KR101896885B1 - Resin precursor, resin composition containing said resin precursor, resin film, method for producing said resin film, laminate, and method for producing said laminate - Google Patents
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Abstract
특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 부여할 수 있고, 또한, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값 및 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물을 부여할 수 있는 수지 전구체를 제공한다.
아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함하는 중합 성분을 중합시켜 얻어지는 수지 전구체로서, 그 중합 성분이 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함하고, 그 다가 화합물이 규소기 함유 화합물을 포함하고, 그 다가 화합물이 하기 식 (1):
로 나타내는 디아민을 포함하고, 그 수지 전구체가 하기 일반식 (2):
로 나타내는 구조를 갖고, 그 규소기 함유 화합물의 양이 그 다가 화합물의 총질량 기준으로 6 질량% ∼ 25 질량% 인 수지 전구체.It is possible to provide a transparent resin cured product without requiring a special combination of solvents and to provide a cured product which has a low residual stress generated between itself and an inorganic film and is excellent in chemical resistance, And a resin precursor capable of imparting a resin cured product having a small influence on the total light transmittance.
A resin precursor obtained by polymerizing a polymerization component comprising an amino group and an amino group reactive group, wherein the polymerization component comprises a polyvalent compound having two or more groups selected from an amino group and an amino group reactive group, and the polyvalent compound includes a silicon group- (1): " (1) "
, And the resin precursor is represented by the following general formula (2):
, And the amount of the silicon group-containing compound is 6% by mass to 25% by mass based on the total mass of the compound.
Description
본 발명은, 예를 들어, 플렉시블 디바이스를 위한 기판에 사용되는, 수지 전구체 및 그것을 함유하는 수지 조성물, 수지 필름 및 그 제조 방법, 그리고, 적층체 및 그 제조 방법에 관한 것이다.The present invention relates to, for example, a resin precursor used in a substrate for a flexible device, a resin composition containing the resin precursor, a resin film, a production method thereof, a laminate, and a production method thereof.
일반적으로, 고내열성이 요구되는 용도에는, 수지 필름으로서 폴리이미드 (PI) 수지 필름이 사용된다. 일반적인 폴리이미드 수지는, 방향족 2무수물과 방향족 디아민을 용액 중합하고, 폴리이미드 전구체를 제조한 후, 고온에서 폐환 탈수시키고, 열 이미드화하여, 또는, 촉매를 사용하여 화학 이미드화하여, 제조되는 고내열 수지이다.In general, for applications requiring high heat resistance, a polyimide (PI) resin film is used as the resin film. A general polyimide resin is obtained by subjecting an aromatic dianhydride and an aromatic diamine to solution polymerization to prepare a polyimide precursor, followed by ring-closing dehydration at a high temperature, thermal imidization, or chemical imidization using a catalyst It is a heat-resistant resin.
폴리이미드 수지는 불용, 불융의 초내열성 수지이며, 내열 산화성, 내열 특성, 내방사선성, 내저온성, 내약품성 등이 우수한 특성을 갖고 있다. 이 때문에, 폴리이미드 수지는 절연 코팅제, 절연막, 반도체, TFT-LCD 의 전극 보호막 등의 전자 재료를 포함하는 광범위한 분야에서 사용되며, 최근에는, 액정 배향막과 같은 디스플레이 재료의 분야에서 종래 사용되고 있던 유리 기판 대신에, 그 가벼움, 유연성을 이용한 무색 투명 플렉시블 기판에 대한 채용도 검토되고 있다.The polyimide resin is an insoluble and refractory super heat resistant resin and has excellent properties such as heat oxidation resistance, heat resistance, radiation resistance, low temperature resistance, and chemical resistance. Therefore, the polyimide resin is used in a wide range of fields including insulating coatings, insulating films, semiconductors, and electronic materials such as electrode protective films of TFT-LCDs. In recent years, polyimide resins have been widely used in the field of display materials such as liquid crystal alignment films Instead, adoption of a colorless transparent flexible substrate using lightness and flexibility has been studied.
그러나, 일반적인 폴리이미드 수지는, 높은 방향 고리 밀도에 의해, 갈색 또는 황색으로 착색되고, 가시광선 영역에서의 투과율이 낮아, 투명성이 요구되는 분야에 사용하는 것은 곤란하였다.However, a general polyimide resin is colored in brown or yellow by a high directional ring density, has a low transmittance in the visible light region, and is difficult to be used in fields requiring transparency.
이와 같은 폴리이미드의 투명성을 향상시키는 과제에 대하여, 예를 들어 비특허문헌 1 에는, 특정한 구조를 포함하는 산 2무수물과 특정한 구조를 포함하는 디아민을 사용함으로써, 투과율 및 색상의 투명도를 향상시킨 폴리이미드가 기재되어 있다. 또한, 특허문헌 1 ∼ 4 에는, 4,4-비스(디아미노디페닐)술폰 (이하, 4,4-DAS 라고도 기재한다) 이나 3,3-비스(디아미노디페닐)술폰 (이하, 3,3-DAS 라고도 기재한다) 과 특정한 구조를 포함하는 산 2무수물을 사용함으로써, 투과율 및 색상의 투명도를 향상시킨 폴리이미드가 기재되어 있다.With respect to the problem of improving the transparency of such a polyimide, for example, Non-Patent Document 1 discloses a polyimide having improved transparency and color transparency by using acid dianhydride having a specific structure and diamine having a specific structure, Mead is described. In the patent documents 1 to 4, 4,4-bis (diaminodiphenyl) sulfone (hereinafter also referred to as 4,4-DAS) or 3,3-bis (diaminodiphenyl) sulfone , 3-DAS) and an acid dianhydride having a specific structure, transparency and color transparency are improved.
또, 이하의 특허문헌 6 의 실시예 9, 10 에는, 특정한 방향족 테트라카르복실산 2무수물과 지환식 디아민, 규소 함유 디아민을 공중합함으로써, 고 Tg, 투명성, 고밀착성, 저휨성을 발현하는 폴리이미드를 생성할 수 있는 폴리이미드 전구체가 기재되어 있다.In Examples 9 and 10 of the following Patent Literature 6, a specific aromatic tetracarboxylic acid dianhydride, an alicyclic diamine, and a silicon-containing diamine are copolymerized to produce a polyimide exhibiting high Tg, transparency, high adhesion, Polyimide precursors which are capable of producing polyimide precursors.
또한, 이하의 특허문헌 7 의 실시예 3 및, 특허문헌 8 의 실시예 3 에는, 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 비스(디아미노디페닐)술폰 및 규소 함유 디아민을 공중합한 폴리이미드 전구체를 반도체 보호용 수지 및 감광성 수지 조성물로서 사용하는 것이 기재되어 있다.In Examples 3 and 4 of the following patent documents 7 and 8, a polyimide precursor obtained by copolymerizing an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride, bis (diaminodiphenyl) sulfone and a silicon-containing diamine was used as a semiconductor A protective resin, and a photosensitive resin composition.
그러나, 공지된 투명 폴리이미드의 물성 특성은, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막, 터치 패널용 ITO 전극 기판 및 플렉시블 디스플레이용 내열성 무색 투명 기판으로서 사용하는 데에 충분하지는 않았다.However, the physical properties of the known transparent polyimide are not sufficient for use as, for example, a semiconductor insulating film, a TFT-LCD insulating film, an electrode protecting film, an ITO electrode substrate for a touch panel, and a heat-resistant colorless transparent substrate for a flexible display.
예를 들어, 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 폴리이미드 수지를 사용할 때에는, 서포트 유리 (이하, 지지체라고도 한다) 상에 폴리이미드막을 형성하고, 그 폴리이미드막 상에, 통상적으로 TFT 소자를 제조하기 위해서, 무기막을 형성하는 경우가 있다. 폴리이미드의 선팽창 계수 (이하, CTE 라고도 기재한다) 가 높은 경우, 무기막 또는 서포트 유리와 폴리이미드막과의 CTE 의 미스매치에 의해, 폴리이미드막과 무기막 사이에 잔류 응력이 발생하고, 결과적으로, 서포트 유리가 휘어 버리거나, TFT 소자의 성능이 저하되어 버리거나 한다는 문제가 있다. 이 때문에, 서포트 유리의 휨을 개량하기 위해서, 폴리이미드의 잔류 응력을 낮게 한다는 과제가 있다. 특허문헌 1 ∼ 4 에 기재된 폴리이미드에서는, 잔류 응력이 높고, 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 적용한 경우, 서포트 유리가 휘어 버리는 과제가 있었다.For example, when a polyimide resin is used for a colorless transparent substrate for a flexible display, a polyimide film is formed on a support glass (hereinafter also referred to as a support), and on the polyimide film, , And an inorganic film may be formed. When the coefficient of linear expansion of the polyimide (hereinafter also referred to as CTE) is high, residual stress is generated between the polyimide film and the inorganic film due to CTE mismatch between the inorganic film or the support glass and the polyimide film, There is a problem that the support glass is bent or the performance of the TFT element is lowered. Therefore, there is a problem that the residual stress of the polyimide is lowered in order to improve the warpage of the support glass. The polyimide described in Patent Documents 1 to 4 has a high residual stress and has a problem that the support glass is warped when it is applied to a colorless transparent substrate for a flexible display.
또, 폴리이미드막을 제조하기 위해서는, 예를 들어 유리 기판 상에, 폴리이미드 전구체를 도포하고, 그 폴리이미드 전구체가 도포된 유리 기판을 질소 가스가 도입된 오븐로에 투입하고, 250 ℃ ∼ 400 ℃ 로 가열을 하는 것 (이하, 큐어 공정이라고도 기재한다) 이 일반적으로 필요하다. 특허문헌 1 ∼ 4 나 비특허문헌 1 에 기재된 투과율 및 색상의, 투명도를 향상시킨 폴리이미드에 있어서는, 큐어시의 오븐로 내의 산소 농도가 높은 경우, 구체적으로는 산소 농도가 100 ppm 이상인 경우, YI 값이 올라가거나, 전체 광선 투과율이 내려가거나 한다고 하는, 산소 농도 의존성의 과제가 있었다.In order to produce the polyimide film, for example, a polyimide precursor is coated on a glass substrate, the glass substrate coated with the polyimide precursor is introduced into an oven into which nitrogen gas is introduced, (Hereinafter, also referred to as a curing process) is generally required. In the polyimide having improved transmittance, hue and transparency described in Patent Documents 1 to 4 and Non-Patent Document 1, when the oxygen concentration in the oven furnace during curing is high, specifically when the oxygen concentration is 100 ppm or more, YI And the total light transmittance is lowered.
또한, 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 폴리이미드 수지를 사용할 때에는, 폴리이미드막의 상부에는, 통상적으로 포토레지스트를 사용한 포토리소그래피 공정에 의해 TFT 소자가 제조된다. 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판에 사용되는 폴리이미드막 (이하, 폴리이미드 기판이라고도 기재한다) 은, 이 공정에 포함되는 포토레지스트를 박리하는 공정에서 사용되는, 포토레지스트 박리액 등의 약제에 노출되기 때문에, 이들 약제에 내약품성을 가질 필요가 있다. 특허문헌 1 에 기재된 바와 같은, 4,4-DAS 나 3,3-DAS 와 특정한 구조를 포함하는 산 2무수물로 이루어지는 폴리이미드에 있어서는, 포토레지스트 박리 공정시에, 폴리이미드 기판에 미소한 크랙이 형성됨으로써 폴리이미드 기판이 백탁하고, 전체 광선 투과율이 저하되는 현상이 발생하는 등, 내약품성의 점에서 과제가 있었다.When a polyimide resin is used for a colorless transparent substrate for a flexible display, a TFT element is usually formed on the polyimide film by a photolithography process using a photoresist. A polyimide film (hereinafter, also referred to as a polyimide substrate) used for a colorless transparent substrate for a flexible display is exposed to a chemical such as a photoresist stripping liquid used in the step of stripping the photoresist included in this process , It is necessary to have chemical resistance to these medicines. In the case of polyimide comprising 4,4-DAS or 3,3-DAS and acid dianhydride having a specific structure as described in Patent Document 1, the polyimide substrate has a small crack There is a problem that the polyimide substrate is opaque and the total light transmittance is lowered.
특허문헌 5 에는, 폴리이미드의 유리 전이 온도나 영률을 유지한 상태로, 잔류 응력을 저감시킬 목적으로 유연한 규소 함유 디아민을 블록 공중합으로 도입하는 것이 기재되어 있다. 그러나, 특허문헌 5 의 비교예 4 에 기재된 바와 같이, 규소 함유 디아민을 블록으로 공중합하면, 특수한 용매의 조합을 사용하여 폴리이미드 전구체를 용해시키지 않는 한, 실리콘 부분의 상분리가 진행되어, 굴절률이 각각 상이한 해도 (海島) 구조에 있어서, 도 부분의 구조가 커짐으로써, 막이 백탁하고, 전체 광선 투과율이 저하된다. 또, 비점이 낮은 특수한 용매의 조합을 이용하는 경우, 폴리이미드 전구체 용액을 기판에 도포한 후에, 실온에서 수시간 방치를 하면, 헤이즈가 발생하고, 도막이 백탁하는 경우가 있어, 방치 시간을 관리할 필요가 있었다. 이와 같이, 규소 함유 디아민을 블록 공중합한 폴리이미드에 의해 투명한 열 경화막을 제조하려면, 특수한 용매의 조합을 사용하여 전구체를 용해시킨 후, 전구체 용액을 도포한 후의 방치 시간을 관리하는 것이 필요하다는 과제가 있었다.Patent Document 5 describes that flexible silicon-containing diamines are introduced by block copolymerization for the purpose of reducing residual stress while maintaining the glass transition temperature or Young's modulus of polyimide. However, as described in Comparative Example 4 of Patent Document 5, when the silicon-containing diamine is copolymerized with the block, the phase separation of the silicon portion progresses and the refractive index becomes lower than that of the polyimide precursor unless the polyimide precursor is dissolved by using a combination of special solvents In a different sea (island) structure, the structure of the island portion becomes larger, so that the film becomes opaque and the total light transmittance is lowered. When a combination of a special solvent having a low boiling point is used, if a polyimide precursor solution is applied to a substrate and then left at room temperature for several hours, haze may occur and the coating film may become cloudy, . In order to produce a transparent thermosetting film by polyimide obtained by block copolymerization of a silicon-containing diamine as described above, there is a problem in that it is necessary to dissolve the precursor by using a combination of special solvents and to control the time after which the precursor solution is applied there was.
또, 특허문헌 6 의 실시예 9, 10 에는, 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 지환식 디아민 및 실리콘 디아민을 공중합하여 얻어지는 폴리이미드 전구체, 및 그것으로부터 얻어지는 폴리이미드에 대해 기재되어 있다. 그러나 본 발명자들이 확인한 결과, 이 폴리아미드에 있어서는 황색도가 높고, 전체 광선 투과율이 낮고, 또한 황색도 및 투과율이 폴리이미드 경화시의 산소 농도에 의해 영향을 받기 쉽다는 과제가 있었다 (본원 명세서 비교예 25 참조).In Examples 9 and 10 of Patent Document 6, a polyimide precursor obtained by copolymerizing an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride, an alicyclic diamine and silicon diamine, and a polyimide obtained therefrom are described. However, the inventors of the present invention have found that the polyamide has a high yellowing degree, a low total light transmittance, and a yellowing degree and a transmittance which are easily affected by the oxygen concentration at the time of polyimide curing See Example 25).
그리고, 특허문헌 7, 8 에는, (디아미노디페닐)술폰, 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 및 실리콘 디아민을 공중합하여 얻어지는 폴리이미드 전구체, 및 그것으로부터 얻어지는 폴리이미드에 대해 기재되어 있다. 그러나 본 발명자들이 확인한 결과, 폴리이미드 전구체를 합성할 때에 사용하는 규소기 함유 모노머, 다가 카르본 유도체, 및 디아민 화합물의 총질량에 대한, 규소기 함유 모노머의 질량 비율이, 특허문헌 7 에 대해서는 적기 때문에, 얻어지는 폴리이미드의 잔류 응력이 커, 디스플레이의 프로세스상 부적절하고, 한편 특허문헌 8 에 대해서는 많기 때문에, 얻어지는 폴리이미드가 백탁하여, 투명 디스플레이에 사용하기는 부적절하다는 과제가 있었다 (본 명세서 비교예 23, 24 참조).Patent Documents 7 and 8 disclose a polyimide precursor obtained by copolymerizing (diaminodiphenyl) sulfone, an aromatic tetracarboxylic acid dianhydride, and silicone diamine, and a polyimide obtained therefrom. However, the inventors of the present invention have found that the mass ratio of the silicon-containing monomer to the total mass of the silicon-containing monomer, polyvalent hydrocarbon derivative, and diamine compound used in synthesizing the polyimide precursor, Therefore, there is a problem in that the obtained polyimide is cloudy and is not suitable for use in a transparent display because the residual stress of the obtained polyimide is large, which is inadequate in the process of the display and on the other hand in Patent Document 8 23, 24).
본 발명은 상기 설명한 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 부여할 수 있고, 또한, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값 및 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물을 부여할 수 있는, 수지 전구체를 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은 또 그 수지 전구체를 함유하는 수지 조성물, 그 수지 조성물을 경화시킨 수지 필름 및 그 제조 방법, 그리고, 적층체 및 그 제조 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and it is an object of the present invention to provide a transparent resin cured product which can provide a transparent resin cured product without requiring a special combination of solvents, And which can give a resin cured product excellent in YI value due to oxygen concentration at the time of curing process and having little influence on the total light transmittance. Another object of the present invention is to provide a resin composition containing the resin precursor, a resin film obtained by curing the resin composition, a process for producing the resin film, a laminate and a process for producing the same.
본 발명자들은 상기 과제를 해결하기 위해서 예의 연구를 거듭한 결과, 특정 구조의 내열성 수지 전구체가, 특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 형성할 수 있고, 또 그와 같은 수지 경화물은 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값이나 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물인 것을 알아내어, 이 지견에 기초하여 본 발명을 이루기에 이르렀다. 즉, 본 발명은 이하와 같다.The inventors of the present invention have conducted intensive studies in order to solve the above problems. As a result, it has been found that a heat-resistant resin precursor having a specific structure can form a transparent resin cured product without requiring a special combination of solvents, It has been found out that the cargo is a resin hardened product having a low residual stress generated between the inorganic film and the chemical resistance and having little influence on the YI value or the total light transmittance due to the oxygen concentration in the curing process, The present invention has been accomplished on the basis of these findings. That is, the present invention is as follows.
[1] 아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함하는 중합 성분을 중합시켜 얻어지는 수지 전구체로서,[1] A resin precursor obtained by polymerizing a polymerization component containing an amino group and an amino group-
그 중합 성분이 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함하고,Wherein the polymerization component comprises a polyfunctional compound having two or more groups selected from an amino group and an amino group reactive group,
그 다가 화합물이 규소기 함유 화합물을 포함하고,Wherein the compound comprises a silicon-containing compound,
그 다가 화합물이 하기 식 (1):Wherein the compound is a compound represented by the following formula (1):
[화학식 1] [Chemical Formula 1]
로 나타내는 디아민을 포함하고, , ≪ / RTI >
그 수지 전구체가 하기 일반식 (2):Wherein the resin precursor is represented by the following general formula (2):
[화학식 2] (2)
{식 중, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 그리고 h 는 3 ∼ 200 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖고, (Wherein, in the formulas, R 3 and R 4 , which are plural, are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms and h is an integer of 3 to 200)
그 규소기 함유 화합물의 양이 그 다가 화합물의 총질량 기준으로 6 질량% ∼ 25 질량% 인Wherein the amount of the silicon-containing compound is from 6% by mass to 25% by mass based on the total mass of the compound
그 수지 전구체.The resin precursor.
[2] 그 아미노기 반응성기가 카르복실기, 치환 카르복실기 및 산 무수물기로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상을 포함하는, [1] 에 기재된 수지 전구체.[2] The resin precursor according to [1], wherein the amino group-reactive group comprises at least one selected from the group consisting of a carboxyl group, a substituted carboxyl group and an acid anhydride group.
[3] 그 규소기 함유 화합물이 하기 일반식 (3):[3] The silicon-containing compound according to [
[화학식 3] (3)
{식 중, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 20 의 2 가의 유기기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, L1, L2, 및 L3 은, 각각 독립적으로, 아미노기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 무수물기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, j 는 3 ∼ 200 의 정수이고, k 는 0 ∼ 197 의 정수이다.} 으로 나타내는 실리콘 화합물을 포함하는, [1] 또는 [2] 에 기재된 수지 전구체.Wherein the plurality of R 2 s present in plural are independently a single bond or a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms and R 3 and R 4 are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms a plurality to be R 5 are, to be present, each independently, a monovalent organic group having a carbon number of 1 ~ 20, L 1, L 2, and L 3 are, each independently, an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid anhydride group, (1), wherein the silicon compound represented by the general formula (1) is an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, j is an integer of 3 to 200, Or the resin precursor according to [2].
[4] 그 일반식 (3) 에 있어서, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기 또는 산 무수물기이고, 그리고 k 가 0 인, [3] 에 기재된 수지 전구체.[4] The resin precursor according to [3], wherein in the general formula (3), L 1 and L 2 are each independently an amino group or an acid anhydride group, and k is 0.
[5] 그 일반식 (3) 에 있어서, L1 및 L2 가 함께 아미노기인, [4] 에 기재된 수지 전구체.[5] The resin precursor according to [4], wherein in the general formula (3), L 1 and L 2 together are an amino group.
[6] 그 수지 전구체가 유닛 1 및 유닛 2 를 함유하고,[6] The resin precursor contains unit 1 and unit 2,
그 유닛 1 이 적어도 하기 일반식 (4);Wherein the unit 1 is represented by at least the following general formula (4);
[화학식 4] [Chemical Formula 4]
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X1 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 n 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} (Wherein R 1 s present in plural numbers are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and X 1, which may be present in plural numbers, 32, and n is an integer of 1 to 100.}
로 나타내는 구조를 갖고, , ≪ / RTI >
그 유닛 2 가 하기 일반식 (5):And the unit 2 is represented by the following general formula (5):
[화학식 5] [Chemical Formula 5]
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소, 또는 2 가의 방향족기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, l 은 3 ∼ 50 의 정수이며, 그리고 m 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조, 또는, 하기 일반식 (6):Wherein the plurality of R 1 s present are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and the plurality of R 2 s present may be independently selected from the group consisting of 3 to 20 carbon atoms And R < 3 > and R < 4 > are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and the plurality of X 2, which may be present, (1), wherein m is an integer of 1 to 100, or a structure represented by the following general formula (6):
[화학식 6] [Chemical Formula 6]
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R8 은, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 3 가의 지방족 탄화수소, 또는 3 가의 방향족기이고, p 는 1 ∼ 100 의 정수이며, 그리고 q 는 3 ∼ 50 의 정수이다.} 으로 나타내는 구조, 또는 상기 일반식 (5) 로 나타내는 구조와 상기 일반식 (6) 으로 나타내는 구조의 양자를 갖는, [1] ∼ [5] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.(Wherein R 1 s present in plural are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and R 3 and R 4 , which are present in plural numbers, A plurality of R 8 s are each independently a trivalent aliphatic hydrocarbon having 3 to 20 carbon atoms or a trivalent aromatic group, p is an integer of 1 to 100, and q is (1) to (5), which has both of a structure represented by the general formula (5) and a structure represented by the general formula (6) Resin precursor.
[7] 그 유닛 1 및 그 유닛 2 의 합계량이 그 수지 전구체의 총질량 기준으로 30 질량% 이상인, [6] 에 기재된 수지 전구체.[7] The resin precursor according to [6], wherein the total amount of the unit 1 and the unit 2 is 30 mass% or more based on the total mass of the resin precursor.
[8] 그 수지 전구체가 하기 일반식 (7):[8] The resin precursor is represented by the following general formula (7):
[화학식 7] (7)
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 2 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 t 는 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 유닛 3 을 추가로 함유하는, [6] 또는 [7] 에 기재된 수지 전구체.(Wherein R 1 s present in plural numbers are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and X 3, which may be present in plural numbers, And a plurality of X 4 which may be present are each independently a tetravalent organic group having 4 to 32 carbon atoms and t is an integer of 1 to 100. The unit 3 having the structure represented by The resin precursor according to [6] or [7], further comprising:
[9] 그 일반식 (7) 에 있어서, X3 이 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘으로부터 아미노기를 제외한 구조인 잔기인, [8] 에 기재된 수지 전구체.[9] The resin precursor according to [8], wherein in the general formula (7), X 3 is a residue which is a structure excluding an amino group from 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine.
[10] 그 유닛 1 및 그 유닛 2 가[10] The unit 1 and the unit 2
피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위와,A moiety derived from at least one selected from the group consisting of pyromellitic dianhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA)
4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (6FDA), 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (CHDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (DSDA), 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 및 9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 (BPAF) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), 4,4'- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (6FDA), cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid 2 (CHDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride (DSDA), 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ), and (9), 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride (BPAF)
의 조합인 부위를 그 유닛 1 및 그 유닛 2 의 산 2무수물 유래 부위의 총량 기준으로 60 몰% 이상의 양으로 포함하는, [6] ∼ [9] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체., The resin precursor according to any one of [6] to [9], wherein the unit is a combination of the unit 1 and the acid anhydride-derived site of the unit 2 in an amount of 60 mol% or more based on the total amount.
[11] 그 R3 및 그 R4 가, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족 탄화수소기인, [1] ∼ [10] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[11] The compound according to any one of [1] to [10], wherein R 3 and R 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon group having 1 to 3 carbon atoms or a monovalent aromatic hydrocarbon group having 6 to 10 carbon atoms. ≪ / RTI >
[12] 그 R3 및 그 R4 의 적어도 일부가 페닐기인, [1] ∼ [11] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[12] The resin precursor according to any one of [1] to [11], wherein at least a part of R 3 and R 4 thereof is a phenyl group.
[13] 그 수지 전구체를 불활성 분위기하 300 ∼ 500 ℃ 의 조건으로 가열 경화시켜 얻어지는 수지가 -150 ℃ ∼ 0 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도 및 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도를 갖고, 또한 0 ℃ 보다 크고 150 ℃ 보다 작은 영역에 있어서 유리 전이 온도를 갖지 않는, [1] ∼ [12] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[13] The resin obtained by heat-curing the resin precursor under an inert atmosphere at 300 to 500 ° C has a glass transition temperature of at least one of -150 ° C to 0 ° C and at least one of 150 ° C to 380 ° C The resin precursor according to any one of [1] to [12], which has a glass transition temperature and does not have a glass transition temperature in a region larger than 0 ° C and smaller than 150 ° C.
[14] 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 유래의 부위를 그 수지 전구체의 산 2무수물 유래 부위의 총량 기준으로 20 몰% 이상 포함하는, [1] ∼ [13] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[14] The resin composition according to any one of [1] to [13], wherein the portion derived from biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA) comprises 20 mol% or more based on the total amount of the acid anhydride- The resin precursor described.
[15] 일부가 이미드화되어 있는, [1] ∼ [14] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체.[15] A resin precursor according to any one of [1] to [14], wherein a part of the resin precursor is imidized.
[16] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체와, 하기 일반식 (8):[16] A resin composition comprising the resin precursor according to any one of [1] to [15] and a resin precursor represented by the following general formula (8):
[화학식 8] [Chemical Formula 8]
{식 중, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이며, 그리고 r 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 수지 전구체를 포함하는 전구체 혼합물.(Wherein X 3, which may be plural, may be independently a quaternary organic group having 4 to 32 carbon atoms, and plural R 1 s may independently be a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms , Or a monovalent aromatic group, and r is an integer of 1 to 100. A precursor mixture comprising a resin precursor having a structure represented by formula
[17] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체, 또는 [16] 에 기재된 전구체 혼합물을 포함하는 플렉시블 디바이스 재료.[17] A flexible device material comprising the resin precursor according to any one of [1] to [15], or a precursor mixture according to [16].
[18] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체의 경화물 또는 [16] 에 기재된 전구체 혼합물의 경화물인 수지 필름.[18] A resin film which is a cured product of the resin precursor according to any one of [1] to [15] or the precursor mixture according to [16].
[19] [1] ∼ [15] 중 어느 한 항에 기재된 수지 전구체 또는 [16] 에 기재된 전구체 혼합물과, 용매를 함유하는 수지 조성물.[19] A resin composition containing a resin precursor according to any one of [1] to [15], a precursor mixture according to [16], and a solvent.
[20] 그 수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하인, [19] 에 기재된 수지 조성물.[20] The resin composition is developed on the surface of a support, and then the resin composition is heated at 300 ° C. to 500 ° C. in a nitrogen atmosphere to imidize the resin precursor contained in the resin composition. A 20 μm film The resin composition according to [19], wherein the yellowness in thickness is 7 or less.
[21] 그 수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인, [19] 또는 [20] 에 기재된 수지 조성물.[21] The resin composition is developed on the surface of a support, and then the resin composition is heated at 300 ° C. to 500 ° C. in a nitrogen atmosphere to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a 10 μm film The resin composition according to [19] or [20], wherein the residual stress at the thickness is 25 MPa or less.
[22] [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인 수지 필름.[22] A resin film which is a cured product of the resin composition according to any one of [19] to [21].
[23] [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 지지체의 표면 상에 전개하는 공정과,[23] A method for producing a resin composition, which comprises the steps of developing the resin composition according to any one of [19] to [21]
그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 수지 필름을 형성하는 공정과,Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film,
그 수지 필름을 그 지지체로부터 박리하는 공정A step of peeling the resin film from the support
을 포함하는 수지 필름의 제조 방법.Wherein the resin film comprises a resin.
[24] 지지체와, 그 지지체의 표면 상에 형성된, [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물의 경화물인 수지막을 포함하는 적층체.[24] A laminate comprising a support and a resin film as a cured product of the resin composition according to any one of [19] to [21] formed on the surface of the support.
[25] 지지체의 표면 상에, [19] ∼ [21] 중 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 전개하는 공정과,[25] A method for producing a resin composition, comprising the steps of: developing a resin composition according to any one of [19] to [21]
그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 수지막을 형성하고, 이에 따라 그 지지체 및 그 수지막을 포함하는 적층체를 얻는 공정Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film and thereby obtaining a laminate comprising the support and the resin film
을 포함하는 적층체의 제조 방법.And a step of forming the laminate.
[26] 디스플레이 기판의 제조에 사용되는 폴리이미드 수지막으로서, 두께 20 ㎛ 에 있어서의 Rth 가 20 ∼ 90 ㎚ 인 폴리이미드 수지막.[26] A polyimide resin film used for manufacturing a display substrate, wherein the polyimide resin film has an Rth of 20 to 90 nm at a thickness of 20 μm.
[27] 지지체의 표면 상에 폴리이미드 전구체를 포함하는 수지 조성물을 전개하는 공정과,[27] A method for producing a polyimide precursor, comprising the steps of: developing a resin composition comprising a polyimide precursor on a surface of a support;
그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 전구체를 이미드화하여, [26] 에 기재된 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과,A step of heating the support and the resin composition to imidize the polyimide precursor to form the polyimide resin film described in [26]
그 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 공정과,A step of forming an element on the polyimide resin film,
그 소자가 형성된 그 폴리이미드 수지막을 그 지지체로부터 박리하는 공정A step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support
을 포함하는 디스플레이 기판의 제조 방법.Wherein the display substrate has a first surface and a second surface.
본 발명에 의하면, 특수한 용매의 조합을 필요로 하는 일 없이 투명한 수지 경화물을 부여할 수 있고, 또한, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 내약품성이 우수하고, 큐어 공정시의 산소 농도에 의한 YI 값 및 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 경화물을 부여할 수 있는 수지 전구체가 제공된다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can provide a transparent resin cured product without requiring a special combination of solvents, and also has a low residual stress generated between the inorganic cured film and the inorganic film, has excellent chemical resistance, There is provided a resin precursor capable of imparting a resin cured product having a small influence on YI value and total light transmittance by oxygen concentration.
이하, 본 발명의 예시의 실시형태 (이하, 「실시형태」 라고 약기한다.) 에 대하여, 상세하게 설명한다. 또한, 본 발명은 이하의 실시형태에 한정되는 것은 아니고, 그 요지의 범위 내에서 여러 가지 변형하여 실시할 수 있다. 또한, 본 개시의 식 중의 구조 단위의 반복수는, 특기가 없는 한, 수지 전구체 전체에 있어서 당해 구조 단위가 포함될 수 있는 수를 의도하는 것에 지나지 않고, 따라서, 블록 구조 등의 특정한 결합 양식을 의도하는 것은 아닌 것에 유의해야 한다. 또, 본 개시에서 기재하는 특성값은, 특기가 없는 한, [실시예] 의 항에 있어서 기재하는 방법 또는 이것과 동등한 것이 당업자에게 이해되는 방법으로 측정되는 값인 것을 의도한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention (hereinafter abbreviated as " embodiments ") will be described in detail. The present invention is not limited to the following embodiments, and various modifications may be made within the scope of the present invention. Unless otherwise specified, the number of repeating structural units in the formula of the present disclosure is merely intended to include the number of structural units in the resin precursor as a whole, and therefore, It should be noted that it is not done. Unless otherwise specified, the characteristic values described in this disclosure are intended to be values measured by the method described in the section of [Examples], or equivalents thereof, by methods understood by those skilled in the art.
<수지 전구체><Resin Precursor>
본 발명의 실시형태에 관련된 수지 전구체는,The resin precursor according to the embodiment of the present invention,
아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함하는 중합 성분을 중합시켜 얻어지는 수지 전구체로서, As a resin precursor obtained by polymerizing a polymerization component containing an amino group and an amino group reactive group,
그 중합 성분이 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함하고,Wherein the polymerization component comprises a polyfunctional compound having two or more groups selected from an amino group and an amino group reactive group,
그 다가 화합물이 규소기 함유 화합물을 포함하고,Wherein the compound comprises a silicon-containing compound,
그 다가 화합물이 하기 식 (1):Wherein the compound is a compound represented by the following formula (1):
[화학식 9][Chemical Formula 9]
로 나타내는 디아민을 포함하고, , ≪ / RTI >
그 수지 전구체가 하기 일반식 (2):Wherein the resin precursor is represented by the following general formula (2):
[화학식 10] [Chemical formula 10]
{식 중, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 그리고 h 는 3 ∼ 200 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖고, (Wherein, in the formulas, R 3 and R 4 , which are plural, are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms and h is an integer of 3 to 200)
그 규소기 함유 화합물의 양이 그 다가 화합물의 총질량 기준으로 6 질량% ∼ 25 질량% 인Wherein the amount of the silicon-containing compound is from 6% by mass to 25% by mass based on the total mass of the compound
그 수지 전구체를 제공한다.Thereby providing the resin precursor.
중합 성분은 아미노기 및 아미노기 반응성기를 포함한다. 중합 성분은 아미노기 및 아미노기 반응성기에서 선택되는 기를 2 개 이상 갖는 다가 화합물을 포함한다. 예를 들어, 중합 성분은 아미노기를 갖는 다가 화합물과, 아미노기 반응성기를 갖는 다가 화합물의 혼합물이어도 되고, 또는, 아미노기 및 아미노기 반응성기의 양자를 포함하는 다가 화합물을 포함해도 되며, 또는 이들의 조합이어도 된다.The polymerization component comprises an amino group and an amino group reactive group. The polymerization component includes a polyfunctional compound having two or more groups selected from an amino group and an amino group reactive group. For example, the polymerization component may be a mixture of a polyvalent compound having an amino group and a polyvalent compound having an amino group-reactive group, or a polyvalent compound containing both an amino group and an amino group reactive group, or a combination thereof .
본 개시에서, 아미노기 반응성기란, 아미노기에 대한 반응성을 갖는 기를 의도한다. 아미노기 반응성기로는, 예를 들어, 산기 (예를 들어, 카르복실기, 산 무수물기, 및 치환 카르복실기 (예를 들어, 산 에스테르기, 산 할라이드기 등) 등), 하이드록시기, 에폭시기, 및 메르캅토기를 들 수 있다. 산기를 포함하는 화합물로는, 예를 들어, 디카르복실산, 트리카르복실산, 테트라카르복실산, 및, 이들 카르복실산의, 산 2무수물, 산 에스테르화물, 산 클로라이드 등을 들 수 있다. 따라서, 본 실시형태의 수지 전구체는 폴리이미드 전구체일 수 있다. 전형적인 양태에 있어서, 아미노기 반응성기는 카르복실기, 치환 카르복실기 및 산 무수물기로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상을 포함한다. 바람직한 양태에 있어서, 아미노기 반응성기는 카르복실기, 치환 카르복실기 및 산 무수물기로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상이다.In the present disclosure, an amino group reactive group is intended to mean a group having reactivity to an amino group. Examples of the amino group-reactive group include groups having an acid group (e.g., a carboxyl group, an acid anhydride group, and a substituted carboxyl group (e.g., an acid ester group, an acid halide group, etc.), a hydroxyl group, Pottery can be heard. Examples of the acid group-containing compound include dicarboxylic acid, tricarboxylic acid, tetracarboxylic acid, and acid anhydrides, acid esters and acid chlorides of these carboxylic acids . Therefore, the resin precursor of the present embodiment may be a polyimide precursor. In a typical embodiment, the amino group-reactive group includes at least one selected from the group consisting of a carboxyl group, a substituted carboxyl group, and an acid anhydride group. In a preferred embodiment, the amino group-reactive group is at least one selected from the group consisting of a carboxyl group, a substituted carboxyl group and an acid anhydride group.
다가 화합물은, 적어도, 일반식 (1) 로 나타내는 디아민을 포함한다. 일반식 (1) 로 나타내는 화합물은, 예를 들어, 4,4-(디아미노디페닐)술폰 (이하, 4,4-DAS 라고도 기재한다), 3,4-(디아미노디페닐)술폰 (이하, 3,4-DAS 라고도 기재한다), 및 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (이하, 3,3-DAS 라고도 기재한다) 으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상일 수 있다.The polyfunctional compound includes at least a diamine represented by the general formula (1). Examples of the compound represented by the general formula (1) include 4,4- (diaminodiphenyl) sulfone (hereinafter also referred to as 4,4-DAS), 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone (Hereinafter also referred to as 3,4-DAS), and 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (hereinafter also referred to as 3,3-DAS).
다가 화합물 중 적어도 1 개는 규소기 함유 화합물이다. 일반식 (2) 로 나타내는 구조는 규소기 함유 화합물에서 유래한다. 규소기 함유 화합물의 양은, 다가 화합물의 질량 기준으로, 6 질량% ∼ 25 질량% (이하, 이 질량분율을 규소기 함유 모노머 농도라고도 한다) 이다. 규소기 함유 모노머 농도는 6 질량% 이상인 것이 수지막과 무기막 사이에 발생하는 응력의 저하 효과나 황색도의 저하 효과를 충분히 얻는 관점에서 유리하며, 7 질량% 이상인 것이 바람직하고, 8 질량% 이상인 것이 보다 바람직하고, 10 질량% 이상인 것이 더욱 바람직하다. 한편, 규소기 함유 모노머 농도는 25 질량% 이하인 것이, 얻어지는 폴리이미드가 백탁하는 일 없이, 투명성 향상, 황색도 저하의 관점 및, 양호한 내열성을 얻는 관점에서 유리하며, 22 질량% 이하인 것이 바람직하고, 20 질량% 이하인 것이 더욱 바람직하다. 내약품성, YI 값, 전체 광선 투과율, 복굴절률, 잔류 응력 및 광학 특성의 산소 의존성을 모두 양호하게 하는 관점에서, 규소기 함유 모노머 농도는 10 질량% 이상 20 질량% 이하인 것이 특히 바람직하다.At least one of the polyvalent compounds is a silicon group-containing compound. The structure represented by the general formula (2) is derived from a compound containing a silicon group. The amount of the silicon group-containing compound is 6% by mass to 25% by mass (hereinafter, this mass fraction is also referred to as the silicon group-containing monomer concentration), based on the mass of the polyvalent compound. The concentration of the silicon group-containing monomer is advantageously 6 mass% or more from the viewpoint of sufficiently obtaining the effect of lowering the stress generated in the resin film and the inorganic film and the effect of lowering the yellowness, and is preferably 7 mass% or more, more preferably 8 mass% , And more preferably 10 mass% or more. On the other hand, when the concentration of the silicon group-containing monomer is 25 mass% or less, the polyimide obtained is advantageous from the standpoint of improvement in transparency, lowering of yellow color and good heat resistance without clouding, and preferably 22 mass% And more preferably 20 mass% or less. It is particularly preferable that the concentration of the silicon group-containing monomer is 10% by mass or more and 20% by mass or less from the viewpoint of satisfactory chemical resistance, YI value, total light transmittance, birefringence, residual stress and oxygen dependence of optical properties.
일반식 (2) 에 있어서, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이다. 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기로는, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 탄화수소기, 탄소수 1 ∼ 20 의 아미노기, 탄소수 1 ∼ 20 의 알콕시기, 에폭시기 등을 들 수 있다.In the general formula (2), plural R 3 and R 4 which are present are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. Examples of the monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms include a monovalent hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, an amino group having 1 to 20 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, and an epoxy group.
그 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 탄화수소기로는, 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기, 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬기, 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기로는, 내열성과 잔류 응력의 관점에서 탄소수 1 ∼ 10 의 알킬기가 바람직하고, 구체적으로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, 부틸기, 이소부틸기, t-부틸기, 펜틸기, 헥실기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬기로는, 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 10 의 시클로알킬기가 바람직하고, 구체적으로는, 시클로펜틸기, 시클로헥실기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기로는, 상기 관점에서 탄소수 6 ∼ 12 의 아릴기가 바람직하고, 구체적으로는, 페닐기, 톨릴기, 나프틸기 등을 들 수 있다.Examples of the monovalent hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms include an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, a cycloalkyl group having 3 to 20 carbon atoms, and an aryl group having 6 to 20 carbon atoms. The alkyl group having 1 to 20 carbon atoms is preferably an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms from the viewpoints of heat resistance and residual stress. Specific examples thereof include methyl, ethyl, propyl, isopropyl, butyl, isobutyl, t -Butyl group, pentyl group, hexyl group and the like. The cycloalkyl group having 3 to 20 carbon atoms is preferably a cycloalkyl group having 3 to 10 carbon atoms from the viewpoint of the above, and specific examples thereof include a cyclopentyl group and a cyclohexyl group. The aryl group having 6 to 20 carbon atoms is preferably an aryl group having 6 to 12 carbon atoms from the viewpoint of the above, and specific examples thereof include a phenyl group, a tolyl group and a naphthyl group.
그 탄소수 1 ∼ 20 의 아미노기로는, 아미노기, 치환한 아미노기 (예를 들어, 비스(트리알킬실릴)아미노기) 등을 들 수 있다.Examples of the amino group having 1 to 20 carbon atoms include amino group, substituted amino group (e.g., bis (trialkylsilyl) amino group), and the like.
그 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 알콕시기로는, 메톡시기, 에톡시기, 프로폭시기, 이소프로필옥시기, 부톡시기, 페녹시기, 프로페닐옥시기 및 시클로헥실옥시기 등을 들 수 있다.Examples of the monovalent alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms include methoxy, ethoxy, propoxy, isopropyloxy, butoxy, phenoxy, propenyloxy and cyclohexyloxy.
일반식 (2) 에 있어서, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족 탄화수소기인 것이, 얻어지는 폴리이미드막이 고내열성과 저잔류 응력을 겸비하는 관점에서 바람직하다. 이 관점에서, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소는 바람직하게는 메틸기이고, 탄소수 6 ∼ 10 의 방향족기는 바람직하게는 페닐기이다.In the general formula (2), the plurality of R 3 and R 4 which are present are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon group of 1 to 3 carbon atoms or a monovalent aromatic hydrocarbon group of 6 to 10 carbon atoms. The obtained polyimide membrane And is preferable from the viewpoint of having high heat resistance and low residual stress. From this viewpoint, the monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 3 carbon atoms is preferably a methyl group, and the aromatic group having 6 to 10 carbon atoms is preferably a phenyl group.
일반식 (2) 중의 h 는 3 ∼ 200 의 정수이며, 바람직하게는 10 ∼ 200 의 정수, 보다 바람직하게는 20 ∼ 150 의 정수, 더욱 바람직하게는 30 ∼ 100 의 정수, 특히 바람직하게는 35 ∼ 80 의 정수이다. h 가 2 이하이면, 본 개시의 수지 전구체로부터 얻어지는 폴리이미드의 잔류 응력이 악화되는 (즉, 커지는) 경우가 있고, h 가 200 을 초과하면, 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시를 조제했을 때에, 그 바니시가 백탁하거나, 폴리이미드의 기계 강도가 저하되는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다.H in the general formula (2) is an integer of 3 to 200, preferably an integer of 10 to 200, more preferably an integer of 20 to 150, still more preferably an integer of 30 to 100, Lt; / RTI > When h is 2 or less, the residual stress of the polyimide obtained from the resin precursor of the present disclosure may deteriorate (i.e., increase). When h exceeds 200, when a varnish containing a resin precursor and a solvent is prepared, The varnish may be opaque or the mechanical strength of the polyimide may be lowered.
본 실시형태의 수지 전구체에 있어서는, 규소기 함유 화합물이 하기 일반식 (3):In the resin precursor of the present embodiment, it is preferable that the silicon group-containing compound is a compound represented by the following general formula (3):
[화학식 11](11)
{식 중, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 단결합 또는 탄소수 1 ∼ 20 의 2 가의 유기기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 R5 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, L1, L2, 및 L3 은, 각각 독립적으로, 아미노기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 무수물기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이고, j 는 3 ∼ 200 의 정수이고, k 는 0 ∼ 197 의 정수이다.} 으로 나타내는 실리콘 화합물을 포함하는 것이 바람직하다. 바람직한 양태에 있어서, 규소기 함유 화합물은 일반식 (3) 으로 나타내는 실리콘 화합물이다.Wherein the plurality of R 2 s present in plural are independently a single bond or a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms and R 3 and R 4 are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms a plurality to be R 5 are, to be present, each independently, a monovalent organic group having a carbon number of 1 ~ 20, L 1, L 2, and L 3 are, each independently, an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid anhydride group, An acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group, j is an integer of 3 to 200, and k is an integer of 0 to 197). In a preferred embodiment, the silicon group-containing compound is a silicone compound represented by the general formula (3).
R2 에 있어서의 탄소수 1 ∼ 20 의 2 가의 유기기로는, 메틸렌기, 탄소수 2 ∼ 20 의 알킬렌기, 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬렌기, 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴렌기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 2 ∼ 20 의 알킬렌기로는, 내열성, 잔류 응력, 코스트의 관점에서 탄소수 2 ∼ 10 의 알킬렌기가 바람직하고, 디메틸렌기, 트리메틸렌기, 테트라메틸렌기, 펜타메틸렌기, 헥사메틸렌기 등을 들 수 있다. 그 탄소수 3 ∼ 20 의 시클로알킬렌기로는, 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 10 의 시클로알킬렌기가 바람직하고, 시클로부틸렌기, 시클로펜틸렌기, 시클로헥실렌기, 시클로헵틸렌기 등을 들 수 있다. 그 중에서도 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소가 바람직하다. 그 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴렌기로는, 상기 관점에서 탄소수 3 ∼ 20 의 방향족기가 바람직하고, 페닐렌기, 나프틸렌기 등을 들 수 있다.Examples of the divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms in R 2 include a methylene group, an alkylene group having 2 to 20 carbon atoms, a cycloalkylene group having 3 to 20 carbon atoms, and an arylene group having 6 to 20 carbon atoms. The alkylene group having 2 to 20 carbon atoms is preferably an alkylene group having 2 to 10 carbon atoms in terms of heat resistance, residual stress and cost, and is preferably an alkylene group having from 2 to 10 carbon atoms such as a dimethylene group, a trimethylene group, a tetramethylene group, a pentamethylene group, And the like. The cycloalkylene group having 3 to 20 carbon atoms is preferably a cycloalkylene group having 3 to 10 carbon atoms in view of the above, and examples thereof include a cyclobutylene group, a cyclopentylene group, a cyclohexylene group, and a cycloheptylene group. Among them, a divalent aliphatic hydrocarbon having 3 to 20 carbon atoms is preferable from the above viewpoint. As the arylene group having 6 to 20 carbon atoms, an aromatic group having 3 to 20 carbon atoms is preferable in view of the above, and phenylene group, naphthylene group and the like can be given.
일반식 (3) 에 있어서, R3 및 R4 는 일반식 (2) 중의 R3 및 R4 와 동일한 의미이며, 바람직한 양태는 일반식 (2) 에 대해 전술한 바와 같다. 또 R5 는 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기, 즉 R3 및 R4 와 동일한 의미이며, 바람직한 양태는 R3 및 R4 와 동일하다.In the formula (3), R 3 and R 4 are the same meanings as R 3 and R 4 in general formula (2), preferred embodiments are as defined above for formula (2). R 5 is the same as a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, that is, R 3 and R 4, and preferred embodiments thereof are the same as R 3 and R 4 .
일반식 (3) 에 있어서, L1, L2, 및 L3 은, 각각 독립적으로, 아미노기, 이소시아네이트기, 카르복실기, 산 무수물기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기이다.In the general formula (3), L 1 , L 2 and L 3 each independently represents an amino group, an isocyanate group, a carboxyl group, an acid anhydride group, an acid ester group, an acid halide group, a hydroxyl group, Lt; / RTI >
아미노기는 치환되어도 되고, 예를 들어 비스(트리알킬실릴)아미노기 등을 들 수 있다. L1, L2, 및 L3 이 아미노기인, 일반식 (3) 으로 나타내는 화합물의 구체예로는, 양 말단 아미노 변성 메틸페닐실리콘 (예를 들어, 신에츠 화학사 제조의, X22-1660B-3 (수평균 분자량 4,400) 및 X22-9409 (수평균 분자량 1,300)), 양 말단 아미노 변성 디메틸실리콘 (예를 들어, 신에츠 화학사 제조의, X22-161A (수평균 분자량 1,600), X22-161B (수평균 분자량 3,000) 및 KF8012 (수평균 분자량 4,400);토레 다우코닝 제조의 BY16-835U (수평균 분자량 900);그리고 칫소사 제조의 사이라플레인 FM3311 (수평균 분자량 1000)) 등을 들 수 있다.The amino group may be substituted, and examples thereof include a bis (trialkylsilyl) amino group and the like. Specific examples of the compound represented by the general formula (3) in which L 1 , L 2 and L 3 are amino groups include amino-modified methylphenyl silicone at both terminals (for example, X22-1660B-3 Terminal number of amino-modified dimethylsilicone (for example, X22-161A (number average molecular weight 1,600), X22-161B (number average molecular weight 3,000) manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., BY16-835U (number average molecular weight: 900) manufactured by Toray Dow Corning; and Saira Plain FM3311 (number average molecular weight: 1,000) manufactured by Chisso Corporation) and KF8012 (number average molecular weight: 4,400).
L1, L2, 및 L3 이 이소시아네이트기인 화합물의 구체예로는, 상기, 양 말단 아미노 변성 실리콘과 포스겐 화합물을 반응하여 얻어지는 이소시아네이트 변성 실리콘 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are isocyanate groups include isocyanate-modified silicon obtained by reacting the above-described amino-terminal modified silicone with a phosgene compound.
L1, L2, 및 L3 이 카르복실기인 화합물의 구체예로는, 예를 들어 신에츠 화학사의, X22-162C (수평균 분자량 4,600), 토레 다우코닝 제조의 BY16-880 (수평균 분자량 6,600) 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 and L 3 are carboxyl groups include X22-162C (number average molecular weight 4,600) of Shin-Etsu Chemical Co., BY16-880 (number average molecular weight 6,600, manufactured by Toray Dow Corning) And the like.
L1, L2, 및 L3 이 산 무수물기인 화합물의 구체예로는, 하기 식 군:Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are acid anhydride groups include compounds represented by the following formulas:
[화학식 12][Chemical Formula 12]
으로 나타내는 기 중 적어도 1 개를 갖는 아실 화합물 등을 들 수 있다.And an acyl compound having at least one of the groups represented by R < 1 >
L1, L2, 및 L3 이 산 무수물기인 화합물의 구체예로는, X22-168AS (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 1,000), X22-168A (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 2,000), X22-168B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,200), X22-168-P5-8 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 4,200), DMS-Z21 (겔레스트사 제조, 수평균 분자량 600 ∼ 800) 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 and L 3 are acid anhydride groups include X22-168 AS (Shin-Etsu Chemical Co., number average molecular weight 1,000), X22-168A (Number average molecular weight: 3,200), X22-168-P5-8 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight: 4,200), DMS-Z21 (manufactured by Gelest Co., number average molecular weight: 600 to 800) have.
L1, L2, 및 L3 이 산 에스테르기인 화합물의 구체예로는, 상기 L1, L2, 및 L3 이 카르복실기 또는 산 무수물기인 화합물과 알코올을 반응시켜 얻어지는 화합물 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are acid ester groups include compounds obtained by reacting an alcohol with a compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are a carboxyl group or an acid anhydride group.
L1, L2, 및 L3 이 산 할라이드기인 화합물의 구체예로는, 카르복실산 염화물, 카르복실산 불화물, 카르복실산 브롬화물, 카르복실산 요오드화물 등을 들 수 있다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 , and L 3 are acid halide groups include a carboxylic acid chloride, a carboxylic acid fluoride, a carboxylic acid bromide, and a carboxylic acid iodide.
L1, L2, 및 L3 이 하이드록시기인 화합물의 구체예로는, KF-6000 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 900), KF-6001 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 1,800), KF-6002 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,200), KF-6003 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 5,000) 등을 들 수 있다. 하이드록시기를 갖는 화합물은 카르복실기 또는 산 무수물기를 갖는 화합물과 반응하는 것으로 생각된다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 and L 3 are hydroxyl groups include KF-6000 (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight 900), KF- 6002 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., number average molecular weight: 3,200) and KF-6003 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., number average molecular weight: 5,000). The compound having a hydroxy group is considered to react with a compound having a carboxyl group or an acid anhydride group.
L1, L2, 및 L3 이 에폭시기인 화합물의 구체예로는, 양 말단 에폭시 타입인, X22-163 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 400), KF-105 (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 980), X22-163A (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 2,000), X22-163B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,500), X22-163C (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 5,400);양 말단 지환식 에폭시 타입인, X22-169AS (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 1,000), X22-169B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,400);측사슬 양 말단 에폭시 타입인, X22-9002 (신에츠 화학 제조, 관능기 당량 5,000 g/㏖);등을 들 수 있다. 에폭시기를 갖는 화합물은 디아민과 반응하는 것으로 생각된다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 and L 3 are epoxy groups include X22-163 (Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., number average molecular weight: 400) and KF-105 980), X22-163A (number average molecular weight 2,000), X22-163B (Shin-Etsu Chemical Co., number average molecular weight 3,500), X22-163C (Shin-Etsu Chemical Co., number average molecular weight 5,400), both end alicyclic epoxy X22-9002 (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd., having a number average molecular weight of 1,000), X22-169B (number average molecular weight of 3,400 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) g / mol); and the like. A compound having an epoxy group is considered to react with a diamine.
L1, L2, 및 L3 이 메르캅토기인 화합물의 구체예로는, X22-167B (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 3,400), X22-167C (신에츠 화학 제조, 수평균 분자량 4,600) 등을 들 수 있다. 메르캅토기를 갖는 화합물은 카르복실기 또는 산 무수물기를 갖는 화합물과 반응하는 것으로 생각된다.Specific examples of the compound in which L 1 , L 2 and L 3 are mercapto groups include X22-167B (Shin-Etsu Chemical Co., number average molecular weight: 3,400), X22-167C . The compound having a mercapto group is considered to react with a compound having a carboxyl group or an acid anhydride group.
L1, L2, 및 L3 은, 수지 전구체의 분자량 향상의 관점, 또는 얻어지는 폴리이미드의 내열성의 관점에서, 각각 독립적으로, 아미노기 또는 산 무수물기인 것이 바람직하고, 또한 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시의 백탁 회피의 관점, 또는 코스트의 관점에서, 각각 독립적으로, 아미노기인 것이 보다 바람직하다.It is preferable that L 1 , L 2 and L 3 are each independently an amino group or an acid anhydride group from the viewpoints of improving the molecular weight of the resin precursor or from the viewpoint of the heat resistance of the obtained polyimide, From the standpoint of avoiding the opacity of the varnish, or from the viewpoint of cost, each independently is preferably an amino group.
또는, 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시의 백탁 회피의 관점, 또는 코스트의 관점에서, L1 및 L2 가, 각각 독립적으로, 아미노기 또는 산 무수물기이고, 그리고 k 가 0 인 것이 바람직하다. 이 경우, L1 및 L2 가 함께 아미노기인 것이 보다 바람직하다.Alternatively, it is preferable that L 1 and L 2 each independently represent an amino group or an acid anhydride group, and k is 0, from the viewpoint of the opacity avoidance of the resin precursor and the varnish containing the solvent, or from the viewpoint of cost. In this case, it is more preferable that L 1 and L 2 together are an amino group.
일반식 (3) 에 있어서, j 의 바람직한 양태는 일반식 (2) 에 있어서 h 에 대해 전술한 것과 동일하다. 일반식 (3) 에 있어서, k 는 0 ∼ 197 의 정수이며, 바람직하게는 0 ∼ 100, 더욱 바람직하게는 0 ∼ 50, 특히 바람직하게는 0 ∼ 25 이다. k 가 197 을 초과하면, 수지 전구체와 용매를 포함하는 바니시를 조제했을 때에, 그 바니시가 백탁하는 등의 문제가 발생하는 경우가 있다. k 가 0 인 경우, 수지 전구체의 분자량 향상의 관점, 또는 얻어지는 폴리이미드의 내열성의 관점에서 바람직하다. k 가 0 인 경우, 수지 전구체의 분자량 향상의 관점, 또는 얻어지는 폴리이미드의 내열성의 관점에서, j 가 3 ∼ 200 인 것은 유리하다.In the general formula (3), a preferable embodiment of j is the same as that described above for h in the general formula (2). In the general formula (3), k is an integer of 0 to 197, preferably 0 to 100, more preferably 0 to 50, and particularly preferably 0 to 25. When k is more than 197, when the varnish containing the resin precursor and the solvent is prepared, the varnish sometimes becomes opaque. When k is 0, it is preferable from the viewpoint of the improvement of the molecular weight of the resin precursor or the heat resistance of the obtained polyimide. When k is 0, it is advantageous that j is 3 to 200 from the viewpoints of improving the molecular weight of the resin precursor or the heat resistance of the obtained polyimide.
바람직한 양태에 있어서, 본 개시의 각 식에 있어서, R3 및 R4 는, 잔류 응력, 코스트의 관점에서, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 3 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 탄소수 6 ∼ 10 의 1 가의 방향족 탄화수소기이다. 또는, 본 개시의 각 식에 있어서, R3 및 R4 의 일부는, 내열성, 잔류 응력의 관점에서, 페닐기인 것이 바람직하다.In a preferred embodiment, in the formulas of the present disclosure, R 3 and R 4 are each independently a monovalent aliphatic hydrocarbon group of 1 to 3 carbon atoms, or a monovalent aliphatic hydrocarbon group of 6 to 10 carbon atoms in terms of residual stress and cost. Lt; / RTI > aromatic hydrocarbon group. Alternatively, in each formula of the present disclosure, it is preferable that a part of R 3 and R 4 is a phenyl group in view of heat resistance and residual stress.
바람직한 양태에 있어서, 다가 화합물은 테트라카르복실산 2무수물과 디아민을 포함한다. 바람직한 양태에 있어서, 다가 화합물은 테트라카르복실산 2무수물, 디카르복실산, 및 디아민을 포함한다.In a preferred embodiment, the multivalent compound comprises a tetracarboxylic acid dianhydride and a diamine. In a preferred embodiment, the polyvalent compound comprises a tetracarboxylic acid dianhydride, a dicarboxylic acid, and a diamine.
<테트라카르복실산 2무수물>≪ Tetracarboxylic acid dianhydride >
중합 원료에 포함되는 다가 화합물의 예로서의 테트라카르복실산 2무수물로는, 구체적으로는, 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 테트라카르복실산 2무수물, 및, 탄소수가 6 ∼ 36 인 지환식 테트라카르복실산 2무수물에서 선택되는 화합물이 YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서 바람직하다.Examples of the tetracarboxylic acid dianhydride as an example of the polyvalent compound contained in the polymerization raw material include concretely aromatic tetracarboxylic acid dianhydride having 8 to 36 carbon atoms and alicyclic tetracarboxylic acid having 6 to 36 carbon atoms 2-anhydride are preferable from the viewpoint of reduction of YI value and total light transmittance.
더욱 구체적으로는, 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (이하, 6FDA 라고도 기재한다), 5-(2,5-디옥소테트라하이드로-3-푸라닐)-3-메틸-시클로헥센-1,2디카르복실산 무수물, 피로멜리트산 2무수물 (이하, PMDA 라고도 기재한다), 1,2,3,4-벤젠테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 (이하, BTDA 라고도 기재한다), 2,2',3,3'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물, 3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물 (이하, BPDA 라고도 기재한다), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (이하, DSDA 라고도 기재한다), 2,2',3,3'-비페닐테트라카르복실산 2무수물, 메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,1-에틸리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 2,2-프로필리덴-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,2-에틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-트리메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,4-테트라메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,5-펜타메틸렌-4,4'-디프탈산 2무수물, 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (이하, ODPA 라고도 기재한다), 티오-4,4'-디프탈산 2무수물, 술포닐-4,4'-디프탈산 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)벤젠 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,4-비스(3,4-디카르복시페녹시)벤젠 2무수물, 1,3-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 1,4-비스[2-(3,4-디카르복시페닐)-2-프로필]벤젠 2무수물, 비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]메탄 2무수물, 2,2-비스[3-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물, 2,2-비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물 (이하, BPADA 라고도 기재한다), 비스(3,4-디카르복시페녹시)디메틸실란 2무수물, 1,3-비스(3,4-디카르복시페닐)-1,1,3,3-테트라메틸디실록산 2무수물, 2,3,6,7-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,4,5,8-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 1,2,5,6-나프탈렌테트라카르복실산 2무수물, 3,4,9,10-페릴렌테트라카르복실산 2무수물, 2,3,6,7-안트라센테트라카르복실산 2무수물, 1,2,7,8-페난트렌테트라카르복실산 2무수물, 에틸렌테트라카르복실산 2무수물, 1,2,3,4-부탄테트라카르복실산 2무수물, 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 2무수물 (이하, CBDA 라고도 기재한다), 시클로펜탄테트라카르복실산 2무수물, 시클로헥산-1,2,3,4-테트라카르복실산 2무수물, 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (이하, CHDA 라고 기재한다), 3,3',4,4'-비시클로헥실테트라카르복실산 2무수물, 카르보닐-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 메틸렌-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 1,2-에틸렌-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 1,1-에틸리덴-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 2,2-프로필리덴-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 옥시-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 티오-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 술포닐-4,4'-비스(시클로헥산-1,2-디카르복실산) 2무수물, 비시클로[2,2,2]옥트-7-엔-2,3,5,6-테트라카르복실산 2무수물, rel-[1S,5R,6R]-3-옥사비시클로[3,2,1]옥탄-2,4-디온-6-스피로-3'-(테트라하이드로푸란-2',5'-디온), 4-(2,5-디옥소테트라하이드로푸란-3-일)-1,2,3,4-테트라하이드로나프탈렌-1,2-디카르복실산 무수물, 에틸렌글리콜-비스-(3,4-디카르복실산 무수물 페닐)에테르, 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (이하, TAHQ 라고도 한다), 9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 (이하, BPAF 라고도 한다.) 등을 들 수 있다.More specifically, there can be mentioned 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (hereinafter also referred to as 6FDA), 5- (2,5-dioxotetrahydro-3-furanyl) -3- Methyl-cyclohexene-1,2-dicarboxylic acid anhydride, pyromellitic acid dianhydride (hereinafter also referred to as PMDA), 1,2,3,4-benzenetetracarboxylic acid dianhydride, 3,3 ', 4 , 4'-benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter also referred to as BTDA), 2,2 ', 3,3'-benzophenonetetracarboxylic acid dianhydride, 3,3', 4,4'- Biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter also referred to as BPDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter also referred to as DSDA), 2,2' 3,3'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride, methylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,1-ethylidene-4,4'-diphthalic acid dianhydride, 2,2- Dicarboxylic dianhydride, 4,4'-diphthalic dianhydride, 1,2-ethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,3-trimethylene- Di-phthalic acid dianhydride, 1,4-tetramethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 1,5-pentamethylene-4,4'-diphthalic dianhydride, 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (hereinafter also referred to as ODPA (3,4-dicarboxyphenyl) benzene dianhydride, 1,3-bis (3,4-dicarboxyphenyl) benzene dianhydride, Benzene dianhydride, 1,4-bis (3,4-dicarboxyphenoxy) benzene dianhydride, 1,3-bis [2- (3,4-dicarboxyphenoxy) (3, 4-dicarboxyphenoxy) -2-propyl] benzene dianhydride, 1,4-bis [2- (3,4-dicarboxyphenyl) Phenyl] methane dianhydride, bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] methane dianhydride, 2,2-bis [3- (3,4-dicarboxyphenoxy) (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride (hereinafter also referred to as BPADA), bis (3,4-dicarboxyphenoxy) dimethylsilane dianhydride, 1,6- 3-bis (3,4-dicarboxyphenyl) -1,1,3,3-te Naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,4-naphthalenetetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,4,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, 1,2,4,6-naphthalenetetracarboxylic dianhydride, Anthracene tetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,7,8-phenanthrene tetracarboxylic acid dianhydride, 2,3,6,7-anthracene tetracarboxylic acid dianhydride, Tetracarboxylic dianhydride, 1,2,3,4-butanetetracarboxylic acid dianhydride, 1,2,3,4-cyclobutanetetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter also referred to as CBDA) ), Cyclopentanetetracarboxylic acid dianhydride, cyclohexane-1,2,3,4-tetracarboxylic acid dianhydride, cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter referred to as " , CHDA), 3,3 ', 4,4'-bicyclohexyltetracarboxylic acid dianhydride, carbonyl-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) 2 Anhydride, methylene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, 1,2- (Cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, 1,1-ethylidene-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) Bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, oxy-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicar (Cyclohexane-1,2-dicarboxylic acid) dianhydride, sulfonyl-4,4'-bis (cyclohexane-1,2-dicarboxylate [1S, 5R, 6R] -3-oxabicyclo [2.2.2] oct-7-ene-2,3,5,6-tetracarboxylic acid dianhydride, [3,2,1] octane-2,4-dione-6-spiro-3 '- (tetrahydrofuran-2', 5'-dione), 4- (2,5-dioxotetrahydrofuran- -1,4-dicarboxylic acid anhydride, ethylene glycol-bis- (3,4-dicarboxylic acid anhydride phenyl) ether, 4,4'- Biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride) (hereinafter also referred to as TAHQ), 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) Lu fluorene (also referred to below, BPAF.) 2 anhydride, and the like.
그 중에서도, BTDA 및 PMDA 가 CTE 의 저감, 내약품성의 향상, 유리 전이 온도 (Tg) 향상 및 기계 신도 향상의 관점에서 바람직하다. 또, 6FDA, ODPA 및 BPADA 가 황색도의 저하, 복굴절률의 저하 및 기계 신도 향상의 관점에서 바람직하다. 또, BPDA 가 잔류 응력의 저감, 황색도의 저하, 복굴절률의 저하, 내약품성의 향상, Tg 향상 및 기계 신도 향상의 관점에서 바람직하다. 또, CHDA 가 잔류 응력의 저감 및 황색도의 저하의 관점에서 바람직하다. 이들 중에서도, 고내약품성, 고 Tg 및 저 CTE 를 발현하는 강직 구조의 BPDA 와, 황색도 및 복굴절률이 낮은, 6FDA, ODPA, 및 CHDA 로 이루어지는 군에서 선택되는 테트라카르복실산 2무수물을 조합하여 사용하는 것이, 고내약품성, 잔류 응력 저하, 황색도 저하, 복굴절률의 저하, 및, 전체 광선 투과율의 향상의 관점에서 바람직하다.Among them, BTDA and PMDA are preferable from the viewpoint of reduction of CTE, improvement of chemical resistance, improvement of glass transition temperature (Tg) and improvement of machine elongation. Further, 6FDA, ODPA and BPADA are preferable from the viewpoints of reduction in yellowness, reduction in birefringence and improvement in machine elongation. Further, BPDA is preferable from the viewpoints of reduction of residual stress, lowering of yellowness, lowering of birefringence, improvement of chemical resistance, improvement of Tg and improvement of machine elongation. CHDA is also preferable from the viewpoints of reduction of residual stress and reduction of yellowing degree. Of these, BPDA having a rigid structure that exhibits high internal chemical resistance, high Tg and low CTE and tetracarboxylic acid dianhydride selected from the group consisting of 6FDA, ODPA, and CHDA having low yellowness and low birefringence are used in combination Is preferable from the viewpoints of the intrinsic chemical resistance, the lowering of the residual stress, the lowering of the yellow color, the lowering of the birefringence, and the improvement of the total light transmittance.
그 중에서도, 상기 효과에 더하여, 고신도, 내약품성의 향상, 및, 고영률의 관점에서, BPDA 에서 유래하는 부위가 전체 산 2무수물 유래의 부위의 20 몰% 이상인 것이 바람직하고, 50 몰% 이상인 것이 보다 바람직하고, 80 몰% 이상인 것이 더욱 바람직하며, 100 % 여도 된다.In particular, from the viewpoint of high durability, chemical resistance, and high Young's modulus, the BPDA-derived moiety is preferably 20 mol% or more, more preferably 50 mol% or more of the moiety derived from the entire acid dianhydride , More preferably 80 mol% or more, and may be 100%.
<디카르복실산><Dicarboxylic acid>
또, 본 실시형태에 있어서의 수지 전구체는, 성능을 저해하지 않는 범위에서, 상기 서술한 테트라카르복실산 2무수물에 더하여, 기계 신도의 향상이나, 유리 전이 온도의 향상, 황색도의 저감과 같은 성능을 조정할 목적으로, 디카르복실산을 공중합시킴으로써 폴리아미드 성분을 도입함으로써, 열 경화막을 폴리아미드이미드로 할 수도 있다. 그와 같은 디카르복실산으로서, 방향 고리를 갖는 디카르복실산 및 지환식 디카르복실산을 들 수 있으며, 특히, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 탄소수가 8 ∼ 36 인 방향족 디카르복실산, 및 탄소수가 6 ∼ 34 인 지환식 디카르복실산으로 이루어지는 군에서 선택되는 적어도 1 개의 화합물이 바람직하다. 구체적으로는, 이소프탈산, 테레프탈산, 4,4'-비페닐디카르복실산, 3,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-비페닐디카르복실산, 1,4-나프탈렌디카르복실산, 2,3-나프탈렌디카르복실산, 1,5-나프탈렌디카르복실산, 2,6-나프탈렌디카르복실산, 4,4'-술포닐비스벤조산, 3,4'-술포닐비스벤조산, 3,3'-술포닐비스벤조산, 4,4'-옥시비스벤조산, 3,4'-옥시비스벤조산, 3,3'-옥시비스벤조산, 2,2-비스(4-카르복시페닐)프로판, 2,2-비스(3-카르복시페닐)프로판, 2,2'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 3,3'-디메틸-4,4'-비페닐디카르복실산, 2,2'-디메틸-3,3'-비페닐디카르복실산, 9,9-비스(4-(4-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-(3-카르복시페녹시)페닐)플루오렌, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)비페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)비페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(4-카르복시페녹시)-m-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 4,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-p-터페닐, 3,4'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 3,3'-비스(3-카르복시페녹시)-m-터페닐, 1,1-시클로부탄디카르복실산, 1,4-시클로헥산디카르복실산, 1,2-시클로헥산디카르복실산, 4,4'-벤조페논디카르복실산, 1,3-페닐렌2아세트산, 1,4-페닐렌2아세트산, 및, 국제 공개 제2005/068535호 팜플렛에 기재된 5-아미노이소프탈산 유도체 등을 들 수 있다. 이들 디카르복실산을 폴리머에 실제로 공중합시키는 경우에는, 염화티오닐 등으로부터 유도되는 산 클로라이드체나 활성 에스테르체의 형태로 사용해도 된다.In addition to the above-mentioned tetracarboxylic acid dianhydride, the resin precursor in the present embodiment can be added to the resin precursor in the range of not deteriorating the performance, such as improvement of the machine elongation, improvement of the glass transition temperature, For the purpose of adjusting the performance, the thermosetting film may be made into a polyamideimide by introducing a polyamide component by copolymerizing a dicarboxylic acid. Examples of such dicarboxylic acids include dicarboxylic acids having aromatic rings and alicyclic dicarboxylic acids. In particular, from the viewpoint of reduction in YI value and total light transmittance, aromatic dicarboxylic acids having 8 to 36 carbon atoms At least one compound selected from the group consisting of dicarboxylic acids and alicyclic dicarboxylic acids having 6 to 34 carbon atoms is preferable. Specific examples thereof include isophthalic acid, terephthalic acid, 4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 1,4-naphthalene Dicarboxylic acid, 2,3-naphthalene dicarboxylic acid, 1,5-naphthalene dicarboxylic acid, 2,6-naphthalene dicarboxylic acid, 4,4'-sulfonyl bisbenzoic acid, 3,4'- Oxybisbenzoic acid, 3,3'-oxybisbenzoic acid, 2,2-bis (4-hydroxyphenyl) benzoic acid, Carboxyphenyl) propane, 2,2-bis (3-carboxyphenyl) propane, 2,2'-dimethyl-4,4'-biphenyldicarboxylic acid, 3,3'- Phenyl dicarboxylic acid, 2,2'-dimethyl-3,3'-biphenyldicarboxylic acid, 9,9-bis (4- (4-carboxyphenoxy) 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) phenyl) fluorene, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) '-Bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenyl Biphenyl, 3,3'-bis (4-carboxyphenoxy) biphenyl, 3,3'-bis (3-carboxyphenoxy) biphenyl, 4,4'- (4-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (4-carboxyphenoxy) (4-carboxyphenoxy) -m-terphenyl, 3,4'-bis (4-carboxyphenoxy) , 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 4,4'-bis (3-carboxyphenoxy) (3-carboxyphenoxy) -p-terphenyl, 3,4'-bis (3-carboxyphenoxy) -m- terphenyl, 3,3 ' 4-cyclohexane dicarboxylic acid, 1,2-cyclohexane dicarboxylic acid, 4-cyclohexanedicarboxylic acid, 4-cyclohexane dicarboxylic acid, Phenylene diacetic acid, 1,4-phenylene dicarboxylic acid, 1,3-phenylene diacetic acid, 1,4-phenylene diacetic acid, and 5-aminoisoproxenes described in WO 2005/068535 pamphlet And deoxidation derivatives. When these dicarboxylic acids are actually copolymerized with the polymer, they may be used in the form of an acid chloride derivative or an active ester derivative derived from thionyl chloride or the like.
이들 중에서도, 테레프탈산이 YI 값의 저감, Tg 의 향상의 관점에서 특히 바람직하다. 디카르복실산을 테트라카르복실산 대신에 사용하는 경우에는, 디카르복실산과 테트라카르복실산을 합친 전체의 몰수에 대해, 디카르복실산이 50 몰% 이하인 것이 내약품성의 관점에서 바람직하다.Among them, terephthalic acid is particularly preferable from the viewpoint of reduction of YI value and improvement of Tg. When dicarboxylic acid is used instead of tetracarboxylic acid, it is preferable from the viewpoint of chemical resistance that the dicarboxylic acid is 50 mol% or less with respect to the total number of moles of dicarboxylic acid and tetracarboxylic acid.
<디아민><Diamine>
중합 성분에 포함되는 디아민은 일반식 (1) 로 나타내는 디아민을 포함한다. 일반식 (1) 로 나타내는 디아민은 예를 들어 후술하는 유닛 1 의 디아민 유래 부위를 구성할 수 있다. 수지 전구체에 있어서, 일반식 (1) 로 나타내는 디아민에서 유래하는 부위는, 폴리이미드 필름의 적합한 황색도, 저복굴절, 전체 광선 투과율의 향상, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력의 저하, 고 Tg 및 고파단 강도를 얻는 관점에서, 전체 디아민 유래 부위의 20 몰% 이상인 것이 바람직하고, 50 몰% 이상인 것이 보다 바람직하고, 80 몰% 이상인 것이 더욱 바람직하다.The diamine contained in the polymerization component includes a diamine represented by the general formula (1). The diamine represented by the general formula (1) can constitute, for example, a diamine-derived site of the unit 1 described later. In the resin precursor, a site derived from a diamine represented by the general formula (1) is preferably a site derived from a diamine in which the polyimide film has a suitable yellowness, a low birefringence, an improvement in the total light transmittance, a decrease in residual stress generated between the film and the inorganic film, From the viewpoint of obtaining Tg and high strength, it is preferably 20 mol% or more, more preferably 50 mol% or more, and even more preferably 80 mol% or more of the entire diamine-derived site.
또, 디아민은 규소수 2 ∼ 100 의 2 가의 규소 함유기를 갖는 디아민 (이하, 간단히 규소 함유 디아민이라고도 기재한다) 을 포함할 수 있다. 규소 함유 디아민으로는, 예를 들어, 하기 일반식 (9):The diamine may include a diamine having a divalent silicon-containing group having 2 to 100 silicon atoms (hereinafter, also simply referred to as a silicon-containing diamine). As the silicon-containing diamine, for example, the following general formula (9):
[화학식 13][Chemical Formula 13]
{식 중, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소, 또는 2 가의 방향족기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, l 은 3 ∼ 50 의 정수이다.} 로 나타내는 디아미노(폴리)실록산이 적합하다. 이와 같은 디아민은 예를 들어 후술하는 유닛 2 를 구성할 수 있다.Wherein the plurality of R 2 s present are independently a divalent aliphatic hydrocarbon having 3 to 20 carbon atoms or a divalent aromatic group and each of R 3 and R 4 is independently a monovalent C 1-20 (L) is an integer of 3 to 50, is suitable as the diamino (poly) siloxane. Such a diamine can constitute, for example, a unit 2 to be described later.
상기 일반식 (9) 중의 R2 의 바람직한 구조로서, 메틸렌기, 에틸렌기, 프로필렌기, 부틸렌기 및 페닐렌기 등을 들 수 있다. 또, 상기 일반식 (9) 중의 R3 및 R4 에 대한 적합한 예로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 부틸기 및 페닐기 등을 들 수 있으며, 특히 적어도 일부가 페닐기인 것이 특히 바람직하다.Examples of preferred structures of R 2 in the general formula (9) include a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group and a phenylene group. Suitable examples of R 3 and R 4 in the general formula (9) include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, a butyl group and a phenyl group, and particularly preferably at least a part of them is a phenyl group.
상기 일반식 (9) 로 나타내는 화합물로는, 구체적으로는, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400), X22-9409 (수평균 분자량 1300)), 양 말단 아미노 변성 디메틸실리콘 (신에츠 화학사 제조:X22-161A (수평균 분자량 1600), X22-161B (수평균 분자량 3000), KF8021 (수평균 분자량 4400), 토레 다우코닝 제조:BY16-835U (수평균 분자량 900) 칫소사 제조:사이라플레인 FM3311 (수평균 분자량 1000)) 등을 들 수 있다. 이들 중에서, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일이 내약품성 향상 및 Tg 향상의 관점에서 특히 바람직하다.Specific examples of the compound represented by the above general formula (9) include a methylphenyl silicone oil modified at both ends (X22-1660B-3 (number average molecular weight: 4400) and X22-9409 (number average molecular weight: 1300) (Number average molecular weight: 3,000), KF8021 (number average molecular weight: 4400) manufactured by Toray Dow Corning Co., Ltd., BY16-835U (number average molecular weight: 1,600) Average molecular weight: 900) manufactured by Chisso Corporation: Sira Plain FM3311 (number average molecular weight: 1000)). Of these, both terminal amine-modified methylphenyl silicone oils are particularly preferred from the viewpoints of chemical resistance improvement and Tg improvement.
게다가, 디아민은 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 (이하, TFMB 라고도 기재한다), 4,4'- (또는 3,4'-, 3,3'-, 2,4'-) 디아미노디페닐에테르, 4,4'- (또는 3,3'-) 디아미노디페닐술폰, 4,4'- (또는 3,3'-) 디아미노디페닐술파이드, 4,4'-벤조페논디아민, 3,3'-벤조페논디아민, 4,4'-디(4-아미노페녹시)페닐술폰, 4,4'-디(3-아미노페녹시)페닐술폰, 4,4'-비스(4-아미노페녹시)비페닐, 1,4-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠, 2,2-비스{4-(4-아미노페녹시)페닐}프로판, 3,3',5,5'-테트라메틸-4,4'-디아미노디페닐메탄, 2,2'-비스(4-아미노페닐)프로판, 2,2',6,6'-테트라메틸-4,4'-디아미노비페닐, 2,2',6,6'-테트라트리플루오로메틸-4,4'-디아미노비페닐, 비스{(4-아미노페닐)-2-프로필}1,4-벤젠, 9,9-비스(4-아미노페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-아미노페녹시페닐)플루오렌, 3,3'-디메틸벤지딘, 3,3'-디메톡시벤지딘 및 3,5-디아미노벤조산 등, 2,6-디아미노피리딘, 2,4-디아미노피리딘, 비스(4-아미노페닐-2-프로필)-1,4-벤젠, 3,3'-비스(트리플루오로메틸)-4,4'-디아미노비페닐 (3,3'-TFDB), 2,2'-비스[3(3-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판 (3-BDAF), 2,2'-비스[4(4-아미노페녹시)페닐]헥사플루오로프로판 (4-BDAF), 2,2'-비스(3-아미노페닐)헥사플루오로프로판 (3,3'-6F), 그리고, 2,2'-비스(4-아미노페닐)헥사플루오로프로판 (4,4'-6F) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상을 포함해도 된다. 이들 디아민은 후술하는 유닛 3 의 디아민 유래 부위를 구성할 수 있다. 이들 중에서도, 1,4-시클로헥산디아민 및 TFMB 가 황색도의 저하, CTE 의 저하, YI 값의 저감의 관점에서 가장 바람직하다.Further, the diamine may be 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine (hereinafter also referred to as TFMB), 4,4'- (or 3,4'-, 3,3'-, 2,4'- ), Diaminodiphenyl ether, 4,4'- (or 3,3'-) diaminodiphenylsulfone, 4,4'- (or 3,3'-) diaminodiphenylsulfide, 4,4 ' (4-aminophenoxy) phenylsulfone, 4,4'-di (3-aminophenoxy) phenylsulfone, 4,4'- Bis (4-aminophenoxy) benzene, 2,2-bis {4- (4-aminophenoxy) benzene, -Aminophenoxy) phenyl} propane, 3,3 ', 5,5'-tetramethyl-4,4'-diaminodiphenylmethane, 2,2'-bis , 6,6'-tetramethyl-4,4'-diaminobiphenyl, 2,2 ', 6,6'-tetratrifluoromethyl-4,4'-diaminobiphenyl, bis {(4 (4-aminophenyl) fluorene, 9,9-bis (4-aminophenoxyphenyl) fluorene, Dimethylbenzidine , 3,3'-dimethoxybenzidine and 3,5-diaminobenzoic acid, etc., 2,6-diaminopyridine, 2,4-diaminopyridine, bis (4-aminophenyl- -Benzene, 3,3'-bis (trifluoromethyl) -4,4'-diaminobiphenyl (3,3'-TFDB), 2,2'-bis [3- (3-aminophenoxy) phenyl ] Hexafluoropropane (3-BDAF), 2,2'-bis [4 (4-aminophenoxy) phenyl] hexafluoropropane (4-BDAF), 2,2'- At least one selected from the group consisting of hexafluoropropane (3,3'-6F) and 2,2'-bis (4-aminophenyl) hexafluoropropane (4,4'-6F) You can. These diamines can constitute a diamine-derived site of the unit 3 described later. Of these, 1,4-cyclohexanediamine and TFMB are most preferable from the viewpoints of reduction in yellowness, reduction in CTE and reduction in YI value.
수지 전구체는 보다 바람직하게는 이하의 유닛 1 및 유닛 2 를 포함한다.The resin precursor more preferably includes the following units 1 and 2.
유닛 1 은 적어도 하기 일반식 (4);Unit 1 comprises at least the following general formula (4);
[화학식 14] [Chemical Formula 14]
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X1 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 n 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} (Wherein R 1 s present in plural numbers are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and X 1, which may be present in plural numbers, 32, and n is an integer of 1 to 100.}
로 나타내는 구조를 갖고, , ≪ / RTI >
그 유닛 2 는 하기 일반식 (5):The unit 2 is represented by the following general formula (5):
[화학식 15] [Chemical Formula 15]
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 2 가의 지방족 탄화수소, 또는 2 가의 방향족기이고, R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X2 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, l 은 3 ∼ 50 의 정수이며, 그리고 m 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조, 또는, 하기 일반식 (6):Wherein the plurality of R 1 s present are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and the plurality of R 2 s present may be independently selected from the group consisting of 3 to 20 carbon atoms And R < 3 > and R < 4 > are each independently a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and the plurality of X 2, which may be present, (1), wherein m is an integer of 1 to 100, or a structure represented by the following general formula (6):
[화학식 16] [Chemical Formula 16]
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R8 은, 각각 독립적으로, 탄소수 3 ∼ 20 의 3 가의 지방족 탄화수소, 또는 3 가의 방향족기이고, p 는 1 ∼ 100 의 정수이며, 그리고 q 는 3 ∼ 50 의 정수이다.} 으로 나타내는 구조, 또는 상기 일반식 (5) 로 나타내는 구조와 상기 일반식 (6) 으로 나타내는 구조의 양자를 갖는다.(Wherein R 1 s present in plural are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and R 3 and R 4 , which are present in plural numbers, A plurality of R 8 s are each independently a trivalent aliphatic hydrocarbon having 3 to 20 carbon atoms or a trivalent aromatic group, p is an integer of 1 to 100, and q is (3 to 50)}, or a structure represented by the general formula (5) and a structure represented by the general formula (6).
일반식 (4) 및 (6) 에 있어서, 디아민 유래 부위는, 예를 들어, 4,4-(디아미노디페닐)술폰, 3,4-(디아미노디페닐)술폰, 및 3,3-(디아미노디페닐)술폰으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상의 디아민에서 유래할 수 있다. 일반식 (4) 및 (5) 에 있어서, 산 무수물 유래 부위는, 각각, 4 가의 유기기 X1 (X1 은 상기 정의한 바와 같음) 을 갖는 산 2무수물, 및 4 가의 유기기 X2 (X2 는 상기 정의한 바와 같음) 를 갖는 산 2무수물에서 유래한다. 일반식 (5) 로 나타내는 구조에 있어서의 디아민 유래 부위는 일반식 (9) 로 나타내는 디아미노(폴리)실록산에서 유래한다.In the general formulas (4) and (6), the diamine-derived site is, for example, 4,4- (diaminodiphenyl) sulfone, 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone, (Diaminodiphenyl) sulfone, and the like. In the general formulas (4) and (5), the acid anhydride-derived moiety is an acid anhydride having a tetravalent organic group X 1 (X 1 is as defined above) and a tetravalent organic group X 2 (X 2 is as defined above. The diamine-derived site in the structure represented by the general formula (5) is derived from a diamino (poly) siloxane represented by the general formula (9).
유닛 1 및 유닛 2 는, 내열성, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서,From the viewpoints of the heat resistance and the YI value reduction and the total light transmittance, the unit 1 and the unit 2,
피로멜리트산 2무수물 (PMDA) 및 비페닐테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위와,A moiety derived from at least one selected from the group consisting of pyromellitic dianhydride (PMDA) and biphenyltetracarboxylic acid dianhydride (BPDA)
4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (ODPA), 4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 (6FDA), 시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 (CHDA), 3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 (DSDA), 4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) (TAHQ), 및 9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 (BPAF) 로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상에서 유래하는 부위4,4'-oxydiphthalic dianhydride (ODPA), 4,4'- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride (6FDA), cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid 2 (CHDA), 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride (DSDA), 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride) (TAHQ), and (9), 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride (BPAF)
의 조합인 부위를, 유닛 1 및 유닛 2 의 산 2 무수물 유래 부위의 총량 기준으로, 바람직하게는 60 몰% 이상, 보다 바람직하게는 65 몰% 이상, 더욱 바람직하게는 70 몰% 이상의 양에서의 양으로 포함한다.Is preferably at least 60 mol%, more preferably at least 65 mol%, and even more preferably at least 70 mol%, based on the total amount of the acid anhydride-derived sites of the unit 1 and the unit 2 Included in quantities.
본 실시형태에 관련된 수지 전구체에 있어서는, 유닛 1 및 유닛 2 의 합계 질량이, 수지 전구체의 총질량 기준으로, 30 질량% 이상인 것이 YI 값의 저감, 복굴절률의 저감, Tg 향상의 관점에서 바람직하고, 또한, 70 질량% 이상이 복굴절률의 저감의 관점에서 바람직하다. 가장 바람직하게는 100 질량% 이다.In the resin precursor according to the present embodiment, it is preferable that the total mass of the unit 1 and the unit 2 is 30 mass% or more based on the total mass of the resin precursor in terms of reduction in YI value, reduction in birefringence, and improvement in Tg , And more preferably 70 mass% or more from the viewpoint of reducing the birefringence. Most preferably 100% by mass.
또, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체는, 필요에 따라, 성능을 저해하지 않는 범위에서, 하기 일반식 (7):The resin precursor according to the present embodiment may contain, if necessary, a compound represented by the following general formula (7):
[화학식 17] [Chemical Formula 17]
{식 중, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소, 또는 1 가의 방향족기이고, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 2 가의 유기기이고, 복수 존재해도 되는 X4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이며, 그리고 t 는 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 유닛 3 을 추가로 함유해도 된다.(Wherein R 1 s present in plural numbers are each independently a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms, or a monovalent aromatic group, and X 3, which may be present in plural numbers, And a plurality of X 4 which may be present are each independently a tetravalent organic group having 4 to 32 carbon atoms and t is an integer of 1 to 100. The unit 3 having the structure represented by May be further contained.
유닛 3 은, 디아민 유래 부위가 4,4-DAS, 3,4-DAS, 3,3-DAS, 및 규소 함유 디아민으로 이루어지는 군에서 선택되는 화합물 이외의 디아민에서 유래하는 부위인 구조이다.Unit 3 is a structure in which the diamine-derived site is a site derived from a diamine other than the compound selected from the group consisting of 4,4-DAS, 3,4-DAS, 3,3-DAS, and silicon-containing diamine.
유닛 3 에 있어서, R1 은 바람직하게는 수소 원자이다. 또 X3 은, 내열성, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 바람직하게는 2 가의 방향족기 또는 지환식기이다. 또 X4 는, 내열성, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 바람직하게는 2 가의 방향족기 또는 지환식기이다. 그 중에서도, X3 은 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘으로부터 아미노기를 제외한 구조인 잔기인 것이 바람직하다. 유기기 X1, X2 및 X4 는 서로 동일해도 되고, 상이해도 된다.In the unit 3, R 1 is preferably a hydrogen atom. X 3 is preferably a divalent aromatic group or alicyclic group from the viewpoints of heat resistance, reduction of the YI value, and total light transmittance. X 4 is preferably a divalent aromatic group or an alicyclic group from the viewpoints of heat resistance, reduction of the YI value, and total light transmittance. Among them, it is preferable that X 3 is a residue which is a structure excluding 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine from the amino group. The organic groups X 1 , X 2 and X 4 may be the same or different.
본 실시형태에 관련된 수지 전구체에 있어서의 유닛 3 의 질량 비율은 전체 수지 구조 중의 80 질량% 이하, 바람직하게는 70 질량% 이하인 것이 YI 값과 전체 광선 투과율의 산소 의존성의 저하의 관점에서 바람직하다.The mass ratio of the unit 3 in the resin precursor according to the present embodiment is preferably 80% by mass or less, and more preferably 70% by mass or less, from the viewpoint of reduction in oxygen dependency of YI value and total light transmittance.
본 실시형태에 관련된 수지 전구체는, 그 수지 전구체를 불활성 분위기하 (예를 들어, 질소 또는 아르곤의 분위기하) 300 ∼ 500 ℃ 에서 가열 경화시켜 얻어지는 수지, 또는 그 수지 전구체를 불활성 분위기하에서 350 ℃ 에서 가열 경화시켜 얻어지는 수지가 -150 ℃ ∼ 0 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도 및 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역 중 적어도 하나의 유리 전이 온도를 갖고, 또한 0 ℃ 보다 크고 150 ℃ 보다 작은 영역에 있어서 유리 전이 온도를 갖지 않는 것이 바람직하다. -150 ℃ ∼ 0 ℃ 의 영역과 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역에 유리 전이 온도가 존재하는 것은, 잔류 응력과 전체 광선 투과율의 밸런스를 양호하게 하는 관점에서 바람직하다. 내열성의 관점에서, 150 ℃ ∼ 380 ℃ 영역에 있는 유리 전이 온도는 200 ∼ 380 ℃ 의 영역에 있는 것이 보다 바람직하고, 250 ∼ 380 ℃ 의 영역에 있는 것이 더욱 바람직하다. 수지 전구체가 후술하는 블록 1 및 블록 2 를 갖는 것은 이와 같은 수지 전구체의 형성에 있어서 유리하다.The resin precursor according to the present embodiment is obtained by heat-curing the resin precursor at 300 to 500 占 폚 in an inert atmosphere (for example, under an atmosphere of nitrogen or argon) or a resin precursor thereof at 350 占 폚 Wherein the resin obtained by the heat curing has a glass transition temperature of at least one of a glass transition temperature of at least one of the range of -150 ° C to 0 ° C and a glass transition temperature of 150 ° C to 380 ° C and has a glass transition temperature of more than 0 ° C and less than 150 ° C It is preferable that it does not have a glass transition temperature. The presence of the glass transition temperature in the range of -150 ° C to 0 ° C and the range of 150 ° C to 380 ° C is preferable from the viewpoint of improving the balance between the residual stress and the total light transmittance. From the viewpoint of heat resistance, the glass transition temperature in the region of 150 ° C to 380 ° C is more preferably in the range of 200 to 380 ° C, and more preferably in the region of 250 to 380 ° C. The resin precursor having the block 1 and the block 2 described later is advantageous in the formation of such a resin precursor.
본 실시형태에 관련된 수지 전구체는 유닛 1 을 주로 하는 블록 1, 및 유닛 2 를 주로 하는 블록 2 로 구성되는 것이 내열성을 향상하는 관점에서 바람직하다. 또한, 수지 전구체는 전술한 유닛 3 을 블록 1 에 포함하고 있어도 된다. 이들 블록은 고분자 사슬 중에서 번갈아 결합하고 있어도 되고 순열로 결합하고 있어도 된다.The resin precursor according to the present embodiment is preferably composed of block 1 consisting mainly of unit 1 and block 2 consisting mainly of unit 2 from the viewpoint of improving heat resistance. Further, the resin precursor may include the above-described unit 3 in the block 1. These blocks may be alternately bonded in the polymer chain or may be bonded in a permutation.
상기 서술한 블록 1 은, 본 실시형태의 수지 전구체를 가열 경화시켜 얻어지는 폴리이미드에 있어서, 150 ∼ 380 ℃ 의 범위에 Tg 를 발현시키는 데에 기여한다. 따라서, 블록 1 은 상기 서술한 유닛 1 의 반복만으로 이루어지는 블록인 것이 바람직하지만, 목적으로 하는 Tg 를 발현시킬 수 있는 범위에 있어서, 그 유닛 1 이외의 유닛 3 을 포함하는 것을 배제하지 않는다.The above-described block 1 contributes to the expression of Tg in the range of 150 to 380 DEG C in the polyimide obtained by thermally curing the resin precursor of the present embodiment. Therefore, it is preferable that the block 1 is a block composed of only the repetition of the unit 1 described above, but it does not exclude that the unit 3 includes the unit 3 other than the unit 1 in the range capable of expressing the target Tg.
마찬가지로, 상기 서술한 블록 2 는, 본 실시형태의 수지 전구체를 가열 경화시켜 얻어지는 폴리이미드에 있어서, -150 ∼ 0 ℃ 의 범위에 Tg 를 발현시키는 데에 기여한다. 따라서, 블록 2 는 상기 서술한 유닛 2 의 반복만으로 이루어지는 블록인 것이 바람직하지만, 목적으로 하는 Tg 를 발현시킬 수 있는 범위에 있어서, 그 유닛 2 이외의 유닛을 포함하는 것을 배제하지 않는다.Similarly, the above-mentioned block 2 contributes to the expression of Tg in the range of -150 to 0 캜 in the polyimide obtained by heat-curing the resin precursor of the present embodiment. Therefore, it is preferable that the block 2 is a block consisting of only the repetition of the above-described unit 2, but it does not exclude that it includes a unit other than the unit 2 in the range capable of expressing the target Tg.
블록 1 및 블록 2 를 갖는 수지 전구체에 있어서, 블록 1 에 있어서의 유닛 1 및 유닛 3 의 반복수의 합은, 평균으로, 2 ∼ 500 이 바람직하고, 5 ∼ 300 이 보다 바람직하고, 10 ∼ 200 이 가장 바람직하다. 또, 블록 2 에 있어서의 유닛 2 의 반복수는, 1 분자당 평균으로, 1.1 ∼ 300 이 바람직하고, 1.1 ∼ 200 이 보다 바람직하고, 1.2 ∼ 100 이 가장 바람직하다. 블록 1 에 있어서의 유닛 1 및 유닛 3 의 반복수의 합이 500 이하이고, 또한, 블록 2 에 있어서의 유닛 2 의 반복수가 300 이하임으로써, 그 수지 전구체의 용매에 대한 용해성이 양호해져 바람직하다.In the resin precursor having the block 1 and the block 2, the sum of the repeating number of the unit 1 and the unit 3 in the block 1 is preferably 2 to 500, more preferably 5 to 300, and more preferably 10 to 200 Is most preferable. The average number of repeating units 2 in the block 2 is preferably 1.1 to 300, more preferably 1.1 to 200, and most preferably 1.2 to 100 per molecule. When the sum of the repeating number of the unit 1 and the unit 3 in the block 1 is 500 or less and the number of repeating units 2 in the block 2 is 300 or less, the solubility of the resin precursor in the solvent becomes preferable .
블록 1 에 있어서의 유닛 1 및 유닛 3 의 반복수의 합을 블록 2 에 있어서의 유닛 2 의 반복수로 나눈 값으로 정의되는 비 (이하, 유닛비라고도 기재한다) 는 사용하는 원료의 종류나 분자량에 따라 다르기도 하지만, 0.5 ∼ 100 인 것이 바람직하고, 10 ∼ 50 인 것이 보다 바람직하다. 전술한 바와 같이, 블록 1 및 블록 2 를 갖는 수지 전구체의 경화물인 폴리이미드는 블록 1 에서 유래하는 유리 전이 온도를 150 ℃ 내지 380 ℃ 의 영역 A 에 갖고, 블록 2 에서 유래하는 유리 전이 온도를 -150 ℃ 내지 0 ℃ 의 영역 B 에 갖고, 그 영역 A 와 그 영역 B 사이의 영역 C 에는 유리 전이 온도를 갖지 않는다는 이점을 가질 수 있다. 상기 서술한 유닛비의 값이 0.5 이상인 경우, 경화 후의 폴리이미드 수지의 내열성이 충분한 것이 되어 바람직하다. 또 100 이하인 경우, 잔류 응력을 낮게 할 수 있어 바람직하다.The ratio defined by a value obtained by dividing the sum of the number of repetitions of unit 1 and unit 3 in block 1 by the number of repetitions of unit 2 in block 2 (hereinafter also referred to as a unit ratio) But it is preferably from 0.5 to 100, more preferably from 10 to 50, As described above, the polyimide which is the cured product of the resin precursor having the block 1 and the block 2 has the glass transition temperature derived from the block 1 in the region A of 150 to 380 占 폚 and the glass transition temperature derived from the block 2 as the? It is in the region B of 150 DEG C to 0 DEG C and the region C between the region A and the region B has an advantage of not having the glass transition temperature. When the value of the above unit ratio is 0.5 or more, the heat resistance of the polyimide resin after curing becomes sufficient, which is preferable. When it is 100 or less, the residual stress can be lowered, which is preferable.
한편, 중합 성분에 있어서의 규소기 함유 화합물로서, 고분자량 실리콘 화합물 (구체적으로는, 평균 분자량 3000 이상의 실리콘 화합물) 을 사용하는 경우, 상기와 같은 블록 공중합체를 형성하지 않아도, 얻어지는 폴리이미드가 높은 유리 전이 온도를 유지하면서, 무기막과의 낮은 잔류 응력을 발현할 수 있다. 고분자량의 실리콘 화합물에 의하면, 실리콘 단위 자체가 장사슬 실록산 구조를 취하고 있어, 상기 블록 구조와 동일한 작용을 하는 것으로 생각되기 때문이다. 여기서 실리콘 화합물이 고분자량인 경우, 관능기 농도가 저하되기 때문에, 투입 몰수가 적어도, 상기 고유리 전이 온도와 저잔류 응력을 발현할 수 있다.On the other hand, when a high molecular weight silicone compound (specifically, a silicone compound having an average molecular weight of 3,000 or more) is used as the silicon group-containing compound in the polymerization component, even if the above block copolymer is not formed, It is possible to exhibit a low residual stress with the inorganic film while maintaining the glass transition temperature. According to the silicone compound having a high molecular weight, the silicone unit itself has a long-chain siloxane structure, which is considered to have the same effect as the above-mentioned block structure. When the silicone compound has a high molecular weight, the functional group concentration is lowered, so that the molar amount of the silicone compound can exhibit at least the high glass transition temperature and low residual stress.
예를 들어, 고분자량 실리콘 화합물이 디아민인 경우에는, 수지 전구체는, (디아미노디페닐)술폰 유래의 일반식 (4) 의 유닛 1 과 실리콘 디아민 유래의 일반식 (5) 의 유닛 2 의 공중합체에 더하여, 단독의 (즉, 유닛 2 가 공중합하고 있지 않는) 유닛 1 의 폴리이미드 전구체가 존재하는 폴리이미드 전구체 혼합물, 즉, 블렌드물이 생성된다.For example, when the high molecular weight silicone compound is a diamine, the resin precursor may be a copolymer of a unit 1 of the general formula (4) derived from (diaminodiphenyl) sulfone and a unit 2 of the unit 2 of the general formula In addition to incorporation, a polyimide precursor mixture, i.e., a blend of water, is produced in which there is a single polyimide precursor of unit 1 (i.e., the unit 2 is not copolymerized).
따라서, 본 개시는 상기 서술한 본 실시형태의 수지 전구체와, 추가의 수지 전구체 (예를 들어, 상기 유닛 1 단독의 폴리이미드 전구체) 를 포함하는 전구체 혼합물도 또한 포함한다. 여기서, 그 유닛 1 단독의 폴리이미드 전구체의 구체예로는, 하기 일반식 (8):Accordingly, the present disclosure also includes a precursor mixture comprising the resin precursor of the present embodiment described above and a further resin precursor (e.g., the unit 1 alone polyimide precursor). Specific examples of the polyimide precursor of the unit 1 alone include the following general formula (8):
[화학식 18][Chemical Formula 18]
{식 중, 복수 존재해도 되는 X3 은, 각각 독립적으로, 탄소수 4 ∼ 32 의 4 가의 유기기이고, 복수 존재하는 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 20 의 1 가의 지방족 탄화수소기, 또는 1 가의 방향족기이며, 그리고 r 은 1 ∼ 100 의 정수이다.} 로 나타내는 구조를 갖는 수지 전구체를 들 수 있다.(Wherein X 3, which may be plural, may be independently a quaternary organic group having 4 to 32 carbon atoms, and plural R 1 s may independently be a hydrogen atom, a monovalent aliphatic hydrocarbon having 1 to 20 carbon atoms Group, or a monovalent aromatic group, and r is an integer of 1 to 100).
한편, 고분자량 실리콘 화합물이 디아민 이외인 경우의 예는, 예를 들어, 일반식 (3) 에 있어서 L1, L2, 및 L3 이, 각각 독립적으로, 산 무수물기, 카르복실기, 산 에스테르기, 산 할라이드기, 하이드록시기, 에폭시기, 또는 메르캅토기인 실리콘 화합물이다.On the other hand, examples of the case where the high molecular weight silicone compound is other than diamine include, for example, in the general formula (3), L 1 , L 2 and L 3 each independently represent an acid anhydride group, , An acid halide group, a hydroxyl group, an epoxy group, or a mercapto group.
본 실시형태에 관련된 수지 전구체에 있어서 중합 성분이 고분자량 실리콘 화합물을 포함하는 경우, 그 수지 전구체의 경화물인 폴리이미드는 150 ℃ ∼ 380 ℃ 의 영역에 있어서의 유리 전이 온도를 높게 유지한 상태로, 무기막과의 사이의 잔류 응력을 현저하게 저감할 수 있다는 특이한 특성을 달성할 수 있다.In the resin precursor according to the present embodiment, when the polymerization component contains a high molecular weight silicone compound, the polyimide which is a cured product of the resin precursor maintains the glass transition temperature in the range of 150 ° C to 380 ° C at a high level, It is possible to achieve a specific characteristic that the residual stress between the film and the inorganic film can be remarkably reduced.
본 실시형태에 관련된 수지 전구체의 수평균 분자량은 3000 ∼ 1000000 인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 5000 ∼ 500000, 더욱 바람직하게는 7000 ∼ 300000, 특히 바람직하게는 10000 ∼ 250000 이다. 그 분자량이 3000 이상인 것이 내열성이나 강도 (예를 들어, 강 신도) 를 양호하게 얻는 관점에서 바람직하고, 1000000 이하인 것이 용매에 대한 용해성을 양호하게 얻는 관점, 도포 등의 가공시에 원하는 막두께로 스며듦이 없이 도포할 수 있는 관점에서 바람직하다. 높은 기계 신도를 얻는 관점에서는, 분자량은 50000 이상인 것이 바람직하다. 본 개시에서, 수평균 분자량은, 겔 퍼미에이션 크로마토그래피를 사용하여, 표준 폴리스티렌 환산으로 구해지는 값이다.The number average molecular weight of the resin precursor according to the present embodiment is preferably 3000 to 1000000, more preferably 5000 to 500000, still more preferably 7000 to 300000, and particularly preferably 10000 to 250000. From the viewpoint of satisfactory heat resistance and strength (for example, strong elongation), it is preferable that the molecular weight is 3,000 or more. When the molecular weight is 1,000,000 or less, the solubility in a solvent is satisfactory, It is preferable from the viewpoint that it is possible to apply without application. From the viewpoint of obtaining a high mechanical elongation, the molecular weight is preferably 50,000 or more. In the present disclosure, the number average molecular weight is a value obtained in terms of standard polystyrene using gel permeation chromatography.
바람직한 양태에 있어서, 수지 전구체는 일부 이미드화되어 있어도 된다.In a preferred embodiment, the resin precursor may be partially imidized.
본 실시형태의 수지 전구체는 무색 투명 폴리이미드 기판 상에 TFT 소자 장치를 구비한 디스플레이 제조 공정에 견딜 수 있는 내열성으로서 고온측의 유리 전이 온도가 150 ℃ ∼ 380 ℃ 를 갖고, 또한, 무기막과의 사이의 잔류 응력이 10 ㎛ 막두께로 25 ㎫ 이하인 폴리이미드 수지를 형성할 수 있다. 또, 보다 적합한 양태에 있어서는, 수지 전구체는 유리 전이 온도가 240 ℃ ∼ 380 ℃ 에서 무기막과의 사이의 잔류 응력이 10 ㎛ 막두께로 20 ㎫ 이하인 폴리이미드 수지를 형성할 수 있다. 폴리이미드 수지에 있어서, -150 ∼ 0 ℃ 에 유리 전이 온도가 존재하는 경우, 이 온도는 실온 이하이기 때문에, 실제의 디스플레이 제조 공정에서 필요해지는 내열성에는 영향을 주지 않는다.The resin precursor of the present embodiment has heat resistance capable of enduring a display manufacturing process including a TFT element device on a colorless transparent polyimide substrate and has a glass transition temperature on the high temperature side of 150 占 폚 to 380 占 폚, A polyimide resin having a residual stress of 10 mu m and a thickness of 25 MPa or less can be formed. In a more preferable embodiment, the resin precursor can form a polyimide resin having a residual stress between the inorganic precursor and the inorganic film at a glass transition temperature of 240 캜 to 380 캜, with a film thickness of 10 탆 and 20 MPa or less. In the polyimide resin, when the glass transition temperature is in the range of -150 to 0 占 폚, this temperature is lower than the room temperature, so that the heat resistance required in an actual display manufacturing process is not affected.
또, 바람직한 양태에 있어서, 수지 전구체는 이하의 특성을 갖는다.In a preferred embodiment, the resin precursor has the following characteristics.
수지 전구체를 용매 (예를 들어, N-메틸-2-피롤리돈) 에 용해하여 얻어지는 용액을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 용액을 질소 분위기하 300 ∼ 500 ℃ (예를 들어, 350 ℃) 에서 가열 (예를 들어, 1 시간) 함으로써 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지에 있어서, 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하이다.A solution obtained by dissolving a resin precursor in a solvent (for example, N-methyl-2-pyrrolidone) is developed on the surface of a support and the solution is heated at 300 to 500 ° C ) (For example, 1 hour), the yellow degree of the resin obtained when the resin precursor is imidized is 7 or less at a film thickness of 20 mu m.
수지 전구체를 용매 (예를 들어, N-메틸-2-피롤리돈) 에 용해하여 얻어지는 용액을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 용액을 질소 분위기하 300 ∼ 500 ℃ (예를 들어, 350 ℃) 에서 가열 (예를 들어, 1 시간) 함으로써 그 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지에 있어서, 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이다.A solution obtained by dissolving a resin precursor in a solvent (for example, N-methyl-2-pyrrolidone) is developed on the surface of a support and the solution is heated at 300 to 500 ° C ) (For example, 1 hour), the resin residual stress is 25 MPa or less at a film thickness of 10 mu m in a resin obtained by imidizing the resin precursor.
<수지 전구체의 제조>≪ Production of resin precursor >
다음으로 본 실시형태에 관련된 수지 전구체의 합성 방법에 관하여 설명한다. 예를 들어, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체가 전술한 블록 1 및 블록 2 와 같은 2 개의 블록으로 구성되어 있는 경우, 각 블록에 대응하는 폴리이미드 전구체를 따로 따로 조제해 두고, 그 후에 양자를 혼합하고, 축합 반응에 제공함으로써, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체를 얻을 수 있다. 여기서 양 블록을 축합 반응에 제공할 수 있도록, 편방의 블록의 폴리이미드 전구체의 말단기를 카르복실산으로 한 경우에는, 타방의 블록의 폴리이미드 전구체의 말단기는 아미노기가 되도록 하는 등, 각각 원료의 몰비, 예를 들어 테트라카르복실산 2무수물 및 디아민의 몰비를 조절한다. 이 방법에서는, 보다 바람직한 완전한 블록성을 갖는 폴리이미드 전구체를 합성할 수 있다.Next, a method of synthesizing the resin precursor according to the present embodiment will be described. For example, when the resin precursor according to the present embodiment is composed of two blocks as in the above-described block 1 and block 2, the polyimide precursor corresponding to each block is separately prepared, To give a condensation reaction, whereby a resin precursor according to the present embodiment can be obtained. In the case where the end groups of the polyimide precursor in the block of the uniaxial chain are used as the carboxylic acid so that both blocks can be provided in the condensation reaction, the end groups of the polyimide precursor in the other block may be amino groups, , For example, the molar ratio of the tetracarboxylic acid dianhydride and the diamine is controlled. In this method, a polyimide precursor having a more preferable complete block property can be synthesized.
한편, 중합 원료인 테트라카르복실산 2무수물이 블록 1 과 블록 2 사이에서 공통이고, 블록 1 의 원료로서 방향족 디아민을 사용하고, 블록 2 의 원료로서 반응성이 높은 규소 함유 디아민을 사용하는 경우에는, 양 디아민의 반응성 차를 이용한 합성법이 가능해지는 경우가 있다. 예를 들어, 미리 조제한 테트라카르복실산 2무수물에, 방향족 디아민과 규소 함유 디아민을 동시에 첨가하고, 축합 반응에 제공함으로써 어느 정도의 블록성을 갖는 폴리이미드 전구체를 제조할 수 있다. 이 방법에서는, 완전한 블록성을 갖는 블록성 폴리이미드 전구체를 합성할 수는 없지만, 블록성을 갖는 폴리이미드 전구체를 합성할 수 있다. 여기서 블록성을 갖는다는 것은, 가열 경화 후의 폴리이미드 수지에 있어서, 각 블록에 대응하는 유리 전이 온도가 관측되는 것, 예를 들어, 폴리이미드 수지가 전술한 영역 A 와 영역 B 의 각각에 4,4-(디아미노디페닐)술폰, 3,4-(디아미노디페닐)술폰 및 3,3-(디아미노디페닐)술폰으로 이루어지는 군에서 선택되는 1 개 이상과 테트라카르복실산 무수물의 중축합체에서 유래하는 블록 1 의 유리 전이 온도와, 규소 함유 디아민과 테트라카르복실산 무수물의 중축합체에서 유래하는 블록 2 의 유리 전이 온도를 각각 나타내는 것을 말한다.On the other hand, when a tetracarboxylic acid dianhydride as a polymerization raw material is common between block 1 and block 2, an aromatic diamine is used as a raw material for block 1, and a silicon-containing diamine having high reactivity is used as a raw material for block 2, A synthesis method using the reactivity difference of both diamines may become possible. For example, it is possible to prepare a polyimide precursor having a certain degree of blocking property by adding an aromatic diamine and a silicon-containing diamine simultaneously to a previously prepared tetracarboxylic acid dianhydride and providing it to a condensation reaction. In this method, it is not possible to synthesize a block polyimide precursor having a complete block property, but a polyimide precursor having a block property can be synthesized. The reason for having the block property here is that the glass transition temperature corresponding to each block is observed in the polyimide resin after the heat curing, for example, when the polyimide resin is in the range of 4, (Diaminodiphenyl) sulfone, 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone, 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone and 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone, and the tetracarboxylic acid anhydride Quot; refers to the glass transition temperature of the block 1 derived from the co-polymer, and the glass transition temperature of the block 2 derived from the polycondensation product of the silicon-containing diamine and the tetracarboxylic anhydride.
상기 서술한 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체는 그 수지 전구체를 가열 경화시켜 얻어지는 폴리이미드 수지가 고온측의 영역 A 와 저온측의 영역 B 에 각각 유리 전이 온도가 확인되는 정도의 블록성을 갖는 것이 유리하지만, 이 이점은 폴리이미드 수지가 완전한 블록성을 갖지 않아도 얻는 것이 가능하다. 또, 블록 1 및 2 를 갖는 수지 전구체에 의한 전술한 이점은, 그 영역 A 와 그 영역 B 사이의 영역 C 에 유리 전이 온도가 확인되지 않으면, 블록 1 및 블록 2 이외의 유닛을 함유하고 있어도 얻는 것이 가능하다.As described above, in the resin precursor according to the present embodiment, the polyimide resin obtained by thermally curing the resin precursor has blockiness to such an extent that the glass transition temperature can be confirmed in the region A on the high-temperature side and the region B on the low- However, this advantage can be obtained even if the polyimide resin does not have complete blocking property. The above-mentioned advantage of the resin precursor having the blocks 1 and 2 can be obtained even if the glass transition temperature is not confirmed in the region C between the region A and the region B and the unit other than the block 1 and the block 2 is contained It is possible.
또, 상기 서술한 바와 같은 폴리아미드산에, N,N-디메틸포름아미드디메틸아세탈 또는 N,N-디메틸포름아미드디에틸아세탈을 첨가하여 가열함으로써, 카르복실산의 일부 또는 전부를 에스테르화함으로써, 수지 전구체와 용매를 포함하는 용액의, 실온 보관시의 점도 안정성을 향상시킬 수도 있다. 이들 에스테르 변성 폴리아미드산은, 그 밖에, 상기 서술한 테트라카르복실산 무수물을 미리 산 무수물기에 대해 1 당량의 1 가의 알코올과 반응시킨 후, 염화티오닐이나 디시클로헥실카르보디이미드 등의 탈수 축합제와 반응시킨 후, 디아민과 축합 반응시킴으로써도 얻을 수 있다.Further, by adding N, N-dimethylformamide dimethylacetal or N, N-dimethylformamide diethyl acetal to the polyamic acid as described above and heating the mixture, some or all of the carboxylic acid is esterified, The viscosity stability of the solution containing the resin precursor and the solvent during storage at room temperature may be improved. These ester-modified polyamic acid may be obtained by reacting the above-mentioned tetracarboxylic acid anhydride with one equivalent of an alcohol equivalent to the acid anhydride group in advance, and then adding a dehydrating condensation agent such as thionyl chloride or dicyclohexylcarbodiimide , Followed by condensation reaction with diamine.
<수지 조성물><Resin composition>
본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 전구체 또는 전구체 혼합물과, 용매를 함유하는 수지 조성물을 제공한다. 수지 조성물은 전형적으로는 바니시이다.Another aspect of the present invention provides a resin composition containing a resin precursor or a precursor mixture as described above and a solvent. The resin composition is typically a varnish.
보다 바람직한 양태로는, 수지 조성물은 카르복실산 성분 및 디아민 성분을 용매, 예를 들어 유기 용매에 용해하여 반응시키고, 수지 전구체의 일 양태인 폴리아미드산 및 용매를 함유하는 폴리아미드산 용액으로서 제조할 수 있다. 여기서, 반응시의 조건은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 반응 온도는 -20 ∼ 150 ℃, 반응 시간은 2 ∼ 48 시간이다. 규소기 함유 화합물의 반응을 충분히 진행시키기 위해서, 120 ℃ 에서 30 분 정도의 가열이 바람직하다. 또, 반응시, 아르곤이나 질소 등의 불활성 분위기인 것이 바람직하다.In a more preferred embodiment, the resin composition is prepared by dissolving a carboxylic acid component and a diamine component in a solvent, for example, an organic solvent and reacting the same, and producing a polyamic acid solution containing a polyamic acid and a solvent as an embodiment of the resin precursor can do. The conditions for the reaction are not particularly limited. For example, the reaction temperature is -20 to 150 ° C, and the reaction time is 2 to 48 hours. In order to sufficiently proceed the reaction of the silicon group-containing compound, heating at 120 DEG C for about 30 minutes is preferable. At the time of the reaction, it is preferable to be an inert atmosphere such as argon or nitrogen.
또, 용매는, 폴리아미드산을 용해하는 용매이면, 특별히 한정되지 않는다. 공지된 반응 용매로서, 디메틸렌글리콜디메틸에테르 (DMDG), m-크레졸, N-메틸-2-피롤리돈 (NMP), 디메틸포름아미드 (DMF), 디메틸아세트아미드 (DMAc), 디메틸술폭시드 (DMSO), 아세톤, 디에틸아세테이트, 에크아미드 M100 (상품명:이데미츠 고산사 제조) 및 에크아미드 B100 (상품명:이데미츠 고산사 제조) 에서 선택되는 1 종 이상의 극성 용매가 유용하다. 이 중, 바람직하게는 NMP, DMAc, 에크아미드 M100 및 에크아미드 B100 이다. 그 외, 테트라하이드로푸란 (THF), 클로로포름과 같은 저비점 용액, 또는, γ-부티로락톤과 같은 저흡수성 용매를 사용해도 된다.The solvent is not particularly limited so long as it is a solvent that dissolves the polyamic acid. As the known reaction solvent, there can be used dimethyl carbonate (DMDG), m-cresol, N-methyl-2-pyrrolidone (NMP), dimethylformamide (DMF), dimethylacetamide (DMAc), dimethylsulfoxide DMSO), acetone, diethyl acetate, Echamide M100 (trade name: manufactured by Idemitsu Kosan Co., Ltd.) and ECHAMED B100 (trade name: manufactured by Idemitsu Kosan Co., Ltd.). Of these, NMP, DMAc, EQUAMIDE M100 and EQUAMIDE B100 are preferable. In addition, a low boiling point solution such as tetrahydrofuran (THF), chloroform, or a low-absorption solvent such as? -Butyrolactone may be used.
또, 본 발명의 수지 조성물에 있어서는, 얻어지는 폴리이미드가 TFT 등의 소자를 형성할 때에, 지지체와 충분한 밀착성을 부여하기 위해서, 수지 전구체 100 질량% 에 대해 알콕시실란 화합물을 0.01 ∼ 2 질량% 를 함유하는 조성이 바람직하다.In the resin composition of the present invention, when the obtained polyimide forms an element such as a TFT, 0.01 to 2% by mass of the alkoxysilane compound is contained relative to 100% by mass of the resin precursor in order to give sufficient adhesion with the support Is preferable.
수지 전구체 100 질량% 에 대해, 알콕시실란 화합물의 함유량이 0.01 질량% 이상임으로써, 지지체와의 양호한 밀착성을 얻을 수 있고, 또 알콕시실란 화합물의 함유량이 2 질량% 이하인 것이, 수지 조성물의 보존 안정성의 관점에서 바람직하다. 알콕시실란 화합물의 함유량은, 수지 전구체에 대해, 0.02 ∼ 2 질량% 인 것이 보다 바람직하고, 0.05 ∼ 1 질량% 인 것이 더욱 바람직하고, 0.05 ∼ 0.5 질량% 인 것이 더욱 바람직하고, 0.1 ∼ 0.5 질량% 인 것이 특히 바람직하다.It is preferable that the content of the alkoxysilane compound is 0.01 mass% or more based on 100 mass% of the resin precursor, whereby good adhesion with the support can be obtained and the content of the alkoxysilane compound is 2 mass% . The content of the alkoxysilane compound is more preferably 0.02 to 2% by mass, more preferably 0.05 to 1% by mass, further preferably 0.05 to 0.5% by mass, more preferably 0.1 to 0.5% by mass, Is particularly preferable.
알콕시실란 화합물로는, 3-우레이도프로필트리에톡시실란, 비스(2-하이드록시에틸)-3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, 페닐트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리에톡시실란, γ-아미노프로필트리메톡시실란, γ-아미노프로필트리프로폭시실란, γ-아미노프로필트리부톡시실란, γ-아미노에틸트리에톡시실란, γ-아미노에틸트리메톡시실란, γ-아미노에틸트리프로폭시실란, γ-아미노에틸트리부톡시실란, γ-아미노부틸트리에톡시실란, γ-아미노부틸트리메톡시실란, γ-아미노부틸트리프로폭시실란, γ-아미노부틸트리부톡시실란 등을 들 수 있으며, 또, 이들은 2 종 이상을 병용하여 사용해도 된다.Examples of the alkoxysilane compound include 3-ureidopropyltriethoxysilane, bis (2-hydroxyethyl) -3-aminopropyltriethoxysilane, 3-glycidoxypropyltrimethoxysilane, phenyltrimethoxysilane ,? -aminopropyltriethoxysilane,? -aminopropyltrimethoxysilane,? -aminopropyltripropoxysilane,? -aminopropyltributoxysilane,? -aminoethyltriethoxysilane,? -aminoethyl Aminoethyltripropoxysilane,? -Aminobutyltriethoxysilane,? -Aminobutyltrimethoxysilane,? -Aminobutyltripropoxysilane,? -Aminobutyltrimethoxysilane,? -Aminobutyltrimethoxysilane, gamma -aminobutyltributoxysilane, and the like, and these may be used in combination of two or more.
상기 서술한 바니시를 제조한 후, 용액을 130 ∼ 200 ℃ 에서 5 분 ∼ 2 시간 가열함으로써, 폴리머가 석출을 일으키지 않을 정도로 폴리머의 일부를 탈수 이미드화해도 된다. 온도와 시간의 컨트롤에 의해, 이미드화율은 제어할 수 있다. 부분 이미드화를 함으로써, 수지 전구체 용액의 실온 보관시의 점도 안정성을 향상시킬 수 있다. 이미드화율의 범위로는, 5 % ∼ 70 % 가 용액으로의 수지 전구체의 용해성과 용액의 보존 안정성의 관점에서 바람직하다.After the varnish described above is prepared, the solution may be heated at 130 to 200 ° C for 5 minutes to 2 hours to partially dehydrate the polymer so that the polymer does not precipitate. By controlling temperature and time, the imidization rate can be controlled. By performing partial imidization, the viscosity stability of the resin precursor solution at room temperature can be improved. From the viewpoint of the solubility of the resin precursor in the solution and the storage stability of the solution, the imidization rate is preferably in the range of 5% to 70%.
또, 바람직한 양태에 있어서, 수지 조성물은 이하의 특성을 갖는다.In a preferred embodiment, the resin composition has the following characteristics.
수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 (또는 질소 분위기하 350 ℃ 에서 가열함으로써) 수지 조성물에 포함되는 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하이다.A resin obtained by imidizing a resin precursor contained in a resin composition by heating the resin composition on the surface of a support and then heating the resin composition at 300 ° C to 500 ° C under a nitrogen atmosphere (or by heating at 350 ° C under a nitrogen atmosphere) The yellowing degree at a film thickness of 20 mu m is 7 or less.
수지 조성물을 지지체의 표면에 전개한 후, 그 수지 조성물을 질소 분위기하 300 ℃ ∼ 500 ℃ 에서 가열함으로써 (또는 질소 분위기하 350 ℃ 에서 가열함으로써) 수지 조성물에 포함되는 수지 전구체를 이미드화하여 얻어지는 수지가 나타내는 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하이다.A resin obtained by imidizing a resin precursor contained in a resin composition by heating the resin composition on the surface of a support and then heating the resin composition at 300 ° C to 500 ° C under a nitrogen atmosphere (or by heating at 350 ° C under a nitrogen atmosphere) The residual stress at a film thickness of 10 mu m is 25 MPa or less.
<수지 필름>≪ Resin film &
본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 전구체의 경화물, 또는 전술한 전구체 혼합물의 경화물, 또는 전술한 수지 조성물의 경화물인 수지 필름을 제공한다.Another embodiment of the present invention provides a cured product of the above-mentioned resin precursor or a cured product of the above-mentioned precursor mixture, or a resin film which is a cured product of the above-mentioned resin composition.
또, 본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 조성물을 지지체의 표면 상에 전개하는 공정과,In another aspect of the present invention, there is provided a method for producing a resin composition, comprising the steps of:
그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 수지 전구체를 이미드화하여 수지 필름을 형성하는 공정과,Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film,
그 수지 필름을 그 지지체로부터 박리하는 공정A step of peeling the resin film from the support
을 포함하는 수지 필름의 제조 방법을 제공한다.And a method for producing the resin film.
수지 필름의 제조 방법의 바람직한 양태에 있어서는, 수지 조성물로서, 산 2무수물 성분 및 디아민 성분을 유기 용매 중에 용해하여 반응시켜 얻어지는 폴리아미드산 용액을 사용할 수 있다.In a preferred embodiment of the method for producing a resin film, a polyamic acid solution obtained by dissolving an acid anhydride component and a diamine component in an organic solvent and reacting can be used as the resin composition.
여기서, 지지체는, 예를 들어, 무알칼리 유리 기판 등의 유리 기판과 같은 무기 기판이지만, 특별히 한정되는 것은 아니다.Here, the support is, for example, an inorganic substrate such as a glass substrate such as a non-alkali glass substrate, but is not particularly limited.
보다 구체적으로는, 상기 서술한 수지 조성물을, 무기 기판의 주면 (主面) 상에 형성된 접착층 상에 전개 및 건조시키고, 불활성 분위기하에서 300 ∼ 500 ℃ 의 온도에서 경화하여, 수지 필름을 형성할 수 있다. 마지막으로, 수지 필름을 지지체로부터 박리한다.More specifically, the resin composition described above may be developed and dried on an adhesive layer formed on a main surface of an inorganic substrate, and then cured at a temperature of 300 to 500 ° C. in an inert atmosphere to form a resin film have. Finally, the resin film is peeled from the support.
여기서, 전개 방법으로는, 예를 들어, 스핀 코트, 슬릿 코트 및 블레이드 코트의 공지된 도포 방법을 들 수 있다. 또, 열 처리는, 폴리아미드산 용액을 접착층 상에 전개한 후에, 주로 탈용매를 목적으로 하여 300 ℃ 이하의 온도에서 1 분간 ∼ 300 분간 열 처리하고, 또한 질소 등의 불활성 분위기하에서 300 ℃ ∼ 550 ℃ 의 온도에서 1 분간 ∼ 300 분간 열 처리하여 수지 전구체를 폴리이미드화시킨다. 종래의 무색 투명성 폴리이미드 필름을 제조하는 경우에는, YI 값의 저감과 전체 광선 투과율의 관점에서, 오븐 내의 산소 농도를 100 ppm 이하로 관리할 필요가 있지만, 본 실시형태에 있어서의 수지 전구체에 의하면, 500 ppm 이하의 관리로 충분하다. YI 값의 저감 및 전체 광선 투과율의 향상의 관점에서, 산소 농도는 1000 ppm 이하인 것이 바람직하다.Here, the developing method includes, for example, a known application method of a spin coat, a slit coat, and a blade coat. After the polyamic acid solution is spread on the adhesive layer, the heat treatment is conducted for a period of 1 minute to 300 minutes at a temperature of 300 ° C or lower for the purpose of mainly removing the solvent, And then heat-treated at a temperature of 550 DEG C for 1 minute to 300 minutes to polyimide the resin precursor. In the case of producing a conventional achromatic transparent polyimide film, it is necessary to control the oxygen concentration in the oven to 100 ppm or less from the viewpoints of reduction in YI value and total light transmittance. According to the resin precursor in the present embodiment , Management of 500 ppm or less is sufficient. From the viewpoint of reducing the YI value and improving the total light transmittance, the oxygen concentration is preferably 1000 ppm or less.
또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름의 두께는 특별히 한정되지 않고, 10 ∼ 200 ㎛ 의 범위인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 10 ∼ 50 ㎛ 이다.The thickness of the resin film according to the present embodiment is not particularly limited, and is preferably in the range of 10 to 200 占 퐉, and more preferably in the range of 10 to 50 占 퐉.
본 실시형태에 관련된 수지 필름은 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하인 것이 바람직하다. 또, 10 ㎛ 막두께로 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 것이 바람직하다. 특히, 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하이고, 또한, 10 ㎛ 막두께로 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 것이 더욱 바람직하다. 이와 같은 특성은, 예를 들어, 본 개시의 수지 전구체를, 질소 분위기하, 300 ℃ ∼ 500 ℃, 보다 특별하게는 350 ℃ 에서 이미드화함으로써 양호하게 실현된다.It is preferable that the resin film according to the present embodiment has a yellowness degree of 7 or less at a film thickness of 20 mu m. It is also preferable that the residual stress is 25 MPa or less at a film thickness of 10 mu m. Particularly, it is more preferable that the degree of yellowness at a film thickness of 20 mu m is 7 or less and the residual stress at a film thickness of 10 mu m is 25 MPa or less. Such characteristics can be satisfactorily realized, for example, by imidizing the resin precursor of the present disclosure under a nitrogen atmosphere at 300 ° C to 500 ° C, more particularly at 350 ° C.
<적층체><Laminate>
본 발명의 다른 양태는 지지체와, 그 지지체의 표면 상에 형성된, 전술한 수지 조성물의 경화물인 수지막을 포함하는 적층체를 제공한다.Another aspect of the present invention provides a laminate comprising a support and a resin film which is formed on the surface of the support and is a cured product of the resin composition described above.
또 본 발명의 다른 양태는, 지지체의 표면 상에, 전술한 수지 조성물을 전개하는 공정과,In another aspect of the present invention, there is provided a method for producing a resin composition, comprising the steps of:
그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 그 수지 조성물에 포함되는 그 수지 전구체를 이미드화하여 수지막을 형성하고, 이에 따라 그 지지체 및 그 수지막을 포함하는 적층체를 얻는 공정을Heating the support and the resin composition to imidize the resin precursor contained in the resin composition to form a resin film and thereby obtaining a laminate including the support and the resin film
포함하는 적층체의 제조 방법을 제공한다.The present invention also provides a method for producing a laminate.
이와 같은 적층체는, 예를 들어, 전술한 수지 필름의 제조 방법과 동일하게 형성한 수지 필름을 지지체로부터 박리하지 않음으로써 제조할 수 있다.Such a laminate can be produced, for example, by not peeling a resin film formed in the same manner as in the above-described method for producing a resin film from a support.
이 적층체는, 예를 들어, 플렉시블 디바이스의 제조에 사용된다. 보다 구체적으로는, 폴리이미드막 상에 반도체 디바이스를 형성하고, 그 후, 지지체를 박리하여 폴리이미드막으로 이루어지는 플렉시블 투명 기판을 구비하는 플렉시블 디바이스를 얻을 수 있다.This laminate is used, for example, in the production of a flexible device. More specifically, a semiconductor device is formed on a polyimide film, and then the support is peeled off to obtain a flexible device having a flexible transparent substrate made of a polyimide film.
따라서, 본 발명의 다른 양태는 전술한 수지 전구체, 또는 전술한 전구체 혼합물을 포함하는 플렉시블 디바이스 재료를 제공한다.Accordingly, another aspect of the present invention provides a flexible device material comprising the resin precursor described above, or a mixture of the precursors described above.
이상 설명한 바와 같이, 본 실시형태에 관련된 수지 전구체는, 특정 구조를 가짐으로써, 특수한 용매의 조합을 필요로 하지 않고, 백탁하지 않는 수지 필름을 형성할 수 있다. 또 얻어진 수지 필름의 황색도 (YI 값) 와 전체 광선 투과율이 큐어시의 산소 농도에 의존하는 경우가 적다. 또, 수지 필름과 무기막 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, TFT 제조 공정에 견딜 수 있는 실용적인 유리 전이 온도를 갖고, 기계 물성이 우수하고, 포토리소그래피 공정에 견딜 수 있는 내약품성이 있다. 따라서 그 수지 전구체는 플렉시블 디스플레이의 투명 기판에 있어서의 사용에 적합하다.As described above, since the resin precursor according to the present embodiment has a specific structure, it is possible to form a resin film which is opaque, without requiring any special combination of solvents. Also, the yellowness (YI value) and the total light transmittance of the obtained resin film are less dependent on the oxygen concentration at the time of curing. In addition, it has a low residual stress generated between the resin film and the inorganic film, has a practical glass transition temperature capable of enduring the TFT manufacturing process, has excellent mechanical properties, and has chemical resistance that can withstand the photolithography process. Therefore, the resin precursor is suitable for use in a transparent substrate of a flexible display.
더욱 상세하게 설명하면, 플렉시블 디스플레이를 형성하는 경우, 유리 기판을 지지체로서 사용하여 그 위에 플렉시블 기판을 형성하고, 그 위에 TFT 등의 형성을 실시한다. TFT 를 기판 상에 형성하는 공정은, 전형적으로는, 150 ∼ 650 ℃ 의 넓은 범위의 온도에서 실시되지만, 실제로 원하는 성능 구현을 위해서는, 주로 250 ℃ ∼ 350 ℃ 부근에서, 무기물 재료를 사용하여, TFT-IGZO (InGaZnO) 산화물 반도체 또는 TFT (a-Si-TFT, poly-Si-TFT) 를 형성한다.More specifically, in the case of forming a flexible display, a flexible substrate is formed thereon using a glass substrate as a support, and a TFT or the like is formed thereon. The step of forming the TFT on the substrate is typically carried out at a temperature in a wide range of 150 to 650 DEG C, but in order to achieve a desired performance in practice, an inorganic material is used mainly in the vicinity of 250 DEG C to 350 DEG C, -IZZO (InGaZnO) oxide semiconductor or TFT (a-Si-TFT, poly-Si-TFT).
이 때, 플렉시블 기판과 폴리이미드막에 발생하는 잔류 응력이 높으면, 고온의 TFT 공정에서 팽창한 후, 상온 냉각시에 수축할 때, 유리 기판의 휨이나 파손, 플렉시블 기판의 유리 기판으로부터의 박리 등의 문제가 발생한다. 일반적으로, 유리 기판의 열팽창 계수는 수지에 비교하여 작기 때문에, 플렉시블 기판과의 사이에 잔류 응력이 발생한다. 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 이 점을 고려하여, 필름의 두께 10 ㎛ 를 기준으로 하여, 수지 필름과 유리 사이에 발생하는 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 것이 바람직하다.At this time, if the residual stress generated in the flexible substrate and the polyimide film is high, when the glass substrate is expanded in the high temperature TFT process and then shrunk upon cooling at room temperature, the glass substrate may be warped or broken, . Generally, since the coefficient of thermal expansion of the glass substrate is smaller than that of the resin, residual stress is generated between the glass substrate and the flexible substrate. In consideration of this point, the resin film according to the present embodiment preferably has a residual stress of 25 MPa or less between the resin film and the glass based on the film thickness of 10 mu m.
또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 황색도가 7 이하이고, 또한, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 자외 분광 광도계로 투과율을 측정한 경우, 550 ㎚ 에서의 투과율이 85 % 이상인 것이 바람직하다. 또, 열 경화 필름을 제조할 때에 사용하는 오븐 내의 산소 농도 의존성이 적은 쪽이, 안정적으로 YI 값이 낮은 수지 필름을 얻는 데에 유리하고, 500 ppm 이하의 산소 농도로, 열 경화 필름의 YI 값이 안정되어 있는 것이 바람직하다.When the transmittance of the resin film according to the present embodiment is measured with an ultraviolet spectrophotometer based on the thickness of 20 m of the film and the yellowness of 7 or less and the thickness of the film of 20 m, It is preferable that the transmittance at 550 nm is 85% or more. In addition, it is advantageous to obtain a resin film having a low YI value stably, which is less dependent on the oxygen concentration in the oven used for producing the thermosetting film. The YI value of the thermosetting film at an oxygen concentration of 500 ppm or less Is preferably stable.
또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, 플렉시블 기판을 취급할 때에 파단 강도가 우수함으로써, 수율을 향상시키는 관점에서, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 기계 신도가 30 % 이상인 것이 보다 바람직하다.The resin film according to the present embodiment is more preferable to have a mechanical elongation of 30% or more based on the thickness of the film of 20 占 퐉, from the viewpoint of improving yield in terms of excellent breaking strength when handling a flexible substrate .
또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, TFT 소자를 제조하는 온도에서 수지 기판의 연화가 발생하지 않기 위해서, 유리 전이 온도는 250 ℃ 이상인 것이 바람직하다.It is preferable that the resin film according to the present embodiment has a glass transition temperature of 250 DEG C or higher in order to prevent softening of the resin substrate at a temperature at which the TFT element is manufactured.
또, 본 실시형태에 관련된 수지 필름은, TFT 소자를 제조할 때에 사용하는 포토리소그래피 공정에 있어서의, 포토레지스트 박리액에 견딜 수 있는 내약품성을 구비하는 것이 바람직하다.It is preferable that the resin film according to the present embodiment is provided with a chemical resistance that can withstand the photoresist stripping solution in the photolithography process used for manufacturing the TFT device.
또, 플렉시블 디스플레이의 광 취출 방식에는, TFT 소자의 표면측으로부터 광을 취출하는 탑·에미션 방식과 이면측으로부터 광을 취출하는 보텀·에미션 방식의 2 종류가 있다. 탑·에미션 방식으로는, TFT 소자가 방해가 되지 않기 때문에, 개구율을 올리기 쉽다는 특징이 있고, 보텀·에미션 방식은 위치 맞춤이 용이하고 제조하기 쉽다는 특징이 있다. TFT 소자가 투명하면, 보텀·에미션 방식에 있어서도, 개구율을 향상시키는 것이 가능해지기 때문에, 대형 유기 EL 플렉시블 디스플레이에는 제조가 용이한 보텀·에미션 방식이 채용되는 것이 기대되고 있다. 보텀·에미션 방식에 사용하는 무색 투명 수지 기판에 수지 기판을 사용할 때에는, 시인하는 측에 수지 기판이 오기 때문에, 광학적 등방성, 즉 복굴절률에서 유래하는 두께 방향의 리타데이션 (Rth) 이 낮은 것이 화질 향상의 관점에서 요구된다. 또, 탑·에미션 방식에 사용하는 경우에는, Rth 가 낮은 것은 요구되지 않지만, 양 방식에 공통으로 사용할 수 있다는 관점에서, Rth 가 낮은 재료가 바람직한 것으로 여겨지고 있다. 구체적으로는, 필름의 두께 20 ㎛ 를 기준으로 하여, 200 ㎚ 이하가 바람직하고, 보다 바람직하게는 90 ㎚ 이하가 바람직하고, 더욱 바람직하게는 80 ㎚ 이하가 바람직하고, 특히 바람직하게는 50 ㎚ 이하이다. Rth 가 100 ㎚ 이하, 또한 90 ㎚ 이하이면, 탑·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판뿐만 아니라, 보텀·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판이나 터치 패널용 전극 기판에 적용하기 위한 성능을 만족하고 있다.There are two types of light extraction systems of the flexible display: a top emission system for extracting light from the surface side of the TFT element; and a bottom emission system for extracting light from the back side. In the top-emission method, since the TFT element is not disturbed, the aperture ratio can be easily increased, and the bottom emission system is characterized in that it is easy to align and easy to manufacture. If the TFT element is transparent, the aperture ratio can be improved even in the bottom emission system. Therefore, it is expected that a bottom emission system which is easy to manufacture is adopted in the large organic EL flexible display. When a resin substrate is used for a colorless transparent resin substrate used in the bottom emission system, since a resin substrate comes to the viewer side, optical retardation (Rth) in the thickness direction derived from optical isotropy, It is required in terms of improvement. In the case of using in the top-emission method, it is not required that Rth is low, but it is considered that a material having a low Rth is preferable from the viewpoint that it can be commonly used in both methods. Specifically, the thickness is preferably 200 nm or less, more preferably 90 nm or less, more preferably 80 nm or less, and particularly preferably 50 nm or less to be. When Rth is not more than 100 nm and not more than 90 nm, it satisfies the performance for application to not only the transparent substrate for the top-emission type flexible display but also the transparent substrate for the bottom-emission type flexible display or the electrode substrate for the touch panel .
본 발명의 다른 양태는 디스플레이 기판의 제조에 사용되는 폴리이미드 수지막으로서, 두께 20 ㎛ 에 있어서의 Rth 가 20 ∼ 90 ㎚ 인 폴리이미드 수지막을 제공한다.Another aspect of the present invention provides a polyimide resin film for use in the manufacture of a display substrate, wherein the polyimide resin film has a Rth of 20 to 90 nm at a thickness of 20 占 퐉.
또 본 발명의 다른 양태는 지지체의 표면 상에 폴리이미드 전구체를 포함하는 수지 조성물을 전개하는 공정과,Another aspect of the present invention is a method for producing a polyimide precursor, comprising the steps of: developing a resin composition comprising a polyimide precursor on a surface of a support;
그 지지체 및 그 수지 조성물을 가열하여 폴리이미드 전구체를 이미드화하여, 전술한 폴리이미드 수지막을 형성하는 공정과,A step of heating the support and the resin composition to imidize the polyimide precursor to form the polyimide resin film,
그 폴리이미드 수지막 상에 소자를 형성하는 공정과,A step of forming an element on the polyimide resin film,
그 소자가 형성된 그 폴리이미드 수지막을 그 지지체로부터 박리하는 공정A step of peeling the polyimide resin film on which the element is formed from the support
을 포함하는 디스플레이 기판의 제조 방법을 제공한다.The present invention also provides a method of manufacturing a display substrate.
상기 물성을 만족하는 본 실시형태에 관련된 수지 필름은 기존의 폴리이미드 필름이 갖는 황색에 의해 사용이 제한된 용도, 특히 플렉시블 디스플레이용 무색 투명 기판으로서 적합하게 사용된다. 나아가서는, 예를 들어, 보호막 또는 TFT-LCD 등에서의 산광 시트 및 도막 (예를 들어, TFT-LCD 의 인터레이어, 게이트 절연막, 및 액정 배향막), 터치 패널용 ITO 기판, 스마트폰용 커버 유리 대체 수지 기판 등의 무색 투명성 또한, 저복굴절이 요구되는 분야에서도 사용 가능하다. 액정 배향막으로서 본 실시형태에 관련된 폴리이미드를 적용할 때, 개구율의 증가에 기여하여, 고콘트라스트비의 TFT-LCD 의 제조가 가능하다.The resin film according to the present embodiment satisfying the above physical properties is suitably used as a colorless transparent substrate for use in a limited use due to the yellow color of a conventional polyimide film, particularly for a flexible display. (For example, a TFT-LCD interlayer, a gate insulating film, and a liquid crystal alignment film), an ITO substrate for a touch panel, a cover glass replacement resin for a smartphone, Colorless transparency of a substrate or the like can also be used in fields requiring low birefringence. When a polyimide according to the present embodiment is applied as a liquid crystal alignment film, a TFT-LCD having a high contrast ratio can be produced, contributing to an increase in the aperture ratio.
본 실시형태에 관련된 수지 전구체를 사용하여 제조되는 수지 필름 및 적층체는, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막, 및, 플렉시블 디바이스의 제조에, 특히 기판으로서 적합하게 이용할 수 있다. 여기서, 플렉시블 디바이스란, 예를 들어, 플렉시블 디스플레이, 플렉시블 태양 전지, 플렉시블 터치 패널 전극 기판, 플렉시블 조명, 및, 플렉시블 배터리를 들 수 있다.The resin film and the laminate produced using the resin precursor according to the present embodiment can be suitably used as a substrate, for example, in the production of a semiconductor insulating film, a TFT-LCD insulating film, an electrode protecting film, and a flexible device . Here, the flexible device includes, for example, a flexible display, a flexible solar cell, a flexible touch panel electrode substrate, a flexible light, and a flexible battery.
실시예Example
이하, 본 발명에 대하여, 실시예에 기초하여 더욱 상세히 서술하지만, 이들은 설명을 위해서 기술되는 것으로서, 본 발명의 범위가 하기 실시예에 한정되는 것은 아니다. Hereinafter, the present invention will be described in more detail based on examples, but these are described for the purpose of explanation, and the scope of the present invention is not limited to the following examples.
실시예 및 비교예에 있어서의 각종 평가는 다음과 같이 실시하였다.Various evaluations in Examples and Comparative Examples were carried out as follows.
(중량 평균 분자량의 측정) (Measurement of weight average molecular weight)
중량 평균 분자량 (Mw) 은 겔 퍼미에이션 크로마토그래피 (GPC) 로 하기의 조건에 의해 측정하였다. 용매로는, N,N-디메틸포름아미드 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토그래프용) 를 사용하고, 측정 전에 24.8 m㏖/ℓ 의 브롬화리튬 1수화물 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 순도 99.5 %) 및 63.2 m㏖/ℓ 의 인산 (와코 쥰야쿠 공업사 제조, 고속 액체 크로마토그래프용) 을 첨가한 것을 사용하였다. 또, 중량 평균 분자량을 산출하기 위한 검량선은 스탠더드 폴리스티렌 (토소사 제조) 을 사용하여 작성하였다.The weight average molecular weight (Mw) was measured by gel permeation chromatography (GPC) under the following conditions. As a solvent, 24.8 mmol / l lithium bromide monohydrate (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd., purity: 99.5%) was added to the solution, using N, N-dimethylformamide (manufactured by Wako Pure Chemical Industries, ) And 63.2 mmol / l phosphoric acid (for high-speed liquid chromatograph, manufactured by Wako Pure Chemical Industries, Ltd.) were added. The calibration curve for calculating the weight average molecular weight was prepared using standard polystyrene (manufactured by Tosoh Corporation).
칼럼:Shodex KD-806M (쇼와 전공사 제조) Column: Shodex KD-806M (manufactured by Showa Denko KK)
유속:1.0 ㎖/분 Flow rate: 1.0 ml / min
칼럼 온도:40 ℃ Column temperature: 40 DEG C
펌프:PU-2080Plus (JASCO 사 제조) Pump: PU-2080Plus (manufactured by JASCO)
검출기:RI-2031Plus (RI:시차 굴절계, JASCO 사 제조) Detector: RI-2031Plus (RI: differential refractometer, manufactured by JASCO)
UV-2075Plus (UV-VIS:자외 가시 흡광계, JASCO 사 제조) UV-2075Plus (UV-VIS: ultraviolet visible light absorber, manufactured by JASCO)
(규소기 함유 모노머 농도) (Silicon group-containing monomer concentration)
규소기 함유 모노머 농도는, 수지 전구체를 합성할 때에 사용하는, 규소기 함유 모노머, 다가 카르복실산 또는 그 유도체, 디아민 화합물, 각각의 질량을 이용하여, 하기 식으로부터 산출하였다.The concentration of the silicon group-containing monomer was calculated from the following formula using the mass of each of the silicon-containing monomer, polyvalent carboxylic acid or derivative thereof, and diamine compound used in synthesizing the resin precursor.
규소기 함유 모노머 농도 (%) = 규소기 함유 모노머 질량 / (규소기 함유 모노머 질량 + 다가 카르복실산 또는 그 유도체의 질량 + 디아민 화합물 질량) × 100Silicon group-containing monomer concentration (%) = Silicon group-containing monomer mass / (Silicon group-containing monomer mass + Polybasic carboxylic acid or its derivative + Mass of diamine compound) × 100
(적층체 및 단리 필름의 제조) (Production of laminate and insulating film)
수지 조성물을 바 코터로 무알칼리 유리 기판 (두께 0.7 ㎜) 에 도포하고, 실온에서 5 분간 ∼ 10 분간 레벨링을 실시하고, 종형 (縱型) 큐어 오븐 (코요 린드버그사 제조, 형식명 VF-2000B) 으로 140 ℃ 에서 60 분간 가열하고, 추가로 질소 분위기하에서 350 ℃ 에서 60 분간 가열하여 적층체를 제조하였다. 이 때, 열풍 오븐 내의 산소 농도를, 50 ppm, 100 ppm, 500 ppm 으로 각각 조정하고, YI 값 및 전체 광선 투과율의 산소 농도 의존성을 조사하였다. 적층체의 수지 조성물의 막두께는 20 ㎛ 로 하였다. 350 ℃ 큐어 (경화 처리) 한 후, 적층체를 실온에 24 시간 정치하고, 수지 필름을 유리로부터 박리하고, 필름을 단리하였다. 이하의 황색도, 전체 광선 투과율 이외의 평가는, 열풍 오븐 내의 산소 농도를 100 ppm 으로 조정을 하여, 350 ℃ 에서 60 분간, 큐어를 실시한 수지 필름을 샘플로서 사용하였다.The resin composition was applied to a non-alkali glass substrate (0.7 mm thick) with a bar coater and leveling was carried out at room temperature for 5 minutes to 10 minutes. A vertical curing oven (model name VF-2000B manufactured by Koyo Lindberg) Heated at 140 占 폚 for 60 minutes and further heated at 350 占 폚 for 60 minutes in a nitrogen atmosphere to prepare a laminate. At this time, the oxygen concentration in the hot air oven was adjusted to 50 ppm, 100 ppm, and 500 ppm, respectively, and the dependence of the YI value and the total light transmittance on the oxygen concentration was examined. The film thickness of the resin composition of the laminate was 20 mu m. After curing at 350 DEG C (curing treatment), the laminate was allowed to stand at room temperature for 24 hours, the resin film was peeled from the glass, and the film was isolated. The degree of yellowness below that of the total light transmittance was evaluated by adjusting the oxygen concentration in the hot air oven to 100 ppm and curing the resin film at 350 DEG C for 60 minutes as a sample.
(인장 신도의 평가) (Evaluation of tensile elongation)
350 ℃ 에서 큐어한, 샘플 길이 5 × 50 ㎜, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을 인장 시험기 (주식회사 에이앤드디 제조:RTG-1210) 를 사용하여, 속도 100 ㎜/min 으로 인장하고, 인장 신도를 측정하였다.A resin film having a sample length of 5 占 0 mm and a thickness of 20 占 퐉 cured at 350 占 폚 was stretched at a speed of 100 mm / min using a tensile tester (RTG-1210, manufactured by A & Respectively.
(황색도, 전체 광선 투과율 및 그 큐어시 산소 농도 의존성) (Yellowness, total light transmittance and its dependency on curing oxygen concentration)
오븐 내의 산소 농도를 각각 50 ppm, 100 ppm, 500 ppm 으로 각각 조정하고, 350 ℃ 에서 큐어한, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을, 닛폰 전색 공업 (주) 제조 (Spectrophotometer:SE600) 으로 D65 광원을 사용하여, 황색도 (YI 값) 및 전체 광선 투과율을 측정하였다.A resin film having a thickness of 20 占 퐉 and cured at 350 占 폚 was adjusted to 50 ppm, 100 ppm and 500 ppm respectively in the oven using a D65 light source with Spectrophotometer SE600 manufactured by Nippon Denko Kogyo Co., , And the yellowness index (YI value) and the total light transmittance were measured.
(두께 방향 리타데이션 (Rth) 의 평가) (Evaluation of thickness direction retardation (Rth)
350 ℃ 에서 큐어한, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을, 위상차 복굴절 측정 장치 (오지 계측 기기사 제조, KOBRA-WR) 를 사용하여 측정하였다. 측정 광의 파장은 589 ㎚ 로 하였다.A resin film having a thickness of 20 占 퐉 and cured at 350 占 폚 was measured using a phase difference birefringence measurement apparatus (KOBRA-WR manufactured by Oji Paper Measuring Instruments Co., Ltd.). The wavelength of the measurement light was 589 nm.
(유리 전이 온도, 선팽창 계수의 평가) (Evaluation of glass transition temperature, linear expansion coefficient)
실온 영역 이상에 있어서의 유리 전이 온도 (Tg (1) 이라고 부른다) 및 선팽창 계수 (CTE) 의 측정에 관해서는, 350 ℃ 에서 큐어한, 샘플 길이 5 × 50 ㎜, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름을, 시마즈 제작소 제조 열기계 분석 장치 (TMA-50) 를 사용하여, 열기계 분석에 의해, 하중 5 g, 승온 속도 10 ℃/분, 질소 분위기하 (유량 20 ㎖/분), 온도 50 ∼ 450 ℃ 의 범위에 있어서의 시험편 신장의 측정을 실시하고, 그 변곡점을 유리 전이 온도로서 구하고, 100 ∼ 250 ℃ 의 내열성 수지 필름의 CTE 를 구하였다.With respect to the measurement of the glass transition temperature (referred to as Tg (1)) and the coefficient of linear expansion (CTE) in the room temperature region or more, a resin film having a sample length of 5 × 50 mm and a thickness of 20 μm, (Flow rate: 20 ml / min.) At a temperature of 50 to 450 占 폚 under a load of 5 g, a temperature raising rate of 10 占 폚 / min and a nitrogen atmosphere by thermomechanical analysis using a thermomechanical analyzer (TMA- And the CTE of the heat-resistant resin film at 100 to 250 占 폚 was obtained by calculating the inflection point as the glass transition temperature.
실온 영역 이하에 있어서의 유리 전이 온도 (Tg (2) 라고 부른다) 의 측정에 관해서는 상기 방법으로는 불가능하기 때문에, 상기 수지 필름을 -150 ℃ ∼ 400 ℃ 의 범위에서 동적 점탄성 측정 장치 (오리엔텍사 제조, RHEOVIBRON MODEL RHEO-1021) 에 의해 E 프라임의 실온 이하의 온도 영역에서의 변곡점을 측정하고, 그 변곡점을 저온에서의 유리 전이 온도로서 구하였다.Since the above method can not measure the glass transition temperature (referred to as Tg (2)) in the room temperature region or below, the resin film is measured at a temperature in the range of -150 캜 to 400 캜 using a dynamic viscoelasticity measuring apparatus Infra-red in the temperature range below room temperature of E-prime was measured by means of RHEOVIBRON MODEL RHEO-1021 manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation, and the inflection point thereof was determined as the glass transition temperature at low temperature.
(잔류 응력의 평가) (Evaluation of Residual Stress)
잔류 응력 측정 장치 (텐코르사 제조, 형식명 FLX-2320) 를 사용하여, 미리 「휨량」 을 측정해 둔, 두께 625 ㎛ ± 25 ㎛ 의 6 인치 실리콘 웨이퍼 상에, 수지 조성물을 바 코터에 의해 도포하고, 140 ℃ 에서 60 분간 프리베이크한 후, 종형 큐어로 (코요 린드버그사 제조, 형식명 VF-2000B) 를 사용하여, 질소 분위기하, 350 ℃ 1 시간의 가열 경화 처리를 실시하고, 경화 후 막두께 10 ㎛ 의 수지막이 부착된 실리콘 웨이퍼를 제조하였다. 이 웨이퍼의 휨량을 전술한 잔류 응력 측정 장치를 사용하여 측정하고, 실리콘 웨이퍼와 수지막 사이에 발생한 잔류 응력을 평가하였다.The resin composition was coated on a 6-inch silicon wafer having a thickness of 625 占 퐉 占 25 占 퐉 and a thickness of 625 占 퐉 占 25 占 퐉, which had been previously measured for "bending amount", using a residual stress measuring apparatus (manufactured by Tencor Corporation, model name FLX-2320) , Pre-baked at 140 占 폚 for 60 minutes, and subjected to a heat curing treatment at 350 占 폚 for one hour in a nitrogen atmosphere using a vertical cure (manufactured by Koyo Lindberg Co., model name VF-2000B) A silicon wafer with a resin film having a thickness of 10 mu m was produced. The warpage of the wafer was measured using the residual stress measuring apparatus described above, and the residual stress generated between the silicon wafer and the resin film was evaluated.
(내약품성 시험의 평가) (Evaluation of chemical resistance test)
350 ℃ 에서 큐어한, 두께 20 ㎛ 의 수지 필름편을 실온의 NMP 층에 담그고, 10 분마다 끌어올려, 이온 교환수로 세정한 후, 필름 표면을 현미경으로 관찰하고, 열 경화막의 표면에 크랙이 형성되는 시간의 평가를 10 분 간격으로 300 분까지 실시하였다.A resin film piece having a thickness of 20 占 퐉 and cured at 350 占 폚 was immersed in an NMP layer at room temperature and lifted every 10 minutes and washed with ion-exchanged water. The surface of the film was observed with a microscope, The formation time was evaluated at intervals of 10 minutes up to 300 minutes.
[실시예 1][Example 1]
오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1000 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 232.4 g 교반하면서 첨가하고, 계속해서 피로멜리트산 2무수물 (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 218.12 g 첨가하여, 실온에서 30 분 교반하였다. 이것을 50 ℃ 로 승온하고, 12 시간 교반한 후, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 1 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 4 에 나타낸다.1000 g of NMP was added while introducing nitrogen gas into a 3 L separable flask equipped with a stirring bar equipped with an oil bath to obtain 232.4 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (defined as diamine 1) Followed by addition of 218.12 g of pyromellitic dianhydride (defined as tetracarboxylic acid anhydride 1), followed by stirring at room temperature for 30 minutes. After the temperature was raised to 50 占 폚 and the mixture was stirred for 12 hours, 105.6 g of both terminal amine-modified methylphenyl silicone oil (X22-1660B-3 (number average molecular weight: 4400) 298 g, and added dropwise using a dropping funnel. After raising the temperature to 80 DEG C and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature to obtain an NMP solution of a transparent polyamic acid (hereinafter also referred to as a varnish). The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 1. Table 4 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 2 ∼ 33, 49 ∼ 58][Examples 2 to 33, 49 to 58]
실시예 1 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 규소기 함유 디아민의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 1 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 1 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 1 및 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 1, 표 2, 표 7 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 4, 표 5, 표 8 에 나타낸다. 이하에 표 1 ∼ 표 6 에 기재한 약식 화합물명의 정식 화합물 명칭을 기재한다.In the same manner as in Example 1, the same operations as in Example 1 were carried out except that the diamine 1, the tetracarboxylic acid anhydride 1, the kind of the diamine containing silicon group, and the mass added thereof were changed to those shown in Table 1, . The amounts of NMP shown in Tables 1 and 2 indicate the total amount of NMP finally contained in the varnish and the mass including 298 g of NMP to dilute the silicon group-containing diamine. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Tables 1, 2 and 7, respectively. The test results of the cured film at 350 占 폚 are shown in Tables 4, 5 and 8, respectively. The names of the official compounds of the abbreviated compounds listed in Tables 1 to 6 are described below.
3,3-DAS:3,3-(디아미노디페닐)술폰 3,3-DAS: 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone
4,4-DAS:4,4-(디아미노디페닐)술폰 4,4-DAS: 4,4- (diaminodiphenyl) sulfone
3,4-DAS:3,4-(디아미노디페닐)술폰 3,4-DAS: 3,4- (diaminodiphenyl) sulfone
PMDA:피로멜리트산 2무수물 PMDA: pyromellitic acid dianhydride
ODPA:4,4'-옥시디프탈산 2무수물 ODPA: 4,4'-oxydiphthalic acid dianhydride
6FDA:4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈산 무수물 6FDA: 4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalic anhydride
BPDA:3,3',4,4'-비페닐테트라카르복실산 2무수물 BPDA: 3,3 ', 4,4'-biphenyltetracarboxylic acid dianhydride
CHDA:시클로헥산-1,2,4,5-테트라카르복실산 2무수물 CHDA: Cyclohexane-1,2,4,5-tetracarboxylic acid dianhydride
DSDA:3,3',4,4'-디페닐술폰테트라카르복실산 2무수물 DSDA: 3,3 ', 4,4'-diphenylsulfone tetracarboxylic acid dianhydride
BPADA:2,2-비스[4-(3,4-디카르복시페녹시)페닐]프로판 2무수물BPADA: 2,2-bis [4- (3,4-dicarboxyphenoxy) phenyl] propane dianhydride
BPAF:9,9'-비스(3,4-디카르복시페닐)플루오렌 2무수물 BPAF: 9,9'-bis (3,4-dicarboxyphenyl) fluorene dianhydride
TAHQ:4,4'-비페닐비스(트리멜리트산모노에스테르산 무수물) TAHQ: 4,4'-biphenylbis (trimellitic acid monoester acid anhydride)
BTDA:3,3',4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 BTDA: 3,3 ', 4,4'-benzophenone tetracarboxylic acid dianhydride
TPE-R:1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠TPE-R: 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene
CBDA:1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 2무수물 CBDA: 1,2,3,4-Cyclobutane tetracarboxylic acid dianhydride
FM3311:양 말단 아민 변성 디메틸실리콘 오일 (칫소사 제조 사이라플레인 FM3311 (수평균 분자량 1000)) FM3311: Amine-modified dimethyl silicone oil at both ends (Sir Plane FM3311 (number average molecular weight 1000) manufactured by Chisso Corporation)
TFMB:2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 TFMB: 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine
TACl:무수 트리멜리트산 클로라이드TACl: Anhydrous trimellitic acid chloride
[실시예 34][Example 34]
오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하고, NMP 1274 g 을 첨가하고, 4,4'-옥시디프탈산 2무수물 (이하, ODPA 라고 기재한다) (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 첨가하고, 교반하면서 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해한 것을 적하 깔때기를 사용하여 적하하였다. 실온에서 1 시간 교반 후, 2,2'-비스(트리플루오로메틸)벤지딘 (이하, TFMB 라고 기재한다) (디아민 2 로 규정한다) 149.9 g 을 교반하면서 첨가하고, 계속해서, 3,3-DAS 를 116.2 g 교반하면서 첨가하고, 실온에서 1 시간 교반하였다. 계속해서, 50 ℃ 로 가온하여, BPDA (테트라카르복실산 무수물 2 로 규정한다) 를 147.1 g 첨가하여 12 시간 교반하였다. 이것을 80 ℃ 로 승온하고, 4 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 5 에 나타낸다.Nitrogen gas was introduced into a 3 L separable flask equipped with a stirrer bar equipped with an oil bath, 1274 g of NMP was added, and 4,4'-oxydiphthalic dianhydride (hereinafter referred to as ODPA) (tetracarboxylic acid And 105.6 g of a double-ended amine-modified methylphenyl silicone oil (X22-1660B-3 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. (number average molecular weight: 4400)) (defined as a diamine containing silicon group) Dissolved in 298 g of NMP was added dropwise using a dripping funnel. After stirring for 1 hour at room temperature, 149.9 g of 2,2'-bis (trifluoromethyl) benzidine (hereinafter referred to as TFMB) (defined as diamine 2) was added with stirring, and then 3,3- DAS was added with stirring to 116.2 g, and the mixture was stirred at room temperature for 1 hour. Subsequently, the mixture was heated to 50 DEG C, 147.1 g of BPDA (defined as tetracarboxylic acid anhydride 2) was added, and the mixture was stirred for 12 hours. The mixture was heated to 80 DEG C and stirred for 4 hours, and then the oil bath was removed and returned to room temperature to obtain a transparent polyamic acid NMP solution (hereinafter also referred to as a varnish). The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2. Table 5 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 35, 39, 40, 44, 45][Examples 35, 39, 40, 44, 45]
실시예 34 와 동일하게 하여, 디아민 1, 디아민 2, 테트라카르복실산 무수물 1, 테트라카르복실산 무수물 2 의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 2 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 34 와 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 5 에 나타낸다.In the same manner as in Example 34, the kind of diamine 1, diamine 2, tetracarboxylic acid anhydride 1, tetracarboxylic acid anhydride 2, and their added mass were changed to those shown in Table 2, To obtain a varnish. The addition amount of NMP shown in Table 2 indicates the total amount of NMP finally contained in the varnish and is a mass including 298 g of NMP to dilute the silicon group-containing diamine. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2, respectively. Table 5 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 36][Example 36]
오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, N-메틸피롤리돈 (이하, NMP 라고 기재한다) 1196 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 232.4 g 교반하면서 첨가하고, 50 ℃ 로 가온한 후, BPDA (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 를 147.1 g 첨가하여 30 분 교반하였다. 계속해서 ODPA (테트라카르복실산 무수물 2 로 규정한다) 를 155.1 g 첨가하여 8 시간 교반한 후, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 5 에 나타낸다.1196 g of N-methylpyrrolidone (hereinafter referred to as NMP) was added to a 3 L separable flask equipped with a stirrer bar equipped with an oil bath while introducing nitrogen gas, and 3,3 - (diaminodi Phenyl) sulfone (defined as diamine 1) was added with stirring to 232.4 g, and after heating to 50 DEG C, 147.1 g of BPDA (defined as tetracarboxylic acid anhydride 1) was added and stirred for 30 minutes. Subsequently, 155.1 g of ODPA (defined as tetracarboxylic anhydride 2) was added, and the mixture was stirred for 8 hours. Thereafter, a double-ended amine-modified methylphenyl silicone oil (X22-1660B-3 manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Containing diamine) was dissolved in 298 g of NMP and added dropwise using a dropping funnel. After raising the temperature to 80 DEG C and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature to obtain an NMP solution of a transparent polyamic acid (hereinafter also referred to as a varnish). The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2. Table 5 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 37, 42, 43, 46, 47][Examples 37, 42, 43, 46, 47]
실시예 36 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 테트라카르복실산 무수물 2 의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 2 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 36 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 5 에 나타낸다.The same operations as in Example 36 were carried out in the same manner as in Example 36 except that the diamine 1, the tetracarboxylic acid anhydride 1, the tetracarboxylic acid anhydride 2, and the added mass were changed to those shown in Table 2, respectively I got a varnish. The addition amount of NMP shown in Table 2 indicates the total amount of NMP finally contained in the varnish and is a mass including 298 g of NMP to dilute the silicon group-containing diamine. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 2, respectively. Table 5 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 38][Example 38]
오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1200 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 232.4 g 교반하면서 첨가하고, 50 ℃ 로 가온한 후, 테레프탈산클로라이드 40.6 g (기타 모노머 성분이라고 규정한다) 을 γ부티로락톤 200 g 에 용해한 후, 적하하여 첨가하여 30 분 교반하였다. 계속해서 BPDA (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 를 235.4 g 첨가하여 8 시간 교반한 후, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 용액을 얻었다. 이것에, NMP 를 1000 g 첨가하여 희석한 후에, 이온 교환수 10 ℓ 에 적하하면서 투입하고, 폴리아미드이미드 전구체의 분체를 석출한 후, 부흐너 깔때기로 분체를 여과 분리하였다. 이 분체를 40 ℃ 에서 48 시간 진공 건조시켰다. 이렇게 하여 얻어진 분체에 1403 g 의 NMP 를 첨가하여, 폴리아미드이미드 전구체의 NMP 용액을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드이미드 전구체의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 5 에 나타낸다.1200 g of NMP was added while introducing nitrogen gas into a 3 L separable flask equipped with a stirring bar equipped with an oil bath to obtain 232.4 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (defined as diamine 1) After heating to 50 캜, 40.6 g of terephthalic acid chloride (hereinafter referred to as other monomer component) was dissolved in 200 g of? -Butyrolactone, followed by dropwise addition, followed by stirring for 30 minutes. Subsequently, 235.4 g of BPDA (defined as tetracarboxylic anhydride 1) was added, and the mixture was stirred for 8 hours. Thereafter, both ends amine-modified methylphenyl silicone oil (X22-1660B-3 (number average molecular weight: 4400) Containing diamine) was dissolved in 298 g of NMP and added dropwise using a dropping funnel. After raising the temperature to 80 DEG C and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature to obtain a transparent polyamic acid solution. 1000 g of NMP was added thereto and diluted, and the mixture was added dropwise to 10 liters of ion-exchanged water. Powders of the polyamideimide precursor were precipitated, and the powder was separated by filtration with a Buchner funnel. The powder was vacuum dried at 40 DEG C for 48 hours. 1403 g of NMP was added to the powder thus obtained to obtain an NMP solution of the polyamideimide precursor. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamideimide precursor are shown in Table 2. Table 5 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 43, 48][Examples 43, 48]
실시예 38 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 기타 모노머 성분의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 2 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 38 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타낸다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드이미드 전구체의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 2 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 5 에 나타낸다.A varnish was obtained in the same manner as in Example 38 except that the diamine 1, the tetracarboxylic acid anhydride 1, the kinds of the other monomer components, and the addition mass thereof were changed to those shown in Table 2, respectively, . The addition amount of NMP shown in Table 2 represents the total amount of NMP finally included in the varnish. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamideimide precursor are shown in Table 2, respectively. Table 5 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 59][Example 59]
오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1000 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 248.30 g 교반하면서 첨가하고, 계속해서 BPDA (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 를 275.13 g 첨가하여, 실온에서 30 분 교반하였다. 이것을 50 ℃ 로 승온하고, 12 시간 교반한 후, 양 말단 산 무수물 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-168-P5-B (수평균 분자량 4200)) 104.58 g 을 NMP 298 g 에 용해하고, 적하 깔때기를 사용하여 적하하여 첨가하였다. 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 7 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 8 에 나타낸다.To a 3 L separable flask equipped with a stirrer bar equipped with an oil bath, 1000 g of NMP was added while nitrogen gas was introduced, 248.30 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (defined as diamine 1) Followed by addition of 275.13 g of BPDA (defined as tetracarboxylic acid anhydride 1), followed by stirring at room temperature for 30 minutes. The mixture was heated to 50 DEG C and stirred for 12 hours. Thereafter, 104.58 g of a methylphenyl silicone oil modified with both terminal anhydrides (X22-168-P5-B (number average molecular weight: 4200) Was added dropwise using a dropping funnel. After raising the temperature to 80 DEG C and stirring for 1 hour, the oil bath was removed and returned to room temperature to obtain an NMP solution of a transparent polyamic acid (hereinafter also referred to as a varnish). The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 7. Table 8 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 60 ∼ 66][Examples 60 to 66]
실시예 59 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1, 규소기 함유 디아민의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 1 에 기재한 것으로 바꾸어, 실시예 1 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 또, 표 1 및 표 2 에 나타내는 NMP 첨가량은 최종적으로 바니시에 포함되는 NMP 의 총량을 나타내고, 규소기 함유 디아민을 희석하는 298 g 의 NMP 를 포함한 질량이다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 7 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 8 에 나타낸다.In the same manner as in Example 59, the same operations as in Example 1 were carried out, except that diamine 1, tetracarboxylic acid anhydride 1, types of diamines containing silicon groups, and their addition mass were changed to those shown in Table 1, . The amounts of NMP shown in Tables 1 and 2 indicate the total amount of NMP finally contained in the varnish and the mass including 298 g of NMP to dilute the silicon group-containing diamine. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 7, respectively. Table 8 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[비교예 1][Comparative Example 1]
오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하면서, NMP 1065 g 을 첨가하고, 3,3-(디아미노디페닐)술폰 (디아민 1 로 규정한다) 을 248.3 g 교반하면서 첨가하고, 계속해서 피로멜리트산 2무수물 (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 218.12 g 첨가하여, 실온에서 30 분 교반하였다. 이것을 50 ℃ 로 승온하고, 12 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 3 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 6 에 나타낸다.To a 3 L separable flask equipped with a stirrer bar equipped with an oil bath, while introducing nitrogen gas, 1065 g of NMP was added, and 248.3 g of 3,3- (diaminodiphenyl) sulfone (defined as diamine 1) Followed by addition of 218.12 g of pyromellitic dianhydride (defined as tetracarboxylic acid anhydride 1), followed by stirring at room temperature for 30 minutes. The mixture was heated to 50 DEG C and stirred for 12 hours, and then the oil bath was removed and returned to room temperature to obtain a transparent polyamic acid NMP solution (hereinafter also referred to as varnish). The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 3. Table 6 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[비교예 2 ∼ 21][Comparative Examples 2 to 21]
비교예 1 과 동일하게 하여, 디아민 1, 테트라카르복실산 무수물 1 의 종류, 및 그들의 첨가 질량을 각각 표 3 에 기재한 것으로 바꾸어, 비교예 1 과 동일한 조작을 실시하여 바니시를 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 각각 표 3 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 각각 표 6 에 나타낸다.In the same manner as in Comparative Example 1, varnishes were obtained in the same manner as in Comparative Example 1, except that the diamine 1, the tetracarboxylic acid anhydride 1, and the added mass were changed to those shown in Table 3, respectively. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 3, respectively. Table 6 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[비교예 22][Comparative Example 22]
오일 배스를 구비한 교반봉이 부착된 3 ℓ 세퍼러블 플라스크에, 질소 가스를 도입하고, NMP 1332 g 을 첨가하고, TFMB (디아민 2 로 규정한다) 299.8 g 을 교반하면서 첨가하고, BPDA 294.2 g (테트라카르복실산 무수물 1 로 규정한다) 을 첨가하고, 50 ℃ 로 가온하여, 12 시간 교반하였다. 이것에, 양 말단 아민 변성 메틸페닐실리콘 오일 (신에츠 화학사 제조:X22-1660B-3 (수평균 분자량 4400)) (규소기 함유 디아민으로 규정한다) 105.6 g 을 NMP 298 g 에 용해한 것을 적하 깔때기를 사용하여 적하하였다. 적하 종료 후, 이것을 80 ℃ 로 승온하고, 1 시간 교반한 후, 오일 배스를 떼어내어 실온으로 되돌리고, 약간 탁함이 있는 불투명한 폴리아미드산의 NMP 용액 (이하, 바니시라고도 기재한다) 을 얻었다. 여기서의 조성 및 얻어진 폴리아미드산의 중량 평균 분자량 (Mw) 을 표 3 에 나타낸다. 또, 350 ℃ 큐어한 필름의 시험 결과를 표 6 에 나타낸다.Nitrogen gas was introduced into a 3 L separable flask equipped with an oil bath, 1332 g of NMP was added, and 299.8 g of TFMB (defined as diamine 2) was added with stirring, and 294.2 g of BPDA Carboxylic acid anhydride 1) was added, the mixture was heated to 50 占 폚 and stirred for 12 hours. 105.6 g of both terminal amine-modified methylphenyl silicone oil (X22-1660B-3 (number average molecular weight: 4400) (manufactured by Shin-Etsu Chemical Co., Ltd.) (defined as a diamine containing silicon group) was dissolved in 298 g of NMP, . After completion of the dropwise addition, the mixture was heated to 80 DEG C and stirred for 1 hour. Then, the oil bath was removed and returned to room temperature to obtain an opaque polyamic acid NMP solution (hereinafter also referred to as varnish) with slight turbulence. The composition and the weight average molecular weight (Mw) of the obtained polyamic acid are shown in Table 3. Table 6 shows the test results of the cured film at 350 占 폚.
[실시예 23][Example 23]
피로멜리트산 무수물 (PMDA) 4.36 g (0.02 몰) 과 BTDA 25.78 g 을 N-메틸-2-피롤리돈 (NMP) 240 g 에 분산시키고, ω-ω'-비스-(3-아미노프로필)폴리디메틸실록산 (평균 분자량 480) 2.4 g 을 디에틸렌글리콜디메틸에테르 (Dig) 50 g 에 용해시켜 얻어진 용액을 소량씩 적하하고, 1 시간 교반하여 반응시켰다. 이와 같이, 디아미노실록산과 테트라카르복실산 2무수물을 반응시킨 후, 1,3-비스(4-아미노페녹시)벤젠 (TPE-R) 14.62 g (0.05 몰), 이어서 추가로 3,3-DAS 11.17 g 을 소량씩 분체로 첨가하였다.4.36 g (0.02 mol) of pyromellitic anhydride (PMDA) and 25.78 g of BTDA were dispersed in 240 g of N-methyl-2-pyrrolidone (NMP) to prepare ω-ω'-bis- A solution obtained by dissolving 2.4 g of dimethylsiloxane (average molecular weight 480) in 50 g of diethylene glycol dimethyl ether (Dig) was added dropwise in small portions, and the mixture was reacted for 1 hour with stirring. After diaminosiloxane and tetracarboxylic acid dianhydride were reacted in this manner, 14.62 g (0.05 mol) of 1,3-bis (4-aminophenoxy) benzene (TPE-R) 11.17 g of DAS was added in small portions as powder.
[실시예 24][Example 24]
교반 장치, 적하 깔때기, 온도계, 콘덴서 및 질소 치환 장치를 부착한 1 리터의 플라스크를 냉수 중에 고정하였다. 플라스크 내에 질소 가스에 의해 치환한 후, 탈수 정제한 N-메틸-2-피롤리돈 (이하, NMP 로 약기한다) 의 500 g, 3,3'4,4'-벤조페논테트라카르복실산 2무수물 (BTDA) 의 25.11 g (0.0779 몰), 3,3'-디아미노디페닐술폰 (3,3-DAS) 의 15.48 g (0.0623 몰) 및 ω-ω'-비스-(3-아미노프로필)폴리디메틸실록산 (분자량 960) 의 14.96 g (0.0159 몰) 을 혼합하고, 통상적인 방법에 따라 폴리아미드산 용액을 얻었다.A one-liter flask equipped with a stirrer, dropping funnel, thermometer, condenser and nitrogen substitution device was fixed in cold water. 500 g of N-methyl-2-pyrrolidone (hereinafter abbreviated as NMP) dehydrated and purified, 3 g of 3,3'4,4'-benzophenonetetracarboxylic acid 2 (0.0773 moles) of 3-aminodiphenylsulfone (BTDA), 15.48 g (0.0623 moles) of 3,3'-diaminodiphenylsulfone (3,3-DAS) and ω- 14.96 g (0.0159 mol) of polydimethylsiloxane (molecular weight 960) were mixed and a polyamic acid solution was obtained according to a conventional method.
[실시예 25][Example 25]
온도계, 교반기, 질소 도입관, 냉각관을 장착한 300 ㎖ 의 4 구 플라스크에 디아민 화합물로서 1,4-디아미노시클로헥산 2.87 g (25.1 m㏖) 과 양 말단 아미노 변성 메틸페닐실리콘 (X22-1660B-3) 3.42 g (0.8 m㏖) 을 첨가하였다. 이어서, 플라스크 내를 질소 치환한 후, N,N-디메틸아세트아미드 58 ㎖ 를 첨가하고 균일해질 때까지 교반하였다. 얻어진 용액에 다가 카르복실산 유도체로서 디페닐-3,3',4,4'-테트라카르복실산 2무수물 (BPDA) 8.71 g (25.9 m㏖) 을 실온에서 첨가하고, 그 상태의 온도에서 24 시간 교반을 계속하여, 조성물 (폴리아믹산 용액) 을 얻었다.In a 300 ml four-necked flask equipped with a thermometer, a stirrer, a nitrogen introducing tube and a cooling tube, 2.87 g (25.1 mmol) of 1,4-diaminocyclohexane as a diamine compound and a two-terminal amino-modified methylphenyl silicone (X22-1660B- 3) was added 3.42 g (0.8 mmol). Subsequently, the inside of the flask was purged with nitrogen, 58 ml of N, N-dimethylacetamide was added, and the mixture was stirred until it became homogeneous. 8.71 g (25.9 mmol) of diphenyl-3,3 ', 4,4'-tetracarboxylic acid dianhydride (BPDA) as a polyvalent carboxylic acid derivative was added to the obtained solution at room temperature, and 24 Time agitation was continued to obtain a composition (polyamic acid solution).
[실시예 26][Example 26]
온도계, 교반기, 질소 도입관, 냉각관을 장착한 300 ㎖ 의 4 구 플라스크에 (B) 성분으로서 4,4'-디아미노-2,2'-비스(트리플루오로메틸)비페닐 (이하, 「TFMB」 라고도 한다.) 7.85 g (24.5 m㏖) 과 양 말단 아미노 변성 메틸페닐실리콘 (X22-9409) 2.03 g (1.6 m㏖) 을 첨가하였다. 이어서, 플라스크 내를 질소 치환한 후, N,N-디메틸아세트아미드 58 ㎖ 를 첨가하고 균일해질 때까지 교반하였다. 얻어진 용액에 (A) 성분으로서 1,2,3,4-시클로부탄테트라카르복실산 2무수물 (이하, 「CBDA」 라고도 한다.) 5.12 g (26.1 m㏖) 을 실온에서 첨가하고, 그 상태로의 온도에서 24 시간 교반을 계속하여, 조성물 (폴리아믹산 용액) 을 얻었다.Diamino-2,2'-bis (trifluoromethyl) biphenyl (hereinafter referred to as "bis (trifluoromethyl) biphenyl") as a component (B) was added to a 300 ml four-necked flask equipped with a stirrer, 7.85 g (24.5 mmol) of the amino-modified methylphenyl silicone (X22-9409) and 2.03 g (1.6 mmol) of both terminal amino-modified methylphenylsilicone (X22-9409) were added. Subsequently, the inside of the flask was purged with nitrogen, 58 ml of N, N-dimethylacetamide was added, and the mixture was stirred until it became homogeneous. 5.12 g (26.1 mmol) of 1,2,3,4-cyclobutane tetracarboxylic acid dianhydride (hereinafter also referred to as " CBDA ") as a component (A) was added to the obtained solution at room temperature, Followed by stirring at a temperature of 25 deg. C for 24 hours to obtain a composition (polyamic acid solution).
또한, 표 4 ∼ 6, 표 8 에 나타내는 YI 값 및 전체 광선 투과율은 오븐 내의 산소 농도를 각각 50 ppm, 100 ppm, 500 ppm 으로 각각 조정했을 때의 결과 (50 ppm/100 ppm/500 ppm) 를 나타내고 있다.The YI values and the total light transmittance shown in Tables 4 to 6 and Table 8 indicate the results (50 ppm / 100 ppm / 500 ppm) when the oxygen concentrations in the oven were respectively adjusted to 50 ppm, 100 ppm, and 500 ppm Respectively.
표 4, 5, 8 에 나타내는 바와 같이, 실시예 1 ∼ 66 은, 막 물성에 있어서, 이하의 조건을 동시에 만족하는 것이 확인되었다.As shown in Tables 4, 5 and 8, in Examples 1 to 66, it was confirmed that the following conditions were simultaneously satisfied in film properties.
(1) 잔류 응력이 25 ㎫ 이하(1) The residual stress is 25 MPa or less
(2) 황색도가 7 이하이고, 산소 농도에 의한 영향이 적다(2) the yellowness degree is 7 or less, and the influence by the oxygen concentration is small
(3) 실온 온도 이상의 온도 영역에 있어서의 유리 전이 온도가 250 ℃ 이상(3) a glass transition temperature of not lower than 250 占 폚
(4) 전체 광선 투과율이 88 % 이상이고, 산소 농도에 의한 영향이 적다(4) The total light transmittance is 88% or more, and the influence by the oxygen concentration is small
(5) 인장 신도 30 % 이상(5) Tensile elongation 30% or more
(6) NMP 내약품성 시험 30 분 이상(6) NMP chemical resistance test 30 minutes or more
(7) NMP 단독으로 바니시를 제조해도, 열 경화막이 백탁하는 경우가 없기 때문에 전체 광선 투과율이 높다(7) Even when varnish is produced by NMP alone, the thermosetting film is not cloudy, and thus the total light transmittance is high
이들은 탑·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판에 적용하기 위한 성능을 만족하고 있다.They satisfy the performance for application to a transparent substrate for a top-emission type flexible display.
실시예 1 ∼ 33, 36, 37, 41, 42, 46, 47, 53 ∼ 66 은, 복굴절에서 유래하는 막두께 방향의 리타데이션 Rth 가 100 ㎚ 이하 (20 ∼ 90 ㎚) 이고, 탑·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판뿐만 아니라, 보텀·에미션형의 플렉시블 디스플레이용 투명 기판이나 터치 패널용 전극 기판에 적용하기 위한 성능을 만족하고 있다. 또, 두께 방향의 리타데이션 Rth 는, 공중합 모노머로서, 규소기 함유 모노머를 사용하고 있지 않는 폴리이미드 (비교예 1 ∼ 22) 와 규소기 함유 모노머를 사용하고 있는 폴리이미드 (실시예 1 ∼ 33) 를 비교하면, 규소기 함유 모노머를 사용하고 있는 폴리이미드 쪽이, Rth 가 작고, 규소기 함유 모노머가 폴리이미드의 Rth 저하에 기여하고 있는 것을 알 수 있다.Examples 1 to 33, 36, 37, 41, 42, 46, 47, and 53 to 66 are examples in which the retardation Rth in the film thickness direction derived from birefringence is 100 nm or less (20 to 90 nm) Satisfies the performance for application to a transparent substrate for a flexible display of a bottom emission type, a transparent substrate for a flexible display of a bottom emission type, and an electrode substrate for a touch panel. The retardation Rth in the thickness direction was measured by using polyimides (Comparative Examples 1 to 22) in which a silicon-containing monomer was not used as a copolymerizable monomer and polyimides (Examples 1 to 33) using a silicon- It can be seen that the polyimide using the silicon group-containing monomer has a small Rth, and the silicon group-containing monomer contributes to the decrease in the Rth of the polyimide.
이에 반해, 비교예 1 ∼ 26 은, 잔류 응력, 내약품성, 인장 신도가 낮고, YI 값이나 전체 광선 투과율이 큐어시의 산소 농도에 영향을 받아, 악화된다.On the other hand, in Comparative Examples 1 to 26, the residual stress, chemical resistance and tensile elongation were low, and the YI value and the total light transmittance were affected by the oxygen concentration at the time of curing and deteriorated.
이 결과로부터, 본 발명에 관련된 수지 전구체로부터 얻어지는 수지는, 무색 투명함과 함께, 무기막과의 사이에 발생하는 잔류 응력이 낮고, 또한 내약품성이 우수하고, 큐어시의 산소 농도에 의한 YI 값이나 전체 광선 투과율에 대한 영향이 작은 수지 필름인 것이 확인되었다.From these results, it can be seen that the resin obtained from the resin precursor according to the present invention is colorless and transparent, has low residual stress generated with the inorganic film, has excellent chemical resistance, and has a YI value Or a resin film having a small effect on the total light transmittance.
또한, 본 발명은 상기 실시형태에 한정되지 않고, 여러 가지 변경하여 실시하는 것이 가능하다.Further, the present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made.
산업상 이용가능성Industrial availability
본 발명은, 예를 들어, 반도체 절연막, TFT-LCD 절연막, 전극 보호막, 플렉시블 디스플레이의 제조, 터치 패널 ITO 전극용 기판에, 특히 기판으로서 적합하게 이용할 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY The present invention can be suitably used as, for example, a substrate for a semiconductor insulating film, a TFT-LCD insulating film, an electrode protective film, a flexible display, and a substrate for a touch panel ITO electrode.
Claims (17)
하기 식 (1) 로 나타내는 디아민 유래의 구조와,
하기 일반식 (2) 유래의 구조를 포함하는, 폴리이미드 경화막으로서,
{식 중, 복수 존재하는 R3 및 R4 는, 각각 독립적으로, 탄소수 1 ~ 20 의 1 가의 유기기이고, 그리고 h 는, 3 ~ 200 의 정수이다.}
상기 폴리이미드 경화막은 310℃ 이상의 유리 전이 온도를 갖는 폴리이미드 경화막.A structure derived from pyromellitic dianhydride,
A structure derived from a diamine represented by the following formula (1)
A polyimide cured film comprising a structure derived from the following general formula (2)
Wherein R 3 and R 4 which are plural in the formula are each independently a monovalent organic group of 1 to 20 carbon atoms and h is an integer of 3 to 200. <
Wherein the polyimide cured film has a glass transition temperature of 310 DEG C or higher.
폴리이미드 경화막은 20 ㎛ 막두께에서의 황색도가 7 이하인 폴리이미드 경화막.The method according to claim 1,
The polyimide cured film is a polyimide cured film having a yellow degree of 7 or less at a film thickness of 20 탆.
폴리이미드 경화막은 10 ㎛ 막두께에서의 잔류 응력이 25 ㎫ 이하인 폴리이미드 경화막.The method according to claim 1,
The polyimide cured film has a residual stress of 25 MPa or less at a film thickness of 10 mu m.
폴리이미드 경화막은 20 ㎛ 막두께에 있어서의 Rth 가 20 ~ 200 ㎚ 인 폴리이미드 경화막.The method according to claim 1,
The polyimide cured film has a Rth of 20 to 200 nm at a film thickness of 20 mu m.
폴리이미드 경화막은 20 ㎛ 막두께에 있어서의 Rth 가 20 ~ 90 ㎚ 인 폴리이미드 경화막.The method according to claim 1,
The polyimide cured film has a Rth of 20 to 90 nm at a film thickness of 20 mu m.
상기 디바이스가 플렉시블 디바이스인, 디바이스.The method according to claim 6,
Wherein the device is a flexible device.
상기 디스플레이가 플렉시블 디스플레이인, 디스플레이.9. The method of claim 8,
Wherein the display is a flexible display.
상기 터치 패널 전극 기판이 플렉시블 터치 패널 전극 기판인, 터치 패널 전극 기판.11. The method of claim 10,
Wherein the touch panel electrode substrate is a flexible touch panel electrode substrate.
상기 태양 전지가 플렉시블 태양 전지인, 태양 전지.13. The method of claim 12,
Wherein the solar cell is a flexible solar cell.
상기 조명이 플렉시블 조명인, 조명.15. The method of claim 14,
Wherein the illumination is a flexible illumination.
상기 배터리가 플렉시블 배터리인, 배터리.17. The method of claim 16,
Wherein the battery is a flexible battery.
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