Relatório 11
Relatório 11
Relatório 11
EXPERIMENTO 11:
DEFLEXO DO FEIXE DE ELTRONS RELAO CARGA E MASSA
(e/m)
2. INTRODUO
3. MATERIAL UTILIZADO
4. DESENVOLVIMENTO EXPERIMENTAL
= =
Onde o raio da curvatura pode ser obtido geometricamente conforme a figura
abaixo e ser dado por r2 = x2 + (r y)2 ou ainda r = (x2 + y2) / 2y.
2 + 2 5,62 + (1,2)2
= = = 13,66667 = 0,13667
2. (2 1,2)
= 4,2103 ( ) . () = (0,0042). (0,35) = 0,00147
2 2.3000
= 2
= = 1,486 x 1011 C/Kg
( ) (0,00147 0,13667)2
X+1,5 Y I U r X Y B e/m
(cm) (cm) (A) (V) (m) (cm) (cm) (T) (C/Kg)
8,00 -1,00 0,07 0,70 0,325 64,00 1,00 0,000294 6,5719E+11
7,00 -1,00 0,14 1,00 0,250 49,00 1,00 0,000588 2,7766E+11
6,00 -1,00 0,23 1,20 0,185 36,00 1,00 0,000966 1,8787E+11
5,00 -1,00 0,38 1,70 0,130 25,00 1,00 0,001596 1,3938E+11
4,00 -1,00 0,64 2,50 0,085 16,00 1,00 0,002688 1,1494E+11
3,00 -1,00 1,13 4,10 0,050 9,00 1,00 0,005418 8,1759E+10
3,00 -1,80 1,84 6,40 0,034 9,00 3,24 0,007728 8,6908E+10
Mdia = 2,5762E+11
Erro = 6,63%*
X Y UP r E UA v e/m
(cm) (cm) (v) (m) (v/m) (v) (m/s) (C/Kg)
8,5 0,6 500 0,605083 8333,333 3000 3,25E+07 2,105E+11
7,5 0,9 1000 0,317000 16666,67 3000 3,25E+07 2,028E+11
6,5 1,0 1500 0,216250 25000,00 3000 3,25E+07 2,000E+11
5,5 1,0 2000 0,156250 33333,33 3000 3,25E+07 2,095E+11
4,5 0,8 2500 0,130563 41666,67 3000 3,25E+07 2,003E+11
3,5 0,5 3000 0,125000 50000,00 3000 3,25E+07 1,724E+11*
3,5 0,7 3500 0,091000 58333,33 3000 3,25E+07 2,069E+11
3,5 0,9 4000 0,072556 66666,67 3000 3,25E+07 2,328E+11
3,5 1,0 4500 0,066250 75000,00 3000 3,25E+07 2,299E+11
2,5 0,5 5000 0,065000 83333,33 3000 3,25E+07 2,028E+11
Mdia= 2,069E+11
Erro= 17,65%
*Dado desprezado para clculo da mdia
A velocidade foi aproximada para uma tenso de 3000 V entre o nodo e o
ctodo.
O erro foi calculado com base no valor terico de 1,759E+11.
Com anlise nos dados obtidos e nos clculos de erro, obtivemos por ambos
os mtodos discrpncias relativamente baixas. Contudo o mtodo que nos
forneceu a menor discrepncia para determinao da relao carga-massa do
eltron foi o de deflexo por um campo magntico. Nele tivemos o menor erro
dos trs experimentos (obtendo apenas 6,63% de erro).
O mtodo de deflexo por campo eltrico nos forneceu resultados com
discrepncia de 17,65%.
Os erros podem ser explicados por fios usados no circuito com defeito, ou
simplesmente erro humano na leitura dos dados.