KR101470399B1 - Electromagnetic measurement system - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 전자파 측정 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to an electromagnetic wave measuring system.
전자기기에서 발생하는 노이즈 또는 전자파가 인체 혹은 다른 전자기기에 미치는 영향의 정도를 측정하는 것을 전자파 측정 혹은 전자 정합성(EMC: Electro Magnetic Compatibility) 테스트라고 한다.Measurement of the degree of influence of noise or electromagnetic waves generated in an electronic device on the human body or other electronic devices is referred to as an electromagnetic wave measurement or an electromagnetic compatibility test (EMC).
전자기기가 점점 더 디지털화되고 고속화되면서 전자기기의 회로 내에서 순환하는 전류들이 많아지게 되었고 전자기기들은 좀더 많은 노이즈와 전자파를 일으킬 개연성이 높아지게 되었다. As electronic devices become more and more digital and faster, the circulating currents in the circuits of electronic devices have increased, and electronic devices have become more likely to generate more noise and electromagnetic waves.
이러한 이유로 전자기기에서 발생하는 전자기적 노이즈 혹은 전자파에 대해 규제가 강화되고 있고, 전자기기가 이러한 규제를 만족하는지를 측정하기 위한 다양한 전자파 측정 시스템들이 제시되고 있다.For this reason, regulations are being tightened against electromagnetic noise or electromagnetic waves generated in electronic devices, and various electromagnetic measurement systems for measuring whether electronic devices satisfy such regulations are being proposed.
전자파 측정 시스템들 중에는 전도성 노이즈(Conducted Emissions)를 측정하는 시스템이 있고, 방사성 노이즈(Radiated Emissions)를 측정하는 시스템이 있다. 전자기기에서 발생하는 노이즈 혹은 전자파는 전원과 같은 유선을 통해 다른 전자기기로 전파될 수 있다. 이렇게 전자기기에 연결되어 있는 유선을 통해 다른 전자기기로 전파되는 노이즈를 측정하는 것을 전도성 노이즈 측정이라고 한다. 이와 달리, 전자기기는 회로 내에서의 전자기적 에너지의 흐름에 따라 노이즈 혹은 전자파를 공중으로 방사할 수 있는데, 이렇게 공중으로 방사되는 노이즈 혹은 전자파를 측정하는 것을 방사성 노이즈 측정이라고 한다.Among electromagnetic measurement systems, there is a system for measuring conducted noises (Conducted Emissions), and a system for measuring radiated emissions. Noises or electromagnetic waves generated in electronic devices can be propagated to other electronic devices through wired lines such as a power source. Measuring the noise propagated to other electronic devices through a wire connected to the electronic device is called conductive noise measurement. Alternatively, an electronic device can radiate noise or electromagnetic waves into the air according to the flow of electromagnetic energy in the circuit. The measurement of noise or electromagnetic waves radiated to the air is called a radio noise measurement.
한편, 방사성 노이즈는 전자파 측정을 위한 별도의 안테나를 통해 수신되고 유선을 통해 전달되는데, 이러한 유선을 통해 전파되는 전기 신호의 크기는 작다. 이렇게 크기가 작은 전기 신호를 주변에 존재하는 노이즈 플로어(Noise Floor) 이상의 전기 신호로 변환하여 전자파 측정 신호 분석기로 전달할 필요가 있다. On the other hand, the radioactive noise is received through a separate antenna for electromagnetic wave measurement and transmitted through the wire, and the magnitude of the electric signal propagated through the wire is small. It is necessary to convert the electric signal of such small size into an electric signal of a noise floor or more present in the surroundings and transmit the electric signal to the electromagnetic wave measuring signal analyzer.
한편, 이러한 전자파 측정 시스템은, 전자파 측정의 대상이 되는 시료 기기를 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 전자파 무향실 내부에 넣어 두고, 시료 기기에서 발생하는 전자파를 전자파 무향실 내부에 있는 안테나를 통해 수신하여 전자파 무향실 외부에 있는 신호 분석기(컴퓨터일 수도 있음)를 통해 분석한다. In this electromagnetic wave measuring system, a sample device to be subjected to electromagnetic wave measurement is placed in an electromagnetic anechoic chamber subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing, and electromagnetic waves generated in the sample device are received through an antenna in the electromagnetic anechoic chamber, Analyze through an external signal analyzer (possibly a computer).
이와 같은 전자파 측정 환경에서는, 엔지니어가 전자파 무향실의 외부에 있는 제어실에 설치된 신호 분석기를 통해 신호 분석 결과 정보를 보고, 시료 기기의 전자파 방출 특성을 파악한다. In such an electromagnetic wave measurement environment, the engineer views signal analysis result information through a signal analyzer installed in a control room outside the electromagnetic anechoic chamber, and grasps electromagnetic wave emission characteristics of the sample device.
이후, 엔지니어는, 파악 결과, 시료 기기에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등이 필요하다고 판단되면, 전자파 뮤향실의 내부에 직접 들어가서, 시료 기기에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등을 위한 디버깅 처리를 수행한다. Thereafter, the engineer goes directly to the inside of the electromagnetic wave muffler room, and performs noise reduction processing and electromagnetic wave immunity enhancement processing on the sample machine, if it is judged that the noise reduction processing for the sample device, the electromagnetic wave resistance improvement processing, The debugging process is performed.
이처럼, 시료 기기에 대한 전자파 방출 특성을 확인하는 위치와, 시료 기기에 대한 전자파 방출 특성을 수정하기 위한 디버깅 처리를 하는 위치가 다르다는 점 때문에, 엔지니어의 이동이 빈번히 발생하여 작업 시간이 길어지는 문제점이 있다. Since the position for checking the electromagnetic wave emission characteristic of the sample device and the position for performing the debugging process for correcting the electromagnetic wave emission characteristic for the sample device are different from each other, the movement of the engineer frequently occurs, have.
또한, 엔지니어가 디버깅 처리를 수행하는 위치와 떨어진 곳에서 시료 기기에 대한 전자파 방출 특성을 파악한 이후 디버깅 처리를 수행하기 때문에, 디버깅 정확도가 떨어질 수 있는 문제점도 있다. Also, since the debugging process is performed after the emission characteristics of the electromagnetic wave emitted from the sample device are detected at a position away from the position where the engineer performs the debugging process, the debugging accuracy may be lowered.
이러한 배경에서, 본 발명의 목적은, 전자파 측정을 통해 시료 기기에서 발생하는 전자파 방출 특성 파악과 이를 기반으로 시료 기기에 대한 디버깅 처리를 인접한 거리에서 할 수 있도록 해주는 전자파 측정 시스템을 제공하는 데 있다. In view of the foregoing, it is an object of the present invention to provide an electromagnetic wave measuring system which enables the electromagnetic wave emission characteristic of a sample device to be measured through electromagnetic wave measurement and the debugging process of the sample device based on the electromagnetic wave emission characteristic can be performed at an adjacent distance.
전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 측면에서, 본 발명은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 무향실; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나; 상기 전자파 무향실의 외부에 설치되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파를 분석하여 신호 분석 결과 정보를 포함하는 영상 신호를 출력하는 신호 분석기; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터를 포함하는 전자파 측정 시스템을 제공한다. In order to achieve the above-mentioned object, in one aspect, the present invention provides an electromagnetic anechoic chamber having an electromagnetic wave shielding and absorption processing inner wall; An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber; A signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber for analyzing the electromagnetic waves received by the antenna and outputting a video signal including signal analysis result information; An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And a beam projector housed in the electromagnetic wave shield box and configured to receive the image signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber and reflect the received image signal on a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber with light do.
상기 전자파 차폐함은, 상기 빔 프로젝터가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우가 일 측면에 있다. The electromagnetic wave shielding box has an electromagnetic wave shielding window through which light illuminated by the beam projector is transmitted.
상기 전자파 측정 시스템은, 상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납된 상기 빔 프로젝터로 전달해주기 위한 영상 신호 전송 장치를 더 포함할 수 있다. The electromagnetic wave measuring system may further include a video signal transmitting device for transmitting the video signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber to the beam projector housed in the electromagnetic wave shielding case installed inside the electromagnetic anechoic chamber .
상기 전자파 측정 시스템은, 상기 전자파 차폐함의 내부 또는 외부에 설치되어 전원 공급부에서 공급된 전원이 노이즈가 제거되어 상기 빔 프로젝터로 인가되도록 해주는 전자 방해 잡음(EMI: Electro Magnetic Interference) 전원 필터를 더 포함할 수 있다. The electromagnetic wave measurement system further includes an EMI (Electro Magnetic Interference) power filter installed inside or outside the electromagnetic wave shield box to allow power supplied from the power supply unit to be applied to the beam projector after noise is removed .
상기 전자파 측정 시스템은, 상기 상측 바닥과 상기 하측 바닥 사이 공간에 격납된 상기 전자파 차폐함을 상기 상측 바닥 위로 리프트 시키는 리프트 장치를 더 포함할 수 있다. The electromagnetic wave measuring system may further include a lift device for lifting the electromagnetic wave shielding case, which is housed in the space between the upper floor and the lower floor, to the upper floor.
다른 측면에서, 본 발명은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 무향실; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나; 상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파에 대한 신호 분석 결과 정보가 포함된 영상 신호를 신호 분석기로부터 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터를 포함하는 전자파 측정 시스템을 제공한다. In another aspect, the present invention relates to an electromagnetic anechoic chamber having an inner wall subjected to electromagnetic wave shielding and absorption processing; An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber; An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And a beam projector accommodated in the electromagnetic wave shield box and receiving a video signal including signal analysis result information on the electromagnetic wave received by the antenna, from a signal analyzer and reflecting the light onto a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber And an electromagnetic wave measuring system.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 전자파 측정을 통해 시료 기기에서 발생하는 전자파 방출 특성 파악과 이를 기반으로 시료 기기에 대한 디버깅 처리를 인접한 거리에서 할 수 있도록 해주는 전자파 측정 시스템을 제공하는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, it is possible to provide an electromagnetic wave measuring system that allows the electromagnetic wave emission characteristic of the sample device to be detected through the electromagnetic wave measurement and the debugging process for the sample device based on the electromagnetic wave emission characteristic can be performed at an adjacent distance .
이를 통해, 디버깅 처리를 위한 작업 시간을 줄일 수 있고, 디버깅 정확도를 향상시킬 수 있다. This reduces the work time for the debugging process and improves the debugging accuracy.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템의 개략도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템을 보다 상세하게 나타낸 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템에 포함된 전자파 무향실의 바닥 구조를 나타낸 도면이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템에 포함된 전자파 차폐함의 리프트(Lift) 방식의 예시도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템에 포함된 전자파 차폐함의 리프트(Lift) 방식의 다른 예시도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템을 나타낸 도면이다. 1 is a schematic diagram of an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
2 is a detailed diagram of an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
3 is a bottom view of an electromagnetic anechoic chamber included in an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
FIG. 4 and FIG. 5 are views illustrating an example of a lift system of an electromagnetic wave shield box included in an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
6 and 7 are views illustrating another example of a lift system of an electromagnetic wave shield box included in an electromagnetic wave measuring system according to an embodiment of the present invention.
8 is a diagram illustrating an electromagnetic wave measurement system according to another embodiment of the present invention.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail with reference to exemplary drawings. In the drawings, like reference numerals are used to denote like elements throughout the drawings, even if they are shown on different drawings. In the following description of the present invention, a detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may make the subject matter of the present invention rather unclear.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 다른 구성 요소가 "개재"되거나, 각 구성 요소가 다른 구성 요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.In describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are intended to distinguish the components from other components, and the terms do not limit the nature, order, order, or number of the components. When a component is described as being "connected", "coupled", or "connected" to another component, the component may be directly connected or connected to the other component, Quot; intervening "or that each component may be" connected, "" coupled, "or " connected" through other components.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)의 개략도이다.1 is a schematic diagram of an
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 이동통신 단말, 컴퓨터, 텔레비전, 전자부품이 실장된 인쇄회로기판 등과 같이 전자파를 발생시킬 수 있는 그 어떠한 전기 기기일 수도 있는 시료 기기(10)가 발생시키는 전자파를 측정하기 위한 시스템이다. 1, an electromagnetic
이러한 전자파 측정 시스템(100)은, 전자파 무향실(110), 안테나(120), 신호 분석기(130), 전자파 차폐함(140) 및 빔 프로젝터(150) 등을 포함한다. The electromagnetic
전자파 무향실(110)은 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(111)을 갖는다. 즉, 전자파 무향실(110)의 내벽(111)은 전자파 차폐 부재로 되어 있을 수 있다. The electromagnetic
안테나(120)는 전자파 무향실(110)의 내부에 설치되며, 전자파 무향실(110)의 내부에 위치한 시료 기기(10)에서 방출(방사)되는 전자파를 수신한다. The
신호 분석기(130)는, 전자파 무향실(110)의 외부에 설치되며, 안테나(120)가 수신한 전자파를 분석하여 신호 분석 결과 정보를 포함하는 영상 신호를 출력한다. The
한편, 안테나(120)에 수신된 전자파의 신호 세기기 미약한 경우, 신호 세기를 증폭하여 신호 분석기(130)로 전달해주는 신호 증폭기(미도시)가 전자파 무향실(110)의 내부 또는 외부에 설치될 수도 있다. Meanwhile, when a signal of the electromagnetic wave received by the
한편, 시료 기기(10)로부터 방출되는 전자파를 전자파 측정 안테나(20)로부터 전달받아, 전달받은 전자파에 대하여 특정 주파수 대역의 주파수 성분을 필터링하여 신호 분석기(130)로 전달하는 필터(미도시)를 전자파 무향실(110)의 내부 또는 외부에 더 포함할 수 있다. Meanwhile, a filter (not shown) for receiving the electromagnetic wave emitted from the
전자파 차폐함(140)은, 전자파 무향실(110)의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(141)을 갖는다. 즉, 전자파 차폐함(140)의 내벽(141)은 전자파 차폐 부재로 되어 있을 수 있다. The electromagnetic
빔 프로젝터(150)는, 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납되며, 전자파 무향실(110)의 외부에 설치된 신호 분석기(130)에서 출력된 영상 신호를 입력받아 빛으로 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 스크린(160)에 비춘다. The
이러한 빔 프로젝터(150)를 수납하는 전자파 차폐함(140)은, 빔 프로젝터(150)가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우(142)가 일 측면에 있다. The electromagnetic
여기서, 전자파 차단 윈도우(142)는, 일 예로, 와이어 메쉬 윈도우(Wire Mesh Window)일 수 있다. Here, the electromagnetic
전술한 바와 같이, 빔 프로젝터(150)를 이용하여 신호 분석 결과 정보를 확인하게 되는데, 그 이유는 다음과 같다. As described above, the signal analysis result information is confirmed using the
종래에는, 전자파 측정 테스트를 하는 엔지니어는, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 제어실에 설치된 신호 분석기(130) 또는 이와 연결된 컴퓨터를 통해 신호 분석 결과 정보를 보고, 시료 기기(10)의 전자파 방출 특성을 파악한다. Conventionally, the engineer who performs the electromagnetic wave measurement test can view the signal analysis result information through the
이후, 엔지니어는, 파악 결과, 시료 기기(10)에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등이 필요하다고 판단되면, 전자파 뮤향실(110)의 내부에 직접 들어가서, 시료 기기(10)에 대한 노이즈 저감 처리, 전자파 내성 향상 처리 등을 위한 디버깅 처리를 수행한다. Thereafter, the engineer enters the inside of the electromagnetic
이처럼, 시료 기기(10)에 대한 전자파 방출 특성을 확인하는 위치와, 시료 기기(10)에 대한 전자파 방출 특성을 수정하기 위한 디버깅 처리를 하는 위치가 다르다는 점 때문에, 엔지니어의 이동이 빈번히 발생하여 작업 시간이 길어지는 문제점이 있다. As described above, since the position for confirming the electromagnetic wave emission characteristic to the
또한, 엔지니어가 디버깅 처리를 수행하는 위치와 떨어진 곳에서 시료 기기(10)에 대한 전자파 방출 특성을 파악한 이후 디버깅 처리를 수행하기 때문에, 디버깅 정확도가 떨어질 수 있는 문제점도 있다. Further, since the debugging process is performed after grasping the electromagnetic wave emission characteristic of the
한편, 전술한 빔 프로젝터(150)를 전자파 무향실(110)의 내부에 두되, 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)에 수납시키는 이유는 다음과 같다. The reason why the above-described
만약, 전자파 차폐함(140) 없이, 빔 프로젝터(150)를 전자파 무향실(110)의 내부에 설치하는 경우, 빔 프로젝터(150)에서 발생하는 노이즈 신호가, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파와 함께, 안테나(120)에 수신되어 신호 분석기(130)에 전달된다. 이에 따라, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파에 대한 정확한 측정이 불가능해진다. When the
따라서, 전자파 무향실(110)의 내부에 별도의 전자파 차폐함(140)을 두고, 이 전자파 차폐함(140) 내부에 빔 프로젝터(150)를 수납하는 것이다. Therefore, a separate
이상에서 간략하게 설명한 전자파 측정 시스템(100)에 대하여 도 2를 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. The
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)을 보다 상세하게 나타낸 도면이다. FIG. 2 is a detailed diagram of an electromagnetic
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 전자파 무향실(110)의 외부에 설치된 신호 분석기(130)에서 출력된 영상 신호를 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)로 전달해주기 위한 영상 신호 전송 장치를 더 포함할 수 있다. 2, an electromagnetic
한편, 도 2를 참조하면, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)에 출력된 영상 신호는, 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)의 내부까지 도달해야 한다. 2, a video signal output to the
이러한 영상 신호는, 전달 경로 측면에서, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)에서, 전자파 무향실(110)의 내부를 거쳐 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)까지 전달되어야 한다. The image signal is transmitted from the
한편, 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)에서 전자파 무향실(110)의 내부를 거쳐 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)까지 영상 신호선(예: VGA, HDMI, DVI 등의 케이블)을 연결하여 영상 신호를 전달하는 경우, 영상 신호선에서 유기되는 노이즈 신호가 전자파 무향실(110)의 내부에서 발생하여, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파와 함께, 안테나(120)에 수신되어 신호 분석기(130)에 전달될 수 있다. 이에 따라, 시료 기기(10)에서 방출되는 전자파에 대한 정확한 측정이 불가능해진다. The
따라서, 전술한 영상 신호 전송 장치는, 영상 신호가 전자파 무향실(110)의 내부에서는 광신호로 변환되어 전송되도록 하는 구성들(영상 신호(전기 신호)와 광신호 간의 변환 장치, 광케이블, 광케이블 도파관 등)을 포함할 수 있다. Therefore, the video signal transmission apparatus described above can be applied to a configuration (an apparatus for converting a video signal (electric signal) and an optical signal, an optical cable, an optical cable waveguide, or the like) that converts a video signal into an optical signal in the inside of the electromagnetic anechoic chamber 110 ).
더욱 상세하게 설명하면, 영상 신호 전송 장치는, 신호 분석기(130)에서 영상 신호선(210)을 통해 출력된 영상 신호를 입력받아 광신호로 변환하는 제1 변환기(220)와, 제1 변환기(220)에서 변환된 광신호를 전달하는 제1 광케이블(230)과, 전자파 무향실(110)의 벽면을 관통하여 설치되며, 제1 광케이블(230)로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제1 광케이블 도파관(240)과, 제1 광케이블 도파관(240)에서 출력된 광신호를 전달하는 제2 광케이블(250)과, 전자파 차폐함(140)의 벽면을 관통하여 설치되며, 제2 광케이블(250)로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제2 광케이블 도파관(260)과, 제2 광케이블 도파관(260)에서 제3 광케이블(270)을 통해 출력된 광신호를 입력받아 영상 신호로 변환하여 영상 신호선(290)을 통해 빔 프로젝터(150)로 입력해주는 제2 변환기(280) 등을 포함한다. More specifically, the video signal transmission apparatus includes a
전술한 바와 같은 영상 신호 전송 장치를 이용하면, 일반적인 영상 신호선을 이용하는 것에 비해, 전자파 측정의 정확도 향상은 물론, 화질 저하 없이 장거리 고화질의 영상 전송 및 디스플레이가 가능해질 수도 있다. Using the video signal transmission apparatus as described above, it is possible to improve the accuracy of electromagnetic wave measurement as well as to enable image transmission and display of long distance and high quality without deterioration of image quality, as compared with a general video signal line.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 전자파 차폐함(140)의 내부 또는 외부에 설치되어 전원 공급부(미도시)에서 공급된 전원이 노이즈가 제거되어 빔 프로젝터(150)로 인가되도록 해주는 전자 방해 잡음(EMI: Electro Magnetic Interference) 전원 필터(200)를 더 포함할 수 있다. Meanwhile, the electromagnetic
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 무향실(110)의 바닥 구조를 나타낸 도면이다. 3 is a bottom view of an electromagnetic
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에서 전자파 무향실(110)은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320)으로 이루어진 2중 바닥 구조를 가질 수 있다. 3, an electromagnetic
도 3을 참조하면, 전자파 무향실(110)의 상측 바닥(320)은 하측 바닥(320)으로부터 일정 높이만큼 이격되어 있을 수 있으며, 이로 인해, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이에 일정 공간이 형성될 수 있다. 3, the
이러한 2중 바닥 구조는, 외부로부터의 진동이 전자파 무향실(110)의 내부로 전달되어, 시료 기기(10) 등이 미세하게 흔들리는 등의 이유로 인해, 시료 기기(10)에 대한 전자파를 정확하게 측정하는 것에 문제를 일으키는 현상을 줄여줄 수 있다. This double bottom structure allows the electromagnetic wave to be accurately measured to the
한편, 이러한 2중 바닥 구조에 의해, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이에 형성된 공간에, 전자파 차폐함(140), 영상 신호 전송 장치(210~290) 및 전자 방해 잡음 전원 필터(200) 등을 격납할 수 있다. The electromagnetic
전자파 차폐함(140), 영상 신호 전송 장치(210~290) 및 전자 방해 잡음 전원 필터(200) 등 중에서 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되어 있다고, 빔 프로젝터(150)가 영상 신호를 빛으로 스크린(160)에 비추어야 하는 경우, 리프트(Lift)될 수 있다. The
이러한 전자파 차폐함(140)의 리프트를 위해, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납된 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310) 위로 리프트 시키는 리프트 장치를 더 포함할 수 있다. And further includes a lift device for lifting the electromagnetic
전자파 차폐함(140)을 리프트 시키는 방식은, 일 예로, 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310)과 평행하게 리프트 시키는 방식과, 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310)과 경사지게 리프트 시키는 방식 등이 있다. A method of lifting the
이와 같은 전자파 차폐함(140)의 2가지 리프트 방식을 위한 리프트 구조에 대하여, 아래에서, 도 4 내지 도 7을 참조하여 설명한다. The lift structure for the two lift systems of the
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)의 리프트(Lift) 방식의 예시도이다.4 and 5 are views illustrating an example of a lift method of the electromagnetic
도 4를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되어 있다가 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)를 사용해야 하는 경우, 상측 바닥(310)과 평행하게 리프트될 수 있다. 4, an electromagnetic
이를 위해, 도 4 및 도 5를 참조하면, 리프트 장치(400)는 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납된 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310) 위로 리프트 시키되, 상측 바닥(310)과 평행하게 리프트 시킨다. 4 and 5, the
도 4 및 도 5를 참조하면, 리프트 장치(400)는, 모터 축(410), 모터 축(410)에 결합된 피니언 기어(420), 이 피니언 기어(420)와 치 결합하고 전자파 차폐함(140)의 외측면에 형성된 랙 기어(430) 등을 포함할 수 있다. 4 and 5, the
도 4 및 도 5를 참조하면, 모터 축(410)의 회전에 따라 피니언 기어(420)가 회전하고, 이에 따라 치 결합된 랙 기어(430)가 이동함에 따라 전자파 차폐함(140)이 수직방향(위 또는 아래)으로 이동할 수 있다. 4 and 5, as the
리프트 장치(400)는, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 전자파 차폐함(140)의 옆 면을 들어 올려주는 구성(410, 4230, 430)으로 동작할 수도 있고, 전자파 차폐함(140)의 밑면을 들어올려 주는 방식으로 동작할 수도 있다. 4 and 5, the
한편, 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되는 경우, 영상 신호 전송 장치 중 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)의 출력단과 연결된 영상 신호선(210), 이와 연결된 제1 변환기(220), 이와 연결된 제1 광케이블(230) 등을 제외하고는, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 설치될 수 있다. 4 and 5, when the electromagnetic
도 6 및 도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)의 리프트(Lift) 방식의 다른 예시도이다. 6 and 7 are views illustrating another example of a lift method of the electromagnetic
도 6을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)에 포함된 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되어 있다가 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)를 사용해야 하는 경우, 상측 바닥(310)과 경사지게 리프트될 수 있다. 6, an electromagnetic
이를 위해, 도 6 및 도 7을 참조하면, 리프트 장치(600)는 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납된 전자파 차폐함(140)을 상측 바닥(310) 위로 리프트 시키되, 상측 바닥(310)과 경시지게 리프트 시킨다. 6 and 7, the
도 6 및 도 7을 참조하면, 리프트 장치(600)는, 전자파 차폐함(14)의 코너에 설치된 모터일 수 있으며, 이 모터의 모터 축이 회전하여 모터 축이 있는 지점을 기준으로 시계 방향으로 전자파 차폐함(140)의 회전함으로써, 전자파 차폐함(140)이 상측 바닥(310)과 경사지게 리프트 될 수 있다. 이에 따라, 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납된 빔 프로젝터(150)이 비추는 빛이 스크린(160)에 표시될 수 있는 상태가 된다.6 and 7, the
한편, 도 6 및 도 7을 참조하면, 전자파 차폐함(140)은, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 격납되는 경우, 영상 신호 전송 장치 중 전자파 무향실(110)의 외부에 있는 신호 분석기(130)의 출력단과 연결된 영상 신호선(210), 이와 연결된 제1 변환기(220), 이와 연결된 제1 광케이블(230) 등을 제외하고는, 상측 바닥(310)과 하측 바닥(320) 사이의 공간에 설치될 수 있다. 6 and 7, when the electromagnetic
이상에서 설명한 본 발명의 일 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(100)은, 도 1에 도시된 바와 같이, 신호 분석기(130)는 전자파 무향실(110)의 외부에 설치되고, 이로 인해, 광전송 기반의 영상 전송 장치를 포함한다. 1, the
아래에서는, 신호 분석기를 전자파 무향실(110)의 내부에 설치된 전자파 차폐함(140)의 내부에 수납한 경우를 다른 실시예로 설명한다. Hereinafter, a case in which the signal analyzer is housed in the electromagnetic
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(800)을 나타낸 도면이다.FIG. 8 is a diagram illustrating an electromagnetic
도 8을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 전자파 측정 시스템(800)은, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(811)을 갖는 전자파 무향실(810)과, 전자파 무향실(810)의 내부에 설치되며, 전자파 무향실(810)의 내부에 위치한 시료 기기(80)에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나(820)와, 전자파 무향실(810)의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽(841)을 갖는 전자파 차폐함(840)과, 전자파 차폐함(840)의 내부에 수납되며, 안테나(820)가 수신한 전자파에 대한 신호 분석 결과 정보가 포함된 영상 신호를 신호 분석기(830)로부터 입력받아 빛으로 전자파 무향실(810)의 내부에 설치된 스크린(860)에 비추는 빔 프로젝터(850) 등을 포함할 수 있다. 8, an electromagnetic
도 8을 참조하면, 빔 프로젝터(850)를 수납하는 전자파 차폐함(840)은, 빔 프로젝터(850)가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우(842)가 일 측면에 있다. 8, an electromagnetic
도 8과 같이, 신호 분석기(830)를 전자파 차폐함(840)의 내부에 수납함으로써, 신호 분석기(830)에 출력된 영상 신호를 광신호로 변환하지 않고 영상 신호선만을 이용하여 빔 프로젝터(85)로 전달할 수 있다. 8, the
도 8에 도시된 전자파 측정 시스템(800)은, 신호 분석기(830)가 전자파 차폐함(840)의 내부에 수납된다는 점과 이에 따른 영상 신호 전송과 관련된 구성만 도 1 내지 도 7을 참조하여 설명한 전자파 측정 시스템(100)과 다를 뿐, 나머지 구성 및 기능은 모두 동일하다. The electromagnetic
이상에서 설명한 전자파 측정 시스템(100, 800)은, 일 예로, EMC(Electro Magnetic Compatibility) 또는 EMI(Electro Magnetic Interference) 등의 전자파 관련 테스트에 이용될 수 있다. The
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 의하면, 전자파 측정을 통해 시료 기기에서 발생하는 전자파 방출 특성 파악과 이를 기반으로 시료 기기에 대한 디버깅 처리를 인접한 거리에서 할 수 있도록 해주는 전자파 측정 시스템(100, 800)을 제공하는 효과가 있다. As described above, according to the present invention, electromagnetic wave measurement systems (100, 800) for enabling the identification of the electromagnetic wave emission characteristics generated in the sample device through the electromagnetic wave measurement and the debugging process for the sample device based on the electromagnetic wave emission characteristic can be performed at the adjacent distance There is an effect to provide.
이를 통해, 디버깅 처리를 위한 작업 시간을 줄일 수 있고, 디버깅 정확도를 향상시킬 수 있다. This reduces the work time for the debugging process and improves the debugging accuracy.
이상에서의 설명 및 첨부된 도면은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 나타낸 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 구성의 결합, 분리, 치환 및 변경 등의 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the inventions. , Separation, substitution, and alteration of the invention will be apparent to those skilled in the art. Therefore, the embodiments disclosed in the present invention are intended to illustrate rather than limit the scope of the present invention, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be construed according to the following claims, and all technical ideas within the scope of equivalents should be construed as falling within the scope of the present invention.
Claims (10)
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나;
상기 전자파 무향실의 외부에 설치되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파를 분석하여 신호 분석 결과 정보를 포함하는 영상 신호를 출력하는 신호 분석기;
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및
상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터
를 포함하는 전자파 측정 시스템. An electromagnetic anechoic chamber having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves;
An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber;
A signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber for analyzing the electromagnetic waves received by the antenna and outputting a video signal including signal analysis result information;
An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And
A beam projector which is accommodated in the electromagnetic wave shield box and receives the image signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber and reflects the image signal on a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber,
.
상기 전자파 차폐함은,
상기 빔 프로젝터가 비추는 빛이 투과되는 전자파 차단 윈도우가 일 측면에 있는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템. The method according to claim 1,
In the electromagnetic wave shielding box,
Wherein the electromagnetic wave shielding window through which the light projected by the beam projector is transmitted is on one side.
상기 전자파 차단 윈도우는 와이어 메쉬 윈도우인 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템. 3. The method of claim 2,
Wherein the electromagnetic wave shielding window is a wire mesh window.
상기 전자파 무향실의 외부에 설치된 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 상기 전자파 차폐함의 내부에 수납된 상기 빔 프로젝터로 전달해주기 위한 영상 신호 전송 장치를 더 포함하는 전자파 측정 시스템. The method according to claim 1,
And an image signal transmission device for transmitting the image signal output from the signal analyzer installed outside the electromagnetic anechoic chamber to the beam projector accommodated in the electromagnetic wave shielding case installed inside the electromagnetic anechoic chamber.
상기 영상 신호 전송 장치는,
상기 신호 분석기에서 출력된 상기 영상 신호를 입력받아 광신호로 변환하는 제1 변환기;
상기 제1 변환기에서 변환된 광신호를 전달하는 제1 광케이블;
상기 전자파 무향실의 벽면을 관통하여 설치되며, 상기 제1 광케이블로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제1 광케이블 도파관;
상기 제1 광케이블 도파관에서 출력된 광신호를 전달하는 제2 광케이블;
상기 전자파 차폐함의 벽면을 관통하여 설치되며, 상기 제2 광케이블로부터 전달받은 광신호를 출력하는 제2 광케이블 도파관; 및
상기 제2 광케이블 도파관에서 출력된 광신호를 입력받아 영상 신호로 변환하여 영상 신호선을 통해 상기 빔 프로젝터로 입력해주는 제2 변환기
를 포함하는 전자파 측정 시스템. 5. The method of claim 4,
The video signal transmission apparatus includes:
A first converter for receiving the image signal output from the signal analyzer and converting the image signal into an optical signal;
A first optical cable for transmitting the optical signal converted by the first converter;
A first optical waveguide pipe installed through the wall surface of the electromagnetic anechoic chamber for outputting an optical signal transmitted from the first optical cable;
A second optical cable for transmitting an optical signal output from the first optical waveguide waveguide;
A second optical waveguide pipe installed through the wall surface of the electromagnetic wave shield box for outputting an optical signal transmitted from the second optical cable; And
A second converter for converting the optical signal output from the second optical waveguide waveguide into a video signal and inputting the optical signal to the beam projector through a video signal line,
.
상기 전자파 차폐함의 내부 또는 외부에 설치되어 전원 공급부에서 공급된 전원이 노이즈가 제거되어 상기 빔 프로젝터로 인가되도록 해주는 전자 방해 잡음 전원 필터를 더 포함하는 전자파 측정 시스템. The method according to claim 1,
And an electromagnetic disturbance noise power filter installed inside or outside the electromagnetic wave shield box to allow power supplied from a power supply unit to be applied to the beam projector after noise is removed.
상기 전자파 무향실은,
전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 상측 바닥과, 상기 상측 바닥에 이격된 하측 바닥으로 이루어진 2중 바닥 구조를 갖는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템. The method according to claim 1,
The electromagnetic-
Wherein the electromagnetic wave measuring system has a double bottom structure consisting of an upper floor with electromagnetic wave shielding and absorption processing and a lower floor spaced from the upper floor.
상기 상측 바닥과 상기 하측 바닥 사이 공간에 격납된 상기 전자파 차폐함을 상기 상측 바닥 위로 리프트 시키는 리프트 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템. 8. The method of claim 7,
Further comprising a lift device for lifting the electromagnetic shielding case, which is housed in the space between the upper floor and the lower floor, to the upper floor.
상기 리프트 장치는,
상기 전자파 차폐함을 상기 상측 바닥과 평행하게 또는 경사지게 리프트 시키는 것을 특징으로 하는 전자파 측정 시스템. 9. The method of claim 8,
The lift apparatus includes:
Wherein the electromagnetic wave shielding box lifts the electromagnetic wave shielding box in parallel or inclined with respect to the upper floor.
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 상기 전자파 무향실의 내부에 위치한 시료 기기에서 방출되는 전자파를 수신하는 안테나;
상기 전자파 무향실의 내부에 설치되며, 전자파 차폐 및 흡수 처리가 된 내벽을 갖는 전자파 차폐함; 및
상기 전자파 차폐함의 내부에 수납되며, 상기 안테나가 수신한 상기 전자파에 대한 신호 분석 결과 정보가 포함된 영상 신호를 신호 분석기로부터 입력받아 빛으로 상기 전자파 무향실의 내부에 설치된 스크린에 비추는 빔 프로젝터를 포함하는 전자파 측정 시스템. An electromagnetic anechoic chamber having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves;
An antenna installed inside the electromagnetic anechoic chamber for receiving electromagnetic waves emitted from a sample device located inside the electromagnetic anechoic chamber;
An electromagnetic wave shielding box installed inside the electromagnetic anechoic chamber and having an inner wall shielded and absorbed by electromagnetic waves; And
And a beam projector accommodated in the electromagnetic shielding case and receiving a video signal including signal analysis result information on the electromagnetic wave received by the antenna, from a signal analyzer and reflecting the received video signal on a screen installed inside the electromagnetic anechoic chamber, Electromagnetic measurement system.
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