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KR102680599B1 - Glass frit composition for forming solar cell electrode, solar cell electrode formed by using the same glass composition, and solar cell including the same electrode - Google Patents

Glass frit composition for forming solar cell electrode, solar cell electrode formed by using the same glass composition, and solar cell including the same electrode Download PDF

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KR102680599B1
KR102680599B1 KR1020210139702A KR20210139702A KR102680599B1 KR 102680599 B1 KR102680599 B1 KR 102680599B1 KR 1020210139702 A KR1020210139702 A KR 1020210139702A KR 20210139702 A KR20210139702 A KR 20210139702A KR 102680599 B1 KR102680599 B1 KR 102680599B1
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Abstract

태양 전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물, 이를 사용하여 형성된 태양 전지용 전극, 및 상기 전극을 포함하는 태양 전지에 관한 것으로, 상기 유리 프릿 조성물은 납(Pb)-텔루륨(Te)--비스무스(Bi)계 유리 프릿(glass frit)이 유리 프릿(glass frit)이다.
구체적으로, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고, 제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고, 제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고, 제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고, 제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고, 잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함하는 것이다.
It relates to a glass frit composition for forming solar cell electrodes, an electrode for solar cells formed using the same, and a solar cell including the electrode, wherein the glass frit composition includes lead (Pb) - tellurium (Te) -- bismuth (Bi) The glass frit is a glass frit.
Specifically, with respect to the total amount of the glass frit (100 mol%), lead oxide (PbO), which is a first metal oxide, is contained in an amount of 19 to 23 mol%, and tellurium oxide (TeO 2 ), which is a second metal oxide, is contained in an amount of 25 to 35 mol%. It contains 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), which is a third metal oxide, and 9 to 13 mol% of lithium oxide (Li 2 O), which is a fourth metal oxide. A glass frit raw material containing 2 to 3 mol% of sodium oxide (Na 2 O), which is a metal oxide, and the balance includes a sixth metal oxide, and the sixth metal oxide is different from the first to fifth metal oxides. It includes.

Description

태양 전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물, 이를 사용하여 형성된 태양 전지용 전극, 및 상기 전극을 포함하는 태양 전지 {GLASS FRIT COMPOSITION FOR FORMING SOLAR CELL ELECTRODE, SOLAR CELL ELECTRODE FORMED BY USING THE SAME GLASS COMPOSITION, AND SOLAR CELL INCLUDING THE SAME ELECTRODE}Glass frit composition for forming solar cell electrodes, electrodes for solar cells formed using the same, and solar cells comprising the electrodes THE SAME ELECTRODE}

본 발명은 전지에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 태양 전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물, 이를 사용하여 형성된 태양 전지용 전극, 및 상기 전극을 포함하는 태양 전지에 관한 것이다.The present invention relates to batteries, and more specifically, to a glass frit composition for forming solar cell electrodes, an electrode for solar cells formed using the same, and a solar cell including the electrode.

화석 에너지에 의한 환경오염 및 상기 화석 에너지의 고갈에 대한 우려에 따라, 차세대 청정 에너지를 개발하기 위한 연구가 활발하게 진행되고 있다. 상기 차세대 청정 에너지 중 특히 태양에너지는 자원이 풍부하고, 에너지의 생산과정에서 오염물질을 배출하지 않아 화석 에너지를 대체하기 위한 에너지원으로서 많은 연구가 진행되고 있다.In response to concerns about environmental pollution caused by fossil energy and depletion of the fossil energy, research to develop next-generation clean energy is actively underway. Among the next-generation clean energies, solar energy in particular has abundant resources and does not emit pollutants during the energy production process, so much research is being conducted as an energy source to replace fossil energy.

상기 태양에너지를 이용한 태양 전지는, 상기 태양 에너지를 전기 에너지로 변환하는 광전 변환 소자로서, 무한정 무공해의 차세대 에너지 자원으로 각광받고 있다. 이러한 태양 전지의 효율을 높이기 위해서는, 태양 에너지로부터 가능한 많은 전기 에너지를 출력할 수 있도록 하는 것이 중요하며, 대면적화하는 것이 하나의 방법이 될 수 있다.Solar cells using the solar energy are photoelectric conversion elements that convert the solar energy into electrical energy, and are attracting attention as an infinite, pollution-free next-generation energy resource. In order to increase the efficiency of these solar cells, it is important to be able to output as much electrical energy as possible from solar energy, and one way to increase the area is to increase the area.

그러나, 태양전지를 대면적화함에 따라, 반도체 기판과 전극 사이의 라인 저항 및 접촉 저항이 상승하여, 오히려 전지의 효율이 감소되는 문제가 될 수 있다. However, as the area of the solar cell increases, the line resistance and contact resistance between the semiconductor substrate and the electrode increase, which may actually reduce the efficiency of the battery.

본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는, 반도체 기판과 전극 사이의 접촉성을 향상시켜 라인 저항 및 접촉 저항을 최소화하면서도 열 안정성이 확보된 태양 전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물을 제공하는 것이다.The technical problem to be solved by the present invention is to provide a glass frit composition for forming solar cell electrodes that improves contact between a semiconductor substrate and an electrode, minimizes line resistance and contact resistance, and ensures thermal stability.

또한, 본 발명이 해결하고자 하는 다른 기술적 과제는, 상기 이점을 갖는 태양전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물을 사용하여 형성된 태양 전지용 전극을 제공하는 것이다.In addition, another technical problem to be solved by the present invention is to provide an electrode for a solar cell formed using a glass frit composition for forming a solar cell electrode having the above advantages.

또한, 본 발명이 해결하고자 하는 또 다른 기술적 과제는, 상기 이점을 갖는 태양 전지용 전극을 포함하는 태양 전지를 제공하는 것이다.In addition, another technical problem to be solved by the present invention is to provide a solar cell including an electrode for a solar cell having the above advantages.

태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물Glass frit composition for forming electrodes of solar cells

본 발명의 일 실시예에서, 납(Pb)- 텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿(glass frit)인, 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물을 제공한다. 구체적으로, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고, 제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고, 제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고, 제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고, 제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고, 잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함할 수 있다.In one embodiment of the present invention, a glass frit composition for forming electrodes of solar cells, which is a lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi) based glass frit, is provided. Specifically, with respect to the total amount of the glass frit (100 mol%), lead oxide (PbO), which is a first metal oxide, is contained in an amount of 19 to 23 mol%, and tellurium oxide (TeO 2 ), which is a second metal oxide, is contained in an amount of 25 to 35 mol%. It contains 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), which is a third metal oxide, and 9 to 13 mol% of lithium oxide (Li 2 O), which is a fourth metal oxide. A glass frit raw material containing 2 to 3 mol% of sodium oxide (Na 2 O), which is a metal oxide, and the balance includes a sixth metal oxide, and the sixth metal oxide is different from the first to fifth metal oxides. may include.

다른 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 1을 만족할 수 있다.In another embodiment, the glass frit may satisfy Equation 1 below.

[식 1] [Equation 1]

49<A=([PbO]+[TeO2]+[Bi2O3])<6649<A=([PbO]+[TeO 2 ]+[Bi 2 O 3 ])<66

(상기 식 1에서, [PbO], [TeO2], 및 [Bi2O3]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화납(PbO)의 함량(몰%), 상기 산화텔루륨(TeO2)(몰%), 및 상기 산화비스무스(Bi2O3)의 함량(몰%)을 의미한다.)(In Equation 1, [PbO], [TeO 2 ], and [Bi 2 O 3 ] are, respectively, the content (mol%) of the lead oxide (PbO) relative to the total amount of the glass frit (100 mol%), Tellurium oxide (TeO 2 ) (mol%), and the content (mol%) of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ).

또 다른 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 2를 만족할 수 있다.In another example, the glass frit may satisfy Equation 2 below.

[식 2] [Equation 2]

11<B=[Li2O]+[Na2O]<1611<B=[Li 2 O]+[Na 2 O]<16

(상기 식 2에서, [Li2O] 및 [Na2O]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 산화리튬(Li2O)의 함량(몰%) 및 상기 산화나트륨(Na2O)의 함량(몰%)을 의미한다.) (In Equation 2, [Li 2 O] and [Na 2 O] are the content (mol%) of lithium oxide (Li 2 O) and the sodium oxide (Na) relative to the total amount of glass frit (100 mol%), respectively. 2 This refers to the content (mol%) of O).

또 다른 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 3을 만족할 수 있다.In another example, the glass frit may satisfy Equation 3 below.

[식 3][Equation 3]

3.1<A/B<6.03.1<A/B<6.0

(상기 식 3에서, A는 식 1의 값을 의미하고, B는 식 2의 값을 의미한다.)(In Equation 3 above, A refers to the value of Equation 1, and B refers to the value of Equation 2.)

일 실시예에서, 상기 6 금속 산화물은, 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag2O), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 적어도 1종 이상의 유리 프릿 원료 물질을 포함할 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 4를 만족할 수 있다.In one embodiment, the six metal oxides include silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), silver oxide (Ag 2 O), copper oxide (CuO), and boron oxide (B 2 O). 3 ), and at least one glass frit raw material selected from the group including aluminum oxide (Al 2 O 3 ). In another embodiment, the glass frit may satisfy Equation 4 below.

[식 4] [Equation 4]

3<[ZnO]+[WO3]+[Al2O3]<113<[ZnO]+[WO 3 ]+[Al 2 O 3 ]<11

(상기 식 4에서, [ZnO], [WO3], 및 [Al2O3]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화납(PbO)의 함량(몰%), 상기 산화텔루륨(TeO2)(몰%), 및 상기 산화비스무스(Bi2O3)의 함량(몰%)을 의미한다.)(In Equation 4, [ZnO], [WO 3 ], and [Al 2 O 3 ] are each the content (mol%) of the lead oxide (PbO) relative to the total amount of the glass frit (100 mol%), Tellurium oxide (TeO 2 ) (mol%), and the content (mol%) of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ).

이와 관련하여, 이하의 설명들이 각각 독립적으로 적용될 수 있다.In this regard, the following descriptions can each be applied independently.

일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화규소(SiO2)를 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화규소(SiO2)이 16 내지 23 몰% 포함되고, 잔부로는 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag2O), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화구리(CuO)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화구리(CuO)이 0.2 내지 0.5 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag2O), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다.In one embodiment, the sixth metal oxide includes silicon oxide (SiO 2 ), and contains 16 to 23 mol% of silicon oxide (SiO 2 ) based on the total amount of the glass frit (100 mol%), The remainder includes zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), silver oxide (Ag 2 O), copper oxide (CuO), boron oxide (B 2 O 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). It may contain one or more metal oxides selected from the group. In one embodiment, the sixth metal oxide includes copper oxide (CuO), and contains 0.2 to 0.5 mol% of copper oxide (CuO) based on the total amount of the glass frit (100 mol%), with the balance being is a group including silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), silver oxide (Ag 2 O), boron oxide (B 2 O 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). It may contain one or more metal oxides selected from.

일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화은(Ag2O)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화은(Ag2O)이 0.5 내지 2.0 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화알루미늄(Al2O3), 산화구리(CuO), 및 산화붕소(B2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화붕소(B2O3)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화붕소(B2O3)가 0.5 내지 1.5 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag2O), 산화구리(CuO), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다. In one embodiment, the sixth metal oxide includes silver oxide (Ag 2 O), and contains 0.5 to 2.0 mol% of silver oxide (Ag 2 O) based on the total amount of the glass frit (100 mol%), The remainder includes silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), aluminum oxide (Al 2 O 3 ), copper oxide (CuO), and boron oxide (B 2 O 3 ). It may contain one or more metal oxides selected from the group. In one embodiment, the sixth metal oxide includes boron oxide (B 2 O 3 ), and the boron oxide (B 2 O 3 ) is 0.5 to 1.5 mol based on the total amount of the glass frit (100 mol%). %, and the remainder includes silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), silver oxide (Ag 2 O), copper oxide (CuO), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). It may contain one or more metal oxides selected from the group containing.

일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화알루미늄(Al2O3)이 0.4 내지 1.0 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag2O), 산화구리(CuO), 및 산화붕소(B2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다. 상기 유리 프릿은, 이하에서 설명되는 물성을 각각 독립적으로 만족할 수 있다. In one embodiment, the sixth metal oxide includes aluminum oxide (Al 2 O 3 ), and the aluminum oxide (Al 2 O 3 ) is 0.4 to 1.0 mol based on the total amount of the glass frit (100 mol%). %, and the balance includes silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), silver oxide (Ag 2 O), copper oxide (CuO), and boron oxide (B 2 O 3 ). It may contain one or more metal oxides selected from the group containing. The glass frit may independently satisfy the physical properties described below.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 연화점(Tdsp)은, 260 ℃ 내지 350 ℃의 온도 범위를 만족하는 것일 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 결정화 온도(Tc)는, 320 ℃ 내지 420 ℃의 온도 범위를 만족하는 것일 수 있다. In one embodiment, the softening point (Tdsp) of the glass frit may satisfy a temperature range of 260°C to 350°C. In one embodiment, the crystallization temperature (Tc) of the glass frit may satisfy a temperature range of 320°C to 420°C.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 라인 저항(Line Resistivity)은, 3.0 uΩㆍ㎝ 미만(단, 0 uΩㆍ㎝ 제외) 일 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 접촉 저항(Contact Resistivity)은, 2.0 mΩㆍ㎠ 미만(단, 0 mΩㆍ㎠ 제외)일 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 접착력(Adhesion)은, 1.5 N 보다 클 수 있다.In one embodiment, the line resistance of the glass frit may be less than 3.0 uΩ·cm (excluding 0 uΩ·cm). In one embodiment, the contact resistance of the glass frit may be less than 2.0 mΩ·cm2 (except 0 mΩ·cm2). In one embodiment, the adhesion of the glass frit may be greater than 1.5 N.

태양 전지태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물Solar cell Paste composition for forming solar cell electrodes

본 발명의 다른 일 구현예에서는, 도전성 분말; 유리 프릿(glass frit); 및 유기 비히클;을 포함하고, 상기 유리 프릿은 납(Pb)- 텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿인, 태양 전지태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물을 제공한다.In another embodiment of the present invention, conductive powder; glass frit; and an organic vehicle; wherein the glass frit is a lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi) based glass frit. The present invention provides a paste composition for forming electrodes of a solar cell.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고, 제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고, 제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고, 제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고, 제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고, 잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함할 수 있다.In one embodiment, 19 to 23 mol% of lead oxide (PbO), which is a first metal oxide, is included with respect to the total amount of glass frit (100 mol%), and the second metal oxide is contained in 19 to 23 mol%. It contains 25 to 35 mol% of tellurium oxide (TeO 2 ) as a metal oxide, 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ) as a third metal oxide, and lithium oxide (Li) as a fourth metal oxide. 2 O) is contained in an amount of 9 to 13 mol%, sodium oxide (Na 2 O), which is a fifth metal oxide, is contained in an amount of 2 to 3 mol%, and the balance contains a sixth metal oxide, wherein the sixth metal oxide is It may include a glass frit raw material different from the first to fifth metal oxides.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿은 전술한 것과 동일한 것일 수 있으며, 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 일 실시예에서, 상기 도전성 분말은, 은(Ag) 분말, 은(Ag) 함유 합금 분말, 알루미늄(Al) 분말, 알루미늄(Al) 함유 합금 분말, 구리(Cu) 분말, 알루미늄(Al) 함유 합금 분말, 니켈(Ni) 분말, 및 니켈(Ni) 함유 합금 분말을 포함하는 군에서 선택되는 적어도 1종 이상의 도전성 분말을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유기 비히클은, 유기 바인더 및 유기 용매를 포함할 수 있다.In one embodiment, the glass frit may be the same as the one described above, and redundant description thereof will be omitted. In one embodiment, the conductive powder is silver (Ag) powder, silver (Ag)-containing alloy powder, aluminum (Al) powder, aluminum (Al)-containing alloy powder, copper (Cu) powder, aluminum (Al)-containing alloy. It may include at least one type of conductive powder selected from the group including powder, nickel (Ni) powder, and nickel (Ni)-containing alloy powder. In one embodiment, the organic vehicle may include an organic binder and an organic solvent.

일 실시예에서, 상기 페이스트 조성물 총량(100 중량%)에 대해, 상기 도전성 분말은 86 내지 90 중량% 포함되고, 상기 유리 프릿은 1.5 내지 3.0 중량% 포함되고, 상기 유기 비히클은 7 내지 12.5 중량% 포함될 수 있다.In one embodiment, based on the total amount of the paste composition (100% by weight), the conductive powder is included in an amount of 86 to 90% by weight, the glass frit is included in an amount of 1.5 to 3.0% by weight, and the organic vehicle is included in an amount of 7 to 12.5% by weight. may be included.

일 실시예에서, 상기 페이스트 조성물은, 첨가제를 더 포함하는 것일 수 있다. 상기 첨가제는, 상기 페이스트 조성물 총량(100 중량%)에 대해, 0.1 내지 5 중량% 포함되는 것일 수 있다.In one embodiment, the paste composition may further include an additive. The additive may be included in an amount of 0.1 to 5% by weight based on the total amount (100% by weight) of the paste composition.

태양 전지의 전극solar cell electrodes

본 발명의 또 다른 일 실시예에서는, 전술한 유리 프릿 조성물을 사용하여 제조된 태양 전지용 전극을 제공한다.In another embodiment of the present invention, an electrode for a solar cell manufactured using the above-described glass frit composition is provided.

이와 독립적으로, 본 발명의 또 다른 일 실시예에서는, 전술한 페이스트 조성물을 사용하여 제조된 태양 전지태양 전지용 전극을 제공한다.Independently, in another embodiment of the present invention, an electrode for a solar cell manufactured using the above-described paste composition is provided.

태양 전지solar cell

본 발명의 또 다른 일 실시예에서는, 반도체 기판; 및 상기 반도체 기판의 적어도 일면에 위치하고, 전술한 유리 프릿 조성물을 사용하여 형성된 전극;을 포함하는, 태양 전지태양 전지를 제공할 수 있다. In another embodiment of the present invention, a semiconductor substrate; and an electrode located on at least one surface of the semiconductor substrate and formed using the glass frit composition described above. A solar cell including a solar cell can be provided.

이와 독립적으로, 본 발명의 또 다른 일 구현예에서는, 상기 반도체 기판의 적어도 일면에 위치하고, 전술한 페이스트 조성물을 사용하여 형성된 전극을 포함하는, 태양 전지태양 전지를 제공할 수 있다.Independently of this, in another embodiment of the present invention, a solar cell can be provided, which is located on at least one side of the semiconductor substrate and includes an electrode formed using the above-described paste composition.

본 발명의 일 실시예에 따른 태양 전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물은, 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고, 제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고, 제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고, 제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고, 제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고, 잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함함으로써, 전극 및 반도체 기판 사이의 접촉 저항을 낮추며 열 안정성이 확보할 수 있다.The glass frit composition for forming solar cell electrodes according to an embodiment of the present invention contains 19 to 23 mol% of lead oxide (PbO), which is a first metal oxide, based on the total amount of glass frit (100 mol%), and a second metal oxide. It contains 25 to 35 mol% of tellurium oxide (TeO 2 ) as a metal oxide, 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ) as a third metal oxide, and lithium oxide (Li) as a fourth metal oxide. 2 O) is contained in an amount of 9 to 13 mol%, sodium oxide (Na 2 O), which is a fifth metal oxide, is contained in an amount of 2 to 3 mol%, and the balance contains a sixth metal oxide, wherein the sixth metal oxide is By including a glass frit raw material different from the first to fifth metal oxides, the contact resistance between the electrode and the semiconductor substrate can be lowered and thermal stability can be ensured.

본 발명의 다른 실시예에 따른 태양 전지의 전극은 전술한 이점을 갖는 상기 태양 전지 전극 형성용 유리 프릿 조성물을 이용함으로써, 접촉 저항이 낮출 수 있다.The contact resistance of the solar cell electrode according to another embodiment of the present invention can be reduced by using the glass frit composition for forming solar cell electrodes, which has the above-mentioned advantages.

본 발명의 또 다른 실시예에 따른 태양전지는 전술한 이점을 갖는 상기 태양 전지의 전극을 이용함으로써, 태양 전지의 효율 및 열 안정성을 개선할 수 있다. The solar cell according to another embodiment of the present invention can improve the efficiency and thermal stability of the solar cell by using the solar cell electrode having the above-described advantages.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 태양 전지를 개략적으로 도식화한 것이다.Figure 1 is a schematic diagram of a solar cell according to an embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 구현예를 상세히 설명하기로 한다. 다만, 이는 예시로서 제시되는 것으로, 이에 의해 본 발명이 제한되지는 않으며 본 발명은 후술할 청구범위의 범주에 의해 정의될 뿐이다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail. However, this is presented as an example, and the present invention is not limited thereby, and the present invention is only defined by the scope of the claims to be described later.

도면에서 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 붙였다. 층, 막, 영역, 판 등의 부분이 다른 부분 "위에" 있다고 할 때, 이는 다른 부분 "바로 위에" 있는 경우 뿐만 아니라 그 중간에 또 다른 부분이 있는 경우도 포함한다. 반대로 어떤 부분이 다른 부분 "바로 위에" 있다고 할 때에는 중간에 다른 부분이 없는 것을 뜻한다.In the drawing, the thickness is enlarged to clearly express various layers and areas. Throughout the specification, similar parts are given the same reference numerals. When a part of a layer, membrane, region, plate, etc. is said to be “on” another part, this includes not only cases where it is “directly above” the other part, but also cases where there is another part in between. Conversely, when a part is said to be “right on top” of another part, it means that there is no other part in between.

일반적으로, 태양 전지의 전극은, 도전성 분말, 유리 프릿(glass), 및 유기 비히클을 혼합하고, 필요에 따라 첨가제를 더 첨가하여 페이스트(paste) 조성물을 제조하고, 이러한 페이스트 조성물을 반도체 기판의 일면 또는 양면에 도포하며 패터닝한 후, 도포된 페이스트 조성물을 소성하여 건조하는 일련의 공정에 따라 형성될 수 있다. 이러한 전극 형성 공정을 고려하면, 반도체 기판 및 그 위에 형성되는 전극 사이의 접촉성을 향상시킴으로써 라인 저항 및 접촉 저항을 낮추는 것이, 태양전지의 효율을 높이는 중요한 요인이 됨을 알 수 있다.Generally, the electrode of a solar cell is prepared by mixing conductive powder, glass frit, and an organic vehicle, adding additional additives as necessary to prepare a paste composition, and applying this paste composition to one side of a semiconductor substrate. Alternatively, it can be formed according to a series of processes in which the applied paste composition is applied to both sides and patterned, and then the applied paste composition is fired and dried. Considering this electrode formation process, it can be seen that lowering line resistance and contact resistance by improving contact between the semiconductor substrate and the electrode formed thereon is an important factor in increasing the efficiency of solar cells.

구체적으로, 유리 프릿은, 소성 공정 중 반사 방지막을 에칭(etching)하고, 도전성 분말을 용융시켜 에미터 영역에 금속 결정 입자를 생성시키며, 이를 통해 전극(특히, 금속 결정 입자) 및 반도체 기판 사이의 접착력을 향상시켜 라인 저항 및 접촉 저항이 낮추는 역할을 할 뿐만 아니라, 연화하여 소성 온도를 보다 낮추는 효과를 유도한다.Specifically, the glass frit etches the anti-reflection film during the firing process and melts the conductive powder to generate metal crystal particles in the emitter region, thereby creating a barrier between the electrode (particularly the metal crystal particles) and the semiconductor substrate. Not only does it play a role in lowering line resistance and contact resistance by improving adhesion, but it also softens and lowers the firing temperature.

이와 관련하여, 본 발명의 일 실시예에서는, 전극 및 반도체 기판 사이의 접촉 저항을 낮추면서도, 열 안정성이 확보된 유리 프릿을 공통적으로 적용하여, 태양 전지의 효율 및 열 안정성을 개선하고자 한다.In this regard, in one embodiment of the present invention, a glass frit that ensures thermal stability while lowering the contact resistance between the electrode and the semiconductor substrate is commonly applied to improve the efficiency and thermal stability of the solar cell.

태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물Glass frit composition for forming electrodes of solar cells

본 발명의 일 실시예에서는, 납(Pb)-텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿(glass frit)인, 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물을 제공한다. 구체적으로, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고, 제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고, 제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고, 제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고, 제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고, 잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함할 수 있다. 상기 유리 프릿 조성물은, 산화납(PbO), 산화텔루륨(TeO2), 산화비스무스(Bi2O3), 산화리튬(Li2O), 및 산화나트륨(Na2O)을 주요 성분으로 하며, 잔부로는 상기 주요 성분과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함하는, 납(Pb)-텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿(glass frit)이다.In one embodiment of the present invention, a glass frit composition for forming electrodes of solar cells, which is a lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi) based glass frit, is provided. Specifically, with respect to the total amount of the glass frit (100 mol%), lead oxide (PbO), which is a first metal oxide, is contained in an amount of 19 to 23 mol%, and tellurium oxide (TeO 2 ), which is a second metal oxide, is contained in an amount of 25 to 35 mol%. It contains 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), which is a third metal oxide, and 9 to 13 mol% of lithium oxide (Li 2 O), which is a fourth metal oxide. A glass frit raw material containing 2 to 3 mol% of sodium oxide (Na 2 O), which is a metal oxide, and the balance includes a sixth metal oxide, and the sixth metal oxide is different from the first to fifth metal oxides. may include. The glass frit composition contains lead oxide (PbO), tellurium oxide (TeO 2 ), bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), lithium oxide (Li 2 O), and sodium oxide (Na 2 O) as main ingredients. , the remainder is a lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi)-based glass frit containing glass frit raw materials different from the above main components.

상기 각 함량 범위를 만족하는 납(Pb)-텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿(glass frit)은, 전극 및 반도체 기판 사이의 라인 저항 및 접촉 저항을 낮추면서도, 열 안정성이 확보된 것이며, 이러한 사실은 후술되는 실시예 및 이에 대한 평가예를 통해 뒷받침된다.The lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi) based glass frit that satisfies the above content ranges ensures thermal stability while lowering the line resistance and contact resistance between the electrode and the semiconductor substrate. This fact is supported through the examples and evaluation examples described later.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 1을 만족할 수 있다.In one embodiment, the glass frit may satisfy Equation 1 below.

[식 1][Equation 1]

49<A=([PbO]+[TeO2]+[Bi2O3])<66 49<A=([PbO]+[TeO 2 ]+[Bi 2 O 3 ])<66

상기 식 1에서, [PbO], [TeO2], 및 [Bi2O3]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화납(PbO)의 함량(몰%), 상기 산화텔루륨(TeO2)(몰%), 및 상기 산화비스무스(Bi2O3)의 함량(몰%)을 의미한다. 상기 식 1에서, [PbO]+[TeO2]+[Bi2O3] 값이 66 몰% 보다 큰 경우, 라인 비저항 및 접촉 비저항이 증가되어 효율 저하 문제가 있고, 부착력이 감소하는 문제가 있고, 49 몰% 보다 작은 경우, 접촉 비저항이 증가하는 문제가 있어, 태양 전지 적용 시 전지 효율이 저하되는 문제가 있다. 따라서, 상기 식 1의 상기 범위를 만족함으로써, 라인저항과 접촉저항 모두 적절히 제어되므로, 향상된 효율을 갖는 태양 전지를 얻을 수 있다.In Equation 1, [PbO], [TeO 2 ], and [Bi 2 O 3 ] are, respectively, the content (mol%) of lead oxide (PbO) relative to the total amount of the glass frit (100 mol%), and the oxidation It means tellurium (TeO 2 ) (mol%), and the content (mol%) of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ). In Equation 1, when the [PbO] + [TeO 2 ] + [Bi 2 O 3 ] value is greater than 66 mol%, the line resistivity and contact resistivity increase, leading to a decrease in efficiency and a decrease in adhesion. , if it is less than 49 mol%, there is a problem that the contact resistivity increases, which reduces cell efficiency when applied to solar cells. Accordingly, by satisfying the range of Equation 1, both line resistance and contact resistance are appropriately controlled, and thus a solar cell with improved efficiency can be obtained.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 2를 만족할 수 있다.In one embodiment, the glass frit may satisfy Equation 2 below.

[식 2] [Equation 2]

11<B=[Li2O]+[Na2O]<1611<B=[Li 2 O]+[Na 2 O]<16

상기 식 2에서, [Li2O] 및 [Na2O]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 산화리튬(Li2O)의 함량(몰%) 및 상기 산화나트륨(Na2O)의 함량(몰%)을 의미한다. 상기 식 1에서, [Li2O]+[Na2O] 값이 16 몰% 보다 큰 경우, 접촉 비저항이 증가하는 문제가 있고, 11 몰% 보다 작은 경우, 라인 비저항 및 접촉 비저항이 증가되어 효율 저하 문제가 있고, 부착력이 감소하는 문제가 있어, 태양 전지 적용 시 전지 효율이 저하되는 문제가 있다. 따라서, 상기 식 2의 상기 범위를 만족함으로써, 라인저항과 접촉저항 모두 적절히 제어되므로, 향상된 효율을 갖는 태양 전지를 얻을 수 있다.In Equation 2, [Li 2 O] and [Na 2 O] are the content (mol%) of lithium oxide (Li 2 O) and the sodium oxide (Na 2 ) relative to the total amount of glass frit (100 mol%), respectively. It refers to the content (mol%) of O). In Equation 1, when the [Li 2 O] + [Na 2 O] value is greater than 16 mol%, there is a problem of increased contact resistivity, and when it is less than 11 mol%, the line resistivity and contact resistivity increase, reducing efficiency. There is a problem of degradation, a problem of reduced adhesion, and a problem of reduced cell efficiency when applied to solar cells. Accordingly, by satisfying the range of Equation 2, both line resistance and contact resistance are appropriately controlled, and thus a solar cell with improved efficiency can be obtained.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 3를 만족할 수 있다.In one embodiment, the glass frit may satisfy Equation 3 below.

[식 3][Equation 3]

3.1<A/B<6.03.1<A/B<6.0

상기 식 3에서, A는 식 1의 값을 의미하고, B는 식 2의 값을 의미한다. 상기 식 3에서, A/B의 값이 6.0 보다 큰 경우, 라인 비저항 및 접촉 비저항이 증가되어 효율 저하 문제가 있고, 부착력이 감소하는 문제가 있고, 3.1 보다 작은 경우, 접촉 비저항이 증가하는 문제가 있어, 태양 전지 적용 시 전지 효율이 저하되는 문제가 있다. 따라서, 상기 식 3의 상기 범위를 만족함으로써, 라인저항과 접촉저항 모두 적절히 제어되므로, 향상된 효율을 갖는 태양 전지를 얻을 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿은 상기 식 1 내지 식 3 중 적어도 하나를 만족함으로써, 접촉성이 높아 라인 저항 및 접촉 저항이 낮아질 뿐만 아니라, 적정 연화점에서 연화하여 소성 온도를 낮추는 데 기여할 수 있다.In Equation 3, A refers to the value of Equation 1, and B refers to the value of Equation 2. In Equation 3 above, if the value of A/B is greater than 6.0, the line resistivity and contact resistivity increase, leading to problems of reduced efficiency and decreased adhesion, and if it is less than 3.1, the problem of increased contact resistivity. Therefore, there is a problem that cell efficiency decreases when solar cells are applied. Accordingly, by satisfying the range of Equation 3, both line resistance and contact resistance are appropriately controlled, and thus a solar cell with improved efficiency can be obtained. In one embodiment, the glass frit satisfies at least one of Equations 1 to 3 above, thereby not only lowering line resistance and contact resistance due to high contact properties, but also contributing to lowering the sintering temperature by softening at an appropriate softening point.

일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은, 일반적으로 유리 프릿 조성물에 사용되는 금속 산화물 중에서, 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 것이라면 특별히 한정되지 않는다. 상기 제6 금속 산화물은 비제한적인 예시로서, 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 적어도 1종 이상의 유리 프릿 원료 물질을 포함할 수 있다. 구체적으로, 후자의 경우와 관련하여, 이하의 설명들이 각각 독립적으로 적용될 수 있다.In one embodiment, the sixth metal oxide is not particularly limited as long as it is different from the first to fifth metal oxides among metal oxides generally used in glass frit compositions. The sixth metal oxide is a non-limiting example and includes silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), copper oxide (CuO), boron oxide (B 2 O 3 ), and aluminum oxide. It may include at least one glass frit raw material selected from the group containing (Al 2 O 3 ). Specifically, with regard to the latter case, the following explanations can be applied independently.

일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화규소(SiO2)를 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화규소(SiO2)이 16 내지 23 몰% 포함되고, 잔부로는 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화아연(ZnO)을 포함하고,In one embodiment, the sixth metal oxide includes silicon oxide (SiO 2 ), and contains 16 to 23 mol% of silicon oxide (SiO 2 ) based on the total amount of the glass frit (100 mol%), The remainder is one or more selected from the group consisting of zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), copper oxide (CuO), boron oxide (B 2 O 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). May contain metal oxides. In one embodiment, the sixth metal oxide includes zinc oxide (ZnO),

상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화아연(ZnO)이 1 내지 4 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화텅스텐(WO3), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화텅스텐(WO3)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화텅스텐(WO3)이 2 내지 6 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물이 포함할 수 있다.Based on the total amount of the glass frit (100 mol%), 1 to 4 mol% of zinc oxide (ZnO) is included, and the balance includes silicon oxide (SiO 2 ), tungsten oxide (WO 3 ), copper oxide (CuO), It may include one or more metal oxides selected from the group including boron oxide (B 2 O 3 ) and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). In one embodiment, the sixth metal oxide includes tungsten oxide (WO 3 ), and includes 2 to 6 mol% of tungsten oxide (WO 3 ) based on the total amount of the glass frit (100 mol%), The remainder is one or more selected from the group consisting of silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), copper oxide (CuO), boron oxide (B 2 O 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). It may contain metal oxides.

일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화구리(CuO)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화텅스텐(WO3)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화텅스텐(WO3)이 2 내지 6 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물이 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화붕소(B2O3)를 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화붕소(B2O3)가 0.5 내지 1.5 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화구리(CuO), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다.In one embodiment, the sixth metal oxide includes the copper oxide (CuO), and relative to the total amount of the glass frit (100 mol%), the sixth metal oxide includes the tungsten oxide (WO 3 ), Based on the total amount of the glass frit (100 mol%), 2 to 6 mol% of tungsten oxide (WO 3 ) is included, and the balance includes silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), copper oxide (CuO), It may contain one or more metal oxides selected from the group including boron oxide (B 2 O 3 ) and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). In one embodiment, the sixth metal oxide includes boron oxide (B 2 O 3 ), and the boron oxide (B 2 O 3 ) is 0.5 to 1.5 mol based on the total amount of the glass frit (100 mol%). %, and the balance is 1 selected from the group including silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), copper oxide (CuO), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). It may contain more than one type of metal oxide.

일 실시예에서, 상기 제6 금속 산화물은 상기 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하고, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화알루미늄(Al2O3)이 0.4 내지 1.0 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화구리(CuO), 및 산화붕소(B2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함할 수 있다. 상기 제6 금속 산화물로 예시된 모든 금속 산화물의 혼합물이 상기 제6 금속 산화물로 사용될 수 있다. 이 경우, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화규소(SiO2)가 16 내지 23 몰% 포함되고, 상기 산화아연(ZnO)이 1 내지 4 몰% 포함되고, 상기 산화텅스텐(WO3)이 2 내지 6 몰%, 상기 산화구리(CuO)가 0.2 내지 0.5 몰%, 상기 산화붕소(B2O3)가 0.5 내지 1.5 몰% 포함되고, 상기 산화알루미늄(Al2O3)이 0.4 내지 1.0 몰%를 포함할 수 있다.In one embodiment, the sixth metal oxide includes aluminum oxide (Al 2 O 3 ), and the aluminum oxide (Al 2 O 3 ) is 0.4 to 1.0 mol based on the total amount of the glass frit (100 mol%). %, and the balance is 1 selected from the group including silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), copper oxide (CuO), and boron oxide (B 2 O 3 ). It may contain more than one type of metal oxide. A mixture of all metal oxides exemplified as the sixth metal oxide may be used as the sixth metal oxide. In this case, based on the total amount of glass frit (100 mol%), 16 to 23 mol% of silicon oxide (SiO 2 ) is included, 1 to 4 mol% of zinc oxide (ZnO) is included, and the tungsten oxide ( 2 to 6 mol% of WO 3 ), 0.2 to 0.5 mol% of copper oxide (CuO), 0.5 to 1.5 mol% of boron oxide (B 2 O 3 ), and 0.5 to 1.5 mol% of aluminum oxide (Al 2 O 3 ). It may contain 0.4 to 1.0 mol%.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿은 하기 식 4를 만족할 수 있다.In one embodiment, the glass frit may satisfy Equation 4 below.

[식 4][Equation 4]

3<[ZnO]+[WO3]+[Al2O3]<113<[ZnO]+[WO 3 ]+[Al 2 O 3 ]<11

상기 식 4에서, [ZnO], [WO3], 및 [Al2O3]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화아연(ZnO)의 함량(몰%), 상기 산화텅스텐(WO3)(몰%), 및 상기 산화알루미늄(Al2O3)의 함량(몰%)을 의미한다. 상기 식 4에서, [ZnO]+[WO3]+[Al2O3] 값이 11 몰% 보다 큰 경우, 접촉 비저항이 증가하는 문제가 있고, 3 몰% 보다 작은 경우, 접촉 비저항이 증가하는 문제가 있어, 태양 전지 적용 시 전지 효율이 저하되는 문제가 있다. 따라서, 상기 식 2의 상기 범위를 만족함으로써, 라인저항과 접촉저항 모두 적절히 제어되므로, 향상된 효율을 갖는 태양 전지를 얻을 수 있다.In Equation 4, [ZnO], [WO 3 ], and [Al 2 O 3 ] are, respectively, the content (mol %) of zinc oxide (ZnO) relative to the total amount of the glass frit (100 mol %), and the oxidation It means tungsten (WO 3 ) (mol%), and the content (mol%) of aluminum oxide (Al 2 O 3 ). In Equation 4, when the [ZnO] + [WO 3 ] + [Al 2 O 3 ] value is greater than 11 mol%, there is a problem that the contact resistivity increases, and when it is less than 3 mol%, the contact resistivity increases. There is a problem that cell efficiency decreases when solar cells are applied. Accordingly, by satisfying the range of Equation 2, both line resistance and contact resistance are appropriately controlled, and thus a solar cell with improved efficiency can be obtained.

전술한 바와 같이, 상기 유리 프릿은 산화납(PbO), 산화텔루륨(TeO2), 산화비스무스(Bi2O3), 산화리튬(Li2O), 및 산화나트륨(Na2O)을 주요 성분으로 하며, 잔부로는 상기 주요 성분과 상이한 유리 프릿 조성물인 금속 산화물을 포함하되, 각 성분이 특정 함량 범위를 만족함으로써, 우수한 물성이 발현될 수 있다. 구체적으로, 상기 유리 프릿은, 전극 및 반도체 기판 사이의 접착성을 향상시킴으로써, 라인 저항 및 접촉 저항을 낮출 수 있으며, 이하에서 설명되는 접착력, 라인 저항, 및 접촉 저항의 각 범위를 만족할 수 있다.As described above, the glass frit mainly contains lead oxide (PbO), tellurium oxide (TeO 2 ), bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), lithium oxide (Li 2 O), and sodium oxide (Na 2 O). It consists of a metal oxide, which is a glass frit composition different from the main ingredient, and the balance includes metal oxide, which is a glass frit composition different from the main ingredient. When each ingredient satisfies a specific content range, excellent physical properties can be exhibited. Specifically, the glass frit can lower line resistance and contact resistance by improving the adhesion between the electrode and the semiconductor substrate, and can satisfy each range of adhesion, line resistance, and contact resistance described below.

일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 접착력(Adhesion)은, 1.5 N 초과인 것일 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 라인 저항(Line Resistivity)은, 3.0 uΩㆍ㎝ 미만(단, 0 uΩㆍ㎝ 제외) 일 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 접촉 저항(Contact Resistivity)은, 2.0 mΩㆍ㎠ 미만(단, 0 mΩㆍ㎠ 제외)일 수 있다.In one embodiment, the adhesion of the glass frit may be greater than 1.5 N. In one embodiment, the line resistance of the glass frit may be less than 3.0 uΩ·cm (excluding 0 uΩ·cm). In one embodiment, the contact resistance of the glass frit may be less than 2.0 mΩ·cm2 (except 0 mΩ·cm2).

상기 유리 프릿은, 적정 연화점에서 연화하여 소성 온도를 낮추는 데 기여할 수 있으며, 이하에서 설명되는 연화점 및 결정화 온도의 각 범위를 만족할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 연화점(Tdsp)은, 260 ℃ 내지 350 ℃의 온도 범위를 만족할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유리 프릿의 결정화 온도(Tc)는, 320 ℃ 내지 370 ℃의 온도 범위를 만족할 수 있다.The glass frit can contribute to lowering the sintering temperature by softening at an appropriate softening point, and can satisfy each range of softening point and crystallization temperature described below. In one embodiment, the softening point (Tdsp) of the glass frit may satisfy a temperature range of 260°C to 350°C. In one embodiment, the crystallization temperature (Tc) of the glass frit may satisfy a temperature range of 320°C to 370°C.

상기 유리 프릿은 통상의 방법을 사용하여 제조할 수 있다. 예를 들면, 상기 유리 프릿은 산화납(PbO), 산화텔루륨(TeO2), 산화비스무스(Bi2O3), 산화리튬(Li2O), 및 산화나트륨(Na2O)을 주요 성분으로하고, 잔부로는 상기 주요 성분과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함하되, 각 성분이 특정 함량 범위를 만족하도록, 각 성분을 혼합한다. 이때의 혼합은 물리적 또는 화학적 방법이 수행될 수 있으며, 비제한적인 예시로서, 볼 밀(ball mill), 플라네터리 밀(planetary mill) 등을 사용하여 수행될 수 있다.The glass frit can be manufactured using conventional methods. For example, the glass frit contains lead oxide (PbO), tellurium oxide (TeO 2 ), bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), lithium oxide (Li 2 O), and sodium oxide (Na 2 O) as main ingredients. The remainder includes glass frit raw materials different from the main components, and each component is mixed so that each component satisfies a specific content range. At this time, mixing may be performed by physical or chemical methods, and as a non-limiting example, may be performed using a ball mill, planetary mill, etc.

이후, 혼합된 조성물을 900℃ 내지 1300℃의 온도 범위에서 용융시키고, 상온(25℃)에서 담금질(quenching)한 다음, 제트 밀(jet mill), 디스크 밀(disk mill), 플라네터리 밀 등을 사용하여 분쇄함으로써, 최종적으로 입경이 조절된 유리 프릿을 수득할 수 있다. 구체적으로, 상기 최종적으로 수득되는 유리 프릿은, D50 입경이 0.1 내지 10 ㎛일 수 있고, 그 형상은 비제한적인 예시로서, 구형이거나 무정형일 수 있다.Thereafter, the mixed composition is melted in a temperature range of 900°C to 1300°C, quenched at room temperature (25°C), and then milled using a jet mill, disk mill, planetary mill, etc. By grinding using , a glass frit with a final particle size adjusted can be obtained. Specifically, the finally obtained glass frit may have a D50 particle size of 0.1 to 10 ㎛, and its shape may be spherical or amorphous, as non-limiting examples.

태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물Paste composition for forming electrodes of solar cells

본 발명의 다른 실시예에서는, 태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물은 도전성 분말; 유리 프릿(glass frit); 및 유기 비히클;을 포함하고, 상기 유리 프릿은 납(Pb)-텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿일 수 있다. 구체적으로, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고, 제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고, 제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고, 제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고, 제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고, 잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함하는 것이다. 더욱 구체적으로, 상기 페이스트 조성물은, 전술한 유리 프릿을 사용하되, 이를 도전성 분말 및 유기 비히클과 혼합한 형태의 페이스트 조성물인 것이다.In another embodiment of the present invention, a paste composition for forming electrodes of a solar cell includes conductive powder; glass frit; and an organic vehicle, wherein the glass frit may be a lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi) based glass frit. Specifically, with respect to the total amount of the glass frit (100 mol%), lead oxide (PbO), which is a first metal oxide, is contained in an amount of 19 to 23 mol%, and tellurium oxide (TeO 2 ), which is a second metal oxide, is contained in an amount of 25 to 35 mol%. It contains 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), which is a third metal oxide, and 9 to 13 mol% of lithium oxide (Li 2 O), which is a fourth metal oxide. A glass frit raw material containing 2 to 3 mol% of sodium oxide (Na 2 O), which is a metal oxide, and the balance includes a sixth metal oxide, and the sixth metal oxide is different from the first to fifth metal oxides. It includes. More specifically, the paste composition is a paste composition that uses the above-described glass frit and mixes it with conductive powder and an organic vehicle.

상기 유리 프릿은, 상기 페이스트 조성물의 총량(100 중량%)에 대해, 1 내지 5 중량%, 구체적으로는 1.5 내지 3 중량%로 포함될 수 있다. 상기 유리 프릿이 상기 함량 범위 내로 포함될 경우, 전극과 반도체 기판 사이의 접착력이 향상되어, 효율이 우수한 태양 전지를 구현할 수 있다. 이하에서는, 상기 유리 프릿에 대한 중복되는 설명은 생략하고, 상기 페이스트 조성물의 나머지 구성에 대해 상세히 설명한다.The glass frit may be included in an amount of 1 to 5% by weight, specifically 1.5 to 3% by weight, based on the total amount (100% by weight) of the paste composition. When the glass frit is included within the above content range, the adhesion between the electrode and the semiconductor substrate is improved, making it possible to implement a solar cell with excellent efficiency. Hereinafter, redundant description of the glass frit will be omitted and the remaining components of the paste composition will be described in detail.

상기 도전성 분말은, 도전성을 가지며, 광생성된 전하를 수집하는 기능을 수행할 수 있는 도전성 분말이라면, 특별히 한정되는 것은 아니며, 비제한적인 예시로서, 은(Ag) 분말, 은(Ag) 함유 합금 분말, 알루미늄(Al) 분말, 알루미늄(Al) 함유 합금 분말, 구리(Cu) 분말, 알루미늄(Al) 함유 합금 분말, 니켈(Ni) 분말, 및 니켈(Ni) 함유 합금 분말을 포함하는 군에서 선택되는 적어도 1종 이상의 도전성 분말을 포함하는 것일 수 있다. 그러나, 이에 한정되지 않고 다른 종류의 금속 분말일 수도 있으며, 상기 금속 분말 외에 다른 첨가물을 포함할 수도 있다. The conductive powder is not particularly limited as long as it has conductivity and can perform the function of collecting photogenerated charges, and non-limiting examples include silver (Ag) powder and silver (Ag)-containing alloy. selected from the group consisting of powder, aluminum (Al) powder, aluminum (Al) containing alloy powder, copper (Cu) powder, aluminum (Al) containing alloy powder, nickel (Ni) powder, and nickel (Ni) containing alloy powder. It may contain at least one type of conductive powder. However, it is not limited to this and may be a different type of metal powder, and may contain other additives in addition to the metal powder.

일 실시예에서, 상기 도전성 분말은, 서로 다른 입경을 가진 도전성 입자들이 집합된 것일 수 있고, 그 평균 입경은 0.1 내지 50 ㎛일 수 있다. 일 실시예에서, 상기 도전성 분말이 은(Ag) 분말인 경우, 0.1 내지 10 ㎛의 평균 입경을 가질 수 있다. 이때, 상기 도전성 입자들의 형상은 비제한적인 예시로서, 구형, 판상, 및 무정형 중 어떠한 형상도 가능하다.In one embodiment, the conductive powder may be a collection of conductive particles having different particle diameters, and the average particle diameter may be 0.1 to 50 ㎛. In one embodiment, when the conductive powder is silver (Ag) powder, it may have an average particle diameter of 0.1 to 10 ㎛. At this time, the shape of the conductive particles is a non-limiting example, and any shape among spherical, plate-shaped, and amorphous is possible.

상기 도전성 분말은, 상기 페이스트 조성물의 총량(100 중량%)에 대하여 80 내지 95 중량%로 포함될 수 있고, 구체적으로는 87 내지 91 중량%로 포함될 수 있다. 상기 도전성 분말이 상기 함량 범위 내로 포함되는 경우, 소성 시 상기 도전성 분말의 적절한 충진 밀도에 의해 우수한 전기 전도성을 가질 수 있고, 페이스트 조성물 제조 시 분산성이 우수해질 수 있다.The conductive powder may be included in an amount of 80 to 95% by weight, specifically, 87 to 91% by weight, based on the total amount (100% by weight) of the paste composition. When the conductive powder is included within the above content range, excellent electrical conductivity can be achieved due to an appropriate packing density of the conductive powder during firing, and dispersibility can be improved when manufacturing a paste composition.

상기 유기 비히클은, 상기 도전성 분말과 혼합되어 적절한 점도를 부여함으로써 페이스트화 하는 것으로, 유기 바인더 및 이를 용해시키는 유기 용매를 포함할 수 있다. 상기 유기 바인더는 비제한적인 예시로서, 에틸 셀룰로오스, 에틸 하이드록시에틸 셀룰로오스, 니트로 셀룰로오스, 및 아크릴산 에스테르계 수지를 단독 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.The organic vehicle is mixed with the conductive powder to give an appropriate viscosity to form a paste, and may include an organic binder and an organic solvent that dissolves it. The organic binder is a non-limiting example, and ethyl cellulose, ethyl hydroxyethyl cellulose, nitro cellulose, and acrylic acid ester resin may be used alone or in a mixture of two or more types.

상기 유기 용매는 비제한적인 예시로서, 2,2,4-트리메틸-모노이소부티레이트(텍사놀, Texanol), 부틸 카비톨 아세테이트(디에틸렌 글리콜 모노부틸 에테르 아세테이트), 톨루엔, 에틸셀로솔브, 부틸센로솔브, 부틸 카비톨(디에틸렌 글리콜 모노부틸 에테르), 디부틸 카비톨(디에틸렌 글리콜 디부틸 에테르), 프로필렌 글리콜 모노메틸 에테르 등의 글라이콜 에테르 류의 용매, 헥실렌 글리콜, 터핀올(Terpineol), 메틸에틸케톤, 3-펜탄디올와 같은 용매를 단독 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.The organic solvent includes, but is not limited to, 2,2,4-trimethyl-monoisobutyrate (Texanol), butyl carbitol acetate (diethylene glycol monobutyl ether acetate), toluene, ethyl cellosolve, butyl Glycol ether solvents such as senrosolve, butyl carbitol (diethylene glycol monobutyl ether), dibutyl carbitol (diethylene glycol dibutyl ether), propylene glycol monomethyl ether, hexylene glycol, terpineol Solvents such as (Terpineol), methyl ethyl ketone, and 3-pentanediol can be used alone or in combination of two or more.

상기 페이스트 조성물의 총량(100 중량%)에 대해, 상기 유기 비히클은 5 내지 40 중량%, 구체적으로는 5 내지 15 중량%로 포함될 수 있다. 상기 유기 비히클이 상기 함량 범위 내로 포함되는 경우, 적절한 점도를 가진 페이스트 조성물이 제조될 수 있다.Based on the total amount (100% by weight) of the paste composition, the organic vehicle may be included in an amount of 5 to 40% by weight, specifically 5 to 15% by weight. When the organic vehicle is contained within the above content range, a paste composition with appropriate viscosity can be produced.

앞서 설명한 각 성분의 구체적인 함량 범위를 고려하여, 상기 페이스트 조성물 총량(100 중량%)에 대해, 상기 도전성 분말은 87 내지 91 중량% 포함되고, 상기 유리 프릿은 1.5 내지 3.0 중량% 포함되고, 상기 유기 비히클은 7 내지 12.5 중량% 포함되는 것일 수 있다.Considering the specific content range of each component described above, with respect to the total amount (100% by weight) of the paste composition, the conductive powder is included in 87 to 91% by weight, the glass frit is included in 1.5 to 3.0% by weight, and the organic The vehicle may be included in an amount of 7 to 12.5% by weight.

일 실시예에서, 상기 페이스트 조성물은 첨가제를 더 포함할 수 있다. 상기 첨가제는, 필요에 따라, 분산제, 요변제, 가소제, 점도 안정화제, 소포제, 자외선 안정제, 산화방지제, 커플링제 등을 단독 또는 2종 이상 혼합하여 사용할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 페이스트 조성물 총량(100 중량%)에 대해, 상기 첨가제는 0.1 내지 5 중량% 포함되는 것일 수 있다. In one embodiment, the paste composition may further include additives. If necessary, the additives include dispersants, thixotropic agents, plasticizers, viscosity stabilizers, anti-foaming agents, ultraviolet stabilizers, antioxidants, coupling agents, etc., which can be used alone or in a mixture of two or more. In one embodiment, the additive may be included in an amount of 0.1 to 5 wt% based on the total amount (100 wt%) of the paste composition.

태양 전지의 전극solar cell electrodes

본 발명의 또 다른 실시예에서는, 전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물을 사용하여 제조된 태양 전지용 전극을 제공한다. 상기 전극은 전면 전극일 수 있고, 후면 전극이어도 무방하며, 전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물을 사용하여 제조됨으로써, 태양 전지의 효율을 향상시키면서도 열 안정성을 확보할 수 있다.In another embodiment of the present invention, an electrode for a solar cell manufactured using the above-described glass frit composition or a paste composition containing the same is provided. The electrode may be a front electrode or a rear electrode, and is manufactured using the above-described glass frit composition or a paste composition containing the same, thereby improving the efficiency of the solar cell and ensuring thermal stability.

전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물에 관한 중복되는 설명은 생략하고, 상기 전극 및 그 형성 방법에 대해서는 이하의 설명에 따른다.Redundant description of the above-described glass frit composition or paste composition containing the same will be omitted, and the electrode and its forming method will be described below.

태양 전지solar cell

본 발명의 또 다른 일 실시예에서는, 반도체 기판; 및 상기 반도체 기판의 적어도 일면에 위치하고, 전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물을 사용하여 형성된 전극;을 포함하는, 태양 전지를 제공한다.In another embodiment of the present invention, a semiconductor substrate; and an electrode located on at least one surface of the semiconductor substrate and formed using the above-described glass frit composition or a paste composition containing the same.

도 1은, 상기 태양 전지의 단면도를 예시한 것이다.Figure 1 illustrates a cross-sectional view of the solar cell.

이하, 도 1을 참고하여 일 구현예에 따른 태양 전지를 설명한다. 이는 비제한적인예시로서, 상기 태양 전지가 도 1에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, a solar cell according to an embodiment will be described with reference to FIG. 1. This is a non-limiting example, and the solar cell is not limited to FIG. 1.

이하에서는, 설명의 편의 상 상기 반도체 기판(10)을 중심으로 상하의 위치 관계를 설명하지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 또한, 반도체 기판(10) 중 태양 에너지를 받는 면을 전면(front side)이라 하고, 상기 전면의 반대면을 후면(rear side)이라 한다.Below, for convenience of explanation, the upper and lower positional relationship will be described centering on the semiconductor substrate 10, but the relationship is not limited thereto. Additionally, the side of the semiconductor substrate 10 that receives solar energy is called the front side, and the side opposite to the front side is called the rear side.

도 1을 참고하면, 일 구현예에 따른 태양 전지는 하부 반도체 층(10a) 및 상부 반도체 층(10b)을 포함하는 반도체 기판(10)을 포함한다.Referring to FIG. 1 , a solar cell according to one embodiment includes a semiconductor substrate 10 including a lower semiconductor layer 10a and an upper semiconductor layer 10b.

상기 반도체 기판(10)은 반도체 물질로 만들어질 수 있다. 상기 반도체 물질은 구체적으로 결정질 규소 또는 화합물 반도체일 수 있고, 상기 결정질 규소로는 실리콘 웨이퍼가 사용될 수 있다. The semiconductor substrate 10 may be made of a semiconductor material. The semiconductor material may specifically be crystalline silicon or a compound semiconductor, and a silicon wafer may be used as the crystalline silicon.

상기 하부 반도체 층(10a) 및 상기 상부 반도체 층(10b) 중 하나는 p형 불순물로 도핑된 반도체 층일 수 있으며 다른 하나는 n형 불순물로 도핑된 반도체 층일 수 있다. 예를 들어, 상기 하부 반도체 층(10a)은 상기 p형 불순물로 도핑된 반도체 층이고, 상기 상부 반도체층(10b)은 상기 n형 불순물로 도핑된 반도체 층일 수 있다. 상기 p형 불순물은 붕소(B)와 같은 III족 화합물일 수 있고, 상기 n형 불순물은 인(P)과 같은 V족 화합물일 수 있다. One of the lower semiconductor layer 10a and the upper semiconductor layer 10b may be a semiconductor layer doped with a p-type impurity, and the other may be a semiconductor layer doped with an n-type impurity. For example, the lower semiconductor layer 10a may be a semiconductor layer doped with the p-type impurity, and the upper semiconductor layer 10b may be a semiconductor layer doped with the n-type impurity. The p-type impurity may be a group III compound such as boron (B), and the n-type impurity may be a group V compound such as phosphorus (P).

일 실시예에서, 상기 반도체 기판(10)의 적어도 일면에는, 전극이 형성된다. 상기 전극은 전면 전극(20) 및 후면 전극(30)을 포함할 수 있으나, 이는 비제한적인 예시로서, 상기 구조에 한정되는 것은 아니다.In one embodiment, an electrode is formed on at least one surface of the semiconductor substrate 10. The electrode may include a front electrode 20 and a rear electrode 30, but this is a non-limiting example and is not limited to the above structure.

일 실시예에서, 상기 반도체 기판(10)의 전면에는 반사방지막(12)이 형성될 수 있다. 상기 반사방지막(12)은 태양 에너지를 받는 반도체 기판(10)의 전면에 형성되어 빛의 반사율을 줄이고 특정한 파장 영역의 선택성을 증가시킬 수 있다. 또한 상기 반도체 기판(10)의 표면에 존재하는 실리콘과의 접촉 특성을 개선하여 태양 전지의 효율을 높일 수 있다.In one embodiment, an anti-reflection film 12 may be formed on the front surface of the semiconductor substrate 10. The anti-reflection film 12 is formed on the front surface of the semiconductor substrate 10 that receives solar energy to reduce light reflectance and increase selectivity in a specific wavelength region. Additionally, the efficiency of the solar cell can be increased by improving the contact characteristics with silicon present on the surface of the semiconductor substrate 10.

상기 반사방지막(12)은 빛을 적게 흡수하고 절연성이 있는 물질로 만들어질 수 있다. 상기 반사방지막은 비제한적인 예시로서, 질화규소(SiNx), 산화규소(SiO2), 산화티타늄(TiO2), 산화알루미늄(Al2O3), 산화마그네슘(MgO), 산화세륨(CeO2) 및 이들의 조합일 수 있으며, 단일 층 또는 복수 층으로 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 반사방지막(12)은 200 내지 1500Å의 두께를 가질 수 있지만, 이에 한정되는 것은 아니다.The anti-reflection film 12 may be made of a material that absorbs less light and has insulating properties. The anti - reflection film is a non - limiting example, and includes silicon nitride ( SiN ) and a combination thereof, and may be formed as a single layer or multiple layers. In one embodiment, the anti-reflection film 12 may have a thickness of 200 to 1500 Å, but is not limited thereto.

상기 반사방지막(12) 상에 복수의 전면 전극(20)이 형성될 수 있다. 상기 전면 전극(20)은 상기 반도체 기판(10)의 일 방향을 따라 나란히 뻗어 있을 수 있지만, 이에 한정되지는 않는다.A plurality of front electrodes 20 may be formed on the anti-reflection film 12. The front electrode 20 may extend parallel to one direction of the semiconductor substrate 10, but is not limited thereto.

상기 전면 전극(20)은 전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물을 사용하여 형성될 수 있으며, 스크린 인쇄(screen printing) 방법으로 형성될 수 있다. 이때의 조성물에 포함된 도전성 분말은, 은(Ag)과 같은 저저항 도전성 분말일 수 있다.The front electrode 20 may be formed using the above-described glass frit composition or a paste composition containing the same, and may be formed using a screen printing method. The conductive powder included in the composition at this time may be a low-resistance conductive powder such as silver (Ag).

상기 전면 전극(21) 상에는 버스 바(bus bar) 전극(미도시)이 형성될 수 있다. 상기 버스 바 전극은 복수의 태양 전지 셀을 조립할 때 이웃하는 태양 전지 셀을 연결하기 위한 것이다.A bus bar electrode (not shown) may be formed on the front electrode 21. The bus bar electrode is used to connect neighboring solar cells when assembling a plurality of solar cells.

상기 반도체 기판(10)의 하부에는 후면 전극(30)이 형성될 수 있다. 상기 후면 전극(30)은 전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물을 사용하여, 스크린 인쇄 방법으로 형성될 수 있다. 상기 페이스트 조성물에 포함된 도전성 분말은, 알루미늄(Al)과 같은 불투명 금속을 사용할 수 있다. A back electrode 30 may be formed on the lower part of the semiconductor substrate 10. The rear electrode 30 may be formed by a screen printing method using the above-described glass frit composition or a paste composition containing the same. The conductive powder included in the paste composition may be an opaque metal such as aluminum (Al).

일 실시예에서, 태양 전지는 반도체 기판(10)을 준비하는 단계, 반도체 기판(10)에 n형 불순물을 도핑하는 단계, 전면 전극(20)을 형성하는 단계, 및 후면 전극(30)을 형성하는 단계를 포함할 수 있다. In one embodiment, a solar cell is prepared by preparing a semiconductor substrate 10, doping the semiconductor substrate 10 with an n-type impurity, forming a front electrode 20, and forming a back electrode 30. It may include steps to:

반도체 기판(10)을 준비하는 단계는 태양 전지 제조를 위한 반도체 기판(10)을 준비하는 단계이다. 반도체 기판(10)으로는, 실리콘 웨이퍼를 사용할 수 있고, 여기에는 p형 불순물이 도핑되어 있을 수 있다. The step of preparing the semiconductor substrate 10 is a step of preparing the semiconductor substrate 10 for solar cell manufacturing. As the semiconductor substrate 10, a silicon wafer may be used, which may be doped with p-type impurities.

반도체 기판(10)에 n형 불순물을 도핑하는 단계는 반도체 기판(10) 상에 n형 불순물을 도핑하는 단계이다. 상기 n형 불순물은, POCl3, H3PO4 등을 고온에서 확산시킴으로써 도핑할 수 있다. 이에 따라, 상기 반도체 기판(10)은, 다른 불순물로 도핑된 하부 반도체 층(10a) 및 상부 반도체 층(10b)을 포함하게 될 수 있다. The step of doping the semiconductor substrate 10 with an n-type impurity is a step of doping the semiconductor substrate 10 with an n-type impurity. The n-type impurity can be doped by diffusing POCl 3 , H 3 PO 4 , etc. at high temperature. Accordingly, the semiconductor substrate 10 may include a lower semiconductor layer 10a and an upper semiconductor layer 10b doped with different impurities.

전면 전극(20)을 형성하는 단계는 상기 상부 반도체 층(10)과 접촉하게 되는 전극을 형성하는 단계이다. 상부 반도체 층(10b) 위에 반사방지막(12)을 형성할 수 있다. 반사방지막(12) 위에 전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물을 도포한 뒤 건조하여, 전면 전극(20)을 형성할 수 있다. 이때, 상기 조성물 내 유리 프릿이 용융되면서 반사방지막(12)을 관통함에 따라, 전면 전극(20)은 상기 상부 반도체 층(10b)과 접촉하게 된다. The step of forming the front electrode 20 is a step of forming an electrode that comes into contact with the upper semiconductor layer 10. An antireflection film 12 may be formed on the upper semiconductor layer 10b. The front electrode 20 can be formed by applying the above-described glass frit composition or a paste composition containing the same onto the anti-reflection film 12 and drying it. At this time, as the glass frit in the composition melts and penetrates the anti-reflection film 12, the front electrode 20 comes into contact with the upper semiconductor layer 10b.

후면 전극(30)을 형성하는 단계는 상기 하부 반도체 층(10a) 위에도, 전술한 유리 프릿 조성물 또는 이를 포함하는 페이스트 조성물을 도포한 뒤 건조하여, 후면 전극(30)을 형성할 수 있다. In the step of forming the back electrode 30, the back electrode 30 can be formed by applying the above-described glass frit composition or a paste composition containing the same on the lower semiconductor layer 10a and then drying it.

일 실시예에서, 전면 전극(20) 및 후면 전극(30) 형성 시, 각각의 조성물을 스크린 인쇄(screen printing) 방법으로 도포한 다음, 이를 소성하여 건조할 수 있다. 상기 소성은 소성로 내에서 수행될 수 있고, 상기 각각의 조성물 내 도전성 분말의 용융 온도보다 높은 온도까지 승온시킬 수 있다. 상기 소성은 예를 들어, 약 700 내지 900 ℃의 온도 범위에서 수행할 수 있다. 상기 구조를 가진 태양 전지는, 상기 단계에 따라 제작될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.In one embodiment, when forming the front electrode 20 and the rear electrode 30, each composition may be applied by a screen printing method and then baked and dried. The firing may be performed in a firing furnace, and the temperature may be raised to a temperature higher than the melting temperature of the conductive powder in each composition. For example, the firing may be performed at a temperature range of about 700 to 900 °C. A solar cell having the above structure can be manufactured according to the above steps, but is not limited thereto.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예들, 이에 대비되는 비교예들, 및 이들을 비교하여 평가한 평가예들을 기재한다. 그러나 하기 실시예들은 본 발명의 바람직한 실시예들 중 일부일 뿐, 본 발명이 하기 실시예들에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention, comparative examples, and evaluation examples by comparing them will be described. However, the following examples are only some of the preferred embodiments of the present invention, and the present invention is not limited to the following examples.

실시예 1 내지 18Examples 1 to 18

(1) 유리 프릿의 제조(1) Manufacturing of glass frit

하기 표 1 및 2를 만족하도록, 산화납(PbO), 산화텔루륨(TeO2), 산화비스무스(Bi2O3), 산화규소(SiO2), 산화리튬(Li2O), 산화나트륨(Na2O), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag20), 산화 구리(CuO), 산화 붕소(B2O3) 및 산화알루미늄(Al2O3)을 혼합하여, 실시예 1 내지 18의 유리 프릿 조성물을 각각 제조하였다. To satisfy Tables 1 and 2 below, lead oxide (PbO), tellurium oxide (TeO 2 ), bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), silicon oxide (SiO 2 ), lithium oxide (Li 2 O), and sodium oxide ( Mix Na 2 O), zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), silver oxide (Ag 2 O), copper oxide (CuO), boron oxide (B 2 O 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). Thus, the glass frit compositions of Examples 1 to 18 were prepared, respectively.

이때의 혼합은, 무중력 혼합기를 사용하여, 상기 유리 프릿 조성물 내 모든 성분들이 완전히 혼합이 되도록, 충분한 시간을 두고 수행되었다. 혼합 완료된 유리 조성물을 백금 도가니에 투입한 뒤, 950 내지 1,250℃의 온도에서 용융작업을 진행하였다. 용융시간은 20 분(min)이였다. 용융 단계에서 용융된 유리 조성물은 건식 및 습식 퀀칭(Quenching)을 통해 급냉시켰다. 급냉된 유리 용융물을 젯트 밀 및 파인 밀을 사용하여 분말 상태로 분쇄하여, 최종적으로 유리 프릿을 수득하였다.The mixing at this time was performed using a zero-gravity mixer, allowing sufficient time to ensure that all components in the glass frit composition were completely mixed. The mixed glass composition was placed in a platinum crucible, and then melting was performed at a temperature of 950 to 1,250°C. The melting time was 20 minutes (min). In the melting step, the molten glass composition was quenched through dry and wet quenching. The quenched glass melt was ground into powder using a jet mill and a fine mill to finally obtain a glass frit.

(2) 페이스트 조성물의 제조(2) Preparation of paste composition

실시예 1 내지 18의 유리 프릿에 각각, 도전성 분말, 유기 비히클, 및 첨가제를 투입하고, 혼합하여 각각의 페이스트 조성물을 제조하였다. 구체적으로, 각각의 페이스트 조성물 총량(100 중량%)에 대해, 상기 유리 프릿은 2.5 중량%, 상기 도전성 분말은 89.5 중량%, 상기 유기 비히클은 5.5 중량%, 상기 첨가제는 2.5 중량%가 되도록 하였다.Conductive powder, organic vehicle, and additives were added to the glass frits of Examples 1 to 18 and mixed to prepare respective paste compositions. Specifically, with respect to the total amount of each paste composition (100% by weight), the glass frit was 2.5% by weight, the conductive powder was 89.5% by weight, the organic vehicle was 5.5% by weight, and the additive was 2.5% by weight.

상기 도전성 분말로는 은(Ag) 분말(D50 입경: 2.0 ㎛)을 사용하고, 상기 유기 비히클로는 유기 바인더인 에틸 셀룰로오스 및 유기 용매인 (2,2,4-트리메틸-모노이소부티레이트가 3:97의 중량비(기재 순서는, 유기 바인더 : 유기 용매)로 혼합된 것을 사용하고, 상기 첨가제로는 요변제(CRAYVALLAC)및 분산제(Duomeen TDO)를 사용하였다. Silver (Ag) powder (D50 particle size: 2.0 ㎛) was used as the conductive powder, and the organic vehicle used was ethyl cellulose as an organic binder and (2,2,4-trimethyl-monoisobutyrate) as an organic solvent in 3: A mixture was used at a weight ratio of 97 (order of order: organic binder: organic solvent), and a thixotropic agent (CRAYVALLAC) and a dispersant (Duomeen TDO) were used as the additives.

(3) 태양 전지의 제작(3) Fabrication of solar cells

전면 전극을 형성하기 전에, 반도체 기판의 일종인 실리콘 웨이퍼(면저항: 85 Ω/sq.)의 후면에, 알루미늄 페이스트 조성물을 도포한 후 건조하여 후면 전극을 형성하였다. 상기 알루미늄 페이스트 조성물은, 상용 제품인 DSCP-A151(동진쎄미켐) 페이스트를 사용하여 인쇄-건조 한 후 전면 전극을 형성하였다. 상기 건조는, 적외선 건조로 내에서 130 ℃ 에서 4 분(min) 유지 후 냉각시키는 방법으로 수행되었다.Before forming the front electrode, an aluminum paste composition was applied to the back of a silicon wafer (sheet resistance: 85 Ω/sq.), a type of semiconductor substrate, and dried to form a back electrode. The aluminum paste composition was printed and dried using commercial product DSCP-A151 (Dongjin Semichem) paste, and then the front electrode was formed. The drying was performed by maintaining the temperature at 130° C. for 4 minutes (min) in an infrared drying furnace and then cooling.

이후, 상기 (2)에서 제조된 실시예 1 내지 18의 페이스트 조성물을 각각 사용하여, 전면 전극을 형성하였다. 상기 후면 전극이 형성된 실리콘 웨이퍼 전면에, 상기 각각의 페이스트 조성물을 도포하였다. 상기 도포는, 일정한 패턴으로 스크린 프린팅 하여 인쇄하는 방법으로 수행되었다. Thereafter, the front electrode was formed using the paste compositions of Examples 1 to 18 prepared in (2) above, respectively. Each of the paste compositions was applied to the front surface of the silicon wafer on which the rear electrode was formed. The application was performed by screen printing in a certain pattern.

상기 후면 전극 및 상기 전면이 모두 형성된 상태에서, 벨트형 소성로를 사용하여 240 inch/min의 속도로 770℃까지 승온하여 소성을 하였다.With both the rear electrode and the front electrode formed, firing was performed by raising the temperature to 770°C at a rate of 240 inches/min using a belt-type firing furnace.

비교예 1 내지 21Comparative Examples 1 to 21

하기 표 1 및 2의 실시예 1 내지 18 대신, 비교예 1 내지 21의 각 조성으로 유리 프릿 조성물을 제조한 점을 제외하고, 모두 동일한 방법에 의하여 페이스트 조성물 및 전면 전극을 제조하고, 태양 전지를 제작하였다.Except that glass frit compositions were prepared with the compositions of Comparative Examples 1 to 21 instead of Examples 1 to 18 in Tables 1 and 2 below, the paste composition and front electrode were prepared in the same manner, and the solar cell was manufactured. Produced.

유리 프릿 내 각 성분의 함량(단위: 몰%, 유리 프릿 총량(100 몰%) 기준Content of each component in glass frit (unit: mol%, based on total amount of glass frit (100 mol%) PbOPbO TeO2 TeO 2 Bi2O3 Bi 2 O 3 SiO2 SiO 2 Li2OLi 2 O Na2ONa 2 O ZnOZnO WO3 WO 3 Ag2OAg 2 O CuOCuO B2O3 B 2 O 3 Al2O3 Al 2 O 3 MgOMgO CeO2 CeO 2 Ti2o3 Ti 2 o 3 시 20.4 Poem 20.4 29.2 29.2 5.2 5.2 22.8 22.8 9.9 9.9 2.3 2.3 1.1 1.1 5.9 5.9 1.9 1.9 0.4 0.4 0.5 0.5 0.4 0.4 -- -- -- 시 22.8 Psalm 22.8 33.2 33.2 8.0 8.0 17.2 17.2 9.0 9.0 3.0 3.0 1.5 1.5 2.8 2.8 0.5 0.5 0.5 0.5 0.5 0.5 1.0 1.0 -- -- -- 시 21.9 Psalm 21.9 33.0 33.0 5.0 5.0 23.0 23.0 9.1 9.1 2.0 2.0 1.0 1.0 3.2 3.2 0.5 0.5 0.4 0.4 0.5 0.5 0.4 0.4 -- -- -- 시 21.5 Psalm 21.5 30.7 30.7 5.6 5.6 18.9 18.9 12.0 12.0 2.9 2.9 1.8 1.8 3.1 3.1 1.6 1.6 0.4 0.4 1.1 1.1 0.4 0.4 -- -- -- 시 21.2 Psalm 21.2 30.2 30.2 5.5 5.5 20.6 20.6 11.9 11.9 2.9 2.9 1.8 1.8 3.1 3.1 0.6 0.6 0.4 0.4 1.5 1.5 0.4 0.4 -- -- -- 시 23.0 Poem 23.0 25.0 25.0 5.0 5.0 23.0 23.0 13.0 13.0 3.0 3.0 1.0 1.0 2.0 2.0 2.0 2.0 0.5 0.5 1.5 1.5 1.0 1.0 -- -- -- 시 21.1 Poem 21.1 35.0 35.0 6.5 6.5 16.5 16.5 9.9 9.9 2.8 2.8 1.8 1.8 3.1 3.1 1.5 1.5 0.4 0.4 1.0 1.0 0.4 0.4 -- -- -- 시 22.5 Psalm 22.5 33.1 33.1 8.0 8.0 18.5 18.5 9.2 9.2 2.3 2.3 2.2 2.2 2.0 2.0 0.5 0.5 0.4 0.4 0.9 0.9 0.4 0.4 -- -- -- 시 23.0 Poem 23.0 25.0 25.0 5.0 5.0 22.5 22.5 12.5 12.5 3.0 3.0 3.2 3.2 2.0 2.0 2.0 2.0 0.4 0.4 1.0 1.0 0.4 0.4 -- -- -- 21.7 21.7 27.5 27.5 7.3 7.3 19.1 19.1 12.6 12.6 2.3 2.3 3.1 3.1 2.5 2.5 1.5 1.5 0.4 0.4 1.0 1.0 1.0 1.0 -- -- -- 23.0 23.0 26.0 26.0 7.3 7.3 21.0 21.0 10.5 10.5 2.3 2.3 2.5 2.5 2.5 2.5 1.9 1.9 0.4 0.4 1.5 1.5 1.0 1.0 -- -- -- 21.6 21.6 25.4 25.4 7.3 7.3 23.0 23.0 10.5 10.5 2.3 2.3 2.7 2.7 2.5 2.5 1.9 1.9 0.3 0.3 1.5 1.5 1.0 1.0 -- -- -- 21.3 21.3 25.1 25.1 7.3 7.3 20.8 20.8 13.0 13.0 2.7 2.7 3.1 3.1 2.9 2.9 1.9 1.9 0.4 0.4 1.0 1.0 0.4 0.4 -- -- -- 20.3 20.3 30.8 30.8 8.0 8.0 17.8 17.8 11.3 11.3 3.0 3.0 1.1 1.1 3.9 3.9 2.0 2.0 0.4 0.4 1.0 1.0 0.4 0.4 -- -- -- 19.9 19.9 32.2 32.2 7.1 7.1 17.4 17.4 11.1 11.1 2.2 2.2 3.1 3.1 3.8 3.8 1.4 1.4 0.3 0.3 1.0 1.0 0.4 0.4 -- -- -- 19.6 19.6 25.0 25.0 5.3 5.3 22.2 22.2 12.8 12.8 2.4 2.4 3.3 3.3 5.9 5.9 1.0 1.0 0.5 0.5 1.5 1.5 0.4 0.4 -- -- -- 19.1 19.1 32.9 32.9 5.1 5.1 16.5 16.5 10.0 10.0 2.2 2.2 4.0 4.0 5.8 5.8 2.0 2.0 0.4 0.4 1.1 1.1 1.0 1.0 -- -- -- 23.0 23.0 26.1 26.1 8.0 8.0 16.5 16.5 10.0 10.0 2.2 2.2 4.0 4.0 5.8 5.8 2.0 2.0 0.4 0.4 1.1 1.1 1.0 1.0 -- -- -- 교 27.4 School 27.4 40.0 40.0 7.0 7.0 -- 5.5 5.5 - - 1.1 1.1 9.1 9.1 0.6 0.6 - - - - - - 9.1 9.1 - - - - 교 27.1 Teaching 27.1 39.6 39.6 6.9 6.9 - - 6.6 6.6 - - 1.1 1.1 9.0 9.0 0.6 0.6 -- - - -- 9.0 9.0 - - - - 교 25.4 School 25.4 37.0 37.0 6.5 6.5 - - 12.7 12.7 -- 1.1 1.1 8.5 8.5 0.5 0.5 - - - - -- 8.5 8.5 -- -- 교 23.1 Lesson 23.1 46.0 46.0 6.9 6.9 1.6 1.6 12.2 12.2 1.3 1.3 - - 3.8 3.8 -- -- -- -- 5.1 5.1 -- -- 교 22.5 School 22.5 27.0 27.0 3.8 3.8 23.0 23.0 9.4 9.4 2.5 2.5 5.5 5.5 4.3 4.3 -- 0.4 0.4 1.1 1.1 0.5 0.5 -- -- -- 교 21.9 School 21.9 23.6 23.6 5.4 5.4 21.7 21.7 12.7 12.7 -- 4.6 4.6 7.0 7.0 -- -- 0.8 0.8 1.2 1.2 -- 1.0 1.0 -- 교 21.8 School 21.8 26.2 26.2 3.7 3.7 22.3 22.3 9.1 9.1 2.4 2.4 5.4 5.4 7.2 7.2 -- 0.4 0.4 1.1 1.1 0.4 0.4    -- -- 교 19.4 School 19.4 20.3 20.3 5.3 5.3 26.0 26.0 10.4 10.4 2.0 2.0 4.5 4.5 6.8 6.8 -- -- 0.8 0.8 1.2 1.2 -- 0.9 0.9 2.3 2.3 교 20.4 School 20.4 21.3 21.3 5.3 5.3 24.0 24.0 12.4 12.4 -- 2.5 2.5 8.8 8.8 -- -- 0.8 0.8 1.2 1.2 -- 0.9 0.9 2.3 2.3 12.3 12.3 40.9 40.9 8.6 8.6 8.5 8.5 20.7 20.7 -- 4.1 4.1 4.5 4.5 -- -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 12.2 12.2 40.5 40.5 8.5 8.5 8.4 8.4 19.5 19.5 -- 4.1 4.1 6.5 6.5 -- -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 12.2 12.2 40.5 40.5 8.5 8.5 8.4 8.4 17.0 17.0 -- 4.1 4.1 6.5 6.5 2.5 2.5 -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 12.1 12.1 40.1 40.1 8.4 8.4 8.3 8.3 19.3 19.3 -- 4.0 4.0 6.4 6.4 1.0 1.0 -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 12.1 12.1 40.1 40.1 8.4 8.4 8.3 8.3 20.3 20.3 -- 4.0 4.0 6.4 6.4 -- -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 11.7 11.7 41.8 41.8 8.2 8.2 8.1 8.1 19.7 19.7 -- 3.9 3.9 6.2 6.2 -- -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 11.7 11.7 38.9 38.9 8.2 8.2 12.1 12.1 19.7 19.7 -- 3.9 3.9 5.2 5.2 -- -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 11.7 11.7 38.9 38.9 8.2 8.2 8.1 8.1 19.7 19.7 -- 5.9 5.9 6.2 6.2 -- -- 0.4 0.4 -- -- 1.0 1.0 -- 11.6 11.6 38.5 38.5 8.1 8.1 10.0 10.0 19.5 19.5 -- 5.8 5.8 6.1 6.1 -- -- 0.4 0.4 -- -- -- -- 11.6 11.6 38.5 38.5 2.0 2.0 8.0 8.0 19.5 19.5 -- 5.8 5.8 6.1 6.1 -- - - 0.4 0.4 -- 8.1 8.1 -- -- 11.5 11.5 38.1 38.1 8.0 8.0 7.9 7.9 19.3 19.3 -- 7.8 7.8 6.1 6.1 -- -- 0.4 0.4 1.0 1.0 -- -- -- 11.4 11.4 37.8 37.8 7.9 7.9 9.8 9.8 19.1 19.1 -- 7.7 7.7 6.0 6.0 -- -- 0.4 0.4 -- -- -- --

구분division 식 1:
A=[PbO]+[TeO2]+[Bi2O3]
Equation 1:
A=[PbO]+[TeO 2 ]+[Bi 2 O 3 ]
식 2:
B=[Li2O]+[Na2O]
Equation 2:
B=[Li 2 O]+[Na 2 O]
식 3:
C=A/B
Equation 3:
C=A/B
식 4:
D=[ZnO]+[WO3]+[Al2O3]
Equation 4:
D=[ZnO]+[WO 3 ]+[Al 2 O 3 ]
실시예Example 1One 54.8 54.8 12.2 12.2 4.5 4.5 7.4 7.4 22 64.0 64.0 12.0 12.0 5.3 5.3 5.3 5.3 33 59.9 59.9 11.1 11.1 5.4 5.4 4.7 4.7 44 57.8 57.8 14.9 14.9 3.9 3.9 5.4 5.4 55 56.9 56.9 14.7 14.7 3.9 3.9 5.3 5.3 66 53.0 53.0 16.0 16.0 3.3 3.3 4.0 4.0 77 62.5 62.5 12.8 12.8 4.9 4.9 5.2 5.2 88 63.6 63.6 11.5 11.5 5.5 5.5 4.7 4.7 99 53.0 53.0 15.5 15.5 3.4 3.4 5.6 5.6 1010 56.5 56.5 14.9 14.9 3.8 3.8 6.6 6.6 1111 56.3 56.3 12.8 12.8 4.4 4.4 6.0 6.0 1212 54.3 54.3 12.8 12.8 4.2 4.2 6.2 6.2 1313 53.7 53.7 15.7 15.7 3.4 3.4 6.5 6.5 1414 59.1 59.1 14.3 14.3 4.1 4.1 5.4 5.4 1515 59.1 59.1 13.4 13.4 4.4 4.4 7.3 7.3 1616 49.9 49.9 15.2 15.2 3.3 3.3 9.7 9.7 1717 57.1 57.1 12.2 12.2 4.7 4.7 10.8 10.8 1818 57.1 57.1 12.2 12.2 4.7 4.7 10.8 10.8 비교예Comparative example 1One 74.5 74.5 5.5 5.5 13.4 13.4 10.3 10.3 22 73.7 73.7 6.6 6.6 11.2 11.2 10.2 10.2 33 68.8 68.8 12.7 12.7 5.4 5.4 9.5 9.5 44 76.1 76.1 13.5 13.5 5.6 5.6 3.8 3.8 55 53.3 53.3 11.9 11.9 4.5 4.5 10.3 10.3 66 51.0 51.0 12.7 12.7 4.0 4.0 12.8 12.8 77 51.7 51.7 11.5 11.5 4.5 4.5 13.0 13.0 88 49.8 49.8 12.4 12.4 4.0 4.0 12.5 12.5 99 49.8 49.8 12.4 12.4 4.0 4.0 12.5 12.5 1010 53.2 53.2 20.7 20.7 2.6 2.6 8.6 8.6 1111 52.7 52.7 19.5 19.5 2.7 2.7 10.5 10.5 1212 52.7 52.7 18.5 18.5 2.9 2.9 10.5 10.5 1313 52.2 52.2 19.3 19.3 2.7 2.7 10.4 10.4 1414 52.2 52.2 20.3 20.3 2.6 2.6 10.4 10.4 1515 53.6 53.6 19.7 19.7 2.7 2.7 10.1 10.1 1616 50.6 50.6 19.7 19.7 2.6 2.6 9.1 9.1 1717 50.6 50.6 19.7 19.7 2.6 2.6 12.1 12.1 1818 50.1 50.1 19.5 19.5 2.6 2.6 12.0 12.0 1919 52.1 52.1 19.5 19.5 2.7 2.7 12.0 12.0 2020 49.6 49.6 19.3 19.3 2.6 2.6 14.8 14.8 2121 49.1 49.1 19.1 19.1 2.6 2.6 13.7 13.7

평가예 1: 접착력, 라인 비저항, 및 접촉 비저항 평가Evaluation Example 1: Evaluation of adhesion, line resistivity, and contact resistivity

상기 유리 프릿, 상기 페이스트 조성물, 또는 상기 태양 전지에 대해, 접착력, 라인 비저항, 및 접촉 비저항을 평가하여, 각각의 평가 결과를 하기 표 3에 나타내었다. 이때, 구체적인 평가 조건은 다음과 같다.The glass frit, the paste composition, or the solar cell were evaluated for adhesion, line resistivity, and contact resistivity, and the evaluation results are shown in Table 3 below. At this time, the specific evaluation conditions are as follows.

접착력 : 상기 각 태양 전지의 전면 전극의 아일랜드 형(Island type) 버스 바(bus bar)에, 리본(폭 1.1 ㎜, 두께 0.2 ㎜)을 일직선으로 맞춘 후, 태빙(Tabbing) 기기를 사용하여 380 ℃의 뜨거운 공기(hot air)를 가하면서 본딩(bonding)을 실시하였다. 각 본딩(Bonding)된 웨이퍼에 대해, 만능재료시험기(NTS technology社)를 사용하여 박리 시험(peel test, 180도 조건)를 실시하였다. 이와 관련하여, 하기 표 3에 기록된 부착력은, 상기 박리 시험에서의 측정값의 최고점이다. Adhesion : Align the ribbon (width 1.1 mm, thickness 0.2 mm) with the island type bus bar of the front electrode of each solar cell, then heat at 380°C using a tabbing machine. Bonding was performed while applying hot air. For each bonded wafer, a peel test (180 degree conditions) was performed using a universal testing machine (NTS technology). In this regard, the adhesion forces reported in Table 3 below are the highest values measured in the peel test.

라인 비저항 : 길이 20,000 ㎛ 및 폭 60 ㎛인 인쇄 제판에, 상기 각 은 분말이 포함된 전극 페이스트 조성물을 인쇄, 건조 및 소성한 후, 멀티미터(Tektronix DMM 4020 device)를 사용하여 라인 저항을 측정하였다. 이와 별도로, 레이저 현미경(laser microscope, KEYENCE VK-X100)을 사용하여, 면적을 측정하였다. 이후, 아래의 계산식 1에 각각의 측정값을 넣어 라인 비저항을 계산하고, 표 3에 기록하였다. Line resistivity : After printing, drying, and firing the electrode paste composition containing each silver powder on a printing plate having a length of 20,000 ㎛ and a width of 60 ㎛, the line resistance was measured using a multimeter (Tektronix DMM 4020 device). . Separately, the area was measured using a laser microscope (KEYENCE VK-X100). Afterwards, the line resistivity was calculated by entering each measured value into Calculation Formula 1 below and recorded in Table 3.

[계산식 1] 라인 비저항=(저항 × 면적)/길이[Calculation Formula 1] Line resistivity = (resistance × area) / length

접촉 비저항 : 접촉 저항은 널리 알려진 방법 중 하나인 TLM (Transfer Length Method)을 이용하여 측정하였다. 구체적으로, 우선 상기 각 은 분말이 포함된 전극 페이스트 조성물을, 웨이퍼에 바(Bar) 패턴(L*Z, 500㎛*3000㎛)으로 인쇄한 후, 건조, 및 소성 공정을 진행한다. 이때, 접촉 저항 측정 시 간섭 현상을 억제하기 위하여, 레이저 에칭 기기(Laser Etching Machine, hardram社)으로 진동수(Frequency) 200㎑ 조건, 펄스 폭(Pulse Width) 50% 조건의 레이저(Laser)를 2회 조사하여, 바(Bar) 패턴의 테두리를 절연(isolation)하였다. 이후에 멀티미터(Tektronix DMM 4020 device)로 저항을 측정하고 간격에 따른 저항의 기울기 및 절편을 측정하여, 접촉 저항을(Ri, Rtotal) 구하였다. 측정된 접촉 저항 및 면적을 아래의 계산식 2에 넣어, 접촉 비저항을 계산하고, 하기 표 3에 기록하였다. Contact resistivity : Contact resistance was measured using TLM (Transfer Length Method), one of the widely known methods. Specifically, first, the electrode paste composition containing each of the silver powders is printed on a wafer in a bar pattern (L*Z, 500㎛*3000㎛), and then drying and firing processes are performed. At this time, in order to suppress the interference phenomenon when measuring contact resistance, a laser etching machine (Laser Etching Machine, Hardram) was used twice with a frequency of 200 kHz and a pulse width of 50%. By irradiation, the border of the bar pattern was isolated. Afterwards, the resistance was measured with a multimeter (Tektronix DMM 4020 device), the slope and intercept of the resistance according to the gap were measured, and the contact resistance (Ri, R total ) was obtained. The measured contact resistance and area were entered into Equation 2 below to calculate the contact resistivity and recorded in Table 3 below.

[계산식 2] 접촉 비저항 = 접촉저항 × 면적[Calculation Formula 2] Contact resistivity = contact resistance × area

구분division 라인 비저항
(단위: uΩㆍ㎝)
line resistivity
(Unit: uΩ·cm)
접촉 비저항
(단위: mΩㆍ㎠)
contact resistivity
(Unit: mΩㆍ㎠)
접착력
(단위: N)
adhesion
(Unit: N)
실시예Example 1One 2.6 2.6 1.6 1.6 1.8 1.8 22 2.6 2.6 1.3 1.3 1.5 1.5 33 2.7 2.7 1.4 1.4 2.5 2.5 44 2.8 2.8 1.8 1.8 2.2 2.2 55 2.0 2.0 1.5 1.5 2.0 2.0 66 2.9 2.9 1.8 1.8 2.1 2.1 77 2.8 2.8 1.8 1.8 1.7 1.7 88 2.8 2.8 1.6 1.6 1.7 1.7 99 2.7 2.7 1.8 1.8 1.8 1.8 1010 2.8 2.8 1.9 1.9 1.5 1.5 1111 2.8 2.8 1.9 1.9 1.6 1.6 1212 2.9 2.9 1.9 1.9 1.6 1.6 1313 2.6 2.6 1.6 1.6 1.8 1.8 1414 2.6 2.6 1.9 1.9 1.5 1.5 1515 2.6 2.6 1.9 1.9 1.6 1.6 1616 2.7 2.7 1.9 1.9 1.7 1.7 1717 2.6 2.6 1.9 1.9 2.22.2 1818 2.7 2.7 1.6 1.6 2.42.4 비교예Comparative example 1One 3.1 3.1 2.4 2.4 1.4 1.4 22 3.2 3.2 2.6 2.6 1.4 1.4 33 3.5 3.5 2.5 2.5 2.1 2.1 44 3.5 3.5 2.8 2.8 1.3 1.3 55 2.6 2.6 2.4 2.4 2.4 2.4 66 2.7 2.7 2.5 2.5 2.6 2.6 77 2.6 2.6 3.2 3.2 2.3 2.3 88 3.3 3.3 1.2 1.2 2.9 2.9 99 3.4 3.4 1.4 1.4 2.1 2.1 1010 2.7 2.7 2.4 2.4 2.3 2.3 1111 2.6 2.6 2.1 2.1 2.3 2.3 1212 2.8 2.8 2.5 2.5 2.4 2.4 1313 2.8 2.8 2.1 2.1 2.3 2.3 1414 2.6 2.6 2.4 2.4 2.6 2.6 1515 2.4 2.4 2.3 2.3 2.4 2.4 1616 2.6 2.6 2.6 2.6 1.7 1.7 1717 2.7 2.7 2.4 2.4 2.3 2.3 1818 2.7 2.7 2.8 2.8 2.3 2.3 1919 2.8 2.8 2.9 2.9 2.3 2.3 2020 2.8 2.8 2.5 2.5 2.5 2.5 2121 2.5 2.5 2.3 2.3 2.4 2.4

상기 표 3에 따르면, 실시예 1 내지 18의 경우, 모두 1.5 N을 초과하는 우수한 접착성이 나타나면서도, 3.0 uΩㆍ㎝ 보다 낮은 라인 저항 및 2.0 mΩㆍ㎠ 보다 낮은 접촉 저항이 나타나는 것으로 나타났다. 이에 반해, 비교예 1, 2, 및 4는 접착성이 낮고, 비교예 1 내지 4, 8, 및 9는 높은 라인 저항을 가지며, 비교예 1 내지 7 및 10 내지 21은 높은 접촉 비저항을 갖는 문제가 있다. 이는, 유리 프릿 조성의 차이에 기인한 것으로, 비교예 1 내지 21과 달리, 실시예 1 내지 18에서는 표 1 및 2를 모두 만족함에 따라, 전극과 반도체 기판 사이의 접착성이 우수하게 나타나고, 이에 따라 라인 저항 및 접촉 저항이 낮아진 것을 의미한다.According to Table 3, in the case of Examples 1 to 18, excellent adhesion exceeding 1.5 N was shown, while line resistance was lower than 3.0 uΩ·cm and contact resistance was lower than 2.0 mΩ·cm2. On the other hand, Comparative Examples 1, 2, and 4 have low adhesion, Comparative Examples 1 to 4, 8, and 9 have high line resistance, and Comparative Examples 1 to 7 and 10 to 21 have high contact resistivity. There is. This is due to the difference in glass frit composition. Unlike Comparative Examples 1 to 21, Examples 1 to 18 satisfy all of Tables 1 and 2, showing excellent adhesion between the electrode and the semiconductor substrate, and thus This means that line resistance and contact resistance are lowered.

평가예 2: 전이점 및 결정화 온도 평가Evaluation Example 2: Evaluation of transition point and crystallization temperature

상기 각 유리 프릿에 대해, 연화점 및 결정화 온도를 평가하여, 각각의 평가 결과를 하기 표 4에 나타내었다. 이때, 구체적인 평가 조건은 다음과 같다.For each glass frit, the softening point and crystallization temperature were evaluated, and the evaluation results are shown in Table 4 below. At this time, the specific evaluation conditions are as follows.

전이점 : 전이점(Transition temperature)이라 일컫는 유리전이 온도는 온도 증가 혹은 온도 감소 시 탄성체에서 점성체 혹은 점성체에서 탄성체로 변하는 구간의 열적 특성을 내는 것으로서, 알루미늄 팬(pan)에 상기 각 유리 프릿을 도포하고, 시차주사열량계 (Differential Scanning Calorimeter, DSC, TA社)를 이용하여 10℃/min의 승온 속도로 580℃까지 온도를 증가시키면서 측정하였다. 측정 시 흡열 반응이 끝나는 피크점을 분석하여, Tg 온도를 확인하고, 하기 표 4에 기록하였다. Transition point : The glass transition temperature, also called the transition temperature, is the thermal characteristic of the section where the temperature changes from an elastic body to a viscous body or from a viscous body to an elastic body when the temperature increases or decreases. Each glass frit is placed in an aluminum pan. was applied and measured using a Differential Scanning Calorimeter (DSC, TA) while increasing the temperature to 580°C at a temperature increase rate of 10°C/min. During measurement, the peak point at which the endothermic reaction ends was analyzed to confirm the Tg temperature and recorded in Table 4 below.

결정화 온도 : 상기 연화점 측정시 사용된 것과 동일한 기기를 사용하고, 동일한 승온 속도 및 온도 조건을 부과하되, 측정 시 발열 반응이 끝나는 피크 점을 분석하여, Tc 온도를 확인하고, 하기 표 4에 기록하였다. Crystallization temperature : The same device used to measure the softening point was used, and the same heating rate and temperature conditions were applied, but the peak point at which the exothermic reaction ends during measurement was analyzed to determine the Tc temperature, and recorded in Table 4 below. .

구분division 전이점
(Tg, ℃)
transition point
(Tg, ℃)
결정화 온도
(Tc, ℃)
crystallization temperature
(Tc, ℃)
실시예Example 1One 274.4 274.4 327.2 327.2 22 341.4 341.4 358.6 358.6 33 280.3 280.3 335.7 335.7 44 338.1 338.1 360.0 360.0 55 340.8 340.8 360.3 360.3 66 329.3 329.3 356.9 356.9 77 340.7 340.7 362.7 362.7 88 340.5 340.5 359.3 359.3 99 281.8 281.8 332.8 332.8 1010 338.9 338.9 358.5 358.5 1111 276.6 276.6 360.9 360.9 1212 277.8 277.8 355.4 355.4 1313 284.1 284.1 367.8 367.8 1414 335.6 335.6 353.6 353.6 1515 334.4 334.4 350.4 350.4 1616 336.3 336.3 353.5 353.5 1717 340.5 340.5 364.4 364.4 1818 267.6 267.6 325.0 325.0

상기 표 4에 따르면, 실시예 1 내지 18의 경우, 260 ℃ 내지 350 ℃의 적정 범위의 연화점이 측정되면서도, 320 ℃ 내지 420 ℃의 결정화 온도가 측정되었다. According to Table 4, in the case of Examples 1 to 18, the softening point was measured in an appropriate range of 260 ℃ to 350 ℃, and the crystallization temperature was measured to be 320 ℃ to 420 ℃.

본 발명은 상기 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 제조될 수 있으며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.The present invention is not limited to the above-mentioned embodiments, but can be manufactured in various different forms, and those skilled in the art will be able to form other specific forms without changing the technical idea or essential features of the present invention. You will be able to understand that this can be implemented. Therefore, the embodiments described above should be understood in all respects as illustrative and not restrictive.

10: 반도체 기판 10a: 하부 반도체 층
10b: 상부 반도체 층 12: 반사방지막
20: 전면 전극 30: 후면 전극
10: semiconductor substrate 10a: lower semiconductor layer
10b: upper semiconductor layer 12: anti-reflection layer
20: front electrode 30: rear electrode

Claims (26)

납(Pb)-텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿(glass frit)이며,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해,
제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고,
제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고,
제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고,
제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고,
제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고,
잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함하고,
상기 제6 금속 산화물은 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하고,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화아연(ZnO)이 1 내지 4 몰%, 상기 산화텅스텐(WO3)이 2 내지 6 몰%, 상기 산화알루미늄(Al2O3)이 0.4 내지 1.0 몰% 포함되며,
상기 유리 프릿은 하기 식 4를 만족하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
[식 4]
3<[ZnO]+[WO3]+[Al2O3]<11
(상기 식 4에서, [ZnO], [WO3], 및 [Al2O3]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화아연(ZnO)의 함량(몰%), 상기 산화텅스텐(WO3)(몰%), 및 상기 산화알루미늄(Al2O3)의 함량(몰%)을 의미한다)
It is a lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi) based glass frit,
Regarding the total amount of glass frit (100 mol%),
Contains 19 to 23 mol% of lead oxide (PbO), which is the first metal oxide,
It contains 25 to 35 mol% of tellurium oxide (TeO 2 ), which is a second metal oxide,
Contains 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), a third metal oxide,
Contains 9 to 13 mol% of lithium oxide (Li 2 O), a fourth metal oxide,
Contains 2 to 3 mol% of sodium oxide (Na 2 O), a fifth metal oxide,
The remainder includes a sixth metal oxide, wherein the sixth metal oxide includes a glass frit raw material different from the first to fifth metal oxides,
The sixth metal oxide includes zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ),
With respect to the total amount of the glass frit (100 mol%), the zinc oxide (ZnO) is 1 to 4 mol%, the tungsten oxide (WO 3 ) is 2 to 6 mol%, and the aluminum oxide (Al 2 O 3 ) is 0.4 mol%. to 1.0 mol%,
The glass frit is a glass frit composition for forming electrodes of solar cells that satisfies the following equation 4.
[Equation 4]
3<[ZnO]+[WO 3 ]+[Al 2 O 3 ]<11
(In Equation 4, [ZnO], [WO 3 ], and [Al 2 O 3 ] are the content (mol%) of zinc oxide (ZnO) relative to the total amount of glass frit (100 mol%), respectively. Tungsten oxide (WO 3 ) (mol%), and the content (mol%) of aluminum oxide (Al 2 O 3 )
제1 항에 있어서,
상기 유리 프릿은 하기 식 1을 만족하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
[식 1]
49<A=([PbO]+[TeO2]+[Bi2O3])<66
(상기 식 1에서, [PbO], [TeO2], 및 [Bi2O3]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화납(PbO)의 함량(몰%), 상기 산화텔루륨(TeO2)(몰%), 및 상기 산화비스무스(Bi2O3)의 함량(몰%)을 의미한다)
According to claim 1,
The glass frit is a glass frit composition for forming electrodes of solar cells that satisfies the following formula 1.
[Equation 1]
49<A=([PbO]+[TeO 2 ]+[Bi 2 O 3 ])<66
(In Equation 1, [PbO], [TeO 2 ], and [Bi 2 O 3 ] are, respectively, the content (mol%) of the lead oxide (PbO) relative to the total amount of the glass frit (100 mol%), Tellurium oxide (TeO 2 ) (mol%), and the content (mol%) of bismuth oxide (Bi 2 O 3 )
제1 항에 있어서,
상기 유리 프릿은 하기 식 2를 만족하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
[식 2]
11<B=([Li2O]+[Na2O])<16
(상기 식 2에서, [Li2O] 및 [Na2O]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화리튬(Li2O)의 함량(몰%) 및 상기 산화나트륨(Na2O)의 함량(몰%)을 의미한다)
According to claim 1,
The glass frit is a glass frit composition for forming electrodes of solar cells that satisfies the following equation 2.
[Equation 2]
11<B=([Li 2 O]+[Na 2 O])<16
(In Equation 2, [Li 2 O] and [Na 2 O] are the content (mol%) of the lithium oxide (Li 2 O) and the sodium oxide (mol%) relative to the total amount of the glass frit (100 mol%), respectively. refers to the content (mol%) of Na 2 O)
제3 항에 있어서,
상기 유리 프릿은 하기 식 3을 만족하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
[식 3]
3.1<A/B<6.0
(상기 식 3에서, A는 [PbO]+[TeO2]+[Bi2O3]의 값을 의미하고, B는 [Li2O]+[Na2O]의 값을 의미하고, [PbO], [TeO2], [Bi2O3], [Li2O] 및 [Na2O]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화납(PbO)의 함량(몰%), 상기 산화텔루륨(TeO2)(몰%), 상기 산화비스무스(Bi2O3)의 함량(몰%), 상기 산화리튬(Li2O)의 함량(몰%), 및 상기 산화나트륨(Na2O)의 함량(몰%)을 의미한다)
According to clause 3,
The glass frit is a glass frit composition for forming electrodes of solar cells that satisfies the following equation 3.
[Equation 3]
3.1<A/B<6.0
(In Equation 3 above, A refers to the value of [PbO]+[TeO 2 ]+[Bi 2 O 3 ], B refers to the value of [Li 2 O]+[Na 2 O], and [PbO ], [TeO 2 ], [Bi 2 O 3 ], [Li 2 O] and [Na 2 O] are the content (mol%) of lead oxide (PbO) relative to the total amount of glass frit (100 mol%), respectively. ), the tellurium oxide (TeO 2 ) (mol%), the content of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ) (mol%), the content of lithium oxide (Li 2 O) (mol%), and the sodium oxide. (Means the content (mol%) of Na 2 O)
제1 항에 있어서,
상기 제6 금속 산화물은,
산화규소(SiO2), 산화은(Ag2O), 산화구리(CuO), 및 산화붕소(B2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 적어도 1종 이상의 유리 프릿 원료 물질을 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to claim 1,
The sixth metal oxide is,
A solar cell comprising at least one glass frit raw material selected from the group consisting of silicon oxide (SiO 2 ), silver oxide (Ag 2 O), copper oxide (CuO), and boron oxide (B 2 O 3 ). Glass frit composition for forming electrodes.
삭제delete 제5 항에 있어서,
상기 제6 금속 산화물은 상기 산화규소(SiO2)를 포함하고,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화규소(SiO2)이 16 내지 23 몰% 포함되고, 잔부로는 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag2O), 산화구리(CuO), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to clause 5,
The sixth metal oxide includes the silicon oxide (SiO 2 ),
Based on the total amount of the glass frit (100 mol%), 16 to 23 mol% of silicon oxide (SiO 2 ) is included, and the balance is zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), and silver oxide (Ag 2 O). , copper oxide (CuO), boron oxide (B 2 O 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ). A glass frit composition for forming an electrode of a solar cell containing one or more metal oxides selected from the group consisting of.
삭제delete 삭제delete 제5 항에 있어서,
상기 제6 금속 산화물은 상기 산화은(Ag2O)을 포함하고,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화은(Ag2O)이 0.5 내지 2.0 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화알루미늄(Al2O3), 산화구리(CuO), 및 산화붕소(B2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to clause 5,
The sixth metal oxide includes the silver oxide (Ag 2 O),
Based on the total amount of the glass frit (100 mol%), 0.5 to 2.0 mol% of silver oxide (Ag 2 O) is included, and the balance is silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), and tungsten oxide (WO 3 ). , aluminum oxide (Al 2 O 3 ), copper oxide (CuO), and boron oxide (B 2 O 3 ). A glass frit composition for forming electrodes of solar cells containing at least one metal oxide selected from the group consisting of.
제5 항에 있어서,
상기 제6 금속 산화물은 상기 산화구리(CuO)을 포함하고,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화구리(CuO)이 0.2 내지 0.5 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화은(Ag2O), 산화텅스텐(WO3), 산화붕소(B2O3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to clause 5,
The sixth metal oxide includes the copper oxide (CuO),
With respect to the total amount of the glass frit (100 mol%), the copper oxide (CuO) is included from 0.2 to 0.5 mol%, and the balance includes silicon oxide (SiO2), zinc oxide (ZnO), silver oxide (Ag2O), and tungsten oxide ( A glass frit composition for forming an electrode of a solar cell containing at least one metal oxide selected from the group consisting of WO3), boron oxide (B2O3), and aluminum oxide (Al2O3).
제5 항에 있어서,
상기 제6 금속 산화물은 상기 산화붕소(B2O3)을 포함하고,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화붕소(B2O3)이 0.5 내지 1.5 몰% 포함되고, 잔부로는 산화규소(SiO2), 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 산화은(Ag2O), 산화구리(CuO), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하는 군에서 선택되는 1종 이상의 금속 산화물을 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to clause 5,
The sixth metal oxide includes the boron oxide (B 2 O 3 ),
Based on the total amount of the glass frit (100 mol%), 0.5 to 1.5 mol% of boron oxide (B 2 O 3 ) is included, and the balance is silicon oxide (SiO 2 ), zinc oxide (ZnO), and tungsten oxide (WO). 3 ), a glass frit composition for forming an electrode of a solar cell containing at least one metal oxide selected from the group consisting of silver oxide (Ag 2 O), copper oxide (CuO), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ).
삭제delete 제1 항에 있어서,
상기 유리 프릿의 전이점은,
260 ℃ 내지 350 ℃의 온도 범위를 만족하는 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to claim 1,
The transition point of the glass frit is,
A glass frit composition for forming electrodes of solar cells that satisfies a temperature range of 260°C to 350°C.
제1 항에 있어서,
상기 유리 프릿의 결정화 온도(Tc)는,
320 ℃ 내지 420 ℃ 의 온도 범위인 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to claim 1,
The crystallization temperature (Tc) of the glass frit is,
A glass frit composition for forming electrodes of solar cells in a temperature range of 320° C. to 420° C.
제1 항에 있어서,
상기 유리 프릿의 라인 저항(Line Resistivity)은,
3.0 uΩㆍ㎝ 미만(단, 0 uΩㆍ㎝ 제외)인 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to claim 1,
The line resistance of the glass frit is,
A glass frit composition for forming electrodes of solar cells less than 3.0 uΩ·cm (excluding 0 uΩ·cm).
제1항에 있어서,
상기 유리 프릿의 접촉 저항(Contact Resistivity)은,
2.0 mΩㆍ㎠ 미만(단, 0 mΩㆍ㎠ 제외)인 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to paragraph 1,
The contact resistance of the glass frit is,
A glass frit composition for forming electrodes of solar cells with a thickness of less than 2.0 mΩ·cm2 (excluding 0 mΩ·cm2).
제1항에 있어서,
상기 유리 프릿의 접착력(Adhesion)은 1.5 N 보다 큰 태양 전지의 전극 형성용 유리 프릿 조성물.
According to paragraph 1,
Adhesion of the glass frit is greater than 1.5 N. A glass frit composition for forming electrodes of solar cells.
도전성 분말;
유리 프릿(glass frit); 및
유기 비히클;을 포함하고,
상기 유리 프릿은 납(Pb)-텔루륨(Te)-비스무스(Bi)계 유리 프릿(glass frit)이며,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 제1 금속 산화물인 산화납(PbO)이 19 내지 23 몰% 포함되고,
제2 금속 산화물인 산화텔루륨(TeO2)이 25 내지 35 몰% 포함되고,
제3 금속 산화물인 산화비스무스(Bi2O3)가 5 내지 8 몰% 포함되고,
제4 금속 산화물인 산화리튬(Li2O)이 9 내지 13 몰% 포함되고,
제5 금속 산화물인 산화나트륨(Na2O)이 2 내지 3 몰% 포함되고,
잔부로는 제6 금속 산화물이 포함되며, 상기 제6 금속 산화물은 상기 제1 내지 제5 금속 산화물과 상이한 유리 프릿 원료 물질을 포함하고,
상기 제6 금속 산화물은 산화아연(ZnO), 산화텅스텐(WO3), 및 산화알루미늄(Al2O3)을 포함하고,
상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대해, 상기 산화아연(ZnO)이 1 내지 4 몰%, 상기 산화텅스텐(WO3)이 2 내지 6 몰%, 상기 산화알루미늄(Al2O3)이 0.4 내지 1.0 몰% 포함되며,
상기 유리 프릿은 하기 식 4를 만족하는 태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물.
[식 4]
3<[ZnO]+[WO3]+[Al2O3]<11
(상기 식 4에서, [ZnO], [WO3], 및 [Al2O3]는 각각, 상기 유리 프릿 총량(100 몰%)에 대한 상기 산화아연(ZnO)의 함량(몰%), 상기 산화텅스텐(WO3)(몰%), 및 상기 산화알루미늄(Al2O3)의 함량(몰%)을 의미한다)
conductive powder;
glass frit; and
Contains an organic vehicle;
The glass frit is a lead (Pb)-tellurium (Te)-bismuth (Bi) based glass frit,
Based on the total amount of glass frit (100 mol%), lead oxide (PbO), which is a first metal oxide, is included in an amount of 19 to 23 mol%,
It contains 25 to 35 mol% of tellurium oxide (TeO 2 ), which is a second metal oxide,
Contains 5 to 8 mol% of bismuth oxide (Bi 2 O 3 ), a third metal oxide,
Contains 9 to 13 mol% of lithium oxide (Li 2 O), a fourth metal oxide,
Contains 2 to 3 mol% of sodium oxide (Na 2 O), a fifth metal oxide,
The remainder includes a sixth metal oxide, wherein the sixth metal oxide includes a glass frit raw material different from the first to fifth metal oxides,
The sixth metal oxide includes zinc oxide (ZnO), tungsten oxide (WO 3 ), and aluminum oxide (Al 2 O 3 ),
With respect to the total amount of the glass frit (100 mol%), the zinc oxide (ZnO) is 1 to 4 mol%, the tungsten oxide (WO 3 ) is 2 to 6 mol%, and the aluminum oxide (Al 2 O 3 ) is 0.4 mol%. to 1.0 mol%,
The glass frit is a paste composition for forming electrodes of solar cells that satisfies Equation 4 below.
[Equation 4]
3<[ZnO]+[WO 3 ]+[Al 2 O 3 ]<11
(In Equation 4, [ZnO], [WO 3 ], and [Al 2 O 3 ] are the content (mol%) of zinc oxide (ZnO) relative to the total amount of glass frit (100 mol%), respectively. Tungsten oxide (WO 3 ) (mol%), and the content (mol%) of aluminum oxide (Al 2 O 3 )
제19 항에 있어서,
상기 도전성 분말은,
은(Ag) 분말, 은(Ag) 함유 합금 분말, 알루미늄(Al) 분말, 알루미늄(Al) 함유 합금 분말, 구리(Cu) 분말, 구리(Cu) 함유 합금 분말, 니켈(Ni) 분말, 및 니켈(Ni) 함유 합금 분말을 포함하는 군에서 선택되는 적어도 1종 이상의 도전성 분말을 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물.
According to clause 19,
The conductive powder is,
Silver (Ag) powder, silver (Ag)-containing alloy powder, aluminum (Al) powder, aluminum (Al)-containing alloy powder, copper (Cu) powder, copper (Cu)-containing alloy powder, nickel (Ni) powder, and nickel A paste composition for forming electrodes of a solar cell comprising at least one type of conductive powder selected from the group containing (Ni)-containing alloy powder.
제19 항에 있어서,
상기 유기 비히클은,
유기 바인더 및 유기 용매를 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물.
According to clause 19,
The organic vehicle is,
A paste composition for forming electrodes of a solar cell comprising an organic binder and an organic solvent.
제19 항에 있어서,
첨가제를 더 포함하는 태양 전지의 전극 형성용 페이스트(paste) 조성물.
According to clause 19,
A paste composition for forming electrodes of a solar cell further comprising an additive.
제1항 내지 제5항, 제7항, 제10항 내지 제12항, 제14항 내지 제18항 중 어느 한 항의 조성물을 사용하여 형성된 태양 전지용 전극.
An electrode for a solar cell formed using the composition of any one of claims 1 to 5, 7, 10 to 12, and 14 to 18.
제19항 내지 제22항 중 어느 한 항의 조성물을 사용하여 형성된 태양 전지용 전극.
An electrode for a solar cell formed using the composition of any one of claims 19 to 22.
반도체 기판; 및
상기 반도체 기판의 적어도 일면에 위치하고, 제23항에 따른 전극;을 포함하는 태양 전지.
semiconductor substrate; and
A solar cell comprising: an electrode according to claim 23, located on at least one surface of the semiconductor substrate.
반도체 기판; 및
상기 반도체 기판의 적어도 일면에 위치하고, 제24항에 따른 전극;을 포함하는 태양 전지.
semiconductor substrate; and
A solar cell comprising: an electrode according to claim 24, located on at least one surface of the semiconductor substrate.
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