WO2024009629A1

WO2024009629A1 - 減衰力発生機構

Info

Publication number: WO2024009629A1
Application number: PCT/JP2023/018798
Authority: WO
Inventors: 英生長山; 幹郎山下; 崇将小谷; 力内藤
Original assignee: 日立Astemo株式会社
Priority date: 2022-07-08
Filing date: 2023-05-19
Publication date: 2024-01-11

Abstract

この減衰力発生機構は、有底筒状であって開口側に配された第一の減衰力発生部材に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室を形成する付勢力発生部材と、前記付勢力発生部材の底部に設けられ前記背圧室と第１室とを結ぶ第１通路に、前記第１通路を弾性部材によりシールするシール部を有する可動機構が移動可能に設けられて、前記付勢力を可変させる周波数感応機構と、前記第１通路に並列または共通し、一側が前記背圧室に連通可能な第２通路と、前記第２通路の前記一側にあって、前記第１室が上流側となるときのみ前記第２通路の他側に連通可能な連通機構と、を有する。

Description

減衰力発生機構

　本発明は、減衰力発生機構に関する。
　本願は、２０２２年７月８日に、日本国に出願された特願２０２２－１１０４１９号に基づき優先権を主張し、その内容をここに援用する。

　緩衝器に設けられる減衰力発生機構には、減衰力発生部材に閉弁方向に背圧を作用させるものがある（例えば、特許文献１，２参照）。

国際公開第２０１８／１６３８６８号米国特許第１０００１１８９号明細書

　減衰力発生機構において、大型化を抑制することが望まれている。

　したがって、本発明は、大型化を抑制することが可能な減衰力発生機構を提供することを目的とする。

　本発明に係る一態様は、有底筒状であって開口側に配された第一の減衰力発生部材に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室を形成する付勢力発生部材と、前記付勢力発生部材の底部に設けられて前記背圧室と第１室とを結ぶ第１通路に、前記第１通路を弾性部材によりシールするシール部を有する可動機構が移動可能に設けられて、前記付勢力を可変させる周波数感応機構と、前記第１通路に並列または共通し、一側が前記背圧室に連通可能な第２通路と、前記第２通路の前記一側にあって、前記第１室が上流側となるときのみ前記第２通路の他側に連通可能な連通機構と、を有する。

　上述の態様によれば、大型化を抑制することが可能となる。

本発明に係る第１実施形態の減衰力発生機構を含む緩衝器を示す断面図である。同第１実施形態の減衰力発生機構を含む要部の構成を示す断面図である。同第１実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面図である。同第１実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面斜視図である。本発明に係る第２実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面図である。同第２実施形態の減衰力発生機構のディスクを示す平面図である。同第２実施形態の減衰力発生機構のディスクを示す平面図である。同第２実施形態の減衰力発生機構の変形例の要部の構成を示す断面図である。同第２実施形態の減衰力発生機構の変形例のディスクを示す平面図である。本発明に係る第３実施形態の減衰力発生機構を含む要部の構成を示す断面図である。同第３実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面図である。同第３実施形態の減衰力発生機構の変形例の要部の構成を示す断面図である。本発明に係る第４実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面図である。同第４実施形態の減衰力発生機構のパイロットケースを示す平面図である。本発明に係る第５実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面図である。本発明に係る第６実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面図である。同第６実施形態の減衰力発生機構のパイロットケースを示す下面図である。同第６実施形態の減衰力発生機構のディスクを示す平面図である。同第６実施形態の減衰力発生機構のディスクを示す平面図である。本発明に係る第７実施形態の減衰力発生機構の要部の構成を示す断面図である。

［第１実施形態］
　第１実施形態の減衰力発生機構１０を含む緩衝器（Ｓｈｏｃｋ　ａｂｓｏｒｂｅｒ）について、図１～図４を参照しつつ以下に説明する。なお、以下においては、説明の便宜上、図１～図３，図５，図８，図１０～図１３，図１５，図１６，図２０における上側を「上」とし、図１～図３，図５，図８，図１０～図１３，図１５，図１６，図２０における下側を「下」として説明する。また、各図において、緩衝器１の中心軸線を符号ＣＬにより示している場合が有る。

　図１に示すように、緩衝器１は複筒型の油圧緩衝器である。緩衝器１は車両のサスペンション装置に用いられるものである。緩衝器１は、作動流体としての油液Ｌが封入されるシリンダ２を備えている。シリンダ２は内筒３と外筒４とを有している。内筒３は円筒状である。外筒４は有底の円筒状である。外筒４の内径は内筒３の外径よりも大径である。内筒３は外筒４の内側に配置されている。内筒３の中心軸線と外筒４の中心軸線とは一致する。内筒３と外筒４との間はリザーバ室６となっている。

　外筒４は胴部材１１と底部材１２とを有している。胴部材１１は円筒状である。底部材１２は有底円筒状である。底部材１２は、胴部材１１の下部側に嵌合されて溶接により固定されている。底部材１２は胴部材１１の下部を閉塞している。底部材１２には、その軸方向において胴部材１１とは反対となる外側に取付アイ１３が固定されている。

　緩衝器１はピストン１８を備えている。ピストン１８は、シリンダ２の内筒３内に摺動可能に嵌装されている。ピストン１８は、内筒３内を上室１９および下室２０（第１室）の２つの室に区画している。シリンダ２の軸方向において上室１９はピストン１８よりも底部材１２とは反対側にある。シリンダ２の軸方向において下室２０はピストン１８よりも底部材１２側にある。内筒３内の上室１９および下室２０内には作動流体としての油液Ｌが封入されている。内筒３と外筒４との間のリザーバ室６内には作動流体としての油液ＬとガスＧとが封入されている。

　緩衝器１はピストンロッド２１を備えている。ピストンロッド２１は、その軸方向における一端側がシリンダ２の内筒３内に配置されている。ピストンロッド２１は、この一端部がピストン１８に連結されている。ピストンロッド２１は、その軸方向における、この一端部とは反対側の他端部の側がシリンダ２からシリンダ２の外部に延出している。ピストン１８はピストンロッド２１に固定されている。このため、ピストン１８およびピストンロッド２１は一体に移動する。緩衝器１は、ピストンロッド２１がシリンダ２からの突出量を増やす方向に移動する行程が、全長が伸びる伸び行程である。緩衝器１は、ピストンロッド２１がシリンダ２からの突出量を減らす方向に移動する行程が、全長が縮む縮み行程である。緩衝器１は、伸び行程においてピストン１８が上室１９側へ移動する。緩衝器１は、縮み行程においてピストン１８が下室２０側へ移動する。

　内筒３の上端開口側であって外筒４の上端開口側には、ロッドガイド２２が嵌合されている。外筒４にはロッドガイド２２よりも上側にシール部材２３が嵌合されている。外筒４にはシール部材２３よりも上側にディスク２４が嵌合されている。ロッドガイド２２およびシール部材２３は、いずれも円環状である。ディスク２４は、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク２４は、シール部材２３の外周側の部分に当接している。ピストンロッド２１は、ロッドガイド２２およびシール部材２３のそれぞれに対して、これらの軸方向に沿って摺動する。ピストンロッド２１は、シリンダ２の内部から、シール部材２３よりもシリンダ２の外部側に延出している。

　ロッドガイド２２は、ピストンロッド２１がシリンダ２の内筒３および外筒４に対して径方向に移動することを規制する。ロッドガイド２２にピストンロッド２１が嵌合されると共にピストン１８が内筒３内に嵌合される。これにより、ピストンロッド２１の中心軸線とシリンダ２の中心軸線とが一致する。ロッドガイド２２は、ピストンロッド２１をピストンロッド２１の軸方向に移動可能に支持する。シール部材２３は、その外周部が外筒４に密着する。シール部材２３は、その内周部がピストンロッド２１の外周部に密着する。ピストンロッド２１は、シール部材２３に対してシール部材２３の軸方向に移動する。シール部材２３は、内筒３内の油液Ｌと、リザーバ室６内の高圧ガスおよび油液Ｌとが外部に漏れ出すのを抑制する。

　ロッドガイド２２は、その外周部が、下部よりも上部の方が大径となっている。ロッドガイド２２は、小径の下部において内筒３の上端の内周部に嵌合する。ロッドガイド２２は、大径の上部において外筒４の上部の内周部に嵌合する。外筒４の底部材１２上にはベースバルブ２５が設置されている。ベースバルブ２５は、外筒４に対して径方向に位置決めされている。ベースバルブ２５は、下室２０とリザーバ室６とを区画している。ベースバルブ２５に内筒３の下端の内周部が嵌合されている。外筒４の上端部は、外筒４の径方向における内側に加締められている。シール部材２３は、ディスク２４と共にこの加締め部分とロッドガイド２２とに挟まれることでシリンダ２に固定されている。

　ピストンロッド２１は、主軸部２７と取付軸部２８とを有している。取付軸部２８は、その外径が主軸部２７の外径よりも小径である。取付軸部２８は、シリンダ２内に配置されている。取付軸部２８にピストン１８が取り付けられている。主軸部２７は、軸段部２９を有している。軸段部２９は、主軸部２７の取付軸部２８側の端部に設けられている。軸段部２９は、ピストンロッド２１の中心軸線に対して直交する方向に広がっている。

　ピストンロッド２１には、取付軸部２８の外周部に通路溝３０が形成されている。通路溝３０は、取付軸部２８の外周部を取付軸部２８の中心軸線に平行な平面で切り欠くことで形成されている。通路溝３０は、取付軸部２８の軸方向に延びている。通路溝３０は、取付軸部２８の周方向に間隔をあけて複数、具体的には２箇所形成されている。取付軸部２８には、取付軸部２８の軸方向における通路溝３０よりも主軸部２７とは反対側の端部の外周部にオネジ３１が形成されている。

　緩衝器１は、例えばピストンロッド２１のシリンダ２から突出する部分が上部に配置されて車両の車体に連結される。その際に、緩衝器１は、シリンダ２側に設けられた取付アイ１３が下部に配置されて車両の車輪側に連結される。緩衝器１は、これとは逆に、シリンダ２側が車体に連結されるようにしても良い。この場合、緩衝器１は、ピストンロッド２１が車輪側に連結される。

　車両においては、その走行に伴って車体に対して車輪が振動する。すると、緩衝器１は、この振動に伴ってシリンダ２とピストンロッド２１との位置が相対的に変化する。この変化は、緩衝器１に設けられた流路の流体抵抗により抑制される。以下で説明するとおり、緩衝器１に設けられた流路の流体抵抗は、上記した振動の速度や振幅により異なるように作られている。緩衝器１が振動を抑制することにより、車両の乗り心地が改善される。

　また、車両においては、シリンダ２とピストンロッド２１との間に、車輪が車体に対して発生する振動の他に、車両の走行に伴って車体に発生する慣性力や遠心力も作用する。例えばハンドル操作により走行方向が変化することにより、車体に遠心力が発生する。すると、この遠心力に基づく力がシリンダ２とピストンロッド２１との間に作用する。以下で説明するとおり、緩衝器１は、車両の走行に伴って車体に発生する力に基づく振動に対して良好な特性を有している。緩衝器１によって車両に高い走行安定性が得られる。

　減衰力発生機構１０は、ピストン１８を含んでおり、図２に示す構成となっている。
　ピストン１８は、ピストン本体３５と摺動部材３６とを有している。ピストン本体３５は、金属製であり、円環状である。ピストン１８は、ピストン本体３５がピストンロッド２１の取付軸部２８に嵌合される。摺動部材３６は、合成樹脂製であり、円環状である。摺動部材３６は、ピストン本体３５の外周面に一体的に装着されている。ピストン１８は、摺動部材３６が内筒３に接触した状態で内筒３に対して摺動する。

　ピストン本体３５には、通路穴３７と通路溝３８と通路穴３９と通路溝４０とが設けられている。通路穴３７は、ピストン本体３５をピストン本体３５の軸方向に貫通している。通路穴３７は、ピストン本体３５に、ピストン本体３５の円周方向に間隔をあけて複数形成されている。通路穴３９は、ピストン本体３５をピストン本体３５の軸方向に貫通している。通路穴３９は、ピストン本体３５に、ピストン本体３５の円周方向に間隔をあけて複数形成されている。ピストン本体３５には、ピストン本体３５の周方向において通路穴３７と通路穴３９とが一箇所ずつ交互に等ピッチで形成されている。

　通路溝３８は、ピストン本体３５に、ピストン本体３５の円周方向に円環状をなして形成されている。通路溝３８は、ピストン本体３５の軸方向における下室２０側の端部に形成されている。全ての通路穴３７は、ピストン本体３５の軸方向における、この端部側が通路溝３８に開口している。通路溝４０は、ピストン本体３５に、ピストン本体３５の円周方向に円環状をなして形成されている。通路溝４０は、ピストン本体３５の軸方向における通路溝３８とは反対側の上室１９側の端部に形成されている。全ての通路穴３９は、ピストン本体３５の軸方向における通路溝３８とは反対の端部側が通路溝４０に開口している。複数の通路穴３７は、ピストン本体３５の軸方向における通路溝３８とは反対側の端部が、ピストン本体３５の径方向において通路溝４０よりも外側に開口している。複数の通路穴３９は、ピストン本体３５の軸方向における通路溝４０とは反対側の端部が、ピストン本体３５の径方向において通路溝３８よりも外側に開口している。ピストン１８は、複数の通路穴３７の内側と通路溝３８の内側とがピストン側通路４３となっている。ピストン１８は、複数の通路穴３９の内側と通路溝４０の内側とがピストン側通路４４となっている。

　減衰力発生機構１０は、ピストン側通路４３に設けられる第１バルブ機構４１を有している。第１バルブ機構４１は、ピストン側通路４３を開閉して減衰力を発生させる。第１バルブ機構４１は、ピストン１８の軸方向における下室２０側に配置されている。これにより、ピストン側通路４３は、ピストン１８の一方向である上室１９側への移動によって一方の上室１９から他方の下室２０に向けて油液Ｌが流れ出す通路となる。つまり、ピストン側通路４３は、伸び行程において上室１９から下室２０に向けて油液Ｌの流れが生じる通路である。第１バルブ機構４１は、伸び行程において生じるピストン側通路４３から下室２０への油液Ｌの流動を抑制して減衰力を発生させる。

　減衰力発生機構１０は、ピストン側通路４４に設けられる第１バルブ機構４２を有している。第１バルブ機構４２は、ピストン側通路４４を開閉して減衰力を発生させる。第１バルブ機構４２は、ピストン１８の軸方向における上室１９側に配置されている。これにより、ピストン側通路４４は、ピストン１８の下室２０側への移動によって下室２０から上室１９に向けて油液Ｌが流れ出す通路となる。つまり、ピストン側通路４４は、縮み行程において下室２０から上室１９に向けて油液Ｌの流れが生じる通路である。第１バルブ機構４２は、縮み行程において生じるピストン側通路４４から上室１９への油液Ｌの流動を抑制して減衰力を発生させる。

　ピストン本体３５は、有孔の円板状であり、その内周部にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる。

　ピストン本体３５の軸方向の下室２０側の端部には、内側シート部４６およびバルブシート部４７が形成されている。内側シート部４６は円環状である。内側シート部４６は、通路溝３８の下室２０側の開口よりもピストン本体３５の径方向における内側に配置されている。バルブシート部４７は円環状である。バルブシート部４７は、通路溝３８の下室２０側の開口よりもピストン本体３５の径方向における外側に配置されている。バルブシート部４７は、第１バルブ機構４１の一部を構成する。

　ピストン本体３５の軸方向の上室１９側の端部には、内側シート部４８およびバルブシート部４９が形成されている。内側シート部４８は円環状である。内側シート部４８は、通路溝４０の下室２０側の開口よりもピストン本体３５の径方向における内側に配置されている。バルブシート部４９は円環状である。バルブシート部４９は、通路溝４０の上室１９側の開口よりもピストン本体３５の径方向における外側に配置されている。バルブシート部４９は、第１バルブ機構４２の一部を構成する。

　減衰力発生機構１０は、ピストン１８の軸方向における内側シート部４６側に、ピストン１８の軸方向において内側シート部４６側から順に、一枚のディスク５０と、一枚の第１減衰バルブ５２（第一の減衰力発生部材）と、一枚のディスク５３と、一枚のディスク５４と、複数枚、具体的には６枚のディスク５５と、一枚のディスク５６と、一枚の開閉ディスク５７と、一つのパイロットケース５８（付勢力発生部材）と、複数枚、具体的には６枚のディスク５９からなる第２減衰バルブ６０と、一枚のディスク６１と、一枚の環状部材６２とを有している。

　ディスク５０，５３～５６，５９，６１、開閉ディスク５７、パイロットケース５８および環状部材６２は、いずれも金属製である。ディスク５０，５３～５６，５９，６１、開閉ディスク５７および環状部材６２は、いずれも、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク５０，５３～５６，５９，６１および開閉ディスク５７は、プレス成形により形成される。第１減衰バルブ５２およびパイロットケース５８は、いずれも円環状である。ディスク５０，５３～５６，５９，６１、開閉ディスク５７、第１減衰バルブ５２、パイロットケース５８および環状部材６２は、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させている。

　図３にも示すように、パイロットケース５８は有底筒状である。パイロットケース５８は、焼結により全体が継ぎ目なく一体に成形されている。パイロットケース５８は、底部６５と筒状部６６とを有している。

　底部６５は、有孔円板状であり、その内周部にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる。筒状部６６は、円筒状であり、底部６５の外周部から底部６５の軸方向に沿って一側に延出している。パイロットケース５８は、筒状部６６の軸方向における底部６５とは反対側が開口部６７となっている。言い換えれば、パイロットケース５８は、その軸方向における一端に開口部６７を有する有底筒状である。

　底部６５は、底本体部７１と、内側シート部７４と、バルブシート部７５と、外側シート部７６と、内側シート部７７と、外側シート部７８とを有している。

　底本体部７１は、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる。底本体部７１には、その軸方向の筒状部６６側にシール溝６８が形成されている。シール溝６８は、円環状であり、底本体部７１の径方向における筒状部６６よりも内側に形成されている。シール溝６８は、底本体部７１の軸方向における筒状部６６側から、底部６５の軸方向において筒状部６６とは反対方向に凹んでいる。

　内側シート部７４は、底本体部７１の内周側に形成されている。内側シート部７４は円環状である。内側シート部７４は、底本体部７１から底本体部７１の軸方向において筒状部６６と同側に突出している。

　バルブシート部７５は、底本体部７１の径方向における内側シート部７４よりも外側に形成されている。バルブシート部７２は円環状である。バルブシート部７５は、底本体部７１から底本体部７１の軸方向において内側シート部７４と同側に突出している。バルブシート部７５は、パイロットケース５８の軸方向における高さが、内側シート部７４と同等である。

　外側シート部７６は、底本体部７１の径方向におけるバルブシート部７５よりも外側かつシール溝６８よりも内側に形成されている。外側シート部７６は円環状である。外側シート部７６は、底本体部７１から底本体部７１の軸方向において内側シート部７４およびバルブシート部７５と同側に突出している。外側シート部７６は、パイロットケース５８の軸方向における底本体部７１からの高さが、バルブシート部７５よりも高くなっている。

　外側シート部７６には、その軸方向における先端に、外側シート部７６を径方向に貫通する通路溝７９が形成されている。外側シート部７６には、通路溝７９が、外側シート部７６の周方向に等間隔で複数形成されている。

　底本体部７１には、内側通路穴８０が形成されている。内側通路穴８０は、底本体部７１を底本体部７１の軸方向に貫通している。パイロットケース５８には、図４に示すように、内側通路穴８０が、パイロットケース５８の周方向に等間隔で複数、具体的には６箇所設けられている。図３に示すように、複数の内側通路穴８０は、底本体部７１の径方向における内側シート部７４とバルブシート部７５との間に開口している。

　パイロットケース５８には、図２に示すように、シール溝６８の底面に外側通路穴８３，８４が形成されている。外側通路穴８３，８４は、いずれもシール溝６８の底面の位置で底本体部７１を底本体部７１の軸方向に貫通している。外側通路穴８３は、パイロットケース５８の径方向において外側通路穴８４よりも内側にある。外側通路穴８３は、パイロットケース５８の径方向においてシール溝６８の底面の内端位置にある。外側通路穴８４は、パイロットケース５８の径方向においてシール溝６８の底面の外端位置にある。

　パイロットケース５８には、図４に示すように、外側通路穴８３が、パイロットケース５８の周方向に等間隔で複数、具体的には３箇所設けられている。パイロットケース５８には、外側通路穴８４が、パイロットケース５８の周方向に等間隔で複数、具体的には３箇所設けられている。パイロットケース５８には、外側通路穴８３と外側通路穴８４とが、パイロットケース５８の周方向において交互に等間隔で配置されている。内側通路穴８０は、パイロットケース５８の周方向の位置を、外側通路穴８３および外側通路穴８４のいずれか一方と合わせている。

　内側シート部７７は、底本体部７１の内周側に形成されている。内側シート部７７は、円環状である。内側シート部７７は、図３に示すように、底本体部７１の内周側の部分から底本体部７１の軸方向において内側シート部７４とは反対側に突出している。

　外側シート部７８は、底本体部７１の径方向の中間部に形成されている。外側シート部７８は、図４に示すように、内側シート部７７の径方向外側で底本体部７１の軸方向において底本体部７１から内側シート部７７と同側に突出している。外側シート部７８は、円形ではない花びら型の異形シートである。外側シート部７８は、複数、具体的には６箇所のシート構成部９１を有している。これらのシート構成部９１は、同形状であり、パイロットケース５８の周方向に等間隔で配置されている。内側シート部７７は、パイロットケース５８の中心軸線を中心とする円環状をなしている。複数のシート構成部９１は、内側シート部７７から放射状に延出している。複数のシート構成部９１は、パイロットケース５８の軸方向において、底本体部７１とは反対側の先端面の位置が、内側シート部７７の底本体部７１とは反対側の先端面の位置と同等の位置にある。

　各シート構成部９１の内側には通路凹部９２が形成されている。通路凹部９２は、内側シート部７７の一部とシート構成部９１とで囲まれて形成されている。通路凹部９２は、内側シート部７７の突出側の先端面とシート構成部９１の突出側の先端面とからパイロットケース５８の軸方向に沿って凹んでいる。通路凹部９２の底面は、底本体部７１によって形成されている。すべてのシート構成部９１の内側に、通路凹部９２が形成されている。

　パイロットケース５８の周方向において隣り合うシート構成部９１とシート構成部９１との間の位置に、内側通路穴８０および外側通路穴８３，８４が設けられている。よって、内側通路穴８０および外側通路穴８３，８４は、外側シート部７８よりも外側に設けられている。内側通路穴８０および外側通路穴８３，８４は、通路凹部９２内には開口していない。

　内側シート部７７には、内側シート部７７を内側シート部７７の径方向に貫通する通路溝９５が形成されている。通路溝９５は、底本体部７１の周方向において複数のシート構成部９１のそれぞれの内側となる位置に配置されている。通路溝９５内の通路は、通路凹部９２内に開口している。通路溝９５内の通路は、図２に示すピストンロッド２１の通路溝３０内の通路に連通する。

　減衰力発生機構１０は、シール溝６８内に区画部材１１１（可動機構）を有している。区画部材１１１は、全体として円環状であり、この円環の中心軸線を含む平面での断面が円形のＯリングである。区画部材１１１は、パイロットケース５８のシール溝６８内に嵌合している。区画部材１１１は、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。区画部材１１１は、図３にも示すように、その内周にあるシール部１１２が、シール溝６８の径方向内側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。区画部材１１１は、その外周にあるシール部１１３が、シール溝６８の径方向外側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。

　図２に示すディスク５０は、ピストン１８の内側シート部４６の外径よりも大径かつバルブシート部４７の内径よりも小径の外径となっている。ディスク５０には切欠１２１が形成されている。切欠１２１は、ディスク５０の取付軸部２８に嵌合する内周縁部から径方向外側に延在している。切欠１２１内の通路は、ピストン１８のピストン側通路４３と、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路とに常時連通する。

　第１減衰バルブ５２は、ディスク１３１とシール部材１３２とからなっている。
　ディスク１３１は、金属製であり、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク１３１は、プレス成形により形成される。ディスク１３１は、その外径が、ピストン１８のバルブシート部４７の外径よりも大径となっている。ディスク１３１は、内周側にピストンロッド２１の取付軸部２８が嵌合される。第１減衰バルブ５２は、ディスク１３１がバルブシート部４７に当接している。第１減衰バルブ５２は、ディスク１３１がバルブシート部４７に対し離間および当接することでピストン１８に形成されたピストン側通路４３の下室２０側の開口を開閉する。

　シール部材１３２は、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。シール部材１３２は円環状をなしている。シール部材１３２は、ディスク１３１の外周側に固着されている。シール部材１３２は、パイロットケース５８の筒状部６６の開口部６７側の内周面に全周にわたり嵌合している。シール部材１３２は、筒状部６６の内周面に対し軸方向に摺動可能である。シール部材１３２は、第１減衰バルブ５２と筒状部６６との隙間を常時シールする。パイロットケース５８は、その開口部６７に第１減衰バルブ５２が配置されている。

　ディスク５３は、その外径が、ピストン１８の内側シート部４６の外径と同等である。ディスク５３の外径は、シール部材１３２の最小内径よりも小径となっている。

　図３にも示すように、ディスク５４は、その外径が、ディスク５３の外径よりも大径かつシール部材１３２の最小内径よりも小径となっている。ディスク５４には、内周縁部からディスク５３よりも径方向外側の位置まで切欠１４１が形成されている。切欠１４１内の通路は、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路に常時連通している。

　複数枚、具体的には６枚のディスク５５は、軸方向における最もディスク５４側の２枚がディスク５４の外径よりも大径の外径となっている。６枚のディスク５５は、軸方向における中間の３枚が、ディスク５４側の２枚の外径よりも大径の外径となっている。６枚のディスク５５は、軸方向における最もディスク５４とは反対側の１枚が、中間の３枚の外径よりも大径の外径となっている。６枚のディスク５５は、全体的には、軸方向においてディスク５４から離れるほど外径が大径となっている。
　ディスク５６は、ディスク５３の外径と同等の外径となっている。

　開閉ディスク５７は、その外径が、パイロットケース５８のバルブシート部７５の外径よりも大径かつ外側シート部７６の内径よりも小径の外径となっている。開閉ディスク５７は、パイロットケース５８の内側シート部７４およびバルブシート部７５に当接可能である。開閉ディスク５７は、バルブシート部７５に着座することで複数の内側通路穴８０内の通路を閉塞する。開閉ディスク５７は、バルブシート部７５から離座することで、複数の内側通路穴８０内の通路を開放する。

　開閉ディスク５７には、取付軸部２８に嵌合する内周縁部からディスク５６の外径よりも大径かつ内側シート部７４の外径よりも小径の位置まで切欠１５１が形成されている。切欠１５１内の通路は、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路に常時連通している。

　区画部材１１１のシール部１１２，１１３が、シール溝６８の径方向内側および径方向外側それぞれの壁面に、同時に圧接している。これにより、パイロットケース５８と、第１減衰バルブ５２およびディスク５３～５６と、開閉ディスク５７と、区画部材１１１とで囲まれた部分が、背圧室１７１となる。背圧室１７１は、切欠１４１，１５１内の通路を介してピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と常時連通する。

　また、区画部材１１１によって、シール溝６８の底面側と、区画部材１１１との間が、可変室１７２となる。図２に示すように、可変室１７２は、外側通路穴８３内および外側通路穴８４内の通路を介して、下室２０に常時連通している。

　有底筒状のパイロットケース５８は、その内側に、第１減衰バルブ５２とディスク５３～５６と開閉ディスク５７と区画部材１１１とによって背圧室１７１を形成する。区画部材１１１は、パイロットケース５８内に設けられて、パイロットケース５８内を背圧室１７１と可変室１７２とに区画する。

　第１減衰バルブ５２のディスク１３１は、ピストン１８のバルブシート部４７に着座可能である。第１減衰バルブ５２は、ピストン１８に形成されたピストン側通路４３に設けられてピストン１８の伸び側への摺動によって生じる油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生させる。第１減衰バルブ５２は、ピストン１８のバルブシート部４７と共に第１バルブ機構４１を構成している。第１減衰バルブ５２は、そのディスク１３１がバルブシート部４７から離座して開く。すると、第１減衰バルブ５２は、ピストン側通路４３からの油液Ｌを、バルブシート部４７との間を介して下室２０に流す。ピストン側通路４３は、ピストン１８の上室１９側への移動によって上室１９内の油液Ｌが流動する伸び側の通路となる。ピストン側通路４３は、伸び行程において、一方の上室１９から他方の下室２０に向けて作動流体としての油液Ｌが流れ出す伸び側の通路となる。バルブシート部４７と第１減衰バルブ５２とからなる伸び側の第１バルブ機構４１は、ピストン側通路４３に設けられており、第１減衰バルブ５２でこのピストン側通路４３を開閉して油液Ｌの流動を抑制することにより減衰力を発生させる。下室２０は、伸び行程における油液Ｌの流れ方向の第１減衰バルブ５２の下流側となる。

　伸び側の第１バルブ機構４１は、バルブシート部４７およびこれに当接する第１減衰バルブ５２のいずれにも、これらが当接状態にあっても上室１９と下室２０とを連通させる固定オリフィスは形成されていない。言い換えれば、第１バルブ機構４１には、上室１９と下室２０とを常時連通させる固定オリフィスは形成されていない。ピストン側通路４３は、伸び行程における油液Ｌの流れ方向の第１減衰バルブ５２の上流側の通路となる。

　ディスク５０の切欠１２１内の通路と、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と、ディスク５４の切欠１４１内の通路と、開閉ディスク５７の切欠１５１内の通路とが、ピストン側通路４３から分岐して延びる背圧室導入通路１７６を構成している。背圧室導入通路１７６は、ピストン側通路４３の一部を介して、上室１９と背圧室１７１とを連通させる。背圧室導入通路１７６は、伸び行程において、背圧室１７１に、背圧室１７１の上流側となる上室１９からピストン側通路４３の一部を介して油液Ｌを導入する。

　いずれもパイロットケース５８の底部６５に設けられた外側通路穴８３，８４内の通路とシール溝６８内の通路とが、背圧室１７１と下室２０とを結んで延びる第１通路１７３を構成している。この第１通路１７３に、第１通路１７３を弾性部材によりシールするシール部１１２，１１３を有する区画部材１１１が移動可能に設けられている。

　背圧室１７１は、第１減衰バルブ５２に、ピストン１８の方向、つまりディスク１３１をバルブシート部４７に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。パイロットケース５８は、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１を形成している。

　パイロットケース５８の内側通路穴８０内が第２通路１８０となっている。開閉ディスク５７は、第２通路１８０と、背圧室１７１との間に開閉可能に設けられている。内側通路穴８０内の第２通路１８０は、外側通路穴８３，８４内およびシール溝６８内の第１通路１７３と並列に設けられている。第２通路１８０は、パイロットケース５８において、第１通路１７３よりも内周側に配置されている。開閉ディスク５７は、パイロットケース５８のバルブシート部７５に当接する状態においては、背圧室１７１と、第２通路１８０および下室２０との間の油液Ｌの流通を遮断する。また、開閉ディスク５７は、バルブシート部７５から離間する状態では、背圧室１７１と、第２通路１８０および下室２０との間の油液Ｌの流通を許容する。

　ここで、開閉ディスク５７は、第２通路１８０および下室２０側の圧力が、背圧室１７１側の圧力よりも所定値以上高くなると、下室２０および第２通路１８０から第２通路１８０を介しての背圧室１７１への油液Ｌの流通を許容する。開閉ディスク５７は、背圧室１７１側の圧力が第２通路１８０および下室２０側の圧力よりも高い状態では、背圧室１７１から第２通路１８０を介しての下室２０への油液Ｌの流通を規制する。

　開閉ディスク５７と、パイロットケース５８のバルブシート部７５とが、連通機構１８１を構成している。第２通路１８０は、一側が背圧室１７１に連通可能である。連通機構１８１は、第２通路１８０の前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ、第２通路１８０の他側である下室２０側に連通可能である。言い換えれば、連通機構１８１は、下室２０が下流側となるときは第２通路１８０の他側である下室２０側に連通不可である。連通機構１８１は、背圧室１７１と下室２０との間で、背圧室１７１側から下室２０側への一方向の油液Ｌの流れを規制する。その一方で、連通機構１８１は、下室２０側から背圧室１７１側への他方向の油液Ｌの流れを許容する。連通機構１８１は、チェック弁であり、開閉ディスク５７は、その弁部材である。

　連通機構１８１は、上室１９、ピストン側通路４３の一部、背圧室導入通路１７６および背圧室１７１から、第２通路１８０および下室２０への油液Ｌの流れを規制する。連通機構１８１は、下室２０および第２通路１８０から、背圧室１７１、背圧室導入通路１７６、ピストン側通路４３の一部および上室１９への油液Ｌの流れを許容する。

　複数枚のディスク５９からなる第２減衰バルブ６０は、全体として、その軸方向においてパイロットケース５８側ほど外径が大径となっている。複数枚のディスク５９は、最もパイロットケース５８側のディスク５９の外径が、外側シート部７８の先端面の最大外径よりも若干大径となっている。複数枚のディスク５９からなる第２減衰バルブ６０は、外側シート部７８に離着座可能である。

　ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と、パイロットケース５８の図４に示す通路溝９５内および通路凹部９２内の通路とが、図２に示すロッド側通路１９１となっている。ロッド側通路１９１は、ピストン側通路４３から分岐する背圧室導入通路１７６からさらに分岐して上室１９と下室２０とを連通可能となっている。外側シート部７８と第２減衰バルブ６０とが、ロッド側通路１９１に設けられてロッド側通路１９１を開閉する第２バルブ機構２０１を構成している。

　第２バルブ機構２０１は、その第２減衰バルブ６０が、外側シート部７８に着座する。第２減衰バルブ６０は、伸び行程において、開弁して上室１９からピストン側通路４３の一部、背圧室導入通路１７６の一部およびロッド側通路１９１を介する下室２０への油液Ｌの流れに抵抗力を与える。言い換えれば、第２バルブ機構２０１は、上室１９から下室２０への油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生させる。第２バルブ機構２０１は、ロッド側通路１９１に設けられて油液Ｌの流動により減衰力を発生させる伸び側の減衰力発生機構である。

　伸び側の第２バルブ機構２０１は、外側シート部７８およびこれに当接する第２減衰バルブ６０のいずれにも、これらが当接状態にあってもロッド側通路１９１を下室２０側に連通させる固定オリフィスは形成されていない。すなわち、ロッド側通路１９１には下室２０に常時連通する固定オリフィスは形成されていない。

　ディスク６１は、その外径が、第２減衰バルブ６０の最小外径よりも小径である。
　環状部材６２は、その外径が、ディスク６１の外径よりも大径である。環状部材６２は、その剛性が第２減衰バルブ６０の剛性よりも高い。

　縮み側の第１バルブ機構４２は、ピストン１８の軸方向における内側シート部４８側に、ピストン１８の軸方向において内側シート部４８側から順に、一枚のディスク２２１と、複数枚、具体的には４枚のディスク２２２と、一枚のディスク２２３と、一枚のディスク２２４と、一枚の環状部材２２５とを有している。ディスク２２１～２２４および環状部材２２５は、金属製であり、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク２２１～２２４はプレス成形により形成される。ディスク２２１～２２４および環状部材２２５は、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させている。

　ディスク２２１は、ピストン１８の内側シート部４８の外径よりも大径かつバルブシート部４９の内径よりも小径の外径となっている。
　複数枚のディスク２２２は、第１減衰バルブ２３１を構成している。第１減衰バルブ２３１は、全体として、その軸方向においてディスク２２１側ほど外径が大径になる。複数枚のディスク２２２は、最もディスク２２１側のものの外径が、ピストン１８のバルブシート部４９の外径よりも若干大径となっている。

　ディスク２２３は、複数枚のディスク２２２のうちの最小外径のものの外径よりも小径の外径となっている。
　ディスク２２４は、ディスク２２３の外径よりも大径の外径となっている。
　環状部材２２５は、ディスク２２４の外径よりも小径かつディスク２２３の外径よりも大径の外径となっている。環状部材２２５は、ディスク２２２よりも厚く高剛性となっている。この環状部材２２５は、ピストンロッド２１の軸段部２９に当接している。

　複数枚のディスク２２２からなる第１減衰バルブ２３１は、ピストン１８のバルブシート部４９と共に第１バルブ機構４２を構成している。第１減衰バルブ２３１は、バルブシート部４９から離座して開く。すると、第１減衰バルブ２３１は、ピストン側通路４４からの油液Ｌを、バルブシート部４９との間を介して上室１９に流す。ピストン側通路４４は、ピストン１８の下室２０側への移動によって下室２０内の油液Ｌが流動する縮み側の通路となる。ピストン側通路４４は、縮み行程において、一方の下室２０から他方の上室１９に向けて作動流体としての油液Ｌが流れ出す。バルブシート部４９と第１減衰バルブ２３１とからなる縮み側の第１バルブ機構４２は、ピストン側通路４４に設けられている。第１バルブ機構４２は、第１減衰バルブ２３１でピストン側通路４４を開閉して油液Ｌの流動を抑制することにより減衰力を発生させる。

　縮み側の第１バルブ機構４２には、バルブシート部４９およびこれに当接する第１減衰バルブ２３１のいずれにも、これらが当接状態にあっても下室２０と上室１９とを連通させる固定オリフィスは形成されていない。すなわち、縮み側の第１バルブ機構４２には、下室２０と上室１９とを常時連通させる固定オリフィスは形成されていない。ディスク２２４および環状部材２２５は、第１減衰バルブ２３１の開方向への規定以上の変形を抑制する。

　パイロットケース５８および区画部材１１１は、ピストン１８の往復動の周波数（以下、ピストン周波数と称す）に感応して減衰力を可変とする周波数感応機構２１１を構成している。周波数感応機構２１１は、その区画部材１１１が、ピストン１８の往復動の周波数に応じて移動および変形して、上室１９に常時連通する背圧室１７１の容量と、下室２０に常時連通する可変室１７２の容量とを変化させる。周波数感応機構２１１は、第１通路１７３に移動可能に設けられた区画部材１１１を有している。周波数感応機構２１１は、背圧室１７１による第１減衰バルブ５２への付勢力を可変させる。

　伸び行程では、背圧室１７１側が下室２０側よりも高圧となる。すると、背圧室１７１の圧力を受けて、区画部材１１１が、シール溝６８とのシール状態を維持しつつ、シール溝６８の底面側へ移動しこの底面に当接して圧縮変形する。これにより、背圧室１７１の容積が拡大する。

　縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１側よりも高圧となる。すると、下室２０側と背圧室１７１側との差圧が所定値よりも低ければ、下室２０側の圧力を受けて、区画部材１１１が、シール溝６８とのシール状態を維持しつつ、ディスク５５側へ移動しディスク５５に当接して圧縮変形する。これにより、可変室１７２の容積が拡大する。また、縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１側よりも所定値以上高圧になると、連通機構１８１が開弁し、下室２０から背圧室１７１へ油液Ｌを流す。

　ピストンロッド２１には、取付軸部２８をそれぞれの内側に挿通させて、軸段部２９に、環状部材２２５、ディスク２２４、ディスク２２３、複数枚のディスク２２２、ディスク２２１、ピストン１８、ディスク５０、第１減衰バルブ５２、ディスク５３、ディスク５４、複数枚のディスク５５、ディスク５６、開閉ディスク５７、パイロットケース５８、複数枚のディスク５９、ディスク６１および環状部材６２が、この順に重ねられる。その際に、パイロットケース５８は、第１減衰バルブ５２のシール部材１３２を筒状部６６に嵌合させる。なお、パイロットケース５８には、このようなピストンロッド２１への組み付けよりも前に、予め区画部材１１１がシール溝６８に圧入されている。

　このように環状部材２２５から環状部材６２までの部品がピストンロッド２１に配置された状態で、環状部材６２よりも突出する取付軸部２８のオネジ３１にナット２３５が螺合される。これにより、上記のように重ねられた環状部材２２５から環状部材６２までの部品が、それぞれの内周側または全部がピストンロッド２１の軸段部２９とナット２３５とに挟持されて軸方向にクランプされる。

　図１に示すように、内筒３と、外筒４の底部材１２との間には、上記したベースバルブ２５が設けられている。このベースバルブ２５は、ベースバルブ部材２４１と、ディスクバルブ２４２と、ディスクバルブ２４３と、取付ピン２４４とを有している。ベースバルブ２５は、ベースバルブ部材２４１において底部材１２に載置されており、ベースバルブ部材２４１において内筒３に嵌合している。ベースバルブ部材２４１は、下室２０とリザーバ室６とを仕切っている。ディスクバルブ２４２は、ベースバルブ部材２４１の下側つまりリザーバ室６側に設けられている。ディスクバルブ２４３は、ベースバルブ部材２４１の上側つまり下室２０側に設けられている。取付ピン２４４は、ベースバルブ部材２４１にディスクバルブ２４２およびディスクバルブ２４３を取り付けている。

　ベースバルブ部材２４１は、円環状をなしており、径方向の中央に取付ピン２４４が挿通される。ベースバルブ部材２４１には、複数の通路穴２４５と複数の通路穴２４６とが形成されている。複数の通路穴２４５は、下室２０とリザーバ室６との間で油液Ｌを流通させる。複数の通路穴２４６は、ベースバルブ部材２４１の径方向における複数の通路穴２４５よりも外側に配置されている。複数の通路穴２４６は、下室２０とリザーバ室６との間で油液Ｌを流通させる。リザーバ室６側のディスクバルブ２４２は、下室２０から通路穴２４５を介するリザーバ室６への油液Ｌの流れを許容する。その一方で、ディスクバルブ２４２は、リザーバ室６から下室２０への通路穴２４５を介する油液Ｌの流れを抑制する。ディスクバルブ２４３は、リザーバ室６から通路穴２４６を介する下室２０への油液Ｌの流れを許容する。その一方で、ディスクバルブ２４３は、下室２０からリザーバ室６への通路穴２４６を介する油液Ｌの流れを抑制する。

　ディスクバルブ２４２は、ベースバルブ部材２４１とによって減衰バルブ機構２４７を構成している。減衰バルブ機構２４７は、緩衝器１の縮み行程において開弁して下室２０からリザーバ室６に油液Ｌを流すとともに減衰力を発生させる。ディスクバルブ２４３は、ベースバルブ部材２４１とによってサクションバルブ機構２４８を構成している。サクションバルブ機構２４８は、緩衝器１の伸び行程において開弁してリザーバ室６から下室２０内に油液Ｌを流す。なお、サクションバルブ機構２４８は、主としてピストンロッド２１のシリンダ２からの伸び出しにより生じる液の不足分を補うようにリザーバ室６から下室２０に実質的に減衰力を発生させることなく液を流す機能を果たす。

　次に、減衰力発生機構１０を含む緩衝器１の作動について説明する。

｛伸び行程において、ピストン周波数が低周波数であり、ピストン速度が第１所定値ｖ１よりも遅い低周波微低速域ｘ１｝
　この低周波微低速域ｘ１では、第１バルブ機構４１および第２バルブ機構２０１は開弁しない。そして、上室１９からの油液Ｌは、ピストン側通路４３の一部および背圧室導入通路１７６を介して背圧室１７１に流れる。すると、周波数感応機構２１１の区画部材１１１がシール溝６８の底面側に移動しこの底面に当接して圧縮変形する。この低周波微低速域ｘ１では、ピストン周波数が低周波数であってピストン１８が大きくストロークするため、ストロークの初期に、上室１９から背圧室１７１に油液Ｌが多く導入される。このため、周波数感応機構２１１の区画部材１１１がシール溝６８の底面側に限界近くまで移動および変形して、その後は変形しにくくなる（高ばね領域）。また、第１バルブ機構４１，４２および第２バルブ機構２０１のいずれにも、上室１９と下室２０とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｘ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなる。

｛伸び行程において、ピストン周波数が低周波数であり、ピストン速度が第１所定値ｖ１以上であり第２所定値ｖ２よりも遅い低周波低速域ｘ２｝
　この低周波低速域ｘ２では、上室１９からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様にして周波数感応機構２１１の区画部材１１１をシール溝６８の底面側に大きく移動および変形させる。その後、ピストン側通路４３および背圧室導入通路１７６を介する上室１９からの油液Ｌは、背圧室１７１へ導入されにくくなる。低周波低速域ｘ２では、背圧室１７１の圧力が低周波微低速域ｘ１よりも高圧となる。このため、低周波低速域ｘ２では、上室１９からの油液Ｌが、ピストン側通路４３、背圧室導入通路１７６およびロッド側通路１９１から、第２バルブ機構２０１の第２減衰バルブ６０を開弁させて下室２０に流れる。その結果、低周波低速域ｘ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｘ１よりも低くなる。この低周波低速域ｘ２では、周波数感応機構２１１の区画部材１１１が限界近くまで移動および変形しているため、背圧室１７１の圧力が高圧となる。このため、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２は、背圧室１７１からの付勢力が大きく、よって開弁が制限される。

｛伸び行程において、ピストン周波数が低周波数であり、ピストン速度が第２所定値ｖ２以上の低周波中高速域ｘ３｝
　この低周波中高速域ｘ３では、上室１９からの油液Ｌは、低周波低速域ｘ２と同様に、第２バルブ機構２０１の第２減衰バルブ６０を開弁させて、ピストン側通路４３の一部、背圧室導入通路１７６の一部およびロッド側通路１９１から下室２０に流れる。低周波中高速域ｘ３では、このように、油液Ｌがロッド側通路１９１から下室２０に流れることから、ピストン側通路４３の一部および背圧室導入通路１７６を介して背圧室１７１に導入される油液Ｌによる背圧室１７１の圧力上昇が抑えられる。これに対して、ピストン側通路４３から第１バルブ機構４１に加わる開弁方向の力が増大するため、上室１９からの油液Ｌは、ピストン側通路４３を通り、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２を開いて下室２０に流れる。その結果、低周波中高速域ｘ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｘ２よりも低くなる。

｛伸び行程において、ピストン周波数が上記の低周波数よりも高周波数であり、ピストン速度が第３所定値ｖ３よりも遅い高周波微低速域ｘ４｝
　この高周波微低速域ｘ４では、第１バルブ機構４１および第２バルブ機構２０１は開弁しない。そして、上室１９からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様に、ピストン側通路４３の一部および背圧室導入通路１７６を介して背圧室１７１に流れる。すると、周波数感応機構２１１の区画部材１１１がシール溝６８の底面側に移動および変形する。この高周波微低速域ｘ４では、ピストン周波数が高周波であってピストン１８のストロークが小さい。このため、上室１９から背圧室１７１に導入される油液Ｌが低周波微低速域ｘ１よりも少なくなる。よって、周波数感応機構２１１の区画部材１１１が限界近くまで変形することはなく、変形し易い（低ばね領域）。その結果、上室１９から背圧室１７１に導入される油液Ｌを区画部材１１１の移動および変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｘ４では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなるものの、同じピストン速度における減衰力が、低周波微低速域ｘ１よりも低くなり、ソフトな特性になる。

｛伸び行程において、ピストン周波数が上記の低周波数よりも高周波数であり、ピストン速度が第３所定値ｖ３以上の高周波低中高速域ｘ５｝
　この高周波低中高速域ｘ５では、上室１９からの油液Ｌは、高周波微低速域ｘ４と同様にして、周波数感応機構２１１の区画部材１１１をシール溝６８の底面側に移動および変形させる。高周波低中高速域ｘ５では、背圧室１７１に導入される油液Ｌが少ないため、区画部材１１１の変形によって背圧室１７１の圧力上昇が抑えられる。このため、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２への背圧室１７１からの付勢力が小さくなり、第１減衰バルブ５２が開弁し易くなる。よって、上室１９からの油液Ｌは、ピストン側通路４３を通り、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２を開いて下室２０に流れる。その結果、高周波低中高速域ｘ５ではピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波微低速域ｘ４よりも低くなる。また、高周波低中高速域ｘ５では、同じピストン速度における減衰力が、低周波低速域ｘ２および低周波中高速域ｘ３よりも低くなり、ソフトな特性になる。この高周波低中高速域ｘ５では、背圧室１７１の圧力上昇が抑えられるため、第２バルブ機構２０１は閉弁状態のままとなる。

｛縮み行程において、ピストン周波数が低周波数であり、ピストン速度が第４所定値ｖ４よりも遅い低周波微低速域ｙ１｝
　この低周波微低速域ｙ１では、第１バルブ機構４２および連通機構１８１は開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３において、外側通路穴８３，８４内の通路を介して可変室１７２に導入される。すると、周波数感応機構２１１の区画部材１１１がディスク５５側に移動し、変形する。この低周波微低速域ｙ１では、ピストン周波数が低周波数であってピストン１８が大きくストロークするため、ストロークの初期に、下室２０から可変室１７２に油液Ｌが多く導入される。このため、周波数感応機構２１１の区画部材１１１がディスク５５側に限界近くまで移動および変形し、変形しにくくなる（高ばね領域）。また、第１バルブ機構４１，４２および第２バルブ機構２０１のいずれにも、下室２０と上室１９とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｙ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなり、ハードな特性になる。

｛縮み行程において、ピストン周波数が低周波数であり、ピストン速度が第４所定値ｖ４以上であり第５所定値ｖ５よりも遅い低周波低速域ｙ２｝
　この低周波低速域ｙ２では、下室２０からの油液Ｌは、低周波微低速域ｙ１と同様に区画部材１１１をディスク５５側に限界近くまで移動および変形させた後、第２通路１８０から連通機構１８１を開弁させて背圧室１７１、背圧室導入通路１７６およびピストン側通路４３の一部を介して上室１９に流れる。その結果、低周波低速域ｙ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｙ１よりも低くなる。

｛縮み行程において、ピストン周波数が低周波数であり、ピストン速度が第５所定値ｖ５以上の低周波中高速域ｙ３｝
　この低周波中高速域ｙ３では、低周波低速域ｙ２と同様、下室２０からの油液Ｌは、第２通路１８０から連通機構１８１を開弁させて背圧室１７１、背圧室導入通路１７６およびピストン側通路４３の一部を介して上室１９に流れる。低周波低中高速域ｙ２では、これに加えて、下室２０からの油液Ｌが、ピストン側通路４４を通り、第１バルブ機構４２の第１減衰バルブ２３１を開いて上室１９に流れる。その結果、低周波中高速域ｙ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｙ２よりも低くなる。

｛縮み行程において、ピストン周波数が上記の低周波数よりも高周波数であり、ピストン速度が第６所定値ｖ６よりも遅い高周波微低速域ｙ４｝
　この高周波微低速域ｙ４では、第１バルブ機構４２および連通機構１８１は開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３において外側通路穴８３，８４内の通路を介して可変室１７２に導入される。すると、周波数感応機構２１１の区画部材１１１がディスク５５側に移動および変形する。この高周波微低速域ｙ４では、ピストン周波数が高周波であってピストン１８のストロークが小さいため、下室２０から可変室１７２に導入される油液Ｌが低周波微低速域ｙ１よりも少なくなる。このため、周波数感応機構２１１の区画部材１１１が限界近くまで変形することはなく、移動および変形し易い（低ばね領域）。その結果、下室２０から可変室１７２に導入される油液Ｌを区画部材１１１の移動および変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｙ４では、同じピストン速度での減衰力が、低周波微低速域ｙ１よりもソフトな特性になる。

｛縮み行程において、ピストン周波数が上記の低周波数よりも高周波数であり、ピストン速度が第６所定値ｖ６以上であり第７所定値ｖ７よりも遅い高周波低速域ｙ５｝
　この高周波低速域ｙ５では、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３から、連通機構１８１を開弁させて背圧室１７１、背圧室導入通路１７６およびピストン側通路４３の一部を介して上室１９に流れる。高周波低速域ｙ５では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が、高周波微低速域ｙ４よりも低くなる。また、高周波低速域ｙ５では、同じピストン速度での減衰力が低周波低速域ｙ２よりも低くソフトになる。

｛縮み行程において、ピストン周波数が上記の低周波数よりも高周波数であり、ピストン速度が第７所定値ｖ７以上である高周波中高速域ｙ６｝
　この高周波中高速域ｙ６では、高周波低速域ｙ５と同様、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３から、連通機構１８１を開弁させて背圧室１７１、背圧室導入通路１７６およびピストン側通路４３の一部を介して上室１９に流れる。高周波中高速域ｙ６では、それに加えて、下室２０からの油液Ｌは、ピストン側通路４４を通り、第１バルブ機構４２の第１減衰バルブ２３１を開いて上室１９に流れる。その結果、高周波中高速域ｙ６では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波低速域ｙ５よりも低くなる。また、高周波中高速域ｙ６では、同じピストン速度での減衰力が低周波中高速域ｙ３よりも低くソフトになる。

　なお、緩衝器１は、縮み行程においては、減衰バルブ機構２４７による減衰力特性も合わせた特性となる。

　上記した特許文献１，２には、緩衝器に設けられる減衰力発生機構であって、減衰力発生部材に閉弁方向に背圧を作用させるものが開示されている。また、特許文献１の減衰力発生機構には周波数感応機構が設けられている。ところで、減衰力発生機構において、大型化を抑制することが求められている。

　第１実施形態の減衰力発生機構１０は、パイロットケース５８と、周波数感応機構２１１と、第２通路１８０と、連通機構１８１とを有している。パイロットケース５８は、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１を形成している。周波数感応機構２１１は、パイロットケース５８の底部６５に設けられ背圧室１７１と下室２０とを結ぶ第１通路１７３に、第１通路１７３を弾性部材によりシールするシール部１１２，１１３を有する区画部材１１１が移動可能に設けられて、第１減衰バルブ５２への閉弁方向の付勢力を可変させる。第２通路１８０は、第１通路１７３と並列に設けられ、一側が背圧室１７１に連通可能である。連通機構１８１は、第２通路１８０の前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第２通路１８０の他側に連通可能となる。

　上記のように、減衰力発生機構１０は、背圧室１７１を形成するパイロットケース５８の底部６５に、背圧室１７１と下室２０とを結んで延びる第１通路１７３を設けている。そして、減衰力発生機構１０は、この第１通路１７３に、第１通路１７３をシール部１１２，１１３でシールする区画部材１１１を移動可能に設けた周波数感応機構２１１によって、第１減衰バルブ５２への閉弁方向の付勢力を可変させる。よって、減衰力発生機構１０は、周波数感応機構２１１を有していても、大型化を抑制することが可能となる。

　ここで、減衰力発生機構１０は、上記した縮み行程において、周波数感応機構２１１の区画部材１１１が、背圧室１７１を狭める方向に移動および弾性変形している。このため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、区画部材１１１が弾性変形状態から戻り、背圧室１７１を拡げる方向に移動する必要がある。その結果、減衰力発生機構１０に連通機構１８１が設けられていないと仮定すると、ピストン側通路４３の一部および背圧室導入通路１７６を介して行われる上室１９から背圧室１７１への油液Ｌの導入に時間がかかり、背圧室１７１の圧力を高めるのに時間がかかってしまう。すると、背圧室１７１の圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２の閉弁状態が不安定となってしまう。これにより、ピストン側通路４３から第１減衰バルブ５２を容易に開いて下室２０に油液Ｌが流れてしまい、縮み行程から伸び行程への行程反転時に減衰力の立ち上がりに遅れを生じてしまう。

　これに対して、減衰力発生機構１０は、連通機構１８１が設けられているため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、連通機構１８１が開弁して、縮み行程で上室１９よりも高圧となっている下室２０から第２通路１８０を介して背圧室１７１に油液Ｌを導入して、背圧室１７１の圧力を迅速に高めることができる。すると、背圧室１７１の圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２の閉弁状態が安定する。これにより、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０は、連通機構１８１で開閉される第２通路１８０が第１通路１７３よりも底部６５の内周側に配置されているため、径方向の大型化を抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０は、第１通路１７３を弾性部材によりシールするシール部１１２，１１３を有する区画部材１１１としてＯリングを用いているため、圧縮変形が大きい。このことから、連通機構１８１を設けることによる縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制する効果が高い。

［第２実施形態］
　次に、第２実施形態を、主に図５～図９に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

　図５に示すように、第２実施形態の減衰力発生機構１０Ａを含む緩衝器１Ａは、ピストンロッド２１とは一部異なるピストンロッド２１Ａをピストンロッド２１に代えて有している。ピストンロッド２１Ａは、主軸部２７とは一部異なる主軸部２７Ａを、主軸部２７に代えて有している。主軸部２７Ａは、径方向に延びる径方向溝２５１が形成された点が軸段部２９とは異なる軸段部２９Ａを軸段部２９に代えて有している。

　ピストンロッド２１Ａは、取付軸部２８とは一部異なる取付軸部２８Ａを取付軸部２８に代えて有している。取付軸部２８Ａは、径方向溝２５１と連通して軸方向に延びる軸方向溝２５２が通路溝３０に代えて形成された点が取付軸部２８とは異なっている。径方向溝２５１と軸方向溝２５２とが、軸段部２９Ａから取付軸部２８Ａの外周部にかけて連続して形成された通路溝３０Ａとなっている。取付軸部２８Ａには、取付軸部２８Ａの軸方向における通路溝３０Ａよりも主軸部２７Ａとは反対側の端部の外周部に、オネジ３１が形成されている。通路溝３０Ａは、軸段部２９に形成された径方向溝２５１が、上室１９に開口している。

　減衰力発生機構１０Ａは、減衰力発生機構１０に代えて緩衝器１Ａに設けられている。減衰力発生機構１０Ａは、ピストン１８に代えてピストン１８Ａを有している。ピストン１８Ａは、ピストン１８と同様、シリンダ２の内筒３内に摺動可能に嵌装されて内筒３内を上室１９および下室２０の２つの室に区画する。

　ピストン１８Ａは、ピストン本体３５Ａと摺動部材３６Ａとを有している。ピストン本体３５Ａは、金属製であって継ぎ目なく一体に形成されている。ピストン本体３５Ａは円環状であり、焼結によって形成されている。ピストン１８Ａは、ピストン本体３５Ａがピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａに嵌合する。摺動部材３６Ａは合成樹脂製であって円環状である。摺動部材３６Ａは、ピストン本体３５Ａの外周面に一体的に装着されている。ピストン１８Ａは、摺動部材３６Ａが内筒３に接触した状態で内筒３に対して摺動する。

　ピストン本体３５Ａは、本体ベース部２５６と本体筒状部２５７とを有している。本体ベース部２５６は有孔円板状である。本体筒状部２５７は、円筒状であり、本体ベース部２５６の外周部から本体ベース部２５６の軸方向に沿って一側に延出している。ピストン本体３５Ａは、本体ベース部２５６の内周部にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。

　ピストン本体３５Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における本体筒状部２５７側と本体筒状部２５７の内周側とが凹部２５８を形成している。凹部２５８は、ピストン本体３５Ａの軸方向の一端から、ピストン本体３５Ａの軸方向に沿って凹んでいる。よって、ピストン１８Ａは、径方向内側の所定の範囲に他の範囲よりも軸方向寸法を小さくする凹部２５８を有している。ピストン本体３５Ａは、本体ベース部２５６から本体筒状部２５７が、上室１９および下室２０のうちの下室２０側に延出している。摺動部材３６Ａは、本体ベース部２５６および本体筒状部２５７の両方の外周部にわたって装着されている。

　ピストン本体３５Ａの本体ベース部２５６には、通路穴３７Ａと通路溝３８Ａと通路穴３９Ａと通路溝４０Ａとが設けられている。
　通路穴３７Ａは、本体ベース部２５６を本体ベース部２５６の軸方向に貫通している。通路穴３７Ａは、本体ベース部２５６に、本体ベース部２５６の円周方向に間隔をあけて複数形成されている。

　通路穴３９Ａは、本体ベース部２５６を本体ベース部２５６の軸方向に貫通している。通路穴３９Ａは、本体ベース部２５６に、本体ベース部２５６の円周方向に間隔をあけて複数形成されている。本体ベース部２５６には、本体ベース部２５６の周方向において通路穴３７Ａと通路穴３９Ａとが一箇所ずつ交互に等ピッチで形成されている。

　通路溝３８Ａは、本体ベース部２５６に、本体ベース部２５６の円周方向に円環状をなして形成されている。通路溝３８Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における本体筒状部２５７側の一端部に形成されている。全ての通路穴３７Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における本体筒状部２５７側の端部が通路溝３８Ａに開口している。

　通路溝４０Ａは、本体ベース部２５６に、本体ベース部２５６の円周方向に円環状をなして形成されている。通路溝４０Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における本体筒状部２５７とは反対側の他端部に形成されている。全ての通路穴３９Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における本体筒状部２５７とは反対側の端部が通路溝４０Ａに開口している。

　複数の通路穴３７Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における通路溝３８Ａとは反対側の端部が、本体ベース部２５６の径方向における通路溝４０Ａよりも外側に開口している。複数の通路穴３９Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における通路溝４０Ａとは反対側の端部が、本体ベース部２５６の径方向における通路溝３８Ａよりも外側に開口している。ピストン１８Ａは、複数の通路穴３７Ａの内側と通路溝３８Ａの内側とがピストン側通路４３Ａとなっている。ピストン１８Ａは、複数の通路穴３９Ａの内側と通路溝４０Ａの内側とがピストン側通路４４Ａとなっている。

　減衰力発生機構１０Ａは、ピストン１８Ａのピストン側通路４３Ａに対して設けられるピストンバルブ機構２０１Ａを有している。ピストンバルブ機構２０１Ａは、ピストン側通路４３Ａを開閉して減衰力を発生させる。ピストンバルブ機構２０１Ａは、ピストン１８Ａの軸方向においてピストン１８Ａの下室２０側に設けられている。ピストン側通路４３Ａは、ピストン１８Ａの上室１９側への移動において上室１９から下室２０に向けて油液が流れ出す通路となる。言い換えれば、ピストン側通路４３Ａは、緩衝器１Ａの伸び行程において上室１９から下室２０に向けて油液が流れ出す伸び側の通路となる。ピストンバルブ機構２０１Ａは、ピストン側通路４３Ａの油液の流動を抑制して減衰力を発生させる伸び側の減衰力発生部である。

　減衰力発生機構１０Ａは、ピストン１８Ａのピストン側通路４４Ａに対して設けられる第１バルブ機構４２Ａを有している。第１バルブ機構４２Ａは、ピストン側通路４４Ａを開閉して減衰力を発生させる。第１バルブ機構４２Ａは、ピストン１８Ａの軸方向においてピストン１８Ａの上室１９側に設けられている。ピストン側通路４４Ａは、ピストン１８Ａの下室２０側への移動において下室２０から上室１９に向けて油液が流れ出す通路となる。言い換えれば、ピストン側通路４４Ａは、緩衝器１Ａの縮み行程において下室２０から上室１９に向けて油液が流れ出す、縮み側の通路となる。第１バルブ機構４２Ａは、ピストン側通路４４Ａの油液の流動を抑制して減衰力を発生させる縮み側の減衰力発生部となっている。

　本体ベース部２５６の軸方向の下室２０側の端部には、本体筒状部２５７よりも径方向内側に、内側シート部４６Ａおよびバルブシート部４７Ａが形成されている。内側シート部４６Ａは円環状である。バルブシート部４７Ａも円環状である。内側シート部４６Ａは、通路溝３８Ａの下室２０側の開口よりも本体ベース部２５６の径方向における内側に配置されている。バルブシート部４７Ａは、通路溝３８Ａの下室２０側の開口よりも本体ベース部２５６の径方向における外側に配置されている。バルブシート部４７Ａは、ピストンバルブ機構２０１Ａの一部を構成している。

　本体ベース部２５６の軸方向の上室１９側の端部、すなわちピストン本体３５Ａの軸方向の上室１９側の端部には、内側シート部４８Ａおよびバルブシート部４９Ａが形成されている。内側シート部４８Ａは円環状である。バルブシート部４９Ａも円環状である。内側シート部４８Ａは、通路溝４０Ａの上室１９側の開口よりも本体ベース部２５６の径方向における内側に配置されている。バルブシート部４９Ａは、通路溝４０Ａの上室１９側の開口よりも本体ベース部２５６の径方向における外側に配置されている。バルブシート部４９Ａは、第１バルブ機構４２Ａの一部を構成している。

　本体ベース部２５６には、本体ベース部２５６の径方向におけるバルブシート部４７Ａの通路溝３８Ａとは反対側に、全ての通路穴３９Ａ内の下室２０側の開口が配置されている。本体ベース部２５６には、本体ベース部２５６の径方向におけるバルブシート部４９Ａの通路溝４０Ａとは反対側に、全ての通路穴３７Ａの上室１９側の開口が配置されている。

　減衰力発生機構１０Ａは、本体ベース部２５６の軸方向における下室２０側に、複数枚、具体的には４枚のディスク２６０からなる減衰バルブ２６１を有している。減衰力発生機構１０Ａは、減衰バルブ２６１の軸方向における本体ベース部２５６とは反対側に、減衰バルブ２６１側から順に、一枚のディスク２６２と、一枚のディスク２６３と、一枚のディスク２６４と、一枚のディスク２６５と、を有している。ディスク２６０，２６２～２６５は、いずれも金属製であり、プレス成形により形成される。ディスク２６０，２６２～２６５は、いずれも一定厚さの有孔平板状である。ディスク２６０，２６２～２６５は、いずれも内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させている。

　減衰バルブ２６１は、全体として、軸方向に本体ベース部２５６から離れるほど、外径が小径となる。ピストン１８Ａは、内側シート部４６Ａおよびバルブシート部４７Ａが、減衰バルブ２６１の最も本体ベース部２５６側にあるディスク２６０に当接する。減衰バルブ２６１は、バルブシート部４７Ａに対して離着座することにより、ピストン１８Ａに設けられたピストン側通路４３Ａを開閉して減衰力を発生させる。減衰バルブ２６１は、伸び側のピストンバルブ機構２０１Ａを構成している。ピストンバルブ機構２０１Ａは、減衰バルブ２６１とバルブシート部４７Ａとの間には、ピストン側通路４３Ａを下室２０に常時連通させる固定オリフィスが設けられていない。

　ディスク２６２は、その外径が、減衰バルブ２６１を構成する複数枚のディスク２６０のうちの最小外径のものの外径よりも小径である。
　ディスク２６３は、その外径がディスク２６２の外径よりも大径である。
　ディスク２６４は、その外径がディスク２６３の外径と同等である。ディスク２６４には、その外周側に切欠２６７が形成されている。ディスク２６４には、図６に示すように、切欠２６７が、ディスク２６４の周方向に等間隔で複数、具体的には８箇所設けられている。

　図５に示すように、ディスク２６５は、その外径がディスク２６３，２６４の外径と同等である。ディスク２６５には、その径方向の中間位置に通路穴２６８が形成されている。通路穴２６８は、図７に示すように、ディスク２６５と同心の円弧状である。ディスク２６５には、通路穴２６８が、ディスク２６５の周方向に等間隔で複数、具体的には３箇所設けられている。図５に示すように、ディスク２６４，２６５の径方向において、切欠２６７の内側部分と通路穴２６８とが位置を合わせている。よって、切欠２６７と通路穴２６８とが連通する。

　減衰力発生機構１０Ａは、ピストン１８Ａの軸方向における上室１９側に、複数枚、具体的には３枚のディスク２２２Ａからなる第１減衰バルブ２３１Ａを有している。減衰力発生機構１０Ａは、第１減衰バルブ２３１Ａの軸方向におけるピストン１８Ａとは反対側に、一枚のディスク２２３Ａを有している。減衰力発生機構１０Ａは、ディスク２２３Ａの軸方向における第１減衰バルブ２３１Ａとは反対側に環状部材２２５Ａを有している。

　ディスク２２２Ａ，２２３Ａおよび環状部材２２５Ａは、いずれも金属製である。ディスク２２２Ａ，２２３Ａは、いずれも一定厚さの平板状であり、いずれも円環状である。環状部材２２５Ａは円環状である。ディスク２２２Ａ，２２３Ａおよび環状部材２２５Ａは、いずれも内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させている。

　第１減衰バルブ２３１Ａは、全体として、軸方向に本体ベース部２５６から離れるほど、外径が小径となる。
　ディスク２２３Ａの外径は、複数枚のディスク２２２Ａの最小外径のものの外径よりも小径となっている。環状部材２２５Ａの外径は、ディスク２２３Ａの外径よりも大径であり、複数枚のディスク２２２Ａの最小外径のものの外径よりも小径となっている。環状部材２２５Ａは、第１減衰バルブ２３１Ａを構成する各ディスク２２２Ａよりも厚さが厚く剛性が高くなっている。環状部材２２５Ａは、ピストンロッド２１Ａの軸段部２９Ａに当接する。

　ピストン１８Ａは、バルブシート部４９Ａが、第１減衰バルブ２３１Ａの軸方向における最も本体ベース部２５６側にあるディスク２２２Ａの外周側に当接する。第１減衰バルブ２３１Ａは、バルブシート部４９Ａに対して離着座することにより、ピストン１８Ａに設けられたピストン側通路４４Ａを開閉して減衰力を発生させる。第１減衰バルブ２３１Ａは、ピストン側通路４４Ａの一方である上室１９側の開口部を塞ぐ。第１減衰バルブ２３１Ａは、縮み側の第１バルブ機構４２Ａを構成している。第１バルブ機構４２Ａは、第１減衰バルブ２３１Ａとバルブシート部４９Ａとの間には、ピストン側通路４４Ａを上室１９に常時連通させる固定オリフィスが設けられていない。環状部材２２５Ａは、第１減衰バルブ２３１Ａの開方向への変形時に第１減衰バルブ２３１Ａに接触して第１減衰バルブ２３１Ａの規定以上の変形を抑制する。

　減衰力発生機構１０Ａは、ディスク２６５の軸方向におけるディスク２６４とは反対側に、パイロットケース５８Ａ（付勢力発生部材）を有している。パイロットケース５８Ａは、金属製であり、焼結により継ぎ目なく一体に成形されている。パイロットケース５８Ａは、有底筒状であり、底部６５Ａと、筒状部６６Ａとを有している。

　底部６５Ａは、有孔円板状であり、その内周部にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。筒状部６６Ａは、円筒状であり、底部６５Ａの外周部から底部６５Ａの軸方向に沿って一側に延出している。パイロットケース５８Ａは、筒状部６６Ａの軸方向における底部６５Ａとは反対側が開口部６７Ａとなっている。

　底部６５Ａは、底本体部７１Ａと、内側シート部７４Ａと、中間シート部３０４と、バルブシート部７５Ａとを有している。
　底本体部７１Ａは、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。
　内側シート部７４Ａ、中間シート部３０４およびバルブシート部７５Ａは、底本体部７１Ａの軸方向の筒状部６６Ａ側であって、底本体部７１Ａの径方向の筒状部６６Ａよりも内側に設けられている。内側シート部７４Ａ、中間シート部３０４およびバルブシート部７５Ａは、底本体部７１Ａから底本体部７１Ａの軸方向における筒状部６６Ａ側に突出している。

　内側シート部７４Ａは、底部６５Ａの内周側に設けられている。内側シート部７４Ａは、円環状である。

　中間シート部３０４は、底部６５Ａの径方向における内側シート部７４Ａよりも外側に設けられている。中間シート部３０４は、内側シート部７４Ａを囲む円環状である。中間シート部３０４には、中間シート部３０４を、中間シート部３０４の径方向に貫通する通路溝３１１が形成されている。中間シート部３０４には、通路溝３１１が、中間シート部３０４の周方向に等間隔で複数形成されている。

　バルブシート部７５Ａは、底部６５Ａの径方向における中間シート部３０４よりも外側に設けられている。バルブシート部７５Ａは、中間シート部３０４を囲む円環状である。

　底本体部７１Ａには、その軸方向の筒状部６６Ａとは反対側に、シール溝６８Ａが形成されている。シール溝６８Ａは、円環状であり、底本体部７１Ａの外周側に形成されている。底本体部７１Ａは、シール溝６８Ａの底面の径方向外側の部分から、底本体部７１Ａの軸方向に沿って貫通する外側通路穴８３Ａを有している。底本体部７１Ａには、外側通路穴８３Ａが周方向に等間隔で複数形成されている。外側通路穴８３Ａは、底本体部７１Ａの径方向における筒状部６６Ａとバルブシート部７５Ａとの間に開口している。

　底本体部７１Ａには、シール溝６８Ａよりも径方向内側で、底本体部７１Ａの軸方向に沿って貫通する内側通路穴８０Ａを有している。底本体部７１Ａには、底本体部７１Ａの周方向に等間隔で複数の内側通路穴８０Ａが設けられている。内側通路穴８０Ａは底本体部７１Ａの径方向における内側シート部７４Ａと中間シート部３０４との間に開口している。内側通路穴８０Ａは、パイロットケース５８Ａの径方向において外側通路穴８３Ａよりも内側にある。

　底本体部７１Ａには、その軸方向における筒状部６６Ａとは反対側に、内側通路穴８０Ａとシール溝６８Ａの開口側とを連通させる通路溝３２０が形成されている。

　パイロットケース５８Ａは、底本体部７１Ａの軸方向における筒状部６６Ａとは反対側の端部においてディスク２６５に当接する。その際に、ディスク２６５は、シール溝６８Ａの開口部を、その径方向の外側部分を除いて覆う。また、その際に、ディスク２６５は、通路穴２６８が、シール溝６８Ａの開口部の径方向の内側部分に連通する。

　減衰力発生機構１０Ａは、シール溝６８Ａ内に区画部材１１１Ａ（可動機構）を有している。区画部材１１１Ａは、全体として円環状であり、この円環の中心軸線を含む平面での断面が円形のＯリングである。区画部材１１１Ａは、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。区画部材１１１Ａは、シール溝６８Ａ内に嵌合している。区画部材１１１Ａは、その内周にあるシール部１１２Ａが、シール溝６８Ａの径方向内側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。区画部材１１１Ａは、その外周にあるシール部１１３Ａが、シール溝６８Ａの径方向外側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。区画部材１１１Ａは、シール溝６８Ａ内で区画部材１１１Ａの軸方向に移動する。区画部材１１１Ａは、シール溝６８Ａ内で区画部材１１１Ａの軸方向に弾性変形する。

　減衰力発生機構１０Ａは、パイロットケース５８Ａの軸方向における内側シート部７４Ａ側に、パイロットケース５８Ａの軸方向において内側シート部７４Ａ側から順に、一枚の開閉ディスク５７Ａと、一枚のディスク３２１と、一枚のディスク３２２と、一枚のディスク３２３と、複数枚、具体的には５枚のディスク３２４と、一枚の第１減衰バルブ５２Ａ（第一の減衰力発生部材）と、一枚のシート形成部材３２５と、を有している。

　開閉ディスク５７Ａ、ディスク３２１～３２４およびシート形成部材３２５は、いずれも金属製である。開閉ディスク５７Ａおよびディスク３２１～３２４は、いずれも、一定厚さの有孔の円形平板状であり、プレス成形により形成される。第１減衰バルブ５２Ａおよびシート形成部材３２５は、いずれも円環状である。第１減衰バルブ５２Ａ、開閉ディスク５７Ａ、ディスク３２１～３２４およびシート形成部材３２５は、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる。

　開閉ディスク５７Ａは、その外径が、パイロットケース５８Ａのバルブシート部７５Ａの外径よりも大径である。開閉ディスク５７Ａは、パイロットケース５８Ａの内側シート部７４Ａ、中間シート部３０４およびバルブシート部７５Ａに当接可能である。開閉ディスク５７は、バルブシート部７５Ａに着座することで複数の内側通路穴８０Ａ内の通路を閉塞する。開閉ディスク５７Ａは、バルブシート部７５Ａから離座することで複数の内側通路穴８０Ａ内の通路を開放する。開閉ディスク５７Ａには、取付軸部２８Ａに嵌合する内周縁部から、内側シート部７４Ａの範囲内で開閉ディスク５７Ａの径方向に延びる切欠１５１Ａが形成されている。

　ディスク３２１は、その外径が、開閉ディスク５７Ａの外径よりも小径であり、パイロットケース５８Ａの内側シート部７４Ａの外径よりも小径である。ディスク３２１は、開閉ディスク５７Ａの径方向における切欠１５１Ａの外端部を覆わない外径となっている。

　ディスク３２２は、その外径が、ディスク３２１の外径よりも大径となっている。ディスク３２２には、外周部に切欠３２７が形成されている。
　ディスク３２３は、その外径が、ディスク３２２の外径よりも小径である。
　ディスク３２４は、その外径が、ディスク３２３の外径よりも小径である。

　第１減衰バルブ５２Ａは、ディスク１３１Ａとシール部材１３２Ａとからなっている。
　ディスク１３１Ａは、金属製であり、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク１３１Ａは、プレス成形により形成される。ディスク１３１Ａは、内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａが嵌合される。

　シール部材１３２Ａは、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。シール部材１３２Ａは円環状をなしている。シール部材１３２Ａは、ディスク１３１Ａの外周側に固着されている。シール部材１３２Ａは、パイロットケース５８Ａの筒状部６６Ａの開口部６７Ａ側の内周面に全周にわたり嵌合している。シール部材１３２Ａは、筒状部６６Ａの内周面に対し軸方向に摺動可能である。シール部材１３２Ａは、第１減衰バルブ５２Ａと筒状部６６Ａとの隙間を常時シールする。パイロットケース５８Ａは、その開口部６７Ａに第１減衰バルブ５２Ａが配置されている。

　シート形成部材３２５は、金属製であり、円環状である。シート形成部材３２５は、焼結によって継ぎ目なく一体に形成されている。シート形成部材３２５は、部材本体部３３１と、内側シート部３３２と、バルブシート部３３３とを有している。

　部材本体部３３１は、有孔円板状であり、その内周部にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。
　内側シート部３３２は、部材本体部３３１の内周縁部から部材本体部３３１の軸方向一側に突出している。内側シート部３３２は、円環状である。内側シート部３３２には、その径方向に沿って内側シート部３３２を貫通する通路溝３３５が形成されている。通路溝３３５は、ピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａに連通している。

　バルブシート部３３３は、部材本体部３３１の外周側から部材本体部３３１の軸方向に突出している。バルブシート部３３３は内側シート部３３２を囲む円環状である。バルブシート部３３３は、部材本体部３３１の軸方向において、部材本体部３３１から内側シート部３３２と同側に突出している。

　シート形成部材３２５は、その軸方向において、内側シート部３３２およびバルブシート部３３３が、第１減衰バルブ５２Ａ側に位置する向きとされる。シート形成部材３２５の軸方向における第１減衰バルブ５２Ａとは反対側にナット２３５が当接する。

　第１減衰バルブ５２Ａは、ディスク１３１Ａの外径が、バルブシート部３３３の外径よりも大径となっている。第１減衰バルブ５２Ａは、ディスク１３１Ａがバルブシート部３３３に当接している。

　ピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａ内の通路と、シート形成部材３２５の通路溝３３５内の通路と、シート形成部材３２５の内側シート部３３２とバルブシート部３３３との間の通路とが、ロッド側通路３４１を構成している。第１減衰バルブ５２Ａは、ディスク１３１Ａがバルブシート部３３３に対して離間および当接することでロッド側通路３４１を開閉する。

　第１減衰バルブ５２Ａは、ロッド側通路３４１に設けられてピストン１８Ａの伸び側への摺動によって生じる油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生させる。第１減衰バルブ５２Ａは、シート形成部材３２５のバルブシート部３３３と共に第１バルブ機構４１Ａを構成している。第１減衰バルブ５２Ａは、そのディスク１３１Ａがバルブシート部３３３から離座して開く。すると、第１減衰バルブ５２Ａは、ロッド側通路３４１からの油液Ｌを、バルブシート部３３３との間を介して下室２０に流す。ロッド側通路３４１は、ピストン１８Ａの上室１９側への移動によって上室１９内の油液Ｌが流動する、伸び側の通路となる。ロッド側通路３４１は、伸び行程において、一方の上室１９から他方の下室２０に向けて作動流体としての油液Ｌが流れ出す。バルブシート部３３３と第１減衰バルブ５２Ａとからなる伸び側の第１バルブ機構４１Ａは、ロッド側通路３４１に設けられており、第１減衰バルブ５２Ａでこのロッド側通路３４１を開閉して油液Ｌの流動を抑制することにより減衰力を発生させる。

　伸び側の第１バルブ機構４１Ａは、バルブシート部３３３およびこれに当接する第１減衰バルブ５２Ａのいずれにも、これらが当接状態にあっても上室１９と下室２０とを連通させる固定オリフィスは形成されていない。すなわち、伸び側の第１バルブ機構４１Ａには、上室１９と下室２０とを常時連通させる固定オリフィスは形成されていない。ロッド側通路３４１は、伸び行程における油液Ｌの流れ方向の第１減衰バルブ５２Ａの上流側の通路となる。下室２０は、伸び行程における油液Ｌの流れ方向の第１減衰バルブ５２Ａの下流側となる。

　区画部材１１１Ａのシール部１１２Ａ，１１３Ａが、シール溝６８Ａの径方向内側および径方向外側それぞれの壁面に同時に圧接している。これにより、パイロットケース５８Ａと、第１減衰バルブ５２Ａと、開閉ディスク５７Ａと、ディスク３２１～３２４と、区画部材１１１Ａとで囲まれた部分が、背圧室１７１Ａとなる。背圧室１７１Ａは、開閉ディスク５７Ａの切欠１５１Ａ内の通路を介してピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａ内の通路と常時連通する。

　また、区画部材１１１Ａによって、シール溝６８Ａの区画部材１１１Ａとディスク２６５との間が、可変室１７２Ａとなる。可変室１７２Ａは、ディスク２６５の外周部とシール溝６８Ａとの間の通路を介して下室２０に常時連通している。可変室１７２Ａは、ディスク２６５の通路穴２６８およびディスク２６４の切欠２６７内の通路を介して下室２０に常時連通している。

　有底筒状のパイロットケース５８Ａは、その内側に、第１減衰バルブ５２Ａと開閉ディスク５７Ａとディスク３２１～３２４と区画部材１１１Ａとによって背圧室１７１Ａを形成する。区画部材１１１Ａは、パイロットケース５８Ａ内に設けられて、パイロットケース５８Ａ内を背圧室１７１Ａと可変室１７２Ａとに区画する。

　開閉ディスク５７Ａの切欠１５１Ａ内の通路が、ロッド側通路３４１から分岐して背圧室１７１Ａに連通する背圧室導入通路１７６Ａを構成している。背圧室導入通路１７６Ａは、ロッド側通路３４１を介して上室１９と背圧室１７１Ａとを連通させる。背圧室導入通路１７６Ａは、伸び行程において、背圧室１７１Ａに、ロッド側通路３４１を介して背圧室１７１Ａの上流側となる上室１９から油液Ｌを導入する。

　パイロットケース５８Ａの底部６５Ａに設けられた外側通路穴８３Ａ内の通路と、シール溝６８Ａ内の通路と、ディスク２６５の通路穴２６８およびディスク２６４の切欠２６７内の通路と、ディスク２６５の外周部とシール溝６８Ａとの間の通路とが、背圧室１７１Ａと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ａを構成している。この第１通路１７３Ａに、第１通路１７３Ａを弾性部材によりシールするシール部１１２Ａ，１１３Ａを有する区画部材１１１Ａが移動可能に設けられている。

　背圧室１７１Ａは、第１減衰バルブ５２Ａに、シート形成部材３２５の方向、つまりディスク１３１Ａをバルブシート部３３３に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。パイロットケース５８Ａは、有底筒状であって開口部６７Ａ側に配された第１減衰バルブ５２Ａに閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ａを形成している。

　パイロットケース５８Ａの複数の内側通路穴８０Ａ内および通路溝３２０内が第２通路１８０Ａとなっている。第２通路１８０Ａは可変室１７２Ａに連通している。開閉ディスク５７Ａは、第２通路１８０Ａと、背圧室１７１Ａとの間に開閉可能に設けられている。第２通路１８０Ａは、第１通路１７３Ａと並列に設けられている。第２通路１８０Ａは、パイロットケース５８Ａにおいて、第１通路１７３Ａよりも内周側に配置されている。開閉ディスク５７Ａは、パイロットケース５８Ａのバルブシート部７５Ａに当接する状態においては、背圧室１７１Ａと、第２通路１８０Ａおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を遮断する。また、開閉ディスク５７Ａは、バルブシート部７５Ａから離間する状態では、背圧室１７１Ａと、第２通路１８０Ａおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を許容する。

　ここで、開閉ディスク５７Ａは、第２通路１８０Ａおよび下室２０側の圧力が、背圧室１７１Ａ側の圧力よりも所定値以上高くなると、下室２０および第２通路１８０Ａから背圧室１７１Ａへの油液Ｌの流通を許容する。開閉ディスク５７Ａは、背圧室１７１Ａ側の圧力が第２通路１８０Ａおよび下室２０側の圧力よりも高い状態では、背圧室１７１Ａから第２通路１８０Ａを介しての下室２０への油液Ｌの流通を規制する。

　開閉ディスク５７Ａと、パイロットケース５８Ａのバルブシート部７５Ａとが、連通機構１８１Ａを構成している。第２通路１８０Ａは、一側が背圧室１７１Ａに連通可能である。連通機構１８１Ａは、第２通路１８０Ａの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ、第２通路１８０Ａの他側である下室２０側に連通可能である。言い換えれば、連通機構１８１Ａは、下室２０が下流側となるときは第２通路１８０Ａの他側である下室２０側に連通不可である。連通機構１８１Ａは、背圧室１７１Ａと可変室１７２Ａとの間で、第２通路１８０Ａを介しての背圧室１７１Ａ側から可変室１７２Ａ側への一方向の油液Ｌの流れを規制する。その一方で、連通機構１８１Ａは、可変室１７２Ａ側から背圧室１７１Ａ側への第２通路１８０Ａを介しての他方向の油液Ｌの流れを許容する。連通機構１８１Ａは、チェック弁であり、開閉ディスク５７Ａは、その弁部材である。

　連通機構１８１Ａは、上室１９、ロッド側通路３４１の一部、背圧室導入通路１７６Ａおよび背圧室１７１Ａから、第２通路１８０Ａおよび下室２０への油液Ｌの流れを規制する。連通機構１８１Ａは、下室２０および第２通路１８０Ａから、背圧室１７１Ａ、背圧室導入通路１７６Ａ、ロッド側通路３４１の一部および上室１９への油液Ｌの流れを許容する。

　パイロットケース５８Ａおよび区画部材１１１Ａは、ピストン周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応機構２１１Ａを構成している。周波数感応機構２１１Ａは、その区画部材１１１Ａが、ピストン１８Ａの往復動の周波数に応じて移動および変形して、上室１９に常時連通する背圧室１７１Ａの容量と、下室２０に常時連通する可変室１７２Ａの容量とを変化させる。周波数感応機構２１１Ａは、第１通路１７３Ａに移動可能に設けられた区画部材１１１Ａを有している。周波数感応機構２１１Ａは、背圧室１７１Ａによる第１減衰バルブ５２Ａへの付勢力を可変させる。

　伸び行程では、背圧室１７１Ａ側が下室２０側よりも高圧となる。すると、背圧室１７１Ａの圧力を受けて、区画部材１１１Ａが、シール溝６８Ａとのシール状態を維持しつつ、ディスク２６５側へ移動しディスク２６５に当接して圧縮変形する。これにより、背圧室１７１Ａの容積が拡大する。

　縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ａ側よりも高圧となる。すると、下室２０側と背圧室１７１Ａ側との差圧が所定値よりも低ければ、下室２０側の圧力を受けて、区画部材１１１Ａが、シール溝６８Ａとのシール状態を維持しつつ、シール溝６８Ａの底面側へ移動しこの底面に当接して圧縮変形する。これにより、可変室１７２Ａの容積が拡大する。また縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ａ側よりも所定値以上高圧になると、連通機構１８１Ａが開弁し、下室２０から背圧室１７１Ａへ第２通路１８０Ａを介して油液Ｌを流す。

　次に、減衰力発生機構１０Ａを含む緩衝器１Ａの作動について説明する。

｛伸び行程の低周波微低速域ｘ１｝
　低周波微低速域ｘ１では、第１バルブ機構４１Ａおよびピストンバルブ機構２０１Ａは開弁しない。そして、上室１９からの油液Ｌは、ロッド側通路３４１の一部および背圧室導入通路１７６Ａを介して背圧室１７１Ａに流れる。すると、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａがディスク２６５側に移動して変形する。この低周波微低速域ｘ１では、ストロークの初期に、上室１９から背圧室１７１Ａに油液Ｌが多く導入される。このため、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａがディスク２６５側に限界近くまで移動および変形して、その後は変形しにくくなる。また、第１バルブ機構４１Ａ，４２Ａおよびピストンバルブ機構２０１Ａのいずれにも、上室１９と下室２０とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｘ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなる。

｛伸び行程の低周波低速域ｘ２｝
　低周波低速域ｘ２では、上室１９からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様にして周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａをディスク２６５側に大きく移動および変形させる。その後、ロッド側通路３４１および背圧室導入通路１７６Ａを介する上室１９からの油液Ｌは、背圧室１７１Ａへ導入されにくくなる。低周波低速域ｘ２では、背圧室１７１Ａの圧力が低周波微低速域ｘ１よりも高圧となる。このため、低周波低速域ｘ２では、上室１９からの油液Ｌが、ピストン側通路４３Ａから、ピストンバルブ機構２０１Ａの減衰バルブ２６１を開弁させて下室２０に流れる。その結果、低周波低速域ｘ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｘ１よりも低くなる。この低周波低速域ｘ２では周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａが限界近くまで移動および変形しているため、背圧室１７１Ａの圧力が高圧となる。このため、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２Ａは、背圧室１７１Ａからの付勢力が大きく、よって開弁が制限される。

｛伸び行程の低周波中高速域ｘ３｝
　低周波中高速域ｘ３では、上室１９からの油液Ｌは、低周波低速域ｘ２と同様に、ピストンバルブ機構２０１Ａの減衰バルブ２６１を開弁させて、ピストン側通路４３Ａから下室２０に流れる。低周波中高速域ｘ３では、このように、油液Ｌがピストン側通路４３Ａから下室２０に流れることから、ロッド側通路３４１の一部および背圧室導入通路１７６Ａを介して背圧室１７１Ａに導入される油液Ｌによる背圧室１７１Ａの圧力上昇が抑えられる。これに対して、ロッド側通路３４１を通り、第１バルブ機構４１Ａに加わる開弁方向の力が増大するため、上室１９からの油液Ｌは、ロッド側通路３４１を通り、第１バルブ機構４１Ａの第１減衰バルブ５２Ａを開いて下室２０に流れる。その結果、低周波中高速域ｘ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｘ２よりも低くなる。

｛伸び行程の高周波微低速域ｘ４｝
　高周波微低速域ｘ４では、第１バルブ機構４１Ａおよびピストンバルブ機構２０１Ａは開弁しない。そして、上室１９からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様に、ロッド側通路３４１の一部および背圧室導入通路１７６Ａを介して背圧室１７１Ａに流れる。すると、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａがディスク２６５側に移動および変形する。この高周波微低速域ｘ４では、上室１９から背圧室１７１Ａに導入される油液Ｌが低周波微低速域ｘ１よりも少ない。よって、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａが限界近くまで変形することはなく、変形し易い。その結果、上室１９から背圧室１７１Ａに導入される油液Ｌを区画部材１１１Ａの移動および変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｘ４では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなるものの、同じピストン速度における減衰力が、低周波微低速域ｘ１よりも低くなり、ソフトな特性になる。

｛伸び行程の高周波低中高速域ｘ５｝
　高周波低中高速域ｘ５では、上室１９からの油液Ｌは、高周波微低速域ｘ４と同様にして、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａをディスク２６５側に移動および変形させる。高周波低中高速域ｘ５では、背圧室１７１Ａに導入される油液Ｌが少ないため、区画部材１１１Ａの変形によって背圧室１７１Ａの圧力上昇が抑えられる。このため、第１バルブ機構４１Ａの第１減衰バルブ５２Ａへの背圧室１７１Ａからの付勢力が小さくなり、第１減衰バルブ５２Ａが開弁し易くなる。よって、上室１９からの油液Ｌは、ロッド側通路３４１を通り、第１バルブ機構４１Ａの第１減衰バルブ５２Ａを開いて下室２０に流れる。その結果、高周波低中高速域ｘ５ではピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波微低速域ｘ４よりも低くなる。また、高周波低中高速域ｘ５では、同じピストン速度における減衰力が、低周波低速域ｘ２および低周波中高速域ｘ３よりも低くなり、ソフトな特性になる。この高周波低中高速域ｘ５では、ピストンバルブ機構２０１Ａは閉弁状態のままとなる。

｛縮み行程の低周波微低速域ｙ１｝
　低周波微低速域ｙ１では、第１バルブ機構４２Ａおよび連通機構１８１Ａは開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ａの可変室１７２Ａに導入される。すると、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａがシール溝６８Ａの底面側に移動し変形する。この低周波微低速域ｙ１では、ストロークの初期に、下室２０から可変室１７２Ａに油液Ｌが多く導入される。このため、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａがシール溝６８Ａの底面側に限界近くまで移動および変形し、変形しにくくなる。また、第１バルブ機構４１Ａ，４２Ａおよびピストンバルブ機構２０１Ａのいずれにも、下室２０と上室１９とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｙ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなり、ハードな特性になる。

｛縮み行程の低周波低速域ｙ２｝
　低周波低速域ｙ２では、下室２０からの油液Ｌは、低周波微低速域ｙ１と同様に区画部材１１１Ａをシール溝６８Ａの底面側に限界近くまで移動および変形させた後、第２通路１８０Ａから連通機構１８１Ａを開弁させて背圧室１７１Ａ、背圧室導入通路１７６Ａおよびロッド側通路３４１の一部を介して上室１９に流れる。その結果、低周波低速域ｙ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｙ１よりも低くなる。

｛縮み行程の低周波中高速域ｙ３｝
　低周波中高速域ｙ３では、低周波低速域ｙ２と同様、下室２０からの油液Ｌは、第２通路１８０Ａから連通機構１８１Ａを開弁させて背圧室１７１Ａ、背圧室導入通路１７６Ａおよびロッド側通路３４１の一部を介して上室１９に流れる。低周波低中高速域ｙ２では、これに加えて、下室２０からの油液Ｌが、ピストン側通路４４を通り、第１バルブ機構４２Ａの第１減衰バルブ２３１Ａを開いて上室１９に流れる。その結果、低周波中高速域ｙ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｙ２よりも低くなる。

｛縮み行程の高周波微低速域ｙ４｝
　高周波微低速域ｙ４では、第１バルブ機構４２Ａおよび連通機構１８１Ａは開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、可変室１７２Ａに導入される。すると、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａがシール溝６８Ａの底面側に移動して変形する。この高周波微低速域ｙ４では、ピストン周波数が高周波であってピストン１８Ａのストロークが小さいため、下室２０から可変室１７２Ａに導入される油液Ｌが低周波微低速域ｙ１よりも少なくなる。このため、周波数感応機構２１１Ａの区画部材１１１Ａが限界近くまで変形することはなく、移動および変形し易い。その結果、下室２０から可変室１７２Ａに導入される油液Ｌを区画部材１１１Ａの移動および変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｙ４では、同じピストン速度での減衰力が、低周波微低速域ｙ１よりもソフトな特性になる。

｛縮み行程の高周波低速域ｙ５｝
　高周波低速域ｙ５では、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ａから、連通機構１８１Ａを開弁させて背圧室１７１Ａ、背圧室導入通路１７６Ａおよびロッド側通路３４１の一部を介して上室１９に流れる。高周波低速域ｙ５では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波微低速域ｙ４よりも低くなる。また、高周波低速域ｙ５では、同じピストン速度での減衰力が低周波低速域ｙ２よりも低くソフトになる。

｛縮み行程の高周波中高速域ｙ６｝
　高周波中高速域ｙ６では、高周波低速域ｙ５と同様、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ａから、連通機構１８１Ａを開弁させて背圧室１７１Ａ、背圧室導入通路１７６Ａおよびロッド側通路３４１の一部を介して上室１９に流れる。高周波中高速域ｙ６では、それに加えて、下室２０からの油液Ｌは、ピストン側通路４４Ａを通り、第１バルブ機構４２Ａの第１減衰バルブ２３１Ａを開いて上室１９に流れる。その結果、高周波中高速域ｙ６では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波低速域ｙ５よりも低くなる。また、高周波中高速域ｙ６では、同じピストン速度での減衰力が低周波中高速域ｙ３よりも低くソフトになる。

　第２実施形態の減衰力発生機構１０Ａは、パイロットケース５８Ａと、周波数感応機構２１１Ａと、第２通路１８０Ａと、連通機構１８１Ａとを有している。パイロットケース５８Ａは、有底筒状であって開口部６７Ａ側に配された第１減衰バルブ５２Ａに閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ａを形成している。周波数感応機構２１１Ａは、パイロットケース５８Ａの底部６５Ａに設けられて背圧室１７１Ａと下室２０とを結ぶ第１通路１７３Ａに、第１通路１７３Ａを弾性部材によりシールするシール部１１２Ａ，１１３Ａを有する区画部材１１１Ａが移動可能に設けられて、第１減衰バルブ５２Ａへの閉弁方向の付勢力を可変させる。第２通路１８０Ａは、第１通路１７３Ａとは並列に設けられ、一側が背圧室１７１Ａに連通可能である。連通機構１８１Ａは、第２通路１８０Ａの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第２通路１８０Ａの他側に連通可能となる。

　上記のように減衰力発生機構１０Ａは、背圧室１７１Ａを形成するパイロットケース５８Ａの底部６５Ａに、背圧室１７１Ａと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ａを設けている。そして、減衰力発生機構１０Ａは、この第１通路１７３Ａに、第１通路１７３Ａをシール部１１２Ａ，１１３Ａでシールする区画部材１１１Ａを移動可能に設けた周波数感応機構２１１Ａによって、第１減衰バルブ５２Ａへの閉弁方向の付勢力を可変させる。よって、減衰力発生機構１０Ａは、周波数感応機構２１１Ａを有していても、大型化を抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ａは、連通機構１８１Ａが設けられているため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、連通機構１８１Ａが開弁して、縮み行程で上室１９よりも高圧となっている下室２０から第２通路１８０Ａを介して背圧室１７１Ａに油液Ｌを導入して、背圧室１７１Ａの圧力を迅速に高めることができる。すると、背圧室１７１Ａの圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２Ａの閉弁状態が安定する。これにより、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ａは、連通機構１８１Ａで開閉される第２通路１８０Ａが第１通路１７３Ａよりも底部６５Ａの内周側に配置されているため、径方向の大型化を抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ａは、第１通路１７３Ａを弾性部材によりシールするシール部１１２Ａ，１１３Ａを有する区画部材１１１ＡとしてＯリングを用いているため、圧縮変形が大きい。このことから、連通機構１８１Ａを設けることによる、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制する効果が高い。

　なお、減衰力発生機構１０Ａにおいて、図８に示すように、ディスク２６４，２６５に代えて、焼結製のディスク２６４Ａを設けても良い。ディスク２６４Ａは、ディスク２６４と同等の外径となっている。ディスク２６４Ａには、図９に示すように外周部に切欠２６７Ａが形成されている。ディスク２６４Ａには、その周方向に等間隔で切欠２６７Ａが複数設けられている。ディスク２６４Ａの複数の切欠２６７Ａ内の通路が、可変室１７２Ａと下室２０とを連通させる。この場合、ディスク２６３を複数枚にして剛性を確保することも可能である。

［第３実施形態］
　次に、第３実施形態を主に図１０～図１２に基づいて第２実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第２実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

　図１０に示すように、第３実施形態の減衰力発生機構１０Ｂを含む緩衝器１Ｂは、その減衰力発生機構１０Ｂの一部の構成が減衰力発生機構１０Ａとは異なっている。減衰力発生機構１０Ｂは、ピストンロッド２１Ａの軸方向におけるディスク２６２とナット２３５との間の構成が、減衰力発生機構１０Ａとは異なっている。

　減衰力発生機構１０Ｂは、ピストンロッド２１Ａの軸方向においてディスク２６２側から順に、シート形成部材３５１と、第１減衰バルブ５２Ｂ（第一の減衰力発生部材）とを有している。

　シート形成部材３５１は、金属製であり、焼結により全体が継ぎ目なく一体に成形されている。シート形成部材３５１は、胴部３５２と、フランジ部３５３と、内側シート部３５４と、中間シート部３５５と、バルブシート部３５６とを有している。

　胴部３５２は、円筒状であり、その内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。

　フランジ部３５３は、胴部３５２の軸方向における一端側から胴部３５２の径方向における外側に広がっている。フランジ部３５３は、円板状である。

　内側シート部３５４は、胴部３５２の軸方向におけるフランジ部３５３と同側の端部の内周側から、胴部３５２の軸方向に沿って突出している。内側シート部３５４は、円環状である。

　中間シート部３５５は、胴部３５２とフランジ部３５３との境界近傍から、胴部３５２およびフランジ部３５３の軸方向において内側シート部３５４と同側に突出している。中間シート部３５５は、内側シート部３５４を径方向外側で囲む円環状である。

　バルブシート部３５６は、フランジ部３５３の外周部からフランジ部３５３の軸方向において中間シート部３５５と同側に突出している。バルブシート部３５６は、中間シート部３５５を径方向外側で囲む円環状である。

　シート形成部材３５１には、内側シート部３５４と、中間シート部３５５と、胴部３５２およびフランジ部３５３の軸方向における内側シート部３５４および中間シート部３５５側の端部とに、通路溝３５８が形成されている。通路溝３５８は、内側シート部３５４と中間シート部３５５とを、これらの径方向に貫通している。通路溝３５８は、ピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａに連通している。
　シート形成部材３５１は、胴部３５２の軸方向におけるフランジ部３５３とは反対側の端部においてディスク２６２に当接している。

　第１減衰バルブ５２Ｂは、金属製であり、一定厚さの有孔の円形平板状である。第１減衰バルブ５２Ｂは、プレス成形により形成される。第１減衰バルブ５２Ｂは、その内側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。第１減衰バルブ５２Ｂは、その外径が、バルブシート部３５６の外径と同等である。第１減衰バルブ５２Ｂは、バルブシート部３５６に対して離着座することで、バルブシート部３５６との間の通路を開閉する。

　減衰力発生機構１０Ｂは、第１減衰バルブ５２Ｂの軸方向におけるシート形成部材３５１とは反対側に、ケース部材３６０と、押圧部材３６１とを有している。
　ケース部材３６０は、金属製であり、焼結により全体が継ぎ目なく一体に成形されている。ケース部材３６０は、有底筒状であり、底部３６５と、筒状部３６６とを有している。

　底部３６５は、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。
　筒状部３６６は、円筒状であり、底部３６５の外周部から底部３６５の軸方向に沿って一側に延出している。ケース部材３６０は、筒状部３６６の軸方向における底部３６５とは反対側が開口部３６７となっている。

　底部３６５は、底本体部３７１と、一側シート部３７２と、他側シート部３７３とを有している。
　底本体部３７１は、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａを嵌合させる。底本体部３７１には、外周部に円環状の環状溝３７５が形成されている。底本体部３７１には、底本体部３７１を軸方向に貫通する通路穴３７６が形成されている。通路穴３７６は、底本体部３７１の径方向において環状溝３７５よりも内側にある。

　一側シート部３７２は、底本体部３７１の軸方向における筒状部３６６とは反対側の端部の内周側から、底本体部３７１の軸方向に沿って筒状部３６６とは反対側に突出している。一側シート部３７２は、円環状である。ケース部材３６０は、一側シート部３７２において第１減衰バルブ５２Ｂの内周側に当接する。

　一側シート部３７２は、大径部３８１と小径部３８２とを有している。一側シート部３７２の軸方向において、大径部３８１は小径部３８２よりも底本体部３７１側にある。大径部３８１は、その外径が、小径部３８２の外径よりも大径となっている。一側シート部３７２の小径部３８２の軸方向における大径部３８１とは反対側の端部には、通路溝３８３が形成されている。通路溝３８３は、小径部３８２を、小径部３８２の径方向に貫通している。通路溝３８３は、ピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａに連通する。

　他側シート部３７３は、底本体部３７１の軸方向における筒状部３６６側の端部の内周側から、底本体部３７１の軸方向に沿って筒状部３６６と同側に突出している。他側シート部３７３は、円環状である。
　底本体部３７１の通路穴３７６は、底本体部３７１の径方向において、一側シート部３７２よりも径方向外側であって、他側シート部３７３と筒状部３６６との間に設けられている。

　押圧部材３６１は、円筒状部３９１と、内側突出部３９２とを有している。円筒状部３９１は円筒状である。内側突出部３９２は、円筒状部３９１の軸方向における一端から円筒状部３９１の径方向における内側に広がっている。内側突出部３９２は、円環状である。

　押圧部材３６１は、その軸方向において内側突出部３９２が円筒状部３９１よりも第１減衰バルブ５２Ｂ側に位置する状態で、円筒状部３９１が、ケース部材３６０の底本体部３７１の外周部に嵌合する。押圧部材３６１は、ケース部材３６０に対して軸方向に摺動可能である。押圧部材３６１は、その軸方向における内側突出部３９２側の端部において第１減衰バルブ５２Ｂの外周側に当接する。

　減衰力発生機構１０Ｂは、バネ部材４０１と、シール部材４０２とを有している。
　バネ部材４０１は、金属製の板材からなっており、プレス成形により形成される。バネ部材４０１は、有孔円板状の基板部４０５と、基板部４０５から基板部４０５の径方向における外側に延出するバネ板部４０６とを有している。バネ部材４０１には、基板部４０５の周方向に等間隔で複数のバネ板部４０６が設けられている。

　バネ部材４０１は、基板部４０５が、その内周側にケース部材３６０の一側シート部３７２の小径部３８２を嵌合させつつ大径部３８１の軸方向における小径部３８２側の端面に載置される。バネ部材４０１は、複数のバネ板部４０６が押圧部材３６１の内側突出部３９２の軸方向における第１減衰バルブ５２Ｂとは反対側の端面に当接する。バネ部材４０１は、この状態で複数のバネ板部４０６が、弾性変形し押圧部材３６１を介して第１減衰バルブ５２Ｂをバルブシート部３５６側に付勢してバルブシート部３５６に押し付ける。

　シール部材４０２は、円環状であり、ケース部材３６０の環状溝３７５に嵌合される。シール部材４０２は、シール性を有する弾性材料、具体的にはゴム製となっている。シール部材４０２は、Ｏリングであり、底本体部３７１と押圧部材３６１の円筒状部３９１との隙間を常時シールする。

　減衰力発生機構１０Ｂは、ケース部材３６０の軸方向における第１減衰バルブ５２Ｂとは反対側に、それぞれの内側に取付軸部２８Ａを嵌合させた状態で、他側シート部３７３側から順に、開閉ディスク５７Ｂと、区画部材１１１Ｂ（可動機構）と、ストッパ部材４１１とを有している。ストッパ部材４１１には、その軸方向における区画部材１１１Ｂとは反対側の端面にナット２３５が当接する。

　区画部材１１１Ｂは、図１１にも示すように、ディスク４２１とパッキン４２２とからなっている。
　ディスク４２１は、金属製であり、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク４２１は、プレス成形により形成されている。ディスク４２１は、内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａが嵌合される。ディスク４２１には、径方向の中間部に通路穴４２５が形成されている。通路穴４２５は、ディスク４２１をディスク４２１の軸方向に貫通している。ディスク４２１には、ディスク４２１の周方向に等間隔で複数の通路穴４２５が形成されている。

　パッキン４２２は、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。パッキン４２２は円環状をなしている。パッキン４２２はディスク４２１の外周側に固着されている。パッキン４２２は、ケース部材３６０の筒状部３６６の内周面に全周にわたり嵌合する。その際に、パッキン４２２は、その外周部のシール部１１２Ｂにおいて筒状部３６６の内周面に接触する。パッキン４２２は、筒状部３６６の内周面に対し軸方向に摺動可能である。パッキン４２２は、区画部材１１１Ｂと筒状部３６６との隙間を常時シールする。ディスク４２１の通路穴４２５は、ディスク４２１の径方向においてパッキン４２２よりも内側に配置されている。

　開閉ディスク５７Ｂは、金属製である。開閉ディスク５７Ｂは、一定厚さの有孔の円形平板状であり、プレス成形により形成されている。開閉ディスク５７Ｂは、区画部材１１１Ｂのディスク４２１に当接して複数の通路穴４２５内の通路を閉塞する。開閉ディスク５７Ｂは、区画部材１１１Ｂのディスク４２１から離れることで複数の通路穴４２５内の通路を開放する。

　ストッパ部材４１１は、金属製であり、有孔の円板状である。ストッパ部材４１１は、その内周側にピストンロッド２１Ａの取付軸部２８Ａが嵌合される。ストッパ部材４１１には、その軸方向における区画部材１１１Ｂ側の径方向の中間位置にテーパ部４１２が設けられている。テーパ部４１２は、ストッパ部材４１１の径方向における外側ほど、ストッパ部材４１１の軸方向において区画部材１１１Ｂのディスク４２１から離れる。ストッパ部材４１１には、テーパ部４１２の径方向の中間位置に通路穴４３１が形成されている。通路穴４３１は、ストッパ部材４１１をストッパ部材４１１の軸方向に貫通している。区画部材１１１Ｂは、ストッパ部材４１１側に変形してディスク４２１がテーパ部４１２に当接すると、それ以上の変形、すなわち移動が規制される。

　ストッパ部材４１１は、ケース部材３６０の筒状部３６６の開口部３６７を覆うように設けられている。ストッパ部材４１１は、その外径が、ケース部材３６０の筒状部３６６の内径よりも小径となっている。ストッパ部材４１１の軸方向における区画部材１１１Ｂとは反対側にナット２３５が当接する。

　図１０に示すように、減衰力発生機構１０Ｂは、ケース部材３６０と、押圧部材３６１と、バネ部材４０１と、シール部材４０２と、ストッパ部材４１１とが、パイロットケース５８Ｂ（付勢力発生部材）を構成している。パイロットケース５８Ｂは、ケース部材３６０の底本体部３７１、他側シート部３７３および筒状部３６６と、ストッパ部材４１１とが、底部６５Ｂとなっている。パイロットケース５８Ｂは、その軸方向において押圧部材３６１のケース部材３６０の底本体部３７１よりもストッパ部材４１１とは反対側に延出する部分が、筒状部６６Ｂとなっている。パイロットケース５８Ｂは、筒状部６６Ｂの軸方向における底部６５Ｂとは反対側が開口部６７Ｂとなっている。

　パイロットケース５８Ｂには、その底部６５Ｂの内部にテーパ部４１２が設けられている。また、パイロットケース５８Ｂの通路穴４３１内の通路は、テーパ部４１２と底部６５Ｂの外底側との間に設けられて常時下室２０に連通可能となっている。

　ピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａ内の通路と、シート形成部材３５１の通路溝３５８内の通路と、シート形成部材３５１の内側シート部３５４と中間シート部３５５との間の通路と、シート形成部材３５１の中間シート部３５５とバルブシート部３５６との間の通路とが、ロッド側通路３４１Ｂを構成している。
　第１減衰バルブ５２Ｂは、バルブシート部３５６に対して離間および当接することでロッド側通路３４１Ｂを開閉する。

　第１減衰バルブ５２Ｂは、ロッド側通路３４１Ｂに設けられてピストン１８Ａの伸び側への摺動によって生じる油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生させる。第１減衰バルブ５２Ｂは、シート形成部材３５１のバルブシート部３５６と共に第１バルブ機構４１Ｂを構成している。第１減衰バルブ５２Ｂは、バルブシート部３５６から離座して開く。すると、第１減衰バルブ５２Ｂは、ロッド側通路３４１Ｂからの油液Ｌを、バルブシート部３５６との間を介して下室２０に流す。ロッド側通路３４１Ｂは、ピストン１８Ａの上室１９側への移動によって上室１９内の油液Ｌが流動する伸び側の通路となる。ロッド側通路３４１Ｂは、伸び行程において、一方の上室１９から他方の下室２０に向けて作動流体としての油液Ｌが流れ出す伸び側の通路となる。バルブシート部３５６と第１減衰バルブ５２Ｂとからなる伸び側の第１バルブ機構４１Ｂは、ロッド側通路３４１Ｂに設けられており、第１減衰バルブ５２Ｂでこのロッド側通路３４１Ｂを開閉して油液Ｌの流動を抑制することにより減衰力を発生させる。

　伸び側の第１バルブ機構４１Ｂは、バルブシート部３５６およびこれに当接する第１減衰バルブ５２Ｂのいずれにも、これらが当接状態にあっても上室１９と下室２０とを連通させる固定オリフィスが形成されていない。すなわち、伸び側の第１バルブ機構４１Ｂには、上室１９と下室２０とを常時連通させる固定オリフィスが形成されていない。ロッド側通路３４１Ｂは、伸び行程における油液Ｌの流れ方向の第１減衰バルブ５２Ｂの上流側の通路となる。下室２０は、伸び行程における油液Ｌの流れ方向の第１減衰バルブ５２Ｂの下流側となる。

　区画部材１１１Ｂのシール部１１２Ｂが、ケース部材３６０の筒状部３６６の内周面に全周にわたって圧接している。これにより、第１減衰バルブ５２Ｂと、ケース部材３６０と、押圧部材３６１と、シール部材４０２と、開閉ディスク５７Ｂと、区画部材１１１Ｂとで囲まれた部分が、背圧室１７１Ｂとなる。背圧室１７１Ｂは、パイロットケース５８Ｂの通路溝３８３内の通路を介してピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａ内の通路と常時連通する。

　また、区画部材１１１Ｂとストッパ部材４１１とで囲まれた部分が、可変室１７２Ｂとなる。可変室１７２Ｂは、ストッパ部材４１１の通路穴４３１内の通路を介して下室２０に常時連通している。

　有底筒状のパイロットケース５８Ｂは、その内側に、第１減衰バルブ５２Ｂと開閉ディスク５７Ｂと区画部材１１１Ｂとによって背圧室１７１Ｂを形成する。区画部材１１１Ｂは、パイロットケース５８Ｂ内に設けられて、パイロットケース５８Ｂ内を背圧室１７１Ｂと可変室１７２Ｂとに区画する。

　ピストンロッド２１Ａの通路溝３０Ａ内の通路とパイロットケース５８Ｂの通路溝３８３内の通路とが、ロッド側通路３４１Ｂから分岐して背圧室１７１Ｂに連通する背圧室導入通路１７６Ｂを構成している。背圧室導入通路１７６Ｂは、ロッド側通路３４１Ｂを介して上室１９と背圧室１７１Ｂとを連通させる。背圧室導入通路１７６Ｂは、伸び行程において、背圧室１７１Ｂに、背圧室１７１Ｂの上流側となる上室１９から油液Ｌを導入する。

　ストッパ部材４１１の通路穴４３１内の通路と、可変室１７２Ｂと、区画部材１１１Ｂの通路穴４２５内の通路とが、背圧室１７１Ｂと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｂを構成している。この第１通路１７３Ｂに、第１通路１７３Ｂを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｂを有する区画部材１１１Ｂが移動可能に設けられている。

　背圧室１７１Ｂは、第１減衰バルブ５２Ｂに、シート形成部材３５１の方向、つまり第１減衰バルブ５２Ｂをバルブシート部３５６に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。パイロットケース５８Ｂは、有底筒状であって開口部６７Ｂ側に配された第１減衰バルブ５２Ｂに閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｂを形成している。

　開閉ディスク５７Ｂは、第１通路１７３Ｂと、背圧室１７１Ｂとの間に開閉可能に設けられている。開閉ディスク５７Ｂは、区画部材１１１Ｂのディスク４２１に面接触で当接する状態においては、背圧室１７１Ｂと、第１通路１７３Ｂおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を遮断する。また、開閉ディスク５７Ｂは、区画部材１１１Ｂのディスク４２１から離間する状態では、背圧室１７１Ｂと、第１通路１７３Ｂおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を許容する。

　ここで、開閉ディスク５７Ｂは、下室２０側の圧力が、背圧室１７１Ｂ側の圧力よりも所定値以上高くなると、下室２０から第１通路１７３Ｂを介して背圧室１７１Ｂへの油液Ｌの流通を許容する。開閉ディスク５７Ｂは、背圧室１７１Ｂ側の圧力が下室２０側の圧力よりも高い状態では、背圧室１７１Ｂから第１通路１７３Ｂを介しての下室２０への油液Ｌの流通を規制する。

　開閉ディスク５７Ｂと、区画部材１１１Ｂの通路穴４２５を含むディスク４２１とが、連通機構１８１Ｂを構成している。第１通路１７３Ｂは、一側が背圧室１７１Ｂに連通可能である。連通機構１８１Ｂは、第１通路１７３Ｂの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第１通路１７３Ｂの他側である下室２０側に連通可能である。言い換えれば、連通機構１８１Ｂは、下室２０が下流側となるときは、第１通路１７３Ｂの他側である下室２０側に連通不可である。連通機構１８１Ｂは、背圧室１７１Ｂと可変室１７２Ｂとの間で、背圧室１７１Ｂ側から可変室１７２Ｂ側への一方向の油液Ｌの流れを規制する。その一方で、連通機構１８１Ｂは、可変室１７２Ｂ側から背圧室１７１Ｂ側への他方向の油液Ｌの流れを許容する。連通機構１８１Ｂは、チェック弁であり、開閉ディスク５７Ｂは、その弁部材である。

　区画部材１１１Ｂは、通路穴４２５を有するディスク４２１と、パッキン４２２とを有している。開閉ディスク５７Ｂは通路穴４２５を閉塞可能である。開閉ディスク５７Ｂは、第１通路１７３Ｂが下室２０から背圧室１７１Ｂに油液Ｌを流すときに開弁する。第１通路１７３Ｂは、背圧室１７１Ｂと下室２０とを結んで設けられて区画部材１１１Ｂが設けられている。区画部材１１１Ｂが設けられる第１通路１７３Ｂは、その一側が背圧室１７１Ｂに連通可能であって、前記一側にあって下室２０側が上流側となるときのみに他側に連通可能となる連通機構１８１Ｂが設けられる通路を兼ねている。

　連通機構１８１Ｂは、上室１９、ロッド側通路３４１Ｂ、背圧室導入通路１７６Ｂおよび背圧室１７１Ｂから第１通路１７３Ｂを介しての下室２０への油液Ｌの流れを規制する。連通機構１８１Ｂは、下室２０から、第１通路１７３Ｂを介しての背圧室１７１Ｂ、背圧室導入通路１７６Ｂ、ロッド側通路３４１Ｂおよび上室１９への油液Ｌの流れを許容する。

　パイロットケース５８Ｂおよび区画部材１１１Ｂは、ピストン周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応機構２１１Ｂを構成している。周波数感応機構２１１Ｂは、その区画部材１１１Ｂが、ピストン１８Ａの往復動の周波数に応じて移動および変形して、上室１９に常時連通する背圧室１７１Ｂの容量と、下室２０に常時連通する可変室１７２Ｂの容量とを変化させる。周波数感応機構２１１Ｂは、第１通路１７３Ｂに移動可能に設けられた区画部材１１１Ｂを有している。周波数感応機構２１１Ｂは、背圧室１７１Ｂによる第１減衰バルブ５２Ｂへの付勢力を可変させる。

　伸び行程では、背圧室１７１Ｂと下室２０との差圧は、背圧室１７１Ｂ側が下室２０側よりも高圧となる。すると、背圧室１７１Ｂの圧力を受けて、区画部材１１１Ｂが、筒状部３６６とのシール状態を維持しつつ、開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１側へ変形しつつ移動する。これにより、背圧室１７１Ｂの容積が拡大する。

　縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｂ側よりも高圧となる。すると、下室２０側と背圧室１７１Ｂ側との差圧が所定値よりも低ければ、下室２０側の圧力を受けて、区画部材１１１Ｂが、筒状部３６６とのシール状態を維持しつつ、開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１とは反対側へ変形しつつ移動する。これにより、可変室１７２Ｂの容積が拡大する。また縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｂ側よりも所定値以上高圧になると、連通機構１８１Ｂが開弁し、下室２０から背圧室１７１Ｂへ油液Ｌを流す。

　次に、減衰力発生機構１０Ｂを含む緩衝器１Ｂの作動について説明する。

｛伸び行程の低周波微低速域ｘ１｝
　低周波微低速域ｘ１では、第１バルブ機構４１Ｂおよびピストンバルブ機構２０１Ａは開弁しない。そして、上室１９からの油液Ｌは、ロッド側通路３４１Ｂおよび背圧室導入通路１７６Ｂを介して背圧室１７１Ｂに流れる。すると、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１側に変形する。この低周波微低速域ｘ１では、ストロークの初期に、上室１９から背圧室１７１Ｂに油液Ｌが多く導入される。このため、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１側に限界近くまで変形して、その後は変形しにくくなる。また、第１バルブ機構４１Ｂ，４２Ａおよびピストンバルブ機構２０１Ａのいずれにも、上室１９と下室２０とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｘ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなる。

｛伸び行程の低周波低速域ｘ２｝
　低周波低速域ｘ２では、上室１９からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様にして周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂを開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１側に大きく変形させる。その後、ロッド側通路３４１Ｂおよび背圧室導入通路１７６Ｂを介する上室１９からの油液Ｌは、背圧室１７１Ｂへ導入されにくくなる。このため、低周波低速域ｘ２では、上室１９からの油液Ｌが、ピストン側通路４３Ａから、ピストンバルブ機構２０１Ａの減衰バルブ２６１を開弁させて下室２０に流れる。その結果、低周波低速域ｘ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｘ１よりも低くなる。この低周波低速域ｘ２では周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが限界近くまで移動および変形しているため、背圧室１７１Ｂの圧力が高圧となる。第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２Ｂは、背圧室１７１Ｂからの付勢力が大きく、よって開弁が制限される。

｛伸び行程の低周波中高速域ｘ３｝
　低周波中高速域ｘ３では、上室１９からの油液Ｌは、低周波低速域ｘ２と同様に、ピストンバルブ機構２０１Ａの減衰バルブ２６１を開弁させて、ピストン側通路４３Ａから下室２０に流れる。低周波中高速域ｘ３では、このように、油液Ｌがピストン側通路４３Ａから下室２０に流れることから、ロッド側通路３４１Ｂの一部および背圧室導入通路１７６Ｂを介して背圧室１７１Ｂに導入される油液Ｌによる背圧室１７１Ｂの圧力上昇が抑えられる。これに対して、ロッド側通路３４１Ｂを通り、第１バルブ機構４１Ｂに加わる開弁方向の力が増大するため、上室１９からの油液Ｌは、ロッド側通路３４１Ｂを通り、第１バルブ機構４１Ｂの第１減衰バルブ５２Ｂを開いて下室２０に流れる。その結果、低周波中高速域ｘ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｘ２よりも低くなる。

｛伸び行程の高周波微低速域ｘ４｝
　高周波微低速域ｘ４では、第１バルブ機構４１Ｂおよびピストンバルブ機構２０１Ａは開弁しない。そして、上室１９からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様に、ロッド側通路３４１Ｂおよび背圧室導入通路１７６Ｂを介して背圧室１７１Ｂに流れる。すると、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１側に変形する。この高周波微低速域ｘ４では、上室１９から背圧室１７１Ｂに導入される油液Ｌが低周波微低速域ｘ１よりも少ない。よって、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが限界近くまで変形することはなく、変形し易い。その結果、上室１９から背圧室１７１Ｂに導入される油液Ｌを区画部材１１１Ｂおよび開閉ディスク５７Ｂの変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｘ４では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなるものの、同じピストン速度における減衰力が、低周波微低速域ｘ１よりも低くなり、ソフトな特性になる。

｛伸び行程の高周波低中高速域ｘ５｝
　高周波低中高速域ｘ５では、上室１９からの油液Ｌは、高周波微低速域ｘ４と同様にして、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂを開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１側に変形させる。高周波低中高速域ｘ５では、背圧室１７１Ｂに導入される油液Ｌが少ないため、区画部材１１１Ｂの変形によって背圧室１７１Ｂの圧力上昇が抑えられる。このため、第１バルブ機構４１Ｂの第１減衰バルブ５２Ｂへの背圧室１７１Ｂからの付勢力が小さくなり、第１減衰バルブ５２Ｂが開弁し易くなる。よって、上室１９からの油液Ｌは、ロッド側通路３４１Ｂを通り、第１バルブ機構４１Ｂの第１減衰バルブ５２Ｂを開いて下室２０に流れる。その結果、高周波低中高速域ｘ５ではピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波微低速域ｘ４よりも低くなる。また、高周波低中高速域ｘ５では、同じピストン速度における減衰力が、低周波低速域ｘ２および低周波中高速域ｘ３よりも低くなり、ソフトな特性になる。この高周波低中高速域ｘ５では、背圧室１７１Ｂの圧力上昇が抑えられるため、ピストンバルブ機構２０１Ａは閉弁状態のままとなる。

｛縮み行程の低周波微低速域ｙ１｝
　低周波微低速域ｙ１では、第１バルブ機構４２Ａおよび連通機構１８１Ｂは開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ｂの可変室１７２Ｂに導入される。すると、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１とは反対側に変形する。この低周波微低速域ｙ１では、ストロークの初期に、下室２０から可変室１７２Ｂに油液Ｌが多く導入される。このため、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂがストッパ部材４１１とは反対側に限界近くまで変形し、変形しにくくなる。また、第１バルブ機構４１Ｂ，４２Ａおよびピストンバルブ機構２０１Ａのいずれにも、下室２０と上室１９とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｙ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなり、ハードな特性になる。

｛縮み行程の低周波低速域ｙ２｝
　低周波低速域ｙ２では、下室２０からの油液Ｌは、低周波微低速域ｙ１と同様に区画部材１１１Ｂをストッパ部材４１１とは反対側に限界近くまで移動および変形させた後、第１通路１７３Ｂから連通機構１８１Ｂを開弁させて背圧室１７１Ｂ、背圧室導入通路１７６Ｂおよびロッド側通路３４１Ｂを介して上室１９に流れる。その結果、低周波低速域ｙ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｙ１よりも低くなる。

｛縮み行程の低周波中高速域ｙ３｝
　低周波中高速域ｙ３では、低周波低速域ｙ２と同様、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ｂから連通機構１８１Ｂを開弁させて背圧室１７１Ｂ、背圧室導入通路１７６Ｂおよびロッド側通路３４１Ｂを介して上室１９に流れる。低周波低中高速域ｙ２では、これに加えて、下室２０からの油液Ｌが、ピストン側通路４４を通り、第１バルブ機構４２Ａの第１減衰バルブ２３１Ａを開いて上室１９に流れる。その結果、低周波中高速域ｙ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｙ２よりも低くなる。

｛縮み行程の高周波微低速域ｙ４｝
　高周波微低速域ｙ４では、第１バルブ機構４２Ａおよび連通機構１８１Ｂは開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、可変室１７２Ｂに導入される。すると、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが開閉ディスク５７Ｂと共にストッパ部材４１１とは反対側に変形する。この高周波微低速域ｙ４では、ピストン周波数が高周波であってピストン１８Ａのストロークが小さいため、下室２０から可変室１７２Ｂに導入される油液Ｌが低周波微低速域ｙ１よりも少なくなる。このため、周波数感応機構２１１Ｂの区画部材１１１Ｂが限界近くまで変形することはなく、移動および変形し易い。その結果、下室２０から可変室１７２Ｂに導入される油液Ｌを区画部材１１１Ｂの移動および変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｙ４では、同じピストン速度での減衰力が、低周波微低速域ｙ１よりもソフトな特性になる。

｛縮み行程の高周波低速域ｙ５｝
　高周波低速域ｙ５では、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ｂから、連通機構１８１Ｂを開弁させて背圧室１７１Ｂ、背圧室導入通路１７６Ｂおよびロッド側通路３４１Ｂを介して上室１９に流れる。高周波低速域ｙ５では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波微低速域ｙ４よりも低くなる。また、高周波低速域ｙ５では、同じピストン速度での減衰力が低周波低速域ｙ２よりも低くソフトになる。

｛縮み行程の高周波中高速域ｙ６｝
　高周波中高速域ｙ６では、高周波低速域ｙ５と同様、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ｂから、連通機構１８１Ｂを開弁させて背圧室１７１Ｂ、背圧室導入通路１７６Ｂおよびロッド側通路３４１Ｂを介して上室１９に流れる。高周波中高速域ｙ６では、それに加えて、下室２０からの油液Ｌは、ピストン側通路４４Ａを通り、第１バルブ機構４２Ａの第１減衰バルブ２３１Ａを開いて上室１９に流れる。その結果、高周波中高速域ｙ６では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波低速域ｙ５よりも低くなる。また、高周波中高速域ｙ６では、同じピストン速度での減衰力が低周波中高速域ｙ３よりも低くソフトになる。

　第３実施形態の減衰力発生機構１０Ｂは、パイロットケース５８Ｂと、周波数感応機構２１１Ｂと、第１通路１７３Ｂと、連通機構１８１Ｂとを有している。パイロットケース５８Ｂは、有底筒状であって開口部６７Ｂ側に配された第１減衰バルブ５２Ｂに閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｂを形成している。周波数感応機構２１１Ｂは、パイロットケース５８Ｂの底部６５Ｂに設けられて背圧室１７１Ｂと下室２０とを連通可能な第１通路１７３Ｂに、第１通路１７３Ｂを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｂを有する区画部材１１１Ｂが移動可能に設けられて、第１減衰バルブ５２Ｂへの閉弁方向の付勢力を可変させる。第１通路１７３Ｂは、一側が背圧室１７１Ｂに連通可能である。連通機構１８１Ｂは、第１通路１７３Ｂの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第１通路１７３Ｂの他側に連通可能となる。

　上記のように減衰力発生機構１０Ｂは、背圧室１７１Ｂを形成するパイロットケース５８Ｂの底部６５Ｂに背圧室１７１Ｂと下室２０とを連通可能な第１通路１７３Ｂを設けている。そして、減衰力発生機構１０Ｂは、この第１通路１７３Ｂに、第１通路１７３Ｂをシール部１１２Ｂでシールする区画部材１１１Ｂを移動可能に設けた周波数感応機構２１１Ｂによって、第１減衰バルブ５２Ｂへの閉弁方向の付勢力を可変させる。よって、減衰力発生機構１０Ｂは、周波数感応機構２１１Ｂを有していても、大型化を抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｂは、連通機構１８１Ｂが設けられているため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、連通機構１８１Ｂが開弁して、縮み行程で上室１９よりも高圧となっている下室２０から第１通路１７３Ｂを介して背圧室１７１Ｂに油液Ｌを導入して、背圧室１７１Ｂの圧力を迅速に高めることができる。すると、背圧室１７１Ｂの圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２Ｂの閉弁状態が安定する。これにより、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｂは、区画部材１１１Ｂが設けられる第１通路１７３Ｂが、その一側が背圧室１７１Ｂに連通可能であって、前記一側にあって下室２０側が上流側となるときのみに他側に連通可能となる連通機構１８１Ｂが設けられる通路を兼ねている。これにより、減衰力発生機構１０Ｂの大型化を一層抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｂは、パイロットケース５８Ｂの底部６５Ｂの内部にテーパ部４１２が設けられている。そして、減衰力発生機構１０Ｂは、区画部材１１１Ｂが、ストッパ部材４１１側に変形する際にテーパ部４１２によって変形すなわち移動が規制される。よって、区画部材１１１Ｂの局所的な変形を抑制し、その耐久性を向上させることができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｂは、パイロットケース５８Ｂに、テーパ部４１２と底部６５Ｂの外底側との間に設けられて常時下室２０に連通可能な通路穴４３１内の通路が形成されている。よって、減衰力発生機構１０Ｂは、パイロットケース５８Ｂの大型化を抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｂは、区画部材１１１Ｂが、通路穴４２５を有するディスク４２１と、パッキン４２２とを有している。そして、開閉ディスク５７Ｂは、通路穴４２５を閉塞可能であり、第１通路１７３Ｂが下室２０から背圧室１７１Ｂに油液Ｌを流すときに開弁する。よって、減衰力発生機構１０Ｂの大型化を抑制した上で、背圧室１７１Ｂの可変容積を増やすことができる。

　なお、減衰力発生機構１０Ｂにおいて、図１２に示すように、平板状の開閉ディスク５７Ｂの外径を大きくして、開閉ディスク５７Ｂの外周部を、パッキン４２２の内周部の開閉ディスク５７Ｂの軸方向におけるディスク４２１とは反対側に全周にわたって当接させるようにしても良い。これにより、開閉ディスク５７Ｂをテーパ状に撓ませて開閉ディスク５７Ｂにプリロードをかけることができる。これにより、特に伸び行程において、背圧室１７１Ｂから連通機構１８１Ｂを介して油液Ｌが下室２０側に漏れることを抑制することができる。

［第４実施形態］
　次に、第４実施形態を主に図１３および図１４に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

　図１３に示すように、第４実施形態の減衰力発生機構１０Ｃを含む緩衝器１Ｃは、その減衰力発生機構１０Ｃの一部の構成が減衰力発生機構１０とは異なっている。減衰力発生機構１０Ｃは、ピストンロッド２１の軸方向におけるディスク５３と、第２減衰バルブ６０との間の構成が、減衰力発生機構１０とは異なっている。

　減衰力発生機構１０Ｃは、ピストンロッド２１の軸方向におけるディスク５３の第１減衰バルブ５２とは反対側に、ピストンロッド２１の軸方向におけるディスク５３側から順に、一枚のディスク４５０と、一枚のディスク４５１と、一枚のディスク４５２と、一枚のバネディスク４５３と、一枚の開閉ディスク５７Ｃと、一つのパイロットケース５８Ｃ（付勢力発生部材）とを有している。

　ディスク４５０～４５２、バネディスク４５３、開閉ディスク５７Ｃおよびパイロットケース５８Ｃは、いずれも金属製である。ディスク４５０～４５２および開閉ディスク５７Ｃは、いずれも、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク４５０～４５２、バネディスク４５３および開閉ディスク５７Ｃは、プレス成形により形成される。バネディスク４５３は円板状である。パイロットケース５８Ｃは円環状である。ディスク４５０～４５２、バネディスク４５３、開閉ディスク５７Ｃ、およびパイロットケース５８Ｃは、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる。

　パイロットケース５８Ｃは有底筒状である。パイロットケース５８Ｃは、焼結により全体が継ぎ目なく一体に成形されている。パイロットケース５８Ｃは、底部６５Ｃと、筒状部６６Ｃとを有している。
　底部６５Ｃは、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１の取付軸部２８が嵌合される。

　筒状部６６Ｃは、底部６５Ｃの外周部の軸方向における一端側から底部６５Ｃの軸方向に沿って延出している。筒状部６６Ｃは、円筒状である。
　パイロットケース５８Ｃは、筒状部６６Ｃの軸方向における底部６５Ｃとは反対側が開口部６７となっている。

　底部６５Ｃは、底本体部７１Ｃと、上記と同様の内側シート部７７および外側シート部７８とを有している。

　底本体部７１Ｃは有孔の円板状である。筒状部６６Ｃは、底本体部７１Ｃの軸方向における内側シート部７７および外側シート部７８とは反対側から底本体部７１Ｃの軸方向に沿って延出している。
　底本体部７１Ｃには、底本体部７１Ｃの径方向における中間位置に、シール溝６８Ｃが形成されている。シール溝６８Ｃは、底本体部７１Ｃの軸方向における内側シート部７７および外側シート部７８とは反対側の端面から、底本体部７１Ｃの軸方向において内側シート部７７および外側シート部７８側に凹んでいる。

　底本体部７１Ｃには、シール溝６８Ｃの底面に、図１４に示す内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃが形成されている。内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃは、底本体部７１Ｃをシール溝６８Ｃの位置において貫通している。内側通路穴８０Ｃは、パイロットケース５８Ｃの径方向において内側通路穴８１Ｃよりも内側にある。内側通路穴８０Ｃは、パイロットケース５８Ｃの径方向においてシール溝６８Ｃの底面の内端位置にある。内側通路穴８１Ｃは、パイロットケース５８Ｃの径方向においてシール溝６８Ｃの底面の外端位置にある。パイロットケース５８Ｃには、内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃがそれぞれ複数、具体的には３箇所ずつ設けられている。内側通路穴８０Ｃおよび内側通路穴８１Ｃは、パイロットケース５８Ｃの周方向において交互に等間隔で配置されている。

　パイロットケース５８Ｃには、底本体部７１Ｃの径方向におけるシール溝６８Ｃよりも外側に外側通路穴８３Ｃが形成されている。外側通路穴８３Ｃは、底本体部７１Ｃをその軸方向に貫通している。パイロットケース５８Ｃには、外側通路穴８３Ｃが、パイロットケース５８Ｃの周方向に等間隔で複数、具体的には６箇所設けられている。外側通路穴８３Ｃは、パイロットケース５８Ｃの周方向の位置を、内側通路穴８０Ｃおよび内側通路穴８１Ｃのいずれか一方と合わせている。

　パイロットケース５８Ｃの周方向において隣り合うシート構成部９１（図３参照）とシート構成部９１との間の位置に、内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃおよび外側通路穴８３Ｃが設けられている。よって、内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃおよび外側通路穴８３Ｃは、外側シート部７８よりも外側に設けられている。内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃおよび外側通路穴８３Ｃは、通路凹部９２（図３参照）内には開口していない。

　底本体部７１Ｃの軸方向における内側シート部７７とは反対側には、シール溝６８Ｃから底本体部７１Ｃの径方向内側に延びる通路溝４６８が形成されている。通路溝４６８は、図１３に示すように、シール溝６８Ｃとピストンロッド２１のロッド側通路１９１とを連通させる。

　減衰力発生機構１０Ｃは、シール溝６８Ｃ内に区画部材１１１Ｃ（可動機構）を有している。区画部材１１１Ｃは、全体として円環状であり、この円環の中心軸線を含む平面での断面が円形のＯリングである。区画部材１１１Ｃは、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。区画部材１１１Ｃは、シール溝６８Ｃ内に嵌合している。区画部材１１１Ｃは、その内周にあるシール部１１２Ｃが、シール溝６８Ｃの径方向内側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。区画部材１１１Ｃは、その外周にあるシール部１１３Ｃが、シール溝６８Ｃの径方向外側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。

　ディスク４５０は、その外径が、ディスク５３の外径よりも大径かつシール部材１３２の最小内径よりも小径となっている。
　ディスク４５１は、ディスク４５０の外径と同等の外径となっている。ディスク４５１には外周部に切欠４７１が形成されている。ディスク４５１には、その周方向に等間隔で複数の切欠４７１が設けられている。
　ディスク４５２は、ディスク４５１の外径よりも小径の外径となっている。

　バネディスク４５３は、ディスク４５２の外径よりも大径の外径となっている。
　バネディスク４５３は、基板部４８１と、突出部４８２とを有している。

　基板部４８１は、バネディスク４５３が減衰力発生機構１０Ｃに組み込まれる前の状態では、一定厚さの有孔の円形平板状をなす。突出部４８２は、基板部４８１の径方向における外周側の中間位置から基板部４８１の軸方向に沿って一側に突出する。突出部４８２は、基板部４８１の周方向に延びる円環状である。

　基板部４８１には、ディスク４５２の径方向においてディスク４５２よりも外側となる位置に、通路穴４８５が形成されている。通路穴４８５は、基板部４８１の径方向における突出部４８２よりも内側の位置を、基板部４８１の軸方向に貫通している。基板部４８１には、通路穴４８５が、基板部４８１の周方向に等間隔で複数設けられている。

　開閉ディスク５７Ｃは、バネディスク４５３の突出部４８２の外径よりも大径の外径となっている。開閉ディスク５７Ｃは、パイロットケース５８Ｃの径方向における外側通路穴８３Ｃよりも外側の位置まで広がっている。開閉ディスク５７Ｃは、パイロットケース５８Ｃの底本体部７１Ｃに面接触で当接して、シール溝６８Ｃおよび外側通路穴８３Ｃを閉塞させる。開閉ディスク５７Ｃは、シール溝６８Ｃおよび外側通路穴８３Ｃの全体を覆っている。開閉ディスク５７Ｃは、底本体部７１Ｃから離座することで外側通路穴８３Ｃ内の通路を開放する。

　バネディスク４５３は、減衰力発生機構１０Ｃに組み込まれた状態では、突出部４８２において開閉ディスク５７Ｃに当接している。これにより、バネディスク４５３は、基板部４８１が、径方向外側ほど開閉ディスク５７Ｃから軸方向に離れるようにテーパ状に弾性変形する。

　開閉ディスク５７Ｃには、その径方向における位置をバネディスク４５３の通路穴４８５と合わせて通路穴４９１が形成されている。通路穴４９１は、開閉ディスク５７Ｃの軸方向に開閉ディスク５７Ｃを貫通している。通路穴４９１は、開閉ディスク５７Ｃの周方向に円弧状に延びている。通路穴４９１は、バネディスク４５３の通路穴４８５と常時連通する。通路穴４９１は、開閉ディスク５７Ｃの径方向において、パイロットケース５８Ｃのシール溝６８Ｃよりも内側にある。通路穴４９１は、パイロットケース５８Ｃの通路溝４６８に常時連通する。

　区画部材１１１Ｃのシール部１１２Ｃ，１１３Ｃが、シール溝６８Ｃの径方向内側および径方向外側それぞれの壁面に同時に圧接している。これにより、パイロットケース５８Ｃと、第１減衰バルブ５２およびディスク５３，４５０～４５２と、バネディスク４５３と、開閉ディスク５７Ｃと、区画部材１１１Ｃとで囲まれた部分が、背圧室１７１Ｃとなる。背圧室１７１Ｃは、通路穴４８５，４９１および通路溝４６８内の通路を介してピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と常時連通する。

　また、区画部材１１１Ｃによって、シール溝６８Ｃの底面側と、区画部材１１１Ｃとの間が、可変室１７２Ｃとなる。可変室１７２Ｃは、内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃ内の通路を介して下室２０に常時連通している。

　有底筒状のパイロットケース５８Ｃは、その内側に、第１減衰バルブ５２とディスク５３，４５０～４５２と開閉ディスク５７Ｃと区画部材１１１Ｃとによって背圧室１７１Ｃを形成する。区画部材１１１Ｃは、パイロットケース５８Ｃ内に設けられて、パイロットケース５８Ｃ内を背圧室１７１Ｃと可変室１７２Ｃとに区画する。

　ディスク５０（図２参照）の切欠１２１（図２参照）内の通路と、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と、通路溝４６８内の通路と、通路穴４８５，４９１内の通路とが、ピストン側通路４３（図２参照）から分岐する背圧室導入通路１７６Ｃを構成している。背圧室導入通路１７６Ｃは、ピストン側通路４３（図２参照）の一部を介して上室１９（図２参照）と背圧室１７１Ｃとを連通させる。背圧室導入通路１７６Ｃは、伸び行程において、背圧室１７１Ｃに、背圧室１７１Ｃの上流側となる上室１９（図２参照）からピストン側通路４３（図２参照）の一部を介して油液Ｌを導入する。

　いずれもパイロットケース５８Ｃの底部６５Ｃに設けられた内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃ内の通路とシール溝６８Ｃ内の通路とが、背圧室１７１Ｃと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｃを構成している。この第１通路１７３Ｃに、第１通路１７３Ｃを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｃ，１１３Ｃを有する区画部材１１１Ｃが移動可能に設けられている。

　背圧室１７１Ｃは、第１減衰バルブ５２に、ピストン１８（図２参照）の方向、つまりディスク１３１をバルブシート部４７（図２参照）に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。パイロットケース５８Ｃは、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｃを形成している。

　パイロットケース５８Ｃの外側通路穴８３Ｃ内が、第２通路１８０Ｃとなっている。開閉ディスク５７Ｃは、第２通路１８０Ｃと、背圧室１７１Ｃとの間に開閉可能に設けられている。外側通路穴８３Ｃ内の第２通路１８０Ｃは、第１通路１７３Ｃと並列に設けられている。第２通路１８０Ｃは、パイロットケース５８Ｃにおいて、第１通路１７３Ｃよりも外周側に配置されている。開閉ディスク５７Ｃは、パイロットケース５８Ｃの底本体部７１Ｃに面接触で当接する状態においては、背圧室１７１Ｃと、第２通路１８０Ｃおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を遮断する。また、開閉ディスク５７Ｃは、パイロットケース５８Ｃの底本体部７１Ｃから離間する状態では、背圧室１７１Ｃと、第２通路１８０Ｃおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を許容する。

　ここで、開閉ディスク５７Ｃおよびバネディスク４５３は、第２通路１８０Ｃおよび下室２０側の圧力が、背圧室１７１Ｃ側の圧力よりも所定値以上高くなると、下室２０および第２通路１８０Ｃから背圧室１７１Ｃへの油液Ｌの流通を許容する。開閉ディスク５７Ｃおよびバネディスク４５３は、背圧室１７１Ｃ側の圧力が第２通路１８０Ｃおよび下室２０側の圧力よりも高い状態では、背圧室１７１Ｃから第２通路１８０Ｃを介しての下室２０への油液Ｌの流通を規制する。

　開閉ディスク５７Ｃと、バネディスク４５３と、パイロットケース５８Ｃの底本体部７１Ｃの軸方向における開閉ディスク５７Ｃ側の部分とが、連通機構１８１Ｃを構成している。第２通路１８０Ｃは、一側が背圧室１７１Ｃに連通可能である。連通機構１８１Ｃは、第２通路１８０Ｃの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ、第２通路１８０Ｃの他側である下室２０側に連通可能である。言い換えれば、連通機構１８１Ｃは、下室２０が下流側となるときは第２通路１８０Ｃの他側である下室２０側に連通不可である。連通機構１８１Ｃは、背圧室１７１Ｃと第２通路１８０Ｃとの間で、背圧室１７１Ｃ側から第２通路１８０Ｃ側への一方向の油液Ｌの流れを規制する。その一方で、連通機構１８１Ｃは、第２通路１８０Ｃ側から背圧室１７１Ｃ側への他方向の油液Ｌの流れを許容する。連通機構１８１Ｃは、チェック弁であり、開閉ディスク５７Ｃは、その弁部材である。

　連通機構１８１Ｃは、上室１９（図２参照）、ピストン側通路４３（図２参照）の一部、背圧室導入通路１７６Ｃおよび背圧室１７１Ｃから、第２通路１８０Ｃおよび下室２０への油液Ｌの流れを規制する。連通機構１８１Ｃは、下室２０および第２通路１８０Ｃから、背圧室１７１Ｃ、背圧室導入通路１７６Ｃ、ピストン側通路４３（図２参照）の一部および上室１９（図２参照）への油液Ｌの流れを許容する。

　パイロットケース５８Ｃおよび区画部材１１１Ｃは、ピストン１８（図２参照）の往復動の周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応機構２１１Ｃを構成している。周波数感応機構２１１Ｃは、その区画部材１１１Ｃが、ピストン１８（図２参照）の往復動の周波数に応じて移動および変形して、上室１９（図２参照）に常時連通する背圧室１７１Ｃの容量と、下室２０に常時連通する可変室１７２Ｃの容量とを変化させる。周波数感応機構２１１Ｃは、第１通路１７３Ｃに移動可能に設けられた区画部材１１１Ｃを有している。周波数感応機構２１１Ｃは、背圧室１７１Ｃによる第１減衰バルブ５２への付勢力を可変させる。

　伸び行程では、背圧室１７１Ｃと下室２０との差圧は、背圧室１７１Ｃ側が下室２０側よりも高圧となる。すると、背圧室１７１Ｃの圧力を受けて、区画部材１１１Ｃが、シール溝６８Ｃとのシール状態を維持しつつ、シール溝６８Ｃの底面側へ移動しこの底面に当接して圧縮変形する。これにより、背圧室１７１Ｃの容積が拡大する。

　縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｃ側よりも高圧となる。すると、下室２０側と背圧室１７１Ｃ側との差圧が所定値よりも低ければ、下室２０側の圧力を受けて、区画部材１１１Ｃが、シール溝６８Ｃとのシール状態を維持しつつ、開閉ディスク５７Ｃ側へ移動し開閉ディスク５７Ｃに当接して圧縮変形する。これにより、可変室１７２Ｃの容積が拡大する。また縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｃ側よりも所定値以上高圧になると、連通機構１８１Ｃが開弁し、下室２０から背圧室１７１Ｃへ油液Ｌを流す。

　次に、減衰力発生機構１０Ｃを含む緩衝器１Ｃの作動について説明する。

｛伸び行程の低周波微低速域ｘ１｝
　低周波微低速域ｘ１では、第１バルブ機構４１および第２バルブ機構２０１は開弁しない。そして、上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、ピストン側通路４３（図２参照）の一部および背圧室導入通路１７６Ｃを介して背圧室１７１Ｃに流れる。すると、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃがシール溝６８Ｃの底面側に移動し底面に当接して圧縮変形する。この低周波微低速域ｘ１では、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃがシール溝６８Ｃの底面側に限界近くまで移動および変形して、その後は変形しにくくなる。また、第１バルブ機構４１，４２（図２参照）および第２バルブ機構２０１のいずれにも、上室１９と下室２０とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｘ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなる。

｛伸び行程の低周波低速域ｘ２｝
　低周波低速域ｘ２では、上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様にして周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃをシール溝６８Ｃの底面側に大きく移動および変形させる。その後、ピストン側通路４３（図２参照）および背圧室導入通路１７６Ｃを介する上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、背圧室１７１Ｃへ導入されにくくなる。低周波低速域ｘ２では、背圧室１７１Ｃの圧力が低周波微低速域ｘ１よりも高圧となる。このため、低周波低速域ｘ２では、上室１９（図２参照）からの油液Ｌが、ピストン側通路４３（図２参照）、背圧室導入通路１７６Ｃおよびロッド側通路１９１から、第２バルブ機構２０１の第２減衰バルブ６０を開弁させて下室２０に流れる。その結果、低周波低速域ｘ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｘ１よりも低くなる。この低周波低速域ｘ２では周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃが限界近くまで移動および変形しているため、背圧室１７１Ｃの圧力が高圧となる。このため、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２は、背圧室１７１Ｃからの付勢力が大きく、よって開弁が制限される。

｛伸び行程の低周波中高速域ｘ３｝
　低周波中高速域ｘ３では、上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、低周波低速域ｘ２と同様に、第２バルブ機構２０１の第２減衰バルブ６０を開弁させて、ピストン側通路４３（図２参照）の一部、背圧室導入通路１７６Ｃの一部およびロッド側通路１９１から下室２０に流れる。低周波中高速域ｘ３では、このように、油液Ｌがロッド側通路１９１から下室２０に流れることから、ピストン側通路４３（図２参照）の一部および背圧室導入通路１７６Ｃを介して背圧室１７１Ｃに導入される油液Ｌによる背圧室１７１Ｃの圧力上昇が抑えられる。これに対して、ピストン側通路４３（図２参照）から第１バルブ機構４１に加わる開弁方向の力が増大するため、上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、ピストン側通路４３（図２参照）を通り、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２を開いて下室２０に流れる。その結果、低周波中高速域ｘ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｘ２よりも低くなる。

｛伸び行程の高周波微低速域ｘ４｝
　高周波微低速域ｘ４では、第１バルブ機構４１および第２バルブ機構２０１は開弁しない。そして、上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、低周波微低速域ｘ１と同様に、ピストン側通路４３（図２参照）の一部および背圧室導入通路１７６Ｃを介して背圧室１７１Ｃに流れる。すると、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃがシール溝６８Ｃの底面側に移動および変形する。この高周波微低速域ｘ４では、ピストン周波数が高周波であってピストン１８（図２参照）のストロークが小さい。このため、上室１９から背圧室１７１Ｃに導入される油液Ｌが低周波微低速域ｘ１よりも少なくなる。よって、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃが限界近くまで変形することはなく、変形し易い。その結果、上室１９（図２参照）から背圧室１７１Ｃに導入される油液Ｌを区画部材１１１Ｃの移動および変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｘ４では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなるものの、同じピストン速度における減衰力が、低周波微低速域ｘ１よりも低くなり、ソフトな特性になる。

｛伸び行程の高周波低中高速域ｘ５｝
　高周波低中高速域ｘ５では、上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、高周波微低速域ｘ４と同様にして、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃをシール溝６８Ｃの底面側に移動および変形させる。高周波低中高速域ｘ５では、背圧室１７１Ｃに導入される油液Ｌが少ないため、区画部材１１１Ｃの変形によって背圧室１７１Ｃの圧力上昇が抑えられる。このため、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２への背圧室１７１Ｃからの付勢力が小さくなり、第１減衰バルブ５２が開弁し易くなる。よって、上室１９（図２参照）からの油液Ｌは、ピストン側通路４３（図２参照）を通り、第１バルブ機構４１の第１減衰バルブ５２を開いて下室２０に流れる。その結果、高周波低中高速域ｘ５ではピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波微低速域ｘ４よりも低くなる。また、高周波低中高速域ｘ５では、同じピストン速度における減衰力が、低周波低速域ｘ２および低周波中高速域ｘ３よりも低くなり、ソフトな特性になる。この高周波低中高速域ｘ５では、背圧室１７１Ｃの圧力上昇が抑えられるため、第２バルブ機構２０１は閉弁状態のままとなる。

｛縮み行程の低周波微低速域ｙ１｝
　低周波微低速域ｙ１では、第１バルブ機構４２（図２参照）および連通機構１８１Ｃは開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ｃにおいて、内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃ内の通路を介して可変室１７２Ｃに導入される。すると、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃが開閉ディスク５７Ｃ側に移動し変形する。この低周波微低速域ｙ１では、ピストン周波数が低周波数であってピストン１８（図２参照）が大きくストロークするため、ストロークの初期に、下室２０から可変室１７２Ｃに油液Ｌが多く導入される。このため、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃが開閉ディスク５７Ｃ側に限界近くまで移動および変形し、変形しにくくなる。また、第１バルブ機構４１，４２（図２参照）および第２バルブ機構２０１のいずれにも、下室２０と上室１９とを常時連通させる固定オリフィスがない。その結果、低周波微低速域ｙ１では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高くなり、ハードな特性になる。

｛縮み行程の低周波低速域ｙ２｝
　低周波低速域ｙ２では、下室２０からの油液Ｌは、低周波微低速域ｙ１と同様に区画部材１１１Ｃを開閉ディスク５７Ｃ側に限界近くまで移動および変形させた後、第２通路１８０Ｃから連通機構１８１Ｃを開弁させて背圧室１７１Ｃ、背圧室導入通路１７６Ｃおよびピストン側通路４３（図２参照）の一部を介して上室１９（図２参照）に流れる。その結果、低周波低速域ｙ２では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波微低速域ｙ１よりも低くなる。

｛縮み行程の低周波中高速域ｙ３｝
　低周波中高速域ｙ３では、低周波低速域ｙ２と同様、下室２０からの油液Ｌは、第２通路１８０Ｃから連通機構１８１Ｃを開弁させて背圧室１７１Ｃ、背圧室導入通路１７６Ｃおよびピストン側通路４３（図２参照）の一部を介して上室１９（図２参照）に流れる。低周波低中高速域ｙ２では、これに加えて、下室２０からの油液Ｌが、ピストン側通路４４（図２参照）を通り、第１バルブ機構４２（図２参照）の第１減衰バルブ２３１（図２参照）を開いて上室１９（図２参照）に流れる。その結果、低周波中高速域ｙ３では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が低周波低速域ｙ２よりも低くなる。

｛縮み行程の高周波微低速域ｙ４｝
　高周波微低速域ｙ４では、第１バルブ機構４２および連通機構１８１Ｃは開弁しない。そして、下室２０からの油液Ｌは、第１通路１７３Ｃにおいて内側通路穴８０Ｃ，８１Ｃ内の通路を介して可変室１７２Ｃに導入される。すると、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃが開閉ディスク５７Ｃ側に変形する。この高周波微低速域ｙ４では、ピストン周波数が高周波であってピストン１８のストロークが小さいため、下室２０から可変室１７２Ｃに導入される油液Ｌが低周波微低速域ｙ１よりも少なくなる。このため、周波数感応機構２１１Ｃの区画部材１１１Ｃが限界近くまで変形することはなく、移動および変形し易い。その結果、下室２０から可変室１７２Ｃに導入される油液Ｌを区画部材１１１Ｃの移動および変形で吸収できる。よって、高周波微低速域ｙ４では、同じピストン速度での減衰力が、低周波微低速域ｙ１よりもソフトな特性になる。

｛縮み行程の高周波低速域ｙ５｝
　高周波低速域ｙ５では、下室２０からの油液Ｌは、第２通路１８０Ｃから、連通機構１８１Ｃを開弁させて背圧室１７１Ｃ、背圧室導入通路１７６Ｃおよびピストン側通路４３（図２参照）の一部を介して上室１９（図２参照）に流れる。高周波低速域ｙ５では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波微低速域ｙ４よりも低くなる。また、高周波低速域ｙ５では、同じピストン速度での減衰力が低周波低速域ｙ２よりも低くソフトになる。

｛縮み行程の高周波中高速域ｙ６｝
　高周波中高速域ｙ６では、高周波低速域ｙ５と同様、下室２０からの油液Ｌは、第２通路１８０Ｃから、連通機構１８１Ｃを開弁させて背圧室１７１Ｃ、背圧室導入通路１７６Ｃおよびピストン側通路４３（図２参照）の一部を介して上室１９（図２参照）に流れる。高周波中高速域ｙ６では、それに加えて、下室２０からの油液Ｌは、ピストン側通路４４（図２参照）を通り、第１バルブ機構４２（図２参照）の第１減衰バルブ２３１（図２参照）を開いて上室１９（図２参照）に流れる。その結果、高周波中高速域ｙ６では、ピストン速度の増加に対する減衰力の上昇率が高周波低速域ｙ５よりも低くなる。また、高周波中高速域ｙ６では、同じピストン速度での減衰力が低周波中高速域ｙ３よりも低くソフトになる。

　第４実施形態の減衰力発生機構１０Ｃは、パイロットケース５８Ｃと、周波数感応機構２１１Ｃと、第２通路１８０Ｃと、連通機構１８１Ｃとを有している。パイロットケース５８Ｃは、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｃを形成している。周波数感応機構２１１Ｃは、パイロットケース５８Ｃの底部６５Ｃに設けられ背圧室１７１Ｃと下室２０とを結ぶ第１通路１７３Ｃに、第１通路１７３Ｃを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｃ，１１３Ｃを有する区画部材１１１Ｃが移動可能に設けられて、第１減衰バルブ５２への閉弁方向の付勢力を可変させる。第２通路１８０Ｃは、第１通路１７３Ｃとは並列に設けられ、一側が背圧室１７１Ｃに連通可能である。連通機構１８１Ｃは、第２通路１８０Ｃの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第２通路１８０Ｃの他側に連通可能となる。

　上記のように減衰力発生機構１０Ｃは、背圧室１７１Ｃを形成するパイロットケース５８Ｃの底部６５Ｃに背圧室１７１Ｃと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｃを設けている。そして、減衰力発生機構１０Ｃは、この第１通路１７３Ｃに、第１通路１７３Ｃをシール部１１２Ｃ，１１３Ｃでシールする区画部材１１１Ｃを移動可能に設けた周波数感応機構２１１Ｃによって、第１減衰バルブ５２への閉弁方向の付勢力を可変させる。よって、減衰力発生機構１０Ｃは、周波数感応機構２１１Ｃを有していても、大型化を抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｃは、連通機構１８１Ｃが設けられているため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、連通機構１８１Ｃが開弁して、縮み行程で上室１９よりも高圧となっている下室２０から第２通路１８０Ｃを介して背圧室１７１Ｃに油液Ｌを導入して、背圧室１７１Ｃの圧力を迅速に高めることができる。すると、背圧室１７１Ｃの圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２の閉弁状態が安定する。これにより、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｃは、連通機構１８１Ｃで開閉される第２通路１８０Ｃが第１通路１７３Ｃよりも底部６５Ｃの外周側に配置されている。このため、減衰力発生機構１０Ｃは、連通機構１８１Ｃの開閉ディスク５７Ｃで第１通路１７３Ｃの開閉ディスク５７Ｃ側の開口の全体を覆うことができる。よって、第１通路１７３Ｃに設けられた区画部材１１１Ｃが、開閉ディスク５７Ｃと第１通路１７３Ｃの開口との隙間に入り込んでしまうことを抑制できる。したがって、区画部材１１１Ｃの耐久性の低下を抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｃは、第１通路１７３Ｃを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｃ，１１３Ｃを有する区画部材１１１ＣとしてＯリングを用いているため、圧縮変形が大きい。このことから、連通機構１８１Ｃを設けることによる、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制する効果が高い。

［第５実施形態］
　次に、第５実施形態を主に図１５に基づいて第３実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第３実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

　図１５に示すように、第５実施形態の減衰力発生機構１０Ｄを含む緩衝器１Ｄは、その減衰力発生機構１０Ｄの一部の構成が減衰力発生機構１０Ｂとは異なっている。

　減衰力発生機構１０Ｄには、開閉ディスク５７Ｂが設けられていない。また、減衰力発生機構１０Ｄは、パイロットケース５８Ｂとは一部異なるパイロットケース５８Ｄをパイロットケース５８Ｂに代えて有している。また、減衰力発生機構１０Ｄは、区画部材１１１Ｂとは一部異なる区画部材１１１Ｄを区画部材１１１Ｂに代えて有している。

　パイロットケース５８Ｄは、ケース部材３６０とは一部異なるケース部材３６０Ｄをケース部材３６０に代えて有している。ケース部材３６０Ｄは、底部３６５とは一部異なる底部３６５Ｄを底部３６５に代えて有している。底部３６５Ｄは、底本体部３７１から底本体部３７１の軸方向における他側シート部３７３と同側に突出する突起部５０１を有している。突起部５０１は、底本体部３７１の径方向における他側シート部３７３と筒状部３６６との間に設けられている。突起部５０１は、底本体部３７１の周方向に等間隔で複数設けられている。パイロットケース５８Ｄは、底部６５Ｂに対して上記突起部５０１を有する点が異なる底部６５Ｄを有している。

　区画部材１１１Ｄは、ディスク４２１とは一部異なるディスク４２１Ｄをディスク４２１に代えて有している。また、区画部材１１１Ｄは、パッキン４２２とは一部異なるパッキン４２２Ｄをパッキン４２２に代えて有している。
　ディスク４２１Ｄは、ディスク４２１に対して通路穴４２５が形成されていない点が相違している。

　パッキン４２２Ｄは、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。パッキン４２２Ｄは円環状をなしている。パッキン４２２Ｄはディスク４２１Ｄの外周側に固着されている。パッキン４２２Ｄは、ディスク４２１Ｄからディスク４２１Ｄの軸方向における一側に突出している。パッキン４２２Ｄは、外周部のシール部１１２Ｄが、ディスク４２１Ｄの軸方向においてディスク４２１Ｄから離れるほどディスク４２１Ｄの径方向に拡大している。パッキン４２２Ｄは、内周部が、ディスク４２１Ｄの軸方向においてディスク４２１Ｄから離れるほどディスク４２１Ｄの径方向に拡大している。

　パッキン４２２Ｄは、ケース部材３６０Ｄの筒状部３６６の内周面に全周にわたり嵌合している。その際に、パッキン４２２Ｄは、その外周部のシール部１１２Ｄにおいて筒状部３６６の内周面に接触する。パッキン４２２Ｄは、筒状部３６６の内周面に対し軸方向に摺動可能である。パッキン４２２Ｄは、区画部材１１１Ｄと筒状部３６６との隙間をシールする。パイロットケース５８Ｄの突起部５０１は、ディスク４２１Ｄの径方向においてパッキン４２２Ｄよりも内側に配置されている。

　区画部材１１１Ｄのパッキン４２２Ｄのシール部１１２Ｄが、ケース部材３６０Ｄの筒状部３６６の内周面に全周にわたって圧接している。これにより、第１減衰バルブ５２Ｂ（図１０参照）と、押圧部材３６１（図１０参照）と、シール部材４０２（図１０参照）と、ケース部材３６０Ｄと、区画部材１１１Ｄとで囲まれた部分が、背圧室１７１Ｄとなる。背圧室１７１Ｄは、背圧室導入通路１７６Ｂ（図１０参照）を介してロッド側通路３４１Ｂ（図１０参照）と連通する。

　また、区画部材１１１Ｄとストッパ部材４１１とで囲まれた部分が、可変室１７２Ｄとなる。可変室１７２Ｄは、ストッパ部材４１１の通路穴４３１内の通路を介して下室２０に常時連通している。また、可変室１７２Ｄは、ストッパ部材４１１とケース部材３６０Ｄの筒状部３６６との間の通路を介して下室２０に常時連通している。

　有底筒状のパイロットケース５８Ｄは、その内側に、区画部材１１１Ｄによって背圧室１７１Ｄを形成する。区画部材１１１Ｄは、パイロットケース５８Ｄ内に設けられて、パイロットケース５８Ｄ内を背圧室１７１Ｄと可変室１７２Ｄとに区画する。

　ストッパ部材４１１の外周部およびケース部材３６０Ｄの筒状部３６６の間の通路と、ストッパ部材４１１の通路穴４３１内の通路と、可変室１７２Ｄと、パッキン４２２Ｄのシール部１１２Ｄおよび筒状部３６６の間の通路とが、背圧室１７１Ｄと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｄを構成している。この第１通路１７３Ｄに、第１通路１７３Ｄを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｄを有する区画部材１１１Ｄが移動可能に設けられている。

　背圧室１７１Ｄは、第１減衰バルブ５２Ｂ（図１０参照）に、シート形成部材３５１（図１０参照）の方向、つまり第１減衰バルブ５２Ｂをバルブシート部３５６（図１０参照）に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。パイロットケース５８Ｄは、有底筒状であって開口部６７Ｂ（図１０参照）側に配された第１減衰バルブ５２Ｂに閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｄを形成している。

　区画部材１１１Ｄのパッキン４２２Ｄのシール部１１２Ｄは、第１通路１７３Ｄと、背圧室１７１Ｄとの間に開閉可能に設けられている。パッキン４２２Ｄのシール部１１２Ｄは、ケース部材３６０Ｄの筒状部３６６の内周面に全周にわたって当接する状態においては、背圧室１７１Ｄと、第１通路１７３Ｄおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を遮断する。また、パッキン４２２Ｄのシール部１１２Ｄは、ケース部材３６０Ｄの筒状部３６６の内周面から離間する状態では、背圧室１７１Ｄと、第１通路１７３Ｄおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を許容する。

　ここで、パッキン４２２Ｄのシール部１１２Ｄは、下室２０側の圧力が、背圧室１７１Ｄ側の圧力よりも所定値以上高くなると、筒状部３６６から離間して下室２０から第１通路１７３Ｄを介しての背圧室１７１Ｄへの油液Ｌの流通を許容する。すなわち、下室２０側の圧力が、背圧室１７１Ｄ側の圧力よりも所定値以上高くなると、区画部材１１１Ｄが軸方向において底本体部３７１側に移動しようとするが、ケース部材３６０Ｄの突起部５０１がディスク４２１Ｄに当接してディスク４２１Ｄの底本体部３７１側への移動を抑制する。その結果、区画部材１１１Ｄは、可変室１７２Ｄと背圧室１７１Ｄとの差圧によってパッキン４２２Ｄが筒状部３６６の内周面から良好に離間して、下室２０から第１通路１７３Ｄを介して背圧室１７１Ｄへ油液Ｌを流す。パッキン４２２Ｄのシール部１１２Ｄは、下室２０側の圧力よりも背圧室１７１Ｄ側の圧力が高い状態では、筒状部３６６に当接して背圧室１７１Ｄから第１通路１７３Ｄを介しての下室２０への油液Ｌの流通を規制する。

　パッキン４２２Ｄと、ケース部材３６０Ｄの筒状部３６６とが、連通機構１８１Ｄを構成している。第１通路１７３Ｄは、一側が背圧室１７１Ｄに連通可能である。連通機構１８１Ｄは、第１通路１７３Ｄの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ、第１通路１７３Ｄの他側である下室２０側に連通可能である。言い換えれば、連通機構１８１Ｄは、下室２０が下流側となるときは第１通路１７３Ｄの他側である下室２０側に連通不可である。連通機構１８１Ｄは、背圧室１７１Ｄと可変室１７２Ｄとの間で、背圧室１７１Ｄ側から可変室１７２Ｄ側への一方向の油液Ｌの流れを規制する。その一方で、連通機構１８１Ｄは、可変室１７２Ｄ側から背圧室１７１Ｄ側への他方向の油液Ｌの流れを許容する。連通機構１８１Ｄは、チェック弁であり、区画部材１１１Ｄは、その弁部材である。

　第１通路１７３Ｄは、背圧室１７１Ｄと下室２０とを結んで設けられて区画部材１１１Ｄが設けられている。区画部材１１１Ｄが設けられる第１通路１７３Ｄは、その一側が背圧室１７１Ｄに連通可能であって、前記一側にあって下室２０側が上流側となるときのみに他側に連通可能となる連通機構１８１Ｄが設けられる通路を兼ねている。

　連通機構１８１Ｄは、上室１９（図１０参照）、ロッド側通路３４１Ｂ（図１０参照）、背圧室導入通路１７６Ｂ（図１０参照）および背圧室１７１Ｄから第１通路１７３Ｄを介しての下室２０への油液Ｌの流れを規制する。連通機構１８１Ｄは、下室２０から、第１通路１７３Ｄを介しての背圧室１７１Ｄ、背圧室導入通路１７６Ｂ（図１０参照）、ロッド側通路３４１Ｂ（図１０参照）および上室１９（図１０参照）への油液Ｌの流れを許容する。

　パイロットケース５８Ｄおよび区画部材１１１Ｄは、ピストン周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応機構２１１Ｄを構成している。周波数感応機構２１１Ｄは、その区画部材１１１Ｄが、ピストン１８Ａ（図１０参照）の往復動の周波数に応じて移動および変形して、上室１９（図１０参照）に常時連通する背圧室１７１Ｄの容量と、下室２０に常時連通する可変室１７２Ｄの容量とを変化させる。周波数感応機構２１１Ｄは、第１通路１７３Ｄに移動可能に設けられた区画部材１１１Ｄを有している。周波数感応機構２１１Ｄは、背圧室１７１Ｄによる第１減衰バルブ５２Ｂ（図１０参照）への付勢力を可変させる。

　伸び行程では、背圧室１７１Ｄと下室２０との差圧は、背圧室１７１Ｄ側が下室２０側よりも高圧となる。すると、背圧室１７１Ｄの圧力を受けて、区画部材１１１Ｄが、筒状部３６６とのシール状態を維持しつつストッパ部材４１１側へ変形しつつ移動する。これにより、背圧室１７１Ｄの容積が拡大する。

　縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｄ側よりも高圧となる。すると、下室２０側と背圧室１７１Ｄ側との差圧が所定値よりも低ければ、下室２０側の圧力を受けて、区画部材１１１Ｄが、筒状部３６６とのシール状態を維持しつつストッパ部材４１１とは反対側へ変形しつつ移動する。これにより、可変室１７２Ｄの容積が拡大する。また縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｄ側よりも所定値以上高圧になると、連通機構１８１Ｄが開弁し、下室２０から背圧室１７１Ｄへ油液Ｌを流す。

　減衰力発生機構１０Ｄを含む緩衝器１Ｄの作動は、緩衝器１Ｂの作動とほぼ同様であり、縮み行程の低周波低速域ｙ２、低周波中高速域ｙ３、高周波低速域ｙ５および高周波中高速域ｙ６において、連通機構１８１Ｂに代えて設けられた連通機構１８１Ｄが開弁する点が相違する。

　第５実施形態の減衰力発生機構１０Ｄは、パイロットケース５８Ｄと、周波数感応機構２１１Ｄと、第１通路１７３Ｄと、連通機構１８１Ｄとを有している。パイロットケース５８Ｄは、有底筒状であって開口部６７（図１０参照）側に配された第１減衰バルブ５２Ｂ（図１０参照）に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｄを形成している。周波数感応機構２１１Ｄは、パイロットケース５８Ｄの底部６５Ｄに設けられ背圧室１７１Ｄと下室２０とを連通可能な第１通路１７３Ｄに、第１通路１７３Ｄを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｄを有する区画部材１１１Ｄが移動可能に設けられて、第１減衰バルブ５２Ｂ（図１０参照）への閉弁方向の付勢力を可変させる。第１通路１７３Ｄは、一側が背圧室１７１Ｄに連通可能である。連通機構１８１Ｄは、第１通路１７３Ｄの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第１通路１７３Ｄの他側に連通可能となる。

　上記のように減衰力発生機構１０Ｄは、背圧室１７１Ｄを形成するパイロットケース５８Ｄの底部６５Ｄに背圧室１７１Ｄと下室２０とを連通可能な第１通路１７３Ｄを設けている。そして、減衰力発生機構１０Ｄは、この第１通路１７３Ｄに、第１通路１７３Ｄをシール部１１２Ｄでシールする区画部材１１１Ｄを移動可能に設けた周波数感応機構２１１Ｄによって、第１減衰バルブ５２Ｂ（図１０参照）への閉弁方向の付勢力を可変させる。よって、減衰力発生機構１０Ｄは、周波数感応機構２１１Ｄを有していても、大型化を抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｄは、連通機構１８１Ｄが設けられているため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、連通機構１８１Ｄが開弁して、縮み行程で上室１９よりも高圧となっている下室２０から第１通路１７３Ｄを介して背圧室１７１Ｄに油液Ｌを導入して、背圧室１７１Ｄの圧力を迅速に高めることができる。すると、背圧室１７１Ｄの圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２Ｂ（図１０参照）の閉弁状態が安定する。これにより、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｄは、区画部材１１１Ｄが設けられる第１通路１７３Ｄは、その一側が背圧室１７１Ｄに連通可能であって、前記一側にあって下室２０側が上流側となるときのみに他側に連通可能となる連通機構１８１Ｄが設けられる通路を兼ねている。これにより、減衰力発生機構１０Ｄの大型化を一層抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｄは、連通機構１８１Ｄが、背圧室１７１Ｄが可変室１７２Ｄよりも高圧のとき、これらの連通を遮断する区画部材１１１Ｄのパッキン４２２Ｄを、可変室１７２Ｄが背圧室１７１Ｄよりも高圧のとき開いて可変室１７２Ｄから背圧室１７１Ｄに油液Ｌを導入する。よって、連通機構１８１Ｄの構成を簡素化することができる。

［第６実施形態］
　次に、第６実施形態を主に図１６～図１９に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

　図１６に示すように、第６実施形態の減衰力発生機構１０Ｅを含む緩衝器１Ｅは、その減衰力発生機構１０Ｅの一部の構成が減衰力発生機構１０とは異なっている。減衰力発生機構１０Ｅは、ピストンロッド２１の軸方向におけるディスク５０とディスク６１との間の構成が、減衰力発生機構１０とは異なっている。

　減衰力発生機構１０Ｅは、ピストンロッド２１の軸方向におけるディスク５０側から順に、一枚の第１減衰バルブ５２Ｅ（第一の減衰力発生部材）と、一枚の開閉ディスク５７Ｅと、一枚のディスク５３と、一枚のディスク５４Ｅと、複数枚、具体的には６枚の第１実施形態と同様のディスク５５と、一つのパイロットケース５８Ｅ（付勢力発生部材）と、一枚のディスク５１１と、一枚のディスク５１２と、複数枚、具体的には４枚の第１実施形態と同様のディスク５９と、を有している。ディスク５１１，５１２，５９が第２減衰バルブ６０Ｅを構成している。

　ディスク５４Ｅは、切欠１４１が形成されてない点がディスク５４とは異なっている。
　ディスク５１１，５１２、開閉ディスク５７Ｅおよびパイロットケース５８Ｅは、いずれも金属製である。ディスク５１１，５１２および開閉ディスク５７Ｅは、いずれも、一定厚さの有孔の円形平板状である。ディスク５１１，５１２および開閉ディスク５７Ｅはプレス成形により形成される。パイロットケース５８Ｅは円環状である。ディスク５１１，５１２、開閉ディスク５７Ｅおよびパイロットケース５８Ｅは、いずれも内側にピストンロッド２１の取付軸部２８を嵌合させる。

　パイロットケース５８Ｅは有底筒状である。パイロットケース５８Ｅは焼結により全体が継ぎ目なく一体に成形されている。パイロットケース５８Ｅは、有底円筒状であり、底部６５に代えて底部６５Ｅを有している。
　底部６５Ｅは、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１の取付軸部２８が嵌合される。パイロットケース５８Ｅは、筒状部６６の軸方向における底部６５Ｅとは反対側が開口部６７となっている。

　底部６５Ｅは、底本体部７１Ｅと、内側シート部７７Ｅと、バルブシート部７８Ｅとを有している。
　底本体部７１Ｅは、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１の取付軸部２８が嵌合される。筒状部６６は、底本体部７１Ｅの外周側の軸方向の一端側から底本体部７１Ｅの軸方向に沿って延出している。
　底本体部７１Ｅには、底本体部７１Ｅの径方向における中間位置に、シール溝６８Ｅが形成されている。シール溝６８Ｅは、円環状であり、底本体部７１Ｅの径方向における筒状部６６よりも内側に形成されている。シール溝６８Ｅは、底本体部７１Ｅの軸方向における筒状部６６側から、底本体部７１Ｅの軸方向において筒状部６６とは反対方向に凹んでいる。

　底本体部７１Ｅには、シール溝６８Ｅの底面に、通路穴８４Ｅが形成されている。通路穴８４Ｅは、底本体部７１Ｅをシール溝６８Ｅの位置において貫通している。通路穴８４Ｅは、パイロットケース５８Ｅの径方向においてシール溝６８Ｅの底面の外端位置にある。パイロットケース５８Ｅには、通路穴８４Ｅが、パイロットケース５８Ｅの周方向において等間隔で複数設けられている。

　底本体部７１Ｅの軸方向における筒状部６６側には、シール溝６８Ｅから底本体部７１Ｅの径方向における内側に延びる通路溝４６８Ｅが形成されている。通路溝４６８Ｅは、シール溝６８Ｅ内とピストンロッド２１の通路溝３０内の通路とを連通させる。

　内側シート部７７Ｅは、底本体部７１Ｅの内周側に形成されている。内側シート部７７Ｅは、円環状である。内側シート部７７Ｅは、底本体部７１Ｅの内周側の部分から底本体部７１Ｅの軸方向に沿って筒状部６６とは反対側に突出している。内側シート部７７Ｅには、内側シート部７７Ｅを径方向に貫通する通路溝９５Ｅが形成されている。通路溝９５Ｅ内の通路は、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路に連通している。

　バルブシート部７８Ｅは、底本体部７１Ｅの軸方向に沿って筒状部６６とは反対側に突出している。バルブシート部７８Ｅは、図１７に示すように、円環状である。バルブシート部７８Ｅは、内側シート部７７Ｅを底本体部７１Ｅの径方向におけるよりも外側で囲んで設けられている。

　減衰力発生機構１０Ｅは、図１６に示すように、シール溝６８Ｅ内に区画部材１１１Ｅ（可動機構）を有している。区画部材１１１Ｅは、全体として円環状であり、この円環の中心軸線を含む平面での断面が円形のＯリングである。区画部材１１１Ｅは、パイロットケース５８Ｅのシール溝６８Ｅ内に嵌合している。区画部材１１１Ｅは、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。区画部材１１１Ｅは、その内周にあるシール部１１２Ｅが、シール溝６８Ｅの径方向内側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。区画部材１１１Ｅは、その外周にあるシール部１１３Ｅが、シール溝６８Ｅの径方向外側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。

　第１減衰バルブ５２Ｅはディスク１３１Ｅとシール部材１３２とからなっている。
　ディスク１３１Ｅは、ディスク１３１に対して内周側に切欠５２１が形成された点が相違している。切欠５２１は、第１減衰バルブ５２Ｅの径方向においてシール部材１３２よりも内側に形成されている。切欠５２１内の通路は、ディスク５０の切欠１２１内の通路と連通する。

　開閉ディスク５７Ｅは、第１減衰バルブ５２Ｅの切欠５２１よりも第１減衰バルブ５２Ｅの径方向における外側まで広がっている。開閉ディスク５７Ｅは、第１減衰バルブ５２Ｅのディスク１３１Ｅに面接触で当接することで切欠５２１内の通路を閉塞する。開閉ディスク５７Ｅは、ディスク１３１Ｅから離間することで切欠５２１内の通路内の通路を開放する。

　ディスク５１１は、バルブシート部７８Ｅの外径よりも大径の外径となっている。ディスク５１１には、図１８に示すように、その外周部に、切欠５３１が形成されている。切欠５３１は、ディスク５１１の外周縁部から径方向に沿って内方に延びる外側切欠部５３２と、ディスク５１１の径方向における外側切欠部５３２の内端位置からディスク５１１の周方向に沿って両側に延びる円弧状の内側切欠部５３３とを有している。ディスク５１１には、その周方向に等間隔で切欠５３１が複数、具体的には４箇所形成されている。

　図１６に示すように、ディスク５１２は、ディスク５１１の外径と同等の外径となっている。ディスク５１２には、図１９に示すように、その外周側に、複数、具体的には３箇所の通路穴５３５が形成されている。通路穴５３５はディスク５１２の周方向に沿って延びる円弧状である。ディスク５１１，５１２の径方向において、通路穴５３５は内側切欠部５３３と位置を合わせている。つまり、通路穴５３５と切欠５３１とは連通する。

　ディスク５１１は、パイロットケース５８Ｅのバルブシート部７８Ｅに当接する。その際に、ディスク５１１は、外側切欠部５３２がバルブシート部７８Ｅを径方向に横断する。また、その際に、ディスク５１１は、内側切欠部５３３が、バルブシート部７８Ｅの径方向においてバルブシート部７８Ｅよりも内側に位置する。

　図１６に示すように、区画部材１１１Ｅのシール部１１２Ｅ，１１３Ｅが、シール溝６８Ｅの径方向内側および径方向外側それぞれの壁面に同時に圧接している。これにより、パイロットケース５８Ｅと、第１減衰バルブ５２Ｅおよびディスク５３，５４Ｅ，５５と、開閉ディスク５７Ｅと、区画部材１１１Ｅとで囲まれた部分が、背圧室１７１Ｅとなる。背圧室１７１Ｅは、通路溝４６８Ｅ内の通路を介してピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と常時連通する。

　また、区画部材１１１Ｅによって、シール溝６８Ｅの底面側と、区画部材１１１Ｅとの間が、可変室１７２Ｅとなる。可変室１７２Ｅは、通路穴８４Ｅ内の通路を介して下室２０に常時連通する。

　有底筒状のパイロットケース５８Ｅは、その内側に、第１減衰バルブ５２Ｅとディスク５３，５４Ｅ，５５と開閉ディスク５７Ｅと区画部材１１１Ｅとによって背圧室１７１Ｅを形成する。区画部材１１１Ｅは、パイロットケース５８Ｅ内に設けられて、パイロットケース５８Ｅ内を背圧室１７１Ｅと可変室１７２Ｅとに区画する。

　第１減衰バルブ５２Ｅは、ピストン１８のバルブシート部４７と共に第１バルブ機構４１Ｅを構成している。第１減衰バルブ５２Ｅは、伸び行程においてそのディスク１３１Ｅがバルブシート部４７から離座して開く。すると、第１減衰バルブ５２Ｅは、ピストン側通路４３からの油液Ｌを、バルブシート部４７との間を介して下室２０に流す。バルブシート部４７と第１減衰バルブ５２Ｅとからなる伸び側の第１バルブ機構４１Ｅは、ピストン側通路４３に設けられており、第１減衰バルブ５２Ｅでこのピストン側通路４３を開閉して油液Ｌの流動を抑制することにより減衰力を発生させる。

　ディスク５０の切欠１２１内の通路とピストンロッド２１の通路溝３０内の通路とパイロットケース５８Ｅの通路溝４６８Ｅ内の通路とが、ピストン側通路４３から分岐する背圧室導入通路１７６Ｅを構成している。背圧室導入通路１７６Ｅは、ピストン側通路４３（図２参照）の一部を介して上室１９（図２参照）と背圧室１７１Ｅとを連通させる。背圧室導入通路１７６Ｅは、伸び行程において、背圧室１７１Ｅに、背圧室１７１Ｅの上流側となる上室１９（図２参照）からピストン側通路４３の一部を介して油液Ｌを導入する。

　いずれもパイロットケース５８Ｅの底部６５Ｅに設けられた通路穴８４Ｅ内の通路とシール溝６８Ｅ内の通路とが、背圧室１７１Ｅと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｅを構成している。この第１通路１７３Ｅに、第１通路１７３Ｅを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｅ，１１３Ｅを有する区画部材１１１Ｅが移動可能に設けられている。下室２０は、伸び行程における油液Ｌの流れ方向の第１減衰バルブ５２Ｅの下流側となる。

　背圧室１７１Ｅは、第１減衰バルブ５２Ｅに、ピストン１８の方向、つまりディスク１３１Ｅをバルブシート部４７に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。パイロットケース５８Ｅは、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２Ｅに閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｅを形成している。

　第２減衰バルブ６０Ｅの切欠５３１内および通路穴５３５内の通路と、パイロットケース５８Ｅのバルブシート部７８Ｅと内側シート部７７Ｅとの間の通路と、パイロットケース５８Ｅの通路溝９５Ｅ内の通路と、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と、第１減衰バルブ５２Ｅの切欠５２１内の通路とが第２通路１８０Ｅとなっている。開閉ディスク５７Ｅは、第２通路１８０Ｅと、背圧室１７１Ｅとの間に開閉可能に設けられている。第２通路１８０Ｅは、通路穴８４Ｅ内の第１通路１７３Ｅと並列に設けられている。第２通路１８０Ｅは、パイロットケース５８Ｅにおいて、第１通路１７３Ｅよりも内周側に配置されている。開閉ディスク５７Ｅは、第１減衰バルブ５２Ｅのディスク１３１Ｅに面接触で当接する状態においては、背圧室１７１Ｅと、第２通路１８０Ｅおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を遮断する。また、開閉ディスク５７Ｅは、ディスク１３１Ｅから離間する状態では、背圧室１７１Ｅと、第２通路１８０Ｅおよび下室２０との間の油液Ｌの流通を許容する。

　ここで、開閉ディスク５７Ｅは、第２通路１８０Ｅおよび下室２０側の圧力が、背圧室１７１Ｅ側の圧力よりも所定値以上高くなると、下室２０および第２通路１８０Ｅから第２通路１８０Ｅを介しての背圧室１７１Ｅへの油液Ｌの流通を許容する。開閉ディスク５７Ｅは、背圧室１７１Ｅ側の圧力が第２通路１８０Ｅおよび下室２０側の圧力よりも高い状態では、背圧室１７１Ｅから第２通路１８０Ｅを介しての下室２０への油液Ｌの流通を規制する。

　開閉ディスク５７Ｅと、第１減衰バルブ５２Ｅのディスク１３１Ｅとが、連通機構１８１Ｅを構成している。第２通路１８０Ｅは、一側が背圧室１７１Ｅに連通可能である。連通機構１８１Ｅは、第２通路１８０Ｅの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第２通路１８０Ｅの他側である下室２０側に連通可能である。連通機構１８１Ｅは、チェック弁であり、開閉ディスク５７Ｅは、その弁部材である。

　ディスク５９，５１１，５１２からなる第２減衰バルブ６０Ｅは、バルブシート部７８Ｅに離着座可能である。

　ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と、パイロットケース５８Ｅの通路溝９５Ｅ内の通路と、内側シート部７７Ｅおよびバルブシート部７８Ｅの間の通路とが、ピストン側通路４３から分岐するロッド側通路１９１Ｅとなっている。ロッド側通路１９１Ｅは、上室１９と下室２０とを連通可能となっている。バルブシート部７８Ｅと第２減衰バルブ６０Ｅとが、ロッド側通路１９１Ｅに設けられてロッド側通路１９１Ｅを開閉する第２バルブ機構２０１Ｅを構成している。

　第２バルブ機構２０１Ｅは、その第２減衰バルブ６０Ｅが、バルブシート部７８Ｅに着座する。第２減衰バルブ６０Ｅは、伸び行程において、開弁して上室１９からピストン側通路４３の一部、背圧室導入通路１７６Ｅの一部およびロッド側通路１９１Ｅを介する下室２０への油液Ｌの流れに抵抗力を与える。言い換えれば、第２バルブ機構２０１Ｅは、上室１９から下室２０への油液Ｌの流れを抑制して減衰力を発生させる。第２バルブ機構２０１Ｅは、ロッド側通路１９１Ｅに設けられて油液Ｌの流動により減衰力を発生させる伸び側の減衰力発生機構である。

　パイロットケース５８Ｅおよび区画部材１１１Ｅは、ピストン１８の往復動の周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応機構２１１Ｅを構成している。周波数感応機構２１１Ｅは、その区画部材１１１Ｅが、ピストン１８の往復動の周波数に応じて移動および変形して、上室１９に常時連通する背圧室１７１Ｅの容量と、下室２０に常時連通する可変室１７２Ｅの容量とを変化させる。周波数感応機構２１１Ｅは、第１通路１７３Ｅに移動可能に設けられた区画部材１１１Ｅを有している。周波数感応機構２１１Ｅは、背圧室１７１Ｅによる第１減衰バルブ５２Ｅへの付勢力を可変させる。

　伸び行程では、背圧室導入通路１７６Ｅから背圧室１７１Ｅに油液Ｌが導入される。その結果、背圧室１７１Ｅ側が下室２０側よりも高圧となる。すると、背圧室１７１Ｅの圧力を受けて、区画部材１１１Ｅが、シール溝６８Ｅとのシール状態を維持しつつ、シール溝６８Ｅの底面側へ移動しこの底面に当接して圧縮変形する。これにより、背圧室１７１Ｅの容積が拡大する。

　縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｅ側よりも高圧となると、第１通路１７３Ｅから導入される下室２０側の圧力を受けて、区画部材１１１Ｅが、シール溝６８Ｅとのシール状態を維持しつつ、ディスク５５側へ移動しディスク５５に当接して圧縮変形する。これにより、可変室１７２Ｅの容積が拡大する。

　第６実施形態の減衰力発生機構１０Ｅは、パイロットケース５８Ｅと、周波数感応機構２１１Ｅと、第２通路１８０Ｅと、連通機構１８１Ｅとを有している。パイロットケース５８Ｅは、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２Ｅに閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｅを形成している。周波数感応機構２１１Ｅは、パイロットケース５８Ｅの底部６５Ｅに設けられ背圧室１７１Ｅと下室２０とを結ぶ第１通路１７３Ｅに、第１通路１７３Ｅを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｅ，１１３Ｅを有する区画部材１１１Ｅが移動可能に設けられて、第１減衰バルブ５２Ｅへの閉弁方向の付勢力を可変させる。第２通路１８０Ｅは、第１通路１７３Ｅとは並列に設けられ、一側が背圧室１７１Ｅに連通可能である。連通機構１８１Ｅは、第２通路１８０Ｅの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第２通路１８０Ｅの他側に連通可能となる。

　上記のように減衰力発生機構１０Ｅは、背圧室１７１Ｅを形成するパイロットケース５８Ｅの底部６５Ｅに背圧室１７１Ｅと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｅを設けている。そして、減衰力発生機構１０Ｅは、この第１通路１７３Ｅに、第１通路１７３Ｅをシール部１１２Ｅ，１１３Ｅでシールする区画部材１１１Ｅを移動可能に設けた周波数感応機構２１１Ｅによって、第１減衰バルブ５２Ｅへの閉弁方向の付勢力を可変させる。よって、減衰力発生機構１０Ｅは、周波数感応機構２１１Ｅを有していても、大型化を抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｅは、連通機構１８１Ｅが設けられているため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、連通機構１８１Ｅが開弁して、縮み行程で上室１９よりも高圧となっている下室２０から第２通路１８０Ｅを介して背圧室１７１Ｅに油液Ｌを導入する。その際に、減衰力発生機構１０Ｅは、第２減衰バルブ６０Ｅの切欠５３１内および通路穴５３５内の通路と、パイロットケース５８Ｅのバルブシート部７８Ｅと内側シート部７７Ｅとの間の通路と、パイロットケース５８Ｅの通路溝９５Ｅ内の通路と、ピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と、パイロットケース５８Ｅの通路溝４６８Ｅ内の通路とを介して下室２０から背圧室１７１Ｅに油液Ｌを導入する。これらによって、背圧室１７１Ｅの圧力を迅速に高めることができる。すると、背圧室１７１Ｅの圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２Ｅの閉弁状態が安定する。これにより、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｅは、連通機構１８１Ｅで開閉される第２通路１８０Ｅが第１通路１７３Ｅよりも底部６５Ｅの内周側に配置されているため、径方向の大型化を抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｅは、第１通路１７３Ｅを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｅ，１１３Ｅを有する区画部材１１１ＥとしてＯリングを用いているため、圧縮変形が大きい。このことから、連通機構１８１Ｅを設けることによる、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制する効果が高い。

［第７実施形態］
　次に、第７実施形態を主に図２０に基づいて第１実施形態との相違部分を中心に説明する。なお、第１実施形態と共通する部位については、同一称呼、同一の符号で表す。

　図２０に示すように、第７実施形態の減衰力発生機構１０Ｆを含む緩衝器１Ｆは、その減衰力発生機構１０Ｆの一部の構成が減衰力発生機構１０とは異なっている。減衰力発生機構１０Ｆは、ディスク５４に代えてこれとは一部異なるディスク５４Ｆが設けられている。減衰力発生機構１０Ｆは、パイロットケース５８に代えてこれとは一部異なるパイロットケース５８Ｆが設けられている。減衰力発生機構１０Ｆには、開閉ディスク５７は設けられていない。

　ディスク５４Ｆは、切欠１４１が形成されてない点がディスク５４とは異なっている。

　パイロットケース５８Ｆは、有底筒状である。パイロットケース５８Ｆは、焼結により全体が継ぎ目なく一体に成形されている。パイロットケース５８Ｆは、底部６５Ｆを有している。底部６５Ｆは、有孔の円板状であり、その内周側にピストンロッド２１の取付軸部２８が嵌合される。パイロットケース５８Ｆは、筒状部６６の軸方向における底部６５Ｆとは反対側が開口部６７となっている。

　底部６５Ｆは、底本体部７１Ｆと、上記と同様の内側シート部７７および外側シート部７８とを有している。

　底本体部７１Ｆは、有孔の円板状である。筒状部６６は、底本体部７１Ｆの軸方向における内側シート部７７および外側シート部７８とは反対側から、底本体部７１Ｆの軸方向に沿って延出している。
　底本体部７１Ｆには、底本体部７１Ｆの径方向における中間位置に、シール溝６８Ｆが形成されている。シール溝６８Ｆは、円環状であり、底本体部７１Ｆの径方向における筒状部６６よりも内側に形成されている。シール溝６８Ｆは、底本体部７１Ｆの軸方向における筒状部６６側から、底本体部７１Ｆの軸方向において筒状部６６とは反対方向に凹んでいる。

　底本体部７１Ｆには、シール溝６８Ｆの底面に、通路穴８３Ｆおよび通路穴８４Ｆが形成されている。通路穴８３Ｆは、底本体部７１Ｆをシール溝６８Ｆの位置において貫通している。通路穴８３Ｆは、パイロットケース５８Ｆの径方向においてシール溝６８Ｆの底面の内端位置にある。通路穴８４Ｆは、パイロットケース５８Ｆの径方向においてシール溝６８Ｆの底面の外端位置にある。パイロットケース５８Ｆには、通路穴８３Ｆおよび通路穴８４Ｆがそれぞれ複数ずつ設けられている。パイロットケース５８Ｆには、通路穴８３Ｆおよび通路穴８４Ｆがパイロットケース５８Ｆの周方向において交互に設けられている。

　底本体部７１Ｆの軸方向における内側シート部７７とは反対側には、シール溝６８Ｆから底本体部７１Ｆの径方向内側に延びる通路溝４６８Ｆが形成されている。通路溝４６８Ｆはシール溝６８Ｆとピストンロッド２１の通路溝３０内の通路とを連通させる。

　減衰力発生機構１０Ｆは、シール溝６８Ｆ内に区画部材１１１Ｆ（可動機構）を有している。区画部材１１１Ｆは、全体として円環状であり、この円環の中心軸線を含む平面での断面がＶ字形のＶパッキンである。区画部材１１１Ｆは、パイロットケース５８Ｆのシール溝６８Ｆ内に嵌合している。その際に、区画部材１１１Ｆは、Ｖ字の開口側がシール溝６８Ｆの底面とは反対側に向く。区画部材１１１Ｆは、シール性を有する弾性材料からなっており、具体的にはゴム製である。区画部材１１１Ｆは、その内周にあるシール部１１２Ｆが、シール溝６８Ｆの径方向内側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。区画部材１１１Ｆは、その外周にあるシール部１１３Ｆが、シール溝６８Ｆの径方向外側の壁面に圧接して、この壁面との隙間をシールする。

　減衰力発生機構１０Ｆは、ディスク５５がパイロットケース５８Ｆの底本体部７１Ｆに当接する。

　区画部材１１１Ｆのシール部１１２Ｆ，１１３Ｆが、シール溝６８Ｆの径方向内側および径方向外側それぞれの壁面に同時に圧接している。これにより、パイロットケース５８Ｆと、第１減衰バルブ５２およびディスク５３，５４Ｆ，５５と、区画部材１１１Ｆとで囲まれた部分が、背圧室１７１Ｆとなる。背圧室１７１Ｆは、通路溝４６８Ｆ内の通路を介してピストンロッド２１の通路溝３０内の通路と常時連通する。

　また、区画部材１１１Ｆによって、シール溝６８Ｆの底面側と、区画部材１１１Ｆとの間が、可変室１７２Ｆとなる。可変室１７２Ｆは、通路穴８３Ｆ，８４Ｆ内の通路を介して下室２０に常時連通している。

　有底筒状のパイロットケース５８Ｆは、その内側に、第１減衰バルブ５２とディスク５３，５４Ｆ，５５と区画部材１１１Ｆとによって背圧室１７１Ｆを形成する。区画部材１１１Ｆは、パイロットケース５８Ｆ内に設けられて、パイロットケース５８Ｆ内を背圧室１７１Ｆと可変室１７２Ｆとに区画する。

　ディスク５０の切欠１２１内の通路とピストンロッド２１の通路溝３０内の通路とパイロットケース５８Ｆの通路溝４６８Ｆ内の通路とが、ピストン側通路４３から分岐する背圧室導入通路１７６Ｆを構成している。背圧室導入通路１７６Ｆは、ピストン側通路４３の一部を介して上室１９と背圧室１７１Ｆとを連通させる。背圧室導入通路１７６Ｆは、伸び行程において、背圧室１７１Ｆに、背圧室１７１Ｆの上流側となる上室１９からピストン側通路４３の一部を介して油液Ｌを導入する。

　いずれもパイロットケース５８Ｆの底部６５Ｆに設けられた通路穴８３Ｆ，８４Ｆ内の通路とシール溝６８Ｆ内の通路とが、背圧室１７１Ｆと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｆを構成している。この第１通路１７３Ｆに、第１通路１７３Ｆを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｆ，１１３Ｆを有する区画部材１１１Ｆが移動可能に設けられている。

　背圧室１７１Ｆは、第１減衰バルブ５２に、ピストン１８の方向、つまりディスク１３１をバルブシート部４７に着座させる閉弁方向に内圧を作用させる。パイロットケース５８Ｆは、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｆを形成している。

　区画部材１１１Ｆは、第１通路１７３Ｆに開閉可能に設けられている。区画部材１１１Ｆは、シール部１１２Ｆ，１１３Ｆが、シール溝６８Ｆの径方向内側および径方向外側それぞれの壁面に同時に当接する状態においては、背圧室１７１Ｆと下室２０との第１通路１７３Ｆを介しての油液Ｌの流通を遮断する。また、区画部材１１１Ｆは、シール部１１２Ｆ，１１３Ｆが、シール溝６８Ｆの径方向内側および径方向外側それぞれの壁面から離間する状態では、背圧室１７１Ｆと下室２０との第１通路１７３Ｆを介しての油液Ｌの流通を許容する。

　ここで、区画部材１１１Ｆは、下室２０側の圧力が、背圧室１７１Ｂ側の圧力よりも所定値以上高くなると、下室２０から第１通路１７３Ｆを介しての背圧室１７１Ｆへの油液Ｌの流通を許容する。区画部材１１１Ｆは、背圧室１７１Ｆ側の圧力が、下室２０側の圧力よりも高い状態では、背圧室１７１Ｆから第１通路１７３Ｆを介しての下室２０への油液Ｌの流通を規制する。

　区画部材１１１Ｆと、シール溝６８Ｆの径方向内側および径方向外側それぞれの壁面とが、連通機構１８１Ｆを構成している。第１通路１７３Ｆは、一側が背圧室１７１Ｆに連通可能である。連通機構１８１Ｆは、第１通路１７３Ｆの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ、第１通路１７３Ｆの他側である下室２０側に連通可能である。言い換えれば、連通機構１８１Ｆは、下室２０が下流側となるときは、第１通路１７３Ｆの他側である下室２０側に連通不可である。連通機構１８１Ｆは、背圧室１７１Ｆと可変室１７２Ｆとの間で、背圧室１７１Ｆ側から可変室１７２Ｆ側への一方向の油液Ｌの流れを規制する。その一方で、連通機構１８１Ｆは、可変室１７２Ｆ側から背圧室１７１Ｆ側への他方向の油液Ｌの流れを許容する。連通機構１８１Ｆは、チェック弁であり、区画部材１１１Ｆは、その弁部材である。

　区画部材１１１Ｆは、第１通路１７３Ｆが下室２０から背圧室１７１Ｆに油液Ｌを流すときに開弁する。第１通路１７３Ｆは、背圧室１７１Ｆと下室２０とを結んで設けられて区画部材１１１Ｆが設けられている。区画部材１１１Ｆが設けられる第１通路１７３Ｆは、その一側が背圧室１７１Ｆに連通可能であって、前記一側にあって下室２０側が上流側となるときのみに他側に連通可能となる連通機構１８１Ｆが設けられる通路を兼ねている。

　連通機構１８１Ｆは、上室１９、ピストン側通路４３、背圧室導入通路１７６Ｆおよび背圧室１７１Ｆから第１通路１７３Ｆを介しての下室２０への油液Ｌの流れを規制する。連通機構１８１Ｆは、下室２０から、第１通路１７３Ｆを介しての背圧室１７１Ｆ、背圧室導入通路１７６Ｆ、ピストン側通路４３および上室１９への油液Ｌの流れを許容する。

　パイロットケース５８Ｆおよび区画部材１１１Ｆは、ピストン１８の往復動の周波数に感応して減衰力を可変とする周波数感応機構２１１Ｆを構成している。周波数感応機構２１１Ｆは、その区画部材１１１Ｆが、ピストン１８の往復動の周波数に応じて移動および変形して、上室１９に常時連通する背圧室１７１Ｆの容量と、下室２０に常時連通する可変室１７２Ｆの容量とを変化させる。周波数感応機構２１１Ｆは、第１通路１７３Ｆに移動可能に設けられた区画部材１１１Ｆを有している。周波数感応機構２１１Ｆは、背圧室１７１Ｆによる第１減衰バルブ５２への付勢力を可変させる。

　減衰力発生機構１０Ｆは、下記の点を除いて、減衰力発生機構１０とほぼ同様に作動する。
　伸び行程では、背圧室導入通路１７６Ｆを介して油液Ｌが背圧室１７１Ｆに導入される。そして、その際の背圧室１７１Ｆと下室２０との差圧は、背圧室１７１Ｆ側が下室２０側よりも高圧となる。すると、背圧室１７１Ｆの圧力を受けて、区画部材１１１Ｆが、シール溝６８Ｆとのシール状態を維持しつつ、シール溝６８Ｆの底面側へ移動しこの底面に当接して変形する。これにより、背圧室１７１Ｆの容積が拡大する。

　縮み行程では、下室２０側が背圧室１７１Ｆ側よりも高圧となる。すると、下室２０側と背圧室１７１Ｆ側との差圧が所定値よりも低ければ、下室２０から第１通路１７３Ｆの通路穴８３Ｆ，８４Ｆ内の通路を介して油液が可変室１７２Ｆに流れ、その圧力を受けて、区画部材１１１Ｆが、シール溝６８Ｆとのシール状態を維持しつつ、ディスク５５側へ移動しディスク５５に当接して変形する。これにより、可変室１７２Ｆの容積が拡大する。また、縮み行程で、下室２０側が背圧室１７１Ｆ側よりも所定値以上高圧になると、区画部材１１１Ｆが外径を小さく内径を大きくするように変形して連通機構１８１Ｆが開弁し、下室２０から第１通路１７３Ｆの通路穴８３Ｆ，８４Ｆ内およびシール溝６８Ｆ内の通路を介して背圧室１７１Ｆへ油液Ｌを流す。

　第７実施形態の減衰力発生機構１０Ｆは、パイロットケース５８Ｆと、周波数感応機構２１１Ｆと、第１通路１７３Ｆと、連通機構１８１Ｆとを有している。パイロットケース５８Ｆは、有底筒状であって開口部６７側に配された第１減衰バルブ５２に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室１７１Ｆを形成している。周波数感応機構２１１Ｆは、パイロットケース５８Ｆの底部６５Ｆに設けられ背圧室１７１Ｆと下室２０とを結ぶ第１通路１７３Ｆに、第１通路１７３Ｆを弾性部材によりシールするシール部１１２Ｆ，１１３Ｆを有する区画部材１１１Ｆが移動可能に設けられて、第１減衰バルブ５２への閉弁方向の付勢力を可変させる。第１通路１７３Ｆは、一側が背圧室１７１Ｆに連通可能である。連通機構１８１Ｆは、第１通路１７３Ｆの前記一側にあって、下室２０が上流側となるときのみ第１通路１７３Ｆの他側に連通可能となる。

　上記のように減衰力発生機構１０Ｆは、背圧室１７１Ｆを形成するパイロットケース５８Ｆの底部６５Ｆに背圧室１７１Ｆと下室２０とを結んで延びる第１通路１７３Ｆを設けている。そして、減衰力発生機構１０Ｆは、この第１通路１７３Ｆに、第１通路１７３Ｆをシール部１１２Ｆ，１１３Ｆでシールする区画部材１１１Ｆを移動可能に設けた周波数感応機構２１１Ｆによって、第１減衰バルブ５２への閉弁方向の付勢力を可変させる。よって、減衰力発生機構１０Ｆは、周波数感応機構２１１Ｆを有していても、大型化を抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｆは、連通機構１８１Ｆが設けられているため、縮み行程から伸び行程への行程反転時に、連通機構１８１Ｆが開弁して、縮み行程で上室１９よりも高圧となっている下室２０から第１通路１７３Ｆを介して背圧室１７１Ｆに油液Ｌを導入して、背圧室１７１Ｆの圧力を迅速に高めることができる。すると、背圧室１７１Ｆの圧力で閉弁方向に付勢される第１減衰バルブ５２の閉弁状態が安定する。これにより、縮み行程から伸び行程への行程反転時に生じる減衰力の立ち上がりの遅れを抑制することができる。

　また、減衰力発生機構１０Ｆは、区画部材１１１Ｆが設けられる第１通路１７３Ｆは、その一側が背圧室１７１Ｆに連通可能であって、前記一側にあって下室２０側が上流側となるときのみに他側に連通可能となる連通機構１８１Ｆが設けられる通路を兼ねている。これにより、減衰力発生機構１０Ｆの大型化を一層抑制することが可能となる。

　また、減衰力発生機構１０Ｆは、区画部材１１１Ｆが、Ｖパッキンであり、第１通路１７３Ｆが、下室２０側が上流側となるとき、Ｖパッキンである区画部材１１１Ｆの外周側または内周側が下室２０から背圧室１７１Ｆに油液Ｌを流す通路となる。このため、構成を簡素化でき、コスト増を抑制することができる。

（付記１）
　付記１の減衰力発生機構は、
　有底筒状であって開口側に配された第一の減衰力発生部材に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室を形成する付勢力発生部材と、
　前記付勢力発生部材の底部に設けられ前記背圧室と第１室とを結ぶ第１通路に、前記第１通路を弾性部材によりシールするシール部を有する可動機構が移動可能に設けられて、前記付勢力を可変させる周波数感応機構と、
　前記第１通路に並列または共通し、一側が前記背圧室に連通可能な第２通路と、
　前記第２通路の前記一側にあって、前記第１室が上流側となるときのみ前記第２通路の他側に連通可能な連通機構と、を有する。

（付記２）
　付記２の減衰力発生機構は、付記１の減衰力発生機構において、
　前記第２通路が、前記第１通路よりも内周側に配置される。

（付記３）
　付記３の減衰力発生機構は、付記１の減衰力発生機構において、
　前記第２通路が、前記第１通路よりも外周側に配置される。

（付記４）
　付記４の減衰力発生機構は、付記１～付記３のいずれか一つの減衰力発生機構において、
　前記可動機構がＯリングである。

（付記５）
　付記５の減衰力発生機構は、付記１の減衰力発生機構において、
　前記第１通路が、前記第２通路を兼ねる。

（付記６）
　付記６の減衰力発生機構は、付記１、付記２または付記５のいずれか一つの減衰力発生機構において、
　前記付勢力発生部材にテーパ部を設け、前記可動機構が前記テーパ部によって移動を規制される。

（付記７）
　付記７の減衰力発生機構は、付記６の減衰力発生機構において、
　前記テーパ部と前記付勢力発生部材の外底側との間に、常時連通可能な通路が形成される。

（付記８）
　付記８の減衰力発生機構は、付記５～付記７のいずれか一つの減衰力発生機構において、
　前記可動機構は、穴を有するディスクとパッキンとを有し、前記穴を閉塞可能な弁部材が設けられ、前記弁部材が、前記第１通路が前記第２通路として作用するときに開弁する。

（付記９）
　付記９の減衰力発生機構は、付記５～付記７のいずれか一つの減衰力発生機構において、
　前記可動機構が、Ｖパッキンであり、前記第１通路が前記第２通路として作用するとき、前記Ｖパッキンの外周側または内周側を前記第２通路とする。

　本発明の上記各態様によれば、大型化を抑制可能な減衰力発生機構を提供できる。よって、産業上の利用可能性は大である。

　１，１Ａ～１Ｆ…緩衝器、２…シリンダ、１０，１０Ａ～１０Ｆ…減衰力発生機構、２０…下室（第１室）、５２，５２Ａ，５２Ｂ，５２Ｅ…第１減衰バルブ（第一の減衰力発生部材）、５７Ｂ…開閉ディスク（弁部材）、５８，５８Ａ～５８Ｆ…パイロットケース（付勢力発生部材）、６５，６５Ａ～６５Ｆ…底部、６７，６７Ａ，６７Ｂ…開口部、１１１，１１１Ａ～１１１Ｆ…区画部材（可変機構）、１１２，１１２Ａ～１１２Ｆ，１１３，１１３Ａ～１１３Ｆ…シール部、１７１，１７１Ａ～１７１Ｆ…背圧室、１７３，１７３Ａ～１７３Ｆ…第１通路、１８０，１８０Ａ～１８０Ｆ…第２通路、１８１，１８１Ａ～１８１Ｆ…連通機構、２１１，２１１Ａ～２１１Ｆ…周波数感応機構、４１２…テーパ部、４２１…ディスク、４２２…パッキン、４２５…通路穴（穴）。

Claims

　有底筒状であって開口側に配された第一の減衰力発生部材に閉弁方向の付勢力を発生させる背圧室を形成する付勢力発生部材と、
　前記付勢力発生部材の底部に設けられて前記背圧室と第１室とを結ぶ第１通路に、前記第１通路を弾性部材によりシールするシール部を有する可動機構が移動可能に設けられて、前記付勢力を可変させる周波数感応機構と、
　前記第１通路に並列または共通し、一側が前記背圧室に連通可能な第２通路と、
　前記第２通路の前記一側にあって、前記第１室が上流側となるときのみ前記第２通路の他側に連通可能な連通機構と、
を有する減衰力発生機構。
　前記第２通路が、前記第１通路よりも内周側に配置される請求項１に記載の減衰力発生機構。
　前記第２通路が、前記第１通路よりも外周側に配置される請求項１に記載の減衰力発生機構。
　前記可動機構が、Ｏリングである請求項１～３のいずれか一項に記載の減衰力発生機構。
　前記第１通路が、前記第２通路を兼ねる請求項１に記載の減衰力発生機構。
　前記付勢力発生部材にテーパ部を設け、前記可動機構が前記テーパ部によって移動を規制される請求項５に記載の減衰力発生機構。
　前記テーパ部と前記付勢力発生部材の外底側との間に、常時連通可能な通路が形成される請求項６に記載の減衰力発生機構。
　前記可動機構が、穴を有するディスクとパッキンとを有し、前記穴を閉塞可能な弁部材が設けられ、前記弁部材が、前記第１通路が前記第２通路として作用するときに開弁する請求項５～７のいずれか一項に記載の減衰力発生機構。
　前記可動機構が、Ｖパッキンであり、前記第１通路が前記第２通路として作用するとき、前記Ｖパッキンの外周側または内周側を前記第２通路とする請求項５～７のいずれか一項に記載の減衰力発生機構。