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KR20130117431A - Optical device including photo sensor and method of inspecting optical lense thereof - Google Patents

Optical device including photo sensor and method of inspecting optical lense thereof Download PDF

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KR20130117431A
KR20130117431A KR1020120039850A KR20120039850A KR20130117431A KR 20130117431 A KR20130117431 A KR 20130117431A KR 1020120039850 A KR1020120039850 A KR 1020120039850A KR 20120039850 A KR20120039850 A KR 20120039850A KR 20130117431 A KR20130117431 A KR 20130117431A
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light
signal
unit
sensor
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김기태
노민호
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

PURPOSE: An optical device including an optical sensor and an optical lens testing device thereof are provided to automatically diagnose the existence and the size of contaminants on the surface of an optical lens by using the optical sensor before a vision test and the acquisition of images. CONSTITUTION: An optical device (200) including an optical sensor includes a light sensing unit (210), a conversion unit (220), and a contamination determining unit (240). The light sensing unit senses optical signals of the optical sensor. The conversion unit converts the optical signals into comparison data for determining the existence of contaminants on the surface of the optical lens. The contamination determining unit compares the comparison data and a reference value previously stored, thereby determining whether both are matched or not and generates match signals or mismatch signals. [Reference numerals] (210) Light sensing unit; (220) Conversion unit; (230) Memory unit; (240) Contamination determining unit; (250) Alarming unit; (260) Control unit

Description

광 센서를 포함하는 광학 장치 및 그 광학 렌즈 검사 방법{OPTICAL DEVICE INCLUDING PHOTO SENSOR AND METHOD OF INSPECTING OPTICAL LENSE THEREOF}Optical device including optical sensor and method for inspecting optical lens thereof {OPTICAL DEVICE INCLUDING PHOTO SENSOR AND METHOD OF INSPECTING OPTICAL LENSE THEREOF}

본 발명은 광 센서를 포함하는 광학 장치 및 그 광학 렌즈 검사 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 비전 검사 및 이미지 획득 전에 광 센서를 이용하여 광학 렌즈 표면의 오염 물질 유무를 센싱하고, 센싱 결과 이상이 없다면 광학 검사를 진행하여 오염 물질의 존재로 인한 잘못된 이미지 획득을 방지하기 위한 광 센서를 포함하는 광학 장치 및 그 광학 렌즈 검사 방법에 관한 것이다.
The present invention relates to an optical device including an optical sensor and an optical lens inspection method, and more particularly, to detect the presence or absence of contaminants on the surface of the optical lens by using the optical sensor before vision inspection and image acquisition, The present invention relates to an optical device including an optical sensor and a method for inspecting the optical lens thereof, wherein the optical sensor includes an optical sensor for preventing an incorrect image acquisition due to the presence of contaminants.

최근 정보화 사회가 발전함에 따라 디스플레이 분야에 대한 요구도 다양한 형태로 증가하고 있으며, 이에 부응하여 박형화, 경량화, 저소비 전력화 등의 특징을 지닌 여러 평판 표시 장치(Flat Panel Display device), 예를 들어, 액정표시장치(Liquid Crystal Display device), 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel device), 유기발광 다이오드 표시장치(Organic Light Emitting Diode Display device) 등이 연구되고 있다.Recently, as the information society develops, the demand for the display field is increasing in various forms, and in response, various flat panel display devices, for example, liquid crystal, which have features such as thinning, light weight, and low power consumption BACKGROUND Liquid crystal display devices, plasma display panel devices, organic light emitting diode display devices, and the like have been studied.

표시장치 제조 공정 중에 완성된 패널에 대한 검사 공정을 진행하게 된다.During the display device manufacturing process, an inspection process for the completed panel is performed.

이때, 검사 방식은 광학 검사 방식과 비광학 검사 방식으로 구분할 수 있는데, 이하에서는 광학 검사 방식에 대해 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
In this case, the inspection method may be classified into an optical inspection method and a non-optical inspection method. Hereinafter, the optical inspection method will be described with reference to the drawings.

도1은 일반적인 광학 검사 공정을 설명하기 위해 참조되는 도면이다.1 is a diagram referred to explain a general optical inspection process.

도1에 도시한 바와 같이, 광학 검사 공정은 광학 장치(20)가 대상물(10) 상부에서 움직이면서 검사를 진행하게 된다.As shown in FIG. 1, in the optical inspection process, the optical device 20 moves while the optical device 20 moves on the object 10.

이때, 대상물(10)은 예를 들어, 완성된 패널일 수 있으며, 광학 장치(20)의 광학 렌즈는 대상물에 밀착하도록 배치된다.In this case, the object 10 may be, for example, a completed panel, and the optical lens of the optical device 20 is disposed to closely contact the object.

따라서, 광학 검사 과정에서 광학 장치(20)의 움직임으로 인한 조건과 대상물(10)과 광학 렌즈의 간격 및 주위의 환경 등으로 인하여 광학 렌즈 주변에 오염 물질(C)이 누적되는 문제점이 발생할 수 있다.Therefore, in the optical inspection process, contaminants C may accumulate around the optical lens due to the conditions caused by the movement of the optical device 20, the distance between the object 10 and the optical lens, and the surrounding environment. .

그리고, 광학 렌즈 주변에 누적된 오염 물질(C) 등에 의해 잘못된 이미지가 획득될 수 있어 광학 검사 진행에 방해가 될 수 있다.
In addition, an incorrect image may be acquired by the contaminant C accumulated around the optical lens, and thus may interfere with the optical inspection process.

본 발명은, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 비전 검사 및 이미지 획득 전에 광 센서를 이용하여 광학 렌즈 표면의 오염 물질 유무를 센싱하고, 센싱 결과 이상이 없다면 광학 검사를 진행하여 오염 물질의 존재로 인한 잘못된 이미지 획득을 방지하기 위한 광 센서를 포함하는 광학 장치 및 그 광학 렌즈 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
The present invention is to solve the above problems, the presence of contaminants by sensing the presence of contaminants on the surface of the optical lens using an optical sensor before vision inspection and image acquisition, and if there is no abnormality in the sensing result It is an object of the present invention to provide an optical device including an optical sensor and a method for inspecting the optical lens thereof to prevent the wrong image acquisition.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 광 센서를 포함하는 광학 장치는, 광 센서의 광 신호를 감지하는 광 감지부와; 상기 광 신호를 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하기 위한 비교 데이터로 변환하는 변환처리부와; 상기 비교 데이터와 미리 저장된 기준값을 비교하여 양자가 일치하는지 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하여 일치 신호 또는 불일치 신호를 발생하는 오염 판단부를 포함하는 것을 특징으로 한다.An optical device including an optical sensor for achieving the above object, the optical sensor for detecting an optical signal of the optical sensor; A conversion processing unit converting the optical signal into comparative data for determining the presence of contaminants on the surface of the optical lens; And comparing the comparison data with a previously stored reference value to determine whether they match, and determining whether there is a contaminant on the surface of the optical lens to generate a match signal or a mismatch signal. It is characterized by.

여기서, 상기 기준값은, 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재하지 않는 경우에 상기 광 감지부에서 측정한 전압 또는 전류값일 수 있다.Here, the reference value may be a voltage or current value measured by the light sensing unit when no contaminant is present on the surface of the optical lens.

그리고, 상기 광 감지부는, 발광센서 및 수광센서를 포함하며, 발광센서에서 방출한 광을 수광센서에서 수신함에 따라 상기 광 신호를 감지할 수 있다.The light detecting unit may include a light emitting sensor and a light receiving sensor, and may detect the light signal when the light emitted from the light emitting sensor is received by the light receiving sensor.

그리고, 상기 광 신호는 상기 광 감지부에서 측정된 전압 또는 전류에 의해 센싱되는 것이 바람직하다.The optical signal is preferably sensed by the voltage or current measured by the light detector.

한편, 상기 광 감지부에서 측정된 전압 또는 전류를 디지털값으로 변환하는 A/D 변환부와, 트리거(trigger) 신호를 이용하여 상기 광 감지부에서 상기 광 신호를 감지하는 시간을 카운터하기 위한 카운터를 더 포함할 수 있다.
Meanwhile, an A / D converter for converting the voltage or current measured by the light detector into a digital value, and a counter for counting the time for detecting the light signal by the light detector using a trigger signal. It may further include.

그리고, 상기 일치 신호 또는 불일치 신호에 따른 알람을 수행하는 알람부를 더 포함할 수도 있다.
The apparatus may further include an alarm unit configured to perform an alarm based on the match signal or the mismatch signal.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 실시예에 따른 광학 장치의 광학 렌즈 검사 방법은, 발광센서에서 방출한 광을 수광센서에서 수신하여 광 신호를 감지하는 단계와; 상기 광 신호를 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하기 위한 비교 데이터로 변환하는 변환 처리 단계와; 오염 판단부가 상기 비교 데이터와 미리 저장된 기준값을 비교하여 양자가 일치하는지 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하여 일치 신호 또는 불일치 신호를 발생하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.An optical lens inspection method of an optical apparatus according to an embodiment of the present invention for achieving the above object comprises the steps of: receiving light emitted from a light emitting sensor at a light receiving sensor to detect an optical signal; A conversion processing step of converting the optical signal into comparative data for determining the presence or absence of contaminants on the surface of the optical lens; The contamination determining unit compares the comparison data with a pre-stored reference value to determine whether they match, and determines whether there is a contaminant on the surface of the optical lens according to the determination result and generates a matching signal or a disagreement signal. It is characterized by including.

여기서, 상기 기준값은, 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재하지 않는 경우에 상기 광 감지부에서 측정한 전압 또는 전류값일 수 있다.Here, the reference value may be a voltage or current value measured by the light sensing unit when no contaminant is present on the surface of the optical lens.

그리고, 상기 광 신호는 상기 광 감지부에서 측정된 전압 또는 전류에 의해 센싱되는 것이 바람직하다.The optical signal is preferably sensed by the voltage or current measured by the light detector.

여기서, 상기 비교 데이터가 상기 기준값과 일치한다고 판단된 경우에는 상기 일치 신호를 수신한 알람부에서 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재하지 않는다고 판단하여 비전 검사를 진행하도록 하는 진행알람을 화면에 표시하도록 제어할 수 있다.In this case, when it is determined that the comparison data matches the reference value, the alarm unit receiving the match signal determines that there is no contaminant on the surface of the optical lens, and displays a progress alarm on the screen to perform vision inspection. Can be controlled.

반면에, 상기 비교 데이터가 상기 기준값과 불일치한다고 판단된 경우에는 상기 불일치 신호를 수신한 알람부에서 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재한다고 판단하여 상기 광학렌즈 표면을 확인하도록 하는 확인알람을 화면에 표시하도록 제어할 수 있다.
On the other hand, if it is determined that the comparison data is inconsistent with the reference value, the alarm unit receiving the inconsistency signal determines that a contaminant is present on the surface of the optical lens and checks the confirmation lens screen. You can control it to display.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 광 센서를 포함하는 광학 장치 및 그 광학 렌즈 검사 방법에서는, 비전 검사 및 이미지 획득 전에 광 센서를 이용하여 광학 렌즈 표면의 오염 물질 물질 유무, 대소 등을 자동적으로 진단할 수 있다.As described above, in the optical device including the optical sensor according to the present invention and the optical lens inspection method thereof, before and after vision inspection and image acquisition, the optical sensor is used to automatically diagnose the presence or absence of contaminants on the surface of the optical lens, or the like. can do.

그리하여, 진단 결과 이상이 없다면 광학 검사를 진행하여 오염 물질의 존재로 인한 잘못된 이미지 획득을 방지함에 따라 보다 정확한 광학 검사를 수행할 수 있다.
Thus, if there is no abnormality in the diagnosis result, the optical inspection can be performed to prevent the wrong image acquisition due to the presence of contaminants, thereby performing a more accurate optical inspection.

도1은 일반적인 광학 검사 공정을 설명하기 위해 참조되는 도면이다.
도2는 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치를 개략적으로 도시한 도면이다.
도3은 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 광학렌즈 검사부의 접합 과정으로 설명하기 위해 참조되는 도면이다.
도4는 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 광학렌즈 검사부의 단면도이다.
도5는 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 광 감지 과정을 설명하기 위해 참조되는 도면이다.
도6은 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 내부 블록도이다.
도7은 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 광학 렌즈 검사 과정을 설명하기 위해 참조되는 도면이다.
도8은 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 수광부의 광 센서 회로도이다.
도9는 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 수광부의 싱크 노드 및 소싱 노드에서의 전압을 나타내는 도면이다.
도10은 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 수광부의 싱크 노드에서의 출력 전류를 도시한 도면이다.
도11은 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 수광부의 소싱 노드에서의 출력 전류를 도시한 도면이다.1 is a diagram referred to explain a general optical inspection process.
2 is a view schematically showing an optical device according to an embodiment of the present invention.
3 is a view referred to for explaining the bonding process of the optical lens inspection unit of the optical device according to an embodiment of the present invention.
4 is a cross-sectional view of an optical lens inspection unit of the optical device according to the embodiment of the present invention.
5 is a view referred to explain a light sensing process of an optical lens inspecting unit according to an exemplary embodiment of the present invention.
6 is an internal block diagram of an optical device according to an embodiment of the present invention.
7 is a view referred to for explaining an optical lens inspection process of an optical device according to an embodiment of the present invention.
8 is a light sensor circuit diagram of a light receiving unit of an optical lens inspecting unit according to an exemplary embodiment of the present invention.
9 is a diagram illustrating voltages at a sink node and a sourcing node of a light receiving unit of an optical lens inspecting unit according to an exemplary embodiment of the present invention.
FIG. 10 is a diagram illustrating an output current at a sink node of a light receiving unit of an optical lens inspecting unit according to an exemplary embodiment of the present invention.
11 is a diagram showing an output current at a sourcing node of a light receiving unit of an optical lens inspecting unit according to an embodiment of the present invention.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도2는 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치를 개략적으로 도시한 도면이고, 도3은 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 광학렌즈 검사부의 접합 과정으로 설명하기 위해 참조되는 도면이다.2 is a view schematically showing an optical device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 3 is a view referred to for explaining the bonding process of the optical lens inspection unit of the optical device according to the embodiment of the present invention.

이하에서는 광학 장치의 일예로 광학 검사 장치에 대해서 설명하나 이에 한정되지 아니하고 본 발명은 여러 광학 장치에 적용할 수 있다. Hereinafter, an optical inspection apparatus will be described as an example of an optical apparatus, but the present invention is not limited thereto. The present invention can be applied to various optical apparatuses.

도2에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 광학 장치(200)는, 다수의 렌즈(L1, L2, L3) 및 광학렌즈 검사부(300) 등을 포함할 수 있다.As shown in FIG. 2, the optical device 200 according to the present invention may include a plurality of lenses L1, L2, L3, an optical lens inspecting unit 300, and the like.

다수의 렌즈(L1, L2, L3)는 비전 검사 및 이미지 획득 시 사용되는 광학 렌즈이고, 다수의 렌즈(L1, L2, L3) 중에서 제 3 렌즈(L3)는 광학 장치(200)의 외부로 노출되며, 투명한 재질로 구성될 수 있다.The plurality of lenses L1, L2, and L3 are optical lenses used for vision inspection and image acquisition, and the third lens L3 is exposed to the outside of the optical device 200 among the plurality of lenses L1, L2, and L3. It may be made of a transparent material.

광학 장치(200)의 움직임으로 인한 조건과 대상물과 광학 렌즈의 간격 및 주위의 환경 등으로 인하여 이러한 제 3 렌즈(L3)의 주변에 오염 물질이 누적될 수 있다.Contaminants may accumulate around the third lens L3 due to conditions due to the movement of the optical device 200, the distance between the object and the optical lens, and the surrounding environment.

본 발명에 따른 광학 장치(200)는 제 3 렌즈(L3)의 주변에 누적될 수 있는 오염 물질을 감지하기 위한 광학렌즈 검사부(300)를 구비한다.The optical device 200 according to the present invention includes an optical lens inspection unit 300 for detecting a contaminant that may accumulate around the third lens L3.

도3에 도시한 바와 같이, 광학렌즈 검사부(300)는 접착부(310) 및 센싱부(320)와 다수의 발광부(S1) 및 수광부(S2)를 포함할 수 있다.As shown in FIG. 3, the optical lens inspector 300 may include an adhesive part 310, a sensing part 320, a plurality of light emitting parts S1, and a light receiving part S2.

접착부(310)는 광학 장치(200)에 일체로 형성되거나 별도로 부착되는 구성으로, 센싱부(320)와 접속하여 센싱부(320)를 광학 장치(200)에 접합시키는 역할을 한다.The adhesive part 310 is formed integrally with the optical device 200 or separately attached thereto, and serves to bond the sensing part 320 to the optical device 200 by connecting to the sensing part 320.

이때, 접착부(310)와 센싱부(320)에는 서로 체결하기 위한 대응되는 체결구조가 형성될 수 있다.In this case, a corresponding fastening structure for fastening to each other may be formed in the adhesive part 310 and the sensing part 320.

센싱부(320)는 다수의 발광부(S1) 및 수광부(S2)를 포함하는데, 센싱부(320)에는 다수의 발광부(S1) 및 수광부(S2)가 적어도 한쌍이 배치될 수 있다.The sensing unit 320 includes a plurality of light emitting units S1 and a light receiving unit S2, and a plurality of light emitting units S1 and a light receiving unit S2 may be disposed in the sensing unit 320.

이러한 발광부(S1) 및 수광부(S2) 각각은 예를 들어, 발광센서 및 수광센서를 포함하는 광 센서 회로일 수 있다.Each of the light emitting unit S1 and the light receiving unit S2 may be, for example, an optical sensor circuit including a light emitting sensor and a light receiving sensor.

그리고, 수광부(S2)는 발광부(S1)에서 방출한 광을 수신하여 수광센서 회로에서 측정된 전압 또는 전류에 의해 수광센서의 수광량을 감지할 수 있다.In addition, the light receiving unit S2 may receive the light emitted from the light emitting unit S1 and detect the light receiving amount of the light receiving sensor by a voltage or a current measured by the light receiving sensor circuit.

이때, 광학 장치(200)는 수광센서 회로에서 측정된 전압 또는 전류를 미리 저장되어 있던 기준값과 비교하여 제 3 렌즈(L3)의 주변(표면)에 오염 물질이 있는지 여부 등을 판단할 수 있다.In this case, the optical apparatus 200 may determine whether there is a contaminant on the periphery (surface) of the third lens L3 by comparing the voltage or current measured by the light receiving sensor circuit with a previously stored reference value.

여기서, 기준값이란, 제 3 렌즈(L3)의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하지 않을 때의 수광센서 회로에서 측정되는 전압 또는 전류값(패턴)일 수 있다.Here, the reference value may be a voltage or current value (pattern) measured in the light receiving sensor circuit when no contaminant is present in the periphery (surface) of the third lens L3.

한편, 발광부(S1) 및 수광부(S2)는 제 3 렌즈(L3)의 주변(표면)에 오염 물질의 유무, 대소, 명암 등을 센싱하기 위하여 발광부(S1)에서 방출한 빛이 제 3 렌즈(L3)의 표면을 지날 수 있도록 형성하는 것이 바람직하다.
On the other hand, the light emitting unit S1 and the light receiving unit S2 emit light emitted from the light emitting unit S1 in order to sense the presence or absence of a contaminant, the size, the contrast, and the like on the periphery (surface) of the third lens L3. It is preferable to form so that the surface of the lens L3 may pass.

도4는 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 광학렌즈 검사부의 단면도이고, 도5는 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 광 감지 과정을 설명하기 위해 참조되는 도면이다.4 is a cross-sectional view of an optical lens inspecting unit of an optical device according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a view referred to for explaining a light sensing process of an optical lens inspecting unit according to an exemplary embodiment of the present invention.

이하에서는 발광부 및 수광부가 두 쌍이 형성되는 것을 예를 들고 있지만 이에 한정하지 아니하고, 좀더 정밀하게 오염 물질을 센싱하기 위하여 4쌍, 6쌍 등 다수 쌍이 형성될 수 있다.Hereinafter, the light emitting unit and the light receiving unit have two pairs, but the present invention is not limited thereto. In order to sense contaminants more precisely, a plurality of pairs may be formed such as four pairs and six pairs.

도4에 도시한 바와 같이, 광학렌즈 검사부(도3의 300)에는 두 쌍의 발광부 및 수광부(S1A, S1B, S2A, S2B)가 형성된다.As shown in Fig. 4, two pairs of light emitting portions and light receiving portions S1A, S1B, S2A, and S2B are formed in the optical lens inspection portion 300 (Fig. 3).

즉, 제 1 발광부 및 수광부(S1A, S2A)가 서로 마주보도록 형성되며, 제 1 발광부(S1A)에서 방출한 광을 제 1 수광부(S2A)에서 수신할 수 있다.That is, the first light emitting unit and the light receiving units S1A and S2A are formed to face each other, and the light emitted from the first light emitting unit S1A may be received by the first light receiving unit S2A.

그리고, 제 2 발광부 및 수광부(S1B, S2B)가 서로 마주보도록 형성되며, 제 2 발광부(S1B)에서 방출한 광을 제 2 수광부(S2B)에서 수신할 수 있다.The second light emitting part and the light receiving parts S1B and S2B are formed to face each other, and the light emitted from the second light emitting part S1B may be received by the second light receiving part S2B.

이와 같이, 다수의 쌍에 의한 센싱은 순차적으로 이루어지는 것이 바람직하다.As such, sensing by a plurality of pairs is preferably made sequentially.

예를 들어, 도5에 도시한 바와 같이, 먼저 제 1 발광부(S1A)에서 광을 방출하여 제 1 수광부(S2A)에서 수신함에 따라 제 1 방향(수직 방향)으로 오염 물질 유무 등을 센싱을 한다.For example, as shown in FIG. 5, first, light is emitted from the first light emitting unit S1A and received by the first light receiving unit S2A to sense the presence or absence of contaminants in the first direction (vertical direction). do.

그리고 나서, 제 2 발광부(S1B)에서 광을 방출하여 제 2 수광부(S2B)에서 수신함에 따라 제 2 방향(수평 방향)으로 오염 물질 유무 등을 센싱을 한다.Then, the second light emitting unit S1B emits light and receives the second light receiving unit S2B to sense the presence or absence of contaminants in the second direction (horizontal direction).

즉, 제 1 발광부(S1A) 및 제 1 수광부(S2A)의 광 센서가 각각 온 상태에서 제 1 방향(수직 방향)에서 센싱을 한 후 오프하고, 이때, 제 2 발광부(S1B) 및 제 2 수광부(S2B)의 광 센서는 오프상태인 것이 바람직하다.That is, the optical sensors of the first light emitting unit S1A and the first light receiving unit S2A are turned on after sensing in the first direction (vertical direction) in the on state, respectively, and at this time, the second light emitting unit S1B and the first light emitting unit S1A It is preferable that the optical sensor of 2 light-receiving part S2B is in an OFF state.

다음으로, 제 2 발광부(S1B) 및 제 2 수광부(S2B)의 광 센서가 각각 온 상태에서 제 2 방향(수평 방향)에서 센싱을 한 후 오프하고, 이때, 제 1 발광부(S1A) 및 제 1 수광부(S2A)의 광 센서는 오프상태인 것이 바람직하다.Next, the optical sensors of the second light emitting unit S1B and the second light receiving unit S2B are each turned on after sensing in the second direction (horizontal direction) in the on state, and at this time, the first light emitting unit S1A and It is preferable that the optical sensor of the 1st light receiving part S2A is in an OFF state.

이처럼, 두 쌍의 발광부 및 수광부(S1A, S1B, S2A, S2B)를 사용하여 광학렌즈 표면의 중앙부에서의 오염 물질 유무 등을 센싱할 수 있다.As such, two pairs of light emitting units and light receiving units S1A, S1B, S2A, and S2B may be used to sense the presence or absence of contaminants at the center of the optical lens surface.

보다 정밀하게 광학렌즈 표면의 주변부(원 둘레 부분)에서의 오염 물질 유무 등을 센싱하기 위해서는 좀더 많은 쌍의 발광부 및 수광부가 형성될 필요가 있다.
In order to more accurately sense the presence or absence of contaminants in the periphery (circumferential portion) of the surface of the optical lens, more pairs of light emitting portions and light receiving portions need to be formed.

도6은 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 내부 블록도이다.6 is an internal block diagram of an optical device according to an embodiment of the present invention.

도6에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 광학 장치(200)는, 광 감지부(210), 변환처리부(220), 메모리부(230), 오염 판단부(240), 알람부(250), 제어부(260) 등을 포함할 수 있다.As shown in FIG. 6, the optical device 200 according to the present invention includes a light detector 210, a conversion processor 220, a memory 230, a pollution determination unit 240, and an alarm unit 250. , The controller 260 may be included.

광 감지부(210)는 발광센서 및 수광센서를 포함하며, 발광센서에서 방출한 광을 수광센서에서 수신함에 따라 수광량을 감지할 수 있다.The light detecting unit 210 may include a light emitting sensor and a light receiving sensor, and may detect the amount of received light as the light emitted from the light emitting sensor is received by the light receiving sensor.

이때, 수광량은 수광센서 회로에서 전압 또는 전류를 측정하는 방법으로 감지할 수 있다.In this case, the light receiving amount may be detected by measuring a voltage or a current in the light receiving sensor circuit.

이때, 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하게 되면, 수광센서 회로의 저항값이 달라지게 되고, 그에 따라 오염 물질의 대소, 명함 등에 따라 상이한 값이 측정될 수 있다.At this time, when a contaminant is present in the periphery (surface) of the optical lens, the resistance value of the light receiving sensor circuit is changed, and accordingly, different values may be measured according to the size of the contaminant, the business card, and the like.

그리고, 광학 장치(200)는 A/D 변환부(미도시)에서 광 감지부(210)에서 측정된 전압 또는 전류를 디지털값으로 변환할 수 있다.In addition, the optical device 200 may convert the voltage or current measured by the light detector 210 in the A / D converter (not shown) into a digital value.

이와 같은 A/D 변환부(미도시)는 광 감지부(210)에 포함되거나 별도로 구성될 수 있다.Such an A / D converter (not shown) may be included in the light detector 210 or may be configured separately.

그리고, 광학 장치(200)는, 트리거(trigger) 신호를 이용하여 광 감지부(210)에서 수광량을 감지하는 시간을 카운터하는 카운터(미도시)를 더욱 구비할 수 있다.In addition, the optical apparatus 200 may further include a counter (not shown) that counters a time for detecting the amount of light received by the light detector 210 using a trigger signal.

변환처리부(220)는 광 감지부(210)로부터 전달 받은 전압 또는 전류(디지털값)와 카운터로부터 전달 받은 시간 등을 이용하여 기준값과 비교하기 위한 비교 데이터로 변환할 수 있다.The conversion processor 220 may convert the voltage or current (digital value) received from the photo sensor 210 into comparison data for comparison with the reference value using the time received from the counter.

메모리부(230)는 다수의 레지스터를 포함하며, 수광센서 회로에서의 기준값을 미리 저장할 수 있다.The memory unit 230 may include a plurality of registers and may store a reference value in the light receiving sensor circuit in advance.

여기서, 기준값은, 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하지 않을 때의 수광센서 회로에서 측정되는 전압 또는 전류값(패턴)일 수 있다.Here, the reference value may be a voltage or current value (pattern) measured in the light receiving sensor circuit when no contaminant is present in the periphery (surface) of the optical lens.

오염 판단부(240)는 변환처리부(220)로부터 전달 받은 비교 데이터와 메모리부(230)로부터 전달 받은 기준값을 비교하여 양자가 일치하는지 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질의 유무, 대소 등을 판단할 수 있다.The pollution determining unit 240 compares the comparison data received from the conversion processing unit 220 with the reference value received from the memory unit 230 and determines whether the two match each other, and determines the periphery (surface (surface) of the optical lens according to the determination result. ), The presence or absence of contaminants, and the size can be determined.

예를 들어, 오염 판단부(240)는 비교 데이터와 기준값을 비교하여 양자가 일치하면 일치 신호를 발생하고, 비교 데이터와 기준값을 비교하여 양자가 일치하지 않으며 불일치 신호를 발생할 수 있다.For example, the contamination determination unit 240 may compare the comparison data and the reference value and generate a matching signal if the two match, and compare the comparison data and the reference value to generate a mismatch signal and generate a mismatch signal.

이때, 일치 신호는 [000000]인 6비트 신호이고, 불일치 신호는 [000000]을 제외한 [xxxxxx]인 6비트 신호일 수 있다.At this time, the coincidence signal may be a 6-bit signal of [000000], and the mismatch signal may be a 6-bit signal of [xxxxxx] except [000000].

알람부(250)는 오염 판단부(240)로부터 일치 신호 또는 불일치 신호를 수신하여 해당 상황에 대한 알람을 수행할 수 있다.The alarm unit 250 may receive a match signal or a mismatch signal from the pollution determination unit 240 to perform an alarm for the corresponding situation.

예를 들어, 일치 신호를 수신하면, 알람부(250)는 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하지 않는다고 판단하여 비전 검사를 진행하도록 '광학 렌즈 표면 OK'라는 진행알람을 화면에 표시하도록 제어할 수 있다.For example, upon receiving the coincidence signal, the alarm unit 250 determines that there is no contaminant in the periphery (surface) of the optical lens and displays a progress alarm called 'Optical lens surface OK' on the screen to proceed with vision inspection. Can be controlled.

반면에, 불일치 신호를 수신하면, 알람부(250)는 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재한다고 판단하여 '렌즈 표면 확인 요망'이라는 확인알람을 화면에 표시하도록 제어할 수 있다.On the other hand, upon receiving a mismatch signal, the alarm unit 250 may determine that a contaminant is present in the periphery (surface) of the optical lens and control to display a confirmation alarm indicating that the lens surface needs to be checked.

제어부(260)는 광학 장치(200)의 전반적인 동작을 제어할 수 있다.
The controller 260 may control the overall operation of the optical device 200.

도7은 본 발명의 실시예에 따른 광학 장치의 광학 렌즈 검사 과정을 설명하기 위해 참조되는 도면이다. 도6을 더욱 참조하여 설명한다.7 is a view referred to for explaining an optical lens inspection process of an optical device according to an embodiment of the present invention. This will be described with reference to FIG. 6 further.

도7에 도시한 바와 같이, 광 감지부(210)는 발광센서에서 방출한 광을 수광센서에서 수신함에 따라 광을 감지한다(S100).As shown in FIG. 7, the light detecting unit 210 detects light as the light emitted from the light emitting sensor is received by the light receiving sensor (S100).

이때, 광은 수광센서 회로에서 전압 또는 전류를 측정하는 방법으로 감지할 수 있다.In this case, light may be detected by measuring a voltage or a current in the light receiving sensor circuit.

A/D 변환부는 광 감지부(210)에서 측정된 전압 또는 전류를 A/D 변환한다(S110).The A / D converter A / D converts the voltage or current measured by the light detector 210 (S110).

다음으로, 변환처리부(220)는 광 감지부(210)로부터 전달 받은 전압 또는 전류(디지털값)와 카운터로부터 전달 받은 시간 등을 이용하여 기준값과 비교하기 위한 비교 데이터로 변환하는 변환 처리를 한다(S120).Next, the conversion processing unit 220 converts into comparison data for comparison with the reference value by using the voltage or current (digital value) received from the light sensing unit 210 and the time received from the counter (see FIG. S120).

오염 판단부(240)는 변환처리부(220)로부터 전달 받은 비교 데이터가 메모리부(230)로부터 전달 받은 기준값과 일치하는지 여부를 판단하고(S130), 그 판단 결과에 따라 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질의 유무, 대소 등을 판단할 수 있다.The pollution determination unit 240 determines whether the comparison data received from the conversion processing unit 220 matches the reference value received from the memory unit 230 (S130), and determines the periphery (surface) of the optical lens according to the determination result. It is possible to determine the presence or absence of contaminants and the size of the pollutants.

만약 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하게 되면, 수광센서 회로의 저항값이 달라지게 되고, 그 결과 기준값과 상이한 값이 측정될 수 있다.If contaminants exist in the periphery (surface) of the optical lens, the resistance value of the light receiving sensor circuit is changed, and as a result, a value different from the reference value can be measured.

이때, 비교 데이터가 기준값과 일치한다고 판단되면, 오염 판단부(240)는 일치 신호를 발생하고, 알람부(250)는 일치 신호를 수신하면 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하지 않는다고 판단하여 비전 검사를 진행하도록 '렌즈 표면 OK'라는 진행알람을 화면에 표시하도록 제어할 수 있다(S140).In this case, when the comparison data is determined to match the reference value, the contamination determination unit 240 generates a matching signal, and when the alarm unit 250 receives the matching signal, no contamination is present in the periphery (surface) of the optical lens. It may be controlled to display a progress alarm called 'lens surface OK' on the screen to determine the vision inspection (S140).

반면에, 비교 데이터가 기준값과 일치하지 않는다고 판단되면, 오염 판단부(240)는 불일치 신호를 발생할 수 있으며, 알람부(250)는 불일치 신호를 수신하면 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재한다고 판단하여 '렌즈 표면 확인 요망'이라는 확인알람을 화면에 표시하도록 제어할 수 있다(S150).On the other hand, if it is determined that the comparison data does not match the reference value, the contamination determination unit 240 may generate a mismatch signal, and when the alarm unit 250 receives the mismatch signal, the pollutants may be around the surface (surface) of the optical lens. In operation S150, the controller 140 may determine that the lens exists to display a confirmation alarm indicating that the lens surface needs to be checked.

그리고 도시하지 않았지만, 이하에서는 광학 렌즈 검사를 수행하고 나서 '렌즈 표면 OK'라는 진행알람이 발생하면, 본래의 광학 검사를 진행하여 비전 검사 및 이미지 획득 과정을 진행할 수 있다.Although not shown, hereinafter, if a progress alarm called 'lens surface OK' occurs after performing the optical lens inspection, the original optical inspection may be performed to proceed with the vision inspection and the image acquisition process.

또한, '렌즈 표면 확인 요망'이라는 확인알람이 발생하는 경우에도 광학 렌즈 표면을 다시 점검하여 오염 물질을 제거한 후 본래의 광학 검사를 진행하여 비전 검사 및 이미지 획득 과정을 진행할 수 있다.In addition, even when a confirmation alarm called 'check lens surface' occurs, the optical lens surface may be checked again to remove contaminants, and then the original optical inspection may be performed to proceed with vision inspection and image acquisition.

즉, 본 발명은 비전 검사 및 이미지 획득 전에 광 센서를 이용하여 광학 렌즈 검사를 실시하여 광학 렌즈 표면의 오염 물질 유무, 대소 등을 자동적으로 센싱할 수 있다.That is, according to the present invention, the optical lens may be inspected using an optical sensor prior to vision inspection and image acquisition to automatically detect the presence or absence of contaminants on the surface of the optical lens and the size.

그 후 센싱 결과 이상이 없다면 본래의 광학 검사를 진행하여 오염 물질의 존재로 인한 잘못된 이미지 획득을 방지함에 따라 보다 정확한 광학 검사를 수행할 수 있다.
Afterwards, if there is no abnormality in the sensing result, the original optical inspection can be performed to prevent an incorrect image acquisition due to the presence of contaminants, thereby performing a more accurate optical inspection.

도8은 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 수광부의 광 센서 회로도이고, 도9는 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 수광부의 싱크 노드 및 소싱 노드에서의 전압을 나타내는 도면이며, 도10 및 도11은 각각 본 발명의 실시예에 따른 광학렌즈 검사부의 수광부의 싱크 노드에서의 출력 전류 및 소싱 노드에서의 출력 전류를 도시한 도면이다. 도3을 더욱 참조하여 설명한다.FIG. 8 is a circuit diagram illustrating a light sensor of a light receiving unit of an optical lens inspecting unit according to an exemplary embodiment of the present invention, and FIG. 9 is a view illustrating voltages at a sink node and a sourcing node of a light receiving unit of an optical lens inspecting unit according to an embodiment of the present invention. 10 and 11 illustrate output currents at the sink node and the output current at the sourcing node, respectively, of the light receiving unit of the optical lens inspecting unit according to the exemplary embodiment of the present invention. This will be described with reference to FIG. 3 further.

도8에 도시한 바와 같이, 수광부의 광 센서 회로는 수광센서 및 저항(R1, R2), 커패시터(C) 등을 포함한다.As shown in Fig. 8, the light sensor circuit of the light receiving unit includes a light receiving sensor and resistors R1 and R2, a capacitor C and the like.

수광센서는 고전위 전압(VDD) 단자 및 그라운드 단자 사이에 연결되며, 발광센서에서 방출한 광을 수신함에 따라 저항값이 달라질 수 있다.The light receiving sensor is connected between the high potential voltage (V DD ) terminal and the ground terminal, and the resistance value may vary as the light emitted from the light emitting sensor is received.

그리고, 고전위 전압(VDD) 단자와 제 1 노드(N1) 사이에는 제 1 저항(R1) 및 커패시터(C)가 병렬로 연결되고, 그라운드 단자와 제 2 노드(N2) 사이에는 각각 제 2 저항(R2) 및 커패시터(C)가 병렬로 연결될 수 있다.In addition, a first resistor R1 and a capacitor C are connected in parallel between the high potential voltage V DD terminal and the first node N1, and a second is connected between the ground terminal and the second node N2, respectively. The resistor R2 and the capacitor C may be connected in parallel.

예를 들어, 고전위 전압(VDD)은 3V이고, 제 1 저항(R1), 제 2 저항(R2)는 25kΩ이며, 커패시터(C)는 4.7μF일 수 있다.For example, the high potential voltage V DD may be 3V, the first resistor R1 and the second resistor R2 may be 25 kΩ, and the capacitor C may be 4.7 μF.

이때, 제 1 노드(N1) 및 제 2 노드(N2)는 각각 싱크(SNK) 노드 및 소싱(SRC) 노드일 수 있다.In this case, the first node N1 and the second node N2 may be sink (SNK) nodes and sourcing (SRC) nodes, respectively.

이하에서 수광센서가 광을 수신함에 따라 싱크(SNK) 노드 및 소싱(SRC) 노드에서의 전압값을 살펴보기로 한다.Hereinafter, as the light receiving sensor receives the light, the voltage values at the sink (SNK) node and the sourcing (SRC) node will be described.

도9에 도시한 바와 같이, 싱크(SNK) 노드에서는 수광량에 따라 측정되는 전압값이 달라지는데, 예를 들어, 싱크(SNK) 노드에서의 전압은 수광량에 의해 제 1 저항(R1) 및 제 2 저항(R2)의 저항값이 달라짐에 따라 점점 감소하여 일정 광량 이상을 수광하는 경우에는 '그라운드(GND)+b'로 수렴할 수 있다.As shown in FIG. 9, the voltage measured at the sink SNK node varies according to the amount of light received. For example, the voltage at the sink SNK node is determined by the amount of received light. When the resistance value of (R2) changes gradually, and receives more than a certain amount of light, it may converge to 'ground (GND) + b'.

반면에, 소싱(SRC) 노드에서는 수광량에 따라 측정되는 전압값이 달라지는데, 예를 들어, 소싱(SRC) 노드에서의 전압은 수광량에 의해 제 1 저항(R1) 및 제 2 저항(R2)의 저항값이 달라짐에 따라 점점 증가하여 일정 광량 이상을 수광하는 경우에는 '고전위 전압(VDD)-a'로 수렴할 수 있다.On the other hand, in the sourcing (SRC) node, the measured voltage value varies according to the amount of received light. For example, the voltage at the sourcing (SRC) node is determined by the received amount of the first resistor R1 and the second resistor R2. When the value increases gradually and receives more than a certain amount of light, it may converge to the 'high potential voltage (V DD ) -a'.

이때, a는 약 0.6V이고, b는 약 0.45V일 수 있다.In this case, a may be about 0.6V and b may be about 0.45V.

도10 및 도11에서, 싱크(SNK) 노드 및 소싱(SRC) 노드의 전압값이 증가함에 따라 각각 출력전류가 증가하는 패턴을 나타내고 있다.10 and 11, the output current increases as the voltage values of the sink SNK node and the sourcing SRC node increase.

즉, 싱크(SNK) 노드에서는 전압값이 약 0.5V일 때 약 100μA가 되고, 소싱(SRC) 노드에서는 전압값이 약 0.7V일 때 약 100μA가 된다.That is, at the sink SNK node, the voltage value is about 100 μA when the voltage value is about 0.5 V, and at the sourcing SRC node, the voltage value is about 100 μA.

이와 같은 전압 또는 전류 패턴은 기준값이 되는 패턴으로 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하지 않을 때의 수광센서 회로에서 측정되는 전압 또는 전류값(패턴)일 수 있다.Such a voltage or current pattern may be a reference value and may be a voltage or current value (pattern) measured in the light receiving sensor circuit when no contaminant is present in the periphery (surface) of the optical lens.

만약 광학렌즈의 주변(표면)에 오염 물질이 존재하게 되면, 수광센서 회로의 저항값이 달라지게 되고, 그 결과 기준값과 상이한 값이 측정될 수 있다.If contaminants exist in the periphery (surface) of the optical lens, the resistance value of the light receiving sensor circuit is changed, and as a result, a value different from the reference value can be measured.

본 발명은 측정된 값(비교 데이터)과 기준값을 비교하여 양자가 상이하면, '렌즈 표면 확인 요망'이라는 확인알람을 화면에 표시함에 따라 광학 렌즈 표면을 다시 점검하여 오염 물질을 제거한 후 본래의 광학 검사를 진행하여 비전 검사 및 이미지 획득 과정을 진행하도록 할 수 있다.
The present invention compares the measured value (comparative data) with the reference value, and if the two are different, and displays the confirmation alarm 'Lens surface check request' on the screen to check the optical lens surface again to remove contaminants and then to the original optical The inspection can be performed to proceed with the vision inspection and image acquisition process.

이상과 같은 본 발명의 실시예는 예시적인 것에 불과하며, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 요지를 벗어나지 않는 범위 내에서 자유로운 변형이 가능하다. 따라서, 본 발명의 보호범위는 첨부된 특허청구범위 및 이와 균등한 범위 내에서의 본 발명의 변형을 포함한다.
The embodiments of the present invention as described above are merely illustrative, and those skilled in the art can make modifications without departing from the gist of the present invention. Accordingly, the protection scope of the present invention includes modifications of the present invention within the scope of the appended claims and equivalents thereof.

200: 광학 장치 210: 광 감지부
220: 변환처리부 230: 메모리부
240: 오염 판단부 250: 알람부
260: 제어부200: optical device 210: light detecting unit
220: conversion processing unit 230: memory unit
240: pollution determination unit 250: alarm unit
260:

Claims (12)

광 센서의 광 신호를 감지하는 광 감지부와;
상기 광 신호를 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하기 위한 비교 데이터로 변환하는 변환처리부와;
상기 비교 데이터와 미리 저장된 기준값을 비교하여 양자가 일치하는지 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하여 일치 신호 또는 불일치 신호를 발생하는 오염 판단부
를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치.
An optical sensor for sensing an optical signal of the optical sensor;
A conversion processing unit converting the optical signal into comparative data for determining the presence of contaminants on the surface of the optical lens;
The contamination determination unit which compares the comparison data with a pre-stored reference value and determines whether the two match, and determines whether there is a contaminant on the surface of the optical lens according to the determination result and generates a match signal or a mismatch signal.
Optical device comprising an optical sensor comprising a.
제1항에 있어서,
상기 기준값은, 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재하지 않는 경우에 상기 광 감지부에서 측정한 전압 또는 전류값인 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치.
The method of claim 1,
The reference value is an optical device comprising an optical sensor, characterized in that the voltage or current value measured by the light sensing unit when no contaminant is present on the surface of the optical lens.
제1항에 있어서,
상기 광 감지부는, 발광센서 및 수광센서를 포함하며, 발광센서에서 방출한 광을 수광센서에서 수신함에 따라 상기 광 신호를 감지하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치.
The method of claim 1,
The light detecting unit includes a light sensor and a light receiving sensor, the optical device comprising a light sensor, characterized in that for detecting the light signal in response to receiving the light emitted from the light sensor.
제1항에 있어서,
상기 광 신호는 상기 광 감지부에서 측정된 전압 또는 전류에 의해 센싱되는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치.
The method of claim 1,
And the optical signal is sensed by a voltage or current measured by the optical sensor.
제1항에 있어서,
상기 광 감지부에서 측정된 전압 또는 전류를 디지털값으로 변환하는 A/D 변환부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치.
The method of claim 1,
And an A / D converter for converting the voltage or current measured by the light detector into a digital value.
제1항에 있어서,
트리거(trigger) 신호를 이용하여 상기 광 감지부에서 상기 광 신호를 감지하는 시간을 카운터하기 위한 카운터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치.
The method of claim 1,
And an optical sensor further comprising a counter for counting a time at which the optical sensor detects the optical signal by using a trigger signal.
제1항에 있어서,
상기 일치 신호 또는 불일치 신호에 따른 알람을 수행하는 알람부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치.
The method of claim 1,
And an optical sensor configured to perform an alarm according to the match signal or the mismatch signal.
발광센서에서 방출한 광을 수광센서에서 수신하여 광 신호를 감지하는 단계와;
상기 광 신호를 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하기 위한 비교 데이터로 변환하는 변환 처리 단계와;
오염 판단부가 상기 비교 데이터와 미리 저장된 기준값을 비교하여 양자가 일치하는지 여부를 판단하고, 그 판단 결과에 따라 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질의 유무를 판단하여 일치 신호 또는 불일치 신호를 발생하는 단계
를 포함하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치의 광학 렌즈 검사 방법.
Receiving the light emitted from the light emitting sensor in the light receiving sensor and detecting an optical signal;
A conversion processing step of converting the optical signal into comparative data for determining the presence or absence of contaminants on the surface of the optical lens;
The contamination determining unit compares the comparison data with a pre-stored reference value to determine whether they match, and determines whether there is a contaminant on the surface of the optical lens according to the determination result to generate a matching signal or a mismatch signal
Optical lens inspection method of an optical device comprising an optical sensor comprising a.
제8항에 있어서,
상기 기준값은, 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재하지 않는 경우에 상기 광 감지부에서 측정한 전압 또는 전류값인 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치의 광학 렌즈 검사 방법.
9. The method of claim 8,
And the reference value is a voltage or current value measured by the light detecting unit when no contaminant is present on the surface of the optical lens.
제8항에 있어서,
상기 광 신호는 상기 광 감지부에서 측정된 전압 또는 전류에 의해 센싱되는 것을 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치의 광학 렌즈 검사 방법.
9. The method of claim 8,
And the optical signal is sensed by a voltage or current measured by the optical sensor.
제8항에 있어서,
상기 비교 데이터가 상기 기준값과 일치한다고 판단된 경우에는 상기 일치 신호를 수신한 알람부에서 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재하지 않는다고 판단하여 비전 검사를 진행하도록 하는 진행알람을 화면에 표시하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치의 광학 렌즈 검사 방법.
9. The method of claim 8,
If it is determined that the comparison data matches the reference value, the alarm unit receiving the match signal determines that there is no contaminant on the surface of the optical lens and controls the display to display a progress alarm on the screen. An optical lens inspection method of an optical device comprising an optical sensor.
제8항에 있어서,
상기 비교 데이터가 상기 기준값과 불일치한다고 판단된 경우에는 상기 불일치 신호를 수신한 알람부에서 상기 광학렌즈의 표면에 오염 물질이 존재한다고 판단하여 상기 광학렌즈 표면을 확인하도록 하는 확인알람을 화면에 표시하도록 제어 하는 것을 특징으로 하는 광 센서를 포함하는 광학 장치의 광학 렌즈 검사 방법.9. The method of claim 8,
If it is determined that the comparison data is inconsistent with the reference value, the alarm unit receiving the inconsistency signal determines that a contaminant is present on the surface of the optical lens and displays a confirmation alarm on the screen to confirm the optical lens surface. Optical lens inspection method of an optical device comprising an optical sensor characterized in that for controlling.
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