Nothing Special   »   [go: up one dir, main page]

KR102681286B1 - 전자 패널 - Google Patents

전자 패널 Download PDF

Info

Publication number
KR102681286B1
KR102681286B1 KR1020190028408A KR20190028408A KR102681286B1 KR 102681286 B1 KR102681286 B1 KR 102681286B1 KR 1020190028408 A KR1020190028408 A KR 1020190028408A KR 20190028408 A KR20190028408 A KR 20190028408A KR 102681286 B1 KR102681286 B1 KR 102681286B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
patterns
pattern
connection
coordinate
group
Prior art date
Application number
KR1020190028408A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20200109436A (ko
Inventor
양성진
김성희
박현식
유춘기
이창호
Original Assignee
삼성디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성디스플레이 주식회사 filed Critical 삼성디스플레이 주식회사
Priority to KR1020190028408A priority Critical patent/KR102681286B1/ko
Priority to US16/688,968 priority patent/US10782815B1/en
Priority to CN202010166516.9A priority patent/CN111696960B/zh
Publication of KR20200109436A publication Critical patent/KR20200109436A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102681286B1 publication Critical patent/KR102681286B1/ko

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
    • H01L22/32—Additional lead-in metallisation on a device or substrate, e.g. additional pads or pad portions, lines in the scribe line, sacrificed conductors
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • G06F3/0446—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means using a grid-like structure of electrodes in at least two directions, e.g. using row and column electrodes
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/0412—Digitisers structurally integrated in a display
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00—Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/01—Input arrangements or combined input and output arrangements for interaction between user and computer
    • G06F3/03—Arrangements for converting the position or the displacement of a member into a coded form
    • G06F3/041—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means
    • G06F3/044—Digitisers, e.g. for touch screens or touch pads, characterised by the transducing means by capacitive means
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
    • H01L22/34—Circuits for electrically characterising or monitoring manufacturing processes, e. g. whole test die, wafers filled with test structures, on-board-devices incorporated on each die, process control monitors or pad structures thereof, devices in scribe line
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04103—Manufacturing, i.e. details related to manufacturing processes specially suited for touch sensitive devices
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2203/00—Indexing scheme relating to G06F3/00 - G06F3/048
    • G06F2203/041—Indexing scheme relating to G06F3/041 - G06F3/045
    • G06F2203/04111—Cross over in capacitive digitiser, i.e. details of structures for connecting electrodes of the sensing pattern where the connections cross each other, e.g. bridge structures comprising an insulating layer, or vias through substrate

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Position Input By Displaying (AREA)

Abstract

복수의 단위 감지 영역들을 포함하는 베이스 기판, 단위 감지 영역들 각각에 배치되고 제1 방향을 따라 연장된 제1 연결 패턴을 포함하는 제1 감지 전극, 단위 감지 영역들 각각에 배치되고 제2 방향을 따라 연장된 제2 연결 패턴을 포함하는 제2 감지 전극, 및 단위 감지 영역들에 각각 배치된 복수의 좌표 패턴들을 포함하고, 좌표 패턴들 각각은, 각각이 제1 면적을 가진 복수의 제1 패턴들, 및 제1 패턴들로부터 이격되고, 각각이 제1 면적과 상이한 제2 면적을 가진 제2 패턴을 포함하고, 제1 패턴들 각각은 제2 패턴과 닮음(similarity) 관계를 가진다.

Description

전자 패널{ELECTRONIC PANEL}
본 발명은 전자 패널에 관한 것으로, 상세하게는 외부 입력을 감지하는 감지 유닛을 포함하는 전자 패널에 관한 것이다.
전자 장치는 전기적 신호에 따라 활성화된다. 전자 장치는 전자 패널 및 전자 모듈과 같은 다양한 전자 부품들로 구성된다. 전자 패널은 영상을 표시하는 표시 유닛이나, 외부 입력을 감지하는 감지 유닛을 포함할 수 있다. 전자 부품들은 다양하게 배열된 신호 라인들에 의해 전기적으로 서로 연결된다.
표시 유닛은 영상을 생성하는 발광 소자를 포함한다. 감지 유닛은 외부 입력을 감지하기 위한 감지 전극들을 포함할 수 있다. 감지 유닛은 감지 전극들이 배치된 영역 전면에 대해 고른 감도를 제공하도록 설계된다. 전자 패널 제조 공정에 있어서, 표시 유닛과 감지 유닛 각각에 대한 결함 발생 여부나 전기적 평가를 위한 다양한 검사 단계가 진행될 수 있다.
따라서, 본 발명은 감지 유닛의 검사 시간을 단축시켜 공정 비용이 절감될 수 있는 전자 패널을 제공하는 데 그 목적이 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널은 복수의 단위 감지 영역들을 포함하는 베이스 기판, 상기 단위 감지 영역들 각각에 배치되고 제1 방향을 따라 연장된 제1 연결 패턴, 및 상기 제1 연결 패턴의 일 측과 타 측에 각각 연결된 복수의 제1 메인 패턴들을 포함하는 제1 감지 전극, 상기 단위 감지 영역들 각각에 배치되고 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 연장된 제2 연결 패턴, 및 상기 제2 연결 패턴의 일 측과 타 측에 각각 연결된 복수의 제2 메인 패턴들을 포함하는 제2 감지 전극, 및 상기 단위 감지 영역들에 각각 배치된 복수의 좌표 패턴들을 포함하고, 상기 좌표 패턴들 각각은, 각각이 제1 면적을 가진 복수의 제1 패턴들, 및 상기 제1 패턴들로부터 이격되고, 각각이 상기 제1 면적과 상이한 제2 면적을 가진 제2 패턴을 포함하고, 상기 제1 패턴들 각각은 상기 제2 패턴과 닮음(similarity) 관계를 가진다.
상기 제1 패턴들 각각의 최대 대각선 길이와 상기 제2 패턴의 최대 대각선 길이의 차이는 2㎛ 이하일 수 있다.
상기 제1 연결 패턴과 상기 제2 연결 패턴은 절연층을 사이에 두고 서로 이격되어 배치되고, 상기 제1 패턴들 및 상기 제2 패턴은 각각 상기 절연층을 관통하는 관통홀들을 포함할 수 있다.
상기 제1 연결패턴은, 상기 제2 연결 패턴과 다른 층 상에 배치된 제1 연결부, 상기 제2 연결 패턴과 다른 층 상에 배치되고 상기 제1 연결부로부터 이격된 제2 연결부, 및 상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부 사이에 배치되고 상기 제2 연결 패턴과 동일 층 상에 배치되며 상기 제2 연결 패턴으로부터 평면상에서 이격된 아일랜드부를 포함하고, 상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부는 상기 절연층을 관통하여 상기 아일랜드부에 각각 연결될 수 있다.
상기 좌표 패턴은 상기 아일랜드부와 평면상에서 중첩할 수 있다.
상기 제1 및 제2 연결부들과 상기 아일랜드부는 상이한 물질을 포함할 수 있다.
상기 제1 패턴들 및 상기 제2 패턴은 상기 제1 연결 패턴, 상기 제2 연결 패턴, 상기 제1 메인 패턴들, 및 상기 제2 메인 패턴들 중 어느 하나를 관통하는 관통홀들을 포함할 수 있다.
상기 좌표 패턴들 각각은, 일 방향을 따라 서로 이격되어 배열된 복수의 홀 패턴들을 포함하는 제1 그룹의 홀 패턴들, 및 상기 일 방향과 상이한 방향을 따라 서로 이격되어 배열되고 상기 제1 그룹의 홀 패턴들로부터 이격된 제2 그룹의 홀 패턴들을 포함하고, 상기 제1 그룹의 홀 패턴들 중 어느 하나는 상기 제2 패턴을 포함하고, 상기 제1 그룹의 홀 패턴들 중 나머지는 상기 제1 패턴들을 포함할 수 있다.
상기 제1 그룹의 홀 패턴들은 상기 제2 그룹의 홀 패턴들의 가장 자리를 에워싸며 배열될 수 있다.
상기 제1 그룹의 홀 패턴들과 상기 제2 그룹의 홀 패턴들은 서로 상이한 형상을 가질 수 있다.
상기 제1 그룹의 홀 패턴들과 상기 제2 그룹의 홀 패턴들은 서로 상이한 크기를 가질 수 있다.
상기 제1 그룹의 홀 패턴들의 수와 상기 제2 그룹의 홀 패턴들의 수는 서로 상이할 수 있다.
상기 단위 감지 영역들 각각의 제2 패턴의 위치는 서로 상이할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널은 복수의 제1 연결 패턴들, 및 상기 제1 연결 패턴들 사이에 각각 배치되어 상기 제1 연결 패턴들에 연결된 복수의 제1 메인 패턴들을 포함하는 제1 감지 전극, 절연층을 사이에 두고 상기 제1 연결 패턴으로부터 이격된 복수의 제2 연결 패턴들, 및 상기 제2 연결 패턴들 사이에 각각 배치되어 상기 제2 연결 패턴들에연결된 복수의 제2 메인 패턴들을 포함하는 제2 감지 전극, 및 상기 제1 감지 전극 및 상기 제2 감지 전극 중 적어도 어느 하나에 배치된 복수의 좌표 패턴들을 포함하고, 상기 제1 연결 패턴들 각각은, 상기 제1 메인 패턴들로부터 이격된 아일랜드부, 상기 제1 메인 패턴들 중 하나와 상기 아일랜드부를 연결하는 제1 연결부, 및 상기 제1 메인 패턴들 중 다른 하나와 상기 아일랜드부를 연결하는 제2 연결부를 포함하고, 상기 좌표 패턴들 각각은, 상기 아일랜드부에 배치된다.
상기 아일랜드부는 상기 제2 메인 패턴들과 동일 층 상에 배치될 수 있다.
상기 제2 연결 패턴들 및 상기 제2 메인 패턴들로부터 평면상에서 이격될 수 있다.
상기 좌표 패턴들은 상기 절연층을 관통하는 복수의 관통홀들을 포함하고, 상기 아일랜드부는 상기 관통홀들을 따라 굴곡진 상면을 가질 수 있다.
상기 좌표 패턴들은 상기 아일랜드부를 관통하는 복수의 관통홀들을 포함할 수 있다.
상기 좌표 패턴들은 각각 서로 상이한 숫자 형상들을 가질 수 있다.
본 발명에 따르면, 전자 패널의 검사 공정 등이 단순화되고 공정 시간이 단축될 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 좌표 패턴이 자동 광학 검사 장비를 이용한 광학 검사 등에서 불량으로 해석되지 않을 수 있으므로, 다양한 검사 공정에서도 단위 감지 영역의 좌표 정보를 안정적으로 제공할 수 있다.
도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 결합 사시도이다.
도 1b는 도 1a에 도시된 전자 장치의 분해 사시도이다.
도 2a 및 도 2b는 도 1b에 도시된 전자 장치의 일부 구성들 각각의 평면도들이다.
도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다.
도 3b는 도 3a에 도시된 XX'영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 4a는 도 3b에 도시된 Ⅰ-Ⅰ'를 따라 자른 단면도이다.
도 4b는 도 3b에 도시된 Ⅱ-Ⅱ'를 따라 자른 단면도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 감지 유닛의 일부를 도시한 단면도이다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴들의 평면도들이다.
도 6c는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴의 평면도이다.
도 7a 및 도 7b는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴들의 평면도들이다.
도 8a 내지 도 8d는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴들의 평면도들이다.
도 9a 및 도 9b는 본 발명의 일 실시예에 따른 단위 감지 영역들의 일부를 도시한 평면도들이다.
도 10a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널의 일부 영역을 도시한 평면도이다.
도 10b는 도 10a에 도시된 일부 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 10c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널의 일부 영역을 확대하여 도시한 평면도이다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치 검사 방법을 도시한 순서도이다.
본 명세서에서, 어떤 구성요소(또는 영역, 층, 부분 등)가 다른 구성요소 "상에 있다", "연결 된다", 또는 "결합된다"고 언급되는 경우에 그것은 다른 구성요소 상에 직접 배치/연결/결합될 수 있거나 또는 그들 사이에 제3의 구성요소가 배치될 수도 있다는 것을 의미한다.
동일한 도면부호는 동일한 구성요소를 지칭한다. 또한, 도면들에 있어서, 구성요소들의 두께, 비율, 및 치수는 기술적 내용의 효과적인 설명을 위해 과장된 것이다.
"및/또는"은 연관된 구성들이 정의할 수 있는 하나 이상의 조합을 모두 포함한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
또한, "아래에", "하 측에", "위에", "상 측에" 등의 용어는 도면에 도시된 구성들의 연관관계를 설명하기 위해 사용된다. 상기 용어들은 상대적인 개념으로, 도면에 표시된 방향을 기준으로 설명된다.
다르게 정의되지 않는 한, 본 명세서에서 사용된 모든 용어 (기술 용어 및 과학 용어 포함)는 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에서 정의된 용어와 같은 용어는 관련 기술의 맥락에서 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하고, 이상적인 또는 지나치게 형식적인 의미로 해석되지 않는 한, 명시적으로 여기에서 정의된다.
"포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 대해 설명한다.
도 1a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 결합 사시도이다. 도 1b는 도 1a에 도시된 전자 장치의 분해 사시도이다. 이하, 도 1a 및 도 1b를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다.
전자 장치(EA)는 전기적 신호에 따라 활성화되는 장치일 수 있다. 전자 장치(EA)는 다양한 실시예들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 전자 장치(EA)는 태블릿, 노트북, 컴퓨터, 스마트 텔레비전 등을 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 전자 장치(EA)는 스마트 폰으로 예시적으로 도시되었다.
도 1에 도시된 것과 같이, 전자 장치(EA)는 전면(FS)에 영상(IM)을 표시할 수 있다. 전면(FS)은 제1 방향(DR1)과 제2 방향(DR2)이 정의하는 면에 평행하게 정의될 수 있다.
전자 장치(EA)는 영상(IM)을 표시한다. 영상(IM)은 정적 영상과 동적 영상 중 적어도 어느 하나를 포함할 수 있다. 도 1에서 영상(IM)의 일 예로 시계와 복수의 아이콘들이 도시되었다.
전면(fs0의 법선 방향은 전자 장치(EA)의 두께 방향(DR3, 이하, 제3 방향)과 대응될 수 있다. 본 실시예에서는 영상(IM)이 표시되는 방향을 기준으로 각 부재들의 전면(또는 상면)과 배면(또는 하면)이 정의된다. 전면과 배면은 제3 방향(DR3)에서 서로 대향(opposing)된다.
한편, 제1 내지 제3 방향들(DR1, DR2 DR3)이 지시하는 방향은 상대적인 개념으로서 다른 방향으로 변환될 수 있다. 이하, 제1 내지 제3 방향들은 제1 내지 제3 방향들(DR1, DR2, DR3)이 각각 지시하는 방향으로 동일한 도면 부호를 참조한다.
본 발명에 따른 전자 장치(EA)는 외부에서 인가되는 사용자의 입력(TC)을 감지할 수 있다. 사용자의 입력(TC)은 사용자 신체의 일부, 광, 열, 또는 압력 등 다양한 형태의 외부 입력들을 포함한다. 또한, 전자 장치(EA)는 전자 장치(EA)에 접촉하는 입력은 물론, 근접하거나 인접하는 비접촉 입력을 감지할 수도 있다.
본 실시예에서, 사용자의 입력(TC)은 전면에 인가되는 사용자의 손으로 도시되었다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 상술한 바와 같이 사용자의 입력(TC)은 다양한 형태로 제공될 수 있고, 또한, 전자 장치(EA)는 전자 장치(EA)의 구조에 따라 전자 장치(EA)의 측면이나 배면에 인가되는 사용자의 입력(TC)을 감지할 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
전자 장치(EA)는 윈도우(100), 전자 패널(200), 회로 기판(300), 및 외부 케이스(400)를 포함할 수 있다. 윈도우(100)와 외부 케이스(400)는 결합되어 전자 장치(EA)의 외관을 정의한다.
윈도우(100)는 전자 패널(200) 상에 배치되어 전자 패널(200)의 상면(IS)을 커버한다. 윈도우(100)는 광학적으로 투명한 전기적으로 절연인 물질을 포함할 수 있다. 전자 패널(200)은 이미지(IM)를 표시하고 외부 입력(TC)을 감지할 수 있다. 전자 패널(200)은 액티브 영역(AA) 및 주변 영역(NAA)을 포함하는 상면(IS)을 포함한다. 액티브 영역(AA)은 전기적 신호에 따라 활성화되는 영역일 수 있다.
본 실시예에서, 액티브 영역(AA)은 이미지(IM)가 표시되는 영역이며, 외부 입력(TC)이 감지되는 영역일 수 있다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 액티브 영역(AA) 내에서 이미지(IM)가 표시되는 영역과 외부 입력(TC)이 감지되는 영역이 서로 분리될 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
주변 영역(NAA)은 베젤 영역(BZA)에 의해 커버되는 영역일 수 있다. 주변 영역(NAA)은 액티브 영역(AA)에 인접한다. 주변 영역(NAA)은 액티브 영역(AA)을 에워쌀 수 있다. 주변 영역(NAA)에는 액티브 영역(AA)을 구동하기 위한 구동 회로나 구동 배선 등이 배치될 수 있다.
주변 영역(NAA)에는 액티브 영역(AA)에 전기적 신호를 제공하는 각종 신호 라인들이나 패드들(PD), 또는 전자 소자 등이 배치될 수 있다. 주변 영역(NAA)은 베젤 영역(BZA)에 의해 커버되어 외부에서 시인되지 않을 수 있다.
본 실시예에서, 전자 패널(200)은 액티브 영역(AA) 및 주변 영역(NAA)이 윈도우(100)를 향하는 평탄한 상태로 조립된다. 다만 이는 예시적으로 도시한 것이고, 전자 패널(200)중 주변 영역(NAA)의 일부 또는 액티브 영역의 일부는 휘어질 수도 있다.
전자 패널(200)의 일부가 휘어지는 경우, 주변 영역(NAA) 중 일부는 전자 장치(EA)의 배면을 향하게 되어, 전자 장치(EA) 전면에서의 베젤 영역(BZA)이 감소될 수 있다. 또는, 전자 패널(200)은 액티브 영역(AA)의 일부도 휘어진 상태로 조립될 수도 있다. 또는, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널(200)에 있어서 주변 영역(NAA)은 생략될 수도 있다.
회로 기판(300)은 전자 패널(200)에 연결될 수 있다. 회로 기판(300)은 연성 기판(CF) 및 메인 기판(MB)을 포함할 수 있다. 연성 기판(CF)은 절연 필름 및 절연 필름 상에 실장된 도전 배선들을 포함할 수 있다. 도전 배선들은 패드들(PD)에 접속되어 회로 기판(300)과 전자 패널(200)을 전기적으로 연결한다.
본 실시예에서, 연성 기판(CF)은 휘어진 상태로 조립될 수 있다. 이에 따라, 메인 기판(MB)은 전자 패널(200)의 배면에 배치되어 외부 케이스(400)가 제공하는 공간 내에 안정적으로 수용될 수 있다. 한편, 본 실시예에서, 연성 기판(CF)은 생략될 수도 있으며, 이때 메인 기판(MB)은 전자 패널(200)에 직접 접속될 수도 있다.
메인 기판(MB)은 미 도시된 신호 라인들 및 전자 소자들을 포함할 수 있다. 전자 소자들은 신호 라인들에 접속되어 전자 패널(200)과 전기적으로 연결될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(EA)에 있어서, 액티브 영역(AA)에 전기적 신호를 제공하는 구동회로는 전자 패널(200)에 직접 실장될 수도 있다. 이때, 구동 회로는 칩(chip) 형태로 실장되거나, 화소들(PX)과 함께 형성될 수도 있다. 이때, 회로 기판(300)의 면적이 감소되거나 생략될 수도 있다. 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치(EA)는 다양한 실시예들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
도 2a 및 도 2b는 도 1b에 도시된 전자 장치의 일부 구성들 각각의 평면도들이다. 도 3a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치의 일부를 확대하여 도시한 평면도이다. 도 3b는 도 3a에 도시된 XX'영역을 확대하여 도시한 평면도이다. 이하, 도 2a 내지 도 3b를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다.
도 2a에는 전자 패널(200: 도 1b 참조)의 일 구성인 표시 유닛(210)의 평면도를 도시하였고, 도 2b에는 전자 패널(200)의 일 구성인 감지 유닛(220)의 평면도를 도시하였다. 본 실시예에서, 감지 유닛(220)은 표시 유닛(210) 상에 배치된 것으로 도시되었다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 감지 유닛(220)은 표시 유닛(210) 하 측에 배치되거나, 표시 유닛(210) 내부에 내재될 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 제공되지 않는다.
표시 유닛(210)은 실질적으로 영상(IM: 도 1a 참조)을 생성하는 구성이다. 표시 유닛(210)이 생성하는 영상(IM)은 윈도우(100)를 통해 외부에서 사용자에게 시인된다.
표시 유닛(210)은 베이스 기판(BS), 복수의 화소들(PX), 복수의 신호 라인들(GL, DL, PL), 및 복수의 표시 패드들(DPD)을 포함한다. 액티브 영역(AA) 및 주변 영역(NAA)은 베이스 기판(BS)에 의해 제공되는 영역들일 수 있다. 베이스 기판(BS)은 절연 기판을 포함할 수 있다. 예를 들어, 베이스 기판(BS)은 유리 기판, 플라스틱 기판, 또는 이들의 조합으로 구성될 수 있다.
신호 라인들(GL, DL, PL)은 화소들(PX)에 연결되어 화소들(PX)에 전기적 신호들을 전달한다. 표시 유닛(210)에 포함되는 신호 라인들 중 스캔 라인(GL), 데이터 라인(DL), 및 전원 라인(PL)을 예시적으로 도시하였다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 신호 라인들(GL, DL, PL)은 전원 라인, 초기화 전압 라인, 발광 제어 라인 중 적어도 어느 하나를 더 포함할 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
화소들(PX)은 액티브 영역(AA)에 배치될 수 있다. 본 실시예에서는 복수의 화소들 중 하나의 화소(PX)의 신호 회로도를 확대하여 예시적으로 도시하였다. 화소(PX)는 제1 박막 트랜지스터(TR1), 커패시터(CP), 제2 박막 트랜지스터(TR2), 및 발광 소자(EE)를 포함할 수 있다.
발광 소자(EE)는 전기적 신호에 따라 광을 발생시키거나 광량을 제어할 수 있다. 예를 들어, 발광 소자(EE)는 유기발광소자, 양자점 발광소자, 전기 영동 소자, 또는 전기 습윤 소자를 포함할 수 있다.
한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 화소들(PX) 각각은 다양한 구성과 배열을 가진 전자 소자들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
전원 패턴(VDD)은 주변 영역(NAA)에 배치된다. 본 실시예에서, 전원 패턴(VDD)은 복수의 전원 라인들(PL)과 접속된다. 이에 따라, 표시 유닛(210)은 전원 패턴(VDD)을 포함함으로써, 복수의 화소들에 동일한 전원 신호를 제공할 수 있다.
표시 패드들(DPD)은 제1 패드(P1) 및 제2 패드(P2)를 포함할 수 있다. 제1 패드(P1)는 복수로 구비되어 데이터 라인들(DL)에 각각 연결될 수 있다. 제2 패드(P2)는 전원 패턴(VDD)에 연결되어 전원 라인(PL)과 전기적으로 연결될 수 있다. 표시 유닛(210)은 표시 패드들(DPD)을 통해 외부로부터 제공된 전기적 신호들을 화소들(PX)에 제공할 수 있다. 한편, 표시 패드들(DPD)은 제1 패드(P1) 및 제2 패드(P2) 외에 다른 전기적 신호들을 수신하기 위한 패드들을 더 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
도 2b를 참조하면, 감지 유닛(220)은 표시 유닛(210) 상에 배치된다. 감지 유닛(220)은 외부 입력(TC: 도 1a 참조)을 감지하여 외부 입력(TC)의 위치나 세기 정보를 얻을 수 있다. 감지 유닛(220)은 복수의 제1 감지 전극들(TE1), 복수의 제2 감지 전극들(TE2), 복수의 라인들(TL1, TL2, TL3), 및 복수의 감지 패드들(T1, T2, T3)을 포함한다.
제1 감지 전극들(TE1) 및 제2 감지 전극들(TE2)은 액티브 영역(AA)에 배치된다. 감지 유닛(220)은 제1 감지 전극들(TE1) 및 제2 감지 전극들(TE2) 사이의 정전 용량의 변화를 통해 외부 입력(TC)에 대한 정보를 얻을 수 있다. 다만, 이는 예시적으로 기재한 것이고 감지 유닛(220)은 저항막 방식에 의해 구동되어 외부 입력(TC)에 대한 정보를 얻을 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
제1 감지 전극들(TE1)은 제1 방향(DR1)을 따라 배열되고 각각이 제2 방향(DR2)을 따라 연장된다. 제1 감지 전극들(TE1) 각각은 복수의 제1 메인 패턴(SP1) 및 서로 이웃하는 제1 메인 패턴들(SP1)을 연결하는 제1 연결 패턴(BP1)을 포함할 수 있다.
제1 메인 패턴(SP1)은 액티브 영역(AA)에 배치된다. 제1 메인 패턴(SP1)은 소정의 형상을 가지며, 제1 면적을 가진다. 본 실시예에서, 제1 메인 패턴(SP1)은 대체로 마름모 형상과 유사한 형상을 가질 수 있다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 제1 메인 패턴(SP1)은 다양한 형상을 가질 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
제1 연결 패턴(BP1)은 제2 방향(DR2)을 따라 연장된다. 제1 연결 패턴(BP1)은 제1 메인 패턴(SP1)에 연결된다. 제1 연결 패턴(BP1)은 두 개의 제1 메인 패턴들 사이에 배치되어 두 개의 제1 메인 패턴들을 연결할 수 있다.
제2 감지 전극들(TE2)은 제2 방향(DR2)을 따라 배열되고 각각이 제1 방향(DR1)을 따라 연장된다. 제2 감지 전극들(TE2) 각각은 제2 메인 패턴(SP2) 및 제2 연결 패턴(BP2)을 포함할 수 있다.
제2 메인 패턴(SP2)은 액티브 영역(AA)에 배치된다. 제2 메인 패턴(SP2)은 제1 메인 패턴(SP1)으로부터 물리적으로 이격될 수 있다. 본 실시예에서, 제1 메인 패턴(SP1)과 제2 메인 패턴(SP2) 사이의 이격은 단면상에서의 이격일 수 있다. 제1 메인 패턴(SP1)과 제2 메인 패턴(SP2)은 비 접촉하여 독립적인 전기적 신호들을 송수신할 수 있다.
본 실시예에서, 제2 메인 패턴(SP2)은 제1 메인 패턴(SP1)과 동일한 형상을 가질 수 있다. 예를 들어, 제2 메인 패턴(SP2)은 대체로 마름모 형상을 가질 수 있다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 제2 메인 패턴(SP2)은 다양한 형상을 가질 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
본 실시예에서, 제2 연결 패턴(BP2)은 제1 방향(DR1)을 따라 연장된다. 제2 연결 패턴(BP2)은 제2 메인 패턴(SP2)에 연결된다. 제2 연결 패턴(BP2)은 두 개의 제2 메인 패턴들 사이에 배치되어 두 개의 제2 메인 패턴들을 연결할 수 있다.
감지 라인들(TL1, TL2, TL3)은 주변 영역(NAA)에 배치된다. 감지 라인들(TL1, TL2, TL3)은 제1 감지 라인들(TL1), 제2 감지 라인들(TL2), 및 제3 감지 라인들(TL3)을 포함할 수 있다.
제1 감지 라인들(TL1)은 제1 감지 전극들(TE1)에 각각 연결된다. 본 실시예에서, 제1 감지 라인들(TL1)은 제1 감지 전극들(TE1)의 양단들 중 상측 단들에 각각 연결된다.
제2 감지 라인들(TL2)은 제2 감지 전극들의 일 단 들에 각각 연결된다. 본 실시예에서, 제2 감지 라인들(TL2)은 제2 감지 전극들(TE2)의 양단들 중 좌측 단들에 각각 연결된다.
제3 감지 라인들(TL3)은 제1 감지 전극들(TE1)의 양단들 중 하측 단들에 각각 연결된다. 본 발명의 일 실시예에 따르면, 제1 감지 전극들(TE1)은 제1 감지 라인들(TL1) 및 제3 감지 라인들(TL3)에 각각 연결될 수 있다. 이에 따라, 제2 감지 전극들(TE2)에 비해 상대적으로 긴 길이를 가진 제1 감지 전극들(TE1)에 대하여 영역에 따른 감도를 균일하게 유지시킬 수 있다. 한편, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 본 발명의 일 실시예에 따른 감지 유닛(220)에 있어서 제3 감지 라인들(TL3)은 생략될 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
감지 패드들(TPD)은 주변 영역(NAA)에 배치된다. 감지 패드들(T1, T2, T3)은 제1 감지 패드들(T1), 제2 감지 패드들(T2), 및 제3 감지 패드들(T3)를 포함할 수 있다. 제1 감지 패드들(T1)은 제1 감지 라인들(TL1)에 각각 연결되어 외부 신호를 제1 감지 전극들(TE1)에 제공한다. 제2 감지 패드들(T2)은 제2 감지 라인들(TL2)에 각각 연결되고 제3 감지 패드들(T3)은 제3 감지 라인들(TL3)에 각각 연결되어 제2 감지 전극들(TE2)과 전기적으로 연결된다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 감지 유닛(220)에 있어서, 액티브 영역(AA)은 n 개의 복수의 단위 감지 영역들(SU1, SUk, SUk +1, SUm, SUn)을 포함할 수 있다. 본 발명에서의 단위 감지 영역들(SU1, SUk, SUk +1, SUm, SUn) 각각은 외부 입력(TC)이 감지될 수 있는 최소 단위의 영역일 수 있다. 예를 들어, 단위 감지 영역들(SU1, SUk, SUk +1, SUm, SUn) 각각은 제1 및 제2 연결 패턴들(CP1, CP2)을 중심으로 두 개의 제1 메인 패턴들(SP1)의 면적의 1/2 영역 및 두 개의 제2 메인 패턴들(SP2)의 면적의 1/2 영역을 포함하는 영역으로 도시될 수 있다. 단위 감지 영역들(SU1, SUk, SUk +1, SUm, SUn)은 평면상에서 나란히 배열된다. 도 2b에는 용이한 설명을 위해 감지 영역들(SU) 중 일부의 단위 감지 영역들(SU1, SUk, SUk +1, SUm, SUn)을 점선 처리하여 도시하였다.
단위 감지 영역들(SU1, SUk, SUk +1, SUm, SUn)은 제1 방향(DR1)에 의해 정의되는 행 및 제2 방향(DR2)에 의해 정의되는 열을 따라 배열될 수 있다. 이에 따라, 단위 감지 영역들(SU1, SUk, SUk +1, SUm, SUn) 중 첫 번째 단위 감지 영역(SU1)은 첫 번째 행 및 첫 번째 열에 배치되고, 마지막 n 번째 단위 감지 영역(SUn)은 마지막 행 및 마지막 열에 배치될 수 있다.
도 3a 및 도 3b를 참조하면, 제1 연결 패턴(BP1)과 제2 연결 패턴(BP2)은 서로 교차하며 배치된다. 본 실시예에서, 제1 연결 패턴(BP1)과 제2 연결 패턴(BP2)은 하나의 단위 감지 영역(SU)의 중심에 배치될 수 있다.
제2 연결 패턴(BP2)은 제2 메인 패턴(SP2)과 연결된 일체의 형상을 가질 수 있다. 제2 연결 패턴(BP2)은 제2 메인 패턴(SP2)과 동일 층 상에 배치되어 인접하는 두 개의 제2 메인 패턴들(SP2)을 각각 연결한다.
제1 연결 패턴(BP1)은 인접하는 두 개의 제1 메인 패턴들(SP1) 사이를 연결한다. 본 실시예에서, 제1 메인 패턴들(SP1)은 제2 연결 패턴(BP2)을 사이에 두고 평면상에서 서로 이격되어 배치될 수 있다.
제1 연결 패턴(BP1)은 제1 연결부(B1), 제2 연결부(B2), 및 아일랜드부(B3)를 포함할 수 있다. 제1 연결부(B1)는 아일랜드부(B3)와 상측 제1 메인 패턴(SP1)을 연결한다. 제2 연결부(B2)는 아일랜드부(B3)와 하측 제1 메인 패턴(SP1)을 연결한다. 제1 연결부(B1)와 제2 연결부(B2)는 제2 메인 패턴(SP2) 및 제2 연결 패턴(BP2)과 다른 층 상에 배치될 수 있다.
아일랜드부(B3)는 제2 메인 패턴(SP2) 및 제2 연결 패턴(BP2)과 동일 층 상에 배치되고, 제2 메인 패턴(SP2) 및 제2 연결 패턴(BP2)으로부터 이격되어 배치될 수 있다. 아일랜드부(B3)는 제2 메인 패턴(SP2)에 형성된 개구부 또는 제2 연결 패턴(BP2)에 형성된 개구부 내에 배치될 수 있다.
본 실시예에서, 아일랜드부(B3)는 제2 메인 패턴(SP2)과 제2 연결 패턴(BP2)이 연결된 위치에 정의된 개구부(OP-TE2) 내에 배치될 수 있다. 아일랜드부(B3)와 제2 연결 패턴(BP2) 사이 및 아일랜드부(B3)와 제2 메인 패턴(SP2) 사이에는 소정의 이격 공간(GP)이 존재할 수 있다. 이에 따라, 아일랜드부(B3)는 제2 감지 전극(TE2)과 동일 층 상에 배치되더라도 전기적으로 절연될 수 있어 제2 감지 전극(TE2)으로부터 독립적인 전기적 신호를 송수신할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치에 있어서, 감지 유닛(220)은 좌표 패턴(CRP)을 더 포함한다. 좌표 패턴(CRP)은 각 단위 감지 영역(SU) 내에 배치될 수 있다. 본 실시예에서, 좌표 패턴(CRP)은 아일랜드부(B3)에 배치된 실시예로 예시적으로 도시되었다.
좌표 패턴(CRP)은 각 단위 감지 영역(SU)의 고유의 좌표 정보를 표시한다. 좌표 패턴(CRP)은 인접하는 단위 감지 영역(SU)의 좌표 패턴(CRP)을 구성하는 좌표 패턴으로부터 구별되는 형상을 가진다. 본 발명에 따르면, 좌표 패턴(CRP)의 확인을 통해 해당 단위 감지 영역(SU)의 위치를 용이하게 인식할 수 있어, 검사 단계 등이 단순화될 수 있다.
도 4a는 도 3b에 도시된 Ⅰ-Ⅰ'를 따라 자른 단면도이고, 도 4b는 도 3b에 도시된 Ⅱ-Ⅱ'를 따라 자른 단면도이다. 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 감지 유닛의 일부를 도시한 단면도이다. 도 5에는 용이한 설명을 위해 도 4a와 대응되는 영역을 도시하였다. 이하, 도 4a 내지 도 5를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다. 한편, 도 1a 내지 도 3b에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 4a 및 도 4b에 도시된 것과 같이, 제1 메인 패턴(SP1), 제2 메인 패턴(SP2), 및 제2 연결 패턴(BP2)은 동일 층 상에 배치된다. 제1 메인 패턴(SP1), 제2 메인 패턴(SP2), 및 제2 연결 패턴(BP2)은 감지 절연층(IL) 상에 배치된 것으로 도시되었고, 제2 연결 패턴(BP2)과 제2 메인 패턴(SP2)은 서로 연결되어 일체의 형상을 이루는 것으로 도시되었다.
제1 연결 패턴(BP1)은 제2 연결 패턴(BP2) 및 제2 메인 패턴(SP1)으로부터 전기적으로 절연될 수 있다. 제1 연결 패턴(BP1)를 구성하는 제1 연결부(B1), 제2 연결부(B2), 및 아일랜드부(B3) 중 적어도 어느 하나는 나머지 구성과 다른 층 상에 배치될 수 있다. 본 실시예에서, 제1 연결부(B1) 및 제2 연결부(B2)는 동일 층 상에 배치되고 아일랜드부(B3)는 다른 층 상에 배치된 것으로 도시되었다.
제1 연결부(B1) 및 제2 연결부(B2)는 표시 유닛(210)과 감지 절연층(IL) 사이에 배치된다. 제1 연결부(B1) 및 제2 연결부(B2)는 제1 메인 패턴(SP1), 제2 메인 패턴(SP2), 및 제2 연결부(B2)와 다른 층 상에 배치된다. 제1 연결부(B1) 및 제2 연결부(B2) 각각의 일 측 및 타 측은 컨택홀들(CH)을 통해 제1 메인 패턴(SP1)과 아일랜드부(B3)에 각각 연결된다.
아일랜드부(B3)는 제1 메인 패턴(SP1), 제2 메인 패턴(SP2), 및 제2 연결 패턴(BP2)과 동일 층 상에 배치된다. 아일랜드부(B3)는 제1 메인 패턴(SP1), 제2 메인 패턴(SP2), 및 제2 연결 패턴(BP2)으로부터 이격 공간(GP)을 사이에 두고 평면상에서 이격될 수 있다.
좌표 패턴(CRP)은 아일랜드부(B3)와 평면상에서 중첩한다. 좌표 패턴(CRP)은 해당 단위 감지 영역의 위치 값을 나타내며, 해당 단위 감지 영역의 고유의 좌표(coordinates) 또는 주소(address) 정보를 가진 패턴일 수 있다. 좌표 패턴(CRP)은 복수의 홀 패턴들(HP)을 포함할 수 있다. 홀 패턴들(HP)은 평면상에서 서로 이격되어 배치된다. 본 실시예에서 홀 패턴들(HP) 각각은 절연층(IL)을 관통하는 관통홀일 수 있다.
아일랜드부(B3)는 홀 패턴들(HP)을 따라 감지 절연층(IL) 상에 배치된다. 아일랜드부(B3)의 상면은 좌표 패턴(CRP)과 대응되는 굴곡을 가질 수 있다. 사용자는 아일랜드부(B3)에 형성된 굴곡을 통해 좌표 패턴(CRP)을 시인할 수 있다.
한편, 도 5에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴(CRP-1)은 아일랜드부(B3-1)에 정의될 수도 있다. 홀 패턴들(HP-1) 각각은 아일랜드부(B3-1)를 관통하는 관통홀일 수 있다. 사용자는 아일랜드부(B3-1)에 형성된 관통홀들을 통해 좌표 패턴(CRP-1)을 시인할 수 있다.
본 발명에 따르면, 사용자에 의해 좌표 패턴(CRP, CRP-1)이 시인될 수 있다면, 다양한 구성에 의해 형성될 수 있다. 본 발명에 따르면, 감지 전극에 형성된 굴곡이나 감지 전극에 형성된 관통홀을 좌표 패턴으로 이용함으로써, 각 단위 감지 영역들마다 고유의 좌표 패턴들을 형성할 수 있고, 사용자에게 용이하게 시인될 수 있는 좌표 패턴들을 제공할 수 있다.
도 6a 및 도 6b는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴들의 평면도들이다. 도 6c는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴들의 일부의 평면도이다. 도 6a 및 도 6b에는 용이한 설명을 위해 서로 다른 위치의 단위 감지 영역들의 좌표 패턴들을 도시하였고, 도 6c 에는 홀 패턴들을 도시하였다.
이하 도 6a 내지 도 6c를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다. 한편, 도 1a 내지 도 5에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 6a에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴(CRP)은 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19) 및 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)을 포함할 수 있다. 용이한 설명을 위해 홀 패턴들 마다 위치에 따른 고유 번호들(P00~P19)을 도시하였다.
제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 중심(CT)으로부터 제1 반경(A1)을 가진 원의 둘레를 따라 배열될 수 있다. 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19) 중 첫번째 홀 패턴(P10)부터 10번째 홀 패턴(P19)은 시계 방향으로 순차적으로 배열될 수 있다. 본 실시예에서, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 서로 동일한 간격으로 이격되어 배열된다.
제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)로부터 이격되어 배치된다. 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 중심(CT)으로부터 제2 반경(A2)을 가진 원의 둘레를 따라 배열될 수 있다. 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 중 첫번째 홀 패턴(P00)부터 10번째 홀 패턴(P09)은 시계 방향으로 순차적으로 배열될 수 있다. 본 실시예에서, 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 서로 동일한 간격으로 이격되어 배열된다.
본 실시예에서, 제2 반경(A2)은 제1 반경(A1)보다 작을 수 있다. 이에 따라, 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)에 의해 정의되는 원 형상의 내 측에 배치될 수 있다.
상술한 바와 같이, 사용자는 좌표 패턴(CRP)을 통해 해당 단위 감지 영역의 고유의 좌표, 즉 주소를 알 수 있다. 예를 들어, 해당 감지 영역이 N번째 감지 영역이라 할 때, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 N의 십의 자리 숫자 정보를 포함하고, 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 N의 일의 자리 숫자 정보를 포함할 수 있다.
제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 서로 동일한 직경(D1)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P11~P19)과 상대적으로 큰 직경(D2)을 가진 하나의 홀 패턴(P10)을 포함한다. 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19) 중 첫 번째 홀 패턴(P10)은 직경(D2)은 나머지 홀 패턴들(P11~P19) 각각의 직경(D1)에 비해 상대적으로 크게 도시되었다. 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19) 중 첫 번째 홀 패턴(P10)부터 마지막 홀 패턴(P19)까지 순차적으로 "0"부터 "9"를 의미한다고 가정할 때, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 N의 십의 자리 숫자가 "0"이라는 정보를 가진 것으로 볼 수 있다.
마찬가지로, 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 서로 동일한 직경(D3)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)과 상대적으로 큰 직경(D4)을 가진 하나의 홀 패턴(P07)을 포함한다. 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 중 여덟 번 째 홀 패턴(P07)의 직경(D4)은 나머지 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09) 각각의 직경(D3)에 비해 상대적으로 크게 도시되었다. 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 중 첫 번째 홀 패턴(P00)부터 마지막 홀 패턴(P09)까지 순차적으로 "0"부터 "9"를 의미한다고 가정할 때, 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 N의 일의 자리 숫자가 "7"이라는 정보를 가진 것으로 볼 수 있다.
즉, 도 6a에 도시된 좌표 패턴(CRP)은 7번째 단위 감지 영역에서의 좌표 패턴일 수 있다. 사용자는 좌표 패턴(CRP)에 포함된 홀 패턴들(P00~P19) 중 인접하는 홀 패턴과 상이한 크기를 가진 홀 패턴의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역의 좌표 정보를 용이하게 얻을 수 있다.
도 6b에 도시된 좌표 패턴(CRP1)은 도 6a에 도시된 단위 감지 영역과 다른 위치의 단위 감지 영역에 배치될 수 있다. 즉, 도 6b에 도시된 좌표 패턴(CRP1)은 도 6a에 도시된 좌표 패턴(CRP)과 다른 좌표 정보를 포함한다.
구체적으로, 도 6b를 참조하면, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19) 중 두 번째 홀 패턴(P11)이 나머지 홀 패턴들(P10, P12~P19)에 비해 상대적으로 큰 직경을 가진 것으로 도시되었다. 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 도 6a에 도시된 것과 대응되도록 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 중 여덟 번 째 홀 패턴(P07)이 나머지 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)에 비해 상대적으로 큰 직경을 가진 것으로 도시되었다.
도 6b에 도시된 좌표 패턴(CRP1)에 있어서, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 N의 십의 자리 숫자가 "1"이라는 정보를 나타내고 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 N의 일의 자리 숫자가 "7"이라는 정보를 나타내는 것으로 볼 수 있다. 즉, 좌표 패턴(CRP1)은 "17 번째" 단위 감지 영역의 좌표 패턴일 수 있다.
본 발명에 따르면, 인접하는 패턴들과 상이한 크기를 가진 패턴의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역의 좌표 정보를 용이하게 획득할 수 있다. 이때, 패턴의 크기는 육안을 통해 인접하는 패턴들과 구별 가능한 차이의 크기를 가질 수 있다.
예를 들어, 도 6c에 도시된 것과 같이, 제1 패턴(P1) 및 제2 패턴(P2)은 동일한 중심점(CTP)을 중심으로 서로 상이한 반경들(R1, R2)을 가진 원 형상을 가질 수 있다. 제1 패턴(P1)은 제1 반경(R1)을 가진 원 형상을 갖고, 제2 패턴(P2)은 제2 반경(R2)을 가진 원 형상을 가질 수 있다.
도 6a 및 도 6b에는 용이한 설명을 위해 좌표 정보를 포함하는 홀 패턴들을 제2 패턴(P2)으로 도시하고, 인접하는 나머지 홀 패턴들을 제1 패턴(P1)으로 도시하였다. 다만, 이는 예시적으로 도시한 것이고, 좌표 정보를 포함하는 홀 패턴들이 제2 패턴(P2)으로 도시되고, 인접하는 나머지 홀 패턴들이 제1 패턴(P1)으로 도시될 수도 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
본 실시예에서, 제1 패턴(P1)과 제2 패턴(P2)은 서로 닮음(similar) 관계를 가질 수 있다. 즉, 제1 패턴(P1)을 일정한 비율로 확대하면 제2 패턴(P2)과 합동인 형상이 될 수 있다. 반대로, 제2 패턴(P2)을 일정한 비율로 축소하면 제1 패턴(P1)과 합동인 형상이 될 수 있다.
제1 반경(R1)과 제2 반경(R2)의 차이는 육안으로 구별 가능한 정도를 갖는다. 제1 반경(R1)과 제2 반경(R2)의 차이가 과도하게 미세한 경우, 별도의 측정 장비가 필요하여 검사 공정 시간이 증가되거나 비용이 증가될 수 있다.
한편, 제1 반경(R1)과 제2 반경(R2)의 차이가 클수록 육안으로 구별이 용이하나, 광학 검사에서 불량이나 결함(defect)으로 인식될 수 있다. 또한, 좌표 패턴(CRP, CRP1)이 차지하는 면적이 증가될 수 있어, 좌표 패턴의 배치 자유도가 감소될 수 있다.
본 발명에 따르면, 제1 반경(R1)과 제2 반경(R2)의 차이는 약 1㎛이하일 수 있다. 이 경우, 인접하는 패턴과의 차이가 용이하게 식별되면서도 자동 광학 검사 장비를 이용한 광학 검사 등에서 불량으로 해석되지 않을 수 있어, 좌표 정보를 포함하는 좌표 패턴으로 안정적으로 기능할 수 있다.
도 7a 및 도 7b는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴들의 평면도들이다. 도 7a 및 도 7b에는 용이한 설명을 위해 7번째 단위 감지 영역에서의 좌표 패턴들(CRP_1, CRP_2)의 일 실시예들을 각각 도시하였으며, 도 6a와 대응되는 단위 감지 영역일 수 있다. 이하, 도 7a 및 도 7b를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다. 한편, 도 1a 내지 도 6c에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 7a에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴(CRP_1)에 있어서, 해당 단위 감지 영역의 좌표 정보 중 십의 자리를 의미하는 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 서로 동일한 직경(D11)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P11~P19)과 상대적으로 작은 직경(D21)을 가진 하나의 홀 패턴(P10)을 포함할 수 있다. 또한, 해당 단위 감지 영역의 좌표 정보 중 일의 자리를 의미하는 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 서로 동일한 직경(D31)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)과 상대적으로 작은 직경(D41)을 가진 하나의 홀 패턴(P07)을 포함할 수 있다.
상대적으로 작은 크기를 가진 홀 패턴들(P10, P07)은 나머지 홀 패턴들(P11~P19, P00~P06, P08, P09)과 닮음 관계일 수 있다. 홀 패턴들 사이의 크기 차이는 약 2㎛ 이하일 수 있다.
즉, 좌표 패턴(CRP_1)에 있어서, 인접하는 홀 패턴들과 구별되는 홀 패턴은 상대적으로 작은 크기를 가질 수 있다. 좌표 패턴(CRP_1)은 인접하는 홀 패턴들에 비해 상대적으로 작은 크기를 가진 홀 패턴들(P10, P07)의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역이 "7번째 단위 감지 영역"에 해당된다는 좌표 정보를 제공할 수 있다.
또는 도 7b에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴(CRP_2)에 있어서, 해당 단위 감지 영역의 좌표 정보 중 십의 자리를 의미하는 제1 그룹의 홀 패턴들(P11~P19)은 아홉 개의 홀 패턴들(P11~P19)만으로 이루어질 수도 있다. 이때, 도 7a에 도시된 첫 번째 홀 패턴(P10)은 생략되어 빈 공간(VC)으로 제공될 수 있다. 아홉 개의 홀 패턴들(P11~P19) 중 상이한 크기를 가진 홀 패턴이 없고 모두 동일한 크기로 제공된 경우, 해당 감지 영역의 좌표 정보 중 십의 자리는 "0"을 의미한다고 정의될 수 있다. 좌표 패턴(CRP_2)은 인접하는 홀 패턴들에 비해 상대적으로 작은 크기를 가진 홀 패턴들(P07)의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역이 "7번째 단위 감지 영역"에 해당된다는 좌표 정보를 제공할 수 있다.
본 발명에 따르면, 동일한 감지 영역에 대하여 다양한 형태의 좌표 패턴들(CRP_1, CRP_2)이 제공될 수 있다. 한편, 도시되지 않았으나, 전자 패널에 제공된 단위 감지 영역들의 총 개수가 100개 이상인 경우, 좌표 패턴들(CRP_1, CRP_2)은 제3 그룹의 홀 패턴들을 더 포함할 수도 있다. 본 발명에 따르면, 서로 닮음 관계를 가진 복수의 홀 패턴들 사이의 크기 차이를 통해 좌표 정보가 시인될 수 있다면, 좌표 패턴들(CRP_1, CRP_2)은 다양한 배열 및 다양한 형상으로 제공될 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
도 8a 내지 도 8d는 본 발명의 일 실시예에 따른 좌표 패턴들의 평면도들이다. 도 8a 내지 도 8d에는 용이한 설명을 위해 7번째 단위 감지 영역에서의 좌표 패턴들(CRP_3, CRP_4, CRP_5, CRP_6)의 일 실시예들을 각각 도시하였으며, 도 6a와 대응되는 단위 감지 영역일 수 있다. 이하, 도 8a 내지 도 8d를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다. 한편, 도 1a 내지 도 7b에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 8a에 도시된 것과 같이, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)과 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 서로 상이한 형상을 가질 수 있다. 본 실시예에서, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19) 각각은 타원 형상을 가질 수 있다. 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 서로 동일한 장변(D12)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P11~P19)과 상대적으로 큰 장변(D22)을 가진 하나의 홀 패턴(P10)을 포함할 수 있다. 첫 번째 홀 패턴(P10)과 나머지 홀 패턴들(P11~P19)은 닮음 관계를 가진다.
본 실시예에서, 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 각각은 원 형상을 가질 수 있다. 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 서로 동일한 직경(D32)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)과 상대적으로 큰 직경(D42)을 가진 하나의 홀 패턴(P07)을 포함할 수 있다. 여덟 번째 홀 패턴(P07)과 나머지 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)은 닮음 관계를 가진다. 좌표 패턴(CRP_3)은 인접하는 홀 패턴들에 비해 상대적으로 큰 크기를 가진 홀 패턴들(P10, P07)의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역이 "7번째 단위 감지 영역"에 해당된다는 좌표 정보를 제공할 수 있다.
좌표 패턴(CRP_3)에 있어서, 인접하는 홀 패턴들과 구별되는 홀 패턴은 상대적으로 큰 크기를 가질 수 있다. 한편, 서로 상이한 그룹에 속하는 홀 패턴들은 서로 상이한 형상을 가질 수도 있다. 이에 따라, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)과 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 사이의 구별이 보다 용이해지고 좌표 패턴(CRP_3)의 식별력이 향상될 수 있다.
도 8b에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴(CRP_4)은 다각 형상의 홀 패턴들을 포함할 수 있다. 본 실시예에서, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)과 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 각각은 사각 형상으로 도시되었다.
제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 서로 동일한 대각선(D14)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P11~P19)과 상대적으로 큰 대각선(D24)을 가진 하나의 홀 패턴(P10)을 포함할 수 있다. 첫 번째 홀 패턴(P10)과 나머지 홀 패턴들(P11~P19)은 닮음 관계를 가진다.
제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 서로 동일한 대각선(D34)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)과 상대적으로 큰 대각선(D44)을 가진 하나의 홀 패턴(P07)을 포함할 수 있다. 여덟 번째 홀 패턴(P07)과 나머지 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)은 닮음 관계를 가진다. 좌표 패턴(CRP_3)은 인접하는 홀 패턴들에 비해 상대적으로 큰 크기를 가진 홀 패턴들(P10, P07)의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역이 "7번째 단위 감지 영역"에 해당된다는 좌표 정보를 제공할 수 있다.
또는 도 8c에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴(CRP_5)은 마름모 형상의 홀 패턴들을 포함할 수 있다. 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 서로 동일한 대각선(D15)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P11~P19)과 상대적으로 큰 대각선(D25)을 가진 하나의 홀 패턴(P10)을 포함할 수 있다. 첫 번째 홀 패턴(P10)과 나머지 홀 패턴들(P11~P19)은 닮음 관계를 가진다.
제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09) 서로 동일한 대각선(D35)을 가진 아홉 개의 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)과 상대적으로 큰 대각선(D45)을 가진 하나의 홀 패턴(P07)을 포함할 수 있다. 여덟 번째 홀 패턴(P07)과 나머지 홀 패턴들(P00~P06, P08, P09)은 닮음 관계를 가진다. 좌표 패턴(CRP_5)은 인접하는 홀 패턴들에 비해 상대적으로 큰 크기를 가진 홀 패턴들(P10, P07)의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역이 "7번째 단위 감지 영역"에 해당된다는 좌표 정보를 제공할 수 있다.
또는 도 8d에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴(CRP_6)에 있어서, 홀 패턴들의 배열은 다양하게 제공될 수 있다. 본 실시예에서, 제1 그룹의 홀 패턴들(P10~P19)은 상하 방향으로 연장된 장변을 가진 타원 형상으로 배열될 수 있다. 또한, 제2 그룹의 홀 패턴들(P00~P09)은 상하 방향으로 연장된 직사각 형상으로 배열될 수 있다. 좌표 패턴(CRP_6)은 인접하는 홀 패턴들에 비해 상대적으로 큰 크기를 가진 홀 패턴들(P10, P07)의 위치를 통해 해당 단위 감지 영역이 "7번째 단위 감지 영역"에 해당된다는 좌표 정보를 제공할 수 있다.
본 발명에 따르면, 좌표 패턴(CRP_3, CRP_4, CRP_5, CRP_6)은 닮음 형상을 가진 패턴들의 배열을 통해 해당 단위 감지 영역의 좌표 정보를 제공할 수 있다면, 다양한 형상을 가진 홀 패턴들을 포함하거나, 다양한 형상으로 배열된 홀 패턴들을 포함할 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다.
도 9a 및 도 9b는 본 발명의 일 실시예에 따른 단위 감지 영역들의 일부를 도시한 평면도들이다. 도 9a 및 도 9b에는 용이한 설명을 위해 도 3b와 대응되는 영역을 도시하였다. 이하, 도 9a 및 도 9b를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다. 한편, 도 1a 내지 도 8d에서 설명한 구성과 동일한 구성에 해대서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 9a에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널에 있어서, 아일랜드부(B3: 도 3b 참조)는 생략될 수 있다. 전자 패널은 제1 메인 패턴들(SP1-21), 제2 메인 패턴들(SP2-21), 제1 연결 패턴(BP1-21), 제2 연결 패턴(BP2-21), 및 좌표 패턴(CRP-1)을 포함한다. 제1 연결 패턴(BP1-21)은 제1 메인 패턴들(SP1-21), 제2 메인 패턴들(SP2-21), 및 제2 연결 패턴(BP2-21)과 다른 층 상에 배치되고 컨택홀(CH)을 통해 제1 메인 패턴들(SP1-21)에 접속된다. 본 실시예에서, 제1 연결 패턴(BP1-21)은 제1 연결부(B1: 도 3b 참조) 및 제2 연결부(B2: 도 3b 참조)가 연결되어 일체의 형상을 이루는 것과 대응될 수 있다.
좌표 패턴(CRP-1)은 제2 연결 패턴(BP2-21)과 중첩하여 배치될 수 있다. 상술한 바와 같이, 좌표 패턴(CRP-1)은 제2 연결 패턴(BP2-21)을 관통하여 정의되거나, 감지 절연층(IL: 도 4a 참조)을 관통하여 정의될 수 있다.
좌표 패턴(CRP-1)은 제1 패턴(P1) 및 제1 패턴(P1)과 닮음 관계인 제2 패턴(P2)을 포함한다. 좌표 패턴(CRP-1)을 참조하면, 단위 감지 영역(SU-1)은 "7번째 감지 영역"과 대응될 수 있다.
또는, 도 9b에 도시된 것과 같이, 전자 패널은 제1 메인 패턴들(SP1-22), 제2 메인 패턴들(SP2-22), 제1 연결 패턴(BP1-22), 제2 연결 패턴(BP2-22), 및 좌표 패턴(CRP-2)을 포함한다. 제1 메인 패턴들(SP1-22), 제2 메인 패턴들(SP2-22), 제1 연결 패턴(BP1-22), 및 제2 연결 패턴(BP2-22)은 도 9a에 도시된 제1 메인 패턴들(SP1-21), 제2 메인 패턴들(SP2-21), 제1 연결 패턴(BP1-21), 및 제2 연결 패턴(BP2-21)에 각각 대응될 수 있다.
본 실시예에 따른 좌표 패턴(CRP-2)은 제1 메인 패턴들(SP1-22) 중 어느 하나와 중첩하여 배치될 수 있다. 단위 감지 영역(SU-2)은 실질적으로 도 9a에 도시된 감지 영역(SU-1)과 상이한 위치에 정의된 좌표 패턴(CRP-2)을 포함하나, 동일한 좌표 정보를 포함할 수 있다.
본 발명에 따르면, 좌표 패턴(CRP-1, CRP-2)은 단위 감지 영역(SU-1, SU-2) 내에서 다양한 위치에 제공될 수 있으며, 어느 하나의 실시예로 한정되지 않는다. 이에 따라, 단위 감지 영역 내에서 단위 감지 영역의 위치를 용이하게 파악할 수 있어, 검사 공정 등이 단순화되고 공정 시간이 단축될 수 있다.
도 10a는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널의 일부 영역을 도시한 평면도이다. 도 10b는 도 10a에 도시된 일부 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. 도 10c는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 패널의 일부 영역을 확대하여 도시한 평면도이다. 도 10a에는 서로 인접하는 11번째 단위 감지 영역(SU11)과 12번째 단위 감지 영역(SU12)을 도시하였다. 도 10b에는 도 10a에 도시된 XX'영역과 YY'영역을 함께 도시하였고, 도 10c에는 도 10b와 대응되는 영역을 도시하였다. 이하, 도 10a 내지 도 10c를 참조하여 본 발명에 대해 설명한다. 한편, 도 1a 내지 도 9b에서 설명한 구성과 동일한 구성에 대해서는 동일한 참조부호를 부여하고 중복된 설명은 생략하기로 한다.
도 10a에 도시된 것과 같이, 각 단위 감지 영역들(SU11, SU12)에는 제1 연결 패턴(CP1) 및 제2 연결 패턴(CP2)을 중심으로, 제1 메인 패턴들(SP1)의 면적들의 1/2이 되는 부분 및 제2 메인 패턴들(SP2)의 면적들의 1/2이 되는 부분이 배치될 수 있다. 도 10a에서 단위 감지 영역들(SU11, SU12) 사이의 경계는 하나의 제2 메인 패턴(SP2)의 중심을 지나는 것으로 예시적으로 도시되었다.
도 10b를 참조하면, 좌표 패턴들(CRP-31, CRP-32)은 제1 단위 감지 영역(SU11)과 제2 단위 감지 영역(SU12)에 각각 배치되어 제1 단위 감지 영역(SU11)과 제2 단위 감지 영역(SU12)의 좌표 정보들을 각각 제공할 수 있다. 이때, 좌표 패턴들(CRP-31, CRP-32) 각각은 숫자 형상을 가질 수 있다.
구체적으로, 제1 단위 감지 영역의 좌표 패턴(CRP-31)은 숫자 "11"의 형상을 가진다. 제1 단위 감지 영역의 좌표 패턴(CRP-31)은 제1 단위 감지 영역(SU11) 중 아일랜드부(B3)에 배치될 수 있다. 이에 대응하여, 제2 단위 감지 영역의 좌표 패턴(CRP-32)은 숫자 "12"의 형상을 가진다. 제2 단위 감지 영역의 좌표 패턴(CRP-32)은 제1 단위 감지 영역(SU12) 중 아일랜드부(B3)에 배치될 수 있다. 본 발명에 따르면, 아일랜드부(B3)에 배치된 좌표 감지 패턴(CRP-31, CRP-32)의 형상을 통해 해당 단위 감지 영역이 제1 단위 감지 영역(SU11) 또는 제2 단위 감지 영역(SU12)인지 여부가 용이하게 인지될 수 있다.
또는, 도 10c를 참조하면, 좌표 패턴들(CRP-41, CRP-42)은 제1 단위 감지 영역(SU11)과 제2 단위 감지 영역(SU12)의 제1 메인 패턴들(SP1)에 배치될 수도 있다. 좌표 패턴들(CRP-41, CRP-42)은 도 10b에 도시된 좌표 패턴들(CRP-31, CRP-32)과 같이 숫자 형상을 가질 수 있다. 본 발명에 따르면, 제1 메인 패턴들(SP1)에 배치된 좌표 감지 패턴(CRP-41, CRP-42)의 형상을 통해 해당 단위 감지 영역이 제1 단위 감지 영역(SU11) 또는 제2 단위 감지 영역(SU12)인지 여부가 용이하게 인지될 수 있다.
도 10a 내지 도 10c에 도시된 것과 같이, 좌표 패턴들(CRP-31, CRP-32, CRP-41, CRP-42)은 숫자 형상을 가질 수 있으며, 단위 감지 영역(SU11, SU12) 내에 배치된다면, 연결 패턴들(BP1, BP2)이나 메인 패턴들(SP1, SP2) 중 어느 위치에나 배치될 수 있다. 각 단위 감지 영역들(SU11, SU12)에 배치된 좌표 패턴들(CRP-31, CRP-32, CRP-41, CRP-42)은 숫자 형상을 가짐으로써, 각 좌표 정보의 시인성이 높아질 수 있다. 본 발명에 따르면, 자동 광학 검사(Automatic Optical Inspection, AOI) 등의 검사가 진행되지 않는 공정이나, 그 이전 공정에서 해당 단위 감지 영역의 위치 파악이 용이하게 이루어질 수 있다. 이에 따라, 전자 패널의 검사 공정이 단순화될 수 있다.
도 11은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자 장치 검사 방법을 도시한 순서도이다. 도 11에 도시된 것과 같이, 본 발명에 따른 전자 장치 검사 방법은 1차 검사 단계(S10) 및 2차 검사 단계(S20)를 포함할 수 있다.
1차 검사 단계(S10)는 광학 검사 단계일 수 있다. 1차 검사 단계(S10)는 자동 광학 검사(Automatic Optical Inspection, AOI)를 포함할 수 있다. 1차 검사 단계(S10)에서 전자 패널의 외관 검사가 이루어지며, 이물질의 존재 여부나 감지 전극을 구성하는 패턴들의 형상 이상 여부 등을 판별한다.
2차 검사 단계(S20)는 전기적 특성 검사 단계일 수 있다. 2차 검사 단계(S20)는 전자 패널에 전기적 신호를 인가하여 정상적인 동작이 이루어지는지 확인하는 검사를 포함할 수 있다. 2차 검사 단계(S20)에서 각 단위 감지 영역마다 전기적 특성이 평가될 수 있다.
이때, 비 정상적인 동작이 발생되는 단위 감지 영역의 경우, 결함 발생 여부 및 결함 원인 파악을 위해 단위 감지 영역을 검사하는 단계가 이루어질 수 있다. 사용자는 확대경 등을 통해 단위 감지 영역을 확대하여 단위 감지 영역의 불량 여부를 판단한다. 이때, 사용자는 좌표 패턴(CRP: 도 3a 참조)을 통해 해당 단위 감지 영역의 좌표 정보를 용이하게 얻을 수 있다. 이에 따라, 검사 단계의 시간이 절감되고 검사 단계가 단순화될 수 있다.
한편, 좌표 패턴(CRP) 내의 패턴 크기 차이는 1차 검사 단계(S10)에서 사용되는 광학 검사 장비에 의해 식별되지 않는 정도일 수 있다. 이에 따라, 단위 감지 영역들마다 상이한 좌표 패턴들을 제공하더라도, 1차 검사 단계(S10)에서 불량으로 검출되지 않을 수 있다. 따라서, 검사 단계의 안정성이 향상될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자 또는 해당 기술 분야에 통상의 지식을 갖는 자라면, 후술될 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 기술 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허청구범위에 의해 정하여져야만 할 것이다.
EA: 전자 장치 100: 윈도우
200: 전자 패널 SU: 단위 감지 영역
CRP: 좌표 패턴

Claims (20)

  1. 복수의 단위 감지 영역들을 포함하는 베이스 기판;
    상기 단위 감지 영역들 각각에 배치되고 제1 방향을 따라 연장된 제1 연결 패턴, 및 상기 제1 연결 패턴의 일 측과 타 측에 각각 연결된 복수의 제1 메인 패턴들을 포함하는 제1 감지 전극;
    상기 단위 감지 영역들 각각에 배치되고 상기 제1 방향과 교차하는 제2 방향을 따라 연장된 제2 연결 패턴, 및 상기 제2 연결 패턴의 일 측과 타 측에 각각 연결된 복수의 제2 메인 패턴들을 포함하는 제2 감지 전극; 및
    상기 단위 감지 영역들에 각각 배치된 복수의 좌표 패턴들을 포함하고,
    상기 좌표 패턴들 각각은,
    각각이 제1 면적을 가진 복수의 제1 패턴들; 및
    상기 제1 패턴들로부터 이격되고, 각각이 상기 제1 면적과 상이한 제2 면적을 가진 제2 패턴을 포함하고,
    상기 제1 패턴들 각각은 상기 제2 패턴과 닮음(similarity) 관계인 전자 패널.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 패턴들 각각의 최대 대각선 길이와 상기 제2 패턴의 최대 대각선 길이의 차이는 2㎛ 이하인 전자 패널.
  3. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 연결 패턴과 상기 제2 연결 패턴은 절연층을 사이에 두고 서로 이격되어 배치되고,
    상기 제1 패턴들 및 상기 제2 패턴은 각각 상기 절연층을 관통하는 관통홀들을 포함하는 전자 패널.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 제1 연결패턴은,
    상기 제2 연결 패턴과 다른 층 상에 배치된 제1 연결부;
    상기 제2 연결 패턴과 다른 층 상에 배치되고 상기 제1 연결부로부터 이격된 제2 연결부; 및
    상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부 사이에 배치되고 상기 제2 연결 패턴과 동일 층 상에 배치되며 상기 제2 연결 패턴으로부터 평면상에서 이격된 아일랜드부를 포함하고,
    상기 제1 연결부와 상기 제2 연결부는 상기 절연층을 관통하여 상기 아일랜드부에 각각 연결된 전자 패널.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 아일랜드부는 상기 제2 연결 패턴 또는 상기 제2 메인 패턴을 관통하는 개구부 내에 배치되고, 상기 제2 연결 패턴 또는 상기 제2 메인 패턴으로부터 평면상에서 이격된 전자 패널.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 좌표 패턴은 상기 아일랜드부에 배치된 전자 패널.
  7. 제5 항에 있어서,
    상기 제1 및 제2 연결부들과 상기 아일랜드부는 상이한 물질을 포함하는 전자 패널.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 제1 패턴들 및 상기 제2 패턴은 상기 제1 연결 패턴, 상기 제2 연결 패턴, 상기 제1 메인 패턴들, 및 상기 제2 메인 패턴들 중 어느 하나를 관통하는 관통홀들을 포함하는 전자 패널.
  9. 제1 항에 있어서,
    상기 좌표 패턴들 각각은,
    일 방향을 따라 서로 이격되어 배열된 복수의 홀 패턴들을 포함하는 제1 그룹의 홀 패턴들; 및
    상기 일 방향과 상이한 방향을 따라 서로 이격되어 배열되고 상기 제1 그룹의 홀 패턴들로부터 이격된 제2 그룹의 홀 패턴들을 포함하고,
    상기 제1 그룹의 홀 패턴들 중 어느 하나는 상기 제2 패턴을 포함하고, 상기 제1 그룹의 홀 패턴들 중 나머지는 상기 제1 패턴들을 포함하는 전자 패널.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 그룹의 홀 패턴들은 상기 제2 그룹의 홀 패턴들의 가장 자리를 에워싸며 배열된 전자 패널.
  11. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 그룹의 홀 패턴들과 상기 제2 그룹의 홀 패턴들은 서로 상이한 형상을 가진 전자 패널.
  12. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 그룹의 홀 패턴들과 상기 제2 그룹의 홀 패턴들은 서로 상이한 크기를 가진 전자 패널.
  13. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 그룹의 홀 패턴들의 수와 상기 제2 그룹의 홀 패턴들의 수는 서로 상이한 전자 패널.
  14. 제1 항에 있어서,
    상기 단위 감지 영역들 각각의 제2 패턴의 위치는 서로 상이한 전자 패널.
  15. 제1 연결 패턴, 및 상기 제1 연결 패턴 사이에 두고 서로 이격되어 각각이 상기 제1 연결 패턴에 연결된 복수의 제1 메인 패턴들을 포함하는 제1 감지 전극;
    절연층을 사이에 두고 상기 제1 연결 패턴으로부터 이격된 제2 연결 패턴, 및 상기 제2 연결 패턴을 사이에 두고 서로 이격되어 각각이 상기 제2 연결 패턴에 연결된 복수의 제2 메인 패턴들을 포함하는 제2 감지 전극; 및
    상기 제1 감지 전극에 배치된 좌표 패턴을 포함하고,
    상기 제1 연결 패턴은, 상기 제1 메인 패턴들로부터 이격된 아일랜드부, 상기 제1 메인 패턴들 중 하나와 상기 아일랜드부를 연결하는 제1 연결부, 및 상기 제1 메인 패턴들 중 다른 하나와 상기 아일랜드부를 연결하는 제2 연결부를 포함하고,
    상기 좌표 패턴은, 상기 아일랜드부에 배치된 전자 패널.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 아일랜드부는 상기 제2 메인 패턴들과 동일 층 상에 배치되고 상기 제2 연결 패턴들 및 상기 제2 메인 패턴들로부터 평면상에서 이격된 전자 패널.
  17. 제15 항에 있어서,
    상기 좌표 패턴은
    각각이 제1 면적을 가진 복수의 제1 패턴들; 및
    상기 제1 패턴들로부터 이격되고, 각각이 상기 제1 면적과 상이한 제2 면적을 가진 제2 패턴을 포함하고,
    상기 제1 패턴들 각각은 상기 제2 패턴과 닮음(similarity) 관계인 전자 패널.
  18. 제15 항에 있어서,
    상기 좌표 패턴들은 상기 절연층을 관통하는 복수의 관통홀들을 포함하고,
    상기 아일랜드부는 상기 관통홀들을 따라 굴곡진 상면을 가진 전자 패널.
  19. 제15 항에 있어서,
    상기 좌표 패턴들은 상기 아일랜드부를 관통하는 복수의 관통홀들을 포함하는 전자 패널.
  20. 제15 항에 있어서,
    상기 좌표 패턴들은 각각 서로 상이한 숫자 형상들을 가진 전자 패널.
KR1020190028408A 2019-03-12 2019-03-12 전자 패널 KR102681286B1 (ko)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190028408A KR102681286B1 (ko) 2019-03-12 2019-03-12 전자 패널
US16/688,968 US10782815B1 (en) 2019-03-12 2019-11-19 Electronic panel
CN202010166516.9A CN111696960B (zh) 2019-03-12 2020-03-11 电子面板

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190028408A KR102681286B1 (ko) 2019-03-12 2019-03-12 전자 패널

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20200109436A KR20200109436A (ko) 2020-09-23
KR102681286B1 true KR102681286B1 (ko) 2024-07-04

Family

ID=72422420

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190028408A KR102681286B1 (ko) 2019-03-12 2019-03-12 전자 패널

Country Status (3)

Country Link
US (1) US10782815B1 (ko)
KR (1) KR102681286B1 (ko)
CN (1) CN111696960B (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20220051901A (ko) * 2020-10-19 2022-04-27 삼성디스플레이 주식회사 터치 센서 및 이를 포함하는 표시 장치
KR20230017947A (ko) * 2021-07-28 2023-02-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101082293B1 (ko) 2009-09-04 2011-11-09 삼성모바일디스플레이주식회사 터치 스크린 패널
WO2012005205A1 (ja) * 2010-07-05 2012-01-12 Dic株式会社 透明導電層付き基体及びその製造方法、並びにタッチパネル用透明導電膜積層体、タッチパネル
KR102072966B1 (ko) * 2012-11-30 2020-02-05 삼성디스플레이 주식회사 표시기판 및 표시기판의 패턴 치수의 측정방법
KR102248884B1 (ko) * 2013-12-27 2021-05-06 삼성디스플레이 주식회사 터치 패널 및 표시 장치
KR102281109B1 (ko) * 2013-12-31 2021-07-23 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR20150092384A (ko) * 2014-02-03 2015-08-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 그 제조 방법
KR102263975B1 (ko) * 2014-12-16 2021-06-11 삼성디스플레이 주식회사 터치 패널 및 그 제조방법
KR102483456B1 (ko) * 2015-10-08 2022-12-30 삼성전자주식회사 수직형 메모리 장치 및 이의 제조 방법
US9698151B2 (en) * 2015-10-08 2017-07-04 Samsung Electronics Co., Ltd. Vertical memory devices
KR102410661B1 (ko) * 2015-11-13 2022-06-20 삼성디스플레이 주식회사 터치 패널 및 이를 포함하는 표시 장치
KR102532200B1 (ko) * 2015-12-09 2023-05-12 삼성전자 주식회사 테스트 패턴, 반도체 소자의 테스트 방법, 및 집적 회로의 레이아웃 설계를 위한 컴퓨터 구현 방법
KR20170082325A (ko) 2016-01-06 2017-07-14 엘지전자 주식회사 이동단말기 및 그 제어방법
KR102520103B1 (ko) 2016-07-11 2023-04-10 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102601207B1 (ko) * 2016-07-29 2023-11-13 삼성디스플레이 주식회사 표시장치
KR102563741B1 (ko) 2016-09-06 2023-08-08 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Also Published As

Publication number Publication date
CN111696960A (zh) 2020-09-22
KR20200109436A (ko) 2020-09-23
US10782815B1 (en) 2020-09-22
US20200293137A1 (en) 2020-09-17
CN111696960B (zh) 2024-10-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109859648B (zh) 一种显示面板及显示装置
EP3279722B1 (en) Display device
KR20240046130A (ko) 표시 패널, 이를 포함하는 전자 장치, 및 이의 제조 방법
CN101610634A (zh) 柔性印刷电路板、触摸板、显示面板和显示器
KR100488888B1 (ko) 표시장치용 어레이기판
KR102681286B1 (ko) 전자 패널
US20240045555A1 (en) Display device
KR102693244B1 (ko) 표시 장치
KR20240126853A (ko) 전자 장치 및 이의 제조 방법
KR20230115271A (ko) 터치스크린을 구비하는 평판표시장치 및 그의 제조방법
KR102575506B1 (ko) 터치 센서를 구비하는 표시장치
CN111694457B (zh) 触摸传感器以及显示装置
CN112310165A (zh) 显示装置
KR20210076299A (ko) 표시 장치 및 입력 센서
CN111813252B (zh) 触摸传感器以及显示装置
KR102513324B1 (ko) 표시 장치
KR102722111B1 (ko) 표시장치의 제조방법
CN111126210B (zh) 显示面板
US10747384B1 (en) Single layer capacitive touch matrix
KR20210127295A (ko) 표시 장치
CN111293159A (zh) 显示基板及显示装置
US20220400566A1 (en) Electronic device
CN116417475A (zh) 电子装置
KR20230102976A (ko) 디스플레이 장치
KR102187949B1 (ko) 터치윈도우

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right