SU979885A1 - Device for laser spectroscopic absorption analysis - Google Patents
Device for laser spectroscopic absorption analysis Download PDFInfo
- Publication number
- SU979885A1 SU979885A1 SU797770483A SU7770483A SU979885A1 SU 979885 A1 SU979885 A1 SU 979885A1 SU 797770483 A SU797770483 A SU 797770483A SU 7770483 A SU7770483 A SU 7770483A SU 979885 A1 SU979885 A1 SU 979885A1
- Authority
- SU
- USSR - Soviet Union
- Prior art keywords
- resonator
- passive
- reflection coefficient
- mirror
- absorbing medium
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/39—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using tunable lasers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
Abstract
Description
(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЛАЗЕРНО-СПЕКТРОСКОПИЧЕСКОГО АБСОРБЦИОННОГО АНАЛИЗА(54) DEVICE FOR LASER-SPECTROSCOPIC ABSORPTION ANALYSIS
Изобретение относитс к лазерной технике и может быть применено в лазерной спектроскопии дл исследовани веществ, благодар чему повышаетс чувствительность анализа атомов и молекул.The invention relates to laser technology and can be applied in laser spectroscopy for the study of substances, thereby increasing the sensitivity of the analysis of atoms and molecules.
Известны устройства дл проведе- : ни спектроскопического анализа в резЙнаторе . При этом кювет.а с поглощающим веществом помещаетс в резонатор лазера, вследствие чего обеспечиваетс многократное прохождение луча лазера через кювету и, тем самым, по- вышение чувствительности анализа.Devices are known for performing either spectroscopic analysis in a resistor. At the same time, the cell with the absorbing substance is placed in the laser cavity, as a result of which the laser beam is passed through the cell several times and, thus, the sensitivity of the analysis is increased.
Известен также резонатор, который образован зеркалом полупроводникового лазера, в частности инжекционного лазера, на одной стороне и дифракционной решеткой на другой стороне . Таким образом, создана резонаторна система, состо ща из активного резонатора, ограниченного зеркалами полупроводникового лазера, и пadcивнoгo резонатора, ограниченного зеркалом с непрозрачным отражающим покрытием и дифракционной решеткой .Also known is a resonator, which is formed by a mirror of a semiconductor laser, in particular an injection laser, on one side and a diffraction grating on the other side. Thus, a resonator system was created consisting of an active resonator bounded by the semiconductor laser mirrors and an add-on resonator bounded by a mirror with an opaque reflective coating and a diffraction grating.
tl.A. Rossi u.a., High-power narrow-line vnth operation of Gaas diode lasers , Lett, Vol. 23 No 1, 1 July, 19731.tl.A. Rossi u.a., High-power narrow-line operation of Gaas diode lasers, Lett, Vol. 23 No 1, 1 July, 19731.
С помощью такого резонатора в зависимости от числа высвечиваемых штрихов решетки можно выдел ть определеннуй спектральнуй область и настраивать в широкой спектральной области оптического усилени полупроводникового лазера.Using such a resonator, depending on the number of displayed grating lines, one can select a specific spectral region and tune in a wide spectral region of the optical gain of a semiconductor laser.
10ten
Вследствие незначительной добротности такого резонатора он непригоден дл абсорбционной спектроскопии в резонаторе-,- так как практически Due to the insignificant quality factor of such a resonator, it is unsuitable for absorption spectroscopy in the resonator -, - as practically
15 достижимое удлинение кюветы весьма незначительно, а поэтому не имеет значени дл повышени чувствительности анализа.15, the cuvette elongation is very insignificant, and therefore does not matter to increase the sensitivity of the analysis.
Применение такого настраиваемого Application of such customizable
20 резонатора в абсорбционной спектроскопии неизвестно, так как вследствие незначительной добротности резонатора полуширина резонансных мод велика и, тем ::амым, исключает использование в лазерной спектроскопии, например дл спектроскопии с предельным разрешением .20, the resonator in absorption spectroscopy is unknown, because, due to the insignificant quality factor of the resonator, the half width of the resonance modes is large and, therefore, excludes the use in laser spectroscopy, for example, for spectroscopy with limiting resolution.
Цель изобретени заключаетс в применении полупроводникового лазе- / The purpose of the invention is to use a semiconductor laser /
30 ра, в частности дл спектроскопии в30 ra, in particular for spectroscopy in
резонаторе, и тем самым в повышепни чувствительности анализа.resonator, and thus to increase the sensitivity of the analysis.
Задача изобретени состоит в том чтобы создать устройство, пригодное ДЛЯ1 использовани полупроводникового лазера, в абсорбционной спектроскопи в резонаторе.The object of the invention is to create a device suitable for using a semiconductor laser in absorption spectroscopy in a resonator.
Согласно изобретению в устройстве дгш лазерно-спектроскопического аб сорбционного анализа с полупроводниковым лазером в качестве источника возбуждающего света, резонаторна система которого состоит из оптически активного резонатора7 которьШ с 1обеих сторон ограничен зеркгшом, и (граничащего с активным резонатором пассивного резонатора, который с одной стороны ограничен зеркалом ак: тивного резо1 атора, а с другой стороны - дифракционной решеткой, задача решаетс тем, что коэффициент отражени зеркала, ограничивающего ре4 зонаторную систему, R коэффициент отражени зеркала, ограничивающего пассивный резонатор, R. j О, коэффициент отражени дифракционной решетки 2. поглощающа среда размещаетс в пассивном резонаторе или вне резонаторной системы, детектор располагаетс либо за оптически активным резонатором и вл етс комбинацией спектрометра и регистрирующего устройства, либо за пассивным резонатором и представл ет собой регистрирующее устройство без спектрометра.According to the invention, in a laser spectroscopic absorption analysis device with a semiconductor laser as a source of exciting light, the resonator system of which consists of an optically active resonator 7 which is bounded from a mirror on one side of the screen and (bordering on an active resonator of a passive resonator that is mirrored on one side The active resonator and, on the other hand, the diffraction grating, the problem is solved by the fact that the reflection coefficient of the mirror bounding the resonator system, R is the reflection coefficient of the mirror limiting the passive resonator, R. j O, the reflectance of the diffraction grating 2. The absorbing medium is placed in the passive resonator or outside the resonator system, the detector is located either behind the optically active resonator and is a combination of a spectrometer and a recording device, or behind the passive resonator, and is a recording device without a spectrometer.
Путем выделени узкой спектральной области с помощью дифракционной решетки можно устанавливать длину волны на соответствующую линию поглощени в спектральной области оптического усилени иу подбира длину пассивного резонатора и число высвечиваемых штрихов решетки, отрегулировать на более широкий или узкий диапазон, чем соответствующий диапазон поглощени .By isolating a narrow spectral region using a diffraction grating, you can set the wavelength to the appropriate absorption line in the spectral optical gain region and select the length of the passive resonator and the number of grating strokes displayed, adjust to a wider or narrower range than the corresponding absorption range.
Вследствие определенных потерь на поглощение, которые по абсолютной величине равны потер м на поглощение , обусловленным поглощающей средой , или складываютс из последних и дополнительных потерь на поглощение , добротность резонатора с коэффициентом отражени R и Я понимаетс настолько, что оптического активного резонатора с коэффициен . тами отражени Я и Я, нарастают и, вследствие конкуренции мод интенсивность спектрально выделенных мод ( моды) нелинейно уменьшаетс , за счет чего сут ественно повышаетс чувствительность анализа, причем диапазон поглощени должен быть ШИ ре, чем выделенна спектральна область . В том случае, когда диапазон поглощени уже, чем выделенна спектральна область, вследствие конкуренции мод интенсивность понижаетс , и вьщеленна спектральна область расшир етс , что приводит к повышению чувствительности анализа, и достигаютс определенные потери н поглощение, так что дополнительно возникает нелинейное уменьшение интенсивности , которое повышает чувствительность анализа.Due to certain absorption losses, which in absolute value are equal to absorption losses due to the absorbing medium, or add up from the latter and additional absorption losses, the quality factor of the resonator with the reflection coefficient R and I is so understood that the optical active resonator is of the coefficient. The reflections of I and I increase and, due to the competition of modes, the intensity of the spectrally selected modes (modes) decreases nonlinearly, due to which the analysis sensitivity increases, and the absorption range should be WI, than the selected spectral region. When the absorption range is narrower than the selected spectral region, the intensity decreases as a result of the mode competition, and the total spectral region expands, which increases the sensitivity of the analysis, and some loss of absorption is achieved, so that increases the sensitivity of the analysis.
Один из вариантов устройства характеризуетс тем, что поглощающа среда находитс в оптически пассивном резонаторе, зеркало, ограничивающее резонаторную систеглу, имеет коэффициент отражени R;, 1 и детектор , состо щий, из спектрометра и регистрирующего устройства, дл интенсивности поглощени располагаетс за оптически активным резонатором ,One of the variants of the device is characterized by the fact that the absorbing medium is in an optically passive resonator, the mirror bounding the resonator system has a reflection coefficient R ;, 1 and a detector consisting of a spectrometer and a recording device for absorbing intensity is located behind the optically active resonator,
В другом варианте устройства согласно изобретению поглощающа срда находитс также в оптически пассивном резонаторе, зеркало, ограничивающее резонаторную систему, имеет коэффициент отражени R 1, в качестве детектора за калиброванной выдел ющей спектральную область и согласующей дифракционной решеткой расположено регистрирующее устройство . Таким образом, возможен анализ разв занного вследствие другого пор дка спектра лазерного луча без спектрометра,In another embodiment of the device according to the invention, the absorbing radiation is also in the optically passive resonator, the mirror bounding the resonator system has a reflection coefficient R 1, a recording device is located as a detector behind a calibrated spectral spectral region and matching diffraction grating. Thus, it is possible to analyze the spectrum of a laser beam that is ignored due to a different order, without a spectrometer,
Абсорбционный спектроскопический анализ возможен с помощью настраиваемого полупроводникового лазера без спектрометра также и в том случае , если поглощающа среда размещаетс за дифракционной решеткой вне резонаторной системы, и детектор поглощени в виде регистрирующего устройства , располагаетс за поглощающе средой, причем ограничивающее резонаторную систему зеркало имеет коэффициент отран ени R 1.Absorption spectroscopic analysis is possible with a tunable semiconductor laser without a spectrometer, also if the absorbing medium is located behind the diffraction grating outside the resonator system, and the absorption detector in the form of a recording device is located behind the absorbing medium, and the mirror bounding the resonator system has a coefficient of R 1.
Устройство дл применени в абсорбционной спектроскопии с предельной разрешающей способностью характеризуетс .Тем, что ограничивающее резонаторную систему зеркало имеет коэффициент отражени R 1, поглощающа среда находитс внутри или вне резонаторной системы, и детектор в виде регистрирующего устройства располагаетс за пассивным резонатором .A device for use in absorption spectroscopy with a limiting resolution is characterized. Here, the mirror bounding the resonator system has a reflection coefficient R 1, the absorbing medium is inside or outside the resonator system, and the detector in the form of a recording device is located behind the passive resonator.
Вследствие непрозрачного отражающего покрыти зеркала, ограничивающего резонаторную систему, добротность резонаторной системы и, тем самым, полуширина,настраиваемой и выдел емой моды (мод; существенно уменьшаетс , что обеспечивает возможность применени , например, в абсорбционной спектроскопии с предельной разрешающей способностью вне и внутри резонатора.Due to the opaque reflective coating of the mirror limiting the resonator system, the Q-factor of the resonator system and, thus, the half-width of the tunable and released mode (modes; significantly reduced, which makes it possible to use, for example, absorption spectroscopy with maximum resolution inside and outside the resonator.
В другом варианте предлагаемой ре зонаторной системы, когда полупроводниковый лазер, одно зеркало которого имеет непрозрачное отражающее покрытие, а второе зеркало - частично прозрачное отражающее покрытие , находитс в барокамере, оптическое усиление полупроводникового лазера настраиваетс в широкой спектральной области.In another embodiment of the proposed resonator system, when a semiconductor laser, one mirror of which has an opaque reflective coating and the second mirror is a partially transparent reflective coating, is located in the pressure chamber, the optical gain of the semiconductor laser is tuned in a wide spectral region.
Точна настройка этой предлагаемой резонаторной системы осуществл етс в этом случае, дифракционной решеткой, и таким образом возможно проводить абсорбционный спектроскопический анализ в пределах и вне пределов резонатора с предельным разрешением , высокой чувствительностью анализа в большом диапазоне настройки без каких-либо спектрометрических вспомогательных средств,The fine tuning of this proposed resonator system is carried out in this case by a diffraction grating, and thus it is possible to carry out absorption spectroscopic analysis within and outside the resonator with a limiting resolution, high sensitivity analysis in a large tuning range, without any spectrometric aids,
На фиг.1 представлено устройство с поглощающей средой, наход щейс внутри резонаторной системы полупроводникового лазера, и детектором, расположенным за оптически активным резонатором на фиг.2 - устройство с поглощающей средой, наход щейс внутри резонаторной системы, и детектором , расположенным за дифракционной решеткой оптически пассивного резонатора регистрирующего устройства без спектрометра на фиг.З - устройство, в котором за дифракционной решеткой оптически рассивного резонатора располагаетс устройство без спектрометра на фиг.4 - устройство, в котором зеркало , ограничивающее оптически актавный резонатор, имеет нецрозрач (ное отражающее покрытие, поглощающа среда находитс внутри или вне резонаторной системы, а регулирующее устройство без спектрометра рас полагаетс за пассивным резонатором на фиг.5 - предлагаемое, устройство согласно фиг.4, в котором активный оптический резонатор дополнительно помещен в барокамеру.Figure 1 shows a device with an absorbing medium inside the resonator system of a semiconductor laser, and a detector located behind the optically active resonator in Figure 2 - a device with an absorbing medium inside the resonator system, and a detector located behind the diffraction grating optically a passive resonator of a recording device without a spectrometer in FIG. 3 — a device in which a device without a spectrometer is located behind the diffraction grating of an optically spread resonator Fig. 4 shows a device in which the mirror limiting the optically active cavity has a non-opaque (reflective coating, absorbing medium is inside or outside the resonator system, and the regulating device without a spectrometer is located behind the passive resonator in Fig. 5 — the proposed device is according to 4, in which the active optical resonator is additionally placed in a pressure chamber.
В устройстве по фиг.1 резонаторна система С полупроводникового лазера L образована оптически активг ным резонатором С с зеркалами 5, и S, которые имеют коэффициенты отражени В;, и RT., и оптически пассивным резонатором с коэффициентами отражени R дл зеркала лазера S и выдел ющим спектральную область и настраивагацей дифракционной решеткой S,, с коэффициентом отражени R ,In the device of FIG. 1, the semiconductor laser cavity system C, L, is formed by an optically active resonator C with mirrors 5 and S, which have reflection coefficients B ;, and RT., And an optically passive resonator with reflection coefficients R for the laser mirror S and selected spectral region and tuning a diffraction grating S ,, with a reflection coefficient R,
причем требуетс Rwherein R is required
R R.R R.
Поглощающа среда находитс в пассивном резонаторе Cj.. Потер ное. поглощение, на которое оказывает вли ние конкуренци мод, анализируетс спектрометром М и регистрирующим устройством R .The absorbing medium is in the Cj passive resonator. Lost. Absorption, which is influenced by competition, is analyzed by a spectrometer M and a recording device R.
В устройстве, показанном на фиг.2 примен етс та же резонаторна система Скак и в устройстве поIn the device shown in Fig. 2, the same Skak resonator system is applied and in the device according to
фиг.2, причем анализ потерь на поглощение в поглощающей среде К, наход щейс в пассивном резонаторе С , осуществл етс путем разв зки ла:1ерного луча через калиброванную выдел ющую спектральную область и настраивающую дифракционную решетку 5 вследствие другого пор дка спектра с помощью регистрирующего устройства R без использовани спектрометРа .Fig.2, wherein the absorption loss analysis in the absorbing medium K in the passive resonator C is performed by unraveling: a black beam through a calibrated extraction spectral region and tuning diffraction grating 5 due to a different order of the spectrum using a recording device R without using a spectrometer.
Устройство согласно фиг.З имеет изображенную на фиг,1 и охарактеризованную резонаторную систему С,.The device according to FIG. 3 has the resonator system C, shown in FIG. 1, and characterized.
Нри этом поглощающа среда К находитс между калиброванной выдел ющей спектр и н астр айв ашжей дифракционной решеткой S-j и анализирующим поглощение регистрирующим устройством R . Анализ поглощени осуществл етс без использовани спектрометра,In this case, the absorbing medium K lies between the calibrated spectral extraction and the S-j diffraction grating and the recording device R analyzing the absorption. Absorption analysis is performed without using a spectrometer.
В устройстве по фиг.4 примен етс резонаторна система С,, причем зеркало В имеет непрозрачное отражающее покрытие. Поглощающа среда КIn the device of FIG. 4, a resonator system C ,, is used, the mirror B having an opaque reflective coating. Absorbing medium K
находитс к пассивном резонаторе Cj, или вне резонаторной системы С-,,. Анализ поглощени или поглощение и анализ поглощени осутлествл етс путем разв зки лазерного луча черезto the Cj passive resonator, or outside the C -, cavity system. Absorption or absorption analysis and absorption analysis is dampened by decoupling a laser beam through
калибровавшую выдел ющую область спектра и настраивающую дифракционную решетку So, вследствие другого пор дка спектра с помощью регистрирующего устройства И,, без спектрометра .calibrated spectral spectral region and tuning diffraction grating So, due to a different order of the spectrum using an I recording device, without a spectrometer.
4040
Устройство по фиг,5 имеет ту же резонаторную систему Ст, что и устройство по фиг,3. Н в этом случае зеркало 5 имеет непрозрачное отражающее покрытие. Поглощающа среда The device according to FIG. 5 has the same resonator system C as the device according to FIG. 3. In this case, the mirror 5 has an opaque reflective coating. Absorbing medium
.45 находитс к пассивном резонаторе С или вне резонаторной системы С,..45 is located in the passive resonator C or outside the resonator system C ,.
Анализ поглощени или поглощение и поглощени осуществл ютс /гутем разв зки лазерного, луча через 50 калиброванную выдел ющую область спекира и точно настраивающую дифракционную решетку S, вследствие другого пор дка дифракции с помощью регистрирующего устройства без 55 спектрометра. Оптически активный ре . зонатор С помещен в барокамеру D. Путем изменени давлени оптическое усилие полупроводникового лазера настраиваетс определенным образом в 60 соответствии с частотой.The absorption or absorption and absorption analysis is performed by / unloading the laser beam through a 50 calibrated specter area and a fine tuning diffraction grating S, due to a different diffraction order using a recording device without a 55 spectrometer. Optically active re. Zonator C is placed in pressure chamber D. By varying the pressure, the optical power of the semiconductor laser is adjusted in a certain way to 60 according to frequency.
Предлагаемое устройство BnepBbtej,. позвол ет примен ть полупроводниковые лазеры в абсорционной спектроскопии в резонаторе при обеспечении 6 высокой чувствительности анализа.The proposed device BnepBbtej ,. allows the use of semiconductor lasers in the absorption spectroscopy in the cavity, while providing 6 high sensitivity analysis.
настройку длинной волны в широкой спектр.альной области с высокой точностью , не завис щей от температуры и в абсорбционной спектроскопии с высокой и предельной разрешающей f способностью с помощью простых регистрирующих устройств без дополнительных спектроскопических вспомогательных средств.tuning the long wavelength in a wide range of areas with high accuracy, independent of temperature and absorption spectroscopy with high and maximum resolution f with simple recording devices without additional spectroscopic aids.
Устройства обеспечивают анализ атомов и молекул и их электронных структур с помощью лазера пр мого возбуждени путем простого возбуждени тока.The devices provide an analysis of atoms and molecules and their electronic structures using a direct excitation laser by simply exciting a current.
Решение задачи согласно изобретению позвол ет простыми средствами обеспечить разнообразное применение абсорбционной спектроскопии, например в технике измерительного анализа с высокой чувствительностью и разрешающей способностью, при.контроле и при анализе химических процессов в проглышленности и дл контрол и исследовани окружающей ере ды.The solution of the problem according to the invention makes it possible with simple means to provide various applications of absorption spectroscopy, for example, in the technique of measurement analysis with high sensitivity and resolution, in monitoring, and in analyzing chemical processes in industry and for monitoring and investigating the surrounding heat.
Claims (2)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DD20436778A DD143138A3 (en) | 1978-03-23 | 1978-03-23 | ARRANGEMENT FOR LASER SPECTROSCOPIC ABSORPTION DETECTION |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| SU979885A1 true SU979885A1 (en) | 1982-12-07 |
Family
ID=5511944
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| SU797770483A SU979885A1 (en) | 1978-03-23 | 1979-02-27 | Device for laser spectroscopic absorption analysis |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| DD (1) | DD143138A3 (en) |
| DE (1) | DE2908047A1 (en) |
| FR (1) | FR2420744A1 (en) |
| GB (1) | GB2020013B (en) |
| SU (1) | SU979885A1 (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3718908C1 (en) * | 1987-06-05 | 1988-12-15 | Joseph Ulrich | Intracavity multimode laser spectrometer |
| DE19636236B4 (en) * | 1996-09-06 | 2004-09-16 | Evotec Technologies Gmbh | Diode laser pumped multimode waveguide laser, especially fiber laser |
-
1978
- 1978-03-23 DD DD20436778A patent/DD143138A3/en not_active IP Right Cessation
-
1979
- 1979-02-27 SU SU797770483A patent/SU979885A1/en active
- 1979-03-01 DE DE19792908047 patent/DE2908047A1/en not_active Withdrawn
- 1979-03-21 FR FR7907173A patent/FR2420744A1/en not_active Withdrawn
- 1979-03-23 GB GB7910301A patent/GB2020013B/en not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2420744A1 (en) | 1979-10-19 |
| GB2020013B (en) | 1982-12-01 |
| DD143138A3 (en) | 1980-08-06 |
| GB2020013A (en) | 1979-11-07 |
| DE2908047A1 (en) | 1979-10-04 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5528040A (en) | Ring-down cavity spectroscopy cell using continuous wave excitation for trace species detection | |
| US6075252A (en) | Contaminant identification and concentration determination by monitoring the temporal characteristics of an intracavity laser | |
| US6028310A (en) | Linear cavity laser system for intracavity laser spectroscopy | |
| US5912740A (en) | Ring resonant cavities for spectroscopy | |
| US5815277A (en) | Deflecting light into resonant cavities for spectroscopy | |
| US5917188A (en) | Diode laser-pumped laser system for intracavity laser spectroscopy (ILS) | |
| CN110672554B (en) | Random vibration drive ring-down cavity calibration-free gas concentration measurement system | |
| Mazurenka et al. | 410-nm diode laser cavity ring-down spectroscopy for trace detection of NO2 | |
| US20030210398A1 (en) | System and method for controlling a light source for cavity ring-down spectroscopy | |
| KR19990045315A (en) | Laser spectrometer in high-resolution, compact cavity | |
| EP2936092B1 (en) | Spectroscopy system using waveguide and employing a laser medium as its own emissions detector | |
| US4084100A (en) | Generation of coherent rotational anti-Stokes spectra | |
| KR100429731B1 (en) | Contaminant identification and concentration determination by monitoring the wavelength of the output of an intracavity laser | |
| US5991032A (en) | Contaminant identification and concentration determination by monitoring the intensity of the output of an intracavity laser | |
| SU979885A1 (en) | Device for laser spectroscopic absorption analysis | |
| CA1068122A (en) | Generation of coherent rotational anti-stokes spectra | |
| Gueye et al. | Intracavity Cr 4+: YAG laser absorption analyzed by time-resolved Fourier transform spectroscopy | |
| De Backer-Barilly et al. | Tunable diode laser spectrometer apparatus function | |
| Wilhelmi | Infrared gas monitoring with high-sensitivity, stability, and specificity | |
| Makogon et al. | Absorption and fluorescence laser spectroscopy and its application for environmental monitoring | |
| Bielecki et al. | Nitrogen dioxide detection using an optoelectronic sensor | |
| Englich et al. | Stimulated-Raman-gain cavity-ringdown spectroscopy for high-resolution gas sensing | |
| Burakov et al. | Intracavity laser polarization spectrometer for biomolecule traces | |
| Baig et al. | Applications of Laser-Spectroscopy in Plasma Physics and in Analytics |