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TW201327532A - 有機發光顯示裝置 - Google Patents

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TW201327532A
TW201327532A TW101124605A TW101124605A TW201327532A TW 201327532 A TW201327532 A TW 201327532A TW 101124605 A TW101124605 A TW 101124605A TW 101124605 A TW101124605 A TW 101124605A TW 201327532 A TW201327532 A TW 201327532A
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scan
signal
driving unit
display device
lines
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TW101124605A
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guang-hai Jin
Jae-Beom Choi
Kwan-Wook Jung
June-Woo Lee
Moo-Jin Kim
Ga-Young Kim
Original Assignee
Samsung Display Co Ltd
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Publication date
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Abstract

一種有機發光顯示裝置包含:像素單元，包含形成於複數個掃描線與複數個資料線彼此交錯之區域之複數個像素；第一掃描驅動單元，係藉由依序供應第一測試訊號於該複數個掃描線以偵測該複數個像素之缺陷；以及第二掃描驅動單元，係藉由同時供應第二測試訊號於該複數個掃描線以偵測該複數個像素之缺陷。

Description

有機發光顯示裝置
相關申請案之交互參照
本申請案主張於2011年12月19日向韓國智慧財產局申請之韓國申請案10-2011-0137421之所有權益，其揭露之全部內容將納於此做為參照。
本發明係一種關於有機發光顯示裝置，且更具體而言，係一種包含可被測試與正常驅動之面板與驅動電路之有機發光顯示裝置。
近來，正發展具有減少陰極射線管(cathode ray tubes, CRTs)的缺點之重量和體積的各種形式的平板顯示設備。平板顯示設備之範例包含液晶顯示器(LCD)、場效發射顯示器(FED)、電漿顯示平板(PDP)、有機發光顯示裝置及其相似物。
平板顯示設備中的有機發光顯示裝置藉使用由於電子與電洞之結合而發光之有機發光二極體(OLED)而顯示影像且具快速反應速度與低功率消耗之優勢。
有機發光顯示裝置具有像素形成於其中之面板，以及用以驅動面板之驅動電路，其中於像素中複數個掃描線與複數個資料線彼此交錯排列，且薄膜電晶體(TFTs)形成於以掃描線與資料線彼此垂直交錯的方式定義的區域。
於有機發光顯示裝置製造完成後，執行後續製程以測試面板與驅動電路。
本發明提供一種同時發光型有機發光顯示裝置，其包含可供測試與正常驅動之面板與驅動電路。
根據本發明之ㄧ態樣，提供一種有機發光顯示裝置，其包含像素單元，包含複數個像素形成於複數個掃描線與複數個資料線彼此交錯的區域、第一掃描驅動單元，係藉由依序供應第一測試訊號於複數個掃描線以偵測複數個像素之缺陷；以及第二掃描驅動單元，係藉由同時供應第二測試訊號於複數個掃描線以偵測複數個像素之缺陷。
第一掃描驅動單元可具有複數層級(stages)，且該複數層級的每一個可包含一位移暫存器。
第二掃描驅動單元可包含:第一控制線，係輸出第一控制訊號；第二控制線，係輸出第二控制訊號；以及複數個開關元件，每一開關元件具有一結構，於其中有一閘極電極電性連接至該第一控制線、第一電極電性連接至該第二控制線、以及第二電極電性連接至該複數個掃描線中之對應掃描線。
複數個開關單元中的每一個可藉由第一控制訊號而開啟，接著可輸出作為第二測試訊號之第二控制訊號，至複數個掃描線中之對應掃描線。
複數個開關元件可分別對應於複數個掃描線，且可沿第一控制線與第二控制線平行連接。
第二掃描驅動單元可更包含供應第一控制訊號與第二控制訊號之墊塊。
第一掃描驅動單元根據第一測試訊號是否輸出至複數個掃描線可偵測複數層級之缺陷。
在正常模式，於訊框週期中的一時間區間中，第一掃描驅動單元可依序供應掃描訊號至複數個掃描線，且於訊框週期中的其他時間區間中，第二掃描驅動單元可同時間施加掃描訊號至複數個掃描線。
在正常模式，於訊框週期中的一時間區間中，當像素單元發光時，第一掃描驅動單元可依序供應掃描訊號至複數個掃描線。
有機發光顯示裝置可更包含資料驅動單元，透過複數個資料線中之對應資料線供應資料訊號至像素，其中像素藉該第一測試訊號或第二測試訊號而開啟；以及時間控制單元，控制該第一掃描驅動單元、第二掃描驅動單元及資料驅動單元。
根據本發明之另一態樣，提供一種於正常模式及測試模式驅動之有機發光顯示裝置，包含:像素單元，係包含複數個像素形成於複數個掃描線與複數個資料線彼此交錯之區域；第一掃描驅動單元，於該測試模　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 式中藉依序供應第一測試訊號至複數個掃描線以偵測複數個像素之缺陷，並於正常模式中依序供應掃描訊號至複數個掃描線以使資料訊號經由複數個掃描線中之對應掃描線供應至像素，其中像素藉掃描訊號開啟；及一第二掃描驅動單元，於測試模式藉同時供應第二測試訊號於複數個掃描線以偵測複數個像素之缺陷。
在下文中，本發明將藉由參閱附圖敘述本發明之例示性實施例而詳細說明，其中顯示本發明之實施例。於圖中相似的參考符號表示相似的元件。於本發明之描述中，當某些相關技術被認為可能會不必要地模糊本發明之本質時，其詳細之描述將被省略。
當詞彙”第一”與”第二”用在描述各種元件時，很明顯元件不需受限於詞彙”第一”與”第二”。詞彙”第一”與”第二”只用於分辨每一元件。例如，第一元件可指稱第二元件或第二元件可指稱第一元件而不與本發明矛盾。
於此處使用之詞彙”及/或”包含一或多個相關所列項目之任一和全部之組合。
表達詞彙如“至少其一”置於一列舉元件前時，修飾全部的列舉元件而非修飾列舉元件中之個別元件。
第1圖係根據本發明之實施例之有機發光顯示裝置100之方塊圖。
參閱第1圖，有機發光顯示裝置100包含像素單元130、第一掃描驅動單元110、第二掃描驅動單元180、資料驅動單元120，時間序控制單元150、控制線驅動單元160以及電源驅動單元170。
像素單元130包含與掃描線S1至Sn、控制線GC1至GCn、資料線D1至Dm以及第一電源線ELVDD與第二電源線ELVSS連接之像素140。包含於像素單元130之像素140形成於掃描線S1至Sn與資料線D1至Dm之間的交錯點。像素140控制從第一電源線ELVDD經有機發光二極體(OLED)供應至第二電源線ELVSS的電流以回應資料訊號。接著，具有預定亮度的光於有機發光二極體中產生。
有機發光顯示裝置100係基於同時發光法驅動之顯示裝置，且可於用以檢測像素單元130之缺陷之測試模式與根據像素單元130之正常驅動以顯示影像之掃描模式運作。
第一掃描驅動單元110和第二掃描測試單元180提供掃描訊號或測試訊號經掃描線S1至Sn到每一像素140。於測試模式中，第一掃描驅動單元110依序提供用以檢測像素單元130之缺陷的測試訊號至掃描線S1至Sn，且於掃描模式中，第一掃描驅動單元110依序供應像素單元130之正常驅動之掃描訊號至掃描線S1至Sn。亦即，第一掃描驅動單元110允許藉由依序輸入測試訊號或掃描訊號至掃描線S1至Sn依序輸入資料訊號像素140。於測試模式中，第二掃描驅動單元180可同時供應用以檢測像素單元130之缺陷之測試訊號至全部的掃描線S1至Sn，且於掃描模式中，第二掃描驅動單元180可同時供應像素單元130之正常驅動之掃描訊號至全部的掃描線S1至Sn。亦即，第二掃描驅動單元180可同時輸入測試訊號或掃描訊號至全部的掃描線S1至Sn。
控制線驅動單元160提供控制訊號經控制線GC1至GCn至每一像素140。
資料驅動單元120提供資料訊號經資料線D1至Dm至每一像素140。
時間控制單元150控制第一掃描驅動單元110、第二掃描驅動單元180、資料驅動單元120以及控制線驅動單元160。然而，第二掃瞄驅動單元180可藉由於測試模式的外加訊號獨立控制。
電源驅動單元170提供第一電源ELVDD(t)經第一電源線ELVDD至每一像素140，並提供第二電源ELVSS(t)經第二電源線ELVSS至每一像素140。在本實施例中，藉由於訊框週期中具有不同位準之電壓，至少一第一電壓ELVDD(t)與第二電壓ELVSS(t)係供應至像素單元130之每一像素140。
電源驅動單元170可接收控制訊號以驅動第一電源ELVDD(t)與第二電源ELVSS(t)，在這點上，輸入電壓驅動單元170之控制訊號可於時間控制單元150或第一掃描驅動單元110中產生且接著可輸入電源驅動單元170。
第2圖係根據本發明之實施例之描繪掃描驅動單元配置之方塊圖。
參閱第2圖掃描驅動單元可包含第一掃描驅動單元110與第二掃描驅動單元180。
第一掃描驅動單元110包含依序輸出測試訊號或掃描訊號至每一掃描線S1至Sn之複數層級且每一級包含位移暫存器區塊SR。為了方便描述，第2圖只描繪第一級之第一位移暫存器區塊SR1至第三級之第三位移暫存器區塊SR3。
於正常模式中，每一位移暫存器區塊SR係連接至一訊號線SC、從訊號線SC接收時脈訊號及/或控制訊號、輸出掃描訊號至對應之掃描線以及同時供應掃描訊號至下一級之位移暫存器區塊SR，作為下一級之位移暫存器區塊SR之啟動訊號。掃描啟動訊號(SSP)輸入至第一位移暫存器區塊SR1，且來自前面的位移暫存器之輸出訊號，即掃描訊號輸入至第二位移暫存器區塊SR2至第n位移暫存器區塊至SRn。
於測試模式中，每一位移暫存器區塊SR連接至一訊號線SC、從訊號線SC接收時脈訊號及/或控制訊號、輸出測試訊號至對應之掃描線以及同時供應測試訊號至下一級之位移暫存器區塊SR，做為下一級之位移暫存器區塊SR之啟動訊號。掃描啟動訊號(SSP)輸入至第一位移暫存器區塊SR1，且來自前面的位移暫存器區塊之輸出訊號，即測試訊號輸入至第二位移暫存器區塊SR2至第n位移暫存器區塊SRn。測試訊號具有與掃描訊號相同之位準。
為了便於描述，訊號線SC係第2圖中的單線，然而訊號線SC可包含一或多條時脈訊號供應線與控制訊號供應線。
第二掃描驅動單元180包含用以同時輸出測試訊號或掃描訊號至掃描線S1至Sn之複數個開關元件TR、與供應控制訊號至開關元件TR之第一控制線181與第二控制線185。第一控制線181與第二控制線185分別連接至供應控制訊號之第一墊塊183與第二墊塊187。為了便於描述，第2圖只繪示第一至第三開關元件TR1至TR3。
開關元件TR分別對應至掃描線S1至Sn，沿第一控制線181與第二控制線185之方向平行設置。於每一開關元件TR中，閘極係電性連接至第一控制線181，第一電極係電性連接至第二控制線185以及第二電極係電性連接至掃描線S1至Sn中之對應之掃描線。
於正常模式中，藉供應至第一控制線181之第一控制訊號開啟每一開關元件TR，且開關元件TR同時分別供應作為掃描訊號之第二控制訊號至掃描線S1至Sn，其中第二控制訊號供應至第二控制線185。
於測試模式中，藉供應至第一控制線181之第一控制訊號開啟每一開關元件TR ，且開關元件TR同時分別供應作為測試訊號之第二控制訊號至掃描線S1至Sn，其中第二控制訊號供應至第二控制線185。
於每一開關元件TR形成為n型通道金氧半導體場效電晶體(NMOS transistor)之情況，如本實施例，藉具有高位準之第一控制訊號開啟每一開關元件TR，且於每一開關元件TR形成為p型通道金氧半導體場效電晶體(PMOS transistor)之情況，藉具有低位準之第一控制訊號開啟每一開關元件TR。第二控制訊號對應至具高位準或低位準之掃描訊號，其開啟配置像素140且連接至掃描線S1至Sn之每一控制開關。
第3A圖、第3B圖與第4圖描繪根據本發明之實施例測試有機發光顯示裝置之方法。第5圖描繪當缺陷發生於位移暫存器區塊時，顯示於像素單元之影像之範例。
參考第3A圖，時脈訊號與控制訊號供應至第一掃描驅動單元110之掃描線SC。
因此，第一位移暫存器區塊SR1接收初始掃描啟動訊號、時脈訊號以及控制訊號且接著輸出第一測試訊號TScan(1)至第一掃描線S1。接著，第二位移暫存器區塊SR2第一測試訊號TScan(1)、時脈訊號以及控制訊號且接著輸出第二測試訊號TScan(2)至第二掃描線S2。接著，第三位移暫存器區塊SR3接收第二測試訊號TScan(2)、時脈訊號以及控制訊號且接著輸出第三測試訊號TScan(3)至第三掃描線S3。相似地，第四位移暫存器區塊SR4到第n位移暫存器區塊SRn接收前級之第三測試訊號TScan(3)到第n-1測試訊號TScan(n-1)、時脈訊號以及控制訊號且接著分別輸出第四測試訊號TScan(4)到第n測試訊號TScan(n)至第四掃描線S4到第n掃描線Sn。
如第3B圖所示，測試訊號TScan(1)至TScan(n)係依序供應至掃描線S1至Sn，從而分別連接至掃描線S1至Sn之像素140被開啟，資料訊號係供應至每一像素140，從而每一像素140發光。於此，如果有任何像素140不發光，該像素140就是有缺陷。
於缺陷發生於任何位移暫存器區塊之情況，舉例而言如第4圖所示，如果第三位移暫存器區塊SR3由於缺陷而停用，第三位移暫存器區塊SR3不輸出第三測試訊號TScan(3)，從而位於後級之第四位移暫存器區塊SR4到第n位移暫存器區塊SRn不輸出測試訊號。因此，不輸出測試訊號至掃描線之位移暫存器區塊可認定為有缺陷的。亦即，第一掃描驅動單元110可偵測有缺陷的位移暫存器區塊。
如第5圖所示的情況，連接至已接收第一測試訊號TScan(1)與第二測試訊號TScan(2)之第一掃描線S1與第二掃描線S2之像素140正常地發光(O)，且連接至第三掃描線S3到第n掃描線Sn之像素140不發光(X)。所以，於藉由第一掃描驅動單元110之測試模式中，偵測像素單元130中之有缺陷的像素係有困難的。
第6A圖與第6B圖描繪根據本發明之另一實施例測試有機發光顯示裝置之方法。
參考第6A圖，第一控制訊號供應至第二掃描驅動單元180之第一控制線181，且第二控制訊號供應至第二控制線185。
因此，平行連接之開關元件TR藉第一控制訊號而全部開啟，且作為測試訊號TScan(1)至TScan(n)之第二控制訊號，係同時分別經開關元件TR供應至掃描線S1至Sn。
如第6圖所示，測試訊號TScan(1)至TScan(n)係同時供應至掃描線S1至Sn，且從而開啟分別連接至掃描線S1至Sn之像素140，資料訊號係供應至每一像素140接著每一像素140發光。因此，所有像素140同時發光，以使不發光之像素可認定為有缺陷之像素。
於藉由第二掃描驅動單元180之測試模式中，儘管缺陷發生於第一掃描驅動單元110之任意位移暫存器區塊中，藉由第二掃描驅動單元180有可能偵測有缺陷之像素。同時，因為第二掃描驅動單元180具有簡單電路結構，由此輸出之測試訊號具有相較於位移暫存器區塊之訊號較高之訊號雜訊比(SNR)，以使檢測率增加。同時，於任意開關元件於第二掃描驅動單元180有缺陷之情況，測試訊號不供應至對應之掃描線，但正常供應至剩餘的掃描線，以使有缺陷像素之檢測率增加。
第7圖至第9圖描繪根據本發明之實施例之有機發光裝置之驅動方法。第10圖係根據本發明之實施例之像素驅動時間圖。
本實施例可應用於驅動第一同時發光型有機發光顯示裝置之方法。於第一同時發光法，資料於一訊框時期依序輸入，且於資料完全輸入後，全部的像素單元130，即像素單元130中之像素140同時發光。
更詳細地，參閱第9圖，根據本實施例之驅動方法包含(a)初始化作業、(b)重置作業、(c)臨界電壓補償作業、(d)掃描作業(資料輸入作業)(e)發光作業以及(f)發光結束作業。(d)掃描作業(資料輸入作業)於掃描線中依序執行，但剩餘之作業，即(a)初始化作業、(b)重置作業、(c)臨界電壓補償作業、(e)發光作業以及(f)發光結束作業同時於像素單元130中執行。
於此，(a)初始化作業指於其中包含於每一像素140之像素電路之節點電壓係初始化為當驅動電晶體之臨界電壓輸出時相同之電壓之時期，且(b)重置作業指於其中重置供應至像素單元130之每一像素140之資料電壓，且為了防止有機發光裝置發光，有機發光裝置之陽極之電壓下降至相同於或小於陰極之電壓之時期。
並且，(c)臨界電壓補償作業指於其中包含於每一像素140中之驅動電晶體之臨界電壓被補償之時期，且(f)發光結束作業指於其中每一像素140發光後，結束發光以插入黑色或調光之時期。
因此，供應至(a)初始化作業、(b)重置作業、(c)臨界電壓補償作業、(e)發光作業以及(f)發光結束作業之訊號，即供應至每一掃描線S1至Sn之掃描訊號、供應至每一像素140之第一電源ELVDD(t)和/或第二電源ELVSS(t)以及供應至每一控制線GC1至GCn之控制訊號藉預定之電壓位準而同時分別供應至像素單元130中之每一像素140。
於根據本實施例之第一同時發光法，作業(a)至(f)在時序上清楚地區分，從而補償電路之電晶體之數量與用於控制包含於每一像素140中之電晶體之訊號線之數量可減少，且快門眼鏡(shutter-glass)式三維(3D)顯示器可容易地實現。
於快門眼鏡式三維顯示器中，當使用者戴著左眼/右眼之透光率從0%至100%之間切換之快門眼鏡看螢幕，透過影像顯示裝置，即有機發光顯示裝置100之像素單元130，播放之螢幕，對每一訊框交替輸出左眼影像與右眼影像。然後，使用者可分別透過左眼與右眼看左眼影像與右眼影像，且藉由如此實行，便實現立體效應。
參閱第10圖，像素140由同時發光法所驅動，且每一訊框分割為初始期間Init、重置期間Reset、臨界電壓補償時期Vth、掃描/資料輸入時期Scan、發光時期Emission以及發光結束時期Off。
於此，掃描訊號Scan(n)於掃描/資料輸入時期Scan係依序輸入至掃描線且回應此序列輸入，資料訊號依序輸入至像素140。然而，於掃描/資料輸入時期Scan以外之其餘時期，訊號，即具有預定之電壓位準之第一電源ELVDD(t)、掃描訊號Scan(n)及資料訊號Data(j)，係同時供應至像素單元130中之像素140。
每一像素140之驅動電晶體之臨界電壓補償作業以及每一像素140之發光作業根據訊框藉由像素單元130中之像素140同時進行。
於根據本實施例之第一同時發光法，第一掃描驅動單元110及第二掃描驅動單元180可分別於測試模式與掃描模式作業。
參考第7圖，第一掃描驅動單元110於掃描訊號依序供應至掃描線之第9圖之像素驅動時間圖之時期B作業。時脈訊號與控制訊號供應至第一掃描驅動單元110之訊號線SC。
因此，第一位移暫存器區塊SR1接收初始掃描啟動訊號、時脈訊號以及控制訊號且接著輸出第一掃描訊號Scan(1)至第一掃描線S1。接著，第二位移暫存器區塊SR2接收第一掃描訊號Scan(1)、時脈訊號以及控制訊號且接著輸出第二掃描訊號Scan(2)至第二掃描線S2。接著，第三位移暫存器區塊SR3接收第二掃描訊號Scan(2)、時脈訊號以及控制訊號且接著輸出第三掃描訊號Scan(3)至第三掃描線S3。相似地，第四位移暫存器區塊SR4到第n位移暫存器區塊SRn接收前級之第三掃描訊號Scan(3)到第n-1掃描訊號Scan(n-1)、時脈訊號以及控制訊號且接著分別輸出第四掃描訊號Scan(4)到第n掃描訊號Scan(n)至第四掃描線S4到第n掃描線Sn。
掃描訊號Scan(1) 到Scan(n)係依序供應至掃描線S1到Sn，然後開啟分別連接至掃描線S1到Sn之像素140，然後資料訊號供應至每一像素電極140。
參考第8圖，第二掃描驅動單元180於掃描訊號同時供應至所有像素之第9圖之像素驅動時間圖之時期A作業。第一控制訊號供應至第二掃描驅動單元180之第一控制線181，且第二控制訊號供應至第二控制線185。
因此，平行連接之開關元件TR係由第一控制訊號全部打開，且作為掃描訊號Scan(1)至Scan(n)之第二控制訊號，經開關元件TR同時分別供應至掃描線S1至Sn。
第11圖係根據本發明之另一實施例之像素驅動時間圖。
本實施例可應用至第二同時發光型有機發光顯示裝置之驅動方法。相較於參照第9圖與第10圖描述之第一同時發光法，根據本實施例之第二同時發光法之不同在於，當全部的像素單元130，即像素單元130中的像素140於一訊框時期同時發光時，後續資料訊號係依序輸入。
所以，第二掃描驅動單元180可只於測試模式作業，且第一掃描驅動單元110可於測試模式與掃描模式作業。
參閱第11圖，像素140同時發光，且每一訊框分割為初始期間Init、重置期間Reset、臨界電壓補償時期Vth、掃描與發光時期Scan/Emission以及發光結束時期Off。
於此，於掃描與發光時期Scan/Emission，當像素單元130之像素140藉先前輸出之資料訊號而同時發光，掃描訊號Scan(n)係依序輸入至掃描線，且回應此序列輸入，後續資料訊號依序輸入像素140。
每一像素140之驅動電晶體之臨界電壓補償作業與每一像素140之發光作業根據訊框藉由像素單元130中之像素140同時進行。相較於參照第10圖所描述之第一同時發光法，根據本實施例之第二同時發光法的優點在於發光裝置之使用期限的改進、驅動電壓之減少、斑點的改進、高發光工作周期比等。
參閱第7圖，第一掃描驅動單元110係於掃描訊號依序供應至掃描線後隨即於第11圖之像素驅動時間圖所示之時點發光之時期C中作動。時脈訊號與控制訊號供應至第一掃描驅動單元110之訊號線SC。
因此，第一位移暫存器區塊SR1接收初始掃描啟動訊號、時脈訊號及控制訊號，且接著輸出第一掃描訊號Scan(1)至第二掃描線S1。接著，第二位移暫存器區塊SR2接收第一掃描訊號Scan(1)、時脈訊號及控制訊號且接著輸出第二掃描訊號Scan(2)至第二掃描線S2。接著，第三位移暫存器區塊SR3接收第二掃描訊號Scan(2)、時脈訊號及控制訊號，且接著輸出第三掃描訊號Scan(3)至第三掃描線S3。相似地，第四位移暫存器區塊SR4至第n位移暫存器區塊SRn接收前級之第三掃描訊號Scan(3)至第n-1掃描訊號Scan(n-1)、時脈訊號及控制訊號，且接著分別輸出掃描訊號Scan(4)到Scan(n)至第四掃描線S4到Sn。
掃描訊號Scan(1)至Scan(n)依序供應掃描線S1至Sn，因此分別連接至掃描線S1至Sn之像素140被開啟，接著資料訊號供應至每一像素140。
於一或多實施例中，加入能同時供應掃描訊號或測試訊號至包含位移暫存器區塊之掃描驅動單元之簡單驅動電路，以使對於像素單元之缺陷測試與藉像素單元同時發光成為可能。
參考同時發光型有機發光顯示裝置而描述一或多個實施例。然而，一或多個實施例可應用至沒有於其中掃描訊號同時供應至全部像素之A時期之有機發光顯示裝置，或於其中資料訊號係依序輸入至掃描線，接著依掃描線之順序執行發光之漸進發光式有機發光顯示裝置。於此情況，第二掃描驅動單元180可只於測試模式作業，且第一掃描驅動單元110可於測試模式與掃描模式中作業。
於一或多個實施例中，藉由增加簡單電路，可偵測面板與驅動電路之缺陷且藉於面板同時發光而驅動為可能。
雖然本發明已參照其例示性實施例具體地顯現與描述，其將為所屬技術領域中具有通常知識者理解的是，任何未脫離本發明之精神與範疇，而對其進行之等效修改或變更，均應包含於後附之申請專利範圍中。
100．．．有機發光顯示裝置
110．．．第一掃描驅動單元
120．．．資料驅動單元
130．．．像素單元
140．．．像素
150．．．時間控制單元
160．．．控制線驅動單元
170．．．電源驅動單元
180．．．第二掃描驅動單元
181．．．第一控制線
183．．．第一墊塊
185．．．第二控制線
187．．．第二墊塊
SC．．．訊號線
SR1-SRn．．．位移暫存器
TR1-TRn．．．開關元件
S1-Sn．．．掃描線
D1-Dm．．．資料線
GC1-GCn．．．控制線
Scan(1)-Scan(n)．．．掃描訊號
TScan(1)-TScan(n)．．．測試訊號
Data(j)．．．資料訊號
a．．．初始化作業
b．．．重置作業
c．．．臨界電壓補償作業
d．．．掃描作業(資料輸入作業)
e．．．發光作業
f．．．發光結束作業
Init．．．初始時期
Reset．．．重置期間
Vth．．．臨界電壓補償時期
Scan．．．掃描時期
Emission．．．發光時期
Scan/Emission．．．掃描與發光時期
Off．．．發光結束時期
ELVDD(t)．．．第一電源
ELVDD．．．第一電源線
ELVSS(t)．．．第二電源
ELVSS．．．第二電源線
當考慮結合附圖考慮時，本發明之更完整的評價及許多其附帶之優點將藉由參考下列詳細描述而變的更好理解，其中相似符號表示相同或相似元件，其中:
第1圖係根據本發明之實施例之有機發光顯示裝置之方塊圖；
第2圖繪示根據本發明之實施例之掃描驅動單元之配置之方塊圖；
第3A圖、第3B圖及第4圖繪示本發明之實施例之有機發光顯示裝置之測試方法；
第5圖繪示當位移暫存器區塊發生缺陷時，影像顯示於像素單元上之範例；
第6A圖與第6B圖繪示本發明之另一實施例之有機發光顯示裝置之測試方法；
第7圖至第9圖繪示本發明之另一實施例之有機發光顯示裝置之驅動方法；
第10圖係本發明之實施例之像素驅動時間圖；以及
第11圖係本發明之另一實施例之像素驅動時間圖。
100．．．有機發光顯示裝置
110．．．第一掃描驅動單元
120．．．資料驅動單元
130．．．像素單元
140．．．像素
150．．．時間控制單元
160．．．控制線驅動單元
170．．．電源驅動單元
180．．．第二掃描驅動單元
S1-Sn．．．掃描線
D1-Dm．．．資料線
GC1-GCn．．．控制線
ELVDD．．．第一電源線
ELVSS．．．第二電源線

Claims (15)

  1. 一種有機發光顯示裝置，其包含：
    一像素單元，包含複數個像素形成於複數個掃描線與複數個資料線彼此交錯之複數個區域；
    一第一掃描驅動單元，係藉由依序供應一第一測試訊號於該複數個掃描線以偵測該複數個像素之缺陷；以及
    一第二掃描驅動單元，係藉由同時供應一第二測試訊號於該複數個掃描線以偵測該複數個像素之缺陷。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示裝置，其中該第一掃描驅動單元具有複數層級(stages)，且該複數層級的每一級包含一位移暫存器。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之有機發光顯示裝置，其中該第一掃描驅動單元根據該第一測試訊號是否輸出至該複數個掃描線而偵測該複數層級之缺陷。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示裝置，其中該第二掃描驅動單元包含:
    一第一控制線，輸出一第一控制訊號；
    一第二控制線，輸出一第二控制訊號；以及
    複數個開關元件，每一該開關元件具有一閘極電極電性連接至該第一控制線、一第一電極電性連接至該第二控制線、以及一第二電極電性連接至該複數個掃描線中之一對應掃描線之結構。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之有機發光顯示裝置，其中每一該複數個開關元件藉由該第一控制訊號而開啟，接著輸出作為該第二測試訊號之該第二控制訊號至該複數個掃描線中之該對應掃描線。
  6. 如申請專利範圍第4項所述之有機發光顯示裝置，其中該複數個開關元件分別對應於該複數個掃描線，且沿該第一控制線與該第二控制線平行連接。
  7. 如申請專利範圍第4項所述之有機發光顯示裝置，其中該第二掃描驅動單元更包含供應該第一控制訊號與該第二控制訊號之複數個墊塊。
  8. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示裝置，其中在一正常模式，於單一訊框週期中的一時間區間中，該第一掃描驅動單元依序供應一掃描訊號至該複數個掃描線，且
    於該單一訊框週期中的其他時間區間中，該第二掃描驅動單元同時施加該掃描訊號至該複數個掃描線。
  9. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示裝置，其中在一正常模式，於單一訊框週期中的一時間區間中，當該像素單元發光時，該第一掃描驅動單元依序供應一掃描訊號至該複數個掃描線。
  10. 如申請專利範圍第1項所述之有機發光顯示裝置，更包含：
    一資料驅動單元，透過該複數個資料線中之一對應資料線供應一資料訊號至該些像素之其一，其中該些像素藉該第一測試訊號或第二測試訊號而開啟；以及
    一時間控制單元，控制該第一掃描驅動單元、該第二掃描驅動單元及該資料驅動單元。
  11. 一種於正常模式及測試模式驅動之有機發光顯示裝置，包含:
    一像素單元，包含複數個像素形成於複數個掃描線與複數個資料線彼此交錯之複數個區域；
    一第一掃描驅動單元，於該測試模式中藉依序供應
    一第一測試訊號至該複數個掃描線以偵測該複數個像素之缺陷，且於該正常模式中依序供應一掃描訊號至該複數個掃描線以使一資料訊號經由該複數個資料線中之ㄧ對應資料線供應至該些像素之ㄧ，該些像素藉該掃描訊號開啟；以及
    一第二掃描驅動單元，於該測試模式係藉由同時供應一第二測試訊號於該複數個掃描線以偵測該複數個像素之缺陷。
  12. 如申請專利範圍第11項所述之有機發光顯示裝置，其中該第一掃描驅動單元具有複數層級，且該複數層級之每一級包含一位移暫存器。
  13. 如申請專利範圍第12項所述之有機發光顯示裝置，其中該第一掃描驅動單元根據該第一測試訊號是否輸出至該複數個掃描線而偵測該複數層級之缺陷。
  14. 如申請專利範圍第11項所述之有機發光顯示裝置，其中該第二掃描驅動單元包含:
    一第一控制線，輸出一第一控制訊號；
    一第二控制線，輸出一第二控制訊號；以及
    複數個開關元件，每一該開關元件具有一閘極電極電性連接至該第一控制線、一第一電極電性連接至該第二控制線、以及一第二電極電性連接至該複數個掃描線中之一對應掃描線之結構。
  15. 如申請專利範圍第11項所述之有機發光顯示裝置，其中在該正常模式，於單一訊框週期中的一時間區間中，當該像素單元發光時，該第一掃描驅動單元依序供應該掃描訊號至該複數個掃描線，且
    於該單一訊框週期中的其他時間區間中，該第二掃描驅動單元同時施加該掃描訊號至該複數個掃描線。
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