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WO1997012719A1 - Soudure sans plomb - Google Patents

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Publication number
WO1997012719A1
WO1997012719A1 PCT/JP1996/002774 JP9602774W WO9712719A1 WO 1997012719 A1 WO1997012719 A1 WO 1997012719A1 JP 9602774 W JP9602774 W JP 9602774W WO 9712719 A1 WO9712719 A1 WO 9712719A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
temperature
alloy
lead
solder alloy
solder
Prior art date
Application number
PCT/JP1996/002774
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Toshikazu Murata
Hiroji Noguchi
Sadao Kishida
Toshihiko Taguchi
Shozo Asano
Ryo Oishi
Takashi Hori
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Senju Metal Industry Co., Ltd.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from JP7275029A external-priority patent/JPH0994687A/ja
Priority claimed from JP27503095A external-priority patent/JP3299091B2/ja
Priority claimed from JP09181496A external-priority patent/JP3340021B2/ja
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd., Senju Metal Industry Co., Ltd. filed Critical Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
Priority to EP96931990A priority Critical patent/EP0855242B1/en
Priority to DE69632866T priority patent/DE69632866T2/de
Publication of WO1997012719A1 publication Critical patent/WO1997012719A1/ja
Priority to US09/050,078 priority patent/US6241942B1/en

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B23MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • B23KSOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
    • B23K35/00Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting
    • B23K35/22Rods, electrodes, materials, or media, for use in soldering, welding, or cutting characterised by the composition or nature of the material
    • B23K35/24Selection of soldering or welding materials proper
    • B23K35/26Selection of soldering or welding materials proper with the principal constituent melting at less than 400 degrees C
    • B23K35/262Sn as the principal constituent

Definitions

  • the present invention relates to a solder alloy containing no lead and suitable for soldering electronic components without causing thermal damage.
  • Sn-Pb alloys have been used for soldering for a long time, Sn-Pb alloys are still the most common for soldering electronic components on printed circuit boards.
  • Electronic equipment such as televisions, radios, videos, tape recorders, computers, copiers and printers may be landfilled for disposal. These electronic devices are suitable for incineration because their outer frames and printed circuit boards are made of synthetic resin such as plastic, and the conductors and frames are made of metal. Because they are not.
  • solder alloys include Sn-Ag alloys and Sn-Sb alloys containing Sn as a main component.
  • Sn_Ag alloy Sn-3.5Ag is an alloy with a eutectic structure, and its melting temperature is 221 ° C. Even with the use of the eutectic Sn-Ag alloy with the lowest melting point, the soldering temperature is quite high, 260-280 ° C. Thermal damage may cause functional deterioration or destruction.
  • the composition with the lowest melting temperature of Sn—Sb alloy is Sn—5Sb.
  • the melting temperature is 235 at the solidus temperature and 240 at the liquidus temperature, so the soldering temperature is 280 to 300 ° C, which is even higher than that of the Sn-3.5 Ag alloy.
  • heat damage to electronic components that are still vulnerable to heat is inevitable.
  • solder alloys disclosed in these publications contain a large amount of Bi and In to reduce the melting temperature. Although both Bi and In are effective in lowering the melting temperature of the Sn-Ag and Sn-Sb solder alloys, the addition of large amounts has the following problems. If a large amount of Bi is added, the solder alloy becomes very hard and brittle. As a result, when the solder alloy cannot be plastically processed into a linear shape or is used for soldering electronic components, the solder alloy may be easily separated from the soldered portion with a slight impact. Since In is very expensive, it is not desirable to add a large amount to solder alloys.
  • the liquidus temperature of the solder base should be set to 210 or less.
  • the temperature it is preferable that the temperature be 200 ° C or less.
  • the conventional means to lower the liquidus temperature of Sn-Ag or Sn-Sb solder alloys by adding Bi and / or In requires liquidus temperature unless a large amount of Bi and / or 1n is added. Is difficult to lower to 200 ° C or less.
  • the liquidus temperature can be reduced to 200 or less, the solidus temperature at which the solidification of the alloy ends will be too low, and the alloy in the soldered area will be completely removed after soldering. It takes time to solidify. As a result, if the soldered part receives any vibration or shock before it completely solidifies, the soldered part will crack.
  • Another problem with conventional lead-free solder alloys is that lowering the liquidus temperature closer to the solidus temperature results in poor mechanical properties such as tensile strength and elongation, and The adhesive strength after attachment is weakened, and it can be easily removed when subjected to an impact. It is an object of the present invention to provide a solidus temperature or liquidus temperature at which the liquidus temperature is 210, preferably 200 or less, while at the same time the solidification of the alloy ends or substantially ends, respectively. The purpose is to provide a lead-free solder alloy whose peak temperature is close to the liquidus temperature. Another object of the present invention is to provide a lead-free solder alloy having good adhesive strength after soldering.
  • a more specific object of the present invention is to provide a lead-free solder alloy having the following characteristics.
  • the bonding strength must be high so that it does not peel off even if impact is applied to the soldered area.
  • Sn-9Zn alloy (eutectic temperature: 199 ° C) is a Sn-based alloy having a eutectic temperature close to the eutectic temperature (183 ° C) of the Sn-alloy eutectic alloy.
  • Sn-9Zn alloy does not have good mechanical strength, especially tensile strength, so it cannot provide good adhesive strength when used for soldering.
  • Ni, Ag, and / or Cu can significantly improve the tensile strength, and thus the bond strength, of Sn-Zn alloys so that they can be fully used for soldering electronic components. Found to be effective.
  • the melting temperature of solder alloys with improved tensile strength in this way can be high enough to thermally damage electronic components during soldering, especially when Ag is added.
  • adding a relatively large amount of Bi together with Ag can improve the tensile strength without significantly increasing the melting temperature.
  • the present invention provides
  • N i 0. 01 ⁇ 1 wt 0 , Ag:. 0. 05 ⁇ 3 5 wt%, and Cu: selected from 0.. 1 to 3 wt% At least one;
  • Bi 0 to 30w: In: 0 to 3 wt%; P: 0 to l%;
  • Consists essentially of, tensile strength 5 kg f / mm 2 or more, Pb-rie elongation is 10% or more is an alloy I.
  • the lead-free solder alloy of the present invention comprises:
  • Ni at least one selected from 0.01 to 1 wt%, Ag: 0.1 to 3.5 wt%, and Cu: 0.1 to 3 wt%,
  • Bi 0.2 to 6 wt%.
  • P 0.001 to 1 wt%, or one or more of them.
  • the balance consists essentially of Sn,
  • the lead-free solder alloy of the present invention comprises: Zn: 2 to 10 wt%, Bi: 10 to 30 wt%, Ag: 0.05 to wt%, and P: 0.001 to 1 as an optional additive element. It consists essentially of wt%, with the balance being Sn.
  • the lead-free solder alloy according to the present invention is a substitute for the conventional Sn—Pb alloy. Therefore, it is desirable that the melting temperature range of this alloy, that is, the liquidus temperature and the solidus temperature are close to the eutectic temperature of the Sn—Pb alloy, which is 183 ° C.
  • the melting temperature range of the lead-free solder alloy of the present invention is preferably 183 ° C ⁇ 30 ° C.
  • the liquidus temperature is preferably below 210 ° C, more preferably below 200 ° C. If the liquidus temperature of the solder alloy is 210 ° C or lower, the soldering temperature can be 250 ° C or lower, and the thermal effect on electronic components can be eliminated or reduced.
  • the solidus temperature (or peak temperature) of the solder alloy is preferably at least 150 degrees, more preferably at least 170 degrees, particularly preferably at least 180 ° C. When the solidus temperature falls below 0, it takes time for the solder alloy to solidify after soldering. Will wake up.
  • the joint strength of the soldered part correlates with the tensile strength of the solder alloy used, and the level of tensile strength required for the solder alloy varies depending on the purpose of soldering. (At break) Tensile strength required for solder alloys used for soldering of electronic components is on the 5 kg f / mm 2 or more.
  • solder alloys must have an elongation percentage that can be linearly deformed by plastic working so that the solder alloy can be used in a linear form when soldering with a soldering iron. There is. For smooth plastic working, at least 10% elongation is required for solder alloys.
  • the solder alloy of the present invention satisfies the required mechanical properties of a tensile strength at break of 5 kgf / mm 2 or more and an elongation of 10% or more.
  • the tensile strength is 10 kg i / ram 2 and / or the elongation is 20% or more.
  • the lead-free solder alloy of the second aspect of the invention which contains a large amount of Bi.
  • a large amount of Bi is added to the Sn—Zn alloy.
  • the liquidus temperature of the alloy decreases, but the solidus temperature may also drop further toward the eutectic temperature of Sn-Bi.
  • the peak temperature is reduced by 170 ° It can be increased to C or more, so that it can be sufficiently used as an alternative alloy for the Sn_Pb eutectic solder.
  • the solder alloy according to the first aspect of the present invention comprises at least one selected from Zn: 7 to 10 wt%; Ni: 0.01 to 1 wt%, Ag: 0.1 to 3.5 wt%, and Cu: 0.1 to 3 wt%.
  • the liquidus temperature of the alloy is 183 ⁇ 30 °.
  • the Zn content is preferably 8-10%, more preferably 8.5-9.5%.
  • Ni 0.01 to 1%
  • Ag 0.1 to 3.5%
  • Cu 0.1 to 3%
  • Ni has the effect of refining the crystal in the solidification structure of the Sn-Zn-based alloy and improving the mechanical properties. This effect is scarce when the Ni content is less than 0.01%. If more than 1% of Ni is added, the liquidus temperature of the base metal rises sharply and the soldering temperature rises, causing thermal damage to electronic components.
  • the Ni content is preferably 0.05-0.5%, more preferably 0.1-0.3%, and most preferably 0.1-0.2%.
  • the Ag also has the effect of improving the mechanical strength of the Sn-Zn alloy, but is also effective in improving the corrosion resistance of this alloy. If the amount of Ag is less than 0.1%, these effects hardly appear, and if it exceeds 3.5%, the liquidus temperature rises sharply, and the soldering temperature rises, causing heat to the electronic components. Will cause damage.
  • the Ag content is preferably 0.1-2.0%, more preferably 0.1-1.0%, most preferably 0.1-0.5%.
  • Cu also has an excellent effect on improving the mechanical strength of the Sn—Zn base metal. Also, the melting When soldering electronic components to a printed circuit board whose conductor is copper foil by the immersion soldering method in a soldering bath, if Cu is present in the molten solder bath, There is also an effect of suppressing the copper foil from diffusing into the molten solder. If the added amount of Cu is less than 0.1%, these effects hardly appear.If the added amount exceeds 3%, intermetallic compounds of Sn_Cu precipitate, and the liquidus temperature rises rapidly, impairing solderability. To do so.
  • the Cu content is preferably between 0.1 and 2.0%, more preferably between 0.1 and 1.0%, and most preferably between 0.1 and 0.5%.
  • Addition of Bi or In to a Sn_Zn alloy containing one or more of Ag, Cu, and Ni10 can reduce the melting temperature with a small amount. And In or one or both of them may be added in a relatively small amount. However, if the amount of Bi is less than 0.2% or the amount of In is less than 0.5%, the melting temperature of the alloy hardly decreases.
  • the added amount is preferably ⁇ to 6%, more preferably 2 to 5%.
  • the maximum amount of In added is set to 3%.
  • In is added, its amount is preferably 1 to 3%, and more preferably 2 to 3%.
  • Zn is a metal that is very oxidizable
  • Zn is preferentially oxidized to form 25 oxides of Zn while holding the solder alloy containing Zn in the molten state during immersion soldering. This can hinder soldering and cause poor soldering.
  • P is added to a solder alloy containing Zn
  • P forms a thin film on the surface of the molten solder alloy and prevents the solder alloy from directly contacting the surrounding air, thus effectively suppressing the oxidation of the molten solder alloy. You. Such an antioxidant effect hardly appears when the added amount of P is less than 0.001%. If the added amount of P is more than 1%, the solderability will decrease. Be inhibited.
  • the addition amount is preferably 0.005 to 0.5%, more preferably 0.005 to 0.1%, and most preferably 0.005 to 0.05%.
  • the melting temperature of the base metal may increase significantly.
  • Bi may be added in a relatively large amount (10 to 30%) for the purpose of lowering the melting temperature according to the second embodiment of the present invention.
  • the solder alloy according to the second embodiment of the present invention is essentially composed of Zn: 2-10%, B: 10-30%, Ag: 0.05-2%, P: 0.001-1% as an optional additive element, and the balance of Sn. It has the following composition. Due to the relatively large amount of Bi added, the solidus temperature of this solder alloy may drop to around 135 ° C. However, by setting the addition amounts of Zn and Ag to the above range (1), the peak temperature of the alloy can be set to 170 or more, and almost 180 in most cases. Therefore, during soldering, the solidification of the solder alloy occurs within a relatively short period of time, and the occurrence of cracks in the soldered part is minimized even when subjected to vibration or impact during cooling after soldering. Can be suppressed.
  • the liquidus temperature of the alloy becomes 200 or less.
  • the Zn content is preferably 4 to 10 ', more preferably 7 to 10%.
  • the added amount of Bi is preferably 10 to 25%, more preferably 15 to 25%, and most preferably 18 to 24%.
  • Ag has the effect of improving the mechanical strength of the Sn-Zn base metal, and is also effective in improving the corrosion resistance of this base metal.
  • Sn-Zn based alloys containing 10-30% Bi these effects hardly appear when the amount of Ag added is less than 0.05%, and the liquidus temperature exceeds 2%. Temperature rises sharply, and the soldering temperature rises, causing thermal damage to electronic components.
  • the Ag content is preferably 0.05-1%, more preferably 0.05-0.5% and most preferably 0.1-0.3%.
  • may be added as in the first embodiment.
  • This example illustrates a Sn-Zn based solder alloy according to the first aspect of the present invention, wherein Ag and / or P are optionally added together with Bi, In and / or P.
  • a molten solder alloy having the composition shown in Table 1 was produced to obtain a tensile test specimen compliant with the J1S standard having a central portion having a length of 50 mm and a straight S of 10 mm.
  • the results of measuring the tensile strength at break and elongation of each solder alloy using this tensile test specimen are also shown in Table 1.
  • ⁇ Table 1 also shows the melting temperature of each solder base determined by differential thermal analysis, That is, it indicates the solidus temperature (ST) and the liquidus temperature (LT).
  • the molten solder alloy of alloy number 1 in Table 1 was placed in the solder bath of the automatic immersion soldering equipment, and the electronic components were soldered to the printed circuit board while maintaining the temperature of the molten solder alloy at 240. . Visual inspection of the soldered electronic components revealed no signs of thermal damage to the components.
  • solder alloys of the present invention shown in Table 1 can be similarly used for soldering. Since all of these solder alloys have a liquidus temperature of 210 ° C or less, immersion soldering can be performed by setting the temperature of the molten solder alloy (soldering temperature) to 250 or less. Thus, ripening damage to electronic components is eliminated or minimized. In addition, since the solidus temperature of these solder alloys is as high as 180 ° C. or higher, the solidification temperature range is reduced, and the molten solder alloy in the soldered portion solidifies quickly after soldering in a short time. Less cracks in the solder
  • alloy number 3 containing P When alloy number 3 containing P is used for immersion soldering in the molten state, zinc oxidation in the solder bath can be prevented as described above, and the number of operations to remove oxides from the solder bath is reduced. .
  • solder alloy of the present invention examples shown in Table 1, the tensile strength is 5 kg f / mm 2 or more, elongation rate was 10% or more (20% or more except for Alloy No. 4). Therefore, when soldering is performed using these solder alloys, the soldered portion has sufficient adhesive strength, and can be sufficiently plastically processed into a linear shape. Unfortunately. In contrast, conventional lead-rie solder alloy, is higher than the liquidus temperature is 210 hands, and / or tensile strength 5 kg f / mm also rather less than 2 at an elongation of less than 10% there were Example 2
  • This embodiment according to a first aspect of the present invention, alone N i, or, illustrate C U, B i, 1 n and Roh or Sn- Zn based solder alloy added together with P.
  • Table 2 shows the alloy composition of the prepared solder alloy, together with the tensile strength, elongation, and melting temperature (liquidus temperature and solidus temperature) measured as described in Example 1.
  • the molten solder alloy of alloy number 1 in Table 2 was placed in the solder bath of the automatic immersion soldering equipment, and the electronic components were soldered to the printed circuit board while maintaining the temperature of the molten solder base at 240. Was. Visual inspection of the soldered electronic components revealed no signs of thermal damage to the components.
  • the liquidus temperatures of all the solder alloys shown in this table are 210 ° C or lower, the temperature of the molten solder alloy (soldering temperature) is set to 250 ° C or lower and the immersion soldering is performed. It can be carried out. Therefore, thermal damage to the compress parts is eliminated or minimized.
  • the solidus temperature of these solder alloys is as high as 180 ° C or higher, the solidification temperature K becomes narrower, and the molten solder alloy in the soldered area solidifies quickly and quickly after soldering. There are few cracks. Table 2
  • alloy numbers 3, 11, and 13 containing P are used for immersion soldering in the molten state, zinc oxidation in the solder bath can be prevented as described above, and work to remove oxides from the solder bath The number of times is small.
  • solder alloys of the present invention examples shown in Table 2 had a tensile strength of 5 kgf / mm 2 or more and an elongation of 20% or more. Therefore, when soldering is performed using these solder alloys, the soldered portion has sufficient adhesive strength, and can be sufficiently plastically processed into a linear shape. It is difficult
  • a Sn—Zn-based solder alloy containing Ag together with a relatively large number of Bi and optionally adding P is exemplified.
  • the alloy composition of the prepared solder alloy is shown in a table, along with the tensile strength, elongation, and melting temperature (liquidus temperature, peak temperature, and solidus temperature) measured as described in Example 1.
  • Figure 3 shows. Table 3
  • the solidus temperature of these solder alloys is relatively low (within the range of 134 to 164), the peak temperature at which the solder alloy actually solidifies is within the range of 176 to 189 ° C. It is much higher than the phase line temperature. Therefore, despite the low solidus temperature, these alloys solidify substantially in a short time during soldering, minimizing cracks in the soldered area even if subjected to vibration or shock during cooling. .
  • solder alloys of the present invention shown in Table 3 had a tensile strength of 10 kgf / mm 2 or more and an elongation of 10% or more. Therefore, when soldering is performed using these solder alloys, the soldered portion has sufficient adhesive strength, and can be sufficiently plastically processed into a linear shape, and peels off even when an impact is applied to the soldered portion. Hateful.
  • the solder alloy according to the present invention is a lead-free Sn-based alloy, as shown in Examples 1 and 2, the liquidus temperature is 210 ° C or lower and the solidus temperature is 180 ° C. ° C or above, or as shown in Example 3, the liquidus temperature is below 200 ° C and the peak temperature is above 170 ° C, and the solidification temperature range between the liquidus temperature and the solidus temperature or peak temperature Are relatively narrow. Therefore, thermal damage to the electronic components during soldering is eliminated or minimized, and cracks in the soldered portion are also minimized.
  • the solder alloy of the present invention exhibits a 5 kg f / mm 2 or more tensile strength and 10% or more of elongation, high bonding strength of the soldering portion, the soldering portion even when subjected to impact It is hard to peel off and can be easily plastically processed into a linear shape. Therefore, the lead-free solder alloy of the present invention can be sufficiently used in place of Sn-Pb generally used for soldering electronic components, thereby preventing Pb contamination of groundwater. it can.

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Description

明 細 書 鉛フ リ一はんだ合金 技術分野
本発明は、 鉛を全く 含有せず、 しかも熱損傷を与えずに電子部品をはんだ付け するのに適したはんだ合金に関する。
背景技術
Sn - Pb合金は古来より長い間はんだ付けに使用されてきたが、 電子部品をプリ ン ト基板等にはんだ付けする場合のはんだ合金についても、 未だに Sn - Pb合金が 最も一般的である。
テレビ、 ラ ジオ、 ビデオ、 テープレコーダー、 コ ンピューター、 複写機、 プリ ン夕のような電子機器は、 廃棄に際して埋め立て処分されることがある。 これら の電子機器は、 外枠やプリ ン ト基板がプラスチッ クのような合成樹脂、 導体部や フ レームが金属製、 といったように多様な材料から構成されているので、 焼却処 分には適していないからである。
近年、 ガソ リ ン、 重油等の化石燃料の多用により、 大気中に硫黄酸化物が大量 に放出されて雨の酸性度が增してきているので、 酸性雨の影響が顕著になってい る。 酸性雨は地中に埋められた電子機器に使われているはんだを溶出させて地下 にしみ込ませ、 地下水を汚染するようになる。 こう して鉛で汚染された地下水を 長年飲用していると、 人体に鉛分が蓄積され、 鉛毒を起こす恐れが出てく る。 こ のような機運から、 電子機器業界では、 鉛を含まないはんだ、 所謂 「鉛フ リ ーは んだ合金」 が求められている。
従来より鉛フ リーはんだ合金と して、 Sn主成分の Sn— Ag合金や Sn - Sb合金があ つた。 Sn _ Ag合金では、 Sn— 3. 5 Agが共晶組織の合金で、 その溶融温度は 221 °C である。 この最も融点が低い共晶組織の Sn - Ag合金を使用しても、 はんだ付け温 度は 260〜280 °Cというかなり高い温度であり、 この温度ではんだ付けを行う と 熱に弱い電子部品は熱損傷を受けて機能劣化や破壊等を起こ してしま う恐れがあ る。 また、 Sn— Sb合金で最も溶融温度の低い組成は Sn— 5 Sbであるが、 この組成 の溶融温度は、 固相線温度で 235 て、 液相線温度で 240 てという高い温度である ため、 はんだ付け温度は、 Sn—3. 5 Ag合金より もさ らに高い 280 〜300 °Cとなり 、 やはり熱に弱い電子部品を熱損傷が避けられない。
このように Sn— Ag合金や Sn— Sb合金の溶融温度がかなり高いため、 これらの合 金の溶融温度を低下させる手段を講じたはんだ合金が多数提案されている。 例え ば、 特開平 6 - 15476 号公報、 同 6 — 344180号公報、 同 7 — 1 178号公報、 同 Ί - 40079 号公報、 同 7 - 51883 号公報を参照。
これらの公報に開示されているはんだ合金は、 溶融温度を下げるために、 B iや I nを多量に含有する。 B iと I nは共に Sn - Agおよび Sn - Sbはんだ合金の溶融温度を 下げるのに有効であるものの、 その多量添加には次の問題がある。 B iを多量に添 加すると、 はんだ合金が非常に硬く 、 かつ脆く なつてしまう。 その結果、 はんだ 合金を線状に塑性加工できなく なつたり、 電子部品のはんだ付けに使用すると、 はんだ付け部に少しの衝撃が加わっただけで簡単に剝離してしま う ことが起こる 。 I nは価格が非常に高いため、 はんだ合金に大量に添加することは望ま し く ない。 はんだ付け中における電子部品を熱損傷を避けるには、 はんだ付け温度を 250 て以下とすることが適当であり、 この温度ではんだ付けを行うには、 はんだ台金 の液相線温度が 210 て以下、 好ま しく は 200 °C以下であることが望ま しい。
しかし、 B iおよび または I nを添加して Sn— Agまたは Sn— Sbはんだ合金の液相 線温度を下げる従来の手段では、 B iおよび/または 1 nを多量に添加しないと液相 線温度を 200 °C以下に低下させることは困難である。 その上、 たとえ液相線温度 を 200 て以下に低下することができても、 合金の凝固が終了する温度である固相 線温度が低く なりすぎて、 はんだ付け後にはんだ付け部の合金が完全に凝固する までに時間がかかる。 その結果、 はんだ付け部が完全凝固する前に少しでも振動 や衝撃を受けると、 はんだ付け部にヒ ビ割れが起こつてしまう。
従来の鉛フ リ ーはんだ合金の別の問題点は、 液相線温度を固相線温度に近づく ように下げると、 引張強度や伸び率といった機械的特性が不十分となって、 はん だ付け後の接着強度が弱く なり、 衝撃を受けると簡単に剝がれることである。 本発明の目的は、 液相線温度が 210 て、 好ま し く は 200 て以下であり、 同時に 合金の凝固がそれぞれ終了または実質的に終了する温度である固相線温度または ピーク温度が液相線温度に近い鉛フ リ一はんだ合金を提供することである。 本発明の別の目的は、 はんだ付け後の接着強度が良好な鉛フ リ一はんだ合金を 提供することである。
本発明のより具体的な目的は、 次のような特性を備えた鉛フ リ ーはんだ合金を 提供することである。
1 ) はんだ付け中に熱に弱い電子部品に対して熱損慯を与えないように、 250 °C 以下、 好ま し く は 230〜240 °Cの温度ではんだ付けできること。
2) はんだ付け性が極めて良好であること。
3) はんだ付け後にすばやく 凝固して、 はんだ付け直後に振動や衝撃が加わって もはんだ付け部がヒ ビ割れや剝離を起こさないように、 液相線温度と固相線温度
(または合金の凝固が実質的に終了する ピーク温度) との間の温度範囲 (凝固温 度範囲) が狭く 、 かつ Sn - Pb合金の共晶温度に近いこと。
4) はんだ付け後、 はんだ付け部に衝擊が加えられても剥離しないように接着強 度が高いこと。
5) はんだごてを用いてはんだ付けできるよう、 線状に塑性加工し易いこと。
発明の開示
Sn - 合金共晶台金の共晶温度(183°C ) に近い共晶温度を持つ Sn主成分の台金 と して、 Sn— 9Zn 合金 (共晶温度 : 199 °C ) がある。 しかし、 Sn— 9Zn 合金は、 機械的強度、 特に引張り強度があま り高く ないため、 はんだ付けに使用しても良 好な接着強度が得られない。 本発明者らは、 N i、 Ag、 および または C uの添加が 、 Sn - Zn合金の引張強度、 従って接着強度を、 電子部品のはんだ付けに十分に使 用できるように改善するのに極めて有効であることを見出した。
このように引張強度を向上させたはんだ合金の溶融温度は、 特に Agを添加した 場合に、 はんだ付け時に電子部品を熱損傷させてしま う程度まで高く なつてしま う ことがある。 そのような場合には、 Agと一緒に比較的多量の B iを添加すると、 溶融温度を著し く高めずに、 引張強度を向上することができる。
広義には、 本発明は、
Zn: 2〜10wt % ;
N i : 0. 01〜 1 wt 0、 Ag: 0. 05〜3. 5 wt %、 および Cu : 0. 1〜 3 wt %から選んだ 少なく と も 1種 ;
Bi : 0〜30w : In : 0 ~ 3 wt% ; P : 0〜 l % ;
残部 Sn、
から本質的になり、 引張強度が 5 kg f /mm2 以上、 伸びが 10%以上である鉛フ リ ーは んだ合金である。
1 態様において、 本発明の鉛フ リーはんだ合金は、
Zn : 7 〜10wt% ;
Ni : 0.01〜 1 wt%、 Ag: 0.1~3.5 wt%および Cu : 0.1〜 3 wt %から選ばれた 少なく と も 1 種、
任意添加元素と して Bi : 0.2~ 6 wt%. In : 0.5〜 3 wt %、 P : 0.001 〜 1 wt %の 1 種もし く は 2種以上、
残部 Sn、 から本質的になる。
別の態様において、 本発明の鉛フ リ ーはんだ合金は、 Zn: 2〜10wt%、 Bi : 10 〜30wt%、 Ag: 0·05〜 wt%、 任意添加元素と して P : 0.001〜 1 wt%、 残部 Sn から本質的になる。
発明を実施するための最良の形態
本発明を以下に詳細に説明する。 以下の説明において、 合金組成に関する は 全て重量%である。
本発明にかかる鉛フ リ 一はんだ合金は、 従来の Sn— Pb合金の代替品となる もの である。 従って、 この合金の溶融温度範囲、 即ち、 液相線温度と固相線温度は、 Sn— Pb合金の共晶温度である 183 °Cに近いことが望ま しい。 本発明の鉛フ リ 一は んだ合金の溶融温度範囲は好ま しく は 183°C±30°Cである。 液相線温度は好ま し く は 210 て以下、 より好ま し く は 200 °C以下である。 はんだ合金の液相線温度が 210 て以下であれば、 はんだ付け温度を 250 °C以下とすることができ、 電子部品 への熱影響を解消ないし少なく できる。 また、 はんだ合金の固相線温度 (または ピーク温度) は好ま し く は 150 て以上、 より好ま しく は 170 て以上、 特に好ま し く は 180 °C以上である。 固相線温度が 0 より も下がると、 はんだ付け後には んだ合金が凝固するまでに時間がかかって、 その間にはんだ付け部に多少の衝撃 や振動が加わつた場合、 はんだ付け部がひび割れを起こ してしま う。 はんだ付け部の接合強度は、 使用したはんだ合金の引張強度に相関し、 はんだ 合金に要求される引張強度の水準ははんだ付けの目的に応じて異なる。 電子部品 のはんだ付け用に用いるはんだ合金に必要な (破断点) 引張強度は 5 kg f /mm 2 以 上である。 はんだ合金の引張強度が 5 kg f /mm2 未満であると、 はんだ付け部に衝 撃が加わった場合に容易に剝離してしま う ことがあるので信頼性が低下する。 また、 一般にはんだ合金は、 はんだごてを使ってはんだ付けする場合にはんだ 合金を線状形態で使用できるようにするため、 塑性加工により線状に変形できる 程度の伸び率を有している必要がある。 塑性加工を円滑に行うには、 少なく と も 10%の伸び率がはんだ合金に要求される。
本発明のはんだ合金は、 破断点引張強度が 5 k g f /mm2 以上、 伸び率が 10 %以上 という必要な機械的特性を満たしている。 好ま し く は、 引張強度が 10 kg i /ram2お よび または伸び率が 20 %以上である。
と ころで、 2成分系合金を溶融状態から固化するように冷却していく と、 液体 中に固体を晶出し始める液相線温度と、 全てが完全に凝固し終わる固相線温度と に熱の大きな放出がある。 従って、 この冷却過程を示差熱分析で追跡すると、 液 相線温度と固相線温度のところでチャー トは山形となる。
—方、 3成分系以上の合金では、 液相線温度と固相線温度との間に固相線温度 より も熱の放出の多い温度が見られることがある。 この場合には、 温度が固相線 温度に達しないうちに、 上記の温度で合金がほとんどが凝固してしま う。 このよ うな合金の冷却過程を示差熱分析すると、 液相線温度と固相線温度との間に固相 線温度におけるより も熱放出の大きな山形を持ったチャー トが得られることから 、 この熱放出の大きい温度をピーク温度と称している。 液相線温度と固相線温度 との間にこのピーク温度を持つ合金は、 固相線温度まで降温する前に、 ピーク温 度で合金がほとんど凝固してしま うので、 ピーク温度を実質的に固相線温度と見 なすことができる。 このようなピーク温度を持つ合金では、 ピーク温度が 170 °C 以上であれば、 固相線温度 150 °C未満と低くても、 電子部品用のはんだ合金と し て充分使用可能となる。
この状況は、 特に多量の B iを含有する、 本発明の上記第 2の態様の鉛フ リ ーは んだ合金についてあてはまる。 この態様では、 Sn— Zn系合金に B iを大量に添加す るため、 合金の液相線温度が下がるが、 固相線温度も、 Sn - Biの共晶温度である 135 てに向かってさ らに大き く低下することがある。 しかし、 本発明によれば、 かかる Sn— Zn— Bi系はんだ合金でも、 組成を適当に選択することにより、 合金の 固相線温度が 135 °C近辺まで低下しても、 ピーク温度を 170 °C以上にすることが でき、 それにより Sn_Pb共晶はんだの代替合金と して十分に使用できる。
本発明の第 1の態様におけるはんだ合金は、 Zn: 7〜10wt% ; Ni : 0.01〜 1 wt %、 Ag : 0.1~3.5 wt%および Cu: 0.1〜 3 wt%から選ばれた少なく と も 1種 ; 任意添加元素と して Bi : 0.2〜 6wt%、 In: 0.5~ 3 wt%, P : 0.001- 1 wt% の 1種も し く は 2種以上、 残部 Sn、 から本質的になる組成を有する。 この合金組 成の限定理由を次に説明する。
Zn: 7〜10%
第 1 の態様に従って Biおよび/または Inを全く または少量しか含有しない Sn— Zn系合金では、 Znの添加 Sが 7 %未満または 10%超になると、 合金の液相線温度 が 183±30°Cの «5囲内、 好ま し く は 210 て以下にならない。 Zn含有量は好ま し く は 8〜10%、 より好ま し く は 8.5~9.5 %である。
Ni : 0.01~ 1 %、 Ag: 0.1〜3.5 %、 Cu : 0.1〜 3 %
Niは、 Sn - Zn系合金の凝固組織中の桔晶を微細化し、 機械的特性を改善する効 果がある。 この効果は Ni添加量が 0.01%未满ではほとんどない。 1 %より多量に Niを添加すると、 台金の液相線温度が急激に高く なり、 はんだ付け温度が高く な るため、 電子部品に熱損傷を与えるようになってしま う。 Ni含有量は、 好ま し く は 0.05〜0.5 %、 より好ま し く は 0.1~0.3 %、 最も好ま し く は 0.1〜0.2 %で ある。
Agも Sn - Zn系合金の機械的強度を改善する効果があるが、 同時にこの合金の耐 食性の向上にも有効である。 Ag添加量が 0.1 %より少ないと、 これらの効果がほ とんど現れず、 3.5 %を越えると、 液相線温度が急激に上昇してしまい、 はんだ 付け温度が高く なつて電子部品に熱損傷を与えるようになる。 Ag含有量は、 好ま し く は 0.1~2.0 %、 より好ま しく は 0.1〜1.0 %、 最も好ま しく は 0.1〜0.5 %である。
Cuも、 Sn— Zn系台金の機械的強度改善に優れた効果を発揮する。 また、 溶融は んだ浴中での浸漬はんだ付け法により、 導体が銅箔であるプリ ン 卜基板に電子部 品をはんだ付けする場合、 溶融はんだ浴中に Cuが存在していると、 プリ ン ト基板 の銅箔を溶融はんだ中に拡散することを抑制する効果もある。 Cuの添加量が 0.1 %より少ないと これらの効果がほとんど現れず、 3 %を越えると、 Sn_Cuの金属 5 間化合物が析出し、 急激に液相線温度が上昇して、 はんだ付け性を阻害するよう になる。 Cu含有量は、 好ま しく は 0.1〜2.0 %、 より好ま しく は 0.1~1.0 %、 最も好ま し く は 0.1〜0.5 %である。
Bi : 0.2〜 6 %、 In : 0.5~ 3 %
Ag、 Cu、 Niの 1 種も し く は 2種以上を含有する Sn_ Zn合金に Biや Inを添加する 10 と、 少量で溶融温度を下げることができるので、 任意添加元素と して、 Biと Inの —方または両方を比絞的少量添加してもよい。 しかし、 Biの添加量が 0.2 %より 少ないか、 Inの添加量が 0.5 %より少ないと、 合金の溶融温度はほとんと低下し ない。
Ag、 Niの 1 種も しく は 2種以上を含有する Sn— Zn合金に 6 %より多量に Bi 15 を添加すると、 合金が硬く 、 脆く なり、 はんだ合金を線状にするための塑性加工 が困難となるばかりでな く 、 はんだ付け後に衝擊が加わるとはんだ部が容易に剝 離するようになってしま う。 Biを添加する場合、 その添加量は好ま し く は 】 〜 6 %、 より好ま し く は 2〜 5 %である。
Inは非常に高価な金属であり、 多量に添加しすぎると溶融温度範囲が 183て ± 20 30°Cを外れてしま う。 従って、 Inの最大添加量を 3 %とする。 Inを添加する場合 、 その添加量は好ま し く は 1〜 3 %、 より好ま し く は 2 ~ 3 %である。
P : 0.00卜 1 %
Znは非常に酸化しやすい金属であるため、 Znを含むはんだ合金を浸漬はんだ付 けにおいて溶融状態に保持している間に、 Znが優先的に酸化されて Znの酸化物が 25 生成し、 これがはんだ付けを阻害して、 はんだ付け不良を起こすことがある。 Zn を含むはんだ合金に Pを添加すると、 Pは溶融したはんだ合金の表面に薄い膜を 形成し、 はんだ合金が周囲空気と直接触れるのを妨げるので、 溶融はんだ合金の 酸化が効果的に抑制される。 かかる酸化抑制作用は、 Pの添加量が 0.001%より 少ないとほとんど現れない。 Pの添加量が 1 %より多く なると、 はんだ付け性が 阻害される。 Pを添加する場合、 その添加量は好ま しく は 0.005〜0.5 %、 より 好ま し く は 0.005~0.1 %、 最も好ま し く は 0.005〜0.05%である。
機械的特性改善のために Sn - Zn系はんだ合金に Agを単独で (Niや Cuを添加せず に) 添加すると、 台金の溶融温度が著し く 高く なる場合がある。 その場合には、 本発明の第 2の態様に従って、 溶融温度を低下させる目的で、 Biを比蛟的多量に (10〜30%) 添加してもよい。
本発明の第 2の態様のはんだ合金は、 Zn : 2 -10%, B 10〜30%、 Ag: 0.05 〜 2 %、 任意添加元素と して P : 0.001〜 1 %、 残部 Snから本質的になる組成を 有する。 Biを比铰的多量に添加したため、 このはんだ合金は固相線温度が 135 °C 付近まで下がることがある。 しかし、 Znと Agの添加量を上記範囲內とすることに より、 合金のピーク温度は 170 て以上、 ほとんどの場合には 180 て近辺にするこ とができる。 従って、 はんだ付け時にこのはんだ合金の実質的な凝固は比铰的短 時間のうちに起こり、 はんだ付け後の冷却中に振動や衝擊を受けてもはんだ付け 部のヒ ビ割れ発生は最小限に抑えられる。
この本発明の第 2の態様のはんだ合金の合金組成の限定理由を次に説明する。 Zn : 2〜 。
第 1の態様に従って Biを比^的多 Sに添加した Sn- Zn系台金では、 Znの 加 fi が 2 %未满または 10%超になると、 合金の液相線温度が 200 て以下にならない Agと Biの併用添加の効果を十分に享受するには、 Zn含有量は好ま し く は 4 〜 10' 、 より好ま し く は 7〜10%である。
Bi : 10〜30%
Biの添加量が 10%より も少ないと Sn— Zn_Ag系合金の液相線温度を 200 °C以下 に下げることができず、 30%を越えて添加すると、 伸びが少なく なつて合金に脆 さが出てきてしまう。 Biの添加量は好ま しく は 10〜25%、 より好ま し く は 15~25 ¾>、 最も好ま し く は 18〜24%である。
Ag : 0.05〜 2 %
Agは Sn - Zn系台金の機械的強度を改善する効果があり、 またこの台金の耐食性 の向上にも有効である。 10〜30%の Biを含有する Sn - Zn系台金では、 Ag添加量が 0.05%より少ないとこれらの効果がほとんど現れず、 2 %を越えると液相線温度 が急激に上昇してしまい、 はんだ付け温度が高く なって電子部品に熱損傷を与え るようになる。 Ag含有量は、 好ま し く は 0. 05〜 1 %、 より好ま し く は 0. 05〜0. 5 %、 最も好ま し く は 0. 1〜0. 3 %である。
P : 0. 001〜 1 %
溶融状態でのはんだ合金の Ζ πの酸化を防止するため、 第 1 の態様と同様に Ρを 添加してもよい。
以下、 実施例により本発明を具体的に説明する。 これらの実施例は本発明の例 示にすぎず、 本発明を制限するものではない。
実施例
実施例 1
本実施例は、 本発明の第 1 の態様に従って、 Agおよびノまたは を、 場合によ り B i、 I nおよび/または Pと共に添加した S n— Z n系はんだ合金を例示する。
表 1 に示す組成の溶融はんだ合金を銪造して、 中央に長さ 50 mm 、 直 S 10 mm のネ ッ ク部を持つ、 J 1 S 規格に準拠した引張試験片を得た。 この引張試験片を用 いて各はんだ合金の破断点引張強度と伸び率を測定した結果を表 1 に併せて示す < 表 1 にはまた、 示差熱分析により求めた各はんだ台金の溶融温度、 即ち、 固相 線温度(S. T. )と液相線温度(L. T. )とを示す。
比铰のために、 従来の鉛フ リ ーはんだ台金についても上記と同様に試験し、 試 験桔果を表 1 に一緒に示す。
表 1 の合金番号 1 の溶融はんだ合金を自動浸漬はんだ付け装置のはんだ槽に入 れ、 溶融はんだ合金の温度を 240 てに保持しながら、 プリ ン ト基板への電子部品 のはんだ付けを行った。 はんだ付けされた電子部品を目視で検査したと ころ、 熱 による電子部品の損傷の徽候は認められなかった。
表 1 に示す残りの本発明例のはんだ合金も、 同様にしてはんだ付けに使用でき る。 これらのはんだ合金はすべて液相線温度が 210 °C以下であるので、 溶融はん だ合金の温度 (はんだ付け温度) を 250 て以下にして浸漬はんだ付けを行う こと ができる。 従って、 電子部品への熟損傷は解消または最小限になる。 また、 これ らのはんだ合金は固相線温度が 180 °C以上と高いので、 凝固温度範囲が抉く なり 、 はんだ付け部の溶融はんだ合金がはんだ付け後に短時間ですばやく 凝固し、 は んだ付け部のひび割れも少ない
表 1
Figure imgf000012_0001
(,主) 来の鉛フリ一はんた台金 (i t 例)(合金番号 1〜ιιは本発明例)
待開平 T-1178号に己載のはんだ台金
ネ b 待開平 7 -40079号に記載のはんだ合金
待開平 7-51883号に己載のはんだ台金
1 M T. =溶 li^g; S. T. =固相線 L. T. =液相線
共 B日ロ金
Pを含有する合金番号 3を、 溶融状態で浸漬はんだ付けに使用すると、 前述し たようにはんだ槽内での亜鉛の酸化が防止でき、 はんだ槽から酸化物を除去する 作業回数が少なく てすむ。
表 1 に示した本発明例のはんだ合金は全て、 引張強度が 5 kg f/mm2 以上、 伸び 率が 10%以上 (合金番号 4 を除いて 20%以上) であった。 従って、 これらのはん だ合金を用いてはんだ付けを行う と、 はんだ付け部は十分な接着強度を持ち、 ま た線状に十分に塑性加工でき、 はんだ付け部に衝撃が加わつても剝がれにく し、。 これに対して、 従来の鉛フ リ ーはんだ合金は、 液相線温度が 210 てより高いか 、 および/または引張強度が 5 kg f / mm2 未満も し く は伸び率が 10%未満であった 実施例 2
本実施例は、 本発明の第 1 の態様に従って、 N iを単独で、 または 、 C U、 B i、 1 nおよびノまたは Pと一緒に添加した Sn— Zn系はんだ合金を例示する。
調製したはんだ合金の合金組成を、 実施例 1 に記載したようにして測定した引 張強度、 伸び率および溶融温度 (液相線温度と固相線温度) と共に表 2 に示す。 表 2の合金番号 1 の溶融はんだ合金を自動浸漬はんだ付け装置のはんだ槽に入 れ、 溶融はんだ台金の温度を 240 てに保持しながら、 プリ ン 卜基板への電子部品 のはんだ付けを行った。 はんだ付けされた電子部品を目視で検査したと ころ、 熱 による電子部品の損傷の徴候は Sめられなかった。
表 2からわかるように、 この表に示した全てのはんだ合金の液相線温度が 210 て以下であるので、 溶融はんだ合金の温度 (はんだ付け温度) を 250 て以下に し て浸漬はんだ付けを行う ことができる。 従って、 罨子部品への熱損傷は解消また は最小限になる。 また、 これらのはんだ合金は固相線温度が 180 °C以上と高いの で、 凝固温度 K囲が狭く なり、 はんだ付け部の溶融はんだ合金がはんだ付け後に 短時間ですばやく 凝固し、 はんだ付け部のひび割れも少ない。 表 2
Figure imgf000013_0001
(:;£) 1 : Μ. Τ. =溶融 ; S. T. =固相線 ; し Τ. =液相線 o 5
Pを含有する合金番号 3、 11および 13を、 溶融状態で浸漬はんだ付けに使用す ると、 前述したようにはんだ槽内での亜鉛の酸化が防止でき、 はんだ槽から酸化 物を除去する作業回数が少なくてすむ。
表 2 に示した本発明例のはんだ合金は全て、 引張強度が 5 kg f /mm2 以上、 伸び 率が 20%以上であった。 従って、 これらのはんだ合金を用いてはんだ付けを行う と、 はんだ付け部は十分な接着強度を持ち、 また線状に十分に塑性加工でき、 は んだ付け部に' (fi撃が加わつても剝がれにく い。
実施例 3
本実施 ί列は、 本発明の第 2の態様に従って、 Agを比铰的多置の B iと一緒に含有 し、 場合により Pを添加した Sn— Zn系はんだ合金を例示する。
調製したはんだ合金の合金組成を、 実施例 1 に記載したように して測定した引 張強度、 伸び率、 ならびに溶融温度 (液相線温度、 ピーク温度、 および固相線温 度) と共に、 表 3 に示す。 表 3
Figure imgf000014_0001
(注) 1 : Μ·τ· =溶融 : S. T. =固相線 ; ρ. τ. =ピーク ia ; L. T. =液相線 as 表 3の合金番号 1 の溶融はんだ合金を自動浸漬はんだ付け装置のはんだ槽に入 れ、 溶融はんだ合金の温度を 250 てに保持しながら、 プリ ン 卜基板への電子部品 のはんだ付けを行った。 はんだ付けされた電子部品を目視で検査したと ころ、 熱 による電子部品の損 ί»の徵候は められなかった。 表 3からわかるように、 この表に示した全てのはんだ合金の液相線温度が 200 て以下であるので、 溶融はんだ合金の温度 (はんだ付け温度) を 250 °C以下にし て浸漬はんだ付けを行う ことができる。 従って、 電子部品への熱損傷は解消また は最小限になる。 これらのはんだ合金は固相線温度が比絞的低い(134〜164 の 範囲内) が、 はんだ合金が実 K的に凝固する温度である ピーク温度は 176〜189 °Cの範囲内と、 固相線温度よりずっ と高く なる。 従って、 固相線温度が低いにも かかわらず、 これらの合金ははんだ付け時には短時間で実質的に凝固するので、 冷却中に振動や衝撃を受けてもはんだ付け部のひび割れが最小限となる。
Pを含有する台金番号 3、 6および 7を、 溶融状態で浸漬はんだ付けに使用す ると、 前述したようにはんだ槽内での亜鉛の酸化が防止でき、 はんだ槽から酸化 物を除去する作業回数が少な く てすむ。
表 3 に示した本発明例のはんだ合金は全て、 引張強度が 10kg f /mm2 以上、 伸び 率が 10 %以上であった。 従って、 これらのはんだ合金を用いてはんだ付けを行う と、 はんだ付け部は十分な接着強度を持ち、 また線状に十分に塑性加工でき、 は んだ付け部に衝撃が加わつても剝がれにく い。
産業上の利用可能性
本発明のはんだ合金は、 鉛フ リーの Sn主成分の合金であるにもかかわらず、 実 施例 1 、 2 に示すように、 液相線温度が 210 °C以下で固相線温度が 180 °C以上、 或いは実施例 3 に示すように液相線温度が 200 °C以下でピーク温度が 170 て以上 であり、 液相線温度と固相線温度またはピーク温度との間の凝固温度範囲が比铰 的狭い。 そのため、 はんだ付け中の電子部品の熱損傷が解消ないし最小限となり 、 はんだ付け部のひび割れも最小限となる。
さ らに、 本発明のはんだ合金は、 5 kg f /mm2 以上の引張強度と 10%以上の伸び 率を示すので、 はんだ付け部の接着強度が高く 、 衝撃を受けてもはんだ付け部が 剥がれにく く 、 線状の容易に塑性加工できる。 従って、 本発明の鉛フ リ ーはんだ 合金は、 電子部品のはんだ付けに現在一般に用いられている Sn— Pbに替わって十 分に使用することができ、 それにより地下水の Pb汚染を防ぐことができる。 以上に本発明を具体的に説明したが、 本発明の思想または範囲を逸脱せずに多 く の変更を加えることができることは当業者には理解されよう。

Claims

請 求 の 範 囲
1. Zn : 2〜10wt% ;
Ni : 0.01〜 1 wt%、 Ag: 0· 05〜3.5 wt%、 および Cu : 0, 1~ 3 wt%から選ん だ少なく と も 1 種 ;
Bi : 0 ~30wt%、 In: 0〜 3 wt%、 P : 0 ~ 1 % ;
残部 Sn、
から本質的になり、 引張強度が 5 kgf/mm2 以上、 伸びが 10%以上である鉛フ リ ー はんだ合金。
2. Zn : 7〜10wt% ;
Ni : 0.01〜 1 wt%、 Ag : 0.1〜3· 5 wt%および Cu : 0.1〜 3 wt όから選んだ 少なく と も 1 種、
Bi : 0 ~ 6 w 、 In : 0〜 3 wt%、 P : 0〜 l wt% ;
残部 Sn、
から本質的になる、 鉛フ リ ーはんだ合金。
3. 0.2〜 6 \^%の^と 0.5〜 3 wt%の Inの一方または両方を含有する請求の ¾ 囲第 2項記載の鉛フ リ 一はんだ合金。
4. 0.001〜 1 wt%の Pを含有する請求の ¾囲第 2項記載の鉛フ リ ーはんだ合金 c
5. 0.001〜 1 *【%の?を含有する請求の範囲第 3項記載の鉛フ リ ーはんだ台金:
6. Zn : 7〜10wt% ;
Ag : 0.1 〜3.5 wt%および Cu : 0.1〜 3 wt%の一方または両方、
Bi : 0〜 6 wt%、 In : 0〜 3 wt%、 P : 0〜 1 wt% ;
残部 Sn、
から本質的になる、 請求の範囲第 2項記載の鉛フ リ 一はんだ合金。
7. 0.2〜 6 ^^%の^と 0.5~ 3 wt%の Inの一方または両方を含有する請求の範 囲第 6項記載の鉛フ リーはんだ合金。
8. 0.001〜 1 wt%の Pを含有する請求の範囲第 6項記載の鉛フ リ 一はんだ合金,
9. 0.001〜 1 ^%の?を含有する請求の範囲第 7項記載の鉛フ リ 一はんだ合金,
10. 引張強度が 5 kgf /匪2 以上、 伸びが 10%以上である、 請求の範囲第 2項記載 の鉛フ リ 一はんだ合金。
11. 液相線温度が 210 て以下、 固相線温度が 180 °C以上である、 請求の範囲第 2 項記載の鉛フ リ 一はんだ合金。
12. Zn : 2 ~10wt% ;
Bi : 10~30wt% ;
5 Ag: 0.05〜 2 wt% ;
P : 0〜 1 wt% ;
残部 Sn、
から本質的になる、 鉛フ リ ーはんだ合金。
13. 0.001〜 1 wt%の Pを含有する請求の範囲第 12項記載の鉛フ リ ーはんだ合金 c 10
14. 引張強度が 10kgf/ram2 以上、 伸びが 10%以上である、 睛求の範囲第 12項記載 の鉛フ リ一はんだ合金。
15. 液相線温度が 200 て以下、 ピーク温度が 170 て以上である、 請求の範囲第 12 項記載の鉛フ リ 一はんだ合金。
15
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