储器模块(其数量视存储卡的容量来决定)。在存储卡的生产流程中，为了测试包装好的存储卡中的闪速存储器模块及控制电路是否可以正常的工作，设计者常使用专门针对存储卡测试所设计的测试机台来完成存储卡的测试工作。这种测试机台的操作，通常必须要有专业的测试工程师来使用，然而，并不容易被使用。且这种测试机台本身的造价甚高，且不是很容易被取得。这都使得存储卡的测试工作的成本及难度相对的提高。

发明内容

本发明提供一种存储卡的测试装置，可以直接利用读卡机对存储卡进行测试。

本发明提出一种存储卡的测试装置，用以测试存储卡，包括读卡机以及主机端。读卡机连接存储卡。主机端通过通用串行总线接口耦接读卡机，并通过读卡机与存储卡传送写入指令以对存储卡进行数据写入。存储卡并通过读卡机传送读出结果至主机端，主机端依据写入指令以及读出结果来判断存储卡是否损毁。

在本发明的一实施例中，上述的存储卡具有控制电路以及至少一闪速存储器模块。

在本发明的一实施例中，上述的主机端通过读卡机传送写入指令至控制电路，并使控制电路对闪速存储器模块进行写入动作。

在本发明的一实施例中，上述的控制电路对闪速存储器模块进行读出动作，并通过读卡机传送读出结果至主机端。

在本发明的一实施例中，上述的主机端还包括通过读卡机传送固件程序至存储卡的控制电路中。

在本发明的一实施例中，上述的主机端通过写入指令对存储卡的受测地址写入测试写入数据，并读取存储卡的受测地址以获得测试读出数据。主机端比对测试写入数据以及测试读出数据并藉以判断存储卡的受测地址是否损毁。

在本发明的一实施例中，上述的写入指令包括写入命令、受测地址的逻辑地址以及测试写入数据。

在本发明的一实施例中，上述的读出结果包括读出命令、受测地址的逻辑地址以及测试读出数据。

基于上述，本发明利用市售的一般规格的读卡机，来达到对存储卡进行测试的目的。使得存储卡的测试不用再拘限一定要应用特殊的测试机台。使得存储卡的测试更为简单，并有效降低存储卡的测试成本。

为让本发明的上述特征和优点能更明显易懂，下文特举实施例，并配合所示附图作详细说明如下。

附图说明

图1绘示本发明的一实施例的存储卡的测试装置；

图2所绘示的本发明的另一实施例的存储卡的测试装置；

图3绘示本发明实施例的存储卡测试的流程图。

附图标记说明：

100、200：测试装置；

110、210：主机端；

120、220：读卡机；

170、270、280：存储卡；

271：控制电路；

2761～2763：闪速存储器模块；

CN1：串行总线接口；

S310、S320、S330、S370：测试步骤。

具体实施方式

请参照图1，图1绘示本发明的一实施例的存储卡的测试装置。存储卡测试装置100用以测试存储卡170，其中包括读卡机120以及主机端110。主机端110通过通用串行总线接口CN1连接读卡机120。读卡机120则耦接存储卡170(也就是将存储卡170插入读卡机120所设置的插槽中)。

当存储卡170的测试要进行时，首先，主机端110通过读卡机120与存储卡170之间传送写入指令以对存储卡170进行数据写入。并在完成存储卡170的数据写入动作后，主机端110通过读卡机120与存储卡170之间传送读出指令以对存储卡170进行数据读出。存储卡170则回应由读卡机120传至的读出指令并传出读出结果至主机端110。主机端110在获得了读出结果后，则依据写入指令以及读出结果进行比对，并藉以完成存储卡170的测试动作。

请注意，上述的写入指令中包括了命令读卡机120进行数据写入的写入命令外，还包括所要写入存储卡170的逻辑地址以及测试写入数据。其中，写入指令中所包括的逻辑地址也就是这个写入指令所要测试的存储卡170的受测地址。而读出结果则包括读出指令、所读取的测试读出数据以及这个测试读出数据所来自的存储卡170的逻辑地址。

主机端110在通过读卡机120获得来自于存储卡170的读出结果后，就可以将读出结果中的测试读出数据与主机端110所发送的写入指令中的测试写入数据进行比对。当测试读出数据与测试写入数据相同时，则表示存储卡170的该受测地址(写入指令与读出结果中的受测地址必须相同)并无损坏。相反的，当测试读出数据与测试写入数据不相同时，则表示存储卡170的该受测地址已发生异常。

另外，当主机端110进行存储卡170的测试时，可以针对单一受测地址进行写入并立刻对同样受测地址进行读出。这样一来，就可以立刻获知存储卡170的该受测地址的状态。当然，主机端110也可以针对存储卡170中的多个不同的受测地址分成多次写入，并在所有的受测地址都完成写入后，再针对这些受测地址分别一一进行数据读出。当然，这样的作法将会使主机端110存在有多个测试写入数据传输到存储卡170或得到多个的测试读出数据。因此，在当主机端110进行测试读出数据与测试写入数据的比对动作时，还要附带比对每个写入指令与读出结果中的受测地址。并仅针对受测地址相同的测试读出数据与测试写入数据进行比对，以得知存储卡170的各个受测地址的正常与否。

而在针对存储卡170的多个不同的地址进行测试时，受测地址可以用递增或递减的方式来进行改变，当然也可以不连续的以跳跃的方式进行改变。在本实施例的架构之下，受测地址的顺序并不被限制。并且，存储卡170的同一受测地址也可以被连续的以相同或不相同的测试写入数据来进行测试。也就是说，在达到最高的错误覆盖率(fault coverage)的情况下，本发明实施例的架构可以提供针对受测地址以及测试写入数据进行多种类的不同测试方式的变化。

为了更详细说明本发明的实施方式。以下请参照图2所绘示的本发明的另一实施例的存储卡的测试装置。在本实施例中，测试装置200中的存储卡270包括控制电路271以及至少一个的闪速存储器模块2761～2763。其中，控制电路271耦接至所有的闪速存储器模块2761～2763，并藉以存取闪速存储器模块2761～2763。

当要进行存储卡270的测试时，主机端210所传送的写入指令，实际上是通过读卡机220传送至存储卡270中的控制电路271中。由于写入指令中包括写入命令、测试写入数据以及受测地址，因此控制电路271可以有效的依据写入命令，将测试写入数据写入闪速存储器模块2761～2763中逻辑地址等于受测地址的存储区块中。在完成测试写入数据的写入动作后，这个控制电路271会依据通过读卡机220所传送的由主机端210发送的读出命令来对受测地址的存储区块来进行读取并藉以获得测试读出数据。控制电路271并将读出命令、受测地址以及所读出的测试读出数据整合成为读出结果，且将这个读出结果通过读卡机220传送回给主机端210。

附带一提的是，主机端210可以是电脑或服务器等相关具有运算能力的装置，而主机端210与读卡机220的连接则是通过所谓的通用串行总线接口CN1就可以达成。换句话说，读卡机220并不需要经过特别设计，而只要是一般市售的存储卡读卡机就可以实施本实施例。

此外，由于读卡机220可以具有一次连接多张存储卡的功能。因此，本实施例的存储卡的测试装置200可以还针对连接于读卡机220的另一存储卡280进行测试。其中测试的方式与原理与针对存储卡270进行测试的相关说明相同，在此恕不赘述。而存储卡270与存储卡280的格式并不一定要相同(也可以是相同的)，例如存储卡270是SD型式的存储卡，而存储卡280是CF型式的存储卡。

本实施例的存储卡的测试装置200中，主机端210也可以通过读卡机220将固件程序写入存储卡270的控制电路271中，以提供控制电路271执行这个固件程序。

以下请参照图3，图3绘示本发明实施例的存储卡测试的流程图。在测试动作开始以后，首先判断所要进行的是存储卡的写入或是读出动作(步骤S310)。若是要进行存储卡的写入动作时，则由主机端提供写入指令至存储卡(步骤S320)。请注意，这个写入指令的提供动作，是通过与主机端连接的读卡机来完成的。且写入指令包括写入命令、受测地址以及测试写入数据。

若当步骤S310判断出是要进行存储卡的读出动作时，则由存储卡提供读出结果至主机端(步骤S330)。相同于步骤S320，存储卡提供读出结果至主机端也是通过读卡机来完成的。而读出结果则包括读出命令、受测地址以及测试读出数据。

当读出结果被提供至主机端后，主机端会针对相同受测地址的测试写入数据以及测试读出数据进行比对，以判断该受测地址的存储区块是否有受损的现象(步骤S370)。而在存储卡所有的地址都被测试过后，主机端则可以判断出此受测的存储卡是否为良好的存储卡。

综上所述，本发明利用市售的读卡机，来配合例如是个人电脑的主机端，来达成对存储卡的测试动作。也就是说，本发明提出一种最简单的方式，来有效的使原本复杂且昂贵的存储卡测试动作，可以由专业的测试厂转换到例如是简单的办公室来完成。并且，不需要专业且昂贵的测试机台，有效的降低测试的成本与测试技术的门槛。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims

1.一种存储卡的测试装置，用以测试一存储卡，其特征在于，包括：

一读卡机，连接该存储卡；以及

一主机端，通过一通用串行总线接口耦接该读卡机，并通过该读卡机与该存储卡传送一写入指令以对该存储卡进行数据写入，该存储卡并通过该读卡机传送一读出结果至该主机端，该主机端依据该写入指令以及该读出结果来判断该存储卡是否损毁。

2.根据权利要求1所述的存储卡的测试装置，其中该存储卡具有一控制电路以及至少一闪速存储器模块。

3.根据权利要求2所述的存储卡的测试装置，其中该主机端通过该读卡机传送该写入指令至该控制电路，并使该控制电路对该闪速存储器模块进行写入动作。

4.根据权利要求2所述的存储卡的测试装置，其中该控制电路对该闪速存储器模块进行读出动作，并通过该读卡机传送该读出结果至主机端。

5.根据权利要求2所述的存储卡的测试装置，其中该主机端还包括通过该读卡机传送一固件程序至该存储卡的该控制电路中。

6.根据权利要求1所述的存储卡的测试装置，其中该主机端通过该写入指令对该存储卡的一受测地址写入一测试写入数据，并读取该存储卡的该受测地址以获得一测试读出数据，该主机端比对该测试写入数据以及该测试读出数据并藉以判断该存储卡的该受测地址是否损毁。

7.根据权利要求6所述的存储卡的测试装置，其中该写入指令包括一写入命令、该受测地址的逻辑地址以及该测试写入数据。

8.根据权利要求6所述的存储卡的测试装置，其中该读出结果包括一读出命令、该受测地址的逻辑地址以及该测试读出数据。