WO2017135016A1 - 眼科装置及び眼科検査システム - Google Patents

Abstract

実施形態に係る眼科装置は、対物レンズと、他覚測定光学系と、干渉光学系と、画像形成部とを含む。他覚測定光学系は、対物レンズを介して被検眼に光を照射し、被検眼からの戻り光を検出する。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、他覚測定光学系による被検眼の光の照射領域の少なくとも一部に重なるように対物レンズを介して被検眼に測定光を照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。画像形成部は、干渉光学系による干渉光の検出結果に基づいて被検眼の断層像を形成する。

Description

眼科装置及び眼科検査システム

　この発明は、眼科装置及び眼科検査システムに関する。

　被検眼に対して他覚測定を実行可能な眼科装置が知られている。例えば、特許文献１には、被検眼の眼底に眼屈折力測定用のリング状の光束を投影し、その戻り光を検出することによって得られるリング像を解析することにより、被検眼の球面度数、乱視度数及び乱視軸角度を求める眼科装置が開示されている。

特開２００６－１８７４８２号公報

　しかしながら、被検眼の眼底に疾患部位が存在する場合、この疾患部位に測定用のリング状の光束が投影されると、眼底からの戻り光を検出することにより得られるリング像の形状の歪みや変形が大きくなる。それにより、求められる被検眼の球面度数、乱視度数及び乱視軸角度の精度が低下するという問題がある。このような他覚測定値のばらつきは、他覚測定値を反映させて実行される自覚検査の検査精度にも影響を与えることもある。

　また、リング像の形状の歪み等は、眼底の疾患部位だけではなく、水晶体を含む中間透光体に原因がある場合がある。従って、リング像を解析するだけでは、求められた被検眼の球面度数等の精度が低下した原因を特定することができない場合がある。

　本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであり、他覚測定値の精度を向上させることが可能な眼科装置及び眼科検査システムを提供することを目的とする。

　実施形態に係る眼科装置は、対物レンズと、他覚測定光学系と、干渉光学系と、画像形成部とを含む。他覚測定光学系は、対物レンズを介して被検眼に光を照射し、被検眼からの戻り光を検出する。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、他覚測定光学系による被検眼の光の照射領域の少なくとも一部に重なるように対物レンズを介して被検眼に測定光を照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。画像形成部は、干渉光学系による干渉光の検出結果に基づいて被検眼の断層像を形成する。
　実施形態に係る眼科検査システムは、左被検眼を検査するための左検査ユニットと、右被検眼を検査するための右検査ユニットと、を含み、左検査ユニット及び右検査ユニットの少なくとも一方は、実施形態に係る眼科装置を含む。

　この発明に係る眼科装置及び眼科検査システムによれば、他覚測定値の精度を向上させることが可能になる。

実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の処理系の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置が適用された眼科検査システムの構成例を示す概略図である。

　この発明に係る眼科装置及び眼科検査システムの実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

＜眼科装置＞
　実施形態に係る眼科装置は、任意の自覚検査及び任意の他覚測定の少なくとも一方を実行可能である。自覚検査では、被検者に情報（視標など）が呈示され、その情報に対する被検者の応答に基づいて結果が取得される。自覚検査には、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレアー検査等の自覚屈折測定や、視野検査などがある。他覚測定では、被検眼に光を照射し、その戻り光の検出結果に基づいて被検眼に関する情報が取得される。他覚測定には、被検眼の特性を取得するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。他覚測定には、他覚屈折測定、角膜形状測定、眼圧測定、眼底撮影、光コヒーレンストモグラフィ（Ｏｐｔｉｃａｌ　Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ　Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ：以下、ＯＣＴ）を用いた断層像撮影（ＯＣＴ撮影）、ＯＣＴを用いた計測等がある。

　以下、実施形態に係る眼科装置は、自覚検査として、遠用検査、近用検査などを実行可能であり、且つ、他覚測定として、他覚屈折測定、角膜形状測定、ＯＣＴ撮影などを実行可能な装置であるものとする。しかしながら、実施形態に係る眼科装置の構成は、これに限定されるものではない。

　また、ＯＣＴ撮影においてフーリエドメインタイプのＯＣＴの手法を用いる場合について説明する。特に、以下の実施形態に係る眼科装置は、スウェプトソースＯＣＴの手法を用いてＯＣＴ撮影を行うことが可能である。なお、ＯＣＴ撮影は、スウェプトソース以外のタイプ、例えばスペクトラルドメインＯＣＴの手法を用いてもよい。また、以下の実施形態におけるＯＣＴ撮影は、タイムドメインタイプのＯＣＴの手法を用いることも可能である。

＜構成＞
　実施形態に係る眼科装置は、ベースに固定された顔受け部と、ベースに対して前後左右に移動可能な架台とを備えている。架台には、被検眼の検査（測定）を行うための光学系が収納されたヘッド部が設けられている。検者側の位置に配置された操作部に対して操作を行うことにより、顔受け部とヘッド部とを相対移動することができる。また、眼科装置は、後述のアライメントを実行することにより顔受け部とヘッド部とを自動で相対移動することができる。

　図１～図３に、実施形態に係る眼科装置の光学系の構成例を示す。眼科装置は、被検眼Ｅの検査を行うための光学系として、Ｚアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、視標投影系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７及びＯＣＴ光学系８を含む。また、眼科装置は処理部９を含む。

（処理部９）
　処理部９は、眼科装置の各部を制御する。また、処理部９は、各種演算処理を実行可能である。処理部９はプロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ　Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ　Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ　Ｓｐｅｃｉｆｉｃ　Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ　Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｌｏｇｉｃ　Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｌｏｇｉｃ　Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ　Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ　Ｇａｔｅ　Ａｒｒａｙ））等の回路により実現される。処理部９は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

（観察系５）
　観察系５は、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影する。被検眼Ｅの前眼部からの光（赤外光）は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２を透過し、絞り５３の開口を通過する。絞り５３の開口を通過した光は、ハーフミラー２２を透過し、リレーレンズ５５及び５６を通過し、ハーフミラー７６を透過する。ハーフミラー７６を透過した光は、結像レンズ５８により撮像素子５９（エリアセンサー）の撮像面に結像される。撮像素子５９は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子５９の出力（映像信号）は処理部９に入力される。処理部９は、この映像信号に基づく前眼部像Ｅ’を表示部１０の表示画面１０ａに表示させる。前眼部像Ｅ’は、例えば赤外動画像である。観察系５は、前眼部を照明するための照明光源を含んでいてもよい。

（Ｚアライメント系１）
　Ｚアライメント系１は、観察系５の光軸方向（前後方向、Ｚ方向）におけるアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。Ｚアライメント光源１１から出力された光は、被検眼Ｅの角膜Ｋに照射され、角膜Ｋにより反射され、結像レンズ１２によりラインセンサー１３に結像される。角膜頂点の位置が前後方向に変化すると、ラインセンサー１３に対する光の投影位置が変化する。処理部９は、ラインセンサー１３に対する光の投影位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づきＺアライメントを実行する。

（ＸＹアライメント系２）
　ＸＹアライメント系２は、観察系５の光軸に直交する方向（左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向））のアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。ＸＹアライメント系２は、ハーフミラー２２により観察系５から分岐された光路に設けられたＸＹアライメント光源２１を含む。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、ハーフミラー２２により反射され、観察系５を通じて被検眼Ｅに照射される。その角膜Ｋによる反射光は、観察系５を通じて撮像素子５９に導かれる。

　この反射光の像（輝点像）は前眼部像Ｅ’に含まれる。処理部９は、図１に示すように、輝点像Ｂｒを含む前眼部像Ｅ’とアライメントマークＡＬとを表示画面１０ａに表示させる。手動でＸＹアライメントを行う場合、検者又は被検者等のユーザは、アライメントマークＡＬ内に輝点像Ｂｒを誘導するように光学系の移動操作を行う。自動でアライメントを行う場合、処理部９は、アライメントマークＡＬに対する輝点像Ｂｒの変位がキャンセルされるように、光学系を移動させるための機構を制御する。

（ケラト測定系３）
　ケラト測定系３は、角膜Ｋの形状を測定するためのリング状光束（赤外光）を角膜Ｋに投影する。ケラト板３１は、対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、角膜Ｋにリング状光束が投影される。その反射光（ケラトリング像）は撮像素子５９により前眼部像とともに検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで角膜形状パラメータを算出する。

（視標投影系４）
　視標投影系４は、固視標や自覚検査用の視標等の各種視標を被検眼Ｅに呈示する。液晶パネル４１は、処理部９からの制御を受け、視標を表すパターンを表示する。液晶パネル４１から出力された光（可視光）は、リレーレンズ４２及び合焦レンズ４３を通過し、ダイクロイックミラー８１を透過する。ダイクロイックミラー８１を透過した光は、リレーレンズ４４、瞳レンズ４５及びＶＣＣレンズ４６を通過し、反射ミラー４７により反射され、ダイクロイックミラー６９を透過し、ダイクロイックミラー５２により反射される。ダイクロイックミラー５２により反射された光は、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。

　合焦レンズ４３は、視標投影系４の光軸に沿って移動可能である。液晶パネル４１と眼底Ｅｆとが光学的に共役となるように合焦レンズ４３の位置が調整される。ＶＣＣレンズ４６は、被検眼の非点収差を調整可能である（すなわち、被検眼の収差を補正可能である）。具体的には、ＶＣＣレンズ４６は、処理部９からの制御を受け、被検眼Ｅに付加する乱視度数及び乱視軸角度を変更可能であり、被検眼の眼球収差のうち少なくとも乱視度数及び乱視軸角度を補正可能である。それにより、被検眼Ｅの乱視状態が矯正される。

　液晶パネル４１は、処理部９からの制御を受け、被検眼Ｅを固視させるための固視標を表すパターンを表示することが可能である。液晶パネル４１において固視標を表すパターンの表示位置を順次に変更することで固視位置を移動し、固視を誘導することができる。また、視標投影系４は、前述の視標とともにグレアー光を被検眼Ｅに投影するためのグレアー検査光学系を含んでもよい。

　自覚検査を行う場合、処理部９は、他覚測定の結果に基づき液晶パネル４１、合焦レンズ４３及びＶＣＣレンズ４６を制御する。処理部９は、検者又は処理部９により選択された視標を液晶パネル４１に表示させる。それにより、当該視標が被検者に呈示される。被検者は視標に対する応答を行う。応答内容の入力を受けて、処理部９は、更なる制御や、自覚検査値の算出を行う。例えば、視力測定において、処理部９は、ランドルト環等に対する応答に基づいて、次の視標を選択して呈示し、これを繰り返し行うことで視力値を決定する。

　他覚測定（他覚屈折測定など）においては、風景チャートが眼底Ｅｆに投影される。この風景チャートを被検者に凝視させつつアライメントが行われ、雲霧視状態で眼屈折力が測定される。

（レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７）
　レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７は他覚屈折測定（レフ測定）に用いられる。レフ測定投影系６は、他覚測定用のリング状光束（赤外光）を眼底Ｅｆに投影する。この明細書において、リング状光束はリングの一部が途切れた形状の光束も含む。レフ測定受光系７は、このリング状光束の被検眼Ｅからの戻り光を受光する。

　光源ユニット６０は、レフ測定光源６１、コンデンサレンズ６２、円錐プリズム６３及びリング開口板６４を含む。光源ユニット６０は、レフ測定投影系６の光軸に沿って移動可能である。レフ測定光源６１は、眼底Ｅｆと光学的に共役な位置に配置される。レフ測定光源６１から出力された光は、コンデンサレンズ６２を通過し、円錐プリズム６３を透過し、リング開口板６４のリング状開口部を通過してリング状光束となる。リング開口板６４により形成されたリング状光束は、リレーレンズ６５及び瞳レンズ６６を通過し、穴開きプリズム６７の反射面により反射され、ロータリープリズム６８を通過し、ダイクロイックミラー６９により反射される。ダイクロイックミラー６９により反射された光は、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。

　ロータリープリズム６８は、眼底Ｅｆの血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化させるために用いられる。

　眼底Ｅｆに投影されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及び６９により反射される。ダイクロイックミラー６９により反射された戻り光は、ロータリープリズム６８を通過し、穴開きプリズム６７の穴部を通過し、瞳レンズ７１を通過し、反射ミラー７２により反射される。反射ミラー７２により反射された光は、リレーレンズ７３及び合焦レンズ７４を通過し、反射ミラー７５により反射される。反射ミラー７５により反射された光は、ハーフミラー７６により反射され、結像レンズ５８により撮像素子５９の撮像面に結像される。処理部９は、撮像素子５９からの出力を基に公知の演算を行うことで被検眼Ｅの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを算出する。

　処理部９は、算出された屈折値に基づいて、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆと撮像素子５９とが共役となる位置に、光源ユニット６０と合焦レンズ７４とをそれぞれ光軸方向に移動させる。更に、処理部９は、光源ユニット６０及び合焦レンズ７４の移動に連動して合焦レンズ４３をその光軸方向に移動させる。また、処理部９は、光源ユニット６０及び合焦レンズ７４の移動に連動してＯＣＴ光学系８の合焦レンズ８２をその光軸方向に移動させてもよい。

（ＯＣＴ光学系８）
　ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴ撮影を行うための光学系である。ＯＣＴ撮影よりも前に実施されたレフ測定結果に基づいて、光ファイバーｆ２の端面が眼底Ｅｆと光学系に共役となるように合焦レンズ８２の位置が調整される。

　ＯＣＴ光学系８の光路は、ダイクロイックミラー８１により視標投影系４の光路に結合される。それにより、ＯＣＴ光学系８及び視標投影系４のそれぞれの光軸を同軸で結合することができる。

　ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴユニット９０を含む。図２に示すように、ＯＣＴユニット９０において、ＯＣＴ光源９１は、一般的なスウェプトソースタイプのＯＣＴ装置と同様に、出射光の波長を掃引（走査）可能な波長掃引型（波長走査型）光源を含んで構成される。波長掃引型光源は、共振器を含むレーザー光源を含んで構成される。ＯＣＴ光源９１は、人眼では視認できない近赤外の波長帯において、出力波長を時間的に変化させる。

　ＯＣＴ光源９１から出力された光（赤外光、広帯域光）Ｌ０は、光ファイバーｆ１を通じて導かれたファイバーカプラー９２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、光ファイバーｆ２を通じてコリメートレンズ８６に導かれる。一方、参照光ＬＲは、光ファイバーｆ４を通じて参照光路長変更部９４に導かれる。

　参照光路長変更部９４は、参照光ＬＲの光路長を変更する。参照光路長変更部９４に導かれた参照光ＬＲは、コリメートレンズ９５により平行光束とされてコーナーキューブ９６に導かれる。コーナーキューブ９６は、コリメートレンズ９５により平行光束とされた参照光ＬＲの進行方向を逆方向に折り返す。コーナーキューブ９６に入射する参照光ＬＲの光路と、コーナーキューブ９６から出射する参照光ＬＲの光路とは平行である。また、コーナーキューブ９６は、参照光ＬＲの入射光路及び出射光路に沿う方向に移動可能とされている。この移動により参照光ＬＲの光路の長さが変更される。コーナーキューブ９６から出射する参照光ＬＲは、コリメートレンズ９７によって平行光束から集束光束に変換されて光ファイバーｆ５に入射し、ファイバーカプラー９３に導かれる。コリメートレンズ９５とコーナーキューブ９６との間やコーナーキューブ９６とコリメートレンズ９７との間に、遅延部材や分散補償部材が設けられていてもよい。遅延部材は、参照光ＬＲの光路長（光学距離）と測定光ＬＳの光路長とを合わせるための光学部材である。分散補償部材は、参照光ＬＲと測定光ＬＳとの間の分散特性を合わせるための光学部材である。

　コリメートレンズ８６により平行光束とされた測定光ＬＳは、光スキャナー８４により１次元的又は２次元的に偏向される。光スキャナー８４は、ガルバノミラー８４Ｘと、ガルバノミラー８４Ｙとを含む。ガルバノミラー８４Ｘは、眼底ＥｆをＸ方向にスキャンするように測定光ＬＳを偏向する。ガルバノミラー８４Ｙは、眼底ＥｆをＹ方向にスキャンするように、ガルバノミラー８４Ｘにより偏向された測定光ＬＳを偏向する。このような光スキャナー８４による測定光ＬＳの走査態様としては、例えば、水平スキャン、垂直スキャン、十字スキャン、放射スキャン、円スキャン、同心円スキャン、螺旋スキャンなどがある。

　光スキャナー８４により偏向された測定光ＬＳは、反射ミラー８３及び合焦レンズ８２を経由して、ダイクロイックミラー８１により反射される。ダイクロイックミラー８１により反射された測定光ＬＳは、視標投影系４を通じてダイクロイックミラー５２に導かれ、ダイクロイックミラー５２により反射される。ダイクロイックミラー５２により反射された光は、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅに照射される。測定光ＬＳは、被検眼Ｅの様々な深さ位置において散乱（反射を含む）される。このような後方散乱光を含む測定光ＬＳの戻り光は、往路と同じ経路を逆向きに進行してファイバーカプラー９２に導かれ、光ファイバーｆ３を経由してファイバーカプラー９３に到達する。

　ファイバーカプラー９３は、光ファイバーｆ３を介して入射された測定光ＬＳと、光ファイバーｆ５を介して入射された参照光ＬＲとを合成して（干渉させて）干渉光を生成する。ファイバーカプラー９３は、所定の分岐比（例えば１：１）で、測定光ＬＳと参照光ＬＲとの干渉光を分岐することにより、一対の干渉光ＬＣを生成する。ファイバーカプラー９３から出射した一対の干渉光ＬＣは、それぞれ光ファイバーｆ６及びｆ７により検出器９８に導かれる。

　検出器９８は、例えば一対の干渉光ＬＣをそれぞれ検出する一対のフォトディテクタを有し、これらによる検出結果の差分を出力するバランスドフォトダイオード（Ｂａｌａｎｃｅｄ　Ｐｈｏｔｏ　Ｄｉｏｄｅ：ＢＰＤ）である。ＯＣＴ光源９１により所定の波長範囲内で掃引（走査）される各波長の出力タイミングに同期して生成されたクロックに基づいて、検出器９８から出力された検出結果の差分がサンプリングされる。このサンプリングデータは、処理部９の演算処理部１２０に送られる。演算処理部１２０は、例えば一連の波長走査毎に（Ａライン毎に）、サンプリングデータに基づくスペクトル分布にフーリエ変換等を施すことにより、各Ａラインにおける反射強度プロファイルを形成する。更に、演算処理部１２０は、各Ａラインの反射強度プロファイルを画像化することにより画像データを形成する。

　以上のように、ＯＣＴ光学系８は、ＯＣＴ光源９１からの光Ｌ０を参照光ＬＲと測定光ＬＳとに分割し、被検眼Ｅに測定光ＬＳを照射し、その戻り光と参照光ＬＲとの干渉光ＬＣを生成し、生成された干渉光を検出する干渉光学系を含む。この干渉光学系は、対物レンズ５１及びＶＣＣレンズ４６を介して被検眼Ｅに測定光ＬＳを照射する。

　このようなＯＣＴ光学系８は、ダイクロイックミラー８１により視標投影系４の光路に結合される。例えば穴開きプリズムを用いてＯＣＴ光学系８の光路を他の光学系の光路に結合する場合、穴開きプリズムの穴部に測定光を通過させるように光学系が構成されるため、測定光やその戻り光のケラレ等を考慮する必要が生じる。また、ＯＣＴ光学系８を測定光の波長に近い波長の光を用いる他の光学系（レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７）に結合する場合、互いに波長が近くなるため分離が難しくなり、効率が低下してしまう。これに対して、ＯＣＴ光学系８の光路をダイクロイックミラー８１を用いて他の光学系の光路に結合するようにしたので、光学系の構成を簡素化でき、光学系の設計の自由度を向上させることができる。また、他の光学系を追加しやすくなり、拡張性を備えた構成とすることができる。

　更に、ＶＣＣレンズ４６よりも光源側（上流側）で上記の２つの光路を結合するようにしたので、ＶＣＣレンズ４６を通じて測定光ＬＳが眼底Ｅｆに照射され、測定部位においてより一点に収束されやすくなる。それにより、最適な横分解能で、干渉光の検出結果に基づく干渉信号を十分な強度で取得できるようになる。

　図３に示すように、ＶＣＣレンズ４６と瞳レンズ４５との中間位置は、被検眼Ｅの瞳と光学的に共役な位置（瞳共役位置Ｑ）に配置されている。同様に、ガルバノミラー８４Ｘとガルバノミラー８４Ｙとの中間位置は、被検眼Ｅの瞳と光学的に共役な位置に配置されている。更に、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光ファイバーｆ２のファイバー端面とが光学的に共役な位置（眼底共役位置Ｐ）となるように合焦レンズ８２が光軸方向に移動される。瞳レンズ４５よりも光源側でＯＣＴ光学系８の光路と視標投影系４の光路とを結合するようにしたので、眼底共役位置Ｐを近くすることが可能になり、視標投影系４やＯＣＴ光学系８を小さくすることができる。

（処理系の構成）
　実施形態に係る眼科装置の処理系について説明する。眼科装置の処理系の機能的構成の例を図４に示す。図４は、実施形態に係る眼科装置の処理系の機能ブロック図の一例を表したものである。処理部９は、制御部１１０と演算処理部１２０とを含む。また、実施形態に係る眼科装置は、表示部１７０と、操作部１８０と、通信部１９０と、移動機構２００とを含む。

　移動機構２００は、Ｚアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、視標投影系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７及びＯＣＴ光学系８等の光学系が収納されたヘッド部を前後左右方向に移動させるための機構である。例えば、移動機構２００には、移動機構２００を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。アクチュエータは、例えばパルスモータにより構成される。伝達機構は、例えば歯車の組み合わせやラック・アンド・ピニオンなどによって構成される。制御部１１０（主制御部１１１）は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構２００に対する制御を行う。

（制御部１１０）
　制御部１１０は、プロセッサを含み、眼科装置の各部を制御する。制御部１１０は、主制御部１１１と、記憶部１１２とを含む。記憶部１１２には、眼科装置を制御するためのコンピュータプログラムがあらかじめ格納される。コンピュータプログラムには、光源制御用プログラム、検出器制御用プログラム、光スキャナー制御用プログラム、光学系制御用プログラム、演算処理用プログラム及びユーザインターフェイス用プログラムなどが含まれる。このようなコンピュータプログラムに従って主制御部１１１が動作することにより、制御部１１０は制御処理を実行する。

　主制御部１１１は、測定制御部として眼科装置の各種制御を行う。Ｚアライメント系１に対する制御には、Ｚアライメント光源１１の制御、ラインセンサー１３の制御などがある。Ｚアライメント光源１１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。ラインセンサー１３の制御には、検出素子の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。それにより、Ｚアライメント光源１１の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部１１１は、ラインセンサー１３により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づいてラインセンサー１３に対する光の投影位置を特定する。主制御部１１１は、特定された投影位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づき移動機構２００を制御してヘッド部を前後方向に移動させる（Ｚアライメント）。

　ＸＹアライメント系２に対する制御には、ＸＹアライメント光源２１の制御などがある。ＸＹアライメント光源２１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、ＸＹアライメント光源２１の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部１１１は、撮像素子５９により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づいてＸＹアライメント光源２１からの光の戻り光に基づく輝点像の位置を特定する。主制御部１１１は、所定の目標位置（例えば、アライメントマークの中心位置）に対する輝点像の位置との変位がキャンセルされるように移動機構２００を制御してヘッド部を左右上下方向に移動させる（ＸＹアライメント）。

　ケラト測定系３に対する制御には、ケラトリング光源３２の制御などがある。ケラトリング光源３２の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、ケラトリング光源３２の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。主制御部１１１は、撮像素子５９により検出されたケラトリング像に対する公知の演算を演算処理部１２０に実行させる。それにより、被検眼Ｅの角膜形状パラメータが求められる。

　視標投影系４に対する制御には、液晶パネル４１の制御、合焦レンズ４３の制御、ＶＣＣレンズ４６の制御などがある。液晶パネル４１の制御には、視標や固視標の表示のオン・オフや、固視標の表示位置の切り替えなどがある。それにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆに視標や固視標が投影される。合焦レンズ４３の制御には、合焦レンズ４３の光軸方向への移動制御などがある。例えば、視標投影系４は、合焦レンズ４３を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部１１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、合焦レンズ４３を光軸方向に移動させる。それにより、液晶パネル４１と眼底Ｅｆとが光学的に共役となるように合焦レンズ４３の位置が調整される。ＶＣＣレンズ４６の制御には、乱視度数及び乱視軸角度の変更制御などがある。ＶＣＣレンズ４６は、その光軸を中心として相対的に回転可能に設けられた凹凸一対のシリンダーレンズを含む。主制御部１１１は、例えば後述のレフ測定など別途に得られた被検眼Ｅの乱視状態（乱視度数、乱視軸角度）を矯正するように一対のシリンダーレンズを相対的に回転させる。

　観察系５に対する制御には、撮像素子５９の制御などがある。撮像素子５９の制御には、撮像素子５９の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部１１１は、撮像素子５９により検出された信号を取り込み、取り込まれた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部１２０に実行させる。なお、観察系５が照明光源を含んで構成されている場合、主制御部１１１は照明光源を制御することが可能である。

　レフ測定投影系６に対する制御には、光源ユニット６０の制御、ロータリープリズム６８の制御などがある。光源ユニット６０の制御には、レフ測定光源６１の制御や光源ユニット６０の制御などがある。レフ測定光源６１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。それにより、レフ測定光源６１の点灯と非点灯とが切り替えられたり、光量が変更されたりする。光源ユニット６０の制御には、光源ユニット６０の光軸方向への移動制御などがある。例えば、レフ測定投影系６は、光源ユニット６０を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部１１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、光源ユニット６０を光軸方向に移動させる。ロータリープリズム６８の制御には、ロータリープリズム６８の回転制御などがある。例えば、ロータリープリズム６８を回転させる回転機構が設けられており、主制御部１１１は、この回転機構を制御することによりロータリープリズム６８を回転させる。

　レフ測定受光系７に対する制御には、合焦レンズ７４の制御などがある。合焦レンズ７４の制御には、合焦レンズ７４の光軸方向への移動制御などがある。例えば、レフ測定受光系７は、合焦レンズ７４を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部１１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、合焦レンズ７４を光軸方向に移動させる。主制御部１１１は、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆと撮像素子５９とが光学的に共役となるように、例えば被検眼Ｅの屈折力に応じて光源ユニット６０及び合焦レンズ７４をそれぞれ光軸方向に移動させることが可能となる。

　ＯＣＴ光学系８に対する制御には、ＯＣＴ光源９１の制御、光スキャナー８４の制御、合焦レンズ８２の制御、コーナーキューブ９６の制御、検出器９８の制御などがある。ＯＣＴ光源９１の制御には、光源の点灯、消灯、光量調整、絞り調整などがある。光スキャナー８４の制御には、ガルバノミラー８４Ｘによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御、ガルバノミラー８４Ｙによる走査位置や走査範囲や走査速度の制御などがある。合焦レンズ８２の制御には、合焦レンズ８２の光軸方向への移動制御などがある。例えば、ＯＣＴ光学系８は、合焦レンズ８２を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部１１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、合焦レンズ８２を光軸方向に移動させる。主制御部１１１は、例えば、合焦レンズ４３の移動に連動して合焦レンズ８２を移動させた後、干渉信号の強度に基づいて合焦レンズ８２だけを移動させるようにしてもよい。コーナーキューブ９６の制御には、コーナーキューブ９６の光軸方向への移動制御などがある。例えば、ＯＣＴ光学系８は、コーナーキューブ９６を光軸方向に移動する移動機構を含む。この移動機構には、移動機構２００と同様に、当該移動機構を移動するための駆動力を発生するアクチュエータと、この駆動力を伝達する伝達機構とが設けられる。主制御部１１１は、アクチュエータに対して制御信号を送ることにより移動機構に対する制御を行い、コーナーキューブ９６を光軸方向に移動させる。それにより、参照光ＬＲの光路の長さが変更される。検出器９８の制御には、検出素子の露光調整やゲイン調整や検出レート調整などがある。主制御部１１１は、検出器９８により検出された信号をサンプリングし、サンプリングされた信号に基づく画像の形成等の処理を演算処理部１２０（画像形成部１２２）に実行させる。

　主制御部１１１は、表示制御部１１１Ａを含む。表示制御部１１１Ａは、各種情報を表示部１７０に表示させる。表示部１７０に表示される情報には、上記の光学系を用いて取得された他覚測定結果や自覚検査結果、画像形成部１２２により形成された画像データに基づく画像（断層像など）、データ処理部１２３により画像処理やデータ処理が施された画像や情報などがある。表示制御部１１１Ａは、これらの各種情報を重畳して表示部１７０に表示させたり、その一部を識別表示させたりすることが可能である。

　また、主制御部１１１は、記憶部１１２にデータを書き込む処理や、記憶部１１２からデータを読み出す処理を行う。

（記憶部１１２）
　記憶部１１２は、各種のデータを記憶する。記憶部１１２に記憶されるデータとしては、例えば自覚検査の検査結果、他覚測定の測定結果、断層像の画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。また、記憶部１１２には、眼科装置を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（演算処理部１２０）
　演算処理部１２０は、眼屈折力算出部１２１と、画像形成部１２２と、データ処理部１２３と、部位特定部１２４とを含む。

　眼屈折力算出部１２１は、レフ測定投影系６により眼底Ｅｆに投影されたリング状光束（リング状の測定パターン）の戻り光を撮像素子５９が受光することにより得られたリング像（パターン像）を解析する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、得られたリング像が描出された画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部１２１は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。

　眼屈折力算出部１２１は、上記のリング像を特定するために用いられたデータ群の一部を削除することにより得られた新たなデータ群からリング像を特定することが可能である。また、眼屈折力算出部１２１は、上記のリング像を特定するために用いられたデータ群の一部を補間データに置き換えることにより得られた新たなデータ群からリング像を特定してもよい。この場合、補間データは、データ群の一部以外のデータを用いた補間処理により取得される。眼屈折力算出部１２１は、特定された新たなリング像の近似楕円を求め、この近似楕円からの新なた球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。削除又は補間される「データ群の一部」は、後述の部位特定部１２４により特定された部位における測定結果（例えば、輝度分布）又は当該測定結果から得られたデータや、ユーザにより指定されたデータである。それにより、眼屈折力測定により得られた測定結果（例えば、所定の走査方向の輝度分布）から球面度数Ｓ等の精度を低下させるような測定結果を削除又は補間することができ、眼屈折力測定により得られる球面度数Ｓ等の精度の低下を抑えることができる。

　或いは、眼屈折力算出部１２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。この場合、眼屈折力算出部１２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位の一部を上記のように削除又は補間して新たなリング像の変形及び変位を特定し、特定されたリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求める。

　また、眼屈折力算出部１２１は、観察系５により取得されたケラトリング像に基づいて、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。

　画像形成部１２２は、検出器９８により検出された信号に基づいて、眼底Ｅｆの断層像の画像データを形成する。すなわち、画像形成部１２２は、干渉光学系による干渉光ＬＣの検出結果に基づいて被検眼Ｅの画像データを形成する。この処理には、従来のスウェプトソースタイプのＯＣＴと同様に、フィルタ処理、ＦＦＴ（Ｆａｓｔ　Ｆｏｕｒｉｅｒ　Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）などの処理が含まれている。このようにして取得される画像データは、複数のＡライン（被検眼Ｅ内における各測定光ＬＳの経路）における反射強度プロファイルを画像化することにより形成された一群の画像データを含むデータセットである。

　画質を向上させるために、同じパターンでのスキャンを複数回繰り返して収集された複数のデータセットを重ね合わせる（加算平均する）ことができる。

　データ処理部１２３は、画像形成部１２２により形成された断層像に対して各種のデータ処理（画像処理）や解析処理を施す。例えば、データ処理部１２３は、画像の輝度補正や分散補正等の補正処理を実行する。また、データ処理部１２３は、観察系５を用い得られた画像（前眼部像等）に対して各種の画像処理や解析処理を施す。

　データ処理部１２３は、断層像の間の画素を補間する補間処理などの公知の画像処理を実行することにより、被検眼Ｅのボリュームデータ（ボクセルデータ）を形成することができる。ボリュームデータに基づく画像を表示させる場合、データ処理部１２３は、このボリュームデータに対してレンダリング処理を施して、特定の視線方向から見たときの擬似的な３次元画像を形成する。

　データ処理部１２３は、例えば、画像形成部１２２により形成された３次元のデータセットを解析することにより、被検眼の複数の組織に相当する複数の部分データセットを特定するセグメンテーション処理を実行することが可能である。セグメンテーション処理は、特定の組織や組織境界を特定するための画像処理である。データ処理部１２３は、例えば、３次元のデータセットに含まれる各Ａモード画像における画素値（輝度値）の勾配を求め、勾配が大きい位置を組織境界として特定する。なお、Ａモード画像は、眼底の深さ方向（Ｚ方向）に延びる１次元画像データである。

　この実施形態では、データ処理部１２３は、眼底（網膜、脈絡膜等）及び硝子体を表す３次元のデータセットを解析することにより、眼底の複数の層組織に相当する複数の部分データセットを特定する。各部分データセットは、層組織の境界によって画成される。部分データセットとして特定される層組織の例として、網膜を構成する、内境界膜、神経線維層、神経節細胞層、内網状層、内顆粒層、外網状層、外顆粒層、外境界膜、視細胞層、網膜色素上皮層がある。他の例として、ブルッフ膜、脈絡膜、強膜、硝子体等に相当する部分データセットを特定することができる。また、病変部に相当する部分データセットを特定することも可能である。病変部の例として、剥離部、浮腫、出血、腫瘍、ドルーゼンなどがある。

　部位特定部１２４は、レフ測定受光系７を用いて検出された被検眼Ｅからの戻り光に基づいて、被検眼の注目部位を特定する。注目部位には、疾患部位や、ユーザにより指定された形態を有する指定部位などがある。例えば、部位特定部１２４は、眼屈折力算出部１２１により特定されたリング像の歪みや変形に応じて疾患部位を特定する。部位特定部１２４は、眼屈折力算出部１２１により特定されたリング像において近似楕円からの残差（ずれ量）を求め、求められた残差のうち所定の閾値以上の残差を外れ値として検出する。部位特定部１２４は、外れ値が検出された部分（又は当該部分を含む領域）を疾患部位として特定する。また、部位特定部１２４は、眼屈折力算出部１２１により特定されたリング像から反射光量が低下した部分を疾患部位として特定することが可能である。この場合、部位特定部１２４は、画像形成部１２２により形成された画像を参照し、レフ測定投影系６により投影された部位の輝度変化が所定の閾値以上の部分を含む領域を疾患部位として特定する。また、部位特定部１２４は、特定されたリング像の光量分布（例えば、リング像の中心部を通る直線上の光量分布）や偏りに基づいて疾患部位を特定するようにしてもよい。例えば、部位特定部１２４は、リング像のコントラストに基づいて疾患部位を特定する。この場合、リング像の光量分布の最大値と最小値との差が所定の閾値以下の部分を疾患部位として特定することが可能である。このようなコントラストが低い被検眼は白内障眼の疑いがあり、ＯＣＴ撮影対象とすることができる。或いは、部位特定部１２４は、例えば、眼屈折力算出部１２１により特定されたリング像において、ユーザにより指定された形態で近似楕円からずれた部分を指定部位として特定することが可能である。また、部位特定部１２４は、ＯＣＴ光学系８による干渉光の検出結果に基づいて疾患部位を特定することが可能である。例えば、部位特定部１２４は、ＯＣＴ光学系８による干渉光の検出結果に基づいて形成された断層像に対して施されたセグメンテーション処理により検出された眼底Ｅｆの複数の層組織と、健常眼の眼底における複数の層組織の標準値（標準厚）とを比較し、所定の閾値以上の差がある部分を疾患部位又は異常部位として特定する。

（表示部１７０、操作部１８０）
　表示部１７０は、ユーザインターフェイス部として、制御部１１０による制御を受けて情報を表示する。表示部１７０は、図１などに示す表示部１０を含む。

　操作部１８０は、ユーザインターフェイス部として、眼科装置を操作するために使用される。操作部１８０は、眼科装置に設けられた各種のハードウェアキー（ジョイスティック、ボタン、スイッチなど）を含む。また、操作部１８０は、タッチパネル式の表示画面１０ａに表示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含んでもよい。

　表示部１７０及び操作部１８０の少なくとも一部が一体的に構成されていてもよい。その典型例として、タッチパネル式の表示画面１０ａがある。

（通信部１９０）
　通信部１９０は、図示しない外部装置と通信するための機能を有する。通信部１９０は、例えば処理部９に設けられていてもよい。通信部１９０は、外部装置との通信の形態に応じた構成を有する。

　視標投影系４は、この実施形態に係る「自覚検査光学系」の一例である。ＯＣＴ光学系８は、この実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。レフ測定投影系６、レフ測定受光系７及び観察系５の一部（ハーフミラー７６、結像レンズ５８及び撮像素子５９）は、この実施形態に係る「他覚測定光学系」の一例である。部位特定部１２４は、実施形態に係る「注目部位特定部」の一例である。

＜動作例＞
　この実施形態に係る眼科装置の動作例について説明する。

　図５に、この実施形態に係る眼科装置の動作例のフロー図を示す。図６Ａ、図６Ｂ、図７～図１０は、実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。

（Ｓ１）
　被検者の顔を顔受け部で固定した後、ＸＹアライメント系２によるＸＹアライメントとＺアライメント系１によるＺアライメントとによりヘッド部が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を行うことが可能な位置である。例えば、処理部９（制御部１１０）は、撮像素子５９の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部１７０（表示部１０の表示画面１０ａ）に前眼部像Ｅ’を表示させる。その後、上記のＸＹアライメントとＺアライメントとによりヘッド部が被検眼Ｅの検査位置に移動される。ヘッド部の移動は、制御部１１０による指示に従って、制御部１１０によって実行されるが、ユーザによる操作若しくは指示に従って制御部１１０によって実行されてもよい。

　また、制御部１１０は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７４及び合焦レンズ４３を連動させて、光軸に沿って原点、例えば、０Ｄに相当する位置に移動させる。

（Ｓ２）
　制御部１１０は、液晶パネル４１に固視標を表示させる。それにより、所望の固視位置に被検眼Ｅを注視させる。

（Ｓ３）
　次に、制御部１１０は、他覚測定を実行する。すなわち、制御部１１０は、レフ測定投影系６によりリング状光束を被検眼Ｅの眼底Ｅｆに投影させ、レフ測定受光系７を通じて撮像素子５９により戻り光を検出させる。

（Ｓ４）
　次に、制御部１１０は、Ｓ３において検出された戻り光に基づくリング像を眼屈折力算出部１２１に解析させる。眼屈折力算出部１２１は、上記のようにリング像を特定し、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。制御部１１０では、算出された球面度数Ｓなどが記憶部１１２に記憶される。

　被検眼Ｅが健常眼の場合（図６Ａ）、眼底Ｅｆにリング状光束ｒ１が投影されると、その戻り光に基づくリング像Ｒ１の形状は近似楕円からの残差がほとんどない形状になる。これに対して、被検眼Ｅが眼底Ｅｆに浮腫（疾患部位）が存在する疾患眼である場合（図６Ｂ）、眼底Ｅｆにリング状光束ｒ２が投影されると、眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像Ｒ２の形状は疾患部位の近傍に近似楕円からの大きな残差が存在する形状になる。そこで、部位特定部１２４は、上記のようにＳ３において検出された戻り光に基づくリング像において近似楕円からの残差（ずれ量）を求め、求められた残差のうち所定の閾値以上の残差を外れ値として検出する。部位特定部１２４は、外れ値が検出された部分を疾患部位として特定する。

　図７は、疾患眼の眼底Ｅｆに投影されたリング状光束からの戻り光に基づくリング像の形状の一例を表す。図７では、横軸が、所定方向の基準線を基準として、重心位置とリング像のサンプル点とを結ぶ直線と基準線とのなす角度を表し、縦軸が、重心位置からリング像のサンプル点までの距離を表す。図７において、大きな残差が存在する部分Ｒｆが疾患部位として特定される。

　また、レフ測定前又はレフ測定後に、制御部１１０は、ケラト測定を実行することが可能である。この場合、制御部１１０は、ケラトリング光源３２を点灯させ、撮像素子５９により検出されたケラトリング像を眼屈折力算出部１２１に解析させる。眼屈折力算出部１２１は、上記のようにケラトリング像を解析することにより角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部１１０では、算出された角膜屈折力などが記憶部１１２に記憶される。

（Ｓ５）
　表示制御部１１１Ａは、Ｓ４において得られた他覚測定結果を表示部１７０に表示させる。表示部１７０に表示される他覚測定結果には、球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａ、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度などがある。

　また、表示制御部１１１Ａは、Ｓ４において特定された疾患部位を表す情報ＳＩを被検眼Ｅの前眼部像Ｅ’と共に表示させてもよい。例えば、表示制御部１１１Ａは、Ｓ４において部位特定部１２４により特定された疾患部位を識別表示させる。疾患部位の識別表示の態様には、強調表示などがある。疾患部位の強調表示には、疾患部位の点滅表示、疾患部位の色とその他の部位の色とを異ならせる色分け表示、その両方などがある。また、表示制御部１１１Ａは、Ｓ４において部位特定部１２４により疾患部位が特定されたときだけ疾患部位を表す情報を表示部１７０に表示させてもよい。或いは、前眼部像Ｅ’と共に描出されたリング状光束投影部分に対してタッチ操作を行うことにより、特定されたリング像や特定された疾患部位を表す情報を表示させてもよい。

（Ｓ６）
　次に、制御部１１０は、断層像撮影を行うか否かを判定する。例えば、Ｓ５において表示部１７０に表示された情報を参照したユーザによる操作部１８０に対する操作に基づいて、制御部１１０は、断層像撮影を行うか否かを判定する。断層像撮影を行うと判定されたとき（Ｓ６：Ｙ）、眼科装置の動作はＳ７に移行する。断層像撮影を行わないと判定されたとき（Ｓ６：Ｎ）、眼科装置の動作は終了する（エンド）。

　また、制御部１１０が、Ｓ４において得られた他覚測定結果に基づいて自動で断層像撮影を行うように眼科装置の制御を行うことが可能である。例えば、部位特定部１２４により疾患部位が特定された場合、制御部１１０は、自動で断層像撮影を行うように眼科装置の制御を行ってもよい。

（Ｓ７）
　Ｓ６において断層像撮影を行うと判定されたとき（Ｓ６：Ｙ）、制御部１１０は、レフ測定投影系６により眼底Ｅｆに照射されたリング状光束の照射領域の少なくとも一部に重なるように被検眼Ｅに測定光を照射するようにスキャン位置とスキャン方向とを求める。この実施形態では、制御部１１０は、図９に示すように、Ｓ４において特定された疾患部位付近を横切るように複数の放射線状スキャンによるスキャン位置とスキャン方向とを求める。

　なお、制御部１１０は、Ｓ４において特定された疾患部位付近を横切るように１以上のサークルスキャンでスキャンするようにスキャン位置を求めてもよい。サークルスキャンの直径は、レフ測定投影系６により眼底Ｅｆに投影されるリング状光束の幅の中心を通るリングの直径とすることができる。

（Ｓ８）
　制御部１１０は、Ｓ７において求められたスキャン位置とスキャン方向で眼底Ｅｆを測定光ＬＳでスキャンするように光スキャナー８４を制御する。

（Ｓ９）
　制御部１１０は、Ｓ８におけるスキャンにより得られた干渉光の検出結果に基づいて演算処理部１２０に疾患部位の断層像を形成させる。この実施形態では、特定された疾患部位に対するスキャンであるため、スキャン時間を大幅に短縮することができる。また、ＯＣＴ光学系８はレフ測定投影系６と共軸であるため、リング状光束の中心とスキャンの中心とは常に同じとなるため、リング状光束が投影された疾患部位を正確にスキャンすることができる。

（Ｓ１０）
　データ処理部１２３は、Ｓ９において形成されたデータセットを解析することにより断層像に対してセグメンテーション処理を行い、眼底Ｅｆにおける複数の層組織を検出する。記憶部１１２には、健常眼の眼底における複数の層組織の標準値（標準厚）が標準データ（Ｎｏｒｍａｔｉｖｅ　Ｄａｔａ）としてあらかじめ記憶されている。部位特定部１２４（又はデータ処理部１２３）は、セグメンテーション処理により検出された複数の層組織の厚さと記憶部１１２に記憶された標準データとを比較し、所定の閾値以上の差がある部分を異常部位として特定する。表示制御部１１１Ａは、図１０に示すように、特定された異常部位をＳ９において形成された断層像と共に表示部１７０に識別表示させる。図１０では、リング状光束ｒ３が投影された眼底Ｅｆについて、正常部位Ｔ２と、異常部位としての厚み異常部位Ｔ１とが特定された様子が表されている。

　なお、ユーザは、表示部１７０に表示された断層像を観察することにより被検眼Ｅの異常部位を特定し、操作部１８０を用いて当該部位を指定するようにしてもよい。

（Ｓ１１）
　眼屈折力算出部１２１は、Ｓ３において取得されたリング像を特定するためのデータ群から、Ｓ１０において特定された異常部位におけるデータの削除又は補間を行うことにより、新たにリング像を特定する。眼屈折力算出部１２１は、新たに特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円からの新なた球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。

（Ｓ１２）
　表示制御部１１１Ａは、Ｓ１０において新たに求められた球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度ＡをＳ１１における断層像及び異常部位と共に表示部１７０に表示させる。以上で、眼科装置の動作は終了である（エンド）。

　なお、Ｓ６において断層像撮影行わないと判定されたとき（Ｓ６：Ｎ）、制御部１１０は、自覚検査を実行してもよい。この場合、制御部１１０は、Ｓ４において求められた球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａが矯正されるように合焦レンズ４３及びＶＣＣレンズ４６を制御する。次に、制御部１１０は、例えば、操作部１８０に対するユーザの指示に基づき、液晶パネル４１を制御することにより所望の視標を表示させる。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。検者又は制御部１１０は、被検者からの応答に基づいて視力値或いは処方値（Ｓ、Ｃ、Ａ）を決定する。

＜＜変形例＞＞
　実施形態に係る眼科装置の光学系の構成は、図１及び図２において説明した構成に限定されるものではない。

　例えば、ＯＣＴ光学系８における光スキャナー８４において、ガルバノミラー８４Ｙとガルバノミラー８４Ｘとの間に反射ミラー及び２つのリレーレンズが配置されていてもよい。一方のリレーレンズの上流側の焦点位置にガルバノミラー８４Ｘが配置されている。他方のリレーレンズ８７Ａの下流側の焦点位置にガルバノミラー８４Ｙが配置されている。反射ミラーは、ガルバノミラー８４Ｘにより偏向された測定光ＬＳをガルバノミラー８４Ｙに導くように配置されている。ガルバノミラー８４Ｙ及びガルバノミラー８４Ｘのそれぞれは、被検眼Ｅの瞳と光学的に共役な位置（瞳共役位置Ｑ）に配置されている。この場合、ガルバノミラー８４Ｘ及び８４Ｙの双方が瞳共役位置Ｑに配位置されるため、実施形態よりも高い横分解能で干渉光の検出が可能になる。また、ガルバノミラー８４Ｘ及び８４Ｙが光学的に共役な位置に配置されているため、合焦レンズ８２を移動しても共役関係を維持しつつ、干渉信号の強度を高めてより高画質な断層像の取得が可能になる。

　実施形態又はその変形例に係る眼科装置は、両眼を検査可能な眼科検査システムに適用すること可能である。

＜眼科検査システム＞
　図１１に、実施形態又はその変形例に係る眼科装置が適用された眼科検査システムの構成例のブロック図である。

　眼科検査システムは、測定ヘッド３００を含む。測定ヘッド３００は、図示しない支持部材により支持された保持部３５０により上方から吊り下げられる。測定ヘッド３００は、移動機構３１０と、左検査ユニット３２０Ｌと、右検査ユニット３２０Ｒとを含む。左検査ユニット３２０Ｌ及び右検査ユニット３２０Ｒのそれぞれには、図示しない検眼窓が形成されている。被検者の左眼（左被検眼）は、左検査ユニット３２０Ｌに設けられた検眼窓を通じて検査が行われる。被検者の右眼（右被検眼）は、右検査ユニット３２０Ｒに設けられた検眼窓を通じて検査が行われる。

　左検査ユニット３２０Ｌ及び右検査ユニット３２０Ｒは、移動機構３１０により独立に又は連動して３次元的に移動される。左検査ユニット３２０Ｌ及び右検査ユニット３２０Ｒの少なくとも一方には、実施形態又はその変形例に係る眼科装置が設けられる。

　移動機構３１０は、水平動機構３１１Ｌ、３１１Ｒと、回動機構３１２Ｌ、３１２Ｒと、上下動機構３１３Ｌ、３１３Ｒとを含む。

　水平動機構３１１Ｌは、回動機構３１２Ｌ、上下動機構３１３Ｌ及び左検査ユニット３２０Ｌを水平方向（横方向（Ｘ方向）、前後方向（Ｚ方向））に移動する。それにより、左被検眼の配置位置に応じて、検眼窓の水平方向の位置を調整することができる。水平動機構３１１Ｌは、例えば、駆動手段や駆動手段により発生された駆動力を伝達する駆動力伝達手段などを用いた公知の構成を備え、図示しない制御装置からの制御信号を受けて回動機構３１２Ｌ等を水平方向に移動する。水平動機構３１１Ｌは、操作者による操作を受け、回動機構３１２Ｌ等を水平方向に手動で移動することも可能である。

　水平動機構３１１Ｒは、回動機構３１２Ｒ、上下動機構３１３Ｒ及び右検査ユニット３２０Ｒを水平方向に移動する。それにより、右被検眼の配置位置に応じて、検眼窓の水平方向の位置を調整することができる。水平動機構３１１Ｒは、水平動機構３１１Ｌと同様の構成を備え、図示しない制御装置からの制御信号を受けて回動機構３１２Ｒ等を水平方向に移動する。水平動機構３１１Ｒは、操作者による操作を受け、回動機構３１２Ｒ等を水平方向に手動で移動することも可能である。

　回動機構３１２Ｌは、鉛直方向（略鉛直方向）に延びる左眼用の回動軸（左回動軸）を中心に上下動機構３１３Ｌ及び左検査ユニット３２０Ｌを回動する。この回動軸と水平面とのなす角は、変更可能である。回動機構３１２Ｌは、例えば、駆動手段や駆動手段により発生された駆動力を伝達する駆動力伝達手段などを用いた公知の構成を備え、図示しない制御装置からの制御信号を受けて当該回動軸を中心に左検査ユニット３２０Ｌ等を回動する。回動機構３１２Ｌは、操作者による操作を受け、当該回動軸を中心に左検査ユニット３２０Ｌ等を手動で回動することも可能である。

　回動機構３１２Ｒは、鉛直方向に延びる右眼用の回動軸（右回動軸）を中心に上下動機構３１３Ｒ及び右検査ユニット３２０Ｒを回動する。この回動軸と水平面とのなす角は、変更可能である。右眼用の回動軸は、左眼用の回動軸から所定の距離だけ離間した位置に配置された軸である。左眼用の回動軸と右眼用の回動軸との間の距離は、調整可能である。回動機構３１２Ｒは、回動機構３１２Ｌと同様の構成を備え、図示しない制御装置からの制御信号を受けて当該回動軸を中心に右検査ユニット３２０Ｒ等を回動する。回動機構３１２Ｒは、操作者による操作を受け、当該回動軸を中心に右検査ユニット３２０Ｒ等を手動で回動することも可能である。

　回動機構３１２Ｌ、３１２Ｒにより左検査ユニット３２０Ｌ及び右検査ユニット３２０Ｒを回動することにより、左検査ユニット３２０Ｌと右検査ユニット３２０Ｒとの向きを相対的に変更することが可能である。例えば、左検査ユニット３２０Ｌと右検査ユニット３２０Ｒとが、被検者の左右眼の眼球回旋点を中心にそれぞれ逆方向に回転される。それにより、被検眼を輻輳させることができる。

　上下動機構３１３Ｌは、左検査ユニット３２０Ｌを上下方向（鉛直方向、Ｙ方向）に移動する。それにより、被検眼の配置位置に応じて、検眼窓の高さ方向の位置を調整することができる。上下動機構３１３Ｌは、例えば、駆動手段や駆動手段により発生された駆動力を伝達する駆動力伝達手段などを用いた公知の構成を備え、図示しない制御装置からの制御信号を受けて左検査ユニット３２０Ｌを上下方向に移動する。上下動機構３１３Ｌは、操作者による操作を受け、左検査ユニット３２０Ｌを上下方向に手動で移動することも可能である。

　上下動機構３１３Ｒは、右検査ユニット３２０Ｒを上下方向に移動する。それにより、被検眼の配置位置に応じて、検眼窓の高さ方向の位置を調整することができる。上下動機構３１３Ｒは、上下動機構３１３Ｌによる移動に連動して右検査ユニット３２０Ｒを移動してもよいし、上下動機構３１３Ｌによる移動とは独立に右検査ユニット３２０Ｒを移動してもよい。上下動機構３１３Ｒは、上下動機構３１３Ｌと同様の構成を備え、図示しない制御装置からの制御信号を受けて右検査ユニット３２０Ｒを上下方向に移動する。上下動機構３１３Ｒは、操作者による操作を受け、右検査ユニット３２０Ｒを上下方向に手動で移動することも可能である。

　左検査ユニット３２０Ｌ及び右検査ユニット３２０Ｒは、個別に動作可能である。

　このような眼科検査システムによれば、両眼について自覚検査や他覚測定を簡便に行うことができる。

（作用・効果）
　実施形態に係る眼科装置及び眼科検査システムの作用及び効果について説明する。

　実施形態に係る眼科装置は、対物レンズ（対物レンズ５１）と、他覚測定光学系（レフ測定投影系６、レフ測定受光系７及び観察系５の一部）と、干渉光学系（ＯＣＴ光学系８）と、画像形成部（画像形成部１２２）とを含む。他覚測定光学系は、対物レンズを介して被検眼（被検眼Ｅ）に光を照射し、被検眼からの戻り光を検出する。干渉光学系は、光源（ＯＣＴ光源９１）からの光（光Ｌ０）を参照光（参照光ＬＲ）と測定光（測定光ＬＳ）とに分割し、他覚測定光学系による被検眼の光の照射領域の少なくとも一部に重なるように対物レンズを介して被検眼に測定光を照射し、その戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を生成し、生成された干渉光を検出する。画像形成部は、干渉光学系による干渉光の検出結果に基づいて被検眼の断層像を形成する。

　このような構成によれば、他覚測定を行うために対物レンズを介して被検眼に照射された光の照射領域の少なくとも一部に重なるように測定光を対物レンズを介して照射し、その戻り光との基づく干渉光を検出して被検眼の断層像を形成することができる。それにより、他覚測定を行うための光の照射領域の近傍の断層像を取得することができるので、他覚測定結果と断層像との関連性を観察して他覚測定により得られた他覚測定値の精度向上を図ることが可能になる。例えば、他覚測定結果に問題があると判断された場合、断層像を観察することで眼底の異常の有無を判断し、その原因が眼底にあるか、水晶体を含む中間透光体にあるか等の判断を補助することができる。

　また、実施形態に係る眼科装置は、他覚測定光学系により検出された被検眼からの戻り光に基づいて、被検眼の注目部位を特定する注目部位特定部（部位特定部１２４）を含み、干渉光学系は、注目部位特定部により特定された注目部位に対して測定光を照射してもよい。

　このような構成によれば、他覚測定光学系により検出された被検眼からの戻り光から注目部位を特定し、特定された注目部位に対して測定光を照射するようにしたので、他覚測定により注目すべき部位における断層像を簡便に取得することができる。

　また、実施形態に係る眼科装置では、他覚測定光学系は、被検眼の眼底（眼底Ｅｆ）にリング状の測定パターンを投影し、注目部位特定部は、眼底からの戻り光に基づくパターン像に基づいて注目部位を特定してもよい。

　このような構成によれば、被検眼の眼底に投影されたリング状の測定パターンの戻り光に基づくパターン像に基づいて注目部位を特定するようにしたので、例えば他覚屈折力測定により注目すべき部位を容易に特定することが可能になる。

　また、実施形態に係る眼科装置では、注目部位特定部は、干渉光の検出結果に基づいて注目部位をとくていしてもよい。

　このような構成によれば、被検眼に照射された測定光の戻り光に基づく干渉光の検出結果に基づいて注目部位を特定するようにしたので、例えば他覚屈折力測定により注目すべき部位を容易に特定することが可能になる。

　また、実施形態に係る眼科装置では、干渉光学系は、測定光を偏向する光スキャナー（光スキャナー８４）を含み、注目部位特定部により特定された注目部位を測定光でスキャンするように光スキャナーを制御する制御部（制御部１１０）を含んでもよい。

　このような構成によれば、他覚測定により注目すべき部位を測定光でスキャンするように光スキャナーを制御するようにしたので、他覚屈折力測定等の他覚測定により注目すべき部位の近傍における断層像の取得が容易になる。また、特定された注目部位に対するスキャンを行うため、スキャン時間を大幅に短縮することができる。

　また、実施形態に係る眼科装置では、制御部は、注目部位を測定光で放射状又はサークル状にスキャンするように光スキャナーを制御してもよい。

　このような構成によれば、放射状スキャン又はサークルスキャンにより注目部位の断層像を取得するようにしたので、他覚測定が行われた部位における断層像に基づいて他覚測定結果を判断することが可能になる。

　また、実施形態に係る眼科装置は、他覚測定光学系により照射された光の戻り光に基づく画像を表示部に表示させる表示制御部（表示制御部１１１Ａ）を含み、表示制御部は、注目部位特定部により特定された注目部位を識別表示させてもよい。

　このような構成によれば、注目部位を識別表示させるようにしたので、他覚測定の精度向上を補助することができる。

　また、実施形態に係る眼科装置は、他覚測定光学系により検出された被検眼からの戻り光に基づいて被検眼の屈折力を求める眼屈折力算出部（眼屈折力算出部１２１）を含み、眼屈折力算出部は、他覚測定光学系により取得された注目部位における測定結果を削除又は補間して被検眼の屈折力の算出を再度実行することにより新たな屈折力を求めてもよい。

　ここで、他覚測定光学系により取得された測定結果は、他覚測定光学系により検出された被検眼からの戻り光の検出結果や、当該検出結果に基づいて生成された他覚測定値などの演算結果であってよい。このような構成によれば、注目部位における測定結果を削除又は補間して新たな屈折力の算出を行うようにしたので、疾患部位等の異常部位における測定結果に影響を受けない被検眼の屈折力を取得することが可能になり、他覚測定により得られた他覚測定値の精度向上が可能になる。

　また、実施形態に係る眼科検査システムは、左被検眼を検査するための左検査ユニットと、右被検眼を検査するための右検査ユニットと、を含み、左検査ユニット及び右検査ユニットの少なくとも一方は、上記記載の眼科装置を含む。

　このような構成によれば、簡素な構成で、両眼について他覚測定値の精度を向上させることが可能な眼科検査システムを提供することができる。

（その他の変形例）
　以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

　上記の実施形態又はその変形例では、眼底Ｅｆに投影されたリング状光束の投影部位をスキャンするように光スキャナー８４を制御する場合について説明したが、実施形態又はその変形例に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、被検眼Ｅの前眼部に測定用の光束を投影し、その投影部位をスキャンするように光スキャナー８４を制御してもよい。

　上記の実施形態又はその変形例において、ガルバノミラー８４Ｙに代えて、ＯＣＴ光学系８の光軸を中心に回転可能なイメージローテーターが設けられていてもよい。

　上記の実施形態又はその変形例では、干渉光学系はＯＣＴ撮影を行うものとして説明したが、ＯＣＴにより計測を行うものであってもよい。例えば、干渉光学系は、ＯＣＴにより、眼軸長、角膜圧、前房深度、水晶体厚などを計測するものであってもよい。

　眼圧測定機能、眼底撮影機能、前眼部撮影機能、光干渉断層撮影（ＯＣＴ）機能、超音波検査機能など、眼科分野において使用可能な任意の機能を有する装置に対して、上記の実施形態に係る発明を適用することが可能である。なお、眼圧測定機能は眼圧計等により実現され、眼底撮影機能は眼底カメラや走査型検眼鏡（ＳＬＯ）等により実現され、前眼部撮影機能はスリットランプ等により実現され、ＯＣＴ機能は光干渉断層計等により実現され、超音波検査機能は超音波診断装置等により実現される。また、このような機能のうち２つ以上を具備した装置（複合機）に対してこの発明を適用することも可能である。

４　視標投影系
５　観察系
６　レフ測定投影系
７　レフ測定受光系
８　ＯＣＴ光学系
５１　対物レンズ
１２２　画像形成部

 

Claims (9)

1. 　対物レンズと、
   　前記対物レンズを介して被検眼に光を照射し、前記被検眼からの戻り光を検出する他覚測定光学系と、
   　光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記他覚測定光学系による前記被検眼の前記光の照射領域の少なくとも一部に重なるように前記対物レンズを介して前記被検眼に前記測定光を照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系と、
   　前記干渉光学系による前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼の断層像を形成する画像形成部と、
   　を含む眼科装置。
2. 　前記他覚測定光学系により検出された前記被検眼からの戻り光に基づいて、前記被検眼の注目部位を特定する注目部位特定部を含み、
   　前記干渉光学系は、前記注目部位特定部により特定された前記注目部位に対して前記測定光を照射する
   　ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
3. 　前記他覚測定光学系は、前記被検眼の眼底にリング状の測定パターンを投影し、
   　前記注目部位特定部は、前記眼底からの戻り光に基づくパターン像に基づいて前記注目部位を特定する
   　ことを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
4. 　前記注目部位特定部は、前記干渉光の検出結果に基づいて前記注目部位を特定する
   　ことを特徴とする請求項２に記載の眼科装置。
5. 　前記干渉光学系は、前記測定光を偏向する光スキャナーを含み、
   　前記注目部位特定部により特定された前記注目部位を前記測定光でスキャンするように前記光スキャナーを制御する制御部を含む
   　ことを特徴とする請求項３又は請求項４に記載の眼科装置。
6. 　前記制御部は、前記注目部位を前記測定光で放射状又はサークル状にスキャンするように前記光スキャナーを制御する
   　ことを特徴とする請求項５に記載の眼科装置。
7. 　前記他覚測定光学系により照射された光の戻り光に基づく画像を表示部に表示させる表示制御部を含み、
   　前記表示制御部は、前記注目部位特定部により特定された前記注目部位を識別表示させる
   　ことを特徴とする請求項２～請求項６のいずれか一項に記載の眼科装置。
8. 　前記他覚測定光学系により検出された前記被検眼からの戻り光に基づいて前記被検眼の屈折力を求める眼屈折力算出部を含み、
   　前記眼屈折力算出部は、前記他覚測定光学系により取得された前記注目部位における測定結果を削除又は補間して前記被検眼の屈折力の算出を再度実行することにより新たな屈折力を求める
   　ことを特徴とする請求項２～請求項７のいずれか一項に記載の眼科装置。
9. 　左被検眼を検査するための左検査ユニットと、
   　右被検眼を検査するための右検査ユニットと、
   　を含み、
   　前記左検査ユニット及び前記右検査ユニットの少なくとも一方は、請求項１～請求項８のいずれか一項に記載の眼科装置を含む
   　ことを特徴とする眼科検査システム。
   
    

Images