KR20030073398A - Reverse fountain type plating apparatus - Google Patents
Reverse fountain type plating apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- KR20030073398A KR20030073398A KR1020020012946A KR20020012946A KR20030073398A KR 20030073398 A KR20030073398 A KR 20030073398A KR 1020020012946 A KR1020020012946 A KR 1020020012946A KR 20020012946 A KR20020012946 A KR 20020012946A KR 20030073398 A KR20030073398 A KR 20030073398A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- plating
- jig
- plated
- reverse
- plating apparatus
- Prior art date
Links
Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D5/00—Electroplating characterised by the process; Pretreatment or after-treatment of workpieces
- C25D5/08—Electroplating with moving electrolyte e.g. jet electroplating
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/004—Sealing devices
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/02—Tanks; Installations therefor
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D17/00—Constructional parts, or assemblies thereof, of cells for electrolytic coating
- C25D17/06—Suspending or supporting devices for articles to be coated
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D21/00—Processes for servicing or operating cells for electrolytic coating
- C25D21/06—Filtering particles other than ions
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Electroplating Methods And Accessories (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 일정한 탱크내에서 효과적인 전기도금을 할 수 있도록 한 평판도금장치로서, 보다 상세하게는 도금용 전해액을 위에서 공급하여 피도금체를 도금하는 역분류식 도금장치에 관한 것이다.The present invention relates to a flat plate plating apparatus that enables effective electroplating in a constant tank, and more particularly, to a reverse type plating apparatus for plating a plated body by supplying an electrolytic solution for plating from above.
소형의 전기·전자부품 및 특수부품등은 녹을 방지하므로서 그 수명을 연장시키며, 또한 부품의 특성상 저항을 줄여주기 위해서 뿐만 아니라 부품의 기능향상을 위하여 특수 소재의 전기도금을 실시하며, 특히 평판의 웨이퍼(Wafer)는 회로설계 등을 한 후에 범프(Bump)를 만들거나 트렌치(Trench)를 채워서 회로를 보호하기 위해서 도금을 실시한다.Small electric and electronic parts and special parts are prevented from being rusted to prolong their lifespan, and also to electroplate special materials to improve the function of parts as well as to reduce resistance due to the characteristics of parts. After the circuit design, Wafer is plated to protect the circuit by making a bump or filling a trench.
그런데, 통상적인 도금은 도금조 내에 도금하고자 하는 금속의 성질에 맞는 도금액을 넣고 음극에 공작물을 매달고 양극에는 도금 금속을 매달아 도금액에 담그고 통전을 하면 도금 금속이 전리되어 도금액과 결합되고, 이 금속염은 음극쪽에서 환원되면서 도금금속의 세세한 입자가 피도금체의 표면에서 석출되면서 견고히 부착되게 되어 도금이 이루어지게 되는데, 이때 음극측에서 금속염의 환원시 기포가 발생되게 되며 이는 공작물과 금속염을 격리시키게 되므로 일정시간 경과후에는 도금이 전혀 진행되지 않을 수 있다.However, in general plating, a plating solution suitable for the property of a metal to be plated is put in a plating bath, a workpiece is suspended on a cathode, and a plating metal is suspended on a cathode, immersed in a plating solution and energized. As the fine particles of the plated metal are reduced on the cathode side and deposited on the surface of the plated body, the metal particles are firmly attached to the plated metal. After time passes, plating may not proceed at all.
따라서, 종래에는 도금시에 전해액을 교반하므로서 기포를 배출시키거나 공작물을 움직여 주므로서 기포의 부착을 배제하는 장치가 주로 쓰였는데, 이들은 정밀도금에 적합하지 않다는 결점이 있었다.Therefore, in the related art, an apparatus for excluding bubbles by mainly discharging bubbles or moving workpieces by stirring the electrolyte solution during plating is mainly used, but they have a drawback that they are not suitable for precision gold.
그래서, 보다 진보된 장치가 개발되었는데, 이러한 장치 중 하나인 도 5에 모식적으로 도시된 바와 같은 렉(Rack)타입의 도금장치는, 도금조(1)내에 렉(11)을 설치하고, 이에다가 피도금체(4)를 거치하고, 통전을 하면서 도금조(1)외에 설치되는 펌프(6)를 이용하여 필터(7)에서 걸러진 도금액을 도금조(1) 내로 소정 압력으로 분출되도록 하여 오버플로워 되는 도금액은 회수로(13)를 통해 모아서 다시 강제 환류시킴으로서 피도금체(4)에 기포 등이 부착되지 않도록 하는 방식이 많이 사용되고 있으며, 또 다른 장치로서는 보다 정밀한 도금을 하기 위해서 개발된 분류(Fountain)타입의 도금장치가 있는데, 이는 도 6에 도시된 바와 같이, 도금조(1)의 상단에 피도금체(4)를 거치{도금조(1) 내에 피도금체(4)가 잠겨지지는 않음}하고 통전을 하면서 도금조(1) 외부의 펌프(6)에서 도금조(1)의 하단에 연결된 파이프(8)를 통해 분류시켜서 도금액이 피도금체(4)에 분출되면서 오버플로워 하도록 하는 것으로, 이는 반도체용 웨이퍼와 같이 정밀하게 설계된 선과 선사이의 트렌치(Trench)를 채우면서 도금하기에 적합하여 평판 웨이퍼의 도금장치로서 선호되고 있었다.Thus, a more advanced apparatus has been developed, in which a rack type plating apparatus as schematically shown in FIG. 5, one of such apparatuses, installs a rack 11 in a plating bath 1, Then, the plating liquid filtered by the filter 7 is ejected into the plating bath 1 at a predetermined pressure by using the pump 6 installed outside the plating bath 1 while the plated body 4 is energized. The plating solution to be flowed is collected through the collecting path 13 and forced to reflux again, so that bubbles or the like are not adhered to the plated body 4, and as another device, a classification developed for more precise plating ( There is a fountain type plating apparatus, which is mounted on the upper end of the plating bath 1, as shown in FIG. 6 (the plating body 4 is not locked in the plating bath 1). Pump on the outside of the plating bath (1) 6) through the pipe (8) connected to the lower end of the plating bath (1) so that the plating liquid is ejected to the plated body 4 and overflows, which is precisely designed lines and trenches such as semiconductor wafers It is suitable for plating while filling (Trench) and has been preferred as a plating apparatus for flat wafers.
그러나, 가장 진보된 분류타입의 도금장치로서도 30㎝ 대형의 평판 웨이퍼에는 도금이 어렵다는 문제가 대두되었는데, 이는 웨이퍼의 범프가 높아지고 트렌치도 좁고 깊어져서 그 사이에 분류된 도금액과 함께 공급되는 기포가 정체되기 쉽다는 점에 기인된다.However, even with the most advanced type of plating system, the problem of plating is difficult for 30 cm large flat wafers, which is because the bumps of the wafers are high and the trenches are narrow and deep, so that the bubbles supplied with the plating liquid sorted in between are stagnant. It is due to the easy to be.
본 발명은 상기한 환경 하에서도 정밀도금이 가능한 새로운 형태의 도금장치를 제공하고자 연구한 결과 개발된 발명으로서, 평판으로부터 높은 범퍼나 좁고 깊은 트렌치를 가지는 웨이퍼에서도 정밀도금이 가능하도록 하는 장치를 제공하며, 또한 도금장치는 매뉴얼 조작이 필요 없도록 하여 청정환경 하에서 도금이 이루어지도록 함으로서 소재에 부착되는 먼지로 인한 불량을 원천적으로 방지하며, 특히 그러한 장치가 간편하면서도 경제적으로 이루어지도록 하고자 본 발명을 완성하기에 이르렀는데, 이하에 도면을 참고로 상세히 설명하도록 한다.The present invention was developed as a result of research to provide a new type of plating apparatus capable of precision gold under the above-mentioned environment, and provides an apparatus that enables precision gold even on wafers having a high bumper or a narrow and deep trench from a flat plate. In addition, the plating apparatus prevents defects caused by dust adhering to the material by eliminating manual operation so that plating is performed in a clean environment, and in particular, to complete the present invention to make such an apparatus simple and economical. It will now be described in detail with reference to the drawings.
도 1은 본 발명의 구성상태도,1 is a configuration diagram of the present invention,
도 2는 본 발명의 구성상태 단면 모식도,2 is a schematic cross-sectional view of a configuration state of the present invention;
도 3은 본 발명의 다른 구성상태 단면 모식도,3 is a schematic cross-sectional view of another configuration state of the present invention;
도 4는 본 발명의 또 다른 구성상태 단면 모식도,Figure 4 is a schematic cross-sectional view of another configuration state of the present invention,
도 5는 종래 발명의 구성상태도,5 is a configuration diagram of a conventional invention,
도 6은 종래 다른 발명의 구성상태도이다.6 is a configuration diagram of another conventional invention.
* 도면의 주요부 부호의 설명* Explanation of the Major Codes in Drawings
1. 도금조1. Plating bath
11. 렉(음극)12. 토출공13. 회수로Rack (cathode) 12. Discharge hole 13. Recovery
2. 쳄버2. Chamber
21. 분출기21.Ejector
3. 지그3. Jig
31. 실린더32. 모터33. 카본브러시31.Cylinder Motor 33. Carbon brush
34. 진동기34. Vibrator
4. 피도금체5. 파워서플라이(Power Supply)4. The plated body 5. Power Supply
6. 펌프7. 필터6. Pump 7. filter
8. 파이프8. Pipe
81. 밸브81.Valve
도 1은 본 발명의 구성상태도이고, 도 2는 본 발명의 구성상태를 단면으로 모식적으로 도시한 도이다.1 is a diagram illustrating a configuration of the present invention, and FIG. 2 is a diagram schematically illustrating a configuration of the present invention in cross section.
본 발명은 도금액이 담기는 도금조(1)와, 상기 도금조(1)에 필터(7)로 걸러진 도금액을 파이프(8)를 통해 소정 압력으로 공급하는 펌프(6)와, 도금액과 피도금체(4)에 직류 전원을 공급하는 파워서플라이(5)로 이루어지는 도금장치에 있어서, 상기 도금조(1)는 쳄버(2)로 밀폐되고, 상기 도금조(1)의 하단에는 토출공(12)이 형성되는 간격을 두고 피도금체(4)가 세팅되는 지그(3)가 설치되고, 도금액은 상기 파이프(8)의 종단에 설치되는 분출기(21)를 통해 상기 도금조(1)의 상단에서 뿌려지도록 이루어진 것임을 특징으로 한다.The present invention provides a plating bath (1) containing a plating solution, a pump (6) for supplying the plating solution filtered by the filter (7) to the plating bath (1) at a predetermined pressure through a pipe (8), a plating solution and a plated object. In the plating apparatus which consists of the power supply 5 which supplies DC power to the sieve 4, the said plating tank 1 is sealed by the chamber 2, and the discharge hole 12 is provided in the lower end of the plating tank 1; Jig (3) is installed is set to the plated body (4) at intervals in which the (2) is formed, the plating solution of the plating tank (1) through the ejector 21 is installed at the end of the pipe (8) Characterized by being made to be sprayed from the top.
도 3은 본 발명의 다른 구성상태 단면 모식도이다.3 is a schematic cross-sectional view of another configuration state of the present invention.
상기한 구성에 있어서, 상기 지그(3)의 하단에 상하진 가능한 실린더(31)가 장착되는 것을 특징으로 하면 보다 바람직하다.In the above-described configuration, it is more preferable that the cylinder 31, which can be moved up and down, is attached to the lower end of the jig 3.
도 4는 본 발명의 또 다른 구성상태 단면 모식도,Figure 4 is a schematic cross-sectional view of another configuration state of the present invention,
상기한 구성에 있어서, 상기 지그(3)의 하단에 회전용 모터(32)가 장착되는 것을 특징으로 하면 보다 바람직하다.In the above configuration, it is more preferable that the rotary motor 32 is mounted at the lower end of the jig 3.
상기한 구성에 있어서, 상기 지그(3)의 하단에 진동용 진동기(34)가 장착되는 것을 특징으로 하면 보다 바람직하다.In the above configuration, it is more preferable that the vibrating vibrator 34 is attached to the lower end of the jig 3.
상기와 같이 이루어지는 본 발명의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.Referring to the effects of the present invention made as described above are as follows.
본 발명의 일 구성에 의하면, 도금액이 담기는 도금조(1)와, 상기 도금조(1)에 필터(7)로 걸러진 도금액을 파이프(8)를 통해 소정 압력으로 공급하는 펌프(6)와, 도금액과 피도금체(4)에 직류 전원을 공급하는 파워서플라이(5)로 이루어지는 통상적인 도금장치를 기본으로 하고 이에 다가, 상기 도금조(1)는 쳄버(2)로 밀폐되고, 상기 도금조(1)의 하단에는 토출공(12)이 형성되는 간격을 두고 피도금체(4)가 세팅되는 지그(3)가 설치되고, 도금액은 상기 파이프(8)의 종단에 설치되는 분출기(21)를 통해 상기 도금조(1)의 상단에서 뿌려지도록 이루어진 것임으로, 지그(3)에 피도금체(4)를 세팅하고 파워서플라이(5)에서 직류전원중 양극은 도금액측{별도의 전극을 사용하지 않고 도금조(1)에 공급하여도 무방함}에 음극은 지그(3)에 공급하면서 펌프(5)를 작동하여 밸브(81)를 열어주면 도금액이 파이프(8)를 타고 분출기(21)에서 샤워상으로 도금조(1)의 상단측에서 뿌려지는데, 도금조(1)의 하단에는 토출공(12)이 형성되는 간격을 두고 피도금체(4)가 세팅되는지그(3)가 설치되어 있으므로, 도금액은 도금조(1)내에 정류하면서 토출공(12)을 통해 쳄버(2)의 하단으로 플로워되고 집수되어 펌프(6)에서 다시 순환되도록 되며, 이때, 음극의 지그(3)에 세팅된 피도금체(4)는 음극으로 대전되어 도금이 이루어지도록 되는데, 피도금체(4)는 윗면이 도금액에 의하여 도금됨으로, 종래의 분류식에서와 같이 범프의 사이나 트렌치 사이에 끼일 수 있는 기포는 자연히 부상하게 되어 도금불량(Void 현상)을 원천적으로 방지할 수 있으며, 특히 도금액이 상면에서 샤워상으로 분출되어 도금조(1)에 정유되었다가 토출공(12)으로 플로워됨으로 도금효율을 보다 향상시킬 수 있게 된다.According to one configuration of the present invention, a plating tank 1 containing a plating liquid, a pump 6 for supplying the plating liquid filtered by the filter 7 to the plating tank 1 through a pipe 8 at a predetermined pressure; On the basis of the conventional plating apparatus consisting of a power supply (5) for supplying a direct current power to the plating liquid and the plated body (4), the plating bath (1) is sealed by a chamber (2), the plating At the lower end of the tank 1, a jig 3 in which the plated body 4 is set is provided at intervals at which the discharge holes 12 are formed, and the plating liquid is ejected at the end of the pipe 8 ( 21 to be sprinkled from the upper end of the plating bath 1, the plated body 4 is set on the jig 3 and the positive electrode of the DC power supply in the power supply 5 is the plating solution side (separate electrode May be supplied to the plating bath 1 without using a negative electrode. 1) When the plating solution is opened, the plating solution is sprinkled on the pipe 8 from the upper end of the plating bath 1 to the shower in the ejector 21, and the discharge hole 12 is formed at the lower end of the plating bath 1. Since the plated body 4 is set at intervals, or because it is installed, the plating liquid flows into the lower end of the chamber 2 through the discharge hole 12 and is collected and rectified in the plating bath 1, and pumped. At 6, the plated body 4 set on the jig 3 of the negative electrode is charged with the negative electrode to be plated, and the plated body 4 is plated by a plating solution. As in the conventional classification, bubbles that may be caught between the bumps or between the trenches naturally float to prevent plating defects (Void phenomenon), and in particular, the plating solution is ejected from the upper surface into the shower to form a plating bath. Oil refined in (1) and then flows into discharge hole (12). It is possible to further improve the efficiency.
게다가, 상기 쳄버(2)는 단순히 밀폐된다고 기재하였는데, 여기서의 밀폐란 샤워상으로 역분류되는 도금액이 쳄버(2)에서 누출되지 않도록 하기 위한 것이나, 밀폐력을 좀더 높이고 쳄버(2)내에는 부압(-압력; 진공상태)을 걸어주면 범프의 사이나 트렌치 사이에 끼일 수 있는 기포가 보다 손쉽게 탈포(脫泡)되어 불량률의 저하 및 도금능률의 향상을 기대할 수 있으며, 이렇게 변형할지라도 이는 본 업계의 통상적인 전문가라면 선택적으로 채용할 수 있는 설계변경사항에 지나지 않으므로 본 발명의 기술적 범위 이내임은 명백하다.In addition, the chamber 2 is simply described as being hermetically sealed. Here, the hermetic seal is intended to prevent the plating liquid back-classified into the shower from leaking in the chamber 2, but the sealing force is further increased and the negative pressure in the chamber 2 is reduced. Pressure (vacuum) is applied to degassing bubbles easily between bumps and trenches, which can be expected to reduce defect rate and improve plating efficiency. It is obvious that the skilled person is within the technical scope of the present invention since it is merely a design change that can be selectively employed.
본 발명의 다른 구성에 의하면, 상기한 구성과 더불어, 상기 지그(3)의 하단에 상하진 가능한 실린더(31)가 장착되는 것인데, 이렇게 지그(3)의 하단에 장착된 실린더(31)가 상하진 되도록 하는 것은 피도금체(4)의 세팅을 손쉽도록 하기 위함이며, 예컨대 실린더(31)로 지그(3)를 하진 시켜서 도금조(1)와 지그(3)의 간격을 벌려주면 평판 웨이퍼와 같은 피도금체(4)가 작업자의 손에 파지된 상태로나로더(lodder)에 물린 상태에서 손쉽게 출입이 되기 때문이다.According to another configuration of the present invention, in addition to the above-described configuration, a cylinder 31 that can be moved up and down is mounted on the lower end of the jig 3, and thus the cylinder 31 mounted on the lower end of the jig 3 is upward. The lowering is to facilitate the setting of the plated body 4. For example, when the jig 3 is lowered with the cylinder 31 to increase the distance between the plating bath 1 and the jig 3, the flat wafer and This is because the same to-be-plated body 4 is easily held in and out of the state of being held by a loader in a state held by a worker's hand.
본 발명의 또 다른 구성에 의하면, 상기한 구성과 더불어, 상기 지그(3)의 하단에 회전용 모터(32)가 장착되는 것인데, 이는 모터(32)가 지그(3)를 스핀되도록 하여 피도금체(4)의 모든면에서 균등히 도금이 이루어지도록 하기 위함이며, 이때 회전되는 지그(3)의 하단에는 카본브러시(33)가 설치되어 회전중에도 통전에 이상이 없도록 하는 대비가 필요하며, 이러한 적용이나 기타의 변형일지라도 본 발명의 기술적 범위를 벗어나지 않음은 명백하다.According to another configuration of the present invention, in addition to the above configuration, the rotary motor 32 is mounted on the lower end of the jig 3, which causes the motor 32 to spin the jig 3 to be plated. In order to make the plating evenly on all sides of the sieve (4), at the bottom of the jig (3) to be rotated is a carbon brush 33 is installed is required to prepare to ensure that there is no abnormal power supply during rotation, this application It is obvious that other modifications do not depart from the technical scope of the present invention.
또한, 모터(32)는 실린더(31)와 함께 설치되어도 작동에는 문제가 없으며, 이때에는 실린더(31)가 스핀용 모터(32)를 함께 시프트시키는 구조이던가, 또는 스핀용 모터(32)가 실린더(31)를 함께 회전시키던가 어떠한 구조라도 채택할 수도 있다.In addition, even if the motor 32 is installed together with the cylinder 31, there is no problem in operation. In this case, the cylinder 31 is configured to shift the spin motor 32 together, or the spin motor 32 is a cylinder. The 31 may be rotated together or any structure may be adopted.
본 발명의 또 다른 구성에 의하면, 상기한 구성과 더불어, 상기 지그(3)의 하단에 진동용 진동기(34)가 장착되는 것인데, 이는 피도금체(4)에 미약한 진동을 주어 기포가 잘 빠지도록 하여 기포에 의한 보이드(Void)현상을 확실히 회피할 수 있도록 함으로서 고품위의 도금을 이룰 수 있으며, 진동기(34)도 공지의 진동자나 바이브레이터를 사용하여 직접 피도금체(4)를 진동시키거나, 피도금체(4)를 지지하는 지그(3)를 진동하여 피도금체(4)가 함께 진동하도록 하는 방식이 모두 채용될 수 있으나, 피도금체(4)와 지그(3)간의 상대 진동에 의한 스크러치 등을 피하기 위해서는 후자가 바람직하다.According to another configuration of the present invention, in addition to the configuration described above, the vibrating vibrator 34 is mounted on the lower end of the jig 3, which gives a slight vibration to the plated body 4, so that bubbles are well formed. It is possible to make it possible to reliably avoid voids caused by bubbles so that high quality plating can be achieved. The vibrator 34 also vibrates the plated body 4 directly by using a known vibrator or vibrator, or The vibrating jig 3 supporting the plated body 4 may be adopted to vibrate the plated body 4 together, but the relative vibration between the plated body 4 and the jig 3 may be adopted. The latter is preferable in order to avoid scratching by the like.
이하에 실시예를 들어 본 발명을 설명한다.An Example is given to the following and this invention is demonstrated.
실시예 1, 2Examples 1 and 2
본 발명의 도금장치에 8인치 평판 웨이퍼를 세팅하여 상온에서 Sn/Pb 도금용액(가장 일반적으로 사용되는 시중에서 구입된 용액)을 사용하고, 2A/dm의 전류밀도에서 범퍼를 만들기 위한 솔더 도금(Solder Coating) 및 트렌치를 채우는 커퍼 도금(Cupper Coating)을 각 5EA 씩 행했다.The 8-inch flat plate wafer is set in the plating apparatus of the present invention using a Sn / Pb plating solution (the most commonly used commercially available solution) at room temperature, and solder plating for making a bumper at a current density of 2 A / dm ( Solder coating) and cupper coating (Cupper Coating) filling the trench were performed for 5EA each.
결과는 표에 나타내었다.The results are shown in the table.
비교예 1, 2Comparative Examples 1 and 2
렉타입 도금장치 및 분류타입 도금장치에서 실시예 1과 동일한 조건으로 솔더 및 커퍼 각각 3EA 씩 행했다.In the rack type plating apparatus and the split type plating apparatus, 3EA each of a solder and a cupper was performed on the same conditions as Example 1, respectively.
결과는 표에 나타내었다.The results are shown in the table.
표table
실시예 및 비교예에서 제작된 5EA 및 3EA의 웨이퍼를 육안으로 검사하여 기포로 인한 보이드가 발생되는 개소를 세어서 평균(1 이하는 버림)하였으며, 도막두께는 각 웨이퍼의 5개소를 렌덤하게 체크하여 모든 개소가 두께의 3% 이내의 오차를 가질 때에는 ◎로, 5%이내일 때에는 ○로, 10%이내일 때에는 △로, 일 개소라도 10%를 벗어나는 때에는 ×로 표기하였다.The wafers of 5EA and 3EA fabricated in Examples and Comparative Examples were visually inspected to count voids generated by bubbles and averaged (less than 1), and the film thickness was randomly checked at five locations of each wafer. All points are marked with ◎ when they have an error within 3% of the thickness, ○ when within 5%, △ when within 10%, and × when they deviate by 10% even at one point.
실시예에서는 모두 극히 우수한 것으로 판단되었으며, 비교예 1의 렉타입에서는 트렌치에 기포에 의한 보이드로 불량이 되었다.It was judged that all were extremely excellent in the Example, and in the rack type of the comparative example 1, it became defect by the void by the bubble in a trench.
상술한 바와 같이, 본 발명은 어떠한 환경 하에서도 정밀도금이 가능한 새로운 형태의 도금장치를 제공하고자 연구한 결과 개발된 발명으로서, 평판으로부터 높은 범퍼나 좁고 깊은 트렌치를 가지는 웨이퍼에서도 정밀도금이 가능하도록 하는 장치를 제공하며, 또한 도금장치는 매뉴얼 조작이 필요 없도록 하여 청정환경 하에서 도금이 이루어지도록 함으로서 소재에 부착되는 먼지로 인한 불량을 원천적으로 방지하며, 특히 그러한 장치가 간편하면서도 경제적으로 이루어지도록 하는 효과적인 발명이다.As described above, the present invention was developed as a result of researches to provide a new type of plating apparatus capable of precision plating under any circumstances, and has been developed to enable precision machining even on wafers having high bumpers or narrow deep trenches from flat plates. The present invention provides an apparatus, and the plating apparatus prevents defects caused by dust adhering to the material by eliminating manual operation so that plating is performed in a clean environment, and in particular, an effective invention for making such a device simple and economical. to be.
Claims (4)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020020012946A KR20030073398A (en) | 2002-03-11 | 2002-03-11 | Reverse fountain type plating apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020020012946A KR20030073398A (en) | 2002-03-11 | 2002-03-11 | Reverse fountain type plating apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030073398A true KR20030073398A (en) | 2003-09-19 |
Family
ID=32224241
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020020012946A KR20030073398A (en) | 2002-03-11 | 2002-03-11 | Reverse fountain type plating apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20030073398A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106119921A (en) * | 2016-08-22 | 2016-11-16 | 竞陆电子(昆山)有限公司 | Pcb plating line |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02129393A (en) * | 1988-11-07 | 1990-05-17 | Fujitsu Ltd | Production of semiconductor device |
JPH03202488A (en) * | 1989-12-29 | 1991-09-04 | Nec Corp | Plating device |
JPH0428897A (en) * | 1990-05-25 | 1992-01-31 | Shimada Phys & Chem Ind Co Ltd | Wafer treating equipment |
US6159354A (en) * | 1997-11-13 | 2000-12-12 | Novellus Systems, Inc. | Electric potential shaping method for electroplating |
JP2001049498A (en) * | 1999-08-10 | 2001-02-20 | Ebara Corp | Plating device |
-
2002
- 2002-03-11 KR KR1020020012946A patent/KR20030073398A/en not_active Application Discontinuation
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02129393A (en) * | 1988-11-07 | 1990-05-17 | Fujitsu Ltd | Production of semiconductor device |
JPH03202488A (en) * | 1989-12-29 | 1991-09-04 | Nec Corp | Plating device |
JPH0428897A (en) * | 1990-05-25 | 1992-01-31 | Shimada Phys & Chem Ind Co Ltd | Wafer treating equipment |
US6159354A (en) * | 1997-11-13 | 2000-12-12 | Novellus Systems, Inc. | Electric potential shaping method for electroplating |
JP2001049498A (en) * | 1999-08-10 | 2001-02-20 | Ebara Corp | Plating device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106119921A (en) * | 2016-08-22 | 2016-11-16 | 竞陆电子(昆山)有限公司 | Pcb plating line |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100780071B1 (en) | Method and apparatus for electrochemical mechanical deposition | |
US10092933B2 (en) | Methods and apparatuses for cleaning electroplating substrate holders | |
US9476139B2 (en) | Cleaning electroplating substrate holders using reverse current deplating | |
KR102583188B1 (en) | Method for uniform flow behavior in an electroplating cell | |
US7351315B2 (en) | Chambers, systems, and methods for electrochemically processing microfeature workpieces | |
US7585398B2 (en) | Chambers, systems, and methods for electrochemically processing microfeature workpieces | |
CN1585835A (en) | Electropolishing assembly and methods for electropolishing conductive layers | |
CN107604426A (en) | Electroplanting device and electro-plating method | |
US20050121317A1 (en) | Chambers, systems, and methods for electrochemically processing microfeature workpieces | |
JP2003526004A (en) | Electroplating system with auxiliary electrodes external to the main reaction chamber for contact cleaning operations | |
CN1652898A (en) | Process control in electro-chemical mechanical polishing | |
CN1659315A (en) | Apparatus and methods for electrochemical processing of microelectronic workpieces | |
CN1454266A (en) | Anode assembly for plating and planarizing a conductive layer | |
CN1572911A (en) | Apparatus and method for plating a substrate | |
US6627052B2 (en) | Electroplating apparatus with vertical electrical contact | |
CN1623012A (en) | Method and associated apparatus for tilting a substrate upon entry for metal deposition | |
US7374646B2 (en) | Electrolytic processing apparatus and substrate processing method | |
US20070158202A1 (en) | Plating apparatus and method for controlling plating solution | |
CN106191975A (en) | electroplating device | |
KR100834174B1 (en) | Anode assembly and process for supplying electrolyte a planar substrate surface | |
US4033832A (en) | Method for selective plating | |
US7108776B2 (en) | Plating apparatus and plating method | |
KR20030073398A (en) | Reverse fountain type plating apparatus | |
JP5749302B2 (en) | Plating method | |
KR101426373B1 (en) | Apparatus to Plate Substrate |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |