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Física Del Estado Sólido
Física Del Estado Sólido
Física Del Estado Sólido
Si bien este tema no será evaluado y se verá con poca profundidad, es necesario para
comprender el funcionamiento de los dispositivos electrónicos.
La física del estado sólido comienza estudiando la diferencia entre un elemento
aislante, un conductor (metal) y un semiconductor. Sabiendo que la corriente es el
movimiento de los electrones sobre un medio material, tenemos que en un aislante
hay un flujo de electrones escaso debido a que sus electrones están fuertemente
ligados a su núcleo, en cambio el conductor tiene algunos electrones en órbitas más
lejanas. Es decir, al considerar un átomo (con protones y neutrones) de un aislante con
sus electrones, los mismos están fuertemente ligados y al aplicar un campo eléctrico no
se moverán, esto se debe a que es mayor la fuerza coulombiana del núcleo que la que
produce el campo eléctrico. En cambio en un conductor hay electrones ligados al
núcleo pero tambien hay muchos que no tanto entonces ante un campo eléctrico
varios van a poder moverse y generar una corriente. Estos electrones son los únicos
que interesa analizar y se llamarán electrones “libres”.
Una de las formas de analizar esto es con la teoría de bandas, que establece la
capacidad de movimiento del electrón de acuerdo a su energía. Los que poseen una
menor a la energía de valencia (EV) son los ligados inmóviles, y aquellos que posean
una mayor a la energía de conducción (EC) serán electrones libres. La diferencia entre
esos niveles es Egap = EC - EV , y este valor distingue a los materiales con respecto a su
capacidad de conducción.
En un aislante, la energía que hay que entregar para que se vuelva conductor (para que
algunos electrones alcancen la energia de conducción) es como mínimo de 6ev (se
mide en electron-volt, ya que Joule es enorme para medir esta magnitud) donde 1ev
equivale a 1,6 x 10-19 J. En dicho caso, ¿Qué sucede? Lo que ocurre es que dicho salto es
tan grande que al entregar tanta cantidad de energía el material se destruye antes de
convertirse en conductor. En cambio, en un material conductor, si realizo el mismo
esquema de bandas tengo que la energía de valencia es mayor que la energía de
conducción, es decir, que no necesito entregarle energía para que tenga electrones
libres debido a que ya los tiene de por sí el material.
En el medio de estas dos
situaciones, se encuentran los semiconductores, que tienen una estructura de bandas
donde la energía de valencia y la de conducción se encuentran muy próximas,
aproximadamente a 1ev. Debido a esto, aplicando una leve cantidad de energía (como
la temperatura ambiente) ya aparecen electrones libres (pasan de la banda de valencia
a la de conducción).
Conductores
Supongamos que tenemos dos núcleos con una cierta
cantidad de protones y neutrones, y por afuera
electrones como muestra la figura. Como dijimos antes,
algunos electrones van a estar más ligados que otros al
núcleo por su distancia a ellos y por lo tanto los menos
ligados tenderán a moverse debido a un campo
eléctrico como se muestra en la figura. Ahora bien, al
aplicar el campo eléctrico, el electrón que esta en
análisis de masa m se verá acelerado debido a que esta
bajo el efecto de una fuerza F = qE que va hacia la izquierda producto del campo
E[V/m] lo cual, si tengo un conductor infinitamente largo en un campo constante se
acelera hasta que tenga velocidad infinita, lo mismo le pasaría a todos los electrones
que están libres, entonces aplicando un mínimo campo eléctrico a un material
suficientemente largo lograría una corriente infinita (como la misma es la derivada de
la carga respecto del tiempo) ya que la velocidad del electrón tiende a infinito luego la
corriente tiende a infinito y hago un superconductor. Pero hay algo mal en este
razonamiento, como en realidad el electrón no viaja en el vacío sino en un mar de
electrones y nucleos, en toda la red cristalina que va a pasar se va a ir frenando de
modo tal que va a tener una velocidad promedio constante, y dicha velocidad es
proporcional al campo eléctrico.
→ →
𝑣 = μ𝐸 donde μ [m2/sV] es la constante de movilidad con lo cual a mayor intensidad
de campo eléctrico mayor velocidad promedio.
Ahora, suponemos una barra de metal, de área A y
ancho dx y defino la densidad de corriente como
𝐽 = 𝐼⁄𝐴🡪La corriente por unidad de área, esa corriente
es:
𝑄
𝐼= (𝑒 𝑛𝐴 𝑑𝑥) = 𝑒𝑛𝐴𝑣 = 𝑒𝑛𝐴μ𝐸→
𝑡= 𝑡
𝐼 = 𝑒𝑛𝐴μ𝐸
𝐸)
Luego, 𝐽 = (𝑒 𝑛 𝐴 μ 𝐴
→𝐽 = 𝑒 𝑛 μ 𝐸 ,
E y E+dE de energía
Si 𝐸 < 𝐸𝑓🡪𝑓(𝐸)≃1
Ahora supongamos que T≃300°K (gráfica roja), lejos del nivel de Fermi la gráfica es
similar, cerca de la enegía Fermi tendrá una forma más curva como se muestra en la
figura.
Por último, considerando T≃2000°K (gráfica verde) la función probabilidad se deforma
más quedando como se muestra en la figura.
Por otro lado, para deducir la función densidad de estados posibles, se requieren de
muchos conceptos fuera del curso, con lo cual, solo vamos a saber que es:
𝑁(𝐸) = σ 𝐸
3/2
4π.(2𝑚𝑒)
Dondeσ = 3 , es una constante.
ℎ
Ahora ya podemos obtener la cantidad de electrones libres, esto es los que tienen una
energía mayor a la de conducción:
∞
1
𝑑𝑛(𝐸) = ρ𝐸𝑑𝐸→ 𝑛(𝐸) = ∫ σ 𝐸 . (𝐸−𝐸 )
𝑓
𝑑𝐸
𝐸𝑐 1+𝑒 𝑘𝑇
Esta es la forma teórica de calcular pero como esta integral es muy difícil de resolver,
vamos a realizar un cálculo más sencillo. Si se
calcula a T=0°K:
𝐸𝑓 𝐸𝑓
2 3/2 2 3/2
𝑛(𝐸) = ∫ σ 𝐸 . 𝑓(𝐸)𝑑𝐸 = ∫ σ 𝐸 . 1𝑑𝐸 = 3
σ𝐸𝑓 →𝑛 = 3
σ𝐸𝑓
0 0
Al realizar este cálculo estamos obteniendo la cantidad de electrones total que tienen
alguna energía, entonces de este resultado podríamos obtener el valor de la energía de
Fermi 𝐸𝑓.
3𝑛 2/3
𝑛=
2
3
3/2
σ𝐸𝑓 → 𝐸𝑓 = ( )
2σ
3
Donde n es la densidad de electrones por 𝑚 y σ es una constante.
Semiconductores
28
En un metal el número de electrones libres por metro cúbico ronda el orden de 10 ,
7
en cambio un aislante ronda 10 (dependiendo el material), con lo cual la diferencia de
20
electrones libres es aproximadamente 10 . No es que el aislante no tenga electrones
libres, sino que a comparación de un metal son muy pocos.
En electrónica vamos a trabajar con los materiales intermedios que son los
semiconductores, los mismos son los de el grupo 4 de la tabla periódica, básicamente
el Germanio Ge y el Silicio Si. Este grupo se caracteriza por tener cuatro protones y
cada uno tiene cuatro electrones como se
muestra en la figura. La particularidad es que los
electrones de los núcleos forman enlaces
covalentes (formando un vínculo fuerte entre
ellos). Teniendo en cuenta esto no debería haber
electrones libres, pero cuando el material se
encuentra a temperatura ambiente
estadísticamente el enlace se rompe quedando un
electrón libre y una carga positiva inmóvil
disponible llamada “hueco”, a este proceso se lo
denomina generación térmica. Así mismo, si se
mantiene T constante, se produce otro fenómeno llamado recombinación que consiste
en que un electrón libre que se traslada por el material encuentra un hueco y forma un
nuevo enlace covalente. Ahora bien, si aumenta la temperatura, se vuelve mas
energético el proceso, en consecuencia se produce más generación (como asi más
recombinación) pero en concreto va a ver mayor cantidad de electrones libres que
antes, volviendo al material más conductor. Al revés de lo que ocurre en un metal ya
que si aumento la temperatura se vuelve más resistivo debido a que aumenta la
colisiones de los electrones y tiene un velocidad promedio menor, en consecuencia se
hace menos conductivo.
El hueco, si bien es la ausencia de un electrón, es conveniente pensarlo como una
partícula, igual a un electrón pero positivo. Veamos:
Cuando se acerca una nube de electrones n, tenemos una alta probabilidad de que
algun electrón ocupe el lugar que dejó el electrón anterior (cuando se rompió el
enlace), luego ese electrón que ocupo el hueco a su vez dejó un hueco en otro lugar, en
concreto si hiciera un balance de lo que ocurrió diría finalmente el hueco se translado
de un lugar a otro.
Para aclarar esto, analicemos lo siguiente:
Supongamos que tenemos una caja con
electrones y un lugar vacío como se
muestra en la figura, al aplicar un campo eléctrico, lo que ocurre es que se van a
transladar todos a la derecha como se muestra. El resultado de esto fue que un eletrón
se movió de la izquierda hacia laderecha.
Ahora, al realizar la misma experiencia
pero esta vez poniendo un hueco en el
lugar vacío, tenemos como resultado que
el electrón fue intercambiado por el hueco con lo cual en el segundo caso tenemos
mayor corriente ya que se movió el electrón y tambien una carga positiva (el hueco
ayuda a la conducción).
Luego, como habíamos visto, al aplicar un campo eléctrico a un conductor la densidad
de corriente de electrones es:
𝐽 = 𝑒𝑛μ𝐸
Donde:
𝑛: Cantidad de electrones por unidad de volumen.
𝑒: Energía de un electrón.
µ𝑛: Movilidad de los electrones.
Donde:
𝑝: Cantidad de huecos por unidad de volumen.
𝑒: Energía de un electrón.
µ𝑝: Movilidad de los huecos.
3/2
Donde, 𝑛𝑐 = 2 ( 2π. 𝑚. 𝑘. 𝑇
ℎ
2 ) es un número que depende de la temperatura.
Ahora, al tratar a los huecos como se lo estudia a los electrones, realizo los mismos
cálculos ya que el hueco se lo toma como que tiene las mismas características que un
electrón con carga positiva. Entonces,
( )
𝐸𝑣 𝐸𝑣
1
𝑝 = ∫ σ 𝐸𝑣 − 𝐸 . (1 − 𝑓(𝐸))𝑑𝐸 = ∫ σ 𝐸𝑣 − 𝐸 . 1 − (𝐸−𝐸 )
𝑓
𝑑𝐸
−∞ −∞ 1+𝑒 𝑘𝑇
( )
𝐸𝑣 (𝐸−𝐸 )
𝑓
𝑘𝑇
1+𝑒 −1
🡪𝑝 = ∫ σ 𝐸𝑣 − 𝐸 . (𝐸−𝐸 )
𝑓
𝑑𝐸
−∞ 1+𝑒 𝑘𝑇
Donde 𝑛𝑣es la misma constante con excepción de que la masa equivalente del hueco es
un poco distinta de la del electrón.
En resumen, obtuvimos el valor 𝑛 que es la cantidad de electrones libres que
rompieron enlaces covalentes y están disponibles para conducir; y 𝑝 que es la cantidad
de huecos que dejó ese mismo fenómeno. Si el material es intrínseco, estos dos
número toman el mismo valor y de esta forma puedo obtener el nivel de Fermi.
Entonces,
🡪𝑛 = 𝑝 = 𝑛𝑖🡪𝐸𝑓 =
𝐸𝑐+𝐸𝑣
2
−
𝑘𝑇
2 ( )
𝑙𝑛
𝑛𝑐
𝑛𝑣
Como se puede decir que 𝑛𝑣 ≃ 𝑛𝑐tengo que el segundo término será cero, con lo cual,
podemos aproximar a la energía de Fermi como la mitad de la suma de la energía de
conducción más la de valencia.
Lo interesantes es que si multiplico estas dos cantidades, veré que no dependen de la
energía de Fermi, es decir:
−𝐸𝐺
𝑘𝑇 2
𝑛 . 𝑝 = 𝑛𝑐 . 𝑛𝑣 . 𝑒 = 𝑛𝑖 (cantidad de electrones intrínseco al cuadrado)
Dopaje de semiconductores
Si a la red cristalina de silicio se agregan materiales
del grupo 5 de la tabla periódica (fósforo P,
antimonio Sb ó arsénico As) lo que ocurre es que
al tener 5 protones y 5 electrones el material hace
enlaces covalentes con sólo 4 electrones y por
consiguiente queda un electrón libre (a
temperatura ambiente adquiere una energía
suficiente para llegar a la banda de conducción).
Los procesos de generación de pares
electrón-hueco y recombinación de los mismos continúan, pero ahora hay más
electrones que huecos.
El material que se ve contaminado por átomos de material del grupo 5 se lo
denominan de TIPO N por ser n > p. Este proceso de contaminación se realiza con
silicio puro con un ambiente al vacío y a altas temperatura se le añade fósforo de modo
tal que queda homogéneo y se deja enfriar lentamente (cristalizándose).
Por el contrario, contaminando al Si ó Ge, con
materiales del grupo 3 de la tabla periódica (boro
B, galio Ga ó indio In), el núcleo del átomo del
material agregado tiene 3 electrones a su
alrededor que podrá formar 3 enlaces covalentes,
pero en una zona del átomo (derecha en el
dibujo) falta un electrón para formar el cuarto
enlace con el electrón que le sobra al Si o Ge, esa
falta del electrón sería un hueco, con lo cual un
electrón que estaría circulando podría recombinarse. Ahora p>n y el material se
denomona TIPO P
En concreto, si bien los materiales son eléctricamente neutros (quiere decir que el
hecho de que en un material se le agregaron átomos del grupo 5 y en el otro del 3 no
altera la neutralidad del material), en el caso que se agrega del grupo 3 hay más huecos
que electrones (𝑝 > 𝑛) y en otro caso hay más electrones que huecos (𝑛 > 𝑝) de allí
vienen sus nombres.
El hecho es que las propiedades del material se modifican sustancialmente al agregar
algún contaminante. Para tener una idea, con solo poner un átomo de impureza cada
100 millones de átomos de Si o Ge, la conductividad del material es 12 veces mayor.
Ahora bien, el estudio estadístico va a ser el mismo debido a que seguimos estudiando
electrones y huecos:
−(𝐸𝑐−𝐸𝑓)
𝑘𝑇
𝑛 = 𝑛𝑐 . 𝑒
−(𝐸𝑣−𝐸𝑓)
𝑘𝑇
𝑝 = 𝑛𝑣 . 𝑒
𝐸𝑐+𝐸𝑣
Para el material intrínseco (n=p), 𝐸𝑓 ≃ 2
,y
las áreas sombreadas de la figura son iguales.
Contaminación Donora ND
Si tenemos un material con impurezas del tipo N,
lo que ocurre es que tenemos más electrones
que huecos (𝑛 > 𝑝) al analizarlo con la
estadística de Fermi obtengo que el área superior
tiene que ser mayor que el área inferior (hay mas electrones libres que hayan superado
la banda de conducción que huecos en la banda de valencia), ahora la curva del nivel
de Fermi solamente depende de la temperatura osea que la única justificación es que
Contaminación Aceptora NA
Si tiene impurezas que son del grupo 3 (tipo P), tendrá más huecos que electrones (
𝑝 > 𝑛) con lo cual, el nivel de Fermi estará próximo a la energía de valencia resultando
que el área superior es más pequeña que el área inferior.
Y las cargas negativas son los electrones que sobran de los enlaces de de tipo P (cargas
aceptoras 𝑁𝐴), también estarían los electrones que hay producto de la generación.
Entonces:
𝑄𝑛 = 𝑁𝐴 + 𝑛
Por otro lado, cuando los materiales se contaminan usualmente la totalidad de los
portadores provienen de las impurezas. Por pequeña que sea la contaminación, los
portadores de la misma son elevadamente superiores a los del material por generación
térmica. Entonces en un material de tipo N : (𝑛≃𝑁𝐷). Y si el material es de tipo P, la
cantidad de huecos que hay es básicamente igual a la contaminación aceptora que se
le agregó (𝑝≃𝑁𝐴).
Definiendo:
𝑛𝑛: Electrones en material N.
𝑝𝑝:Huecos en material P.
𝑛𝑝:Electrones en material P.
2
Y como sabemos que aún vale que: 𝑛 . 𝑝 = 𝑛𝑖
𝑛𝑛 ≃ 𝑁𝐷 = 𝑛𝑐 . 𝑒 𝑘𝑇
( )
🡪𝐸𝑓 = 𝐸𝑐 − 𝑘𝑇𝑙𝑛
𝑛𝑐
𝑁𝐷
Esta ecuación me dice que a mayor contaminación donora, el nivel de Fermi estará más
próximo a la energía de conducción.
Si el material es de tipo P
−(𝐸𝑣−𝐸𝑓)
𝑝𝑝 ≃ 𝑁𝐴 = 𝑛𝑣 . 𝑒 𝑘𝑇
🡪𝐸𝑓 = 𝐸𝑣 + 𝑘𝑇𝑙𝑛 ( )
𝑛𝑣
𝑁𝐴
Corrientes de difusión
Contaminando a un material se modifican mucho sus propiedades eléctricas ya que se
vuelve más conductor, se apróxima más a un metal, posee más portadores libres ya sea
de un tipo o de otro. Ahora bien, para que halla flujo de corriente (osea que se muevan
esos portadores) la única forma que vimos de hacerlo fue aplicarle un campo eléctrico
externo, pero no es la única manera que se puede producir corriente en un
semiconductor u otro material.
Difusión de huecos
Supongamos que hay un material que tiene una distribución
de huecos como se muestra la figura (o sea que hay más
concentración en una zona que otra) y lo ocurre es que los
huecos van a tender a moverse hasta distribuirse de forma
que quede en equilibrio (distribución pareja), lo mismo que
pasaría con un gas donde pasa de un lugar de mayor a
menor presión, al suceder esto se producirá corriente J que dependerá del gradiente
de la distribución.
→ 𝑑𝑝→
𝐽 =− 𝐷𝑝 . 𝑑𝑥
. 𝑒
2
Donde 𝐷𝑝[𝑚 /𝑠] es una constante, y el signo menos es porque la corriente es positiva
y el gradiente negativo con respecto al eje x.
Difusión de electrones
Para la corriente de difusión de electrones es lo mismo pero
sin el signo negativo
→ 𝑑𝑛→
𝐽 = 𝐷𝑛 . 𝑑𝑥
. 𝑒
2 2
Las constantes de difusión 𝐷𝑛[𝑚 /𝑠] y 𝐷𝑝[𝑚 /𝑠] son
prácticamente iguales.
Ahora bien, en el CASO GENERAL en un semiconductor donde podría haber
concentraciones distintas de huecos o electrones en alguna parte del material vamos a
tener una corriente de difusión que será la suma de las dos, es decir:
→
(
𝐽 = 𝑒. 𝐷𝑛 .
𝑑𝑛→
𝑑𝑥
− 𝐷𝑝 .
𝑑𝑝→
𝑑𝑥 )
Donde 𝐷𝑛 ≃ 𝐷𝑝
−𝑡
(
🡪𝑝𝑛(𝑡) − 𝑝𝑛𝑜 = 𝑝𝑛𝑜 − 𝑝𝑛𝑜 𝑒 ) τ
∆𝑝𝑛(𝑡) 1
🡪 𝑑𝑡
=− τ
∆𝑝𝑛(𝑡)
Ahora, la corriente presente tiene dos formas de ser causada, una posibilidad es que
haya sido producto de la presencia de un campo eléctrico y la otra sería debido a una
concentración mayor en una parte del material que otra, proceso que genera una
corriente de difusión. Entonces:
𝑑𝑝
𝐼 =− 𝐴 𝑒 𝐷𝑝 𝑑𝑥
+ 𝐴 𝑒 𝑝 µ𝑝 𝐸
( ) ( )𝑑𝑥
2
𝑑𝐼 𝑑 𝑑𝑝 𝑑𝑝 𝑑(𝑝𝐸)
𝑑𝐼 = 𝑑𝑥
𝑑𝑥 = 𝑑𝑥
− 𝐴 𝑒 𝐷𝑝 𝑑𝑥
+ 𝐴 𝑒 𝑝 µ𝑝 𝐸 𝑑𝑥 = − 𝐴 𝑒 𝐷𝑝 2 + 𝐴 𝑒 µ𝑝 𝑑𝑥
𝑑𝑥
( )𝑑𝑥
2
𝑑𝑝 𝑑(𝑝𝐸)
🡪𝑑𝐼 = − 𝐴 𝑒 𝐷𝑝 2 + 𝐴 𝑒 µ𝑝 𝑑𝑥
𝑑𝑥
Con lo cual la variación temporal de la cantidad de carga debido a los huecos presentes
en el material es:
𝑑𝑝 𝑝
𝑑𝑡
𝑒 𝐴 𝑑𝑥 = 𝑔 𝑒 𝐴 𝑑𝑥 − 𝑑𝐼 − τ𝑝
𝑒 𝐴 𝑑𝑥
𝑝𝑜
( )𝑑𝑥 −
2
𝑑𝑝 𝑑𝑝 𝑑(𝑝𝐸) 𝑝
𝑑𝑡
𝑒 𝐴 𝑑𝑥 = τ𝑝
𝑒 𝐴 𝑑𝑥 − − 𝐴 𝑒 𝐷𝑝 2 + 𝐴 𝑒 µ𝑝 𝑑𝑥 τ𝑝
𝑒 𝐴 𝑑𝑥
𝑑𝑥
𝑝𝑜
( )−
2
𝑑𝑝 𝑑𝑝 𝑑(𝑝𝐸) 𝑝
𝑑𝑡
= τ𝑝
− − 𝐷𝑝 2 + µ𝑝 𝑑𝑥 τ𝑝
𝑑𝑥
𝑑𝑝 𝑝𝑜 𝑝 𝑑𝑝
2
𝑑(𝑝𝐸)
𝑑𝑡
= τ𝑝
− τ𝑝
+ 𝐷𝑝 2 − µ𝑝 𝑑𝑥
𝑑𝑥
Para los electrones es análoga, la única diferencia son las constantes que tendrían un
subindice ‘n’ ya que no son iguales para un electrón que para un hueco.
Estamos en condiciones de analizar con mayor detalle el caso de la
barra iluminada, ya que anteriormente supusimos que la
concentración de huecos iba a caer en forma exponencial hasta la
concentración de equilibrio luego de dejar de iluminarla, y ahora lo
obtenemos analíticamente. Tomamos la barra con una
determinada cantidad de huecos en equilibrio 𝑝𝑜, sin importar que el material sea tipo
N o P, iluminamos, dejamos que llegue a un nuevo equilibrio y luego detenemos la
iluminación. Entonces, la ecuación de continuidad es:
∂(𝑝𝐸)
µ𝑝 ∂𝑥
= 0 , ya que no hay variaciones del campo eléctrico (de hecho no hay campo
eléctrico presente de acuerdo a las condiciones propuestas).
2
∂𝑝
𝐷𝑝 2 = 0 , ya que no hay variaciones espaciales de huecos.
∂𝑥
Donde las condiciones iniciales son:𝑝(0) = 𝑝𝑜 y 𝑝(∞) = 𝑝𝑜. Resolviendo esta ecuación
en forma general tenemos que:
−𝑡
𝑝(𝑡) = 𝑝𝑜 + 𝑝𝑜 − 𝑝𝑜 𝑒 ( ) τ
∂(𝑝𝐸)
µ𝑝 ∂𝑥
= 0 , ya que no hay variaciones del campo eléctrico (de hecho no hay campo
eléctrico presente de acuerdo a las condiciones propuestas).
Luego, la ecuación de continuidad queda:
2
𝑑𝑝 (𝑝−𝑝𝑜)
𝐷𝑝 2 − τ𝑝
=0
𝑑𝑥
La forma mas cómoda de resolver esta ecuación es ver que derivar a “𝑝” en función de
“𝑥”, es lo mismo derivar a “(𝑝 − 𝑝𝑜)” en función de “𝑥”.Entonces,
2
𝑑 (𝑝−𝑝𝑜) (𝑝−𝑝𝑜)
2 = τ𝑝𝐷𝑝
𝑑𝑥
1 1 1 1
𝑟1 = = 𝐿𝑝
𝑟2 =− =− 𝐿𝑝
τ𝑝𝐷𝑝 τ𝑝𝐷𝑝
(𝑝 − 𝑝𝑜)(𝑥) = 𝐴𝑒
𝐿𝑝 𝐿𝑝
+ 𝐵𝑒
) (
Donde 𝐿𝑝 tiene unidades de distancia, y como 𝑝 − 𝑝𝑜 (𝑥)→∞ , cuando 𝑥→∞
necesariamente 𝐴 = 0 sino no tendría sentido físico ya que (𝑝 − 𝑝𝑜)(∞) = 𝑝𝑜. La otra
condición de contorno es que (𝑝 − 𝑝𝑜)(0) = 𝑝𝑜 entonces,
−0
(𝑝 − 𝑝𝑜)(0) = 𝐵𝑒
𝐿𝑝
= 𝑝𝑜🡪𝐵 = 𝑝𝑜 − 𝑝𝑜