Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

WO2019131718A1 - はんだ合金 - Google Patents

はんだ合金 Download PDF

Info

Publication number
WO2019131718A1
WO2019131718A1 PCT/JP2018/047747 JP2018047747W WO2019131718A1 WO 2019131718 A1 WO2019131718 A1 WO 2019131718A1 JP 2018047747 W JP2018047747 W JP 2018047747W WO 2019131718 A1 WO2019131718 A1 WO 2019131718A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
solder
solder alloy
less
alloy
intermetallic compound
Prior art date
Application number
PCT/JP2018/047747
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
貴大 横山
俊策 吉川
Original Assignee
千住金属工業株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to BR112020003649-8A priority Critical patent/BR112020003649B1/pt
Priority to HRP20211480TT priority patent/HRP20211480T1/hr
Priority to KR1020197031277A priority patent/KR102090548B1/ko
Priority to ES18896544T priority patent/ES2884792T3/es
Priority to MX2019012904A priority patent/MX2019012904A/es
Priority to CN201880028510.6A priority patent/CN110612175B/zh
Application filed by 千住金属工業株式会社 filed Critical 千住金属工業株式会社
Priority to PL18896544T priority patent/PL3597356T3/pl
Priority to MYPI2019006081A priority patent/MY185972A/en
Priority to US16/605,744 priority patent/US11123824B2/en
Priority to EP18896544.6A priority patent/EP3597356B1/en
Publication of WO2019131718A1 publication Critical patent/WO2019131718A1/ja
Priority to PH12019502364A priority patent/PH12019502364B1/en

Links

Images

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • B23K35/26Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • B23K35/26Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
    • B23K35/262Sn as the principal constituent
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/40Making wire or rods for soldering or welding
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C13/00Alloys based on tin
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C22METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
    • C22CALLOYS
    • C22C13/00Alloys based on tin
    • C22C13/02Alloys based on tin with antimony or bismuth as the next major constituent
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K2103/00Materials to be soldered, welded or cut
    • B23K2103/08Non-ferrous metals or alloys

Definitions

  • the present invention relates to a solder alloy excellent in continuous castability, and a solder joint having the solder alloy.
  • Flow soldering is a method in which soldering is performed by bringing a jet surface of a solder bath into contact with the connecting surface of a printed circuit board.
  • Dip soldering is a method in which a terminal such as a coil component is immersed in a solder bath to remove an insulating film and to perform pre-solder plating.
  • Soldering baths are required for flow soldering and dip soldering. Since the solder bath is exposed to the air for a long time, the dross generated in the solder bath must be removed at regular intervals. Also, the molten solder in the solder tank is consumed by soldering. For this reason, a solder alloy is periodically supplied to the solder bath. Bar solder is generally used to supply solder alloys.
  • the continuous casting method is a method in which a raw material is charged into a melting furnace and melted, and the molten solder in the melting furnace is cast into the groove of the rotary mold.
  • molds used in the continuous casting method include a shape in which a groove is provided at the center in the width direction of the annular plate. The molten solder solidifies after being cast in the groove of the rotary mold and is led to the cutting process from the mold at a temperature of about 150 ° C. The induced continuous casting is cut into a predetermined length to be a bar solder.
  • solder alloy The continuous casting technology of solder alloy is described, for example, in Patent Document 1.
  • a cooling metal through which cooling water is passed is brought into close contact with the outside of a mold, and a cooling rate to 280 ° C. is 3 ° C./s or more, preferably 20 ° C. It is described that the structure of the eutectic portion is refined as 2 / s or more, more preferably 50 ° C./s or more.
  • Au is sometimes used as a high temperature Pb-free solder alloy, it is expensive and difficult to process.
  • Sn—Cu based solder alloys are mainly used for the bar solder.
  • Sn-Cu solder alloys are known to form intermetallic compounds in solder alloys. When this alloy is manufactured by continuous casting, coarse brittle intermetallic compounds may be formed during solidification of the molten solder. If a coarse intermetallic compound is formed, the solder alloy may be broken at the formation point, which may cause a problem that a continuous casting can not be formed. Also, even if a continuous casting can be formed, there is a risk of breakage during transportation.
  • Patent Document 2 uses a Sn-Cu-Ni alloy as a low temperature brazing material to join pipes. It is described that the flux is applied to the portion, dipped in a molten brazing material and pulled up, and then it is gradually cooled and solidified.
  • the object of the invention described in Patent Document 2 is to provide a low melting point and easy-to-use alloy, and allow the Cu content to be in the range of 0.3 to 41.4%.
  • the liquidus temperature at a Cu content of 41.4% is 640 ° C., and since it is gradually cooled and solidified, coarse intermetallic compounds are precipitated in the alloy layer. Resulting in.
  • cracking or breakage may occur in the continuous casting. If cracking or breakage occurs in the continuous casting, the continuous casting process is interrupted, and the casting process is resumed after the broken casting is taken out of the mold, which complicates the working process.
  • An object of the present invention is to provide a solder alloy excellent in continuous castability.
  • Patent Document 2 The inventors re-examined the problem in the case of producing the alloy described in Patent Document 2 as a continuous casting.
  • the solder alloy is prevented from being damaged by annealing the brazing material at the time of joining.
  • a coarse intermetallic compound is formed inside the solder alloy.
  • a crack occurs at the time of solidification or is broken at the time of cutting of the solder alloy. This is particularly noticeable in hypereutectic systems where the Cu content is 0.8% or more.
  • Non-Patent Document 1 reports that the viscosity of the molten solder increases as the Cu content increases. This document reports that when the Cu content is increased from 0.7% to 7.6%, the viscosity at the same temperature is increased by about 1.5 times. Then, when casting was performed with various Cu contents, it is found that the fluidity of the molten solder in the mold decreases as the Cu content increases, and the thickness increases and the frequency of occurrence of cracks during solidification increases. was gotten.
  • the rotary mold in order to compensate for the decrease in the fluidity of the molten solder due to the increase in the Cu content, it is possible to tilt the rotary mold so that the molten solder that has been cast flows downward from the upstream.
  • the rotary mold when the rotary mold is inclined, the cross-sectional shape of the continuous casting is significantly different from the shape of the groove of the mold, so that the desired continuous casting can not be obtained.
  • the tilt angle of the rotary mold is too large, the molten solder may run out of the groove when it strikes the curved portion of the rotary mold. For this reason, when using a continuous casting method, the rotary mold must be kept horizontal.
  • the present inventors sufficiently melt the molten solder having a high viscosity alloy composition into the mold even if it is cast into the mold while maintaining the horizontal state of the rotary mold to prevent cracking and breakage during solidification. Further examination was repeated. In the past, it was thought that cracking and breakage of the continuous casting were induced by the vibration of the rotary mold, but when daring to apply micro-vibrations such as ultrasonic waves to molten solder cast in the mold, Unexpectedly, it has been found that the fluidity of the molten solder in the mold is improved and the maximum crystal grain size of the intermetallic compound is decreased. This makes it possible to produce a continuous casting having good quality with almost no cracking or breakage during solidification, and the present invention has been completed.
  • the alloy composition further includes, in mass%, at least one of P: 0.3% or less, Ge: 0.3% or less, and Ga: 0.3% or less. The solder alloy according to any one of (3).
  • the alloy composition further includes a group consisting of 5% or less in total of at least one of Bi, In, Sb, Zn, and Ag, and Mn, Cr, Co, Fe, Si, Al, Ti, and rare earths.
  • FIG. 1 is a cross-sectional image of a solder alloy of Example 7.
  • FIG. 2 is a cross-sectional image of the solder alloy of Example 8 and Comparative Example 4,
  • FIG. 2 (a) is an image of Example 8
  • FIG. 2 (b) is an image of Comparative Example 4.
  • % relating to the solder alloy composition is “% by mass” unless otherwise specified.
  • Alloy composition of solder alloy (1) Cu 0.8 to 10%
  • the solder alloy of the present invention can solve the problem in the case of a hypereutectic alloy in which a coarse CuSn intermetallic compound is easily generated. If the Cu content is less than 0.7%, it becomes hypoeutectic, so the primary crystals during solidification are Sn, but if the Cu content exceeds 0.7%, it becomes hypereutectic to solidify The primary crystal of time is a SnCu compound. When the primary crystal is a SnCu compound, the fluidity of the molten solder in the mold is degraded. However, if the Cu content is slightly higher than 0.7%, the influence of intermetallic compounds at the time of casting is hardly affected regardless of the manufacturing conditions. The lower the Cu content, the lower the Cu content is 0.8% or more, preferably 1.0% or more, and more preferably 4.0% or more. is there.
  • the Cu content exceeds 10%, the liquidus temperature rises, and the workability deteriorates.
  • the area ratio of the intermetallic compound becomes too large.
  • the viscosity of the molten solder increases and the fluidity in the mold deteriorates, so that coarse intermetallic compounds are formed. As a result, cracks and the like occur during solidification.
  • the upper limit of the Cu content is 10% or less, preferably 8% or less, and more preferably 7% or less.
  • Ni 0.4% or less
  • Ni is an optional element capable of controlling the crystal grain size of the SnCu intermetallic compound.
  • the Sn—Cu solder alloy contains Ni, it is possible to uniformly disperse Ni in Cu 6 Sn 5 to make the grain size of the intermetallic compound finer and to suppress the breakage of the continuous casting.
  • the Ni content is 0.4% or less, good workability can be maintained because the rise in liquidus temperature is within an allowable range.
  • the upper limit of the Ni content is preferably 0.2% or less, more preferably 0.15%.
  • the lower limit of the Ni content is preferably 0.03% or more, more preferably 0.1% or more.
  • the intermetallic compound in the present invention in the case of containing Ni is preferably mainly (Cu, Ni) 6 Sn 5 .
  • the term "mainly (Cu, Ni) 6 Sn 5 " means that the ratio of the area of (Cu, Ni) 6 Sn 5 to the total area of the intermetallic compound is 0.5 or more when observing the cross section of the solder alloy. Represents a certain thing.
  • At least one of P: 0.3% or less, Ge: 0.3% or less, and Ga: 0.3% or less suppress the oxidation of the solder alloy and, at the same time, the fluidity of the molten solder It is an optional element that can be improved.
  • the upper limit of the content is 0.3% or less, the rise in liquidus temperature can be suppressed, so the time to solidification can be shortened and the coarsening of the alloy structure can be suppressed.
  • the upper limit of the P content is preferably 0.3% or less, more preferably 0.1% or less, and still more preferably 0.025% or less.
  • the upper limit of each of the Ge content and the Ga content is preferably 0.3% or less, and more preferably 0.15% or less.
  • the lower limit of the content of each element is preferably 0.005% or more, more preferably 0.01% or more.
  • the rare earth element refers to 17 kinds of elements including Sc and Y belonging to Group 3 in the periodic table and 15 elements of the lanthanum group corresponding to atomic numbers 57 to 71.
  • At least one of Bi, In, Sb, Zn, Ag, Mn, Cr, Co, Fe, Si, Al, Ti, and a rare earth element may be contained.
  • the content of each element is preferably at most 5% or less in at least one of Bi, In, Sb, Zn, and Ag, and Mn, Cr, Co, Fe, Si, Al, Ti, and rare earth elements
  • the total is 1% or less. More preferably, at least one of Bi, In, Sb, Zn, and Ag has a total of 1% or less in total, and at least one of Mn, Cr, Co, Fe, Si, Al, Ti, and a rare earth element has a total of 0 .5% or less.
  • Remainder Sn
  • unavoidable impurities may be contained. Even when including inevitable impurities, the above-mentioned effects are not affected. In addition, as described later, even if an element not contained in the present invention is contained as an unavoidable impurity, the above-mentioned effect is not affected.
  • the maximum crystal grain size of the intermetallic compound is 100 ⁇ m or less in the region where the thickness from the surface of the solder alloy is 50 ⁇ m or more.
  • the problem in the continuous casting can be solved for the first time by focusing attention on the alloy structure of the solder alloy which is a continuous casting manufactured by continuous casting before solder joining. It is
  • the molten solder is cooled from the contact surface with the mold, and the central portion farthest from the contact surface with the mold finally solidifies. This is because the cooling rate at the contact surface with the mold is faster than the cooling rate at the central portion. Also, if the cooling rate is fast, the grain size will be smaller. Thus, in general, mold-cooled castings are finer on the surface than in the central portion.
  • the maximum grain size of the present invention is defined as follows. The cross-sectional image of the casting is observed to identify intermetallic compounds, and the largest grains are selected visually. With respect to the crystal grains, two parallel tangents are drawn so as to maximize the spacing, and the spacing is defined as the maximum grain size.
  • the upper limit of the maximum crystal grain size is 100 ⁇ m or less, preferably 80 ⁇ m or less, more preferably 60.44 ⁇ m or less, and further preferably 58.50 ⁇ m because the smaller the maximum crystal grain size, the better the continuous castability. Or less, particularly preferably 50 ⁇ m or less.
  • Intermetallic compounds are generated depending on the constituent elements.
  • the intermetallic compound in the alloy composition containing Sn, Cu, and Ni is mainly (Cu, Ni) 6 Sn 5 as described above.
  • the area ratio of the intermetallic compound to the solder alloy is preferably 40% or less, preferably 30% or less, from the viewpoint of reducing the amount of precipitation of the brittle intermetallic compound to suppress the breakage. Is more preferably 20% or less, particularly preferably 18.06% or less, and most preferably 15.15 ⁇ m or less.
  • the breakage can be further suppressed.
  • the solder alloy according to the present invention it is preferable to satisfy the following equation (1) in consideration of the balance between the two.
  • the area ratio of the intermetallic compound to a solder alloy represents the ratio (%) of the area of the cut surface which cut
  • the right side of the above formula (1) is more preferably 2500 ⁇ m ⁇ %, further preferably 1500 ⁇ m ⁇ %.
  • solder Joint is used, for example, for connection between an IC chip and its substrate (interposer) in a semiconductor package or connection between a semiconductor package and a printed wiring board.
  • a solder joint means the connection part of an electrode.
  • the method of manufacturing a solder alloy according to the present invention is manufactured, for example, by a continuous casting method.
  • the continuous casting method first, the raw material is introduced into a melting furnace so as to obtain a predetermined alloy composition, and the raw material is melted by heating to about 350 to 500.degree.
  • molten solder in the melting furnace is continuously cast into a rotary mold.
  • the rotary mold has, for example, a shape in which a groove is provided at the center in the width direction of the annular plate.
  • the molten solder is cast into the groove of the mold while rotating the rotary mold.
  • the amount of molten solder supplied to the mold is appropriately adjusted in accordance with the number of rotations of the mold and the frequency of micro-vibrations such as ultrasonic waves applied to the molten solder in the mold.
  • an ultrasonic vibration device is attached to the side surface of the rotary mold.
  • the frequency of the ultrasonic wave applied to the molten solder is not particularly limited, but may be, for example, 10 kHz or more.
  • a microstructure is obtained by attaching an ultrasonic device to a rotary mold and applying ultrasonic waves to molten solder.
  • the area ratio of the intermetallic compound is not too high, and the balance with the maximum crystal grain size is maintained.
  • the details are unknown, but are presumed as follows.
  • an SnCu compound is formed as a primary crystal during solidification, and a portion where the amount of Cu becomes too high is generated due to segregation, and a coarse SnCu compound may be formed. Therefore, in the present invention, the segregation of the SnCu compound is suppressed by applying a micro-vibration such as an ultrasonic wave, and the formation of a coarse SnCu compound can be suppressed.
  • the molten solder cast in the mold is cooled to about 150 ° C. at a cooling rate of about 10 to 50 ° C./s.
  • the bottom of the rotary mold is immersed in cooling water, or the cooling water is circulated in the mold using a chiller or the like.
  • solder alloy after cooling is guided to the outside of the mold through the guide and cut into a predetermined length.
  • the solder alloy reached the guide is cooled to about 80 to 200.degree.
  • the intermetallic compound is fine up to the inside, it is possible to suppress the breakage that may occur at the time of contact with the guide, etc. which can occur conventionally.
  • solder alloy after cutting is shipped in the form of bar solder or the like.
  • the solder alloy of the present invention is not damaged by impact during transportation.
  • the continuous casting was guided from the rotary mold to the outside of the rotary mold by a guide. Then, it was cut into an appropriate length, and a total of 10 m of bar solder was manufactured including a bar solder having a width of 10 mm and a length of 300 mm.
  • the evaluation method is described below.
  • the evaluation surface shall be 6m of the rod solder with a width of 10mm and a length of 300mm, with the bar solder from the height of 1m, with each evaluation surface facing down, assuming transportation. It was free to fall manually on the concrete surface (total 6 times) and visually confirmed.
  • the above “1 m height” represents the height of the evaluation surface of the bar solder from the concrete surface.
  • the rod solder was rated as "o” if no new chipping or cracking occurred, and "x" if a new chipping or cracking occurred.
  • Comparative Examples 4 and 7 since ultrasonic waves were not applied to the molten solder cast in the mold, breakage was observed after solidification to cutting, but since the Cu content is relatively small, it is at room temperature. No new chips or cracks were found in the drop test. In Comparative Example 8, the amount of coarse intermetallic compounds precipitated was large, and breakage was confirmed in the bar solder from solidification to cutting. Further, in the drop test at room temperature, chipping and cracking occurred further.
  • Comparative Examples 1 to 8 in addition to breakage and the like, generation of burrs and variation in thickness can be observed in one rod solder, and a stable rod having no burr and a constant thickness as in the examples.
  • the solder could not be manufactured.
  • FIG. 1 is a cross-sectional image of a solder alloy of Example 7. As apparent from this image, it was revealed that the maximum crystal grain size of Example 7 to which ultrasonic waves were applied was 58.50 ⁇ m, which was 100 ⁇ m or less. In addition, it was confirmed that the area ratio of Example 7 was 15%, and it was also clarified that the formula (1) was satisfied.
  • FIG. 2 is a cross-sectional image of Example 8 and Comparative Example 4
  • FIG. 2 (a) is an image of Example 8
  • FIG. 2 (b) is an image of Comparative Example 4.
  • FIG. 2A and FIG. 2B show the change of the crystal grain size depending on the presence or absence of the application of the ultrasonic wave.
  • Example 8 It was found that the maximum crystal grain size in Example 8 was 60.44 ⁇ m, the area ratio was 18.06%, and the formula (1) was satisfied. Similarly, in Examples 1 to 7 and 9 to 29, it was confirmed that the maximum crystal grain size was 100 ⁇ m or less and the formula (1) was satisfied.
  • Comparative Example 4 no ultrasonic wave was applied, so it was found that a coarse intermetallic compound having a maximum crystal grain size of 108.72 ⁇ m exceeding 100 ⁇ m was precipitated. In addition, it was found that the area ratio of Comparative Example 4 was 28.12% and did not satisfy Formula (1). Similarly, it was found that the maximum crystal grain size exceeded 100 ⁇ m and did not satisfy the formula (1).

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)
  • Continuous Casting (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)

Abstract

連続鋳造性に優れるはんだ合金を提供する。本発明に係るはんだ合金は、質量%で、Cu:0.8~10%、残部Snからなる合金組成を有するとともに金属間化合物を有するはんだ合金であって、はんだ合金の表面からの厚さが50μm以上の領域において、金属間化合物の最大結晶粒径が100μm以下である。

Description

はんだ合金
 本発明は、連続鋳造性に優れるはんだ合金、およびそのはんだ合金を有するはんだ継手に関する。
 プリント基板には電子部品が実装されている。電子部品の実装工程としては、フローソルダリング、ディップソルダリングなどがある。フローソルダリングは、はんだ槽の噴流面をプリント基板の接続面側に当てることによりはんだ付けを行う方法である。ディップソルダリングは、コイル部品などの端子をはんだ槽に浸漬して絶縁膜を除去するとともにはんだ予備めっきを施す方法である。
 フローソルダリングやディップソルダリングでははんだ槽が必要になる。はんだ槽は長時間大気中に曝されるため、はんだ槽に発生するドロスを一定時間毎に除去しなければならない。また、はんだ付けによりはんだ槽内の溶融はんだは消費されていく。このため、はんだ槽には定期的にはんだ合金が供給される。はんだ合金の供給には、一般に、棒はんだが用いられている。
 棒はんだの製造方法には固定鋳型に溶融はんだを流し込む方法や回転鋳型に溶融はんだを流し込む連続鋳造法がある。連続鋳造法は、原材料を溶融炉に投入して溶融させ、溶融炉中の溶融はんだを回転鋳型の溝に鋳込む方法である。連続鋳造法で用いる鋳型としては、例えば環状板の幅方向中央部に溝が設けられた形状が挙げられる。溶融はんだは、回転鋳型の溝に鋳込まれた後に凝固し、150℃程度の温度で鋳型から切断工程に誘導される。誘導された連続鋳造物は所定の長さに切断されて棒はんだとなる。
 はんだ合金の連続鋳造技術は、例えば特許文献1に記載されている。同文献には、Au-Sn系はんだ合金において、内部に冷却水が通水されている冷やし金を鋳型の外側に密着させ、280℃までの冷却速度を3℃/s以上、好ましくは20℃/s以上、より好ましくは50℃/s以上として、共晶部の組織を微細化することが記載されている。しかし、Auは高温Pbフリーはんだ合金として使用される場合があるものの、高価であるとともに加工し難い。
 そこで、棒はんだには、主にSn-Cu系はんだ合金が用いられている。Sn-Cuはんだ合金は、はんだ合金中に金属間化合物を形成することが知られている。この合金を連続鋳造法で製造すると、溶融はんだの凝固時に粗大な脆い金属間化合物が生成されることがある。粗大な金属間化合物が生成されると、その生成箇所ではんだ合金が割れてしまい、連続鋳造物が形成できない不具合が発生することがある。また、連続鋳造物を形成することができたとしても、運搬時に破損するおそれがある。
 Sn-Cu系はんだ合金の検討例として、はんだ合金で形成された接合部の破損を抑制する観点から、例えば特許文献2には、Sn-Cu-Ni合金を低温ろう材として用い、配管の接合箇所にフラックスを塗布しておき、溶融状態のろう材に浸漬して引き上げた後、徐冷して、凝固することが記載されている。
特開2017-196647号公報 国際公開第2014-084242号公報
橋本康孝ら、鉛フリーはんだの粘度測定の現状および今後の課題、日本金属学会誌、J-STAGE 早期公開 レビュー、2017年3月27日
 特許文献2に記載の発明では、低融点で使いやすい合金を提供することを目的とし、Cu含有量が0.3~41.4%の範囲を許容するものである。しかし、同文献に記載のように、Cu含有量が41.4%での液相線温度は640℃であり、しかも徐冷して凝固させるため、合金層中に粗大な金属間化合物が析出してしまう。このため、特許文献2に記載のSn-Cu系合金を用いて連続鋳造物を製造すると、連続鋳造物に割れや破損が発生することがある。連続鋳造物に割れや破損が発生すると、連続鋳造工程を中断し、破損した鋳造物を鋳型から取り出した後に鋳造工程が再開することになるため、作業工程が煩雑になる。
 さらに、工程の手間や工程時間の短縮による低コスト化は常に追求されなければならないことから、近年ではより長い連続鋳造物の製造が望まれている。このため、連続鋳造時における連続鋳造物の破損は、従来よりも大きな問題になりつつある。
 これに加えて、溶融はんだの粘性は合金組成により大きく異なり、組成によっては溶融はんだが回転鋳型の溝内で流れ難い。このため、連続鋳造物が厚くなるために鋳型をいくら冷却しても粗大な金属間化合物が生成され、連続鋳造物の破損を招くことがある。したがって、特許文献2に記載のSn-Cu系合金を特許文献1に適用したとしても、連続鋳造物の破損が生じうる。
 本発明の課題は、連続鋳造性に優れるはんだ合金を提供することである。
 発明者らは、特許文献2に記載の合金を連続鋳造物として製造する場合の課題について再検討を行った。特許文献2では、接合時に、ろう材を徐冷することで、はんだ合金が破損しないようにしている。例えば特許文献2に記載のように徐冷を行うと、はんだ合金の内部に粗大な金属間化合物が生成する。この粗大な金属間化合物が生成する箇所では、凝固時において割れが発生したり、はんだ合金の切断時に破損する。これは、特に、Cu含有量が0.8%以上である過共晶において顕著である。
 そこで、本発明者は、特許文献2に記載のように接合時の冷却に着目するのではなく、連続鋳造物の製造時における冷却に着目した。具体的には、Cuが0.8%以上のSn-Cuはんだ合金を用いた連続鋳造において、特許文献1に記載のように鋳型を冷却しながら鋳造したところ、はんだ合金の内部に生成した金属間化合物が粗大になることを確認した。また、非特許文献1では、Cu含有量が多いほど溶融はんだの粘度が増加する報告がなされている。この文献には、Cu含有量が0.7%から7.6%に増加した場合、同じ温度での粘度は1.5倍程度上昇していることが報告されている。そこで、種々のCu含有量にて鋳造を行ったところ、Cu含有量が多いほど鋳型内での溶融はんだの流動性が低下し、板厚が厚くなるとともに凝固時に割れが発生する頻度が上がる知見が得られた。
 ここで、Cu含有量の増加に伴う溶融はんだの流動性の低下を補うため、回転鋳型を傾け、鋳込まれた溶融はんだが上流から下流に流れ下るようにすることが挙げられる。ただ、回転鋳型を傾けると連続鋳造物の断面形状が鋳型の溝の形状から大きく異なる形状になるため、所望の連続鋳造物を得ることができない。また、回転鋳型の傾斜角度が大きすぎると、溶融はんだが回転鋳型の曲部に差しかかる時に溝からはみ出すおそれがある。このため、連続鋳造法を用いる場合には、回転鋳型は水平状態を維持しなければならない。
 本発明者らは、粘度が高い合金組成を有する溶融はんだを、回転鋳型が水平状態を維持した状態で鋳型に鋳込んでも、十分に鋳型内で流動させて凝固時の割れや破損を防ぐために更なる検討を重ねた。従来では、連続鋳造物の割れや破損は回転鋳型の振動により誘発されると考えられていたが、敢えて、鋳型に鋳込まれた溶融はんだに超音波等の微振動を印加してみたところ、予想外にも、鋳型内での溶融はんだの流動性が向上するとともに金属間化合物の最大結晶粒径が小さくなる知見を得た。これにより、凝固時の割れや破損がほとんどなく、良好な品質を有する連続鋳造物を製造することができ、本発明が完成した。
 これらの知見により完成された本発明は次の通りである。
 (1)質量%で、Cu:0.8~10%、残部Snからなる合金組成を有するとともに金属間化合物を有するはんだ合金であって、前記はんだ合金の表面からの厚さが50μm以上の領域において、金属間化合物の最大結晶粒径が100μm以下であることを特徴とするはんだ合金。
 (2)合金組成は、更に、質量%で、Ni:0.4%以下を含有する、上記(1)に記載のはんだ合金。
 (3)金属間化合物は、主として(Cu、Ni)Snである、上記(2)に記載のはんだ合金。
 (4)合金組成は、更に、質量%で、P:0.3%以下、Ge:0.3%以下、およびGa:0.3%以下の少なくとも1種を含有する、上記(1)~(3)のいずれか1項に記載のはんだ合金。
 (5)合金組成は、更に、Bi、In、Sb、Zn、およびAgの少なくとも1種を合計で5%以下からなる群、ならびにMn、Cr、Co、Fe、Si、Al、Ti、および希土類元素の少なくとも1種を合計で1%以下からなる群、の少なくとも1群から選択される少なくとも1種を含有する、上記(1)~(4)のいずれか1項に記載のはんだ合金。
 (6)下記(1)式を満たす、上記(1)~(5)のいずれか1項に記載のはんだ合金。
 最大結晶粒径(μm)×はんだ合金に占める金属間化合物の面積率(%)≦3000(μm・%)                ・・・(1)
図1は、実施例7のはんだ合金の断面画像である。 図2は、実施例8、および比較例4のはんだ合金の断面画像であり、図2(a)は実施例8の画像であり、図2(b)は比較例4の画像である。
 本発明を以下により詳しく説明する。本明細書において、はんだ合金組成に関する「%」は、特に指定しない限り「質量%」である。
 1.はんだ合金の合金組成
 (1)Cu:0.8~10%
 本発明のはんだ合金は、粗大なCuSn金属間化合物が生成されやすい過共晶合金の場合における課題を解決することができる。Cu含有量が0.7%未満の場合には亜共晶となるために凝固時の初晶はSnであるが、Cu含有量が0.7%を超える場合には過共晶なるため凝固時の初晶はSnCu化合物となる。初晶がSnCu化合物の場合に、溶融はんだの鋳型内での流動性が劣化する。ただ、Cu含有量が0.7%をわずかに上回る程度では製造条件によらず鋳造時での金属間化合物の影響はほとんどない。Cu含有量が多いほど本発明の効果が発揮され易くなるため、Cu含有量の下限は0.8%以上であり、好ましくは1.0%以上であり、より好ましくは4.0%以上である。
 一方、Cu含有量が10%を超えると液相線温度が高くなるために作業性が悪化する。また、Cu含有量が10%を超えると金属間化合物の面積率が大きくなり過ぎる。さらに、溶融はんだの粘度が増加して鋳型内での流動性が悪化するため、粗大な金属間化合物が生成される。これらにより、凝固時に割れ等が発生する。Cu含有量の上限は10%以下であり、好ましくは8%以下であり、より好ましくは7%以下である。
 (2)Ni:0.4%以下
 Niは、SnCu金属間化合物の結晶粒径を制御することができる任意元素である。Sn-Cuはんだ合金がNiを含有すると、NiがCuSn中に均一に分散して金属間化合物の粒径を微細にし、連続鋳造物の破損を抑制することができる。Ni含有量が0.4%以下であると、液相線温度の上昇が許容範囲内となるために良好な作業性を保つことができる。Ni含有量の上限は、好ましくは0.2%以下であり、より好ましくは0.15%である。一方、Niを含有する効果を発揮させるため、Ni含有量の下限は好ましくは0.03%以上であり、より好ましくは0.1%以上である。
 また、Niを含有する場合の本発明における金属間化合物は、好ましくは、主として(Cu、Ni)Snである。「主として(Cu、Ni)Snである」とは、はんだ合金の断面を観察した時に、金属間化合物の総面積に対する(Cu、Ni)Snの面積の比が0.5以上であることを表す。
 (3)P:0.3%以下、Ge:0.3%以下、およびGa:0.3%以下の少なくとも1種
 これらの元素は、はんだ合金の酸化を抑制するとともに溶融はんだの流動性を向上させることができる任意元素である。含有量の上限が0.3%以下であると、液相線温度の上昇を抑えることができるため、凝固までの時間が短縮して合金組織の粗大化を抑制することができる。P含有量の上限は、好ましくは0.3%以下であり、より好ましくは0.1%以下であり、さらに好ましくは0.025%以下である。Ge含有量およびGa含有量の上限は、各々、好ましくは0.3%以下であり、より好ましくは0.15%以下である。一方、これらの元素を含有する効果を発揮させるため、各元素の含有量の下限は好ましくは0.005%以上であり、より好ましくは0.01%以上である。
 (4)Bi、In、Sb、Zn、およびAgの少なくとも1種を合計で5%以下からなる群、ならびにMn、Cr、Co、Fe、Si、Al、Ti、および希土類元素の少なくとも1種を合計で1%以下からなる群、の少なくとも1群から選択される少なくとも1種
 これらの元素は、Bi、In、Sb、Zn、およびAgの少なくとも1種では合計で5%以下、Mn、Cr、Co、Fe、Si、Al、Ti、および希土類元素の少なくとも1種では合計で1%以下、であれば、本発明に係るはんだ合金の連続鋳造性に影響を及ぼすことがない。本発明において希土類元素とは、周期律表において第3族に属するSc、Yと原子番号57~71に該当するランタン族の15個の元素を合わせた17種の元素のことである。
 本発明では、Bi、In、Sb、Zn、Ag、Mn、Cr、Co、Fe、Si、Al、Ti、および希土類元素の少なくとも1種を含有してもよい。各々の元素の含有量は、好ましくは、Bi、In、Sb、Zn、およびAgの少なくとも1種では合計で5%以下、Mn、Cr、Co、Fe、Si、Al、Ti、および希土類元素の少なくとも1種では合計で1%以下である。より好ましくは、Bi、In、Sb、Zn、およびAgの少なくとも1種では合計で1%以下、Mn、Cr、Co、Fe、Si、Al、Ti、および希土類元素の少なくとも1種では合計で0.5%以下である。
 (5)残部:Sn
 本発明に係るはんだ合金の残部はSnである。前述の元素の他に不可避的不純物を含有してもよい。不可避的不純物を含有する場合であっても、前述の効果に影響することはない。また、後述するように、本発明では含有しない元素が不可避的不純物として含有されても前述の効果に影響することはない。
 (6)合金組織
 本発明に係るはんだ合金は、はんだ合金の表面からの厚さが50μm以上の領域において、金属間化合物の最大結晶粒径が100μm以下である。
 Sn-Cuはんだ合金に関して、従来では、はんだ合金と電極との接合界面の結晶粒径にのみ着目していたので、接合前の鋳造物自体の結晶粒径に関する報告はなかった。また、従来の接合界面での検討では接合対象である基板や電子部品等への影響を考慮した製造条件にしなければならなかったため、冷却速度を上げることができなかった。
 これに対し、本発明では、Sn-Cuはんだ合金に関して、はんだ接合前の連続鋳造により製造した連続鋳造物であるはんだ合金の合金組織に敢えて着目することによって、初めて連続鋳造時の課題を解決できたのである。
 溶融はんだは鋳型との接触面から冷却され、鋳型との接触面から最も離れた中央部が最後に凝固する。鋳型との接触面の冷却速度が中央部の冷却速度より早いためである。また、冷却速度が速ければ結晶粒径が小さくなる。よって、一般に、鋳型で冷却された鋳造物は中央部より表面の方が微細になる。
 ただ、連続鋳造時の破損は、はんだ合金の表面近傍のみが微細な組織になったとしても抑制できない。また、脆くて粗大な金属間化合物が凝固時に多く生成すると、はんだ合金のバルクを形成することができない。このような金属間化合物が内部に存在すると、内部で大きなクラックが発生するため、表面近傍の微細組織により表面にクラックが現れずに外観上破損が認識できない場合であっても、連続鋳造の後工程で連続鋳造物が破損してしまうおそれがある。さらに、仮にはんだ合金内部の平均結晶粒径が規定されていたとしても、粗大な金属間化合物が1つでも存在すれば、はんだ合金の破損に繋がる。そこで、本発明に係るはんだ合金は、はんだ合金内部での最大結晶粒径を規定し、その最大結晶粒径が小さいため、連続鋳造時において破損を抑制することができるのである。
 本発明の最大結晶粒径は以下のように規定される。鋳造物の断面画像を観察して金属間化合物を同定し、目視にて最大の結晶粒を選択する。その結晶粒について、間隔が最大となるように平行な2本の接線を引き、その間隔を最大結晶粒径とする。
 最大結晶粒径が小さいほど連続鋳造性に優れることから、最大結晶粒径の上限は100μm以下であり、好ましくは80μm以下であり、より好ましくは60.44μm以下であり、さらに好ましくは58.50μm以下であり、特に好ましくは50μm以下である。
 金属間化合物は構成元素に応じて生成される。本発明において、Sn、Cu、およびNiを含有する合金組成での金属間化合物は、前述のように、主として(Cu、Ni)Snである。
 また、本発明では、脆い金属間化合物の析出量を低減して破損を抑制する観点から、はんだ合金に占める金属間化合物の面積率は40%以下であることが好ましく、30%以下であることがより好ましく、20%以下であることが更に好ましく、18.06%以下であることが特に好ましく、15.15μm以下であることが最も好ましい。
 さらに、Sn-Cuはんだ合金では、金属間化合物の結晶粒径が小さく、且つ脆い金属間化合物の析出量が少ないと更に破損を抑制することができる。本発明に係るはんだ合金では、両者のバランスを考慮した下記(1)式を満たすことが好ましい。
 最大結晶粒径(μm)×はんだ合金に占める金属間化合物の面積率(%)≦3000(μm・%)            ・・・(1)
 「はんだ合金に占める金属間化合物の面積率」とは、はんだ合金を切断した切断面の面積と、その切断面に存在する金属間化合物の面積との比率(%)を表す。上記(1)式の右辺は、より好ましくは2500μm・%であり、さらに好ましくは1500μm・%である。
 2.はんだ継手
 はんだ継手は、例えば、半導体パッケージにおけるICチップとその基板(インターポーザ)との接続、或いは半導体パッケージとプリント配線板との接続に使用される。ここで、「はんだ継手」とは電極の接続部をいう。
 3.はんだ合金の製造方法
 本発明に係るはんだ合金の製造方法は、例えば、連続鋳造法にて製造される。連続鋳造法は、まず、所定の合金組成となるように原材料を溶融炉に投入し350~500℃程度に加熱して原材料を溶融する。
 原材料がすべて溶融した後、溶融炉中の溶融はんだを回転鋳型に連続的に鋳込む。
 回転鋳型は、例えば環状板の幅方向中央部に溝が設けられた形状である。溶融はんだを鋳込む際には、回転鋳型を回転させながら溶融はんだが鋳型の溝に鋳込まれる。鋳型への溶融はんだの供給量は、鋳型の回転数および鋳型内の溶融はんだに印加される超音波等の微振動の周波数に応じて適宜調整する。例えば、超音波を印加する場合には、超音波振動装置を回転鋳型の側面に付設して行う。本発明において、溶融はんだに印加される超音波の周波数は特に限定されないが、例えば10kHz以上であればよい。
 本発明では、回転鋳型に超音波装置を付設し、溶融はんだに超音波を印加することによって、上述のように、微細組織が得られる。また本発明のはんだ合金の組成では、金属間化合物の面積率が高すぎることもなく、最大結晶粒径とのバランスがとれている。この詳細は不明だが、以下のように推察される。Sn-Cuはんだ合金は、凝固時に初晶としてSnCu化合物が生成し、偏析によりCu量が高くなりすぎる箇所が発生し、粗大なSnCu化合物が形成されることがある。そこで、本発明では、超音波等の微振動を印加することによりSnCu化合物の偏析が抑制され、粗大なSnCu化合物の生成を抑制することができる。
 鋳型に鋳込まれた溶融はんだは150℃程度まで10~50℃/s程度の冷却速度で冷却される。この冷却速度を得るためには、回転鋳型の底を冷却水に浸漬させたり、チラーなどを用いて鋳型内に冷却水を循環させる。
 冷却後のはんだ合金は、ガイドを介して鋳型の外部に誘導され、所定の長さに切断される。ガイドに到達したはんだ合金は80~200℃程度に冷却されている。本発明のはんだ合金は、内部まで金属間化合物が微細であるため、従来発生しうるガイド接触時等の破損を抑制することができる。
 切断後のはんだ合金は棒はんだなどの形態で出荷される。本発明のはんだ合金では、輸送時での衝撃で破損することがない。
 (1)評価試料の作製
 本発明の効果を立証するため、下記により棒はんだを作製して評価した。溶融炉に原材料を秤量し、溶融炉の設定温度を450℃として溶融した後、水を循環させた回転鋳型の溝に溶融はんだを鋳込んだ。冷却速度は概ね30℃/sであった。そして、回転鋳型に超音波発振器を付設し、溶融はんだを鋳込む際に出力が5Wで60kHzの超音波を印加した。
 その後、回転鋳型からガイドにより連続鋳造物を回転鋳型の外部に誘導した。そして、適当な長さに切断し、幅:10mm、長さ:300mmの棒はんだを含めて計10m分の棒はんだを作製した。以下に評価方法を説明する。
 (2)評価方法
 (2-1)金属間化合物(IMC)の面積率
 作製した棒はんだの長手方向の中心部(横断面)を切断し、走査型電子顕微鏡SEM(倍率:250倍)を用いて組成像の画像を撮影した。得られた画像を解析して金属間化合物を同定した。金属間化合物は濃い灰色を呈するため、その色調から金属間化合物を判断した。濃い灰色を呈する金属間化合物の面積の画像領域に占める割合を面積率として導出した。面積率が20%以下を「◎」とし、20%超え40%以下を「○」として、40%超えを「×」とした。「◎」および「○」であれば実用上問題ない。本評価では、250倍で撮影した画像領域の面積をはんだ合金の断面積であると想定し、濃い灰色部分の総面積を断面における全金属間化合物の面積であると想定することができる。
 (2-2)最大結晶粒径
 得られた画像から同定された金属間化合物の中で、目視にて最大の結晶粒を選択する。その結晶粒について、間隔が最大となるように平行な2本の接線を引き、その間隔を最大結晶粒径とした。最大結晶粒径が100μm以下を「○」とし、100μm超えを「×」とした。
 (2-3)(1)式
 上記(2-1)および(2-2)から得られた結果を乗じた値が3000(μm・%)以下を「○」とし、3000(μm・%)超えを「×」とした。
 (2-4)棒はんだの破損
 棒はんだの破損は、凝固後から切断までの棒はんだを目視にて確認した。棒はんだに欠け、破損、崩れ等が発生していなければ「○」とし、少しでも欠け、破損、崩れ等が発生していれば「×」とした。
 室温での棒はんだの破損は、輸送時を想定し、幅:10mm、長さ:300mmの棒はんだの6面を評価面とし、棒はんだを1mの高さから各評価面を下に向けてコンクリート面に手動で自由落下させ(計6回)、目視にて確認した。上記の「1mの高さ」とは、棒はんだの評価面の、コンクリート面からの高さを表す。本落下試験により、棒はんだに新たな欠け、割れ等が発生していなければ「○」とし、新たな欠け、割れ等が発生していれば「×」とした。
 以下に評価結果を示す。
Figure JPOXMLDOC01-appb-T000001
 
 表1の結果から明らかなように、本発明に即した実施例はいずれも連続鋳造時にはんだ合金が破損等することなく、鋳造物を連続して鋳造することができることがわかった。また、室温まで冷却した後の落下試験においても、棒はんだの破損が見られなかった。
 一方、比較例1および比較例2では、Cu含有量が多すぎるため、金属間化合物が粗大になり、凝固後から切断までの棒はんだに破損が確認された。また、室温での落下試験において、さらに欠けや割れが発生した。
 比較例3および6では、鋳型に鋳込まれた溶融はんだに超音波を印加しなかったため、凝固後から切断までで破損が見られ、室温での落下試験において新たな欠けや割れが見られた。
 比較例4,5および7では、鋳型に鋳込まれた溶融はんだに超音波を印加しなかったため、凝固後から切断までで破損が見られたが、Cu含有量が比較的少ないため室温での落下試験において新たな欠けや割れは見られなかった。比較例8では、粗大な金属間化合物の析出量が多く、凝固後から切断までの棒はんだに破損が確認された。また、室温での落下試験において、さらに欠けや割れが発生した。
 さらに、比較例1~8では破損等に加えて、一本の棒はんだにおいて、バリの発生や厚さのばらつが見られ、実施例のようにバリがなく厚さが一定である安定した棒はんだを製造することができなかった。
 表1に示す実施例と比較例について、断面のSEM画像を観察した結果を示す。
 図1は、実施例7のはんだ合金の断面画像である。この画像から明らかなように、超音波を印加した実施例7の最大結晶粒径は100μm以下の58.50μmであることが明らかになった。また、実施例7の面積率は15%であることが確認できており、(1)式を満たすことも明らかになった。
 図2は、実施例8、比較例4の断面画像であり、図2(a)は実施例8の画像であり、図2(b)は比較例4の画像である。図2(a)と図2(b)は、各々超音波の印加の有無による結晶粒径の変化を表したものである。
 実施例8の最大結晶粒径は60.44μmであるとともに面積率が18.06%であり、(1)式を満たすことがわかった。実施例1~7、実施例9~29も同様に、最大結晶粒径が100μm以下であり、(1)式を満たすことを確認した。
 一方、比較例4は超音波を印加しなかったため、最大結晶粒径が100μmを超える108.72μmであり粗大な金属間化合物が析出することがわかった。また、比較例4の面積率は28.12%であり、(1)式を満たさないことがわかった。この他の比較例も同様に最大結晶粒径が100μmを超え、(1)式を満たさないことがわかった。
 

Claims (6)

  1.  質量%で、Cu:0.8~10%、残部Snからなる合金組成を有するとともに金属間化合物を有するはんだ合金であって、前記はんだ合金の表面からの厚さが50μm以上の領域において、前記金属間化合物の最大結晶粒径が100μm以下であることを特徴とするはんだ合金。
  2.  前記合金組成は、更に、質量%で、Ni:0.4%以下を含有する、請求項1に記載のはんだ合金。
  3.  前記金属間化合物は、主として(Cu、Ni)Snである、請求項2に記載のはんだ合金。
  4.  前記合金組成は、更に、質量%で、P:0.3%以下、Ge:0.3%以下、およびGa:0.3%以下の少なくとも1種を含有する、請求項1~3のいずれか1項に記載のはんだ合金。
  5.  前記合金組成は、更に、Bi、In、Sb、Zn、およびAgの少なくとも1種を合計で5%以下からなる群、ならびにMn、Cr、Co、Fe、Si、Al、Ti、および希土類元素の少なくとも1種を合計で1%以下からなる群、の少なくとも1群から選択される少なくとも1種を含有する、請求項1~4のいずれか1項に記載のはんだ合金。
  6.  下記(1)式を満たす、請求項1~5のいずれか1項に記載のはんだ合金。
     前記最大結晶粒径(μm)×前記はんだ合金に占める前記金属間化合物の面積率(%)≦3000(μm・%)   ・・・(1)
     
PCT/JP2018/047747 2017-12-31 2018-12-26 はんだ合金 WO2019131718A1 (ja)

Priority Applications (11)

Application Number Priority Date Filing Date Title
HRP20211480TT HRP20211480T1 (hr) 2017-12-31 2018-12-26 Legura za lemljenje
KR1020197031277A KR102090548B1 (ko) 2017-12-31 2018-12-26 땜납 합금
ES18896544T ES2884792T3 (es) 2017-12-31 2018-12-26 Aleación de soldadura
MX2019012904A MX2019012904A (es) 2017-12-31 2018-12-26 Aleacion de soldadura.
CN201880028510.6A CN110612175B (zh) 2017-12-31 2018-12-26 软钎料合金
BR112020003649-8A BR112020003649B1 (pt) 2017-12-31 2018-12-26 Liga de solda
PL18896544T PL3597356T3 (pl) 2017-12-31 2018-12-26 Stop lutowniczy
MYPI2019006081A MY185972A (en) 2017-12-31 2018-12-26 Solder alloy
US16/605,744 US11123824B2 (en) 2017-12-31 2018-12-26 Solder alloy
EP18896544.6A EP3597356B1 (en) 2017-12-31 2018-12-26 Solder alloy
PH12019502364A PH12019502364B1 (en) 2017-12-31 2019-10-17 Solder alloy

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017255303A JP6369620B1 (ja) 2017-12-31 2017-12-31 はんだ合金
JP2017-255303 2017-12-31

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2019131718A1 true WO2019131718A1 (ja) 2019-07-04

Family

ID=63104312

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP2018/047747 WO2019131718A1 (ja) 2017-12-31 2018-12-26 はんだ合金

Country Status (16)

Country Link
US (1) US11123824B2 (ja)
EP (1) EP3597356B1 (ja)
JP (1) JP6369620B1 (ja)
KR (1) KR102090548B1 (ja)
CN (1) CN110612175B (ja)
ES (1) ES2884792T3 (ja)
HR (1) HRP20211480T1 (ja)
HU (1) HUE055917T2 (ja)
MA (1) MA47802A (ja)
MX (1) MX2019012904A (ja)
MY (1) MY185972A (ja)
PH (1) PH12019502364B1 (ja)
PL (1) PL3597356T3 (ja)
PT (1) PT3597356T (ja)
TW (1) TWI673130B (ja)
WO (1) WO2019131718A1 (ja)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11123823B2 (en) * 2017-11-08 2021-09-21 Alpha Assembly Solutions Inc. Cost-effective lead-free solder alloy for electronic applications
TWI820277B (zh) * 2018-12-27 2023-11-01 美商阿爾發金屬化工公司 無鉛焊料組成物
JP6721851B1 (ja) 2019-06-28 2020-07-15 千住金属工業株式会社 はんだ合金、鋳造物、形成物およびはんだ継手
CN114173983A (zh) * 2019-07-26 2022-03-11 日本斯倍利亚社股份有限公司 预制焊料和使用该预制焊料形成的焊料接合体
JP6744972B1 (ja) 2019-10-04 2020-08-19 有限会社 ナプラ 接合構造部
JP6799701B1 (ja) * 2020-03-12 2020-12-16 有限会社 ナプラ 金属粒子
JP6890201B1 (ja) * 2020-08-27 2021-06-18 有限会社 ナプラ 接合材用合金インゴット
JP7007623B1 (ja) * 2021-08-27 2022-01-24 千住金属工業株式会社 はんだ合金及びはんだ継手
CN113798725B (zh) * 2021-10-13 2022-10-04 浙江强力控股有限公司 选择性波峰焊用免焊剂无铅焊料及其制备方法
CN115383344B (zh) * 2022-06-06 2024-02-06 桂林航天工业学院 In-48Sn-xCuZnAl复合钎料及其制备方法与应用

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09122967A (ja) * 1995-10-25 1997-05-13 Tanaka Denshi Kogyo Kk 複合半田材料
JP2003001482A (ja) * 2001-06-19 2003-01-08 Tokyo Daiichi Shoko:Kk 無鉛半田合金
JP2004181485A (ja) * 2002-12-03 2004-07-02 Senju Metal Ind Co Ltd 鉛フリーはんだ合金
JP2005046882A (ja) * 2003-07-29 2005-02-24 Hitachi Metals Ltd はんだ合金、はんだボール及びはんだ接合体
JP2011041979A (ja) * 2009-07-22 2011-03-03 Sanyo Special Steel Co Ltd 鉛フリー接合材料およびその製造方法
JP2013013916A (ja) * 2011-07-04 2013-01-24 Nihon Superior Co Ltd 金属間化合物含有鉛フリーはんだ合金及びその製造方法
WO2014084242A1 (ja) 2012-11-30 2014-06-05 株式会社日本スペリア社 低融点ろう材
JP2017196647A (ja) 2016-04-28 2017-11-02 住友金属鉱山株式会社 Au−Sn−Ag−α系はんだ合金及びそのはんだ材料並びに該はんだ材料を用いて接合又は封止された実装基板

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7172726B2 (en) * 2002-10-15 2007-02-06 Senju Metal Industry Co., Ltd. Lead-free solder
JP2004141910A (ja) * 2002-10-23 2004-05-20 Senju Metal Ind Co Ltd 鉛フリーはんだ合金
US20040258556A1 (en) * 2003-06-19 2004-12-23 Nokia Corporation Lead-free solder alloys and methods of making same
US20110303448A1 (en) 2010-04-23 2011-12-15 Iowa State University Research Foundation, Inc. Pb-Free Sn-Ag-Cu-Al or Sn-Cu-Al Solder
CN102029479A (zh) * 2010-12-29 2011-04-27 广州有色金属研究院 一种低银无铅焊料合金及其制备方法和装置
JP5973992B2 (ja) 2011-04-08 2016-08-23 株式会社日本スペリア社 はんだ合金
JP2013252548A (ja) * 2012-06-08 2013-12-19 Nihon Almit Co Ltd 微細部品接合用のソルダペースト
US9642275B2 (en) 2012-12-25 2017-05-02 Mitsubishi Materials Corporation Power module
US9320152B2 (en) 2013-05-29 2016-04-19 Nippon Steel & Sumikin Materials Co., Ltd. Solder ball and electronic member
CN103753047B (zh) 2013-11-20 2017-04-19 中国电子科技集团公司第四十一研究所 一种无铅钎料
JPWO2015111587A1 (ja) 2014-01-24 2017-03-23 新日鉄住金マテリアルズ株式会社 太陽電池用インターコネクタ及び太陽電池モジュール
JP5880766B1 (ja) * 2015-05-26 2016-03-09 千住金属工業株式会社 はんだ合金、はんだボール、チップソルダ、はんだペースト及びはんだ継手
CN105665956A (zh) 2016-03-23 2016-06-15 徐宏达 一种用于钎焊铝及其合金的软钎料合金

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09122967A (ja) * 1995-10-25 1997-05-13 Tanaka Denshi Kogyo Kk 複合半田材料
JP2003001482A (ja) * 2001-06-19 2003-01-08 Tokyo Daiichi Shoko:Kk 無鉛半田合金
JP2004181485A (ja) * 2002-12-03 2004-07-02 Senju Metal Ind Co Ltd 鉛フリーはんだ合金
JP2005046882A (ja) * 2003-07-29 2005-02-24 Hitachi Metals Ltd はんだ合金、はんだボール及びはんだ接合体
JP2011041979A (ja) * 2009-07-22 2011-03-03 Sanyo Special Steel Co Ltd 鉛フリー接合材料およびその製造方法
JP2013013916A (ja) * 2011-07-04 2013-01-24 Nihon Superior Co Ltd 金属間化合物含有鉛フリーはんだ合金及びその製造方法
WO2014084242A1 (ja) 2012-11-30 2014-06-05 株式会社日本スペリア社 低融点ろう材
JP2017196647A (ja) 2016-04-28 2017-11-02 住友金属鉱山株式会社 Au−Sn−Ag−α系はんだ合金及びそのはんだ材料並びに該はんだ材料を用いて接合又は封止された実装基板

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
YASUTAKA HASHIMOTO ET AL.: "Current Status and Future Plan of Viscosity Measurement for the Lead-Free Solder", JOURNAL OF THE JAPAN INSTITUTE OF METALS AND MATERIALS, J-STAGE, 27 March 2017 (2017-03-27)

Also Published As

Publication number Publication date
PT3597356T (pt) 2021-08-20
ES2884792T3 (es) 2021-12-13
MX2019012904A (es) 2019-12-11
KR20190123800A (ko) 2019-11-01
EP3597356A1 (en) 2020-01-22
HRP20211480T1 (hr) 2021-12-24
US11123824B2 (en) 2021-09-21
CN110612175A (zh) 2019-12-24
JP2019118930A (ja) 2019-07-22
PL3597356T3 (pl) 2022-01-17
EP3597356B1 (en) 2021-07-21
MA47802A (fr) 2020-01-22
US20200376606A1 (en) 2020-12-03
MY185972A (en) 2021-06-14
EP3597356A4 (en) 2020-06-03
BR112020003649A2 (pt) 2020-11-17
CN110612175B (zh) 2020-10-27
HUE055917T2 (hu) 2021-12-28
PH12019502364A1 (en) 2020-07-13
TW201929994A (zh) 2019-08-01
PH12019502364B1 (en) 2020-07-13
JP6369620B1 (ja) 2018-08-08
TWI673130B (zh) 2019-10-01
KR102090548B1 (ko) 2020-03-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2019131718A1 (ja) はんだ合金
JP5585746B2 (ja) 高温鉛フリーはんだ合金
JP5973992B2 (ja) はんだ合金
WO2015041018A1 (ja) Bi基はんだ合金、並びにそれを用いた電子部品のボンディング方法および電子部品実装基板
JP2018047500A (ja) Bi基はんだ合金及びその製造方法、並びに、そのはんだ合金を用いた電子部品及び電子部品実装基板
JP6136878B2 (ja) Bi基はんだ合金とその製造方法、並びにそれを用いた電子部品のボンディング方法および電子部品実装基板
CN109848606B (zh) 一种高界面结合强度的Sn-Ag-Cu无铅焊料及其制备方法
JP2016093831A (ja) Pbを含まないMg−Cu系はんだ合金
US11607753B2 (en) Solder alloy, cast article, formed article, and solder joint
JP2018047499A (ja) Bi基はんだ合金及びその製造方法、並びに、そのはんだ合金を用いた電子部品及び電子部品実装基板
JP2017035708A (ja) Pbを含まないSb−Cu系はんだ合金
JP2017196647A (ja) Au−Sn−Ag−α系はんだ合金及びそのはんだ材料並びに該はんだ材料を用いて接合又は封止された実装基板
JP5861526B2 (ja) Pbを含まないGe−Al系はんだ合金
JP2017094376A (ja) PbフリーSn系はんだ合金
JP2018047497A (ja) Bi基はんだ合金及びその製造方法、並びに、そのはんだ合金を用いた電子部品及び電子部品実装基板
JP6136807B2 (ja) Bi基はんだ合金とその製造方法、並びにそれを用いた電子部品のボンディング方法および電子部品実装基板
JP2018149554A (ja) PbフリーBi系はんだ合金、該はんだ合金を用いた電子部品、および電子部品実装基板
JP6136853B2 (ja) Bi基はんだ合金とその製造方法、並びにそれを用いた電子部品のボンディング方法および電子部品実装基板
JP2015020189A (ja) Auを主成分とするPbフリーAu−Ge−Sn系はんだ合金
BR112020003649B1 (pt) Liga de solda
JP2018047498A (ja) Bi基はんだ合金及びその製造方法、並びに、そのはんだ合金を用いた電子部品及び電子部品実装基板
JP2017094377A (ja) PbフリーSn系はんだ合金
JP2017029996A (ja) Pbを含まないAg−Sb系はんだ合金
JP2015098048A (ja) Pbを含まないZn−Ge系はんだ合金およびそれを用いた電子部品
JP2017047439A (ja) PbフリーSn系はんだ合金及びこれを用いた電子部品実装基板並びに該実装基板を搭載した電子機器

Legal Events

Date Code Title Description
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application

Ref document number: 18896544

Country of ref document: EP

Kind code of ref document: A1

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 20197031277

Country of ref document: KR

Kind code of ref document: A

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 2018896544

Country of ref document: EP

Effective date: 20191016

REG Reference to national code

Ref country code: BR

Ref legal event code: B01A

Ref document number: 112020003649

Country of ref document: BR

NENP Non-entry into the national phase

Ref country code: DE

REG Reference to national code

Ref country code: BR

Ref legal event code: B01E

Ref document number: 112020003649

Country of ref document: BR

Free format text: APRESENTAR A TRADUCAO SIMPLES DA FOLHA DE ROSTO DA CERTIDAO DE DEPOSITO DA PRIORIDADE JP 2017-255303 DE 31/12/2017 OU DECLARACAO CONTENDO, OBRIGATORIAMENTE, TODOS OS DADOS IDENTIFICADORES DESTA (DEPOSITANTE(S), INVENTOR(ES), NUMERO DE REGISTRO, DATA DE DEPOSITO E TITULO), CONFORME O PARAGRAFO UNICO DO ART. 25 DA RESOLUCAO 77/2013, UMA VEZ QUE NAO FOI POSSIVEL DETERMINAR O(S) TITULAR(ES) DA CITADA PRIORIDADE, NEM SEUS INVENTORES, INFORMACAO NECESSARIA PARA O EXAME.

ENP Entry into the national phase

Ref document number: 112020003649

Country of ref document: BR

Kind code of ref document: A2

Effective date: 20200220