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CN105866989A - 一种阵列基板及液晶显示面板 - Google Patents

一种阵列基板及液晶显示面板 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种阵列基板即液晶显示面板，该阵列基板包括显示区及外围区；其中，显示区具有行列设置的至少两种像素电极及栅极线、数据线；外围区具有用以测试的第一短路棒、第二短路棒；第一短路棒连接栅极线，第二短路棒连接数据线，并且同一种像素电极通过第二短路棒连通。通过上述方式，本发明提供一种能够解决HG2D驱动电路检测需求的阵列基板及液晶显示面板。

Description

一种阵列基板及液晶显示面板
技术领域
本发明涉及面板显示技术领域，特别是涉及一种阵列基板及液晶显示面板。
背景技术
液晶显示面板是目前的主流显示装置。为了保证产品质量，提高成品率，在LCD面板产品经过成盒之后需要对其面板内部的显示单元进行单元测试(cell test)。通过短路棒(shorting bar)短接栅极线(gate)或数据线(data)供给信号进行单元测试，以检测Cell内部发生的各种异常。
请参阅图1，图1是液晶显示面板采用的一种驱动电路的结构示意图。
如图1所示，驱动电路100由若干栅极线110、若干数据线120和若干像素单元130组成。其中，每个像素单元130由一条栅极线110和一条数据线120围设形成。短路棒设在像素单元130的外围，短接栅极线110和数据线120，经过成盒之后进行单元测试。
发明内容
本发明提供一种能够解决HG2D驱动电路检测需求的阵列基板及液晶显示面板。
本发明采用的一个技术方案是：提供一种阵列基板，包括：
显示区及外围区；
其中，所述显示区具有行列设置的至少两种像素电极及栅极线、数据线，一条所述栅极线对应连接两行所述像素电极，两条所述数据线对应连接一列所述像素电极；
所述外围区具有用以测试的第一短路棒、第二短路棒，所述第一短路棒连接所述栅极线，所述第二短路棒连接所述数据线，并且同一种所述像素电极通过所述第二短路棒连通。
根据本发明一优选实施例，所述第一短路棒包括两个导电垫，奇数行所有所述栅极线连通其中一个导电垫，偶数行所有所述栅极线连通其中另一个导电垫。
根据本发明一优选实施例，所述第二短路棒包括三个导电垫，所述像素电极包括红绿蓝三种，每种所述像素电极通过相应的所述数据线和一个导电垫连通。
根据本发明一优选实施例，包括第三短路棒，所述第三短路棒用于连接公共电极。
为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种液晶显示面板，包括：
相对设置的第一基板和第二基板，所述第一基板包括显示区及外围区；
其中，所述显示区具有行列设置的至少两种像素电极及栅极线、数据线，一条所述栅极线对应连接两行所述像素电极，两条所述数据线对应连接一列所述像素电极；
所述外围区具有用以测试的第一短路棒、第二短路棒，所述第一短路棒连接所述栅极线，所述第二短路棒连接所述数据线，并且同一种所述像素电极通过所述第二短路棒连通。
其中，所述第一短路棒包括两个导电垫，奇数行所有所述栅极线连通其中一个导电垫，偶数行所有所述栅极线连通其中另一个导电垫。
其中，所述第二短路棒包括三个导电垫，所述像素电极包括红绿蓝三种，每种所述像素电极通过相应的所述数据线和一个导电垫连通。
其中，包括第三短路棒，所述第三短路棒用于连接公共电极。
本发明的有益效果是：提供一种能够满足上述HG2D驱动电路的检测电路，能够满足HG2D驱动电路的检测需求的同时，还能提高检测质量。
附图说明
图1是现有显示面板一驱动架构的结构示意图；
图2是本发明显示面板一实施方式中HG2D驱动电路的结构示意图；
图3是本发明阵列基板一实施方式的结构示意图，其中显示了短路棒；
图4是本发明阵列基板另一实施方式的结构示意图；
图5是本发明具有阵列基板的液晶显示面板一实施方式的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
请参阅图2，图2是本发明显示面板一实施方式中HG2D驱动电路的结构示意图。
如图2所示，HG2D驱动电路200由若干栅极线210、若干数据线220和若干像素电极230组成。其中，一条栅极线210对应连接两行所述像素电极230，两条数据线220对应连接一列像素电极230。
请参阅图3，图3是本发明提供的一种显示面板阵列基板的结构示意图。
如图3所示，该阵列基板300包括显示区310及外围区320。其中，显示区310具有行列设置的至少两种像素电极311、栅极线312及数据线313。
其中，栅极线312用于提供扫描信号，数据线313用于提供像素信号。一条栅极线312对应连接两行像素电极311，两条数据线313对应连接一列像素电极311。进一步地，像素电极311可以包括红绿蓝三种像素电极。
其中，外围区320具有用以测试的第一短路棒321、第二短路棒322。第一短路棒321连接所述栅极线312，第二短路棒322连接数据线313，并且同一种像素电极311通过第二短路棒322连通。其中，第一短路棒321、第二短路棒322用于将独立的数据线313或栅极线312的信号进行短接，通过第一短路棒321、第二短路棒322供给像素电极311信号进行单元测试(cell test)。其中，第一短路棒321包括一个导电垫324，第二短路棒322包括三个导电垫324，红绿蓝三种像素电极中的每种像素电极311通过相应的数据线313和一个导电垫324连通。
上述实施方式能够满足HG2D驱动电路的阵列基板或显示面板的检测，并且能够满足HG2D驱动电路的检测需求的同时，还能提高检测质量。
参阅图3，本发明阵列基板实施方式还包括第三短路棒323，第三短路棒323用于连接公共电极。
在本实施例中，通过第一短路棒321给栅极线312提供扫描信号，使G1、G2、G3高电平开启，同时通过第二短路棒322给数据线313的D1、D2加上红(R)像素信号(可为红绿蓝三种像素信号任一一种)。其中，若显示区310中满足R像素信号对应的D1、D2列像素电极311全部点亮而其他地方不亮，则该列R像素电极311显示正常。反之，若显示区310中满足R像素信号对应的D1、D2列像素电极311未全部点亮，则该列R像素电极311中出现短路或者断路。
在本实施例中，通过第一短路棒321给栅极线312提供扫描信号，使G1、G2、G3高电平开启，同时通过第二短路棒322给数据线313的D1、D2及D5、D6分别加上两种不同的像素信号，即红(R)像素信号和蓝(B)像素信号。其中，若显示区310中只有满足R像素信号和B像素信号对应的D1、D2及D5、D6列像素电极311全部点亮，则该列R像素电极和B像素电极311显示正常。反之，若显示区310中满足R像素信号和B像素信号对应的D1、D2及D5、D6列像素电极311未全部点亮或有其他行列的像素电极311被点亮，则该显示区310中像素电极311出现短路或者断路现象。
其中，通过第一短路棒321给栅极线312提供扫描信号，使G1、G2、G3同时高电平开启，同时通过第二短路棒322给数据线313的D1、D2、D3、D4分别加上相同的像素信号，可以实现纯色画面的测试。
进一步的，其余像素电极311的测试方法同上，此处不再重复赘述。
请参阅图4，图4是本发明提供的一种显示面板阵列基板的另一结构示意图。
如图4所示，该阵列基板400包括显示区410及外围区420。其中，显示区410具有行列设置的至少两种像素电极411、栅极线412及数据线413。
其中，栅极线412用于提供扫描信号，数据线413用于提供像素信号。一条栅极线412对应连接两行像素电极411，两条数据线413对应连接一列像素电极411。其中，像素电极411包括红绿蓝三种像素电极。
其中，外围区420具有用以测试的第一短路棒421、第二短路棒422。第一短路棒421连接栅极线412，第二短路棒422连接数据线413，并且同一种像素电极411通过第二短路棒422连通。其中，第一短路棒421、第二短路棒422用于将独立的数据线413或栅极线412的信号进行短接，通过第一短路棒421、第二短路棒422供给像素电极411信号进行单元测试(cell test)。其中，第一短路棒421包括两个导电垫424，奇数行所有栅极线412连通其中一个导电垫424，偶数行所有栅极线412连通其中另一个导电垫424。第二短路棒422包括三个导电垫424，像素电极411包括红绿蓝三种像素电极，每种像素电极411通过相应的数据线413和一个导电垫424连通。
在本实施例中，通过第一短路棒421给栅极线412的偶数行G2提供扫描信号，使G2高电平开启，同时通过第二短路棒422给数据线413的D1、D2加上红(R)像素信号(可为红绿蓝三种像素信号任一一种)。其中，若显示区410中满足R像素信号对应的G2上的两行R像素电极411全部点亮，则该部分R像素电极411显示正常。反之，若显示区410中满足R像素信号对应的G2上的两行R像素电极411未全部点亮，则该部分R像素电极411中出现短路或者断路现象。
在本实施例中，通过第一短路棒421给栅极线412的奇数行G1、G3提供扫描信号，使G1、G3高电平开启，同时通过第二短路棒422给数据线413的D1、D2加上红(R)像素信号(可为红绿蓝三种像素信号任一一种)。其中，若显示区410中满足R像素信号对应的G1、G3上的两行R像素电极411全部点亮，则该部分R像素电极411显示正常。反之，若显示区410中满足R像素信号对应的G1、G3上的两行R像素电极411未全部点亮，或是有满足对应的G2上的R像素电极411点亮，则该部分R像素电极411中出现短路或者断路现象。
其中，本实施例中，在第一短路棒421给栅极线412的奇数或偶数行提供扫描信号时，还可以通过第二短路棒422给数据线413的D1、D2及D5、D6加上两种不同或相同的像素信号，进行单元测试，其测试方法同上，此处不再重复赘述。
请参阅图5，图5是本发明提供的一种具有该阵列基板的液晶显示面板的结构示意图。
如图5所示，本发明提供的一种具有该阵列基板的液晶显示面板，该液晶显示面板10包括，相对设置的第一基板300和第二基板500，其中所述第一基板300的结构参见上文所述，此处不再重复赘述。
综上所述，本领域技术人员容易理解，本发明提供的一种能够满足上述HG2D驱动架构的检测电路。
以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (8)

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：
显示区及外围区；
其中，所述显示区具有行列设置的至少两种像素电极及栅极线、数据线，一条所述栅极线对应连接两行所述像素电极，两条所述数据线对应连接一列所述像素电极；
所述外围区具有用以测试的第一短路棒、第二短路棒，所述第一短路棒连接所述栅极线，所述第二短路棒连接所述数据线，并且同一种所述像素电极通过所述第二短路棒连通。
2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
所述第一短路棒包括两个导电垫，奇数行所有所述栅极线连通其中一个导电垫，偶数行所有所述栅极线连通其中另一个导电垫。
3.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
所述第二短路棒包括三个导电垫，所述像素电极包括红绿蓝三种，每种所述像素电极通过相应的所述数据线和一个导电垫连通。
4.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，
包括第三短路棒，所述第三短路棒用于连接公共电极。
5.一种液晶显示面板，其特征在于，包括：
相对设置的第一基板和第二基板，所述第一基板包括显示区及外围区；
其中，所述显示区具有行列设置的至少两种像素电极及栅极线、数据线，一条所述栅极线对应连接两行所述像素电极，两条所述数据线对应连接一列所述像素电极；
所述外围区具有用以测试的第一短路棒、第二短路棒，所述第一短路棒连接所述栅极线，所述第二短路棒连接所述数据线，并且同一种所述像素电极通过所述第二短路棒连通。
6.根据权利要求5所述的液晶显示面板，其特征在于，
所述第一短路棒包括两个导电垫，奇数行所有所述栅极线连通其中一个导电垫，偶数行所有所述栅极线连通其中另一个导电垫。
7.根据权利要求5所述的液晶显示面板，其特征在于，
所述第二短路棒包括三个导电垫，所述像素电极包括红绿蓝三种，每种所述像素电极通过相应的所述数据线和一个导电垫连通。
8.根据权利要求5所述的液晶显示面板，其特征在于，
包括第三短路棒，所述第三短路棒用于连接公共电极。
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