KR102579250B1 - Apparatus for compensating quality of Organic light emitting diode display device and method for compensating quality of the same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 실시간으로 구동 트랜지스터의 문턱 전압이 쉬프트되어 잔상 및 무라(mura)가 발생됨을 방지하는 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치 및 화질 보상 방법에 관한 것으로, OLED 표시 장치의 화질 보상 장치는 OLED 표시 패널에 형성된 각 화소로부터 패스트 모드 센싱 방법에 따라 적어도 하나 이상의 센싱 데이터를 입력하는 센싱 데이터 입력부; 상기 센싱 데이터 입력부에 입력된 센싱 데이터를 상한치 및 하한치와 비교하여 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 출력하는 데이터 비교부; 외부 시스템으로 부터 입력되는 영상 데이터를 프레임 단위로 누적하는 데이터 누적부; 상기 데이터 누적부에 누적된 데이터를 연산하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트를 예측하는 문턱 전압 쉬프트 예측부; 상기 문턱 전압 쉬프트 예측부에서 예측된 문턱 전압 쉬프트와 상기 데이터 비교부에서 출력된 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 문턱 전압 연산부; 상기 문턱 전압 연산부에서 보정된 문턱 전압 보상값을 일시 저장하는 저장부; 상기 저장부에 저장된 이전 프레임의 문턱 전압 보상값과 상기 문턱 전압 연산부에서 출력되는 현재 프레임의 문턱 전압 보상값을 비교하여 보상 제어신호를 출력하는 비교부; 그리고 상기 비교부의 제어 신호에 따라 상기 문턱 전압 연산부에서 보정된 문턱 전압 보상값을 각 픽셀에 출력하거나 상기 입력 데이터를 각 픽셀에 출력하는 데이터 출력부를 구비한 것이다.The present invention relates to an image quality compensation device and an image quality compensation method for an OLED display device that prevent afterimages and mura from occurring due to a shift in the threshold voltage of a driving transistor in real time. The image quality compensation device for an OLED display device includes an OLED display panel. a sensing data input unit that inputs at least one sensing data from each pixel formed in a fast mode sensing method; a data comparison unit that compares the sensing data input to the sensing data input unit with an upper limit and a lower limit and outputs a change in threshold voltage of the driving TFT; a data accumulation unit that accumulates image data input from an external system on a frame-by-frame basis; a threshold voltage shift prediction unit that calculates the data accumulated in the data accumulation unit to predict a threshold voltage shift of the driving TFT; a threshold voltage calculation unit that calculates the threshold voltage shift predicted by the threshold voltage shift prediction unit and the threshold voltage change output from the data comparison unit to correct a final threshold voltage compensation value; a storage unit that temporarily stores the threshold voltage compensation value corrected by the threshold voltage calculation unit; a comparison unit that compares the threshold voltage compensation value of the previous frame stored in the storage unit with the threshold voltage compensation value of the current frame output from the threshold voltage calculation unit and outputs a compensation control signal; In addition, it is provided with a data output unit that outputs the threshold voltage compensation value corrected by the threshold voltage calculation unit to each pixel or outputs the input data to each pixel according to the control signal of the comparison unit.
Description
본 발명은 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치 및 보상 방법에 관한 것으로, OLED 표시 장치를 제조하여 출하한 후, 실시간으로, 구동 트랜지스터의 문턱 전압이 쉬프트되어 잔상 및 무라(mura)가 발생됨을 방지하기 위한 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치 및 화질 보상 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an image quality compensation device and compensation method for an OLED display device, and to prevent afterimages and mura from occurring due to a shift in the threshold voltage of a driving transistor in real time after manufacturing and shipping an OLED display device. It relates to an image quality compensation device and image quality compensation method for an OLED display device.
최근 디지털 데이터를 이용하여 영상을 표시하는 평판 표시 장치로는 액정을 이용한 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display; LCD), 유기 발광 다이오드(Organic Light Emitting Diode; 이하 OLED)를 이용한 OLED 표시 장치 등이 대표적이다.Recently, representative flat display devices that display images using digital data include Liquid Crystal Display (LCD) using liquid crystals and OLED display devices using Organic Light Emitting Diode (OLED). .
이들 중 OLED 표시 장치는 전자와 정공의 재결합으로 유기 발광층을 발광시키는 자발광 소자로 휘도가 높고 구동 전압이 낮으며 박막화가 가능하여 차세대 표시 장치로 기대되고 있다. Among these, the OLED display device is a self-luminous device that emits light in an organic light-emitting layer by recombination of electrons and holes. It has high brightness, low driving voltage, and can be made into a thin film, so it is expected to be a next-generation display device.
OLED 표시 장치를 구성하는 다수의 픽셀 각각은 애노드 및 캐소드 사이의 유기 발광층으로 구성된 OLED 소자와, OLED 소자를 독립적으로 구동하는 픽셀 회로를 구비한다. 픽셀 회로는 데이터 전압을 스토리지 커패시터에 공급하는 스위칭 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; TFT)와, 스토리지 커패시터에 충전된 구동 전압에 따라 구동 전류를 제어하여 OLED 소자로 공급하는 구동 TFT 등을 포함하고, OLED 소자는 구동 전류에 비례하는 광을 발생한다. Each of the plurality of pixels constituting the OLED display device includes an OLED element composed of an organic light-emitting layer between an anode and a cathode, and a pixel circuit that independently drives the OLED element. The pixel circuit includes a switching thin film transistor (TFT) that supplies data voltage to the storage capacitor, and a driving TFT that controls the driving current according to the driving voltage charged in the storage capacitor and supplies it to the OLED element. The device generates light proportional to the driving current.
OLED 표시 장치는 공정 편차와 경시 변화의 이유로 픽셀간 구동 TFT의 구동 특성(문턱 전압, 이동도) 편차가 생겨 휘도 불균일 문제가 있다. 이를 해결하기 위하여, OLED 디스플레이는 각 픽셀의 구동 특성을 센싱하고 센싱값을 이용하여 각 픽셀에 공급될 데이터를 보상하는 외부 보상 방법을 이용하고 있다. OLED display devices suffer from luminance unevenness due to differences in driving characteristics (threshold voltage, mobility) of the driving TFT between pixels due to process deviations and changes over time. To solve this problem, OLED displays use an external compensation method that senses the driving characteristics of each pixel and uses the sensed value to compensate for the data to be supplied to each pixel.
종래의 화질 보상기술에서는 구동 TFT의 문턱 전압 변화량과 구동 TFT의 이동도 변화량을 센싱하는 방법 및 기간을 각각 다르게 한다.In conventional image quality compensation technology, the method and period for sensing the change in threshold voltage of the driving TFT and the change in mobility of the driving TFT are different.
도 1은 종래의 화질 보상 기술을 설명하기 위한 도면이고, 도 2a는 종래 화질 보상 기술에서 구동 TFT의 문턱 전압 변화를 추출하기 위한 센싱 원리를 설명하기 위한 픽셀 회로 구성 및 시간과 전압 관계 그래프이며, 도 2b는 종래 화질 보상기술에서 구동 TFT의 이동도 변화를 추출하기 위한 센싱 원리를 설명하기 위한 픽셀 회로 구성 및 시간과 전압 관계 그래프이다.FIG. 1 is a diagram for explaining a conventional image quality compensation technology, and FIG. 2A is a pixel circuit configuration and a time-voltage relationship graph for explaining the sensing principle for extracting the threshold voltage change of the driving TFT in the conventional image quality compensation technology. Figure 2b is a pixel circuit configuration and a time-voltage relationship graph to explain the sensing principle for extracting the mobility change of the driving TFT in the conventional image quality compensation technology.
구동 TFT의 문턱 전압(Vth) 변화를 추출하기 위한 센싱 방법은, 도 1 및 도 2a에서와 같이 구동 TFT를 소스 팔로워(Source Follower) 방식으로 동작시킨 후 구동 TFT의 소스 전압(Vs)을 센싱 전압(VsenA)으로 입력받고, 이 센싱 전압(VsenA)을 토대로 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 검출한다. 구동 TFT의 문턱 전압 변화량은 센싱 전압(VsenA)의 크기에 따라 결정되며, 이를 통해 데이터 보상을 위한 옵셋값이 구해진다. 이러한 센싱 방법에서는, 소스 팔로워(Source Follower) 방식으로 동작되는 구동 TFT의 게이트-소스 간 전압(Vgs)이 포화 상태(saturation state)에 도달(즉, 구동 TFT의 드레인-소스 간 전류가 제로가 될 때)한 이후에 센싱 동작이 이루어져야 하므로, 센싱에 소요되는 시간이 길고 센싱 속도가 느리다는 특징이 있다. 이러한 센싱 방법을 슬로우 모드(Slow mode) 센싱 방법이라 칭한다.The sensing method for extracting the change in the threshold voltage (Vth) of the driving TFT is to operate the driving TFT in a source follower method as shown in FIGS. 1 and 2A and then change the source voltage (Vs) of the driving TFT to the sensing voltage. (VsenA) is input, and the threshold voltage change of the driving TFT is detected based on this sensing voltage (VsenA). The amount of change in the threshold voltage of the driving TFT is determined according to the size of the sensing voltage (VsenA), and an offset value for data compensation is obtained through this. In this sensing method, the voltage (Vgs) between the gate and source of the driving TFT operated in the source follower method reaches the saturation state (i.e., the current between the drain and source of the driving TFT becomes zero). Since the sensing operation must be performed after the first time, the time required for sensing is long and the sensing speed is slow. This sensing method is called a slow mode sensing method.
구동 TFT의 이동도(μ) 변화를 추출하기 위한 센싱 방법는, 도 1 및 도 2b에서와 같이 구동 TFT의 문턱 전압(Vth)을 제외한 전류능력 특성을 규정하기 위해서 구동 TFT의 게이트에 구동 TFT의 문턱 전압보다 높은 일정 전압(Vdata+X, 여기서, X는 옵셋값 보상에 따른 전압)을 인가하여 구동 TFT를 턴 온 시키고, 이 상태에서 일정 시간 동안 충전된 구동 TFT의 소스 전압(Vs)을 센싱 전압(VsenB)으로 입력받는다. 구동 TFT의 이동도 변화량은 센싱 전압(VsenB)의 크기에 따라 결정되며, 이를 통해 데이터 보상을 위한 게인값이 구해진다. 이러한 센싱 방법는 구동 TFT가 턴 온 된 상태에서 이루어지므로 센싱에 소요되는 시간이 짧고 센싱 속도가 빠르다는 특징이 있다. 이러한 센싱 방법을 패스트 모드(Fast mode) 센싱 방법이라 칭한다.The sensing method for extracting the change in mobility (μ) of the driving TFT is to apply a threshold voltage to the gate of the driving TFT to define the current capability characteristics excluding the threshold voltage (Vth) of the driving TFT, as shown in FIGS. 1 and 2B. The driving TFT is turned on by applying a certain voltage (Vdata + It receives input as (VsenB). The amount of change in mobility of the driving TFT is determined according to the size of the sensing voltage (VsenB), and through this, the gain value for data compensation is obtained. Since this sensing method is performed with the driving TFT turned on, the sensing time is short and the sensing speed is fast. This sensing method is called a fast mode sensing method.
상기 슬로우 모드 센싱 방법은 그 센싱 속도가 느리기 때문에 충분한 센싱 기간이 필요하다. 즉, 구동 TFT의 문턱 전압 센싱을 위한 슬로우 모드 센싱 방법은, 사용자에게 인지됨이 없이 충분히 센싱 시간을 할당받을 수 있도록 제 1 센싱 기간 동안 즉, 사용자로부터의 파워 오프 명령 신호에 응답하여 영상 표시가 종료된 이후부터 구동 전원이 오프되기 전까지 수행될 수밖에 없다. 반면에, 구동 TFT의 이동도 센싱을 위한 패스트 모드 센싱 방법은, 그 센싱 속도가 빠르기 때문에 제 2 센싱 기간 동안 즉, 사용자로부터의 파워 온 명령 신호에 응답하여 구동 전원이 온 된 이후부터 영상 표시가 이뤄지기 전, 또는 화상표시구동 기간 내의 수직 블랭크 기간들에서 수행될 수 있다.The slow mode sensing method requires a sufficient sensing period because the sensing speed is slow. That is, the slow mode sensing method for sensing the threshold voltage of the driving TFT displays an image during the first sensing period, that is, in response to a power-off command signal from the user, so that sufficient sensing time can be allocated without being recognized by the user. It has no choice but to be performed from the time it is finished until the driving power is turned off. On the other hand, the fast mode sensing method for sensing the mobility of the driving TFT has a fast sensing speed, so the image is displayed during the second sensing period, that is, after the driving power is turned on in response to a power-on command signal from the user. It can be performed before or in vertical blank periods within the image display drive period.
그러나, OLED 표시 장치 출하 후, 구동 TFT의 문턱 전압을 보상하기 위한 구동 TFT의 문턱 전압 센싱 동작(슬로우 모드 센싱 방법)은 수십 mS 이상 센싱 동작을 수행해야 그 정확도가 높다. 따라서 OLED 표시 장치 구동 중에 메 프레임 센싱 동작을 수행할 수 있는 시간이 부족하여 실시간으로 구동 TFT의 문턱 전압을 센싱하는 것이 불가능하다.However, after the OLED display device is shipped, the threshold voltage sensing operation (slow mode sensing method) of the driving TFT to compensate for the threshold voltage of the driving TFT requires a sensing operation of several tens of mS or more to be highly accurate. Therefore, there is not enough time to perform frame sensing operations while driving the OLED display device, making it impossible to sense the threshold voltage of the driving TFT in real time.
또한, 상기 슬로우 모드 센싱 방법은 스캔 TFT에 0V (Black) 전압을 인가하고, OLED 소자에서 누설되는 전류를 막아주기 위하여 Vss 전원을 일정 전원 이상 올려줘야 하므로 구동 중 센싱 동작을 수행하는데 부적합하다.In addition, the slow mode sensing method requires applying a 0V (black) voltage to the scan TFT and increasing the Vss power above a certain level to prevent current leakage from the OLED device, so it is unsuitable for performing a sensing operation during driving.
또한, OLED 표시 장치가 대면적화되므로 표시 패널의 로드(load)가 커져서 전원을 인가하는데 오랜 시간이 걸리고, 고해상도 구조에서는 구동 TFT의 사이즈가 작아지므로 구동 TFT의 전류 구동 능력이 해상도에 반비례 한다. 따라서, 구동 TFT의 문턱 전압을 센싱하는데 시간이 오래 걸리게 되어, 실시간으로 구동 TFT의 문턱 전압을 센싱하는 것이 불가능하다. In addition, as OLED display devices become larger, the load on the display panel increases and it takes a long time to apply power. In a high-resolution structure, the size of the driving TFT becomes small, so the current driving ability of the driving TFT is inversely proportional to the resolution. Therefore, it takes a long time to sense the threshold voltage of the driving TFT, making it impossible to sense the threshold voltage of the driving TFT in real time.
본 발명은 이와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로, 패스트 모드(Fast mode) 센싱 방법으로 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 연산하고, 구동중에 실시간으로 입력된 영상을 누적하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 정도를 예측하여, 상기 연산된 문턱 전압 변화량에 상기 예측된 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 정도를 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 방법으로, 출하 후, 실시간으로 구동 트랜지스터의 문턱 전압이 쉬프트되어 잔상 및 무라(mura)가 발생됨을 방지할 수 있는 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치 및 화질 보상 방법을 제공하는데 그 목적이 있다. The present invention was developed to solve this problem, and calculates the amount of change in the threshold voltage of the driving TFT using a fast mode sensing method, and calculates the degree of threshold voltage shift of the driving TFT by accumulating images input in real time during driving. This is a method of correcting the final threshold voltage compensation value by calculating the predicted threshold voltage shift degree of the driving TFT based on the calculated threshold voltage change amount. After shipping, the threshold voltage of the driving transistor is shifted in real time, causing afterimage and The purpose is to provide an image quality compensation device and image quality compensation method for an OLED display device that can prevent mura from occurring.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치는, 입력된 영상 데이터를 누적하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 정도를 예측하고, 패스트 모드(Fast mode) 센싱 방법으로 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 산출하여, 상기 예측된 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 값에 상기 산출된 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 것을 특징으로 한다.To achieve the above object, the image quality compensation device of the OLED display device according to the present invention accumulates input image data to predict the degree of threshold voltage shift of the driving TFT, and detects the driving TFT using a fast mode sensing method. A threshold voltage change amount of is calculated, and the final threshold voltage compensation value is corrected by calculating the calculated threshold voltage change amount with the predicted threshold voltage shift value of the driving TFT.
즉, 본 발명에 따른 LED 표시 장치의 화질 보상 장치는, OLED 표시 패널에 형성된 각 화소로부터 패스트 모드 센싱 방법에 따라 적어도 하나 이상의 센싱 데이터를 입력하는 센싱 데이터 입력부; 상기 센싱 데이터 입력부에 입력된 센싱 데이터를 상한치 및 하한치와 비교하여 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 출력하는 데이터 비교부; 외부 시스템으로 부터 입력되는 영상 데이터를 프레임 단위로 누적하는 데이터 누적부; 상기 데이터 누적부에 누적된 데이터를 연산하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트를 예측하는 문턱 전압 쉬프트 예측부; 상기 문턱 전압 쉬프트 예측부에서 예측된 문턱 전압 쉬프트와 상기 데이터 비교부에서 출력된 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 문턱 전압 연산부; 상기 문턱 전압 연산부에서 보정된 문턱 전압 보상값을 일시 저장하는 저장부; 상기 저장부에 저장된 이전 프레임의 문턱 전압 보상값과 상기 문턱 전압 연산부에서 출력되는 현재 프레임의 문턱 전압 보상값을 비교하여 보상 제어신호를 출력하는 비교부; 그리고 상기 비교부의 제어 신호에 따라 상기 문턱 전압 연산부에서 보정된 문턱 전압 보상값을 각 픽셀에 출력하거나 상기 입력 데이터를 각 픽셀에 출력하는 데이터 출력부를 구비함에 그 특징이 있다.That is, the image quality compensation device of the LED display device according to the present invention includes a sensing data input unit that inputs at least one sensing data from each pixel formed in the OLED display panel according to a fast mode sensing method; a data comparison unit that compares the sensing data input to the sensing data input unit with an upper limit and a lower limit and outputs a change in threshold voltage of the driving TFT; a data accumulation unit that accumulates image data input from an external system on a frame-by-frame basis; a threshold voltage shift prediction unit that calculates the data accumulated in the data accumulation unit to predict a threshold voltage shift of the driving TFT; a threshold voltage calculation unit that calculates the threshold voltage shift predicted by the threshold voltage shift prediction unit and the threshold voltage change output from the data comparison unit to correct a final threshold voltage compensation value; a storage unit that temporarily stores the threshold voltage compensation value corrected by the threshold voltage calculation unit; a comparison unit that compares the threshold voltage compensation value of the previous frame stored in the storage unit with the threshold voltage compensation value of the current frame output from the threshold voltage calculation unit and outputs a compensation control signal; Additionally, it is characterized by having a data output unit that outputs the threshold voltage compensation value corrected by the threshold voltage calculation unit to each pixel or outputs the input data to each pixel according to the control signal of the comparison unit.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 방법은, 외부 시스템으로부터 입력된 데이터를 누적하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 값을 예측하는 단계; 각 화소로부터 패스트 모드 센싱 방법에 따라 적어도 하나 이상의 센싱 데이터를 입력하여 상기 입력된 센싱 데이터를 상한치 및 하한치와 비교하여 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 산출하는 단계; 상기 예측된 문턱 전압 쉬프트 값과 상기 산출된 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 단계; 상기 보정된 문턱 전압 보상값을 일시 저장하는 단계; 상기 저장된 이전 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값과 현재 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값을 비교하여 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 있는가를 판단하는 단계; 상기 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 있으면 현재 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값을 각 픽셀에 공급하는 단계; 그리고 상기 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 없으면 입력된 데이터를 각 픽셀에 공급하는 단계를 구비함에 그 특징이 있다.In addition, a method for compensating image quality of an OLED display device according to the present invention for achieving the above object includes the steps of accumulating data input from an external system to predict a threshold voltage shift value of a driving TFT; Inputting at least one piece of sensing data from each pixel according to a fast mode sensing method and comparing the inputted sensing data with an upper limit and a lower limit to calculate the amount of change in the threshold voltage of the driving TFT; Computing the predicted threshold voltage shift value and the calculated threshold voltage change amount to correct a final threshold voltage compensation value; Temporarily storing the corrected threshold voltage compensation value; comparing the stored corrected threshold voltage compensation value of the previous frame with the corrected threshold voltage compensation value of the current frame to determine whether there is a change in the corrected threshold voltage compensation value; If there is a change in the corrected threshold voltage compensation value, supplying the corrected threshold voltage compensation value of the current frame to each pixel; And, if there is no change in the corrected threshold voltage compensation value, it is characterized by providing the step of supplying the input data to each pixel.
상기와 같은 특징을 갖는 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치 및 화질 보상 방법에 있어서는 다음과 같은 효과가 있다.The image quality compensation device and image quality compensation method for an OLED display device according to the present invention having the above features have the following effects.
첫째, 입력 데이터를 누적하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 정도를 예측하고, 패스트 모드 센싱 방법으로 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 센싱하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하여 픽셀을 구동하므로 제품 출하 후 실시간으로 구동 TFT의 문턱 전압을 보상할 수 있다.First, the degree of threshold voltage shift of the driving TFT is predicted by accumulating input data, and the threshold voltage change of the driving TFT is sensed using the fast mode sensing method to correct the final threshold voltage compensation value to drive the pixel, so it is driven in real time after product shipment. The threshold voltage of the TFT can be compensated.
둘째, 이와 같이 실시간으로 구동 TFT의 문턱 전압을 보상할 수 있으므로, 구동 TFT의 문턱 전압의 쉬프트로 인한 잔상 및 무라를 방지할 수 있다.Second, since the threshold voltage of the driving TFT can be compensated for in real time, afterimages and mura due to shifts in the threshold voltage of the driving TFT can be prevented.
셋째, 슬로우 모드 센싱 방법을 이용하지 않으므로 실제 전원 오프 시간을 단축할 수 있다.Third, since the slow mode sensing method is not used, the actual power-off time can be shortened.
도 1은 종래의 화질 보상 기술을 설명하기 위한 도면.
도 2a는 종래 화질 보상 기술에서 구동 TFT의 문턱 전압 변화를 추출하기 위한 센싱 원리를 설명하기 위한 픽셀 회로 구성 및 시간과 전압 관계 그래프.
도 2b는 종래 화질 보상기술에서 구동 TFT의 이동도 변화를 추출하기 위한 센싱 원리를 설명하기 위한 픽셀 회로 구성 및 시간과 전압 관계 그래프.
도 3은 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치의 구성 블럭도.
도 4는 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치의 보상 방법을 설명하기 위한 동작 순서도.1 is a diagram for explaining a conventional image quality compensation technology.
Figure 2a is a pixel circuit configuration and a time-voltage relationship graph to explain the sensing principle for extracting the threshold voltage change of the driving TFT in the conventional image quality compensation technology.
Figure 2b is a pixel circuit configuration and time-voltage relationship graph to explain the sensing principle for extracting the mobility change of the driving TFT in the conventional image quality compensation technology.
Figure 3 is a block diagram of the image quality compensation device of an OLED display device according to the present invention.
Figure 4 is an operation flowchart for explaining a compensation method of the image quality compensation device of the OLED display device according to the present invention.
상기와 같은 특징을 갖는 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치 및 화질 보상 방법을 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.The image quality compensation device and image quality compensation method of the OLED display device according to the present invention having the above features will be described in more detail with reference to the attached drawings as follows.
도 3은 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치의 구성 블럭도이다.Figure 3 is a block diagram of the image quality compensation device of the OLED display device according to the present invention.
본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치는, 도 3에 도시한 바와 같이, OLED 표시 패널에 형성된 각 화소로부터 패스트 모드 센싱 방법에 따라 적어도 하나 이상의 센싱 데이터를 입력하는 센싱 데이터 입력부(1)와, 상기 센싱 데이터 입력부(1)에 입력된 센싱 데이터를 상한치(over flow) 및 하한치(under flow)와 비교하여 구동 TFT의 문턱 전압 변화량(+Vth or -Vth)을 연산하여 출력하는 데이터 비교부(2)와, 외부 시스템으로 부터 입력되는 영상 데이터를 프레임 단위로 누적하는 데이터 누적부(3), 상기 데이터 누적부(3)에 누적된 데이터를 연산하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트를 예측하는 문턱 전압 쉬프트 예측부(4)와, 상기 문턱 전압 쉬프트 예측부(4)에서 예측된 문턱 전압 쉬프트와 상기 데이터 비교부(2)에서 출력된 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 문턱 전압 연산부(5)와, 상기 문턱 전압 연산부(5)에서 보정된 문턱 전압 보상값을 일시 저장하는 저장부(6)와, 상기 저장부(6)에 저장된 이전 프레임의 문턱 전압 보상값과 상기 문턱 전압 연산부(5)에서 출력되는 현재 프레임의 문턱 전압 보상값을 비교하여 보상 제어신호를 출력하는 비교부(7)와, 상기 비교부(7)의 제어 신호에 따라 상기 문턱 전압 연산부(5)에서 보정된 문턱 전압 보상값을 각 픽셀에 출력하거나 상기 입력 데이터를 각 픽셀에 출력하는 데이터 출력부(8)를 구비하여 구성된다.As shown in FIG. 3, the image quality compensation device for an OLED display device according to the present invention includes a sensing
여기서, 상기 문턱 전압 쉬프트 예측부(4)는 상기 데이터 누적부(3)에 누적된 데이터의 프레임 수 및 각 프레임의 평균 데이터 전압 값 등을 연산하여 문턱 전압 쉬프트를 예측한다. 즉, 누적된 프레임 수가 많을수록 OLED 표시 장치의 구동 시간이 길어짐을 알수 있으므로 열화가 심해짐을 예측하고, 평균 데이터 전압이 높을수록 열화가 더 심하게 됨을 예측할 수 있다.Here, the threshold voltage shift prediction unit 4 predicts the threshold voltage shift by calculating the number of frames of data accumulated in the
또한, 상기 데이터 비교부(2)는 상기 센싱 데이터가 상한치(over flow)보다 크면 +Vth를 출력하고 하한치(under flow)보다 작으면 -Vth를 출력한다. Additionally, the
이와 같이 구성된 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치의 보상 방법을 설명하면 다음과 같다.The compensation method of the image quality compensation device for the OLED display device according to the present invention configured as described above will be described as follows.
도 4는 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치의 보상 방법을 설명하기 위한 동작 순서도이다.Figure 4 is an operation flowchart for explaining the compensation method of the image quality compensation device of the OLED display device according to the present invention.
먼저, 외부 시스템으로부터 영상 데이터 입력하여(S1) 프레임 단위로 입력 데이터를 누적한다(S2). 그리고, 누적된 데이터를 연산하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 값을 예측한다 (S3). 즉, 누적된 데이터의 프레임 수 및 각 프레임의 평균 데이터 전압 값 등을 연산하여 문턱 전압 쉬프트를 예측한다. 누적된 프레임 수가 많을수록 평균 데이터 전압이 높을수록 구동 TFT의 열화가 심해짐을 예측한다.First, image data is input from an external system (S1) and the input data is accumulated frame by frame (S2). Then, the accumulated data is calculated to predict the threshold voltage shift value of the driving TFT (S3). That is, the threshold voltage shift is predicted by calculating the number of frames of accumulated data and the average data voltage value of each frame. It is predicted that the larger the number of accumulated frames and the higher the average data voltage, the more severe the deterioration of the driving TFT.
한편, OLED 표시 패널에 형성된 각 화소로부터 패스트 모드 센싱 방법에 따라 적어도 하나 이상의 센싱 데이터를 입력하고(S4), 상기 입력된 센싱 데이터를 상한치(over flow) 및 하한치(under flow)와 비교하여 구동 TFT의 문턱 전압 변화량(+Vth or -Vth)을 연산하여 출력한다(S5). 즉, 상기 센싱 데이터가 상한치(over flow)보다 크면 +Vth를 출력하고 하한치(under flow)보다 작으면 -Vth를 출력한다. Meanwhile, at least one sensing data is input from each pixel formed on the OLED display panel according to the fast mode sensing method (S4), and the input sensing data is compared with the upper limit (over flow) and lower limit (under flow) to drive the TFT. The threshold voltage change (+Vth or -Vth) is calculated and output (S5). That is, if the sensing data is greater than the upper limit (over flow), +Vth is output, and if it is less than the lower limit (under flow), -Vth is output.
상기 단계(S3)에서 예측된 문턱 전압 쉬프트 값과 상기 단계(S5)에서 연산된 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정한다(S6). 즉, 상기 예측된 문턱 전압 쉬프트 값에 상기 +Vth 또는 -Vth를 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정한다.The final threshold voltage compensation value is corrected by calculating the threshold voltage shift value predicted in step S3 and the threshold voltage change amount calculated in step S5 (S6). That is, the final threshold voltage compensation value is corrected by calculating the +Vth or -Vth on the predicted threshold voltage shift value.
그리고, 보정된 문턱 전압 보상값을 일시 저장하고(S7), 상기 저장된 이전 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값과 현재 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값을 비교하여 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 있는가를 판단한다(S9).Then, the corrected threshold voltage compensation value is temporarily stored (S7), and the corrected threshold voltage compensation value of the stored previous frame is compared with the corrected threshold voltage compensation value of the current frame to check whether there is a change in the corrected threshold voltage compensation value. Judge (S9).
만약 상기 단계(S8)에서, 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 있으면 현재 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값을 각 픽셀에 공급하고(S10), 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 없으면 입력된 데이터를 각 픽셀에 공급한다(S11).If there is a change in the corrected threshold voltage compensation value in step S8, the corrected threshold voltage compensation value of the current frame is supplied to each pixel (S10), and if there is no change in the corrected threshold voltage compensation value, the input data is supplied to each pixel (S11).
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치 및 보상 방법에 있어서는, 입력 데이터를 누적하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트 정도를 예측하고, 패스트 모드 센싱 방법으로 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 센싱하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하여 픽셀을 구동한다. 따라서, 슬로우 모드 센싱 방법을 이용하지 않으므로 제품 출하 후 실시간으로 구동 TFT의 문턱 전압을 보상할 수 있다.As described above, in the image quality compensation device and compensation method for the OLED display device according to the present invention, the degree of threshold voltage shift of the driving TFT is predicted by accumulating input data, and the threshold voltage change of the driving TFT is calculated using a fast mode sensing method. is sensed and the final threshold voltage compensation value is corrected to drive the pixel. Therefore, since the slow mode sensing method is not used, the threshold voltage of the driving TFT can be compensated in real time after product shipment.
이와 같이 실시간으로 구동 TFT의 문턱 전압을 보상할 수 있으므로, 구동 TFT의 문턱 전압의 쉬프트로 인한 잔상 및 무라를 방지할 수 있다.In this way, since the threshold voltage of the driving TFT can be compensated in real time, afterimages and mura due to shifts in the threshold voltage of the driving TFT can be prevented.
또한, 슬로우 모드 센싱 방법을 이용하지 않으므로 실제 전원 오프 시간을 단축할 수 있다.Additionally, since the slow mode sensing method is not used, the actual power-off time can be shortened.
이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiments and the accompanying drawings, and it is commonly known in the technical field to which the present invention pertains that various substitutions, modifications, and changes can be made without departing from the technical spirit of the present invention. It will be clear to those who have the knowledge of.
1: 센싱 데이터 입력부 2: 데이터 비교부
3: 데이터 누적부 4: 문턱 전압 쉬프트 예측부
5: 문턱 전압 연산부 6: 저장부
7: 비교부 8: 데이터 출력부1: Sensing data input unit 2: Data comparison unit
3: Data accumulation unit 4: Threshold voltage shift prediction unit
5: Threshold voltage calculation unit 6: Storage unit
7: comparison unit 8: data output unit
Claims (4)
상기 센싱 데이터 입력부에 입력된 센싱 데이터를 상한치 및 하한치와 비교하여, 상기 센싱 데이터가 상기 상한치보다 크면 +Vth의 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 출력하고, 상기 센싱 데이터가 상기 하한치보다 작으면 -Vth의 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 출력하는 데이터 비교부;
외부 시스템으로부터 입력되는 영상 데이터를 프레임 단위로 누적하는 데이터 누적부;
상기 데이터 누적부에 누적된 영상 데이터의 프레임 수 및 각 프레임의 평균 데이터 전압 값을 연산하여 구동 TFT의 문턱 전압 쉬프트를 예측하는 문턱 전압 쉬프트 예측부;
상기 문턱 전압 쉬프트 예측부에서 예측된 문턱 전압 쉬프트와 상기 데이터 비교부에서 출력된 +Vth 또는 -Vth의 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 문턱 전압 연산부;
상기 문턱 전압 연산부에서 보정된 문턱 전압 보상값을 일시 저장하는 저장부;
상기 저장부에 저장된 이전 프레임의 문턱 전압 보상값과 상기 문턱 전압 연산부에서 출력되는 현재 프레임의 문턱 전압 보상값을 비교하여, 보정된 문턱 전압 보상값의 변동 유무에 따른 보상 제어신호를 출력하는 비교부; 그리고
상기 비교부의 제어 신호에 따라, 상기 문턱 전압 보상값의 변동이 있으면 상기 문턱 전압 연산부에서 보정된 문턱 전압 보상값을 각 픽셀에 출력하고, 상기 문턱 전압 보상값의 변동이 없으면 상기 영상 데이터를 각 픽셀에 출력하는 데이터 출력부를 구비하여 구성되는 OLED 표시 장치의 화질 보상 장치.a sensing data input unit that inputs at least one sensing data from each pixel formed on the OLED display panel according to a fast mode sensing method;
The sensing data input to the sensing data input unit is compared with an upper limit and a lower limit, and if the sensing data is greater than the upper limit, a threshold voltage change of +Vth of the driving TFT is output. If the sensing data is less than the lower limit, a change in threshold voltage of the driving TFT is output. a data comparator that outputs the amount of change in threshold voltage of the driving TFT;
a data accumulation unit that accumulates image data input from an external system on a frame-by-frame basis;
a threshold voltage shift prediction unit that predicts a threshold voltage shift of the driving TFT by calculating the number of frames of image data accumulated in the data accumulation unit and an average data voltage value of each frame;
a threshold voltage calculation unit that calculates the threshold voltage shift predicted by the threshold voltage shift prediction unit and the threshold voltage change amount of the +Vth or -Vth driving TFT output from the data comparison unit to correct the final threshold voltage compensation value;
a storage unit that temporarily stores the threshold voltage compensation value corrected by the threshold voltage calculation unit;
A comparator that compares the threshold voltage compensation value of the previous frame stored in the storage unit with the threshold voltage compensation value of the current frame output from the threshold voltage calculation unit and outputs a compensation control signal according to the presence or absence of a change in the corrected threshold voltage compensation value. ; and
According to the control signal of the comparator, if there is a change in the threshold voltage compensation value, the threshold voltage calculation unit outputs the corrected threshold voltage compensation value to each pixel, and if there is no change in the threshold voltage compensation value, the image data is output to each pixel. A picture quality compensation device for an OLED display device that includes a data output unit that outputs data.
각 화소로부터 패스트 모드 센싱 방법에 따라 적어도 하나 이상의 센싱 데이터를 입력하여 상기 입력된 센싱 데이터를 상한치 및 하한치와 비교하여, 상기 센싱 데이터가 상기 상한치보다 크면 +Vth의 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 산출하고, 상기 센싱 데이터가 상기 하한치보다 작으면 -Vth의 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 산출하는 단계;
상기 예측된 문턱 전압 쉬프트 값과 상기 산출된 +Vth 또는 -Vth의 구동 TFT의 문턱 전압 변화량을 연산하여 최종 문턱 전압 보상값을 보정하는 단계;
상기 보정된 문턱 전압 보상값을 일시 저장하는 단계;
상기 저장된 이전 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값과 현재 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값을 비교하여 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 있는가를 판단하는 단계;
상기 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 있으면 현재 프레임의 보정된 문턱 전압 보상값을 각 픽셀에 공급하는 단계; 그리고
상기 보정된 문턱 전압 보상값에 변동이 없으면 입력된 데이터를 각 픽셀에 공급하는 단계를 구비하는 OLED 표시 장치의 화질 보상 방법.Accumulating data input from an external system and calculating the number of frames of the accumulated image data and the average data voltage value of each frame to predict the threshold voltage shift value of the driving TFT;
At least one or more sensing data is input from each pixel according to the fast mode sensing method, the input sensing data is compared with an upper limit and a lower limit, and if the sensing data is greater than the upper limit, the threshold voltage change of the driving TFT of +Vth is calculated, , calculating the amount of change in threshold voltage of the driving TFT at -Vth if the sensing data is less than the lower limit;
Computing the predicted threshold voltage shift value and the calculated threshold voltage change amount of the +Vth or -Vth driving TFT to correct a final threshold voltage compensation value;
Temporarily storing the corrected threshold voltage compensation value;
comparing the stored corrected threshold voltage compensation value of the previous frame with the corrected threshold voltage compensation value of the current frame to determine whether there is a change in the corrected threshold voltage compensation value;
If there is a change in the corrected threshold voltage compensation value, supplying the corrected threshold voltage compensation value of the current frame to each pixel; and
An image quality compensation method for an OLED display device comprising supplying input data to each pixel if there is no change in the corrected threshold voltage compensation value.
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Citations (1)
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