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KR101470399B1 - Electromagnetic measurement system - Google Patents

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KR101470399B1
KR101470399B1 KR20130166915A KR20130166915A KR101470399B1 KR 101470399 B1 KR101470399 B1 KR 101470399B1 KR 20130166915 A KR20130166915 A KR 20130166915A KR 20130166915 A KR20130166915 A KR 20130166915A KR 101470399 B1 KR101470399 B1 KR 101470399B1
Authority
KR
South Korea
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electromagnetic
electromagnetic wave
anechoic chamber
signal
optical
Prior art date
Application number
KR20130166915A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김치섭
이성훈
Original Assignee
주식회사 이레테크
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
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Publication date
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Priority to KR20130166915A priority Critical patent/KR101470399B1/en
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Abstract

The present invention relates to an electromagnetic measuring system comprising: an electromagnetic anechoic room having an inner wall which has gone through an electromagnetic shielding and absorption treatment processes; an antenna which is installed in the electromagnetic anechoic room to receive an electromagnetic wave emitted from a test sample device located in the electromagnetic anechoic room; a signal analyzer which is installed outside of the electromagnetic anechoic room to analyze the electromagnetic wave received by the antenna, and to output an image signal includes signal analysis result information; an electromagnetic shielding box which is installed in the electromagnetic anechoic room and has an inner wall that has gone through an electromagnetic shielding and absorption treatment processes; and a beam projector which is contained in the electromagnetic shielding box, and receives the image signal outputted from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic room to be projected onto a screen installed in the electromagnetic anechoic room by light.

Description

전자파 측정 시스템{ELECTROMAGNETIC MEASUREMENT SYSTEM}[0001] ELECTROMAGNETIC MEASUREMENT SYSTEM [0002]

본 발명은 전자파 측정 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to an electromagnetic wave measuring system.

전자기기에서 발생하는 노이즈 또는 전자파가 인체 혹은 다른 전자기기에 미치는 영향의 정도를 측정하는 것을 전자파 측정 혹은 전자 정합성(EMC: Electro Magnetic Compatibility) 테스트라고 한다.Measurement of the degree of influence of noise or electromagnetic waves generated in an electronic device on the human body or other electronic devices is referred to as an electromagnetic wave measurement or an electromagnetic compatibility test (EMC).

전자기기가 점점 더 디지털화되고 고속화되면서 전자기기의 회로 내에서 순환하는 전류들이 많아지게 되었고 전자기기들은 좀더 많은 노이즈와 전자파를 일으킬 개연성이 높아지게 되었다. As electronic devices become more and more digital and faster, the circulating currents in the circuits of electronic devices have increased, and electronic devices have become more likely to generate more noise and electromagnetic waves.

이러한 이유로 전자기기에서 발생하는 전자기적 노이즈 혹은 전자파에 대해 규제가 강화되고 있고, 전자기기가 이러한 규제를 만족하는지를 측정하기 위한 다양한 전자파 측정 시스템들이 제시되고 있다.For this reason, regulations are being tightened against electromagnetic noise or electromagnetic waves generated in electronic devices, and various electromagnetic measurement systems for measuring whether electronic devices satisfy such regulations are being proposed.

전자파 측정 시스템들 중에는 전도성 노이즈(Conducted Emissions)를 측정하는 시스템이 있고, 방사성 노이즈(Radiated Emissions)를 측정하는 시스템이 있다. 전자기기에서 발생하는 노이즈 혹은 전자파는 전원과 같은 유선을 통해 다른 전자기기로 전파될 수 있다. 이렇게 전자기기에 연결되어 있는 유선을 통해 다른 전자기기로 전파되는 노이즈를 측정하는 것을 전도성 노이즈 측정이라고 한다. 이와 달리, 전자기기는 회로 내에서의 전자기적 에너지의 흐름에 따라 노이즈 혹은 전자파를 공중으로 방사할 수 있는데, 이렇게 공중으로 방사되는 노이즈 혹은 전자파를 측정하는 것을 방사성 노이즈 측정이라고 한다.Among electromagnetic measurement systems, there is a system for measuring conducted noises (Conducted Emissions), and a system for measuring radiated emissions. Noises or electromagnetic waves generated in electronic devices can be propagated to other electronic devices through wired lines such as a power source. Measuring the noise propagated to other electronic devices through a wire connected to the electronic device is called conductive noise measurement. Alternatively, an electronic device can radiate noise or electromagnetic waves into the air according to the flow of electromagnetic energy in the circuit. The measurement of noise or electromagnetic waves radiated to the air is called a radio noise measurement.

한편, 방사성 노이즈는 전자파 측정을 위한 별도의 안테나를 통해 수신되고 유선을 통해 전달되는데, 이러한 유선을 통해 전파되는 전기 신호의 크기는 작다. 이렇게 크기가 작은 전기 신호를 주변에 존재하는 노이즈 플로어(Noise Floor) 이상의 전기 신호로 변환하여 전자파 측정 신호 분석기로 전달할 필요가 있다. On the other hand, the radioactive noise is received through a separate antenna for electromagnetic wave measurement and transmitted through the wire, and the magnitude of the electric signal propagated through the wire is small. It is necessary to convert the electric signal of such small size into an electric signal of a noise floor or more present in the surroundings and transmit the electric signal to the electromagnetic wave measuring signal analyzer.

한편, 이러한 전자파 측정 시스템은, 전자파 측정의 대상이 되는 시료 기기를 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 전자파 무향실 내부에 넣어 두고, 시료 기기에서 발생하는 전자파를 전자파 무향실 내부에 있는 안테나를 통해 수신하여 전자파 무향실 외부에 있는 신호 분석기(컴퓨터일 수도 있음)를 통해 분석한다. In this electromagnetic wave measuring system, a sample device to be subjected to electromagnetic wave measurement is placed in an electromagnetic anechoic chamber subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing, and electromagnetic waves generated in the sample device are received through an antenna in the electromagnetic anechoic chamber, Analyze through an external signal analyzer (possibly a computer).

이와 같은 전자파 측정 환경에서는, 엔지니어가 전자파 무향실의 외부에 있는 제어실에 설치된 신호 분석기를 통해 신호 분석 결과 정보를 보고, 시료 기기의 전자파 방출 특성을 파악한다. In such an electromagnetic wave measurement environment, the engineer views signal analysis result information through a signal analyzer installed in a control room outside the electromagnetic anechoic chamber, and grasps electromagnetic wave emission characteristics of the sample device.

이후, 엔지니어는, 파악 결과, 시료 기기에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등이 필요하다고 판단되면, 전자파 뮤향실의 내부에 직접 들어가서, 시료 기기에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등을 위한 디버깅 처리를 수행한다. Thereafter, the engineer goes directly to the inside of the electromagnetic wave muffler room, and performs noise reduction processing and electromagnetic wave immunity enhancement processing on the sample machine, if it is judged that the noise reduction processing for the sample device, the electromagnetic wave resistance improvement processing, The debugging process is performed.

이처럼, 시료 기기에 대한 전자파 방출 특성을 확인하는 위치와, 시료 기기에 대한 전자파 방출 특성을 수정하기 위한 디버깅 처리를 하는 위치가 다르다는 점 때문에, 엔지니어의 이동이 빈번히 발생하여 작업 시간이 길어지는 문제점이 있다. Since the position for checking the electromagnetic wave emission characteristic of the sample device and the position for performing the debugging process for correcting the electromagnetic wave emission characteristic for the sample device are different from each other, the movement of the engineer frequently occurs, have.

또한, 엔지니어가 디버깅 처리를 수행하는 위치와 떨어진 곳에서 시료 기기에 대한 전자파 방출 특성을 파악한 이후 디버깅 처리를 수행하기 때문에, 디버깅 정확도가 떨어질 수 있는 문제점도 있다. Also, since the debugging process is performed after the emission characteristics of the electromagnetic wave emitted from the sample device are detected at a position away from the position where the engineer performs the debugging process, the debugging accuracy may be lowered.

이러한 배경에서, 본 발명의 목적은, 전자파 측정을 통해 시료 기기에서 발생하는 전자파 방출 특성 파악과 이를 기반으로 시료 기기에 대한 디버깅 처리를 인접한 거리에서 할 수 있도록 해주는 전자파 측정 시스템을 제공하는 데 있다. In view of the foregoing, it is an object of the present invention to provide an electromagnetic wave measuring system which enables the electromagnetic wave emission characteristic of a sample device to be measured through electromagnetic wave measurement and the debugging process of the sample device based on the electromagnetic wave emission characteristic can be performed at an adjacent distance.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 무향실; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나; 상기 전자파 무향실의 외부에 설치되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파를 분석하여 신호 분석 결과 정보를 포함하는 영상 신호를 출력하는 신호 분석기; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터를 포함하는 전자파 측정 시스템을 제공한다. In order to achieve the above-mentioned object, in one aspect, the present invention provides an electromagnetic anechoic chamber having an electromagnetic wave shielding and absorption processing inner wall; An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber; A signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber for analyzing the electromagnetic waves received by the antenna and outputting a video signal including signal analysis result information; An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And a beam projector housed in the electromagnetic wave shield box and configured to receive the image signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber and reflect the received image signal on a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber with light do.

상기 전자파 차폐함은, 상기 빔 프로젝터가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우가 일 측면에 있다. The electromagnetic wave shielding box has an electromagnetic wave shielding window through which light illuminated by the beam projector is transmitted.

상기 전자파 측정 시스템은, 상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납된 상기 빔 프로젝터로 전달해주기 위한 영상 신호 전송 장치를 더 포함할 수 있다. The electromagnetic wave measuring system may further include a video signal transmitting device for transmitting the video signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber to the beam projector housed in the electromagnetic wave shielding case installed inside the electromagnetic anechoic chamber .

상기 전자파 측정 시스템은, 상기 전자파 차폐함의 내부 또는 외부에 설치되어 전원 공급부에서 공급된 전원이 노이즈가 제거되어 상기 빔 프로젝터로 인가되도록 해주는 전자 방해 잡음(EMI: Electro Magnetic Interference) 전원 필터를 더 포함할 수 있다. The electromagnetic wave measurement system further includes an EMI (Electro Magnetic Interference) power filter installed inside or outside the electromagnetic wave shield box to allow power supplied from the power supply unit to be applied to the beam projector after noise is removed .

상기 전자파 측정 시스템은, 상기 상측 바닥과 상기 하측 바닥 사이 공간에 격납된 상기 전자파 차폐함을 상기 상측 바닥 위로 리프트 시키는 리프트 장치를 더 포함할 수 있다. The electromagnetic wave measuring system may further include a lift device for lifting the electromagnetic wave shielding case, which is housed in the space between the upper floor and the lower floor, to the upper floor.

다른 측면에서, 본 발명은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 무향실; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파에 대한 신호 분석 결과 정보가 포함된 영상 신호를 신호 분석기로부터 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터를 포함하는 전자파 측정 시스템을 제공한다. In another aspect, the present invention relates to an electromagnetic anechoic chamber having an inner wall subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing; An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber; An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And a beam projector accommodated in the electromagnetic wave shield box and receiving a video signal including signal analysis result information on the electromagnetic wave received by the antenna, from a signal analyzer and reflecting the light onto a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber And an electromagnetic wave measuring system.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 전자파 측정을 통해 시료 기기에서 발생하는 전자파 방출 특성 파악과 이를 기반으로 시료 기기에 대한 디버깅 처리를 인접한 거리에서 할 수 있도록 해주는 전자파 측정 시스템을 제공하는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, it is possible to provide an electromagnetic wave measuring system that allows the electromagnetic wave emission characteristic of the sample device to be detected through the electromagnetic wave measurement and the debugging process for the sample device based on the electromagnetic wave emission characteristic can be performed at an adjacent distance .

이를 통해, 디버깅 처리를 위한 작업 시간을 줄일 수 있고, 디버깅 정확도를 향상시킬 수 있다. This reduces the work time for the debugging process and improves the debugging accuracy.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템의 개략도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템을 보다 상세하게 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템에 포함된 전자파 무향실의 바닥 구조를 나타낸 도면이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템에 포함된 전자파 차폐함의 리프트(Lift) 방식의 예시도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템에 포함된 전자파 차폐함의 리프트(Lift) 방식의 다른 예시도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템을 나타낸 도면이다.
1 is a schematic diagram of an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
2 is a detailed diagram of an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
3 is a bottom view of an electromagnetic anechoic chamber included in an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 and FIG. 5 are views illustrating an example of a lift system of an electromagnetic wave shield box included in an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
6 and 7 are views illustrating another example of a lift system of an electromagnetic wave shield box included in an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
8 is a diagram illustrating an electromagnetic wave measurement system according to another embodiment of the present invention.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. In the drawings, like reference numerals are used to denote like elements throughout the drawings, even if they are shown on different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are intended to distinguish the components from other components, and the terms do not limit the nature, order, order, or number of the components. When a component is described as being "connected", "coupled", or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to the other component, Quot; intervening "or that each component may be" connected, "" coupled, "or " connected" through other components.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)의 개략도이다.1 is a schematic diagram of an electromagnetic measurement system 100 according to an embodiment of the present invention.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 이동통신 단말, 컴퓨터, 텔레비전, 전자부품이 실장된 인쇄회로기판 등과 같이 전자파를 발생시킬 수 있는 그 어떠한 전기 기기일 수도 있는 시료 기기(10)가 발생시키는 전자파를 측정하기 위한 시스템이다. 1, an electromagnetic wave measuring system 100 according to an exemplary embodiment of the present invention may include any electric device capable of generating electromagnetic waves, such as a mobile communication terminal, a computer, a television, a printed circuit board on which electronic components are mounted, Which is a system for measuring electromagnetic waves generated by the sample device 10,

이러한 전자파 측정 시스템(100)은, 전자파 무향실(110), 안테나(120), 신호 분석기(130), 전자파 차폐함(140) 및 빔 프로젝터(150) 등을 포함한다. The electromagnetic wave measuring system 100 includes an electromagnetic wave anechoic chamber 110, an antenna 120, a signal analyzer 130, an electromagnetic wave shield box 140, a beam projector 150, and the like.

전자파 무향실(110)은 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(111)을 갖는다. 즉, 전자파 무향실(110)의 내벽(111)은 전자파 차폐 부재로 되어 있을 수 있다. The electromagnetic anechoic chamber 110 has an inner wall 111 which is subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing. That is, the inner wall 111 of the electromagnetic anechoic chamber 110 may be an electromagnetic wave shielding member.

안테나(120)는 전자파 무향실(110)의 내부에 설치되며, 전자파 무향실(110)의 내부에 위치한 시료 기기(10)에서 방출(방사)되는 전자파를 수신한다. The antenna 120 is installed inside the electromagnetic anechoic chamber 110 and receives electromagnetic waves radiated from the sample device 10 located inside the electromagnetic anechoic chamber 110.

신호 분석기(130)는, 전자파 무향실(110)의 외부에 설치되며, 안테나(120)가 수신한 전자파를 분석하여 신호 분석 결과 정보를 포함하는 영상 신호를 출력한다. The signal analyzer 130 is installed outside the electromagnetic anechoic chamber 110 and analyzes an electromagnetic wave received by the antenna 120 to output a video signal including signal analysis result information.

한편, 안테나(120)에 수신된 전자파의 신호 세기기 미약한 경우, 신호 세기를 증폭하여 신호 분석기(130)로 전달해주는 신호 증폭기(미도시)가 전자파 무향실(110)의 내부 또는 외부에 설치될 수도 있다. Meanwhile, when a signal of the electromagnetic wave received by the antenna 120 is weak, a signal amplifier (not shown) for amplifying the signal intensity and transmitting the amplified signal strength to the signal analyzer 130 is installed inside or outside the electromagnetic anechoic chamber 110 It is possible.

한편, 시료 기기(10)로부터 방출되는 전자파를 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달받아, 전달받은 전자파에 대하여 특정 주파수 대역의 주파수 성분을 필터링하여 신호 분석기(130)로 전달하는 필터(미도시)를 전자파 무향실(110)의 내부 또는 외부에 더 포함할 수 있다. Meanwhile, a filter (not shown) for receiving the electromagnetic wave emitted from the sample device 10 from the electromagnetic wave measuring antenna 20, filtering the frequency component of a specific frequency band and transmitting the filtered electromagnetic wave to the signal analyzer 130 And may be further included inside or outside the electromagnetic anechoic chamber 110.

전자파 차폐함(140)은, 전자파 무향실(110)의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(141)을 갖는다. 즉, 전자파 차폐함(140)의 내벽(141)은 전자파 차폐 부재로 되어 있을 수 있다. The electromagnetic wave shielding box 140 is provided inside the electromagnetic wave anechoic chamber 110 and has an inner wall 141 which is subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing. That is, the inner wall 141 of the electromagnetic wave shield box 140 may be an electromagnetic wave shielding member.

빔 프로젝터(150)는, 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납되며, 전자파 무향실(110)의 외부에 설치된 신호 분석기(130)에서 출력된 영상 신호를 입력받아 빛으로 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 스크린(160)에 비춘다. The beam projector 150 receives the image signal output from the signal analyzer 130 installed outside the electromagnetic anechoic chamber 110 and receives the image signal from the inside of the electromagnetic anechoic chamber 110, On the screen 160 installed in the display device.

이러한 빔 프로젝터(150)를 수납하는 전자파 차폐함(140)은, 빔 프로젝터(150)가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우(142)가 일 측면에 있다. The electromagnetic wave shield box 140 for accommodating the beam projector 150 has an electromagnetic wave shield window 142 through which light illuminated by the beam projector 150 is transmitted.

여기서, 전자파 차단 윈도우(142)는, 일 예로, 와이어 메쉬 윈도우(Wire Mesh Window)일 수 있다. Here, the electromagnetic wave shielding window 142 may be, for example, a wire mesh window.

전술한 바와 같이, 빔 프로젝터(150)를 이용하여 신호 분석 결과 정보를 확인하게 되는데, 그 이유는 다음과 같다. As described above, the signal analysis result information is confirmed using the beam projector 150, for the following reasons.

종래에는, 전자파 측정 테스트를 하는 엔지니어는, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 제어실에 설치된 신호 분석기(130) 또는 이와 연결된 컴퓨터를 통해 신호 분석 결과 정보를 보고, 시료 기기(10)의 전자파 방출 특성을 파악한다. Conventionally, the engineer who performs the electromagnetic wave measurement test can view the signal analysis result information through the signal analyzer 130 installed in the control room outside the electromagnetic anechoic chamber 110 or the computer connected thereto, .

이후, 엔지니어는, 파악 결과, 시료 기기(10)에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등이 필요하다고 판단되면, 전자파 뮤향실(110)의 내부에 직접 들어가서, 시료 기기(10)에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등을 위한 디버깅 처리를 수행한다. Thereafter, the engineer enters the inside of the electromagnetic wave muffler room 110 directly, and judges that the noise to the sample device 10 is a noise, that is, And performs debugging processing for reduction processing, electromagnetic wave immunity enhancement processing, and the like.

이처럼, 시료 기기(10)에 대한 전자파 방출 특성을 확인하는 위치와, 시료 기기(10)에 대한 전자파 방출 특성을 수정하기 위한 디버깅 처리를 하는 위치가 다르다는 점 때문에, 엔지니어의 이동이 빈번히 발생하여 작업 시간이 길어지는 문제점이 있다. As described above, since the position for confirming the electromagnetic wave emission characteristic to the sample device 10 and the position for performing the debugging process for correcting the electromagnetic wave emission characteristic to the sample device 10 are different from each other, There is a problem that the time is prolonged.

또한, 엔지니어가 디버깅 처리를 수행하는 위치와 떨어진 곳에서 시료 기기(10)에 대한 전자파 방출 특성을 파악한 이후 디버깅 처리를 수행하기 때문에, 디버깅 정확도가 떨어질 수 있는 문제점도 있다. Further, since the debugging process is performed after grasping the electromagnetic wave emission characteristic of the sample device 10 at a position away from the position where the engineer performs the debugging process, there is a problem that the debugging accuracy may be lowered.

한편, 전술한 빔 프로젝터(150)를 전자파 무향실(110)의 내부에 두되, 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)에 수납시키는 이유는 다음과 같다. The reason why the above-described beam projector 150 is placed inside the electromagnetic anechoic chamber 110 and accommodated in the electromagnetic wave shield box 140 provided inside the electromagnetic anechoic chamber 110 is as follows.

만약, 전자파 차폐함(140) 없이, 빔 프로젝터(150)를 전자파 무향실(110)의 내부에 설치하는 경우, 빔 프로젝터(150)에서 발생하는 노이즈 신호가, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파와 함께, 안테나(120)에 수신되어 신호 분석기(130)에 전달된다. 이에 따라, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파에 대한 정확한 측정이 불가능해진다. When the beam projector 150 is installed inside the electromagnetic anechoic chamber 110 without the electromagnetic wave shield box 140, the noise signal generated by the beam projector 150 is transmitted to the electromagnetic wave emitted from the sample device 10 Together, they are received by the antenna 120 and transmitted to the signal analyzer 130. This makes it impossible to accurately measure the electromagnetic waves emitted from the sample device 10.

따라서, 전자파 무향실(110)의 내부에 별도의 전자파 차폐함(140)을 두고, 이 전자파 차폐함(140) 내부에 빔 프로젝터(150)를 수납하는 것이다. Therefore, a separate electromagnetic shielding box 140 is disposed inside the electromagnetic anechoic chamber 110, and the beam projector 150 is housed in the electromagnetic shielding enclosure 140.

이상에서 간략하게 설명한 전자파 측정 시스템(100)에 대하여 도 2를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. The electromagnetic measuring system 100 briefly described above will be described in more detail with reference to FIG.

도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)을 보다 상세하게 나타낸 도면이다. FIG. 2 is a detailed diagram of an electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention.

도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 전자파 무향실(110)의 외부에 설치된 신호 분석기(130)에서 출력된 영상 신호를 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)로 전달해주기 위한 영상 신호 전송 장치를 더 포함할 수 있다. 2, an electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention includes a signal analyzer 130 installed outside the electromagnetic anechoic chamber 110 for receiving a video signal output from the signal analyzer 130 in an electromagnetic anechoic chamber 110 And an image signal transmission device for transmitting the image signal to the beam projector 150 housed in the installed electromagnetic wave shield box 140.

한편, 도 2를 참조하면, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)에 출력된 영상 신호는, 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)의 내부까지 도달해야 한다. 2, a video signal output to the signal analyzer 130 outside the electromagnetic anechoic chamber 110 must reach the inside of the electromagnetic wave shield box 140 installed inside the electromagnetic anechoic chamber 110 .

이러한 영상 신호는, 전달 경로 측면에서, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)에서, 전자파 무향실(110)의 내부를 거쳐 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)까지 전달되어야 한다. The image signal is transmitted from the signal analyzer 130 outside the electromagnetic anechoic chamber 110 through the interior of the electromagnetic anechoic chamber 110 to the beam projector 150 ).

한편, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)에서 전자파 무향실(110)의 내부를 거쳐 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)까지 영상 신호선(예: VGA, HDMI, DVI 등의 케이블)을 연결하여 영상 신호를 전달하는 경우, 영상 신호선에서 유기되는 노이즈 신호가 전자파 무향실(110)의 내부에서 발생하여, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파와 함께, 안테나(120)에 수신되어 신호 분석기(130)에 전달될 수 있다. 이에 따라, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파에 대한 정확한 측정이 불가능해진다. The signal analyzer 130 located outside the electromagnetic anechoic chamber 110 transmits the video signal line (for example, VGA, VGA, etc.) from the inside of the electromagnetic anechoic chamber 110 to the beam projector 150 housed in the electromagnetic wave shield box 140, In the case of transmitting an image signal by connecting a cable such as an HDMI or a DVI cable, a noise signal induced in the video signal line is generated inside the electromagnetic anechoic chamber 110, and the electromagnetic wave emitted from the sample device 10, 120 and may be communicated to the signal analyzer 130. This makes it impossible to accurately measure the electromagnetic waves emitted from the sample device 10.

따라서, 전술한 영상 신호 전송 장치는, 영상 신호가 전자파 무향실(110)의 내부에서는 광신호로 변환되어 전송되도록 하는 구성들(영상 신호(전기 신호)와 광신호 간의 변환 장치, 광케이블, 광케이블 도파관 등)을 포함할 수 있다. Therefore, the video signal transmission apparatus described above can be applied to a configuration (an apparatus for converting a video signal (electric signal) and an optical signal, an optical cable, an optical cable waveguide, or the like) that converts a video signal into an optical signal in the inside of the electromagnetic anechoic chamber 110 ).

더욱 상세하게 설명하면, 영상 신호 전송 장치는, 신호 분석기(130)에서 영상 신호선(210)을 통해 출력된 영상 신호를 입력받아 광신호로 변환하는 제1 변환기(220)와, 제1 변환기(220)에서 변환된 광신호를 전달하는 제1 광케이블(230)과, 전자파 무향실(110)의 벽면을 관통하여 설치되며, 제1 광케이블(230)로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제1 광케이블 도파관(240)과, 제1 광케이블 도파관(240)에서 출력된 광신호를 전달하는 제2 광케이블(250)과, 전자파 차폐함(140)의 벽면을 관통하여 설치되며, 제2 광케이블(250)로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제2 광케이블 도파관(260)과, 제2 광케이블 도파관(260)에서 제3 광케이블(270)을 통해 출력된 광신호를 입력받아 영상 신호로 변환하여 영상 신호선(290)을 통해 빔 프로젝터(150)로 입력해주는 제2 변환기(280) 등을 포함한다. More specifically, the video signal transmission apparatus includes a first converter 220 that receives a video signal output from the signal analyzer 130 through the video signal line 210 and converts the received video signal into an optical signal, a first converter 220 A first optical cable 230 passing through the wall surface of the electromagnetic anechoic chamber 110 for transmitting the optical signal converted from the first optical cable 230 and a first optical cable waveguide 240 for outputting an optical signal transmitted from the first optical cable 230, A second optical cable 250 that transmits the optical signal output from the first optical cable waveguide 240 and a second optical cable 250 that is installed through the wall surface of the electromagnetic wave shield box 140 and receives light transmitted from the second optical cable 250, A second optical fiber waveguide 260 for outputting a signal and a second optical cable 260 for converting the optical signal output through the third optical cable 270 into a video signal and outputting the converted video signal through a video signal line 290, And a second converter 280 for inputting the input signal All.

전술한 바와 같은 영상 신호 전송 장치를 이용하면, 일반적인 영상 신호선을 이용하는 것에 비해, 전자파 측정의 정확도 향상은 물론, 화질 저하 없이 장거리 고화질의 영상 전송 및 디스플레이가 가능해질 수도 있다. Using the video signal transmission apparatus as described above, it is possible to improve the accuracy of electromagnetic wave measurement as well as to enable image transmission and display of long distance and high quality without deterioration of image quality, as compared with a general video signal line.

한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 전자파 차폐함(140)의 내부 또는 외부에 설치되어 전원 공급부(미도시)에서 공급된 전원이 노이즈가 제거되어 빔 프로젝터(150)로 인가되도록 해주는 전자 방해 잡음(EMI: Electro Magnetic Interference) 전원 필터(200)를 더 포함할 수 있다. Meanwhile, the electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention is installed in the electromagnetic wave shield box 140, so that power supplied from a power supply unit (not shown) is removed from the beam projector 150 And an electromagnetic interference (EMI) power source filter 200 for applying an electromagnetic interference (EMI) power.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 무향실(110)의 바닥 구조를 나타낸 도면이다. 3 is a bottom view of an electromagnetic anechoic chamber 110 included in the electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에서 전자파 무향실(110)은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320)으로 이루어진 2중 바닥 구조를 가질 수 있다. 3, an electromagnetic anechoic chamber 110 in an electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention includes an upper floor 310 and a lower floor 320 that are subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing, It can have a bottom structure.

도 3을 참조하면, 전자파 무향실(110)의 상측 바닥(320)은 하측 바닥(320)으로부터 일정 높이만큼 이격되어 있을 수 있으며, 이로 인해, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이에 일정 공간이 형성될 수 있다.  3, the upper floor 320 of the electromagnetic anechoic chamber 110 may be spaced apart from the lower floor 320 by a predetermined height, so that a predetermined amount of space between the upper floor 310 and the lower floor 320 A space can be formed.

이러한 2중 바닥 구조는, 외부로부터의 진동이 전자파 무향실(110)의 내부로 전달되어, 시료 기기(10) 등이 미세하게 흔들리는 등의 이유로 인해, 시료 기기(10)에 대한 전자파를 정확하게 측정하는 것에 문제를 일으키는 현상을 줄여줄 수 있다. This double bottom structure allows the electromagnetic wave to be accurately measured to the sample apparatus 10 due to external vibrations being transmitted to the inside of the electromagnetic anechoic chamber 110 and causing the sample apparatus 10 and the like to vibrate slightly It is possible to reduce the phenomenon of causing a problem to the user.

한편, 이러한 2중 바닥 구조에 의해, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이에 형성된 공간에, 전자파 차폐함(140), 영상 신호 전송 장치(210~290) 및 전자 방해 잡음 전원 필터(200) 등을 격납할 수 있다. The electromagnetic wave shield box 140, the video signal transmission apparatuses 210 to 290, and the electromagnetic interference noise power filter (not shown) are installed in a space formed between the upper floor 310 and the lower floor 320, 200, and the like.

전자파 차폐함(140), 영상 신호 전송 장치(210~290) 및 전자 방해 잡음 전원 필터(200) 등 중에서 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되어 있다고, 빔 프로젝터(150)가 영상 신호를 빛으로 스크린(160)에 비추어야 하는 경우, 리프트(Lift)될 수 있다.  The electromagnetic shielding box 140 among the electromagnetic shielding box 140, the video signal transmitting apparatuses 210 to 290 and the electromagnetic disturbance noise power supply filter 200 is installed in a space between the upper floor 310 and the lower floor 320 The beam projector 150 may be lifted if the image signal should be projected onto the screen 160 as light.

이러한 전자파 차폐함(140)의 리프트를 위해, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납된 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310) 위로 리프트 시키는 리프트 장치를 더 포함할 수 있다. And further includes a lift device for lifting the electromagnetic wave shield box 140 stored in the space between the upper floor 310 and the lower floor 320 above the upper floor 310 for the lift of the electromagnetic wave shield box 140 .

전자파 차폐함(140)을 리프트 시키는 방식은, 일 예로, 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310)과 평행하게 리프트 시키는 방식과, 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310)과 경사지게 리프트 시키는 방식 등이 있다. A method of lifting the electromagnetic shielding box 140 is a method of lifting the electromagnetic shielding enclosure 140 in parallel with the upper floor 310 and a method of lifting the electromagnetic shielding enclosure 140 in the upper floor 310 and the inclined lift .

이와 같은 전자파 차폐함(140)의 2가지 리프트 방식을 위한 리프트 구조에 대하여, 아래에서, 도 4 내지 도 7을 참조하여 설명한다. The lift structure for the two lift systems of the electromagnetic shielding box 140 will be described with reference to Figs. 4 to 7 below. Fig.

도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)의 리프트(Lift) 방식의 예시도이다.4 and 5 are views illustrating an example of a lift method of the electromagnetic wave shield box 140 included in the electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention.

도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되어 있다가 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)를 사용해야 하는 경우, 상측 바닥(310)과 평행하게 리프트될 수 있다. 4, an electromagnetic wave shield box 140 included in the electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention is stored in a space between an upper floor 310 and a lower floor 320 And can be lifted in parallel with the upper floor 310 when the beam projector 150 housed therein needs to be used.

이를 위해, 도 4 및 도 5를 참조하면, 리프트 장치(400)는 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납된 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310) 위로 리프트 시키되, 상측 바닥(310)과 평행하게 리프트 시킨다. 4 and 5, the lift apparatus 400 lifts the electromagnetic wave shield box 140 stored in the space between the upper floor 310 and the lower floor 320 above the upper floor 310, , And is lifted in parallel with the upper floor 310.

도 4 및 도 5를 참조하면, 리프트 장치(400)는, 모터 축(410), 모터 축(410)에 결합된 피니언 기어(420), 이 피니언 기어(420)와 치 결합하고 전자파 차폐함(140)의 외측면에 형성된 랙 기어(430) 등을 포함할 수 있다. 4 and 5, the lift apparatus 400 includes a motor shaft 410, a pinion gear 420 coupled to the motor shaft 410, a teeth gear 420 coupled to the pinion gear 420, 140, and the like.

도 4 및 도 5를 참조하면, 모터 축(410)의 회전에 따라 피니언 기어(420)가 회전하고, 이에 따라 치 결합된 랙 기어(430)가 이동함에 따라 전자파 차폐함(140)이 수직방향(위 또는 아래)으로 이동할 수 있다. 4 and 5, as the pinion gear 420 rotates according to the rotation of the motor shaft 410, and the rack gear 430 thus coupled is moved, the electromagnetic wave shield box 140 is moved in the vertical direction (Up or down).

리프트 장치(400)는, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 전자파 차폐함(140)의 옆 면을 들어 올려주는 구성(410, 4230, 430)으로 동작할 수도 있고, 전자파 차폐함(140)의 밑면을 들어올려 주는 방식으로 동작할 수도 있다. 4 and 5, the lift device 400 may operate as a configuration 410, 4230, 430 for lifting the side surface of the electromagnetic wave shield box 140, and may include an electromagnetic wave shield box 140 And the bottom surface of the base plate may be lifted.

한편, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되는 경우, 영상 신호 전송 장치 중 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)의 출력단과 연결된 영상 신호선(210), 이와 연결된 제1 변환기(220), 이와 연결된 제1 광케이블(230) 등을 제외하고는, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 설치될 수 있다. 4 and 5, when the electromagnetic wave shield box 140 is stored in a space between the upper floor 310 and the lower floor 320, the electromagnetic wave anechoic chamber 110 of the video signal transmission apparatus, An upper signal line 210 connected to the output terminal of the signal analyzer 130 located outside the first transducer 130, a first transducer 220 connected to the signal transducer 220, and a first optical cable 230 connected thereto, (Not shown).

도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)의 리프트(Lift) 방식의 다른 예시도이다. 6 and 7 are views illustrating another example of a lift method of the electromagnetic wave shield box 140 included in the electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention.

도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되어 있다가 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)를 사용해야 하는 경우, 상측 바닥(310)과 경사지게 리프트될 수 있다. 6, an electromagnetic wave shield box 140 included in the electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention is stored in a space between an upper floor 310 and a lower floor 320 It can be inclinedly lifted with the upper floor 310 when the beam projector 150 housed therein needs to be used.

이를 위해, 도 6 및 도 7을 참조하면, 리프트 장치(600)는 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납된 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310) 위로 리프트 시키되, 상측 바닥(310)과 경시지게 리프트 시킨다. 6 and 7, the lift apparatus 600 lifts the electromagnetic wave shield box 140 stored in the space between the upper floor 310 and the lower floor 320 above the upper floor 310 And the upper floor 310, as shown in Fig.

도 6 및 도 7을 참조하면, 리프트 장치(600)는, 전자파 차폐함(14)의 코너에 설치된 모터일 수 있으며, 이 모터의 모터 축이 회전하여 모터 축이 있는 지점을 기준으로 시계 방향으로 전자파 차폐함(140)의 회전함으로써, 전자파 차폐함(140)이 상측 바닥(310)과 경사지게 리프트 될 수 있다. 이에 따라, 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)이 비추는 빛이 스크린(160)에 표시될 수 있는 상태가 된다.6 and 7, the lift device 600 may be a motor installed at the corner of the electromagnetic wave shield box 14, and the motor shaft of the motor rotates clockwise The electromagnetic wave shield box 140 can be inclinedly lifted from the upper floor 310 by rotating the electromagnetic wave shield box 140. [ Thus, the light illuminated by the beam projector 150 housed in the electromagnetic wave shield box 140 can be displayed on the screen 160.

한편, 도 6 및 도 7을 참조하면, 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되는 경우, 영상 신호 전송 장치 중 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)의 출력단과 연결된 영상 신호선(210), 이와 연결된 제1 변환기(220), 이와 연결된 제1 광케이블(230) 등을 제외하고는, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 설치될 수 있다. 6 and 7, when the electromagnetic wave shield box 140 is stored in a space between the upper floor 310 and the lower floor 320, The upper floor 310 and the lower floor 320 are connected to each other except for the video signal line 210 connected to the output terminal of the signal analyzer 130, the first transducer 220 connected thereto, the first optical cable 230 connected thereto, As shown in Fig.

이상에서 설명한 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 신호 분석기(130)는 전자파 무향실(110)의 외부에 설치되고, 이로 인해, 광전송 기반의 영상 전송 장치를 포함한다. 1, the signal analyzer 130 is installed outside the electromagnetic anechoic chamber 110, and thus, the signal analyzer 130 is provided on the outside of the electromagnetic anechoic chamber 110. Therefore, the electromagnetic wave measuring system 100 according to an embodiment of the present invention, And an image transmission device.

아래에서는, 신호 분석기를 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납한 경우를 다른 실시예로 설명한다. Hereinafter, a case in which the signal analyzer is housed in the electromagnetic wave shield box 140 installed in the electromagnetic anechoic chamber 110 will be described as another embodiment.

도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(800)을 나타낸 도면이다.FIG. 8 is a diagram illustrating an electromagnetic wave measuring system 800 according to another embodiment of the present invention.

도 8을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(800)은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(811)을 갖는 전자파 무향실(810)과, 전자파 무향실(810)의 내부에 설치되며, 전자파 무향실(810)의 내부에 위치한 시료 기기(80)에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나(820)와, 전자파 무향실(810)의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(841)을 갖는 전자파 차폐함(840)과, 전자파 차폐함(840)의 내부에 수납되며, 안테나(820)가 수신한 전자파에 대한 신호 분석 결과 정보가 포함된 영상 신호를 신호 분석기(830)로부터 입력받아 빛으로 전자파 무향실(810)의 내부에 설치된 스크린(860)에 비추는 빔 프로젝터(850) 등을 포함할 수 있다. 8, an electromagnetic wave measuring system 800 according to another embodiment of the present invention includes an electromagnetic anechoic chamber 810 having an inner wall 811 subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing, An antenna 820 installed inside the electromagnetic anechoic chamber 810 for receiving the electromagnetic wave emitted from the sample device 80 located inside the electromagnetic anechoic chamber 810 and an antenna 820 installed inside the electromagnetic anechoic chamber 810, And a signal analyzer 830 for receiving a video signal including signal analysis result information stored in the electromagnetic wave shield box 840 and receiving the electromagnetic wave received by the antenna 820 from the signal analyzer 830 And a beam projector 850 that illuminates the screen 860 installed inside the electromagnetic anechoic chamber 810 with light.

도 8을 참조하면, 빔 프로젝터(850)를 수납하는 전자파 차폐함(840)은, 빔 프로젝터(850)가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우(842)가 일 측면에 있다. 8, an electromagnetic wave shield box 840 for housing the beam projector 850 has an electromagnetic wave shield window 842 through which light illuminated by the beam projector 850 is transmitted.

도 8과 같이, 신호 분석기(830)를 전자파 차폐함(840)의 내부에 수납함으로써, 신호 분석기(830)에 출력된 영상 신호를 광신호로 변환하지 않고 영상 신호선만을 이용하여 빔 프로젝터(85)로 전달할 수 있다. 8, the signal analyzer 830 is accommodated in the electromagnetic wave shield box 840 so that the image signal outputted to the signal analyzer 830 is converted into the optical signal without converting the optical signal into the optical signal, .

도 8에 도시된 전자파 측정 시스템(800)은, 신호 분석기(830)가 전자파 차폐함(840)의 내부에 수납된다는 점과 이에 따른 영상 신호 전송과 관련된 구성만 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명한 전자파 측정 시스템(100)과 다를 뿐, 나머지 구성 및 기능은 모두 동일하다. The electromagnetic wave measuring system 800 shown in Fig. 8 is different from the electromagnetic wave measuring system 800 shown in Figs. 1 to 7 only in that the signal analyzer 830 is housed inside the electromagnetic wave shield box 840 The electromagnetic wave measuring system 100 is different from the electromagnetic wave measuring system 100 in that the remaining components and functions are the same.

이상에서 설명한 전자파 측정 시스템(100, 800)은, 일 예로, EMC(Electro Magnetic Compatibility) 또는 EMI(Electro Magnetic Interference) 등의 전자파 관련 테스트에 이용될 수 있다. The electromagnetic measurement systems 100 and 800 described above can be used for electromagnetic wave related tests such as EMC (Electro Magnetic Compatibility) or EMI (Electro Magnetic Interference), for example.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 전자파 측정을 통해 시료 기기에서 발생하는 전자파 방출 특성 파악과 이를 기반으로 시료 기기에 대한 디버깅 처리를 인접한 거리에서 할 수 있도록 해주는 전자파 측정 시스템(100, 800)을 제공하는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, electromagnetic wave measurement systems (100, 800) for enabling the identification of the electromagnetic wave emission characteristics generated in the sample device through the electromagnetic wave measurement and the debugging process for the sample device based on the electromagnetic wave emission characteristic can be performed at the adjacent distance There is an effect to provide.

이를 통해, 디버깅 처리를 위한 작업 시간을 줄일 수 있고, 디버깅 정확도를 향상시킬 수 있다. This reduces the work time for the debugging process and improves the debugging accuracy.

이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the inventions. , Separation, substitution, and alteration of the invention will be apparent to those skilled in the art. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.

Claims (10)

전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 무향실;
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나;
상기 전자파 무향실의 외부에 설치되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파를 분석하여 신호 분석 결과 정보를 포함하는 영상 신호를 출력하는 신호 분석기;
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및
상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터
를 포함하는 전자파 측정 시스템.
An electromagnetic anechoic chamber having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves;
An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber;
A signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber for analyzing the electromagnetic waves received by the antenna and outputting a video signal including signal analysis result information;
An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And
A beam projector which is accommodated in the electromagnetic wave shield box and receives the image signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber and reflects the image signal on a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber,
.
제1항에 있어서,
상기 전자파 차폐함은,
상기 빔 프로젝터가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우가 일 측면에 있는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
The method according to claim 1,
In the electromagnetic wave shielding box,
Wherein the electromagnetic wave shielding window through which the light projected by the beam projector is transmitted is on one side.
제2항에 있어서,
상기 전자파 차단 윈도우는 와이어 메쉬 윈도우인 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
3. The method of claim 2,
Wherein the electromagnetic wave shielding window is a wire mesh window.
제1항에 있어서,
상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납된 상기 빔 프로젝터로 전달해주기 위한 영상 신호 전송 장치를 더 포함하는 전자파 측정 시스템.
The method according to claim 1,
And an image signal transmission device for transmitting the image signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber to the beam projector accommodated in the electromagnetic wave shielding case installed inside the electromagnetic anechoic chamber.
제4항에 있어서,
상기 영상 신호 전송 장치는,
상기 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 입력받아 광신호로 변환하는 제1 변환기;
상기 제1 변환기에서 변환된 광신호를 전달하는 제1 광케이블;
상기 전자파 무향실의 벽면을 관통하여 설치되며, 상기 제1 광케이블로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제1 광케이블 도파관;
상기 제1 광케이블 도파관에서 출력된 광신호를 전달하는 제2 광케이블;
상기 전자파 차폐함의 벽면을 관통하여 설치되며, 상기 제2 광케이블로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제2 광케이블 도파관; 및
상기 제2 광케이블 도파관에서 출력된 광신호를 입력받아 영상 신호로 변환하여 영상 신호선을 통해 상기 빔 프로젝터로 입력해주는 제2 변환기
를 포함하는 전자파 측정 시스템.
5. The method of claim 4,
The video signal transmission apparatus includes:
A first converter for receiving the image signal output from the signal analyzer and converting the image signal into an optical signal;
A first optical cable for transmitting the optical signal converted by the first converter;
A first optical waveguide pipe installed through the wall surface of the electromagnetic anechoic chamber for outputting an optical signal transmitted from the first optical cable;
A second optical cable for transmitting an optical signal output from the first optical waveguide waveguide;
A second optical waveguide pipe installed through the wall surface of the electromagnetic wave shield box for outputting an optical signal transmitted from the second optical cable; And
A second converter for converting the optical signal output from the second optical waveguide waveguide into a video signal and inputting the optical signal to the beam projector through a video signal line,
.
제1항에 있어서,
상기 전자파 차폐함의 내부 또는 외부에 설치되어 전원 공급부에서 공급된 전원이 노이즈가 제거되어 상기 빔 프로젝터로 인가되도록 해주는 전자 방해 잡음 전원 필터를 더 포함하는 전자파 측정 시스템.
The method according to claim 1,
And an electromagnetic disturbance noise power filter installed inside or outside the electromagnetic wave shield box to allow power supplied from a power supply unit to be applied to the beam projector after noise is removed.
제1항에 있어서,
상기 전자파 무향실은,
전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 상측 바닥과, 상기 상측 바닥에 이격된 하측 바닥으로 이루어진 2중 바닥 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
The method according to claim 1,
The electromagnetic-
Wherein the electromagnetic wave measuring system has a double bottom structure consisting of an upper floor with electromagnetic wave shielding and absorption processing and a lower floor spaced from the upper floor.
제7항에 있어서,
상기 상측 바닥과 상기 하측 바닥 사이 공간에 격납된 상기 전자파 차폐함을 상기 상측 바닥 위로 리프트 시키는 리프트 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
8. The method of claim 7,
Further comprising a lift device for lifting the electromagnetic shielding case, which is housed in the space between the upper floor and the lower floor, to the upper floor.
제8항에 있어서,
상기 리프트 장치는,
상기 전자파 차폐함을 상기 상측 바닥과 평행하게 또는 경사지게 리프트 시키는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템.
9. The method of claim 8,
The lift apparatus includes:
Wherein the electromagnetic wave shielding box lifts the electromagnetic wave shielding box in parallel or inclined with respect to the upper floor.
전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 무향실;
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나;
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및
상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파에 대한 신호 분석 결과 정보가 포함된 영상 신호를 신호 분석기로부터 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터를 포함하는 전자파 측정 시스템.
An electromagnetic anechoic chamber having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves;
An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber;
An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And
And a beam projector accommodated in the electromagnetic shielding case and receiving a video signal including signal analysis result information on the electromagnetic wave received by the antenna, from a signal analyzer and reflecting the received video signal on a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber, Electromagnetic measurement system.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112261862A (en) * 2020-11-11 2021-01-22 中国科学院新疆天文台 Shielding device for electromagnetic environment monitoring system
CN112462152A (en) * 2021-01-05 2021-03-09 孙方威 Information detection device based on electromagnetic spectrum and use method thereof

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090049063A (en) * 2006-09-28 2009-05-15 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Antenna characteristic determining apparatus and antenna characteristic determining method
KR20100031134A (en) * 2007-07-30 2010-03-19 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Electromagnetic wave measuring apparatus
KR101082733B1 (en) * 2007-03-23 2011-11-10 니폰게이긴조쿠가부시키가이샤 Electronic apparatus test box

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20090049063A (en) * 2006-09-28 2009-05-15 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Antenna characteristic determining apparatus and antenna characteristic determining method
KR101082733B1 (en) * 2007-03-23 2011-11-10 니폰게이긴조쿠가부시키가이샤 Electronic apparatus test box
KR20100031134A (en) * 2007-07-30 2010-03-19 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 Electromagnetic wave measuring apparatus

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112261862A (en) * 2020-11-11 2021-01-22 中国科学院新疆天文台 Shielding device for electromagnetic environment monitoring system
CN112462152A (en) * 2021-01-05 2021-03-09 孙方威 Information detection device based on electromagnetic spectrum and use method thereof
CN112462152B (en) * 2021-01-05 2024-01-05 国网甘肃省电力公司电力科学研究院 Information detection device based on electromagnetic spectrum and use method thereof

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