CN106200181A - 一种液晶显示面板测试线路及液晶显示面板 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种液晶显示面板测试线路及液晶显示面板，其包括：多条扫描线、多条数据线以及所述扫描线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极；多个测试点，其用于接收测试信号；多个时钟信号连接端子，其用于提供时钟信号驱动所述扫描线，所述时钟信号连接端子的一端与相应的扫描线连接，另一端与所述测试点连接；其中，同一列上相同极性的至少两个所述像素电极通过所述时钟信号连接端子与同一个所述测试点连接；本发明的驱动电路液晶显示面板测试线路及液晶显示面板减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示面板领域，尤其涉及一种液晶显示面板测试线路及液晶显示面板。
背景技术
现有的液晶显示面板测试检测的技术中，主要采用测试短棒(Shorting bar)面板布线的方式进行测试，然而，为了保证测试的准确性和提升制程良率，采用与液晶显示面板绑定芯片后的GOA电路正常工作模式一样的方式进行测试。
对于高分辨率的液晶显示面板，GOA电路正常工作时需要的时钟信号较多，这样造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高。
故，有必要提供一种液晶显示面板测试线路以及液晶显示面板，以解决现有技术所存在的问题。
发明内容
本发明的目的在于提供一种液晶显示面板测试线路，以解决现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
为解决上述问题，本发明提供的技术方案如下：
本发明实施例提供一种液晶显示面板测试线路，其包括：
多条扫描线、多条数据线以及所述扫描线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极；
多个测试点，其用于接收测试信号；
多个时钟信号连接端子，其用于提供时钟信号驱动所述扫描线，所述时钟信号连接端子的一端与相应的扫描线连接，另一端与所述测试点连接；其中，
同一列上相同极性的至少两个所述像素电极通过所述时钟信号连接端子与同一个所述测试点连接。
在本发明的液晶显示面板测试线路中，所述液晶显示面板测试线路包括8个所述时钟信号连接端子,其中，第a个所述时钟信号连接端子的一端与第(a+8k)条所述扫描线连接，k为正整数，a为小于等于8的正整数。
在本发明的液晶显示面板测试线路中，相邻所述像素电极的极性不同。
在本发明的液晶显示面板测试线路中，同一列上的所述像素电极的极性相同。
在本发明的液晶显示面板测试线路中，所述液晶显示面板测试线路包括4个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子和第三个所述时钟信号连接端子与第一个所述测试点连接，第二个所述时钟信号连接端子和第四个所述时钟信号连接端子与第二个所述测试点连接，第五个所述时钟信号连接端子和第七个所述时钟信号连接端子与第三个所述测试点连接，第六个所述时钟信号连接端子和第八个所述时钟信号连接端子与第四个所述测试点连接。
在本发明的液晶显示面板测试线路中，所述液晶系那是面板测试线路包括2个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子、第三个所述时钟信号连接端子、第五个所述时钟信号连接端子以及第七个所述时钟信号连接端子与第一个所述测试点连接，第二个所述时钟信号连接端子、第四个所述时钟信号连接端子、第六个所述时钟信号连接端子以及第八个所述时钟信号连接端子与第二个所述测试点连接。
在本发明的液晶显示面板测试线路中，所述液晶显示面板测试线路包括4个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子和第二个所述时钟信号连接端子与第一个所述测试点连接，第三个所述时钟信号连接端子和第四个所述时钟信号连接端子与第二个所述测试点连接，第五个所述时钟信号连接端子和第六个所述时钟信号连接端子与第三个所述测试点连接，第七个所述时钟信号连接端子和第八个所述时钟信号连接端子与第四个所述测试点连接。
在本发明的液晶显示面板测试线路中，所述液晶显示面板测试线路包括1个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子、第二个所述时钟信号连接端子、第三个所述时钟信号连接端子、第四个所述时钟信号连接端子、第五个所述时钟信号连接端子、第六个所述时钟信号连接端子、第七个所述时钟信号连接端子以及第八个所述时钟信号连接端子与所述测试点连接。
本发明的液晶显示面板测试线路，还包括：GOA电路，其包括多级GOA驱动单元，所述GOA驱动单元的输入端与相应的所述时钟信号连接端子连接，输出端与相应的所述扫描线连接，其用于接入所述时钟信号并生成驱动信号至所述扫描线。
依据本发明的上述目的，还提供一种液晶显示面板，其包括
多条扫描线、多条数据线以及所述扫描线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极；
多个测试点，其用于接收测试信号；
多个时钟信号连接端子，其用于提供时钟信号驱动所述扫描线，所述时钟信号连接端子的一端与相应的扫描线连接，另一端与所述测试点连接；其中，
同一列上相同极性的至少两个所述像素电极通过所述时钟信号连接端子与同一个所述测试点连接。
在本发明的液晶显示面板中，所述液晶显示面板测试线路包括8个所述时钟信号连接端子,其中，第a个所述时钟信号连接端子的一端与第(a+8k)条所述扫描线连接，k为正整数，a为小于等于8的正整数。
本发明的液晶显示面板测试线路及液晶显示面板通过将同一列上相同极性的至少两个像素电极通过时钟信号连接端子与同一个测试点连接，减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本；解决了现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
为让本发明的上述内容能更明显易懂，下文特举优选实施例，并配合所附图式，作详细说明如下：
附图说明
下面结合附图，通过对本发明的具体实施方式详细描述，将使本发明的技术方案及其它有益效果显而易见。
图1为本发明液晶显示面板测试线路的第一优选实施例的结构示意图；
图2为本发明液晶显示面板测试线路的第一优选实施例的像素电极架构的示意图；
图3为本发明的液晶显示面板测试线路的第一优选实施例的工作波形示意图；
图4为本发明的液晶显示面板测试线路的第二优选实施例的结构示意图；
图5为本发明的液晶显示面板测试线路的第二优选实施例的工作波形示意图；
图6为本发明的液晶显示面板测试线路的第三优选实施例的结构示意图；
图7为本发明液晶显示面板测试线路的第三优选实施例的像素电极架构的示意图；
图8为本发明的液晶显示面板测试线路的第三优选实施例的工作波形示意图；
图9为本发明的液晶显示面板测试线路的第四优选实施例的结构示意图；
图10为本发明的液晶显示面板测试线路的第四优选实施例的工作波形示意图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
本发明的液晶显示面板测试线路，包括：多条扫描线、多条数据线以及所述扫描线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极；多个测试点，其用于接收测试信号；多个时钟信号连接端子，其用于提供时钟信号驱动所述扫描线，所述时钟信号连接端子的一端与相应的扫描线连接，另一端与所述测试点连接；其中，同一列上相同极性的至少两个所述像素电极通过所述时钟信号连接端子与同一个所述测试点连接。
为了便于说明，本发明实施例采用具体数量的扫描线、数据线、测试点以及时钟信号连接端子进行说明，在不脱离以上内容的思想的前提下，本领域的技术人员能得出特定液晶显示面板测试线路的结构。
参阅图1，图1为本发明液晶显示面板测试线路的第一优选实施例的结构示意图；
如图1所示，本优选实施例的液晶显示面板测试线路，包括：
4个测试点：第一个测试点TCK11、第二个测试点TCK12、第三个测试点TCK13以及第四个测试点TCK14；
8个时钟信号连接端子：第一个时钟信号连接端子CK11、第二个时钟信号连接端子CK12、第三个时钟信号连接端子CK13、第四个时钟信号连接端子CK14、第五个时钟信号连接端子CK15、第六个时钟信号连接端子CK16、第七个时钟信号连接端子CK17以及第八个时钟信号连接端子CK18；
第一个时钟信号连接端子CK11的一端与第1、9、17……(1+8k)条扫描线连接；第二个时钟信号连接端子CK12的一端与第2、10、18……(2+8k)条扫描线连接；第三个时钟信号连接端子CK13的一端与第3、11、19……(3+8k)条扫描线连接；第四个钟信号连接端子CK14的一端与第4、12、20……(4+8k)条扫描线连接；第五个时钟信号连接端子CK15的一端与第5、13、21……(5+8k)条扫描线连接；第六个时钟信号连接端子CK16的一端与第6、14、22……(6+8k)条扫描线连接；第七个时钟信号连接端子CK17的一端与第7、15、23……(7+8k)条扫描线连接；第八个时钟信号连接端子CK18的一端与8、16、24……(8+8k)条扫描线连接；其中，k为正整数。
8个时钟信号连接端子的另一端通过走线越过激光切断区域10与4个测试点连接，在进行测试时，可通过测试点对液晶显示面板施加测试信号，测试结束后，可使用激光切割在激光切割区域10上将走线切断，从而使得测试好的液晶显示面板能正常工作。
具体地，参阅图1、图2，图2为本发明液晶显示面板测试线路的第一优选实施例的像素电极架构的示意图；
像素电极架构由多条扫描线、多条数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极20构成，每一条数据线与扫描线交叉处连接一像素电极20，其中，相邻像素电极20的极性不同。在本优选实施例中，示意性地标示出数据线D1～D9及扫描线G1～G5。
所述像素电极架构包括多个像素电极20，其中同一行的像素电极20连接同一侧的数据线，同一列相邻行的像素电极20分别连接两侧的数据线，也就是说位于中间的数据线会按行间隔与左右两侧的像素电极20连接，如图1所示，奇数行的像素电极20均与其左侧的数据线连接，偶数行的像素电极20均与其右侧的数据线连接，同一列上像素电极20所在的像素区域为红色像素区域、绿色像素区域或蓝色像素区域。
第一个时钟信号连接端子CK11和第三个时钟信号连接端子CK13对应的扫描线上的像素电极20的极性均为正，从而可以将第一个时钟信号连接端子CK11和第三个时钟信号连接端子CK13的另一端通过走线与第一个测试点TCK11连接；
第二个时钟信号连接端子CK12和第四个时钟信号连接端子CK14对应的扫描线上的像素电极20的极性均为负，从而可以将第二个时钟信号连接端子CK12和第四个时钟信号连接端子CK14的另一端通过走线与第二个测试点TCK12连接；
第五个时钟信号连接端子CK15和第七个时钟信号连接端子CK17对应的扫描线上的像素电极20的极性均为正，从而可以将第五个时钟信号连接端子CK15和第七个时钟信号连接端子CK17的另一端通过走线与第三个测试点TCK13连接；
第六个时钟信号连接端子CK16和第八个时钟信号连接端子CK18对应的扫描线上的像素电极的极性均为负，从而可以将第六个时钟信号连接端子CK16和第八个时钟信号连接端子CK18的另一端通过走线与第四个测试点TCK14连接。
本发明实施例以点亮第二列像素电极纯色画面为例，本领域技术人员可根据以下描述完成整个液晶显示面板测试。
参阅3，图3为本发明的液晶显示面板测试线路的第一优选实施例的工作波形示意图；
需要说明的是，扫描线上升沿期间，前1/2时间段内是与充电时间，后1/2时间段内，对应的数据线才开始写入数据信号。
液晶显示面板测试时，分别在第一个测试点TCK11、第二个测试点TCK12、第三个测试点TCK13和第四个测试点TCK14上施加一定时间间隔的测试信号，当第一个测试点TCK11上施加的测试信号处于第一个上升沿时，第一个时钟信号连接端子CK11和第三个时钟信号连接端子CK13将时钟信号传至扫描线，对应数据线将低电位的数据信号写入像素电极；接下来，第二个测试点TCK12上施加的测试信号处于第一个上升沿，第二个时钟信号连接端子CK12和第四个时钟信号连接端子CK14将时钟信号传至扫描线，对应数据线将高电位的数据信号写入像素电极；然后，第三个测试点TCK13上施加的测试信号处于第一个上升沿，第五个时钟信号连接端子CK15和第七个时钟信号连接端子CK17将时钟信号传至扫描线，对应数据线将低电位的数据信号写入像素电极；最后，第四个测试点TCK14上施加的测试信号处于第一个上升沿，第六个时钟信号连接端子CK16和第八个时钟信号连接端子CK18将时钟信号传至扫描线，对应数据线将高电位的数据信号写入像素电极。重复以上过程，从而点亮整个面板第二列画面。
本优选实施例的液晶显示面板测试线路通过将同一列上相同极性的两个像素电极通过时钟信号连接端子与同一个测试点连接，减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本；解决了现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
参阅图4，图4为本发明的液晶显示面板测试线路的第二优选实施例的结构示意图。
与第一优选实施例的区别在于，本优选实施例的液晶显示面板测试线路只有2个测试点，测试点的数量更加少。
如图4所示，本优选实施例的液晶显示面板测试线路，包括：
2个测试点：第一个测试点TCK21、第二个测试点TCK22；
8个时钟信号连接端子：第一个时钟信号连接端子CK21、第二个时钟信号连接端子CK22、第三个时钟信号连接端子CK23、第四个时钟信号连接端子CK24、第五个时钟信号连接端子CK25、第六个时钟信号连接端子CK26、第七个时钟信号连接端子CK27以及第八个时钟信号连接端子CK28；
本优选实施例的8个时钟信号连接端子的一端与扫描线的连接方式以及像素电极的架构与第一优选实施例相同，可参阅图2，在此不做赘述。
8个时钟信号连接端子的另一端通过走线越过激光切断区域11与2个测试点连接，在进行测试时，可通过测试点对液晶显示面板施加测试信号，测试结束后，可使用激光切割在激光切割区域11上将走线切断，从而使得测试好的液晶显示面板能正常工作。
8个时钟信号连接端子的另一端与第一测试点和第二测试点的连接方式如下：
第一个时钟信号连接端子CK21、第三个时钟信号连接端子CK23、第五个时钟信号连接端子CK25以及第七个时钟信号连接端子CK27对应的扫描线上的像素电极的极性均为负，从而可以将第一个时钟信号连接端子CK21、第三个时钟信号连接端子CK23、第五个时钟信号连接端子CK23以及第七个时钟信号连接端子CK27的另一端通过走线与第一个测试点TCK21连接；
第二个时钟信号连接端子CK22、第四个时钟信号连接端子CK24、第六个时钟信号连接端子CK26以及第八个时钟信号连接端子CK28对应的扫描线上的像素电极的极性均为正，从而可以将第二个时钟信号连接端子CK22、第四个时钟信号连接端子CK24、第六个时钟信号连接端子CK26以及第八个时钟信号连接端子CK28的另一端通过走线与第二个测试点TCK22连接；
本发明实施例以点亮第二列像素电极纯色画面为例，本领域技术人员可根据以下描述完成整个液晶显示面板测试。
参阅5，图5为本发明的液晶显示面板测试线路的第二优选实施例的工作波形示意图；
需要说明的是，扫描线上升沿期间，前1/2时间段内是与充电时间，后1/2时间段内，对应的数据线才开始写入数据信号。
液晶显示面板测试时，分别在第一个测试点TCK21和第二个测试点TCK22上施加一定时间间隔的测试信号，当第一个测试点TCK21上施加的测试信号处于第一个上升沿时，第一个时钟信号连接端子CK21、第三个时钟信号连接端子CK23、第五个时钟信号连接端子CK25以及第七个时钟信号连接端子CK27将时钟信号传至扫描线，对应数据线将低电位的数据信号写入像素电极；接下来，第二个测试点TCK22上施加的测试信号处于第一个上升沿，第二个时钟信号连接端子CK22、第四个时钟信号连接端子CK24、第六个时钟信号连接端子CK26以及第八个时钟信号连接端子CK28将时钟信号传至扫描线，对应数据线将高电位的数据信号写入像素电极。重复以上过程，从而点亮整个面板第二列画面。
本优选实施例的液晶显示面板测试线路通过将同一列上相同极性的多个像素电极通过时钟信号连接端子与同一个测试点连接，减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本；解决了现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
参阅图6，图6为本发明的液晶显示面板测试线路的第三优选实施例的结构示意图。
与第一、二优选实施例的区别在于，本优选实施例的液晶显示面板测试线路的像素电极架构不同。
本优选实施例的液晶显示面板测试线路，包括：
4个测试点：第一个测试点TCK31、第二个测试点TCK32、第三个测试点TCK33以及第四个测试点TCK34；
8个时钟信号连接端子：第一个时钟信号连接端子CK31、第二个时钟信号连接端子CK32、第三个时钟信号连接端子CK33、第四个时钟信号连接端子CK34、第五个时钟信号连接端子CK35、第六个时钟信号连接端子CK36、第七个时钟信号连接端子CK37以及第八个时钟信号连接端子CK38；
第一个时钟信号连接端子CK31的一端与第1、9、17……(1+8k)条扫描线连接；第二个时钟信号连接端子CK32的一端与第2、10、18……(2+8k)条扫描线连接；第三个时钟信号连接端子CK33的一端与第3、11、19……(3+8k)条扫描线连接；第四个钟信号连接端子CK34的一端与第4、12、20……(4+8k)条扫描线连接；第五个时钟信号连接端子CK35的一端与第5、13、21……(5+8k)条扫描线连接；第六个时钟信号连接端子CK36的一端与第6、14、22……(6+8k)条扫描线连接；第七个时钟信号连接端子CK37的一端与第7、15、23……(7+8k)条扫描线连接；第八个时钟信号连接端子CK38的一端与8、16、24……(8+8k)条扫描线连接；其中，k为正整数。
8个时钟信号连接端子的另一端通过走线越过激光切断区域13与4个测试点连接，在进行测试时，可通过测试点对液晶显示面板施加测试信号，测试结束后，可使用激光切割在激光切割区域13上将走线切断，从而使得测试好的液晶显示面板能正常工作。
具体地，参阅图6、图7，图7为本发明液晶显示面板测试线路的第三优选实施例的像素电极架构的示意图；
像素电极架构由多条扫描线、多条数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极构成，每一条数据线与扫描线交叉处连接一像素电极，其中，同一列像素电极的极性相同。在本优选实施例中，示意性地标示出数据线D1～D9及扫描线G1～G5。
所述像素电极架构包括多个像素电极，其中同一列的像素电极与同一条数据线连接，同一列上像素电极所在的像素区域为红色像素区域、绿色像素区域或蓝色像素区域。
第一个时钟信号连接端子CK31和第二个时钟信号连接端子CK32对应的扫描线上的像素电极的极性相同，从而可以将第一个时钟信号连接端子CK31和第二个时钟信号连接端子CK32的另一端通过走线与第一个测试点TCK31连接；
第三个时钟信号连接端子CK33和第四个时钟信号连接端子CK33对应的扫描线上的像素电极的极性相同，从而可以将第三个时钟信号连接端子CK33和第四个时钟信号连接端子CK34的另一端通过走线与第二个测试点TCK32连接；
第五个时钟信号连接端子CK35和第六个时钟信号连接端子CK36对应的扫描线上的像素电极的极性相同，从而可以将第五个时钟信号连接端子CK35和第六个时钟信号连接端子CK36的另一端通过走线与第三个测试点TCK33连接；
第七个时钟信号连接端子CK37和第八个时钟信号连接端子CK38对应的扫描线上的像素电极的极性相同，从而可以将第七个时钟信号连接端子CK37和第八个时钟信号连接端子CK38的另一端通过走线与第四个测试点TCK4连接。
本发明实施例以点亮第二列像素电极纯色画面为例，本领域技术人员可根据以下描述完成整个液晶显示面板测试。
参阅8，图8为本发明的液晶显示面板测试线路的第三优选实施例的工作波形示意图；
需要说明的是，扫描线上升沿期间，前1/2时间段内是与充电时间，后1/2时间段内，对应的数据线才开始写入数据信号。
液晶显示面板测试时，分别在第一个测试点TCK31、第二个测试点TCK32、第三个测试点TCK33和第四个测试点TCK34上施加一定时间间隔的测试信号，当第一个测试点TCK31上施加的测试信号处于第一个上升沿时，第一个时钟信号连接端子CK31和第二个时钟信号连接端子CK32将时钟信号传至扫描线，对应数据线将一定电位的数据信号写入像素电极；接下来，第二个测试点TCK32上施加的测试信号处于第一个上升沿，第三个时钟信号连接端子CK33和第四个时钟信号连接端子CK34将时钟信号传至扫描线，对应数据线将一定电位的数据信号写入像素电极；然后，第三个测试点TCK33上施加的测试信号处于第一个上升沿，第五个时钟信号连接端子CK35和第六个时钟信号连接端子CK36将时钟信号传至扫描线，对应数据线将一定电位的数据信号写入像素电极；最后，第四个测试点TCK34上施加的测试信号处于第一个上升沿，第七个时钟信号连接端子CK37和第八个时钟信号连接端子CK38将时钟信号传至扫描线，对应数据线将一定电位的数据信号写入像素电极。重复以上过程，从而点亮整个面板第二列画面。
本优选实施例的液晶显示面板测试线路通过将同一列上相同极性的两个像素电极通过时钟信号连接端子与同一个测试点连接，减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本；解决了现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
参阅图9，图9为本发明的液晶显示面板测试线路的第四优选实施例的结构示意图。
与第三优选实施例的区别在于，本优选实施例的液晶显示面板测试线路只有1个测试点，测试点的数量更加少。
如图4所示，本优选实施例的液晶显示面板测试线路，包括：
测试点TCK；
8个时钟信号连接端子：第一个时钟信号连接端子CK41、第二个时钟信号连接端子CK42、第三个时钟信号连接端子CK43、第四个时钟信号连接端子CK44、第五个时钟信号连接端子CK45、第六个时钟信号连接端子CK46、第七个时钟信号连接端子CK47以及第八个时钟信号连接端子CK48；
本优选实施例的8个时钟信号连接端子的一端与扫描线的连接方式以及像素电极的架构与第三优选实施例相同，可参阅图7，在此不做赘述。
8个时钟信号连接端子的另一端通过走线越过激光切断区域14与1个测试点连接，在进行测试时，可通过测试点对液晶显示面板施加测试信号，测试结束后，可使用激光切割在激光切割区域14上将走线切断，从而使得测试好的液晶显示面板能正常工作。
8个时钟信号连接端子的另一端与测试点的连接方式如下：
第一个时钟信号连接端子CK41、第二个时钟信号连接端子CK42、第三个时钟信号连接端子CK43、第四个时钟信号连接端子CK44、第五个时钟信号连接端子CK45、第六个时钟信号连接端子CK46、第七个时钟信号连接端子CK47以及第八个时钟信号连接端子CK48的极性均相同，从而可以将第一个时钟信号连接端子CK41、第二个时钟信号连接端子CK42、第三个时钟信号连接端子CK43、第四个时钟信号连接端子CK44、第五个时钟信号连接端子CK45、第六个时钟信号连接端子CK46、第七个时钟信号连接端子CK47以及第八个时钟信号连接端子CK48的另一端通过走线与测试点TCK连接。
本发明实施例以点亮第二列像素电极纯色画面为例，本领域技术人员可根据以下描述完成整个液晶显示面板测试。
参阅10，图10为本发明的液晶显示面板测试线路的第四优选实施例的工作波形示意图；
需要说明的是，扫描线上升沿期间，前1/2时间段内是与充电时间，后1/2时间段内，对应的数据线才开始写入数据信号。
液晶显示面板测试时，在测试点TCK施加测试信号，当在测试点TCK上施加的测试信号处于第一个上升沿时，第一个时钟信号连接端子CK41、第二个时钟信号连接端子CK42、第三个时钟信号连接端子CK43、第四个时钟信号连接端子CK44、第五个时钟信号连接端子CK45、第六个时钟信号连接端子CK46、第七个时钟信号连接端子CK47以及第八个时钟信号连接端子CK48将时钟信号传至扫描线，对应数据线将一定电位的数据信号写入像素电极。重复以上过程，从而点亮整个面板第二列画面。
本优选实施例的液晶显示面板测试线路通过将同一列上相同极性的多个像素电极通过时钟信号连接端子与同一个测试点连接，减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本；解决了现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
本发明实施例还提供一种液晶显示面板，其包括一种液晶显示面板测试线路，其包括：
多条扫描线、多条数据线以及所述扫描线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极；
多个测试点，其用于接收测试信号；
多个时钟信号连接端子，其用于提供时钟信号驱动所述扫描线，所述时钟信号连接端子的一端与相应的扫描线连接，另一端与所述测试点连接；其中，
同一列上相同极性的至少两个所述像素电极通过所述时钟信号连接端子与同一个所述测试点连接。
在本发明实施例的液晶显示面板中，所述液晶显示面板测试线路包括8个所述时钟信号连接端子,其中，第a个所述时钟信号连接端子的一端与第(a+8k)条所述扫描线连接，k为正整数，a为小于等于8的正整数。
本优选实施例的液晶显示面板包含上述液晶显示面板测试线路，具体可参照第一优选实施例、第二优选实施例、第三优选实施例以及第四优选实施例的液晶显示面板测试线路，再次不做赘述。
本优选实施例的液晶显示面板通过将同一列上相同极性的多个像素电极通过时钟信号连接端子与同一个测试点连接，减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本；解决了现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
本发明的液晶显示面板测试线路及液晶显示面板通过将同一列上相同极性的至少两个像素电极通过时钟信号连接端子与同一个测试点连接，减少施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量，简化了测试治具，降低制作成本；解决了现有的液晶显示面板测试线路测试时需要的时钟信号较多，造成测试信号增多，施加测试信号的测试点以及测试时相应测试点上的探针的数量随之增加，测试治具复杂，制作成本高的技术问题。
综上，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。
Claims (10)
1.一种液晶显示面板测试线路，其特征在于，包括：
多条扫描线、多条数据线以及所述扫描线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极；
多个测试点，其用于接收测试信号；
多个时钟信号连接端子，其用于提供时钟信号驱动所述扫描线，所述时钟信号连接端子的一端与相应的扫描线连接，另一端与所述测试点连接；其中，
同一列上相同极性的至少两个所述像素电极通过所述时钟信号连接端子与同一个所述测试点连接。
2.根据权利要求1所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述液晶显示面板测试线路包括8个所述时钟信号连接端子,其中，第a个所述时钟信号连接端子的一端与第(a+8k)条所述扫描线连接，k为正整数，a为小于等于8的正整数。
3.根据权利要求2所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，相邻所述像素电极的极性不同。
4.根据权利要求2所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，同一列上的所述像素电极的极性相同。
5.根据权利要求3所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述液晶显示面板测试线路包括4个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子和第三个所述时钟信号连接端子与第一个所述测试点连接，第二个所述时钟信号连接端子和第四个所述时钟信号连接端子与第二个所述测试点连接，第五个所述时钟信号连接端子和第七个所述时钟信号连接端子与第三个所述测试点连接，第六个所述时钟信号连接端子和第八个所述时钟信号连接端子与第四个所述测试点连接。
6.根据权利要求3所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述液晶系那是面板测试线路包括2个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子、第三个所述时钟信号连接端子、第五个所述时钟信号连接端子以及第七个所述时钟信号连接端子与第一个所述测试点连接，第二个所述时钟信号连接端子、第四个所述时钟信号连接端子、第六个所述时钟信号连接端子以及第八个所述时钟信号连接端子与第二个所述测试点连接。
7.根据权利要求4所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述液晶显示面板测试线路包括4个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子和第二个所述时钟信号连接端子与第一个所述测试点连接，第三个所述时钟信号连接端子和第四个所述时钟信号连接端子与第二个所述测试点连接，第五个所述时钟信号连接端子和第六个所述时钟信号连接端子与第三个所述测试点连接，第七个所述时钟信号连接端子和第八个所述时钟信号连接端子与第四个所述测试点连接。
8.根据权利要求4所述的液晶显示面板测试线路，其特征在于，所述液晶显示面板测试线路包括1个所述测试点，其中，第一个所述时钟信号连接端子、第二个所述时钟信号连接端子、第三个所述时钟信号连接端子、第四个所述时钟信号连接端子、第五个所述时钟信号连接端子、第六个所述时钟信号连接端子、第七个所述时钟信号连接端子以及第八个所述时钟信号连接端子与所述测试点连接。
9.一种液晶显示面板，其特征在于，包括一种液晶显示面板测试线路，其包括：
多条扫描线、多条数据线以及所述扫描线和所述数据线交叉排列限定的多个像素区域上的像素电极；
多个测试点，其用于接收测试信号；
多个时钟信号连接端子，其用于提供时钟信号驱动所述扫描线，所述时钟信号连接端子的一端与相应的扫描线连接，另一端与所述测试点连接；其中，
同一列上相同极性的至少两个所述像素电极通过所述时钟信号连接端子与同一个所述测试点连接。
10.根据权利要求9所述的液晶显示面板，其特征在于，所述液晶显示面板测试线路包括8个所述时钟信号连接端子,其中，第a个所述时钟信号连接端子的一端与第(a+8k)条所述扫描线连接，k为正整数，a为小于等于8的正整数。
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