KR200431032Y1 - 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. - Google Patents
액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. Download PDFInfo
- Publication number
- KR200431032Y1 KR200431032Y1 KR2020060021564U KR20060021564U KR200431032Y1 KR 200431032 Y1 KR200431032 Y1 KR 200431032Y1 KR 2020060021564 U KR2020060021564 U KR 2020060021564U KR 20060021564 U KR20060021564 U KR 20060021564U KR 200431032 Y1 KR200431032 Y1 KR 200431032Y1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- pallet
- unit
- liquid crystal
- crystal display
- display module
- Prior art date
Links
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 title claims abstract description 69
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims abstract description 39
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 25
- 230000032683 aging Effects 0.000 claims abstract description 21
- NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N novaluron Chemical compound C1=C(Cl)C(OC(F)(F)C(OC(F)(F)F)F)=CC=C1NC(=O)NC(=O)C1=C(F)C=CC=C1F NJPPVKZQTLUDBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 11
- DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N acetaldehyde Diethyl Acetal Natural products CCOC(C)OCC DHKHKXVYLBGOIT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims abstract description 4
- 125000002777 acetyl group Chemical class [H]C([H])([H])C(*)=O 0.000 claims abstract description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims abstract description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 8
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 4
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 abstract description 14
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 5
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 2
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 2
- 238000011056 performance test Methods 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000002431 foraging effect Effects 0.000 description 1
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- H01L21/145—
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/67712—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations the substrate being handled substantially vertically
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/677—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
- H01L21/67703—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
- H01L21/6773—Conveying cassettes, containers or carriers
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Gerontology & Geriatric Medicine (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
본 고안은 액정 디스플레이 모듈의 에이징(Aging)이 이송 중에 이루어질 수 있도록 제1이송부의 하단부에 다수의 전원인가부와 장착부에 소켓 형태로 전원 및 비디오신호 인가부를 설치하고, 상기 에이징(Aging)된 액정 디스플레이 모듈의 성능 검사를 위한 디텍터의 수직, 수평을 자동으로 정렬할 수 있도록 하는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에 관한 것으로, 상기 액정 디스플레이 모듈이 사용자 환경과 동일하게 유지될 수 있도록 수직으로 세워서 액정 디스플레이 모듈을 장착하는 팔레트와, 상기 팔레트에 장착된 액정 디스플레이 모듈을 자동으로 이송하기 위해 롤러와 컨베이어로 구성된 제1이송부와, 상기 제1이송부의 하단부에 다수 설치되어 액정 디스플레이 모듈에 전원을 공급하여 장시간 상태를 점검하기 위해 상기 전원이 단락되지 않도록 에이징(Aging)을 하는 전원인가부와, 상기 제1이송부에 의해 이송되는 팔레트를 실린더를 이용하여 장착하기 위한 팔레트 장착부와, 상기 장착부에 팔레트를 자동으로 장착하기 위해 상기 팔레트를 슬라이딩 이동시키기 위한 롤러부와, 상기 롤러부에 의해 슬라이딩된 팔레트의 수평을 유지시키기 위한 아세탈 재질로 구성된 받침대와, 상기 받침대에 팔레트가 위치하면 상기 팔레트 후면에 설치된 결합 홈과 장착부의 전면에 설치된 결합 돌기에 의해 팔레트를 고정시키는 제1고정부와, 상기 제1고정부에 의해 팔레트와 장착부가 결합되면 센서가 이를 감지하고, 시계방향으로 외측에서 내측으로 이동하여 팔레트를 고정하는 제2고정부와, 상기 제1고정부 내지 제2고정부에 의해 팔레트가 장착부에 고정되면 전원 및 비디오신호를 인가하기 위한 소켓 형태의 전원 및 비디오신호 인가부와, 상기 전원 및 비디오신호 인가부에 전원과 비디오신호가 공급되면 제2이송부에 의해 측정위치로 장착부가 이동하고, 상기 장착부 하단에 설치된 회전부가 90도로 회전하며, 상기 회전된 팔레트의 액정 디스플레이 모듈을 검사하기 위해 수직, 수평이 자동으로 조정되는 2대의 카메라와 4대의 구동모터로 구성된 디텍터(Detector)부로 이루어진다.
액정 디스플레이 모듈, 에이징, 장착, 척킹, 전원 인가, 자동 정렬, 디텍터
Description
도 1은 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 팔레트와 제1이송부를 나타낸 사시도.
도 2는 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 제1이송부의 일부를 확대한 도면.
도 3은 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 팔레트와 전원인가부가 접촉한 실시예를 나타낸 도면.
도 4는 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 이송판을 나타낸 도면.
도 5는 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 받침대를 나타낸 도면.
도 6은 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 팔레트의 후면부와 장착부의 전면부를 나타낸 도면.
도 7은 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 장착부를 나타낸 도면.
도 8은 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에서 디텍터부를 나타낸 도면.
** 도면의 주요부분 부호 설명 **
10 : 팔레트 20 : 제1이송부
30 : 전원인가부 40 : 롤러부
50 : 받침대 60 : 이송판
100 : 장착부 101 : 결합 돌기
102 : 결합 홈 110 : 제1고정부
120 : 센서 130 : 제2고정부
140 : 전원 및 비디오신호 인가부 150 : 회전부
160 : 제2이송부 170 : 실린더
180 : 디텍터부
본 고안은 여러 대의 액정 디스플레이 모듈의 에이징(Aging)이 이송 중에 이루어질 수 있도록 롤러와 컨베이어로 구성된 제1이송부의 하단부에 다수의 전원인가부와 장착부에 소켓 형태의 전원 및 비디오신호 인가부를 설치하고, 상기 에이 징(Aging)된 액정 디스플레이 모듈의 성능 검사를 위한 디텍터의 수직, 수평을 자동으로 정렬할 수 있도록 하는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에 관한 것이다.
초기 액정 디스플레이 모듈 화상 품질의 측정은 주로 검사 인력을 이용하여 육안으로 판단하였는데 상기 액정 디스플레이 모듈은 수송대를 통해 육안 검출기 내로 전송되고 기대에 설치된 현미경으로 육안 측정을 하여 액정 디스플레이 모듈이 점등된 후 파괴점, 휘점 등의 결함이 있는지를 검출하며, 측정 과정을 통해 검출이 완료된 후에는 검사 인력에 의해 액정 디스플레이 모듈이 송출장치로 보내졌다. 상기와 같은 종래 검사 인력을 이용한 관측방법은 검출 속도가 느리고, 판단에 오류가 생기기 쉬운 문제점이 나타났다.
이와 같은 문제점을 해결하기 위해 엘씨디 제조 공정의 인공관측검사기대의 상방에 부착하여 상기 엘씨디 패널의 화상 품질에 대한 자동검사 기능을 구비하는 액정 디스플레이 패널의 점등 후 화상 품질 자동검출장치가 고안되었다. 상기 고안된 장치는 과가기구와 과가운동기구를 구비하고, 이 과가기구는 두 개의 홀더 시트를 구비하며, 이 홀더 시트는 인공관측검사기대의 상방 양측에 고정되고, 이 두 개의 홀더 시트의 내측에 각각 슬라이드 레일이 고정되어 슬라이드 시트가 감합되며, 이 슬라이드 시트가 과가운동기구의 베이스 시트의 양측벽에 고정되고, 동시에 이 베이스 시트의 양측벽에 각각 전동 블록이 설치되며, 이 전동 블록에 구동 스크류 로드가 나사식 설치되고, 두개의 구동 스크류 로드가 각각 이 홀더 시트 양측의 축수 시트로 통하며, 또한 각 구동 스크류 로드가 각각 축 연접기로 구동 모터의 축심과 연결되어, 구동 모터가 회전할 때, 축 연접기를 개재하여 구동 스크류 로드가 구동되어 회전하여, 이로 인해 과가 운동기구의 베이스 시트 양측벽의 전동 블록이 구동되며, 과가운동기구가 그 베이스 시트의 양측에 고정된 슬라이드 시트에 의해 상술한 인공관측검사기대 상방 양측에 설치된 홀더 시트의 슬라이드 레일의 상방에서 상하로 왕복 직선 이동운동을 형성하고, 또한 이 과가운동기구가 운동하여 소정의 위치에 이르렀을 때, 그 상방에 설치된 복수조의 디지털 카메라가 정지 촬영방식으로 차례로 인공관측검사기대 상방의 이미 점등한 엘씨디 패널에 표시된 화상을 촬영하고, 적시에 컴퓨터의 소프트웨어에 제공하여 그 파괴점, 휘점 등의 결함분석 식별에 이바지하며, 이로 인해 엘씨디 패널의 화상 품질을 자동으로 검출하였다.
그러나 상기 엘씨디 패널의 화상 품질 검사장치는 액정 디스플레이 모듈의 성능을 평가하기 위해 전원을 인가하여 1시간 30분 가량의 에이징(Aging)을 하는 성능 검사시간과는 별도의 시간이 소요되어 평가가 진행됨에 있어 많은 시간이 소요되며, 상기 액정 디스플레이 모듈이 디텍터(Detector)에 의한 성능 검사를 위해 이송되는 과정에서 사용자가 직접 시료를 장착 및 탈착하는데 소요되는 시간이 추가로 소요되어 작업에 능률이 현저히 떨어지는 문제점이 나타났다.
또한 상기 디텍터에 의한 액정 디스플레이 모듈의 성능 검사 시 검사 인력이 이를 정렬함에 있어 어려움이 있고, 초보자인 경우 상기 디텍터를 정확하게 수직, 수평 설정이 이루어지지 못한다. 또한 숙련된 사용자라 하더라도 설정에 시간이 많이 걸리며, 설정할 때마다 매번 다르게 설정되어 그 결과가 정확하지 못하게 되는데 이는 상기 결과가 정확하지 못할 경우 측정값에 영향을 미쳐, 결국 매번 디텍터의 수직, 수평 설정의 차이로 인해 측정값이 다르게 나타나는 결과를 초래한다.
그러므로 디텍터의 정렬은 액정 디스플레이 모듈의 시야각을 측정할 때 측정포인트의 정확도와 연관되어 측정 데이터에 영향을 미치는 이유로 측정값 오차에 커다란 요소로 다루어진다. 하지만 아직까지 종래의 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치들은 이러한 문제점을 그대로 안고 사용자가 재측정해야 하는 불편함을 초래하여 왔다.
본 고안은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로 액정 디스플레이 모듈이 장착된 여러 대의 팔레트를 롤러와 컨베이어로 구성된 제1이송부를 통해 자동 이송하며, 상기 제1이송부의 하단부에 다수의 전원인가부를 설치하여 이송 중에도 상기 액정 디스플레이 모듈이 에이징(Aging)이 이루어지고, 이송된 액정 디스플레이 모듈은 소켓 형태의 전원 및 비디오신호 인가부가 형성된 장착부에 자동으로 장착되어 단락 없이 전원과 비디오신호가 인가되므로 작업의 효율을 현저히 높여주는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한, 본 고안은 디텍터의 수직, 수평을 설정함에 있어 액정 디스플레이 모듈의 성능을 측정하는 초보자도 작업 지시서에 따라 쉽게 조작이 가능하고, 작업자의 시각에 의한 방법이 아닌 모션의 좌표값에 의한 방법으로 정확하게 설정이 이루어지며, 기구 중심에 대한 오프셋(Offset) 값을 보정하고, 상기 오프셋(Offset) 값에 대한 편차를 자동 정렬(Auto-Alignment) 후 보정할 수 있도록 함을 다른 목적으로 하고 있습니다.
본 고안은 액정 디스플레이 모듈의 에이징(Aging)이 이송 중에 이루어질 수 있도록 제1이송부의 하단부에 다수의 전원인가부와 장착부에 소켓 형태로 전원 및 비디오신호 인가부를 설치하고, 상기 에이징(Aging)된 액정 디스플레이 모듈의 성능 검사를 위한 디텍터의 수직, 수평을 자동으로 정렬할 수 있도록 하는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에 관한 것으로, 상기 액정 디스플레이 모듈이 사용자 환경과 동일하게 유지될 수 있도록 수직으로 세워서 액정 디스플레이 모듈을 장착하는 팔레트와, 상기 팔레트에 장착된 액정 디스플레이 모듈을 자동으로 이송하기 위해 롤러와 컨베이어로 구성된 제1이송부와, 상기 제1이송부의 하단부에 다수 설치되어 액정 디스플레이 모듈에 전원을 공급하여 장시간 상태를 점검하기 위해 상기 전원이 단락되지 않도록 에이징(Aging)을 하는 전원인가부와, 상기 제1이송부에 의해 이송되는 팔레트를 실린더를 이용하여 장착하기 위한 팔레트 장착부와, 상기 장착부에 팔레트를 자동으로 장착하기 위해 상기 팔레트를 슬라이딩 이동시키기 위한 롤러부와, 상기 롤러부에 의해 슬라이딩된 팔레트의 수평을 유지시키기 위한 아세탈 재질로 구성된 받침대와, 상기 받침대에 팔레트가 위치하면 상기 팔레트 후면에 설치된 결합 홈과 장착부의 전면에 설치된 결합 돌기에 의해 팔레트를 고정시키는 제1고정부와, 상기 제1고정부에 의해 팔레트와 장착부가 결합되면 센서가 이를 감지하고, 시계방향으로 외측에서 내측으로 이동하여 팔레트를 고정하는 제2고정부와, 상기 제1고정부 내지 제2고정부에 의해 팔레트가 장착부에 고정되면 전원 및 비디오신호를 인가하기 위한 소켓 형태의 전원 및 비디오신호 인가부와, 상기 전원 및 비디오신호 인가부에 전원과 비디오신호가 공급되면 제2이송부에 의해 측정위치로 장착부가 이동하고, 상기 장착부 하단에 설치된 회전부가 90도로 회전하며, 상기 회전된 팔레트의 액정 디스플레이 모듈을 검사하기 위해 수직, 수평이 자동으로 조정되는 2대의 카메라와 4대의 구동모터로 구성된 디텍터(Detector)부로 이루어진다.
이하, 본 고안을 구체적으로 설명하기 위해 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
도 1은 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치의 팔레트와 제1이송부를 나타낸 사시도이다. 상기 도 1에서 도시된 바와 같이 상기 액정 디스플레이 모듈이 사용자 환경과 동일하게 유지될 수 있도록 수직으로 세워서 액정 디스플 레이 모듈을 장착하는 팔레트(10)와 상기 팔레트(10)에 장착된 액정 디스플레이 모듈을 자동으로 이송하기 위해 롤러와 컨베이어로 구성된 제1이송부(20)로 이루어진다. 또한 도 2에서 보는 바와 같이 제1이송부(20)의 하단부에 설치된 전원인가부(30)는 상기 액정 디스플레이 모듈을 에이징(Aging) 하기 위해 전원을 인가하도록 구성되어 있다. 도 3은 팔레트(10)와 전원인가부(30)가 접촉하여 전원이 인가되는 것을 나타낸 실시예이다. 그러므로 상기 전원인가부(30)가 제1이송부(20)의 하단부에 다수 형성됨으로써 액정 디스플레이 모듈의 에이징(Aging)이 상기 제1이송부(20)에 의한 이송 중에 이루어지기 때문에 전원이 단락되지 않고 연속해서 에이징(Aging)이 이루어지는 것을 특징으로 한다.
도 4는 본 고안에 따른 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치 중 롤러부(40)를 나타낸 도면으로 상기 롤러부(40)는 제1이송부(20) 하단에 위치한 이송판(60)이 장착부(100) 방향으로 전진 이동한 후 상기 이송판(60)에 설치된 롤러부(40)를 통해 팔레트(10)가 슬라이딩 이동을 하도록 구성된다.
도 5는 상기 롤러부(40)로부터 슬라이딩 이동된 팔레트(10)를 안착하기 위한 받침대(50)를 나타낸 것이다. 상기 도 5에서 나타낸 것처럼 상기 롤러부(40)에 의해 슬라이딩 이동된 팔레트(10)를 고정시키기 위한 아세탈 재질로 받침대(50)가 구성되며, 상기 받침대(50)에 팔레트(10)가 위치하면 도 6과 도 7에서 보는 바와 같이 상기 팔레트(10) 후면에 설치된 결합 홈(102)과 장착부(100)의 전면에 설치된 결합 돌기(101)에 의해 팔레트(10)를 제1고정부(110)로 고정시키고, 상기 제1고정부(110)에 의해 팔레트(10)와 장착부(100)가 결합되면 센서(120)가 이를 감지하고, 스크류 원리를 이용하여 시계방향으로 외측에서 내측으로 이동하여 팔레트(10)를 고정하는 제2고정부(130)로 구성된다. 상기 제1고정부(110) 내지 제2고정부(130)에 의해 팔레트(10)가 장착부(100)에 고정되면 전원 및 비디오신호를 인가하기 위한 소켓 형태의 전원 및 비디오신호 인가부(140)는 팔레트(10) 후면에 설치되는 4개의 50핀 모듈(140a)과 장착부(100)의 전면에 형성된 4개의 소켓(140b)이 결합되면 센서(120)가 이를 감지하여 제2고정부(130)에 의해 팔레트(10)가 고정되어 전원과 비디오신호가 인가되는 것을 특징으로 한다.
상기 도 7을 통해 장착부(100)에 팔레트(10)가 장착되는 방법을 상세히 설명하면 상기 장착부(100)의 하단부에 설치된 제2이송부(160)가 상기 제1이송부(20)의 이송판(60)으로 전진 이동하며, 장착부(100)의 후면에 설치된 실린더(170)를 이용하여 상기 장착부(100)가 전면으로 10㎝ 정도 이동하여 상기 받침대(50)에 안착된 팔레트(10)를 척킹(Chucking)한다.
또한 도 8에서 보는 바와 같이 디텍터(Detector)부를 이용한 액정 디스플레이 모듈의 성능 측정방법은 상기 전원 및 비디오신호 인가부(140)에 전원과 비디오신호가 공급되면 제2이송부(160)에 의해 측정위치로 장착부(100)가 이동하고, 상기 장착부(100) 하단에 설치된 회전부(150)가 90도로 회전하며, 상기 회전된 팔레 트(10)의 액정 디스플레이 모듈을 검사하기 위해 수직, 수평이 자동으로 조정되는 2대의 카메라와 4대의 구동모터로 구성된 디텍터(Detector)부(180)로 상기 액정 디스플레이 모듈의 성능 측정이 이루어진다.
상기 디텍터부의 수직, 수평 자동 조정과 관련하여 실시예를 들어 설명하면, 디텍터부에서 디텍터를 제거한 후 다시 장착을 하고 상기 디텍터부의 수직, 수평을 재설정한다. 우선 원점과 장착 위치 이동을 선택한 후, 액정 디스플레이 모듈을 팔레트에 장착한다. 전원을 설정하고 출력한 후 패턴을 설정하여 출력한다. 패턴의 중심부를 디스플레이하며, Z축의 거리를 1,200㎜로 이동시키고 H축과 V축을 0도 회전한다. 이 때 디텍터(Detector)부의 구경(Aperture)이 패턴 중심에 위치하도록 CCD 모니터를 이용하여 모니터링을 하면서 X, Y 모션을 제어한다.
그 다음 레이저 센서를 작동시키고, 좌상, 좌하, 우상, 우하 버튼을 클릭하여 중심에서 좌상, 좌하, 우상, 우하의 4개 거리 값(Distance)이 동일하도록 H축, V축 값을 변경하며, 이 경우 거리 값이 동일하다면 H축, V축의 위치 값이 절대 0도가 된다. 다시 상기 Z축의 거리를 600㎜로 이동하고, 디텍터부의 구경이 패턴 중심에 위치하도록 CCD 모니터링 하면서 X, Y 모션을 제어한다. 그 다음 Z축의 거리를 1,200㎜으로 이동하고, 현재의 X, Y축의 위치 값을 기록한 후 이 때의 위치 값을 X1, Y1이라고 한다. 상기 디텍터부의 구경이 센터 패턴 중심에 위치하도록 CCD 모니터를 모니터링 하면서 X, Y축 모션을 제어하고, 디텍터의 구경이 패턴 중심에 위 치하면 X, Y축의 위치 값을 X2, Y2로 저장하여 보정이 필요할 경우 이동할 위치 값을 계산하면 X3=X1-X2, Y3=Y1-Y2로 구할 수 있다. 그러므로 보정 시 X축(Y축)을 현재 위치에서 X3(Y3) 거리만큼 반대방향으로 두 번 이동하고, 디텍터부의 구경이 패턴 중심에 위치하도록 CCD 모니터를 모니터링 하면서 H8축, V8축 또는 H6축, V6축 모션을 제어하며, Z축의 거리를 600㎜로 이동하여 최종적으로 디텍터부의 구경이 패턴 중심에 위치하는지 확인하여 패턴 중심에 위치하면 상기 디텍터부의 수직 및 수평이 설정된 상태이다.
상술한 바와 같이 본 고안에 따른 바람직한 실시예를 설명하였지만, 본 고안은 상기한 실시예에 한정되지 않고, 이하의 실용신안청구범위에서 청구하는 본 고안의 요지를 벗어남이 없이 당해 고안이 속하는 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든 다양한 변경 실시가 가능한 범위까지 본 고안의 기술적 정신이 있다고 할 것이다.
본 고안은 액정 디스플레이 모듈이 장착된 팔레트를 롤러와 컨베이어로 구성된 제1이송부를 통해 자동으로 이송하며, 상기 제1이송부의 하단부에 다수의 전원인가부를 설치하여 액정 디스플레이 모듈의 이송 중에도 에이징(Aging)이 이루어지고, 상기 이송된 액정 디스플레이 모듈은 소켓 형태의 전원 및 비디오신호 인가부가 형성된 장착부에 자동으로 장착되어 연속적으로 전원이 인가되어 성능 측정방법 에 있어서 비디오신호를 인가한 액정 디스플레이 모듈을 검사하는 동시에 여러 대의 액정 디스플레이 모듈을 에이징(Aging) 함으로써 검사장비의 효율을 현저히 높여주는 효과가 있다. 즉, 종래의 검사장비가 에이징(Aging), 측정, 시료 교체, 다시 에이징(Aging), 측정과 같은 방식에 의해 성능 검사가 이루어졌다면 본 고안에 의한 검사장비는 에이징(Aging)과 측정이 동시에 진행되고, 측정 완료 후 에이징(Aging)이 완료된 시료로 자동으로 교체됨으로써 작업 시간을 단축할 수 있는 것이다.
또한, 디텍터의 수직, 수평을 설정함에 있어 초보자도 작업 지시서에 따라 손쉽게 조작이 가능하고, 작업자의 시각에 의한 방법이 아닌 모션의 좌표값에 의한 방법으로 정확하게 설정이 이루어지며, 기구 중심에 대한 오프셋(Offset) 값을 보정하고, 상기 오프셋(Offset) 값에 대한 편차를 자동 정렬(Auto-Alignment) 후 보정할 수 있는 효과도 있다.
Claims (4)
- 여러 대의 액정 디스플레이 모듈의 에이징(Aging)이 이송 중에 이루어질 수 있도록 이송부의 하단부에 다수의 전원인가부와 장착부에 소켓 형태로 전원 및 비디오신호 인가부를 설치하고, 상기 에이징(Aging)된 액정 디스플레이 모듈의 성능 검사를 위한 디텍터의 수직, 수평을 자동으로 정렬할 수 있도록 하는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치에 있어서,상기 액정 디스플레이 모듈이 사용자 환경과 동일하게 유지될 수 있도록 수직으로 세워서 액정 디스플레이 모듈을 장착하는 팔레트(10)와;상기 팔레트(10)에 장착된 액정 디스플레이 모듈을 자동으로 이송하기 위해 롤러와 컨베이어로 구성된 제1이송부(20)와;상기 제1이송부(20)의 하단부에 설치되어 이송 중 액정 디스플레이 모듈에 전원을 공급하여 장시간 상태를 점검하기 위해 상기 전원이 단락되지 않도록 에이징(Aging)을 하는 전원인가부(30)와;상기 제1이송부(20)에 의해 이송되는 팔레트(10)를 실린더를 이용하여 장착하기 위한 팔레트 장착부(100)와;상기 장착부(100)에 팔레트(10)를 자동으로 장착하기 위해 상기 팔레트(10)를 슬라이딩 이동시키기 위한 롤러부(40)와;상기 롤러부(40)에 의해 슬라이딩된 팔레트(10)의 수평을 유지시키기 위한 아세탈 재질로 구성된 받침대(50)와;상기 받침대(50)에 팔레트(10)가 위치하면 상기 팔레트(10) 후면에 설치된 결합 홈(102)과 장착부(100)의 전면에 설치된 결합 돌기(101)에 의해 팔레트를 고정시키는 제1고정부(110)와;상기 제1고정부(110)에 의해 팔레트(10)와 장착부(100)가 결합되면 센서(120)가 이를 감지하고, 시계방향으로 외측에서 내측으로 이동하여 팔레트(10)를 고정하는 제2고정부(130)와;상기 제1고정부(110) 내지 제2고정부(130)에 의해 팔레트(10)가 장착부(100)에 고정되면 전원 및 비디오신호를 인가하기 위한 소켓 형태의 전원 및 비디오신호 인가부(140)와;상기 전원 및 비디오신호 인가부(140)에 전원과 비디오신호가 인가되면 제2이송부(160)에 의해 측정위치로 장착부(100)가 이동하고, 상기 장착부(100) 하단에 설치된 회전부(150)가 90도로 회전하며, 상기 회전된 팔레트(10)의 액정 디스플레이 모듈을 검사하기 위해 수직, 수평이 자동으로 조정되는 2대의 카메라와 4대의 구동모터로 구성된 디텍터(Detector)부(180); 로 이루어진 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치.
- 제1항에 있어서,상기 롤러부(40)는 컨베이어(20) 하단에 위치한 이송판(60)이 장착부(100) 방향으로 전진 이동하여 상기 이송판(60)에 설치된 롤러부(40)를 통해 팔레트(10) 가 슬라이딩 이동하여 받침대(50)에 안착되는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치.
- 제1항에 있어서,상기 장착부(100)의 하단부에 설치된 제2이송부(160)가 상기 제1이송부(20)의 이송판(60)으로 전진 이동하며, 장착부(100)의 후면에 설치된 실린더(170)를 이용하여 상기 장착부(100)가 전면으로 10㎝ 정도 이동하여 상기 받침대(50)에 안착된 팔레트(10)를 척킹(Chucking)하는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치.
- 제1항에 있어서,상기 전원 및 비디오신호 인가부(140)는 팔레트(10) 후면에 설치되는 4개의 50핀 모듈(140a)과 장착부(100)의 전면에 형성된 4개의 소켓(140b)이 결합되고, 센서(120)가 이를 감지하면 제2고정부(130)에 의해 팔레트(10)가 고정되어 전원 및 비디오신호가 인가되는 것을 특징으로 하는 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2020060021564U KR200431032Y1 (ko) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR2020060021564U KR200431032Y1 (ko) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060075934A Division KR100799168B1 (ko) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR200431032Y1 true KR200431032Y1 (ko) | 2006-11-13 |
Family
ID=41779396
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR2020060021564U KR200431032Y1 (ko) | 2006-08-11 | 2006-08-11 | 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR200431032Y1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100743012B1 (ko) * | 2006-06-15 | 2007-07-26 | 동일파텍주식회사 | 강성보강구조를 갖는 홀더 구조체 |
KR101769813B1 (ko) | 2016-02-24 | 2017-08-21 | 동명대학교산학협력단 | 패널 이송용 그립 장치 |
-
2006
- 2006-08-11 KR KR2020060021564U patent/KR200431032Y1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100743012B1 (ko) * | 2006-06-15 | 2007-07-26 | 동일파텍주식회사 | 강성보강구조를 갖는 홀더 구조체 |
KR101769813B1 (ko) | 2016-02-24 | 2017-08-21 | 동명대학교산학협력단 | 패널 이송용 그립 장치 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100911330B1 (ko) | 어레이 테스트 장치와, 상기 어레이 테스트 장치의 기판 일지점 위치 측정 방법과, 카메라 어셈블리에 촬상된 특정 위치좌표 측정 방법 | |
CN107228861B (zh) | 液晶面板的缺陷检测装置 | |
KR20100023258A (ko) | 평판디스플레이 패널 검사 장비 및 방법 | |
CN101682798A (zh) | 用于控制与用于呈现各种类型的光电子信息的装置的操作有关的多个参数的通用测试系统 | |
CN110470247B (zh) | 一种零件内外圆面同轴度的检测装置及检测方法 | |
KR20180088565A (ko) | 열화상 감지 유닛이 구비된 디스플레이패널의 다중 검사장치 | |
CN110470250B (zh) | 一种零件表面平面度的检测装置及检测方法 | |
KR100799168B1 (ko) | 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. | |
KR200431032Y1 (ko) | 액정 디스플레이 모듈 성능 측정장치. | |
KR101470424B1 (ko) | 렌즈 검사 장치 | |
KR100911331B1 (ko) | 어레이 테스트 장치 및 상기 어레이 테스트 장치의 기판 일지점 위치 측정 방법 | |
CN219266127U (zh) | 一种用于多轴联动视觉检测设备的标定块 | |
KR200496308Y1 (ko) | 디스플레이 패널의 회로 및 픽셀 탐색 시스템 및 방법 | |
KR101415942B1 (ko) | 카메라모듈 검사 및 초점 조정장치 | |
CN116708764A (zh) | 一种摄像头内参的检验装置及其检验方法 | |
KR20200046149A (ko) | 영역 기반의 비젼 검사장치 | |
JP4354941B2 (ja) | バックライトユニットのビジョン及び輝度検出システム | |
KR200363207Y1 (ko) | 엘씨디 셀의 에지 검사 장치 | |
CN212646046U (zh) | 一种镜头光心与成像传感器感光面中心对齐系统 | |
KR20180135501A (ko) | 셀 얼라인을 통한 디스플레이 패널의 열화상 검사장치 | |
KR20180088564A (ko) | 디스플레이패널의 열화상 검사장치 | |
JP2002251149A (ja) | 平面表示パネルの欠陥検査装置 | |
JP4560578B1 (ja) | 液晶パネル点灯検査装置 | |
CN217638733U (zh) | 电路板自动检测仪 | |
CN220961268U (zh) | 一种视觉检测装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
U107 | Dual application of utility model | ||
REGI | Registration of establishment | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20071106 Year of fee payment: 3 |
|
EXTG | Extinguishment |