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WO2011040328A1 - 表面波プラズマ発生用アンテナ、マイクロ波導入機構、および表面波プラズマ処理装置 - Google Patents

表面波プラズマ発生用アンテナ、マイクロ波導入機構、および表面波プラズマ処理装置 Download PDF

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Publication number
WO2011040328A1
WO2011040328A1 PCT/JP2010/066545 JP2010066545W WO2011040328A1 WO 2011040328 A1 WO2011040328 A1 WO 2011040328A1 JP 2010066545 W JP2010066545 W JP 2010066545W WO 2011040328 A1 WO2011040328 A1 WO 2011040328A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
surface wave
microwave
wave plasma
antenna
waveguide
Prior art date
Application number
PCT/JP2010/066545
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
太郎 池田
繁 河西
Original Assignee
東京エレクトロン株式会社
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 東京エレクトロン株式会社 filed Critical 東京エレクトロン株式会社
Priority to JP2011534218A priority Critical patent/JPWO2011040328A1/ja
Publication of WO2011040328A1 publication Critical patent/WO2011040328A1/ja

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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/32009Arrangements for generation of plasma specially adapted for examination or treatment of objects, e.g. plasma sources
    • H01J37/32192Microwave generated discharge
    • H01J37/32211Means for coupling power to the plasma
    • H01J37/3222Antennas
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05HPLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
    • H05H1/00Generating plasma; Handling plasma
    • H05H1/24Generating plasma
    • H05H1/46Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy

Definitions

  • the present invention relates to a surface wave plasma generating antenna, a microwave introduction mechanism, and a surface wave plasma processing apparatus.
  • Plasma processing is an indispensable technology for the manufacture of semiconductor devices. Recently, the design rules of semiconductor elements constituting LSIs have been increasingly miniaturized due to the demand for higher integration and higher speed of LSIs, and semiconductor wafers Along with this, there is a demand for plasma processing apparatuses that can cope with such miniaturization and enlargement.
  • an RLSA Random Line Slot Slot Antenna microwave plasma processing apparatus that can uniformly form a high density and low electron temperature surface wave plasma has attracted attention (for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-294550).
  • the RLSA microwave plasma processing apparatus is provided with a planar antenna (Radial Slot Antenna) in which a number of slots are formed in a predetermined pattern at the upper part of the chamber, and the microwave guided from the microwave generation source is transmitted to the slot of the planar antenna. And radiates into a chamber held in a vacuum through a microwave transmission plate made of a dielectric material provided below, and generates a surface wave plasma in the chamber by this microwave electric field.
  • An object to be processed such as a semiconductor wafer is processed.
  • an object of the present invention is to provide a surface wave plasma generating antenna that hardly generates a mode jump even if a plasma load changes, a microwave introduction mechanism and a surface wave plasma processing apparatus using the antenna.
  • a microwave transmitted from a microwave output unit that outputs a microwave through a coaxial waveguide composed of an outer conductor and an inner conductor is radiated into the chamber.
  • a surface wave plasma generating antenna for generating surface wave plasma in the chamber the inner member being connected to the inner conductor of the waveguide and the outer side being connected to the outer conductor of the waveguide
  • a surface wave plasma generating antenna comprising a member and a ring-shaped slot formed between the inner member and the outer member.
  • a microwave power source is provided, and a microwave from a microwave output unit that generates and outputs a microwave is introduced into the chamber to generate surface wave plasma in the chamber.
  • a microwave introduction mechanism for causing a coaxial waveguide composed of an outer conductor and an inner conductor to match the impedance of a load provided in the waveguide to the characteristic impedance of the microwave power source.
  • a tuner and a surface wave plasma generating antenna that radiates microwaves transmitted through the waveguide into the chamber, the surface wave plasma generating antenna being connected to the inner conductor of the waveguide.
  • a microwave that generates and outputs a microwave having a chamber that accommodates a substrate to be processed, a gas supply mechanism that supplies gas into the chamber, and a microwave power source.
  • a microwave including an output unit and a microwave introduction mechanism that introduces the output microwave into the chamber, and generates a surface wave plasma of the gas supplied into the chamber by introducing the microwave into the chamber.
  • the microwave introduction mechanism includes a coaxial waveguide composed of an outer conductor and an inner conductor, and a surface for radiating the microwave transmitted through the waveguide into the chamber.
  • the surface wave plasma generating antenna is connected to the inner member connected to the inner conductor of the waveguide and the outer conductor of the waveguide.
  • An outer member which is continued, and an inner member and a ring-shaped formed between the outer member slot, surface wave plasma processing apparatus is provided.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing a surface wave generating antenna in the microwave introduction mechanism of FIG. 4. It is a top view which shows the antenna which provided one slot which has a seam (edge part). It is a figure which shows the magnetic field vector formed with the antenna of FIG. 6A. It is a top view which shows the antenna which provided four concentric fan-shaped slots.
  • FIG. 5 is a cross-sectional view showing a state in which microwaves of the surface wave plasma generating antenna according to the embodiment of the present invention shown in FIG. 4 are transmitted.
  • FIG. 1 is a cross-sectional view showing a schematic configuration of a surface wave plasma processing apparatus according to a first embodiment of the present invention
  • FIG. 2 shows a configuration of a microwave plasma source used in the surface wave plasma processing apparatus of FIG. FIG.
  • the surface wave plasma processing apparatus 100 is configured as a plasma etching apparatus that performs, for example, an etching process on a wafer.
  • the surface wave plasma processing apparatus 100 includes a substantially cylindrical grounded chamber 1 made of a metal material such as aluminum or stainless steel, which is hermetically configured, and a microwave plasma for forming microwave plasma in the chamber 1.
  • An opening 1 a is formed in the upper part of the chamber 1, and the microwave plasma source 2 is provided so as to face the inside of the chamber 1 from the opening 1 a.
  • a susceptor 11 for horizontally supporting a wafer W which is an object to be processed
  • a cylindrical support member 12 erected at the center of the bottom of the chamber 1 via an insulating member 12a Is provided.
  • Examples of the material constituting the susceptor 11 and the support member 12 include aluminum whose surface is anodized (anodized).
  • the susceptor 11 includes an electrostatic chuck for electrostatically attracting the wafer W, a temperature control mechanism, a gas flow path for supplying heat transfer gas to the back surface of the wafer W, and the wafer. Elevating pins and the like that move up and down to convey W are provided as necessary. Furthermore, a high frequency bias power supply 14 is electrically connected to the susceptor 11 via a matching unit 13. By supplying high frequency power from the high frequency bias power source 14 to the susceptor 11, ions in the plasma are attracted to the wafer W side.
  • An exhaust pipe 15 is connected to the bottom of the chamber 1, and an exhaust device 16 including a vacuum pump is connected to the exhaust pipe 15. Then, by operating the exhaust device 16, the inside of the chamber 1 is exhausted, and the inside of the chamber 1 can be decompressed at a high speed to a predetermined degree of vacuum. Further, on the side wall of the chamber 1, a loading / unloading port 17 for loading / unloading the wafer W and a gate valve 18 for opening / closing the loading / unloading port 17 are provided.
  • a shower plate 20 that discharges a processing gas for plasma etching toward the wafer W is provided horizontally.
  • the shower plate 20 has a gas flow path 21 formed in a lattice shape and a large number of gas discharge holes 22 formed in the gas flow path 21. It is a space part 23.
  • a pipe 24 extending outside the chamber 1 is connected to the gas flow path 21 of the shower plate 20, and a processing gas supply source 25 is connected to the pipe 24.
  • a ring-shaped plasma gas introduction member 26 is provided along the chamber wall above the shower plate 20 of the chamber 1, and the plasma gas introduction member 26 has a number of gas discharge holes on the inner periphery. Is provided.
  • a plasma gas supply source 27 for supplying plasma gas is connected to the plasma gas introduction member 26 via a pipe 28.
  • the plasma gas a rare gas such as Ar gas is preferably used.
  • the plasma gas introduced into the chamber 1 from the plasma gas introduction member 26 is turned into plasma by the microwave introduced into the chamber 1 from the microwave plasma source 2, and this plasma passes through the space 23 of the shower plate 20.
  • the processing gas discharged from the gas discharge hole 22 of the shower plate 20 is excited to form plasma of the processing gas.
  • the microwave plasma source 2 is supported by a support ring 29 provided at the upper part of the chamber 1, and the space between them is hermetically sealed. As shown in FIG. 2, the microwave plasma source 2 includes a microwave output unit 30 that outputs the microwaves distributed to a plurality of paths, and a microwave output from the microwave output unit 30 is guided to the chamber 1. 1 has an antenna unit 40 for radiation.
  • the microwave output unit 30 includes a microwave power source 31, a microwave oscillator 32, an amplifier 33 that amplifies the oscillated microwave, and a distributor 34 that distributes the amplified microwave into a plurality of parts. .
  • the microwave oscillator 32 causes, for example, a PLL oscillation of a microwave having a predetermined frequency.
  • the distributor 34 distributes the microwave amplified by the amplifier 33 while matching the impedance between the input side and the output side so that the loss of the microwave does not occur as much as possible.
  • the microwave frequency can be 2.45 GHz, 8.35 GHz, 5.8 GHz, 1.98 GHz, or the like. When a larger power is applied, the frequency is 700 MHz to 1 GHz such as 915 MHz or 860 MHz. Ranges can be used.
  • the antenna unit 40 has a plurality of antenna modules 41 that guide the microwaves distributed by the distributor 34.
  • Each antenna module 41 includes an amplifier unit 42 that mainly amplifies the distributed microwave and a microwave introduction mechanism 43.
  • the microwave introduction mechanism 43 includes a coaxial waveguide 50 that transmits microwaves, and an antenna 45 for generating surface wave plasma that radiates the microwaves transmitted through the waveguide 50 into the chamber 1.
  • the waveguide 50 is provided with a tuner 44 that matches the impedance of the load (plasma) in the chamber with the characteristic impedance of the microwave power source, as will be described later (see FIG. 4).
  • the microwaves radiated from the antenna 45 into the chamber 1 are combined in the space in the chamber 1, and surface wave plasma is formed in the chamber 1.
  • the amplifier unit 42 includes a phase shifter 46, a variable gain amplifier 47, a main amplifier 48 constituting a solid state amplifier, and an isolator 49.
  • the phase shifter 46 is configured such that the phase of the microwave can be changed by the slag tuner, and the radiation characteristic can be modulated by adjusting this. For example, by adjusting the phase for each antenna module, the directivity is controlled to change the plasma distribution, and the circular polarization is obtained by shifting the phase by 90 ° between adjacent antenna modules as will be described later. be able to. However, the phase shifter 46 does not need to be provided when such modulation of the radiation characteristic is unnecessary.
  • the variable gain amplifier 47 is an amplifier for adjusting the power level of the microwave input to the main amplifier 48, adjusting the variation of individual antenna modules, or adjusting the plasma intensity. By changing the variable gain amplifier 47 for each antenna module, the generated plasma can be distributed.
  • the main amplifier 48 constituting the solid-state amplifier has an input matching circuit 61, a semiconductor amplifying element 62, an output matching circuit 63, and a high Q resonance circuit 64.
  • the semiconductor amplifying element 62 GaAs HEMT, GaN HEMT, and LD (Laterally Diffused) -MOS capable of class E operation can be used.
  • the variable gain amplifier 47 has a constant value, the power supply voltage of the class E operation amplifier is variable, and power control is performed.
  • the isolator 49 separates the reflected microwaves reflected by the antenna 45 and directed to the main amplifier 48, and includes a circulator and a dummy load (coaxial terminator).
  • the circulator guides the microwave reflected by the antenna 45 to the dummy load, and the dummy load converts the reflected microwave guided by the circulator into heat.
  • a plurality of antenna modules 41 are provided, and the microwaves introduced into the chamber 1 from the microwave introduction mechanism 43 of each antenna module are spatially synthesized. Adjacent to each other can be provided.
  • the microwave introduction mechanism 43 will be described in detail with reference to FIG. 4 and FIG. 4 is a longitudinal sectional view of the microwave introduction mechanism 43, and FIG. 5 is a transverse sectional view of the antenna 45 of the microwave introduction mechanism 43.
  • the microwave introduction mechanism 43 has a coaxial waveguide 50 including a cylindrical outer conductor 51 and a rod-shaped inner conductor 52 provided at the center thereof.
  • An antenna 45 is provided at the tip.
  • the inner conductor 52 is on the power supply side
  • the outer conductor 51 is on the ground side.
  • the tuner 44 provided in the waveguide 50 has two slags 53 and constitutes a slag tuner.
  • the slug 53 is configured as a plate-like body made of a dielectric, and is provided in an annular shape between the inner conductor 52 and the outer conductor 51 of the waveguide 50.
  • the impedance is adjusted by moving the slugs 53 up and down by the actuator 59 based on a command from the controller 60.
  • the controller 60 performs impedance adjustment so that the termination is, for example, 50 ⁇ .
  • the antenna 45 includes an inner member 54 that is continuous with the inner conductor 52 of the waveguide 50 and an outer member 55 that is continuous with the outer conductor 51, and a ring-like shape is provided between the inner member 54 and the outer member 55.
  • a slot 56 is formed.
  • the antenna main body 80 is configured by the inner member 54 and the slot 56.
  • the inner member 54 has a disk shape having a diameter larger than that of the outer conductor 51.
  • the outer member 55 includes a flange portion 55a extending outward from the end portion of the outer conductor 51 and a cylindrical portion 55b extending in the microwave radiation direction from the outer periphery of the flange portion 55a.
  • the flange portion 55a and the inner member 54 are provided so as to partially overlap with the microwave transmission direction.
  • the antenna 45 has a slow wave material 57 provided on the upper surface of the antenna main body 80 composed of the inner member 54 and the slot 56.
  • the slow wave material 57 has a dielectric constant larger than that of vacuum, and is made of, for example, fluorine resin or polyimide resin such as quartz, ceramics, polytetrafluoroethylene, and the like. It has a function of adjusting the plasma by shortening its wavelength.
  • the slow wave material 57 can adjust the phase of the microwave depending on the thickness thereof, and the thickness thereof is adjusted so that the antenna main body 80 composed of the inner member 54 and the slot 56 becomes a “wave” of standing waves. adjust. Thereby, reflection can be minimized and radiation energy from the antenna 45 can be maximized.
  • a dielectric member for vacuum sealing for example, a microwave transmitting member 58 made of quartz or ceramics is disposed on the lower surface of the antenna main body 80 formed by the inner member 54 and the slot 56.
  • the microwave transmitting member 58 also functions as a slow wave material.
  • the microwave amplified by the main amplifier 48 is guided to the antenna 45 through the outer conductor 51 and the inner conductor 52, and the microwave is transmitted from the ring-shaped slot 56 between the inner member 54 and the outer member 55.
  • the light passes through the transmission member 58 and is radiated to the space in the chamber 1.
  • the slot 56 has a ring shape, there is no end portion in the slot, and a single surface wave mode is easily generated regardless of the magnitude of the plasma load.
  • a TM01 mode single mode in which surface wave plasma is easily formed can be obtained regardless of the plasma load and the microwave frequency.
  • a feed conversion unit (not shown) is attached to the proximal end side of the waveguide 50.
  • the feed conversion unit is connected to the main amplifier 48 via a coaxial cable, and an isolator 49 is interposed in the middle of the coaxial cable.
  • the main amplifier 48 is a power amplifier and handles high power, it operates with high efficiency such as class E, but its heat is equivalent to tens to hundreds of watts, so it is attached in series to the antenna 45 from the viewpoint of heat dissipation. .
  • Each component in the surface wave plasma processing apparatus 100 is controlled by a control unit 70 including a microprocessor.
  • the control unit 70 stores a process recipe in which a control program (software), processing condition data, and the like are recorded in order to implement various processes executed by the surface wave plasma processing apparatus 100 under the control of the control unit 70.
  • a control program software
  • processing condition data and the like are recorded in order to implement various processes executed by the surface wave plasma processing apparatus 100 under the control of the control unit 70.
  • an input means, a display, and the like are provided, and the plasma processing apparatus is controlled according to the selected recipe.
  • the wafer W is loaded into the chamber 1 and placed on the susceptor 11. Then, while introducing a plasma gas, for example, Ar gas, into the chamber 1 from the plasma gas supply source 27 through the pipe 28 and the plasma gas introduction member 26, a microwave is introduced into the chamber 1 from the microwave plasma source 2. A plasma is formed.
  • a plasma gas for example, Ar gas
  • a processing gas for example, an etching gas such as Cl 2 gas is discharged from the processing gas supply source 25 into the chamber 1 through the pipe 24 and the shower plate 20.
  • the discharged processing gas is excited by the plasma that has passed through the space 23 of the shower plate 20 to be converted into plasma, and the wafer W is subjected to plasma processing, for example, etching processing by the plasma of the processing gas thus formed.
  • the microwave oscillated from the microwave oscillator 32 of the microwave output unit 30 is amplified by the amplifier 33 and then distributed to a plurality of parts by the distributor 34.
  • the microwaves distributed in this way are individually amplified by the main amplifier 48 constituting the solid state amplifier, and individually from the antenna 45 through the waveguide 50 of the microwave introduction mechanism 43. After radiating and introducing into the chamber 1, they are combined in space.
  • An antenna 45 for generating surface wave plasma by emitting microwaves includes an inner member 54 connected to the inner conductor 52 of the waveguide 50 and an outer member 55 connected to the outer conductor 51 of the waveguide 50. Since the ring-shaped slot 56 is formed between them, there is no slot end (seam) as in the prior art. For this reason, the generation of a strong electric field at the end (joint) of the slot, which has been generated conventionally, is suppressed, and the occurrence of mode jump can be suppressed.
  • an antenna plate having a plurality of slots is used.
  • a strong electric field may be generated at the end of the slot.
  • TE mode occurs.
  • a feature of the TE mode is that it has a magnetic field component in the wave traveling direction.
  • a magnetic field vector is formed as shown in FIG. 6B, and four concentric fans as shown in FIG. 7A are formed.
  • the slot 82 having the shape is provided, a magnetic field vector is formed as shown in FIG. 7B, and both have a vertical component in the magnetic field vector and have a magnetic field in the electric field traveling direction. I understand.
  • the surface wave TM mode is generated regardless of the shape of the slot.
  • both the TE mode and the TM mode are generated. That is, a mode jump occurs due to a change in plasma load.
  • the surface wave mode is different, the absorption efficiency with respect to the supply power of the plasma changes, so that the plasma density is also different for the same power. This means that the plasma density does not change continuously with respect to power or the like. For this reason, the condition range in which the process can be used is narrowed, and it becomes difficult to control the plasma.
  • the antenna 45 formed with the ring-shaped slot 56 of this embodiment does not have a slot end (seam), and does not generate a strong electric field at the slot end. Therefore, a TM mode (TM01 mode) capable of forming a stable surface wave plasma without any magnetic field component in the traveling direction of the electric field is consistently generated regardless of the plasma load impedance level, and a single mode surface wave plasma is generated. Can be generated.
  • the magnetic field vector when the antenna having the ring-shaped slot of the present embodiment is used and the plasma load impedance is large is shown in the perspective view of FIG. 8A and the side view of FIG. 8B. There is no magnetic field vector in the traveling direction (vertical direction), and all are in-plane directions (lateral directions). This indicates that only the TM mode has occurred.
  • a configuration having an inner member connected to the inner conductor of the waveguide, an outer member connected to the outer conductor of the waveguide, and a ring-shaped slot formed between the inner member and the outer member Therefore, there is no slot end (seam), and no strong electric field is generated at the slot end. Therefore, a TM mode (TM01 mode) capable of forming a stable surface wave plasma without any magnetic field component in the traveling direction of the electric field is consistently generated regardless of the plasma load impedance level, and a single mode surface wave plasma is generated. Can be generated. For this reason, even if the plasma load changes, the occurrence of mode jump is suppressed.
  • a simple monopole-like structure having an inner member 54 and an outer member 55 'in which the outer conductor 51 is simply extended.
  • Even an antenna can generate single-mode surface wave plasma consisting of TM mode.
  • the frequency of the microwave is relatively high at 2.45 GHz, it is easy to obtain single mode surface wave plasma composed of TM mode.
  • the TE impedance in the waveguide 50 is maintained as it is, unlike the case where the antenna impedance is a frequency of 2.45 GHz.
  • the microwave radiated from TE becomes a TE wave.
  • the flange portion 55 a is used as the outer member 55 of the antenna 45 from the viewpoint of reliably obtaining the single mode surface wave plasma composed of the TM mode even when the frequency is lowered to about 900 MHz.
  • the flange portion 55a and the inner member 54 partially overlap each other in the microwave transmission direction. Thereby, in the flange portion 55a, the electric field is always directed in the electric field transmission direction (vertical direction), and the electric field radiated from the antenna 45 becomes the electric field transmission direction (vertical direction), so that the direction of the magnetic field is surely in-plane.
  • a TM mode that is only directional is formed.
  • the microwaves distributed in plural are individually amplified by the main amplifier 48 constituting the solid-state amplifier, and individually radiated from the antenna 45 through the waveguide 50 of the microwave introduction mechanism 43. Since these are synthesized in space after being introduced into the chamber 1, a large isolator or synthesizer becomes unnecessary.
  • the microwave introduction mechanism 43 is compact because the antenna 45 and the tuner 44 are integrally provided.
  • FIG. 11 is a cross-sectional view showing a microwave introduction mechanism in the surface wave plasma processing apparatus according to the second embodiment of the present invention.
  • an impedance conversion member 90 made of a dielectric is interposed between the slag 53 on the antenna 45 side of the tuner 44 and the antenna 45.
  • the impedance conversion member 90 is fixedly provided so as to fill a space between the inner conductor 52 and the outer conductor 51.
  • the impedance conversion member 90 is formed in a circular tube shape.
  • a dielectric constituting the impedance conversion member 90 alumina having a high dielectric constant is preferable.
  • silicon nitride or the like can also be used.
  • the tuner apparently matches the impedance of the plasma load in the chamber 1 with the characteristic impedance of the microwave power source by using two slugs.
  • the movable range of the slag In order to perform such impedance matching, the movable range of the slag must be at least (3/4) ⁇ ⁇ g ( ⁇ g is the wavelength of the microwave), and if the movable range of the slag 53 is smaller than that, the matching range becomes narrower. It becomes difficult to perform sufficient impedance matching.
  • the slag stroke required for impedance matching becomes long.
  • the length of (3/4) ⁇ ⁇ g which is a necessary movable range at 860 MHz is As a result, the required length of the tuner becomes larger than the allowable length. This makes it difficult to design a device that can perform sufficient impedance matching.
  • an impedance conversion member 90 made of a dielectric is provided between the slag 53 on the antenna 45 side and the antenna 45. Since the impedance conversion member 90 is a dielectric, the characteristic impedance Z1 can be made larger than the impedance Z of the plasma load by taking an appropriate shape. In particular, when a dielectric having a high dielectric constant such as alumina is used, the characteristic impedance Z1 becomes sufficiently larger than the impedance Z of the plasma load by taking an appropriate shape. As a result, the apparent impedance of the antenna 45 increases, and apparently the fluctuation of the plasma load decreases.
  • the impedance conversion member 90 interposing the impedance conversion member 90 between the slag 53 on the antenna 45 side and the antenna 45, the fluctuation of the plasma load seen from the tuner 44 is apparently reduced, and as a result, the required matching range is reduced. be able to. Therefore, a necessary matching range can be obtained with the length of the tuner 44 within the allowable range.
  • the arrangement position of the impedance conversion member 90 is preferably a position in contact with the antenna 45 (in this embodiment, the slow wave material 57 of the antenna 45) in order to prevent a decrease in impedance. Thereby, impedance conversion becomes easy.
  • FIG. 12 is a diagram schematically showing a difference in matching range depending on the presence or absence of an impedance conversion member.
  • the horizontal axis of FIG. 12 is the plasma dielectric constant ( ⁇ r), and the vertical axis is the plasma dielectric loss (tan ⁇ ). These represent the state of the plasma.
  • the dielectric constant ( ⁇ r) of the plasma is a parameter related to the density of the plasma and the pressure of the space where the plasma is generated, and the dielectric loss (tan ⁇ ) of the plasma is generated by the plasma. It is a parameter related to the pressure of the space to be measured.
  • FIG. 12 shows these as a matrix, and the conditions under which matching is achieved and reflection is zero are indicated by diagonal lines. As shown in this figure, when the impedance conversion member 90 is not present, the matching range is narrow, whereas when the impedance conversion member 90 is provided, the matching range is significantly widened. It is confirmed.
  • the antenna 45 having a ring-shaped slot formed between the inner member and the outer member of the waveguide is used as an antenna.
  • a slot having a slot end as shown in FIGS. 6A and 7A is also applicable.
  • FIG. 13 is a cross-sectional view showing a microwave introduction mechanism in a surface wave plasma processing apparatus according to the third embodiment of the present invention
  • FIG. 14 is a cross-sectional view showing a power supply mechanism of the microwave introduction mechanism.
  • the method for driving the slag of the tuner is different from those in the first and second embodiments.
  • the microwave introduction mechanism 43 ′ has a coaxial waveguide 150 that transmits a microwave, and an antenna 45 that radiates the microwave transmitted through the waveguide 150 into the chamber 1 and has the same structure as that of the first embodiment. And have. Then, the microwaves radiated into the chamber 1 from the microwave introduction mechanism 43 ′ are synthesized in the space in the chamber 1, and surface wave plasma is formed in the chamber 1.
  • the waveguide 150 is configured by coaxially arranging a cylindrical outer conductor 152 and a rod-shaped inner conductor 153 provided at the center thereof, and an antenna 45 is provided at the tip of the waveguide 150.
  • the inner conductor 153 is on the power supply side
  • the outer conductor 152 is on the ground side.
  • the upper end of the outer conductor 152 and the inner conductor 153 is a reflecting plate 158.
  • a power feeding mechanism 154 that feeds microwaves (electromagnetic waves) is provided on the proximal end side of the waveguide 150.
  • the power feeding mechanism 154 has a microwave power introduction port 155 for introducing microwave power provided on the side surface of the waveguide 150 (outer conductor 152).
  • a coaxial line 156 including an inner conductor 156a and an outer conductor 156b is connected to the microwave power introduction port 155 as a power supply line for supplying the microwave amplified from the amplifier unit 42.
  • a feeding antenna 190 that extends horizontally toward the inside of the outer conductor 152 is connected to the tip of the inner conductor 156 a of the coaxial line 156.
  • the feeding antenna 190 is formed as a microstrip line on a PCB substrate which is a printed circuit board, for example.
  • a slow wave material 159 made of a dielectric material such as Teflon (registered trademark) for shortening the effective wavelength of the reflected wave is provided between the reflector 158 and the feeding antenna 190. Note that when a microwave with a high frequency such as 2.45 G is used, the retardation member 159 may not be provided. At this time, the electromagnetic wave radiated from the feeding antenna 190 is reflected by the reflecting plate 158, so that the maximum electromagnetic wave is transmitted into the waveguide 150 having the coaxial structure.
  • the feeding antenna 190 is connected to the inner conductor 156a of the coaxial line 156 at the microwave power introduction port 155, and the first pole 192 to which the electromagnetic wave is supplied and the second electromagnetic wave radiating the supplied electromagnetic wave.
  • the antenna main body 191 having the pole 193 and the reflecting portion 194 extending from both sides of the antenna main body 191 along the outer side of the inner conductor 153 and forming a ring shape, and the electromagnetic wave incident on the antenna main body 191 and the reflecting portion A standing wave is formed with the electromagnetic wave reflected at 194.
  • the second pole 193 of the antenna body 191 is in contact with the inner conductor 153.
  • the feeding antenna 190 radiates microwaves (electromagnetic waves), and thereby microwave power is fed to the space between the outer conductor 152 and the inner conductor 153. Then, the microwave power supplied to the power feeding mechanism 154 propagates toward the antenna 45.
  • the waveguide 150 is provided with a tuner 144.
  • the tuner 144 matches the impedance of the plasma load in the chamber 1 with the characteristic impedance of the microwave power source, and includes two slugs 161a and 161b that move up and down between the outer conductor 152 and the inner conductor 153, and a reflection And a slag driving unit 170 provided on the outer side (upper side) of the plate 158.
  • the slag 161a is provided on the slag drive unit 170 side, and the slag 161b is provided on the antenna 45 side.
  • two slag moving shafts 164a and 164b for moving slag are provided along a longitudinal direction of the inner conductor 153.
  • the slag moving shafts 164a and 164b are provided.
  • the slag 161a is made of a dielectric material and has an annular shape as shown in FIG. 15, and a sliding member 163 made of a resin having slipperiness is fitted inside the slag 161a.
  • the sliding member 163 is provided with a screw hole 165a into which the slag moving shaft 164a is screwed and a through hole 165b into which the slag moving shaft 164b is inserted.
  • the slag 161b has a screw hole 165a and a through hole 165b as in the case of the slag 161a.
  • the screw hole 165a is screwed to the slag moving shaft 164b and is inserted into the through hole 165b.
  • the slag moving shaft 164a is inserted. Accordingly, the slag 161a is moved up and down by rotating the slag movement shaft 164a, and the slag 161b is moved up and down by rotating the slag movement shaft 164b. That is, the slugs 161a and 161b are moved up and down by a screw mechanism composed of the slug moving shafts 164a and 164b and the sliding member 163.
  • the inner conductor 153 has three slits 153a formed at equal intervals along the longitudinal direction.
  • the sliding member 163 is provided with three protruding portions 163a at equal intervals so as to correspond to the slits 153a. Then, the sliding member 163 is fitted into the slags 161a and 161b in a state where the protruding portions 163a are in contact with the inner circumferences of the slags 161a and 161b.
  • the outer peripheral surface of the sliding member 163 comes into contact with the inner peripheral surface of the inner conductor 153 without play, and the sliding member 163 slides up and down the inner conductor 153 by rotating the slug movement shafts 164a and 164b.
  • the inner peripheral surface of the inner conductor 153 functions as a sliding guide for the slugs 161a and 161b.
  • the width of the slit 153a is preferably 5 mm or less.
  • a resin having good sliding property and relatively easy processing for example, polyphenylene sulfide (PPS) resin (trade name: BEAREE AS5000 (manufactured by NTN Corporation)) is suitable. Can be cited as a thing.
  • PPS polyphenylene sulfide
  • the slag moving shafts 164a and 164b extend through the reflecting plate 158 to the slag driving unit 170.
  • a bearing (not shown) is provided between the slug movement shafts 164a and 164b and the reflection plate 158.
  • a bearing portion 167 made of a conductor is provided at the lower end of the inner conductor 153, and the lower ends of the slug movement shafts 164 a and 164 b are pivotally supported by the bearing portion 167.
  • the slag driving unit 170 has a housing 171, slag moving shafts 164 a and 164 b extend into the housing 171, and gears 172 a and 172 b are attached to upper ends of the slag moving shafts 164 a and 164 b, respectively.
  • the slag driving unit 170 is provided with a motor 173a that rotates the slag moving shaft 164a and a motor 173b that rotates the slag moving shaft 164b.
  • a gear 174a is attached to the shaft of the motor 173a, and a gear 174b is attached to the shaft of the motor 173b.
  • the gear 174a meshes with the gear 172a, and the gear 174b meshes with the gear 172b.
  • the slag movement shaft 164a is rotated by the motor 173a via the gears 174a and 172a
  • the slag movement shaft 164b is rotated by the motor 173b via the gears 174b and 172b.
  • the motors 173a and 173b are, for example, stepping motors.
  • the slag moving shaft 164b is longer than the slag moving shaft 164a and reaches the upper side. Therefore, the positions of the gears 172a and 172b are vertically offset, and the motors 173a and 173b are also vertically offset. Thereby, the space of the power transmission mechanism such as the motor and the gear can be reduced, and the casing 171 that accommodates them can have the same diameter as the outer conductor 152.
  • increment type encoders 175a and 175b for detecting the positions of the slugs 161a and 161b are provided so as to be directly connected to these output shafts.
  • the absolute position is determined by the following procedure. First, the slag moving shaft 164a is slowly rotated to move the slag 161a at a constant speed while looking at the counter of the encoder 175a. When the slag 161a reaches a mechanical stop (not shown), the motor 173a steps out and stops.
  • Stopping can be detected by the fact that the count of the encoder 175a does not change, and the position of the slag 161a at that time, or a position offset from that by a predetermined pulse is used as the origin.
  • the absolute position of the slag 161a can be detected by counting the number of pulses from the origin with this origin position as a reference.
  • the slag 161b can detect the absolute position by grasping the origin.
  • the positions of the slags 161a and 161b are controlled by the slag controller 168.
  • the slag controller 168 controls the motors 173a and 173b based on the impedance value of the input terminal detected by an impedance detector (not shown) and the positional information of the slags 161a and 161b detected by the encoders 175a and 175b.
  • the impedance is adjusted by sending a signal and controlling the positions of the slugs 161a and 161b.
  • the slug controller 168 performs impedance matching so that the termination is, for example, 50 ⁇ . When only one of the two slugs is moved, a trajectory passing through the origin of the Smith chart is drawn, and when both are moved simultaneously, only the phase rotates.
  • the microwave power oscillated from the microwave oscillator 32 of the microwave output unit 30 is amplified by the amplifier 33 and then distributed to a plurality by the distributor 34.
  • the distributed microwave power is guided to the antenna unit 40.
  • the microwave power distributed in plural is individually amplified by the main amplifier 48 constituting the solid state amplifier, and is supplied to the waveguide 150 of the microwave introduction mechanism 43 ′.
  • the impedance is automatically matched and radiated into the chamber 1 via the antenna 45 in a state where there is substantially no power reflection, and is spatially synthesized.
  • the microwave (electromagnetic wave) propagating from the coaxial line 156 reaches the first pole 192 of the feeding antenna 190 at the microwave power introduction port 155, the microwave (electromagnetic wave) is propagated along the antenna body 191. Propagating and radiating microwaves (electromagnetic waves) from the second pole 193 at the tip of the antenna body 191.
  • the microwave (electromagnetic wave) propagating through the antenna body 191 is reflected by the reflecting portion 194 and is combined with the incident wave to generate a standing wave.
  • a standing wave is generated at the position where the feed antenna 190 is disposed, an induced magnetic field is generated along the outer wall of the inner conductor 153 and is induced thereby to generate an induced electric field. Due to these chain actions, microwaves (electromagnetic waves) propagate in the waveguide 150 and are guided to the antenna 45.
  • microwave (electromagnetic wave) power can be supplied efficiently and uniformly.
  • the maximum microwave (electromagnetic wave) power can be transmitted to the waveguide 150 having the coaxial structure by reflecting the microwave (electromagnetic wave) radiated from the feeding antenna 190 by the reflection plate 158.
  • the slag moving shafts 164a and 164b corresponding to the drive transmission unit, the drive guide unit, and the holding unit, and the sliding member 163 are provided inside the inner conductor 153, so that these are provided outside the outer conductor 152.
  • the weight and moment of the mechanical element can be reduced, and it is not necessary to provide a slit for moving the holding mechanism on the outer conductor 152, and a shield mechanism for preventing leakage of electromagnetic waves is not necessary.
  • the drive mechanism of slag 161a, 161b can be reduced in size compared with the past.
  • a sliding member 163 made of a resin having slipperiness is attached to the slags 161a and 161b themselves, and a screw mechanism is formed by screwing the slag moving shaft 164a or 164b into the screw hole 165a of the sliding member 163 to form a motor 173a.
  • 173b rotate the slag moving shafts 164a, 164b so that the outer periphery of the sliding member 163 is guided to slide along the inner periphery of the inner conductor 153, and the slags 161a, 161b move.
  • the sliding member 163 and the slug movement shafts 164a and 164b have the three functions of the drive transmission mechanism, the drive guide mechanism, and the holding mechanism, and the drive mechanism can be remarkably reduced in size.
  • the tuner drive mechanism can be reduced in size, so that the tuner 144 itself can be significantly reduced in size.
  • the through hole 165b is provided in the sliding member 163, and the slag moving shaft that is not screwed into the screw hole 165a is passed through the through hole 165b, the slugs 161a and 161b are driven in the inner conductor 153, respectively.
  • the two slug moving shafts 164a and 164b can be provided, and the two slugs 161a and 161b can be independently moved by the screw mechanism.
  • the motors 173a and 173b and the gears 172a and 172b which are power transmission mechanisms, are offset vertically, so that the space for the power transmission mechanism such as the motor and gears can be reduced.
  • the casing 171 that accommodates them can have the same diameter as the outer conductor 152. Therefore, the tuner 144 can be made even more compact.
  • incremental encoders 175a and 175b are provided so as to be directly connected to the output shafts of the motors 173a and 173b and the positions of the slugs 161a and 161b are detected, a conventionally used sensor for position detection becomes unnecessary. It is inexpensive because there is no need to use an expensive absolute encoder.
  • the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made within the scope of the idea of the present invention.
  • the circuit configuration of the microwave output unit 30 and the circuit configurations of the antenna unit 40 and the main amplifier 48 are not limited to the above embodiment. Specifically, when it is not necessary to control the directivity of the microwave radiated from the antenna or to make it circularly polarized, the phase shifter is unnecessary.
  • the antenna unit 40 does not necessarily need to be composed of a plurality of antenna modules 41, and one antenna module is sufficient when a small plasma source such as remote plasma is sufficient.
  • the etching processing apparatus is exemplified as the plasma processing apparatus.
  • the present invention is not limited to this and can be used for other plasma processing such as film formation processing, oxynitride film processing, and ashing processing.
  • the substrate to be processed is not limited to the semiconductor wafer W, and may be another substrate such as an FPD (flat panel display) substrate typified by an LCD (liquid crystal display) substrate or a ceramic substrate.

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Abstract

 マイクロ波出力部から、外側導体(51)と内側導体(52)とからなる同軸状の導波路(50)を介して伝送されたマイクロ波をチャンバ内に放射して、チャンバ内に表面波プラズマを発生させるための、表面波プラズマ発生用アンテナ(45)は、導波路(50)の内側導体(52)に接続される内側部材(54)と、導波路(50)の外側導体(51)に接続される外側部材(55)と、内側部材(54)と外側部材(55)との間に形成されるリング状のスロット(56)とを具備する。

Description

表面波プラズマ発生用アンテナ、マイクロ波導入機構、および表面波プラズマ処理装置
 本発明は、表面波プラズマ発生用アンテナ、マイクロ波導入機構、および表面波プラズマ処理装置に関する。
 プラズマ処理は、半導体デバイスの製造に不可欠な技術であるが、近時、LSIの高集積化、高速化の要請からLSIを構成する半導体素子のデザインルールが益々微細化され、また、半導体ウエハが大型化されており、それにともなって、プラズマ処理装置においてもこのような微細化および大型化に対応するものが求められている。
 ところが、従来から多用されてきた平行平板型や誘導結合型のプラズマ処理装置では、生成されるプラズマの電子温度が高いため微細素子にプラズマダメージを生じてしまい、また、プラズマ密度の高い領域が限定されるため、大型の半導体ウエハを均一かつ高速にプラズマ処理することは困難である。
 そこで、高密度で低電子温度の表面波プラズマを均一に形成することができるRLSA(Radial Line Slot Antenna)マイクロ波プラズマ処理装置が注目されている(例えば特開2000-294550号公報)。
 RLSAマイクロ波プラズマ処理装置は、チャンバの上部に所定のパターンで多数のスロットが形成された平面アンテナ(Radial Line Slot Antenna)を設け、マイクロ波発生源から導かれたマイクロ波を、平面アンテナのスロットから放射させるとともに、その下に設けられた誘電体からなるマイクロ波透過板を介して真空に保持されたチャンバ内に放射し、このマイクロ波電界によりチャンバ内で表面波プラズマを生成し、これにより半導体ウエハ等の被処理体を処理するものである。
 しかしながら、表面波プラズマを発生させるためにこのようなRLSAマイクロ波プラズマ処理装置を用いた場合には、プラズマ負荷により種々のモードが発生する。そのため、プラズマ負荷が変化した場合にモードジャンプが発生し、これによりプラズマ密度が急激に変化し、プロセス条件を確定したり、プラズマを制御したりする場合に不都合を生じる。
 したがって、本発明の目的は、プラズマ負荷が変化してもモードジャンプが発生し難い表面波プラズマ発生用アンテナ、それを用いたマイクロ波導入機構および表面波プラズマ処理装置を提供することにある。
 本発明の第1の観点によれば、マイクロ波を出力するマイクロ波出力部から、外側導体と内側導体とからなる同軸状の導波路を介して伝送されたマイクロ波をチャンバ内に放射して、チャンバ内に表面波プラズマを発生させるための、表面波プラズマ発生用アンテナであって、前記導波路の前記内側導体に接続される内側部材と、前記導波路の前記外側導体に接続される外側部材と、前記内側部材と前記外側部材との間に形成されるリング状のスロットとを具備する、表面波プラズマ発生用アンテナが提供される。
 本発明の第2の観点によれば、マイクロ波電源を有し、マイクロ波を生成して出力するマイクロ波出力部からのマイクロ波をチャンバ内に導入して、チャンバ内に表面波プラズマを発生させるマイクロ波導入機構であって、外側導体と内側導体とからなる同軸状の導波路と、前記導波路に設けられた、前記チャンバ内の負荷のインピーダンスを前記マイクロ波電源の特性インピーダンスに整合させるチューナと、前記導波路を介して伝送されたマイクロ波をチャンバ内に放射する表面波プラズマ発生用アンテナとを具備し、前記表面波プラズマ発生用アンテナは、前記導波路の前記内側導体に接続される内側部材と、前記導波路の前記外側導体に接続される外側部材と、前記内側部材と外側部材との間に形成されるリング状のスロットとを有する、マイクロ波導入機構が提供される。
 本発明の第3の観点によれば、被処理基板を収容するチャンバと、前記チャンバ内にガスを供給するガス供給機構と、マイクロ波電源を有し、マイクロ波を生成して出力するマイクロ波出力部、および出力されたマイクロ波を前記チャンバ内に導入するマイクロ波導入機構を備え、前記チャンバ内にマイクロ波を導入して前記チャンバ内に供給されたガスの表面波プラズマを発生させるマイクロ波プラズマ源とを具備し、前記マイクロ波導入機構は、外側導体と内側導体とからなる同軸状の導波路と、導波路を介して伝送されたマイクロ波を、チャンバ内に放射するための、表面波プラズマ発生用アンテナとを有し、前記表面波プラズマ発生用アンテナは、前記導波路の前記内側導体に接続される内側部材と、前記導波路の前記外側導体に接続される外側部材と、前記内側部材と外側部材との間に形成されるリング状のスロットとを有する、表面波プラズマ処理装置が提供される。
本発明の一実施形態に係る表面波プラズマ処理装置の概略構成を示す断面図である。 図1の表面波プラズマ処理装置に用いられるマイクロ波プラズマ源の構成を示す構成図である。 メインアンプの回路構成の例を示す図である。 図1の表面波プラズマ処理装置におけるマイクロ波導入機構を示す断面図である。 図4のマイクロ波導入機構における表面波発生アンテナを示す横断面図である。 継ぎ目(端部)を有する1個のスロットを設けたアンテナを示す平面図である。 図6Aのアンテナにより形成される磁界ベクトルを示す図である。 同心的な4個の扇状のスロットを設けたアンテナを示す平面図である。 図7Aのアンテナにより形成される磁界ベクトルを示す図である。 リング状スロットを有するアンテナを使用し、プラズマ負荷インピーダンスが大きい条件の場合の磁界ベクトルを示す斜視図である。 リング状スロットを有するアンテナを使用し、プラズマ負荷インピーダンスが大きい条件の場合の磁界ベクトルを示す側面図である。 第1の実施形態に係る表面波プラズマ処理装置に用いられるアンテナの他の例を示す断面図である。 図4に示した本発明の一実施形態の表面波プラズマ発生用アンテナのマイクロ波が伝送される状態を示す断面図である。 本発明の第2の実施形態に係る表面波プラズマ処理装置におけるマイクロ波導入機構を示す断面図である。 インピーダンス変換部材の有無による整合範囲の相違を比較して模式的に示す図である。 本発明の第3の実施形態に係る表面波プラズマ処理装置におけるマイクロ波導入機構を示す断面図である。 マイクロ波導入機構の給電機構を示す横断面図である。 図14のマイクロ波導入機構のチューナの本体におけるスラグと滑り部材を示す平面図である。 図14のマイクロ波導入機構のチューナの本体における内側導体を示す斜視図である。
 以下、添付図面を参照して本発明の実施形態について詳細に説明する。
 <第1の実施形態>
 図1は、本発明の第1の実施形態に係る表面波プラズマ処理装置の概略構成を示す断面図であり、図2は図1の表面波プラズマ処理装置に用いられるマイクロ波プラズマ源の構成を示す構成図である。
 表面波プラズマ処理装置100は、ウエハに対してプラズマ処理として例えばエッチング処理を施すプラズマエッチング装置として構成されている。
 この表面波プラズマ処理装置100は、気密に構成されたアルミニウムまたはステンレス鋼等の金属材料からなる略円筒状の接地されたチャンバ1と、チャンバ1内にマイクロ波プラズマを形成するためのマイクロ波プラズマ源2とを有している。チャンバ1の上部には開口部1aが形成されており、マイクロ波プラズマ源2はこの開口部1aからチャンバ1の内部に臨むように設けられている。
 チャンバ1内には被処理体であるウエハWを水平に支持するためのサセプタ11が、チャンバ1の底部中央に絶縁部材12aを介して立設された筒状の支持部材12により支持された状態で設けられている。サセプタ11および支持部材12を構成する材料としては、表面をアルマイト処理(陽極酸化処理)したアルミニウム等が例示される。
 また、図示はしていないが、サセプタ11には、ウエハWを静電吸着するための静電チャック、温度制御機構、ウエハWの裏面に熱伝達用のガスを供給するガス流路、およびウエハWを搬送するために昇降する昇降ピン等が必要に応じて設けられている。さらに、サセプタ11には、整合器13を介して高周波バイアス電源14が電気的に接続されている。この高周波バイアス電源14からサセプタ11に高周波電力が供給されることにより、ウエハW側にプラズマ中のイオンが引き込まれる。
 チャンバ1の底部には排気管15が接続されており、この排気管15には真空ポンプを含む排気装置16が接続されている。そしてこの排気装置16を作動させることによりチャンバ1内が排気され、チャンバ1内が所定の真空度まで高速に減圧することが可能となっている。また、チャンバ1の側壁には、ウエハWの搬入出を行うための搬入出口17と、この搬入出口17を開閉するゲートバルブ18とが設けられている。
 チャンバ1内のサセプタ11の上方位置には、プラズマエッチングのための処理ガスをウエハWに向けて吐出するシャワープレート20が水平に設けられている。このシャワープレート20は、格子状に形成されたガス流路21と、このガス流路21に形成された多数のガス吐出孔22とを有しており、格子状のガス流路21の間は空間部23となっている。このシャワープレート20のガス流路21にはチャンバ1の外側に延びる配管24が接続されており、この配管24には処理ガス供給源25が接続されている。
 一方、チャンバ1のシャワープレート20の上方位置には、リング状のプラズマガス導入部材26がチャンバ壁に沿って設けられており、このプラズマガス導入部材26には内周に多数のガス吐出孔が設けられている。このプラズマガス導入部材26には、プラズマガスを供給するプラズマガス供給源27が配管28を介して接続されている。プラズマガスとしてはArガス等の希ガスが好適に用いられる。
 プラズマガス導入部材26からチャンバ1内に導入されたプラズマガスは、マイクロ波プラズマ源2からチャンバ1内に導入されたマイクロ波によりプラズマ化され、このプラズマがシャワープレート20の空間部23を通過しシャワープレート20のガス吐出孔22から吐出された処理ガスを励起し、処理ガスのプラズマを形成する。
 マイクロ波プラズマ源2は、チャンバ1の上部に設けられた支持リング29により支持されており、これらの間は気密にシールされている。図2に示すように、マイクロ波プラズマ源2は、複数経路に分配してマイクロ波を出力するマイクロ波出力部30と、マイクロ波出力部30から出力されたマイクロ波をチャンバ1に導き、チャンバ1内に放射するためのアンテナユニット40とを有している。
 マイクロ波出力部30は、マイクロ波電源31と、マイクロ波発振器32と、発振されたマイクロ波を増幅するアンプ33と、増幅されたマイクロ波を複数に分配する分配器34とを有している。
 マイクロ波発振器32は、所定周波数のマイクロ波を例えばPLL発振させる。分配器34では、マイクロ波の損失ができるだけ起こらないように、入力側と出力側のインピーダンス整合を取りながらアンプ33で増幅されたマイクロ波を分配する。なお、マイクロ波の周波数としては、2.45GHz、8.35GHz、5.8GHz、1.98GHz等を用いることができ、より大きなパワーを印加する場合には、915MHz、860MHz等の700MHz~1GHzの範囲のものを用いることができる。
 アンテナユニット40は、分配器34で分配されたマイクロ波を導く複数のアンテナモジュール41を有している。各アンテナモジュール41は、分配されたマイクロ波を主に増幅するアンプ部42と、マイクロ波導入機構43とを有している。マイクロ波導入機構43は、マイクロ波を伝送する同軸構造の導波路50と、導波路50を伝送されたマイクロ波をチャンバ1内に放射する表面波プラズマ発生用のアンテナ45とを有している。導波路50には、後述するようにチャンバ内の負荷(プラズマ)のインピーダンスをマイクロ波電源の特性インピーダンスに整合させるチューナ44が設けられている(図4参照)。そして、アンテナ45からチャンバ1内に放射されたマイクロ波がチャンバ1内の空間で合成され、チャンバ1内で表面波プラズマが形成されるようになっている。
 アンプ部42は、位相器46と、可変ゲインアンプ47と、ソリッドステートアンプを構成するメインアンプ48と、アイソレータ49とを有している。
 位相器46は、スラグチューナによりマイクロ波の位相を変化させることができるように構成されており、これを調整することにより放射特性を変調させることができる。例えば、各アンテナモジュール毎に位相を調整することにより指向性を制御してプラズマ分布を変化させることや、後述するように隣り合うアンテナモジュールにおいて90°ずつ位相をずらすようにして円偏波を得ることができる。ただし、このような放射特性の変調が不要な場合には位相器46は設ける必要はない。
 可変ゲインアンプ47は、メインアンプ48へ入力するマイクロ波の電力レベルを調整し、個々のアンテナモジュールのばらつきを調整またはプラズマ強度調整のためのアンプである。可変ゲインアンプ47を各アンテナモジュール毎に変化させることによって、発生するプラズマに分布を生じさせることもできる。
 ソリッドステートアンプを構成するメインアンプ48は、例えば、図3に示すように、入力整合回路61と、半導体増幅素子62と、出力整合回路63と、高Q共振回路64とを有する構成とすることができる。半導体増幅素子62としては、E級動作が可能となる、GaAsHEMT、GaNHEMT、LD(Laterally Diffused)-MOSを用いることができる。特に、半導体増幅素子62として、GaNHEMTを用いた場合には、可変ゲインアンプ47は一定値になり、E級動作アンプの電源電圧を可変とし、パワー制御を行う。
 アイソレータ49は、アンテナ45で反射してメインアンプ48に向かう反射マイクロ波を分離するものであり、サーキュレータとダミーロード(同軸終端器)とを有している。サーキュレータは、アンテナ45で反射したマイクロ波をダミーロードへ導き、ダミーロードはサーキュレータによって導かれた反射マイクロ波を熱に変換する。
 本実施形態では、複数のアンテナモジュール41を設け、各アンテナモジュールのマイクロ波導入機構43からチャンバ1内に導入したマイクロ波を空間合成するので、アイソレータ49は小型のものでよく、メインアンプ48に隣接して設けることが可能である。
 次に、マイクロ波導入機構43について、図4および図5を参照しながら詳細に説明する。図4はマイクロ波導入機構43の縦断面図、図5はマイクロ波導入機構43のアンテナ45の横断面図である。これらに示すように、このマイクロ波導入機構43は、筒状の外側導体51およびその中心に設けられた棒状の内側導体52からなる同軸状の導波路50を有しており、導波路50の先端にアンテナ45が設けられている。導波路50は、内側導体52が給電側、外側導体51が接地側となっている。
 導波路50に設けられたチューナ44は、2つのスラグ53を有し、スラグチューナを構成している。スラグ53は誘電体からなる板状体として構成されており、導波路50の内側導体52と外側導体51との間に円環状に設けられている。そして、コントローラ60からの指令に基づいてアクチュエータ59によりこれらスラグ53を上下動させることによりインピーダンスを調整するようになっている。コントローラ60は、終端が例えば50Ωになるようにインピーダンス調整を実行させる。2つのスラグのうち一方のみを動かすと、スミスチャートの原点を通る軌跡を描き、両方同時に動かすと位相のみが回転する。
 アンテナ45は、導波路50の内側導体52に連続する内側部材54と、外側導体51に連続する外側部材55とを有しており、内側部材54と外側部材55との間にはリング状のスロット56が形成されている。そして、内側部材54とスロット56によりアンテナ本体部80が構成される。内側部材54は、外側導体51の径よりも大径の円板状をなしている。一方、外側部材55は、外側導体51の端部から外側へ延びるフランジ部55aとフランジ部55aの外周からマイクロ波放射方向に延びる筒状部55bとを有している。フランジ部55aと内側部材54とは、マイクロ波伝送方向に対して、一部分がオーバーラップするように設けられている。
 アンテナ45は、内側部材54とスロット56とからなるアンテナ本体部80の上面に設けられた遅波材57を有している。遅波材57は、真空よりも大きい誘電率を有しており、例えば、石英、セラミックス、ポリテトラフルオロエチレン等のフッ素系樹脂やポリイミド系樹脂により構成されており、真空中におけるマイクロ波の波長よりもその波長を短くしてプラズマを調整する機能を有している。遅波材57は、その厚さによりマイクロ波の位相を調整することができ、内側部材54とスロット56とからなるアンテナ本体部80が定在波の「はら」になるようにその厚さを調整する。これにより、反射が最小で、アンテナ45からの放射エネルギーが最大となるようにすることができる。
 また、内側部材54とスロット56とからなるアンテナ本体部80の下面には、真空シールのための誘電体部材、例えば石英やセラミックス等からなるマイクロ波透過部材58が配置されている。このマイクロ波透過部材58は遅波材としても機能する。そして、メインアンプ48で増幅されたマイクロ波が外側導体51と内側導体52との間を通ってアンテナ45に導かれ、内側部材54と外側部材55との間のリング状のスロット56からマイクロ波透過部材58を透過してチャンバ1内の空間に放射される。このとき、スロット56はリング状をなしているので、スロットに端部が存在せず、プラズマの負荷の大きさにかかわらず、単一の表面波モードを発生しやすく、特に、アンテナ45の内側部材54と外側部材55との間にオーバーラップ部分を形成することにより、プラズマの負荷およびマイクロ波の周波数にかかわらず、表面波プラズマを形成しやすいTM01モードの単一モードとすることができる。
 導波路50の基端側には図示しない給電変換部が取り付けられており、給電変換部は同軸ケーブルを介してメインアンプ48に接続されており、同軸ケーブルの途中にはアイソレータ49が介在されている。メインアンプ48はパワーアンプであって大電力を取り扱うので、E級等高効率の動作をするが、その熱は数十~数百Wに相当するため放熱の観点からアンテナ45に直列に装着する。
 表面波プラズマ処理装置100における各構成部は、マイクロプロセッサを備えた制御部70により制御されるようになっている。制御部70は表面波プラズマ処理装置100で実行される各種処理を制御部70の制御にて実現するために制御プログラム(ソフトウエア)や処理条件データ等が記録されたプロセスレシピを記憶した記憶部や、入力手段およびディスプレイ等を備えており、選択されたレシピに従ってプラズマ処理装置を制御するようになっている。
 次に、以上のように構成されるプラズマ処理装置における動作について説明する。
 まず、ウエハWをチャンバ1内に搬入し、サセプタ11上に載置する。そして、プラズマガス供給源27から配管28およびプラズマガス導入部材26を介してチャンバ1内にプラズマガス、例えばArガスを導入しつつ、マイクロ波プラズマ源2からマイクロ波をチャンバ1内に導入してプラズマを形成する。
 次いで、処理ガス、例えばClガス等のエッチングガスが処理ガス供給源25から配管24およびシャワープレート20を介してチャンバ1内に吐出される。吐出された処理ガスは、シャワープレート20の空間部23を通過してきたプラズマにより励起されてプラズマ化し、このように形成された処理ガスのプラズマによりウエハWにプラズマ処理、例えばエッチング処理が施される。
 この場合に、マイクロ波プラズマ源2では、マイクロ波出力部30のマイクロ波発振器32から発振されたマイクロ波はアンプ33で増幅された後、分配器34により複数に分配され、分配されたマイクロ波はアンテナユニット40において複数のアンテナモジュール41に導かれる。アンテナモジュール41においては、このように複数に分配されたマイクロ波を、ソリッドステートアンプを構成するメインアンプ48で個別に増幅し、マイクロ波導入機構43の導波路50を通ってアンテナ45から個別に放射し、チャンバ1内に導入した後、これらを空間で合成する。
 マイクロ波を放射して表面波プラズマを発生するためのアンテナ45は、導波路50の内側導体52に接続された内側部材54と、導波路50の外側導体51に接続された外側部材55とを有し、これらの間にリング状のスロット56が形成されるので、従来のようにスロットの端部(継ぎ目)が存在しない。このため、従来発生していたスロットの端部(継ぎ目)での強電界の発生が抑制され、モードジャンプの発生を抑制することができる。
 従来のRLSAプラズマ処理装置においては、複数のスロットを有するアンテナ板を用いていたが、負荷(プラズマ)インピーダンスが高い場合等に、スロット端部で強電界が発生する場合があり、それにより表面波TEモードが発生する。TEモードの特徴として、波の進行方向に磁界成分を有していることが挙げられる。図6Aに示すような継ぎ目(端部)を有する1個のスロット81を設けた場合には、図6Bに示すように磁界ベクトルが形成され、図7Aに示すような同心的な4個の扇形状のスロット82を設けた場合には、図7Bに示すように磁界ベクトルが形成され、いずれも磁界ベクトルに上下方向の成分が存在しており、電界の進行方向に磁界を有していることがわかる。一方、負荷インピーダンスが低い場合には、スロットの形状によらず、表面波TMモードが発生する。また、負荷インピーダンスがそれらの中間に位置する場合には、TEモードとTMモードの両方のモードが発生する。すなわち、プラズマ負荷の変化によりモードジャンプが発生する。表面波モードが異なるとプラズマの供給パワーに対する吸収効率が変化するので、同じパワーに対してプラズマ密度も異なってしまう。これは、パワー等に対して、プラズマ密度が連続的に変化しないことを意味する。このため、プロセス使用可能な条件範囲が狭くなり、プラズマの制御が難しいものとなってしまう。
 これに対して、本実施形態のリング状のスロット56を形成したアンテナ45は、スロット端部(継ぎ目)が存在せず、スロット端部での強電界の発生がない。そのため、プラズマ負荷インピーダンスの高低に関係なく、電界の進行方向に磁界成分が存在せず安定した表面波プラズマを形成可能なTMモード(TM01モード)が一貫して生成され、単一モード表面波プラズマの発生が可能となる。本実施形態のリング状スロットを有するアンテナを使用し、プラズマ負荷インピーダンスが大きい条件の場合の磁界ベクトルを図8Aの斜視図、図8Bの側面図に示すが、これらの図に示すように、電界進行方向(縦方向)に磁界ベクトルが存在せず、全て面内方向(横方向)である。これは、TMモードのみが発生していることを示している。
 このように、導波路の内側導体に接続される内側部材と、導波路の外側導体に接続される外側部材と、内側部材と外側部材との間に形成されるリング状のスロットとを有する構成としたので、スロット端部(継ぎ目)が存在せず、スロット端部での強電界の発生がない。そのため、プラズマ負荷インピーダンスの高低に関係なく、電界の進行方向に磁界成分が存在せず安定した表面波プラズマを形成可能なTMモード(TM01モード)が一貫して生成され、単一モード表面波プラズマの発生が可能となる。このため、プラズマ負荷が変化してもモードジャンプの発生が抑制される。
 導波路50の終端にリング状スロット56が形成されていれば、図9に示すように、内側部材54と外側導体51が単に延長しただけの外側部材55′とを有する単純なモノポール状のアンテナであっても、TMモードからなる単一モード表面波プラズマの発生が可能である。特に、マイクロ波の周波数が2.45GHzと比較的高い場合には、TMモードからなる単一モード表面波プラズマを得やすい。ただし、より大きなパワーを印加する目的で周波数を900MHz程度まで低くした場合には、アンテナインピーダンスが周波数2.45GHzの場合とは大きく異なり、導波路50でのTE波がそのまま維持されて、スロット56から放射されるマイクロ波がTE波となるおそれがある。
 本実施形態では、周波数を900MHz程度まで低くした場合でもTMモードからなる単一モード表面波プラズマを確実に得る観点から、図10に示すように、アンテナ45の外側部材55として、フランジ部55aを有するものとし、マイクロ波伝送方向に対して、フランジ部55aと内側部材54との一部分がオーバーラップするようにした。これにより、フランジ部55aにおいて、必ず電界の伝送方向(上下方向)に電界が向くようになりアンテナ45から放射される電界は電界の伝送方向(上下方向)となり、確実に磁界の方向が面内方向のみであるTMモードが形成される。
 また、本実施形態では、複数に分配されたマイクロ波を、ソリッドステートアンプを構成するメインアンプ48で個別に増幅し、マイクロ波導入機構43の導波路50を通ってアンテナ45から個別に放射し、チャンバ1内に導入した後、これらを空間で合成するので、大型のアイソレータや合成器が不要となる。また、マイクロ波導入機構43は、アンテナ45とチューナ44とが一体となって設けられているのでコンパクトである。
<第2の実施形態>
 次に、本発明の第2の実施形態について説明する。
 図11は、本発明の第2の実施形態に係る表面波プラズマ処理装置におけるマイクロ波導入機構を示す断面図である。
 本実施形態では、チューナ44のアンテナ45側のスラグ53とアンテナ45との間に誘電体からなるインピーダンス変換部材90を介装させている。インピーダンス変換部材90は、内側導体52と外側導体51との間を充填するようにかつ固定的に設けられている。本実施形態において内側導体52と外側導体51は円筒状であるため、インピーダンス変換部材90は円管状に形成される。インピーダンス変換部材90を構成する誘電体としては、高誘電率であるアルミナが好ましい。その他、シリコンナイトライド等を用いることもできる。
 チューナは、上述したように、2つのスラグによりチャンバ1内のプラズマ負荷のインピーダンスを見かけ上マイクロ波電源の特性インピーダンスに整合させるものである。このようなインピーダンス整合行うためには、スラグの可動範囲は少なくとも(3/4)×λg(λgはマイクロ波の波長)必要であり、それよりもスラグ53の可動範囲が小さいと整合範囲が狭くなり十分なインピーダンス整合を行い難くなる。
 特に、高パワーを得るために、マイクロ波の周波数を1GHz以下にするとインピーダンス整合に必要なスラグのストロークが長くなり、例えば860MHzでは必要な可動範囲である(3/4)×λgの長さが261mmにもなってしまい、チューナの必要長さが許容長さよりも大きくなってしまう。このため、十分なインピーダンス整合を行い得る装置設計が困難となる。
 そこで、本実施形態では、アンテナ45側のスラグ53とアンテナ45との間に誘電体からなるインピーダンス変換部材90を設ける。インピーダンス変換部材90は誘電体であるから、形状を適当にとることでその特性インピーダンスZ1をプラズマ負荷のインピーダンスZよりも大きな値とすることができる。特に、アルミナのような高誘電率の誘電体を用いた場合には、形状を適当にとることでその特性インピーダンスZ1がプラズマ負荷のインピーダンスZよりも十分大きな値となる。これにより、見かけ上のアンテナ45のインピーダンスが大きくなり、見かけ上、プラズマ負荷の変動が小さくなる。すなわち、インピーダンス変換部材90をアンテナ45側のスラグ53とアンテナ45との間に介装させることにより、チューナ44から見たプラズマ負荷の変動は見かけ上小さくなり、結果として必要な整合範囲を小さくすることができる。このため、許容範囲内のチューナ44の長さで、必要な整合範囲が得られるようになる。
 インピーダンス変換部材90の配置位置としては、インピーダンスの低下を防ぐために、アンテナ45(本実施形態ではアンテナ45の遅波材57)に接触する位置であることが好ましい。これにより、インピーダンス変換が容易となる。
 図12はインピーダンス変換部材の有無による整合範囲の相違を比較して模式的に示す図である。図12の横軸はプラズマの誘電率(εr)であり、縦軸はプラズマの誘電損失(tanδ)である。これらはプラズマの状態を表すものであり、プラズマの誘電率(εr)は、プラズマの密度とプラズマが生成される空間の圧力に関係するパラメータであり、プラズマの誘電損失(tanδ)はプラズマが生成される空間の圧力に関係するパラメータである。図12はこれらをマトリックスとして示すものであり、整合がとれ反射が0となった条件を斜線で示すものである。この図に示すように、インピーダンス変換部材90が存在しない場合には、整合がとれた範囲が狭いのに対し、インピーダンス変換部材90を設けた場合には、整合がとれた範囲が著しく広がることが確認される。
 なお、図11では、アンテナとして導波路の内側部材と外側部材との間に形成されるリング状のスロットとを有するアンテナ45を用いているが、本実施形態では、原理上、このような構成のものに限らず、例えば、図6Aや図7Aに示すようなスロット端部が存在するようなものでも適用可能である。
<第3の実施形態>
 次に、本発明の第3の実施形態について説明する。
 図13は、本発明の第3の実施形態に係る表面波プラズマ処理装置におけるマイクロ波導入機構を示す断面図、図14はマイクロ波導入機構の給電機構を示す横断面図である。本実施形態では、チューナのスラグの駆動方法が上記第1および第2の実施形態とは異なっている。
 マイクロ波導入機構43′は、マイクロ波を伝送する同軸構造の導波路150と、導波路150を伝送されたマイクロ波をチャンバ1内に放射する、第1の実施形態と同じ構造を有するアンテナ45とを有している。そして、マイクロ波導入機構43′からチャンバ1内に放射されたマイクロ波がチャンバ1内の空間で合成され、チャンバ1内で表面波プラズマが形成されるようになっている。
 導波路150は、筒状の外側導体152およびその中心に設けられた棒状の内側導体153が同軸状に配置されて構成されており、導波路150の先端にアンテナ45が設けられている。導波路150は、内側導体153が給電側、外側導体152が接地側となっている。外側導体152および内側導体153の上端は反射板158となっている。
 導波路150の基端側にはマイクロ波(電磁波)を給電する給電機構154が設けられている。給電機構154は、導波路150(外側導体152)の側面に設けられたマイクロ波電力を導入するためのマイクロ波電力導入ポート155を有している。マイクロ波電力導入ポート155には、アンプ部42から増幅されたマイクロ波を供給するための給電線として、内側導体156aおよび外側導体156bからなる同軸線路156が接続されている。そして、同軸線路156の内側導体156aの先端には、外側導体152の内部に向けて水平に伸びる給電アンテナ190が接続されている。
 給電アンテナ190は、例えば、プリント基板であるPCB基板上にマイクロストリップラインとして形成される。反射板158から給電アンテナ190までの間には、反射波の実効波長を短くするためのテフロン(登録商標)等の誘電体からなる遅波材159が設けられている。なお、2.45G等の周波数の高いマイクロ波を用いた場合には、遅波材159は設けなくてもよい。このとき、給電アンテナ190から放射される電磁波を反射板158で反射させることで、最大の電磁波を同軸構造の導波路150内に電送させる。
 給電アンテナ190は、図14に示すように、マイクロ波電力導入ポート155において同軸線路156の内側導体156aに接続され、電磁波が供給される第1の極192および供給された電磁波を放射する第2の極193を有するアンテナ本体191と、アンテナ本体191の両側から、内側導体153の外側に沿って延び、リング状をなす反射部194とを有し、アンテナ本体191に入射された電磁波と反射部194で反射された電磁波とで定在波を形成するように構成されている。アンテナ本体191の第2の極193は内側導体153に接触している。
 給電アンテナ190は、マイクロ波(電磁波)を放射することにより、外側導体152と内側導体153との間の空間にマイクロ波電力が給電される。そして、給電機構154に供給されたマイクロ波電力がアンテナ45に向かって伝播する。
 また、導波路150にはチューナ144が設けられている。チューナ144は、チャンバ1内のプラズマ負荷のインピーダンスをマイクロ波電源の特性インピーダンスに整合させるものであり、外側導体152と内側導体153との間を上下に移動する2つのスラグ161a,161bと、反射板158の外側(上側)に設けられたスラグ駆動部170とを有している。
 これらスラグのうち、スラグ161aはスラグ駆動部170側に設けられ、スラグ161bはアンテナ45側に設けられている。また、内側導体153の内部空間には、その長手方向に沿って例えば台形ネジが形成された螺棒からなるスラグ移動用の2本のスラグ移動軸164a,164bが設けられている。
 スラグ161aは誘電体からなり、図15に示すように円環状をなしており、その内側に滑り性を有する樹脂からなる滑り部材163が嵌め込まれている。滑り部材163にはスラグ移動軸164aが螺合するねじ穴165aとスラグ移動軸164bが挿通される通し穴165bが設けられている。一方、スラグ161bは、スラグ161aと同様、ねじ穴165aと通し穴165bとを有しているが、スラグ161aとは逆に、ねじ穴165aはスラグ移動軸164bに螺合され、通し穴165bにはスラグ移動軸164aが挿通されるようになっている。これによりスラグ移動軸164aを回転させることによりスラグ161aが昇降移動し、スラグ移動軸164bを回転させることによりスラグ161bが昇降移動する。すなわち、スラグ移動軸164a,164bと滑り部材163とからなるねじ機構によりスラグ161a,161bが昇降移動される。
 図16に示すように、内側導体153には長手方向に沿って等間隔に3つのスリット153aが形成されている。一方、滑り部材163は、これらスリット153aに対応するように3つの突出部163aが等間隔に設けられている。そして、これら突出部163aがスラグ161a,161bの内周に当接した状態で滑り部材163がスラグ161a,161bの内部に嵌め込まれる。滑り部材163の外周面は、内側導体153の内周面と遊びなく接触するようになっており、スラグ移動軸164a,164bが回転されることにより、滑り部材163が内側導体153を滑って昇降するようになっている。すなわち内側導体153の内周面がスラグ161a,161bの滑りガイドとして機能する。なお、スリット153aの幅は5mm以下とすることが好ましい。これにより、内側導体153の内部へ漏洩するマイクロ波電力を実質的になくすことができ、マイクロ波電力の放射効率を高く維持することができる。
滑り部材163を構成する樹脂材料としては、良好な滑り性を有し、加工が比較的容易な樹脂、例えばポリフェニレンサルファイド(PPS)樹脂(商品名:ベアリーAS5000(NTN株式会社製))を好適なものとして挙げることができる。
 上記スラグ移動軸164a,164bは、反射板158を貫通してスラグ駆動部170に延びている。スラグ移動軸164a,164bと反射板158との間にはベアリング(図示せず)が設けられている。また、内側導体153の下端には、導体からなる軸受け部167が設けられており、スラグ移動軸164a,164bの下端はこの軸受け部167に軸支されている。
 スラグ駆動部170は筐体171を有し、スラグ移動軸164aおよび164bは筐体171内に延びており、スラグ移動軸164aおよび164bの上端には、それぞれ歯車172aおよび172bが取り付けられている。また、スラグ駆動部170には、スラグ移動軸164aを回転させるモータ173aと、スラグ移動軸164bを回転させるモータ173bが設けられている。モータ173aの軸には歯車174aが取り付けられ、モータ173bの軸には歯車174bが取り付けられており、歯車174aが歯車172aに噛合し、歯車174bが歯車172bに噛合するようになっている。したがって、モータ173aにより歯車174aおよび172aを介してスラグ移動軸164aが回転され、モータ173bにより歯車174bおよび172bを介してスラグ移動軸164bが回転される。なお、モータ173a,173bは例えばステッピングモータである。
 なお、スラグ移動軸164bはスラグ移動軸164aよりも長く、より上方に達しており、したがって、歯車172aおよび172bの位置が上下にオフセットしており、モータ173aおよび173bも上下にオフセットしている。これにより、モータおよび歯車等の動力伝達機構のスペースを小さくすることができ、これらを収容する筐体171を外側導体152と同じ径にすることが可能となる。
 モータ173aおよび173bの上には、これらの出力軸に直結するように、それぞれスラグ161aおよび161bの位置を検出するためのインクリメント型のエンコーダ175aおよび175bが設けられている。インクリメント型のエンコーダ175aおよび175bを用いて、以下の手順で絶対的な位置を把握する。まず、スラグ移動軸164aをゆっくり回転させてスラグ161aを一定速度でエンコーダ175aのカウンターを見ながら移動させる。スラグ161aがメカニカルストップ(図示せず)に到達すると、モータ173aは脱調し、停止する。停止したことは、エンコーダ175aのカウントが変化しないことで検知することができ、そのときのスラグ161aの位置、またはそこから所定パルス分オフセットした位置を原点とする。この原点位置を基準として原点からのパルス数をカウントすることによりスラグ161aの絶対的な位置を検知することができる。スラグ161bも同様に原点を把握することにより絶対的な位置を検知することができる。
 スラグ161aおよび161bの位置は、スラグコントローラ168により制御される。具体的には、図示しないインピーダンス検出器により検出された入力端のインピーダンス値と、エンコーダ175aおよび175bにより検知されたスラグ161aおよび161bの位置情報に基づいて、スラグコントローラ168がモータ173aおよび173bに制御信号を送り、スラグ161aおよび161bの位置を制御することにより、インピーダンスを調整するようになっている。スラグコントローラ168は、終端が例えば50Ωになるようにインピーダンス整合を実行させる。2つのスラグのうち一方のみを動かすと、スミスチャートの原点を通る軌跡を描き、両方同時に動かすと位相のみが回転する。
 上記表面波プラズマを生成するに際し、マイクロ波プラズマ源2では、マイクロ波出力部30のマイクロ波発振器32から発振されたマイクロ波電力はアンプ33で増幅された後、分配器34により複数に分配され、分配されたマイクロ波電力はアンテナユニット40へ導かれる。アンテナユニット40においては、このように複数に分配されたマイクロ波電力は、ソリッドステートアンプを構成するメインアンプ48で個別に増幅され、マイクロ波導入機構43′の導波路150に給電され、チューナ144でインピーダンスが自動整合され、電力反射が実質的にない状態で、アンテナ45を介してチャンバ1内に放射されて空間合成される。
 このときの給電は、導波路150の側面に設けられたマイクロ波電力導入ポート155と、マイクロ波電力導入ポート155に接続された給電用の同軸線路156の内側導体156aから導波路150の内部に電磁波を放射する給電アンテナ190とを有する給電機構154により行われる。
 この場合に、同軸線路156から伝播してきたマイクロ波(電磁波)が、マイクロ波電力導入ポート155において給電アンテナ190の第1の極192に到達すると、アンテナ本体191に沿ってマイクロ波(電磁波)が伝播して行き、アンテナ本体191の先端の第2の極193からマイクロ波(電磁波)を放射する。また、アンテナ本体191を伝播するマイクロ波(電磁波)が反射部194で反射し、それが入射波と合成されることにより定在波を発生させる。給電アンテナ190の配置位置で定在波が発生すると、内側導体153の外壁に沿って誘導磁界が生じ、それに誘導されて誘導電界が発生する。これらの連鎖作用により、マイクロ波(電磁波)が導波路150内を伝播し、アンテナ45へ導かれる。
 このとき、給電アンテナ190の第2の極193が導波路150の内側導体153に接しており、また、反射部194がリング状をなしているので、継ぎ目がなく、継ぎ目で強電界が発生することがない。このため、マイクロ波(電磁波)電力を効率良くかつ均一に供給することができる。また、導波路150において、給電アンテナ190から放射されるマイクロ波(電磁波)を反射板158で反射させることで最大のマイクロ波(電磁波)電力を同軸構造の導波路150に伝送することができる。
 また、本実施形態では、駆動伝達部、駆動ガイド部、保持部に相当するスラグ移動軸164a,164b、滑り部材163を内側導体153の内部に設けたので、これらを外側導体152の外部に設ける場合と比較して機械要素の重量およびモーメントを小さくすることができ、また外側導体152に保持機構が移動するためのスリットを設ける必要がなく、電磁波漏洩を防止するためのシールド機構が不要となる。これにより、スラグ161a,161bの駆動機構を従来よりも小型化することができる。
 また、スラグ161a,161b自体に滑り性を有する樹脂からなる滑り部材163が取り付けられ、この滑り部材163のねじ穴165aにスラグ移動軸164aあるいは164bを螺合させてねじ機構を構成し、モータ173a,173bによりスラグ移動軸164a,164bを回転させることにより、滑り部材163の外周が内側導体153の内周を滑るようにガイドされてスラグ161a,161bが移動する。このため、滑り部材163およびスラグ移動軸164a,164bが駆動伝達機構、駆動ガイド機構、保持機構の3つの機能を兼ね備えることとなり、駆動機構を著しく小型化することができる。
 このように、チューナの駆動機構を小型化することができることから、チューナ144自体を著しく小型化することができる。
 さらに、滑り部材163に通し穴165bを設け、ねじ穴165aに螺合されない方のスラグ移動軸をこの通し穴165bに通すようにしたので、内側導体153内にスラグ161aおよび161bをそれぞれ駆動するための2つのスラグ移動軸164aおよび164bを設けることができ、ねじ機構により2つのスラグ161aおよび161bを独立して移動させることが可能となる。さらにまた、スラグ駆動部170において、モータ173aおよび173b、ならびに動力伝達機構である歯車172aおよび172bが上下にオフセットしているので、モータおよび歯車等の動力伝達機構のスペースを小さくすることができ、これらを収容する筐体171を外側導体152と同じ径にすることが可能となる。したがって、チューナ144をより一層コンパクトにすることができる。
 さらにまた、モータ173a,173bの出力軸に直結するようにインクリメント型のエンコーダ175a,175bを設けて、スラグ161a,161bの位置検出を行うので、従来用いていた位置検出のためのセンサが不要となり、高価なアブソリュート型エンコーダを用いる必要もないので安価である。
 なお、本発明は上記実施形態に限定されることなく、本発明の思想の範囲内において種々変形可能である。例えば、マイクロ波出力部30の回路構成やアンテナユニット40、メインアンプ48の回路構成等は、上記実施形態に限定されるものではない。具体的には、アンテナから放射されるマイクロ波の指向性制御を行ったり円偏波にしたりする必要がない場合には、位相器は不要である。また、アンテナユニット40は、必ずしも複数のアンテナモジュール41で構成する必要はなく、リモートプラズマ等、小さいプラズマ源で十分な場合には1個のアンテナモジュールで十分である。
 さらに、上記実施形態においては、プラズマ処理装置としてエッチング処理装置を例示したが、これに限らず、成膜処理、酸窒化膜処理、アッシング処理等の他のプラズマ処理にも用いることができる。また、被処理基板は半導体ウエハWに限定されず、LCD(液晶ディスプレイ)用基板に代表されるFPD(フラットパネルディスプレイ)基板や、セラミックス基板等の他の基板であってもよい。

Claims (20)

  1.  マイクロ波を出力するマイクロ波出力部から、外側導体と内側導体とからなる同軸状の導波路を介して伝送されたマイクロ波をチャンバ内に放射して、チャンバ内に表面波プラズマを発生させるための、表面波プラズマ発生用アンテナであって、
     前記導波路の前記内側導体に接続される内側部材と、
     前記導波路の前記外側導体に接続される外側部材と、
     前記内側部材と前記外側部材との間に形成されるリング状のスロットと
    を具備する、表面波プラズマ発生用アンテナ。
  2.  前記外側部材は、前記導波路の前記外側導体から外側へ延びるフランジ部と、前記フランジ部の外周からプラズマ伝送方向に延びる筒状部とを有し、前記フランジ部と前記内側部材とは、マイクロ波伝送方向に対して、一部分がオーバーラップするように設けられている、請求項1に記載の表面波プラズマ発生用アンテナ。
  3.  TM波を放射する、請求項1に記載の表面波プラズマ発生用アンテナ。
  4.  前記スロットから放射されたマイクロ波を透過する第1の誘電体部材と、前記内側部材の前記第1の誘電体部材とは反対側に設けられた第2の誘電体部材との少なくとも一方を有する、請求項1に記載の表面波プラズマ発生用アンテナ。
  5.  マイクロ波電源を有し、マイクロ波を生成して出力するマイクロ波出力部からのマイクロ波をチャンバ内に導入して、チャンバ内に表面波プラズマを発生させるマイクロ波導入機構であって、
     外側導体と内側導体とからなる同軸状の導波路と、
     前記導波路に設けられた、前記チャンバ内の負荷のインピーダンスを前記マイクロ波電源の特性インピーダンスに整合させるチューナと、
     前記導波路を介して伝送されたマイクロ波をチャンバ内に放射する表面波プラズマ発生用アンテナと
    を具備し、
     前記表面波プラズマ発生用アンテナは、
     前記導波路の前記内側導体に接続される内側部材と、
     前記導波路の前記外側導体に接続される外側部材と、
     前記内側部材と外側部材との間に形成されるリング状のスロットと
    を有する、マイクロ波導入機構。
  6.  前記表面波プラズマ発生用アンテナにおいて、前記外側部材は、前記導波路の前記外側導体から外側へ延びるフランジ部と、前記フランジ部の外周からプラズマ伝送方向に延びる筒状部とを有し、前記フランジ部と前記内側部材とは、マイクロ波伝送方向に対して、一部分がオーバーラップするように設けられている、請求項5に記載のマイクロ波導入機構。
  7.  前記表面波プラズマ発生用アンテナは、TM波を放射する、請求項5に記載のマイクロ波導入機構。
  8.  前記表面波プラズマ発生用アンテナは、前記スロットから放射されたマイクロ波を透過する第1の誘電体部材と、前記内側部材の前記第1の誘電体部材とは反対側に設けられた第2の誘電体部材との少なくとも一方を有する、請求項5に記載のマイクロ波導入機構。
  9.  前記チューナは、前記導波路の一部となる本体と、前記外側導体と前記内側導体の間に設けられた、内側導体の長手方向に沿って移動可能な誘電体からなるスラグと、前記スラグを駆動させる駆動機構とを有する、請求項5に記載のマイクロ波導入機構。
  10.  前記チューナと前記表面波プラズマ発生用アンテナとの間に設けられ、誘電体からなり、前記表面波プラズマ発生用アンテナの見かけ上のインピーダンスを大きくするためのインピーダンス変換部材をさらに具備する、請求項9に記載のマイクロ波導入機構。
  11.  前記チューナは、前記スラグを2つ有し、前記インピーダンス変換部材は、前記スラグのうち前記表面波プラズマ発生用アンテナに近いほうのものと、前記表面波プラズマ発生用アンテナとの間に設けられている、請求項10に記載のマイクロ波導入機構。
  12.  被処理基板を収容するチャンバと、
     前記チャンバ内にガスを供給するガス供給機構と、
     マイクロ波電源を有し、マイクロ波を生成して出力するマイクロ波出力部、および出力されたマイクロ波を前記チャンバ内に導入するマイクロ波導入機構を備え、前記チャンバ内にマイクロ波を導入して前記チャンバ内に供給されたガスの表面波プラズマを発生させるマイクロ波プラズマ源と
    を具備し、
     前記マイクロ波導入機構は、外側導体と内側導体とからなる同軸状の導波路と、導波路を介して伝送されたマイクロ波を、チャンバ内に放射するための、表面波プラズマ発生用アンテナとを有し、
     前記表面波プラズマ発生用アンテナは、
     前記導波路の前記内側導体に接続される内側部材と、
     前記導波路の前記外側導体に接続される外側部材と、
     前記内側部材と外側部材との間に形成されるリング状のスロットと
    を有する、表面波プラズマ処理装置。
  13.  前記表面波プラズマ発生用アンテナにおいて、前記外側部材は、前記導波路の前記外側導体から外側へ延びるフランジ部と、前記フランジ部の外周からプラズマ伝送方向に延びる筒状部とを有し、前記フランジ部と前記内側部材とは、マイクロ波伝送方向に対して、一部分がオーバーラップするように設けられている、請求項12に記載の表面波プラズマ処理装置。
  14.  前記表面波プラズマ発生用アンテナは、TM波を放射する、請求項12に記載の表面波プラズマ処理装置。
  15.  前記表面波プラズマ発生用アンテナは、前記スロットから放射されたマイクロ波を透過する第1の誘電体部材と、前記内側部材の前記第1の誘電体部材とは反対側に設けられた第2の誘電体部材との少なくとも一方を有する、請求項12に記載の表面波プラズマ処理装置。
  16.  前記マイクロ波導入機構は、前記導波路に設けられた、前記チャンバ内の負荷のインピーダンスを前記マイクロ波電源の特性インピーダンスに整合させるチューナをさらに有する、請求項12に記載の表面波プラズマ処理装置。
  17.  前記チューナは、前記導波路の一部となる本体と、前記外側導体と前記内側導体の間に設けられた、内側導体の長手方向に沿って移動可能な誘電体からなるスラグと、前記スラグを駆動させる駆動機構とを有する、請求項16に記載の表面波プラズマ処理装置。
  18.  前記チューナと前記表面波プラズマ発生用アンテナとの間に設けられ、誘電体からなり、前記表面波プラズマ発生用アンテナの見かけ上のインピーダンスを大きくするためのインピーダンス変換部材をさらに具備する、請求項17に記載の表面波プラズマ処理装置。
  19.  前記チューナは、前記スラグを2つ有し、前記インピーダンス変換部材は、前記スラグのうち前記表面波プラズマ発生用アンテナに近いほうのものと、前記表面波プラズマ発生用アンテナとの間に設けられている、請求項18に記載の表面波プラズマ処理装置。
  20.  前記マイクロ波導入機構を複数有する、請求項12に記載の表面波プラズマ処理装置。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102882004A (zh) * 2012-06-29 2013-01-16 华为技术有限公司 一种电磁耦极子天线
CN103091871A (zh) * 2012-12-26 2013-05-08 西安邮电学院 基于铌酸锂长程表面等离子体波波导和多频带微带天线的微波光波转换器
CN103091872A (zh) * 2012-12-26 2013-05-08 西安邮电学院 基于铌酸锂长程表面等离子体波波导和微带天线的微波光波转换器
JP2015118739A (ja) * 2013-12-16 2015-06-25 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ源およびプラズマ処理装置
JP2018101587A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ処理装置及びマイクロ波導入機構
WO2020203406A1 (ja) * 2019-04-03 2020-10-08 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
WO2022059533A1 (ja) * 2020-09-18 2022-03-24 東京エレクトロン株式会社 チューナおよびインピーダンス整合方法
JP2023039428A (ja) * 2021-09-08 2023-03-20 セメス カンパニー,リミテッド 基板処理装置及び基板処理方法

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6444782B2 (ja) * 2015-03-17 2018-12-26 東京エレクトロン株式会社 チューナおよびマイクロ波プラズマ源

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005122939A (ja) * 2003-10-14 2005-05-12 Japan Science & Technology Agency プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
JP2006324551A (ja) * 2005-05-20 2006-11-30 Shibaura Mechatronics Corp プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置
WO2008013112A1 (fr) * 2006-07-28 2008-01-31 Tokyo Electron Limited Source de plasma à micro-ondes et appareil de traitement plasma
WO2009044798A1 (ja) * 2007-10-04 2009-04-09 Tokyo Electron Limited プラズマ処理装置およびプラズマ密度分布の調整方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2005122939A (ja) * 2003-10-14 2005-05-12 Japan Science & Technology Agency プラズマ処理装置およびプラズマ処理方法
JP2006324551A (ja) * 2005-05-20 2006-11-30 Shibaura Mechatronics Corp プラズマ発生装置及びプラズマ処理装置
WO2008013112A1 (fr) * 2006-07-28 2008-01-31 Tokyo Electron Limited Source de plasma à micro-ondes et appareil de traitement plasma
WO2009044798A1 (ja) * 2007-10-04 2009-04-09 Tokyo Electron Limited プラズマ処理装置およびプラズマ密度分布の調整方法

Cited By (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102882004A (zh) * 2012-06-29 2013-01-16 华为技术有限公司 一种电磁耦极子天线
CN102882004B (zh) * 2012-06-29 2016-08-03 华为技术有限公司 一种电磁耦极子天线
US9590320B2 (en) 2012-06-29 2017-03-07 Huawei Technologies Co., Ltd. Electromagnetic dipole antenna
CN103091871A (zh) * 2012-12-26 2013-05-08 西安邮电学院 基于铌酸锂长程表面等离子体波波导和多频带微带天线的微波光波转换器
CN103091872A (zh) * 2012-12-26 2013-05-08 西安邮电学院 基于铌酸锂长程表面等离子体波波导和微带天线的微波光波转换器
CN103091872B (zh) * 2012-12-26 2015-06-10 西安邮电学院 基于铌酸锂长程表面等离子体波波导和微带天线的微波光波转换器
CN103091871B (zh) * 2012-12-26 2015-06-10 西安邮电学院 基于铌酸锂长程表面等离子体波波导和多频带微带天线的微波光波转换器
JP2015118739A (ja) * 2013-12-16 2015-06-25 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ源およびプラズマ処理装置
JP2018101587A (ja) * 2016-12-21 2018-06-28 東京エレクトロン株式会社 マイクロ波プラズマ処理装置及びマイクロ波導入機構
WO2020203406A1 (ja) * 2019-04-03 2020-10-08 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
JP2020170643A (ja) * 2019-04-03 2020-10-15 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
KR20210141671A (ko) * 2019-04-03 2021-11-23 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 플라즈마 처리 방법 및 플라즈마 처리 장치
US20220199369A1 (en) * 2019-04-03 2022-06-23 Tokyo Electron Limited Plasma processing method and plasma processing device
JP7221115B2 (ja) 2019-04-03 2023-02-13 東京エレクトロン株式会社 プラズマ処理方法及びプラズマ処理装置
KR102614242B1 (ko) * 2019-04-03 2023-12-14 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 플라즈마 처리 방법 및 플라즈마 처리 장치
WO2022059533A1 (ja) * 2020-09-18 2022-03-24 東京エレクトロン株式会社 チューナおよびインピーダンス整合方法
JP7496746B2 (ja) 2020-09-18 2024-06-07 東京エレクトロン株式会社 チューナおよびインピーダンス整合方法
JP2023039428A (ja) * 2021-09-08 2023-03-20 セメス カンパニー,リミテッド 基板処理装置及び基板処理方法
JP7432673B2 (ja) 2021-09-08 2024-02-16 セメス カンパニー,リミテッド 基板処理装置及び基板処理方法

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