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照片素材（圖片）: manual probe system for RF test

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manual probe system for RF test 54899849

manual probe system for RF test

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	S	640 x 426px 22.6 x 15.0cm (72dpi)	JPG	US$5.00	5預付點數
	M	2000 x 1333px 16.9 x 11.3cm (300dpi)	JPG	US$15.00	15預付點數
	L	4000 x 2666px 33.9 x 22.6cm (300dpi)	JPG	US$30.00	30預付點數
	XL	5308 x 3539px 44.9 x 30.0cm (300dpi)	JPG	US$50.00	50預付點數
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描述／評論: Manual probe system for RF test of semiconductor silicon wafers. Selective focus.

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