KR20180029518A - 구동 ic의 출력 핀간 단락 진단 장치 및 구동 ic 간 단락 진단 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명에 따른 구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치는, 부하를 구동하기 위한 구동부; 출력 핀간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치; 상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중, 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기; 상기 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및 상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하는 구동 IC; 및 상기 구동 IC에 상기 출력 핀간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 제어부를 포함할 수 있다. 따라서, 본 발명에 따르면, 본 발명은 시스템 동작 전 모든 출력을 특정 전압으로 설정하고 검사 대상 핀에만 다른 전압을 인가하여 핀의 출력을 모니터링함으로써 접지 단락뿐만 아니라 핀 간의 단락도 검출 가능하다. 특히 구동 IC 간의 출력 단락 발생 시에도 1개의 IC 출력에 모두 특정 검사 전압을 인가한 후, 나머지 다른 IC의 출력을 모니터링함으로써 구동 IC들 간의 단락을 진단/검출할 수 있다.
Description
본 발명은 에어백 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 에어백 시스템에서 IC 출력 단락을 진단하는 장치 및 방법에 관한 것이다.
최근, 소비자들의 요구에 따라 차량에 장착되는 에어백의 수가 증가되는 추세이다. 최근 출시되고 있는 차량은 운전석, 조수석, 사이드 에어백, 커튼 에어백 등 기본 6개 이상의 에어백을 장착하고 있으며 차량의 급이 높아질수록 에어백의 수도 증가한다.
따라서, 복수의 에어백을 제어하기 위하여 에어백 제어 IC(Integrated Circuit)는 다채널 하이/로우 사이드(HS/LS, High Side/Low Side) 구동부를 내장하여 에어백 점화기(팽창기) 등의 외부 부하에 전류를 공급하도록 구성된다.
그러나, 다채널로 외부 부하와 긴 도선으로 연결되도록 구성되어 있으므로, 채널 간 단락 고장 등이 발생할 가능성이 있다. 따라서, 이러한 단락 고장을 진단하기 위하여 시스템 동작 중에 에어백 출력 핀의 전압 상태를 피드백 받아서 예측치과 차이를 비교하여 에어백 출력 핀의 단락을 진단하는 기존 기술들이 개발되어 있다.
하지만, 기존 기술은 회로 동작 중에만 이상 여부를 판단하기 때문에, 시스템 동작 전에 구동 IC의 출력 핀간 단락 상태를 판단하기 어렵다. 또한, 에어백의 수의 증가와 함께 에어백 구동 IC의 수도 증가하고 있지만, 에어백 내에서 채널 간 단락 고장뿐만 아니라 구동 IC들 사이의 단락 고장을 검사할 수 있는 수단이 없었다.
본 발명은 상술한 기술적 문제에 대응하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 시스템 동작 전 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하고 나머지 다른 출력 핀들의 전압값을 모니터링하여 자동차의 동작 전에 출력 핀간 단락을 검출할 수 있는 구동 IC의 단락 진단 장치 및 방법을 제공하는데 있다.
본 발명의 다른 목적은 구동 IC간의 출력 단락 발생 시에도 1개의 IC 출력에 검사 전압을 인가한 후, 나머지 다른 IC의 출력 핀들의 전압값을 모니터링하여 구동 IC간 단락을 진단/검출할 수 있는 복수의 구동 IC 간 단락 진단 장치 및 방법을 제공하는데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 장치는 부하를 구동하기 위한 구동부; 출력 핀간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치; 상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중, 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기; 상기 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및 상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하는 구동 IC; 및 상기 구동 IC에 상기 출력 핀간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 제어부를 포함할 수 있다.
이 경우, 상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결될 수 있다.
또한, 상기 구동 IC는 상기 출력 핀간 단락 진단 명령 시 상기 구동부가 오프될 수 있다.
또한, 상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압 일 수 있다.
한편 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 장치는 제 1 구동 IC; 제 2 구동 IC; 및 상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 제어부를 포함하며, 상기 제 1 구동 IC 및 상기 제 2 구동 IC는 각각 부하를 구동하기 위한 구동부; 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치; 상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기; 상기 복수의 출력 핀 중 적어도 일부에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및 상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하며, 상기 검사 대상이 되는 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 결정되고, 상기 제어부는 상기 진단 신호에 기초하여 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하도록 구성될 수 있다.
또한, 상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결될 수 있다.
또한, 상기 구동 IC는 상기 출력 핀간 단락 진단 명령 시 상기 구동부가 오프될 수 있다.
또한, 상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압일 수 있다.
또한, 상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 동시에 턴온되도록 구성될 수 있다.
한편, 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법은, 구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 시스템에서, 상기 제어부에서 전송한 출력 핀 간 단락 진단 명령에 따라 상기 구동 IC가 상기 구동 IC의 구동부를 오프시키는 단계; 상기 구동 IC의 복수의 출력 핀 중, 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하고, 상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀에 디폴트 전압을 인가하는 단계; 상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
이 경우, 상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 상기 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀 중 어느 하나를 제 2 검사 대상으로 지정하는 단계;
상기 복수의 출력 핀 중, 상기 제 2 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 수행할 수 있다.
한편, 본 발명에 따른 구동 IC간 단락 진단 방법은, 제 1 구동 IC, 제 2 구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 IC간 단락 진단 방법에 있어서, 상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 1 구동 IC 및 제 2 구동 IC의 구동부를 턴오프하는 단계; 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계; 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀에 인가된 전압을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계; 상기 제 2 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 출력하는 단계; 및 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함할 수 있다.
또한, 상기 단락 핀을 결정하는 단계 후에,
상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 상기 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 단계;
상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 2 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계; 상기 제 1 구동 IC의 복수의 출력 핀에 인가된 전압을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계; 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 출력하는 단계; 및 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호에 기초하여 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또한, 상기 검사 대상 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC의 모든 출력 핀이고, 동시에 검사 전압이 인가되도록 구성될 수 있다.
본 발명은 시스템 동작 전 출력 핀을 디폴트 전압으로 설정하고 검사 대상 출력 핀에만 검사 전압을 인가하여 출력 핀의 전압값을 모니터링함으로써 출력 핀 간의 단락도 검출 가능하다. 또한, 복수의 구동 IC 간의 단락 발생 시에도 1개의 구동 IC에 모두 검사 전압을 인가한 후, 나머지 다른 IC의 출력 핀의 전압을 모니터링함으로써 구동 IC들 간의 단락을 진단/검출할 수 있다.
따라서, 서로 독립된 구동 IC 간의 통신없이 마이크로컨트롤러 유닛의 제어 만으로 구동 IC들 간의 단락을 진단/검출할 수 있다. 본 발명은 구동 IC 간의 단락 진단 시, 구동 IC들 간의 동작 타이밍 문제를 해결하고 진단 방식을 단순화함으로써 시스템의 진단을 용이하게 하고 검사 시간을 단축시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 2에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC의 출력 출력 핀간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 7은 도 6에 도시된 제1 및 제2 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 8은 도 7에 도시된 구동 IC간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.
도 2는 도 1에 도시된 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 3은 도 1에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 2에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC의 출력 출력 핀간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 장치의 구성을 나타낸 블록도이다.
도 7은 도 6에 도시된 제1 및 제2 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
도 8은 도 7에 도시된 구동 IC간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있는 것으로, 이하의 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이다. 또한, 설명의 편의를 위하여 도면에서는 구성 요소들이 그 크기가 과장 또는 축소될 수 있다. 그러나, 이하의 실시예는 이 기술분야에서 통상적인 지식을 가진 자에게 본 발명이 충분히 이해되도록 제공되는 것으로서 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 다음에 기술되는 실시예에 한정되는 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락을 진단하는 장치의 구성을 나타낸 블록도이다. 도 2는 도 1에 도시된 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다. 도 3은 도 1에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다. 도 4는 도 2에 도시된 구동 IC의 출력 핀간 단락이 발생한 경우 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다.
본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 장치는 구동 IC(100) 및 제어부(200)를 포함하며 에어백 점화기 등의 외부 부하(300)와 연결되어 있다. 단, 본 발명에서는 외부 부하(300)로서 에어백 점화기의 예를 들어서 설명하고 있으나, 본 발명은 이에 제한되지 않는다. 당업자는 에어백 시스템 및 에어백 점화기 외에도 복수의 출력 핀을 가지는 구동 IC가 채택되는 장치 및 방법 등에 본 발명을 적용할 수 있다.
IC(100)는 복수의 구동부(121, 125) 및 진단 회로(110)을 포함한다.
복수의 구동부(121, 125)는 정상 구동 중에 전류를 공급하여 외부 부하(300)을 구동할 수 있다. 복수의 구동부(121, 125)는 HS 구동부(121) 및 LS 구동부를 포함한다. 그리고, 각각의 구동부(122, 123, 126, 127)는 구동 드라이버(128) 및 구동 스위치(129)를 포함한다. 각각의 구동부(122, 123, 126, 127)는 출력 핀간 단락 진단 시에 차단된다.
진단 회로(110)는 복수의 전압 분배기(112, 115, 116, 117), 검사 전압 인가 스위치(111, 114), 멀티플렉서(140), 진단 신호 생성부(130)를 포함한다.
복수의 전압 분배기(112, 115, 116, 117)는 상기 복수의 구동부(121, 125)와 복수의 HS/LS 출력 핀(H#1 ~ H#n, L#1 ~ L#n(단, n은 핀의 개수)) 사이에 각각 구비된다. 검사 전압 인가 스위치(111, 114)는 검사 전원(V_test)과 HS 구동부(122, 123)와 연결된 전압 분배기(112, 115)의 출력 노드(113) 사이에 각각 설치된다.
출력 핀간 단락 진단 시에는 복수의 검사 전압 인가 스위치(111, 114) 중, 검사 대상인 검사 전압 인가 스위치(112)만 턴온(Turn-on)과 동시에 검사 전원(V_test)이 인가된다. 단, 검사 대상은 순차적으로 변경된다. 즉, 검사 전압 인가 스위치(112) 및 검사 전압 인가 스위치(114)가 미리 정해진 순서대로 하나씩 턴온된다.
설명의 편의를 위하여 복수의 전압 인가 스위치 및 전압 분배기 중 도면에 표시한 일부를 제 1 검사 전압 인가 스위치(111), 제 1 HS 전압 분배기(112), 제 1 LS 전압 분배기(117), 제 2 검사 전압 인가 스위치(114), 제 2 HS 전압 분배기(115), 제 2 LS 전압 분배기(116)이라고 칭한다. 본 명세서에서는 설명의 편의를 위하여 제 1, 제 2라고 칭하였지만, 당업자는 필요한 수만큼 검사 전압 인가 스위치 및 전압 분배기를 마련할 수 있다.
한편, 도 1에 도시한 바와 같이, 제 1 HS 전압 분배기의 출력 노드(113), 제 1 HS 출력 핀(H#1), 제 1 LS 출력 핀(L#1), 외부 부하(300)를 포함하는 제 1 채널에는 등전위면(350)이 형성된다. 또한, 제 2 HS 전압 분배기의 출력 노드, 제 2 HS 출력 핀(H#2), 제 2 LS 출력 핀(L#2), 또 다른 외부 부하(300)를 포함하는 제 2 채널에도 등전위면이 형성되어 있다.
진단이 시작되면, 먼저 제 1 검사 전압 인가 스위치(111)가 턴온되면서 검사 전원(V_test)과 출력 노드(113)이 연결되고, 제 1 채널에 형성된 등전위면(350)에 검사 전압이 인가된다. 이 경우, 제 2 검사 전압 인가 스위치(114)는 턴오프된 상황이므로, 제 2 채널에 형성된 등전위면에는 검사 전원이 제 2 HS 전압 분배기(115)기에 의하여 분배된 전압, 즉, 검사 전원(V_test)의 전압과는 다른 디폴트 전압이 인가되어 있다.
단, 도 3 및 도 4에 도시한 바와 같이, 제 1 채널과 제 2 채널의 출력 핀간 단락이 발생하면, 제 2 채널에도 검사 전원(V_test)의 전압이 인가되게 된다. 그리고, 제 1 채널 및 제 2 채널이 등전위면(355)이 형성되게 된다.
멀티플랙서(140)는 채널 선택 신호(150)에 기초하여 각 출력 핀별 전압을 진단 신호 생성부(130)에 순차적으로 인가한다. 진단 신호 생성부(130)는 아날로그-디지털 변환기를 포함할 수 있으며, 이 경우, 진단 신호 생성부(130)는 제어부(200)에 디지털로 변환된 각 채널의 전압값을 전송한다. 또는 진단 신호 생성부(130)는 비교기를 포함할 수도 있다. 비교기일 경우, 기준 전압과 각 채널별 전압값을 비교하여 이상이 발생한 경우에는 이상 신호를 진단 신호로서 생성하여 제어부(200)에 전송할 수 있다.
바람직하게는 기준 전압은 검사 전압을 인가하지 않았을 때의 디폴트 전압(즉, 검사 전원이 각 전압 분배기(115)기에 의하여 분배된 전압)일 수 있으며, 진단 신호는 예컨대, 전압 이상이 발생한 채널의 출력 핀을 단락핀으로 결정하여 각 채널의 단락 여부에 대한 플래그에 저장하고, 제어부(200)에 전송할 수 있다.
예를 들어, 도 3 및 도 4와 같이 제 1 채널과 제 2 채널에 단락이 발생한 경우에는, 진단 신호 생성부(130)에서 제 2 채널의 전압값을 읽을 때에 검사 전원(V_test)과 동일한 전압이 인가되게 되고, 다른 채널의 전압값을 읽을 때에는 상술한 디폴트 전압이 읽히게 된다. 이 경우, 제 1 채널 및 제 2 채널의 출력 핀을 단락 핀으로 결정하고, 제 1 출력 핀(H#1,L#1)과 제 2 출력 핀(H#2,L#2)를 단락핀으로 플래그에 저장할 수 있다.
제어부(200)는 마이크로컨트롤러 유닛(MCU)일 수 있다. 그리고, 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 명령을 상기 구동 IC(100)에 제공하여 복수의 구동부(121, 125)를 턴오프하고, 상기 복수의 검사 전압 인가 스위치를 순차적으로 턴온시키고, 채널 선택 신호(150)를 멀티플랙서(140)에 인가하여 채널별 전압값을 진단 신호 생성부(130)에 전송할 수 있다.
단, 진단 신호 생성부(130) 및/또는 멀티플랙서(140)는 구동 IC(100)에 포함될 수도 있고, 제어부(200)에 포함될 수도 있으며, 구동 IC(100) 및 제어부(200)와 별도 칩으로 구현될 수도 있다.
이하, 도 5를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 에어백 시스템에서 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 방법을 설명한다. 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC 출력 핀간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.
제어부(200)는 구동 IC 출력 핀 간 단락 진단 명령을 구동 IC(100)로 제공한다. 이 경우, 구동 IC는 출력 핀 간 단락 진단 모드로 돌입하게 되고, 구동부(121, 125)를 모두 턴오프한다(단계 S504). 그리고, 검사 전원(V_test)이 모든 전압 분배기에 공급되면서, 모든 출력 핀에 디폴트 전압이 공급되게 된다.
그 후, 구동 IC(100)는 구동 IC 출력 핀 간 단락 진단 명령에 응답하여, 검사 대상인 출력 핀에 대응되는 검사 전압 인가 스위치를 턴온한다. 해당 검사 전압 인가 스위치가 턴온 되면, 검사 대상 출력 핀에 검사 전압이 인가된다. 상술한 바와 같이, 검사 전압은 디폴트 전압과는 다르다. 최초 검사 대상이 상술한 제 1 채널인 경우, 제 1 채널에는 검사 전압의 등전위면이 형성된다(단계 S504).
이 경우, 단락 고장이 없는 경우에는 제 1 채널을 제외한 나머지 채널은 디폴트 전압의 등전위면이 형성된다. 하지만, 제 1 채널과 단락된 채널의 출력 핀은 검사 전압이 그대로 공급되게 된다.
상기 멀티플렉서(140)는 채널 선택 신호에 따라 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀의 전압을 순차적으로 선택하고, 진단 신호 생성부(130)로 출력한다(단계 S506).
상기 진단 신호 생성부(130)는 상기 멀티플렉서(140)로부터의 상기 나머지 출력의 단락 이상 여부를 판단하여 진단 신호를 출력한다(단계 S508). 진단 신호 생성부(130)가 비교기로 구현되는 경우에는 상기 나머지 출력 핀의 전압을 디폴트 전압과 비교하여 진단 신호를 생성한다. 진단 신호 생성부(130)가 아날로그-디지털 변환기로 구현되는 경우에는 각 출력 핀의 전압값을 제어부(200)로 출력한다(단계 S508).
제어부(200) 또는 구동 IC(100)는 상기 진단 신호에 기초하여, 단락이 발생한 출력 핀의 단락 고장 플래그에 단락 여부를 저장할 수 있다(S510). 예를 들어, 제어부(200)에서 각 출력 핀의 전압 값을 수신하여 직접 디폴트 전압과 비교하여 단락 고장 플래그에 단락 여부를 저장할 수도 있으며, 구동 IC(100)에서 버퍼 등에 출력 핀 별 단락 고장 플래그를 저장하여 제어부(200)에 전송할 수도 있다.
제어부(200) 또는 구동 IC(100)는 정해진 순서에 따라 검사 대상 출력 핀을 변경하면서, 모든 출력 핀들 사이의 단락 여부를 결정할 때까지 상술한 단계들(S502 내지 S510)을 반복할 수 있다.
따라서, 본 발명의 실시예에 따르면, 동작 중에만 검사가 가능하였던 종래 기술과는 달리, 시스템의 동작 전에 단락 고장 이상 유무를 판단하는 것이 가능하다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간의 단락 진단을 검사하는 구성을 나타낸 블록도이다. 도 7은 도 6에 도시된 제 1 및 제 2 구동 IC의 상세 회로를 나타낸 회로도이다. 도 8은 도 7에 도시된 복수의 구동 IC간 단락이 발생한 경우의 일 예를 나타낸 도면이다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 장치는 복수의 구동 IC(500 및 600) 및 제어부(700)를 포함한다.
복수의 구동 IC(500 및 600)는 각각 도 2에 나타낸 구동 IC와 동일한 구조를 가진다. 설명의 간략화를 위하여 동일한 내용에 대해서는 설명을 생략한다. 또한, 이하에서는 2개의 구동 IC(500 및 600)를 통해 발명을 설명하고 있지만, 본 발명은 2개 이상의 구동 IC에도 적용이 가능하다.
제어부(700)는 제 1 구동 IC(500)와 제 2 구동 IC(600)에 구동 IC간 단락 진단 명령을 전달할 수 있다. 이 경우, 제 1 구동 IC(500)와 제 2 구동 IC(600)는 구동 IC간 단락 진단 모드에 돌입한다.
구동 IC간 단락 진단 명령은 2개의 명령을 포함할 수 있다. 예를 들어, 제어부(700)는 제 1 구동 IC에는 제 1 구동 IC간 진단 명령을 전송하고, 제 2 구동 IC에는 제 2 구동 IC간 진단 명령을 전송할 수 있다.
제 1 구동 IC간 진단 명령은 예를 들어, 구동부(121, 125)를 모두 오프하고 전압 인가 모드에 있는 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 명령을 포함할 수 있다. 바람직하게는 모든 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 동시에 검사 전압을 인가할 수도 있다.
제 2 구동 IC간 진단 명령은 예를 들어, 구동부(121, 125)를 모두 오프하고 복수의 출력 핀의 전압을 순차적으로 진단 신호 생성부(130)에 출력하도록 하는 명령을 포함할 수 있다.
따라서, 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압이 인가되고 제 2 구동 IC의 출력 핀들의 전압을 모니터링하여 제 1 구동 IC와 제 2 구동 IC 사이의 단락을 진단할 수 있다.
이하에서는 도 7 및 도 8을 참조하여 본 발명의 동작 및 원리에 대하여 설명한다.
제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 제 1 구동 IC(500)는 모든 구동부(510)를 턴오프시키고 검사 대상인 출력 핀에 해당하는 검사 전압 인가 스위치(520)가 턴온되면, 검사 대상 출력 핀(H#n)에 검사 전압이 인가된다. 바람직하게는 제 1 구동 IC(500)의 모든 출력 핀에 검사 전압이 동시에 인가될 수 있다.
그리고, 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 제 2 구동 IC(600)에서 모든 구동부(610)가 턴오프되고, 출력 핀이 멀티플랙서(640)에 의하여 순차적으로 선택된다. 진단 신호 생성부(650)는 멀티플랙서(640)에서 순차적으로 출력되는 각 출력 핀의 전압값에 기초하여 진단 신호를 생성한다.
상기 진단 신호는 제어부(700)로 전송되며, 다시 제 1 구동 IC에는 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 제 2 구동 IC에는 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하여 동일한 검사를 반복한다. 이 경우, 도 7 및 도 8과 같이, 구동 IC간 단락이 있는 경우에는 검사 전압이 모니터링 대상 구동 IC의 출력 핀에서 검출되게 된다.
이하, 도 9를 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 복수의 구동 IC간 단락 진단 방법을 설명한다. 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 구동 IC간 단락 진단 방법을 설명하는 흐름도이다.
제어부(700)가 제 1 구동 IC(500)로 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전달하면, 제 1 구동 IC(500)를 전압 인가 모드로 설정하고, 제 1 구동 IC(500)의 모든 구동부(510)를 오프한다. 또한, 제어부(700)는 검사 대상 출력 핀에 대응하는 검사 전압 인가 스위치(520)를 턴온하여 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가한다(단계 S902). 앞서 설명한 바와 같이, 바람직하게는 모든 출력 핀을 검사 대상으로 하여 동시에 검사 전압을 인가할 수 있다.
한편, 제어부(700)는 제2 구동 IC(600)에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전달하여 제2 구동 IC(600)을 모니터링 모드로 설정하고, 제 2 구동 IC(600)의 구동부(610)를 모두 오프한다. 그리고, 제 2 구동 IC(600)의 멀티플렉서(640)를 통하여 상기 제 2 구동 IC(600)의 출력 핀의 전압을 순차적으로 진단 신호 생성부(650)로 출력한다(S904)
제 2 구동 IC(600)의 진단 신호 생성부(650)는 멀티플렉서(640)로부터의 출력 핀들에 인가된 전압값을 비교기를 통하여 순차적으로 디폴트 값과 비교하여 진단 신호를 생성 및 제어부(700)로 전달하거나, 또는 진단 신호로서, 상기 전압값을 디지털 값으로 변환하여 제어부(700)로 전달한다(단계 S906).
상기 제어부(700)는 상기 진단 신호들을 기초로 하여 디폴트 값과 다른 전압이 인가된 제 2 구동 IC의 출력 핀을 제 1 구동 IC(500)에 단락된 것으로 판단하고, 플래그에 저장한다(단계 S908).
제 1 구동 IC의 모든 출력 핀에 대한 검사 전압 인가를 마친 후, 제 1 구동 IC와 제 2 구동 IC와 서브모드를 서로 바꾸고 단계 S902 내지 S908을 반복한다 (단계 S910). 따라서, 본 발명의 실시예에 따르면, 구동 IC 간 단락 여부를 확인하는 것이 가능하다.
한편, 본 발명의 상세한 설명 및 첨부도면에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명은 개시된 실시예에 한정되지 않고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다. 따라서, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 특허청구범위와 균등한 것들을 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 구동 IC
110: 진단 회로
121, 125: 구동부
200, 700: 제어부
300, 800: 부하
500: 제 1 구동 IC
510, 610: HS/LS 구동부
600: 제 2 구동 IC
110: 진단 회로
121, 125: 구동부
200, 700: 제어부
300, 800: 부하
500: 제 1 구동 IC
510, 610: HS/LS 구동부
600: 제 2 구동 IC
Claims (20)
- 부하를 구동하기 위한 구동부; 출력 핀간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치; 상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중, 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기; 상기 복수의 출력 핀에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및 상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하는 구동 IC; 및
상기 구동 IC에 상기 출력 핀간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 제어부를 포함하는
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결되는
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 구동 IC는 상기 출력 핀간 단락 진단 명령 시 상기 구동부가 오프되는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
- 제 1 항에 있어서,
상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압인,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 장치.
- 제 1 구동 IC;
제 2 구동 IC; 및
상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 제어부를 포함하며,
상기 제 1 구동 IC 및 상기 제 2 구동 IC는 각각
부하를 구동하기 위한 구동부;
상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 검사 전압을 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 되는 출력 핀에 인가하는 복수의 검사 전압 인가 스위치;
상기 검사 전압과 다른 디폴트 전압을 상기 복수의 출력 핀 중 검사 대상이 아닌 출력 핀에 인가하는 복수의 전압 분배기;
상기 복수의 출력 핀 중 적어도 일부에 인가된 전압값을 순차적으로 선택하여 출력하는 멀티플렉서; 및
상기 전압값에 대한 진단 신호를 생성하는 진단 신호 생성부를 포함하며,
상기 검사 대상이 되는 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 결정되고, 상기 제어부는 상기 진단 신호에 기초하여 상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하도록 구성되는
구동 IC간 단락 진단 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 검사 전압을 인가하는 검사 전원과 상기 복수의 전압 분배기 출력 노드 사이에 각각 연결되는
구동 IC간 단락 진단 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 구동 IC는 상기 출력 핀간 단락 진단 명령 시 상기 구동부가 오프되는,
구동 IC간 단락 진단 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 디폴트 전압은 상기 검사 전압이 상기 전압 분배기에 의하여 분배된 전압인,
구동 IC간 단락 진단 장치.
- 제 5 항에 있어서,
상기 복수의 검사 전압 인가 스위치는 상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 동시에 턴온되도록 구성되는,
구동 IC간 단락 진단 장치.
- 구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 시스템에서,
상기 제어부에서 전송한 출력 핀 간 단락 진단 명령에 따라 상기 구동 IC가 상기 구동 IC의 구동부를 오프시키는 단계;
상기 구동 IC의 복수의 출력 핀 중, 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하고, 상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀에 디폴트 전압을 인가하는 단계;
상기 복수의 출력 핀 중, 상기 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및
상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
- 제 10 항에 있어서,
상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
- 제 10 항에 있어서,
상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 상기 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
- 제 10 항에 있어서,
상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
- 제 10 항에 있어서,
상기 검사 대상 출력 핀 외 나머지 출력 핀 중 어느 하나를 제 2 검사 대상으로 지정하는 단계;
상기 복수의 출력 핀 중, 상기 제 2 검사 대상 출력 핀을 제외한 나머지 출력 핀들의 전압값을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하고 진단 신호를 생성하는 단계; 및
상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 수행하는,
구동 IC의 출력 핀간 단락 진단 방법.
- 제 1 구동 IC, 제 2 구동 IC 및 제어부를 포함하는 구동 IC간 단락 진단 방법에 있어서,
상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 1 구동 IC 및 제 2 구동 IC의 구동부를 턴오프하는 단계;
상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 1 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계;
상기 제 2 구동 IC의 복수의 출력 핀에 인가된 전압을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계;
상기 제 2 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 출력하는 단계; 및
상기 진단 신호에 기초하여 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
- 제 15 항에 있어서,
상기 결정된 단락 핀을 플래그에 저장하는 단계를 더 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
- 제 15 항에 있어서,
상기 단락 핀을 결정하는 단계는 상기 전압 값을 디폴트 전압과 비교하여 상기 단락 핀을 결정하는 단계를 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
- 제 15 항에 있어서,
상기 진단 신호를 생성하는 단계는 아날로그-디지털 변환기를 통하여 변환된 디지털 전압 값을 상기 제어부로 전송하는 단계를 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
- 제 15 항에 있어서,
상기 단락 핀을 결정하는 단계 후에,
상기 제어부가 상기 제 1 구동 IC에 상기 제 2 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하고, 상기 제 2 구동 IC에 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령을 전송하는 단계;
상기 제 1 구동 IC간 단락 진단 명령에 따라 상기 제 2 구동 IC의 검사 대상 출력 핀에 검사 전압을 인가하는 단계;
상기 제 1 구동 IC의 복수의 출력 핀에 인가된 전압을 순차적으로 선택하여 진단 신호 생성부로 출력하는 단계;
상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호를 출력하는 단계; 및
상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀에 대한 진단 신호에 기초하여 상기 제 1 구동 IC의 상기 복수의 출력 핀 중 단락 핀을 결정하는 단계를 더 포함하는,
구동 IC간 단락 진단 방법.
- 제 15 항에 있어서,
상기 검사 대상 출력 핀은 상기 제 1 구동 IC의 모든 출력 핀이고, 동시에 검사 전압이 인가되도록 구성되는,
구동 IC간 단락 진단 장치.
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| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
| GRNT | Written decision to grant |