KR20070059495A - Semiconductor manufacturing equipment - Google Patents
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Abstract
Description
도 1은 본 발명에 따른 반도체소자 제조설비를 도시한 구성도이다.1 is a block diagram showing a semiconductor device manufacturing equipment according to the present invention.
도 2는 도 1에 도시된 로드락챔버의 Ⅰ-Ⅰ′선을 따라 절개한 부분을 도시한 단면도이다. FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a portion cut along a line II ′ of the load lock chamber illustrated in FIG. 1.
**도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **
100 : 반도체소자 제조설비100: semiconductor device manufacturing equipment
110 : 프로세스챔버110: process chamber
130 : 트랜스퍼챔버130: transfer chamber
135 : 이송로봇135: transfer robot
150 : 로드락챔버150: load lock chamber
160 : 캐리어 지지모듈160: carrier support module
170 : 얼라인모듈170: alignment module
171 : 제 1이동체171: first moving body
172 : 제 1가이드레일172: First guide rail
173 : 제 2이동체173: second mobile body
174 : 제 2가이드레일174: second guide rail
175 : 완충부재 175: buffer member
본 발명은 반도체소자를 제조하기 위한 설비에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 다수의 반도체소자를 제조할 수 있도록 멀티챔버를 채택하는 반도체소자 제조설비에 관한 것이다.The present invention relates to a device for manufacturing a semiconductor device, and more particularly, to a semiconductor device manufacturing equipment that employs a multi-chamber to manufacture a plurality of semiconductor devices.
일반적으로, 반도체소자는 웨이퍼 상에 포토리소그래피, 식각, 애싱, 확산, 화학기상증착, 이온주입 및 금속증착 등의 공정을 선택적으로 반복 수행함으로써 적어도 하나 이상의 도전층, 반도체층, 부도체층 등을 적층하여 조합되게 하는 것으로 만들어진다.In general, a semiconductor device stacks at least one conductive layer, semiconductor layer, non-conductive layer, etc. by selectively repeating a process such as photolithography, etching, ashing, diffusion, chemical vapor deposition, ion implantation, and metal deposition on a wafer. To be combined.
이때, 상기와 같은 다수의 공정단위 중 대부분의 단위공정에서는 매우 정밀한 작업을 위해 높은 진공도에서 작업이 수행되며, 공정의 효율성 및 공간의 활용을 증대시키기 위하여 복수의 프로세스챔버에서 동시에 공정을 수행하는 것이 가능한 멀티챔버를 채택한 반도체소자 제조설비를 사용하고 있다.At this time, in most of the process units as described above, the operation is performed at a high vacuum degree for a very precise operation, and to perform the process simultaneously in a plurality of process chambers in order to increase the efficiency and space utilization of the process. Semiconductor device manufacturing equipment adopting multichambers is used.
그리고, 상술한 반도체소자 제조설비에는 소정 단위 공정이 수행되는 다수의 프로세스챔버와, 이러한 다수의 프로세스챔버에서 소정 공정이 수행되도록 선행공정을 수행한 웨이퍼가 대기되는 로드락챔버와, 각 챔버 간에 웨이퍼를 이송하기 위 한 이송로봇이 배치된 트랜스퍼챔버가 구비된다.In addition, the above-described semiconductor device manufacturing equipment includes a plurality of process chambers in which a predetermined unit process is performed, a load lock chamber in which a wafer in which a preceding process is performed to perform a predetermined process in such a plurality of process chambers is held, and a wafer between each chamber. There is provided a transfer chamber in which a transfer robot is disposed to transfer the same.
한편, 로드락챔버에는 다수의 웨이퍼 예를 들면 25매의 웨이퍼가 수납된 캐리어가 외부로부터 반입 및 반출된다. 하지만, 캐리어를 로드락챔버로 반입하는 과정에서 이 캐리어에 수납된 웨이퍼는 캐리어의 이송 시 전면으로 돌출되는 경우가 종종 발생된다.On the other hand, in the load lock chamber, a carrier in which a plurality of wafers, for example, 25 wafers are stored, is carried in and out from the outside. However, in the process of carrying the carrier into the load lock chamber, the wafer accommodated in the carrier often protrudes to the front side when the carrier is transferred.
이와 같이 캐리어의 이송 시 웨이퍼가 소정 부분 돌출되면 즉, 웨이퍼의 센터 포지션이 틀어지면 로드락챔버에서 프로세스챔버로 웨이퍼의 이송 시 프로세스챔버와 부딪혀 웨이퍼가 손상된다. 따라서, 종래의 반도체소자 제조설비에서는 웨이퍼를 프로세스챔버로 이송하기 이전에 웨이퍼의 센터 포지션을 맞추기 위한 얼라인챔버가 더 구비되고 있다. 하지만, 이와 같은 경우 종래의 반도체소자 제조설비는 상술한 얼라인챔버가 더 구비됨으로써 그 만큼 더 공간확보를 해야하는 문제점이 있다. As such, when the wafer protrudes a predetermined portion during the transfer of the carrier, that is, the center position of the wafer is distorted, the wafer is damaged when the wafer is transferred from the load lock chamber to the process chamber. Therefore, in the conventional semiconductor device manufacturing facility, an alignment chamber is further provided for adjusting the center position of the wafer before transferring the wafer to the process chamber. However, in this case, the conventional semiconductor device manufacturing equipment has a problem in that the space is further secured by the alignment chamber described above.
따라서, 본 발명은 이와 같은 문제점을 감안한 것으로서, 본 발명의 목적은 로드락챔버의 내부에 웨이퍼의 센터를 맞출 수 있는 얼라인모듈을 구비하여 공간확보를 효율적으로 할 수 있는 반도체소자 제조설비를 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a semiconductor device manufacturing apparatus capable of efficiently securing space by providing an alignment module that can align the center of a wafer in a load lock chamber. It is.
이와 같은 목적을 구현하기 위한 본 발명에 따른 반도체소자 제조설비는 다 수의 웨이퍼가 수납된 캐리어가 반입 및 반출되는 캐리어 지지모듈과, 캐리어의 반입 시 캐리어에 수납된 웨이퍼가 소정 부분 돌출된 경우 웨이퍼의 센터를 정렬하는 얼라인모듈이 구비된 로드락챔버와, 캐리어의 웨이퍼가 이송되어 소정 공정이 수행되는 프로세스챔버 및 캐리어로부터 프로세스챔버로 웨이퍼를 이송하는 이송로봇이 배치된 트랜스퍼챔버를 포함한다.The semiconductor device manufacturing apparatus according to the present invention for achieving the above object is a carrier support module for carrying and carrying a carrier containing a plurality of wafers, and when the wafer accommodated in the carrier when the carrier is carried in a predetermined portion of the wafer A load lock chamber having an alignment module for aligning the centers of the center, a process chamber in which a wafer of a carrier is transferred and a predetermined process is performed, and a transfer chamber in which a transfer robot for transferring a wafer from the carrier to the process chamber is disposed.
이때, 상기 얼라인모듈은 캐리어 지지모듈의 반입된 캐리어의 전면 상부 에 배치되는 제 1이동체와, 제 1이동체의 하측에 배치되는 제 2이동체를 포함할 수 있다.In this case, the alignment module may include a first movable body disposed on the front surface of the carrier carried in the carrier support module, and a second movable body disposed below the first moving body.
그리고, 상기 캐리어 지지모듈의 상부 일측에는 제 1가이드레일이 구비되며, 제 1이동체는 웨이퍼의 센터 정렬 시 제 1가이드레일을 따라 수직 이동될 수 있다.In addition, a first guide rail may be provided at an upper side of the carrier support module, and the first moving body may be vertically moved along the first guide rail when centering the wafer.
그리고, 상기 제 1이동체의 하측에는 제 2가이드레일이 구비되며, 웨이퍼의 센터 정렬 시 제 2이동체가 제 2가이드레일을 따라 웨이퍼 측으로 수평 이동될 수 있다.A second guide rail may be provided below the first mover, and the second mover may horizontally move toward the wafer along the second guide rail when the center of the wafer is aligned.
그리고, 상기 제 2이동체에는 제 2이동체가 웨이퍼의 센터 정렬를 위해 웨이퍼 측으로 수평 이동 시 웨이퍼의 손상을 방지할 수 있도록 완충부재가 구비될 수 있다.The second movable member may be provided with a buffer member to prevent damage to the wafer when the second movable member is horizontally moved toward the wafer for center alignment of the wafer.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다. 그러나, 본 발명은 여기서 설명되어지는 실시예에 한정되지 않고 다른 형태로 구체화될 수도 있다. 오히려, 여기서 소개되는 실시예는 개시된 내용이 철저하고 완전해질 수 있도록 그리고 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 제공되어지는 것이다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments described herein but may be embodied in other forms. Rather, the embodiments introduced herein are provided to ensure that the disclosed subject matter is thorough and complete, and that the spirit of the invention will be fully conveyed to those skilled in the art. Like numbers refer to like elements throughout.
도 1은 본 발명에 따른 반도체소자 제조설비를 도시한 구성도이고, 도 2는 도 1에 도시된 로드락챔버의 Ⅰ-Ⅰ′선을 따라 절개한 부분을 도시한 단면도이다.1 is a block diagram illustrating a semiconductor device manufacturing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view illustrating a cut portion along a line II ′ of the load lock chamber illustrated in FIG. 1.
도 1 및 도2를 참조하면, 반도체소자 제조설비(100)는 선행공정을 수행한 웨이퍼(W)가 일시적으로 대기되는 로드락챔버(150)와, 이러한 로드락챔버(150)의 웨이퍼(W)에 반응가스나 무선 주파수 등 소정 조건의 공정환경을 제공하여 소정 공정이 수행되도록 하는 프로세스챔버(110)와, 로드락챔버(150)의 웨이퍼가 프로세스챔버(110)로 이송되기 전에 경유되는 트랜스퍼챔버(130)로 구성된다.Referring to FIGS. 1 and 2, the semiconductor
여기서, 상기 프로세스챔버(110)는 로드락챔버(150)의 웨이퍼(W)가 여러곳에서 한꺼번에 공정이 수행되도록 다수개가 설치된다. 그리고, 프로세스챔버(110)에는 소정 공정이 원활하게 수행될 수 있도록 이 프로세스챔버(110)를 소정 온도로 히팅시켜주는 히팅장치(미도시)와, 이 프로세스챔버(110)를 소정 압력으로 유지시켜주는 진공배기장치(미도시)와, 공정 수행에 필요한 반응가스를 이 프로세스챔버(110)의 내부로 공급하는 반응가스 공급장치(미도시) 등 다수의 장치가 구비될 수 있다.Here, a plurality of
그리고, 트랜스퍼챔버(130)는 로드락챔버(150)와 다수의 프로세스챔버(110)의 사이에 설치되어, 공정수행에 따라 웨이퍼를 이송시키는 이송로봇(135)이 배치된다. 구체적으로, 이송로봇(135)은 공정진행에 따라 선행 공정이 완료된 로드락챔 버(150)의 웨이퍼(W)를 프로세스챔버(110)로 이송하거나 프로세스챔버(110)에서 소정 공정이 완료된 웨이퍼(W)를 로드락챔버(150)로 이송하는 역할을 수행한다.Then, the
그리고, 트랜스퍼챔버(130)에 배치된 이송로봇(135)은 승강 및 회전되는 로봇몸체(136)와, 이 로봇몸체(136)에 장착되어 공정진행에 따라 신축되는 로봇암(137)으로 구성된다. 그리고, 트랜스퍼챔버(130)와 프로세스챔버(110)의 사이에는 슬릿밸브(115)가 구비되어 상호 선택적으로 연통된다. 즉, 이 슬릿밸브(115)를 통해 프로세스챔버(110)와 트랜스퍼챔버(130)를 차단하여 프로세스챔버(110)의 내부를 밀폐시킬 수 있는 것이다.In addition, the
한편, 로드락챔버(150)에는 다수의 웨이퍼(W)가 수납된 캐리어(C)가 반입 및 반출되며, 반입되는 캐리어(C)가 안착될 수 있도록 캐리어 지지대(미도시)가 구비된 캐리어 지지모듈(160)이 구비된다.On the other hand, the
이때, 로드락챔버(150)로 캐리어(C)를 반입하는 과정에서 이 캐리어(C)의 내부에 수납된 웨이퍼(W)의 센터가 정렬되지 않을 수 있다. 이와 같이 웨이퍼(W)의 센터가 정렬되지 않는 것을 방지하기 위해 로드락챔버(150)에는 웨이퍼(W)의 센터를 정렬하는 얼라인모듈(170)이 구비된다.At this time, in the process of bringing the carrier C into the
구체적으로, 얼라인모듈(170)은 캐리어 지지모듈(160)의 전면 상측 즉, 이송로봇(135)에 의해 웨이퍼(W)가 이송되는 방향에 배치된다. 그리고, 얼라인모듈(170)은 로드락챔버(150)의 내부에서 수직방향으로 이동되는 제 1이동체(171)와, 이 제 1이동체(171)의 하측에 배치되어 수평방향으로 이동되는 제 2이동체(173)로 구성된다.Specifically, the
여기서, 제 1이동체(171)는 캐리어(C)의 전면 상부에 배치되며, 캐리어(C)의 이송 시 캐리어(C)와 이 제 1이동체(171)가 충돌하지 않는 위치에 배치된다. 그리고, 이 캐리어 지지모듈(160)의 상부 일측에는 이 제 1이동체(171)가 수직이동될 수 있도록 제 1가이드레일(172)이 구비된다. 즉, 평상 시에 제 1동체(171)는 제 1가이드레일(172)의 최상측에 배치되며, 웨이퍼(W)의 센터를 정렬하는 경우에는 제 1가이드레일(172)을 따라 최하측으로 수직 이동된다.Here, the first moving
그리고, 제 2이동체(173)는 캐리어(C)의 반입 시 소정 부분 전면으로 돌출되어 센터가 정렬되지 않는 웨이퍼(W)의 센터를 정렬하는 역할을 수행한다. 이때, 제 2이동체(173)은 제 1이동체(171)의 하측에 배치되며, 이 제 1이동체(171)의 하측에는 제 2이동체(173)가 수평 이동될 수 있도록 제 2가이드레일(174)이 구비된다. 즉, 제 2이동체(173)는 우측에서 좌측으로 수평이동됨으로써 소정 부분 캐리어(C)에서 돌출된 웨이퍼(W)를 원래의 위치로 옮기게 되는 것이다.In addition, the second
또한, 제 2이동체(173)에는 웨이퍼(W)의 센터 정렬 시 이 제 2이동체(173)와 접하는 웨이퍼(W)의 손상을 방지하기 위한 완충부재(175)가 구비된다.In addition, the second
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 반도체소자 제조설비의 작용 및 효과에 대해 살펴보면 다음과 같다.Hereinafter, the operation and effects of the semiconductor device manufacturing equipment according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
먼저, 본 발명에 따른 반도체소자 제조설비(100)를 이용하여 소정 공정을 수행하기 위해서는 다수의 웨이퍼(W)가 수납된 캐리어(C)를 로드락챔버(150)의 캐리어 지지대(미도시)에 안착시킨다. First, in order to perform a predetermined process using the semiconductor
그리고, 트랜스퍼챔버(130)에 배치된 이송로봇(135)에 의해 프로세스챔버 (110)로 웨이퍼(W)를 이송하여 소정 공정을 수행한다.The wafer W is transferred to the
이후, 공정 수행이 완료되면 다시 이송로봇(135)에 의해 공정이 완료된 웨이퍼(W)를 로드락챔버(150)에 안착된 캐리어(C)로 이송한다.Thereafter, when the process is completed, the
그리고, 로드락챔버(150)에 안착된 캐리어(C)를 후속 공정이 수행되는 위치로 이송하여 후속 공정을 계속 수행하게 된다.The carrier C seated in the
한편, 로드락챔버(150)의 캐리어 지지대로 캐리어(C)의 안착 시 이 캐리어(C)에 수납된 웨이퍼(W)의 일부가 안착과정에서 제 위치를 이탈하여 앞으로 돌출될 수 있다. 이와 같이 웨이퍼(W)가 제 위치를 이탈되면 웨이퍼(W)의 센터가 정렬되지 않으며, 웨이퍼(W)의 센터가 정렬되지 않으면 이송로봇(135)을 이용하여 웨이퍼(W)의 이송 시 웨이퍼(W)가 손상된다.Meanwhile, when the carrier C is seated with the carrier support of the
따라서, 본 발명에서는 로드락챔버(150)의 얼라인모듈(170)을 통해 웨이퍼(W)의 센터를 정렬하는 과정을 수행한다. 여기서, 웨이퍼(W)의 센터를 정렬하는 과정은 캐리어 지지모듈(160)의 전면 상측에 배치된 제 1이동체(171)가 제 1가이드레일(172)을 따라 하강된다. 이후, 제 1이동체(171)의 하측에 배치된 제 2이동체(173)가 제 2가이드레일(174)을 따라 웨이퍼(W) 측으로 이동된다. 이와 같이 제 2이동체(173)가 웨이퍼(W) 측으로 이동되면 캐리어(C)에서 소정 부분 돌출된 웨이퍼(W)가 이 제 2이동체(173)의 이동으로 인해 캐리어(C)의 안쪽 즉, 제 위치로 이동된다. Therefore, in the present invention, the process of aligning the center of the wafer W through the
이때, 웨이퍼(W)의 제 위치로 이동 시 제 2이동체(173)에는 완충부재(175)가 구비되어 웨이퍼(W)가 손상되는 것을 방지하게 된다.At this time, when moving to the position of the wafer (W), the second moving body (173) is provided with a
그리고, 웨이퍼(W)의 센터가 정렬되면 얼라인모듈(170)의 제 1이동체(171)와 제 2이동체(173)는 원래의 위치로 이동된다.When the centers of the wafers W are aligned, the first moving
한편, 본 발명은 도시된 도면을 참고로 설명하였으나, 이는 예시적인 것에 불과하며, 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 그러므로 본 발명의 범위는 첨부된 특허청구의 범위와 이와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.On the other hand, the present invention has been described with reference to the illustrated drawings, which are merely exemplary, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible therefrom. Therefore, the scope of the present invention should be defined by the appended claims and their equivalents.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 반도체소자 제조설비는 웨이퍼의 센터를 정렬하는 얼라인모듈을 별도의 얼라인챔버를 구비하지 않고 로드락챔버의 내부에 구비함으로써 반도체소자 제조설비가 설치되는 공간을 효율적으로 확보할 수 있는 효과가 있다.As described above, the semiconductor device manufacturing apparatus according to the present invention includes an alignment module for aligning the center of the wafer in the load lock chamber without providing an alignment chamber, thereby providing a space in which the semiconductor device manufacturing equipment is installed. There is an effect that can be secured efficiently.
Claims (5)
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KR1020050118393A KR20070059495A (en) | 2005-12-06 | 2005-12-06 | Semiconductor manufacturing equipment |
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KR1020050118393A KR20070059495A (en) | 2005-12-06 | 2005-12-06 | Semiconductor manufacturing equipment |
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- 2005-12-06 KR KR1020050118393A patent/KR20070059495A/en not_active Application Discontinuation
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