Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

SU729439A1 - Method of measuring cylindrical-surface curvature radius - Google Patents

Method of measuring cylindrical-surface curvature radius Download PDF

Info

Publication number
SU729439A1
SU729439A1 SU762418219A SU2418219A SU729439A1 SU 729439 A1 SU729439 A1 SU 729439A1 SU 762418219 A SU762418219 A SU 762418219A SU 2418219 A SU2418219 A SU 2418219A SU 729439 A1 SU729439 A1 SU 729439A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
curvature
screen
radius
curvature radius
surface curvature
Prior art date
Application number
SU762418219A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Николай Михайлович Балясников
Людмила Григорьевна Балясникова
Original Assignee
Предприятие П/Я Г-4671
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Предприятие П/Я Г-4671 filed Critical Предприятие П/Я Г-4671
Priority to SU762418219A priority Critical patent/SU729439A1/en
Application granted granted Critical
Publication of SU729439A1 publication Critical patent/SU729439A1/en

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Изобретение относитс  к способам измерени  радиусов кривизны поверхностей , в частности цилиндрических поверхностей.The invention relates to methods for measuring the radii of curvature of surfaces, in particular cylindrical surfaces.

Известен способ исследовани  кривизны поверхности, заключающийс  в том, что используют экран с линейным растром, освещают его и проецируют линейный растр на иссле- . дуемую поверхность 1There is a known method for studying the curvature of a surface, which consists in using a screen with a linear raster, illuminating it, and projecting the linear raster on the research. blown surface 1

Недостатком данного способа  вл ютс  невысока  точность и значительна  трудоемкость измерений.The disadvantage of this method is the low accuracy and considerable complexity of the measurements.

Известен также способ определени  радиуса кривизны поверхности, заключающийс  в том, что перед полированной контролируемой поверхностью на некотором рассто нии от нее устанавливают непрозрачный объект с известными параметрами, освещают его световым пучком, проецируют объект на контролируемую поверхность и по величине его изображени , полученного от контролируемой поверхности, суд т о ее радиусе кривизны 2,There is also known a method for determining the radius of curvature of a surface, which means that an opaque object with known parameters is set in front of a polished controlled surface, illuminated with a light beam, projecting the object onto the controlled surface and the size of its image obtained from the monitored surface. , judge its radius of curvature 2,

Недостатком этого способа  вл етс  длительность процесса измерени .The disadvantage of this method is the length of the measurement process.

Дл  повышени  :экспресснооти в известном способу измерени  радиуса кривизны цилиндрической поверхности путем освещени  ее с последующей регистрацией отраженных лучей на исследуемой поверхности параллельно ее образующим располагают щель, на пути отраженных лучей располагают экран и по величине изображенной In order to increase: in a known way of measuring the radius of curvature of a cylindrical surface by illuminating it, followed by recording the reflected rays on the surface under study, a slit is positioned parallel to it, a screen is positioned along the reflected rays path

10 на экране освещенной зоны поверхности определ ют ее кривизну с использованием соотношени :10, on the screen of the illuminated area of the surface, its curvature is determined using the relation:

1515

R R

2ёт(.igС .- ширина изображенной на2yo (.igС. - width shown on

гдеWhere

экране освешенной зоны по20 верхности;screen of the updated surface area of 20;

L SLs

ширина щели; рассто ние от плоскости щели до экрана; slot width; the distance from the slit plane to the screen;

R радиус кривизны цилиндри25 ческой поверхности Изобретение по сн етс  чертежом, на котором дана схема устройства дл  измерени  радиуса кривизны ппверхности по предлагаемому способу.R is the radius of curvature of the cylindrical surface. The invention is illustrated in the drawing, which shows a diagram of a device for measuring the radius of curvature of a surface according to the proposed method.

30thirty

Claims (1)

Формула изобретенияClaim Способ измерения радиуса кривизны цилиндрической поверхности путем освещения»ее с последующей регистрацией отраженных лучей, о т л и чало щ и й с я тем, что, с целью по вышения экспрессности, на исследуемой поверхности параллельно ее образующим располагают щель, на пути отраженных лучей располагают экран и по величине изображенной на экране освещенной зоны поверхности определи ют ее кривизну с использованием соотношения:.A method of measuring the radius of curvature of a cylindrical surface by lighting it with subsequent registration of reflected rays, due to the fact that, in order to increase expressivity, a gap is placed on the surface under study in parallel with its generators, and a path is placed on the reflected rays the screen and the magnitude of the surface of the illuminated area on the screen determine its curvature using the ratio :. к *-----------:---------2sm Vaaectg· J где f — ширина изображенной на эк-ране освещенной зоны поверхности;k * -----------: --------- 2sm Vaaectg · J where f is the width of the illuminated surface area depicted on the screen; L — ширина щели;L is the width of the slit; S — расстояние от плоскости щели до экрана;S is the distance from the plane of the slit to the screen; R — радиус кривизны цилиндрической поверхности.R is the radius of curvature of the cylindrical surface.
SU762418219A 1976-11-03 1976-11-03 Method of measuring cylindrical-surface curvature radius SU729439A1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762418219A SU729439A1 (en) 1976-11-03 1976-11-03 Method of measuring cylindrical-surface curvature radius

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU762418219A SU729439A1 (en) 1976-11-03 1976-11-03 Method of measuring cylindrical-surface curvature radius

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU729439A1 true SU729439A1 (en) 1980-04-25

Family

ID=20682149

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU762418219A SU729439A1 (en) 1976-11-03 1976-11-03 Method of measuring cylindrical-surface curvature radius

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU729439A1 (en)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR890005522A (en) Space filter type speed measuring device
MX166456B (en) MEASURING THE CURVATURE OF A TRANSPARENT OR TRANSLUCENT MATERIAL
US4053234A (en) Thickness measurement
JPS5596406A (en) Device for determining roughness of surface
DE3687029D1 (en) OPTICAL MEASURING APPARATUS.
FR2321123A1 (en) MEASURING THE ANISOTROPY OF THE REFLECTING POWER OF A SURFACE BY ANALYSIS OF A BEAM OF REFLECTED POLARIZED LIGHT
DE3218903A1 (en) LIGHT ELECTRICAL MEASURING DEVICE
ES2216200T3 (en) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING VOLTAGES IN GLASS SHEETS BY DISPERSED LIGHT.
SU729439A1 (en) Method of measuring cylindrical-surface curvature radius
JPS57104803A (en) Displacement measuring apparatus
US4008964A (en) Method of measuring the pitch of twisted threads
JPS6488327A (en) Shape measuring method for interference wave front
JPS55154402A (en) Shape measuring apparatus
GB1477178A (en) Digital indicating lens meters
SU634349A1 (en) Method of measuring vehicle motion parameters and length
SU715927A1 (en) Interference resolvometer
SU766225A1 (en) Method for measuring surface roughness
SU450077A1 (en) Device for controlling the shape of a parabolic surface
SU976292A1 (en) Photoelectric device for measuring object transverse travel
SU619889A1 (en) Measuring device
SU1054680A1 (en) Method of gauging linear dimensions of opaque objects
SU823852A1 (en) Device for measuring element sizes on planar objests
SU104421A1 (en) Optical micrometer
RU28391U1 (en) Device for measuring film thickness
SU84115A1 (en) Small deformation indicator