WO2020162548A1

WO2020162548A1 - 電気コネクタおよび該電気コネクタの検査方法

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Publication number: WO2020162548A1
Application number: PCT/JP2020/004584
Authority: WO
Inventors: 寿倫大岩根
Original assignee: 株式会社村田製作所
Priority date: 2019-02-07
Filing date: 2020-02-06
Publication date: 2020-08-13
Also published as: US20210359439A1; CN113273035A; JPWO2020162548A1; JP7188465B2; US11978972B2; CN113273035B

Abstract

コネクタ係合部の抜去力に影響を及ぼすことなく、安定した検査を行うことができる、電気コネクタを提供する。電気絶縁性のハウジング１２と、ハウジング１２に保持される内部端子１４と、ハウジング１２に保持されるとともにグランドに電気的に接続される外部端子１０とを備える電気コネクタ２であって、外部端子１０は、コネクタ挿抜方向からの平面視で、第１係合壁部１７を一側に有するとともに第２係合壁部１９を他側に有する嵌合部１１を備え、第１係合壁部１７には第１係合部１７ａが形成されているとともに、第２係合壁部１９には第２係合部１９ａが形成されている。

Description

電気コネクタおよび該電気コネクタの検査方法

　この発明は、電気コネクタおよび該電気コネクタの検査方法に関する。

　電気コネクタセットでは、第１コネクタと第２コネクタとが互いに嵌合するように構成されている（例えば、特許文献１参照）。

　特許文献１の電気コネクタセットでは、第１コネクタの第１外部端子に設けられた第１コネクタ係合部と第２コネクタの第２外部端子に設けられた第２コネクタ係合部とが互いに係合する。これにより、第２コネクタが第１コネクタに嵌合して、第２コネクタが第１コネクタから不用意に外れることが防止される。

特開２０１８－１１６９２５号公報

　検査装置を用いて電気コネクタを検査するとき、例えば、電気コネクタと検査装置とが互いに嵌合しない構成とすることができる。この場合、検査装置のプローブが、電気コネクタの内部端子に対して安定して接触できないため、検査結果のばらつきが大きくなる。

　また、検査装置を用いて電気コネクタを検査するとき、検査装置の検査用係合部材に検査用係合部を設けて、該検査用係合部がコネクタ係合部（第１コネクタ係合部や第２コネクタ係合部）と係合する構成にすることができる。このとき、検査工程によっては、コネクタ係合部の摩耗や変形が発生する可能性があり、これにより、コネクタ係合部の抜去力が劣化するおそれがある。

　そこで、この発明の課題は、コネクタ係合部の抜去力に影響を及ぼすことなく、安定した検査を行うことができる電気コネクタおよび該電気コネクタの検査方法を提供することである。

　上記目的を達成するために、この発明に係る電気コネクタは、
　電気絶縁性のハウジングと、前記ハウジングに保持される内部端子と、前記ハウジングに保持されるとともにグランドに電気的に接続される外部端子とを備える電気コネクタであって、
　前記外部端子は、コネクタ挿抜方向からの平面視で、第１係合壁部を一側に有するとともに検査用係合壁部を他側に有する嵌合部を備え、
　前記第１係合壁部には第１係合部が形成されているとともに、前記第２係合壁部には第２係合部が形成されている。

　この発明に係る電気コネクタによれば、第１係合部および第２係合部が、それぞれ、嵌合部の一側および他側において別々に形成されていることにより、第１係合部の抜去力に影響を及ぼさず、安定した検査が可能になる。

一実施形態に係る電気コネクタセットを展開した斜視図である。図１に示した電気コネクタセットの平面図である。図１に示した電気コネクタセットのうちの第１コネクタを展開した斜視図である。図１に示した電気コネクタセットのうちの第２コネクタを展開した斜視図である。第１コネクタにおける嵌合部を示す断面図である。第１コネクタを検査装置で検査している状態を模式的に示す断面図である。第１コネクタおよび検査装置が嵌合している状態を模式的に示す断面図である。第１コネクタおよび検査装置が嵌合している状態の要部を示す断面図である。（Ａ）は、図７での嵌合状態を示す。（Ｂ）は、第１変形例に係る嵌合構造を示す。（Ｃ）は、第２変形例に係る嵌合構造を示す。第１コネクタおよび検査装置が嵌合している状態の要部を示す断面図である。（Ａ）は、第３変形例に係る嵌合構造を示す。（Ｂ）は、第４変形例に係る嵌合構造を示す。（Ｃ）は、第５変形例に係る嵌合構造を示す。検査装置を用いた電気コネクタの検査方法の一例を示すフローチャートである。

　以下、図面を参照しながら、この発明に係る電気コネクタを説明するが、まずは、電気コネクタとしての第１コネクタ２および第２コネクタ４を備える電気コネクタセット１を説明する。なお、各図には、便宜上、互いに直交するＸ軸、Ｙ軸、Ｚ軸を示している。

　〔電気コネクタセット〕
　図１は、一実施形態に係る電気コネクタセット１を展開した斜視図である。図２は、図１に示した電気コネクタセット１の平面図である。

　図１および図２に示すように、電気コネクタセット１は、第１コネクタ２と、第１コネクタ２との嵌合相手である第２コネクタ４とを備える。第１コネクタ２は、第２コネクタ４に対してコネクタ挿抜方向（Ｚ軸方向）に挿抜可能に嵌合するように構成されている。図１に示すように、電気コネクタセット１は、第２コネクタ４を第１コネクタ２に対向させた状態で第２コネクタ４を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿入方向に）移動させることによって、第１コネクタ２および第２コネクタ４が互いに嵌合するように構成されている。第１コネクタ２および第２コネクタ４は、それぞれ、別個の回路基板（図示しない）に実装されて電気的に接続される。

　〔第１コネクタ〕
　図３は、図１に示した電気コネクタセット１のうちの第１コネクタ２を展開した斜視図である。

　図１から図３に示すように、第１コネクタ２は、例えば、第１外部端子１０と、複数の第１内部端子１４と、第１ハウジング１２と、第１シールド部材１５とを備える多極コネクタである。

　各第１内部端子１４は、信号電位又はグランド電位に接続される導体である。第１内部端子１４は、導電性を有する棒状の部材を折り曲げることによって、所定の形状に形成されている。第１内部端子１４は、弾性変形可能な金属材料（例えば、リン青銅）からなる。図３に例示した第１内部端子１４は、例えば凸形状をしているので、通常、オス型の多極接続端子とも呼ばれる。第１内部端子１４は、第１ハウジング１２の溝に嵌め込まれて保持される。第１内部端子１４は、第１コネクタ２と第２コネクタ４とが嵌合状態にあるとき、後述する第２コネクタ４の第２内部端子２４に接触する。第１内部端子１４が第２内部端子２４に接触することにより、第１コネクタ２と第２コネクタ４とが、互いに電気的に接続される。

　第１内部端子１４は、複数列で配置され、１列につき複数個並べられている。図３に示す例では、第１内部端子１４は、２列で配置され、１列につき６個並べられる。例えば、第１コネクタ２の長手方向を、すなわち第１内部端子１４の複数個が１列で並んでいる方向を、Ｘ軸方向とする。また、第１コネクタ２の短手方向を、すなわち第１内部端子１４の延在方向をＹ軸方向とする。なお、Ｙ軸方向は、コネクタ挿抜方向（Ｚ軸方向）に直交する挿抜直交方向でもある。

　第１ハウジング１２は、前述した第１内部端子１４、後述する第１外部端子１０および第１シールド部材１５を一体的に保持する部材である。第１ハウジング１２は、電気絶縁性の材料（例えば、樹脂材料）からなる。

　第１コネクタ２は、例えば、第１内部端子１４、第１外部端子１０および第１シールド部材１５を、第１ハウジング１２と一体的にインサート成形することにより製造される。

　第１外部端子１０は、グランド電位に接続される導体である。第１外部端子１０は、弾性変形可能な金属材料（例えば、リン青銅）からなる。第１外部端子１０は、グランド電位に電気的に接続されることで、第１コネクタ２の外部からの電磁波を遮蔽して、第１コネクタ２内を電磁的に遮蔽する。第１外部端子１０は、特に、第１内部端子１４が第１コネクタ２の外部から電磁波の干渉を受けないようにする。第１外部端子１０は、第１内部端子１４を囲むように第１ハウジング１２の周囲の溝に嵌め込まれて保持される。

　第１シールド部材１５は、第１内部端子１４の列間における電磁波の干渉を抑制するための導電性の部材である。第１シールド部材１５は、第１内部端子１４の列間に配置されるとともに、第１ハウジング１２の溝に嵌め込まれて保持される。

　第１シールド部材１５は、第１外部端子１０と直接的には接触していないが、第１コネクタ２が接続される回路基板（図示しない）上において、第１外部端子１０と電気的に接続されている。当該接続により、第１シールド部材１５は、第１外部端子１０と一体的にグランド電位に電気的に接続される。グランド電位に電気的に接続された第１シールド部材１５は、電磁波のシールドを構築する。第１シールド部材１５によって、第１内部端子１４の列間における電磁波の干渉が抑制される。

　〔第２コネクタ〕
　図４は、図１に示した電気コネクタセット１のうちの第２コネクタ４を展開した斜視図である。

　図１、図２および図４に示すように、第２コネクタ４は、第２外部端子２０と、複数の第２内部端子２４と、第２ハウジング２２と、第２シールド部材２５とを備える多極コネクタである。第２コネクタ４の各構成は、第１コネクタ２の各構成と類似しているため、その説明を適宜に省略する。

　第２内部端子２４は、前述した第１コネクタ２の第１内部端子１４に接触する導体であり、第２ハウジング２２に保持されている。第２内部端子２４は、第１内部端子１４と同様に、棒状の部材を折り曲げることによって、所定の形状に形成されている。第２内部端子２４は、弾性変形可能な金属材料（例えば、リン青銅）からなる。図４に例示した第２内部端子２４は、例えば凹形状をしているので、通常、メス型の多極接続端子とも呼ばれる。

　各第２内部端子２４は、第１コネクタ２の第１内部端子１４のそれぞれに対応して設けられている。具体的には、第２内部端子２４も、１列につき６個が２列で配置されている。第２内部端子２４のそれぞれが、第１内部端子１４のそれぞれと一対一に対応している。

　第２ハウジング２２は、前述した第１ハウジング１２と同様に、第２内部端子２４、第２外部端子２０および第２シールド部材２５を一体的に保持する部材である。第２ハウジング２２は、電気絶縁性の材料（例えば、樹脂材料）からなる。

　第２外部端子２０は、前述した第１外部端子１０と同様に、第２内部端子２４が第２コネクタ４の外部の電磁波から干渉を受けないようにするためにグランド電位に接続される導体である。第２外部端子２０は、弾性変形可能な金属材料（例えば、リン青銅）からなる。第２外部端子２０は、第２内部端子２４を囲むように配置される。

　第２シールド部材２５は、前述した第１シールド部材１５と同様に、第２内部端子２４の列間における電磁波の干渉を抑制するための導電性の部材である。第２シールド部材２５は、第２内部端子２４の列が並ぶＸ軸方向に延びる板状の部材として構成されている。第２シールド部材２５は、第２コネクタ４が実装される回路基板（図示しない）上で第２外部端子２０と電気的に接続されている。

　上述した第２コネクタ４においては、第１コネクタ２と同様に、第２外部端子２０によって、外部からの電磁波の干渉が抑制されるとともに、第２シールド部材２５によって、第２内部端子２４の列間における電磁波の干渉が抑制される。

　〔電気コネクタ同士の嵌合構造〕
　第１コネクタ２の第１外部端子１０は、複数の第１嵌合部１１を有する。図３に例示した第１外部端子１０は、一側の長手方向（Ｘ軸方向）において対向する２つの第１嵌合部１１を有し、他側の長手方向（Ｘ軸方向）において対向する２つの第１嵌合部１１を有し、合計４つの第１嵌合部１１を有する。各第１嵌合部１１は、例えば、長手方向（Ｘ軸方向）のコーナー部付近に配設されている。

　図５に示すように、第１外部端子１０の各第１嵌合部１１は、断面視で逆Ｕ字状に屈曲しており、第１コネクタ係合壁部１７と連結部１８と検査用係合壁部１９とを有する。第１嵌合部１１は、コネクタ挿抜方向（Ｚ軸方向）からの平面視で、第１コネクタ係合壁部１７を一側に（例えば、内側に）有するとともに、検査用係合壁部１９を他側に（例えば、外側に）有する。

　第１コネクタ係合壁部１７は、第１外部端子１０（第１嵌合部１１）の一側に（例えば、内側に）位置する。検査用係合壁部１９は、第１外部端子１０（第１嵌合部１１）の他側に（例えば、外側に）位置する。連結部１８は、第１コネクタ係合壁部１７の上部と、検査用係合壁部１９の上部とをつないでいる。

　第１コネクタ２を回路基板（図示しない）に実装したとき、検査用係合壁部１９は、その下端に位置する第１実装面１１ｂを介して、回路基板での実装部（図示しない）に固定して支持される。すなわち、第１嵌合部１１は、実装時において、検査用係合壁部１９の側において片持ちで弾性的に支持される構成をしている。第１コネクタ係合壁部１７の上部は連結部１８につながっているが、第１コネクタ係合壁部１７の下端は、何もつながれていない自由端となっている。したがって、第１コネクタ係合壁部１７は、自由端部として弾性的に片持ちで支持されている。当該構成によれば、第１嵌合部１１の第１コネクタ係合壁部１７を、嵌合相手である第２コネクタ４の第２嵌合部２１に向けて付勢する付勢力が働くので、第１嵌合部１１と第２嵌合部２１との間での嵌合が安定する。

　コネクタ挿抜方向からの平面視で、第１コネクタ２の内側には、すなわち、第１コネクタ係合壁部１７の内側面１７ｆには、第１コネクタ係合部１７ａが形成されている。第１コネクタ係合部１７ａは、例えば、嵌合相手である第２コネクタ４の第２嵌合部２１に向けて（すなわち、挿抜直交方向（Ｙ軸方向）に）突出する凸形状をした突出部である。これにより、嵌合相手である第２コネクタ４の第２嵌合部２１に対する嵌合が容易になる。

　図１および図４に示すように、第２外部端子２０の各第２嵌合部２１は、第２コネクタ４の厚み方向（Ｚ軸方向）の下方に折り曲げられた形状をしている。第２嵌合部２１の外側面には、第２コネクタ係合部２７ａが形成されている。第２コネクタ係合部２７ａは、例えば、第１嵌合部１１の第１コネクタ係合部１７ａと係合可能なように凹んだ凹形状をしている。第２コネクタ係合部２７ａは、第１コネクタ係合部１７ａに対応する位置に配設されている。前述したように、第１コネクタ係合壁部１７には付勢力が働くため、第２コネクタ４を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿入方向に）移動させると、第１嵌合部１１が第２嵌合部２１に対して安定して嵌合する。第１コネクタ２および第２コネクタ４が互いに嵌合したとき、凸形状の第１コネクタ係合部１７ａが凹形状の第２コネクタ係合部２７ａに係合している。上述したように、第１コネクタ係合部１７ａが形成された第１コネクタ係合壁部１７は、弾性的に片持ちで支持されているので、第１コネクタ係合部１７ａには付勢力が働くように構成されている。これにより、第１コネクタ係合部１７ａの係合相手である第２コネクタ係合部２７ａとの係合が安定する。

　〔第１コネクタと検査装置との間での嵌合構造〕
　図６、図７および図８を参照しながら、第１コネクタ２と検査装置との嵌合構造を説明する。

　検査装置３０は、プローブ（図示しない）と検査用係合部材３１とグランド当接部材３５と検査装置本体（図示しない）とを備える。プローブは、上方から下方に脚状に延びる導体であって、検査装置本体と電気的に接続されている。プローブが第１コネクタ２の第１内部端子１４に接触して電気的に接続されることによって、第１コネクタ２の検査が行われる。

　グランド当接部材３５は、グランド電位に接続される導体である。グランド当接部材３５の下面には、グランド当接面３６が形成されている。グランド当接面３６は、例えば平坦な面である。第１嵌合部１１の連結部１８の上面には、第１平坦面１１ａが形成されている。第１平坦面１１ａは、コネクタ挿抜方向（Ｚ軸方向）に垂直な面に平行に延在している。検査装置３０を用いて第１コネクタ２の検査が行われるとき、グランド当接面３６が第１平坦面１１ａに当接することができる。すなわち、第１嵌合部１１には、検査装置３０のグランド当接部材３５と当接することができる第１平坦面１１ａが形成されている。これにより、グランド当接部材３５と第１嵌合部１１とが、互いに電気的に接続される。したがって、第１嵌合部１１およびグランド当接部材３５が、グランド電位に電気的に接続されるので、検査装置３０のプローブによる第１コネクタ２の検査が安定する。

　検査用係合部材３１は、上方から下方に脚状に延びる弾性部材であり、例えば電気絶縁性の樹脂材料からなる。検査用係合部材３１の上部が検査装置本体に固定して支持されている一方、検査用係合部材３１の下部が何もつながれていない自由端となっている。したがって、検査用係合部材３１は、片持ちで弾性的に支持されている。

　検査用係合部材３１の下部には、外部端子係合部３２が設けられている。外部端子係合部３２は、例えば、嵌合時に対面する第１嵌合部１１に向けて突出した凸形状をしている。外部端子係合部３２の上面には、外部端子係合面３３が形成されている。外部端子係合面３３は、例えば、嵌合時に対面する第１嵌合部１１に向けて下り勾配を有する斜面又は曲面である。図７では、外部端子係合面３３は、第１嵌合部１１に向けて下り勾配を有する斜面として図示されている。

　コネクタ挿抜方向からの平面視で、第１コネクタ２の外側には、すなわち、第１嵌合部１１の検査用係合壁部１９の外側面１９ｆ（嵌合時に対面する検査用係合部材３１の側の面）には、検査用係合部１９ａが形成されている。検査用係合部１９ａは、例えば、第１コネクタ２を検査する検査装置３０の検査用係合部材３１が、第１コネクタ２に係合するための係合部である。ただし、コネクタ同士の嵌合においてコネクタ係合部の係合力を補うためのコネクタ補助係合部として、検査用係合部１９ａを利用することもできる。検査用係合部１９ａは、検査用係合部材３１の外部端子係合部３２と係合可能なように、第１外部端子１０の外側面１９ｆに対して凹んでいる凹形状の凹部である。より詳細には、図８の（Ａ）に示すように、検査用係合部１９ａは、第２係合壁部１９の外側面１９ｆに対して凹んでいる凹形状の凹部である。また、検査用係合部１９ａは、第２係合壁部１９を貫通する貫通孔とすることができる。これにより、検査するときの嵌合が容易になる。

　検査用係合部１９ａの上面には、第２係合面として働く検査用係合面１９ｂが形成されている。検査用係合面１９ｂは、第１平坦面１１ａに対して、例えば、嵌合時に対面する検査用係合部材３１に向けて上り勾配を有する斜面又は曲面である。図７では、検査用係合面１９ｂは、検査用係合部材３１に向けて上り勾配を有する斜面として図示されている。なお、第１嵌合部１１において、検査用係合部１９ａおよび第１コネクタ係合部１７ａが、コネクタ挿抜方向（Ｚ軸方向）および長手方向（Ｘ軸方向）において大略同じ位置に位置するように構成されている。

　検査装置３０を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿入方向に：図７における白抜きの矢印方向に）移動させると、検査装置３０の検査用係合部材３１が第１コネクタ２の第１嵌合部１１に嵌合する。検査用係合部材３１および第１嵌合部１１が互いに嵌合したとき、凸形状の外部端子係合部３２が凹形状の検査用係合部１９ａに係合している。このとき、図８の（Ａ）に示すように、外部端子係合面３３が検査用係合面１９ｂに対して面状に係合している。当該構成によれば、検査装置３０と第１コネクタ２との間でのより確実な嵌合が実現される。

　外部端子係合面３３が下り勾配を有する斜面であり且つ検査用係合面１９ｂが上り勾配を有する斜面であるので、係合時において、検査用係合壁部１９を検査装置３０の側に指向させる力が働く。すなわち、検査用係合壁部１９の検査用係合部１９ａに対して上向き（Ｚ軸方向：図７における黒矢印方向）に付勢する力が働く。上向きの力によって、検査用係合壁部１９が、第１平坦面１１ａの方向に、すなわち、グランド当接部材３５の方向に付勢される（押し上げられる）。したがって、グランド当接面３６と第１平坦面１１ａとが密着して当接するので、第１嵌合部１１およびグランド当接部材３５が、グランド電位に安定して電気的に接続されて、第１コネクタ２の検査が安定する。

　したがって、コネクタ係合部１７ａおよび検査用係合部１９ａが、それぞれ、嵌合部１１の一側および他側において別々に形成されていることにより、検査のときにコネクタ係合部１７ａが使用されないので、コネクタ係合部１７ａの抜去力に影響を及ぼさず、安定した検査が可能になる。

　また、第１コネクタ２と検査装置３０との間での嵌合が安定しているので、多極コネクタである第１コネクタ２の検査を簡単に且つ確実に行うことができる。

　〔嵌合構造の変形例〕
　図８および図９を参照しながら、第１コネクタ２と検査装置３０との間での嵌合構造の変形例を説明するが、上記実施形態との相違点を中心に説明する。

　図８の（Ｂ）は、第１変形例に係る嵌合構造を示す。図８の（Ｂ）では、外部端子係合部３２が、嵌合時に対面する第１嵌合部１１に向けて突出した凸形状をしているとともに、外部端子係合部３２の上面には、外部端子係合面３３が形成されている。外部端子係合面３３は、嵌合時に対面する第１嵌合部１１に向けて下り勾配を有する斜面である。

　他方、第１嵌合部１１の検査用係合壁部１９の外側面１９ｆ（嵌合時に対面する検査用係合部材３１の側の面）では、検査用係合部材３１の外部端子係合部３２と係合可能なように凹んだ凹形状の検査用係合部１９ａが形成されている。検査用係合部１９ａの上面には、検査用係合部材３１に向けて短手方向（Ｙ軸方向、挿抜直交方向）に延びる検査用係合面１９ｂが形成されている。

　検査装置３０を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿入方向に：図中の白抜きの矢印方向に）移動させて、検査用係合部材３１および第１嵌合部１１が互いに嵌合したとき、凸形状の外部端子係合部３２が凹形状の検査用係合部１９ａに係合している。このとき、検査用係合面１９ｂの先端部が外部端子係合面３３に対して紙面奥行き方向（Ｘ軸方向）に線状に係合している。

　外部端子係合面３３が下り勾配を有する斜面であるので、係合時において、検査用係合壁部１９の検査用係合部１９ａに対して上向き（図中の黒矢印方向）の力が働く。上向きの力によって、検査用係合壁部１９がグランド当接部材３５の方に付勢される（押し上げられる）。したがって、グランド当接面３６と第１平坦面１１ａとが密着して当接するので、第１嵌合部１１およびグランド当接部材３５が、グランド電位に安定して電気的に接続される。

　図８の（Ｃ）は、第２変形例に係る嵌合構造を示す。図８の（Ｃ）では、外部端子係合部３２が、嵌合時に対面する第１嵌合部１１に向けて突出した凸形状をしているとともに、外部端子係合部３２の上面には、検査用係合壁部１９に向けて短手方向（Ｙ軸方向、挿抜直交方向）に延びる外部端子係合面３３が形成されている。

　他方、第１嵌合部１１の検査用係合壁部１９の外側面１９ｆ（嵌合時に対面する検査用係合部材３１の側の面）では、検査用係合部材３１の外部端子係合部３２と係合可能なように凹んだ凹形状の検査用係合部１９ａが形成されている。検査用係合部１９ａの上面には、検査用係合部材３１に向けて上り勾配を有する斜面の検査用係合面１９ｂが形成されている。

　検査装置３０を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿入方向に：図中の白抜きの矢印方向に）移動させて、検査用係合部材３１および第１嵌合部１１が互いに嵌合したとき、凸形状の外部端子係合部３２が凹形状の検査用係合部１９ａに係合している。このとき、外部端子係合面３３の先端部が検査用係合面１９ｂに対して紙面奥行き方向（Ｘ軸方向）に線状に係合している。

　検査用係合面１９ｂが上り勾配を有する斜面であるので、係合時において、検査用係合壁部１９の検査用係合部１９ａに対して上向き（図中の黒矢印方向）の力が働く。上向きの力によって、検査用係合壁部１９がグランド当接部材３５の方に付勢される（押し上げられる）。したがって、グランド当接面３６と第１平坦面１１ａとが密着して当接するので、第１嵌合部１１およびグランド当接部材３５が、グランド電位に安定して電気的に接続される。

　図９の（Ａ）は、第３変形例に係る嵌合構造を示す。図９の（Ａ）では、検査用係合部材３１の下部の内側面（嵌合時に対面する検査用係合壁部１９の側の面）では、検査用係合壁部１９の検査用係合部１９ａと係合可能なように凹んだ凹形状の外部端子係合部３２が形成されている。外部端子係合部３２の下面には、第１嵌合部１１に向けて下り勾配を有する斜面の外部端子係合面３３が形成されている。

　他方、第１嵌合部１１の検査用係合壁部１９の外側面１９ｆ（嵌合時に対面する検査用係合部材３１の側の面）では、嵌合時に対面する検査用係合部材３１に向けて突出した凸形状の検査用係合部１９ａが形成されている。検査用係合部１９ａの下面には、検査用係合部材３１に向けて上り勾配を有する斜面の検査用係合面１９ｂが形成されている。

　検査装置３０を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿入方向に：図中の白抜きの矢印方向に）移動させて、検査用係合部材３１および第１嵌合部１１が互いに嵌合したとき、凸形状の検査用係合部１９ａが凹形状の外部端子係合部３２に係合している。このとき、検査用係合面１９ｂが外部端子係合面３３に対して面状に係合している。

　外部端子係合面３３が下り勾配を有する斜面であり且つ検査用係合面１９ｂが上り勾配を有する斜面であるので、係合時において、検査用係合壁部１９を検査装置３０の側に指向させる力が働く。すなわち、検査用係合壁部１９の検査用係合部１９ａに対して上向き（図中の黒矢印方向）の力が働く。上向きの力によって、検査用係合壁部１９がグランド当接部材３５の方に付勢される（押し上げられる）。したがって、グランド当接面３６と第１平坦面１１ａとが密着して当接するので、第１嵌合部１１およびグランド当接部材３５が、グランド電位に安定して電気的に接続される。

　図９の（Ｂ）は、第４変形例に係る嵌合構造を示す。図９の（Ｂ）では、検査用係合部材３１の下部の内側面（嵌合時に対面する検査用係合壁部１９の側の面）では、検査用係合壁部１９の検査用係合部１９ａと係合可能なように凹んだ凹形状の外部端子係合部３２が形成されている。外部端子係合部３２の下面には、第１嵌合部１１に向けて下り勾配を有する斜面の外部端子係合面３３が形成されている。

　他方、第１嵌合部１１の検査用係合壁部１９の外側面１９ｆ（嵌合時に対面する検査用係合部材３１の側の面）では、嵌合時に対面する検査用係合部材３１に向けて突出した凸形状の検査用係合部１９ａが形成されている。検査用係合部１９ａの下面には、検査用係合部材３１に向けて短手方向（Ｙ軸方向、挿抜直交方向）に延びる検査用係合面１９ｂが形成されている。

　検査装置３０を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿抜方向に：図中の白抜きの矢印方向に）移動させて、検査用係合部材３１および第１嵌合部１１が互いに嵌合したとき、凸形状の検査用係合部１９ａが凹形状の外部端子係合部３２に係合している。このとき、検査用係合面１９ｂの先端部が外部端子係合面３３に対して紙面奥行き方向（Ｘ軸方向）に線状に係合している。

　図９の（Ｃ）は、第５変形例に係る嵌合構造を示す。図９の（Ｃ）では、検査用係合部材３１の下部の内側面（嵌合時に対面する検査用係合壁部１９の側の面）では、検査用係合壁部１９の検査用係合部１９ａと係合可能なように凹んだ凹形状の外部端子係合部３２が形成されている。外部端子係合部３２の下面には、検査用係合壁部１９に向けて短手方向（Ｙ軸方向、挿抜直交方向）に延びる外部端子係合面３３が形成されている。

　検査装置３０を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿抜方向に：図中の白抜きの矢印方向に）移動させて、検査用係合部材３１および第１嵌合部１１が互いに嵌合したとき、凸形状の検査用係合部１９ａが凹形状の外部端子係合部３２に係合している。このとき、外部端子係合面３３の先端部が検査用係合面１９ｂに対して紙面奥行き方向（Ｘ軸方向）に線状に係合している。

　以上のように、検査用係合部１９ａの検査用係合面１９ｂおよび外部端子係合部３２の外部端子係合面３３の少なくとも一方は、検査用係合壁部１９を検査装置３０の方に指向させる力が働くように構成されている。当該構成によれば、グランド当接面３６と第１平坦面１１ａとが密着して当接するので、第１嵌合部１１およびグランド当接部材３５が、グランド電位に安定して電気的に接続されて、第１コネクタ２の検査が安定する。

　〔電気コネクタの検査方法〕
　図１０を参照しながら、検査装置３０を用いた第１コネクタ２の検査方法を説明する。

　図１０は、検査装置３０を用いた第１コネクタ２の検査方法の一例を示すフローチャートである。ステップＳ１において、検査装置３０を用いた第１コネクタ２の検査が開始する。

　ステップＳ３において、第１コネクタ２を準備する。上述したように、第１コネクタ２は、電気絶縁性の第１ハウジング１２と、第１ハウジング１２に保持される第１内部端子１４と、第１ハウジング１２に保持されるとともにグランドに電気的に接続される第１外部端子１０とを備え、第１外部端子１０は、コネクタ挿抜方向（Ｚ軸方向）からの平面視で、第１コネクタ係合壁部１７を一側に有するとともに、検査用係合壁部１９を他側に有する第１嵌合部１１を備え、第１コネクタ係合壁部１７の内側面１７ｆには第１コネクタ係合部１７ａが形成されているとともに、検査用係合壁部１９の外側面１９ｆには検査用係合部１９ａが形成されている。

　ステップＳ５において、検査装置３０を準備する。上述したように、検査装置３０は、プローブと検査用係合部材３１とグランド当接部材３５と検査装置本体とを備え、検査用係合部材３１は、検査用係合部１９ａに係合する外部端子係合部３２を有する。

　ステップＳ７において、検査装置３０を第１コネクタ２に嵌合させる。すなわち、検査装置３０を第１コネクタ２に向けて（コネクタ挿入方向）に移動させて、検査装置３０の検査用係合部材３１を第１コネクタ２の第１嵌合部１１に嵌合させる。検査用係合部材３１および第１嵌合部１１が互いに嵌合して、外部端子係合部３２が検査用係合部１９ａに係合する。

　ステップＳ９において、嵌合状態を保ちながら、検査装置３０を用いて第１コネクタ２を検査する。すなわち、検査装置３０のプローブが第１コネクタ２の第１内部端子１４に接触して電気的に接続されることによって、第１コネクタ２を検査する。

　ステップＳ１１において、第１コネクタ２に対する検査装置３０の嵌合を解除することにより、第１コネクタ２の検査が終了する。すなわち、第１コネクタ２に対する検査装置３０の嵌合を解除して、検査装置３０を第１コネクタ２との反対方向に（コネクタ抜去方向）に移動させることにより、第１コネクタ２の検査が終了する。

　この発明の具体的な実施の形態について説明したが、この発明は、上記実施形態に限定されるものではなく、この発明の範囲内で種々変更して実施することができる。

　例えば、第１外部端子１０の第１嵌合部１１において、第１コネクタ係合部１７ａを有する第１コネクタ係合壁部１７を第１嵌合部１１の外側に設けるとともに、検査用係合部１９ａを有する検査用係合壁部１９を第１嵌合部１１の内側に設ける構成にすることもできる。この場合、第２コネクタ４が第１コネクタ２の外側で嵌合するととともに、検査装置３０の検査用係合部材３１が第１コネクタ２の内側で嵌合することになる。

　第１コネクタ係合部１７ａが凹形状であり且つ第２コネクタ係合部２７ａが凸形状であって、第１コネクタ２および第２コネクタ４の嵌合状態において、凹形状の第１コネクタ係合部１７ａと凸形状の第２コネクタ係合部２７ａとが互いに係合する構成にすることもできる。

　第２コネクタ４においても、第１コネクタ２と同様に、第２外部端子２０の第２嵌合部２１が、断面視で逆Ｕ字状に屈曲していて、第２コネクタ係合壁部と検査用係合壁部と連結部を有する構成にすることもできる。したがって、第２コネクタ４においても、第１コネクタ２と同様に、検査装置３０を用いて、第２コネクタ係合部２７ａの抜去力に影響を及ぼすことなく、安定した検査を行うことができる。

　検査装置３０の検査用係合部材３１は、弾性を有する導電性材料（例えば、金属材料）にすることもできる。当該検査用係合部材３１をグランド当接部材３５と一体化するとともに、第１嵌合部１１および検査用係合部材３１の間でグランド電位に電気的に接続されるという構成にすることもできる。

　検査装置３０を用いた第１コネクタ２の検査方法において、検査装置３０を準備する工程を先に行い、次に第１コネクタ２を準備する工程を行うこともできる。

　第１外部端子１０は、コネクタ挿抜方向（Ｚ軸方向）からの平面視で、第１コネクタ係合部１７ａが形成された第１コネクタ係合壁部１７を外側面１９ｆに有するとともに、検査用係合部１９ａが形成された検査用係合壁部１９を内側面１７ｆに有するという構成にすることもできる。この場合、第１コネクタ２の周囲に電子部品などが密に設けられていても、検査装置３０の検査用係合部材３１がそれらと干渉することが防止されて、スムーズな検査が可能になる。

　この発明および実施形態をまとめると、次のようになる。

　この発明の一態様に係る、電気コネクタ２は、
　電気絶縁性のハウジング１２と、前記ハウジング１２に保持される内部端子１４と、前記ハウジング１２に保持されるとともにグランドに電気的に接続される外部端子１０とを備える電気コネクタ２であって、
　前記外部端子１０は、コネクタ挿抜方向からの平面視で、第１係合壁部１７を一側に有するとともに第２係合壁部１９を他側に有する嵌合部１１を備え、
　前記第１係合壁部１７には第１係合部１７ａが形成されているとともに、前記第２係合壁部１９には第２係合部１９ａが形成されていることを特徴とする。

　上記構成によれば、第１係合部１７ａおよび第２係合部１９ａが、それぞれ、嵌合部１１の一側および他側において別々に形成されていることにより、第１係合部１７ａの抜去力に影響を及ぼさず、安定した検査が可能になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記第１係合壁部がコネクタ係合壁部１７であり、前記第１係合部がコネクタ係合部１７ａであり、前記第２係合壁部が検査用係合壁部１９であり、前記第２係合部が検査用係合部１９ａである。

　上記実施形態によれば、コネクタ係合部１７ａおよび検査用係合部１９ａが、それぞれ、嵌合部１１の一側および他側において別々に形成されていることにより、コネクタ係合部１７ａの抜去力に影響を及ぼさず、安定した検査が可能になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記電気コネクタ２を回路基板に実装したとき、前記検査用係合壁部１９が前記回路基板に固定して支持されるとともに、前記第１係合壁部１７が自由端部として弾性的に支持される。

　上記実施形態によれば、嵌合部１１の第１係合壁部１７を、嵌合相手の電気コネクタの嵌合部に向けて付勢する付勢力が働くので、嵌合部１１と嵌合部との間での嵌合が安定する。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記嵌合部１１には、平坦面１１ａが設けられている。

　上記実施形態によれば、平坦面１１ａでの接触面積が大きくなるので、電気コネクタ２の検査が安定する。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記検査用係合部１９ａが、前記平坦面１１ａに対して傾斜した検査用係合面１９ｂを有し、
　前記傾斜した検査用係合面１９ｂが、検査時において前記平坦面１１ａの方向に付勢する力が働くように傾斜している。

　上記実施形態によれば、平坦面１１ａが当接する方向に付勢されているので、電気コネクタ２の検査が安定する。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　コネクタ挿抜方向からの平面視で、前記コネクタ係合部１７ａが前記電気コネクタ２の内側に配置され、前記検査用係合部１９ａが前記電気コネクタ２の外側に配置される。

　上記実施形態によれば、検査用係合部１９ａが嵌合部１１の外側に位置するので、検査するときの嵌合が容易になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記嵌合部１１において、前記検査用係合部１９ａが、前記電気コネクタ２の外側に形成された凹部または貫通孔である。

　上記実施形態によれば、検査するときの嵌合が容易になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記電気コネクタ２が、前記内部端子１４を複数個配列した多極コネクタである。

　上記実施形態によれば、検査時における多極コネクタに対する嵌合が安定しているので、多極コネクタの検査を簡単に且つ確実に行うことができる。

　この発明の別の局面に係る、電気コネクタ２は、
　電気絶縁性のハウジング１２と、前記ハウジング１２に保持される内部端子１４と、前記ハウジング１２に保持されるとともにグランドに電気的に接続される外部端子１０とを備える電気コネクタ２であって、
　前記外部端子１０は、前記内部端子１４に対面する側に位置する内側面１７ｆと、コネクタ挿抜方向に直交する挿抜直交方向において前記内側面１７ｆの反対側に位置する外側面１９ｆと、前記内側面１７ｆに形成された第１係合部１７ａと、前記外側面１９ｆに形成された第２係合部１９ａとを有する。

　上記構成によれば、第１係合部１７ａおよび第２係合部１９ａが、それぞれ、外部端子１０の内側面１７ｆおよび外側面１９ｆにおいて別々に形成されていることにより、第１係合部１７ａの抜去力に影響を及ぼさず、安定した検査が可能になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記第１係合部１７ａがコネクタ係合部１７ａであり、前記第２係合部１９ａが検査用係合部１９ａである。

　上記実施形態によれば、コネクタ係合部１７ａおよび検査用係合部１９ａが、それぞれ、外部端子１０の内側面１７ｆおよび外側面１９ｆにおいて別々に形成されていることにより、コネクタ係合部１７ａの抜去力に影響を及ぼさず、安定した検査が可能になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、前記第１係合部１７ａは、前記内側面１７ｆから前記挿抜直交方向に突出する突出部である。

　上記実施形態によれば、嵌合相手に対する嵌合が容易になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、
　前記第１係合部１７ａは、付勢力が働くように前記外部端子１０の前記内側面１７ｆに支持されている。

　上記実施形態によれば、第１コネクタ係合部１７ａの係合相手との係合が安定する。

　また、一実施形態の電気コネクタ２では、前記第２係合部１９ａが、前記外側面１９ｆに形成された凹部または貫通孔である。

　この発明の一態様に係る電気コネクタ２の検査方法は、
　上述した電気コネクタ２を準備するコネクタ準備工程と、
　前記第２係合部１９ａに係合する外部端子係合部３２を有する検査装置３０を準備する検査装置準備工程と、
　前記外部端子係合部３２が前記第２係合部１９ａに係合した状態で、前記検査装置３０を用いて電気コネクタ２を検査する検査工程とを備える。

　上記実施形態によれば、第１係合部１７ａおよび第２係合部１９ａが、それぞれ、嵌合部１１の一側および他側において別々に形成されていることにより、第１係合部１７ａの抜去力に影響を及ぼさず、安定した検査が可能になる。

　また、一実施形態の電気コネクタ２の検査方法では、
　前記検査工程では、前記嵌合部１１の平坦面１１ａが、前記検査装置３０のグランド当接部材３５に設けられたグランド当接面３６に当接する。

　上記実施形態によれば、嵌合部１１およびグランド当接部材３５が、グランドに電気的に接続されるので、検査装置３０による電気コネクタ２の検査が安定する。

　また、一実施形態の電気コネクタ２の検査方法では、
　前記検査工程では、前記外部端子係合部３２での外部端子係合面３３が、前記第２係合部１９aでの第２係合面１９ｂに係合することによって、前記嵌合部１１を前記検査装置３０の方に向かわせる力が生じる。

　上記実施形態によれば、平坦面１１ａがグランドに安定して電気的に接続されるので、電気コネクタ２の検査が安定する。

　１…電気コネクタセット
　２…第１コネクタ（電気コネクタ）
　４…第２コネクタ（嵌合相手の電気コネクタ）
１０…第１外部端子（外部端子）
１１…第１嵌合部（嵌合部）
１１ａ…第１平坦面（平坦面）
１１ｂ…第１実装面（実装面）
１２…第１ハウジング（ハウジング）
１４…第１内部端子（内部端子）
１５…第１シールド部材
１７…第１コネクタ係合壁部（第１係合壁部）
１７ａ…第１コネクタ係合部（第１係合部）
１７ｆ…内側面
１８…連結部
１９…検査用係合壁部（第２係合壁部）
１９ａ…検査用係合部（第２係合部）
１９ｂ…検査用係合面（第２係合面）
１９ｆ…外側面
２０…第２外部端子
２２…第２ハウジング
２４…第２内部端子
２５…第２シールド部材
２７ａ…第２コネクタ係合部
３０…検査装置
３１…検査用係合部材
３２…外部端子係合部
３３…外部端子係合面
３５…グランド当接部材
３６…グランド当接面

Claims

　電気絶縁性のハウジングと、前記ハウジングに保持される内部端子と、前記ハウジングに保持されるとともにグランドに電気的に接続される外部端子とを備える電気コネクタであって、
　前記外部端子は、コネクタ挿抜方向からの平面視で、第１係合壁部を一側に有するとともに第２係合壁部を他側に有する嵌合部を備え、
　前記第１係合壁部には第１係合部が形成されているとともに、前記第２係合壁部には第２係合部が形成されている、電気コネクタ。
　前記第１係合壁部がコネクタ係合壁部であり、前記第１係合部がコネクタ係合部であり、前記第２係合壁部が検査用係合壁部であり、前記第２係合部が検査用係合部である、請求項１に記載の電気コネクタ。
　前記電気コネクタを回路基板に実装したとき、前記検査用係合壁部が前記回路基板に固定して支持されるとともに、前記コネクタ係合壁部が自由端部として弾性的に支持される、請求項２に記載の電気コネクタ。
　前記嵌合部には、平坦面が設けられている、請求項３に記載の電気コネクタ。
　前記検査用係合部が、前記平坦面に対して傾斜した検査用係合面を有し、
　前記検査用係合面が、検査時において前記平坦面の方向に付勢する力が働くように傾斜している、請求項４に記載の電気コネクタ。
　コネクタ挿抜方向からの平面視で、前記コネクタ係合部が前記電気コネクタの内側に配置され、前記検査用係合部が前記電気コネクタの外側に配置される、請求項２に記載の電気コネクタ。
　前記嵌合部において、前記検査用係合部が、前記電気コネクタの外側に形成された凹部または貫通孔である、請求項２に記載の電気コネクタ。
　前記電気コネクタが、前記内部端子を複数個配列した多極コネクタである、請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の電気コネクタ。
　電気絶縁性のハウジングと、前記ハウジングに保持される内部端子と、前記ハウジングに保持されるとともにグランドに電気的に接続される外部端子とを備える電気コネクタであって、
　前記外部端子は、前記内部端子に対面する側に位置する内側面と、コネクタ挿抜方向に直交する挿抜直交方向において前記内側面の反対側に位置する外側面と、前記内側面に形成された第１係合部と、前記外側面に形成された第２係合部とを有する、電気コネクタ。
　前記第１係合部がコネクタ係合部であり、前記第２係合部が検査用係合部である、請求項９に記載の電気コネクタ。
　前記第１係合部は、前記内側面から前記挿抜直交方向に突出する突出部である、請求項９または請求項１０に記載の電気コネクタ。
　前記第１係合部は、付勢力が働くように前記外部端子の前記内側面に支持されている、請求項９～請求項１１のいずれか１項に記載の電気コネクタ。
　前記第２係合部が、前記外側面に形成された凹部または貫通孔である、請求項９から請求項１２のいずれか１項に記載の電気コネクタ。
　請求項１から請求項８および請求項９から請求項１３のいずれか１項に記載の前記電気コネクタを準備するコネクタ準備工程と、
　前記第２係合部に係合する外部端子係合部を有する検査装置を準備する検査装置準備工程と、
　前記外部端子係合部が前記第２係合部に係合した状態で、前記検査装置を用いて前記電気コネクタを検査する検査工程とを備える、電気コネクタの検査方法。
　前記検査工程では、前記外部端子の平坦面が、前記検査装置のグランド当接部材に設けられたグランド当接面に当接する、請求項１４に記載の電気コネクタの検査方法。
　前記検査工程では、前記外部端子係合部での外部端子係合面が、前記第２係合部での第２係合面に係合することによって、前記平坦面を前記検査装置の方に向かわせる力が生じる、請求項１５に記載の電気コネクタの検査方法。