KR102667621B1 - Moisture measuring device - Google Patents
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Abstract
곡물의 보다 정확한 수분량을 측정하는 것이 가능한 수분측정장치를 제공한다. 곡물의 수분량을 측정하는 수분측정장치(10)는 수분측정장치(10)를 제어하는 기판(31g) 상에 마련되어, 수분측정장치(10) 내의 온도를 측정하는 온도 센서(31h)와, 곡물이 통과하고 있는 공간의 온도를 측정하는 온도 센서(44)와, 이 공간을 통과한 곡물의 일부의 곡립의 수분량을 측정하는 측정부(31f)를 구비하고 있다. 측정부(31f)는 온도 센서(31h)에 의해 측정된 온도와 온도 센서(44)에 의해 측정된 온도에 기초하여, 측정한 곡립의 수분량을 보정한다.Provides a moisture measuring device that can more accurately measure the moisture content of grains. The moisture measuring device 10, which measures the moisture content of grains, is provided on a substrate 31g that controls the moisture measuring device 10, and includes a temperature sensor 31h that measures the temperature within the moisture measuring device 10, and a grain It is provided with a temperature sensor 44 that measures the temperature of the space through which it passes, and a measuring unit 31f that measures the moisture content of some grains of grain that passed through this space. The measurement part 31f corrects the moisture content of the measured grain based on the temperature measured by the temperature sensor 31h and the temperature measured by the temperature sensor 44.
Description
본 발명은 곡물의 수분량을 측정하는 수분측정장치에 관한 것이다.The present invention relates to a moisture measuring device for measuring the moisture content of grain.
종래에 이러한 종류의 수분측정장치로서는 예를 들어 곡물을 건조시키기 위한 곡물 건조기에 마련되어, 곡물의 건조 정도를 확인하기 위해서 곡물의 수분량으로서, 수용된 곡물의 일부의 곡립에 포함되는 수분량을 측정하는 것이 알려져 있다(예를 들어 특허문헌 1 참조).Conventionally, as a moisture measuring device of this type, it is known that, for example, it is provided in a grain dryer for drying grain, and measures the moisture content of a portion of the received grain as the moisture content of the grain in order to check the degree of drying of the grain. (For example, see Patent Document 1).
수분측정장치는 쌍을 이루는 롤러와, 쌍을 이루는 롤러 사이에서의 전기저항값을 측정하는 측정부를 구비한 수분측정기구를 구비하고 있다. 수분측정장치는 수분측정기구에서 쌍을 이루는 롤러의 외주면 사이에서 곡립을 으깨고, 측정부에 의해 한 쌍의 롤러 사이에서의 전기저항값을 측정함으로써, 으깬 상태의 곡립에 포함되는 수분량을 전기적으로 측정하고 있다.The moisture measuring device includes a moisture measuring device that includes a pair of rollers and a measuring unit that measures the electrical resistance between the paired rollers. The moisture measuring device electrically measures the amount of moisture contained in the crushed grain by crushing the grain between the outer peripheral surfaces of a pair of rollers and measuring the electrical resistance value between the pair of rollers using a measuring unit. I'm doing it.
그런데, 측정된 전기저항값은 곡물의 온도의 영향을 받아서 변화된다. 그렇기 때문에, 수분측정장치는 곡물의 일부의 곡립을 으깼을 때에 그 전기저항값을 측정하는 것만으로는 곡물의 수분량을 정확하게 측정할 수 없다. 이에, 수분측정장치는 그 본체의 기판 상에 마련된 온도 센서에 의해 측정한 온도를 곡물의 온도로 하고, 그 온도에 기초하여 곡물의 수분량을 보정하고 있다.However, the measured electrical resistance value changes depending on the temperature of the grain. Therefore, the moisture measuring device cannot accurately measure the moisture content of grains simply by measuring the electrical resistance value when some grains are crushed. Accordingly, the moisture measuring device uses the temperature measured by a temperature sensor provided on the substrate of the main body as the temperature of the grain, and corrects the moisture content of the grain based on the temperature.
구체적으로 기판 상에, 곡물의 수분량을 측정하는 측정부와 온도 센서가 마련되어 있는 수분측정장치에 있어서, 온도 센서로부터 측정부로 수분측정장치 내부의 온도의 데이터가 공급되면, 측정부는 이하의 (식 1)에 의해 곡립의 수분량을 보정한다.Specifically, in a moisture measuring device in which a measuring unit for measuring the moisture content of grain and a temperature sensor are provided on a substrate, when data of the temperature inside the moisture measuring device is supplied from the temperature sensor to the measuring unit, the measuring unit uses the following (Equation 1) ) to correct the moisture content of the grains.
보정 후의 곡립의 수분량=보정 전의 곡립의 수분량+A ‥ (식 1)Moisture content of grain after correction = Moisture content of grain before correction + A ‥ (Equation 1)
A : 기판 상의 온도 센서에 의해 측정된 수분측정장치 내부의 온도에 의한 보정값A: Correction value based on the temperature inside the moisture measuring device measured by the temperature sensor on the board
그러나 수분측정장치의 본체의 기판 상의 온도 센서에 의해 측정된 온도와 실제의 곡물의 온도 사이에 차이가 발생하고 있는 경우, 수분측정장치는 곡립의 수분량을 보정하지 못하고, 결과적으로 곡립의 보다 정확한 수분량을 측정할 수 없다.However, if there is a difference between the temperature measured by the temperature sensor on the board of the moisture measuring device and the actual temperature of the grain, the moisture measuring device cannot correct the moisture content of the grain, resulting in a more accurate moisture content of the grain. cannot be measured.
상술한 과제를 해결하기 위해서, 본 발명은 곡물의 수분량을 측정하는 수분측정장치이며, 수분측정장치를 제어하는 기판 상에 마련되어, 수분측정장치 내의 온도를 측정하는 제1 온도 센서와, 곡물이 통과하고 있는 공간의 온도를 측정하는 제2 온도 센서와, 이 공간을 통과한 곡물의 일부의 곡립의 수분량을 측정하는 수분측정부를 구비하고, 수분측정부는 제1 온도 센서에 의해 측정된 온도와 제2 온도 센서에 의해 측정된 온도에 기초하여, 측정한 곡립의 수분량을 보정하는 것을 특징으로 한다.In order to solve the above-described problem, the present invention is a moisture measuring device that measures the moisture content of grains, and is provided on a substrate that controls the moisture measuring device, including a first temperature sensor that measures the temperature within the moisture measuring device and the grain passing through. It is provided with a second temperature sensor that measures the temperature of the space in which the moisture is measured, and a moisture measuring unit that measures the moisture content of some grains of grain that have passed through this space, and the moisture measuring unit measures the temperature measured by the first temperature sensor and the second temperature sensor. It is characterized by correcting the moisture content of the measured grain based on the temperature measured by the temperature sensor.
본 발명의 수분측정장치에 의하면, 기판 상에 마련된 제1 온도 센서에 의해 측정된 온도와, 곡물이 통과하고 있는 공간의 온도를 측정하는 제2 온도 센서에 의해 측정된 온도에 기초하여 곡립의 수분량을 보정함으로 인해, 곡립의 보다 정확한 수분량을 측정할 수 있다.According to the moisture measuring device of the present invention, the moisture content of the grain is based on the temperature measured by the first temperature sensor provided on the substrate and the temperature measured by the second temperature sensor that measures the temperature of the space through which the grain is passing. By correcting, it is possible to measure the moisture content of grains more accurately.
도 1은 본 발명의 일 실시형태를 도시하는 곡물 건조기의 개략 구성도이다.
도 2는 수분측정장치의 전체 사시도이다.
도 3은 수분측정장치의 측면 단면도이다.
도 4는 수분측정장치의 정면 단면도이다.
도 5는 수분측정부를 설명하기 위한 도면이다.1 is a schematic configuration diagram of a grain dryer showing one embodiment of the present invention.
Figure 2 is an overall perspective view of the moisture measuring device.
Figure 3 is a side cross-sectional view of the moisture measuring device.
Figure 4 is a front cross-sectional view of the moisture measuring device.
Figure 5 is a diagram for explaining the moisture measuring unit.
도 1 내지 도 5는 본 발명의 일 실시형태를 도시하는 것이다.1 to 5 show one embodiment of the present invention.
본 발명의 수분측정장치(10)는 도 1에 도시하는 바와 같이 곡물 건조기(1)에 마련되어 있다. 곡물 건조기(1)는 곡물을 저장하기 위한 저장부(2)와, 곡물을 건조시키기 위한 건조부(3)와, 건조부(3)로부터 내려오는 곡물을 모으기 위한 집곡(集穀)부(4)와, 집곡부(4)에 모아진 곡물을 저장부(2)에 되돌리기 위한 양곡(揚穀)부(5)와, 집곡부(4)로부터 양곡부(5)로 곡물을 송출하는 유곡통(流穀筒)(7)을 구비하고 있다.The moisture measuring
저장부(2)는 곡물 건조기(1)의 상부측에 위치하여 곡물을 수용한다.The storage unit 2 is located on the upper side of the grain dryer 1 and accommodates grains.
건조부(3)는 저장부(2)의 하방에 마련되어, 저장부(2)로부터 순환동작에 의해 내려오는 곡물을 예를 들어 원적외선이나 열풍에 의해 가열하여, 곡물에 포함되는 수분을 저감시킨다.The drying unit 3 is provided below the storage unit 2, and heats the grains coming down from the storage unit 2 in a circular motion using, for example, far-infrared rays or hot air, thereby reducing the moisture contained in the grains.
집곡부(4)는 건조부(3)의 하방에 마련되어, 건조부(3)로부터 순환동작에 의해 내려오는 곡물을 모은다.The collecting section 4 is provided below the drying section 3 and collects grains coming down from the drying section 3 through a circulation operation.
양곡부(5)는 저장부(2), 건조부(3) 및 집곡부(4)의 측면 측을 상하방향으로 연장시키도록 마련되어, 집곡부(4)에 모아진 곡물을 상방으로 반송하고, 저장부(2)의 상부로 방출한다. 또한 양곡부(5)의 하부에는 곡물 건조기(1)에 의해 건조시키는 곡물을 투입하기 위한 투입구(6)가 마련되어 있다. 투입구(6)로부터 투입된 곡물은 양곡부(5)에 의해 상방으로 반송되고, 저장부(2)의 상부로 방출된다. 나아가 양곡부(5)의 상부에는 그 내부공간에 수용되어 있는 곡물을 배출하는 배출부가 마련되어 있다.The
유곡통(7)은 도 1에 도시하는 바와 같이 집곡부(4)의 우측 끝에 접하는 위치에 마련되어 있다. 유곡통(7)은 집곡부(4)로부터 양곡부(5)로 곡물을 송출하는 송출로를 형성하고 있다. 집곡부(4)에서는 내려오는 곡물을 유곡통(7)으로 반송하는 반송기구(401)를 가지고 있다. 반송기구(401)는 회전축에 대해서 나선형으로 돌출되는 티스를 가지고 있으며, 그 티스의 회전에 의해, 내려오는 곡물을 도 1에서 좌측으로부터 우측으로 반송시킨다. 이와 같이 하여, 곡물은 집곡부(4)로부터 유곡통(7)으로 반송되고, 유곡통(7)으로부터 양곡부(5)로 송출된다.As shown in FIG. 1, the valley tube 7 is provided at a position adjacent to the right end of the valley part 4. The grain bin 7 forms a delivery path for sending grain from the collecting section 4 to the grain raising
이와 같이 구성된 곡물 건조기(1)는 저장부(2), 건조부(3), 집곡부(4), 유곡통(7) 및 양곡부(5)의 순서대로 곡물을 순환시키도록 되어 있다.The grain dryer 1 configured in this way is designed to circulate grain in the order of the storage unit 2, the drying unit 3, the collecting unit 4, the grain bin 7, and the
본 발명의 수분측정장치(10)는 상하방향으로 연장되는 양곡부(5)의 측면의 하측, 즉 곡물 건조기(1)의 일측면의 하측에 설치되어 있다. 수분측정장치(10)는 소정 시간마다 곡물의 수분량으로서, 양곡부(5)에서 상방으로 반송되는 곡물의 일부의 곡립에 포함되는 수분량을 측정하는 것이다.The moisture measuring
또한 본 실시형태에 있어서, '수분량'이란 '수분의 중량', '수분의 용량', 곡립 전체의 중량에 대한 그 곡립의 수분의 중량의 비율인 '수분의 중량비', 곡립 전체의 용량에 대한 그 곡립의 수분의 용량의 비율인 '수분의 용량비' 중 어느 것을 의미해도 된다.In addition, in this embodiment, the 'moisture content' refers to 'the weight of moisture', 'capacity of moisture', 'moisture weight ratio' which is the ratio of the weight of moisture in the grain to the weight of the entire grain, and the capacity of the entire grain. It may mean any of the 'moisture capacity ratio', which is the ratio of the moisture capacity of the grain.
곡물 건조기(1)는 곡물의 건조동작 중에 수분측정장치(10)에 의해 측정된 곡립의 수분량이, 미리 설정된 수분량에 도달한 것을 검출하여, 건조부(3), 집곡부(4) 및 양곡부(5)의 동작을 정지시키는 것이 가능하다.The grain dryer (1) detects that the moisture content of the grain measured by the moisture measuring device (10) has reached a preset moisture amount during the drying operation of the grain, and operates the drying unit (3), the gathering unit (4), and the grain raising unit. It is possible to stop the operation of (5).
수분측정장치(10)는 도 2 내지 도 4에 도시하는 바와 같이, 양곡부(5)의 측면으로부터 돌출되도록 형성된 하우징(20)과, 하우징(20) 내에 마련되어, 곡립에 포함되는 수분량을 측정하기 위한 수분측정기구(30)와, 수분측정기구(30)를 향해서 곡립을 공급하기 위한 곡립 공급기구(40)를 구비하고 있다.As shown in FIGS. 2 to 4, the
하우징(20)은 도 2에 도시하는 바와 같이 상하방향으로 연장되는 상자 형상을 가지고 있다. 하우징(20)은 도 3에 도시하는 바와 같이, 제1 측면(21)을 양곡부(5)에 대향시킨 자세로 양곡부(5)의 측벽에 설치되어 있다. 하우징(20)의 저면(22)은 제1 측면(21)에 대향하는 제2 측면(23)으로부터 제1 측면(21)을 향해서 하향 경사가 된다. 하우징(20)의 제1 측면(21)에 이웃하는 제3 측면(24)에는 외측으로부터 하우징(20) 내를 시인 가능하게 하기 위한 관찰 창(24a)이 마련되어 있다.The
하우징(20)의 내부는 도 4에 도시하는 바와 같이, 칸막이벽(26)에 의해 제3 측면(24) 측의 제1 공간(20a)과, 제3 측면(24)과 대향하는 제4 측면(25) 측의 제2 공간(20b)으로 나뉘어져 있다. 하우징(20)의 제1 측면(21)에서의 제1 공간(20a) 측의 상부에는 곡립을 거두어들이기 위한 취입구(21a)가 마련되어 있다. 또한 도 4에 도시하는 바와 같이, 하우징(20)의 제1 측면(21)에서의 제1 공간(20a) 측의 하부에는 수분측정기구(30)에 의해 수분량을 측정한 곡립을 배출하기 위한 배출구(21b)가 마련되어 있다.As shown in FIG. 4, the interior of the
수분측정기구(30)는 도 3 및 도 4에 도시하는 바와 같이, 수분량을 측정하는 곡립의 크기마다 마련되어, 곡립을 으깨기 위한 복수의 수분측정부(31)와, 복수의 수분측정부(31)를 구동시키는 동력원으로서의 전동 모터(32)와, 전동 모터(32)의 구동력을 복수의 수분측정부(31)에 전달하기 위한 구동력 전달기구(33)를 가지고 있다.As shown in FIGS. 3 and 4, the
복수의 수분측정부(31)는 전동 모터(32)의 구동력을 받아서 구동하는 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)과, 제1 회전축(31a)에 지지되는 제1 롤러(31c)와, 제2 회전축(31b)에 지지되는 제2 롤러(31d) 및 제3 롤러(31e)와, 제1 롤러(31c)와 제2 롤러(31d) 사이, 또는 제1 롤러(31c)와 제3 롤러(31e) 사이에서 전기저항값을 측정하는 측정부(31f)를 가지고 있다.The plurality of
도 4 및 도 5에 도시하는 바와 같이, 하우징(20)의 내부에는 수분측정장치(10)를 제어하는 기판(31g)이 마련되어 있다. 기판(31g)은 하우징(20)의 제1 측면(21)으로부터 수직방향으로 돌출되는 지지부재(34a, 34b)에 볼트 등의 고정부재로 고정됨으로써, 지지부재(34a, 34b)에 지지된 상태로 되어 있다. 기판(31g) 상에는 측정부(31f)가 마련되어 있다. 또한 기판(31g) 상에는 수분측정장치(10) 내부의 온도를 측정 가능한 온도 센서(31h)가 마련되어 있다. 온도 센서(31h)는 예를 들어 다이오드에 의해 구성된다.As shown in FIGS. 4 and 5, a
제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)은 각각 금속제이며, 도 4 및 도 5에 도시하는 바와 같이, 제1 공간(20a)에서 각각의 중심축이 서로 수평방향으로 평행하게 늘어서도록 배치되어 있다. 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)은 각각의 일단 측이 칸막이벽(26)에 회전 가능하게 지지되어 있다.The
제1 롤러(31c)는 제1 회전축(31a)의 외주부에 고정되는 금속제의 원통형 부재이다. 제1 롤러(31c)의 외주부에는 예를 들어 십자형 패턴 등의 전조(轉造)식 롤러 가공이 시행되어 있다. 또한 제1 롤러(31c)의 근방에는 제1 롤러(31c)의 외주면에 부착된 곡립의 파편을 제거하기 위한 회전 브러쉬(31c1) 및 스크래퍼(31c2)가 마련되어 있다.The
제2 롤러(31d)는 제2 회전축(31b)의 외주부에 고정되는 금속제의 원통형 부재이다. 제2 롤러(31d)는 축방향의 치수가 제1 롤러(31c)의 축방향의 치수의 대략 반이다. 제2 롤러(31d)의 외주부에는 도 4 및 도 5에 도시하는 바와 같이, 예를 들어 나선형 패턴, 직선형 패턴 등의 전조식 롤렛 가공에 의해 홈(31d1)이 형성되어 있다. 홈(31d1)은 제1 롤러(31c)의 외주부와 제2 롤러(31d)의 외주부 사이에서 벼나 밀 등의 소립의 곡립을 으깨는 것이 가능한 깊이 치수로 형성되어 있다.The
제3 롤러(31e)는 제2 회전축(31b)의 외주부에 고정되는 금속제의 원통형 부재이다. 제3 롤러(31e)는 축방향의 치수가 제1 롤러(31c)의 축방향의 치수의 대략 반이며, 제2 롤러(31d)의 축방향의 치수와 대략 동일하다. 제3 롤러(31e)의 외주부에는 도 5에 도시하는 바와 같이, 예를 들어 나선형 패턴, 직선형 패턴 등의 절삭식 롤렛 가공에 의해 홈(31e1)이 형성되어 있다. 홈(31e1)은 제1 롤러(31c)의 외주부와 제3 롤러(31e)의 외주부 사이에서 대두나 옥수수 등의 대립의 곡립을 으깨는 것이 가능한, 제2 롤러(31d)의 홈(31d1)보다 큰 깊이 치수로 형성되어 있다.The
제2 롤러(31d) 및 제3 롤러(31e)는 도 5에 도시하는 바와 같이, 제2 회전축(31b)의 축방향으로 늘어서 있다. 본 실시형태에 있어서, 복수의 수분측정부(31)는 제1 롤러(31c)의 외주부와 제2 롤러(31d)의 외주부 사이를 제1 수분측정부(31A)로 하고, 제1 롤러(31c)의 외주부와 제3 롤러(31e)의 외주부 사이를 제2 수분측정부(31B)로 하고 있다.As shown in FIG. 5, the
또한 제2 롤러(31d) 및 제3 롤러(31e)의 근방에는 도 3에 도시하는 바와 같이, 제2 롤러(31d) 및 제3 롤러(31e)의 외주면에 부착된 곡립의 파편을 제거하기 위한 고정 브러쉬(31d2) 및 스크래퍼(31d3)가 마련되어 있다.In addition, in the vicinity of the
나아가 복수의 수분측정부(31)는 각각 곡립과는 다른 돌이나 금속편 등의 이물질이 공급된 경우에, 이물질을 제거하기 위한 이물질 제거구조를 가지고 있다. 이물질 제거구조는 제1 롤러(31c)의 외주부의 일부, 제2 롤러(31d) 및 제3 롤러(31e)의 외주부의 일부, 또는 제1 롤러(31c), 제2 롤러(31d) 및 제3 롤러(31e)의 외주부의 일부를 평면이 되도록 자르는 소위 D 커트 가공을 시행함으로써 형성되어 있다.Furthermore, each of the plurality of
복수의 수분측정부(31)에서는 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)을 구동하여 곡립의 수분량을 측정하고 있는 상태에서 이물질이 공급되면, 이물질이 롤러(31c, 31d, 31e)에 끼어 들어가서 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)의 회전이 규제된다. 복수의 수분측정부(31)에서는 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)의 회전이 규제된 상태를 검지하여, 수분량을 측정할 때의 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)의 회전방향과 반대 방향으로 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)을 회전시킨다. 이에 의해, 수분측정부(31)에 투입된 이물질은 제1 롤러(31c)와 제2 롤러(31d) 사이, 또는 제1 롤러(31c)와 제3 롤러(31e) 사이에서 D 커트에 의해 형성된 틈을 낙하시켜서 수분측정부(31)로부터 제거된다.In the plurality of
측정부(31f)는 도 5에 도시하는 바와 같이, 제1 회전축(31a)에 접속된 제1 측정점(31f1)과 제2 회전축(31b)에 접속된 제2 측정점(31f2) 사이의 전기저항값을 측정한다. 측정부(31f)는 제1 롤러(31c)와 제2 롤러(31d) 사이, 또는 제1 롤러(31c)와 제3 롤러(31e) 사이에 곡립이 끼워져 있는 상태에서 제1 측정점(31f1)과 제2 측정점(31f2) 사이에 전기회로가 형성된다. 측정부(31f)는 제1 측정점(31f1)과 제2 측정점(31f2) 사이의 전기저항값을 검출함으로써, 곡립에 포함되는 수분량을 측정한다. 또한 측정부(31f)는 측정한 곡립에 포함되는 수분량을 후술하는 방법으로 보정한다.As shown in FIG. 5, the measuring
전동 모터(32)는 도 3 및 도 4에 도시하는 바와 같이, 제1 공간(20a)의 상부에 마련되어, 칸막이벽(26)에 고정되어 있다.As shown in FIGS. 3 and 4, the
구동력 전달기구(33)에는 도 4에 도시하는 바와 같이, 전동 모터(32)의 회전축이 연결된다. 또한 구동력 전달기구(33)에는 제1 회전축(31a) 및 제2 회전축(31b)이 연결되어 있다. 구동력 전달기구(33)는 제2 공간(20b)에 마련되어, 칸막이벽(26)에 고정되어 있다.As shown in FIG. 4, the rotation shaft of the
곡립 공급기구(40)는 도 3에 도시하는 바와 같이, 곡립이 투입되는 호퍼(41)와, 호퍼(41) 내와 복수의 수분측정부(31) 각각을 연이어 통하는 복수의 연통로(42a, 42b)가 형성된 연통부재(42)와, 호퍼(41)에 투입된 곡립을 호퍼(41) 내에서 소정의 연통로에 이동시키기 위한 복수의 곡립 이동부재로서의 곡립 이동판(43)을 구비하고 있다.As shown in FIG. 3, the
상술한 바와 같이, 하우징(20)은 제1 측면(21)을 양곡부(5)에 대향시킨 자세로 양곡부(5)의 측벽에 설치되어 있다. 그렇기 때문에, 호퍼(41)는 하우징(20)의 상부 측에서 양곡부(5)의 내부공간으로 노출되도록 마련되어 있다. 호퍼(41)는 일단 측이 폐쇄됨과 동시에 타단 측이 개방된 통형상을 가지고 있다. 호퍼(41)는 그 일부가 취입구(21a)를 통해서 양곡부(5)의 내부공간으로 튀어나와 있으며, 통형상의 일단 측이 비스듬하게 하방으로 향해져 있다. 호퍼(41)의 타단 측의 개구는 양곡부(5)에서 비스듬하게 상방으로 향하고 있다. 호퍼(41)에는 양곡부(5)로부터 호퍼(41) 내에의 곡립의 투입량을 억제하기 위해서 타단 측의 개구의 일부를 폐쇄하는 폐쇄판(41a)이 마련되어 있다.As described above, the
연통부재(42)는 호퍼(41)의 일단과 복수의 수분측정부(31)의 상방을 연이어 통하는 통로가 형성된 부재이다. 구체적으로는, 하우징(20)의 제1 측면(21) 측으로부터 봐서 우측에 호퍼(41)와 제1 수분측정부(31A)를 연이어 통하는 제1 연통로(42a)가 형성되고, 좌측에 호퍼(41)와 제2 수분측정부(31B)를 연이어 통하는 제2 연통로(42b)가 형성되어 있다.The
도 3에 도시하는 바와 같이, 양곡부(5)의 내부공간으로 노출되는 제1 측면(21) 상이며 호퍼(41)의 바로 아래의 위치에는 온도 센서(44)가 마련되어 있다. 온도 센서(44)는 예를 들어 다이오드에 의해 구성된다. 온도 센서(44)는 양곡부(5)의 내부공간의 온도를 측정하기 위한 온도 센서이다. 양곡부(5)에 의해 곡물이 하방으로부터 상방으로 반송될 때, 즉 곡물이 양곡부(5)의 내부공간을 하방으로부터 상방으로 통과할 때, 온도 센서(44)는 그 내부공간의 온도를 측정한다.As shown in FIG. 3, a
온도 센서(44)를, 양곡부(5)의 내부공간으로 노출되는 제1 측면(21) 상이며 호퍼(41)의 바로 아래의 위치에 마련한 이유로서는, (1) 다양한 위치에 배치하여 온도 데이터를 취득하는 실험을 행한 결과, 이 위치에서 최적의 온도 데이터를 취득할 수 있었던 것, (2) 양곡부(5)의 내부공간에서 하방으로부터 상방으로 통과하는 곡물과 온도 센서(44)가 접촉하기 어렵기 때문에 온도 센서(44)의 파손을 방지할 수 있는 것 등의 이유를 들 수 있다.The reason for providing the
온도 센서(44)는 도 5에 도시하는 바와 같이, 기판(31g) 상의 측정부(31f)와 코드 등으로 접속되어 있다. 이에 의해, 온도 센서(44)에 의해 측정된 온도의 데이터는 측정부(31f)에 공급된다. 또한 측정부(31f)에는 기판(31g) 상에 마련된 온도 센서(31h)에 의해 측정된, 수분측정장치(10) 내부의 온도의 데이터가 공급된다.As shown in Fig. 5, the
측정부(31f)는 호퍼(41)의 바로 아래에 마련된 온도 센서(44)에 의해 측정된, 곡물이 통과하고 있는 양곡부(5)의 내부공간의 온도와, 기판(31g) 상에 마련된 온도 센서(31h)에 의해 측정된 수분측정장치(10) 내부의 온도에 기초하여, 전기저항값의 검출에 의해 측정한 곡립의 수분량을 보정한다.The measuring
구체적으로, 측정부(31f)는 기판(31g) 상의 온도 센서(31h)로부터 수분측정장치(10) 내부의 온도의 데이터가 공급되고, 호퍼(41)의 바로 아래의 온도 센서(44)로부터, 양곡부(5)의 곡물이 통과하고 있는 내부공간의 온도의 데이터가 공급되면, 이하의 (식 2)에 의해 전기저항값의 검출에 의해 측정한 곡립의 수분량을 보정한다.Specifically, the measuring
보정 후의 곡립의 수분량=보정 전의 곡립의 수분량+B+C ‥ (식 2)Moisture content of grains after correction = Moisture content of grains before corrections + B + C ‥ (Equation 2)
B : 온도 센서(31h)에 의해 측정된 수분측정장치(10) 내부의 온도에 의한 보정값, C : 온도 센서(44)에 의해 측정된 곡물이 통과하고 있는 양곡부(5)의 내부공간의 온도에 의한 보정값B: Correction value based on the temperature inside the
이와 같이, 수분측정장치(10)는 온도 센서(31h)에 의해 측정된 수분측정장치(10) 내부의 온도뿐 아니라, 온도 센서(44)에 의해 측정된, 곡물이 통과하고 있는 양곡부(5)의 내부공간의 온도도 이용하여, 상기 (식 2)에 의해 전기저항값의 검출에 의해 측정한 곡립의 수분량을 보정한다. 이에 의해, 수분측정장치(10)는 온도 센서(31h)에 의해 측정된 온도와 온도 센서(44)에 의해 측정된 온도에 차이가 발생하고 있는 경우라 해도 곡립의 보다 정확한 수분량을 측정할 수 있다.In this way, the
그리고 수분측정장치(10)는 온도 센서(44)를, 양곡부(5)의 내부공간으로 노출되는 제1 측면(21) 상이며 호퍼(41)의 바로 아래의 위치에 마련하고 있다. 이와 같은 수분측정장치(10)에 의하면, 예를 들어 유곡통 내를 온도 센서에 의해 측정된 온도를 이용하여 곡물의 수분량을 보정하는 수분측정장치와 달리, 곡물의 온도를 즉시 측정하지 않아도, 곡물이 통과하고 있는 양곡부(5)의 내부공간의 온도를 이용함으로써, 곡립의 보다 정확한 수분량을 측정할 수 있다. 이에 의해, 수분측정장치(10)에 의하면, 수분측정기구로부터 유곡통 내의 온도 센서까지 코드 등을 연장시켜서 접속할 필요가 없다. 그렇기 때문에, 수분측정장치(10)에 의하면, 수분측정기구와 유곡통 내의 온도 센서를 접속하지 않으면 안 되어, 그 때의 작업자에 의한 배선작업이 번잡해지는 것과 같은 문제가 발생하지 않는다.Additionally, the
그리고 수분측정장치(10)는 곡립의 수분량을 보정하는데 있어서, 양곡부(5)의 내부공간의 온도를 이용하고 있음으로 인해, 곡물의 양과 상관없이 곡립의 보다 정확한 수분량을 측정할 수 있다.And since the
이와 같이, 수분측정장치(10)에 의하면, 번잡한 배선작업을 행하지 않으면서 곡물의 정확한 수분량을 측정하는 것이 가능함으로 인해, 범용성이 높은 수분측정장치를 실현할 수 있다.In this way, according to the
본 실시형태에서는, 제2 회전축(31b)에 제2 롤러(31d) 및 제3 롤러(31e)와 같은 2개의 롤러가 지지되는 예에 대해서 설명했으나, 이에 한정되지 않는다. 제2 회전축(31b)에는 1개의 롤러 혹은 3개 이상의 롤러가 지지되어도 된다.In this embodiment, an example in which two rollers such as the
1 : 곡물 건조기 10 : 수분측정장치
31 : 수분측정부 31f : 측정부
31h : 온도 센서 31g : 기판
31A : 제1 수분측정부 31B : 제2 수분측정부
41 : 호퍼 44 : 온도 센서1: Grain dryer 10: Moisture measuring device
31:
31h:
31A: first
41: Hopper 44: Temperature sensor
Claims (4)
상기 수분측정장치를 제어하는 기판 상에 마련되어, 상기 수분측정장치 내의 온도를 측정하는 제1 온도 센서와,
곡물이 통과하고 있는 공간의 온도를 측정하는 제2 온도 센서와,
상기 공간을 통과한 곡물의 일부의 곡립의 수분량을 측정하는 수분측정부와,
수분량을 측정하는 곡물이 투입되는 호퍼를 구비하고,
상기 제2 온도 센서는 상기 곡물이 통과하고 있는 공간으로 노출되는 위치이며 상기 호퍼의 바로 아래에 배치되고,
상기 수분측정부는 상기 제1 온도 센서에 의해 측정된 상기 수분측정장치 내의 온도와 상기 제2 온도 센서에 의해 측정된 상기 곡물이 통과하고 있는 공간의 온도에 기초하여, 측정한 곡립의 수분량을 보정하며,
상기 수분측정부는 측정된 수분량을 하기 식에 의해 보정하며,
보정 후의 곡립의 수분량=보정 전의 곡립의 수분량+B+C ‥ (식)
여기서, B는 상기 제1 온도 센서에 의해 측정된 온도에 의한 보정값이고, C는 상기 제2 온도 센서에 의해 측정된 온도에 의한 보정값인 수분측정장치.It is a moisture measuring device that measures the moisture content of grains.
a first temperature sensor provided on a substrate that controls the moisture measuring device and measuring the temperature within the moisture measuring device;
a second temperature sensor that measures the temperature of the space through which the grain is passing;
A moisture measuring unit that measures the moisture content of a portion of grains that have passed through the space,
Equipped with a hopper into which grains that measure the moisture content are input,
The second temperature sensor is exposed to the space through which the grain is passing and is disposed immediately below the hopper,
The moisture measuring unit corrects the moisture content of the measured grain based on the temperature in the moisture measuring device measured by the first temperature sensor and the temperature of the space through which the grain is passing as measured by the second temperature sensor. ,
The moisture measuring unit corrects the measured moisture amount according to the following equation,
Moisture content of grains after correction = Moisture content of grains before corrections + B + C ‥ (Formula)
Here, B is a correction value based on the temperature measured by the first temperature sensor, and C is a correction value based on the temperature measured by the second temperature sensor.
상기 곡물이 통과하고 있는 공간은 곡물을 수용하여 건조시키는 곡물 건조기가 구비하는, 곡물을 반송 가능한 양곡부의 내부공간이며,
상기 수분측정장치는 상기 양곡부에 설치되고,
상기 제2 온도 센서는 상기 양곡부의 내부공간으로 노출되는 위치에 마련되는 수분측정장치.According to paragraph 1,
The space through which the grain passes is the internal space of the grain unit capable of transporting grain, which is provided by a grain dryer that accommodates and dries grain,
The moisture measuring device is installed in the valley part,
The second temperature sensor is a moisture measuring device provided at a position exposed to the inner space of the curved portion.
상기 수분측정장치는,
상기 수분측정장치를 제어하는 기판 상에 마련되어, 상기 수분측정장치 내의 온도를 측정하는 제1 온도 센서와,
곡물이 통과하고 있는 공간의 온도를 측정하는 제2 온도 센서와,
상기 공간을 통과한 곡물의 일부의 곡립의 수분량을 측정하는 수분측정부와,
수분량을 측정하는 곡물이 투입되는 호퍼를 구비하고,
상기 제2 온도 센서는 상기 곡물이 통과하고 있는 공간으로 노출되는 위치이며 상기 호퍼의 바로 아래에 배치되고,
상기 수분측정부는 상기 제1 온도 센서에 의해 측정된 상기 수분측정장치 내의 온도와 상기 제2 온도 센서에 의해 측정된 상기 곡물이 통과하고 있는 공간의 온도에 기초하여, 측정한 곡립의 수분량을 보정하고,
상기 수분측정부는 측정된 수분량을 하기 식에 의해 보정하며,
보정 후의 곡립의 수분량=보정 전의 곡립의 수분량+B+C ‥ (식)
여기서, B는 상기 제1 온도 센서에 의해 측정된 온도에 의한 보정값이고, C는 상기 제2 온도 센서에 의해 측정된 온도에 의한 보정값인 곡물의 수분량 측정방법.
In the method of measuring the moisture content of grains using a moisture measuring device that measures the moisture content of grains,
The moisture measuring device is,
a first temperature sensor provided on a substrate that controls the moisture measuring device and measuring the temperature within the moisture measuring device;
a second temperature sensor that measures the temperature of the space through which the grain is passing;
A moisture measuring unit that measures the moisture content of a portion of grains that have passed through the space,
Equipped with a hopper into which grains that measure the moisture content are input,
The second temperature sensor is exposed to the space through which the grain is passing and is disposed immediately below the hopper,
The moisture measuring unit corrects the moisture content of the measured grain based on the temperature in the moisture measuring device measured by the first temperature sensor and the temperature of the space through which the grain is passing as measured by the second temperature sensor. ,
The moisture measuring unit corrects the measured moisture amount according to the following equation,
Moisture content of grains after correction = Moisture content of grains before corrections + B + C ‥ (Formula)
Here, B is a correction value based on the temperature measured by the first temperature sensor, and C is a correction value based on the temperature measured by the second temperature sensor.
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
AMND | Amendment | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
X091 | Application refused [patent] | ||
AMND | Amendment | ||
X701 | Decision to grant (after re-examination) |