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WO1990014582A1 - Detecteur de longueur d'onde - Google Patents

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WO1990014582A1
WO1990014582A1 PCT/JP1990/000640 JP9000640W WO9014582A1 WO 1990014582 A1 WO1990014582 A1 WO 1990014582A1 JP 9000640 W JP9000640 W JP 9000640W WO 9014582 A1 WO9014582 A1 WO 9014582A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light
detected
wavelength
reference light
beam splitter
Prior art date
Application number
PCT/JP1990/000640
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Osamu Wakabayashi
Masahiko Kowaka
Yukio Kobayashi
Original Assignee
Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho filed Critical Kabushiki Kaisha Komatsu Seisakusho
Publication of WO1990014582A1 publication Critical patent/WO1990014582A1/ja

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J9/00Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
    • G01J9/02Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
    • G01J9/0246Measuring optical wavelength
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/12Generating the spectrum; Monochromators
    • G01J3/26Generating the spectrum; Monochromators using multiple reflection, e.g. Fabry-Perot interferometer, variable interference filters

Definitions

  • the present invention relates to a wavelength detecting device for detecting a wavelength of a laser or the like, and particularly to a case where an excimer laser is used as a light source of a reduction projection exposure apparatus for manufacturing semiconductor devices.
  • the present invention relates to a wavelength detecting device suitable for wavelength detection. Background technology
  • Reduction projection exposure apparatus for manufacturing a semiconductor device (hereinafter referred to as the scan Te Tsu Bruno,. Trying to stomach) Re 0 the use of e key Shi Ma-les-over The that have been attention as a light source of the E key Shi Ma Due to the short wavelength of the laser (KrF laser is about 248.4 nm), there is a possibility that the limit of light exposure may be extended to 0.5 / «m or less. If the resolution is the same, the depth of focus is deeper and the aperture (NA) of the lens is smaller than the conventional mercury lamp g-line and i-line, and the exposure The ability to expect many excellent advantages, such as the ability to increase the area, and the ability to obtain large power, etc.
  • the wavelength of the excimer laser is as short as 248.4 nm, and the material that transmits this wavelength is quartz, CaF2, and MaF2.
  • quartz as the lens material in terms of uniformity and processing accuracy. I can't get it. Therefore, it is very difficult to design a reduced projection lens with chromatic aberration correction. Therefore, when an excimer laser is used as the light source of the stepper, the excimer laser output laser is used until the color difference is negligible. It is necessary to narrow the band of the laser light, and it is necessary to stabilize and control the wavelength of the narrowed output laser light with high precision.
  • a monitor etalon has been used to measure the wavelength line width of output light from a narrow-band oscillation excimer laser or to detect the wavelength.
  • the monitor etalon is constructed by using an air-gap-equipped port in which partial reflection mirrors are arranged opposite to each other with a predetermined gap.
  • the transmission wavelength of the Pueta port is expressed as follows.
  • n the refractive index between the partial reflection mirrors
  • 0 the optical axis of the normal to the aperture and the incident light. Is the angle between and.
  • n, d, and m are constant, 0 changes when the wavelength changes.
  • the monitor etalon utilizes this property to detect the wavelength of the light to be detected.
  • the air gap is used. If the internal pressure and ambient temperature change, the above-mentioned angle 0 will change even if the wavelength is constant. Therefore, when using a monitor etalon, wavelength detection is performed by controlling the pressure and ambient temperature in the air gap to a constant value.
  • a reference light whose wavelength is known in advance together with the light to be detected is input to the monitor etalon, and the relative wavelength of the light to be detected with respect to this reference light is detected. Accordingly, a device for detecting the absolute wavelength of the light to be detected has been proposed.
  • the reference light source and the light source of the light to be detected have different properties, for example, the reference light is a mercury lamp that can be regarded as a surface light source, and the light source of the light to be detected is In the case of a simulated laser, it is difficult to guide the reference light and the light to be detected to the monitor etalon with sufficient intensity, respectively. SZN power ⁇ Poor, could not detect absolute wavelength with high accuracy 0
  • the relative wavelength of the detected light with respect to the reference light is detected, and the absolute wavelength of the detected light is detected based on the detected light.
  • the light source of the reference light and the light source of the light to be detected are different, it is difficult to guide the reference destination and the light to be detected to the monitor port with sufficient intensity. Therefore, it was not possible to detect the absolute wavelength of the light to be detected with high accuracy.
  • the present invention can introduce the reference light and the light to be detected with sufficient intensity even if the light sources of the reference light and the light to be detected have different properties. With high accuracy
  • An object of the present invention is to provide a wavelength detecting device capable of detecting the wave length of the light to be detected. Disclosure of the invention
  • the reference light generated from the reference light source and the light to be detected are radiated to the aperture, and the light transmitted through the ethanol is transmitted.
  • a wavelength detector that detects the wavelength of the light to be detected with respect to the reference light by detecting the light with the light detecting means, the light is radiated to the aperture provided before the etalon.
  • a collimator lens means for converting light into parallel light; an illuminating means for irradiating the front focal plane of the collimator lens with reference light and light to be detected;
  • An imaging lens means is provided at the subsequent stage of the lon and forms an image of light transmitted through the etalon on a detection surface of the light detection means.
  • the front focal plane of the collector lens is illuminated by the reference light and the light to be detected. This light is converted into a parallel light at the collimator lens and radiated to the etalon.
  • the reference light and the light to be detected transmitted through this etalon are imaged by the imaging lens means on the detection surface of the light detection means, and the reference light and the detection light are formed on the detection surface.
  • the interference fringes corresponding to the detected light are formed. By detecting this interference fringe, the light detecting means detects the relative wavelength of the light to be detected with respect to the reference light, that is, the absolute wavelength of the light to be detected.
  • FIG. 1 is a diagram showing an embodiment in which the wavelength detecting device of the present invention is applied to wavelength detection of output laser light of a narrow-band excimer laser.
  • FIG. 2 is a diagram showing another embodiment of the present invention using a converging lens
  • FIG. 3 is a diagram in which a reference light source is imaged in front of the front focal plane of the collimator lens.
  • FIG. 3 is a diagram showing another embodiment of the present invention
  • FIG. 4 is a diagram showing another embodiment of the present invention in which light to be detected is introduced using a fiber.
  • FIG. 5 is a diagram showing another embodiment of the present invention in which a diffuser plate is used for the front focal plane of the collimator lens.
  • FIG. 6 is a diagram showing another embodiment of the present invention in which an optical fiber sleeve is used at the tip of the optical fiber.
  • FIG. 7 is a diagram showing another embodiment of the present invention in which the light to be detected is introduced by an optical fiber, and further the integration is used.
  • FIG. FIG. 9 is a view showing another embodiment of the present invention in which an aperture is arranged on the front focal plane of a collimator lens using a lens.
  • FIG. 1 shows an embodiment of the wavelength detecting apparatus according to the present invention.
  • the detected light is The output light 11 of the narrow-band oscillation excimer laser 10 is used, and a mercury lamp is used as the reference light source 30. That is, in the case of this embodiment, the detected light is a KrF excimer laser light having a wavelength of 248.4 noi, and the reference light is a light of a mercury lamp. 7 nm
  • a part of the laser light 11 output from the narrow-band oscillation excimer laser 10 is sampled by the beam splitter 20.
  • the sampling light is applied to the beam splitter 42 via the integration switch 41.
  • the reference light source 30 and the output reference light 31 are radiated to the other surface of the beam platter 42.
  • the beam splitter 42 transmits a part of the sampling light output from the integral light source 41 and the reference light source 30. By reflecting a part of the output reference light 31, the sampling light and the reference light are combined. The combined light of the sampling light and the reference light combined by the beam splitter 42 is passed through the condenser lens 43 to be collimated.
  • the front focal plane 50 of the lens 61 is illuminated.
  • the collimator lens 61 converts the light illuminating the front focal plane 51 into parallel rays, and irradiates the parallel rays to the etalon 62 o
  • the etalon 62 is composed of two transparent plates 62a and 62b, the inner surface of which is a partial reflection mirror, and is configured to transmit incident light to the etalon 62.
  • the transmitted wave lengths differ depending on the angle.o Transmitted through this port 62
  • the light irradiates the light position detector 64 via the imaging lens 63, and the first interference fringe and the first interference fringe corresponding to the wavelength of the reference light are detected on the detection surface of the light detector 64.
  • a second interference fringe corresponding to the wavelength of the light to be detected is formed.
  • the photodetector 64 detects the first and second interference fringes and, based on this detection, detects a relative wavelength of the wavelength of the light to be detected with respect to the wavelength of the reference light. Then, the absolute wavelength of the light to be detected is detected based on the wavelength of the known reference light and the detected relative wavelength.
  • a one-dimensional or two-dimensional image sensor, diode array, PSD (P0 SITION SENSITIVE DETECTOR), etc. is used as the photodetector 64. It can be configured by
  • interference fringes having a high light intensity can be obtained, and the absolute wavelength of the light to be detected can be detected with high accuracy.
  • the reference light and the light to be detected only need to illuminate the front focal plane of the collimator lens, it is not necessary to adjust the optical axis with high precision, and the adjustment is very difficult. It will be easier.
  • FIG. 2 shows another embodiment of the present invention.
  • the same reference numerals are given to the parts performing the functions common to each other for convenience of explanation.
  • the light to be detected sampled by the beam splitter 20 is condensed by the condenser lens 44, and the condensed light is beamed. Allow the splitter 42 to pass through, and
  • the front focal plane 50 of the collimator lens 61 is illuminated by the excessive light, and the reference light 31 generated from the reference light source 30 is beam-splitter 4.
  • the light is reflected at 2 and the reflected light illuminates the front focal plane of the collimator lens 50.
  • the front focal plane of the collimator lens 50 is illuminated by both the detected light and the reference light.
  • This illumination light is collimated by a collimator lens 61, and is transmitted through an etalon 61 and an imaging lens 63 to a detection surface of a photodetector 64.
  • Two interference fringes corresponding to the wavelengths of the reference light and the light to be detected are formed above. The absolute wavelength of the light to be detected can be detected based on these two interference fringes.
  • FIG. 3 shows still another embodiment of the present invention.
  • the detected light sampled at the beam spring 20 is transmitted through the integration lens 41 and the condenser lens 45. Then, the light is incident on the beam splitter 42, and the transmitted light of the beam splitter 42 illuminates the front focal plane 50 of the collimator lens 61.
  • the reference light 31 generated from the reference light source 30 passes through the imaging lens 46, is reflected by the beam splitter 42, and passes through the collimator lens 6.
  • An image 30 a of the reference light source is formed before the front focal plane 50 of 1.
  • the reference light source 30 is equivalent to arranging the reference light source 30 on the image 30a of the reference light source, and the front focal plane of the collimator overnight lens 61 is condensed.
  • the light collected by the lens 4 5 Irradiation is performed by the detection light and the reference light from the image 30a of the reference light source 30.
  • the following operations are the same as those shown in Fig. 1 and Fig. 2. is there .
  • the detected light sampled by the beam splitter 20 is introduced using an optical fiber. It is an example.
  • the detection light sampled at the beam splitter 20 is supplied to the optical fiber via the lens 21 and the sleeve 22.
  • the detected light input into the optical fiber 23 and transmitted through the optical fiber 23 is output through the sleeve 24, and the output light of the sleep 24
  • the beam splitter 42 is irradiated, and the transmitted light of the beam splitter 42 causes the front focal plane 50 of the collimation lens 61 to be illuminated. Light up.
  • Other configurations are the same as those shown in FIG.
  • the position of the detected excimer laser light 11 is determined.
  • the advantage is that the positional relationship between the wavelength detector and the wavelength detector can be set arbitrarily, and there is no limitation on the location of the wavelength detector.
  • FIG. 5 shows the configuration shown in FIG. 4 with the addition of a diffuser 47 to the front focal plane 50 of the collimator lens 61.
  • FIG. 6 shows a configuration in which the sleeve 24 on the output side of the optical fiber 23 in the configuration shown in FIG. 4 is replaced by an optical fiber comprising a multi-core optical fiber. This shows another embodiment replaced with a sleep.
  • FIG. 7 shows another embodiment in which the light to be detected is introduced by using an optical fiber.
  • O ⁇ 7 In FIG.
  • the sampled light to be detected is input into the optical fiber 23 via the lens 21 and the sleep 22, and this optical fiber 2
  • the detected light having transmitted 3 is output via the sleeve 24 and is irradiated on the integral evening 41 via the collar lens 26. .
  • the light output from this integral part 41 is irradiated on the beam split part 42 o
  • the reference light 31 output from the reference light source 3 ⁇ is irradiated on the other surface of the beam splitter 42.
  • the beam splitter 42 combines the detected light output from the integrator 41 and the reference light 31 output from the reference light source 30, This combined light is applied to the front focal plane of the lens 50 through the condenser lens 43.
  • the following operations are the same as those shown in Fig. 1, for example.
  • FIG. 8 shows the reference in the configuration shown in FIG.
  • New 3 ⁇ 4 3 ⁇ 4 A finoletor 32 is inserted between the light source 30 and the imaging lens 46, and furthermore, a vane and a — are connected to the front focal plane 50 of the collimator lens 61.
  • the fin 32 transmits only light of a specific wavelength out of the light generated from the reference light source 30.
  • the reference light source 30 The outlet of the mercury lamp, the filter 32, is the wavelength of the oscillating light of the rF excimer laser, which is the detected light out of the output light of the mercury lamp, that is, the wavelength 24 It selectively transmits the light of the oscillation line with a wavelength of 253.7 nm close to 8.4 nm. That is, in the case of this embodiment, only the light having a wavelength of 253.7 nm is used to illuminate the aperture 48 as the reference light. The disturbance is reduced, and the absolute wavelength of the light to be detected can be detected with higher accuracy.
  • the final lens may be configured to be inserted at a position other than between the reference light source 30 and the imaging lens 46.
  • an image 30a of the reference light source 30 is used and an imaging lens 46 is used. It is also possible to use a concave mirror in place of the imaging lens 46 to form the reference light source 30a. Further, in the above-described embodiment, the force configured to form the image 30a of the reference light source 30 before the front focal plane of the collimator lens 61 is formed. This will be imaged on the front focal plane of the collimator lens 61. It may be configured as follows.
  • a diffusing plate is provided on the front focal plane of the collimator lens 61. May be configured by inserting an aperture O
  • the air gear etalon is used, but the solid etalon is used instead of the air etalon.
  • interference fringes having sufficiently high intensity are obtained for both the reference light and the detected light, whereby the absolute wavelength of the detected light can be detected with high accuracy. You can do it. Further, since the reference light and the light to be detected merely illuminate the front focal plane of the collimator lens, high-precision optical axis alignment is not required.
  • the wavelength detecting apparatus of the present invention is particularly suitable for wavelength detection when an excimer laser is used as a light source of a reduction projection exposure apparatus for manufacturing semiconductor devices.

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Description

明 細 書 波長検出装置 術 刀
こ の発明 は レ ー ザ等の波長を検出す る 波長検出装 置 に関 し 、 特 に半導体装置製造用 の縮小投影露光装置 の光源 と し てエキ シ マ レ ー ザを用 い る 場合の波長検出 に採用 し て好適な波長検出装置 に関す る 。 背 景 技 術
半導体装置製造用 の縮小投影露光装置 (以下ス テ ッ ノ、。 と い う ) の光源 と し てエ キ シ マ レ ー ザの利用が注 目 さ れて い る 0 れ は ェ キ シ マ レ ー ザの波長が短い ( K r F レ ー ザの波長は約 2 4 8 . 4 n m ) こ と か ら光 露光の 限界を 0 . 5 /« m以下に延ばせ る 可能性があ る こ と 、 同 じ解像度な ら 従来用 いて い た水銀 ラ ン プの g 線や i 線に比較 し て焦点深度が深い こ と 、 レ ン ズの開 口数 ( N A ) が小 さ く てすみ、 露光領域を大 き く で き る こ と 、 大 き なパ ヮ一が得 ら れ る こ と 等の多 く の優れ た利点が期待で き る 力、 らであ 《3 O
と こ ろ で エ キ シ マ レ ー ザの波長 は 2 4 8 . 4 n mと 短 い た め、 こ の波長を透過す る 材料が石英、 C a F 2 お よ び M a F 2 等 し か存在せず、 し か も 均一性お よ び加 ェ精度等の点で レ ン ズ素材 と し て石英 し か用 い る こ と がで き な い。 こ の た め色収差補正を し た縮小投影 レ ン ズの設計は非常に困難であ る 。 し たが っ て、 エキ シマ レ ー ザをス テ ツ パの光源 と し て用 い る 場合、 こ の色収 差が無視 し う る程度ま で、 エキ シ マ レ ーザの 出力 レ ー ザ光を狭帯域化す る 必要があ り 、 こ の狭帯域化 さ れた 出力 レ ー ザ光の波長を高精度に安定化制御す る 必要が あ 。
従来、 狭帯域発振エキ シマ レ ー ザ等の 出力光の波長 線幅を計測 し た り 、 波長を検出 し た り す る ため に モニ タ エ タ ロ ンが用 い られてい る 。 モニ タ エ タ ロ ン は部分 反射 ミ ラ ー を所定の空隙を あ けて対向配設 し た エア ギ ャ ッ プエ タ 口 ン を用 い て構成 さ れ る も ので こ の エ ア ギ ャ ッ プエ タ 口 ンの透過波長は次の よ う に表わ さ れる 。
m λ = 2 n d c o s Θ
ただ し、 m は整数、 d はエ タ ロ ン の部分反射 ミ ラ ー 間 の距離、 n は部分反射 ミ ラ ー間の屈折率、 0 はエ タ 口 ン の法線 と 入射光の光軸 と の なす角度であ る 。
こ の式よ り 、 n , d , mが一定 と すれば、 波長が変 化す る と 0 が変化す る こ と が解 る 。 モニ タ エ タ ロ ンで は こ の性質を利用 し て被検出光の波長を検出 してい る と こ ろ で、 上述 し たモニ タ エ タ ロ ン に お い て、 エ ア ギ ャ ッ プ内の圧力お よ び周囲温度が変化 し て し ま う と波 長が一定で も上述 し た角 0 が変化 し て し ま う 。 そ こ で モニ タ エ タ ロ ン を用 い る 場合、 エア ギャ ッ プ内の圧力 お よ び周 囲温度を一定に制御 し て波長検出を行な っ て い た o
し か し 、 エア ギ ャ ッ プ内の圧力お よ び周 囲温度を高 精度に制御す る こ と は困難であ り 、 こ の た め充分な高 精度で絶対波長を検出す る こ と はで き な か つ た。
そ こ で、 被検出光 と と も に予め波長がわか っ て い る 基準光をモニ タ エ タ ロ ン に入力 し 、 こ の基準光に対す る 被検出光の相対波長を検出す る こ と に よ り 被検出光 の絶対波長を検出す る 装置が提案 さ れて い る 。 し か し 、 基準光源 と 被検出光の光源 と が性質が異な る よ う な場 合、 例え ば基準光が面光源 と み なせ る 水銀 ラ ン プであ り 、 被検出光の光源がエキ シ マ レ ー ザであ る よ う な場 合 は基準光 と 被検出光を そ れぞれ充分な 強度でモ ニ タ エ タ ロ ン に導 く こ と は困難であ り 、 こ の た め S Z N 力《 悪 く 、 高精度に絶対波長を検出す る こ と がで き な か つ た 0
こ の よ う に既知の基準光を導入 し て基準光に対す る 被検出光の相対波長を検出 し 、 こ れに も と づ き 被検出 光の絶対波長を検出す る 構成を と る 場合、 基準光の光 源 と 被検出光の光源 と の性質が異な る と 、 基準先 と 被 検出光 と を そ れぞれ充分な 強度でモニ タ エ タ 口 ン に導 く こ と が困難 と な り 、 こ の た め高精度で被検出光の絶 対波長を検出す る こ と はで き な か っ た。
そ こ で、 こ の発明 は基準光の光源 と 被検出光の光源 の性質が異な っ て も 基準光 と 被検出光をそ れぞれ充分 な 強度で導入す る こ と がで き 、 こ れに よ つ て高精度に
新たな用紙 .
被検出光の波-長を検出す る こ と ができ る波長検出装置 を提供す る こ と を 目 的 とす る 。 発 明 の 開 示
こ の発明では上記 目 的を達成 させ る た め、 基準光 源か ら発生 さ れる基準光 と被検出光と をエ タ 口 ン に照 射 し 、 該ェ タ ロ ン を透過 し た光を光検出手段で検出す る こ と に よ り 基準光に対す る 被検出光の波長を検出す る波長検出装置におい て、 エ タ ロ ンの前段に設け られ エ タ 口 ン に照射 さ れ る 光を平行光に変換す る コ リ メ 一 夕 レ ン ズ手段 と 、 基準光と 被検出光に よ り コ リ メ ー タ レ ン ズの前側焦点面を照射す る照明手段 と 、 エ タ ロ ン の後段に設け ら れ、 エ タ ロ ン を透過 し た光を光検出手 段の検出面に結像 さ せ る結像 レ ン ズ手段と を具えて構 成 さ れる 。
基準光 と 被検出光に よ り コ リ ー タ レ ン ズの前側焦点 面を照明す る 。 こ の光は コ リ メ 一 夕 レ ン ズで平行光に 変換 されエ タ ロ ン に照射さ れる。 こ の エ タ ロ ン を透過 し た基準光 と 被検出光は結像 レ ン ズ手段に よ つ て光検 出手段の検出面に結像さ れ、 該検出面上に基準光およ び被検出光の それぞれ対応する干渉縞を形成す る。 光 検出手段は こ の干渉縞を検出す る こ と に よ り 、 基準光 に対す る 被検出光の相対波長、 すなわ ち被検出光の絶 対波長を検出す る 。 c
5
図面の簡単な説明
第 1 図 は こ の発明の波長検出装置を狭帯域エキ シ マ レ ー ザの 出力 レ ー ザ光の波長検出 に適用 し た一実施 例を示す図、
第 2 図は集光 レ ン ズを用 い た こ の発明 の他の実施例 を示す図、 第 3 図は基準光源を コ リ メ 一 夕 レ ン ズ の前 側焦点面の手前で結像 き せた こ の発明の他の実施例を 示す図、
第 4 図 は先フ ァ ィ バを用 い て被検出光を導入 し た こ の発明の他の実施例を示す図、
第 5 図 は コ リ ー メ ー タ レ ン ズ の前側焦点面に拡散板 を用 い た こ の発明 の他の実施例を示す図、
第 6 図 は光フ ァ イ バの先端に光フ ァ イ ノく ス リ ー ブを 用 い た こ の発明の他の実施例を示す図、
第 7 図 は光フ ァ イ バで被検出光を導入 し 、 更に イ ン テ グ レ ー 夕 を用 い た こ の発明の他の実施例を示す図、 第 8 図 は基準光源に フ ィ ノレ 夕 を用 い、 コ リ メ 一タ レ ン ズ の前側焦点面に ア パ ー チ ャ を配置 し た こ の発明の 他の実施例を示す図であ る 。 発明 の実施す る た めの最良の形態
以下、 こ の発明 に係わ る 波長検出装置の実施例を 添付図面を参照 し て詳細 に説明す る 。
第 1 図 は こ の発明 に係わ る 波長検出装置 の一実施例 を示 し た も のであ る 。 こ の実施例で は被検出光 と し て 狭帯域発振エキ シマ レ一ザ 1 0 の 出力光 1 1 が用 い ら れ、 基準光源 3 0 と し て は水銀ラ ン プが用 い られてい る 。 すな わ ち 、 こ の実施例の場合、 被検出光は波長 2 4 8 . 4 noiの K r F ェキ シマ レ ー ザ光であ り 、 基準光 は水銀ラ ン プの 2 5 3 . 7 n mであ る
狭帯域発振エキ シマ レ ー ザ 1 0 か ら 出力 さ れた レ ー ザ光 1 1 の一部は ビー ム ス プ リ ッ タ 2 0 に よ つ てサ ン プ リ ン グ さ れ、 こ の サ ン プ リ ン グ光はイ ン テ グ レ ー 夕 4 1 を介 し て、 ビー ム ス プ リ ッ 夕 4 2 に照射 さ れ る 。 ま た基準光源 3 0 力、 ら 出力 さ れた基準光 3 1 は ビ一ム ス プ リ ツ 夕 4 2 の他の面に照射さ れる O
ビー ム ス プ リ ッ 夕 4 2 はィ ン テ グ レ ー 夕 4 1 力、 ら 出 力 さ れた サ ン プ リ ン グ光の一部を透過 さ せ、 ま た基準 光源 3 0 か ら 出力 さ れた基準光 3 1 の一部を反射さ せ こ れに よ り 、 サ ン プ リ ン グ光と基準光 と を合成す る 。 こ の ビー ム ス プ リ ッ タ 4 2 に よ っ て合成 さ れたサ ンプ リ ン グ光 と 基準光と の合成光は コ ン デ ンサ レ ン ズ 4 3 を介 し て コ リ メ 一タ レ ン ズ 6 1 の前側焦点面 5 0 を照 明す る 。 コ リ メ 一タ レ ンズ 6 1 はそ の前側焦点面 5 1 を照明する 光を平行光線に変換 し て、 こ の平行光線を エ タ ロ ン 6 2 に照射す o
エ タ ロ ン 6 2 は内側の面が部分反射 ミ ラ ー と さ れた 2 枚の透明板 6 2 a 、 6 2 b 力、 ら構成 され、 エ タ ロ ン 6 2 に対す る 入射光の角度に対応 し てそ れぞれ透過波 長が異な る も のであ る o こ の エ タ 口 ン 6 2 を透過 し た 光 は結像 レ ン ズ 6 3 を介 し て光位置検出器 6 4 に照射 さ れ、 こ の光検出器 6 4 の検出面上 に基準光の波長 に 対応 し た第 1 の干渉縞お よ び被検出光の波長 に対応 し た第 2 の干渉縞を形成す る 。 光検出器 6 4 で は こ の第 1 お よ び第 2 の干渉縞を検出 し 、 こ の検出 に も と づ き 基準光の波長に対す る 被検出光の波長の相対波長を検 出 し 、 既知の基準光の波長 と 検出 し た相対波長 に も と づ き 被検出光の絶対波長を検出す る 。
な お、 光検出器 6 4 と し て は一次元ま た は二次元の イ メ ー ジ セ ン サ、 ダ イ オ ー ド ア レ イ ま た は P S D ( P0 SITION SENSITIVE DETECTOR)等を用 い て構成す る こ と がで き る 。
こ の よ う に構成す る と 光強度の強い干渉縞が得 ら れ、 こ れ に よ つ て被検出光の絶対波長を高精度に検出す る こ と がで き る 。 ま た基準光お よ び被検出光 は コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側焦点面を照明すればよ い の で の で、 光 軸を高精度に合わせ る 必要は な く 、 調整が非常 に容易 に な る 。
第 2 図 は こ の発明の他の実施例を示 し た も の であ る 。 以下、 こ の第 2 図を含む他の 図面に お い て互い に共通 す る 機能を果す部分につ い て は説明 の便宜上同一の符 号 は付す る 。
第 2 図 に示す実施例 は ビー ム ス プ リ ッ タ 2 0 でサ ン プ リ ン グ し た被検出光を集光 レ ン ズ 4 4 で集光 し 、 こ の集光光を ビー ム ス プ リ ッ タ 4 2 を透過 さ せ、 こ の透
新たな用紙 過光に よ っ て コ リ メ 一 タ レ ンズ 6 1 の前側焦点面 5 0 を照明 し、 ま た基準光源 3 0 か ら発生 さ れた基準光 3 1 を ビー ム ス プ リ ッ タ 4 2 で反射さ せ、 こ の反射光に よ っ て コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 5 0 の前側焦点面を照明す る 構成を と つ てい る。 こ れに よ つ て コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 5 0 の前側焦点面は被検出光と基準光の両者に よ つ て照 明 さ れる こ と に な る 。 こ の照明光は コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 6 1 で コ リ メ ー ト さ れ、 エ タ ロ ン 6 1 、 結像 レ ン ズ 6 3 を介 して光検出器 6 4 の検出面上に基準光と 被検出 光の それぞれの波長に対応 し た 2 つ の干渉縞を形成す る 。 こ の 2 つ の干渉縞に も とづ き被検出光の絶対波長 を検出す る こ と がで き る 。
第 3 図は、 こ の発明の更に他の実施例を示 し た も の であ る 。 こ の実施例 に お い て、 ビー ム ス プ リ ヅ 夕 2 0 でサ ン プ リ ン グ し た被検出光はィ ン テ グ レ ー 夕 4 1 、 集光 レ ン ズ 4 5 を介 し て ビ一 ム ス プ リ ッ タ 4 2 に入射 さ れ、 こ の ビー ム ス プ リ ッ タ 4 2 の透過光は コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 6 1 の前側焦点面 5 0 を照明す る 。
ま た基準光源 3 0 か ら発生 し た基準光 3 1 は結像 レ ン ズ 4 6 を通 り 、 ビー ム ス プ リ ッ タ 4 2 で反射 さ れ、 コ リ メ ー タ レ ン ズ 6 1 の前側焦点面 5 0 の手前に基準 光源の像 3 0 a を結像す る。
こ の よ う な構成に よ る と 基準光源 3 0 を基準光源の 像 3 0 a に配置 し た の と等価 と な り 、 コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 6 1 の前側焦点面は集光 レ ン ズ 4 5 で集光 さ れた被 検出光 と こ の基準光源 3 0 の像 3 0 a か ら の基準光に よ っ て照射 さ れ る こ と に な る 。 以下の動作は第 1 図、 第 2 図 に示 し た も の と 同
Figure imgf000011_0001
あ る 。
かか る 構成 に よ る と 基準光源 3 0 の光量が小 さ く て も有効に コ リ メ 一タ レ ン ズ 6 1 の前側焦点面 5 0 を照 明す る と がで き 、 特に基準光に関す る 干渉縞の光強 度を大 く す る こ と がで さ る 0
第 4 は ビ一ム ス プ リ ッ タ 2 0 でサ ン プ リ ン グ し た 被検出光を光フ ァ ィ バを用 い て導入す る よ う に し た こ の発明の他の実施例を示 し た も の であ る 。 こ の実施例 の場合 ビー ム ス プ リ ッ 夕 2 0 でサ ン プ リ ン グ さ れた ¾検出光は レ ン ズ 2 1 、 ス リ ー ブ 2 2 を介 し て光フ ァ ィ バ 2 3 内 に入力 さ れ、 光フ ァ イ バ 2 3 を伝達 し た被 検出光はス リ ー ブ 2 4 を介 し て出力 さ れ、 こ の ス リ ー プ 2 4 の 出力光は ビ一ム ス プ リ ッ 夕 4 2 を照射 し、 こ の ビ一ム ス プ リ ッ 夕' 4 2 の透過光に よ つ て コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 6 1 の前側焦点面 5 0 を照明す る 。 他の構成は 第 3 図に示 し た も の と 同—で あ る 。
かか る 構成に よ る と 、 被検出光を光 フ ァ イ ノく 2 3 を 用 い て伝達す る 構成を と つ てい る た め、 被検出エキ シ マ レ ー ザ光 1 1 の位置 と 波長検出装置 と の位置関係を 任意 に設定で き 、 波長検出装置の配設位置 に 限定が生 じ な い と い う 利点が あ る o
第 5 図 は第 4 図 に示 し た構成に加え て 、 コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 6 1 の前側焦点面 5 0 に拡散板 4 7 を挿入 し て 構成 し た こ の発明の他の実施例を示 し た も のであ る。 ま た第 6 図 は第 4 図 に示 し た構成に おい て光フ ア イ バ 2 3 の 出力側の ス リ — ブ 2 4 を多芯の光フ ァ イ バか ら な る光フ ァ ス リ ー プで置換 し た他の実施例を示 し た も のであ る。
第 5 図、 第 6 図の いずれの実施例 に おいて も高精度 な検出結杲が得 られてい る 。
第 7 図 は被検出光を光フ ァ イ バを用 い て導入す る他 の実施例を示 し た も の でめ o ^ 7 図におい て ビ一ム ス プ リ ッ 夕 2 0 に よ つ てサ ン プ リ ン グさ れた被検出光 は レ ン ズ 2 1 、 ス リ ー プ 2 2 を介 し て光フ ァ イ バ 2 3 内に入力 さ れ、 こ の光フ ァ 2 3 を伝達 し た被検出 光は ス リ ー ブ 2 4 を介 し て出力 さ れ、 コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 2 6 を介 し てィ ン テ グ レ ー 夕 4 1 に照射 さ れる 。 こ の イ ン テ グ レ ー 夕 4 1 か ら 出力 さ れた光 は ビー ム ス プ リ ツ 夕 4 2 に照射 さ れる o
ま た基準光源 3 ◦ か ら 出力 さ れた基準光 3 1 は ビー ム ス プ リ ッ タ 4 2 の他の面に照射さ れ る 。
ビー ム ス プ リ ッ 夕 4 2 は ィ ン テ グ レ ー タ 4 1 力、 ら 出 力 さ れ る 被検出光と基準光源 3 0 か ら 出力 さ れた基準 光 3 1 と を合成 し 、 こ の合成光を コ ン デ ン サ レ ン ズ 4 3 を介 し て コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 5 0 の前側焦点面に照射 す る 。 以下の動作は、 例えば第 1 図 に示 し た も の と 同 一であ る
更に 、 第 8 図 は第 4 図に示 し た構成に お いて、 基準
新たな ¾ ¾ 光源 3 0 と 結像 レ ン ズ 4 6 と の 間 に フ ィ ノレ タ 3 2 を揷 入 し 、 更に コ リ メ 一 タ レ ン ズ 6 1 の前側焦点面 5 0 に ァ ノ、° — チ ヤ 4 8 を配置 し た こ の発明の更に他の実施例 を示 し た も のであ る 。
こ こ で、 フ ィ ノレ 夕 3 2 は基準光源 3 0 か ら 発生 さ れ る 光の う ち特定の波長の光の み を透過 さ せ る も の であ り 、 例え ば基準光源 3 0 が水銀 ラ ン プの 口 、 フ ィ ル タ 3 2 は水銀ラ ン プの 出力光の う ち被検出光であ る r F エキ シマ レ ー ザの発振光の波長、 すな わ ち波長 2 4 8 . 4 n mに近い波長 2 5 3 . 7 n mの発振線の光を選 択的 に透過 さ せ る も のでめ る 。 すな わ ち 、 こ の実施例 の場合、 波長 2 5 3 . 7 n mの光の みが基準光 と し てァ パ ー チ ヤ 4 8 を照明す る こ と に な る れに よ つ て外 乱が少な く な り 更に高精度に被検出光の絶対波長を検 出す る こ と がで き る 。 な お、 フ イ ノレ 夕 は基準光源 3 0 と 結像 レ ン ズ 4 6 と の 間以外の他の位置 に挿入す る よ う に構成 し て も よ い。
な お、 第 3 図、 第 4 図 、 第 5 図、 第 6 図、 第 8 図 に 示す実施例 に おい て、 基準光源 3 0 の像 3 0 a を結像 レ ン ズ 4 6 を用 い て結像 さ せ た 力《、 こ の結像 レ ン ズ 4 6 の代わ り に 凹面鏡を用 い て基準光源 3 0 a を形成す る よ う に構成 し て も よ い。 ま た上記実施例 に お い て基 準光源 3 0 の像 3 0 a を コ リ メ ー タ レ ン ズ 6 1 の前側 焦点面の手前に結像 さ せ る よ う に構成 し た力 、 こ れを コ リ メ ー タ レ ン ズ 6 1 の前側焦点面上に結像 さ せ る よ う に構成 し て も よ い。
ま た、 第 1 図、 第 2 図、 第 3 図、 第 6 図、 第 7 図に 示す構成に お い て、 コ リ メ 一 夕 レ ン ズ 6 1 の前側焦点 面上に拡散板ま た はア パ ー チ ャ を挿入 し て構成 し て も よ い O
ま た上記実施例ではエア ギヤ ッ プエ タ ロ ン を用 いて 構成 し たが、 こ の エ ア ギ ャ ッ プエ タ ロ ン の代わ り に ソ リ ッ ドエ タ ロ ン を用 いて も 同様に構成す る こ と ができ る o 産業上の利用可能性
こ の発明 に よれば基準光お よ び被検出光の両者に 対 し て充分強度の大き い干渉縞が得 ら れ、 こ れに よ つ て被検出光の絶対波長を高精度に検出す る こ と がで き る 。 ま た こ の発明 に よ れば基準光お よ び被検出光は コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側焦点面を照明す る だけな ので高 精度な光軸合せは不要と な る 。 こ の発明の波長検出装 置は、 特に半導体装置製造用 の縮小投影露光装置の光 源 と し てエキ シ マ レ ー ザを用 い る 場合の波長検出 に採 用 し て好適であ る 。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 基準光源か ら 発生 さ れ る 基準光 と 被検出光 と を エ タ ロ ン に照射 し 、 該ェ タ ロ ン を透過 し た光を光検出 手段で検出す る こ と に よ り 前記基準光に対す る 被検出 光の波長を検出す る 波長検出装置 に お い て、
前記エ タ ロ ン の前段に設け ら れ、 前記エ タ ロ ン に照 射 さ れ る 光を平行光に変換す る コ リ メ ー タ レ ン ズ手段 と 、
前記基準光 と 前記被検出光に よ り 前記 コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側焦点面を照射す る 照明手段 と 、
前記エ タ ロ ン の後段に設け ら れ、 前記エ タ ロ ン を透 過 し た光を前記光検出手段の検出面に結像 さ せ る 結像 レ ン ズ手段 と
を具え た波長検出装置。
2 . 前記照明手段は、
前記被検出光が入射 さ れ る ィ ン テ グ レ ー 夕 と 、 該イ ン テ グ レ ー タ の後段に配置 さ れ、 前記基準光源 か ら発生 さ れ る 基準光 と 該ィ ン テ グ レ ー 夕 の 出力光 と を合成す る ビー ム ス プ リ ッ 夕 と 、
該 ビ一 ム ス プ リ ッ タ に よ り 合成 さ れた合成光が入射 さ れ、 そ の後側焦点面が前記 コ リ メ ー タ レ ン ズの前側 焦点面 と 一致す る コ ン デ ン サ レ ン ズ と
を具え た請求項 1 記載の波長検出装置。
3 . 前記照明手段は、
前記被検出光を集光す る 集光 レ ン ズ と 、
前記基準光源か ら 発生さ れた基準光 と前記集光 レ ン ズの 出力光 と を合成 し、 該合成光で前記コ リ メ 一 夕 レ ン ズ の前側焦点面を照明す る ビ ー ム ス プ リ ッ 夕 と
を具えた請求項 1 記載の波長検出装置。
4 . 前記照明手段は、
前記被検出光が入射さ れる ィ ン テ グ レ ー 夕 と 、 該イ ン テ グ レ ー 夕 の後段に配置 さ れ、 該イ ン テ グ レ 一 夕 の 出力光を集光 し 、 該集光光で前記 コ リ メ 一 タ レ ン ズの前側焦点面を照明す る 集光 レ ン ズと 、
該集光 レ ン ズの出力光の光路内に配置 さ れた ビ ー ム ス プ リ ッ 夕 と 、
前記基準光源 と 前記 ビー ム ス プ リ ッ 夕 と の間に配置 さ れ、 前記基準光源を前記 ビー ム ス プ リ ッ タ を介 し て 前記 コ リ メ 一 タ レ ン ズの前側焦点面ま た はそ の手前に 結像 さ せ る 結像 レ ン ズ と
を具えた請求項 1 記載の波長検出装置。
5 . 前記照明手段は、
前記被検出光を導入 し、 そ の 出力光で前記 コ リ メ 一 夕 レ ン ズ の前側焦点面を照明す る 光フ ァ イ バ と 、
該光フ ァ ィ バの 出力光の光路内 に配置 さ れた ビー ム ス プ リ ッ 夕 と 、 該 ビ ー ム ス プ リ ッ タ と 前記基準光源 と の 間 に配置 さ れ、 前記基準光源を前記 ビー ム ス プ リ ッ タ を介 し て前 記 コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側焦点面ま た は そ の手前に結 像 さ せ る 結像系 と
を具え た請求項 1 記載の波長検出装置。
6 . 前記照明手段は、
刖 sd被検出光を導入す る 光フ ァ イ バ と 、
該光 フ ァ イ バの先端に設け ら れた光 フ ァ イ バ ス リ 一 ブ と 、
¾光 フ ァ イ バ ス リ ー ブの 出力光を集光 し 、 該集光光 で前記 コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側焦点面を照明す る 集光 レ ン ズ
該集光 レ ン ズの 出力光 り 光路内 に配置 さ れた ビー ム ス プ リ ッ 夕 と 、
該 ビ — ム ス プ リ ッ 夕 と 前記基準光源 と の 間 に位置 さ れ、 前記基準光源を前記 ビー ム ス プ リ ッ タ を介 し て前 記 コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側焦点面ま た はそ の手前に結 像 さ せ る 結像系 と
を具え た請求項 1 記載の波長検出装置。
7 . 前記照明手段 は、
前記被検出光を導入す る 光 り フ ァ ィ バ と 、
該光 フ ァ イ バ の 出力光を平行光にす る コ リ メ 一 タ レ ン ズ と 、 該 コ リ メ ー タ レ ン ズの 出力光が入射 さ れる ィ ン テグ レ ー 夕 と 、
該イ ンテ グ レ ー タ の後段に配置 さ れ、 前記基準光源 か ら発生 さ れる基準光 と該ィ ン テ グ レ ー 夕 の 出力光と を合成す る ビー ム ス プ リ ッ タ と 、
該 ビー ム ス プ リ ッ タ に よ り 合成 さ れた合成光が入射 さ れ、 そ の後側焦点面が前記 コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側 焦点面と一致す る コ ン デ ン サ レ ン ズ と
を具えた請求項 1 記載の波長検出装置。
8 . 前記照明手段は、
前記 コ リ メ ー タ レ ン ズの前側焦点面に配置 さ れた拡 散板を具え る 請求項 1 記載の波長検出装置。
9 . 前記照明手段は、
前記 コ リ メ 一 夕 レ ン ズの前側焦点面に配置 さ れた ァ パ ー チ ヤ を具え る請求項 1 記載の波長検出装置。
1 0 . 前記基準光源は、
ラ ン プ と 、
前記ラ ン プか ら発生 さ れる光の う ち所定の波長の光 の み を選択出力す る フ ィ ル 夕 と
を備え た請求項 1 記載の波長検出装置。
1 1 . 前記基準光源は、 面光源であ る 請求項 1 記載 の波長検出装置
1 2 . 前記ラ ン プか ら発生 さ れ る 光の う ち所定の波 長の光の み を選択出力す る フ ィ ル タ を前記ラ ン プか ら 発生 さ れ る 光の光路の いずれかの位置に配設 し た請求 項 1 記載の波長検出装置。
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