KR102207725B1 - 다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템 및 측량방법 - Google Patents
다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템 및 측량방법 Download PDFInfo
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Abstract
Description
Claims (19)
- 가변 디지털 패턴 발생유닛, 이미지 처리유닛, 컴퓨팅유닛 및 이미지 센서를 각각 연결하여 전반적인 측량 시스템의 공조작업을 제어하기 위한 제어유닛;
여러 종류의 라이트 템플릿 디지털 패턴이 저장된 메모리와 디지털 프로젝터이고 상기 메모리에서의 디지털 패턴을 피측 물체의 표면에 투사하기 위한 프로젝터를 포함하는 가변 디지털 패턴 발생유닛;
상기 프로젝터가 피측 물체의 표면에 투사한 패턴을 획득하기 위한 이미지 센서;
여러가지 이미지 처리모드를 가지는 다중 모드 디지털 패턴 프로세서이고 선택된 이미지 처리모드에 근거하여 상기 이미지 센서가 획득한 피측물체의 표면의 패턴을 추출함으로써 피측 물체의 표면의 2차원 특징을 획득하는 이미지 처리유닛;
여러가지 3차원 점구름 컴퓨팅 모드를 가지는 다중 모드 3차원 점구름 컴퓨터이고 선택된 3차원 점구름 컴퓨팅 모드에 근거하여 상기 이미지 처리유닛이 처리한 후의 2차원 특징에 대해 대응점 검색 및 3차원 재구성을 진행함으로써 피측 물체의 표면의 3차원 데이터를 획득하는 컴퓨팅유닛;
상기 제어유닛과 연결되어 외부 단말기와 통신하기 위한 통신유닛;을 포함하여 이루어지되,
상기 컴퓨팅유닛은, 여러가지 측량모드가 획득한 측량데이터를 통일적으로 나타내기 위한 통일된 데이터 구조 모델을 셋업하고(S1), 하나의 측량모드에서 측량하여 얻은 매 하나의 점구름에 상기 통일된 데이터구조표현을 사용하고 계산과 전처리하며(S2), 상이한 측량모드가 획득한 데이터를 접합시키고 임의의 위치의 두개의 점구름을 통일된 좌표계에 맞춰서(S3) 접합 후의 데이터에 대해 전역 최적화를 진행하여 측량결과를 획득(S4)함으로써 3차원 데이터를 취득하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템. - 제1항에 있어서,
상기 통신유닛과 외부 단말기의 통신내용에는 상기 컴퓨팅유닛이 획득한 피측 물체의 표면의 3차원 데이터를 출력하는 것과 업데이트되거나 증가한 라이트 템플릿 디지털 패턴, 이미지 프로세싱 알고리즘과 3차원 점구름 컴퓨팅 알고리즘을 입력하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템. - 제1항에 있어서,
상기 여러가지 측량모드는 사인 줄무늬 측량, 디지털 스페클 측량, 다수의 평행직선 측량을 포함하고,
상기 메모리에 저장된 라이트 템플릿 디지털 패턴은 사인 줄무늬, 디지털 스페클 패턴, 다수의 평행직선 패턴을 포함하나 이에 한정되지 않는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템. - 가변 디지털 패턴 발생유닛, 이미지 처리유닛, 컴퓨팅유닛 및 이미지 센서를 각각 연결하여 전반적인 측량 시스템의 공조작업을 제어하기 위한 제어유닛;
여러 종류의 라이트 템플릿 디지털 패턴이 저장된 메모리와 디지털 프로젝터이고 상기 메모리에서의 디지털 패턴을 피측 물체의 표면에 투사하기 위한 프로젝터를 포함하는 가변 디지털 패턴 발생유닛;
상기 프로젝터가 피측 물체의 표면에 투사한 패턴을 획득하기 위한 이미지 센서;
여러가지 이미지 처리모드를 가지는 다중 모드 디지털 패턴 프로세서이고 선택된 이미지 처리모드에 근거하여 상기 이미지 센서가 획득한 피측물체의 표면의 패턴을 추출함으로써 피측 물체의 표면의 2차원 특징을 획득하는 이미지 처리유닛;
여러가지 3차원 점구름 컴퓨팅 모드를 가지는 다중 모드 3차원 점구름 컴퓨터이고 선택된 3차원 점구름 컴퓨팅 모드에 근거하여 상기 이미지 처리유닛이 처리한 후의 2차원 특징에 대해 대응점 검색 및 3차원 재구성을 진행함으로써 피측 물체의 표면의 3차원 데이터를 획득하는 컴퓨팅유닛;을 포함하여 이루어지되,
상기 컴퓨팅유닛은, 여러가지 측량모드가 획득한 측량데이터를 통일적으로 나타내기 위한 통일된 데이터 구조 모델을 셋업하고, 하나의 측량모드에서 측량하여 얻은 매 하나의 점구름에 상기 통일된 데이터구조표현을 사용하고 계산과 전처리하며, 상이한 측량모드가 획득한 데이터를 접합시키고 임의의 위치의 두개의 점구름을 통일된 좌표계에 맞춰서 접합 후의 데이터에 대해 전역 최적화를 진행하여 측량결과를 획득함으로써 3차원 데이터를 취득하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템. - 제4항에 있어서,
상기 여러가지 측량모드는 사인 줄무늬 측량, 디지털 스페클 측량, 다수의 평행직선 측량을 포함하고,
상기 메모리에 저장된 라이트 템플릿 디지털 패턴은 사인 줄무늬, 디지털 스페클 패턴, 다수의 평행직선 패턴을 포함하나 이에 한정되지 않는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템. - 제5항에 있어서,
상기 제어유닛과 연결되어 라이트 템플릿 디지털 패턴, 이미지 처리모드와 3차원 점구름 컴퓨팅 모드를 선택하고 측량결과를 표시하기 위한 인간-컴퓨터 상호작용 유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량 시스템. - 제6항에 있어서,
상기 3차원 측량 시스템은 핸드헬드 측량기기인 것을 특징으로 하는 3차원 측량 시스템. - 제7항에 있어서,
상기 핸드헬드 측량기기는 본체, 본체 앞부분 중심에 설치된 프로젝터, 프로젝터 양측에 대칭되게 설치된 이미지 센서, 및 본체 내에 설치된 제어유닛, 메모리, 이미지 처리유닛과 컴퓨팅유닛을 포함하고 상기 본체 뒷부분에는 핸들 또는 핸드헬드부가 설치되는 것을 특징으로 하는 3차원 측량 시스템. - 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 3차원 측량 시스템을 이용한 다중 측량 모드의 3차원 측량방법. - 청구항10에 있어서,
단계 S2에서 계산과 전처리는 구체적으로,
S21, 하나의 측량구역을 둘러싼 입방체G를 사용하여 의 변수 영역으로 하고 입방체G를 동일한 크기의 작은 입방체로 분할하는 단계;
S22, 측량하여 얻은 점구름에서의 매 하나의 점 에 대해 가 위치하는 작은 입방체를 찾는데 여기서 는 점의 3차원 좌표이고 는 점의 법벡터인 단계;
S23, 매 하나의 및를 중심으로 하는n3개의 에 대해 각각 거리값 와 거리값의 신뢰가중치 를 계산하는 단계:
(1)
(2)
여기서 1<n≤10, 는 계산에 참여한 및 의 중심점이고 는 에서 피측량 물체 표면까지의 최단거리이며 물체의 외면에서는 포지티브 값이고 물체의 내면에서는 네거티브 값이며 는 의 신뢰도를 나타내고 는 의 변의 길이;
S24, 마칭 큐브 알고리즘을 사용하여 점구름과 메쉬결과를 획득하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량방법. - 제11항에 있어서,
S25, 측량하여 얻은 다수의 점구름에서의 점이 동일한 에 중복하여 떨어지게 되면 순차적으로 상기 거리값 과 거리값의 신뢰가중치 를 계산하는 단계를 더 포함하는데,
(3)
(4)
여기서 는 업데이트 전의 거리값을 나타내고 는 업데이터 전의 신뢰 가중치를 나타내며 는 최근 계산하여 얻은 거리값은 나타내고 는 최근 계산하여 얻은 신뢰가중치를 나타내며 는 업데이트 후의 거리값을 나타내고 는 업데이트 후의 신뢰가중치를 나타내며;
그 다음 마칭 큐브 알고리즘을 사용하여 점구름과 메쉬결과를 획득하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량방법. - 제9에 있어서,
단계 S3에서 상이한 측량모드가 획득한 데이터에 대한 접합은 대략적인 접합과 정확한 접합을 포함하는데 상기 대략적인 접합의 방법은 수동 선택 접합, 마크 포인트 접합, 특징 접합을 포함하고 상기 정확한 접합의 방법은 반복 근점 알고리즘을 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량방법. - 제9항에 있어서,
상기 S4는 구체적으로,
S41, 측량 데이터의 두 프레임 사이에서 점구름과 마크 포인트의 대응점을 찾는 단계;
S42, 오차 공식을 최소화하여 매 프레임마다의 점구름의 강체 변화 매트릭스를 획득하는 단계;
S43, 강체 변화 매트릭스를 매 프레임마다의 점구름에 놓고 사라질 때까지 상기 과정을 반복하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다중 측량 모드의 3차원 측량방법.
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