TW487995B - Assembly jig and manufacturing method of multilayer semiconductor device - Google Patents
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Description
487995 A7 B7 五、發明説明(1 發明背景 技藝領域 本發明有關一種組合夾具及一種製造多層半導體裝置之 方法。詳5之,本發明有關一種組合夾具及一種適用於製 造多層半導體裝置之方法,該裝置係包括裝置於薄層印刷 電路板上之半導體晶片及許多層疊半導體模組,各具有形 成於許多中間層連接盤上之隆起物。 先前技藝 就半導體裝置而言,圖1所示之多層半導體裝置1〇〇係用 以改善半導體晶片之封裝密度。如圖1(c)所示,該多層半 導體裝置100包括許多層疊於母基材102上之半導體模組 101(101a至101d)。如圖1(a)所示,各半導體模組1〇1係包 括一半導體晶片1 〇 3 ’經由各向異性導電性材料、烊料1 〇 $ 等材料而裝置於可撓性夾置器(薄層印刷電路板)1〇4上之 半導體晶片103。該半導體晶片1〇3藉著拋光等方式削薄。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 形成接頭導體及適當之電路導體(未示),以連接區域 l〇4b中之表面電極,將該半導體晶片1〇3裝置於於該印刷 電路板104之第一個主要平面l〇4a上。在該印刷電路板丨〇4 之半導體晶片裝置區104b周圍,形成多個個別位於第一個 主要平面104a及第二個主要平面i〇4c上之中間層連接盤1〇6 及1 0 7。該中間層連接盤1 0 6及1 〇 7係連接於適當之通孔, 省略其細節。在位於印刷電路板1 〇 4之第一個主要平面 104a上之中間層連接盤106上提供包括焊料球等材料之隆 起物1 0 8。 -4 * 本紙張尺度適用中國國家標隼(CNS ) A4規格(210X29*7公釐) 五、發明説明(2 ) 該半導體模組101進行處理,諸如將該半導體晶片103裝 置於該印刷電路板104之半導體晶片裝置區10讣上,施加 焊劑或焊漿於位在該印刷電路板104上之中間層連接盤106 上,提供藉由焊劑等材料黏著而保持於該中間層連接盤 106上之隆起物108。當該半導體模組ι〇ι係送入回流爐中 時,隆起物108熔化,固定於該中間層連接盤1〇6上。該半 導體模組101係藉由預燒、功能測試等方法進行逐片檢測 ,之後進行後續程序。 忒半導體模組1 〇 1係進行施加焊劑或焊漿於位在第一個 主要平面104a上之隆起物108上及位在第二 上之中間層連接盤⑷上之程序。使用第二個主千要面平^ l〇4c作爲裝置表面時,如圖1(b)所示,該半導體模組 層疊於由陶瓷等材料形成之基材1〇9上。使用晶片安裝器( 未示)以逐一層疊半導體模組1〇1。 第一層半導體模組1 01 a係藉施加於中間層連接盤1 〇 7上之 焊漿的黏著強度安裝且保持於該基材109上。第二層半導 體模组1 0 1 b係藉施加於第一層半導體模組i i a之隆起物 108上及中間層連接盤1〇7上之焊漿的黏著強度而安裝且保 持於該第一層半導體模組1〇la之第一個主要平面1〇如上。 相同地,依序層疊個別半導體模組1〇1&至1〇ld。此種層疊 狀態係藉焊漿保持。 當層璺單元施加於回流爐時,隆起物1〇8熔化,固定於 另一中間層連接盤丨〇7上。結果,構成圖丨(b)所示之層疊 半導體模組單元1 1 〇。層疊半導體模組單元i丨〇中,該中間 -5- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇>< 297公廣) 487995 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A 7 B7 五、發明説明(3) 層連接盤1 0 6及1 〇 7係經由隆起物1 〇 8連接以於半導體模組 101a至101 d之間建立連接。如圖i(c)所示,層疊半導體模 組單元110係藉晶片安裝器反轉而裝置於母基材1〇2上,以 弟四層半導體ί吴紐101 d作爲第一層。 該半導體模組1 01及母基材1 02之層疊單元提供至回流爐 中。就居半導體模組1 〇 1及母基材1 〇 2之層叠單元而士,在 該層疊半導體模組單元1 1 〇中位於第四層半導體模組丨〇 i d 上之隆起物108熔化而固定於母基材102之連接盤ηι上。 此種情況提供整體中間層連接,而完成該多層半導體裝置 1 00 ° 習用於製造該多層半導體裝置1 〇 〇之方法中,焊漿之黏 著強度保持該半導體模組1 〇 1位於基材1 〇 9上之層疊狀態, 直至施加回流熱處理。是故,當晶片安裝器在習用製造方 法中進行處理時,在許多層疊半導體模組丨〇 1中發生例如 位移,導致薄層間之連接失敗。可使用具有位移限制機構 之特別晶片安裝器解答此項問題.。然而,該特定裝置因爲 一方法改變安置過程等而增加機械成本且降低產能。 根據該習用製造方法,許多半導體模組i 〇 JL係層疊於基 材1 0 9上,而施加回流熱處理。此情況下,薄層間因爲薄 層印刷電路板1 0 4之翘曲或因隆起物1 〇 8之直徑的變化,而 發生連接損壞。習用製造方法中,當層叠半導體模組單元 110裝置於母基材102上且施加回流熱處理時,亦發生類似 問題。 另一重點係該多層半導體裝置1 〇 〇被要求提供大小爲〇 i 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
經濟部中央標準局員工消費合作社印製 487995 A7 ___ B7 五、發明説明(4 ) 愛米之高準確度薄層圖型。該習用製造方法提供高準確度 製造印刷電路板104及母基材1〇2。高準確度隆起物形成裝 置係用以形成隆起物1 〇 8。然而,該習用製造方法不提供 在過程中限制整體高度之裝置。結果,該習用製造方法導 致整體高度之變化隨著層數之增加而增加之問題,使得該 多層半導體裝置100之高度產生大幅變化。此亦因在前述 回流熱處理過程中,該印刷電路板丨〇 4翹曲或該隆起物1 〇 8 直徑變化。 因爲該多層半導體裝置1〇〇在個別半導體模組1〇1層之間 採用不同之中間層連接,故該隆起物i 〇 8未均勻地排列且 形成於該印刷電路板104上。是故,該多層半導體裝置1〇〇 之製造方法增加各半導體模組1 〇丨之印刷電路板丨〇 4的翹曲 ’使得前述問題變得更明顯。該多層半導體裝置〗〇 〇亦顯 示#亥印刷電路板1 〇 4彎曲而使應力集中於該隆起物1 〇 8之連 接點上,導致剝離或接觸失敗的問題。 發明概要 因此,本發明之目的係提出一種組合夾具及一種多層半 導體裝置之製造方法,其建立確定之中間層連接,保持高 度準確性及可信度,且改善良率及產能。 爲達到前述目的,本發明多層半導體裝置組合夾具係包 括一基本元件,用以連續層疊多個半導體模組,各包括裝 置於薄層印刷電路板上之半導體晶片及位於多層連接盤之 各層上的隆起物;一位置限制機構,用以層疊彼此位置限 制於基本元件上之半導體模組;一高度限制機構,用以限 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(2丨〇>< 297公廣) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
487995 A7 B7 五、發明説明(5 ) 制層疊於該基本元件上之半導體模組群之整體高度;一均 勻度保持機構,用以保持兩層半導體模組之均勻度;及一 校準機構,用以參照母基材提供校準,該母基材中裝置有 層疊半導體模組單元。 本發明供所構成之多層半導體裝置使用之組合夾具可在 基本元件上層疊許多半導體模組,藉位置限制機構限制彼 此位置,且藉高度限制機構定出整體高度。當多層半導體 裝置組合夾具送入回流爐中時,於各半導體模組上施加回 流加熱。介於中間層連接盤之各隆起物溶化,且硬化以作 爲半導體模組之間的中間層連接。該多層半導體裝置組合 夾具使個別半導體模組彼此定位,以確定中間層連接,且 保持特定高度。製造層疊半導體模組單元時,該均勻度保 持機械強度保持作爲母基材之接合半導體模組之頂層半導 體模組的均勻度。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 該多層半導體裝置組合夾具在轉換時經由校準機構校準 於母基材並與其結合,將該層疊.半導體模組單元校準且裝 置於該母基材上。該多層半導體裝置組合夾具藉由位置限 制機構及高度限制機構支撑該層疊半導體模組單元。在保 持此種狀態下,組合夾具與該母基材一起送入回流爐中, 進行回流加熱。該多層半導體裝置組合夾具製造一多屬半 導體裝置,使得位於該第一層半導體模組上之隆起物熔化 ,且於該模組與相鄰中間層連接盤之間硬化,以提供與母 基材之中間層連接。該多層半導體裝置組合夾具係自母基 材移除。該多層半導體裝置組合夾具使其可藉著在該半導 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 487995 A7 B7 五、發明説明(6 ) 體模組與該母基材之間提供高準確度中間層連接,且保持 一準確高度,而有效地製造多層半導體裝置。 本發明用以達成前述目的之多層半導體裝置製造方法係 使用一組合夾具,該夾具包括一基本元件,用以連續層疊 多個半導體模組,各包括裝置於薄層印刷電路板上之半導 體晶片及位於多層連接盤之各層上的隆起物,一位置限制 機構,用以層疊彼此位置限制於基本元件上之半導體模組 ,及一高度限制機構,用以限制層疊於該基本元件上之半 導體模組群之整體高度。該多層半導體裝置製造方法係包 括以下步驟:在使用位置限制機構限制'個別位置之情況下 ,連續地將特定數量之半導體模組層疊於該基本元件上, 在使用高度限制機構限制整體高度之情況下,將層疊模組 置入該組合夾具中;及將該組合夾具送入回流爐中,施加 回流加熱以熔化供該半導體模組之中間層連接使用之隆起 物,及形成層疊半導體模組單元。 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 該多層半導體裝置製造方法使用前述組合夾具,其具有 用以與欲裝置之母基材校準之校準機構。形成層疊半導體 模組單元之後,轉換該組合夾具,經由該校準機構校準於 母基材。此製造方法係包括結合該層疊半導體模組單元與 最頂層半導體模組之步驟,該最頂層半導體模組係作爲具 有藉由均勻度保持機構保持之均勻度的接合半導體模組; 提供該組合夾具與該母基材之組合體於回流爐中,施加回 流加熱,以使位於該層疊半導體模組單元中之第一層半導 體模組與母基材之間進行中間層連接。 -9 - 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐)~ 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 487995 A7 B7 五、發明説明(7 ) 根據包括前述多層半導體裝置之方法的製造方法,使用 前述組合夾具使得該位置限制機構可相互地校準個別半導 體模組。此外,該高度限制機構準確地使整體高度保持於 一特定値,以製造層疊半導體模組單元。本發明供多層半 導體裝置使用之製造方法使用簡單之裝置,以抑制印刷電 路板翹曲、隆起物尺寸變化等之影響,及確定該半導體模 組之間的中間層連接。結果,可在低成本及高產能下製造 高可信度多層半導體裝置。 如前文所詳述,本發明多層半導體裝置組合模具使用位 置限制機構,以相互地校準許多層疊於基本元件上之半導 體模組。該高度限制機構限制整體高度。此外,該均勻度 保持機構保持均勻度。此情況下,施加回流加熱以供中間 層連接。此情況抑制印刷電路板翹曲、隆起物直徑變化等 之影響,而於薄層之間產生準確之連接。亦準確地保持整 體高度,使其可有效地製造高可信度多層半導體裝置。此 種多層半導體裝置組合夾具不需要昴貴之具有校準機構等 裝置的晶片安裝器,提供簡易操作,而藉著流線檢測方法 降低成本。 本發明製造半導體裝置之製造方法調整許多半導體模組 之相互位置,且界定整體高度。此外,組合夾具係用以保 持均勻度,進行回流加熱,以提供中間層連接。結果,該 簡易裝置抑制印刷電路板翹曲、隆起物尺寸變化等之影響 ,以確定該半導體模組之間的中間層連接。因此,可在低 成本及高產能下製造高可信度多層半導體裝置。 -10- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X 297公釐) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁)
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氣造多層半導體裝置之 製造多層半導體裝 487995 五、發明説明(8 圖式簡單説明 圖1 (a)到圖1 (c),每圖係説明一 習用方法之階段; 圖2(a)到圖2(f),每個係説明本發明 置之方法之階段; 圖3係爲製造方法所使用之組合夾具有縱向立彳面巴· 圖4係説明使用組合夾具將層疊半導體模組單元^置於 基材上之方法; < 圖5係爲另一組合夾具之上視圖,包括縱向剖面圖及 上視圖(b),已移除頂蓋;且 圖6係爲另一組合夾具之縱向剖面圖。 發明詳細説明 參照附圖進一步詳述本發明具體實例。此具體實例多層 半導體裝置1之製造方法幾乎與前述習用多層半導體裝^ 100相同。如圖2所示,圖2(f)中之多層半導體裝置係經由 以下方法製造。即,製造半導體模組2。層疊半導體模組單 元4係經由使用組合夾具3層疊許多半導體模組以以至?。 而製造。最後,該層疊半導體模組單元4係使用組合夾具3 裝置於母基材5上。 该半導體模組2之製造方法係包括將半導體晶片7裝置於 印刷電路板6上之第一個過程。就印刷電路板6而言,使用 微影術等技術在薄層基材上形成銅電路導體(省略細節), 該基材係包括銅箔等,黏著於作爲基材的一絕緣薄膜上。 如圖2(a)所示,該印刷電路板6係具有形成於第一個主要 平面6 a中心上的半導體晶片裝置區6 b。適當之接頭盤係形 -11- 本紙張尺度適财® S家標準(CNS) A4規格
五、發明説明令 成於該半導體晶片裝置區6b中。在該半導體晶片裝置區6b 周圍形成許多第_中間層連接盤8。第二中㈣連接盤9係 對應於第一中間層連接盤8形成於該印刷電路板6之第二主 要平面6b上。 广孩印刷電路板6不僅設計以直接將半導體晶片7裝置於該 第一個主要平面6a上。其以亦可在該半導體晶片裝置區“ 中對應於半導體晶片7地裁出孔洞,並於該孔洞周圍形成接 頭盤爲佳。此外,該印刷電路板6可形成爲長帶狀,以連續 地將該半導體晶片7裝置於欲適當地裁切之各區域中。此情 況下’在其兩側形成穿孔等,以進行連續輸送。 在印刷電路板6上,使用通孔(省略細節)以連接位於第一 及第二表面上而彼此對應之中間層連接盤8及9。該印刷電 路板6使用所有半導體模組2之中間層連接盤8及9的共同排 列。是故,該印刷電路板6構成一模擬盤,即,移除介於電 路導體與部分該中間層連接盤8及9之間的連接。 該半導體晶片7作爲--即一積體電路元件、記憶晶片等, 藉著在封裝樹脂上施加拋光等方法而削薄。適當之表面電 極(省略細節)係形成於該半導體晶片7之表面上。如圖2(a) 所示,各向異性導電性係施加於此等電極上或於其上層形 成隆起物1 〇。 如圖2(b)所示,該半導體模組2係排列成該半導體晶片7 根據配置於該印刷電路板6之半導體晶片裝置區6b上之裸 晶片而配置。在該半導體模組2上,於印刷電路板6與半導 體晶片7之間充填底填料1 1,以強化且固定該半導體晶片7 ,將其配置於該半導體晶片配置區6 b上。當然,該半導體 本纸張尺度適财S g家標準(CNS) A4規格(210
X 297公釐) -12- 487995 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(ι〇) 模組2之較佳配置方式係一即--使幅線路接合以連接各表面 電極與接頭盤,而將該半導體晶片7裝置於該印刷電路板6 上。 該半導體模組2之製造方法中,施加焊劑或焊漿丨2於該 印刷電路板6之第一中間層連接盤8上,如圖2 ( b )所示。^亥 焊漿1 2係施加於所有中間層連接盤8上,包括模擬盤。該 半導體模組2之製造方法中,包括焊料球等物之隆起物13 係由位於圖2(c)所示之所有中間層連接盤8上之隆起物進 料器提供。該隆起物1 3係藉該焊漿1 2之黏著強度保持於第 一中間層連接盤8上。該半導體模組2係藉著預燒、功能測 試等方法進行檢測。 如前文所述,半導體模組2使用薄層印刷電路板6作爲基 材。因爲該半導體模組2幾乎均勻地具有中間層連接盤8、 模擬盤、及隆起物1 3 ’故該結構具有改良機械剛性及經調 整之重量平衡的特色。是故,該半導體模組2在後續過程中 幾乎不產生變形等狀況。 在前述檢測之後,該半導體模組2使用供層疊半導體模組 單元4使用之組合夾具3送至製造過程中。該層疊半導體模 組單元4之製造方法中,使用組合夾具3以使四個半導體模 組2 a至2 d彼此校準。此外,針對層疊此等模組進行高度限 制,以組合該層疊半導體模組單元4。在焊劑或焊漿施加於 位在第二主要平面2c上之第二中間層連接盤9表面及隆起 物13之表面之後,將各半導體模組2置入組合夾具3中。 如圖2(d)所示,該半導體模組2依序由該第二個主要平面 -13- 本紙張尺度適用中國國家標苹(CNS ) A4規格(210X 297公慶) (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁) 訂 五、發明説明扣 4。側面置入該組合夾具3中。該半導體模組2如下文所述般 地彼此;k準。形成於該第一個主要平面4a(低層側面)上之 隆起物13係對應地定位於形成在該第二主要平面4c(頂層 側面)上I第二中間層連盤9上。該半導體模組2係藉焊漿之 黏著強度而彼此接合。 如圖2(d)及3所示,該組合夾具3包括箱形主體16,其另 外包括基座1 4及本體丨5,高度限制元件丨7,及頂蓋丨8。 該組合夹具3含有四個處於層疊狀態之半導體模組2。該組 合夾具3中,基座14之内表面14a係於相對高準確度下形成 。該四個半導體模組2係依序層疊,以使用内表面工4 &作爲 參考平面’而組合層疊半導體模組單元4。 該組合夾具3係包括本體丨5之内部空間,構成供半導體 模組2使用之層疊空間19。其剖面尺寸係幾乎等於該半導 體模組2之外側尺寸。組合夹具3係設計以校準個別模組, 使得該本體1 5之内表面限制置於該層疊空間i 9中之半導體 模組2之外緣。是故,該組合夾具3構成一位置限制機構, 其中本體1 5係限制半導體模組2供層疊之個位置。 該組合夾具3具有形成於高度取向而位於本體15頂端之 定位孔2 0。該定位孔2 〇係形成於至少三側面之頂端上,構 成一定位機構,以組合該組合夾具3與該母基材5,如下文 所述。該組合夾具3具有一支撑座21,其係藉著保持距離 該基座14之内表面14a特定高度而形成於本體15之内表面 上。該支撑座21於本體15之内表面上凹陷,使得層疊空間 19之開口尺寸稍微增加。該支撑座2 !係等於四個半導體模 487995 經濟部中央榡準局員工消費合作社印製 A7 B7 五、發明説明(12) 組2 a至2 d層疊尺寸之高度” ^,,。 當四個半導體模組h至2d置於層疊空間19中時,高度限 制元件1 7係組裝於組合夹具3之頂部。該高度限制元件i ? 具有稍大於本體1 5之剖面尺寸的外圍尺寸,幾乎等於對應 於支撑座21之開口尺寸。其底面i7a係由支撑座21所支撑 。該高度限制元件1 7之底面} 7a具有相對高之平坦度準確 性。在組合於本體15之情況下,該基座14之底面l7a及内 表面14a將層疊空間19之高度限制於”h,,。 該層疊半導體模組元件4包括易導致高度變化之半導體模 組2 a至2 d。此等變化係起因自印刷電路板6之厚度變化、 該隆起物13之直徑、該焊漿12之厚度等針對此等模組之個 別因素。該組合模具3使用高度限制元件17,以壓縮最頂 部之半導體模組2d,而將層疊半導體模組單元4之高度限 制於”h"。該高度限制元件17係由位於組合夾具3上之頂蓋 1 8所保持。 ’、现 在保持此種情況下,該組合夹具3送至回流爐中,以於半 導體模組2a至2d之中進行中間層連接。當回流加熱施加於 半導體模組2a至2d時,位於各層上之隆起物丨3熔化,而固 足於位在頂層側面上之對應第二中間層連接盤9。此者進行 該中間層連接,以形成層疊半導體模組單元4。 因爲回流加熱所致之熱負載在層疊半導體模組單元4中於 各印刷電路板6上導致翹曲。如前文所述,該組合夾具3限 制整體高度,抑制因爲此種翹曲而變形。該層疊半導體模 、、且單7G 4之特徵係抑制該半導體模組2 a至2 d之中的位置錯 (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
•15- A7 五、發明説明(13 决,而使整體高度準確地保持於,’ h,,尺寸。此於第一中間層 連接盤8與表面第二中間層連接盤9之間提供安穩之連接狀 悲。琢層疊半導體模組單元4亦保持該半導體模組。至^ 之均勻度。 自回流爐取出組合夹具3且如所述般地冷卻之後,將其送 入將該層疊半導體模組單元4裝配於母基材5上之方法了自 組合夾具3取出該高度限制元件丨7及頂蓋丨8。之後,組合 夾具3藉操作裝置反轉,置於母基材5上。該半導體模組單 疋4中,使用頂層半導體模組以作爲該母基材$使用之 模組。 口 藏組合夾具3係以適當之支撑機構操作,使得層疊半導體 杈組單兀4係保持於層疊空間j 9中。如圖2(幻及4所示,該 訂 組合夾具3係定位於母基材5上,經組合使得位於母基材$ 之邊緣區域5a中之定位栓22裝配於定位孔2〇中。此種組合 夾具3足組合狀態係藉機械箝、膠帶、或砝碼(省略細節)保 持。 孩母基材5係包括具有機械剛度且厚度大於供半導體模組 2使用i印刷電路板6之印刷電路板,構成供多層半導體裝 置1使用之基座。母基材5係構成外部連接元件,其中形成 適當之連接接頭或電路導體(省略細節)。母基材5係包括對 應於供半導體模組2使用之第二中間層連接盤9而形成之中 間層連接盤23。裝置該層疊半導體模組單元4時,焊漿等 施加於母基材5之中間層連接盤23上。 組合夾具3與母基材5之組合體係送至回流爐中,以於母 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) M規格(21〇χ297公慶 -16 · 487995 A7 B7 __ 五、發明説明(Μ) 基材5及半導體模組2 d之間進行中間層連接。即,當施加 回流加熱時,該隆起物1 3熔化,於對應之中間層連接盤2 3 與第一中間層連接盤8之間硬化,而於母基材5與半導體模 組2 d之間進行中間層連接。自回流爐取出組合夾具3且如 所述般地冷卻之後,自母基材5取下組合夾具3。使用切片 機等裝置切除母基材5之邊緣區域5a,以形成多層半導體 裝置1,上層裝置有層疊半導體模組單元4。 該組合夹具3具有主體1 6,包括如前文般整體性地形成 於基座1 4上之箱形本體1 5,但不限於該結構。圖5中之組 合夾具3 0係包括基板3 1、多個高度限制間隔物3 3、及頂蓋 34。基板31具有大於半導體模組2之外側尺寸。主要平面 3 la係於相對高平坦度準確度下形成。該基板3 i具有層疊區 域31b,以供位於主要平面31a中心之半導體模組2使用。主 要平面31a係作爲連續層疊該半導體模組2所用之參考平面。 定位導栓3 2係環繞該基板3 1之層疊區域3 lb。如圖5所示 ’提供一對定位導栓3 2於印刷電路板6之對應側面,使得 該栓於接近兩側之處接觸。定位導栓3 2限制該半導體模組 2之印刷電路板6的外緣,以校準各半導體模組2。例如, 當該印刷電路板6小時,其較佳係針對各個側邊提供一個定 經濟部中央標準局員工消費合作社印策 (請先閱讀背面之注意事項再填寫本頁} 位導栓3 2。定位導栓排列成其於不同位置之至少三側邊接 觸亦佳。 於基板3 1上,在一對定位導栓3 2之間提供一高度限制間 隔物3 3。如圖5 ( b )所示,各高度限制間隔物3 3係具有矩型 剖面,長邊係對應於該印刷電路板6之各側邊。由基板3 i -17- >紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210X 297公釐) 經濟部中央標準局員工消費合作社印製 4^/995 A7 一 -----—- _B7_ 五、發明説明(15) 至各間隔物之頂端的高度” h,,等於四層半導體模組2 a至2 d 之问度。頂蓋3 4具有稍大於該半導體模組2之外圍尺寸。 其底面3 4 a係具有相對高値之平坦度準確性。 組合夫具30中,四個半導體模組以至“依序層疊於基板 31上。孩組合夾具3〇藉著使用各定位導栓32限制外層,而 使半導體模組2 a至2 d彼此校準。層疊該半導體模組2之後 ’頂盖3 4係裝置於該組合夾具3 〇之高度限制間隔物3 3上。 ★亥組合夹具3 0限制整體高度,使得該頂蓋3 4壓縮該半導體 模組2而保持均勻度。 如同則述組合夾具3之情況,組合夾具3 〇係送至回流爐 中。組合夹具30隨之在半導體模組2中進行中間層連接之 過程,並將其裝配於母基材5上。之後,自母基材5取下該 組合夾具30,以製造該多層半導體裝置j。如圖5(a)所示 ,組合夫具3 0具有定位導栓32,其各較高度限制間隔物33 長。因此,該定位導栓3 2亦用以與母基材5校準。當然, 所有定位導栓32皆非必要較高度限制間隔物3 3長。 該組合夾具3 0使用定位導栓3 2,以部分調整該印刷電路 板6之外緣。此結構簡化將該半導體模組2層疊於該基板3 1 上之操作。組合夾具30亦可簡易地維修清洗元件等。 圖6中之組合夾具40具有幾乎與組合夾具30相同之基本 結構。組合夾具40之特徵爲多個定位導栓41貫穿各半導體 模組2,以使此等模組彼此校準。即,定位孔4 2係形成於 供半導體模組2使用之印刷電路板6的外緣上。此等模組係 層疊於組合夹具4 0之基板3 1上。該定位孔4 2係形成爲通孔 -18- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(21〇X 297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁} 訂 487995 經濟部中央標準局員工消費合作社印策 A7 五、發明説明(16 ) ,即,位於該印刷電路板6中未形成電路導體等物之四個轉 角上。各定位導栓41係提供於基板3丨上對應於定位孔42處。 根據此組合夾具4 0,該半導體模組2連續層疊.,使得各 走位導栓4 1貫穿對應之定位孔4 2。此情況下,組合夾具4 〇 接準確地校準該半導體模組2,而穩固地保持該校準狀態。 當該組合夾具4 0及該半導體模組2係相對小時,較佳係於 —個不同位置形成彼此裝配之定位導拾41及定位孔42。 -19- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS ) A4規格(210 X297公釐) (請先閲讀背面之注意事項再填寫本頁)
Claims (1)
- 487995 A8 B8 C8 D8 六、申請專利範圍 1. 一種多層半導體裝置組合夾具,包括: 一基本元件,用以連續層疊多個半導體模組,各包括 裝置於薄層印刷電路板上之半導體晶片及位於多層連接 盤之各層上的隆起物; 一位置限制機構,用以層疊彼此位置限制於基本元件 上之半導體模組; 一高度限制機構,用以限制層疊於該基本元件上之半 導體模組群之整體高度; 一均勻度保持機構,用以保持兩層半導體模組之均勻 度;及 一校準機構,用以參照母基材提供校準,該母基材中 裝置有層疊半導體模組單元, 其中該半導體模組中之組合夾具係藉施加回流加熱熔 化各隆起物而進行中間層連接,反轉定位並經由該校準 機構與該母基材組合,在該母基材與該層疊半導體模組 單元之第一層半導體模組之間進行中間層連接之後移除。 2. 如申請專利範圍第1項之多層半導體裝置組合夾具,具 有一箱形元件,其係組裝於該基本元件上,且包括一儲 存空間,以儲存於層疊狀態下之特定數目半導體模組, 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 ------:---;--------裝--- (請先閱讀背面之注意事項再Hi本頁) --線- 其中該儲存空間之内牆藉著支撑該半導體模組之外緣 而構成該位置限制機構。 3 .如申請專利範圍第2項之多層半導體裝置組合夾具,其 中該校準機構係包括多個定位栓及定位孔,對應地形成 於該箱形元件之開口末端上及該母基材上。 -20- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公爱7 申請專利範圍 如申請專利範圍第i項之多層半導體裝置組合夾具,其 中S位置限制機構係包括多個定位检,位於該基本元件 上,且用以固定該半導體模組之外緣的至少三個不同位 置。 如申請專利範圍第1項之多層半導體裝置組合夹具,其 中該位置限制機構係包括多個定位樣,位於該基本元件 上,用以貫穿形成於該半導體模組之邊緣區域中之定位 孔。 如申請專利範圍第5項之多層半導體裝置組合夾具,其 中該定位栓亦使用於該校準機構,其頂端貫穿形成於該 母基材上之定位孔。 、^ 如申請專利範圍第1項之多層半導體裝置組合夹具,其 中該高度限制機構係包括: 一箱形元件,組裝於該基本元件上,其中包括一儲存 2間,以儲存於層疊狀態下之特定數目半導體模組;及 一頂盍7G件,藉著壓縮放置於該儲存空間中之頂層半 導體模組而組裝於該箱形元件中。 一種多層半導體裝置之製造方法,其係使用組合夾具, 以、,二由位置限制機構之使用相互限制多個半導體模組之 位置"^夕個半導體模組各包括裝置於薄層印刷電路板 上之半導體晶片及位於各個多個中間層連接盤上之隆起 物,層疊該模組,經由高度限制機構限制整體高度,及 經由均勻度保持機構保持頂層半導體模組之均勻度,該 方法包括以下步驟: 經濟部智慧財產局員工消費合作社印製 487995 A8 B8 C8 D8 t、申請專利範圍 在該基本元件上連續層疊特定數目之該半導體模組, 個別位置係以該位置限制機構限制,並將經層疊之模組 放置於該組合夾具中,使用該高度限制機構限制整體高 度; 將該組合夾具送入回流爐中,施加回流加熱以溶化各 隆起物,以於該半導體模組中進行中間層連接;及 將該層疊半導體模組單元裝置於該母基材上,使用頂 層半導體模組作爲接合模組,均勻度以該均勻度保持機 構保持。 9. 如申請專利範圍第8項之多層半導體裝置之製造方法, 其係於該組合夾具上提供校準機構,以使該層疊半導體 模組單元相對於用以裝置之母基材校準,該方法係包括 以下步驟: 經由該校準機構定位且組合該組合夾具與該母基材, 在形成層疊半導體模組單元之後反轉; 將該組合夾具及該母基材之組合體送入回流爐中,施 加回流加熱,以使該層疊半導體模組單元中之第一層半 導體模組與該母基材之間得到中間層連接;及 自該母基材取下該組合夾具。 1 0 .如申請專利範圍第8項之多層半導體裝置之製造方法, 其使用該印刷電路板,具有在所有印刷電路板上供各層 使用之中間層連接盤及對應於中間層連接盤之模擬盤, 該方法係包括以下步驟: 在該印刷電路板之各連接盤及模擬盤上形成供各半導 體模組使用之隆起物。 -22- 本紙張尺度適用中國國家標準(CNS)A4規格(210 X 297公釐) --------^-------裝--- (請先閱讀背面之注意事項再本頁) t· •線.
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