Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

RU2018137042A - Устройство и способ контроля шин - Google Patents

Устройство и способ контроля шин Download PDF

Info

Publication number
RU2018137042A
RU2018137042A RU2018137042A RU2018137042A RU2018137042A RU 2018137042 A RU2018137042 A RU 2018137042A RU 2018137042 A RU2018137042 A RU 2018137042A RU 2018137042 A RU2018137042 A RU 2018137042A RU 2018137042 A RU2018137042 A RU 2018137042A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
section
linear
zone
image
matrix
Prior art date
Application number
RU2018137042A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2728848C2 (ru
RU2018137042A3 (ru
Inventor
Винченцо БОФФА
Алессандро ХЕЛД
Фабио РЕГОЛИ
Валериано БАЛЛАРДИНИ
ТОЦЦИ Джузеппе КАЗАДИО
Original Assignee
Пирелли Тайр С.П.А.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Пирелли Тайр С.П.А. filed Critical Пирелли Тайр С.П.А.
Publication of RU2018137042A publication Critical patent/RU2018137042A/ru
Publication of RU2018137042A3 publication Critical patent/RU2018137042A3/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2728848C2 publication Critical patent/RU2728848C2/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29D—PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE
    • B29D30/00—Producing pneumatic or solid tyres or parts thereof
    • B29D30/0061—Accessories, details or auxiliary operations not otherwise provided for
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B60—VEHICLES IN GENERAL
    • B60C—VEHICLE TYRES; TYRE INFLATION; TYRE CHANGING; CONNECTING VALVES TO INFLATABLE ELASTIC BODIES IN GENERAL; DEVICES OR ARRANGEMENTS RELATED TO TYRES
    • B60C25/00—Apparatus or tools adapted for mounting, removing or inspecting tyres
    • B60C25/002—Inspecting tyres
    • B60C25/005—Inspecting tyres inside surface
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00—Testing of vehicles
    • G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02—Tyres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01M17/00—Testing of vehicles
    • G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
    • G01M17/02—Tyres
    • G01M17/027—Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/50—Depth or shape recovery
    • G06T7/521—Depth or shape recovery from laser ranging, e.g. using interferometry; from the projection of structured light
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N23/00—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof
    • H04N23/56—Cameras or camera modules comprising electronic image sensors; Control thereof provided with illuminating means
    • B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
    • B29D—PRODUCING PARTICULAR ARTICLES FROM PLASTICS OR FROM SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE
    • B29D30/00—Producing pneumatic or solid tyres or parts thereof
    • B29D30/0061—Accessories, details or auxiliary operations not otherwise provided for
    • B29D2030/0066—Tyre quality control during manufacturing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G01N2021/9542—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G01N2021/9542—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe
    • G01N2021/9544—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores using a probe with emitter and receiver on the probe
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N21/954—Inspecting the inner surface of hollow bodies, e.g. bores
    • G01N2021/9548—Scanning the interior of a cylinder
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06—Illumination; Optics
    • G01N2201/061—Sources
    • G01N2201/06113—Coherent sources; lasers
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/10—Image acquisition modality
    • G06T2207/10028—Range image; Depth image; 3D point clouds

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Tires In General (AREA)

Claims (62)

1. Устройство (1) для контроля шин, содержащее:
опорную раму (2);
фланец (3), закрепленный на опорной раме для прикрепления опорной рамы к элементу (102) для обеспечения перемещения устройства; и
систему (4) получения изображений, предназначенную для получения трехмерных изображений поверхности шины, смонтированную на опорной раме и содержащую:
матричную камеру (5), имеющую оптическую ось (6),
линейный лазерный источник (7), выполненный с возможностью излучения линейного лазерного пучка, имеющего плоскость (8) распространения и ось (9) распространения, и
отражающий элемент (11), имеющий отражающую поверхность (12), которая пересекает как ось (9) распространения, так и оптическую ось (6) таким образом, чтобы соответственно задать первый участок (16) и второй участок (32) оси (9) распространения и первый участок (14) и второй участок (31) оптической оси (6),
при этом первый участок (16) и второй участок (32) оси (9) распространения представляют собой прямолинейные участки, падающие на отражающую поверхность (12) в соответствующей точке падения, причем первый участок (16) и второй участок (32) оси (9) распространения представляют собой зеркальное отображение друг друга по отношению к линии, перпендикулярной отражающей поверхности (12) в указанной соответствующей точке падения,
при этом первый участок (14) и второй участок (31) оптической оси (6) представляют собой прямолинейные участки, падающие на отражающую поверхность (12) в соответствующей точке падения, причем первый участок (14) и второй участок (31) оптической оси (6) представляют собой зеркальное отображение друг друга по отношению к линии, перпендикулярной отражающей поверхности (12) в указанной соответствующей точке падения,
при этом первые участки (14, 16) расположены соответственно со стороны матричной камеры (5) и линейного лазерного источника (7) относительно соответствующей точки падения,
причем первый угол (50), образованный между первым участком (14) и вторым участком (31) оптической оси (6), является тупым, и
второй угол (51), образованный между первым участком (16) и вторым участком (32) оси (9) распространения, является тупым.
2. Устройство по п.1, в котором третий угол (13), образованный между оптической осью (6) на первом участке (14) или втором участке (31) оптической оси (6) и отражающей поверхностью (12), меньше или равен 40° и больше или равен 20°.
3. Устройство по п.1 или 2, в котором четвертый угол (15), образованный между осью (9) распространения на первом участке (16) или втором участке (32) оси (9) распространения и отражающей поверхностью (12), меньше или равен 40° и больше или равен 20°.
4. Устройство по пg.2 и 3, в котором третий угол (13) больше или равен 30° и четвертый угол (15) больше или равен 30°.
5. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором матричная камера (5), линейный лазерный источник (7) и отражающий элемент (11) прикреплены к опорной раме (2) с образованием одного целого с ней в соответствующем фиксированном положении относительно нее.
6. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором опорная рама (2) содержит вертикальный элемент (20) с удлиненной формой с основной протяженностью вдоль первого направления (21), причем вертикальный элемент имеет первый конец (22), на котором смонтирован фланец (3), и второй конец (23), противоположный первому концу (22) вдоль первого направления (21).
7. Устройство по п.6, в котором опорная рама (2) содержит поперечину (24) с удлиненной формой с основной протяженностью вдоль второго направления (25), при этом поперечина имеет первый конец (26) рядом со вторым концом (23) вертикального элемента (20) и второй конец (27), противоположный первому концу (26) вдоль второго направления (25), причем второй конец (27) является свободным, при этом отражающий элемент (11) закреплен на втором конце (27) поперечины.
8. Устройство по п.7, в котором первое направление (21) и второе направление (25) по существу ортогональны друг другу.
9. Устройство по п.7 или 8, в котором первый участок (14) оптической оси (6) по существу параллелен второму направлению (25), или первый участок (16) оси (9) распространения по существу параллелен второму направлению.
10. Устройство по п.7 или 8, в котором первый участок (14) оптической оси (6) по существу параллелен второму направлению (25), и первый участок (16) оси (9) распространения по существу параллелен второму направлению.
11. Устройство по любому из пп.6-10, в котором плоскость (8) распространения, по меньшей мере, на первом участке (16) оси (9) распространения по существу параллельна первому направлению (21).
12. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором первый участок (14) оптической оси (6) проходит от матричной камеры (5) до отражающей поверхности (12).
13. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором первый участок (16) оси (9) распространения проходит от линейного лазерного источника (7) до отражающей поверхности (12).
14. Устройство по любому из пп.6-13, в котором линейный лазерный источник (7) и матричная камера (5) смонтированы на опорной раме (2) на втором конце (23) вертикального элемента (20).
15. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором линейный лазерный источник (7) и матричная камера (5) расположены рядом друг с другом.
16. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором первый участок (14) оптической оси (6) и первый участок (16) оси (9) распространения находятся в общей плоскости, по существу ортогональной к плоскости (8) распространения.
17. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором пятый угол (30), образованный между вторым участком (31) оптической оси (6) и вторым участком (32) оси (9) распространения, больше или равен 5° и меньше или равен 40°.
18. Устройство по п.17, в котором пятый угол (30) меньше или равен 20°.
19. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором за отражающим элементом (11) по отношению к направлению распространения линейного пучка отсутствуют какие-либо дополнительные отражающие элементы вдоль оптической оси (6) или вдоль оси (9) распространения помимо отражающего элемента (11).
20. Устройство по любому из пп.1-18, в котором за отражающим элементом (11) по отношению к направлению распространения линейного пучка отсутствуют какие-либо дополнительные отражающие элементы вдоль оптической оси (6) и вдоль оси (9) распространения помимо отражающего элемента (11).
21. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором отражающий элемент (11) содержит базовый элемент (40) и оптический элемент (41), прикрепленный к базовому элементу (40) и имеющий отражающую поверхность (12).
22. Устройство по пп.7 и 21, в котором базовый элемент (40) прикреплен ко второму концу (27) поперечины (24) с образованием одного целого с ним, причем отражающая поверхность (12) представляет собой одну физическую поверхность и является плоской.
23. Устройство по п.21, в котором отражающая поверхность (12) представляет собой наружную поверхность оптического элемента (41), обращенную к матричной камере (5) и линейному лазерному источнику (7).
24. Устройство по п.21, в котором оптический элемент (41) сужается от проксимального конца до дистального конца по отношению к матричной камере (5) или к линейному лазерному источнику (7).
25. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором отражающая поверхность (12) сужается от проксимального конца до дистального конца по отношению к матричной камере (5) или к линейному лазерному источнику (7).
26. Устройство по п.21, в котором базовый элемент (40) сужается от проксимального конца до дистального конца по отношению к матричной камере (5) или к линейному лазерному источнику (7).
27. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором матричная камера (5) содержит датчик, определяющий плоскость (29) изображения, объектив (28), имеющий оптическую ось (6), фокальную плоскость (17) и глубину резкости, при этом плоскость (29) изображения образует с базовой плоскостью (33), ортогональной к оптической оси и проходящей через объектив, острый угол (34), имеющий вершину на стороне, где размещен линейный лазерный источник (7), так, что фокальная плоскость (17) образует с плоскостью (8) распространения угол, который меньше или равен 45°, причем острый угол (34) между плоскостью (29) изображения и базовой плоскостью (33) меньше или равен 20° и больше или равен 5°.
28. Устройство по любому из предшествующих пунктов, в котором матричная камера (5) выполнена с возможностью получения матричного изображения участка поверхности и содержит в соответствующем машинном корпусе (5а) блок обработки данных, выполненный с возможностью:
идентификации отраженной линии излучения лазера, которая отображает линию излучения лазера, созданную при освещении линейной части участка поверхности линейным лазерным пучком, на матричном изображении;
обработки отраженной линии излучения лазера посредством триангуляции для получения трехмерного изображения, содержащего информацию, относящуюся к альтиметрическому профилю линейной части участка поверхности;
выбора подчасти полученного матричного изображения вдоль направления, по существу ортогонального к отраженной линии излучения лазера на самом матричном изображении, при этом операции идентификации линии излучения лазера и обработки отраженной линии излучения лазера посредством триангуляции проводятся на подчасти изображения,
причем после операции выбора подчасти полученного изображения число пикселей вдоль указанного направления, по существу ортогонального к отраженной линии излучения лазера, меньше или равно 200 пикселям.
29. Станция (100) контроля шин на линии по производству шин, содержащая опору (120), выполненную с возможностью обеспечения опоры для шины (101), установленной на боковине, и поворота шины вокруг ее оси (140) вращения, и устройство (1) для контроля шин по любому из предшествующих пунктов, причем устройство (1) смонтировано на элементе (102) для обеспечения его перемещения.
30. Способ контроля шин, включающий:
размещение шины (101), подлежащей контролю;
размещение устройства (1) для контроля шин по любому из пп.1-28;
вставку, по меньшей мере, отражающего элемента (11) в пространство внутри шины;
освещение линейного участка внутренней поверхности шины посредством линейного лазерного пучка так, чтобы образовать линию излучения лазера;
получение матричного изображения участка внутренней поверхности, содержащего линейный участок внутренней поверхности, при этом матричное изображение содержит отраженную линию излучения лазера, которая отображает линию излучения лазера;
идентификацию отраженной линии излучения лазера на матричном изображении;
обработку отраженной линии излучения лазера посредством триангуляции для получения трехмерного изображения линейного участка поверхности, содержащего информацию, относящуюся к альтиметрическому профилю линейного участка поверхности.
31. Способ по п.30, включающий выбор подчасти полученного матричного изображения вдоль направления, по существу ортогонального к отраженной линии излучения лазера на самом матричном изображении, причем указанные операции идентификации отраженной линии излучения лазера и обработки отраженной линии излучения лазера посредством триангуляции проводят на указанной подчасти изображения.
32. Способ по п.30 или 31, включающий:
перемещение первой зоны внутренней поверхности шины относительно устройства так, чтобы последовательность различных линейных участков первой зоны внутренней поверхности была последовательно размещена в пределах глубины резкости матричной камеры (5), по меньшей мере, в плоскости (8) распространения, при этом система (4) получения изображений приводится в действие последовательно во время перемещения для последовательного повторения операций освещения линейным лазерным пучком, получения соответствующего матричного изображения, идентификации соответствующей отраженной линии излучения лазера, обработки соответствующей отраженной линии излучения лазера и получения соответствующего трехмерного изображения для получения соответствующей последовательности трехмерных изображений последовательности различных линейных участков первой зоны внутренней поверхности, причем полное трехмерное изображение первой зоны внутренней поверхности получают комбинированием последовательности трехмерных изображений, полученных для последовательности линейных участков внутренней поверхности,
при этом первая зона внутренней поверхности представляет собой зону внутренней поверхности плечевой зоны (104) шины.
33. Способ по любому из пп.30-32, включающий:
перемещение второй зоны внутренней поверхности шины относительно устройства так, чтобы последовательность различных линейных участков второй зоны внутренней поверхности была последовательно размещена в пределах глубины резкости матричной камеры (5), по меньшей мере, в плоскости распространения, причем система получения изображений приводится в действие последовательно во время перемещения для последовательного повторения операций освещения линейным лазерным пучком, получения соответствующего матричного изображения, идентификации соответствующей отраженной линии излучения лазера, обработки соответствующей отраженной линии излучения лазера и получения соответствующего трехмерного изображения для получения соответствующей последовательности трехмерных изображений последовательности различных линейных участков второй зоны внутренней поверхности, при этом полное трехмерное изображение второй зоны внутренней поверхности получают комбинированием последовательности трехмерных изображений, полученных для последовательности линейных участков внутренней поверхности, причем вторая зона внутренней поверхности представляет собой зону внутренней поверхности боковины (105) шины.
34. Способ по любому из пп.30-33, включающий:
перемещение третьей зоны внутренней поверхности шины относительно устройства так, чтобы последовательность различных линейных участков третьей зоны внутренней поверхности была последовательно размещена в пределах глубины резкости матричной камеры (5), по меньшей мере, в плоскости распространения, при этом система получения изображений приводится в действие последовательно во время перемещения для последовательного повторения операций освещения линейным лазерным пучком, получения соответствующего матричного изображения, идентификации соответствующей отраженной линии излучения лазера, обработки соответствующей отраженной линии излучения лазера и получения соответствующего трехмерного изображения для получения соответствующей последовательности трехмерных изображений последовательности различных линейных участков третьей зоны внутренней поверхности, причем полное трехмерное изображение третьей зоны внутренней поверхности получают комбинированием последовательности трехмерных изображений, полученных для последовательности линейных участков внутренней поверхности, при этом третья зона внутренней поверхности представляет собой зону внутренней поверхности борта (106) шины.
35. Способ по любому из пп.30-34, в котором шину, подлежащую контролю, размещают так, чтобы она была расположена горизонтально на боковине, при этом операция вставки, по меньшей мере, отражающего элемента (11) во внутреннее пространство шины происходит сверху.
36. Способ по п.35, в котором, по меньшей мере, одна из первой зоны внутренней поверхности, второй зоны внутренней поверхности и третьей зоны внутренней поверхности принадлежит верхней половинной части шины относительно средней плоскости.
RU2018137042A 2016-04-05 2017-03-30 Устройство и способ контроля шин RU2728848C2 (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
IT102016000034800 2016-04-05
ITUA20162308 2016-04-05
PCT/IB2017/051822 WO2017175099A1 (en) 2016-04-05 2017-03-30 Apparatus and method for checking tyres

Publications (3)

Publication Number Publication Date
RU2018137042A true RU2018137042A (ru) 2020-05-12
RU2018137042A3 RU2018137042A3 (ru) 2020-06-01
RU2728848C2 RU2728848C2 (ru) 2020-07-31

Family

ID=56551466

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2018137042A RU2728848C2 (ru) 2016-04-05 2017-03-30 Устройство и способ контроля шин

Country Status (9)

Country Link
US (2) US10837920B2 (ru)
EP (2) EP3440453B1 (ru)
JP (1) JP6998316B2 (ru)
KR (1) KR102357134B1 (ru)
CN (1) CN108885184B (ru)
BR (1) BR112018069081B1 (ru)
MX (2) MX2021002213A (ru)
RU (1) RU2728848C2 (ru)
WO (1) WO2017175099A1 (ru)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11119008B2 (en) * 2017-06-12 2021-09-14 Pirelli Tyre S.P.A. Method for checking tires
MX2021005853A (es) * 2018-12-20 2021-06-15 Pirelli Metodo y estacion para revisar neumaticos.
CN111879247B (zh) * 2020-08-03 2022-05-20 海伯森技术（深圳）有限公司 一种测量轴孔规格的装置
CN112485026B (zh) * 2021-01-18 2022-02-18 上海褚序汽车用品有限公司 一种用于汽车轮胎安全检测的安检装置
US20240282105A1 (en) * 2023-02-22 2024-08-22 Kubota Corporation Agricultural cutting system and cut-point method

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4392745A (en) * 1981-04-06 1983-07-12 Industrial Holographics, Inc. Tilt head camera for interferometric analysis of tires
US5054918A (en) 1990-02-02 1991-10-08 Fmc Corporation Light scanning system for measurement of orientation and physical features of a workpiece
JPH10274515A (ja) * 1997-03-31 1998-10-13 Omron Corp 曲面検査方法及び検査用カメラユニット
DE19849793C1 (de) * 1998-10-28 2000-03-16 Fraunhofer Ges Forschung Vorrichtung und Verfahren zur berührungslosen Erfassung von Unebenheiten in einer gewölbten Oberfläche
EP1043578B1 (de) * 1999-04-09 2004-10-13 Steinbichler Optotechnik Gmbh Optisches Prüfgerät für Reifen
JP4514007B2 (ja) * 1999-12-28 2010-07-28 株式会社ブリヂストン 被検体の外観形状検査方法及び装置
US7046353B2 (en) * 2001-12-04 2006-05-16 Kabushiki Kaisha Topcon Surface inspection system
CN1259543C (zh) * 2003-06-11 2006-06-14 北京航空航天大学 轮胎多几何参数的激光视觉在线自动测量方法
CN101206183B (zh) * 2006-12-19 2011-09-14 财团法人精密机械研究发展中心 孔内壁影像检视方法及装置
KR101117671B1 (ko) * 2008-12-05 2012-03-07 주식회사 한성시스코 삼차원 이미지센서
CN101701922A (zh) * 2009-11-19 2010-05-05 西北工业大学 一种光学无损检测环形内壁表面的装置
JP2013522599A (ja) * 2010-03-09 2013-06-13 フェデラル−モーグル コーポレイション ボア検査システムおよび、これを用いた検査方法
JP5620139B2 (ja) 2010-04-02 2014-11-05 株式会社ブリヂストン タイヤの外観検査方法及び外観検査装置
JP5555049B2 (ja) 2010-05-24 2014-07-23 株式会社ブリヂストン タイヤ検査装置
FR2966245B1 (fr) 2010-10-19 2012-10-19 Michelin Soc Tech Methode d'identification et de limitation des motifs de base formant la sculpture de la bande de roulement d'un pneumatique
JP5670161B2 (ja) * 2010-11-25 2015-02-18 東洋ゴム工業株式会社 タイヤの検査装置
US8824878B2 (en) 2010-11-25 2014-09-02 Toyo Tire & Rubber Co., Ltd. Illumination device and inspection device of tire
JP2013019786A (ja) * 2011-07-12 2013-01-31 Toshiba Corp 管内面検査装置およびその検査方法
BR112015001413B1 (pt) * 2012-07-31 2020-12-15 Pirelli Tyre S.P.A Métodos para segmentar a superfície de um pneu, e para detectar defeitos sobre uma superfície de um pneu, e, equipamento para segmentar a superfície de um pneu
JP5781481B2 (ja) 2012-09-04 2015-09-24 株式会社神戸製鋼所 タイヤ形状検査方法、及びタイヤ形状検査装置
JP6231302B2 (ja) 2013-06-12 2017-11-15 株式会社ブリヂストン 検査補助装置
ITMI20131157A1 (it) * 2013-07-10 2015-01-11 Pirelli Metodo e apparato per controllare pneumatici in una linea di produzione
FR3011080B1 (fr) 2013-09-26 2017-01-20 Michelin & Cie Dispositif d'acquisition d'images destine a l'inspection visuelle de la surface interieure d'un pneumatique et procede associe
JP6270264B2 (ja) * 2014-02-04 2018-01-31 株式会社ミツトヨ 情報処理装置、情報処理方法、プログラム、測定装置、及び測定方法
EP3106860B1 (en) 2014-02-12 2020-01-29 The Yokohama Rubber Co., Ltd. Tire inner surface imaging method and device
JP2016001131A (ja) * 2014-06-11 2016-01-07 キヤノン株式会社 計測装置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3842793C0 (en) 2023-08-02
CN108885184A (zh) 2018-11-23
KR102357134B1 (ko) 2022-01-28
EP3842793A1 (en) 2021-06-30
BR112018069081A2 (pt) 2019-01-29
MX2018011382A (es) 2019-02-13
EP3440453B1 (en) 2021-02-24
JP2019513983A (ja) 2019-05-30
CN108885184B (zh) 2022-04-01
US11215567B2 (en) 2022-01-04
JP6998316B2 (ja) 2022-02-10
EP3440453A1 (en) 2019-02-13
US10837920B2 (en) 2020-11-17
RU2728848C2 (ru) 2020-07-31
KR20180127387A (ko) 2018-11-28
BR112018069081B1 (pt) 2022-12-06
US20210025833A1 (en) 2021-01-28
US20190145906A1 (en) 2019-05-16
MX2021002213A (es) 2023-01-11
WO2017175099A1 (en) 2017-10-12
RU2018137042A3 (ru) 2020-06-01
EP3842793B1 (en) 2023-08-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
RU2018137042A (ru) Устройство и способ контроля шин
US20240045042A1 (en) Methods and Systems for LIDAR Optics Alignment
US20180135969A1 (en) System for measuring the position and movement of an object
ES2630736B1 (es) Sistema y método de detección de defectos en superficies especulares o semi-especulares mediante proyección fotogramétrica
ES2898407T3 (es) Sistema y método para desarrollar información de superficie tridimensional correspondiente a una lámina de vidrio contorneada
KR101917773B1 (ko) 다각형을 사용하여 광 패턴을 생성하는 방법 및 시스템
KR101644713B1 (ko) 거리 측정 장치
JP2018525638A (ja) ３次元イメージャ
CN105102926A (zh) 三维坐标扫描仪和操作方法
CN107683401B (zh) 形状测定装置和形状测定方法
CN108354585B (zh) 用于检测角膜顶点的用计算机实现的方法
JP2010532870A (ja) 物体の表面の光学的な検査方法および検査装置
US20190346698A1 (en) Computer-implemented method for determining centration parameters
ES2326035T3 (es) Procedimiento optico de determinacion de una dimension o la orientacion de un objeto movil.
WO2017055663A1 (es) Método de calibración para heliostatos
ES2807595T3 (es) Sistema y método para procesamiento con láser
CN109239722A (zh) 距离测定装置以及其角度调整方法
CN103983207A (zh) 一种三维扫描内窥镜和三维扫描方法
JP6667535B2 (ja) 一次シリンドリカルレンズを有するテレセントリック光学対物系を備えた撮像装置
ES2523228T3 (es) Procedimiento y disposición para medir y comprobar un bastidor de vehículo
RU2018120333A (ru) Устройство и способ анализа шин
US20170069110A1 (en) Shape measuring method
JP6920538B2 (ja) 走査装置及び測定装置
KR101429590B1 (ko) 평면의 평탄도 측정장치
US20200205633A1 (en) Arrangement and Method for Contactless Distance Determination of the Type of the Light Intersection Method