KR102198536B1 - Multilayer capacitor - Google Patents
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Abstract
본 발명의 일 실시형태는 복수의 유전체층의 적층 구조와 상기 유전체층을 사이에 두고 적층된 복수의 내부 전극을 포함하는 바디 및 상기 바디 외부에 형성되어 상기 내부 전극과 전기적으로 연결된 외부 전극을 포함하며, 상기 바디는 중앙부와 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 상기 중앙부의 상부와 하부에 위치하는 커버부로 구분되며, 상기 바디에서 상기 커버부는 모서리가 곡면으로 형성되되 상기 곡면 모서리의 곡률 반경(R)과 상기 바디의 두께(T)는 10um≤R≤T/4의 조건을 만족하며, 상기 복수의 내부 전극 중 상기 커버부에 배치된 것은 상기 중앙부에 배치된 것보다 폭이 좁은 적층형 커패시터를 제공한다.An embodiment of the present invention includes a body including a stacked structure of a plurality of dielectric layers and a plurality of internal electrodes stacked with the dielectric layer interposed therebetween, and an external electrode formed outside the body and electrically connected to the internal electrode, The body is divided into a central portion and a cover portion positioned above and below the central portion in the stacking direction of the plurality of dielectric layers. In the body, the cover portion has a curved edge, and a radius of curvature (R) of the curved edge and the The thickness T of the body satisfies the condition of 10um≦R≦T/4, and one of the plurality of internal electrodes disposed on the cover portion provides a multilayer capacitor having a narrower width than that disposed in the central portion.
Description
본 발명은 적층형 커패시터에 관한 것이다.
The present invention relates to a multilayer capacitor.
커패시터는 전기를 저장할 수 있는 소자로서, 기본적으로 2개의 전극을 대향시켜, 전압을 걸면 각 전극에 전기가 축적되는 것이다. 직류 전압을 인가한 경우에는 전기가 축전되면서 커패시터 내부에 전류가 흐르지만, 축적이 완료되면 전류가 흐르지 않게 된다. 한편, 교류 전압을 인가한 경우, 전극의 극성이 교변하면서 교류 전류가 흐르게 된다.A capacitor is an element capable of storing electricity, and basically, when two electrodes are opposed to each other and a voltage is applied, electricity is accumulated in each electrode. When DC voltage is applied, current flows inside the capacitor while electricity is stored, but when the accumulation is completed, the current does not flow. On the other hand, when an AC voltage is applied, an AC current flows while the polarities of the electrodes are changed.
이러한 커패시터는 전극 간에 구비되는 절연체의 종류에 따라서, 알루미늄으로 전극을 구성하고 상기 알루미늄 전극 사이에 얇은 산화막을 구비하는 알루미늄 전해 커패시터, 전극 재료로 탄탈륨을 사용하는 탄탈륨 커패시터, 전극 사이에 티타늄 바륨과 같은 고유전율의 유전체를 사용하는 세라믹 커패시터, 전극 사이에 구비되는 유전체로 고유전율계 세라믹을 다층 구조로 사용하는 적층 세라믹 커패시터(Multi-Layer Ceramic Capacitor, MLCC), 전극 사이의 유전체로 폴리스티렌 필름을 사용하는 필름 커패시터 등 여러 종류로 구분될 수 있다.Depending on the type of insulator provided between the electrodes, such a capacitor is an aluminum electrolytic capacitor comprising an electrode of aluminum and having a thin oxide film between the aluminum electrodes, a tantalum capacitor using tantalum as an electrode material, and titanium barium between the electrodes. Ceramic capacitors using a high dielectric constant, a multi-layer ceramic capacitor (MLCC) using a high dielectric constant ceramic in a multilayer structure as a dielectric provided between electrodes, and a polystyrene film as a dielectric between electrodes. It can be classified into several types such as film capacitors.
이 중에서 적층 세라믹 커패시터는 온도 특성 및 주파수 특성이 우수하고 소형으로 구현 가능하다는 장점을 가지고 있어 최근 고주파 회로 등 다양한 분야에서 많이 응용되고 있다.Among them, multilayer ceramic capacitors have the advantage of excellent temperature characteristics and frequency characteristics and can be implemented in a small size, and are thus widely applied in various fields such as high-frequency circuits.
종래 기술에 따른 적층 세라믹 커패시터는 복수개의 유전체 시트가 적층되어 적층체를 형성하며, 상기 적층체 외부에 서로 다른 극성을 갖는 외부 전극이 형성되고, 상기 적층체의 내부에 교대로 적층된 내부 전극이 상기 각각의 외부 전극에 전기적으로 연결될 수 있다.In a multilayer ceramic capacitor according to the prior art, a plurality of dielectric sheets are stacked to form a stack, external electrodes having different polarities are formed outside the stack, and internal electrodes alternately stacked inside the stack are It may be electrically connected to each of the external electrodes.
최근 전자 제품의 소형화 및 고집적화에 따라 적층 세라믹 커패시터의 경우에도 소형화 고집적화를 위한 연구가 많이 이루어지고 있다. 특히 적층 세라믹 커패시터의 경우 고용량화 및 소형화를 위하여 유전체층을 박층화하여 고적층화하면서 내부 전극의 연결성을 향상시키고자 하는 다양한 시도가 이루어지고 있다.Recently, according to the miniaturization and high integration of electronic products, many studies have been made for miniaturization and high integration even in the case of multilayer ceramic capacitors. In particular, in the case of multilayer ceramic capacitors, various attempts have been made to increase the connectivity of internal electrodes while thinning the dielectric layer to increase the size of the dielectric layer for high capacity and miniaturization.
특히, 초고용량의 적층 세라믹 개발에 있어서, 박막 유전체층 및 내부전극의 고적층 제품에 대한 신뢰성 확보가 더욱 중요해지고 있다. 적층 수가 증가함에 따라서, 내부전극과 유전체층의 두께 차이에 의한 단차가 증가한다. 이러한 단차는 바디를 압착하는 치밀화 공정에서 유전체층의 횡방향 연신으로 인해 전극 끝단부의 휨 현상이 발생하게 된다. In particular, in the development of ultra-high-capacity multilayer ceramics, it is becoming more important to secure reliability for high-laminated products of thin film dielectric layers and internal electrodes. As the number of stacked layers increases, the step difference due to the difference in thickness between the internal electrodes and the dielectric layer increases. This step causes a warpage of the electrode end due to the transverse stretching of the dielectric layer in the densification process of compressing the body.
즉, 내부전극의 끝단은 단차를 채우기 위해 휘어지며, 마진부는 커버의 함몰과 마진폭의 감소에 의해 단차로 인한 빈 공간을 제거하게 된다. 단차로 인한 빈공간을 제거됨에 따라 감소하는 마진폭만큼 용량층도 연신하게 된다. 이와 같은 내부 전극의 구조적인 불규칙 연신에 의해 적층 세라믹 커패시터의 내전압 특성 등의 신뢰성이 감소하게 된다. That is, the end of the internal electrode is bent to fill the step, and the margin portion removes the empty space due to the step by depression of the cover and the reduction of the margin width. As the empty space due to the step is removed, the capacitance layer is also stretched by the decreasing margin width. Due to the structural irregular stretching of the internal electrodes, reliability of the multilayer ceramic capacitor, such as withstand voltage characteristics, decreases.
이러한 문제점을 해결하기 위하여, 바디의 길이 방향 양측면을 절단한 후, 측면 마진부를 부착하는 방안이 개발되었으나, 제조방법이 복잡해 생산성이 낮고, 측면 마진부를 얇게 형성하는 경우 코너 마진부 두께도 동시에 얇아져 내습신뢰성이 열위해지는 문제가 생길 수 있다.
To solve this problem, a method of attaching side margins after cutting both sides in the length direction of the body has been developed, but the manufacturing method is complicated, so productivity is low, and when the side margins are formed thin, the thickness of the corner margins is reduced at the same time. There may be a problem of poor reliability.
본 발명의 일 목적은 일 목적은 유효 부피를 최대화하면서도, 내습신뢰성을 확보할 수 있는 적층형 커패시터를 제공하는 것이다.
An object of the present invention is to provide a multilayer capacitor capable of maximizing an effective volume and securing moisture resistance.
상술한 과제를 해결하기 위한 방법으로, 본 발명은 일 예를 통하여 적층형 커패시터의 신규한 구조를 제안하고자 하며, 구체적으로, 복수의 유전체층의 적층 구조와 상기 유전체층을 사이에 두고 적층된 복수의 내부 전극을 포함하는 바디 및 상기 바디 외부에 형성되어 상기 내부 전극과 전기적으로 연결된 외부 전극을 포함하며, 상기 바디는 중앙부와 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 상기 중앙부의 상부와 하부에 위치하는 커버부로 구분되며, 상기 바디에서 상기 커버부는 모서리가 곡면으로 형성되되 상기 곡면 모서리의 곡률 반경(R)과 상기 바디의 두께(T)는 10um≤R≤T/4의 조건을 만족하며, 상기 바디에서 상기 커버부는 모서리가 곡면으로 형성되고, 상기 복수의 내부 전극 중 상기 커버부에 배치된 것은 상기 중앙부에 배치된 것보다 폭이 좁은 형태이다.
As a method for solving the above problems, the present invention intends to propose a novel structure of a multilayer capacitor through an example, and specifically, a multilayer structure of a plurality of dielectric layers and a plurality of internal electrodes stacked with the dielectric layer interposed therebetween. A body including a body and an external electrode formed outside the body and electrically connected to the internal electrode, wherein the body is divided into a central portion and a cover portion positioned above and below the central portion in a stacking direction of the plurality of dielectric layers, , In the body, the cover part has a curved edge, and the radius of curvature R of the curved edge and the thickness T of the body satisfy the condition of 10um≦R≦T/4, and the cover part in the body The edge is formed in a curved surface, and among the plurality of internal electrodes, the one disposed on the cover portion has a narrower width than the one disposed on the central portion.
일 실시 예에서, 상기 복수의 내부 전극 중 상기 커버부에 배치된 것은 상기 바디의 표면에 가까이 배치된 것일수록 폭이 좁을 수 있다.In an embodiment, among the plurality of internal electrodes, those disposed on the cover portion may have a narrower width as those disposed closer to the surface of the body.
일 실시 예에서, 상기 복수의 내부 전극은 각각 상기 바디의 서로 대향하는 제1면 및 제2면으로 노출된 제1 및 제2 내부 전극을 포함하며, 상기 복수의 내부 전극의 폭은 상기 제1면 및 제2면을 연결하는 방향과 상기 복수의 유전체층의 적층 방향에 수직인 방향의 폭일 수 있다.In an embodiment, each of the plurality of internal electrodes includes first and second internal electrodes exposed to a first surface and a second surface opposite to each other of the body, and the widths of the plurality of internal electrodes are the first It may be a width in a direction perpendicular to a direction connecting the surface and the second surface and a stacking direction of the plurality of dielectric layers.
일 실시 예에서, 상기 바디는 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 서로 대향하는 제3면 및 제4면, 그리고 상기 제1면 내지 제4면과 연결되고 서로 대향하는 제5면 및 제6면을 포함할 수 있다.In an embodiment, the body includes third and fourth surfaces facing each other in the stacking direction of the plurality of dielectric layers, and fifth and sixth surfaces connected to and facing each other, and connected to the first to fourth surfaces. Can include.
일 실시 예에서, 상기 커버부에서 상기 제3면이 상기 제5면 및 제6면과 연결된 모서리들, 그리고 상기 제4면이 상기 제5면 및 제6면과 연결된 모서리들은 곡면으로 형성될 수 있다.In an embodiment, corners of the cover part in which the third surface is connected to the fifth and sixth surfaces, and corners in which the fourth surface is connected to the fifth and sixth surfaces may be curved. have.
일 실시 예에서, 상기 바디의 표면에서 상기 복수의 내부 전극 중 가장 가까운 것까지의 거리를 마진이라 할 때, 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진(δ)은 상기 제5면 및 제6면의 마진(Wg)보다 크거나 같을 수 있다.In one embodiment, when the distance from the surface of the body to the nearest one of the plurality of internal electrodes is a margin, the margin δ of the curved edge of the cover part is the fifth and sixth surfaces May be greater than or equal to the margin of (Wg).
일 실시 예에서, 상기 δ 및 상기 Wg는 1≤δ/Wg≤1.2의 조건을 만족할 수 있다.In an embodiment, δ and Wg may satisfy a condition of 1≦δ/Wg≦1.2.
일 실시 예에서, 상기 Wg는 0.5um≤Wg≤T/12의 조건을 만족할 수 있다.In an embodiment, the Wg may satisfy a condition of 0.5um≦Wg≦T/12.
일 실시 예에서, 상기 Wg는 0.5um≤Wg≤15um의 조건을 만족할 수 있다.In an embodiment, the Wg may satisfy a condition of 0.5um≤Wg≤15um.
일 실시 예에서, 상기 제3면 및 제4면의 마진(Tg)은 Wg≤Tg의 조건을 만족할 수 있다.In an embodiment, the margins Tg of the third and fourth surfaces may satisfy a condition of Wg≦Tg.
일 실시 예에서, 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경(R)은 10um≤R≤60um의 조건을 만족할 수 있다.In an embodiment, a radius of curvature R of a corner formed as a curved surface in the cover part may satisfy a condition of 10um≤R≤60um.
일 실시 예에서, 상기 바디의 커버부에 배치된 복수의 내부 전극의 단부를 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면은 곡면을 형성하며 이러한 곡면의 곡률은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률과 같을 수 있다.In one embodiment, a virtual surface obtained by connecting ends of a plurality of internal electrodes disposed on the cover portion of the body in the stacking direction of the plurality of dielectric layers forms a curved surface, and the curvature of the curved surface is from the cover portion to a curved surface. It can be equal to the curvature of the formed edge.
일 실시 예에서, 상기 바디의 커버부에 배치된 복수의 내부 전극의 단부를 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면은 곡면을 형성하며 이러한 곡면의 곡률 반경은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경보다 작을 수 있다.In one embodiment, a virtual surface obtained by connecting ends of a plurality of internal electrodes disposed on the cover portion of the body in the stacking direction of the plurality of dielectric layers forms a curved surface, and the radius of curvature of the curved surface is a curved surface in the cover portion. It may be smaller than the radius of curvature of the corner formed by
일 실시 예에서, 상기 바디의 표면에서 상기 복수의 내부 전극 중 가장 가까운 것까지의 거리를 마진이라 할 때, 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경은 상기 가상의 면의 곡률 반경에 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진(δ)을 더한 것과 같을 수 있다.In one embodiment, when the distance from the surface of the body to the nearest one of the plurality of internal electrodes is a margin, the radius of curvature of the corner formed as a curved surface in the cover part is equal to the radius of curvature of the virtual surface. It may be equal to the sum of the margin (δ) of the corner formed from the negative to the curved surface.
일 실시 예에서, 상기 바디에서 상기 복수의 내부 전극을 감싸는 외곽 영역을 마진 영역이라 할 때 상기 유전체층의 치밀도는 상기 마진 영역이 나머지 영역보다 낮을 수 있다.In an embodiment, when an outer region surrounding the plurality of internal electrodes in the body is referred to as a margin region, the density of the dielectric layer may be lower than that of the remaining regions.
일 실시 예에서, 상기 마진 영역은 상기 유전체층이 서로 다른 치밀도를 갖는 2개의 층을 포함하며, 상기 2개의 층 중 상기 복수의 내부 전극에 인접한 것에서 상기 유전체층의 치밀도가 더 높을 수 있다.
In an exemplary embodiment, the margin region includes two layers having different densities in the dielectric layer, and the dielectric layer may have a higher density in one of the two layers adjacent to the plurality of internal electrodes.
본 발명의 다른 측면은,Another aspect of the invention,
복수의 유전체층의 적층 구조와 상기 유전체층을 사이에 두고 적층된 복수의 내부 전극을 포함하는 바디 및 상기 바디 외부에 형성되어 상기 내부 전극과 전기적으로 연결된 외부 전극을 포함하며, 상기 바디는 중앙부와 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 상기 중앙부의 상부와 하부에 위치하는 커버부로 구분되며, 상기 바디에서 상기 커버부는 모서리가 곡면으로 형성되고, 상기 바디의 커버부에 배치된 복수의 내부 전극의 단부를 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면은 곡면을 형성하는 적층형 커패시터를 제공한다.
A body including a stacked structure of a plurality of dielectric layers and a plurality of internal electrodes stacked with the dielectric layer interposed therebetween, and an external electrode formed outside the body and electrically connected to the internal electrode, the body having a central portion and the plurality of Divided into cover portions positioned above and below the central portion in the stacking direction of the dielectric layer of, the cover portion of the body has a curved edge, and ends of a plurality of internal electrodes disposed on the cover portion of the body The virtual surface obtained by connecting in the stacking direction of the dielectric layers of provides a multilayer capacitor forming a curved surface.
일 실시 예에서, 상기 가상의 면과 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리는 서로 마주보는 형태일 수 있다.In an embodiment, the virtual surface and the corner formed as a curved surface in the cover part may have a shape facing each other.
일 실시 예에서, 상기 가상의 면의 곡률은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률과 같을 수 있다.In one embodiment, the curvature of the virtual surface may be the same as the curvature of the corner formed as a curved surface in the cover part.
일 실시 예에서, 상기 가상의 면의 곡률 반경은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경보다 작을 수 있다.In an embodiment, a radius of curvature of the virtual surface may be smaller than a radius of curvature of a corner formed as a curved surface in the cover part.
일 실시 예에서, 상기 바디의 표면에서 상기 복수의 내부 전극 중 가장 가까운 것까지의 거리를 마진이라 할 때, 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경은 상기 가상의 면의 곡률 반경에 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진(δ)을 더한 것과 같을 수 있다.
In one embodiment, when the distance from the surface of the body to the nearest one of the plurality of internal electrodes is a margin, the radius of curvature of the corner formed as a curved surface in the cover part is equal to the radius of curvature of the virtual surface. It may be equal to the sum of the margin (δ) of the corner formed from the negative to the curved surface.
본 발명의 일 예에 따른 적층형 커패시터의 경우, 소형화에 유리하면서도 높은 전기 용량을 확보할 수 있으며, 내습 특성이 우수하여 높은 신뢰성을 가질 수 있다.
In the case of the multilayer capacitor according to an exemplary embodiment of the present invention, it is possible to secure a high electric capacity while being advantageous in miniaturization, and has excellent moisture resistance and thus high reliability.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 적층형 커패시터의 일부를 절개하여 개략적으로 도시한 사시도이다.
도 2 및 도 4는 도 1의 적층형 커패시터에서 I-I` 단면도이며, 도 4에서는 내부 전극이 배치된 영역의 외곽을 점선으로 표시하였다.
도 3은 도 1의 적층형 커패시터에서 II-II` 단면도이다.
도 5는 변형된 예에서 채용될 수 있는 바디의 형태를 나타낸다.
도 6 내지 8은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 적층형 커패시터를 제조하는 공정을 나타낸다.1 is a partially cut-away perspective view schematically illustrating a multilayer capacitor according to an embodiment of the present invention.
2 and 4 are cross-sectional views II′ in the multilayer capacitor of FIG. 1, and in FIG. 4, an outer portion of an area where an internal electrode is disposed is indicated by a dotted line.
3 is a cross-sectional view II-II′ of the multilayer capacitor of FIG. 1.
5 shows a shape of a body that can be employed in a modified example.
6 to 8 illustrate a process of manufacturing a multilayer capacitor according to an embodiment of the present invention.
이하, 구체적인 실시형태 및 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시형태는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시형태로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시형태는 통상의 기술자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 따라서, 도면에서의 요소들의 형상 및 크기 등은 보다 명확한 설명을 위해 과장될 수 있으며, 도면상의 동일한 부호로 표시되는 요소는 동일한 요소이다.
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described with reference to specific embodiments and the accompanying drawings. However, the embodiments of the present invention may be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the embodiments described below. In addition, embodiments of the present invention are provided to more completely explain the present invention to a person skilled in the art. Accordingly, the shapes and sizes of elements in the drawings may be exaggerated for clearer explanation, and elements indicated by the same reference numerals in the drawings are the same elements.
그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하고, 여러 층 및 영역을 명확하게 표현하기 위하여 두께를 확대하여 나타내었으며, 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다. 나아가, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
In addition, in the drawings, portions not related to the description are omitted in order to clearly describe the present invention, and the thickness is enlarged to clearly express several layers and regions, and components having the same function within the scope of the same idea are the same reference. Describe using symbols. Furthermore, throughout the specification, when a part "includes" a certain component, it means that other components may be further included rather than excluding other components unless otherwise stated.
도 1은 본 발명의 일 실시 형태에 따른 적층형 커패시터의 일부를 절개하여 개략적으로 도시한 사시도이다. 도 2 및 도 4는 도 1의 적층형 커패시터에서 I-I` 단면도이며, 도 4에서는 내부 전극이 배치된 영역의 외곽을 점선으로 표시하였다. 도 3은 도 1의 적층형 커패시터에서 II-II` 단면도이다.
1 is a partially cut-away perspective view schematically illustrating a multilayer capacitor according to an embodiment of the present invention. 2 and 4 are cross-sectional views II′ in the multilayer capacitor of FIG. 1, and in FIG. 4, an outer portion of a region in which an internal electrode is disposed is indicated by a dotted line. 3 is a cross-sectional view II-II′ of the multilayer capacitor of FIG. 1.
도 1 내지 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시 형태에 따른 적층형 커패시터(100)는, 유전체층(111) 및 이를 사이에 두고 적층된 복수의 내부 전극(121, 122)을 포함하는 바디(110) 및 외부 전극(131, 132)을 포함하며, 바디(110)에서 커버부(A1, A2)의 모서리는 곡면으로 형성된다. 그리고 도 2에 도시된 형태와 같이 복수의 내부 전극(121, 122) 중 커버부(A1, A2))에 배치된 것은 중앙부(A3)에 배치된 것보다 폭이 좁은 형태이다.
1 to 4, a
바디(110)는 복수의 유전체층(111)이 적층된 형태이며, 예컨대 복수의 그린 시트를 적층한 후 소결하여 얻어질 수 있다. 이러한 소결 공정에 의하여 복수의 유전체층(111)은 일체화된 형태를 가질 수 있다. 바디(110)의 형상과 치수 및 유전체층(111)의 적층 수가 본 실시 형태에 도시된 것으로 한정되는 것은 아니며, 예를 들어, 도 1에 도시된 형태와 같이, 바디(110)는 직육면체 형상을 가질 수 있다. 바디(110)는 내부 전극(121, 122)이 각각 노출되는 제1면(S1) 및 제2면(S2), 복수의 유전체층(111)의 적층(Z) 방향으로 서로 대향하는 제3면(S3) 및 제4면(S4), 그리고 제1면 내지 제4면(S1, S2, S3, S4)과 연결되고 서로 대향하는 제5면(S5) 및 제6면(S6)을 포함할 수 있다.
The
바디(110)에 포함된 유전체층(111)은 고유전률을 갖는 세라믹 재료를 포함할 수 있으며, 예를 들어 BT계, 즉, 티탄산바륨(BaTiO3)계 세라믹을 포함할 수 있지만, 충분한 정전 용량을 얻을 수 있는 한 당 기술 분야에서 알려진 다른 물질도 사용 가능할 것이다. 유전체층(111)에는 주성분인 이러한 세라믹 재료와 함께 필요한 경우, 첨가제, 유기용제, 가소제, 결합제 및 분산제 등이 더 포함될 수 있다. 여기서 첨가제의 경우, 금속 성분을 포함하며 이들은 제조 과정에서 금속 산화물 형태로 첨가될 수 있다. 이러한 금속 산화물 첨가제의 예로서, MnO2, Dy2O3, BaO, MgO, Al2O3, SiO2, Cr2O3 및 CaCO3 중 적어도 하나의 물질을 포함할 수 있다.
The
복수의 내부 전극(121, 122)은 세라믹 그린 시트의 일면에 소정의 두께로 도전성 금속을 포함하는 페이스트를 인쇄한 후 이를 소결하여 얻어질 수 있다. 이 경우, 복수의 내부 전극(121, 122)은 도 3에 도시된 형태와 같이, 바디(110)의 서로 대향하는 제1면(S1) 및 제2면(S2)으로 노출된 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)을 포함할 수 있다. 이 경우, 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)은 서로 다른 외부 전극(131, 132)과 연결되어 구동 시 서로 다른 극성을 가질 수 있으며, 이들 사이에 배치된 유전체층(111)에 의해 서로 전기적으로 분리될 수 있다. 다만, 외부 전극(131, 132)의 개수나 내부 전극(121, 122)과의 연결 방식은 실시 형태에 따라 달라질 수 있을 것이다. 내부 전극(121, 122)을 이루는 주요 구성 물질은 니켈(Ni), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 은(Ag) 등을 예로 들 수 있으며, 이들의 합금도 사용할 수 있을 것이다.
The plurality of
외부 전극(131, 132)은 바디(110)의 외부에 형성되며, 제1 및 제2 내부 전극(121, 122)과 각각 전기적으로 연결된 제1 및 제2 외부 전극(131, 132)을 포함할 수 있다. 외부 전극(131, 132)은 도전성 금속을 포함하는 물질을 페이스트로 제조한 후 이를 바디(110)에 도포하는 방법 등으로 형성될 수 있으며, 도전성 금속의 예로서, 니켈(Ni), 구리(Cu), 팔라듐(Pd), 금(Au) 또는 이들의 합금을 들 수 있다. 또한, 적층형 커패시터(100)를 기판에 실장하기 위해 필요한 경우 외부 전극(131, 132)은 도금층을 추가로 포함할 수 있다.
The
본 실시 형태에서는 바디(110)의 모서리를 곡면으로 형성하여 칩핑(chipping) 불량을 억제하고 바디(110)의 커버부(A1, A2)에 배치된 내부 전극(121, 122)의 폭을 상대적으로 좁게 하였다. 또한, 본 실시 형태의 바디(110)가 갖는 구조적 특성은 이와 다르게 표현될 수 있다. 구체적으로, 바디(110)의 표면에서 복수의 내부 전극(121, 122) 중 가장 가까운 것까지의 거리를 마진이라 할 때, 커버부(A1, A2)에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진은 바디(110)의 폭 방향의 마진보다 크거나 같을 수 있으며, 이에 관해서는 후술한다. 또한, 본 실시 형태의 바디(110)가 갖는 구조적 특성은 또 다른 형태로 표현될 수 있으며, 바디(110)의 커버부(A1, A2)에 배치된 복수의 내부 전극(121, 122)의 단부를 복수의 유전체층(111)의 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면은 곡면을 형성할 수 있다. 이에 대해서도 후술한다.
In this embodiment, the edge of the
한편, 본 실시 형태에서는 성능 향상을 위하여 바디(110)에서 마진의 크기, 곡면의 곡률 반경, 두께, 길이 등을 최적화하였다. 이러한 구조에 의하여 적층형 커패시터(100)를 소형화하면서도 높은 수준의 용량을 확보할 수 있도록 하였으며, 나아가, 내습 신뢰성이 향상되도록 하였다. 이하, 이를 구체적으로 설명한다.
Meanwhile, in the present embodiment, the size of the margin, the radius of curvature of the curved surface, the thickness, and the length of the
바디(110)는 중앙부(A3)와 커버부(A1, A2)로 구분되며, 커버부(A1, A2)는 복수의 유전체층(111)의 적층 방향(도면을 기준으로 Z 방향)으로 중앙부(A3)의 상부와 하부에 위치한다. 커버부(A1, A2)와 중앙부(A3)에는 내부 전극(121, 122)이 배치되는데 커버부(A1, A2)에 배치된 것의 폭이 중앙부(A2)에 배치된 것보다 폭이 좁다. 이 경우, 도시된 형태와 같이 복수의 내부 전극(121, 122) 중 커버부(A1, A2)에 배치된 것은 바디(110)의 표면에 가까이 배치된 것일수록 폭이 좁을 수 있다. 여기서, 내부 전극(121, 122)의 폭은 제1면(S1) 및 제2면(S2)을 연결하는 방향(X 방향)과 복수의 유전체층(111)의 적층 방향(Z 방향)에 수직인 방향의 폭, 즉, Y 방향의 폭으로 정의될 수 있다.
The
상술한 바와 같이, 바디(110)의 커버부(A1, A2)에서, 모서리는 곡면으로 형성되며, 이는 적층형 커패시터(100)의 칩핑 불량을 저감하는 기능 등을 수행할 수 있다. 구체적으로, 커버부(A1, A2)에서 제3면(S3)이 제5면(S5) 및 제6면(S6)과 연결된 모서리들(도 2에서 상부의 곡면 모서리들), 그리고 제4면(S4)이 제5면(S5) 및 제6면(S6)과 연결된 모서리들(도 2에서 하부의 곡면 모서리들)은 곡면으로 형성될 수 있다.
As described above, in the cover portions A1 and A2 of the
도 4를 참조하여, 바디(110)에서 마진의 크기, 곡면의 곡률 반경, 두께, 길이 등의 최적 조건을 설명한다. 도 4에서 내부 전극이 배치된 영역은 내부 전극 영역(112)으로 정의하여 점선으로 표시하였다. 이 경우, Z 방향을 바디(110)의 두께 방향으로, Y 방향을 바디(110)의 폭 방향으로 정의하여 각각을 두께(T)와 폭(W)으로 정의하였다.
With reference to FIG. 4, optimal conditions such as a size of a margin, a radius of curvature of a curved surface, a thickness, and a length of the
우선, 바디(110)의 마진은 표면에서 상기 복수의 내부 전극 중 가장 가까운 것까지의 거리로 정의될 수 있다. 구체적으로, 커버부(A1, A2)에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진은 δ이다. 그리고 제5면(S5) 및 제6면(S6)의 마진은 Wg이며, 이는 바디(110)의 폭 방향 마진에 해당한다. 본 실시 형태에서는 곡면 모서리의 마진(δ)이 폭 방향 마진(Wg)보다 크거나 같도록 하였다. 종래에는 내부 전극이 정렬되지 않아 폭 방향 마진을 만들기 어려웠으며, 이를 개선하고자 폭 방향 마진을 별도로 형성하는 공정을 이용하였다. 이러한 구조에서는 바디(110)의 곡면 모서리의 마진(δ)을 충분히 확보하기 어려우며 특히 바디(110)를 소형화하고 내부 전극의 적층 수를 늘리는 경우에 내습 신뢰성이 취약해지는 문제가 있다.
First, the margin of the
본 실시 형태에서는 커버부(A1, A2)에 배치된 내부 전극(121, 122)의 폭을 조절하여 전체적으로 바디(110)의 곡면 모서리에 대응하는 형상을 갖도록 하였다. 이러한 형태에 의하여 곡면 모서리의 마진(δ)을 충분히 확보할 수 있으며, 폭 방향 마진(Wg)보다 크거나 같을 수 있다. 더욱 구체적으로, 곡면 모서리의 마진(δ) 및 폭 방향 마진(Wg)의 경우, 1≤δ/Wg≤1.2의 조건을 만족할 수 있다. 곡면 모서리의 마진(δ)이 폭 방향 마진(Wg)이 1.2배를 초과하는 경우, 커버부(A1, A2)에서 내부 전극(121, 122)의 폭이 큰 폭으로 줄어들어 전기 용량이 저감될 수 있다.
In this embodiment, the widths of the
곡면 모서리의 마진(δ)이 커짐에 따라 소형화된 바디(110)에서도 내습 신뢰성이 향상되며 바디(110)는 다수의 내부 전극(121, 122)을 포함함으로써 향상된 전기 용량을 구현할 수 있다. 이는 동일한 바디(110) 부피 기준으로 산정하였을 때 전기 용량, 즉 유효 부피의 증가를 의미한다.
As the margin δ of the curved edge increases, the moisture resistance reliability is improved even in the
한편, 본 실시 형태의 경우, 중앙부(A3)에 배치된 내부 전극(121, 122)의 경우, 폭이 균일할 수 있다. 이는 후술할 바와 같이 세라믹 적층체를 개별 칩 단위로 절단하는 공정에 의하여 얻어질 수 있다. 여기서 폭의 균일성은 내부 전극(121, 122)의 단부 위치를 기준으로 결정할 수 있으며, 예컨대 상기 폭 방향(Y 방향)을 기준으로 내부 전극(121, 122) 단부 위치의 편차는 0.1um보다 작거나 같을 수 있다.
Meanwhile, in the case of the present embodiment, the
또한, 바디(110)의 두께 방향의 마진, 즉, 제3면(S3) 및 제4면(S4)의 마진(Tg)과 폭 방향 마진(Wg)의 경우, Wg≤Tg의 조건을 만족할 수 있다. 후술할 바와 같이, 두께 방향 마진(Tg) 영역과 폭 방향 마진(Wg)은 동일한 공정으로 형성될 수 있으며, 최상부 및 최하단의 내부 전극(121, 122)에 커버용 베이스층에 해당하는 유전체층이 형성되어 있는 경우, 두께 방향 마진(Tg)이 폭 방향 마진(Wg)보다 다소 클 수 있다. 또한, 폭 방향 마진(Wg)은 0.5um≤Wg≤15um의 조건을 만족할 수 있으며, 바디(110)의 내습 신뢰성과 충분한 전기 용량을 확보하기 위한 측면에서 설계된 것이다. 마찬가지로 두께 방향 마진(Tg) 역시 0.5um≤Wg≤15um의 조건을 만족할 수 있다. 그리고 폭 방향 마진(Wg)은 바디(110)의 두께(T)를 고려하여 설정될 수 있으며, 구체적으로, 0.5um≤Wg≤T/12의 조건을 만족할 수 있다. 여기서, 바디(110)의 두께(T)는 예컨대 약 200~400um일 수 있다.
In addition, in the case of the margin in the thickness direction of the
또한, 커버부(A1, A2)에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경(R)은 적층형 커패시터(100)의 중량과 공정 중 부하로 인한 칩핑에 견딜 수 있도록 설계될 수 있으며, 구체적으로, 10um≤R≤60um의 조건을 만족할 수 있다. 그리고 곡률 반경(R)은 바디(110)의 두께(T)를 고려하여 설정될 수 있으며, 구체적으로, 10um≤R≤T/4의 조건을 만족할 수 있다. 상술한 바와 같이, 바디(110)의 두께(T)는 예컨대 약 200~400um일 수 있다. 이 경우, 커버부(A1, A2)의 내부 전극 영역(112) 곡면 영역 역시 바디(110) 모서리와 실질적으로 동일하게 휘어진 형태, 즉, 실질적으로 동일한 곡률을 가질 수 있으며, 내부 전극 영역(112)의 곡면 영역은 커버부(A1, A2)에 배치된 내부 전극(121, 122)의 단부를 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면일 것이다. 도시된 형태와 같이, 내부 전극 영역(112)의 상기 가상의 면과 커버부(A1, A2)에서 곡면으로 형성된 모서리는 서로 마주보는 형태일 수 있다.
In addition, the curvature radius R of the corner formed in a curved surface in the cover parts A1 and A2 may be designed to withstand chipping due to the weight of the
또한, 도 4에 도시된 형태와 같이 커버부(A1, A2)에 배치된 내부 전극(121, 122)의 단부를 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면의 경우, 곡률 반경(r)이 커버부(A1, A2)에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경(R)보다 작을 수 있다. 이 경우, 상기 곡률 반경들(r, R)은 서로 중심을 공유할 수 있다.
In addition, in the case of a virtual surface obtained by connecting the ends of the
또한, 커버부(A1, A2)의 곡면 모서리가 갖는 곡률 반경(R)은 상기 가상의 면의 곡률 반경(r)에 커버부(A1, A2)에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진(δ)을 더한 것과 같을 수 있다.
In addition, the radius of curvature R of the curved edges of the cover parts A1 and A2 is the radius of curvature R of the virtual surface plus the margin δ of the corner formed in the curved surface of the cover parts A1 and A2. Can be the same as
한편, 바디(110)에서 복수의 내부 전극(121, 122)을 감싸는 외곽 영역, 즉, 도 4에서 내부 전극 영역(112)을 둘러싸는 영역을 마진 영역(112, 113)이라 할 때, 유전체층(111)의 치밀도는 마진 영역(112, 113)이 나머지 영역보다 낮을 수 있다. 후술할 바와 같이, 마진 영역(112, 113)은 세라믹 적층체를 제조한 후 이를 코팅하는 방식 등으로 얻어질 수 있는데 치밀도의 차이는 이러한 제조 방식의 차이에 기인한 것일 수 있다. 여기서 치밀도는 내부에 존재하는 공극의 밀도와 반비례하는 개념으로 이해될 수 있다.
Meanwhile, when the outer region surrounding the plurality of
또한, 도 5에 도시된 형태와 같이, 마진 영역(112, 113)은 유전체층(111)이 서로 다른 치밀도를 갖는 2개의 층을 포함할 수 있다. 다시 말해, 두께 마진 영역(112)은 제1층 및 제2층(112a, 112b)을 포함하고, 마찬가지로 사이드 마진 영역(113)은 제1층 및 제2층(113a, 113b)을 포함할 수 있다. 여기서, 복수의 내부 전극, 즉, 내부 전극 영역(112)에 인접한 것(112a, 112b)에서 유전체층(111)의 치밀도가 더 높을 수 있다. 이는 앞서 설명한 것과 유사한 이유로서, 세라믹 적층체의 제조 시 내부 전극 영역(112) 외에 존재하는 유전체 영역이 소성 후 마진 영역(112, 113)에 남아 있는 경우에 해당한다.
In addition, as shown in FIG. 5, the
상술한 적층형 커패시터의 구조를 더욱 명확히 이해하기 위하여 도 6 내지 8을 참조하여 제조방법의 일 예를 설명한다.
An example of a manufacturing method will be described with reference to FIGS. 6 to 8 in order to more clearly understand the structure of the above-described multilayer capacitor.
우선, 도 6에 도시된 형태와 같이, 유전체층(111)과 내부 전극(121, 122)을 적층하여 세라믹 적층체(115)를 마련한다. 여기서 유전체층(111)은 소성 전이므로 세라믹 그린시트 상태이다. 상기 세라믹 그린시트는 세라믹 분말, 바인더, 용제 등을 혼합하여 슬러리를 제조하고, 상기 슬러리를 닥터 블레이드 법으로 수 ㎛의 두께를 갖는 시트(sheet)형으로 제작할 수 있다. 상기 세라믹 그린시트는 이후 소결되어 유전체층(111)을 형성할 수 있다.
First, as shown in FIG. 6, a
상기 세라믹 그린시트 상에는 내부 전극용 도전성 페이스트를 도포하여 내부전극 패턴을 형성할 수 있으며, 이 경우, 상기 내부 전극 패턴은 스크린 인쇄법 또는 그라비아 인쇄법에 의하여 형성될 수 있다. 상기 내부전극용 도전성 페이스트는 도전성 금속과 첨가제를 포함하며, 상기 첨가제는 비금속 및 금속 산화물 중 어느 하나 이상일 수 있다. 상기 도전성 금속은 니켈을 포함할 수 있다. 상기 첨가제는 금속 산화물로서 티탄산바륨 또는 티탄산스트론튬을 포함할 수 있다. 내부 전극 패턴이 형성된 세라믹 그린시트를 다수 적층하고, 이를 가압하여 세라믹 적층체(115)를 구현할 수 있다. 이후, 필요하다면 개별 칩 단위로 세라믹 적층체(115)를 절단할 수 있으며, 이 경우, 외부 전극과의 연결을 위해 내부 전극(121, 122)이 노출되도록 할 수 있다. 절단 공정에 의하여 노출된 내부 전극(121, 122)은 균일한 폭을 가질 수 있다. 예컨대, 내부 전극(121, 122) 중 가장 폭이 큰 것과 작은 것의 차이는 0.1um 미만일 수 있다. 한편, 도 6에서는 최상부 및 최하부의 내부 전극(121, 122)에 커버용 베이스층에 해당하는 유전체층(111)이 적층되어 있지만, 이러한 커버용 베이스층은 필요에 따라 최소화될 수 있으며, 예컨대, 내부 전극(121, 122) 사이의 유전체층(111)과 동일한 두께를 가질 수도 있을 것이다.
An internal electrode pattern may be formed by applying a conductive paste for internal electrodes on the ceramic green sheet. In this case, the internal electrode pattern may be formed by a screen printing method or a gravure printing method. The conductive paste for internal electrodes includes a conductive metal and an additive, and the additive may be at least one of a non-metal and a metal oxide. The conductive metal may include nickel. The additive may include barium titanate or strontium titanate as a metal oxide. The
이후, 도 7에 도시된 형태와 같이, 세라믹 적층체(115)의 모서리가 곡면이 되도록 연마한다. 구체적으로, 최상부와 최하부(상기한 내용 중 바디의 커버부에 해당)에 배치된 내부 전극(121, 122)이 세라믹 적층체(115)로부터 노출되도록 함께 연마될 수 있다. 이러한 연마 공정에 의하여 복수의 내부 전극(121, 122) 중 바디의 커버부에 배치된 것은 중앙부에 배치된 것보다 폭이 좁은 형태로 형성될 수 있다. 세라믹 적층체(115)의 모서리를 연마하는 본 공정의 경우, 바렐 연마 등을 이용할 수 있을 것이다.
Thereafter, as shown in FIG. 7, the
이후, 도 8에 도시된 형태와 같이, 세라믹 적층체(115)의 표면에 코팅층(116)을 형성하며 이는 앞서 설명한 바디의 마진 영역의 적어도 일부를 이룬다. 일 공정 예로서, 코팅층(116)은 유전체층(111)을 이루는 물질과 동일한 물질을 세라믹 적층체(115) 표면에 도포하는 방식으로 형성될 수 있다. 이 경우, 코팅층(116)은 세라믹 적층체(115)의 표면 전체에 코팅될 수 있으며, 예컨대, 유전체 슬러리를 스프레이로 분사하는 공정 등을 이용할 수 있다. 세라믹 적층체(115)를 제조한 후 별도로 코팅층(116)을 형성함으로써 바디의 마진 영역을 균일하면서도 얇게 형성할 수 있으며, 특히 내습에 취약한 바디의 모서리 영역에서 충분한 두께의 마진을 얻을 수 있다. 또한, 코팅층(116)은 세라믹 적층체(115)의 표면을 따라 형성되므로 자연스럽게 곡면 모서리를 가질 수 있으며, 이 경우, 곡면 모서리 형성을 위한 추가적인 공정을 생략할 수 있다. 이에 따라, 코팅층(116)의 곡면 모서리와 세라믹 적층체(115)의 곡면 모서리는 서로 마주보도록 배치될 수 있고 서로 동일한 곡률을 가질 수 있다.
Thereafter, as shown in FIG. 8, a
이후, 코팅층(116)이 적용된 상태에서 세라믹 적층체(115)를 소성한다. 만약 코팅층(116)이 세라믹 적층체(115)의 표면 전체에 적용된 경우라면 면 연마를 통해 이를 일부 제거함으로써 내부 전극(121, 122)을 노출시킬 수 있다. 여기서, 면 연마는 폴리싱, 그라인딩 등의 공정을 이용할 수 있다.
Thereafter, the
본 발명은 상술한 실시형태 및 첨부된 도면에 의해 한정되는 것이 아니며, 첨부된 청구범위에 의해 한정된다. 따라서, 청구범위에 기재된 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 형태의 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것은 당 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이며, 이 또한 첨부된 청구범위에 기재된 기술적 사상에 속한다 할 것이다.
The present invention is not limited by the above-described embodiments and the accompanying drawings, but is limited by the appended claims. Therefore, it will be apparent to those of ordinary skill in the art that various types of substitutions, modifications and changes are possible within the scope of the technical spirit of the present invention described in the claims, and the appended claims It will be said to belong to the technical idea described in.
100: 적층형 커패시터
110: 바디
111: 유전체층
112, 113: 마진 영역
115: 세라믹 적층체
116: 코팅층
120: 내부 전극 영역
121, 122: 내부 전극
131, 132: 외부전극100: stacked capacitor
110: body
111: dielectric layer
112, 113: margin area
115: ceramic laminate
116: coating layer
120: inner electrode area
121, 122: internal electrode
131, 132: external electrode
Claims (21)
상기 바디 외부에 형성되어 상기 내부 전극과 전기적으로 연결된 외부 전극;을 포함하며,
상기 바디는 중앙부와 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 상기 중앙부의 상부와 하부에 위치하는 커버부로 구분되며,
상기 바디에서 상기 커버부는 모서리가 곡면으로 형성되되 상기 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경(R)과 상기 바디의 두께(T)는 10um≤R≤T/4의 조건을 만족하며,
상기 복수의 내부 전극 중 상기 커버부에 배치된 것은 상기 중앙부에 배치된 것보다 폭이 좁으며 이들 중 적어도 일부는 양 단부의 중간 영역이 상기 곡면으로 형성된 모서리에 대응하는 영역에 배치된 적층형 커패시터.
A body including a stacked structure of a plurality of dielectric layers and a plurality of internal electrodes stacked with the dielectric layers interposed therebetween; And
And an external electrode formed outside the body and electrically connected to the internal electrode,
The body is divided into a central portion and a cover portion positioned above and below the central portion in a stacking direction of the plurality of dielectric layers,
In the body, the cover part has a curved edge, and the radius of curvature R of the curved edge and the thickness T of the body satisfy the condition of 10um≤R≤T/4,
Of the plurality of internal electrodes disposed on the cover part is narrower than that disposed in the central part, and at least some of them are disposed in a region in which intermediate regions of both ends correspond to the corners formed with the curved surface.
상기 복수의 내부 전극 중 상기 커버부에 배치된 것은 상기 바디의 표면에 가까이 배치된 것일수록 폭이 좁은 적층형 커패시터.
The method of claim 1,
Among the plurality of internal electrodes, those disposed on the cover portion have a narrower width as those disposed closer to the surface of the body.
상기 복수의 내부 전극은 각각 상기 바디의 서로 대향하는 제1면 및 제2면으로 노출된 제1 및 제2 내부 전극을 포함하며, 상기 복수의 내부 전극의 폭은 상기 제1면 및 제2면을 연결하는 방향과 상기 복수의 유전체층의 적층 방향에 수직인 방향의 폭인 적층형 커패시터.
The method of claim 1,
Each of the plurality of internal electrodes includes first and second internal electrodes exposed to a first surface and a second surface opposite to each other of the body, and the widths of the plurality of internal electrodes are the first and second surfaces. A multilayer capacitor having a width in a direction perpendicular to a direction in which is connected and a direction in which the plurality of dielectric layers are stacked.
상기 바디는 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 서로 대향하는 제3면 및 제4면, 그리고 상기 제1면 내지 제4면과 연결되고 서로 대향하는 제5면 및 제6면을 포함하는 적층형 커패시터.
The method of claim 3,
The body includes a third surface and a fourth surface facing each other in a stacking direction of the plurality of dielectric layers, and a fifth surface and a sixth surface connected to the first to fourth surfaces and facing each other.
상기 커버부에서 상기 제3면이 상기 제5면 및 제6면과 연결된 모서리들, 그리고 상기 제4면이 상기 제5면 및 제6면과 연결된 모서리들은 곡면으로 형성된 적층형 커패시터.
The method of claim 4,
In the cover part, corners of which the third surface is connected to the fifth and sixth surfaces, and corners of which the fourth surface is connected to the fifth and sixth surfaces are curved.
상기 바디 외부에 형성되어 상기 내부 전극과 전기적으로 연결된 외부 전극;을 포함하며,
상기 바디는 중앙부와 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 상기 중앙부의 상부와 하부에 위치하는 커버부로 구분되며,
상기 바디에서 상기 커버부는 모서리가 곡면으로 형성되되 상기 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경(R)과 상기 바디의 두께(T)는 10um≤R≤T/4의 조건을 만족하며,
상기 복수의 내부 전극은 각각 상기 바디의 서로 대향하는 제1면 및 제2면으로 노출된 제1 및 제2 내부 전극을 포함하며, 상기 복수의 내부 전극의 폭은 상기 제1면 및 제2면을 연결하는 방향과 상기 복수의 유전체층의 적층 방향에 수직인 방향의 폭이며,
상기 바디는 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 서로 대향하는 제3면 및 제4면, 그리고 상기 제1면 내지 제4면과 연결되고 서로 대향하는 제5면 및 제6면을 포함하며,
상기 커버부에서 상기 제3면이 상기 제5면 및 제6면과 연결된 모서리들, 그리고 상기 제4면이 상기 제5면 및 제6면과 연결된 모서리들은 곡면으로 형성되며,
상기 복수의 내부 전극 중 상기 커버부에 배치된 것은 상기 중앙부에 배치된 것보다 폭이 좁으며,
상기 바디의 표면에서 상기 복수의 내부 전극 중 가장 가까운 것까지의 거리를 마진이라 할 때,
상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진(δ)은 상기 제5면 및 제6면의 마진(Wg)보다 크거나 같은 적층형 커패시터.
A body including a stacked structure of a plurality of dielectric layers and a plurality of internal electrodes stacked with the dielectric layers interposed therebetween; And
And an external electrode formed outside the body and electrically connected to the internal electrode,
The body is divided into a central portion and a cover portion positioned above and below the central portion in a stacking direction of the plurality of dielectric layers,
In the body, the cover part has a curved edge, and the radius of curvature R of the curved edge and the thickness T of the body satisfy the condition of 10um≤R≤T/4,
Each of the plurality of internal electrodes includes first and second internal electrodes exposed to a first surface and a second surface opposite to each other of the body, and the widths of the plurality of internal electrodes are the first and second surfaces. It is a width in a direction perpendicular to a direction connecting to and a stacking direction of the plurality of dielectric layers,
The body includes a third surface and a fourth surface facing each other in a stacking direction of the plurality of dielectric layers, and a fifth surface and a sixth surface connected to the first to fourth surfaces and facing each other,
In the cover part, corners in which the third surface is connected to the fifth and sixth surfaces, and corners in which the fourth surface is connected to the fifth and sixth surfaces are formed as curved surfaces,
Among the plurality of internal electrodes disposed on the cover portion has a narrower width than that disposed on the central portion,
When the distance from the surface of the body to the nearest one of the plurality of internal electrodes is a margin,
A multilayer capacitor having a margin (δ) of a corner formed in a curved surface of the cover part is greater than or equal to the margins (Wg) of the fifth and sixth surfaces.
상기 δ 및 상기 Wg는 1≤δ/Wg≤1.2의 조건을 만족하는 적층형 커패시터.
The method of claim 6,
The δ and Wg are a multilayer capacitor that satisfies the condition of 1≦δ/Wg≦1.2.
상기 Wg는 0.5um≤Wg≤T/12의 조건을 만족하는 적층형 커패시터.
The method of claim 6,
The Wg is a multilayer capacitor satisfying the condition of 0.5um≤Wg≤T/12.
상기 Wg는 0.5um≤Wg≤15um의 조건을 만족하는 적층형 커패시터.
The method of claim 6,
The Wg is a multilayer capacitor that satisfies the condition of 0.5um≤Wg≤15um.
상기 제3면 및 제4면의 마진(Tg)은 Wg≤Tg의 조건을 만족하는 적층형 커패시터.
The method of claim 6,
A multilayer capacitor having a margin Tg of the third and fourth surfaces satisfying a condition of Wg≦Tg.
상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경(R)은 10um≤R≤60um의 조건을 만족하는 적층형 커패시터.
The method of claim 1,
A multilayer capacitor having a radius of curvature R of a corner formed in a curved surface in the cover part satisfying the condition of 10um≤R≤60um.
상기 바디의 커버부에 배치된 복수의 내부 전극의 단부를 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면은 곡면을 형성하며 이러한 곡면의 곡률은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률과 같은 적층형 커패시터.
The method of claim 1,
The virtual surface obtained by connecting the ends of the plurality of internal electrodes disposed on the cover portion of the body in the stacking direction of the plurality of dielectric layers forms a curved surface, and the curvature of the curved surface is the curvature of the corner formed in the cover portion The same stacked capacitor.
상기 바디의 커버부에 배치된 복수의 내부 전극의 단부를 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면은 곡면을 형성하며 이러한 곡면의 곡률 반경은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경보다 작은 적층형 커패시터.
The method of claim 1,
The virtual surface obtained by connecting the ends of the plurality of internal electrodes disposed on the cover portion of the body in the stacking direction of the plurality of dielectric layers forms a curved surface, and the radius of curvature of the curved surface is the curvature of the corner formed as a curved surface in the cover portion Stacked capacitors smaller than the radius.
상기 바디의 표면에서 상기 복수의 내부 전극 중 가장 가까운 것까지의 거리를 마진이라 할 때, 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경은 상기 가상의 면의 곡률 반경에 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진(δ)을 더한 것과 같은 적층형 커패시터.
The method of claim 13,
When the distance from the surface of the body to the nearest one of the plurality of internal electrodes is a margin, the radius of curvature of the corner formed as a curved surface in the cover part is the curvature radius of the virtual surface formed as a curved surface in the cover part. A stacked capacitor equal to the edge margin (δ).
상기 바디에서 상기 복수의 내부 전극을 감싸는 외곽 영역을 마진 영역이라 할 때 상기 유전체층의 치밀도는 상기 마진 영역이 나머지 영역보다 낮은 적층형 커패시터.
The method of claim 1,
When an outer region surrounding the plurality of internal electrodes in the body is referred to as a margin region, a density of the dielectric layer is lower than that of the remaining regions.
상기 마진 영역은 상기 유전체층이 서로 다른 치밀도를 갖는 적어도 2개의 층을 포함하며, 상기 적어도 2개의 층 중 상기 복수의 내부 전극에 인접한 것에서 상기 유전체층의 치밀도가 더 높은 적층형 커패시터.
The method of claim 15,
The margin region includes at least two layers in which the dielectric layers have different densities, and one of the at least two layers adjacent to the plurality of internal electrodes has a higher density of the dielectric layer.
상기 바디 외부에 형성되어 상기 내부 전극과 전기적으로 연결된 외부 전극;을 포함하며,
상기 바디는 중앙부와 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 상기 중앙부의 상부와 하부에 위치하는 커버부로 구분되며,
상기 바디에서 상기 커버부는 모서리가 곡면으로 형성되고,
상기 바디의 커버부에 배치된 복수의 내부 전극의 단부를 상기 복수의 유전체층의 적층 방향으로 연결하여 얻어진 가상의 면은 곡면을 형성하며,
상기 가상의 면을 형성하는 복수의 내부 전극 중 적어도 일부는 양 단부의 중간 영역이 상기 곡면으로 형성된 모서리에 대응하는 영역에 배치된 적층형 커패시터.
A body including a stacked structure of a plurality of dielectric layers and a plurality of internal electrodes stacked with the dielectric layers interposed therebetween; And
And an external electrode formed outside the body and electrically connected to the internal electrode,
The body is divided into a central portion and a cover portion positioned above and below the central portion in a stacking direction of the plurality of dielectric layers,
In the body, the cover part has a curved edge,
A virtual surface obtained by connecting ends of a plurality of internal electrodes disposed in the cover portion of the body in the stacking direction of the plurality of dielectric layers forms a curved surface,
At least some of the plurality of internal electrodes forming the virtual surface are disposed in a region in which intermediate regions of both ends correspond to the corners formed with the curved surface.
상기 가상의 면과 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리는 서로 마주보는 형태인 적층형 커패시터.
The method of claim 17,
A multilayer capacitor in which the virtual surface and the curved edge of the cover part face each other.
상기 가상의 면의 곡률은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률과 같은 적층형 커패시터.
The method of claim 17,
The curvature of the virtual surface is the same as the curvature of an edge formed as a curved surface in the cover part.
상기 가상의 면의 곡률 반경은 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경보다 작은 적층형 커패시터.
The method of claim 17,
A multilayer capacitor having a radius of curvature of the virtual surface smaller than a radius of curvature of a corner formed as a curved surface in the cover part.
상기 바디의 표면에서 상기 복수의 내부 전극 중 가장 가까운 것까지의 거리를 마진이라 할 때, 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 곡률 반경은 상기 가상의 면의 곡률 반경에 상기 커버부에서 곡면으로 형성된 모서리의 마진(δ)을 더한 것과 같은 적층형 커패시터.The method of claim 20,
When the distance from the surface of the body to the nearest one of the plurality of internal electrodes is a margin, the radius of curvature of the corner formed as a curved surface in the cover part is the curvature radius of the virtual surface formed as a curved surface in the cover part. A stacked capacitor equal to the edge margin (δ).
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