KR102161535B1 - 표시 장치 및 이의 구동 방법 - Google Patents
표시 장치 및 이의 구동 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR102161535B1 KR102161535B1 KR1020140127599A KR20140127599A KR102161535B1 KR 102161535 B1 KR102161535 B1 KR 102161535B1 KR 1020140127599 A KR1020140127599 A KR 1020140127599A KR 20140127599 A KR20140127599 A KR 20140127599A KR 102161535 B1 KR102161535 B1 KR 102161535B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- data
- memory
- master
- slave
- block
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2320/00—Control of display operating conditions
- G09G2320/04—Maintaining the quality of display appearance
- G09G2320/043—Preventing or counteracting the effects of ageing
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2360/00—Aspects of the architecture of display systems
- G09G2360/16—Calculation or use of calculated indices related to luminance levels in display data
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C16/00—Erasable programmable read-only memories
- G11C16/02—Erasable programmable read-only memories electrically programmable
- G11C16/06—Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
- G11C16/34—Determination of programming status, e.g. threshold voltage, overprogramming or underprogramming, retention
- G11C16/3436—Arrangements for verifying correct programming or erasure
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
Abstract
표시 장치는 복수의 화소들을 구비한 표시 패널, 화소들에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부, 화소들에 데이터 신호를 공급하는 데이터 구동부, 복수의 메모리 세트들을 구비하는 비휘발성 메모리, 및 화소들의 열화 데이터를 메모리 세트들에 중복하여 저장하고, 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터를 보상함으로써 출력 영상 데이터를 생성하며, 출력 영상 데이터에 상응하는 제어 신호를 공급함으로써 스캔 구동부 및 데이터 구동부를 제어하는 제어부를 포함한다.
Description
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 비휘발성 메모리에 화소들의 열화 데이터를 저장하는 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법에 관한 것이다.
유기 발광 다이오드는 양극으로부터 제공되는 정공들과 음극으로부터 제공되는 전자들이 양극 및 음극 사이의 발광층에서 결합하여 발광한다. 유기 발광 다이오드를 사용하면, 시야각이 넓고, 응답속도가 빠르며, 두께가 얇고, 전력소모가 낮은 표시 장치를 구현할 수 있다.
유기 발광 다이오드를 포함하는 유기 발광 표시 장치는 시간이 경과함에 따라 구동 시간 및 구동 전류량에 상응하여 유기 발광 다이오드 및 구동 트랜지스터의 열화 현상이 발생한다. 유기 발광 다이오드가 열화되면 표시 장치의 휘도가 저하되고, 유기 발광 다이오드들의 열화 정도의 차이에 의해 표시 품질이 저하된다. 휘도 저하 및 표시 품질의 저하 현상을 방지하기 위해 열화를 보상하는 다양한 방법들이 연구되고 있다. 고해상도를 지원하는 표시 패널에서는 화소들의 열화 데이터를 저장하기 위해 비교적 큰 메모리가 필요하므로 제조 비용이 증가하고, 비정상적인 종료로 인해 열화 데이터가 손실되는 문제점이 발생한다.
본 발명의 일 목적은 비휘발성 메모리에 열화 데이터를 안정적으로 저장할 수 있는 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 상기 표시 장치의 구동 방법을 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상기 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시예들에 따른 표시장치는 복수의 화소들을 구비한 표시 패널, 상기 화소들에 스캔 신호를 공급하는 스캔 구동부, 상기 화소들에 데이터 신호를 공급하는 데이터 구동부, 복수의 메모리 세트들을 구비하는 비휘발성 메모리, 및 상기 화소들의 열화 데이터를 상기 메모리 세트들에 중복하여 저장하고, 상기 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터를 보상함으로써 출력 영상 데이터를 생성하며, 상기 출력 영상 데이터에 상응하는 제어 신호를 공급함으로써 상기 스캔 구동부 및 상기 데이터 구동부를 제어하는 제어부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 메모리 세트들 각각은 상기 열화 데이터를 블록 단위로 구분한 블록 데이터를 저장하는 블록 데이터부, 및 상기 블록 데이터가 저장되는 위치를 나타내는 블록 카운트를 저장하는 블록 카운트부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블록 데이터부는 상기 블록 데이터의 무결성을 검증하기 위한 제1 검증 데이터를 저장하고, 상기 블록 카운트부는 상기 블록 카운트의 무결성을 검증하기 위한 제2 검증 데이터를 저장할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 제1 검증 데이터 및 제2 검증 데이터는 패리티(parity) 검사 방법, 체크썸(checksum) 검사 방법, 및 순환 중복 검사 방법(cyclic redundancy check; CRC) 중 어느 하나를 이용하여 생성될 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제어부는 상기 메모리 세트들 각각에 상기 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장한 후, 상기 제1 검증 데이터 및 상기 제2 검증 데이터를 이용하여 상기 저장된 블록 카운트 및 상기 저장된 블록 데이터의 무결성을 검증할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제어부는 상기 표시 패널이 구동되는 동안 상기 열화 데이터를 저장하는 휘발성 메모리, 및 상기 표시 패널의 초기 구동 시 상기 비휘발성 메모리로부터 상기 열화 데이터를 독출하여 상기 휘발성 메모리에 로드하고, 상기 입력 영상 데이터를 이용하여 상기 휘발성 메모리에 저장된 상기 열화 데이터를 갱신하는 열화 데이터 제어부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 데이터 제어부는 상기 휘발성 메모리에 저장된 상기 열화 데이터를 상기 비휘발성 메모리에 주기적으로 저장할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제어부는 상기 휘발성 메모리에 저장된 상기 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터를 보상함으로써 출력 영상 데이터를 생성하는 열화 보상부를 더 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 비휘발성 메모리는 상기 화소들의 상기 열화 데이터를 시간 경과에 따라 누적하여 저장할 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여, 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 복수의 화소들을 구비한 표시 패널, 복수의 메모리 세트들을 구비하는 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 메모리 그룹들을 포함하는 비휘발성 메모리, 및 상기 화소들의 열화 데이터를 상기 제1 내지 제n 메모리 그룹들 중 하나에 포함된 상기 메모리 세트들 각각에 중복하여 저장하고, 상기 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터를 보상함으로써 출력 영상 데이터를 생성하며, 상기 화소들에 상기 출력 영상 데이터에 상응하는 출력 신호들을 인가하는 제1 내지 제n 통합 구동부들을 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 내지 제n 통합 구동부들 중 적어도 하나는 상기 비휘발성 메모리의 동작 여부를 확인하기 위한 상태 레지스터를 더 포함하고, 상기 제1 내지 제n 통합 구동부들은 상기 상태 레지스터를 이용하여 서로 다른 시점에서 상기 비휘발성 메모리에 상기 열화 데이터를 저장할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 메모리 세트들 각각은 상기 열화 데이터를 블록 단위로 구분한 블록 데이터를 저장하는 블록 데이터부, 및 상기 블록 데이터가 저장되는 위치를 나타내는 블록 카운트를 저장하는 블록 카운트부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 블록 데이터부는 상기 블록 데이터의 무결성을 검증하기 위한 제1 검증 데이터를 저장하고, 상기 블록 카운트부는 상기 블록 카운트의 무결성을 검증하기 위한 제2 검증 데이터를 저장할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 내지 제n 메모리 그룹 중 제k(단, k는 1이상 n이하의 정수) 메모리 그룹은 마스터 메모리 세트 및 슬레이브 메모리 세트를 포함하고, 상기 제1 내지 제n 통합 구동부 중 제k 통합 구동부는 상기 열화 데이터를 상기 제k 메모리 그룹에 포함된 상기 마스터 메모리 세트 및 상기 슬레이브 메모리 세트에 순차적으로 저장할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 내지 제n 통합 구동부 각각은 상기 표시 패널이 구동되는 동안 상기 열화 데이터를 저장하는 휘발성 메모리, 및 상기 표시 패널의 초기 구동 시 상기 비휘발성 메모리로부터 상기 열화 데이터를 독출하여 상기 휘발성 메모리에 로드하고, 상기 입력 영상 데이터를 이용하여 상기 휘발성 메모리에 저장된 상기 열화 데이터를 갱신하는 열화 데이터 제어부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 열화 데이터 제어부는 상기 휘발성 메모리에 저장된 상기 열화 데이터를 상기 비휘발성 메모리에 주기적으로 저장할 수 있다.
본 발명의 다른 목적을 달성하기 위하여, 발명의 실시예들에 따른 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 통합 구동부가 제1 내지 제n 메모리 그룹들을 포함하는 비휘발성 메모리에 화소의 열화 데이터를 주기적으로 저장하고, 상기 열화 데이터를 이용하여 영상 데이터를 보상하는 표시 장치의 구동 방법은 상태 레지스터를 이용하여 상기 비휘발성 메모리의 동작 여부를 확인하는 단계, 상기 비휘발성 메모리의 동작하지 않는 경우, 상기 상태 레지스터를 동작 모드로 설정하는 단계, 제k (단, k는 1이상 n이하의 정수) 통합 구동부가 제k 메모리 그룹에 포함된 마스터 메모리 세트 및 적어도 하나의 슬레이브 메모리 세트로부터 상기 열화 데이터를 블록 단위로 구분한 블록 데이터가 저장되는 위치를 나타내는 마스터 블록 카운트 및 슬레이브 블록 카운트를 독출하고 증가시키는 단계, 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹에 포함된 상기 마스터 메모리 세트에 상기 증가된 마스터 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계, 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹에 포함된 상기 슬레이브 메모리 세트에 상기 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계, 및 상기 상태 레지스터를 대기 모드로 설정하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 마스터 블록 카운트 및 상기 슬레이브 블록 카운트를 독출하고 증가시키는 단계는 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 카운트부으로부터 상기 마스터 블록 카운트를 독출하고 무결성을 검사하는 단계, 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 카운트부으로부터 상기 슬레이브 블록 카운트를 독출하고 무결성을 검사하는 단계, 및 무결성이 검사된 상기 마스터 블록 카운트 및 상기 슬레이브 블록 카운트를 증가시키는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 마스터 메모리 세트에 상기 증가된 마스터 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계는 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 카운트부에 상기 증가된 마스터 블록 카운트를 저장하는 단계, 상기 제k 통합 구동부가 상기 마스터 블록 카운트부에 저장된 상기 마스터 블록 카운트의 무결성을 검사하는 단계, 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 데이터부에 상기 블록 데이터를 저장하는 단계, 및 상기 제k 통합 구동부가 상기 마스터 블록 데이터부에 저장된 상기 블록 데이터의 무결성을 검사하는 단계를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 슬레이브 메모리 세트에 상기 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계는 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 카운트부에 상기 증가된 슬레이브 블록 카운트를 저장하는 단계, 상기 제k 통합 구동부가 상기 슬레이브 블록 카운트부에 저장된 상기 슬레이브 블록 카운트의 무결성을 검사하는 단계, 상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 데이터부에 상기 블록 데이터를 저장하는 단계, 및 상기 제k 통합 구동부가 상기 슬레이브 블록 데이터부에 저장된 상기 블록 데이터의 무결성을 검사하는 단계를 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치는 비휘발성 메모리에 화소들의 열화 데이터를 중복하여 저장하고, 블록 카운트 및 블록 데이터에 대한 무결성을 검사함으로써 시간 경과에 따른 열화 데이터를 안정적으로 저장할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법은 복수의 통합 구동부들이 하나의 비휘발성 메모리를 이용하여 열화 데이터를 저장함으로써, 열화 데이터를 안정적으로 저장하고 제조 비용을 절감시킬 수 있다.
다만, 본 발명의 효과는 상기 효과들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 제어부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 비휘발성 메모리의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 5는 도 4의 표시 장치에 포함된 통합 구동부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 4의 표시 장치에 포함된 비휘발성 메모리의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 8은 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 블록 카운트를 독출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 마스터 메모리 세트에 열화 데이터를 저장하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 슬레이브 메모리 세트에 열화 데이터를 저장하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 제어부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 비휘발성 메모리의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 5는 도 4의 표시 장치에 포함된 통합 구동부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6은 도 4의 표시 장치에 포함된 비휘발성 메모리의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 8은 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 블록 카운트를 독출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9는 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 마스터 메모리 세트에 열화 데이터를 저장하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 10은 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 슬레이브 메모리 세트에 열화 데이터를 저장하는 일 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 실시예들을 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성 요소에 대해서는 동일하거나 유사한 참조 부호를 사용한다.
도 1은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 일 예를 나타내는 블록도이다.
도 1을 참조하면, 표시 장치(1000A)는 표시 패널(100), 스캔 구동부(200), 데이터 구동부(300), 제어부(400), 및 비휘발성 메모리(600A)를 포함할 수 있다.
표시 패널(100)은 영상을 표시하는 복수의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 표시 패널(100)은 복수의 스캔 라인들(SL1 내지 SLn)을 통해 스캔 구동부(200)와 연결될 수 있다. 표시 패널(100)은 복수의 데이터 라인들(DL1 내지 DLn)을 통해 데이터 구동부(300)와 연결될 수 있다. 표시 패널(100)은 스캔 라인들(SL1 내지 SLn) 및 데이터 라인들(DL1 내지 DLn)의 교차부마다 위치되는 n*m 개의 화소(PX)들을 포함할 수 있다.
스캔 구동부(200)는 복수의 스캔 라인들(SL1 내지 SLn)을 통해 복수의 화소(PX)들 각각에 스캔 신호를 공급할 수 있다.
데이터 구동부(200)는 복수의 데이터 라인들(DL1 내지 DLn)을 통해 복수의 화소(PX)들 각각에 데이터 신호를 공급할 수 있다.
제어부(400)는 화소(PX)들의 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600A)에 저장할 수 있다. 여기서, 열화 데이터는 화소(PX)들의 열화를 보상하기 위한 다양한 데이터를 포함할 수 있다. 예를 들어, 열화 데이터는 화소(PX)들 각각에 대한 누적 구동량, 누적 구동 시간 등을 포함할 수 있다.
제어부(400)는 갑작스러운 전원 오프 등 비정상적인 종료로 인한 열화 데이터의 손실을 방지하기 위해 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600A)에 포함된 복수의 메모리 세트들에 중복하여 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 제어부(400)는 메모리 세트들 각각에 열화 데이터를 저장한 후, 검증 데이터를 이용하여 열화 데이터의 무결성을 검증할 수 있다. 예를 들어, 제어부(400)는 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600A)에 저장할 때, 열화 데이터의 무결성을 검증하기 위해, 패리티 검사 방법을 이용한 검증 데이터를 함께 저장함으로써, 열화 데이터의 무결성을 검증할 수 있다.
제어부(400)는 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터(DATA)를 보상함으로써 출력 영상 데이터(DATA1)를 생성할 수 있다. 즉, 제어부(400)는 화소(PX)들의 열화를 보상하고, 화소(PX)들의 휘도 편차를 줄이기 위해 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터(DATA)를 보상할 수 있다.
또한, 제어부(400)는 타이밍 제어부를 포함하여 출력 영상 데이터(DATA1)에 상응하는 제어 신호(CTL1, CTL2)를 공급함으로써 스캔 구동부(200) 및 데이터 구동부(300)를 제어할 수 있다. 표시 장치(1000A)에 포함된 제어부(400)에 대해서는 도 2를 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
비휘발성 메모리(600A)는 열화 데이터를 중복적으로 저장하기 위해 복수의 메모리 세트들을 포함할 수 있다. 비휘발성 메모리(600A)는 제어부(400)의 외부에 위치할 수 있다. 비휘발성 메모리(600A)는 전원이 공급되지 않는 상태에서 데이터를 보존할 수 있으며, 가격이 비교적 저렴하고 대용량을 저장할 수 있는 특징이 있다. 예를 들어, 비휘발성 메모리(600A)는 플래시 메모리(Flash Memory), EPROM(Erasable Programmable Read-Only Memory), EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory), PRAM(Phase Change Random Access Memory), RRAM(Resistance Random Access Memory), NFGM(Nano Floating Gate Memory), PoRAM(Polymer Random Access Memory), MRAM(Magnetic Random Access Memory), FRAM(Ferroelectric Random Access Memory) 등을 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 비휘발성 메모리(600A)는 화소(PX)들의 열화 데이터를 시간 경과에 따라 누적하여 저장할 수 있다. 시간 경과에 따라 누적하여 저장된 열화 데이터는 손상된 열화 데이터를 복구하거나, 표시 패널(100)의 성능 향상을 위한 용도로 사용될 수 있다. 표시 장치(1000A)에 포함된 비휘발성 메모리(600A)에 대해서는 도 3을 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
이 밖에도, 유기 발광 표시 장치(1000A)는 고전원전압 및 저전원전압을 표시 패널(100)에 공급하는 전원공급부, 에미션 신호를 복수의 화소(PX)들 각각에 공급하는 에미션 구동부 등을 더 포함할 수 있다.
도 2는 도 1의 표시 장치에 포함된 제어부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 2를 참조하면, 제어부(400)는 열화 데이터 제어부(420), 휘발성 메모리(440), 열화 보상부(460), 및 타이밍 제어부(480)을 포함할 수 있다.
열화 데이터 제어부(420)는 표시 패널의 초기 구동 시 비휘발성 메모리(600A)로부터 열화 데이터를 독출하여 휘발성 메모리(440)에 로드할 수 있다. 비휘발성 메모리(600A)는 휘발성 메모리(440)에 비해 속도가 느리므로, 표시 패널의 구동 시 열화 보상을 위해 입력 영상 데이터(DATA)을 조정을 위해 직접 접근하기 어려울 수 있다. 따라서, 열화 데이터 제어부(420)는 비휘발성 메모리(600A)로부터 열화 데이터를 독출하여 휘발성 메모리(440)에 로드하고, 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터(DATA)를 처리할 수 있다.
또한, 열화 데이터 제어부(420)는 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터를 갱신할 수 있다. 표시 패널이 구동될 때, 열화 데이터는 실시간으로 업데이트될 필요가 있다. 따라서, 열화 데이터 제어부(420)는 입력 영상 데이터(DATA)를 이용하여 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터를 갱신할 수 있다. 예를 들면, 열화 데이터 제어부(420)는 입력 영상 데이터(DATA)에 포함된 화소들 각각에 대한 구동량을 이용하여 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터를 갱신할 수 있다. 이와 같이, 열화 데이터 제어부(420)는 비휘발성 메모리(600A) 및 휘발성 메모리(440)의 메모리 컨트롤러 역할을 수행함으로써, 별도의 메모리 컨트롤러를 구비하지 않고 고해상도 표시 장치의 대용량 열화 데이터를 효율적으로 처리할 수 있다.
열화 데이터 제어부(420)는 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600A)에 저장할 수 있다. 휘발성 메모리(440)는 전원이 공급되지 않는 상태에서 저장된 데이터를 보존할 수 없다. 따라서, 열화 데이터 제어부(420)는 갱신된 열화 데이터를 손실하지 않기 위해 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600A)에 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 열화 데이터 제어부(420)는 휘발성 메모리(600A)에 저장된 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600A)에 주기적으로 저장할 수 있다. 다른 실시예에서, 열화 데이터 제어부(420)는 표시 패널의 구동이 종료되는 시점에서 휘발성 메모리(600A)에 저장된 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600A)에 저장할 수 있다.
휘발성 메모리(440)는 표시 패널이 구동되는 동안 열화 데이터를 저장할 수 있다. 비휘발성 메모리(600A)는 전원이 공급되지 않는 상태에서는 데이터를 보존할 수 없지만, 데이터를 상대적으로 빠른 속도로 처리할 수 있는 특징이 있다. 따라서, 표시 패널이 구동되는 동안 휘발성 메모리(440)에 열화 데이터가 저장되고, 입력 영상 데이터(DATA)에 대한 열화 보상이 수행될 수 있다. 예를 들어, 휘발성 메모리(440)는 DRAM(Dynamic Random Access Memory), SRAM(Static Random Access Memory), 모바일 DRAM 등을 포함할 수 있다.
열화 보상부(460)는 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터(DATA)를 보상함으로써 출력 영상 데이터(DATA1)를 생성할 수 있다. 일 실시예에서, 열화 보상부(460)는 휘발성 메모리(440)에 저장된 열화 데이터에서 화소들의 누적 구동량을 독출하고, 룩업 테이블(look-up table)(700)을 이용하여 누적 구동량에 상응하는 출력 영상 데이터(DATA1)를 생성할 수 있다.
타이밍 제어부(480)는 출력 영상 데이터(DATA1)에 상응하는 영상을 표시하기 위한 제어 신호(CTL1, CTL2)를 공급함으로써 스캔 구동부 및 데이터 구동부를 제어할 수 있다.
도 3은 도 1의 표시 장치에 포함된 비휘발성 메모리의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 3을 참조하면, 비휘발성 메모리(600A)는 복수의 메모리 세트들을 포함할 수 있다. 예를 들어, 비휘발성 메모리(600A)는 제1 메모리 세트(620) 및 제2 메모리 세트(640)를 포함할 수 있다. 제1 메모리 세트(620) 및 제2 메모리 세트(640) 각각은 블록 카운트부(622, 642) 및 블록 데이터부(624, 644)를 포함할 수 있다.
블록 카운트부(622, 642)는 블록 데이터가 저장되는 위치를 나타내는 블록 카운트 및 블록 카운트의 무결성을 검증하기 위한 제2 검증 데이터를 저장할 수 있다. 따라서, 블록 카운트부(622, 642)는 <블록 카운트, 제2 검증 데이터> 의 집합을 저장할 수 있다.
블록 데이터부(624, 644)는 열화 데이터를 블록 단위로 구분한 블록 데이터 및 블록 데이터의 무결성을 검증하기 위한 제1 검증 데이터를 저장할 수 있다. 따라서, 블록 데이터부(624, 644)는 <블록 데이터, 제1 검증 데이터> 의 집합을 저장할 수 있다. 여기서, 블록 데이터는 비휘발성 메모리(600A)의 읽기 또는 쓰기의 기본 단위에 상응하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 비휘발성 메모리(600A)가 낸드 플래시 메모리인 경우, 블록 데이터는 비휘발성 메모리(600A)의 읽기 동작과 쓰기 동작의 기본 단위인 블록 단위의 데이터일 수 있다.
제1 메모리 세트(620)와 제2 메모리 세트(640)에는 동일한 열화 데이터가 중복하여 저장될 수 있다. 일 실시예에서, 제1 메모리 세트(620)는 마스터 메모리 세트의 역할을 하고, 제2 메모리 세트(640)는 제1 메모리 세트(620)를 미러링(mirroring)하는 슬레이브 메모리 세트 역할을 할 수 있다.
또한, 제1 메모리 세트(620)와 제2 메모리 세트(640)에 저장된 블록 데이터 및 블록 카운트는 제1 검증 데이터 및 제2 검증 데이터를 이용하여 무결성을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 검증 데이터 및 제2 검증 데이터는 패리티(parity) 검사 방법, 체크썸(checksum) 검사 방법, 및 순환 중복 검사 방법(cyclic redundancy check; CRC) 중 어느 하나를 이용하여 생성될 수 있다.
따라서, 갑작스러운 전원 오프 등 비정상적인 종료로 인해 비휘발성 메모리(600A)에 열화 데이터가 정상적으로 저장되지 못한 경우, 제1 메모리 세트(620)와 제2 메모리 세트(640) 중 검증 데이터에 의해 무결성이 확인된 데이터를 사용할 수 있으므로, 비휘발성 메모리(600A)는 열화 데이터를 안정적으로 저장할 수 있다.
도 4는 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 다른 예를 나타내는 블록도이다.
도 4를 참조하면, 표시 장치(1000B)는 표시 패널(100), 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 통합 구동부들(500-1 내지 500-n), 및 비휘발성 메모리(600B)를 포함할 수 있다.
표시 패널(100)은 영상을 표시하는 복수의 화소들을 포함할 수 있다. 표시 패널(100)은 복수의 구동 라인들을 통해 제1 내지 제n 통합 구동부들(500-1 내지 500-n)과 연결될 수 있다.
제1 내지 제n 통합 구동부들(500-1 내지 500-n) 각각은 갑작스러운 전원 오프 등 비정상적인 종료로 인한 열화 데이터의 손실을 방지하기 위해 화소들의 열화 데이터를 제1 내지 제n 메모리 그룹들 중 하나에 포함된 메모리 세트들 각각에 중복하여 저장할 수 있다. 예를 들어, 제k(단, k는 1이상 n이하의 정수) 통합 구동부는 제k 통합 구동부의 출력 신호에 상응하는 화소들의 열화 데이터를 제k 메모리 그룹에 포함된 메모리 세트들 각각에 중복하여 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹에 포함된 메모리 세트들 각각에 열화 데이터를 저장한 후, 검증 데이터를 이용하여 열화 데이터의 무결성을 검증할 수 있다. 예를 들어, 제k 통합 구동부는 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600B)에 저장할 때, 열화 데이터의 무결성을 검증하기 위해, 패리티 검사 방법을 이용한 검증 데이터를 함께 저장함으로써, 열화 데이터의 무결성을 검증할 수 있다.
또한, 제1 내지 제n 통합 구동부들(500-1 내지 500-n) 각각은 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터(DATA)를 보상함으로써 출력 영상 데이터를 생성할 수 있다. 즉, 제1 내지 제n 통합 구동부들(500-1 내지 500-n) 각각은 화소들의 열화를 보상하고, 화소들의 휘도 편차를 줄이기 위해 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터(DATA)를 보상할 수 있다.
또한, 제1 내지 제n 통합 구동부들(500-1 내지 500-n) 각각은 화소들에 출력 영상 데이터에 상응하는 출력 신호들을 인가할 수 있다. 표시 장치(1000B)에 포함된 제1 내지 제n 통합 구동부들(500-1 내지 500-n) 에 대해서는 도 5를 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
비휘발성 메모리(600B)는 제1 내지 제n 메모리 그룹들을 포함할 수 있다. 제1 내지 제n 통합 구동부는 각각 제1 내지 제n 메모리 그룹들에 열화 데이터를 저장할 수 있다. 제1 내지 제n 메모리 그룹들 각각은 복수의 메모리 세트들을 구비할 수 있다. 비휘발성 메모리(600B)는 제1 내지 제n 통합 구동부의 외부에 위치할 수 있다.
일 실시예에서, 제k 메모리 그룹은 마스터 메모리 세트 및 슬레이브 메모리 세트를 포함하고, 제k 통합 구동부는 열화 데이터를 제k 메모리 그룹에 포함된 마스터 메모리 세트 및 슬레이브 메모리 세트에 순차적으로 저장할 수 있다. 따라서, 제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹에 열화 데이터를 미러링하여 저장함으로써 데이터를 안정적으로 저장할 수 있다.
일 실시예에서, 비휘발성 메모리(600B)는 화소들의 열화 데이터를 시간 경과에 따라 누적하여 저장할 수 있다. 시간 경과에 따라 누적하여 저장된 열화 데이터는 손상된 열화 데이터를 복구하거나, 표시 패널(100)의 성능 향상을 위한 용도로 사용될 수 있다. 표시 장치(1000B)에 포함된 비휘발성 메모리(600B)에 대해서는 도 6을 참조하여 자세히 설명하기로 한다.
도 5는 도 4의 표시 장치에 포함된 통합 구동부의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 제k(단, k는 1이상 n이하의 정수) 통합 구동부(500-k)는 열화 데이터 제어부(520), 휘발성 메모리(540), 열화 보상부(560), 및 구동 제어부(580)을 포함할 수 있다.
다만, 본 실시예에 따른 제k 통합 구동부(500-k)에 포함된 열화 데이터 제어부(520), 휘발성 메모리(540), 및 열화 보상부(560)는 도 2의 제어부에 포함된 열화 데이터 제어부, 휘발성 메모리, 및 열화 보상부와 실질적으로 동일하므로, 동일 또는 유사한 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 사용하고, 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
일 실시예에서, 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 통합 구동부들 중 적어도 하나는 비휘발성 메모리(600B)의 동작 여부를 확인하기 위한 상태 레지스터(590)를 더 포함할 수 있다. 제1 내지 제n 통합 구동부들은 상태 레지스터(590)를 이용하여 서로 다른 시점에서 비휘발성 메모리(600B)에 열화 데이터를 저장할 수 있다. 예를 들면, 복수의 통합 구동부들이 비휘발성 메모리(600B)에 동시에 접근하여 열화 데이터를 기록하는 것을 방지하기 위해 제1 통합 구동부는 상태 레지스터(590)를 포함할 수 있다. 즉, 각각의 통합 구동부들은 비휘발성 메모리(600B)에 대한 메모리 컨트롤러 역할을 할 수 있고, 상태 레지스터(590)를 이용하여 복수의 통합 구동부들이 하나의 비휘발성 메모리(600B)를 안정적으로 공유하여 사용할 수 있다. 예를 들면, 상태 레지스터(590)는 비휘발성 메모리(600B)의 동작 여부를 확인하기 위한 플레그(flag)를 저장하거나, 각각의 통합 구동부들이 동작하는지 여부를 확인하기 위한 플레그(flag)를 저장할 수 있다.
열화 데이터 제어부(520)는 표시 패널의 초기 구동 시 비휘발성 메모리(600B)로부터 열화 데이터를 독출하여 휘발성 메모리(540)에 로드할 수 있다. 열화 데이터 제어부(520)는 휘발성 메모리(540)에 저장된 열화 데이터를 갱신할 수 있다. 열화 데이터 제어부(520)는 갱신된 열화 데이터를 손실하지 않기 위해 휘발성 메모리(540)에 저장된 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600B)에 저장할 수 있다. 일 실시예에서, 열화 데이터 제어부(520)는 휘발성 메모리(600B)에 저장된 열화 데이터를 비휘발성 메모리(600B)에 주기적으로 저장할 수 있다.
휘발성 메모리(540)는 표시 패널이 구동되는 동안 열화 데이터를 저장할 수 있다.
열화 보상부(560)는 휘발성 메모리(540)에 저장된 열화 데이터를 이용하여 입력 영상 데이터(DATA)를 보상함으로써 출력 영상 데이터(DATA1)를 생성할 수 있다.
구동 제어부(580)는 화소들에 출력 영상 데이터(DATA1) 및 출력 영상 데이터(DATA1)에 상응하는 제어 신호들을 인가할 수 있다. 예를 들면, 구동 제어부(580)는 타이밍 제어부 및 데이터 구동부가 통합될 수 있다. 구동 제어부(580)는 화소들에 데이터 신호를 공급하고, 스캔 구동부에 제어 신호를 공급할 수 있다.
도 6은 도 4의 표시 장치에 포함된 비휘발성 메모리의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 비휘발성 메모리(600B)는 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 메모리 그룹들(610-1 내지 610-n)을 포함할 수 있다. 제1 내지 제n 통합 구동부 각각은 제1 내지 제n 메모리 그룹들(610-1 내지 610-n)중 하나를 이용하여 열화 데이터를 저장할 수 있다. 제1 내지 제n 메모리 그룹들(610-1 내지 610-n) 각각은 복수의 메모리 세트들을 구비할 수 있다. 일 실시예에서, 제k(단, k는 1이상 n이하의 정수) 통합 구동부는 제k 메모리 그룹을 이용하여 열화 데이터를 중복하여 저장하고, 제k 메모리 그룹은 제k 마스터 메모리 세트와 제k 슬레이브 메모리 세트를 포함할 수 있다.
예를 들어, 제1 마스터 메모리 세트(620-1)는 제1 마스터 블록 카운트부(622-1) 및 제1 마스터 블록 데이터부(624-1)를 포함할 수 있다. 제1 슬레이브 메모리 세트(640-1)는 제1 슬레이브 블록 카운트부(642-1) 및 제1 슬레이브 블록 데이터부(644-1)를 포함할 수 있다.
제1 마스터 블록 카운트부(642-1) 및 제1 슬레이브 블록 카운트부(642-1)는 블록 데이터가 저장되는 위치를 나타내는 블록 카운트 및 블록 카운트의 무결성을 검증하기 위한 제2 검증 데이터를 저장할 수 있다. 따라서, 제1 마스터 블록 카운트부(642-1) 및 제1 슬레이브 블록 카운트부(642-1)는 <블록 카운트, 제2 검증 데이터> 의 집합을 저장할 수 있다.
제1 마스터 블록 데이터부(624-1) 및 제1 슬레이브 블록 데이터부(644-1)는 열화 데이터를 블록 단위로 구분한 블록 데이터 및 블록 데이터의 무결성을 검증하기 위한 제1 검증 데이터를 저장할 수 있다. 따라서, 제1 마스터 블록 데이터부(624-1) 및 제1 슬레이브 블록 데이터부(644-1)는 <블록 데이터, 제1 검증 데이터> 의 집합을 저장할 수 있다. 여기서, 블록 데이터는 비휘발성 메모리(600B)의 읽기 또는 쓰기의 기본 단위에 상응하여 결정될 수 있다. 예를 들어, 비휘발성 메모리(600B)가 낸드 플래시 메모리인 경우, 블록 데이터는 비휘발성 메모리(600B)의 읽기 동작과 쓰기 동작의 기본 단위인 블록 단위의 데이터일 수 있다.
제1 마스터 메모리 세트(620-1)와 제1 슬레이브 메모리 세트(640-1)에는 동일한 열화 데이터가 중복하여 저장될 수 있다. 예를 들어, 제1 슬레이브 메모리 세트(640-1)는 제1 마스터 메모리 세트(620-1)를 미러링(mirroring)할 수 있다.
또한, 제1 마스터 메모리 세트(620-1)와 제1 슬레이브 메모리 세트(640-1)에 저장된 블록 데이터 및 블록 카운트는 제1 검증 데이터 및 제2 검증 데이터를 이용하여 무결성을 확인할 수 있다. 일 실시예에서, 제1 검증 데이터 및 제2 검증 데이터는 패리티 검사 방법, 체크썸 검사 방법, 및 순환 중복 검사 방법 중 어느 하나를 이용하여 생성될 수 있다.
따라서, 갑작스러운 전원 오프 등 비정상적인 종료로 인해 비휘발성 메모리(600B)에 열화 데이터가 정상적으로 저장되지 못한 경우, 제k 통합 구동부는 제k 마스터 메모리 세트와 제k 슬레이브 메모리 세트 중 검증 데이터에 의해 무결성이 확인된 데이터를 사용할 수 있으므로, 비휘발성 메모리(600B)는 열화 데이터를 안정적으로 저장할 수 있다. 또한, 복수의 통합 구동부들이 하나의 비휘발성 메모리(600B)를 이용하여 열화 데이터를 저장함으로써 표시 장치의 제조 비용을 절감시킬 수 있다.
비록, 도 6에서는 제k 메모리 그룹은 제k 마스터 메모리 세트와 제k 슬레이브 메모리 세트를 구비하는 것으로 설명하였으나, 제k 메모리 그룹은 2개 이상의 메모리 세트들을 포함할 수 있다.
도 7은 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 7을 참조하면, 상태 레지스터를 이용하여 비휘발성 메모리의 동작 여부가 확인(S100)될 수 있다. 예를 들면, 상태 레지스터는 비휘발성 메모리의 동작 여부를 확인하기 위한 플레그를 저장하거나 각각의 통합 구동부들이 동작하는지 여부를 확인하기 위한 플레그를 저장할 수 있다.
비휘발성 메모리의 동작하지 않는 경우, 기 지정된 시간 동안 대기(S200)한 후 다시 비휘발성 메모리의 동작 여부가 확인할 수 있다. 즉, 비휘발성 메모리가 다른 통합 구동부에 의해 사용되고 있는 경우, 통합 구동부는 비휘발성 메모리 장치에서 충돌을 방지하기 위해 대기할 수 있다.
비휘발성 메모리의 동작하지 않는 경우, 상태 레지스터가 동작 모드로 설정(S300)될 수 있다. 복수의 통합 구동부들이 비휘발성 메모리에 동시에 접근하여 열화 데이터를 기록하는 것을 방지하기 위해, 통합 구동부는 상태 레지스터를 동작 모드로 설정하고 다른 통합 구동부가 비휘발성 메모리에 접근하는 것을 방지할 수 있다.
제k (단, k는 1이상 n이하의 정수) 통합 구동부는 열화 데이터를 비휘발성 메모리에 저장하기 위해 제k 메모리 그룹에 포함된 마스터 메모리 세트로부터 마스터 블록 카운트를 독출하고, 적어도 하나의 슬레이브 메모리 세트로부터 슬레이브 마스터 블록 카운트를 독출하며, 마스터 블록 카운트와 슬레이브 블록 카운트를 증가(S400)시킬 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹에 포함된 마스터 메모리 세트에 증가된 마스터 블록 카운트 및 블록 데이터를 저장(S500)할 수 있다. 제k 통합 구동부는 화소들의 열화 보상을 수행할 수 있도록 마스터 메모리 세트에 증가된 마스터 블록 카운트 및 열화 데이터를 블록 단위로 구분한 블록 데이터를 저장할 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹에 포함된 슬레이브 메모리 세트에 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 블록 데이터를 저장(S600)할 수 있다. 제k 통합 구동부는 갑작스러운 전원 오프 등 비정상적인 종료로 인해 마스터 메모리 세트의 데이터가 손실되어있을 경우를 대비하여 슬레이브 메모리 세트에 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 블록 데이터를 저장할 수 있다.
다른 통합 구동부들이 비휘발성 메모리에 접근하여 사용할 수 있도록 상태 레지스터가 대기 모드로 설정(S700)될 수 있다.
따라서, 표시 장치의 구동 방법은 복수의 통합 구동부들이 하나의 비휘발성 메모리를 이용하여 열화 데이터를 저장함으로써, 열화 데이터를 안정적으로 저장하고 제조 비용을 절감시킬 수 있다.
도 8은 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 블록 카운트를 독출하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 8을 참조하면, 마스터 메모리 세트로부터 마스터 블록 카운트가 독출되고, 적어도 하나의 슬레이브 메모리 세트로부터 슬레이브 블록 카운트가 독출될 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹의 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 카운트부으로부터 마스터 블록 카운트를 독출(S410)하고 독출된 마스터 블록 카운트의 무결성을 검사(S420)할 수 있다. 만일,마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 카운트의 무결성이 손상된 경우, 마스터 메모리 세트의 이전 마스터 블록 카운트 및 마스터 블록 데이터를 로드하여 복구(S425)할 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹의 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 카운트부으로부터 슬레이브 블록 카운트를 독출(S430)하고 무결성을 검사(S440)할 수 있다. 만일, 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 카운트의 무결성이 손상된 경우, 슬레이브 메모리 세트의 이전 마스터 블록 카운트 및 마스터 블록 데이터를 로드하여 복구(S425)할 수 있다.
블록 카운트의 무결성이 검증된 경우, 블록 데이터를 기록하기 위해 블록 카운트를 증가(S450)시킬 수 있다.
도 9는 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 마스터 메모리 세트에 열화 데이터를 저장하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 9를 참조하면, 마스터 메모리 세트에 증가된 마스터 블록 카운트 및 블록 데이터가 저장될 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹의 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 카운트부에 증가된 마스터 블록 카운트를 저장(S510)할 수 있다. 이 때, 마스터 블록 카운트부에는 마스터 블록 카운트와 함께 패리티 값 등의 검증 데이터를 함께 저장할 수 있다.
제k 통합 구동부는 검증 데이터를 이용하여 마스터 블록 카운트부에 저장된 마스터 블록 카운트의 무결성을 검사(S520)할 수 있다. 만일, 저장된 마스터 블록 카운트의 무결성이 손상된 경우, 마스터 블록 카운트부에 증가된 마스터 블록 카운트를 다시 저장할 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹의 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 데이터부에 블록 데이터를 저장(S530)할 수 있다. 이 때, 마스터 블록 데이터부에는 블록 데이터와 함께 패리티 값 등의 검증 데이터를 함께 저장할 수 있다.
제k 통합 구동부는 검증 데이터를 이용하여 마스터 블록 데이터부에 저장된 블록 데이터의 무결성을 검사(S540)할 수 있다. 만일, 저장된 블록 데이터의 무결성이 손상된 경우, 마스터 블록 데이터부에 블록 데이터를 다시 저장할 수 있다.
이와 같이, 제k 통합 구동부는 마스터 메모리 세트에 증가된 마스터 블록 카운트 및 블록 데이터를 저장하고 검증 데이터를 이용하여 무결성을 검사하는 방법을 통해 비휘발성 메모리 장치에 열화 데이터를 안정적으로 저장할 수 있다.
도 10은 도 7의 표시 장치의 구동 방법과 관련하여 슬레이브 메모리 세트에 열화 데이터를 저장하는 일 예를 나타내는 도면이다.
도 10을 참조하면, 슬레이브 메모리 세트에 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 블록 데이터가 저장될 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹의 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 카운트부에 증가된 슬레이브 블록 카운트(S610)를 저장할 수 있다. 이 때, 슬레이브 블록 카운트부에는 슬레이브 블록 카운트와 함께 패리티 값 등의 검증 데이터를 함께 저장할 수 있다.
제k 통합 구동부는 검증 데이터를 이용하여 슬레이브 블록 카운트부에 저장된 슬레이브 블록 카운트의 무결성을 검사(S620)할 수 있다. 만일 저장된 슬레이브 블록 카운트의 무결성이 손상된 경우, 슬레이브 블록 카운트부에 증가된 블록 카운트를 다시 저장할 수 있다.
제k 통합 구동부는 제k 메모리 그룹의 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 데이터부에 블록 데이터를 저장(S630)할 수 있다. 이 때, 슬레이브 블록 데이터부에는 블록 데이터와 함께 패리티 값 등의 검증 데이터를 함께 저장할 수 있다.
제k 통합 구동부는 검증 데이터를 이용하여 슬레이브 블록 데이터부에 저장된 블록 데이터의 무결성을 검사(S640)할 수 있다. 만일, 저장된 블록 데이터의 무결성이 손상된 경우, 슬레이브 블록 데이터부에 블록 데이터를 다시 저장할 수 있다.
이와 같이, 제k 통합 구동부는 슬레이브 메모리 세트에 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 블록 데이터를 저장하고 무결성을 검사함으로써, 마스터 메모리 세트의 데이터의 손상된 경우에도 열화 데이터를 안정적으로 저장할 수 있다.
이상, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법에 대하여 도면을 참조하여 설명하였지만, 상기 설명은 예시적인 것으로서 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위에서 해당 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의하여 수정 및 변경될 수 있을 것이다. 예를 들어, 상기에서는 표시 장치가 유기 발광 표시 장치인 것으로 설명하였으나, 표시 장치의 종류는 이에 한정되는 것이 아니다.
본 발명은 표시 장치를 구비한 전자 기기에 다양하게 적용될 수 있다. 예를 들어, 본 발명은 컴퓨터, 노트북, 휴대폰, 스마트폰, 스마트패드, 피엠피(PMP), 피디에이(PDA), MP3 플레이어, 디지털 카메라, 비디오 캠코더 등에 적용될 수 있다.
상기에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 것이다.
100: 표시 패널 200: 스캔 구동부
300: 데이터 구동부 400: 제어부
600A: 비휘발성 메모리 620: 제1 메모리 세트
640: 제2 메모리 세트
300: 데이터 구동부 400: 제어부
600A: 비휘발성 메모리 620: 제1 메모리 세트
640: 제2 메모리 세트
Claims (20)
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 삭제
- 제1 내지 제n(단, n은 2이상의 정수) 통합 구동부가 제1 내지 제n 메모리 그룹들을 포함하는 비휘발성 메모리에 화소의 열화 데이터를 주기적으로 저장하고, 상기 열화 데이터를 이용하여 영상 데이터를 보상하는 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
상태 레지스터를 이용하여 상기 비휘발성 메모리의 동작 여부를 확인하는 단계;
상기 비휘발성 메모리의 동작하지 않는 경우, 상기 상태 레지스터를 동작 모드로 설정하는 단계;
제k (단, k는 1이상 n이하의 정수) 통합 구동부가 제k 메모리 그룹에 포함된 마스터 메모리 세트 및 적어도 하나의 슬레이브 메모리 세트로부터 상기 열화 데이터를 블록 단위로 구분한 블록 데이터가 저장되는 위치를 나타내는 마스터 블록 카운트 및 슬레이브 블록 카운트를 독출하고 증가시키는 단계;
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹에 포함된 상기 마스터 메모리 세트에 상기 증가된 마스터 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계;
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹에 포함된 상기 슬레이브 메모리 세트에 상기 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계; 및
상기 상태 레지스터를 대기 모드로 설정하는 단계를 포함하고,
상기 마스터 블록 카운트 및 상기 슬레이브 블록 카운트를 독출하고 증가시키는 단계는
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 카운트부으로부터 상기 마스터 블록 카운트를 독출하고 무결성을 검사하는 단계;
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 카운트부으로부터 상기 슬레이브 블록 카운트를 독출하고 무결성을 검사하는 단계; 및
무결성이 검사된 상기 마스터 블록 카운트 및 상기 슬레이브 블록 카운트를 증가시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법. - 삭제
- 제17 항에 있어서, 상기 마스터 메모리 세트에 상기 증가된 마스터 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계는
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 카운트부에 상기 증가된 마스터 블록 카운트를 저장하는 단계;
상기 제k 통합 구동부가 상기 마스터 블록 카운트부에 저장된 상기 마스터 블록 카운트의 무결성을 검사하는 단계;
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 마스터 메모리 세트에 포함된 마스터 블록 데이터부에 상기 블록 데이터를 저장하는 단계; 및
상기 제k 통합 구동부가 상기 마스터 블록 데이터부에 저장된 상기 블록 데이터의 무결성을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법. - 제17 항에 있어서, 상기 슬레이브 메모리 세트에 상기 증가된 슬레이브 블록 카운트 및 상기 블록 데이터를 저장하는 단계는
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 카운트부에 상기 증가된 슬레이브 블록 카운트를 저장하는 단계;
상기 제k 통합 구동부가 상기 슬레이브 블록 카운트부에 저장된 상기 슬레이브 블록 카운트의 무결성을 검사하는 단계;
상기 제k 통합 구동부가 상기 제k 메모리 그룹의 상기 슬레이브 메모리 세트에 포함된 슬레이브 블록 데이터부에 상기 블록 데이터를 저장하는 단계; 및
상기 제k 통합 구동부가 상기 슬레이브 블록 데이터부에 저장된 상기 블록 데이터의 무결성을 검사하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 표시 장치의 구동 방법.
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140127599A KR102161535B1 (ko) | 2014-09-24 | 2014-09-24 | 표시 장치 및 이의 구동 방법 |
US14/637,577 US9837015B2 (en) | 2014-09-24 | 2015-03-04 | Display device and method of driving the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020140127599A KR102161535B1 (ko) | 2014-09-24 | 2014-09-24 | 표시 장치 및 이의 구동 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20160036150A KR20160036150A (ko) | 2016-04-04 |
KR102161535B1 true KR102161535B1 (ko) | 2020-10-06 |
Family
ID=55526289
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020140127599A KR102161535B1 (ko) | 2014-09-24 | 2014-09-24 | 표시 장치 및 이의 구동 방법 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9837015B2 (ko) |
KR (1) | KR102161535B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11315524B2 (en) | 2020-08-24 | 2022-04-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method for restoring deterioration data of the same |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190051530A (ko) * | 2017-11-07 | 2019-05-15 | 에스케이하이닉스 주식회사 | 데이터 처리 시스템 및 데이터 처리 시스템의 동작 방법 |
KR102537301B1 (ko) * | 2018-08-20 | 2023-05-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 이의 구동 방법 |
KR20220011835A (ko) * | 2020-07-21 | 2022-02-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 잔상 보상을 수행하는 표시 장치, 및 표시 장치의 잔상 보상 방법 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020073358A1 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | Atkinson Lee. W. | Method for redundant suspend to RAM |
US20080250172A1 (en) * | 2007-04-05 | 2008-10-09 | Seiko Epson Corporation | Information processing system, information processing terminal and host device |
US20090254689A1 (en) * | 2008-02-12 | 2009-10-08 | Vijay Karamcheti | Methods and apparatus for two-dimensional main memory |
US20100180068A1 (en) * | 2006-08-09 | 2010-07-15 | Masahiro Matsumoto | Storage device |
US20110063283A1 (en) * | 2009-09-14 | 2011-03-17 | Do-Hyung Ryu | Organic light emitting display and method of driving the same |
US20130222049A1 (en) * | 2012-02-27 | 2013-08-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of controlling standby mode body biasing and semiconductor devices using the methods |
US20130286028A1 (en) * | 2012-04-30 | 2013-10-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Address generator of image processing device and operating method of address generator |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101258930B1 (ko) | 2006-09-15 | 2013-04-29 | 삼성전자주식회사 | 휴대단말기의 표시부 구동소자 오류검출 장치 및 방법 |
KR101378349B1 (ko) | 2008-01-30 | 2014-03-28 | 삼성전자주식회사 | 메모리 장치 및 메모리 데이터 읽기 방법 |
KR101351405B1 (ko) | 2008-07-25 | 2014-01-15 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시장치 및 이의 구동방법 |
US8677203B1 (en) * | 2010-01-11 | 2014-03-18 | Apple Inc. | Redundant data storage schemes for multi-die memory systems |
-
2014
- 2014-09-24 KR KR1020140127599A patent/KR102161535B1/ko active IP Right Grant
-
2015
- 2015-03-04 US US14/637,577 patent/US9837015B2/en active Active
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20020073358A1 (en) * | 2000-12-07 | 2002-06-13 | Atkinson Lee. W. | Method for redundant suspend to RAM |
US20100180068A1 (en) * | 2006-08-09 | 2010-07-15 | Masahiro Matsumoto | Storage device |
US20080250172A1 (en) * | 2007-04-05 | 2008-10-09 | Seiko Epson Corporation | Information processing system, information processing terminal and host device |
US20090254689A1 (en) * | 2008-02-12 | 2009-10-08 | Vijay Karamcheti | Methods and apparatus for two-dimensional main memory |
US20110063283A1 (en) * | 2009-09-14 | 2011-03-17 | Do-Hyung Ryu | Organic light emitting display and method of driving the same |
US20130222049A1 (en) * | 2012-02-27 | 2013-08-29 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Methods of controlling standby mode body biasing and semiconductor devices using the methods |
US20130286028A1 (en) * | 2012-04-30 | 2013-10-31 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Address generator of image processing device and operating method of address generator |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US11315524B2 (en) | 2020-08-24 | 2022-04-26 | Samsung Display Co., Ltd. | Display device and method for restoring deterioration data of the same |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20160036150A (ko) | 2016-04-04 |
US20160086531A1 (en) | 2016-03-24 |
US9837015B2 (en) | 2017-12-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US20210118368A1 (en) | Display panel of an organic light emitting diode display device, and organic light emitting diode display device | |
CN110718189B (zh) | 显示装置 | |
KR102161535B1 (ko) | 표시 장치 및 이의 구동 방법 | |
EP3540720B1 (en) | Display device and method for driving the same | |
KR102584643B1 (ko) | 표시 장치 및 이를 포함하는 전자 기기 | |
KR102490147B1 (ko) | 화소 회로 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치 | |
US20160117992A1 (en) | Gamma voltage generator and display device including the same | |
KR102555805B1 (ko) | 표시 패널의 화소 및 표시 장치 | |
US11551613B2 (en) | Pixel circuit | |
US11551593B2 (en) | Organic light-emitting diode display device performing a sensing operation, and method of sensing degradation of an organic light-emitting diode display device | |
KR102119775B1 (ko) | 유기 발광 디스플레이 장치와 이의 구동 방법 | |
CN114694584B (zh) | 显示装置及其控制方法 | |
CN108766350B (zh) | 补偿数据传输方法及显示面板 | |
KR102349194B1 (ko) | 전원 공급 장치 및 이를 포함하는 표시 장치 | |
US20160104429A1 (en) | Data voltage compensation circuit and display device including the same | |
CN112951155A (zh) | 显示装置及操作显示装置的方法 | |
US20150077413A1 (en) | Display panel and organic light emitting display device having the same | |
KR102649386B1 (ko) | 화소 및 이를 포함하는 디스플레이 장치 | |
CN115909961B (zh) | 显示装置以及处理和应用该显示装置的补偿数据的方法 | |
KR20230064043A (ko) | 데이터 에러 검출 방법 및 이를 포함하는 표시 장치 | |
KR102559380B1 (ko) | 검사 시스템, 이의 멀티 타임 프로그래밍 방법 및 표시 장치 | |
CN113963660A (zh) | 显示装置和补偿显示装置中的图像残留的方法 | |
KR102608610B1 (ko) | 복수의 페이즈들에서 메모리 디바이스의 기능들을 인에이블함 | |
KR102566690B1 (ko) | 스캔 구동부 및 이를 포함하는 표시 장치 | |
KR20190098301A (ko) | 화소 및 이를 포함하는 유기 발광 표시 장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |