Taguchi y Muestreo
Taguchi y Muestreo
Taguchi y Muestreo
• L = D2C = (X - Meta)2C
• 4.00 = (25.25 - 25.00)2C
• C = 4.00 / (25.25 - 25.00)2 = 64
• L = D2 • 64 = (X - 25.00)264
– Calcule varios valores de X para
obtener una gráfica de L.
Función de Pérdida de Calidad; Distribución de
Especificaciones de los Productos
3
2
1
No. de artículos
10 20 30 40 inspeccionados
-1
-2
-3 ZONA DE
ACEPTACIÓN
4. Planes de muestreo por atributos.
Plan de muestreo simple
Se toma una muestra aleatoria de tamaño n y si ésta
contiene más de c unidades defectuosas se rechaza
el lote.
Parámetros:
n: tamaño de la muestra
c: no.máximo de defectuosos que se aceptan en un
lote.
Para establecer un plan de muestreo simple es
necesario definir:
NCA: nivel de calidad aceptable. Es el máximo
porcentaje de defectuosos que un productor
acepta en su proceso. Si p<NCA el proceso se
considera bueno.
Dependen de 4 factores:
NCA, PDTL, y .
Ventajas Desventajas
• Requiere un tamaño • Se asume una distribución
muestral más pequeño que normal para la característica
un muestreo por atributos de calidad.
• Las mediciones de una • Se debe usar un plan de
característica de calidad muestreo para cada
proporcionan más característica de calidad
información sobre un lote
que el número de
defectuosos
Procedimiento para aplicar un plan de muestreo
por variables
• Obtener una muestra aleatoria de tamaño n y calcular:
LSE X
Z LSE
Si ZLSE >= k se acepta el lote
Si ZLSE < k se rechaza el lote
Se define:
1- : Probabilidad de aceptación para una fracción
defectuosa p1.
Se usa un nomograma.
Planes de muestreo que concilian
intereses de ambas partes
PROCEDIMIENTO
NIVEL
GENERAL DE
INSPECCIÓN Plan de Tipo
muestreo (reglas de cambio)
I SIMPLE Reducido
II DOBLE Normal
III MÚLTIPLE Severo
Military Standard 105E
• Dispone de tres niveles generales de inspección: I, II
y III. El nivel II es el usual.