KR102363875B1 - Anti-reflective film, polarizing plate, and display apparatus - Google Patents
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- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 title 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 107
- 125000000524 functional group Chemical group 0.000 claims description 93
- 239000010410 layer Substances 0.000 claims description 80
- 229910052731 fluorine Inorganic materials 0.000 claims description 61
- 239000011737 fluorine Substances 0.000 claims description 61
- YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N Fluorine atom Chemical compound [F] YCKRFDGAMUMZLT-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 57
- 239000010954 inorganic particle Substances 0.000 claims description 53
- -1 polyethylene Polymers 0.000 claims description 38
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M Acrylate Chemical compound [O-]C(=O)C=C NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 29
- 239000011247 coating layer Substances 0.000 claims description 23
- 239000011347 resin Substances 0.000 claims description 19
- 229920005989 resin Polymers 0.000 claims description 19
- 229920001577 copolymer Polymers 0.000 claims description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 18
- 229920000734 polysilsesquioxane polymer Chemical group 0.000 claims description 15
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 14
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 14
- 239000010419 fine particle Substances 0.000 claims description 13
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 12
- 239000011230 binding agent Substances 0.000 claims description 11
- 125000000391 vinyl group Chemical group [H]C([*])=C([H])[H] 0.000 claims description 10
- 150000002118 epoxides Chemical class 0.000 claims description 9
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 claims description 8
- 229920001296 polysiloxane Polymers 0.000 claims description 8
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 8
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 229920001223 polyethylene glycol Polymers 0.000 claims description 5
- 229920002284 Cellulose triacetate Polymers 0.000 claims description 4
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 239000002202 Polyethylene glycol Substances 0.000 claims description 4
- NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N [(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5-diacetyloxy-3-[(2s,3r,4s,5r,6r)-3,4,5-triacetyloxy-6-(acetyloxymethyl)oxan-2-yl]oxy-6-[(2r,3r,4s,5r,6s)-4,5,6-triacetyloxy-2-(acetyloxymethyl)oxan-3-yl]oxyoxan-2-yl]methyl acetate Chemical compound O([C@@H]1O[C@@H]([C@H]([C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O)O[C@H]1[C@@H]([C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@@H](COC(C)=O)O1)OC(C)=O)COC(=O)C)[C@@H]1[C@@H](COC(C)=O)O[C@@H](OC(C)=O)[C@H](OC(C)=O)[C@H]1OC(C)=O NNLVGZFZQQXQNW-ADJNRHBOSA-N 0.000 claims description 4
- 125000001153 fluoro group Chemical group F* 0.000 claims description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 claims description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 125000004435 hydrogen atom Chemical group [H]* 0.000 claims description 4
- 239000004721 Polyphenylene oxide Substances 0.000 claims description 3
- 125000001931 aliphatic group Chemical group 0.000 claims description 3
- 150000001336 alkenes Chemical class 0.000 claims description 3
- 150000001412 amines Chemical class 0.000 claims description 3
- 150000003949 imides Chemical class 0.000 claims description 3
- 229920000636 poly(norbornene) polymer Polymers 0.000 claims description 3
- 229920000570 polyether Polymers 0.000 claims description 3
- 150000003573 thiols Chemical class 0.000 claims description 3
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229920000089 Cyclic olefin copolymer Polymers 0.000 claims description 2
- 150000007824 aliphatic compounds Chemical group 0.000 claims description 2
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 150000001732 carboxylic acid derivatives Chemical class 0.000 claims description 2
- 229920006037 cross link polymer Polymers 0.000 claims description 2
- 150000002825 nitriles Chemical class 0.000 claims description 2
- JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N norbornene Chemical compound C1[C@@H]2CC[C@H]1C=C2 JFNLZVQOOSMTJK-KNVOCYPGSA-N 0.000 claims description 2
- JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N olefin Natural products CCCCCCCC=C JRZJOMJEPLMPRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 2
- 229920006289 polycarbonate film Polymers 0.000 claims description 2
- 229920006294 polydialkylsiloxane Polymers 0.000 claims description 2
- 229920006267 polyester film Polymers 0.000 claims description 2
- 229920000193 polymethacrylate Polymers 0.000 claims description 2
- 239000004698 Polyethylene Substances 0.000 claims 1
- XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-L phthalate(2-) Chemical compound [O-]C(=O)C1=CC=CC=C1C([O-])=O XNGIFLGASWRNHJ-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims 1
- 229920000573 polyethylene Polymers 0.000 claims 1
- 230000003373 anti-fouling effect Effects 0.000 abstract description 27
- 230000001965 increasing effect Effects 0.000 abstract description 8
- 239000010408 film Substances 0.000 description 75
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 33
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 30
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 24
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 20
- 239000008199 coating composition Substances 0.000 description 13
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 11
- NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Chemical compound CC(C)CC(C)=O NTIZESTWPVYFNL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 239000002585 base Substances 0.000 description 10
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 239000003960 organic solvent Substances 0.000 description 10
- OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N Methanol Chemical compound OC OKKJLVBELUTLKV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 9
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 9
- DKGAVHZHDRPRBM-UHFFFAOYSA-N Tert-Butanol Chemical compound CC(C)(C)O DKGAVHZHDRPRBM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000006185 dispersion Substances 0.000 description 8
- 239000003999 initiator Substances 0.000 description 8
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 8
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 8
- KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N Isopropanol Chemical compound CC(C)O KFZMGEQAYNKOFK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical group [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 125000004432 carbon atom Chemical group C* 0.000 description 7
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 7
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 7
- 239000000377 silicon dioxide Substances 0.000 description 7
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N Styrene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1 PPBRXRYQALVLMV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 150000004703 alkoxides Chemical class 0.000 description 6
- BTANRVKWQNVYAZ-UHFFFAOYSA-N butan-2-ol Chemical compound CCC(C)O BTANRVKWQNVYAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 6
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 125000000217 alkyl group Chemical group 0.000 description 5
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 5
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 239000000178 monomer Substances 0.000 description 5
- 239000002216 antistatic agent Substances 0.000 description 4
- 238000004132 cross linking Methods 0.000 description 4
- 238000001723 curing Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 229920000620 organic polymer Polymers 0.000 description 4
- 238000000016 photochemical curing Methods 0.000 description 4
- 239000002952 polymeric resin Substances 0.000 description 4
- 238000006116 polymerization reaction Methods 0.000 description 4
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 4
- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 4
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M Methacrylate Chemical compound CC(=C)C([O-])=O CERQOIWHTDAKMF-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 3
- 239000004793 Polystyrene Substances 0.000 description 3
- DAKWPKUUDNSNPN-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane triacrylate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CC)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C DAKWPKUUDNSNPN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N [2-(hydroxymethyl)-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(CO)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C HVVWZTWDBSEWIH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 3
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 3
- 150000001298 alcohols Chemical class 0.000 description 3
- 239000003513 alkali Substances 0.000 description 3
- 125000003277 amino group Chemical group 0.000 description 3
- 229920001940 conductive polymer Polymers 0.000 description 3
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 description 3
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 3
- UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N ethyl carbamate;prop-2-enoic acid Chemical compound OC(=O)C=C.CCOC(N)=O UHESRSKEBRADOO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 3
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 150000003377 silicon compounds Chemical class 0.000 description 3
- 125000003396 thiol group Chemical group [H]S* 0.000 description 3
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 3
- MYRTYDVEIRVNKP-UHFFFAOYSA-N 1,2-Divinylbenzene Chemical compound C=CC1=CC=CC=C1C=C MYRTYDVEIRVNKP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO TXBCBTDQIULDIA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PCKZAVNWRLEHIP-UHFFFAOYSA-N 2-hydroxy-1-[4-[[4-(2-hydroxy-2-methylpropanoyl)phenyl]methyl]phenyl]-2-methylpropan-1-one Chemical compound C1=CC(C(=O)C(C)(O)C)=CC=C1CC1=CC=C(C(=O)C(C)(C)O)C=C1 PCKZAVNWRLEHIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- XLLIQLLCWZCATF-UHFFFAOYSA-N 2-methoxyethyl acetate Chemical compound COCCOC(C)=O XLLIQLLCWZCATF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KUDUQBURMYMBIJ-UHFFFAOYSA-N 2-prop-2-enoyloxyethyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCCOC(=O)C=C KUDUQBURMYMBIJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N Acetophenone Chemical compound CC(=O)C1=CC=CC=C1 KWOLFJPFCHCOCG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N Butylmethacrylate Chemical compound CCCCOC(=O)C(C)=C SOGAXMICEFXMKE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N Methyl isobutyl ketone Natural products CCC(C)C(C)=O UIHCLUNTQKBZGK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N N-Butanol Chemical compound CCCCO LRHPLDYGYMQRHN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 2
- WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N Tetrahydrofuran Chemical compound C1CCOC1 WYURNTSHIVDZCO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N Titan oxide Chemical compound O=[Ti]=O GWEVSGVZZGPLCZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane Chemical compound CCC(CO)(CO)CO ZJCCRDAZUWHFQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910021536 Zeolite Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001242 acetic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- YRKCREAYFQTBPV-UHFFFAOYSA-N acetylacetone Chemical compound CC(=O)CC(C)=O YRKCREAYFQTBPV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000001252 acrylic acid derivatives Chemical class 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 2
- 125000003118 aryl group Chemical group 0.000 description 2
- 239000003054 catalyst Substances 0.000 description 2
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N diacetone alcohol Chemical compound CC(=O)CC(C)(C)O SWXVUIWOUIDPGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N dioxosilane;oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Si]=O.O=[Al]O[Al]=O HNPSIPDUKPIQMN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002170 ethers Chemical class 0.000 description 2
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 2
- 229960004592 isopropanol Drugs 0.000 description 2
- JMMWKPVZQRWMSS-UHFFFAOYSA-N isopropyl acetate Chemical compound CC(C)OC(C)=O JMMWKPVZQRWMSS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000002576 ketones Chemical class 0.000 description 2
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 description 2
- 238000002156 mixing Methods 0.000 description 2
- YJYPHYFVIQJBFN-UHFFFAOYSA-N monovinylisobutyl-poss® Chemical group O1[Si](O[Si](O2)(O[Si](CC(C)C)(O3)O4)C=C)(CC(C)C)O[Si]4(CC(C)C)O[Si]4(CC(C)C)O[Si]1(CC(C)C)O[Si]2(CC(C)C)O[Si]3(CC(C)C)O4 YJYPHYFVIQJBFN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 2
- 150000002902 organometallic compounds Chemical class 0.000 description 2
- WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N pentaerythritol Chemical compound OCC(CO)(CO)CO WXZMFSXDPGVJKK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 229920003229 poly(methyl methacrylate) Polymers 0.000 description 2
- 229920000058 polyacrylate Polymers 0.000 description 2
- 239000004926 polymethyl methacrylate Substances 0.000 description 2
- 229920005553 polystyrene-acrylate Polymers 0.000 description 2
- 239000000047 product Substances 0.000 description 2
- BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N propan-1-ol Chemical compound CCCO BDERNNFJNOPAEC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 238000011160 research Methods 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N titanium(IV) isopropoxide Chemical compound CC(C)O[Ti](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C VXUYXOFXAQZZMF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000010457 zeolite Substances 0.000 description 2
- POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M (z)-4-oxopent-2-en-2-olate Chemical class C\C([O-])=C\C(C)=O POILWHVDKZOXJZ-ARJAWSKDSA-M 0.000 description 1
- JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 1,2,3-triazine Chemical compound C1=CN=NN=C1 JYEUMXHLPRZUAT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MYWOJODOMFBVCB-UHFFFAOYSA-N 1,2,6-trimethylphenanthrene Chemical compound CC1=CC=C2C3=CC(C)=CC=C3C=CC2=C1C MYWOJODOMFBVCB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HSOOIVBINKDISP-UHFFFAOYSA-N 1-(2-methylprop-2-enoyloxy)butyl 2-methylprop-2-enoate Chemical compound CC(=C)C(=O)OC(CCC)OC(=O)C(C)=C HSOOIVBINKDISP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZDQNWDNMNKSMHI-UHFFFAOYSA-N 1-[2-(2-prop-2-enoyloxypropoxy)propoxy]propan-2-yl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OC(C)COC(C)COCC(C)OC(=O)C=C ZDQNWDNMNKSMHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 1-methoxypropan-2-ol Chemical compound COCC(C)O ARXJGSRGQADJSQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PUGOMSLRUSTQGV-UHFFFAOYSA-N 2,3-di(prop-2-enoyloxy)propyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(OC(=O)C=C)COC(=O)C=C PUGOMSLRUSTQGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PTTPXKJBFFKCEK-UHFFFAOYSA-N 2-Methyl-4-heptanone Chemical compound CC(C)CC(=O)CC(C)C PTTPXKJBFFKCEK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PTJWCLYPVFJWMP-UHFFFAOYSA-N 2-[[3-hydroxy-2-[[3-hydroxy-2,2-bis(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propoxy]methyl]-2-(hydroxymethyl)propane-1,3-diol Chemical compound OCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)COCC(CO)(CO)CO PTJWCLYPVFJWMP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000003903 2-propenyl group Chemical group [H]C([*])([H])C([H])=C([H])[H] 0.000 description 1
- HQPQZMMDWFLVTD-UHFFFAOYSA-N 3-prop-2-enoyloxypropyl prop-2-enoate propyl prop-2-enoate Chemical compound C(C=C)(=O)OCCCOC(C=C)=O.C(C=C)(=O)OCCC HQPQZMMDWFLVTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JLBJTVDPSNHSKJ-UHFFFAOYSA-N 4-Methylstyrene Chemical compound CC1=CC=C(C=C)C=C1 JLBJTVDPSNHSKJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- DBCAQXHNJOFNGC-UHFFFAOYSA-N 4-bromo-1,1,1-trifluorobutane Chemical compound FC(F)(F)CCCBr DBCAQXHNJOFNGC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FIHBHSQYSYVZQE-UHFFFAOYSA-N 6-prop-2-enoyloxyhexyl prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCCCCCCOC(=O)C=C FIHBHSQYSYVZQE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004925 Acrylic resin Substances 0.000 description 1
- 229920000178 Acrylic resin Polymers 0.000 description 1
- LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M Bisulfite Chemical compound OS([O-])=O LSNNMFCWUKXFEE-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 1
- JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N Ethyl urethane Chemical compound CCOC(N)=O JOYRKODLDBILNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000005057 Hexamethylene diisocyanate Substances 0.000 description 1
- ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N Phosphorous acid Chemical compound OP(O)=O ABLZXFCXXLZCGV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920000265 Polyparaphenylene Polymers 0.000 description 1
- 239000004372 Polyvinyl alcohol Substances 0.000 description 1
- JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N Pyridine Chemical class C1=CC=NC=C1 JUJWROOIHBZHMG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000006087 Silane Coupling Agent Substances 0.000 description 1
- BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N Tetraethyl orthosilicate Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)OCC BOTDANWDWHJENH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKKRPWIIYQTPQF-UHFFFAOYSA-N Trimethylolpropane trimethacrylate Chemical compound CC(=C)C(=O)OCC(CC)(COC(=O)C(C)=C)COC(=O)C(C)=C OKKRPWIIYQTPQF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000003848 UV Light-Curing Methods 0.000 description 1
- YPCHGLDQZXOZFW-UHFFFAOYSA-N [2-[[4-methyl-3-[[3-prop-2-enoyloxy-2,2-bis(prop-2-enoyloxymethyl)propoxy]carbonylamino]phenyl]carbamoyloxymethyl]-3-prop-2-enoyloxy-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound CC1=CC=C(NC(=O)OCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C)C=C1NC(=O)OCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C YPCHGLDQZXOZFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N [3-prop-2-enoyloxy-2-[[3-prop-2-enoyloxy-2,2-bis(prop-2-enoyloxymethyl)propoxy]methyl]-2-(prop-2-enoyloxymethyl)propyl] prop-2-enoate Chemical compound C=CC(=O)OCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COCC(COC(=O)C=C)(COC(=O)C=C)COC(=O)C=C MPIAGWXWVAHQBB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- CYGQPMMZQIQYKC-UHFFFAOYSA-N ac1n7ly5 Chemical group O1[Si](O[Si](CC(C)C)(O2)O[Si](CC(C)C)(O3)O4)(CC(C)C)O[Si]4(CC(C)C)O[Si]4(CC(C)C)O[Si]1(CC(C)C)O[Si]2(CC(C)C)O[Si]3(CCCS)O4 CYGQPMMZQIQYKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KHYRGQGGJMEVTP-UHFFFAOYSA-N ac1ncuku Chemical group O1[Si](O[Si](CC(C)C)(O2)O[Si](CC(C)C)(O3)O4)(CC(C)C)O[Si]4(CC(C)C)O[Si]4(CC(C)C)O[Si]1(CC(C)C)O[Si]2(CC(C)C)O[Si]3(CCCNCCN)O4 KHYRGQGGJMEVTP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATMLPEJAVWINOF-UHFFFAOYSA-N acrylic acid acrylic acid Chemical compound OC(=O)C=C.OC(=O)C=C ATMLPEJAVWINOF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 125000003158 alcohol group Chemical group 0.000 description 1
- HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N alpha-acetylene Natural products C#C HSFWRNGVRCDJHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SMZOGRDCAXLAAR-UHFFFAOYSA-N aluminium isopropoxide Chemical compound [Al+3].CC(C)[O-].CC(C)[O-].CC(C)[O-] SMZOGRDCAXLAAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000001413 amino acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000001449 anionic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910000410 antimony oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 238000007611 bar coating method Methods 0.000 description 1
- RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N benzophenone Chemical compound C=1C=CC=CC=1C(=O)C1=CC=CC=C1 RWCCWEUUXYIKHB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000012965 benzophenone Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 150000001735 carboxylic acids Chemical class 0.000 description 1
- 150000001767 cationic compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229920003174 cellulose-based polymer Polymers 0.000 description 1
- 229910000420 cerium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000013522 chelant Substances 0.000 description 1
- 239000007795 chemical reaction product Substances 0.000 description 1
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 238000006482 condensation reaction Methods 0.000 description 1
- 229920000547 conjugated polymer Polymers 0.000 description 1
- 210000002858 crystal cell Anatomy 0.000 description 1
- 125000000392 cycloalkenyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000753 cycloalkyl group Chemical group 0.000 description 1
- 125000000113 cyclohexyl group Chemical group [H]C1([H])C([H])([H])C([H])([H])C([H])(*)C([H])([H])C1([H])[H] 0.000 description 1
- 238000007607 die coating method Methods 0.000 description 1
- 125000005442 diisocyanate group Chemical group 0.000 description 1
- 238000007865 diluting Methods 0.000 description 1
- 239000004205 dimethyl polysiloxane Substances 0.000 description 1
- 125000003700 epoxy group Chemical group 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- HNRMPXKDFBEGFZ-UHFFFAOYSA-N ethyl trimethyl methane Natural products CCC(C)(C)C HNRMPXKDFBEGFZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- STVZJERGLQHEKB-UHFFFAOYSA-N ethylene glycol dimethacrylate Substances CC(=C)C(=O)OCCOC(=O)C(C)=C STVZJERGLQHEKB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 1
- 239000012847 fine chemical Substances 0.000 description 1
- 150000002222 fluorine compounds Chemical class 0.000 description 1
- 125000005639 glycero group Chemical group 0.000 description 1
- 150000002314 glycerols Chemical class 0.000 description 1
- 125000003055 glycidyl group Chemical group C(C1CO1)* 0.000 description 1
- 150000002334 glycols Chemical class 0.000 description 1
- 238000007756 gravure coating Methods 0.000 description 1
- 125000005842 heteroatom Chemical group 0.000 description 1
- 125000000623 heterocyclic group Chemical group 0.000 description 1
- RRAMGCGOFNQTLD-UHFFFAOYSA-N hexamethylene diisocyanate Chemical compound O=C=NCCCCCCN=C=O RRAMGCGOFNQTLD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000007062 hydrolysis Effects 0.000 description 1
- 238000006460 hydrolysis reaction Methods 0.000 description 1
- 125000002887 hydroxy group Chemical group [H]O* 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 1
- ZXEKIIBDNHEJCQ-UHFFFAOYSA-N isobutanol Chemical compound CC(C)CO ZXEKIIBDNHEJCQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000000959 isobutyl group Chemical group [H]C([H])([H])C([H])(C([H])([H])[H])C([H])([H])* 0.000 description 1
- IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N isocyanate group Chemical group [N-]=C=O IQPQWNKOIGAROB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- FSQQTNAZHBEJLS-UPHRSURJSA-N maleamic acid Chemical compound NC(=O)\C=C/C(O)=O FSQQTNAZHBEJLS-UPHRSURJSA-N 0.000 description 1
- 229910021645 metal ion Inorganic materials 0.000 description 1
- BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N methyltrimethoxysilane Chemical compound CO[Si](C)(OC)OC BFXIKLCIZHOAAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 125000002560 nitrile group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 1
- 125000003518 norbornenyl group Chemical group C12(C=CC(CC1)C2)* 0.000 description 1
- RNYFPCBPUJIHRR-WCZCRHMRSA-N norbornenylethyl-poss® Chemical group C1([C@@H]2C[C@@H](C=C2)C1)CC[Si](O1)(O2)O[Si](O3)(C4CCCC4)O[Si](O4)(C5CCCC5)O[Si]1(C1CCCC1)O[Si](O1)(C5CCCC5)O[Si]2(C2CCCC2)O[Si]3(C2CCCC2)O[Si]41C1CCCC1 RNYFPCBPUJIHRR-WCZCRHMRSA-N 0.000 description 1
- 239000011368 organic material Substances 0.000 description 1
- 150000002923 oximes Chemical class 0.000 description 1
- TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoalumanyloxy)alumane Chemical compound O=[Al]O[Al]=O TWNQGVIAIRXVLR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N oxo(oxoceriooxy)cerium Chemical compound [Ce]=O.O=[Ce]=O BMMGVYCKOGBVEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N oxoantimony Chemical compound [Sb]=O VTRUBDSFZJNXHI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);zirconium(4+) Chemical compound [O-2].[O-2].[Zr+4] RVTZCBVAJQQJTK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000012856 packing Methods 0.000 description 1
- 150000003014 phosphoric acid esters Chemical class 0.000 description 1
- 229920000435 poly(dimethylsiloxane) Polymers 0.000 description 1
- 229920000553 poly(phenylenevinylene) Polymers 0.000 description 1
- 229920001197 polyacetylene Polymers 0.000 description 1
- 229920000767 polyaniline Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920000728 polyester Polymers 0.000 description 1
- 229920000098 polyolefin Polymers 0.000 description 1
- 229920000128 polypyrrole Polymers 0.000 description 1
- 229920002223 polystyrene Polymers 0.000 description 1
- 229920000123 polythiophene Polymers 0.000 description 1
- 229920002451 polyvinyl alcohol Polymers 0.000 description 1
- ZGSOBQAJAUGRBK-UHFFFAOYSA-N propan-2-olate;zirconium(4+) Chemical compound [Zr+4].CC(C)[O-].CC(C)[O-].CC(C)[O-].CC(C)[O-] ZGSOBQAJAUGRBK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000003242 quaternary ammonium salts Chemical group 0.000 description 1
- 239000000376 reactant Substances 0.000 description 1
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 1
- 239000011342 resin composition Substances 0.000 description 1
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 1
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N sulfuric acid Substances OS(O)(=O)=O QAOWNCQODCNURD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N tetrahydrofuran Natural products C=1C=COC=1 YLQBMQCUIZJEEH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N tetramethyl orthosilicate Chemical compound CO[Si](OC)(OC)OC LFQCEHFDDXELDD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZUEKXCXHTXJYAR-UHFFFAOYSA-N tetrapropan-2-yl silicate Chemical compound CC(C)O[Si](OC(C)C)(OC(C)C)OC(C)C ZUEKXCXHTXJYAR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 1
- 239000004408 titanium dioxide Substances 0.000 description 1
- DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N toluene 2,4-diisocyanate Chemical compound CC1=CC=C(N=C=O)C=C1N=C=O DVKJHBMWWAPEIU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N triethoxy(methyl)silane Chemical compound CCO[Si](C)(OCC)OCC CPUDPFPXCZDNGI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- JXUKBNICSRJFAP-UHFFFAOYSA-N triethoxy-[3-(oxiran-2-ylmethoxy)propyl]silane Chemical compound CCO[Si](OCC)(OCC)CCCOCC1CO1 JXUKBNICSRJFAP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N trimethoxy-[3-(oxiran-2-ylmethoxy)propyl]silane Chemical compound CO[Si](OC)(OC)CCCOCC1CO1 BPSIOYPQMFLKFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- YUYCVXFAYWRXLS-UHFFFAOYSA-N trimethoxysilane Chemical compound CO[SiH](OC)OC YUYCVXFAYWRXLS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229920002554 vinyl polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000008096 xylene Substances 0.000 description 1
- 229910001928 zirconium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
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Abstract
본 발명은 높은 내스크래치성 및 방오성을 동시에 구현할 수 있고 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 높일 수 있는 반사 방지 필름과 이를 포함한 편광판 및 디스플레이 장치에 관한 것이다. The present invention relates to an anti-reflection film capable of simultaneously implementing high scratch resistance and antifouling properties and increasing screen clarity of a display device, a polarizing plate including the same, and a display device.
Description
본 발명은 반사 방지 필름, 편광판 및 디스플레이 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an antireflection film, a polarizer and a display device.
일반적으로 PDP, LCD 등의 평판 디스플레이 장치에는 외부로부터 입사되는 빛의 반사를 최소화하기 위한 반사 방지 필름이 장착된다. 빛의 반사를 최소화하기 위한 방법으로는 수지에 무기 미립자 등의 필러를 분산시켜 기재 필름 상에 코팅하고 요철을 부여하는 방법(anti-glare: AG 코팅); 기재 필름 상에 굴절율이 다른 다수의 층을 형성시켜 빛의 간섭을 이용하는 방법(anti-reflection: AR 코팅) 또는 이들을 혼용하는 방법 등이 있다.In general, flat panel display devices such as PDPs and LCDs are equipped with an anti-reflection film to minimize reflection of light incident from the outside. As a method for minimizing light reflection, a method of dispersing a filler such as inorganic fine particles in a resin, coating it on a base film, and imparting irregularities (anti-glare: AG coating); There is a method of using light interference by forming a plurality of layers having different refractive indices on a base film (anti-reflection: AR coating) or a method of mixing them.
그 중, 상기 AG 코팅의 경우 반사되는 빛의 절대량은 일반적인 하드 코팅과 동등한 수준이지만, 요철을 통한 빛의 산란을 이용해 눈에 들어오는 빛의 양을 줄임으로써 저반사 효과를 얻을 수 있다. 그러나 상기 AG 코팅은 표면 요철로 인해 화면의 선명도가 떨어지기 때문에, 최근에는 AR 코팅에 대한 많은 연구가 이루어지고 있다.Among them, in the case of the AG coating, the absolute amount of reflected light is equivalent to that of a general hard coating, but a low reflection effect can be obtained by reducing the amount of light entering the eye using light scattering through irregularities. However, since the AG coating lowers screen clarity due to surface irregularities, a lot of research on AR coating has been recently made.
상기 AR 코팅을 이용한 필름으로는 광투과성 기재 필름 상에 하드 코팅층(고굴절율층), 저반사 코팅층 등이 적층된 다층 구조인 것이 상용화되고 있다. 그러나, 이러한 다수의 층을 형성시키는 방법은 각 층을 형성하는 공정을 별도로 수행함에 따라 층간 밀착력(계면 접착력)이 약해 내스크래치성이 떨어지는 단점이 있다.As a film using the AR coating, a multilayer structure in which a hard coating layer (high refractive index layer), a low reflection coating layer, etc. are laminated on a light-transmitting base film is commercially available. However, this method of forming a plurality of layers has a disadvantage in that the interlayer adhesion (interfacial adhesion) is weak as the process of forming each layer is separately performed, and thus scratch resistance is poor.
또한, 이전에는 반사 방지 필름에 포함되는 저굴절층의 내스크래치성을 향상시키기 위해서는 나노미터 사이즈의 다양한 입자(예를 들어, 실리카, 알루미나, 제올라이트 등의 입자)를 첨가하는 방법이 주로 시도되었다. 그러나, 상기와 같이 나노미터 사이즈의 입자를 사용하는 경우 저굴절층의 반사율을 낮추면서 내스크래치성을 동시에 높이기 어려운 한계가 있었으며, 나노미터의 사이즈의 입자로 인하여 저굴절층 표면이 갖는 방오성이 크게 저하되었다. In addition, in the past, in order to improve the scratch resistance of the low refractive index layer included in the antireflection film, a method of adding various particles of nanometer size (eg, particles such as silica, alumina, zeolite, etc.) was mainly tried. However, when nanometer-sized particles are used as described above, there is a limitation in that it is difficult to simultaneously increase scratch resistance while lowering the reflectivity of the low-refractive layer, and the antifouling property of the low-refractive layer surface due to the nanometer-sized particles is large. was lowered
이에 따라, 외부로부터 입사되는 빛의 절대 반사량을 줄이면서 표면의 내스크래치성과 함께 방오성을 향상시키기 위한 많은 연구가 이루어지고 있으나, 이에 따른 물성 개선의 정도가 미흡한 실정이다.Accordingly, many studies have been made to improve the anti-soiling properties as well as scratch resistance of the surface while reducing the absolute reflection amount of light incident from the outside, but the degree of improvement in physical properties is insufficient.
본 발명은 높은 내스크래치성 및 방오성을 동시에 구현할 수 있고 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 높일 수 있는 반사 방지 필름을 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide an anti-reflection film capable of simultaneously implementing high scratch resistance and antifouling properties and increasing the clarity of a screen of a display device.
또한, 본 발명은 상기 반사 방지 필름을 포함하는 편광판을 제공하기 위한 것이다.Another object of the present invention is to provide a polarizing plate including the anti-reflection film.
또한, 본 발명은 상기 반사 방지 필름을 포함하며 높은 화면의 선명도를 제공하는 디스플레이 장치를 제공하기 위한 것이다.Another object of the present invention is to provide a display device including the anti-reflection film and providing high screen clarity.
본 명세서에서는, 하드 코팅층; 및 광중합성 화합물의 (공)중합체, 중공형 무기 입자, 및 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 포함하는 저굴절층;을 포함하고, 상기 저굴절층 총 중량에 대한 중공형 무기 입자의 함량은 29 내지 60중량%이고, 상기 저굴절층 총 중량에 대한 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량은 1 내지 9중량%이고, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량(F) 및 중공형 무기 입자의 함량(V)이 하기 식 1을 만족하는 반사 방지 필름이 제공된다.In this specification, hard coating layer; and a (co)polymer of a photopolymerizable compound, a hollow inorganic particle, and a low refractive layer comprising a fluorine-containing compound including a photoreactive functional group, wherein the content of the hollow inorganic particles relative to the total weight of the low refractive layer is 29 to 60% by weight, the content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group with respect to the total weight of the low refractive layer is 1 to 9% by weight, the content (F) of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group and the hollow type There is provided an antireflection film in which the content (V) of inorganic particles satisfies Equation 1 below.
[식 1][Equation 1]
F ≥ 0.26V-6.11F ≥ 0.26V-6.11
또한, 본 명세서에서는, 상기 반사 방지 필름을 포함하는 편광판이 제공된다. In addition, in the present specification, a polarizing plate including the anti-reflection film is provided.
또한, 본 명세서에서는, 상기 반사 방지 필름을 포함하는 디스플레이 장치가 제공될 수 있다.Also, in the present specification, a display device including the anti-reflection film may be provided.
이하 발명의 구체적인 구현예에 따른 반사 방지 필름, 이를 포함하는 편광판 및 디스플레이 장치에 관하여 보다 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, an anti-reflection film according to a specific embodiment of the present invention, a polarizing plate and a display device including the same will be described in more detail.
본 명세서에서, 저굴절층은 낮은 굴절률을 갖는 층을 의미할 수 있으며, 예를 들면, 550nm의 파장에서 약 1.2 내지 1.6의 굴절률을 나타내는 층을 의미할 수 있다.In the present specification, the low-refractive layer may mean a layer having a low refractive index, for example, may mean a layer having a refractive index of about 1.2 to 1.6 at a wavelength of 550 nm.
또한, 중공형 무기 입자라 함은 무기 입자의 표면 및/또는 내부에 빈 공간이 존재하는 형태의 입자를 의미한다.In addition, the hollow inorganic particle means a particle having an empty space on the surface and/or inside of the inorganic particle.
또한, (메트)아크릴레이트[(Meth)acrylate]는 아크릴레이트(acrylate) 및 메타크릴레이트(Methacrylate) 양쪽 모두를 포함하는 의미이다.In addition, (meth)acrylate [(Meth)acrylate] is meant to include both acrylate (acrylate) and methacrylate (Methacrylate).
또한, (공)중합체는 공중합체(co-polymer) 및 단독 중합체(homo-polymer) 양쪽 모두를 포함하는 의미이다.In addition, the (co)polymer is meant to include both a copolymer (co-polymer) and a homo-polymer (homo-polymer).
또한, 광중합성 화합물은 빛의 조사에 의해, 예를 들어 가시 광선 또는 자외선의 조사에 의해 중합된 고분자 화합물을 통칭한다.In addition, the photopolymerizable compound refers to a polymer compound polymerized by irradiation of light, for example, by irradiation of visible light or ultraviolet light.
또한, 함불소 화합물은 화합물 중 적어도 1개 이상의 불소 원소가 포함된 화합물을 의미한다.In addition, the fluorine-containing compound refers to a compound containing at least one element of fluorine among the compounds.
발명의 일 구현예에 따르면, 하드 코팅층; 및 광중합성 화합물의 (공)중합체, 중공형 무기 입자, 및 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 포함하는 저굴절층;을 포함하고, 상기 저굴절층 총 중량에 대한 중공형 무기 입자의 함량은 29 내지 60중량%이고, 상기 저굴절층 총 중량에 대한 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량은 1 내지 9중량%이고, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량(F) 및 중공형 무기 입자의 함량(V)이 하기 식 1을 만족하는 반사 방지 필름이 제공될 수 있다.According to one embodiment of the invention, a hard coating layer; and a (co)polymer of a photopolymerizable compound, a hollow inorganic particle, and a low refractive layer comprising a fluorine-containing compound including a photoreactive functional group, wherein the content of the hollow inorganic particles relative to the total weight of the low refractive layer is 29 to 60% by weight, the content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group with respect to the total weight of the low refractive layer is 1 to 9% by weight, the content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group (F) and the hollow type An antireflection film having an inorganic particle content (V) satisfying Equation 1 below may be provided.
[식 1][Equation 1]
F ≥ 0.26V-6.11F ≥ 0.26V-6.11
이에, 본 발명자들은 반사 방지 필름에 관한 연구를 진행하여, 중공형 무기 입자 및 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 특정 함량으로 포함하는 반사 방지 필름은, 높은 내스크래치성 및 방오성을 동시에 구현할 수 있고 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 갖는다는 점을 실험을 통하여 확인하고 발명을 완성하였다.Accordingly, the present inventors conducted research on the anti-reflection film, and the anti-reflection film containing the fluorine-containing compound including the hollow inorganic particles and the photoreactive functional group in a specific content can simultaneously implement high scratch resistance and antifouling properties, The point of having the clarity of the screen of the display device was confirmed through an experiment and the invention was completed.
또한, 상기 반사 방지 필름은 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 높일 수 있으면서도 우수한 내스크래치성 및 높은 방오성을 가져서 디스플레이 장치 또는 편광판 제조 공정 등에 큰 제한 없이 용이하게 적용 가능하다.In addition, the anti-reflection film can increase the clarity of the screen of the display device, and has excellent scratch resistance and high antifouling properties, so that it can be easily applied without major limitation to a display device or a polarizing plate manufacturing process.
구체적으로, 상기 일 구현예에 따른 반사 방지 필름은, 하드 코팅층 및 저굴절층을 포함하고, 상기 저굴절층은 광중합성 화합물의 (공)중합체, 중공형 무기 입자, 및 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 포함할 수 있다.Specifically, the antireflection film according to the exemplary embodiment includes a hard coating layer and a low refractive index layer, and the low refractive index layer includes a (co)polymer of a photopolymerizable compound, a hollow inorganic particle, and a photoreactive functional group. It may contain a fluorine compound.
상기 저굴절층 총 중량에 대한 중공형 무기 입자의 함량은 29 내지 60중량%, 30 내지 55중량%, 또는 35 내지 50중량%일 수 있다. 상기 중공형 무기 입자의 함량이 29중량% 미만이면 저반사 효과를 얻기 어려울 수 있고, 60중량% 초과하면 저굴절층 표면에 지나치게 많은 요철이 형성되어 표면적이 증가하여 우수한 방오성을 갖기 어려울 수 있다.The content of the hollow inorganic particles with respect to the total weight of the low refractive layer may be 29 to 60% by weight, 30 to 55% by weight, or 35 to 50% by weight. If the content of the hollow inorganic particles is less than 29% by weight, it may be difficult to obtain a low-reflection effect, and if it exceeds 60% by weight, too many irregularities are formed on the surface of the low refractive index layer, and the surface area increases, so it may be difficult to have excellent antifouling properties.
상기 저굴절층 총 중량에 대한 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량은 1 내지 9중량%, 2 내지 8중량%, 또는 3 내지 7중량%일 수 있다. 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물은 저굴절층의 표면에 슬립(Slip)성을 부여하여 방오성을 향상시키는 역할을 하는데, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량이 1 중량% 미만이면 방오성의 효과를 얻을 수 없고, 9 중량% 초과하면 저굴절층 표면에 상대적으로 함불소 화합물 함량이 많아져, 저굴절층의 표면에서 광중합성 화합물이 (공)중합체로 전환되는 전환율이 낮아지는 문제점이 발생할 수 있다. The content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group with respect to the total weight of the low refractive layer may be 1 to 9 wt%, 2 to 8 wt%, or 3 to 7 wt%. The fluorine-containing compound including the photoreactive functional group serves to improve the antifouling property by imparting slip property to the surface of the low refractive index layer. The effect of cannot be obtained, and when it exceeds 9% by weight, the fluorine-containing compound content is relatively high on the surface of the low-refractive layer, and the conversion rate of the photopolymerizable compound into the (co)polymer on the surface of the low-refractive layer is lowered. can occur
또한, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량(F) 및 중공형 무기 입자의 함량(V)이 하기 식 1을 만족할 수 있다.In addition, the content (F) of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group and the content (V) of the hollow inorganic particles may satisfy Equation 1 below.
[식 1][Equation 1]
F ≥ 0.26V-6.11F ≥ 0.26V-6.11
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량이 상기 저굴절층 총 중량에 대해 29 내지 60중량%이고, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량이 상기 저굴절층 총 중량에 대해 1 내지 9중량%인 동시에, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물과 중공형 무기 입자의 함량이 상기 식 1을 만족함으로 인하여, 우수한 방오성 및 내스크래치성을 구현할 수 있고, 380㎚ 내지 780㎚의 가시 광선 파장대 영역에서 2% 이하의 평균 반사율을 나타내어 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 높일 수 있다.The content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group is 29 to 60% by weight based on the total weight of the low refractive layer, and the content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group is 1 to 9 based on the total weight of the low refractive layer At the same time, since the content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group and the hollow inorganic particles satisfies Equation 1, excellent antifouling and scratch resistance can be implemented, and the visible light wavelength range of 380 nm to 780 nm An average reflectance of 2% or less in the area may be exhibited to increase the sharpness of the screen of the display device.
상기 일 구현예에 따른 반사 방지 필름의 상기 저굴절층은, 상기 광중합성 화합물의 (공)중합체 및 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 포함하는 바인더 수지, 및 상기 바인더 수지에 분산된 중공형 무기 입자를 포함할 수 있다.The low-refractive layer of the anti-reflection film according to the embodiment is a binder resin including a (co)polymer of the photopolymerizable compound and a fluorine-containing compound including the photoreactive functional group, and a hollow type dispersed in the binder resin. It may contain inorganic particles.
상기 광중합성 화합물의 (공)중합체를 형성하는 광중합성 화합물은 (메트)아크릴레이트 또는 비닐기를 포함하는 단량체 또는 올리고머를 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 광중합성 화합물은 (메트)아크릴레이트 또는 비닐기를 1 이상, 또는 2 이상, 또는 3 이상 포함하는 단량체 또는 올리고머를 포함할 수 있다. The photopolymerizable compound forming the (co)polymer of the photopolymerizable compound may include (meth)acrylate or a monomer or oligomer including a vinyl group. Specifically, the photopolymerizable compound may include a monomer or oligomer including one or more, or two or more, or three or more (meth)acrylate or vinyl groups.
상기 (메트)아크릴레이트를 포함한 단량체 또는 올리고머의 구체적인 예로는, 펜타에리스리톨 트리(메트)아크릴레이트, 펜타에리스리톨 테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨 펜타(메트)아크릴레이트, 디펜타에리스리톨 헥사(메트)아크릴레이트, 트리펜타에리스리톨 헵타(메트)아크릴레이트, 트릴렌 디이소시아네이트, 자일렌 디이소시아네이트, 헥사메틸렌 디이소시아네이트, 트리메틸올프로판 트리(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판 폴리에톡시 트리(메트)아크릴레이트, 트리메틸롤프로판트리메타크릴레이트, 에틸렌글리콜 디메타크릴레이트, 부탄디올 디메타크릴레이트, 헥사에틸 메타크릴레이트, 부틸 메타크릴레이트 또는 이들의 2종 이상의 혼합물이나, 또는 우레탄 변성 아크릴레이트 올리고머, 에폭사이드 아크릴레이트 올리고머, 에테르아크릴레이트 올리고머, 덴드리틱 아크릴레이트 올리고머, 또는 이들의 2종 이상의 혼합물을 들 수 있다. 이때 상기 올리고머의 분자량은 1,000 내지 10,000일 수 있다.Specific examples of the monomer or oligomer containing the (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) ) acrylate, tripentaerythritol hepta (meth) acrylate, torylene diisocyanate, xylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, trimethylolpropane tri(meth)acrylate, trimethylolpropane polyethoxytri(meth)acrylic Late, trimethylolpropane trimethacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, butanediol dimethacrylate, hexaethyl methacrylate, butyl methacrylate, or a mixture of two or more thereof, or urethane-modified acrylate oligomer, epoxy side acrylate oligomers, ether acrylate oligomers, dendritic acrylate oligomers, or mixtures of two or more thereof. In this case, the molecular weight of the oligomer may be 1,000 to 10,000.
상기 비닐기를 포함하는 단량체 또는 올리고머의 구체적인 예로는, 디비닐벤젠, 스티렌 또는 파라메틸스티렌을 들 수 있다.Specific examples of the monomer or oligomer including the vinyl group include divinylbenzene, styrene, or paramethylstyrene.
상기 저굴절층 총 중량에 대한, 상기 광중합성 화합물로부터 유래한 상기 광중합성 화합물의 (공)중합체의 함량은 크게 한정되는 것은 아니나, 최종 제조되는 저굴절층이나 반사 방지 필름의 기계적 물성 등을 고려하여 상기 광중합성 화합물의 (공)중합체의 함량은 10 내지 80중량%, 15 내지 70중량%, 20 내지 60중량%, 또는 30 내지 50중량%일 수 있다. 상기 광중합성 화합물의 (공)중합체의 함량이 10중량% 미만이면 무기 입자간 빈 공간이 형성되어 입자간 배열의 주기성이 없어져 입자의 충전 밀도(packing density) 하락을 유도할 수 있으며, 이로 인해 스트레스(stress) 분산이 원활하게 일어나지 않아 내스크래치성이 하락될 수 있다. 상기 광중합성 화합물의 (공)중합체의 함량이 80중량% 초과하면 광중합성 화합물이 (공)중합체로 전환되는 비율이 낮아질 수 있다.The content of the (co)polymer of the photopolymerizable compound derived from the photopolymerizable compound with respect to the total weight of the low refractive layer is not particularly limited, but considers the mechanical properties of the finally manufactured low refractive layer or antireflection film. Thus, the content of the (co)polymer of the photopolymerizable compound may be 10 to 80% by weight, 15 to 70% by weight, 20 to 60% by weight, or 30 to 50% by weight. When the content of the (co)polymer of the photopolymerizable compound is less than 10% by weight, an empty space between inorganic particles is formed, and the periodicity of the arrangement between particles is lost, thereby inducing a decrease in the packing density of the particles, which causes stress (stress) Scratch resistance may decrease because dispersion does not occur smoothly. When the content of the (co)polymer of the photopolymerizable compound exceeds 80% by weight, the conversion ratio of the photopolymerizable compound to the (co)polymer may be low.
한편, 상기 중공형 무기 입자는 그 표면 및/또는 내부에 빈 공간이 존재하는 형태의 입자를 의미한다.On the other hand, the hollow inorganic particle means a particle having an empty space on its surface and/or inside.
상기 중공형 무기 입자는 10 내지 200㎚, 15 내지 150㎚, 20 내지 130nm, 30 내지 110nm 또는 40 내지 100nm의 평균 직경을 가질 수 있다. 상기 중공형 무기 입자의 평균 직경이 10nm 미만이면 중공형 무기 입자 자체가 함유한 공기의 양이 적어져 저굴절률을 구현하기 어려울 수 있고, 200nm 초과하면 저굴절층 표면에 지나치게 큰 요철이 형성되어 우수한 방오성 및 내스크래치성을 구현하기가 어려우며, 저굴절층의 두께가 필연적으로 두꺼워지는 문제점이 발생할 수 있다.The hollow inorganic particles may have an average diameter of 10 to 200 nm, 15 to 150 nm, 20 to 130 nm, 30 to 110 nm, or 40 to 100 nm. If the average diameter of the hollow inorganic particles is less than 10 nm, the amount of air contained in the hollow inorganic particles itself may decrease, making it difficult to implement a low refractive index, and if it exceeds 200 nm, excessively large irregularities are formed on the surface of the low refractive index layer It is difficult to implement antifouling and scratch resistance, and a problem in that the thickness of the low refractive index layer is inevitably increased may occur.
상기 중공형 무기 입자는 표면에 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물이 코팅된 것을 단독으로 사용할 수 있다. 또는 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물이 코팅된 중공형 무기 입자와, 표면이 코팅되지 않는 중공형 무기 입자를 혼합하여 사용할 수 있다. 상기 중공형 무기 입자의 표면을 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물로 코팅하면 표면 에너지를 보다 낮출 수 있으며, 이에 따라 상기 저굴절층의 방오성을 향상시킬 수 있으며, 또한, 저굴절층의 내구성이나 내스크래치성을 보다 높일 수 있다.As the hollow inorganic particles, those coated with a fluorine-containing compound including the photoreactive functional group on the surface may be used alone. Alternatively, a mixture of the hollow inorganic particles coated with the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group and the hollow inorganic particles having an uncoated surface may be used. If the surface of the hollow inorganic particles is coated with a fluorine-containing compound including the photoreactive functional group, the surface energy can be lowered, thereby improving the antifouling property of the low refractive layer, and also, the durability or The scratch resistance can be further improved.
상기 중공형 무기 입자의 표면에 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 코팅하는 방법으로 통상적으로 알려진 입자 코팅 방법이나 중합 방법 등을 큰 제한 없이 사용할 수 있으며, 예를 들어 상기 중공형 무기 입자 및 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 물과 촉매의 존재 하에서 졸-겔 반응 시켜서 가수 분해 및 축합 반응을 통하여 상기 중공형 무기 입자의 표면에 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 결합시킬 수 있다. As a method of coating a fluorine-containing compound containing a photoreactive functional group on the surface of the hollow inorganic particles, a particle coating method or a polymerization method, which is commonly known, can be used without major limitation, for example, the hollow inorganic particles and the photoreactivity A fluorine-containing compound including a functional group may be subjected to a sol-gel reaction in the presence of water and a catalyst to bind the fluorine-containing compound including a photoreactive functional group to the surface of the hollow inorganic particle through hydrolysis and condensation reaction.
상기 중공형 무기 입자의 구체적인 예로는 중공 실리카 입자를 들 수 있다. 상기 중공 실리카 입자는 유기 용매에 보다 용이하게 분산되기 위해서 표면에 치환된 소정의 작용기를 포함할 수 있다. 상기 중공 실리카 입자 표면에 치환 가능한 유기 작용기의 예가 크게 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 (메트)아크릴레이트기, 비닐기, 히드록시기, 아민기, 알릴기(allyl), 에폭시기, 이소시아네이트기, 아민기, 또는 불소 등이 상기 중공 실리카 표면에 치환될 수 있다.Specific examples of the hollow inorganic particles may include hollow silica particles. The hollow silica particles may include a predetermined functional group substituted on the surface in order to be more easily dispersed in an organic solvent. Examples of organic functional groups that can be substituted on the surface of the hollow silica particles are not particularly limited, for example, a (meth)acrylate group, a vinyl group, a hydroxyl group, an amine group, an allyl group, an epoxy group, an isocyanate group, an amine group, Alternatively, fluorine or the like may be substituted on the surface of the hollow silica.
앞서 설명한 바와 같이, 저굴절층 총 중량에 대한 상기 중공형 무기 입자의 함량은 29 내지 60중량%, 30 내지 55중량%, 또는 35 내지 50중량%일 수 있다. 상기 중공형 무기 입자의 함량이 29중량% 미만이면 저반사 효과를 얻기 어려울 수 있고, 60중량% 초과하면 저굴절층 표면에 지나치게 많은 요철이 형성되어 표면적이 증가하여 우수한 방오성을 갖기 어려울 수 있다.As described above, the content of the hollow inorganic particles relative to the total weight of the low refractive layer may be 29 to 60% by weight, 30 to 55% by weight, or 35 to 50% by weight. If the content of the hollow inorganic particles is less than 29% by weight, it may be difficult to obtain a low-reflection effect, and if it exceeds 60% by weight, too many irregularities are formed on the surface of the low refractive index layer, and the surface area increases, so it may be difficult to have excellent antifouling properties.
또한, 상기 중공형 무기 입자는 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물과의 상기 식 1을 만족하는 함량 관계를 만족함으로 인하여, 우수한 방오성의 특성이 나타남과 동시에 우수한 내스크래치성을 구현할 수 있고, 380㎚ 내지 780㎚의 가시 광선 파장대 영역에서 2% 이하의 평균 반사율을 나타내어 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 높일 수 있다.In addition, since the hollow inorganic particles satisfy the content relationship satisfying Formula 1 with the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group, excellent antifouling properties and excellent scratch resistance can be realized at the same time, 380 An average reflectance of 2% or less in a visible light wavelength range of nm to 780 nm may be exhibited, thereby increasing the clarity of the screen of the display device.
상기 저굴절층은 솔리드형 무기 입자를 포함할 수 있다. 상기 솔리드형 무기 입자는 그 내부에 빈 공간이 존재하지 않는 형태의 입자를 의미한다. 상기 저굴절층에 솔리드형 무기 입자를 포함함으로 인해 보다 적은 양의 중공형 무기 입자를 사용하더라도 반사 방지 필름의 반사율을 낮출 수 있으며, 내스크래치성 및 방오성을 향상시킬 수 있다. 상기 솔리드형 무기 입자는 0.5 내지 100㎚, 1 내지 50㎚, 2 내지 30nm 또는 5 내지 20nm 의 평균 직경을 가질 수 있다. The low refractive index layer may include solid inorganic particles. The solid inorganic particles refer to particles having no empty space therein. By including the solid inorganic particles in the low refractive layer, even if a smaller amount of the hollow inorganic particles are used, the reflectance of the antireflection film may be lowered, and scratch resistance and antifouling properties may be improved. The solid inorganic particles may have an average diameter of 0.5 to 100 nm, 1 to 50 nm, 2 to 30 nm, or 5 to 20 nm.
한편, 상기 솔리드형 무기 입자 및 상기 중공형 무기 입자 각각은 표면에 (메트)아크릴레이트기, 에폭사이드기, 비닐기(Vinyl) 및 싸이올기(Thiol)로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 반응성 작용기를 함유할 수 있다. 상기 솔리드형 무기 입자 및 상기 중공형 무기 입자 각각이 표면에 상술한 반응성 작용기를 함유함에 따라서, 상기 저굴절층은 보다 높은 가교도를 가질 수 있으며, 이에 따라 보다 향상된 내스크래치성 및 방오성을 확보할 수 있다.On the other hand, each of the solid inorganic particles and the hollow inorganic particles has at least one reactive functional group selected from the group consisting of a (meth)acrylate group, an epoxide group, a vinyl group and a thiol group. may contain. As each of the solid inorganic particles and the hollow inorganic particles contains the above-described reactive functional group on the surface, the low refractive layer may have a higher degree of crosslinking, thereby securing improved scratch resistance and antifouling properties. have.
상기 중공형 무기 입자 100중량부에 대한, 상기 솔리드형 무기 입자의 함량은 1 내지 50중량부, 2 내지 40중량부, 3 내지 35중량부 또는 5 내지 30중량부일 수 있다. 상기 중공형 무기 입자가 과량으로 첨가될 경우 바인더의 함량 저하로 인하여 코팅막의 내스크래치성이나 내마모성이 저하될 수 있다. Based on 100 parts by weight of the hollow inorganic particles, the content of the solid inorganic particles may be 1 to 50 parts by weight, 2 to 40 parts by weight, 3 to 35 parts by weight, or 5 to 30 parts by weight. When the hollow inorganic particles are added in excess, the scratch resistance or abrasion resistance of the coating film may be deteriorated due to a decrease in the binder content.
상기 저굴절층은 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 포함하며, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물에 포함되는 불소 원소의 특성으로 인하여, 상기 반사 방지 필름은 액체들이나 유기 물질에 대하여 상호 작용 에너지가 낮아질 수 있으며, 이에 따라 상기 반사 방지 필름에 전사되는 오염 물질의 양을 크게 줄일 수 있을 뿐만 아니라 전사된 오염 물질이 표면에 잔류하는 현상을 방지할 수 있고, 상기 오염 물질 자체를 쉽게 제거할 수 있는 특성을 갖는다.The low refractive layer includes a fluorine-containing compound including a photoreactive functional group, and due to the characteristics of elemental fluorine included in the fluorine-containing compound including a photoreactive functional group, the antireflection film has an interaction energy with respect to liquids or organic materials can be lowered, thereby greatly reducing the amount of contaminants transferred to the anti-reflection film, as well as preventing the transferred contaminants from remaining on the surface, and the contaminants themselves can be easily removed have the characteristics
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물에는 1 이상의 광반응성 작용기가 포함 또는 치환될 수 있으며, 상기 광반응성 작용기는 빛의 조사에 의하여, 예를 들어 가시광선 또는 자외선의 조사에 의하여 중합 반응에 참여할 수 있는 작용기를 의미한다. 상기 광반응성 작용기는 빛의 조사에 의하여 중합 반응에 참여할 수 있는 것으로 알려진 다양한 작용기를 포함할 수 있으며, 이의 구체적인 예로는 (메트)아크릴레이트기, 에폭사이드기, 비닐기(Vinyl) 또는 싸이올기(Thiol)를 들 수 있다. One or more photoreactive functional groups may be included or substituted in the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group, and the photoreactive functional group may participate in a polymerization reaction by irradiation of light, for example, by irradiation of visible or ultraviolet rays. It means that there is a functional group. The photoreactive functional group may include various functional groups known to participate in the polymerization reaction by irradiation of light, and specific examples thereof include a (meth)acrylate group, an epoxide group, a vinyl group (Vinyl) or a thiol group ( Thiol) can be mentioned.
또한, 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름 형성 과정에서 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물에 포함된 반응성 작용기가 가교 작용을 하게 되고, 이에 따라 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름이 갖는 물리적 내구성, 내스크래치성 및 열적 안정성을 높일 수 있다.In addition, in the process of forming the low refractive index layer and the antireflection film, the reactive functional group included in the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group performs a crosslinking action, and thus the low refractive index layer and the antireflection film have physical durability, resistance It is possible to increase scratch resistance and thermal stability.
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물은 2,000 내지 200,000 또는 5,000 내지 100,000의 중량평균분자량(GPC법)에 의해 측정한 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량)을 가질 수 있다. The fluorine-containing compound including the photoreactive functional group may have a weight average molecular weight (weight average molecular weight in terms of polystyrene measured by GPC method) of 2,000 to 200,000 or 5,000 to 100,000.
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 중량평균분자량이 너무 작으면, 상기 함불소 화합물들이 상기 저굴절층 표면에 균일하고 효과적으로 배열하지 못하고 내부에 위치하게 되는데, 이에 따라 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름의 표면이 갖는 방오성이 저하되고 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름의 내부의 가교 밀도가 낮아져서 전체적인 강도나 내스크래치성 등의 기계적 물성이 저하될 수 있다. 또한, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 중량평균분자량이 너무 높으면, 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름의 헤이즈가 높아지거나 광투과도가 낮아질 수 있으며, 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름의 강도 또한 저하될 수 있다. When the weight average molecular weight of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group is too small, the fluorine-containing compounds are not uniformly and effectively arranged on the surface of the low-refractive layer and are located therein. Accordingly, the low-refractive layer and anti-reflection The antifouling property of the surface of the film is lowered, and the crosslinking density inside the low-refractive layer and the antireflection film is lowered, so that mechanical properties such as overall strength and scratch resistance may be lowered. In addition, if the weight average molecular weight of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group is too high, the haze of the low refractive layer and the anti-reflection film may be increased or the light transmittance may be lowered, and the strength of the low refractive layer and the anti-reflection film is also can be lowered
구체적으로, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물은 i) 하나 이상의 광반응성 작용기가 치환되고, 적어도 하나의 탄소에 1 이상의 불소가 치환된 지방족 화합물 또는 지방족 고리 화합물; ii) 1 이상의 광반응성 작용기로 치환되고, 적어도 하나의 수소가 불소로 치환되고, 하나 이상의 탄소가 규소로 치환된 헤테로(hetero) 지방족 화합물 또는 헤테로(hetero)지방족 고리 화합물; iii) 하나 이상의 광반응성 작용기가 치환되고, 적어도 하나의 실리콘에 1 이상의 불소가 치환된 폴리디알킬실록산계 고분자(예를 들어, 폴리디메틸실록산계 고분자); iv) 1 이상의 광반응성 작용기로 치환되고 적어도 하나의 수소가 불소로 치환된 폴리에테르 화합물로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함할 수 있다.Specifically, the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group includes: i) an aliphatic compound or an aliphatic ring compound in which at least one photoreactive functional group is substituted and at least one carbon is substituted with at least one fluorine; ii) a heteroaliphatic compound or a heteroaliphatic ring compound substituted with one or more photoreactive functional groups, wherein at least one hydrogen is substituted with fluorine and one or more carbons are substituted with silicon; iii) a polydialkylsiloxane-based polymer (eg, polydimethylsiloxane-based polymer) in which at least one photoreactive functional group is substituted and at least one fluorine is substituted in at least one silicone; iv) may include one or more selected from the group consisting of polyether compounds substituted with one or more photoreactive functional groups and in which at least one hydrogen is substituted with fluorine.
앞서 설명한 바와 같이, 저굴절층 총 중량에 대한 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량은 1 내지 9중량%, 2 내지 8중량%, 또는 3 내지 7중량%일 수 있다. 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량이 1 중량% 미만이면 방오성의 효과를 얻을 수 없고, 9 중량% 초과하면 저굴절층 표면에 상대적으로 함불소 화합물 함량이 많아져, 저굴절층의 표면에서 광중합성 화합물이 (공)중합체로 전환되는 전환율이 낮아지는 문제점이 발생할 수 있다. As described above, the content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group with respect to the total weight of the low refractive layer may be 1 to 9% by weight, 2 to 8% by weight, or 3 to 7% by weight. If the content of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group is less than 1% by weight, the antifouling effect cannot be obtained, and when it exceeds 9% by weight, the fluorine-containing compound content is relatively high on the surface of the low-refractive layer, and the surface of the low-refractive layer There may be a problem in that the conversion rate at which the photopolymerizable compound is converted into a (co)polymer is lowered.
또한, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물은 중공형 무기 입자와의 상기 식 1을 만족하는 함량 관계를 만족함으로 인하여, 우수한 방오성의 특성이 나타남과 동시에 우수한 내스크래치성을 구현할 수 있고, 380㎚ 내지 780㎚의 가시광선 파장대 영역에서 2% 이하의 평균 반사율을 나타내어 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 높일 수 있다.In addition, since the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group satisfies the content relationship satisfying Formula 1 with the hollow inorganic particles, excellent antifouling properties and excellent scratch resistance can be realized at the same time, 380 nm An average reflectance of 2% or less in a visible ray wavelength range of from to 780 nm may be exhibited, thereby increasing the clarity of the screen of the display device.
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물은 규소 또는 규소 화합물을 더 포함할 수 있다. 즉, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물은 선택적으로 내부에 규소 또는 규소 화합물을 함유할 수 있고, 구체적으로 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물 중 규소의 함량은 0.1 중량% 내지 20중량%일 수 있다. The fluorine-containing compound including the photoreactive functional group may further include silicon or a silicon compound. That is, the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group may optionally contain silicon or a silicon compound therein, and specifically, the content of silicon in the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group is 0.1 wt% to 20 wt% can
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물 각각에 포함되는 규소 또는 규소 화합물의 함량 또한 통상적으로 알려진 분석 방법, 예를 들어 ICP [Inductively Coupled Plasma] 분석 방법을 통해서 확인할 수 있다.The content of silicon or a silicon compound contained in each of the fluorine-containing compounds including the photoreactive functional group may also be confirmed through a commonly known analysis method, for example, an ICP [Inductively Coupled Plasma] analysis method.
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물에 포함되는 규소는 상기 구현예의 저굴절층에 포함되는 다른 성분과의 상용성을 높일 수 있으며 이에 따라 최종 제조되는 저굴절층에 헤이즈(haze)가 발생하는 것을 방지하여 투명도를 높이는 역할을 할 수 있으며, 아울러 최종 제조되는 저굴절층이나 반사 방지 필름의 표면의 슬립성을 향상시켜 내스크래치성을 높일 수 있다.Silicon included in the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group can increase compatibility with other components included in the low-refractive layer of the embodiment, thereby preventing haze from occurring in the finally-manufactured low-refractive layer. It can serve to increase the transparency by preventing it, and in addition, it is possible to improve the scratch resistance by improving the slip property of the surface of the low refractive index layer or the anti-reflection film finally manufactured.
한편, 상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물 중 규소의 함량이 너무 커지면, 상기 저굴절층이나 반사 방지 필름이 충분한 투광도나 반사 방지 성능을 갖지 못하며 표면의 방오성 또한 저하될 수 있다. On the other hand, when the content of silicon in the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group is too large, the low refractive index layer or the antireflection film may not have sufficient light transmittance or antireflection performance, and the antifouling property of the surface may also be reduced.
상기 저굴절층은 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산을 포함할 수 있다. 상기 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산은 표면에 반응성 작용기가 존재하여 상기 저굴절층의 기계적 물성, 예를 들어 내스크래치성을 높일 수 있고 이전에 알려진 실리카, 알루미나, 제올라이트 등의 미세 입자를 사용하는 경우와 달리 상기 저굴절층의 내알카리성을 향상시킬 수 있으면서, 평균 반사율이나 색상 등의 외관 특성을 향상시킬 수 있다. The low refractive index layer may include polysilsesquioxane in which one or more reactive functional groups are substituted. Polysilsesquioxane in which one or more reactive functional groups are substituted has a reactive functional group on the surface, so that mechanical properties of the low refractive layer, for example, scratch resistance can be improved, and fine particles of silica, alumina, zeolite, etc. known before Unlike the case of using particles, it is possible to improve alkali resistance of the low-refractive layer, and to improve appearance characteristics such as average reflectance and color.
상기 폴리실세스퀴옥산은(RSiO1.5)n로 표기될 수 있으며(이때, n은 4 내지 30 또는 8 내지 20), 랜덤, 사다리형, cage 및 부분적인 cage 등의 다양한 구조를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름의 물성 및 품질을 높이기 위하여, 상기 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산으로 반응성 작용기가 1 이상 치환되고 케이지(cage)구조를 갖는 다면체 올리고머 실세스퀴옥산(Polyhedral Oligomeric Silsesquioxane)을 사용할 수 있다.The polysilsesquioxane (RSiO 1.5 ) may be represented by n (in this case, n is 4 to 30 or 8 to 20), and may have various structures such as random, ladder type, cage and partial cage. For example, in order to improve the physical properties and quality of the low refractive index layer and the anti-reflection film, polysilsesquioxane in which one or more reactive functional groups are substituted with one or more reactive functional groups is substituted with polyhedral oligomers having a cage structure Silsesquioxane (Polyhedral Oligomeric Silsesquioxane) can be used.
또한, 예를 들어, 상기 작용기가 1 이상 치환되고 케이지(cage)구조를 갖는 다면체 올리고머 실세스퀴옥산은 분자 중 실리콘 8 내지 20개를 포함할 수 있다. In addition, for example, the polyhedral oligomeric silsesquioxane having one or more functional groups substituted and having a cage structure may include 8 to 20 silicones in a molecule.
또한, 상기 케이지(cage)구조를 갖는 다면체 올리고머 실세스퀴옥산의 실리콘들 중 적어도 1개 이상에는 반응성 작용기가 치환될 수 있으며, 반응성 작용기가 치환되지 않은 실리콘들에는 상술한 비반응성 작용기가 치환될 수 있다. In addition, at least one or more of the silicones of the polyhedral oligomeric silsesquioxane having the cage structure may be substituted with a reactive functional group, and the above-mentioned non-reactive functional group may be substituted for silicones in which the reactive functional group is not substituted. can
상기 케이지(cage)구조를 갖는 다면체 올리고머 실세스퀴옥산의 실리콘들 중 적어도 1개에 반응성 작용기가 치환됨에 따라서 상기 저굴절층 및 상기 바인더 수지의 기계적 물성을 향상시킬 수 있으며, 아울러 나머지 실리콘들에 비반응성 작용기가 치환됨에 따라서 분자 구조적으로 입체적인 장애(Steric hinderance)가 나타나서 실록산 결합(-Si-O-)이 외부로 노출되는 빈도나 확률을 크게 낮추어서 상기 저굴절층 및 상기 바인더 수지의 내알카리성을 향상시킬 수 있다. As a reactive functional group is substituted in at least one of the silicones of the polyhedral oligomeric silsesquioxane having the cage structure, the mechanical properties of the low refractive layer and the binder resin can be improved, and the remaining silicones As the non-reactive functional group is substituted, a molecular structural steric hindrance appears, greatly reducing the frequency or probability of exposing the siloxane bond (-Si-O-) to the outside, thereby improving the alkali resistance of the low refractive index layer and the binder resin. can be improved
상기 폴리실세스퀴옥산에 치환되는 반응성 작용기는 알코올, 아민, 카르복실산, 에폭사이드, 이미드, (메트)아크릴레이트, 니트릴, 노보넨, 올레핀[알릴(ally), 사이클로알케닐(cycloalkenyl) 또는 비닐디메틸실릴 등], 폴리에틸렌글리콜, 싸이올 및 비닐기로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 작용기를 포함할 수 있으며, 예를 들어, 에폭사이드 또는 (메트)아크릴레이트일 수 있다. The reactive functional group substituted for the polysilsesquioxane is alcohol, amine, carboxylic acid, epoxide, imide, (meth)acrylate, nitrile, norbornene, olefin [ally, cycloalkenyl) or vinyldimethylsilyl, etc.], polyethylene glycol, thiol, and at least one functional group selected from the group consisting of a vinyl group, for example, may be an epoxide or (meth)acrylate.
상기 반응성 작용기의 보다 구체적인 예로는 (메트)아크릴레이트, 탄소수 1 내지 20의 알킬 (메트)아크릴레이트, 탄소수 3 내지 20의 사이클로알킬(cycloalkyl) 에폭사이드, 탄소수 1 내지 10의 알킬 사이클로알케인(cycloalkane) 에폭사이드를 들 수 있다. 상기 알킬 (메트)아크릴레이트는 (메트)아크릴레이트와 결합하지 않은 '알킬'의 다른 한 부분이 결합 위치라는 의미이며, 상기 사이클로알킬 에폭사이드는 에폭사이드와 결합하지 않은 '사이클로알킬'의 다른 부분이 결합 위치라는 의미이며, 알킬 사이클로알케인(cycloalkane) 에폭사이드는 사이클로알케인(cycloalkane) 에폭사이드와 결합하지 않은 '알킬'의 다른 부분이 결합 위치라는 의미이다. More specific examples of the reactive functional group include (meth)acrylate, alkyl (meth)acrylate having 1 to 20 carbon atoms, cycloalkyl epoxide having 3 to 20 carbon atoms, and alkyl cycloalkane having 1 to 10 carbon atoms. ) epoxides. The alkyl (meth)acrylate means that the other part of the 'alkyl' not bonded to the (meth)acrylate is the bonding position, and the cycloalkyl epoxide is another part of the 'cycloalkyl' not bonded to the epoxide. It means this bonding site, and in the case of an alkyl cycloalkane epoxide, it means that the other part of the 'alkyl' that is not bonded to the cycloalkane epoxide is the bonding site.
한편, 상기 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산은 상술한 반응성 작용기 이외로 탄소수 1 내지 20의 직쇄 또는 분지쇄의 알킬기, 탄소수 6 내지 20의 사이클로헥실기 및 탄소수 6 내지 20의 아릴기로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 미반응성 작용기가 1 이상 더 포함할 수 있다. 이와 같이 상기 폴리실세스퀴옥산에 반응성 작용기와 미반응성 작용기가 표면에 치환됨에 따라서, 상기 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산에서 실록산 결합(-Si-O-)이 분자 내부에 위치하면서 외부로 노출되지 않게 되어 상기 저굴절층 및 반사 방지 필름의 내알카리성 및 내스크래치성을 보다 높일 수 있다. On the other hand, the polysilsesquioxane substituted with one or more reactive functional groups is a linear or branched alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, a cyclohexyl group having 6 to 20 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 20 carbon atoms other than the reactive functional group described above. One or more non-reactive functional groups selected from the group consisting of may further include one or more. As such, as the reactive functional group and unreactive functional group are substituted on the surface of the polysilsesquioxane, a siloxane bond (-Si-O-) is located inside the molecule in the polysilsesquioxane in which one or more reactive functional groups are substituted While not being exposed to the outside, the alkali resistance and scratch resistance of the low-refractive layer and the anti-reflection film can be further improved.
이러한 반응성 작용기가 1 이상 치환되고 케이지(cage)구조를 갖는 다면체 올리고머 실세스퀴옥산(Polyhedral Oligomeric Silsesquioxane, POSS)의 예로는, TMP DiolIsobutyl POSS, Cyclohexanediol Isobutyl POSS, 1,2-PropanediolIsobutyl POSS, Octa(3-hydroxy-3 methylbutyldimethylsiloxy) POSS 등 알코올이 1이상 치환된 POSS; AminopropylIsobutyl POSS, AminopropylIsooctyl POSS, Aminoethylaminopropyl Isobutyl POSS, N-Phenylaminopropyl POSS, N-Methylaminopropyl Isobutyl POSS, OctaAmmonium POSS, AminophenylCyclohexyl POSS, AminophenylIsobutyl POSS 등 아민이 1 이상 치환된 POSS; Maleamic Acid-Cyclohexyl POSS, Maleamic Acid-Isobutyl POSS, Octa Maleamic Acid POSS 등 카르복실산이 1 이상 치환된 POSS; EpoxyCyclohexylIsobutyl POSS, Epoxycyclohexyl POSS, Glycidyl POSS, GlycidylEthyl POSS, GlycidylIsobutyl POSS, GlycidylIsooctyl POSS 등 에폭사이드가 1 이상 치환된 POSS; POSS Maleimide Cyclohexyl, POSS Maleimide Isobutyl 등 이미드가 1 이상 치환된 POSS; AcryloIsobutyl POSS, (Meth)acrylIsobutyl POSS, (Meth)acrylate Cyclohexyl POSS, (Meth)acrylate Isobutyl POSS, (Meth)acrylate Ethyl POSS, (Meth)acrylEthyl POSS, (Meth)acrylate Isooctyl POSS, (Meth)acrylIsooctyl POSS, (Meth)acrylPhenyl POSS, (Meth)acryl POSS, Acrylo POSS 등 (메트)아크릴레이트가 1이상 치환된 POSS; CyanopropylIsobutyl POSS 등의 니트릴기가 1 이상 치환된 POSS; NorbornenylethylEthyl POSS, NorbornenylethylIsobutyl POSS, Norbornenylethyl DiSilanoIsobutyl POSS, Trisnorbornenyl Isobutyl POSS 등 노보넨기가 1 이상 치환된 POSS; AllylIsobutyl POSS, MonoVinylIsobutyl POSS, OctaCyclohexenyldimethylsilyl POSS, OctaVinyldimethylsilyl POSS, OctaVinyl POSS 등 비닐기 1 이상 치환된 POSS; AllylIsobutyl POSS, MonoVinylIsobutyl POSS, OctaCyclohexenyldimethylsilyl POSS, OctaVinyldimethylsilyl POSS, OctaVinyl POSS 등의 올레핀이 1 이상 치환된 POSS; 탄소수 5 내지 30의 PEG가 치환된 POSS; 또는 MercaptopropylIsobutyl POSS 또는 MercaptopropylIsooctyl POSS 등의 싸이올기가 1 이상 치환된 POSS; 등을 들 수 있다. Examples of polyhedral oligomeric silsesquioxane (POSS) in which one or more reactive functional groups are substituted and having a cage structure include TMP DiolIsobutyl POSS, Cyclohexanediol Isobutyl POSS, 1,2-PropanediolIsobutyl POSS, Octa (3 -hydroxy-3 methylbutyldimethylsiloxy) POSS in which one or more alcohols such as POSS are substituted; AminopropylIsobutyl POSS, AminopropylIsooctyl POSS, Aminoethylaminopropyl Isobutyl POSS, N-Phenylaminopropyl POSS, N-Methylaminopropyl Isobutyl POSS, OctaAmmonium POSS, AminophenylCyclohexyl POSS, AminophenylIsobutyl POSS, etc. substituted with 1 or more amines; POSS in which one or more carboxylic acids are substituted, such as Maleamic Acid-Cyclohexyl POSS, Maleamic Acid-Isobutyl POSS, and Octa Maleamic Acid POSS; EpoxyCyclohexylIsobutyl POSS, Epoxycyclohexyl POSS, Glycidyl POSS, GlycidylEthyl POSS, GlycidylIsobutyl POSS, GlycidylIsooctyl POSS, etc. POSS substituted with one or more epoxides; POSS Maleimide Cyclohexyl, POSS Maleimide Isobutyl, etc. POSS in which one or more imides are substituted; AcryloIsobutyl POSS, (Meth)acrylIsobutyl POSS, (Meth)acrylate Cyclohexyl POSS, (Meth)acrylate Isobutyl POSS, (Meth)acrylate Ethyl POSS, (Meth)acrylEthyl POSS, (Meth)acrylate Isooctyl POSS, (Meth)acrylIsooctyl POSS POSS in which one or more (meth)acrylates are substituted, such as Meth)acrylPhenyl POSS, (Meth)acryl POSS, and Acrylo POSS; POSS in which one or more nitrile groups such as CyanopropylIsobutyl POSS are substituted; POSS in which one or more norbornene groups are substituted, such as NorbornenylethylEthyl POSS, NorbornenylethylIsobutyl POSS, Norbornenylethyl DiSilanoIsobutyl POSS, Trisnorbornenyl Isobutyl POSS; AllylIsobutyl POSS, MonoVinylIsobutyl POSS, OctaCyclohexenyldimethylsilyl POSS, OctaVinyldimethylsilyl POSS, OctaVinyl POSS, etc. POSS substituted with one or more vinyl groups; POSS in which one or more olefins are substituted, such as AllylIsobutyl POSS, MonoVinylIsobutyl POSS, OctaCyclohexenyldimethylsilyl POSS, OctaVinyldimethylsilyl POSS, and OctaVinyl POSS; POSS substituted with PEG having 5 to 30 carbon atoms; or POSS in which one or more thiol groups such as MercaptopropylIsobutyl POSS or MercaptopropylIsooctyl POSS are substituted; and the like.
상기 저굴절층 총 중량에 대한 상기 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산(polysilsesquioxane)의 함량은 1 내지 20중량%, 3 내지 15중량%, 또는 5 내지 10중량%일 수 있다. 상기 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산으로부터 유래한 부분의 함량이 너무 작은 경우, 상기 저굴절층의 내스크래치성을 충분히 확보하기 어려울 수 있다. 또한, 상기 바인더 수지 중 광중합성 화합물로부터 유래한 부분 대비 상기 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산으로부터 유래한 부분의 함량이 너무 큰 경우에도, 상기 저굴절층이나 반사 방지 필름의 투명도가 저하될 수 있으며, 내스크래치성이 오히려 저하될 수 있다. The content of polysilsesquioxane in which one or more reactive functional groups are substituted with respect to the total weight of the low refractive layer may be 1 to 20 wt%, 3 to 15 wt%, or 5 to 10 wt%. When the content of the moiety derived from polysilsesquioxane substituted with one or more reactive functional groups is too small, it may be difficult to sufficiently secure scratch resistance of the low refractive index layer. In addition, even when the content of the portion derived from polysilsesquioxane substituted with one or more reactive functional groups compared to the portion derived from the photopolymerizable compound in the binder resin is too large, the transparency of the low refractive index layer or the antireflection film is may be lowered, and scratch resistance may be rather deteriorated.
한편, 상기 저굴절층은 광중합성 화합물, 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물, 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산 및 중공형 무기 입자를 포함하는 광경화성 코팅 조성물을 기재 상에 도포하고 도포된 결과물을 광경화함으로써 얻어질 수 있다. 이로 인해, 상기 저굴절층은 광중합성 화합물, 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물 및 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산(polysilsesquioxane) 간의 가교 중합체를 포함할 수 있다.On the other hand, the low refractive layer is a photopolymerizable compound, a fluorine-containing compound including a photoreactive functional group, a photocurable coating composition comprising polysilsesquioxane substituted with one or more reactive functional groups and hollow inorganic particles on a substrate, and It can be obtained by photocuring the applied result. For this reason, the low refractive index layer may include a cross-linked polymer between a photopolymerizable compound, a fluorine-containing compound including a photoreactive functional group, and polysilsesquioxane in which one or more reactive functional groups are substituted.
또한, 상기 광경화성 코팅 조성물은 광중합 개시제를 더 포함할 수 있다. 이에 따라, 상술한 광경화성 코팅 조성물로부터 제조되는 저굴절층에는 상기 광중합 개시제가 잔류할 수 있다. In addition, the photocurable coating composition may further include a photoinitiator. Accordingly, the photopolymerization initiator may remain in the low refractive index layer prepared from the above-described photocurable coating composition.
상기 광중합 개시제로는 광경화성 수지 조성물에 사용될 수 있는 것으로 알려진 화합물이면 크게 제한 없이 사용 가능하며, 구체적으로 벤조 페논계 화합물, 아세토페논계 화합물, 비이미다졸계 화합물, 트리아진계 화합물, 옥심계 화합물 또는 이들의 2종 이상의 혼합물을 사용할 수 있다. As the photopolymerization initiator, any compound known to be used in the photocurable resin composition can be used without major limitation, and specifically, a benzophenone-based compound, an acetophenone-based compound, a biimidazole-based compound, a triazine-based compound, an oxime-based compound, or A mixture of two or more thereof may be used.
상기 광중합성 화합물 100중량부에 대하여, 상기 광중합 개시제는 1 내지 100중량부, 5 내지 90중량부, 10 내지 80중량부, 20 내지 70중량부 또는 30 내지 60중량부의 함량으로 사용될 수 있다. 상기 광중합 개시제의 양이 너무 작으면, 상기 광경화성 코팅 조성물의 광경화 단계에서 미경화되어 잔류하는 물질이 발행할 수 있다. 상기 광중합 개시제의 양이 너무 많으면, 미반응 개시제가 불순물로 잔류하거나 가교 밀도가 낮아져서 제조되는 필름의 기계적 물성이 저하되거나 반사율이 크게 높아질 수 있다. Based on 100 parts by weight of the photopolymerizable compound, the photopolymerization initiator may be used in an amount of 1 to 100 parts by weight, 5 to 90 parts by weight, 10 to 80 parts by weight, 20 to 70 parts by weight, or 30 to 60 parts by weight. If the amount of the photopolymerization initiator is too small, an uncured material remaining in the photocuring step of the photocurable coating composition may be issued. If the amount of the photopolymerization initiator is too large, the unreacted initiator may remain as an impurity or the crosslinking density may be lowered, so that mechanical properties of the produced film may be reduced or reflectance may be greatly increased.
또한, 상기 광경화성 코팅 조성물은 유기 용매를 더 포함할 수 있다. 상기 유기 용매의 비제한적인 예를 들면 케톤류, 알코올류, 아세테이트류 및 에테르류, 또는 이들의 2종 이상의 혼합물을 들 수 있다. In addition, the photocurable coating composition may further include an organic solvent. Non-limiting examples of the organic solvent include ketones, alcohols, acetates and ethers, or a mixture of two or more thereof.
이러한 유기 용매의 구체적인 예로는, 메틸에틸케논, 메틸이소부틸케톤, 아세틸아세톤 또는 이소부틸케톤 등의 케톤류; 메탄올, 에탄올, n-프로판올, i-프로판올, n-부탄올, i-부탄올, 또는 t-부탄올 등의 알코올류; 에틸아세테이트, i-프로필아세테이트, 또는 폴리에틸렌글리콜 모노메틸에테르 아세테이트 등의 아세테이트류; 테트라하이드로퓨란 또는 프로필렌글라이콜 모노메틸에테르 등의 에테르류; 또는 이들의 2종 이상의 혼합물을 들 수 있다. Specific examples of such an organic solvent include ketones such as methyl ethyl kenone, methyl isobutyl ketone, acetylacetone or isobutyl ketone; alcohols such as methanol, ethanol, n-propanol, i-propanol, n-butanol, i-butanol, or t-butanol; acetates such as ethyl acetate, i-propyl acetate, and polyethylene glycol monomethyl ether acetate; ethers such as tetrahydrofuran or propylene glycol monomethyl ether; or a mixture of two or more thereof.
상기 유기 용매는 상기 광경화성 코팅 조성물에 포함되는 각 성분들을 혼합하는 시기에 첨가되거나 각 성분들이 유기 용매에 분산 또는 혼합된 상태로 첨가되면서 상기 광경화성 코팅 조성물에 포함될 수 있다. 상기 광경화성 코팅 조성물 중 유기 용매의 함량이 너무 작으면, 상기 광경화성 코팅 조성물의 흐름성이 저하되어 최종 제조되는 필름에 줄무늬가 생기는 등 불량이 발생할 수 있다. 또한, 상기 유기 용매의 과량 첨가 시 고형분 함량이 낮아져, 코팅 및 성막이 충분히 되지 않아서 필름의 물성이나 표면 특성이 저하될 수 있고, 건조 및 경화 과정에서 불량이 발생할 수 있다. 이에 따라, 상기 광경화성 코팅 조성물은 포함되는 성분들의 전체 고형분의 농도가 1 내지 50중량%, 또는 2 내지 20중량%가 되도록 유기 용매를 포함할 수 있다. The organic solvent may be added at the time of mixing each component included in the photocurable coating composition, or may be included in the photocurable coating composition while each component is added in a dispersed or mixed state in the organic solvent. If the content of the organic solvent in the photocurable coating composition is too small, the flowability of the photocurable coating composition is lowered, and defects such as streaks may occur in the finally manufactured film. In addition, when an excessive amount of the organic solvent is added, the solid content is lowered, and coating and film formation are not sufficiently performed, so that physical properties or surface properties of the film may be deteriorated, and defects may occur in drying and curing processes. Accordingly, the photocurable coating composition may include an organic solvent such that the concentration of the total solid content of the components included is 1 to 50% by weight, or 2 to 20% by weight.
한편, 상기 광경화성 코팅 조성물을 도포하는데 통상적으로 사용되는 방법 및 장치를 별 다른 제한 없이 사용할 수 있으며, 예를 들어, Meyer bar 등의 바 코팅법, 그라비아 코팅법, 2 roll reverse 코팅법, vacuum slot die 코팅법, 2 roll 코팅법 등을 사용할 수 있다. On the other hand, the method and apparatus commonly used for applying the photocurable coating composition can be used without any other limitation, for example, a bar coating method such as Meyer bar, a gravure coating method, a 2 roll reverse coating method, a vacuum slot A die coating method, a 2 roll coating method, etc. can be used.
상기 광경화성 코팅 조성물을 광경화 시키는 단계에서는 200 내지 400nm 파장의 자외선 또는 가시 광선을 조사할 수 있고, 조 사시 노광량은 100 내지 4,000 mJ/㎠ 일 수 있다. 노광 시간도 특별히 한정되는 것이 아니고, 사용되는 노광 장치, 조사 광선의 파장 또는 노광량에 따라 적절히 변화시킬 수 있다.In the step of photocuring the photocurable coating composition, ultraviolet or visible light having a wavelength of 200 to 400 nm may be irradiated, and the exposure amount may be 100 to 4,000 mJ/cm 2 . Exposure time is not specifically limited, either, It can change suitably according to the exposure apparatus used, the wavelength of irradiation light, or exposure amount.
또한, 상기 광경화성 코팅 조성물을 광경화 시키는 단계에서는 질소 대기 조건을 적용하기 위하여 질소 퍼징 등을 할 수 있다. In addition, in the step of photocuring the photocurable coating composition, nitrogen purging may be performed in order to apply nitrogen atmospheric conditions.
한편, 상기 하드 코팅층은 통상적으로 알려진 하드 코팅층을 큰 제한 없이 사용할 수 있다. On the other hand, as the hard coating layer, a commonly known hard coating layer may be used without significant limitation.
상기 하드 코팅층의 일 예로서, 광경화성 수지를 포함하는 바인더 수지; 및 상기 바인더 수지에 분산된 유기 또는 무기 미립자를 포함하는 하드 코팅층을 들 수 있다.As an example of the hard coating layer, a binder resin including a photocurable resin; and a hard coating layer including organic or inorganic fine particles dispersed in the binder resin.
상기 하드 코팅층에 포함되는 광경화성 수지는 자외선 등의 광이 조사되면 중합 반응을 일으킬 수 있는 광경화성 화합물의 중합체로서, 당업계에서 통상적인 것일 수 있다. 구체적으로, 상기 광경화성 수지는 우레탄 아크릴레이트 올리고머, 에폭사이드 아크릴레이트 올리고머, 폴리에스터 아크릴레이트, 및 폴리에테르 아크릴레이트로 이루어진 반응성 아크릴레이트 올리고머 군; 및 디펜타에리스리톨 헥사아크릴레이트, 디펜타에리스리톨 하이드록시 펜타아크릴레이트, 펜타에리스리톨 테트라아크릴레이트, 펜타에리스리톨 트리아크릴레이트, 트리메틸렌 프로필 트리아크릴레이트, 프로폭시레이티드 글리세롤 트리아크릴레이트, 트리메틸프로판 에톡시 트리아크릴레이트, 1,6-헥산디올디아크릴레이트, 프로폭시레이티드 글리세로 트리아크릴레이트, 트리프로필렌 글리콜 디아크릴레이트, 및 에틸렌글리콜 디아크릴레이트로 이루어진 다관능성 아크릴레이트 단량체 군에서 선택되는 1종 이상을 포함할 수 있다.The photocurable resin included in the hard coating layer is a polymer of a photocurable compound that can cause a polymerization reaction when irradiated with light such as ultraviolet rays, and may be conventional in the art. Specifically, the photocurable resin may include a reactive acrylate oligomer group consisting of a urethane acrylate oligomer, an epoxide acrylate oligomer, a polyester acrylate, and a polyether acrylate; and dipentaerythritol hexaacrylate, dipentaerythritol hydroxy pentaacrylate, pentaerythritol tetraacrylate, pentaerythritol triacrylate, trimethylene propyl triacrylate, propoxylated glycerol triacrylate, trimethylpropane ethoxy tri At least one selected from the group consisting of polyfunctional acrylate monomers consisting of acrylate, 1,6-hexanediol diacrylate, propoxylated glycero triacrylate, tripropylene glycol diacrylate, and ethylene glycol diacrylate. may include
상기 유기 또는 무기 미립자는 입경의 구체적으로 한정되는 것은 아니나, 예를 들어 유기 미립자는 1 내지 10㎛의 입경을 가질 수 있으며, 상기 무기 입자는 1㎚ 내지 500㎚, 또는 1㎚ 내지 300㎚의 입경을 가질 수 있다. 상기 유기 또는 무기 미립자는 입경은 부피 평균 입경으로 정의될 수 있다.Although the organic or inorganic fine particles are not specifically limited in particle size, for example, the organic fine particles may have a particle size of 1 to 10 μm, and the inorganic particles may have a particle size of 1 nm to 500 nm, or 1 nm to 300 nm. can have The particle diameter of the organic or inorganic fine particles may be defined as a volume average particle diameter.
또한, 상기 하드 코팅층에 포함되는 유기 또는 무기 미립자의 구체적인 예가 한정되는 것은 아니나, 예를 들어 상기 유기 또는 무기 미립자는 아크릴계 수지, 스티렌계 수지, 에폭사이드 수지 및 나일론 수지로 이루어진 유기 미립자이거나 산화규소, 이산화티탄, 산화인듐, 산화주석, 산화지르코늄 및 산화아연으로 이루어진 무기 미립자일 수 있다.In addition, specific examples of the organic or inorganic fine particles included in the hard coating layer are not limited, but for example, the organic or inorganic fine particles are organic fine particles made of an acrylic resin, a styrene-based resin, an epoxide resin, and a nylon resin, or silicon oxide, It may be inorganic fine particles made of titanium dioxide, indium oxide, tin oxide, zirconium oxide and zinc oxide.
상기 하드 코팅층의 바인더 수지는 중량평균분자량 10,000 이상, 13,000 이상, 15,000 내지 100,000 또는 20,000 내지 80,000의 고분자량 (공)중합체를 더 포함할 수 있다. 상기 고분자량 (공)중합체는 셀룰로스계 폴리머, 아크릴계 폴리머, 스티렌계 폴리머, 에폭사이드계 폴리머, 나일론계 폴리머, 우레탄계 폴리머, 및 폴리올레핀계 폴리머로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상일 수 있다.The binder resin of the hard coating layer may further include a high molecular weight (co)polymer having a weight average molecular weight of 10,000 or more, 13,000 or more, 15,000 to 100,000, or 20,000 to 80,000. The high molecular weight (co)polymer may be at least one selected from the group consisting of a cellulose-based polymer, an acrylic polymer, a styrene-based polymer, an epoxide-based polymer, a nylon-based polymer, a urethane-based polymer, and a polyolefin-based polymer.
한편, 상기 하드 코팅층의 또 다른 일 예로서, 광경화성 수지의 유기 고분자 수지; 및 상기 유기 고분자 수지에 분산된 대전 방지제를 포함하는 하드 코팅층을 들 수 있다. On the other hand, as another example of the hard coating layer, an organic polymer resin of a photocurable resin; and a hard coating layer comprising an antistatic agent dispersed in the organic polymer resin.
상기 대전 방지제는 4급 암모늄염 화합물; 피리디늄염; 1 내지 3개의 아미노기를 갖는 양이온성 화합물; 설폰산 염기, 황산 에스테르 염기, 인산 에스테르 염기, 포스폰산 염기 등의 음이온성 화합물; 아미노산계 또는 아미노 황산 에스테르계 화합물 등의 양성 화합물; 이미노 알코올계 화합물, 글리세린계 화합물, 폴리에틸렌 글리콜계 화합물 등의 비이온성 화합물; 주석 또는 티타늄 등을 포함한 금속 알콕사이드 화합물 등의 유기 금속 화합물; 상기 유기 금속 화합물의 아세틸아세토네이트 염 등의 금속 킬레이트 화합물; 이러한 화합물들의 2종 이상의 반응물 또는 고분자화물; 이러한 화합물들의 2종 이상의 혼합물일 수 있다. 여기서, 상기 4급 암모늄염 화합물은 분자 내에 1개 이상의 4급 암모늄염기를 가지는 화합물일 수 있으며, 저분자형 또는 고분자형을 제한 없이 사용할 수 있다. The antistatic agent is a quaternary ammonium salt compound; pyridinium salts; cationic compounds having 1 to 3 amino groups; anionic compounds such as sulfonic acid bases, sulfuric acid ester bases, phosphoric acid ester bases and phosphonic acid bases; an amphoteric compound such as an amino acid-based compound or an amino sulfuric acid ester-based compound; nonionic compounds such as imino alcohol compounds, glycerin compounds, and polyethylene glycol compounds; organometallic compounds such as metal alkoxide compounds containing tin or titanium; metal chelate compounds such as acetylacetonate salts of the above organometallic compounds; two or more reactants or polymers of these compounds; It may be a mixture of two or more of these compounds. Here, the quaternary ammonium salt compound may be a compound having one or more quaternary ammonium salt groups in the molecule, and a low molecular type or a high molecular type may be used without limitation.
또한, 상기 대전 방지제로는 도전성 고분자와 금속 산화물 미립자도 사용할 수 있다. 상기 도전성 고분자로는 방향족 공액계 폴리(파라페닐렌), 헤테로고리식 공액계의 폴리피롤, 폴리티오펜, 지방족 공액계의 폴리아세틸렌, 헤테로 원자를 함유한 공액예의 폴리아닐린, 혼합 형태 공액계의 폴리(페닐렌 비닐렌), 분자중에 복수의 공액 사슬을 갖는 공액계인 복쇄형 공액계 화합물, 공액 고분자 사슬을 포화 고분자에 그래프트 또는 블록 공중합시킨 도전성 복합체 등이 있다. 또한, 상기 금속 산화물 미립자로는 산화 아연, 산화 안티몬, 산화 주석, 산화 세륨, 인듐 주석 산화물, 산화 인듐, 산화 알루미늄, 안티몬 도핑된 산화 주석, 알루미늄 도핑된 산화 아연 등을 들 수 있다.In addition, as the antistatic agent, a conductive polymer and metal oxide fine particles can also be used. Examples of the conductive polymer include aromatic conjugated poly(paraphenylene), heterocyclic conjugated polypyrrole, polythiophene, aliphatic conjugated polyacetylene, heteroatom-containing conjugated polyaniline, mixed type conjugated poly( phenylene vinylene), a double-chain conjugated compound having a plurality of conjugated chains in the molecule, and a conductive composite obtained by grafting or block copolymerizing a conjugated polymer chain to a saturated polymer. In addition, examples of the metal oxide fine particles include zinc oxide, antimony oxide, tin oxide, cerium oxide, indium tin oxide, indium oxide, aluminum oxide, antimony-doped tin oxide, aluminum-doped zinc oxide, and the like.
상기 광중합성 수지의 유기 고분자 수지; 및 상기 유기 고분자 수지에 분산된 대전 방지제를 포함하는 하드 코팅층은 알콕시 실란계 올리고머 및 금속 알콕사이드계 올리고머로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 화합물을 더 포함할 수 있다.an organic polymer resin of the photopolymerizable resin; And the hard coating layer comprising an antistatic agent dispersed in the organic polymer resin may further include at least one compound selected from the group consisting of alkoxysilane-based oligomers and metal alkoxide-based oligomers.
상기 알콕시 실란계 화합물은 당업계에서 통상적인 것일 수 있으나, 예를 들어 테트라메톡시실란, 테트라에톡시실란, 테트라이소프로폭시실란, 메틸트리메톡시실란, 메틸트리에톡시실란, 메타크릴록시프로필트리메톡시실란, 글리시독시프로필 트리메톡시실란 및 글리시독시프로필 트리에톡시실란으로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 화합물일 수 있다.The alkoxysilane-based compound may be conventional in the art, for example, tetramethoxysilane, tetraethoxysilane, tetraisopropoxysilane, methyltrimethoxysilane, methyltriethoxysilane, methacryloxypropyl It may be at least one compound selected from the group consisting of trimethoxysilane, glycidoxypropyl trimethoxysilane, and glycidoxypropyl triethoxysilane.
또한, 상기 금속 알콕사이드계 올리고머는 금속 알콕사이드계 화합물 및 물을 포함하는 조성물의 졸-겔 반응을 통해 제조할 수 있다. 상기 졸-겔 반응은 전술한 알콕시 실란계 올리고머의 제조 방법에 준하는 방법으로 수행할 수 있다. 다만, 상기 금속 알콕사이드계 화합물은 물과 급격하게 반응할 수 있으므로, 상기 금속 알콕사이드계 화합물을 유기 용매에 희석한 후 물을 천천히 드로핑하는 방법으로 상기 졸-겔 반응을 수행할 수 있다. 이때, 반응 효율 등을 감안하여, 물에 대한 금속 알콕사이드 화합물의 몰비(금속이온 기준)는 3 내지 170인 범위 내에서 조절하는 것일 수 있다.In addition, the metal alkoxide-based oligomer may be prepared through a sol-gel reaction of a composition including a metal alkoxide-based compound and water. The sol-gel reaction may be performed by a method similar to the method for preparing an alkoxysilane-based oligomer described above. However, since the metal alkoxide-based compound may react rapidly with water, the sol-gel reaction may be performed by slowly dropping water after diluting the metal alkoxide-based compound in an organic solvent. At this time, in consideration of reaction efficiency, etc., the molar ratio of the metal alkoxide compound to water (based on metal ions) may be adjusted within the range of 3 to 170.
여기서, 상기 금속 알콕사이드계 화합물은 티타늄 테트라-이소프로폭사이드, 지르코늄 이소프로폭사이드 및 알루미늄 이소프로폭사이드로 이루어진 군에서 선택되는 1종 이상의 화합물일 수 있다.Here, the metal alkoxide-based compound may be one or more compounds selected from the group consisting of titanium tetra-isopropoxide, zirconium isopropoxide and aluminum isopropoxide.
한편, 상기 일 구현예에 따른 반사 방지 필름은, 저굴절층에 대향하도록 상기 하드 코팅층의 일면에 위치한 광투과성 기재를 더 포함할 수 있다.Meanwhile, the antireflection film according to the exemplary embodiment may further include a light-transmitting substrate positioned on one surface of the hard coating layer to face the low refractive index layer.
상기 광투과성 기재는 광 투과도가 90% 이상이고, 헤이즈 1% 이하인 투명 필름일 수 있다. 또한, 상기 광투과성 기재는 환상 올레핀계 고분자 (cycloolefin polymer) 필름, 폴리(메트)아크릴레이트계 필름, 폴리카보네이트 필름, 트리아세틸 셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노보넨 (polynorbornene) 필름, 폴리에스테르 필름 및 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함할 수 있다. 또한, 상기 광투과성 기재의 두께는 생산성 등을 고려하여 10 내지 300㎛일 수 있으나, 이에 한정하는 것은 아니다.The light-transmitting substrate may be a transparent film having a light transmittance of 90% or more and a haze of 1% or less. In addition, the light-transmitting substrate may include a cycloolefin polymer film, a poly(meth)acrylate-based film, a polycarbonate film, a triacetyl cellulose (TAC) film, a polynorbornene film, a polyester film, and At least one selected from the group consisting of a polyethylene terephthalate (PET) film may be included. In addition, the thickness of the light-transmitting substrate may be 10 to 300 μm in consideration of productivity and the like, but is not limited thereto.
구체적으로, 상기 광투과성 기재는 파장 400㎚ 내지 800㎚에서 측정되는 두께 방향의 리타데이션(Rth)이 3,000 ㎚ 이상, 4,000 내지 50,000nm, 또는 5,000 내지 40,000nm일 수 있다. 이러한 광투과성 기재의 구체적인 예로는 일축 연신 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름 또는 이축 연신 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 들 수 있다. 상기 광투과성 기재의 두께 방향의 리타데이션(Rth)이 3,000 ㎚ 미만이면 가시광선의 간섭에 의한 레인보우 현상이 발생할 수 있다.Specifically, the light-transmitting substrate may have a retardation (Rth) in the thickness direction measured at a wavelength of 400 nm to 800 nm of 3,000 nm or more, 4,000 to 50,000 nm, or 5,000 to 40,000 nm. Specific examples of the light-transmitting substrate include a uniaxially stretched polyethylene terephthalate film or a biaxially stretched polyethylene terephthalate film. When the retardation (Rth) in the thickness direction of the light-transmitting substrate is less than 3,000 nm, a rainbow phenomenon may occur due to interference of visible light.
두께 방향의 리타데이션은 통상적으로 알려진 측정 방법 및 측정 장치를 통하여 확인할 수 있다. 예를 들어, 두께 방향의 리타데이션의 측정 장치로는 AXOMETRICS사제의 상품명 「엑소스캔(AxoScan) 등을 들 수 있다. The retardation in the thickness direction can be confirmed through a commonly known measuring method and measuring device. For example, as a measuring apparatus of retardation of the thickness direction, the brand name "AxoScan (AxoScan) etc. by the AXOMETRICS company is mentioned.
예를 들어, 두께 방향의 리타데이션의 측정 조건으로는, 상기 광투과성 기재에 대하여, 굴절률(589nm)값을 상기 측정 장치에 입력한 후, 온도: 25℃, 습도: 40%의 조건 하, 파장 590nm의 광을 사용하여, 광투과성 기재 필름의 두께 방향의 리타데이션을 측정하고, 구해진 두께 방향의 리타데이션 측정값(측정 장치의 자동 측정(자동 계산)에 의한 측정값)에 기초하여, 필름의 두께 10㎛당 리타데이션 값으로 환산함으로써 구할 수 있다. 또한, 측정 시료의 광투과성 기재의 사이즈는, 측정기의 스테이지의 측광부(직경: 약 1cm)보다도 크면 되기 때문에, 특별히 제한되지 않지만, 세로: 76mm, 가로 52mm, 두께 13㎛의 크기로 할 수 있다. For example, as the measurement conditions for retardation in the thickness direction, after inputting a refractive index (589 nm) value to the measurement device for the light transmissive substrate, temperature: 25°C, humidity: 40%, wavelength The retardation in the thickness direction of the light-transmitting base film was measured using 590 nm light, and based on the obtained retardation measurement value in the thickness direction (measured value by automatic measurement (automatic calculation) of the measuring device), the film It can be calculated|required by converting into the retardation value per 10 micrometers in thickness. In addition, the size of the light-transmitting substrate of the measurement sample is not particularly limited, since it may be larger than the light metering part (diameter: about 1 cm) of the stage of the measuring instrument, but it can be set to a size of 76 mm in length, 52 mm in width, and 13 μm in thickness. .
또한, 두께 방향의 리타데이션의 측정에 이용하는 「상기 광투과성 기재의 굴절률(589nm)」의 값은, 리타데이션의 측정 대상이 되는 필름을 형성하는 광투과성 기재와 동일한 종류의 수지 필름을 포함하는 미연신 필름을 형성한 후, 이러한 미연신 필름을 측정 시료로서 사용하고(또한, 측정 대상이 되는 필름이 미연신 필름인 경우에는, 그 필름을 그대로 측정 시료로서 사용할 수 있음), 측정 장치로서 굴절률 측정 장치(가부시끼가이샤 아타고제의 상품명 「NAR-1T SOLID」)를 사용하며, 589nm의 광원을 사용하고, 23℃의 온도 조건에서, 측정 시료의 면 내 방향(두께 방향과는 수직인 방향)의 589nm의 광에 대한 굴절률을 측정하여 구할 수 있다.In addition, the value of "refractive index (589 nm) of the said light transmissive base material" used for the measurement of retardation in the thickness direction is the same as that of the light transmissive base material which forms the film used for retardation measurement. After forming the stretched film, this unstretched film is used as a measurement sample (in addition, when the film to be measured is an unstretched film, the film can be used as a measurement sample as it is), and the refractive index is measured as a measuring device Using an apparatus (trade name "NAR-1T SOLID" manufactured by Atago Corporation), using a 589 nm light source, and under a temperature condition of 23 ° C, the in-plane direction (direction perpendicular to the thickness direction) of the measurement sample It can be obtained by measuring the refractive index for light at 589 nm.
상기 일 구현예의 반사 방지 필름은 상대적으로 낮은 반사율 및 전체 헤이즈 값을 나타내어 높은 투광도 및 우수한 광학 특성을 구현할 수 있다. 구체적으로, 상기 반사 방지 필름의 전체 헤이즈가 0.45% 이하, 0.05 내지 0.45% 또는 0.10% 내지 0.25 % 이하일 수 있다. 또한, 상기 반사 방지 필름은 380㎚ 내지 780㎚의 가시광선 파장대 영역에서 평균 반사율이 2.0% 이하, 1.5% 이하, 1.0% 이하, 또는 0.1% 내지 0.10%, 0.40% 내지 0.80%, 또는 0.54% 내지 0.69%의 평균 반사율을 가질 수 있다. The antireflection film of the exemplary embodiment may exhibit a relatively low reflectance and an overall haze value to realize high light transmittance and excellent optical properties. Specifically, the total haze of the antireflection film may be 0.45% or less, 0.05 to 0.45%, or 0.10% to 0.25% or less. In addition, the anti-reflection film has an average reflectance of 2.0% or less, 1.5% or less, 1.0% or less, or 0.1% to 0.10%, 0.40% to 0.80%, or 0.54% or less in a visible light wavelength band of 380 nm to 780 nm. It may have an average reflectance of 0.69%.
발명의 다른 구현예에 따르면, 상기 반사 방지 필름을 포함하는 편광판이 제공될 수 있다. 상기 편광판은 편광자와 상기 편광자의 적어도 일면에 형성된 반사 방지 필름을 포함할 수 있다. According to another embodiment of the present invention, a polarizing plate including the anti-reflection film may be provided. The polarizing plate may include a polarizer and an antireflection film formed on at least one surface of the polarizer.
상기 편광자의 재료 및 제조방법은 특별히 한정하지 않으며, 당 기술분야에 알려져 있는 통상적인 재료 및 제조방법을 사용할 수 있다. 예를 들어, 상기 편광자는 폴리비닐알코올계 편광자일 수 있다. The material and manufacturing method of the polarizer are not particularly limited, and conventional materials and manufacturing methods known in the art may be used. For example, the polarizer may be a polyvinyl alcohol-based polarizer.
상기 편광자와 상기 반사 방지 필름은 수계 접착제 또는 비수계 접착제 등의 접착제에 의하여 합지될 수 있다. The polarizer and the anti-reflection film may be laminated by an adhesive such as a water-based adhesive or a non-aqueous adhesive.
발명의 또 다른 구현예에 따르면, 상술한 반사 방지 필름을 포함하는 디스플레이 장치가 제공될 수 있다. 상기 디스플레이 장치의 구체적인 예가 한정되는 것은 아니며, 예를 들어 액정표시장치 (Liquid Crystal Display]), 플라즈마 디스플레이 장치, 유기발광 다이오드 장치(Organic Light Emitting Diodes) 등의 장치일 수 있다. According to another embodiment of the present invention, a display device including the above-described anti-reflection film may be provided. A specific example of the display device is not limited, and may be, for example, a liquid crystal display device, a plasma display device, or an organic light emitting diode device.
하나의 일 예로, 상기 디스플레이 장치는 서로 대향하는 1쌍의 편광판; 상기 1쌍의 편광판 사이에 순차적으로 적층된 박막트랜지스터, 컬러필터 및 액정셀; 및 백라이트 유닛을 포함하는 액정디스플레이 장치일 수 있다.As an example, the display device may include a pair of polarizing plates facing each other; a thin film transistor, a color filter and a liquid crystal cell sequentially stacked between the pair of polarizing plates; And it may be a liquid crystal display device including a backlight unit.
상기 디스플레이 장치에서 상기 반사 방지 필름은 디스플레이 패널의 관측자측 또는 백라이트측의 최외각 표면에 구비될 수 있다. In the display device, the anti-reflection film may be provided on the outermost surface of the viewer side or the backlight side of the display panel.
상기 반사 방지 필름을 포함하는 디스플레이 장치는, 1쌍의 편광판 중에서 상대적으로 백라이트 유닛과 거리가 먼 편광판의 일면에 반사 방지 필름이 위치할 수 있다. In the display device including the anti-reflection film, the anti-reflection film may be positioned on one surface of the polarizing plate that is relatively far from the backlight unit among the pair of polarizing plates.
또한, 상기 디스플레이 장치는 디스플레이 패널, 상기 패널의 적어도 일면에 구비된 편광자 및 상기 편광자의 패널과 접하는 반대측 면에 구비된 반사방지 필름을 포함할 수 있다. In addition, the display device may include a display panel, a polarizer provided on at least one surface of the panel, and an anti-reflection film provided on an opposite surface of the polarizer in contact with the panel.
본 발명에 따르면, 높은 내스크래치성 및 방오성을 동시에 구현할 수 있고 디스플레이 장치의 화면의 선명도를 높일 수 있는 반사 방지 필름, 상기 반사 방지 필름을 포함한 편광판, 및 상기 반사 방지 필름을 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.According to the present invention, there is provided an anti-reflection film capable of simultaneously implementing high scratch resistance and anti-fouling properties and increasing the screen clarity of the display device, a polarizing plate including the anti-reflection film, and a display device including the anti-reflection film can do.
도 1은 실시예 2의 방오성 평가 결과를 광학현미경으로 촬영한 사진이다.
도 2는 비교예 1의 방오성 평가 결과를 광학현미경으로 촬영한 사진이다.
도 3은 비교예 4의 방오성 평가 결과를 광학현미경으로 촬영한 사진이다.1 is a photograph of the antifouling property evaluation result of Example 2 taken with an optical microscope.
2 is a photograph taken with an optical microscope of the antifouling property evaluation result of Comparative Example 1.
3 is a photograph taken with an optical microscope of the antifouling property evaluation result of Comparative Example 4.
발명을 하기의 실시예에서 보다 상세하게 설명한다. 단, 하기의 실시예는 본 발명을 예시하는 것일 뿐, 본 발명의 내용이 하기의 실시예에 의하여 한정되는 것은 아니다. The invention is described in more detail in the following examples. However, the following examples only illustrate the present invention, and the content of the present invention is not limited by the following examples.
제조예production example 1: 하드 코팅층 형성용 코팅액의 제조 1: Preparation of a coating solution for forming a hard coating layer
펜타에리트리톨 트리아크릴레이트 16.421g, UA-306T (우레탄 아크릴레이트로 톨루엔 디이소시아네이트와 펜타 에리스리톨트리아크릴레이트의 반응물, Kyoeisha제품) 3.079 g, 8BR-500 (광경화형 우레탄 아크릴레이트 폴리머, Mw 200,000, Taisei Fine Chemical 제품) 6.158 g, IRG-184 (개시제, Ciba사) 1.026g, Tego-270(레벨링제, Tego 사) 0.051g, BYK350(레벨링제, BYK사) 0.051g, 2-부탄올 25.92g, 이소프로필 알코올 45.92g, XX-103BQ(폴리스타이렌과 폴리메틸메타크릴레이트의 공중합 입자, Sekisui Plastic 제품, 입경 2.0㎛, 굴절률 1.515) 0.318g, XX-113BQ(폴리스타이렌과 폴리메틸메타크릴레이트의 공중합 입자, Sekisui Plastic 제품, 입경 2.0㎛, 굴절률 1.555) 0.708g, 및 MA-ST(크기 10~15nm의 나노 실리카 입자가 메틸알코올에 분산된 분산액, Nissan Chemical제품, 30% in MeOH) 0.342g을 혼합하여 혼합하여 하드 코팅층 형성용 코팅액을 제조하였다.Pentaerythritol triacrylate 16.421 g, UA-306T (urethane acrylate, a reaction product of toluene diisocyanate and pentaerythritol triacrylate, manufactured by Kyoeisha) 3.079 g, 8BR-500 (photocurable urethane acrylate polymer, Mw 200,000, Taisei) Fine Chemicals) 6.158 g, IRG-184 (initiator, Ciba) 1.026 g, Tego-270 (leveling agent, Tego) 0.051 g, BYK350 (leveling agent, BYK) 0.051 g, 2-butanol 25.92 g, iso Propyl alcohol 45.92g, XX-103BQ (copolymerized particles of polystyrene and polymethylmethacrylate, Sekisui Plastics, particle size 2.0㎛, refractive index 1.515) 0.318g, XX-113BQ (copolymerized particles of polystyrene and polymethylmethacrylate, Sekisui Plastic product, particle size 2.0㎛, refractive index 1.555) 0.708g, and MA-ST (dispersion solution in which nano silica particles with a size of 10-15 nm are dispersed in methyl alcohol, Nissan Chemical product, 30% in MeOH) 0.342g were mixed and mixed. A coating solution for forming a hard coat layer was prepared.
제조예production example 2: 2: 저굴절층low refractive index 형성용 코팅액의 제조 Preparation of coating solution for forming
하기 표 1에 기재된 성분을 혼합하여 혼합하여 저굴절층 형성용 코팅액(C1 내지 C9)을 제조하였다.The components shown in Table 1 were mixed and mixed to prepare a coating solution (C1 to C9) for forming a low refractive index layer.
(40% in MIBK)RS-923 Dispersion
(40% in MIBK)
TMPTA: 트리메틸올프로페인 트리아크릴레이트중공형 실리카 입자 분산액: 직경 약 42 ㎚ 내지 66 ㎚, JSC catalyst and chemicals사 제품 (20% in MIBK)TMPTA: Trimethylolpropane triacrylate hollow silica particle dispersion: about 42 nm to 66 nm in diameter, manufactured by JSC catalyst and chemicals (20% in MIBK)
솔리드형 실리카 입자 분산액: 직경 약 12 ㎚ 내지 19 ㎚ (40.6% in MIBK)Solid silica particle dispersion: about 12 nm to 19 nm in diameter (40.6% in MIBK)
KBM-5103: 실란 커플링제, Shin-Etsu Silicone사KBM-5103: Silane coupling agent, Shin-Etsu Silicone
RS-923 분산액: 함불소 화합물, DIC사 (40% in MIBK)RS-923 Dispersion: Fluorine-containing compound, DIC (40% in MIBK)
Irgacure 127: 광중합 개시제, Ciba사Irgacure 127: photopolymerization initiator, Ciba
MIBK: methyl isobutyl ketoneMIBK: methyl isobutyl ketone
DAA: Diacetone alcoholDAA: Diacetone alcohol
IPA: Isopropyl alcoholIPA: Isopropyl alcohol
2-BuOH: 2-Butanol2-BuOH: 2-Butanol
t-BuOH: tert-Butanolt-BuOH: tert-Butanol
<< 실시예Example 및 and 비교예comparative example : 반사 방지 필름의 제조>: Preparation of anti-reflection film>
폴리에틸렌 테레프탈레이트(두께 2㎛, SRF PET, Toyobo 사)에 상기 제조예 1의하드 코팅층 형성용 코팅액을 코팅하고 건조하여 하드코팅층을 형성하고, 상기 하드코팅층 상에 하기 표 2에 기재된 저굴절층 형성용 코팅액을 코팅하고 건조하여 반사 방지 필름을 제조하였다.Polyethylene terephthalate (thickness 2㎛, SRF PET, Toyobo Co.) was coated with the coating solution for forming the hard coat layer of Preparation Example 1 and dried to form a hard coat layer, and the low refractive index layer described in Table 2 below was formed on the hard coat layer An anti-reflection film was prepared by coating and drying the coating solution.
구체적으로, 상기 폴리에틸렌 테레프탈레이트 상에 상기 제조된 하드 코팅층 형성용 코팅액을 #12번 mayer bar로 코팅한 후 60℃의 온도에서 2분 건조하고, UV경화하여 하드 코팅층(코팅 두께는 5㎛)을 형성했다. UV램프는 H bulb를 이용하였으며, 질소분위기 하에서 경화반응을 진행하였다. 경화 시 조사된 UV 광량은 48mJ/cm2이다. Specifically, after coating the prepared coating solution for forming a hard coating layer on the polyethylene terephthalate with #12 mayer bar, drying at a temperature of 60° C. for 2 minutes, and UV curing to obtain a hard coating layer (coating thickness is 5 μm) formed The UV lamp used H bulb, and the curing reaction was carried out under a nitrogen atmosphere. The amount of UV light irradiated during curing is 48mJ/cm 2 .
상기 하드 코팅층 상에, 상기 저굴절층 형성용 코팅액(C1 내지 C7)을 #4 mayer bar로 두께가 약 110 내지 120㎚가 되도록 코팅하고, 90℃의 온도에서 1분 동안 건조 및 경화하였다. 상기 경화 시에는 질소 퍼징 하에서 상기 건조된 코팅액에 294mJ/㎠의 자외선을 조사하였다.On the hard coating layer, the coating solution (C1 to C7) for forming the low refractive index layer was coated to have a thickness of about 110 to 120 nm with #4 mayer bar, and dried and cured at a temperature of 90° C. for 1 minute. During the curing, the dried coating solution was irradiated with ultraviolet rays of 294 mJ/cm 2 under nitrogen purge.
평가evaluation
1. 평균 반사율 평가1. Average reflectance evaluation
실시예 및 비교예에서 얻어진 반사 방지 필름이 가시 광선 영역(380 내지 780㎚)에서 나타내는 평균 반사율을 Solidspec 3700(SHIMADZU) 장비를 이용하여 측정하고, 그 결과를 하기 표 2에 나타내었다.The average reflectance of the antireflection films obtained in Examples and Comparative Examples in the visible light region (380 to 780 nm) was measured using Solidspec 3700 (SHIMADZU) equipment, and the results are shown in Table 2 below.
2. 방오성 평가2. Antifouling evaluation
실시예 및 비교예에서 얻어진 반사 방지 필름의 표면에 모나미社 검은색 네임펜(중간글씨용)을 이용해 50g의 하중으로 직선을 그리고, 광학현미경 (Olympus, BX51)를 이용하여 형성된 디웨팅 액적 (dewetting droplet) 간의 간격을 10 회 이상 측정한 후 그의 산술 평균값을 통해 방오성을 하기 기준으로 판단하고, 그 결과를 하기 표 2 에 나타내었다.On the surface of the anti-reflection film obtained in Examples and Comparative Examples, a straight line was drawn under a load of 50 g using a black name pen (for medium text) from Monami Corporation, and dewetting droplets formed using an optical microscope (Olympus, BX51) ) was measured 10 or more times, and the antifouling property was determined based on the following arithmetic mean value, and the results are shown in Table 2 below.
한편, 도 1 내지 3은 각각 실시예 2, 비교예 1 및 4의 방오성 평가 결과를 광학현미경으로 촬영한 사진이다.On the other hand, FIGS. 1 to 3 are photographs taken with an optical microscope of the antifouling property evaluation results of Examples 2 and Comparative Examples 1 and 4, respectively.
<판단 기준><Judgment Criteria>
○: 디웨팅 액적 (dewetting droplet)간 간격의 산술 평균 값이 200 ㎛ 초과○: The arithmetic mean value of the spacing between dewetting droplets exceeds 200 μm
△: 디웨팅 액적 (dewetting droplet)간 간격의 산술 평균 값이 200 ㎛이하 50 ㎛ 초과△: The arithmetic mean value of the spacing between dewetting droplets is 200 μm or less and exceeds 50 μm
X: 디웨팅 액적 (dewetting droplet)간 간격의 산술 평균 값이 50 ㎛ 이하이거나, 디웨팅되지 않음X: The arithmetic mean value of the spacing between dewetting droplets is 50 μm or less, or there is no dewetting
상기 표 2에 따르면, 실시예 1 내지 3은 평균 반사율이 1.41% 이하로 낮으며, 비교예 1 내지 4에 비해 방오성이 현저히 우수함을 확인했다. According to Table 2, Examples 1 to 3 had a low average reflectance of 1.41% or less, and it was confirmed that the antifouling property was remarkably excellent compared to Comparative Examples 1 to 4.
Claims (13)
광중합성 화합물의 (공)중합체, 중공형 무기 입자, 및 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물을 포함하는 저굴절층;을 포함하고,
상기 저굴절층 총 중량에 대한 중공형 무기 입자의 함량은 29 내지 50중량%이고,
상기 저굴절층 총 중량에 대한 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량은 1 내지 7 중량%이고,
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물의 함량(F) 및 중공형 무기 입자의 함량(V)이 하기 식 1을 만족하는, 반사 방지 필름:
[식 1]
F ≥ 0.26V-6.11
hard coating layer; and
A (co)polymer of a photopolymerizable compound, a hollow inorganic particle, and a low refractive layer comprising a fluorine-containing compound including a photoreactive functional group;
The content of the hollow inorganic particles with respect to the total weight of the low refractive layer is 29 to 50% by weight,
The content of the fluorine-containing compound including a photoreactive functional group with respect to the total weight of the low refractive layer is 1 to 7% by weight,
An antireflection film, wherein the content (F) of the fluorine-containing compound including the photoreactive functional group and the content (V) of the hollow inorganic particles satisfy Equation 1 below:
[Equation 1]
F ≥ 0.26V-6.11
상기 중공형 무기 입자의 평균 직경은 10 내지 200㎚인, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The average diameter of the hollow inorganic particles is 10 to 200 nm, anti-reflection film.
상기 저굴절층은 솔리드형 무기 입자를 포함하고,
상기 중공형 무기 입자 100중량부에 대한, 상기 솔리드형 무기 입자의 함량은 1 내지 50중량부인, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The low refractive layer includes solid inorganic particles,
The content of the solid inorganic particles with respect to 100 parts by weight of the hollow inorganic particles is 1 to 50 parts by weight, anti-reflection film.
상기 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물은 i) 하나 이상의 광반응성 작용기가 치환되고, 적어도 하나의 탄소에 1 이상의 불소가 치환된 지방족 화합물 또는 지방족 고리 화합물; ii) 1 이상의 광반응성 작용기로 치환되고, 적어도 하나의 수소가 불소로 치환되고, 하나 이상의 탄소가 규소로 치환된 헤테로(hetero) 지방족 화합물 또는 헤테로(hetero)지방족 고리 화합물; iii) 하나 이상의 광반응성 작용기가 치환되고, 적어도 하나의 실리콘에 1 이상의 불소가 치환된 폴리디알킬실록산계 고분자; 및 iv) 1 이상의 광반응성 작용기로 치환되고 적어도 하나의 수소가 불소로 치환된 폴리에테르 화합물;로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The fluorine-containing compound including the photoreactive functional group includes: i) an aliphatic compound or an aliphatic ring compound in which one or more photoreactive functional groups are substituted and wherein one or more fluorine is substituted on at least one carbon; ii) a heteroaliphatic compound or a heteroaliphatic ring compound substituted with one or more photoreactive functional groups, wherein at least one hydrogen is substituted with fluorine, and wherein one or more carbons are substituted with silicon; iii) a polydialkylsiloxane-based polymer in which at least one photoreactive functional group is substituted and at least one silicone is substituted with at least one fluorine; and iv) a polyether compound substituted with one or more photoreactive functional groups and wherein at least one hydrogen is substituted with fluorine.
상기 저굴절층은 광중합성 화합물, 광반응성 작용기를 포함한 함불소 화합물 및 반응성 작용기가 1 이상 치환된 폴리실세스퀴옥산(polysilsesquioxane) 간의 가교 중합체를 더 포함하는, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The low refractive index layer further comprises a cross-linked polymer between a photopolymerizable compound, a fluorine-containing compound including a photoreactive functional group, and polysilsesquioxane substituted with one or more reactive functional groups.
상기 폴리실세스퀴옥산에 치환된 반응성 작용기는 알코올, 아민, 카르복실산, 에폭사이드, 이미드, (메트)아크릴레이트, 니트릴, 노보넨, 올레핀, 폴리에틸렌글리콜, 싸이올 및 비닐기로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상의 작용기를 포함하는, 반사 방지 필름.
6. The method of claim 5,
The reactive functional group substituted for the polysilsesquioxane is from the group consisting of alcohol, amine, carboxylic acid, epoxide, imide, (meth)acrylate, nitrile, norbornene, olefin, polyethylene glycol, thiol and vinyl group. An antireflection film comprising at least one selected functional group.
상기 저굴절층은 광중합 개시제를 더 포함하는, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The low refractive index layer further comprises a photoinitiator, anti-reflection film.
상기 하드 코팅층은 광경화성 수지를 포함하는 바인더 수지 및 상기 바인더 수지에 분산된 유기 또는 무기 미립자;를 포함하는, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The hard coating layer includes a binder resin including a photocurable resin, and organic or inorganic fine particles dispersed in the binder resin.
상기 저굴절층에 대향하도록 상기 하드 코팅층의 일면에 위치한 광투과성 기재를 더 포함하는, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The anti-reflection film further comprising a light-transmitting substrate positioned on one surface of the hard coating layer to face the low-refractive layer.
상기 광투과성 기재는 환상 올레핀계 고분자 (cycloolefin polymer) 필름, 폴리(메트)아크릴레이트계 필름, 폴리카보네이트 필름, 트리아세틸 셀룰로오스(TAC) 필름, 폴리노보넨 (polynorbornene) 필름, 폴리에스테르 필름 및 폴리에틸렌 테레프탈레이트(PET) 필름으로 이루어진 군에서 선택된 1종 이상을 포함하는, 반사 방지 필름.
10. The method of claim 9,
The light-transmitting substrate is a cycloolefin polymer film, a poly (meth) acrylate film, a polycarbonate film, a triacetyl cellulose (TAC) film, a polynorbornene (polynorbornene) film, a polyester film, and polyethylene tere An anti-reflection film comprising at least one selected from the group consisting of phthalate (PET) films.
상기 반사 방지 필름은 380㎚ 내지 780㎚의 가시광선 파장대 영역에서 2% 이하의 평균 반사율을 나타내는, 반사 방지 필름.
According to claim 1,
The anti-reflection film exhibits an average reflectance of 2% or less in a visible light wavelength region of 380 nm to 780 nm.
A polarizing plate comprising the antireflection film according to claim 1 and a polarizer.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180118513A KR102363875B1 (en) | 2018-10-04 | 2018-10-04 | Anti-reflective film, polarizing plate, and display apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020180118513A KR102363875B1 (en) | 2018-10-04 | 2018-10-04 | Anti-reflective film, polarizing plate, and display apparatus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20200038815A KR20200038815A (en) | 2020-04-14 |
KR102363875B1 true KR102363875B1 (en) | 2022-02-15 |
Family
ID=70291622
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020180118513A KR102363875B1 (en) | 2018-10-04 | 2018-10-04 | Anti-reflective film, polarizing plate, and display apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR102363875B1 (en) |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5486840B2 (en) * | 2009-05-14 | 2014-05-07 | リンテック株式会社 | Antireflection film and polarizing plate using the same |
EP3243884B1 (en) * | 2015-08-11 | 2020-10-28 | LG Chem, Ltd. | Radiation curable coating composition, low-refractive-index layer, and antireflective film |
KR102078300B1 (en) * | 2016-07-26 | 2020-02-17 | 주식회사 엘지화학 | Photocurable coating composition for forming low refractive layer |
KR102040223B1 (en) * | 2017-01-20 | 2019-11-04 | 주식회사 엘지화학 | Anti-reflective film |
-
2018
- 2018-10-04 KR KR1020180118513A patent/KR102363875B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20200038815A (en) | 2020-04-14 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20181004 |
|
PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20191210 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20181004 Comment text: Patent Application |
|
PG1501 | Laying open of application | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20201228 Patent event code: PE09021S01D |
|
E902 | Notification of reason for refusal | ||
PE0902 | Notice of grounds for rejection |
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|
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
PE0701 | Decision of registration |
Patent event code: PE07011S01D Comment text: Decision to Grant Registration Patent event date: 20220120 |
|
GRNT | Written decision to grant | ||
PR0701 | Registration of establishment |
Comment text: Registration of Establishment Patent event date: 20220211 Patent event code: PR07011E01D |
|
PR1002 | Payment of registration fee |
Payment date: 20220211 End annual number: 3 Start annual number: 1 |
|
PG1601 | Publication of registration | ||
PR1001 | Payment of annual fee |
Payment date: 20250124 Start annual number: 4 End annual number: 4 |