KR20190012525A

KR20190012525A - An apparatus and a method for inspecting surface of reflective sheet

Info

Publication number: KR20190012525A
Application number: KR1020170095621A
Authority: KR
Inventors: 송영준
Original assignee: 송영준
Priority date: 2017-07-27
Filing date: 2017-07-27
Publication date: 2019-02-11

Abstract

Disclosed is an apparatus for inspecting a surface of a reflective sheet, comprising: an inspection unit inspecting defects in the surface of the reflective sheet; a sheet movement unit moving the reflective sheet to the inspection unit; and a control unit controlling the inspection unit and the sheet movement unit. The inspection unit includes a photographing unit photographing the reflective sheet by being arranged on an upper surface of the inspection unit, a light source unit irradiating light in the direction parallel with the surface of the reflective sheet, and a screen unit blocking the light. The light source unit is disposed to be spaced from the reflective sheet by a predetermined distance, wherein a photographing region of the reflective sheet through the photographing unit is prevented from coming in contact with the light irradiated by the light source unit. Moreover, the control unit can control the screen unit to block light other than the light irradiated from the light source unit when detecting defects in the reflective sheet by the inspection unit.

Description

[0001] The present invention relates to an apparatus and a method for inspecting the surface of a reflective sheet,

본 개시는 반사 시트의 표면을 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present disclosure relates to an apparatus and method for inspecting the surface of a reflective sheet.

반사 시트(reflective sheet)는 입사한 광이 반사되는 성질을 가지며, 다양한 분야에 널리 사용되고 있다. 일 예로, 고휘도로 광을 반사시키는 반사 시트는 액정 디스플레이(LCD, liquid crystal display)를 구비한 다양한 기기에 적용되고 있다.Reflective sheets have the property of reflecting incident light and are widely used in various fields. For example, reflective sheets that reflect light at high brightness have been applied to a variety of devices with liquid crystal displays (LCDs).

한편, 반사 시트의 표면에 결함이 발생되면 광의 방향이 왜곡되고, 반사 시트의 신뢰도에 악영향을 미치게 되며, 기준치를 벗어난 반사 시트가 시중에 유통된다면 반사 시트를 제조하고 유통시킨 회사에게도 불이익이 생길 수 있다.On the other hand, if defects are formed on the surface of the reflective sheet, the direction of the light is distorted, the reliability of the reflective sheet is adversely affected, and if the reflective sheet deviates from the reference value is circulated on the market, have.

따라서, 반사 시트의 표면을 보다 정확하게 검사하는 장치가 요청된다 할 것이다. Thus, an apparatus for more accurately inspecting the surface of the reflective sheet will be required.

한편, 상기와 같은 정보는 본 발명의 이해를 돕기 위한 백그라운드(background) 정보로서만 제시될 뿐이다. 상기 내용 중 어느 것이라도 본 발명에 관한 종래 기술로서 적용 가능할지 여부에 관해, 어떤 결정도 이루어지지 않았고, 또한 어떤 주장도 이루어지지 않는다.On the other hand, the above information is only presented as background information to help understand the present invention. No determination has been made as to whether any of the above content is applicable as prior art to the present invention, nor is any claim made.

등록특허공보 제10-1249121호(등록일: 2013.03.25)Patent Registration No. 10-1249121 (Registered on March 31, 2013)

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 본 발명의 일 실시 예는 반사 시트 표면의 결함을 정확하게 검사하는 장치 및 방법을 제안한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an embodiment of the present invention proposes an apparatus and a method for accurately inspecting defects on the surface of a reflective sheet.

본 발명에서 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory and are not restrictive of the invention, unless further departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It will be possible.

상기한 과제를 실현하기 위한 본 발명의 일 실시 예와 관련된 반사 시트의 표면을 검사하는 장치는 상기 반사 시트의 표면 결함을 검출하는 검사부; 상기 반사 시트를 상기 검사부로 이동시키는 시트 이동부; 및 상기 검사부 및 시트 이동부를 제어하는 제어부;를 포함하며, 상기 검사부는 상기 검사부의 상부면에 배치되어 상기 반사 시트를 촬영하는 촬영부, 상기 반사 시트의 표면에 평행한 방향으로 광을 조사하는 광원부, 및 광을 차단하는 암막부를 포함하며, 상기 광원부는 상기 반사 시트와 소정의 거리로 이격되도록 배치되고, 상기 촬영부에 의해 촬영되는 상기 반사 시트의 촬영 영역이 상기 광원부에 의해 조사되는 광과 접하지 않으며, 상기 제어부는 상기 검사부를 통해 상기 반사 시트의 결함을 검출하는 경우, 상기 광원부에서 조사되는 광 이외의 빛을 차단하도록 상기 암막부를 제어할 수 있다.An apparatus for inspecting a surface of a reflective sheet according to an embodiment of the present invention for realizing the above object includes an inspection unit for detecting surface defects of the reflective sheet; A sheet moving unit for moving the reflective sheet to the inspection unit; And a control unit for controlling the inspection unit and the sheet moving unit. The inspection unit includes a photographing unit disposed on an upper surface of the inspection unit to photograph the reflection sheet, a light source unit for irradiating light in a direction parallel to the surface of the reflection sheet, And a light shielding portion for shielding light, wherein the light source portion is disposed to be spaced apart from the reflection sheet by a predetermined distance, and wherein an image pickup region of the reflection sheet, which is photographed by the image pickup portion, The controller may control the dark portion to block light other than light emitted from the light source when the defect is detected through the inspection unit.

본 발명의 다양한 실시예에 따르면 아래와 같은 효과가 도출될 수 있다.According to various embodiments of the present invention, the following effects can be obtained.

첫째, 반사 시트의 표면을 검사하는 장치가 제공됨으로써, 반사 시트의 표면 결함이 정확하게 검출될 수 있다.First, by providing an apparatus for inspecting the surface of a reflective sheet, surface defects of the reflective sheet can be accurately detected.

둘째, 광원부에 의해 조사되는 광의 방향이 반사 시트의 촬영 범위를 고려하여 설정됨으로써, 반사 시트의 표면 결함이 정확하게 검출될 수 있으며, 난반사로 인한 결함 검출 에러가 해소될 수 있다.Second, since the direction of the light irradiated by the light source is set in consideration of the photographing range of the reflection sheet, the surface defects of the reflection sheet can be accurately detected and the defect detection error due to the diffuse reflection can be solved.

셋째, 표면 균일도가 우수하게 형성되는 반사 시트의 표면을 검사하는 장치가 제공됨으로써, 반사 시트의 표면 검사 적합도가 향상될 수 있다.Third, by providing an apparatus for inspecting the surface of a reflective sheet formed with excellent surface uniformity, the surface inspection suitability of the reflective sheet can be improved.

본 발명에서 얻은 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.The effects obtained by the present invention are not limited to the above-mentioned effects, and other effects not mentioned can be clearly understood by those skilled in the art from the following description will be.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 반사 시트의 표면을 검사하는 장치의 외관 구성을 나타낸다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 검사부의 내부를 나타낸다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광원부와 검사 대상물 간의 배치를 나타낸다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 표면 검사 장치의 구성을 나타내는 블록도이다.
도 5(a) 및 도 5(b)는 종래 기술에 포함된 비교 례에 따른 표면 검사의 문제점을 설명하기 위한 도면이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 표면 검사 장치를 이용하여 반사 시트의 표면을 검사한 하나의 실험 결과를 나타낸다.
도 8은 도 1에 도시된 반사 시트의 표면을 검사하는 장치가 광원부 이외의 빛을 차단하는 일 실시 예를 나타낸다.
도 9(a) 및 도 9(b)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 검사부의 내부 구성의 원리를 나타낸 도면이다.
이상에서 살펴본 바와 같이 본 발명은 바람직한 실시예를 들어 도시하고 설명하였으나, 상기한 실시예에 한정되지 아니하며 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 범위 내에서 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양한 변경과 수정이 가능할 것이다.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 shows the appearance of an apparatus for inspecting the surface of a reflective sheet according to an embodiment of the present invention. Fig.
FIG. 2 shows the inside of the inspection unit according to an embodiment of the present invention.
FIG. 3 shows the arrangement between a light source and an object to be inspected according to an embodiment of the present invention.
4 is a block diagram showing a configuration of a surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
5 (a) and 5 (b) are views for explaining the problems of the surface inspection according to the comparative example included in the prior art.
FIGS. 6 and 7 show one experimental result of inspecting the surface of a reflective sheet using a surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 8 shows an embodiment in which an apparatus for inspecting the surface of the reflection sheet shown in FIG. 1 cuts off light other than the light source portion.
9 (a) and 9 (b) are views showing the principle of the internal configuration of the inspection unit according to an embodiment of the present invention.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is clearly understood that the same is by way of illustration and example only and is not to be taken by way of limitation, Various changes and modifications will be possible.

이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 다양한 실시 예를 보다 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그에 대한 상세한 설명은 생략한다.Various embodiments of the present invention will now be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

본 발명에서 설명하는 반사 시트(10)는 빛이 투과되지 않고 반사하는 시트로, 유리, 필름, 액정 디스플레이(liquid crystal display, LCD), 박막 트랜지스터 액정 디스플레이(thin film transistor-liquid crystal display, TFT LCD), 유기 발광 다이오드(organic light-emitting diode, OLED), 플렉서블 디스플레이(flexible display), 3차원 디스플레이(3D display), 전자잉크 디스플레이(e-ink display) 등을 포함할 수 있다. 또한, 구현시에는 투광성을 가지는 시트도 표면 검사의 대상이 될 수 있다.The reflective sheet 10 described in the present invention is a sheet which is not transmitted through light but is a reflective sheet such as a glass, a film, a liquid crystal display (LCD), a thin film transistor-liquid crystal display ), An organic light-emitting diode (OLED), a flexible display, a 3D display, an e-ink display, and the like. In addition, at the time of implementation, a sheet having a light transmitting property can also be subjected to surface inspection.

이하에서는 도 1을 참고하여 반사 시트(10)의 표면을 검사하는 장치(100, 이하 “표면 검사 장치”로 칭함)의 외관 구성을 나타낸다. 표면 검사 장치(100)는 검사부(100a), 시트 이동부(160a), 상기 시트 이동부(160a) 및 검사부(100a)를 지지하는 지지대(180)를 포함한다. 도 1에 도시된 구성요소들은 표면 검사 장치(100)를 구현하는데 있어서 필수적인 것은 아니어서, 본 명세서 상에서 설명되는 표면 검사 장치(100)는 위에서 열거된 구성요소들 보다 많거나, 또는 적은 구성요소들을 가질 수 있다.Hereinafter, the appearance of the apparatus 100 (hereinafter referred to as " surface inspection apparatus ") for inspecting the surface of the reflective sheet 10 is described with reference to Fig. The surface inspection apparatus 100 includes an inspection unit 100a, a sheet moving unit 160a, the sheet moving unit 160a, and a support table 180 for supporting the inspection unit 100a. The components shown in FIG. 1 are not essential for implementing the surface inspection apparatus 100, so that the surface inspection apparatus 100 described in this specification can include more or fewer components than the components listed above Lt; / RTI >

우선, 반사 시트(10)는 시트 이동부(160)에 의해 검사부(100a)로 이동될 수 있다. 반사 시트(10)의 검사가 완료되면 시트 이동부(160)에 의해 검사부(100a)의 외부로 이동되게 된다. 상기 외부는 반사 시트(10)가 검사부(100a)에 진입된 방향의 반대방향일 수 있으나, 실시 예는 이에 국한되지 않는다.First, the reflective sheet 10 can be moved to the inspection unit 100a by the sheet moving unit 160. [ When the inspection of the reflective sheet 10 is completed, the sheet moving unit 160 moves to the outside of the inspection unit 100a. The outside may be the direction opposite to the direction in which the reflection sheet 10 enters the inspection unit 100a, but the embodiment is not limited thereto.

검사부(100a)는 촬영부(110), 광원부(120) 및 암막부(130)를 포함할 수 있다. 다만, 상기 검사부(100a), 촬영부(110), 광원부(120) 및 암막부(130)는 모두 후술할 제어부(도 4, 170)의 제어를 받을 수 있다. 또한, 아래 설명을 위해 도 4의 도면부호를 함께 참고하기로 한다.The inspection unit 100a may include a photographing unit 110, a light source unit 120, However, the inspection unit 100a, the photographing unit 110, the light source unit 120, and the dark plate unit 130 may all be controlled by a controller (FIGS. 4 and 170) described later. 4 will be referred to for the following description.

먼저, 촬영부(110)는 검사부(100a)에 위치한 반사 시트(10)의 표면을 촬영하는 기기이다. 촬영부(110)는 디지털 카메라일 수 있으나, 실시 예는 이에 국한되지 않는다. 상기 촬영부(110)는 광원부(120)의 광 출력 및 출력되는 광의 방향에 기초하여 반사 시트(10)의 최적의 표면 검사를 수행하기 위해, 제어부(170)의 제어에 따라 움직일 수 있다. First, the photographing unit 110 is a device for photographing the surface of the reflection sheet 10 located in the inspection unit 100a. The photographing unit 110 may be a digital camera, but the embodiment is not limited thereto. The photographing unit 110 may be moved under the control of the controller 170 to perform an optimal surface inspection of the reflection sheet 10 based on the light output of the light source unit 120 and the direction of the output light.

광원부(120)는 광을 조사하는 조광 모듈로, 반사 시트(10)의 촬영영역에 접하지는 않으나, 반사 시트(10)의 표면 위로 광을 조사할 수 있다. 이때, 광원부(120)는 반사 시트(10)의 표면과 평행한 직선 방향으로 광을 조사할 수 있다. 광원부(120)는 바(bar) 타입으로 구성될 수 있으나, 실시 예는 이에 국한되지 않는다. 광원부(120)에 대해서는 도 2 및 도 3에서 자세히 설명하기로 하고 여기서는 생략한다.The light source unit 120 is a light modulating module that emits light, and can irradiate light onto the surface of the reflective sheet 10 without touching the imaging region of the reflective sheet 10. [ At this time, the light source unit 120 can irradiate light in a linear direction parallel to the surface of the reflection sheet 10. The light source unit 120 may be of a bar type, but the embodiment is not limited thereto. The light source unit 120 will be described in detail with reference to FIG. 2 and FIG. 3, and will not be described here.

암막부(130)는 검사부(100a)의 내부를 어둡게 하는 기구로 제어부(170)의 제어를 받을 수 있다. 또한, 구현시에는 표면 검사 장치(100)를 구동시키는 검사자에 의해 수동으로 제어될 수도 있다.The dark part 130 may be controlled by the control part 170 as a mechanism for darkening the inside of the inspection part 100a. It may also be manually controlled by an inspector driving the surface inspection apparatus 100 at the time of implementation.

지지대(180)는 시트 이동부(160a) 및 검사부(100a)를 지지하며, 빛의 양을 조절하는 지지대(180)의 암막영역(180a)을 포함할 수 있다. 상기 암막영역(180a)도 제어부(170)에 의해 제어될 수 있으나, 구현시에는 표면 검사 장치(100)를 구동시키는 검사자에 의해 수동으로 제어될 수도 있다.The support 180 supports the sheet moving part 160a and the inspection part 100a and may include a dark area 180a of the support 180 for adjusting the amount of light. The dark area 180a may also be controlled by the controller 170, but may be manually controlled by an inspector driving the surface inspection apparatus 100 at the time of implementation.

한편, 시트 이동부(160a)의 가로 길이는 3440 mm, 세로의 길이(폭)는 960 mm, 검사부(100a)의 가로의 길이는 500 mm, 지면에서 검사부(100a) 상부면까지의 높이는 1476 mm, 지면에서 시트 이동부(160a)의 높이는 971.8 mm, 반사 시트(10)가 검사부(100a)에 진입하기 전의 가로 길이가 1260 mm 등으로 구현될 수 있으나, 실시 예는 이에 국한되지 않는다.The length of the sheet moving part 160a is 3440 mm, the length of the sheet moving part 160a is 960 mm, the length of the inspection part 100a is 500 mm and the height from the ground to the upper surface of the inspection part 100a is 1476 mm The height of the sheet moving part 160a on the paper surface is 971.8 mm, the width of the reflective sheet 10 before entering the inspection part 100a is 1260 mm, but the embodiment is not limited thereto.

이하에서는 도 2 및 도 3을 참고하여 촬영부(110)와 광원부(120)를 설명하기로 한다. 도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 검사부(100a)의 내부를 나타내고, 도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 광원부(120)와 검사 대상물(10a) 간의 배치를 나타낸다.Hereinafter, the photographing unit 110 and the light source unit 120 will be described with reference to FIGS. 2 and 3. FIG. FIG. 2 shows the inside of the inspection unit 100a according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 shows the arrangement between the light source unit 120 and the object to be inspected 10a according to an embodiment of the present invention.

도 2에 따르면, 검사부(100a)의 내부에는 하부의 반사시트(10)를 촬영도록 수직 방향에 위치한 촬영부(110) 및 상기 반사 시트(10)의 표면 방향과 평행한 광을 조사하도록 배치된 광원부(120)가 배치될 수 있다. 광원부(120)와 촬영부(110) 간 수평거리(a)는 80 mm 의 간격일 수 있고, 촬영부(110)와 반사 시트(10) 간의 수직 거리(b)는 250 mm 일 수 있으나, 실시 예는 이에 국한되지 않는다. 특히, 촬영부(110)는 광원부(120)의 광출력 및 광원부(120)의 배치에 따라 표면 검사를 수행하면서 제어부(170)의 제어에 따라 움직일 수 있다.2, the inspecting unit 100a includes a photographing unit 110 positioned vertically so as to photograph the lower reflective sheet 10, and a plurality of light sources 110 arranged to irradiate light parallel to the surface direction of the reflective sheet 10 The light source unit 120 may be disposed. The horizontal distance a between the light source unit 120 and the photographing unit 110 may be 80 mm and the vertical distance b between the photographing unit 110 and the reflective sheet 10 may be 250 mm, Examples are not limited to these. Particularly, the photographing unit 110 may be moved under the control of the controller 170 while performing the surface inspection according to the light output of the light source unit 120 and the arrangement of the light source unit 120.

또한, 광원부(120)는 다양한 컬러의 광원을 조사할 수 있는데, 광원부(120)는 적외선 광원, 자외선 광원, 레이저 광원, 백색 광원 및 적색 광원 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 다른 색상, 성질의 광원을 포함할 수 있다.The light source unit 120 may include at least one of an infrared light source, an ultraviolet light source, a laser light source, a white light source, and a red light source. The light source unit 120 may emit light of different colors, And may include a light source.

또한, 광원부(120)는 반사 시트(10)와 2 내지 3 mm의 간격을 유지하여 광원을 조사할 수 있다. 본 간격은 실험에 의해 최적화된 수치이며, 촬영부(110)의 촬영범위 내에서 광원이 반사 시트(10)에 직접 닿지 않아 결함 검출이 용이한 최적의 간격이라 할 수 있다. 이와 같이, 광원의 직진성으로 인해 반사 시트(10)의 표면에 위치한 결함들이 용이하게 검출될 수 있다. Also, the light source unit 120 can irradiate the light source with a gap of 2 to 3 mm with respect to the reflective sheet 10. This interval is an optimum value obtained by experiments and is an optimum interval in which the defect detection is easy since the light source does not directly touch the reflection sheet 10 within the shooting range of the photographing unit 110. [ Thus, defects located on the surface of the reflective sheet 10 due to the linearity of the light source can be easily detected.

또한, 광원부(120)는 광원의 직진성을 효과적으로 구현하기 위해 볼록 렌즈를 포함시킬 수 있으며, 필요에 따라 볼록 렌즈와 오목 렌즈를 조합하여 구비할 수 있다.In addition, the light source unit 120 may include a convex lens for effectively realizing the linearity of the light source, and may include a convex lens and a concave lens as needed.

또한, 광원부(120)는 광원의 성질에 따라 실험을 통해 직진성이 우수한 배치, 출력이 결정될 수 있다. 예를 들면, 광원이 LED(light emitting diode)인 경우의 최적화된 배치, 광출력이 결정될 수 있다. 다만, 실시 예의 광원은 LED에 국한되지 않는다.Also, the light source unit 120 can be determined in terms of the arrangement and the output with excellent linearity through experiments according to the properties of the light source. For example, an optimized arrangement, light output, when the light source is an LED (light emitting diode), can be determined. However, the light source of the embodiment is not limited to the LED.

도 3에 따르면, 광원부(120)는 검사 대상물(10a)에 포함된 촬영범위 내에서는 검사대상물(10a)에 광이 직접 닿지 않도록 배치될 수 있다. 3, the light source unit 120 may be disposed so that light does not directly touch the object to be inspected 10a within the imaging range included in the object to be inspected 10a.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 표면 검사 장치(100)의 구성요소를 나타내는 블록도이다.4 is a block diagram illustrating components of a surface inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention.

도 4에 따르면, 표면 검사 장치(100)는 검사부(100a), 저장부(140), 디스플레이(150) 및 시트 이동부(160)를 포함한다. 도 4에 도시된 구성요소들은 표면 검사 장치(100)를 구현하는데 있어서 필수적인 것은 아니어서, 본 명세서 상에서 설명되는 표면 검사 장치(100)는 위에서 열거된 구성요소들 보다 많거나, 또는 적은 구성요소들을 가질 수 있다.4, the surface inspection apparatus 100 includes an inspection unit 100a, a storage unit 140, a display 150, and a sheet moving unit 160. [ The components shown in FIG. 4 are not essential for implementing the surface inspection apparatus 100, so that the surface inspection apparatus 100 described in this specification can include more or fewer components than the components listed above Lt; / RTI >

검사부(100a) 및 시트 이동부(160)는 상술한 바 생략하기로 한다.The checking unit 100a and the sheet moving unit 160 are not described in detail above.

저장부(140)는 제어부(170)에 의해 필요한 정보를 저장할 수 있다. 가령, 제어부(170)는 촬영부(110) 및 광원부(120)의 최적의 배치를 설정하여 저장부(140)에 저장할 수 있다.The storage unit 140 may store necessary information by the controller 170. [ For example, the control unit 170 may set the optimum arrangement of the photographing unit 110 and the light source unit 120 and store the optimal arrangement in the storage unit 140. [

저장부(140)는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드디스크 타입(hard disk type), SSD 타입(Solid State Disk type), SDD 타입(Silicon Disk Drive type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(multimedia card micro type), 카드 타입의 메모리(예를 들어 SD 또는 XD 메모리 등), 램(random access memory; RAM), SRAM(static random access memory), 롬(read-only memory; ROM), EEPROM(electrically erasable programmable read-only memory), PROM(programmable read-only memory), 자기 메모리, 자기 디스크 및 광디스크 중 적어도 하나의 타입의 저장매체를 포함할 수 있다. The storage unit 140 may be a flash memory type, a hard disk type, a solid state disk type, an SDD type (Silicon Disk Drive type), a multimedia card micro type a random access memory (RAM), a static random access memory (SRAM), a read-only memory (ROM), an electrically erasable programmable memory (EEPROM) read-only memory (ROM), programmable read-only memory (PROM), magnetic memory, magnetic disk, and optical disk.

디스플레이(150)는 제어부(170)의 제어에 따라 도 6 및 도 7에 도시된 것과 같은 화면을 표시할 수 있다. 제어부(170)는 디스플레이(150)에 각종 정보가 표시되도록 제어할 수 있다.The display 150 may display a screen as shown in FIGS. 6 and 7 under the control of the controller 170. The controller 170 may control the display 150 to display various kinds of information.

디스플레이(150)는 액정 디스플레이(liquid crystal display, LCD), 박막 트랜지스터 액정 디스플레이(thin film transistor-liquid crystal display, TFT LCD), 유기 발광 다이오드(organic light-emitting diode, OLED), 플렉서블 디스플레이(flexible display), 3차원 디스플레이(3D display), 전자잉크 디스플레이(e-ink display) 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.The display 150 may be a liquid crystal display (LCD), a thin film transistor-liquid crystal display (TFT LCD), an organic light-emitting diode (OLED), a flexible display ), A three-dimensional display (3D display), and an electronic ink display (e-ink display).

이하에서는 도 5(a) 및 5(b)를 참고하여, 종래기술에 포함된 비교 례에 따른 표면 검출 방법의 문제점을 설명하기로 한다.Hereinafter, problems of the surface detection method according to the comparative example included in the prior art will be described with reference to Figs. 5 (a) and 5 (b).

도 5(a)에 따르면, Polarion 조명을 이용해 획득한 이미지(30a)가 표시된다. 상기 이미지(30a)를 참고하면, 부유 이물 자체의 크기보다 빛의 확산 작용으로 인해 더 크게 이미지가 획득되는 것이 확인될 수 있다. According to Fig. 5 (a), an image 30a obtained using Polarion illumination is displayed. Referring to the image 30a, it can be confirmed that a larger image is obtained due to the diffusion of light than the size of the floating foreign object itself.

또한, 상기 이미지(30a)에는 난반사 구역(31)이 관찰되고 있다. 상기 난반사 구역(31)에 의해 균일도가 떨어져 표면 검사에 부적합하다.In addition, a diffuse reflection region 31 is observed in the image 30a. The uniformity is reduced by the irregularly reflecting region 31, which is unsuitable for surface inspection.

도 5(b)에 따르면, RED Bar 조명을 이용해 획득한 이미지(30b)가 표시되는데 상기 이미지는 편광 필름이 부착된 상태에서 획득된 것이다.According to FIG. 5 (b), an image 30b obtained using the RED Bar illumination is displayed, which image is obtained with the polarizing film attached.

상기 이미지(30b)를 참고하면, 이물이 일부 검출되나 크기가 협소하고 표면 균일도가 떨어져 검사에 적합하지 않음이 관찰된다.Referring to the image 30b, a part of the foreign object is detected but it is observed that the size is narrow and the surface uniformity is poor and it is not suitable for the inspection.

도 6은 및 도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 표면 검사 장치를 이용하여 반사 시트의 표면을 검사한 하나의 실험 결과를 나타낸다.FIG. 6 and FIG. 7 show an experimental result of inspecting the surface of a reflective sheet using a surface inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 6에 따르면, 표면 검사 장치(100)의 디스플레이(150)에 도 6과 같은 표면 검출 화면(150a)이 표시될 수 있다. 상기 화면(150a)의 좌측 영역(153)에는 파일의 위치 탐색기능(153a), 검출된 결함의 개수 정보(153b), 표면 검사가 성공하기 위한 결함의 개수(153c), 결함 통과 여부의 정보(153d)가 표시될 수 있다. 6, a surface detection screen 150a as shown in FIG. 6 may be displayed on the display 150 of the surface inspection apparatus 100. FIG. The left area 153 of the screen 150a is provided with a file search function 153a, the number of detected defects 153b, the number of defects 153c for successful surface inspection, 153d may be displayed.

우측에는 실제 반사 시트(10)의 결함에 관한 제1 화면(159a) 및 제2 화면(159b)이 각각 표시될 수 있다. And the first screen 159a and the second screen 159b relating to the defect of the actual reflective sheet 10 may be respectively displayed on the right side.

제1 화면(159a)에는 Vision 카메라의 영상에 Gray 처리한 영상이 표시될 수 있고, 특히 결함들(151a)이 명확하게 표시될 수 있다. 결함들(151a)의 총 개수는 6개로 표시될 수 있다.In the first screen 159a, a gray-processed image can be displayed on the image of the Vision camera, and in particular, the defects 151a can be clearly displayed. The total number of defects 151a may be represented by six.

제2 화면(159b)에는 Marking 처리된 Particle Overay 처리한 영상이 표시될 수 있다. 즉, 제1 화면(159a)에 나타난 결함들(151a)을 보다 명확하게 추출하기 위해 제2 화면(159b)가 제공될 수 있다.And the second screen 159b may display a particle-overlay processed video image. That is, the second screen 159b may be provided to more clearly extract the defects 151a appearing on the first screen 159a.

구현시에는 컨트롤 기능과 영상 처리 함수가 추가되어, 결함 검출 효율을 높일 수 있다.In the implementation, control functions and image processing functions are added to improve defect detection efficiency.

도 7에 따르면, 결함 수가 20 개 이하인 경우 표면 테스트 합격으로 설정될 수 있다. 표면 테스트 합격 수치는 153c 의 영역에서 입력받을 수 있다.According to Fig. 7, if the number of defects is 20 or less, the surface test can be set to pass. Surface test passing values can be input in the area of 153c.

제3 화면(159c) 및 제4 화면(159d)를 참고하면, 실제 결함이 (151d) 16개로 검출되고 이는 표면 테스트의 합격 수치에 해당되어, 합격이 표시(153d)될 수 있다.Referring to the third screen 159c and the fourth screen 159d, the actual defects 151d are detected to be 16, which corresponds to the passing test value of the surface test, and the acceptance can be displayed (153d).

또한, 표면 검사 장치(100)는 다양한 설정 및 검출 정지 등의 옵션들을 더 포함할 수 있다.In addition, the surface inspection apparatus 100 may further include options such as various setting and detection stop.

도 8은 도 1에 도시된 반사 시트의 표면을 검사하는 장치가 광원부 이외의 빛을 차단하는 일 실시 예를 나타낸다.FIG. 8 shows an embodiment in which an apparatus for inspecting the surface of the reflection sheet shown in FIG. 1 cuts off light other than the light source portion.

표면 검사 장치(100)는 지지대(180)의 특정 부위(180b)를 개폐할 수 있다. 이에 따라, 지지대(180)로 유입되는 빛이 차단될 수 있다. 또한, 표면 검사 장치(100)는 검사부(100a)에 유입되는 빛 또는 방출되는 빛을 차단할 수 있다.The surface inspection apparatus 100 can open / close a specific portion 180b of the support table 180. [ Accordingly, the light entering the support table 180 can be blocked. In addition, the surface inspection apparatus 100 can block the light or emitted light to the inspection unit 100a.

이러한 암처리가 제공됨으로써, 검출에 방해되는 빛을 차단하며, 광원부(120)에 의해서만 표면 검사가 수행되게 할 수 있다.By providing such dark processing, the light intercepting the detection can be cut off, and the surface inspection can be performed only by the light source unit 120.

도 9(a) 및 도 9(b)는 본 발명의 일 실시 예에 따른 검사부의 내부 구성의 원리를 나타낸 도면이다.9 (a) and 9 (b) are views showing the principle of the internal configuration of the inspection unit according to an embodiment of the present invention.

도 9(a)에 따르면, 광원부(120)가 바 타입으로 구성되어 빛을 반사 시트(10)와 평행하도록 조사할 수 있다. 이때, 광원부(120)와 반사 시트(10) 간 수직 간격은 2 내지 3 밀리미터일 수 있으나, 실시 예는 이에 국한되지 않는다.9 (a), the light source unit 120 is configured to be a bar type so that light can be irradiated so as to be parallel to the reflective sheet 10. At this time, the vertical interval between the light source unit 120 and the reflective sheet 10 may be 2 to 3 millimeters, but the embodiment is not limited thereto.

도 9(b)를 참고하면, 광원부(120)가 바 타입으로 표시되나, 다양한 타입으로 구현될 수 있다.Referring to FIG. 9 (b), the light source unit 120 is displayed as a bar type, but may be implemented in various types.

한편, 본 발명의 일 실시 예에 따른 표면 검사 장치(100)를 이용하여 반사 시트(10)의 표면을 검사하는 방법은 반사 시트(10)의 표면과 수평하게 광을 조사하는 단계, 조사된 광이 반사 시트와 접하지 않는 소정의 표면 영역을 촬영부(110)를 이용하여 촬영하는 단계 및 촬영된 영상에 기초하여, 반사 시트(10) 표면의 결함을 검출하는 단계를 포함할 수 있다.The method of inspecting the surface of the reflective sheet 10 using the surface inspection apparatus 100 according to an embodiment of the present invention includes the steps of irradiating light horizontally with the surface of the reflective sheet 10, Photographing a predetermined surface area not in contact with the reflective sheet by using the photographing unit 110, and detecting a defect on the surface of the reflective sheet 10 based on the photographed image.

여기서, 광을 조사하는 단계는 발광부(120)의 광을 출처로 한 빛을 제외한 다른 빛은 차단될 수 있다. 이를 위해 반사 시트(10)의 결함을 검출하는 검사부(100a)는 빛을 차단하는 암막으로 구성될 수 있다. 상기 암막은 반사 시트(10)의 표면을 검출하는 경우 빛이 차단되도록 구성되고 반사 시트(10)의 표면을 검출하지 않는 경우 빛이 유입되도로고 구성될 수 있으나, 실시 에는 이에 국한되지 않는다.Here, in the step of irradiating the light, the light other than the light from which the light of the light emitting unit 120 is originated may be cut off. For this purpose, the inspection unit 100a for detecting defects in the reflective sheet 10 may be constituted by a black film for blocking light. The dark cover may be configured to block the light when detecting the surface of the reflective sheet 10, but may also be a logo when the surface of the reflective sheet 10 is not detected, but the embodiment is not limited thereto.

전술한 본 발명은, 프로그램이 기록된 매체에 컴퓨터가 읽을 수 있는 코드로서 구현하는 것이 가능하다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체는, 컴퓨터 시스템에 의하여 읽혀질 수 있는 데이터가 저장되는 모든 종류의 기록장치를 포함한다. 컴퓨터가 읽을 수 있는 매체의 예로는, HDD(Hard Disk Drive), SSD(Solid State Disk), SDD(Silicon Disk Drive), ROM, RAM, CD-ROM, 자기 테이프, 플로피 디스크, 광 데이터 저장 장치 등이 있으며, 또한 캐리어 웨이브(예를 들어, 인터넷을 통한 전송)의 형태로 구현되는 것도 포함한다. 또한, 상기 컴퓨터는 반사 시트의 표면을 검사하는 장치(100)의 제어부(170)를 포함할 수 있다.따라서, 상기의 상세한 설명은 모든 면에서 제한적으로 해석되어서는 아니되고 예시적인 것으로 고려되어야 한다. 본 발명의 범위는 첨부된 청구항의 합리적 해석에 의해 결정되어야 하고, 본 발명의 등가적 범위 내에서의 모든 변경은 본 발명의 범위에 포함된다.The present invention described above can be embodied as computer-readable codes on a medium on which a program is recorded. The computer readable medium includes all kinds of recording devices in which data that can be read by a computer system is stored. Examples of the computer readable medium include a hard disk drive (HDD), a solid state disk (SSD), a silicon disk drive (SDD), a ROM, a RAM, a CD-ROM, a magnetic tape, a floppy disk, , And may also be implemented in the form of a carrier wave (e.g., transmission over the Internet). The computer may also include a controller 170 of the apparatus 100 for inspecting the surface of the reflective sheet. Thus, the above description should not be construed in a limiting sense in all aspects and should be considered exemplary. . The scope of the present invention should be determined by rational interpretation of the appended claims, and all changes within the scope of equivalents of the present invention are included in the scope of the present invention.

Claims

An apparatus for inspecting the surface of a reflective sheet,
An inspection unit for detecting surface defects of the reflective sheet;
A sheet moving unit for moving the reflective sheet to the inspection unit; And
And a control unit for controlling the inspection unit and the sheet moving unit,
Wherein,
A light source unit disposed on an upper surface of the inspection unit to irradiate light in a direction parallel to the reflection sheet, and a light shielding unit for shielding light,
Wherein the light source unit is disposed at a predetermined distance from the reflective sheet,
The photographing region of the reflection sheet through the photographing portion does not contact the light irradiated by the light source portion,
Wherein,
And controls the dark portion to block light other than light emitted from the light source portion when detecting a defect in the reflective sheet through the inspection portion.

The method according to claim 1,
Wherein the light source unit is disposed at a distance of 2 to 3 mm from the reflective sheet.

The method according to claim 1,
The light source unit includes:
An apparatus for inspecting the surface of a reflective sheet, comprising a convex lens or a concave lens, for enhancing linear efficiency of light.

The method according to claim 1,
The light source unit includes:
An apparatus for inspecting the surface of a reflective sheet, which irradiates light with a red light source or a white light source.

A method for inspecting a surface of a reflective sheet using a surface inspection apparatus,
Irradiating light to the surface of the reflective sheet horizontally;
Photographing a predetermined surface area where the irradiated light does not contact the reflective sheet using the photographing unit; And
And detecting a defect on the reflective sheet surface based on the photographed image.